JPH01246841A - Wire bonding device - Google Patents

Wire bonding device

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JPH01246841A
JPH01246841A JP63075324A JP7532488A JPH01246841A JP H01246841 A JPH01246841 A JP H01246841A JP 63075324 A JP63075324 A JP 63075324A JP 7532488 A JP7532488 A JP 7532488A JP H01246841 A JPH01246841 A JP H01246841A
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JP
Japan
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bonding
wire
light irradiation
irradiation means
bonding wire
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Application number
JP63075324A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuko Ozawa
小沢 克子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

PURPOSE:To make possible the high-speed and high-accuracy inspection of a bonding wire by using a simple mechanism by a method wherein illuminators are moved up and down to image the bonding wire in every step of the illuminators and the form of the three-dimensional loop of the wire is found on the basis of image data and the moved positions of the illuminators. CONSTITUTION:First and second illuminators 14 and 15 are moved up and down to irradiate parallel rays 14' and 15' on a bonding wire 12 and an image sensing device 23 images the wire 12 in every movement of the illuminators. An image signal is stored in an image memory 26 and an image processing circuit 25 makes out image data on the form of the three-dimensional loop of the wire 12 on the basis of image data in the memory 26 and the moved positions of the illuminators 14 and 15. Moreover, an inspecting controller 27 inspects the form of the three-dimensional loop of the wire 12 to decide the good or bad of the form. An illumination moving controller 22 has an imaging area moving mechanism 28 and makes the illuminators 14 and 15 and the device 23 move integrally. Thereby, the wire can be inspected by a simple mechanism at high speed and with a high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はワイヤボンディング装置に関する。[Detailed description of the invention] [Purpose of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a wire bonding device.

(従来の技術) マイクロプロセッサやゲートアレイ等のA S I C
(Application  Apecirlc I 
C,用途特定集積回路)は、非常に多くの電極を有して
いる。従って、このASICの各電極(以下、ポンディ
ングパッドと指称する)を通して電気信号を人出力する
には各ポンディングパッドとリードフレームの各電極と
の間をワイヤボンディングにより結線することになる。
(Prior art) ASICs such as microprocessors and gate arrays
(Application Apecirlc I
C, application-specific integrated circuits) have a large number of electrodes. Therefore, in order to output an electrical signal through each electrode (hereinafter referred to as a bonding pad) of this ASIC, each bonding pad and each electrode of the lead frame must be connected by wire bonding.

なお、結線されたワイヤをボンディングワイヤと指称す
る。このようにワイヤボンディングされたボンディング
ワイヤの本数は180木程度であり、かつその結線間隔
は200μm程度となっている。
Note that the connected wire is referred to as a bonding wire. The number of bonding wires wire-bonded in this way is about 180 pieces, and the wire connection interval is about 200 μm.

ところで、かかるワイヤボンディングでは各ボンディン
グワイヤが正確に結線されたかの検査が行なわれる。こ
の検査はオペレータの目視によって行なわれるが、この
ような目視検査ではボンディングワイヤの形状を定量的
に判定することは難しく、まして見落とすることもある
。そこで、かかる検査を自動化した技術がある。この検
査は2次元的に行なわれる方法で、先ず第14図に示す
ようにワイヤボンディングされる前のASICIとリー
ドフレーム2とを撮像してその画像データを得、次に第
15図に示すようにワイヤボンディングされた後のAS
ICIとリードフレーム2とを撮像してその画像データ
を得る。なお、3はボンディングワイヤである。そして
、これら画像データの差を求めることによって第1B図
に示すようなボンディングワイヤ3のみの画像データを
得る。しかるに、この画像データから各ボンディングワ
イヤ3が正確にASICIとリードフレーム2との間で
結線されているかが検査される。
By the way, in such wire bonding, an inspection is performed to see if each bonding wire is correctly connected. This inspection is performed visually by an operator, but it is difficult to quantitatively determine the shape of the bonding wire with such visual inspection, and even moreover, it may be overlooked. Therefore, there is a technology that automates such inspection. This inspection is a two-dimensional method. First, as shown in FIG. 14, the ASICI and lead frame 2 before wire bonding are imaged to obtain image data, and then as shown in FIG. AS after wire bonding to
The ICI and lead frame 2 are imaged to obtain image data. Note that 3 is a bonding wire. Then, by determining the difference between these image data, image data of only the bonding wire 3 as shown in FIG. 1B is obtained. However, from this image data, it is inspected whether each bonding wire 3 is accurately connected between the ASICI and the lead frame 2.

ところか、このような検査方法では1つのASICIに
対して結線された全ボンディングワイヤ3に対して一括
して検査しているために各ボンディングワイヤ3を1本
づつ検査することは難しい。特にASICIのようなボ
ンディングワイヤ3の本数が非常の多い場合は1本づつ
ボンディングワイヤ3の形状を検査することは不可能で
ある。
However, in such an inspection method, all bonding wires 3 connected to one ASICI are inspected at once, so it is difficult to inspect each bonding wire 3 one by one. In particular, when there are a large number of bonding wires 3 such as in ASICI, it is impossible to inspect the shape of each bonding wire 3 one by one.

(発明が解決しようとする課題) 以上のように各ボンディングワイヤの形状を精度高く検
査することは困難であった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, it has been difficult to accurately inspect the shape of each bonding wire.

そこで本発明は、簡単かつ高速でボンディングワイヤの
3次元ループ形状を検査できる機能を備えたワイヤボン
ディング装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a wire bonding apparatus having a function of inspecting the three-dimensional loop shape of a bonding wire easily and at high speed.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、2つの被処理体間にワイヤボンディングされ
た複数のボンディングワイヤの3次元ループ形状を検査
するボンディングワイヤ検査部を備えたワイヤボンディ
ング装置において、ボンディングワイヤ検査部は、ボン
ディングワイヤのボンディング方向でかつ対向する各方
向からそれぞれボンディングワイヤのうち所定本数のボ
ンディングワイヤに対して・[色付光を照射する一対の
光照射手段と、この光照射手段をボンディングワイヤに
対して上下方向に移動させる上下移動手段と、ボンディ
ングワイヤの上方に配置され移動手段により光照射手段
が上方又は下方に移動中にボンディングワイヤを撮像す
る撮像装置と、この撮像装置の撮像により得られた各画
像データと光照射手段の移動位置とからボンディングワ
イヤの3次元ループ形状を求める画像処理手段と、光照
射手段と撮像装置とを一体的に全ボンディングワイヤに
対して移動させる撮像区域移動手段とを備えて上記目的
を達成しようとするワイヤボンディング装置である。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention provides a wire bonding device including a bonding wire inspection section that inspects the three-dimensional loop shape of a plurality of bonding wires wire-bonded between two objects to be processed. In the apparatus, the bonding wire inspection section includes: a pair of light irradiation means for irradiating colored light; a vertical moving means for moving the light irradiation means in the vertical direction with respect to the bonding wire; an imaging device arranged above the bonding wire and capturing an image of the bonding wire while the light irradiation means is moved upward or downward by the moving means; An image processing means that calculates the three-dimensional loop shape of the bonding wire from each image data obtained by imaging with the imaging device and the movement position of the light irradiation means, and the light irradiation means and the imaging device are integrated for all the bonding wires. This wire bonding apparatus is provided with an imaging area moving means for moving the imaging area.

又、本発明は、2つの被処理体間にワイヤボンディング
された複数のボンディングワイヤの3次元ループ形状を
検査するボンディングワイヤ検査部を備えたワイヤボン
ディング装置において、ボンディングワイヤ検査部は、
各ボンディングワイヤの結線位置に沿って全周に亙って
それぞれ配置されボンディングワイヤのボンディング方
向から全ボンディングワイヤに対して平行光を照射する
第1光照射手1段と、これら第1光照射手段の中心位置
に配置されて第1光照射手段の対向方向から全ボンディ
ングワイヤに平行光を照射する第2光照射手段と、これ
ら第1及び第2光照射手段をボンディングワイヤに対し
て上下方向に移動させる」二下移動手段と、各光照射手
段ごとでかつボンディングワイヤの上方に配置され移動
手段により光照射手段が上方又は下方に移動中にボンデ
ィングワイヤを撮像する複数の撮像装置と、これら撮像
装置の撮像により得られた各撮像区域別の各画像データ
と各光照射手段の移動位置とから全ボンディングワイヤ
の3次元ループ形状を求める画像処理手段とを備えて上
記目的を達成しようとするワイヤボンディング装置であ
る。
Further, the present invention provides a wire bonding apparatus including a bonding wire inspection section that inspects the three-dimensional loop shape of a plurality of bonding wires wire-bonded between two objects to be processed, wherein the bonding wire inspection section includes:
one stage of first light irradiation means arranged along the entire circumference along the connection position of each bonding wire and irradiating parallel light to all the bonding wires from the bonding direction of the bonding wire; a second light irradiation means disposed at a central position and irradiating all the bonding wires with parallel light from a direction opposite to the first light irradiation means, and moving these first and second light irradiation means in the vertical direction with respect to the bonding wire. a plurality of imaging devices arranged above the bonding wire for each light irradiation means and capturing images of the bonding wire while the light irradiation means is moved upward or downward by the movement means, and these imaging devices Wire bonding that attempts to achieve the above object by comprising an image processing means for determining a three-dimensional loop shape of all bonding wires from each image data of each imaging area obtained by imaging and the movement position of each light irradiation means. It is a device.

(作用) このような手段を備えたことにより、所定本数のボンデ
ィングワイヤに対して光照射手段により平行光が照射さ
れ、これとともにこの光照射手段が上下移動手段によっ
てボンディングワイヤに対して上下方向に移動される。
(Function) By providing such means, a predetermined number of bonding wires are irradiated with parallel light by the light irradiation means, and at the same time, the light irradiation means is moved vertically relative to the bonding wires by the vertical movement means. will be moved.

このとき撮像装置によりボンディングワイヤが撮像され
、これら画像データと光照射手段の移動位置とから画像
処理手段はボンディングワイヤの3次元ループ形状を求
める。そして、光照射手段と撮像装置とが一体的に全ボ
ンディングワイヤに対して移動される。
At this time, the bonding wire is imaged by the imaging device, and the image processing means determines the three-dimensional loop shape of the bonding wire from the image data and the moving position of the light irradiation means. Then, the light irradiation means and the imaging device are moved integrally with respect to all the bonding wires.

又、上記手段を備えたことにより、各ボンディングワイ
ヤの結線位置に沿って及び中心位置にそれぞれ配置され
た第1及び第2光照射手段によって全ボンディングワイ
ヤに対して平行光が照射され、これとともにこれら第1
及び第2光照射手段が上下移動手段によってボンディン
グワイヤに対して上下方向に移動される。このとき各撮
像装置により各撮像区域別に全ボンディングワイヤが撮
像され、これら撮像区域別の各画像データと光照射手段
の移動位置とから画像処理手段はボンディングワイヤの
3次元ループ形状を求める。
Moreover, by providing the above means, all the bonding wires are irradiated with parallel light by the first and second light irradiation means respectively arranged along the connection position of each bonding wire and at the center position, and together with this, These first
The second light irradiation means is moved in the vertical direction relative to the bonding wire by the vertical movement means. At this time, all the bonding wires are imaged for each imaging area by each imaging device, and the image processing means determines the three-dimensional loop shape of the bonding wire from each image data for each imaging area and the moving position of the light irradiation means.

(実施例) 以下、本発明の第1実施例について図面を参照して説明
する。
(Example) Hereinafter, a first example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図はワイヤボンディング装置の構成図である。同図
において10は被処理体としてのASICであり、11
はリードフレームである。
FIG. 1 is a configuration diagram of a wire bonding apparatus. In the same figure, 10 is an ASIC as the object to be processed, and 11
is a lead frame.

そして、これらASICIOとリードフレーム11と間
は複数のボンディングワイヤ12によって結線されてい
る。
These ASICIOs and the lead frame 11 are connected by a plurality of bonding wires 12.

さて、13は光照射手段であって、これはボンディング
ワイヤ12のボンディング方向でかつ対向する各方向か
らそれぞれ各ボンディングワイヤ12のうち所定本数の
ボンディングワイヤ12にk・1シて平行光を照射する
ものである。具体的な構成は次のようになっている。A
SrCloの中心位置の真上には第1照明器14が配置
されるとともに第2図に示すように第1照明器14から
見てボンディングワイヤ2のボンディング方向の対向す
る位置に第2照明器15が配置されている。これら第1
及び第2照明器14.15はそれぞれ対向する方向にA
SICIOの平面方向とf行に平面光14−.15−を
放射するようになっている。
Now, 13 is a light irradiation means, which irradiates a predetermined number of bonding wires 12 out of each bonding wire 12 with k*1 parallel light from each opposing direction in the bonding direction of the bonding wires 12. It is something. The specific configuration is as follows. A
A first illuminator 14 is disposed directly above the center position of SrClo, and a second illuminator 15 is disposed at a position opposite to the first illuminator 14 in the bonding direction of the bonding wire 2, as shown in FIG. is located. These first
and second illuminators 14 and 15 respectively in opposite directions.
A plane light 14-. It is designed to emit 15-.

しかるに、これら第1及び第2照明器14.15の各光
放射口にはそれぞれ平面光を形成するための光学レンズ
16.17が設けられている。一方、18はレーザ発振
装置であって、このレーザ発振装置18から出力された
レーザ光が集光レンズ19及び図示しない光ファイバー
を通って6第1及び第2照明器14.15に送られるよ
うになっている。なお、このレーザ発振装置18は照明
コントローラ20によってレーザ出力のオン・オフや出
力パワーが制御されている。
However, each of the light emitting ports of the first and second illuminators 14.15 is provided with an optical lens 16.17 for forming plane light, respectively. On the other hand, 18 is a laser oscillation device, and the laser beam output from this laser oscillation device 18 is sent to 6 first and second illuminators 14 and 15 through a condenser lens 19 and an optical fiber (not shown). It has become. Note that the laser oscillation device 18 is controlled by a lighting controller 20 to control on/off of laser output and output power.

又、第1及び第2照明器14.15には上上移動手段と
しての照明移動機構21及び照明移動コントローラ22
が設けられ、これら照明移動機)M21及び照明移動コ
ントローラ22によって矢印(イ)方向つまりボンディ
ングワイヤ12に対して上ド方向に移動IJ能となって
いる。なお、これら照明器14.15の移動はステップ
状となっている。
Further, the first and second illuminators 14 and 15 are provided with a lighting movement mechanism 21 and a lighting movement controller 22 as upward movement means.
The illumination moving device M21 and the illumination movement controller 22 are capable of moving in the direction of arrow (a), that is, in the upward direction with respect to the bonding wire 12. Note that the illuminators 14 and 15 move in steps.

23は撮像装置であって、この撮像装置23はボンディ
ングワイヤ12の上方に配置されて各第1及び第2照明
器14.15がステップ状に移動する毎にボンディング
ワイヤ12を撮像するものとなっている。そして、この
撮像装置23から出力された画像信号はA/D (アナ
ログ/ディジタル)変換器24によってディジタル画像
信号に変換されて画像処理回路25を通って画像メモリ
26に画像データとして□記憶されるようになっている
。この画像処理回路25は画像メモリ26に記憶された
各画像データと第1及び第2照明器14.15の移動位
置とからボンディングワイヤ12の3次元ループの形状
画像データを作成する機能を持ったものである。
Reference numeral 23 denotes an imaging device, which is arranged above the bonding wire 12 and captures an image of the bonding wire 12 each time the first and second illuminators 14 and 15 move stepwise. ing. The image signal output from the imaging device 23 is converted into a digital image signal by an A/D (analog/digital) converter 24, and is stored as image data in an image memory 26 through an image processing circuit 25. It looks like this. This image processing circuit 25 has a function of creating shape image data of the three-dimensional loop of the bonding wire 12 from each image data stored in the image memory 26 and the movement positions of the first and second illuminators 14 and 15. It is something.

そして、検査コントローラ27は照明コントローラ20
.照明移動コントローラ22及び画像処理回路25に対
して各指令を発してボンディングワイヤ検査を実行させ
るとともに画像処理回路25で作成された形状画像デー
タからボンディングワイヤ12の形状の良否を判定する
機能を持ったものである。
Then, the inspection controller 27 is the lighting controller 20
.. It has a function of issuing commands to the illumination movement controller 22 and the image processing circuit 25 to execute a bonding wire inspection, and also determining whether the shape of the bonding wire 12 is good or bad from the shape image data created by the image processing circuit 25. It is something.

又、前記照明移動コントローラ22には撮像区域移動機
構28か設けられている。この撮像区域移動機構28は
第1及び第2照明器14.15と撮像装置23とを第3
図に示すように一体的にa→b −c・・・、a−→b
′→C+・・・の経路に従って移動させるものである。
The illumination movement controller 22 is also provided with an imaging area movement mechanism 28 . This imaging area moving mechanism 28 moves the first and second illuminators 14.15 and the imaging device 23 into a third
As shown in the figure, integrally a→b -c..., a-→b
'→C+...

かくして、撮像装置23によって得られる各画像区域は
第4図に示すようにA、B、C・・・となる。
Thus, each image area obtained by the imaging device 23 is A, B, C, . . . as shown in FIG.

次に上記の如く構成された装置の作用について第5図及
び第6図に示す検査フローチャートに従って説明する。
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be explained according to the inspection flowcharts shown in FIGS. 5 and 6.

先ず、初期処理としてレーザ発振装置18からレーザ光
が出力されて第1及び第2照明器14.15に送られ、
かつこれら第1及び第2照明器14.15からそれぞれ
放射される各レーザ光14=、15−の位置が11にセ
ットされるように位置決めされる。さらに、第2照明器
15及び撮像装置23が第3図に示すように所定の位置
に配置されて撮像装置23によって撮像区域Aが撮像さ
れるようにセットされる。
First, as an initial process, laser light is output from the laser oscillation device 18 and sent to the first and second illuminators 14 and 15.
The positions of the laser beams 14=, 15- emitted from the first and second illuminators 14, 15, respectively, are set to 11. Further, the second illuminator 15 and the imaging device 23 are arranged at predetermined positions as shown in FIG. 3, and the imaging device 23 is set so that the imaging area A is imaged.

この状態にステップslにおいて検査コントローラ27
は照明移動コントローラ22に移動指令を送出するとと
もに画像処理回路25に処理実行指令を送出する。ここ
で、移動機構21によって各第1及び第2照明器14.
15を下降させるステップ数をnとする。しかるに、検
査コントローラ27は第6図に示す画像取込みフローチ
ャートのステップelにおいて、先ずri−IJつまり
測定位置1!と設定してステップc3において画像処理
回路25に取り込み指令を送出する。なお、ステップe
2において測定位置11に移動させる指令が送出される
が、初期処理において第1及び第2照明器14.15は
既に測定位置11にセットされているのでここでは移動
指令は送出されない。このようにして第1及び第2照明
器14.15の各測定位置がitに位置決めされると、
画像処理回路25はA/D変換器24でディジタル変換
されたディジタル画像信号を取り込んで画像メモリ26
に画像データとして記憶する。このときの画像データは
第7図に示す画像データ(ll)であって、5本のボン
ディングワイヤ12に平面光が照射されてその照射部分
の濃淡レベルが高くなっている。次にステップc5にお
いて全測定位置inに対して全て撮像を行ったかを判断
し、この場合撮像は測定位置11のみであるのでステッ
プe6でri−2Jとしてステップo2に移る。このス
テップc2において検査コントローラ27は照明移動コ
ントローラ22に対して測定位置12に移動させる移動
指令を送出する。これにより第1及び第2照明器14.
15はそれぞれ下降してその照射光が測定位置12にセ
ットされる。しかして、ステップe3において画像処理
回路25はこのときのディジタル画像信号を取り込んで
画像データ(12)として画像メモリ26に記憶する。
In this state, the inspection controller 27
sends a movement command to the illumination movement controller 22 and also sends a processing execution command to the image processing circuit 25. Here, each of the first and second illuminators 14 .
Let n be the number of steps for lowering 15. However, in step el of the image capture flowchart shown in FIG. 6, the inspection controller 27 first selects ri-IJ, that is, measurement position 1! is set, and a capture command is sent to the image processing circuit 25 in step c3. Note that step e
2, a command to move to the measurement position 11 is sent, but since the first and second illuminators 14, 15 have already been set to the measurement position 11 in the initial processing, no movement command is sent here. When each measurement position of the first and second illuminators 14.15 is thus positioned at it,
The image processing circuit 25 takes in the digital image signal digitally converted by the A/D converter 24 and stores it in the image memory 26.
is stored as image data. The image data at this time is the image data (ll) shown in FIG. 7, in which the five bonding wires 12 are irradiated with plane light, and the shading level of the irradiated portion is high. Next, in step c5, it is determined whether all of the measurement positions in have been imaged. In this case, since only the measurement position 11 has been imaged, in step e6, ri-2J is determined and the process moves to step o2. In step c2, the inspection controller 27 sends a movement command to the illumination movement controller 22 to move it to the measurement position 12. As a result, the first and second illuminators 14.
15 are lowered and their irradiation light is set at the measurement position 12. Then, in step e3, the image processing circuit 25 takes in the digital image signal at this time and stores it in the image memory 26 as image data (12).

以下、このようして第1及び第2照明器14.15の各
測定位置がInに達するまで繰り返されてそのときの第
7図に示すような各画像データ(11)〜(In)が画
像メモリ26に記憶される。
Hereinafter, this process is repeated until each measurement position of the first and second illuminators 14.15 reaches In, and at that time each image data (11) to (In) as shown in FIG. It is stored in memory 26.

このように各測定位置N−1nでのディジタル画像信号
の取り込みが終了すると、ステップS2に移って画像処
理回路25は検査コントローラ27から第1及び第2照
明器14.15をステップ状に下降させたときの各移動
位置を受けてこれら移動位置と各画像データ(if)〜
(in)とを対応させる。そして、画像処理回路25は
各画像データ(il)〜(in)を加算して第8図に示
すような画像データを作成し、続いて各移動位置に基づ
いて第9図に示すようなボンディングワイヤ12を側面
側から見たボンディングワイヤ12の3次元ループ形状
の画像データを作成する。そして、この画像データから
ボンディングワイヤ12の形状、例えばアンダループや
平均高さ等が求められる。
When the acquisition of digital image signals at each measurement position N-1n is completed in this way, the process moves to step S2, and the image processing circuit 25 lowers the first and second illuminators 14 and 15 from the inspection controller 27 in a stepwise manner. In response to each movement position at the time, these movement positions and each image data (if) ~
(in). Then, the image processing circuit 25 adds each image data (il) to (in) to create image data as shown in FIG. 8, and then performs bonding as shown in FIG. 9 based on each movement position. Image data of a three-dimensional loop shape of the bonding wire 12 when the wire 12 is viewed from the side is created. Then, from this image data, the shape of the bonding wire 12, such as the underloop and average height, is determined.

しかして、ステップS3において検査コントローラ27
は求められたアンダループや平均高さ等が所定値となっ
ているかを判断し、所定値とうりであればステップs4
に移る。ところが、アンダルーブや・1死均高さ等が所
定値よりも逸脱していれば、検査コントローラ27はス
テップS5において図示しない表示装置においてエラー
表示させてボンディングワイヤ12の不良を報知させる
Therefore, in step S3, the inspection controller 27
determines whether the obtained underloop, average height, etc. are predetermined values, and if they are different from the predetermined values, step s4
Move to. However, if the underlube, the dead center height, etc. deviate from predetermined values, the inspection controller 27 displays an error on the display device (not shown) in step S5 to notify that the bonding wire 12 is defective.

そして、前記ステップS8の判断において不良と判定さ
れなければ、ステップs4において全撮像区域A−Hに
対しての検査が終了したかを判断し、この場合撮像区域
Aのみが終了したのでステップs6に移り、このステッ
プs6において検査コントローラ27は照明移動コント
ローラ22に対して第2照明器15をa位置に移動させ
るとともに撮像装置23をa゛位置移動させる移動指令
を送出する。しかして、再びステップ81〜s3が実行
されて撮像区域Bにおける各ボンディングワイヤ12の
検査が行なわれ、そうして最終的に撮像区域Hまでの全
ボンディングワイヤの検査が行なわれる。
If it is not determined to be defective in the determination in step S8, it is determined in step s4 whether the inspection of all imaging areas A to H has been completed, and in this case, since only imaging area A has been completed, the process proceeds to step s6. Then, in step s6, the inspection controller 27 sends a movement command to the illumination movement controller 22 to move the second illuminator 15 to the a position and to move the imaging device 23 to the a' position. Steps 81 to s3 are then executed again to test each bonding wire 12 in the imaging area B, and finally all the bonding wires up to the imaging area H are tested.

このように上記第1実施例においては、ボンディングワ
イヤ12に対して>lJ−行光14−.15−を照射す
るとともに第1及び第2照明器14゜15をボンディン
グワイヤ12に対して上下方向に移動させ、このとき撮
像して得た各画、像データと第1及び第2照明器14.
15の移動位置とからボンディングワイヤ12の3次元
ループ形状を求め、かつ第1及び第2照明器14.15
と撮像装置23とを一体的に全ボンディングワイヤ12
に対して移動させる構成としたので、ボンディングワイ
ヤ12の本数が多くても高速で各ボンディングワイヤ1
2の1本1本の形状を精度高くかつ自動的に得ることが
できる。又、画像処理も各測定位置ごとの各画像データ
を加算し、次に測定位置を加味してボンディングワイヤ
12の形状を得る方法なので、簡単な画像処理で済みそ
の処理速度も高速にできる。
In this way, in the first embodiment, the bonding wire 12 has >lJ- row light 14-. At the same time, the first and second illuminators 14 and 15 are moved in the vertical direction with respect to the bonding wire 12, and each image and image data obtained by imaging at this time and the first and second illuminators 14 are ..
The three-dimensional loop shape of the bonding wire 12 is determined from the movement position of the first and second illuminators 14 and 15.
The entire bonding wire 12 is integrated with the image pickup device 23.
Since the configuration is such that each bonding wire 12 is moved at high speed even if there are many bonding wires 12, each bonding wire 12 can be moved at high speed.
2 can be obtained automatically and with high precision. Furthermore, since the image processing is a method of adding up each image data for each measurement position and then taking the measurement positions into consideration to obtain the shape of the bonding wire 12, simple image processing is sufficient and the processing speed can be increased.

次に本発明の第2実施例について説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.

第10図はボンディングワイヤ検査装置を側面から見た
構成図であり、第11図は上方から見た構成図である。
FIG. 10 is a block diagram of the bonding wire inspection apparatus seen from the side, and FIG. 11 is a block diagram of the bonding wire inspection apparatus seen from above.

この装置は第4図に示す各撮像区域A〜Hにおける各ボ
ンディングワイヤ12を一度に検査するものである。す
なわち、ASICIOの中心位置の真上には第1照明器
30が配置されるとともにこの第1照明器30を中心と
して各第2照明器31a〜31hが周囲に配置されてい
る。
This apparatus inspects each bonding wire 12 in each imaging area A to H shown in FIG. 4 at once. That is, the first illuminator 30 is placed directly above the center position of the ASICIO, and the second illuminators 31a to 31h are placed around the first illuminator 30.

そして、これら第1照明器30及び各第2照明器31a
〜31hは図示しない移動機構によって矢印(ロ)方向
に移動可能となっている。又、第4図に示す各撮像区域
A−Hを撮像する如く各撮像装置32a〜32hが配置
されている。これら撮像装置32a〜32hから出力さ
れる各画像信号はディジタル画像信号に変換されて画像
メモリにおける各撮像区域A−H別のエリアにそれぞれ
画像データとして記憶されるようになっている。なお、
第1及び第2照明器30.31a 〜31hにレーザ光
を送るレーザ発振装置や画像処理回路、検査コントロー
ラ等は上記第1実施例と重複するので省略する。
These first illuminators 30 and each second illuminator 31a
-31h can be moved in the direction of arrow (b) by a moving mechanism (not shown). Further, each imaging device 32a to 32h is arranged so as to take an image of each imaging area A-H shown in FIG. 4. Each image signal outputted from these imaging devices 32a to 32h is converted into a digital image signal and stored as image data in separate areas of each imaging area A to H in the image memory. In addition,
The laser oscillation device that sends laser light to the first and second illuminators 30.31a to 31h, the image processing circuit, the inspection controller, etc. are the same as those in the first embodiment, and will therefore be omitted.

次の上記の如く構成された装置の作用について第12図
に示す検査フローチャートに従って説明する。なお、第
1及び第2照明器14.15をド降させるステップ数を
nとし、初期状態として各節1及び第2照明器30.3
1a〜31hの放射位置は11にセットされている。し
かるに、ステップr1において各撮像装置32a〜32
hから出力される各画像信号が取り込まれる。このステ
ップr1における画像の取り込みは第6図に示す画像取
り込みフローチャートと同様に実行される。すなわち、
第1及び第2照明器30.31a 〜31hの各照射位
置が11に位置決めされると、各撮像装置32a〜’3
2hから出力された各画像信号はディジタル画像信号に
変換されて画像メモリの各撮像区域A−H別のエリアに
それぞれに画像データとして記憶される。そして、第1
及び第2照明器30.31a〜31hの各測定位置がi
nに達するまで下降されて、そのときの各画像データが
画像メモリの各撮像区域A〜H別のエリアに記憶される
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be explained according to the inspection flowchart shown in FIG. Note that the number of steps for dropping the first and second illuminators 14.15 is n, and each node 1 and second illuminator 30.3 are set as the initial state.
The radiation positions of 1a to 31h are set to 11. However, in step r1, each of the imaging devices 32a to 32
Each image signal output from h is captured. The image capture in step r1 is performed in the same manner as the image capture flowchart shown in FIG. That is,
When each irradiation position of the first and second illuminators 30.31a to 31h is positioned at 11, each of the imaging devices 32a to '3
Each image signal outputted from 2h is converted into a digital image signal and stored as image data in separate areas of each imaging area A to H of the image memory. And the first
and each measurement position of the second illuminators 30.31a to 31h is i.
The image data is lowered until it reaches n, and each image data at that time is stored in separate areas for each imaging area A to H of the image memory.

このように各測定位置If−inでのディジタル画像信
号の取り込みが終了すると、ステップ「2に移って第1
及び第2照明器30.31a〜31hの各移動位置と各
撮像区域A−H別の各画像データ11〜inとを対応さ
せ1、続いて各移動位置に基づいて第9図に示すような
ボンディングワイヤ12を側面側から見たボンディング
ワイヤ12の3次元ループ形状の画1安データ各撮像区
域A−H別に作成する。そして、これら画像データから
ボンディングワイヤ12の3次元ループ形状、例えばア
ンダループや平均高さ等が求められ、次のステップr3
において求められたアンダルーブや平均高さ等が所定値
となっているかを判断し、アンダループや・1シ均高さ
等が所定値よりも逸脱していれば、ステップ「4におい
て図示しない表示装置においてエラー表示させてボンデ
ィングワイヤ12の不良を報知させる。
When the acquisition of digital image signals at each measurement position If-in is completed in this way, the process moves to step "2" and the first
Then, each movement position of the second illuminators 30.31a to 31h is made to correspond to each image data 11 to 11 for each imaging area A-H, and then based on each movement position, data as shown in FIG. Image data of the three-dimensional loop shape of the bonding wire 12 when viewed from the side is created for each imaging area A-H. Then, the three-dimensional loop shape of the bonding wire 12, such as the underloop and average height, is determined from these image data, and the next step r3
It is determined whether the underloop, average height, etc. obtained in step 4 are within predetermined values, and if the underloop, average height, etc. deviate from the predetermined values, a display device (not shown) is displayed in step 4. An error message is displayed to notify that the bonding wire 12 is defective.

このように上記第2実施例においては、全ボンディング
ワイヤ12に対して平行光を照射するととも第1及び第
2照明器30.31a〜31hを上下方向に移動させ、
このとき得られる各撮像区域A−H別の各画像データと
第1及び第2照明器30.31a〜31hの移動位置と
から全ボンディングワイヤ12の3次元形状を求める構
成としたので、上記第1実施例と同様にボンディングワ
イヤ12の本数が多くても高速で各ボンディングワイヤ
12の1本1本の形状を精度高くかつ自動的に得ること
ができ、さらに画像処理も各測定位置ごとの各画像デー
タを加算し、次に7111J定位置を加味してボンディ
ングワイヤ12の形状を得る方法なので、簡単な画像処
理で済みその処理速度も高速にできる。そのうえ、1つ
のASICIOに対する全ボンディングワイヤ12の検
査ができて検査速度をより高速化できる。
In this way, in the second embodiment, all the bonding wires 12 are irradiated with parallel light, and the first and second illuminators 30.31a to 31h are moved in the vertical direction,
Since the configuration is such that the three-dimensional shape of all the bonding wires 12 is obtained from each image data for each imaging area A-H obtained at this time and the movement positions of the first and second illuminators 30.31a to 31h, the above-mentioned As in the first embodiment, even if the number of bonding wires 12 is large, the shape of each bonding wire 12 can be obtained automatically and with high precision at high speed. Since the method adds the image data and then takes into account the fixed position of 7111J to obtain the shape of the bonding wire 12, simple image processing is required and the processing speed can be increased. Moreover, all the bonding wires 12 for one ASICIO can be inspected, and the inspection speed can be further increased.

なお、本発明は上記各実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、光
照射手段は第13図に示すようにレーザ発振装置40か
ら出力されたレーザ光を光学レンズ40aで平面状の光
に変換してハーフミラ−41に送り、このハーフミラ−
41で2経路に分岐して全反射ミラー42.43に送る
。そして、このうち全反射ミラー43で反射したレーザ
光をボンディングワイヤ12に対して照射し、他方の全
反射ミラー42で反射したレーザ光をさらに全反射ミラ
ー44で反射させてボンディングワイヤ12に照射する
ようにしてもよい。そして、各全反射ミラー43.44
を矢印(ハ)方向に移動機構45によって移動可能に構
成すればよい。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments, and may be modified without departing from the spirit thereof. For example, as shown in FIG. 13, the light irradiation means converts the laser light output from the laser oscillation device 40 into planar light using an optical lens 40a and sends it to the half mirror 41.
The signal is branched into two paths at 41 and sent to total reflection mirrors 42 and 43. Of these, the laser beam reflected by the total reflection mirror 43 is irradiated onto the bonding wire 12, and the laser beam reflected by the other total reflection mirror 42 is further reflected by the total reflection mirror 44 and irradiated onto the bonding wire 12. You can do it like this. And each total reflection mirror 43.44
It is only necessary to configure it so that it can be moved in the direction of arrow (C) by a moving mechanism 45.

又、第1及び第2照明器は上方から下降させたが、上方
から上昇させてもよく、又このド降上昇は連続的に移動
させてもよい。なお、この場合、撮(象装置にシャッタ
を付けて第1及び第2照明器が所定位置に達する毎にシ
ャッタを切るようにすればよい。
Further, although the first and second illuminators are lowered from above, they may be raised from above, or they may be moved continuously. In this case, a shutter may be attached to the imaging device and the shutter may be turned off each time the first and second illuminators reach a predetermined position.

[発明の効果] 以上詳記したように本発明によれば、筒中かつ高速でボ
ンディングワイヤの3次元ループ形状を検査できるワイ
ヤボンディング装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a wire bonding apparatus that can inspect the three-dimensional loop shape of a bonding wire in a cylinder at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第9図は本発明に係わるワイヤボンディング
装置の第1実施例を説明するための図であって、第1図
は構成図、第2図は照明器の配置図、第3図は照明器及
び撮像装置の移動図、第4図は各撮像区域を示す図、第
5図及び第6図は検査フローチャート、第7図乃至第9
図は画像処理を説明するための図、第10図乃至第12
図は本発明の第2実施例を説明するための図であって、
第10図及び第11図は構成図、第12図は検査フロー
チャート、第13図は変形例の構成図、第14図乃至第
16図は従来技術を説明するための図である。 10・・・ASIC(用途特定集積回路)、11・・・
リードフレーム、12・・・ボンディングワイヤ、13
・・・光照射手段、14・・・第1照明器、15・・・
第2照明器、18・・・レーザ発振装置、20・・・照
明コントローラ、21・・・上下移動機構、22・・・
照明移動コントローラ、23・・・撮像装置、25・・
・画像処理回路、26・・・画像メモリ、27・・・検
査コントローラ、28・・・撮像区域移動機構。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第7図 第9図 第10図 第11図 第12図 第13図 第14図 第15図 第16図
1 to 9 are diagrams for explaining a first embodiment of the wire bonding apparatus according to the present invention, in which FIG. 1 is a configuration diagram, FIG. 2 is a layout diagram of an illuminator, and FIG. 4 is a diagram showing the movement of the illuminator and imaging device, FIG. 4 is a diagram showing each imaging area, FIGS. 5 and 6 are inspection flowcharts, and FIGS. 7 to 9
The figures are diagrams for explaining image processing, Figures 10 to 12.
The figure is a diagram for explaining a second embodiment of the present invention,
10 and 11 are configuration diagrams, FIG. 12 is an inspection flowchart, FIG. 13 is a configuration diagram of a modified example, and FIGS. 14 to 16 are diagrams for explaining the prior art. 10...ASIC (Application Specific Integrated Circuit), 11...
Lead frame, 12... Bonding wire, 13
...Light irradiation means, 14...First illuminator, 15...
Second illuminator, 18... Laser oscillation device, 20... Lighting controller, 21... Vertical movement mechanism, 22...
Lighting movement controller, 23...imaging device, 25...
- Image processing circuit, 26... image memory, 27... inspection controller, 28... imaging area movement mechanism. Applicant's Representative Patent Attorney Takehiko Suzue Figure 7 Figure 9 Figure 10 Figure 11 Figure 12 Figure 13 Figure 14 Figure 15 Figure 16

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)2つの被処理体間にワイヤボンディングされた複
数のボンディングワイヤの3次元ループ形状を検査する
ボンディングワイヤ検査部を備えたワイヤボンディング
装置において、前記ボンディングワイヤ検査部は、前記
ボンディングワイヤのボンディング方向でかつ対向する
各方向からそれぞれ前記ボンディングワイヤのうち所定
本数のボンディングワイヤに対して平行光を照射する一
対の光照射手段と、この光照射手段を前記ボンディング
ワイヤに対して上下方向に移動させる上下移動手段と、
前記ボンディングワイヤの上方に配置され前記移動手段
により前記光照射手段が上方又は下方に移動中に前記ボ
ンディングワイヤを撮像する撮像装置と、この撮像装置
の撮像により得られた各画像データと前記光照射手段の
移動位置とから前記ボンディングワイヤの3次元ループ
形状を求める画像処理手段と、前記光照射手段と前記撮
像装置とを一体的に前記全ボンディングワイヤに対して
移動させる撮像区域移動手段とを具備したことを特徴と
するワイヤボンディング装置。
(1) In a wire bonding apparatus including a bonding wire inspection unit that inspects the three-dimensional loop shape of a plurality of bonding wires wire-bonded between two objects to be processed, the bonding wire inspection unit a pair of light irradiation means for irradiating parallel light onto a predetermined number of bonding wires among the bonding wires from opposite directions, and moving the light irradiation means in a vertical direction with respect to the bonding wires; vertical movement means,
an imaging device that is arranged above the bonding wire and images the bonding wire while the light irradiation means is moved upward or downward by the moving device; and each image data obtained by imaging with this imaging device and the light irradiation. An image processing means for determining a three-dimensional loop shape of the bonding wire from the movement position of the means, and an imaging area moving means for integrally moving the light irradiation means and the imaging device with respect to all the bonding wires. A wire bonding device characterized by:
(2)2つの被処理体間にワイヤボンディングされた複
数のボンディングワイヤの3次元ループ形状を検査する
ボンディングワイヤ検査部を備えたワイヤボンディング
装置において、前記ボンディングワイヤ検査部は、前記
各ボンディングワイヤの結線位置に沿って全周に亙って
それぞれ配置され前記ボンディングワイヤのボンディン
グ方向から全ボンディングワイヤに対して平行光を照射
する第1光照射手段と、これら第1光照射手段の中心位
置に配置されて前記第1光照射手段の対向方向から前記
全ボンディングワイヤに平行光を照射する第2光照射手
段と、これら第1及び第2光照射手段を前記ボンディン
グワイヤに対して上下方向に移動させる上下移動手段と
、前記各光照射手段ごとでかつ前記ボンディングワイヤ
の上方に配置され前記移動手段により前記光照射手段が
上方又は下方に移動中に前記ボンディングワイヤを撮像
する複数の撮像装置と、これら撮像装置の撮像により得
られた各撮像区域別の各画像データと前記各光照射手段
の移動位置とから前記全ボンディングワイヤの3次元ル
ープ形状を求める画像処理手段とを具備したことを特徴
とするワイヤボンディング装置。
(2) In a wire bonding apparatus including a bonding wire inspection section that inspects the three-dimensional loop shape of a plurality of bonding wires wire-bonded between two objects to be processed, the bonding wire inspection section includes a first light irradiation means arranged along the entire circumference along the wire connection position and irradiating parallel light to all the bonding wires from the bonding direction of the bonding wire; and a first light irradiation means arranged at the center position of these first light irradiation means. and a second light irradiation means for irradiating parallel light onto all of the bonding wires from a direction opposite to the first light irradiation means, and moving these first and second light irradiation means in a vertical direction with respect to the bonding wires. a plurality of imaging devices disposed above the bonding wire for each of the light irradiation means and for capturing an image of the bonding wire while the light irradiation means is moved upward or downward by the movement means; The present invention is characterized by comprising an image processing means for determining a three-dimensional loop shape of all the bonding wires from each image data of each imaging area obtained by imaging with an imaging device and the movement position of each of the light irradiation means. Wire bonding equipment.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0425966A1 (en) * 1989-11-02 1991-05-08 Motorola, Inc. Method for controlling wire loop height
US5243406A (en) * 1990-07-04 1993-09-07 Fujitsu Limited Method and apparatus for measuring three-dimensional configuration of wire-shaped object in a short time

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0425966A1 (en) * 1989-11-02 1991-05-08 Motorola, Inc. Method for controlling wire loop height
US5243406A (en) * 1990-07-04 1993-09-07 Fujitsu Limited Method and apparatus for measuring three-dimensional configuration of wire-shaped object in a short time

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