JPH01226038A - Automatic forming method for test program - Google Patents
Automatic forming method for test programInfo
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は被テスト装置の要求仕様を示すテスト仕様書か
ら直接テストプログラムを自動生成する方法に関し、
前記テスト仕様書とテストプログラムとの間の同一性を
常に保持できるようにし、かつ迅速に自動生成すること
を目的とし、
被テスト装置の複数テスト手段に対するテストプログラ
ムを実行部とデータ部に分割し、該実行部を標準化され
た単機能に分割し、該単機能に対応する要求仕様を定形
化された記述用語と該単機能に必要なデータとを所定構
文で表わしたテスト仕様書を用意し、
前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文の
順に記憶する手段と、
前記テスト仕様書から前記構文に従う容重機能に必要な
データを抽出するコンパイラを介してデータを記憶する
手段とを具え、
前記構文に従い前記再記憶手段からの記述用語とデータ
を組合せてテストプログラムを自動生成する構成とする
。[Detailed Description of the Invention] [Summary] The present invention relates to a method for automatically generating a test program directly from a test specification indicating the required specifications of a device under test, and for determining the identity between the test specification and the test program. In order to be able to maintain the program at all times and automatically generate it quickly, the test program for multiple test methods of the device under test is divided into an execution part and a data part, and the execution part is divided into standardized single functions. Prepare a test specification that expresses the requirement specifications corresponding to the single function in a prescribed syntax with formalized descriptive terms and data necessary for the single function, and write the descriptive terms corresponding to each single function of the execution unit. means for storing data in the order of said syntax; and means for storing data via a compiler for extracting from said test specification data necessary for a function according to said syntax; The configuration is such that a test program is automatically generated by combining the data.
本発明は被テスト装置Ｏ要求仕様を示すテスト仕様書か
ら直接テストプログラムを自動生成する方法に関するも
のである。The present invention relates to a method for automatically generating a test program directly from a test specification indicating the required specifications of a device under test.
従来、被テスト装置の要求仕様を示すテスト仕様書から
直接テストプログラムを自動生成する方法は全く見当ら
ず、僅かにその１部の段階のみに限定したものが、特開
昭６０−１５９９３９号で「図式・ソースプログラム自
動生成方法」として提案されているに過ぎない。Until now, there has been no method to automatically generate a test program directly from a test specification that indicates the required specifications of the device under test, and a method that is limited to only a part of the process is disclosed in Japanese Patent Application Laid-open No. 159939/1983. It is merely proposed as a method for automatically generating diagrams and source programs.
第６図（ロ）、（ｂ）はテストプログラムの自動生成技
術の説明図であ夛、同図（ａ）は従来の人の介在した各
段階における前記提案の範囲を示すものであシ、同図（
＆）が本発明が課題とするものを図示したものである。FIGS. 6(b) and 6(b) are explanatory diagrams of the automatic test program generation technology, and FIG. 6(a) shows the scope of the proposal at each stage of conventional human intervention. Same figure (
&) illustrates the object to be solved by the present invention.
すなわち、被テスト装置に対するノ１−ドウエア仕様書
１から、その装置に要求されるテスト項目を抽出して基
本設計２を行ない、そのテスト内容をテスト仕様書とし
Ｃｔとめ、このテスト仕様書を基に細分化設計を行なう
。図示の機能設計（手順の機能分け）３から詳細設計（
手順ＯＡ体化）４を経由して製造（：ｒ−ディング）５
からテスト（デバッグ）６の手順を経てテストプログラ
ムが作成される。なお製造（コーディング）以降でプロ
グラム改版が行なわれ、デバッグの結果アップデートさ
れる。これらの各手順には開発関係の複数の人がそれぞ
れの専門の分野の協力を得て分担している。That is, the test items required for the device are extracted from the software specification 1 for the device under test, the basic design 2 is performed, the test contents are set as a test specification, and Ct is created based on this test specification. Perform subdivision design. From functional design (function division of procedures) 3 to detailed design (
Manufacture (: r-ding) 5 via procedure OA conversion) 4
A test program is created through the steps of test (debug) 6. Note that the program will be revised after manufacturing (coding) and will be updated as a result of debugging. Each of these steps is handled by multiple development-related people with the cooperation of their respective specialized fields.
第６図（Ｇ）に示す従来例の各手順はそれぞれ人が介在
し、基本設計２により作成されたテスト仕様書の内容が
、各段階で忠実に受継がれ最終のテストプログラムに至
るまで同一性を保持して実現されるとは限らない。この
場合、何れかの段階で人的ミス等によ）テスト仕様書の
内容とテストプログラムが不一致を来す場合や、テスト
ロの手順で一性が崩れて了りという問題点があった。Each step in the conventional example shown in Figure 6 (G) involves human intervention, and the contents of the test specifications created in Basic Design 2 are faithfully inherited at each stage and are the same until the final test program. It is not necessarily achieved by preserving gender. In this case, there are problems in which the content of the test specification and the test program may not match (due to human error, etc.) at any stage, or consistency may be broken in the test flow procedure.
これは局部的変更や改版に原因があるのではなく、これ
がテスト仕様書と遊離して行なわれたこと、すなわちテ
スト仕様書とテストプログラムが互に独立であることに
問題がある。 。This is not caused by local changes or revisions, but rather by the fact that this was done separately from the test specifications, that is, the test specifications and test programs are independent of each other. .
そζで、本発明者は、第６図（６） Ｋ示すように、テ
スト仕様書２に基づいて直接テストプログラムを自動生
成しズテスト６０手順に達するように構成する。これに
より両者の統一性が常に保持されプログラムの変更、改
版においても同一性が崩れないようＫする。Therefore, the inventor of the present invention automatically generates a test program directly based on the test specification 2 to reach the test 60 procedure, as shown in FIG. 6(6)K. This ensures that the consistency between the two is always maintained and that the sameness does not collapse even when the program is changed or revised.
本発明の目的は、テスト仕様書とテストプログラムとの
間の同一性を常に保持できるようにし、かつ迅速に自動
生成する方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide a method for always maintaining the identity between a test specification and a test program, and for quickly and automatically generating the same.
゛ 〔課題を解決するための手段〕
前記目的を達成するため、本発明においＣは、第１図の
概略説明図に示すように、被テスト装置の複数テスト手
段に対するテストプログラムを実行部とデータ部に分割
し、該実行部を標準化された単機能に分割し、該単機能
に対応する要求仕様を定形化された記述用語と該単機能
に必要なデータとを所定構文で表わしたテスト仕書書１
１を用意し、
前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文の
順に出力し記憶する手段１０．１３と、前記テスト仕様
書から前記構文に従う各単機能に必要なデータを抽出す
るコンパイラ１２を介し【データを記憶する手段１４と
を具え、前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語
とデータを組合せてテストプログラムを自動生成するこ
とを特徴とするものである。゛ [Means for Solving the Problem] In order to achieve the above object, in the present invention, as shown in the schematic explanatory diagram of FIG. The execution part is divided into standardized single functions, and the requirements specifications corresponding to the single functions are created as test specifications that express formalized descriptive terms and data necessary for the single functions in a predetermined syntax. Book 1
1, means 10.13 for outputting and storing descriptive terms corresponding to each single function of the execution unit in the order of the syntax, and extracting data necessary for each single function according to the syntax from the test specification. The present invention is characterized in that it includes a means 14 for storing data via a compiler 12, and automatically generates a test program by combining descriptive terms and data from both storage means according to the syntax.
第１図の概略説明図に示すように、テスト仕様書１１は
前述の構成によりソースドキエメントの機能を有するか
ら、この内容からテストデータ抽出用コンバイ２１２に
よプ、構文検査しＩＤを与えデータを呼出しデータメモ
リ１４に記憶する。−方、テスト実行部１０からの記述
用語を標準化単機能分割し【実行部メモリ１３に記憶し
、この両メモ９１３．１４を組合せてテストプログラム
をメモリ６に出力する。As shown in the schematic explanatory diagram of FIG. 1, the test specification 11 has the function of a source document due to the above-mentioned configuration, so the test specification 11 is read from the contents by the combiner 212 for extracting test data, the syntax is checked, and an ID is given. The data is retrieved and stored in the data memory 14. - On the other hand, the descriptive terms from the test execution unit 10 are divided into standardized single functions and stored in the execution unit memory 13, and the two memos 913 and 14 are combined to output the test program to the memory 6.
これによりテストプログラムの内容とテスト仕様書１１
の内容とその構文に従い常に一致させることができ、プ
ログラムの変更、改版に拘らず一致が保持される。As a result, the content of the test program and the test specification 11
It is possible to always match according to the content and its syntax, and the match is maintained regardless of changes or revisions of the program.
本発明は、大別して次の３種の手順を組合せたものとな
る。第２図（ロ）、（ｂ）〜第５図により説明する。The present invention is a combination of the following three types of procedures. This will be explained with reference to FIGS. 2(b) and 5(b) to 5.
（１）テスト実行部の汎用化（標準化単機能分割）。(1) Generalization of the test execution unit (standardized single function division).
第２図は本発明の要部の構成説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the configuration of essential parts of the present invention.
同図（α）は被テスト装置０１例として、周辺装置のテ
スト手段を示す。これは比較的テスト手段の数が限定さ
れ取扱いが容易であｐ、たとえば共通手段として、入出
力処理、結果比較処理、エラー出力処１１０３種、固有
手段として工２−回復処理。FIG. 3(α) shows a test means for a peripheral device as an example of the device under test 01. This method has a relatively limited number of test means and is easy to handle.For example, the common means include input/output processing, result comparison processing, and error output processing (1103 types), and the unique means includes step 2-recovery processing.
再実行旭埋、ログ出力処理の３種が考えられる。Three types of processing are possible: re-execution asahi burial and log output processing.
これらのテスト手段を汎用化、すなわち標準化して単機
能に分割し、処理を第２図（６）に示すように、「テス
ト実行部」と「テストデータ部」に分離する。「テスト
実行部」は第１図の同名１０に相尚する。その機能は、
チャネルアドレス＠（ＣＡＷ）を設定し、入出力命令を
実行し、ハードウェア情報を格納することである。These test means are generalized, that is, standardized, and divided into single functions, and the processing is separated into a "test execution part" and a "test data part" as shown in FIG. 2 (6). The "test execution section" corresponds to the same name 10 in FIG. Its function is
It is to set the channel address @(CAW), execute input/output commands, and store hardware information.
「テストデータ部」は第１図のテスト仕様書１１とコン
パイラ１２を含めた手順に相当する。The "test data section" corresponds to the procedure including the test specification 11 and compiler 12 shown in FIG.
その機能は、データ抽出用コマンドと転送データの発生
である。Its function is to generate commands for data extraction and transfer data.
そして、テスト実行部メモリ１５とテストデータ部メ七
す１４がそれぞれ必要なデータを参照できるようにＩＤ
を定義した。すなわち、テスト仕様書１１から呼出され
たデータのＩＤＫ対応して、テスト実行部１０が呼出さ
れる。このようにして、テスト実行部による汎用化が行
なわれる。Then, the ID is set so that the test execution section memory 15 and the test data section memory 14 can respectively refer to the necessary data.
defined. That is, the test execution unit 10 is called in accordance with the IDK of the data called from the test specification 11. In this way, generalization is achieved by the test execution unit.
（２）テスト仕様書の記述用語の定形化。(2) Formulation of descriptive terms in test specifications.
前項第（１）項のテスト実行部の汎用化により、テスト
データ部からデータを抽出しテストプログラムの作成が
再記となった。Due to the generalization of the test execution section as described in item (1) of the previous section, it became necessary to extract data from the test data section and create a test program again.
ここで、テスト仕様書１１からの所要データの抽出を容
易にし、ソースドキュメントとして取扱うため、テスト
仕様書用の定形化した記述用語を定義した。第３図はこ
の記述用語の１例を示したものである。Here, in order to facilitate the extraction of necessary data from the test specification 11 and handle it as a source document, standardized descriptive terms for the test specification have been defined. FIG. 3 shows an example of this descriptive terminology.
先頭に“・”をもつ用語が定義された記述文である。This is a descriptive sentence in which terms with "・" at the beginning are defined.
これ以外は自由に記述できるコメントである。Other than this, comments can be written freely.
記述文の種類には、タイトル記述文、実行記述文。Types of descriptive statements include title descriptive statements and execution descriptive statements.
；マント記述文、データ記述文９期待値記述文等２０種
を定義した。; 20 types were defined, including cloak description sentences, data description sentences, 9 expected value description sentences, etc.
以下第５図の実例につき簡単に説明する。The example shown in FIG. 5 will be briefly explained below.
■タイトル記述文；ページの先頭にあシ、６４バイト以
内Ｏ英数字で記述する。最初Ｏ＠２．１ 、ＩＸ×１”
はルーチン番号である。＠ ＣＫＤ （カウント部、キ
一部、データ部）の意
■、■；メント；自由な記述である。■Title description: Write at the top of the page using alphanumeric characters within 64 bytes. First O@2.1, IX×1”
is the routine number. @ CKD (count part, key part, data part) ■, ■; Ment; Free description.
■寒行記述文：「実行」で表わされる。■Cold descriptor: Expressed with "execution".
■コマンド記述文；「使用コマンド」で表わす。■Command description; expressed as "command used".
チャネルコマンドｌ＃（ＣＣＷ）の次に順番名（０１〜
０８）を付し以下コマンド名、データ名、フラグ、カウ
ントを並べる。Channel command l# (CCW) is followed by order name (01~
08) and the command name, data name, flag, and count are listed below.
■使用データ記述文；「使用データ」で表わす。■Used data description: Expressed as “Used data”.
データ名（１”Ｍｅ４）＝データ（Ｘ’Ｃ４つノヨ５１
Ｃｉ！わす。Data name (1”Me4) = Data (X'C4 Noyo51
Ci! Was.
■期待値記述文：「結果確認」で表わす。■Expected value description: Expressed as "result confirmation".
ことに ＣＣ；期待コンデイション；−ドｃｓｗ１；期
待ステータスを意味する。In particular, CC: expected condition; -do csw1; means expected status.
■期待値記述文；「データ比較」で表わす。■Expected value description; expressed as “data comparison”.
期待値データ（ＸＤＡＴＡ）＝データ名のように表わす
。Expressed as expected value data (XDATA) = data name.
（３）コンパイラによるテストデータ抽出。(3) Test data extraction by compiler.
；ンバイツは、テスト仕様書の構文と記述用語を定形化
することにより、テスト仕様書をデータソースとして取
扱うことができる。これと前記（１）環テスト実行部の
汎用化と′を組合せ【テストプログラムの作成が可能と
なる。By formalizing the syntax and descriptive terminology of a test specification, Nbites can treat the test specification as a data source. Combining this with (1) generalization of the ring test execution unit and '' makes it possible to create a test program.
コンバイ２の機能は、第４図に概略を示すように、
■構文の検査；テスト仕様書の記述用語°・”と“９”
の間の用語の構文（文法）検査し、定形化した記述文に
誤ルがあれば文法エラーとする。The functions of Combi 2, as outlined in Figure 4, are as follows: ■ Syntax inspection; Descriptive terms in the test specification °・” and “9”
The syntax (grammar) of the terms between is checked, and if there is an error in the formalized descriptive sentence, it is treated as a grammatical error.
■「呼出しＩＤＪの決定；あらかじめ用語が定義されて
いるので、要求される処理がわかシ、必要なテスト実行
部の「呼出しＩＤＪの決定ができる。■Determining the calling IDJ: Since the terms are defined in advance, the required processing can be determined easily and the calling IDJ of the necessary test execution unit can be determined.
■テスト仕様書からのデータの検出；各記述文は、必要
なパラメータの形式が定められているので、記述文固有
のテストデータを取出し、直接計算機が処理できる数値
に変換する。■Detection of data from test specifications: Since the format of necessary parameters is determined for each descriptive sentence, the test data specific to the descriptive sentence is extracted and directly converted into numerical values that can be processed by a computer.
■テストデータの生成；テスト仕様書メ倚すから抽出し
たデータを、テストデータメモリにテスト実行部で参照
可能なデータを記憶する。■Generation of test data: The data extracted from the test specification is stored in the test data memory so that it can be referenced by the test execution unit.
第５図は、テスト仕様書からコンパイラにより得られた
テスト実行部で参照可能なデータ例を示したものである
。すなわち、左側のテスト仕様書、０前述した記述用語
の各記述文に対応し、コンパイラ１２によ）テストデー
タがｒＩＤ呼出し」で各種訓電、各項目別に抽出するこ
とができる。FIG. 5 shows an example of data obtained by the compiler from the test specification and which can be referenced by the test execution unit. That is, in the test specification on the left, the test data corresponding to each descriptive sentence of the above-mentioned descriptive terms can be extracted by the compiler 12 using the rID call.
従って、第４図のコンパイラの機能説明のように、たと
えば、使用コマンドを抽出したい場合、ＩＤ（０２）、
：Ｉマント種１１４ （ＳＦＭ） 、 ７ ）’ ｖ
ス（ＦＭＣ４）、フラグ（ＣＣ）、長さカウント（１）
等が直ちに分シ、テストデータメモリ１４に記憶させる
ことができる。Therefore, as shown in the compiler function explanation in Figure 4, for example, if you want to extract the command used, ID (02),
:I cloak species 114 (SFM), 7)'v
(FMC4), flag (CC), length count (1)
etc. can be immediately stored in the test data memory 14.
以上説明したように、本発明によれば、テストプログ２
ムをテスト実行部とテストデータ部に分離し、テスト実
行部を汎用化するとともに１テストデ一タ部としてテス
ト仕様書の記述用語を定形化しソースドキュメントとし
て取扱い、コンパイラを仲介にしてデータを抽出し、こ
れをテスト実行部と組合せてテストプログラムを自動生
成するものである。これによりテスト仕様書とテストプ
ログラムの同一性が常に保持されることになル、従来の
ように１テストφ之−蕩→ま−とテストプログラムがそ
れぞれ独立し一方が一人歩きして不一致を招くような問
題が皆無となシ、開発段階のみならず、変更、改版時も
常に同一性を保つことができる。As explained above, according to the present invention, the test program 2
The system is separated into a test execution part and a test data part, and the test execution part is made general-purpose, and the descriptive terminology of the test specification is standardized as one test data part, handled as a source document, and the data is extracted using a compiler as an intermediary. , which is combined with a test execution unit to automatically generate a test program. As a result, the identity of the test specification and the test program is always maintained, and unlike in the past, one test, one test, one test, one test program, and one test program become independent, leading to inconsistency. There are no such problems, and consistency can be maintained not only during the development stage but also during changes and revisions.
また、手順が減少するから迅速な処理が可能とな夛、さ
らに、テスト仕様書全定形化した結果特定者以外の理解
と確認が容易となル、開発未経験者によるコーディング
が容易に可能となる利点がある。In addition, because the number of steps is reduced, it is possible to process quickly.Furthermore, as the entire test specification is standardized, it is easier to understand and confirm it for those other than the specific person, and coding can be easily performed by people with no experience in development. There are advantages.
第１図は本発明の概略説明図、第２図は本発明の要部の
構成説明図、第３図はテスト仕様書の記述用語の１例説
明図、第４図はコンパイラの機能説明図、第５図はコン
パイラにより得られたテストデータの１例説明図、第６
図（ｅ） 、 （６）はテストプログラムの自動生成技
術説明図であシ、図中、１はハードウェア仕様書、２．
ｉｔはテスト仕様書、６はテストプログラムメモリ、１
０はテスト実行部、１２はテストデータ抽出用コンパイ
ラ、１３は実行部メモリ、１４はデータ部メモリを示す
。Fig. 1 is a schematic explanatory diagram of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the configuration of the main parts of the present invention, Fig. 3 is an explanatory diagram of an example of the descriptive terminology of the test specification, and Fig. 4 is an explanatory diagram of the functions of the compiler. , Figure 5 is an explanatory diagram of an example of test data obtained by the compiler, and Figure 6 is an explanatory diagram of an example of test data obtained by the compiler.
Figures (e) and (6) are explanatory diagrams of test program automatic generation technology, in which 1 is a hardware specification; 2.
it is the test specification, 6 is the test program memory, 1
0 indicates a test execution section, 12 a test data extraction compiler, 13 an execution section memory, and 14 a data section memory.
Claims (3)
ログラムを実行部とデータ部に分割し、該実行部を標準
化された単機能に分割し、該単機能に対応する要求仕様
を定形化された記述用語と該単機能に必要なデータとを
所定構文で表わしたテスト仕様書（１１）を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文の
順に出力し記憶する手段（１０、１３）と、前記テスト
仕様書から前記構文に従う各単機能に必要なデータを抽
出するコンパイラ（１２）を介してデータを記憶する手
段（１４）とを具え、前記構文に従い前記両記憶手段か
らの記述用語とデータを組合せてテストプログラムを自
動生成することを特徴とするテストプログラム自動生成
方法。(1) Divide the test program for multiple test methods of the device under test into an execution part and a data part, divide the execution part into standardized single functions, and create a formalized description of the requirement specifications corresponding to the single functions. A test specification (11) is prepared in which terms and data necessary for the single function are expressed in a predetermined syntax, and means (10) for outputting and storing descriptive terms corresponding to each single function of the execution unit in the order of the syntax is provided. , 13) and means (14) for storing data via a compiler (12) for extracting from said test specification the data required for each single function according to said syntax, from said storage means according to said syntax. A test program automatic generation method characterized in that a test program is automatically generated by combining descriptive terms and data.
トル記述文の外、実行記述文、コマンド記述文、使用デ
ータ記述文および期待値記述文より成ることを特徴とす
る請求項第（１）項記載のテストプログラム自動生成方
法。(2) Claim (1) characterized in that the descriptive terms of the test specification consist of at least a title description, an execution description, a command description, a usage data description, and an expected value description. The test program automatic generation method described.
査を行ない、データの呼出し識別（ＩＤ）を決定し、仕
様書からのデータの検出を行なうことを特徴とする請求
項第（１）項記載のテストプログラム自動生成方法。(3) Claim (1) characterized in that the compiler checks the syntax of the test specification, determines the call identification (ID) of the data, and detects the data from the specification. The test program automatic generation method described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63052898A JP2527354B2 (en) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | Automatic test program generation method |
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| JP63052898A JP2527354B2 (en) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | Automatic test program generation method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01226038A true JPH01226038A (en) | 1989-09-08 |
| JP2527354B2 JP2527354B2 (en) | 1996-08-21 |
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Family Applications (1)
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| JP63052898A Expired - Fee Related JP2527354B2 (en) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | Automatic test program generation method |
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|---|---|
| JP (1) | JP2527354B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06332743A (en) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Test program and generator |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60159939A (en) * | 1984-01-30 | 1985-08-21 | Hitachi Ltd | Automatic generating method of graphic and source program |
| JPS6170641A (en) * | 1984-09-14 | 1986-04-11 | Fujitsu Ltd | Automatic generating method of test program |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63052898A patent/JP2527354B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60159939A (en) * | 1984-01-30 | 1985-08-21 | Hitachi Ltd | Automatic generating method of graphic and source program |
| JPS6170641A (en) * | 1984-09-14 | 1986-04-11 | Fujitsu Ltd | Automatic generating method of test program |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06332743A (en) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Test program and generator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2527354B2 (en) | 1996-08-21 |
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