JPH01254891A - Plasma control system - Google Patents

Plasma control system

Info

Publication number
JPH01254891A
JPH01254891A JP63082704A JP8270488A JPH01254891A JP H01254891 A JPH01254891 A JP H01254891A JP 63082704 A JP63082704 A JP 63082704A JP 8270488 A JP8270488 A JP 8270488A JP H01254891 A JPH01254891 A JP H01254891A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
current
data
waveform
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63082704A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2516240B2 (en
Inventor
Masahiro Mori
雅博 森
Akio Shoji
荘司 昭朗
Isao Oyabu
勲 大藪
Toyohiko Kiyohara
豊彦 清原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Japan Atomic Energy Agency
Original Assignee
Japan Atomic Energy Research Institute
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Atomic Energy Research Institute, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Japan Atomic Energy Research Institute
Priority to JP63082704A priority Critical patent/JP2516240B2/en
Publication of JPH01254891A publication Critical patent/JPH01254891A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2516240B2 publication Critical patent/JP2516240B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/10Nuclear fusion reactors

Landscapes

  • Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable sure control of plasma only by several shots of discharges while the position and shape the plasma are stably maintained by performing an arithmetic operation on the detected signal of the electric current of a poloidal coil and a set current pattern by using a fixed function and automatically modifying the next discharging current pattern. CONSTITUTION:A plasma position which is an object to be controlled (y) is found based on an instruction reference (x) indicating the given shape of plasma. The electric current of the electric power supplied from the plasma to a poloidal coil 26 whose power source is a thyristor power source 25 is detected by means of a DC converter 27. The current patter to the coil 26 is set by means of a preprocessing waveform setting device 22 in advance. A plasma transmission function generator 23 performs an arithmetic operation on the current pattern and a detected output by using a fixed function. In accordance with the result of this arithmetic operation, the discharging preprocessing pattern of the device at the next time is automatically modified.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は核融合装置において、プラズマの位置、形状
を制御し、プラズマを所定時間安定に維持させるプラズ
マ制御システムに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a plasma control system that controls the position and shape of plasma in a nuclear fusion device and maintains the plasma stably for a predetermined period of time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第8図は従来のプラズマ制御システムのブロック接続図
であり、図において、1は小型計算機9にあらかじめ用
意されているプレプロ波形信号作成プログラムを用いて
作成されたプレプロ波形信号を保持するバッファメモリ
からなるパターン発生器、2はパターン発生器1に保持
されているプレプロ波形信号を、プラズマ電流1pに見
合うポロイダルコイル5の電流基準信号として、プラズ
マ制御装置8によるフィードバック信号で補正するフィ
ードバンク演算器、2aは直流電流検出器7の出力であ
るポロイダルコイル5の電流とフィードバンク演算器2
の出力とを比較する比較器、3は比較器2a出力により
サイリスク整流器4へのゲートパルス信号を制御する電
流制御回路、4はポロイダルコイル5に通電する電流を
得るサイリスク整流器、6はプラズマ、8はプラズマの
発する信号にもとづきフィードバック信号を出力する上
記プラズマ制御装置、9はプレプロ波形信号作成プログ
ラム等の実行を制御コ1シたり、グラフインク・デイス
プレィ装置10、キーボード装置11、フレキシブルデ
ィスク装置12を制御する小型計算機である。なお、′
このグラフィック・デイスプレィ装置10は小型計算a
9に準備されているプレプロ波形信号作成プログラムを
用いて使用者が作成したプレプロ波形、数値等を表示し
、キーボード装置llは使用者がプレプロ波形信号を作
成するのに必要な数値、記号等の情報を入力するために
用い、フレキシブルディスク装置12はプレプロ波形信
号作成プログラムをはじめ小型計算機で使用するプログ
ラムの格納、あるいは作成されたプレプロ波形信号の数
値、定数等を蓄積するために用いる。
FIG. 8 is a block connection diagram of a conventional plasma control system. In the figure, 1 is a buffer memory that holds a pre-pro waveform signal created using a pre-pro waveform signal creation program prepared in advance in a small computer 9. The pattern generator 2 is a feed bank calculator 2a that corrects the pre-pro waveform signal held in the pattern generator 1 with a feedback signal from the plasma control device 8 as a current reference signal for the poloidal coil 5 corresponding to the plasma current 1p. is the current of the poloidal coil 5 which is the output of the DC current detector 7 and the feed bank calculator 2
3 is a current control circuit that controls the gate pulse signal to the thyrisk rectifier 4 by the output of the comparator 2a, 4 is a thyrisk rectifier that obtains the current to be applied to the poloidal coil 5, 6 is a plasma, and 8 is a The plasma control device 9 outputs a feedback signal based on the signal generated by the plasma, and the plasma control device 9 controls the execution of a pre-pro waveform signal creation program, etc., and also controls the graph ink display device 10, the keyboard device 11, and the flexible disk device 12. It is a small computer that does In addition,'
This graphic display device 10 is a small computer a.
The keyboard device II displays the pre-pro waveforms, numerical values, etc. created by the user using the pre-pro waveform signal creation program prepared in 9, and the keyboard device II displays the numerical values, symbols, etc. necessary for the user to create the pre-pro waveform signal. The flexible disk device 12 is used to input information, and is used to store programs used in a small computer such as a pre-pro waveform signal creation program, or to accumulate numerical values, constants, etc. of the pre-pro waveform signal created.

次に動作について説明する。小型計算Ia9に準備され
ている機能は全てプログラムで供給され、それらはメニ
ューにより選択し実行できる。まずプレプロ波形を作成
するのに必要な初期値を入力する。入力された初期値は
小型計算機9の主記憶装置の決められた初期値格納エリ
アに置かれて、必要によりプリンタ装置13に出力する
ことも可能で、必要があれば修正することができ、正し
くjlj ONされた初期値を引用し、プレプロ波形(
3号を作成する。
Next, the operation will be explained. All the functions provided in the small computer Ia9 are provided as programs, and they can be selected and executed from the menu. First, input the initial values necessary to create the pre-pro waveform. The input initial values are placed in a predetermined initial value storage area of the main memory of the small computer 9, and can be output to the printer device 13 if necessary, so that they can be corrected and corrected if necessary. Quoting the initial value of jjlj ON, the pre-pro waveform (
Create No. 3.

この装置は核融合実験袋;σ等においてプレプロ波形信
号とフィードバック信号を併用する制御■システムで、
プレプロ波形設定装置として小型計算段を採用し、小型
計算機9にあらかじめ準備されているプレプロ波形作成
プログラムにより使用者との対話形式でプレプロ波形を
作成し、これを小型計算機9に接続されているパターン
発生器1内のバッファメモリの所定のメモリ位置に一担
保持し、タイミング信号によってプレプロ波形信号を出
力する。
This device is a fusion experiment bag; it is a control system that uses a pre-pro waveform signal and a feedback signal together in σ, etc.
A small calculation stage is adopted as a pre-pro waveform setting device, and a pre-pro waveform is created in an interactive manner with the user using a pre-pro waveform creation program prepared in advance on the small computer 9, and this is used as a pattern connected to the small computer 9. It is held at a predetermined memory location in the buffer memory in the generator 1, and outputs a pre-pro waveform signal in response to a timing signal.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来のプラズマ制御システムは以上のように構成されて
いるので、定常偏差、外乱に対するしよう乱の低下を、
安定性を維持したまま達成するために、微妙に変化させ
るパターンの作成を、すべてマニュアル作業に鎖らねば
ならず、実験データを411定した後、オペレータの判
断で、次回のパターンを決定する必要があり、作業に時
間がかかりすぎるほか、パターンを高精度に設定するの
が困難であるなどの問題点があった。
Since the conventional plasma control system is configured as described above, it is possible to reduce steady-state deviation and disturbance due to external disturbances.
In order to achieve this while maintaining stability, the creation of patterns that make subtle changes must be done entirely manually, and the next pattern must be determined by the operator's judgment after the experimental data has been determined. However, there were other problems, such as the work being too time-consuming and making it difficult to set patterns with high precision.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、あるパターンにより実験がなされた場合、そ
の実験データにより予め設定した所定の関数に従って次
回実験用のパターンを自動的に修正するプラズマ制御n
システムを得ることを目的とする。
This invention was made to solve the above problems, and when an experiment is performed using a certain pattern, the pattern for the next experiment is automatically corrected according to a predetermined function set in advance using the experimental data. plasma control n
The purpose is to obtain a system.

(課題を解決するための手段〕 この発明にかかるプラズマ制御システムは、ポロイダル
コイルに供給する電力を、電流変成器等による電流検出
によって行い、この検出出力と予め設定したポロイダル
コイルに対して設定した電流パターン出力とに、一定の
関数で演算をほどこし、この演算結果にもとづいて、次
回のプレプロ波形設定装置による放電のプレプロパター
ンを自動的に修正するように構成したものである。
(Means for Solving the Problems) The plasma control system according to the present invention supplies electric power to a poloidal coil by detecting a current using a current transformer or the like, and uses the detected output and a preset current pattern for the poloidal coil. A calculation is performed on the output using a fixed function, and based on the result of this calculation, the next pre-pro pattern of discharge by the pre-pro waveform setting device is automatically corrected.

〔作 用〕[For production]

この発明におけるプラズマ制御TSlシステムは、この
システム中の小型計算機によって、プレプロ波形設定装
置により設定したポロイダルコイル電流の設定値と、測
定しているポロイダルコイルTI 流の実測値とを比較
演算し、この演算結果たる誤差を修正する方向に、上記
ポロイダルコイルに供給する電流を、サイリスクなどを
用いて自動的にコントロールするように作用する。
The plasma control TSL system of the present invention uses a small computer in the system to compare and calculate the set value of the poloidal coil current set by the pre-pro waveform setting device and the actual value of the poloidal coil TI current being measured, and calculates the result of this calculation. The current supplied to the poloidal coil is automatically controlled using a cyrisk or the like in order to correct the error.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はプラズマ制御ブロック図であり、21は電源部、2
2はプレプロ波形設定装置、23はプラズマ伝達関数発
生器、24はコントローラ、25はサイリスク電源、2
6はポロイダルコイル、27は直流電流変換器(以下、
DCCTという)を示す。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
The figure is a plasma control block diagram, 21 is a power supply section, 2
2 is a pre-pro waveform setting device, 23 is a plasma transfer function generator, 24 is a controller, 25 is a Cyrisk power supply, 2
6 is a poloidal coil, 27 is a DC current converter (hereinafter referred to as
DCCT).

かかる回路では、プラズマの形状(例えば円形断面又は
円形断面)を示す命令基lxが与えらh、その制御対象
であるプラズマ位置すなわら制御対象yを1)ることを
目的とする。プラズマの形状そのものを学習制御するこ
とは困難であるため、ポロイダルコイルにある電流パタ
ーンを与えた場合、どのようなプラズマ形状となるかを
測定し、そのプラズマ位置修正分を学習制御することに
より次回放電ポロイダルコイル?itmパターンを作成
する。
In this circuit, an instruction base lx indicating the shape of the plasma (for example, a circular cross section or a circular cross section) is given, and the purpose of this circuit is to 1) determine the plasma position to be controlled, that is, the control target y. Since it is difficult to learn and control the plasma shape itself, we measure the plasma shape when a certain current pattern is applied to a poloidal coil, and then perform learning control based on the plasma position correction to determine the next discharge. Poloidal coil? Create an itm pattern.

第2図はプラズマ制御装置のブロック接続図である。FIG. 2 is a block connection diagram of the plasma control device.

トカマク形核融合装置はプラズマを閉じ込めるトロイダ
ルコイルとプラズマ形状及び位置をコントロールするた
めのポロイダルコイルより構成される。
A tokamak-type fusion device consists of a toroidal coil that confines plasma and a poloidal coil that controls the plasma shape and position.

そして、ポロイダルコイル中Sコイル35d は主ポロ
イダルコイルであり、ドーナツ形プラズマの大円周が膨
張する力を抑える磁場を発生する。
The S coil 35d among the poloidal coils is the main poloidal coil, and generates a magnetic field that suppresses the force that causes the large circumference of the donut-shaped plasma to expand.

Vup:lイJLz32d 、 Vtow −1イル3
3dハSコイル35dの補助として、プラズマの速い動
きを制御するために用いる。Qコイル34dは磁気ダイ
バータを現実的な電力で作り出す、OHコイル36dは
オーム加熱用コイルであり、主として電磁誘導でプラズ
マ電流を作り出す。
Vup: l i JLz32d, Vtow -1 il 3
The 3d H-S coil is used as an auxiliary to the S coil 35d to control the fast movement of plasma. The Q coil 34d produces a magnetic diverter with practical power, and the OH coil 36d is an ohmic heating coil, which produces plasma current mainly by electromagnetic induction.

上記の如くプラズマ位置、形状は各々のボロイダル電流
により制御されるが、必要な各コイルの電流は圧力等種
々の要素によって左右され、本発明の構成の実験、学習
により最適値をみつけるのが適当である。31はプラズ
マ制御盤であり、制?IIl室に設置さてる。32はV
uρ電a盤、33はV LQII電源盤、34はQ電源
盤、354;ts?J源盤、36はOH?li [盤、
37はHti[1”t?あり、ツレぞれ現場に設置され
る。38はデータロガ−盤であり、32〜37の各電源
盤の電流信号を受け、データロギングを行った後、光信
号に変換して制御■室のプラズマ制御盤31へ送信する
。データロガ−盤38は現場にあり、かつ32〜37の
各制御盤から近い位置に設置される。プラズマ制御n盤
31には、コントローラ31a、ジェネラル・パポーズ
・インタフェース・バス・インタフェース(GENER
AL  PURPO3E  INTERFACE  B
us  INTERFACE、以下GPIBI/Fとい
う) 316 、光CPIBリンク31Cが収納されて
いる。vup電源盤にはコイル電圧フィードバック用抵
抗32a、主回路から電圧信号を絶縁して取り出すため
の絶縁アンプ32b1プラズマ制御コg盤31から光信
号で送られて来た電流基準アナログ信号を受けてサイリ
スクをコントロールするコントローラ32C、Vupコ
イル32d 、 Vupコイル32dの電流を制御する
サイリスタ32e、コイル電流を計測する直流電流検出
器(以下DCCTという)、コイル電流信号をデータロ
ガ−に送出するための絶縁アンプ32gが収納されてい
る。
As mentioned above, the plasma position and shape are controlled by each voloidal current, but the necessary current for each coil depends on various factors such as pressure, and it is appropriate to find the optimal value by experimenting and learning the configuration of the present invention. It is. 31 is the plasma control panel, and is the control panel? It is installed in room II. 32 is V
Uρ power board A, 33 is V LQII power board, 34 is Q power board, 354; ts? J source board, 36 is OH? li [board,
Reference numeral 37 has Hti[1"t?, and is installed at each site. 38 is a data logger board, which receives the current signal from each power supply board from 32 to 37, performs data logging, and converts it into an optical signal. It is converted and sent to the plasma control panel 31 in the control room.The data logger panel 38 is located at the site and is installed near each control panel 32 to 37.The plasma control panel 31 includes a controller 31a. , General Purpose Interface Bus Interface (GENER)
AL PURPO3E INTERFACE B
us INTERFACE (hereinafter referred to as GPIBI/F) 316 and an optical CPIB link 31C are housed therein. The VUP power supply panel includes a coil voltage feedback resistor 32a, an insulation amplifier 32b for insulating and extracting the voltage signal from the main circuit, and a current reference analog signal sent as an optical signal from the plasma control panel 31. a controller 32C that controls the Vup coil 32d, a thyristor 32e that controls the current of the Vup coil 32d, a DC current detector (hereinafter referred to as DCCT) that measures the coil current, and an isolation amplifier 32g that sends the coil current signal to the data logger. is stored.

電源33〜37についても、同一サフィックスは同一物
を示す。
Regarding the power supplies 33 to 37, the same suffix indicates the same thing.

38aはデータロガ−であり、各電源から来るDCCT
電流信号を受け、アナログ−ディジタル変換(以下A/
D変換という)及びシリアルデータ化して光CP I 
B IJンク38hを通し、光信号に変換した後、プラ
ズマ制御盤3Iへ送出する。図中太線部は光信号であキ
ことを示す。
38a is a data logger, and the DCCT coming from each power supply
Receives a current signal and performs analog-to-digital conversion (hereinafter referred to as A/
D conversion) and serial data to optical CP I
After converting it into an optical signal through the B IJ link 38h, it is sent to the plasma control panel 3I. The thick line in the figure indicates that the signal is an optical signal.

次に、プラズマ制御動作について説明する。Next, the plasma control operation will be explained.

プレプロ波形設定装置22に設定された波形信号は、コ
ントローラ31aに送られ、プラズマ計測信号と演算を
行って電流基準信号を作った後、アナログ光信号に変換
されて、各電tX盤32〜38に送られると同時に、デ
ータロガ−盤38のデータロガ−38aにデータ取込ス
タート13号が送られデータロガ−38aが計測をスタ
ートする。一方、TUB盤32〜37の各コントローラ
32c〜37cでは、上記電流基準(3号を受け、コイ
ル電圧フィードバック信号とコイル電流フィードバック
信号とを演算した後、その演算出力をサイリスクゲート
信号とする。また、DCCT電流信号は、絶縁アンプ3
2.〜37gのそれぞれを通してデータロガ−38aに
入力され、データロギングされた後、プラズマ制御盤3
1のプレプロ波形設定装置に入力される。プレプロ波形
設定装置では、以下の学習制御がなされ、次回の設定信
号が作成される。
The waveform signal set in the pre-pro waveform setting device 22 is sent to the controller 31a, and after performing calculations with the plasma measurement signal to create a current reference signal, it is converted into an analog optical signal and sent to each electric tX board 32 to 38. At the same time, a data acquisition start number 13 is sent to the data logger 38a of the data logger board 38, and the data logger 38a starts measurement. On the other hand, each controller 32c to 37c of the TUB boards 32 to 37 receives the current reference (No. 3), calculates a coil voltage feedback signal and a coil current feedback signal, and uses the calculated output as a sirisk gate signal. In addition, the DCCT current signal is transmitted to the isolation amplifier 3.
2. 37g to the data logger 38a, and after data logging, the plasma control panel 3
1 is input to the pre-pro waveform setting device. In the pre-pro waveform setting device, the following learning control is performed to create the next setting signal.

第3図は学習制御ソフトウェアシステム構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of the learning control software system.

41はシングルジョグ・モードで動作するバ・7チデイ
スクオペレーテングシステム、42はコマンドアナライ
ザであり、初期値設定プログラムや、波形設定プログラ
ム等を管理し、オペレーターの指示により、それらのプ
ログラムを起動させるブログラムである643は初期値
設定プロクラムT:あり、各コイル32 d 〜37d
 の二1イルデータ、電ンXj・電圧リミット値等の初
!Ul値パラメータを設定・表示・変更するものである
。44は学習制御用1すl (1tL設定プログラムで
あり上記初jUl値設定プログラム43の1モジユール
として構成され、データ・4Jンプリングタイム、学習
制御チャンネル割付、データロガ−人力割付の設定値表
示、変更を行うプログラムである。45は波形設定プロ
グラムであり、ポロイダルコイルにii1電する電流波
形を計1γ機の主メモリ上にマニュアルにて作成及び修
正する機能を持つプログラムである。さらに、オペレー
タの指示により学習制御プログラムを起・勤する機能を
有する。46は学習制御プログラムであり、上記波形設
定プログラム45により起動され、光CPIBリンク3
1Cを介してデータロガ−38aをコントロールし、ポ
ロイダルコイル電流波形を読込む□能、オペレータの指
示により学習制御演算する機能、学習制御演算された波
形データをディジクルーアナログ変換器(以下D/A変
換器という)のパフアメモリに転送する機能を持ったプ
ログラムである。
41 is a batch disk operating system that operates in single jog mode, and 42 is a command analyzer that manages initial value setting programs, waveform setting programs, etc., and starts these programs according to instructions from the operator. The program 643 is an initial value setting program T: Yes, each coil 32d to 37d
The first of 21 il data, electric power Xj, voltage limit value, etc.! This is used to set, display, and change Ul value parameters. 44 is a 1tL setting program for learning control, which is configured as one module of the above-mentioned initial jUl value setting program 43, and displays and changes setting values for data/4J sampling time, learning control channel allocation, and data logger manual allocation. 45 is a waveform setting program, which has the function of manually creating and modifying the current waveform flowing through the poloidal coil in the main memory of the 1γ machine. 46 is a learning control program, which is started by the waveform setting program 45 and is used to start and run a control program.
Control the data logger 38a via 1C, read the poloidal coil current waveform, perform learning control calculations according to operator instructions, and transfer the waveform data calculated using learning control to a DigiCrew analog converter (hereinafter referred to as a D/A converter). This is a program that has the function of transferring data to the puffa memory of

ここで、初1fll値設定プログラム、t 3は、コマ
ンドアリ・ライザ42より初期値設定プログラム43を
起動後、初ill値設定メニューを画面に表示し、オペ
レータの指示により学習制御31初!IJI 1a設定
ルーチンヘジヤンプする。学習制御初期値設定ルーチン
では、以下の3つの項目に対して、現在の設定値の表示
および変更を行う。
Here, the initial 1 full value setting program, t3, starts the initial value setting program 43 from the command ant riser 42, displays the initial ill value setting menu on the screen, and, in accordance with the operator's instruction, displays the initial value setting menu of the learning control 31! Jump to IJI 1a setting routine. In the learning control initial value setting routine, current set values are displayed and changed for the following three items.

(1)  データサンプリングタイムの選択(2)  
学習制御を行うチャンネル番号とデータロガ−38aの
測定チャンネルの割付 (:()  データロガ−の計alllδ+1込入力番
地の選択データサンプリングタイムは、商用電源周波数
5 Q 11 Zの波長に対し、12相整流の1相分、
すなわち1.6(i7msec及びその2倍の3.33
3m5ecの二者択一とし、現在の設定値の表示及び変
更が行えるようになっている。
(1) Selection of data sampling time (2)
Channel number for learning control and measurement channel assignment of data logger 38a 1 phase,
That is, 1.6 (i7 msec and twice that, 3.33
There are two options: 3m5ec, and the current setting value can be displayed and changed.

0学習制御を行うチャンネル番号とデータロガ−測定チ
ャンネルの割付は、まず現在の設定値の画面表示を行い
、オペレータ装置にて変更を行う。
To assign channel numbers and data logger measurement channels for 0 learning control, first display the current setting values on the screen and change them using the operator device.

Oデータロガ−38aの計測割込入力番地選択は画面表
示してi!訳するものとする。
To select the measurement interrupt input address of the O data logger 38a, display it on the screen and press i! shall be translated.

すべての入力が終了した後画面表示し、現在の設定値を
入力値と置き換えるか否かをキーボードより人力し、文
字rYJが人力された時、パンファーエリアに入れであ
る入力値を学習制御初期値設定テーブルに記憶させ、さ
らに、データロガ−に対し、データサンプリング周期等
の初回化を行う。
After all input is completed, the screen is displayed, and the input value is entered manually from the keyboard to determine whether or not to replace the current setting value with the input value. The value is stored in the value setting table, and the data sampling period, etc. are initialized for the data logger.

文字「N]が入力された場合は、何もせず次の処理に移
る。それ以外の文字が入力された場合はヘルを鳴らし、
再入力するものとする。以上の処理が終了後、オペレー
タ指示により初期値設定メニューに戻る。
If the character "N" is input, do nothing and move on to the next process.If any other character is input, sound Hell,
shall be re-entered. After the above processing is completed, the process returns to the initial value setting menu according to an operator instruction.

波形設定プログラム45はコマンドアナライザよりオペ
レータ指示により起動後、波形設定メニューを画面に表
示し、学習制御プログラムを起すjする。
After the waveform setting program 45 is activated by an operator instruction from the command analyzer, a waveform setting menu is displayed on the screen and a learning control program is started.

第4図は学習側jllプログラム全体フローチャートを
示す。
FIG. 4 shows the entire flowchart of the learning side JLL program.

学習側2111プログラムは、下記の3つのモジュール
より構成される。
The learning side 2111 program is composed of the following three modules.

(1)  コント[1−ラ31aへの波形データ転送(
2)チータロカー38a のコントロール(:3)  
学習:1,101演算 先ず、波形設定プログラム45より学習制御フ。
(1) Waveform data transfer to control [1-ra 31a (
2) Control of Cheetaroker 38a (:3)
Learning: 1,101 calculations First, the waveform setting program 45 performs learning control.

ログラム46を起動すると、まず、コントローラ31a
への波形データ転送ルーチンがスタートし、(ステップ
(51))  、学習制御を行うチャンネルの波形デー
タをコントローラ31a内のD/A変換器のバッファメ
モリに転送する。次に、転送データのエラーの有無を判
断しくステ・ノブ(52) ) 、無ys場合はデータ
ロガ−38a のコントロールル−チzノがスタートし
くステップ(53)) 、データロガ−38aに電流波
形データを取込み、さらにそのデータを計1γ機の主メ
モリエリアに転送する。次に、転送データのエラーの有
無を判断しくステップ(54))無い場合には学習制御
演算ルーチンがスタートし(ステップ(55)) 、オ
ペレータの指示により学習制御演算を行う。オペレータ
のコマンド入力により (ステップ(56)) 、その
まま学習制御をm b’tする場合は、学習制御プログ
ラム46の先頭に戻り(ステップ(57)) 、同じ処
理ごとをくり返す。また、学習制御された波形に修正を
加える必要がある場合は、波形設定プログラム45に戻
り、このプログラム45の波形修正機能を用いて、オペ
レータの指示による修正を行い、再び学習I11御プロ
グラムに戻る。そして、学習制御を終了するときは、コ
マンドアナライザ42に戻る。
When the program 46 is started, first, the controller 31a
A routine for transferring waveform data to is started (step (51)), and the waveform data of the channel for which learning control is to be performed is transferred to the buffer memory of the D/A converter in the controller 31a. Next, check whether there is an error in the transferred data using the step knob (52)), and if there is no error, start the control routine of the data logger 38a (step 53)), and transfer the current waveform data to the data logger 38a. The data is then transferred to the main memory area of the 1γ machine. Next, it is determined whether or not there is an error in the transferred data (step (54)). If there is no error, a learning control calculation routine is started (step (55)), and learning control calculation is performed according to the operator's instructions. If learning control is to be performed as is by the operator's command input (step (56)), the program returns to the beginning of the learning control program 46 (step (57)) and repeats the same process. If it is necessary to make corrections to the learning-controlled waveform, return to the waveform setting program 45, use the waveform correction function of this program 45 to make corrections according to the operator's instructions, and return to the learning I11 control program again. . Then, when the learning control is finished, the process returns to the command analyzer 42.

第5図はコントローラ31a内のバッファメモリへのデ
ータ転送ルーチンのフローチャートを示す。
FIG. 5 shows a flowchart of a data transfer routine to the buffer memory in the controller 31a.

まず、バッファメモリデータへの転送を実行するには、
デイスプレィ上にバッファメモリのライト中表示を行い
(ステップ(62)) 、次に、学び制御初期化ルーチ
ンで設定された学習制御割付チャネルを基に、コモンブ
ロック内の波形データを汎用ディジタル人出力機構を介
してコントローラ31a内のD/A変換器のバッファメ
モリに転送し、(ステップ((i3)) 、その後、バ
ッファメモリ内の波形データを読み出し、転送したデー
タと比較し、正確な転送が行われたかをチエツクする(
ステップ(64))。
First, to perform a transfer to buffer memory data,
Displays the buffer memory being written on the display (step (62)), and then outputs the waveform data in the common block to the general-purpose digital human output mechanism based on the learning control allocation channel set in the learning control initialization routine. The waveform data is transferred to the buffer memory of the D/A converter in the controller 31a via the (step (i3)), and then the waveform data in the buffer memory is read and compared with the transferred data to ensure accurate transfer. Check if the
step (64)).

データの転送中はそのチエツク内容を画面に表示し、現
在の状態がオペレータにわかる様にする。
While data is being transferred, the contents of the check are displayed on the screen so that the operator can understand the current status.

正常に終了した場合は、エラーフラグをゼロとして処理
を終了する(ステップ(65)) 。
If the process ends normally, the error flag is set to zero and the process ends (step (65)).

転送データに不良が発生した場合は、再度波形データを
バッファメモリに転送しくステ、プ(66))さらにバ
ッファメモリを読み出し、比較を行う。
If a defect occurs in the transferred data, the waveform data is transferred to the buffer memory again (step 66), and the buffer memory is read out and compared.

もし、再度不良が発生した場合は、不良内容をプリンタ
に出力しくステップ(67)) 、エラーフラグに1を
立てて処理を終了する(ステップ(68)。
If a defect occurs again, the details of the defect are output to the printer (step (67)), the error flag is set to 1, and the process is terminated (step (68)).

なお、データの転送時、計算機内の波形データは単精度
実数形式の工学単位のデータ、D/A変換器のバッファ
メモリ内は、±IOVフルスケールとした12ビツトの
データであり、そのスケール変換係数は、各チャネルに
対応して単精度実数形式で格納しである。波形データは
、先頭より各チャネル単精度実数形式で格納しである・
第6図はデータロガ−・コントロール・ルーチンのフロ
ーチャートを示す、これによれば、まずエラーフラグと
オーバーフローフラグをゼロにしてリセットしくステッ
プ(71))、次ニGPIBIa構、光GPIBリンク
31cを介して計算機に接続されたデータロガ−をコン
トロールし、データロガ−割込番地に割込信号が入力さ
れると、計測をスタートする様にデータロガ−内にプロ
グラムを組み、それを起動しくステップ(72) )画
面にデータロカーがスタンバイ状態にあることを表示7
3しくステップ(73)) 、計測完了まで待つ(ステ
ップ(74))。計測が完了したら、「データ計測完了
」「データ転送中」表示しくステップ(75)) 、デ
ータロザチャンネル割付テーブルを基にして6チヤンネ
ル分繰り返しくステップ(76))  、データロガ−
38aの計測データを主メモリエリアに読み込む(ステ
ップ(77)) 、次に、CPI+3エラーの有無を判
定しくステップ(78)) 、無い場合には、後述のコ
ード変換を行う。なお、データロガ−の計測インターバ
ルは、データサンプリングタイムが1 + 667+m
5ecの時1 m5ec、3.333m5ecの時2 
m5ecとして設定し、その差は直線補間を用いて時間
軸補間84により修正する(ステップ(84)) 。
When transferring data, the waveform data in the computer is data in engineering units in single-precision real number format, and the data in the buffer memory of the D/A converter is 12-bit data set to ±IOV full scale. The coefficients are stored in single precision real number format for each channel. Waveform data is stored in single-precision real number format for each channel from the beginning.
FIG. 6 shows a flowchart of the data logger control routine, which first resets the error flag and overflow flag to zero (step (71)), and then resets the error flag and overflow flag to zero (step (71)). Control the data logger connected to the computer, write a program in the data logger to start measurement when an interrupt signal is input to the data logger interrupt address, and start it (Step (72)) Screen Displays that the data locator is in standby mode7
Third step (73)) and wait until measurement is completed (step (74)). When the measurement is completed, display "Data measurement complete" and "Data transfer in progress" (step (75)), repeat step (76)) for 6 channels based on the data loss channel allocation table,
38a is read into the main memory area (step (77)). Next, it is determined whether there is a CPI+3 error (step (78)). If there is no CPI+3 error, the code conversion described later is performed. In addition, the measurement interval of the data logger is data sampling time of 1 + 667 + m.
5ec 1 m5ec, 3.333m5ec 2
m5ec, and the difference is corrected by time axis interpolation 84 using linear interpolation (step (84)).

データロガ−からのデータはASCIIコードで送られ
てくるが、これを1+nd長の整数に変換する(ステッ
プ(79)) 。この時、CPIBインクフェースCP
IB  I/Fのデータ転送エラーや。
Data from the data logger is sent in ASCII code, but this is converted into an integer with a length of 1+nd (step (79)). At this time, CPIB ink face CP
IB I/F data transfer error.

送られてきたASCIIコードが正常に数値に変換され
なかった場合は、コード変換エラーを判別しくステップ
(80)) 、再度データロガ−から旧1jj11デー
タを読込む(ステップ(81))。再度エラーが生じた
時は、エラーの生じたデータロガ−チャンネル及び、デ
ータロガ−のステータスをプリンタに出力し、エラーフ
ラグに“3”を立てて処理を終了する(ステップ(82
))。また、データロガ−のステータスを読み込む(ス
テップ(83) )。
If the sent ASCII code is not normally converted into a numerical value, a code conversion error is determined (step (80)), and the old 1JJ11 data is read from the data logger again (step (81)). If an error occurs again, output the data logger channel where the error occurred and the status of the data logger to the printer, set "3" to the error flag, and end the process (step (82)
)). Also, the status of the data logger is read (step (83)).

なお、データロガ−の計測時にエラーが住じていない場
合には、時間軸補間を行って、データロガ−のステータ
スを調べ(ステップ(85) 、 (86) )、もし
、エラーが生じていれば、エラーフラグに“2”を立て
て処理を終了しくステップ(87)) 、エラー階、チ
ャンネル猶のステータス表示をする(ステップ(88)
)。また、この時、ステータス内のスケールオーバフロ
ーフラグを調べ(ステップ(89)) 、学習制御プロ
グラム内のオーバフローフラグをセントする(ステップ
(90)) 。
If no error occurs during measurement with the data logger, time axis interpolation is performed to check the status of the data logger (steps (85) and (86)), and if an error occurs, Set "2" to the error flag and end the process (step (87)), and display the status of the error floor and channel (step (88)).
). At this time, the scale overflow flag in the status is checked (step (89)), and the overflow flag in the learning control program is checked (step (90)).

第7図は学習制御計算のフローチャートを示す。FIG. 7 shows a flowchart of learning control calculation.

先ず、画面上に座標軸を表示させ(ステップ(+00)
)、チャンネル魚、時間軸、コントロール方法などをキ
ーボードにより人力しくステップ(101))、学習1
.1目ルを行うチャンネルの指示及び時間軸はms単位
の時間表現とするか、Itji番表現色表現かの方法を
1旨定する。次に、前回設定及び測定波形表示を行う(
ステップ(102))。例えば前回ショットの設定波形
を一点鎖線で、測定波形を破線でそれぞれ示す。次に学
習制御区間及び係数αの入力をする(ステップ(103
))。具体的には式(1)のα0.T、、T、’の値を
入力する。次に、f、4−r、+α、(d、−f、)の
弐に従って学習制御/ 計1γを行い、次回の設定波形データを求める(mはチ
ャンネル番号で1 < m < 6 )。すなわち、弐
fllの演算を行う (ステップ(104)) 。
First, display the coordinate axes on the screen (step (+00)
), channel fish, time axis, control method, etc. manually using the keyboard (101)), learning 1
.. The channel designation and time axis for performing the first reading are determined to be either time expression in ms units or Itji number expression color expression. Next, perform the previous settings and display the measured waveform (
Step (102)). For example, the setting waveform of the previous shot is shown by a dashed line, and the measured waveform is shown by a broken line. Next, input the learning control section and coefficient α (step (103)
)). Specifically, α0 in equation (1). Input the value of T,,T,'. Next, learning control/total 1γ is performed according to the second part of f, 4-r, +α, (d, -f,), and the next set waveform data is obtained (m is the channel number and 1<m<6). That is, 2fl calculations are performed (step (104)).

続いて、次回設定波形表示を行い(ステップ(105)
)学?l ifi’l f7ff演算終了後、その結果
そ実線として加える。次に、他チャンネルの学習制御計
算をするかどうかの入力であり、2チャンネル以上学習
制御を行う場合は、再度前記の動作を操り返す(ステ7
プ(106))。
Next, the next setting waveform is displayed (step (105)).
) studies? After the l ifi'l f7ff operation is completed, the result is added as a solid line. Next, input whether to perform learning control calculations for other channels. If learning control is to be performed for two or more channels, repeat the above operation (step 7).
(106)).

fコ゛へ、  =rこ)、+αa  Cd 5(Ll 
−f m’(’Ll  )・・・弐(11 (T、≦t≦T、′) 但し、 fa’t’w  ’第mチャンネル、時刻tにおける前
回放電の目標値 f+ll’l’Ll  :第mチャンネル、時刻tにお
ける次回放電の目標値 d+*ll  :時刻tでの第mチャンネルに対応した
前回放電のデータ α−:第mチャンネルの修正係数 To   :学習側in演算スタート時刻’r、’  
:学習制御演算エンド時刻本実施例では電流検出器に直
流形変流器を用いたがシャント1m抗や交流形変流器で
も同一目的が達成できる。また、コイル電流のコントロ
ールに用いているサイリスク電源はトランジスタ電源で
も良く、また演算式の変形も可能である。
To f, =r), +αa Cd 5(Ll
-f m'('Ll)...2(11 (T, ≦t≦T,') However, fa't'w' Target value of previous discharge at m-th channel, time t f+ll'l'Ll: Target value d+*ll for the next discharge at time t on the m-th channel: Data of the previous discharge corresponding to the m-th channel at time t α-: Correction coefficient To for the m-th channel: Learning side in calculation start time 'r, '
:Learning control calculation end time In this embodiment, a DC type current transformer is used as the current detector, but the same purpose can be achieved with a 1m shunt or an AC type current transformer. Further, the SIRISK power supply used to control the coil current may be a transistor power supply, and the calculation formula may be modified.

[発明の効果〕 以−Lのように、この発明によれば、ポロイダルコイル
電流の設定値と実測値とを一定の関数に従−7で演算し
、この演算結果に従って、次回の放電のポロイダルコイ
ル電流を自動修正するように構成したので、プラズマの
位置や形状を安定性を保持しつつ、数ショットの放電に
て確実に制御できるのが得られる効果がある。
[Effects of the Invention] As shown in L below, according to the present invention, the set value and the measured value of the poloidal coil current are calculated by -7 according to a certain function, and the poloidal coil current for the next discharge is calculated according to the calculation result. Since the configuration is configured to automatically correct the position and shape of the plasma, it is possible to reliably control the position and shape of the plasma with just a few shots of discharge while maintaining stability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例によるプラズマ制御ソステム
のブし1ツク接待図、第2図はプラズマ制i1[1シス
テムの回路図、第3図は学習制御ソフトウェアのシステ
ム構成図。第4図は学習制御プログラム全体のフローチ
ャート、第5図はバッファメモリ・データ転送ルーチン
のフローチャート、第6図はデータロガ−コントロール
ルーチンのフローチャート、第7図は学習制御のフロー
チャート、第8図は従来のプラズマ制御システムのブロ
ック接続図である。 2■は電源部、22はプレプロ波形設定袋が、23はプ
ラズマの伝達関数発生器、25はサイリスク電源、26
はポロイダルコイル、27 ハホ。 イダルコイルの電流検出器。
FIG. 1 is a block diagram of a plasma control system according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of a plasma control i1 [1 system, and FIG. 3 is a system configuration diagram of learning control software. Figure 4 is a flowchart of the entire learning control program, Figure 5 is a flowchart of the buffer memory data transfer routine, Figure 6 is a flowchart of the data logger control routine, Figure 7 is a flowchart of learning control, and Figure 8 is the conventional flowchart. It is a block connection diagram of a plasma control system. 2■ is the power supply unit, 22 is the pre-pro waveform setting bag, 23 is the plasma transfer function generator, 25 is the Cyrisk power supply, 26
is a poloidal coil, 27 haho. Idal coil current detector.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ポロイダルコイルの電流パターンを設定しこの電
流信号をプラズマの位置及び形状のフィードバック信号
に重畳させて、この重畳信号に基づきプラズマの制御を
行うプラズマ制御システムにおいて、上記ポロイダルコ
イルの電流を検出し、この検出信号と上記設定した電流
パターンとに、一定の関数で演算をほどこし、この演算
結果にもとづき、次回の放電の電流パターンを自動的に
修正するようにしたことを特徴とするプラズマ制御シス
テム。
(1) In a plasma control system that sets a current pattern of the poloidal coil, superimposes this current signal on a feedback signal of the position and shape of the plasma, and controls the plasma based on this superimposed signal, detects the current of the poloidal coil, A plasma control system characterized in that a calculation is performed using a certain function on this detection signal and the current pattern set above, and the current pattern for the next discharge is automatically corrected based on the calculation result.
JP63082704A 1988-04-04 1988-04-04 Plasma control method Expired - Lifetime JP2516240B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63082704A JP2516240B2 (en) 1988-04-04 1988-04-04 Plasma control method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63082704A JP2516240B2 (en) 1988-04-04 1988-04-04 Plasma control method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01254891A true JPH01254891A (en) 1989-10-11
JP2516240B2 JP2516240B2 (en) 1996-07-24

Family

ID=13781788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63082704A Expired - Lifetime JP2516240B2 (en) 1988-04-04 1988-04-04 Plasma control method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2516240B2 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56159098A (en) * 1980-05-12 1981-12-08 Hitachi Ltd Plasma learning control device
JPS5743268A (en) * 1980-08-27 1982-03-11 Japan Atom Energy Res Inst Preprogram controlling system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56159098A (en) * 1980-05-12 1981-12-08 Hitachi Ltd Plasma learning control device
JPS5743268A (en) * 1980-08-27 1982-03-11 Japan Atom Energy Res Inst Preprogram controlling system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2516240B2 (en) 1996-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0076970B1 (en) Process for inputting coordinate points of a desired path of movement for a preset robot
KR880002421B1 (en) Numerical control system
CN108958171A (en) Machine control unit and production system
JP2008527952A (en) Automatic power factor corrector
JPS5833711A (en) Numerical controller
EP0142761B1 (en) X-ray tube emission current controller
CN112692409A (en) Tube plate welding system based on touch position finding calibration and welding method thereof
JPH01254891A (en) Plasma control system
US3889106A (en) Method and system for nuclear power plant synchroscope simulation for operator training
WO1985003469A1 (en) Welding condition calculating system for a welding robot
JPH0580815A (en) Message display system for pc
KR0182393B1 (en) Assumed computer numerical value control nc system &amp; method
JPS59180603A (en) Data setting method of numerical control device
JPH0653335B2 (en) Numerical control program machining simulation method
JP2628914B2 (en) Processing simulation method
WO1985000678A1 (en) Method of inspecting machining locus control
JP2003330973A (en) Simulation device
JP2832403B2 (en) Resistance welding control device
JPH03218504A (en) Temperature controller
JPH07135800A (en) Control apparatus for induction machine
JPS63300302A (en) Program input display device for programmable controller
JPH07168866A (en) Three-dimensional subject arranging device
JPH05241649A (en) Teaching device for industrial robot
JPS62145259A (en) Copying machine with editing function
JPH0720925A (en) Robot simulation system