JPH01220293A - Associative memory circuit - Google Patents

Associative memory circuit

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JPH01220293A
JPH01220293A JP4696988A JP4696988A JPH01220293A JP H01220293 A JPH01220293 A JP H01220293A JP 4696988 A JP4696988 A JP 4696988A JP 4696988 A JP4696988 A JP 4696988A JP H01220293 A JPH01220293 A JP H01220293A
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JP
Japan
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storage
output
coincidence
memory
switch
Prior art date
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JP4696988A
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Japanese (ja)
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Hachiro Yamada
山田 八郎
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To use a circuit mode flexibly than ever before by providing a first switch means controlled by the coincident output of a coincidence detection circuit, and a second switch means connected between the first switch means and a coincident output line and controlled by the storage output of a second storage element. CONSTITUTION:The coincidence detection circuit connected to a first storage cell 100 is constituted so as to detect coincidence between first storage output 104 that is the storage content of the first storage cell 100 and retrieval data supplied via a first bit line 102 and the coincident output 108 powers a first switch 130 at a time when no coincidence is obtained. Meanwhile, the second storage cell 110 stores a don't-care flag which represents whether the storage information of the first storage cell 100 is valid (logic value 1) or invalid (logic value 0). A second switch 140 is controlled by the storage content of the second storage element 110, and the second switch 140 is opened via second storage output 107 when the flag shows an invalid state. By constituting the circuit in such way, it is possible to provide a storing state of don't-care which represents the coincidence compulsorily, and to perform the registration or retrieval of data with variable length.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は記憶内容に基づいて番地づけを行うことのでき
る新規な連想記憶装置に関する。この連想記憶装置は、
その記憶部の構成に特徴を有し、可変長データの取扱い
が可能となる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a novel associative memory device that can perform addressing based on stored contents. This associative memory device is
It is characterized by the structure of its storage unit, which allows it to handle variable length data.

従来の技術 連想記憶回路については、既に複数の提案が論文や特許
によってなされており、例えば”IB[!BJO[IR
NAL OF 5OLID −5TATE CIRC[
IITS 、 VOL、 5C−20、N005.19
85のrAn 3−kbit Content−Add
ressableand Reentrant Mem
ory ]”や米国特許第4.538.243号に記載
されているように、従来の連想記憶装置の構成では、デ
ータを格納する各記憶素子毎に一致検出回路を設けてい
る。
Regarding conventional technology associative memory circuits, several proposals have already been made in papers and patents, such as “IB[!BJO[IR
NAL OF 5OLID -5TATE CIRC[
IITS, VOL, 5C-20, N005.19
85 rAn 3-kbit Content-Add
Ressable and Reentrant Mem
As described in U.S. Pat. No. 4,538,243 and U.S. Pat.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、このような構成の従来の連想記憶回路は
、格納データの検索時に、検索データと記憶内容との一
致または不一致のいずれかの検索結果を発生するように
構成されているので、バトントケア″の記憶状態、すな
わち検索データにかかわらず一致を示すような情報を格
納することができないという欠点を有している。
Problems to be Solved by the Invention However, conventional associative memory circuits with such a configuration are configured to generate a search result that either matches or mismatches the search data with the stored content when searching for stored data. Therefore, it has the disadvantage that information indicating a match cannot be stored regardless of the memory state of "Batonto Care", that is, the search data.

このため、連想記憶回路をマ) IJクス状に配置した
従来の連想記憶装置では、マ) IJクスサイズ、すな
わち所定のビットサイズにより規定された固定長のデー
タしか取扱うことができないという問題があった。
For this reason, conventional associative memory devices in which content addressable memory circuits are arranged in a matrix form have the problem that they can only handle data of a fixed length defined by the matrix size, that is, a predetermined bit size. Ta.

また、従来の連想記憶回路では、固定長の論理アドレス
を入力とするアドレス変換にその動作を限定されており
、可変長データを取扱うバタンマツチング処理や文字列
照合処理の分野には適用できなかった。これは、従来の
連想記憶回路が゛′ドントケア″の記憶状態をとること
ができないという前述の構成に起因している。
Furthermore, conventional associative memory circuits are limited in their operation to address conversion using fixed-length logical addresses as input, and cannot be applied to the fields of slam matching processing and character string matching processing that handle variable-length data. Ta. This is due to the above-mentioned configuration in which the conventional associative memory circuit cannot assume a "don't care" memory state.

そこで、本発明は、上記従来技術の問題点を解決して、
より柔軟な使用が可能な新規な連想記憶回路を提供する
ことにある。
Therefore, the present invention solves the problems of the prior art described above, and
The object of the present invention is to provide a new associative memory circuit that can be used more flexibly.

問題点を解決するための手段 即ち、本発明に従い、第1ビット線並びにワード線に接
続された第1の記憶素子と、第2ビット線並びに該ワー
ド線に接続された第2の記憶素子と、該第1の記憶素子
の記憶出力と該第1ビット線の検索データとを入力とさ
れる一致検出回路と、該一致検出回路の一致出力により
制御される第1スイッチ手段と、該第1スイッチ手段と
一致出力線間に接続されて該第2の記憶素子の記憶出力
により制御される第2スイッチ手段とを有することを特
徴とする連想記憶回路が提供される。
Means for solving the problem, namely, according to the invention, a first storage element connected to a first bit line and a word line; a second storage element connected to a second bit line and the word line; , a coincidence detection circuit to which the storage output of the first storage element and the search data of the first bit line are input; a first switch means controlled by the coincidence output of the coincidence detection circuit; A content addressable memory circuit is provided, comprising a switch means and a second switch means connected between the coincidence output line and controlled by the memory output of the second memory element.

ここで、本発明の一態様に従えば、前記第1スイッチ手
段と前記第2スイッチ手段とは、グランドと前記−散出
力線と間に直列に接続することができる。
Here, according to one aspect of the present invention, the first switch means and the second switch means can be connected in series between the ground and the -dispersion output line.

また、本発明の他の態様に従えば、前記第1スイッチ手
段はグランドと前記−散出力線との間に接続され、前記
第2スイッチ手段が前記一致出力線内に挿入されること
ができる。
Also, according to another aspect of the invention, the first switch means may be connected between ground and the -dispersion output line, and the second switch means may be inserted into the coincidence output line. .

作用 本発明により提供される連想記憶回路は、第1ビット線
とワード線とに接続された第1の記憶素子と、第2ビッ
ト線とワード線に接続された第2の記憶素子と、第1の
記憶素子の記憶出力と第1ビット線の検索データとを入
力とする一致検出回路とを備え、更に、一致検出回路の
一致出力により開閉が制御される第1スイッチ手段と、
第1スイッチ手段と一致出力線間に接続されて第2の記
憶素子の記憶出力により開閉が制御される第2スイッチ
手段とを備えることをその主要な特徴としている。
Operation The content addressable memory circuit provided by the present invention includes a first memory element connected to a first bit line and a word line, a second memory element connected to a second bit line and a word line, and a second memory element connected to a first bit line and a word line. a coincidence detection circuit that receives the storage output of the first storage element and the search data of the first bit line as input, and further includes a first switch means whose opening and closing are controlled by the coincidence output of the coincidence detection circuit;
Its main feature is that it includes a second switch means connected between the first switch means and the coincidence output line and whose opening and closing are controlled by the memory output of the second memory element.

即ち、従来の連想記憶回路に対し、本発明は強制的に一
致を示すドントケアの記憶状態を持たせることができ、
また可変長データに対する登録や検索を可能にしている
That is, in contrast to conventional associative memory circuits, the present invention can forcibly provide a don't care memory state that indicates a match.
It also makes it possible to register and search variable length data.

実施例 以下に図面を参照して本発明をより具体的に詳述するが
、以下に開示するものは本発明の1実施例に過ぎず、本
発明の技術的範囲を何ら限定するものではない。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail below with reference to the drawings, but what is disclosed below is only one example of the present invention and does not limit the technical scope of the present invention in any way. .

実施例1 第1図は、本発明に従う連想記憶回路の構成例を部分的
に示す回路図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a circuit diagram partially showing a configuration example of an associative memory circuit according to the present invention.

この回路は、複数の記憶セルを備えており、各々の記憶
セルは、−船釣な記憶回路の半導体記憶素子と同様に、
第1図に図示された記憶セル100(200)のように
、ワード線101を高電位にすることで第1ビット線1
02(112)を介して書込みデータの取込みや記憶内
容の読取りを行う。
This circuit includes a plurality of memory cells, each memory cell having - similar to a semiconductor memory element in a conventional memory circuit.
As in the memory cell 100 (200) shown in FIG. 1, by setting the word line 101 to a high potential, the first bit line 1
02 (112) to take in write data and read stored contents.

ここで、記憶セル100に接続された一致検出回路12
0は、第1の記憶セル100の記憶内容である第1記憶
出力104と第1ビット線102を介して供給される検
索データとの一致検出を行い、一致出力106は不一致
時に第1スイツチ130を導通させるように構成されて
いる。
Here, the coincidence detection circuit 12 connected to the memory cell 100
0 detects a match between the first memory output 104, which is the storage content of the first memory cell 100, and the search data supplied via the first bit line 102, and the match output 106 is output to the first switch 130 when there is a mismatch. is configured to conduct.

一方、第2の記憶セル110は、第1の記憶セル100
内の記憶情報が有効(論理値゛′1”)か無効(論理値
“0”)かを示すドントケア・フラグを格納する。第2
スイツチ140は、この第2の記憶セル110の記憶内
容によって制御される。即ち、フラグが無効状態(“0
”)であるドントケア状態を示す時に、第2記憶出力1
07を介して第2スイツチ140が開放される。
On the other hand, the second memory cell 110 is the same as the first memory cell 100.
Stores a don't care flag indicating whether the storage information in the memory is valid (logical value ``1'') or invalid (logical value ``0'').Second
Switch 140 is controlled by the storage contents of this second storage cell 110. In other words, the flag is in an invalid state (“0
”), the second memory output 1 is
The second switch 140 is opened via the switch 07.

以上のように構成された本発明にかかる回路は、検索動
作において以下のように動作する。
The circuit according to the present invention configured as described above operates as follows in a search operation.

まず、検索動作に先立ち、ワード線101は低電位に設
定され、また、−散出力線108は高電位にプリチャー
ジされている。
First, prior to a search operation, the word line 101 is set to a low potential, and the -spread output line 108 is precharged to a high potential.

前述のように、第2の記憶セル110内のドントケア・
フラグが有効状B(“1″)を示している場合に第2ス
イッチ140−は導通する。また、第1ビット線102
上の検索データと第1の記憶セル100の記憶内容とが
不一致の場合に、第1スイツチ130が導通する。従っ
て、−散出力線108上の電荷は第1スイツチ130並
びに第2スイツチ140を介して低電位にディスチャー
ジされ、−散出力線108はミス・マツチ状態を示す。
As mentioned above, the don't care data in the second storage cell 110
When the flag indicates the valid status B (“1”), the second switch 140- is conductive. In addition, the first bit line 102
When the above search data and the stored content of the first storage cell 100 do not match, the first switch 130 becomes conductive. Therefore, the charge on the -spread output line 108 is discharged to a low potential through the first switch 130 and the second switch 140, and the -spread output line 108 exhibits a mismatch condition.

一方、検索データと記憶内容とが一致する場合、第1ス
イツチ130は開放されるので、−散出力線108はマ
ツチ状態の高電位を保持する。ここで、第2の記憶セル
110内のドントケア・フラグが無効状態(パ0”)を
示している場合は、第2スイツチ140は開放される。
On the other hand, if the search data and the stored content match, the first switch 130 is opened, and the -spread output line 108 maintains the high potential of the matched state. Here, if the don't care flag in the second memory cell 110 indicates an invalid state (P0''), the second switch 140 is opened.

従って、検索データ及び第1の記憶セル100の記憶内
容にかかわらず、−散出力線108は高電位を保ち、ド
ントケアの記憶状態となる。
Therefore, regardless of the search data and the storage contents of the first storage cell 100, the -spread output line 108 maintains a high potential, resulting in a don't care storage state.

実施例2 第2図は、やはり本発明にかかる連想記憶回路の構成例
を示す回路図であり、第1図とは、各構成要素を具体的
にMOS)ランジスタで実現していることと、第1及び
第2ビット線が正負−組になっている点で異なっている
Embodiment 2 FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of the configuration of an associative memory circuit according to the present invention, and differs from FIG. 1 in that each component is specifically realized with a MOS transistor. The difference is that the first and second bit lines are in positive and negative pairs.

第2図において、それぞれ破線で囲まれた第1並びに第
2の記憶セル200.210は、いずれも、入出力が相
互に接続された1対のインバータ230と各インバータ
230の出力を正負の第1ビット線102.103  
(第2ビット線112.113 )に接続する1対のM
OS)ランジスタ240から構成された一般的なスタテ
ィックRAM素子である。
In FIG. 2, first and second memory cells 200 and 210 each surrounded by a broken line are connected to a pair of inverters 230 whose inputs and outputs are connected to each other, and whose outputs are connected to positive and negative channels. 1 bit line 102.103
A pair of M connected to (second bit line 112, 113)
OS) This is a general static RAM element composed of a transistor 240.

また、−散積出回路220は、正負の第1ビット線10
2.103間に直列に挿入されたMOSトランジスタ2
40により構成され、接続点が一致出力106に相当す
る。即ち、検索時の正負の第1ビット線102.103
には各々正と負の検索データが供給され、検索データと
第1の記憶セル200の記憶内容とが不一致の場合には
高電位となり、第lMOSトランジスタ250を導通さ
せる。
Further, the -scattering product output circuit 220 is connected to the positive and negative first bit lines 10.
2. MOS transistor 2 inserted in series between 103
40, and the connection point corresponds to the coincidence output 106. That is, the positive and negative first bit lines 102 and 103 during the search
are supplied with positive and negative search data, respectively, and when the search data and the storage contents of the first memory cell 200 do not match, the potential becomes high and the first MOS transistor 250 becomes conductive.

このように構成された回路では、第2の記憶セル210
に“0”を格納した状態、即ち、第2記憶出力107が
低電位で第2M03)ランジスタ250が開放状態であ
る記憶状態が゛′ドントケア″′状態である。この記憶
状態では、高電位にプリチャージされている一致出力線
108は、検索データにかかわらずマツチ状態に対応す
る高電位を保持する。
In the circuit configured in this way, the second memory cell 210
The state in which "0" is stored in the memory, that is, the second memory output 107 is at a low potential and the second M03) transistor 250 is in an open state is the "don't care" state. In this memory state, when the potential is high, The precharged match output line 108 holds a high potential corresponding to the match state regardless of the search data.

なお、正負の第1ビット線102.103を共に低電位
に駆動すると、−散出力106は第1の記憶セル200
の内容にかかわらず低電位となり、第1M03)ランジ
スタ250を開放する。すなわち、検索データのマスキ
ングが行われる。
Note that when both the positive and negative first bit lines 102 and 103 are driven to a low potential, the -dissipated output 106 is reduced to the first memory cell 200.
Regardless of the contents of , the potential becomes low and the first M03) transistor 250 is opened. That is, masking of the search data is performed.

以上述べたように、この連想記憶回路は読取り/書込み
に加えて検索機能を具備しており、更に、′″ドントケ
ア″状態で記憶データの格納を実行することがでる。ま
た、可変長データの検索も可能である。
As described above, this associative memory circuit has a search function in addition to reading/writing, and can also store stored data in a ``don't care'' state. It is also possible to search variable length data.

実施例3 第3図は、本発明の第3の実施例3の構成を示す回路図
である。ここでは、第2図に示した実施例と異なり、第
2M03)ランジスタ320が一致出力線108内に挿
入されている。尚、記憶セル200、第2の記憶セル2
10、−散積出回路220については第1図に示した回
路と同じ構成要素であり、参照番号も統一されている。
Embodiment 3 FIG. 3 is a circuit diagram showing the configuration of a third embodiment of the present invention. Here, unlike the embodiment shown in FIG. 2, a second M03) transistor 320 is inserted into the coincidence output line 108. Note that the memory cell 200 and the second memory cell 2
10. - The scattering product output circuit 220 is the same component as the circuit shown in FIG. 1, and the reference numbers are also the same.

また、動作においても、読取り・書込み動作については
同様に実行される。
Furthermore, in terms of operation, read and write operations are performed in the same manner.

本実施例では、第2の記憶セル210に第1の記憶セル
200内の記憶情報が無効、すなわちドントケアである
ことを示す“0″が格納されている場合、第2M03)
ランジスタ320が開放される。
In this embodiment, if "0" indicating that the storage information in the first storage cell 200 is invalid, that is, don't care, is stored in the second storage cell 210, the second M03)
Transistor 320 is opened.

従って、複数の連想記憶回路の一致出力線108及びリ
ード線101を左右直列に接続することにより複数ビッ
トの連想記憶回路を実現した場合、この中の特定ビット
の第2の記憶セル210にドントケアを示す“0”を格
納させると、このビットを境にして一致出力線108が
切り放される。即ち、適当なビットの第2の記憶セル2
10に#O#を格納することで、種々の長さのデータを
取り扱うことのできる連想記憶回路が実現される。
Therefore, when a plurality of content addressable memory circuits are realized by connecting the coincidence output lines 108 and lead wires 101 of a plurality of content addressable memory circuits in series on the left and right, don't care for the second memory cell 210 of a specific bit among them. When "0" is stored, the coincidence output line 108 is cut off at this bit. That is, the second storage cell 2 of the appropriate bit
By storing #O# in 10, an associative memory circuit capable of handling data of various lengths is realized.

なお、この場合、第2M03)ランジスタ320の代り
に、PチャンネルとNチャンネルの1対のMOS)ラン
ジスタを並列−に接続したスイッチを利用することによ
り、多数ビットの連想記憶回路を実現した場合に一致出
力線108の電圧低化を防ぐことができるので有利であ
る。
In this case, in place of the second M03) transistor 320, a switch in which a pair of P-channel and N-channel MOS) transistors are connected in parallel is used to realize a multi-bit content addressable memory circuit. This is advantageous because it is possible to prevent the voltage of the coincidence output line 108 from dropping.

実施例4 第4図は、本発明の連想記憶回路を組み合わせた連想記
憶装置の構成例を示している。尚、本実施例の連想記憶
装置では、既に説明した連想記憶回路をm行n行のマト
リクス状に配置して構成されてた連想記憶回路410を
含み、mワード×nビットの容量で連想記憶゛を実現し
ている。
Embodiment 4 FIG. 4 shows a configuration example of an associative memory device combining the associative memory circuit of the present invention. The associative memory device of this embodiment includes an associative memory circuit 410 configured by arranging the previously described associative memory circuits in a matrix of m rows and n rows, and has an associative memory with a capacity of m words x n bits.゛ has been realized.

この装置では、同一行のワード線101は共通にワード
線ドライバ430の出力に接続され、また同一行の一致
出力線108は共通の各MO3)ランジスタ420のド
レインとエンコーダ440 とに接続される。また、各
列の正負の第1ビット線102.103および正負の第
2ビット線112.113は共通に読取り・書込みアン
プ450に接続されている。
In this device, the word lines 101 in the same row are commonly connected to the output of the word line driver 430, and the match output line 108 in the same row is commonly connected to the drain of each MO3) transistor 420 and the encoder 440. Further, the positive and negative first bit lines 102 and 103 and the positive and negative second bit lines 112 and 113 of each column are commonly connected to a read/write amplifier 450.

この連想記憶装置では、読取りや書込みのアドレスは入
力アドレス431で与えられ、それによって指定された
ワード線101がワードドライバ430により駆動され
る。登録動作時の可変長の登録データは、右詰めで第1
データ端子451から与えられ、ドントケアフラグは第
2データ端子452から与えられる。nビット以下のサ
イズのデータを登録する場合、登録データを入力する際
は、第1データ端子451に対応する第2データ端子4
52に対して有効を示す“1”の情報を与え、残りの左
側のビットに対応する第2データ端子452にはドント
ケアを示す“0”の情報を与える。
In this content addressable memory device, a read or write address is given by an input address 431, and a word line 101 designated by the input address is driven by a word driver 430. The variable length registration data during registration operation is right-justified and the first
The data terminal 451 provides the flag, and the don't care flag is provided from the second data terminal 452. When registering data with a size of n bits or less, when inputting the registration data, use the second data terminal 4 corresponding to the first data terminal 451.
52 is given information of "1" indicating validity, and information of "0" indicating don't care is given to the second data terminal 452 corresponding to the remaining left bit.

尚、連想記憶回路410として第2図の連想記憶回路を
用いる場合は、可変長データだけでなく、データ内にド
ントケア・ビットを含むデータを登録できる。また、第
3図の連想記憶回路を用いる場合には、未使用ビットと
なる左側の全てのビットに“0”を第2データ端子に与
える必要がなく、最終ビットにのみ“0″′を与えるこ
とで一致出力線108を切断できるので、可変長データ
の登録にも対応している。
Note that when the associative memory circuit shown in FIG. 2 is used as the associative memory circuit 410, not only variable length data but also data that includes don't care bits can be registered. Furthermore, when using the associative memory circuit shown in Fig. 3, there is no need to give "0" to all unused bits on the left to the second data terminal, and only the last bit is given "0"'. Since the coincidence output line 108 can be cut off by this, it is also possible to register variable length data.

第1データ端子451に検索データを与えての可変長デ
ータに対する検索を行った場合、検索結果は一致入出力
線108に出力される。従って、検索動作の直前にプリ
チャージ信号421を与えることによって、−数人出力
線108はMOS)ランジスタ420により高電位にプ
リチャージされる。検索データと一致する情報が記憶さ
れている行の一致人出力線108は高電位に保持され、
不一致の情報を記憶している行の一致入出力線108は
ディスチャージされて低電位となる。−牧人出力線10
8上の一致信号はエンコーダ440に供給され、エンコ
ーダ440を介して一致′アドレス441 として出力
される。
When search data is applied to the first data terminal 451 to perform a search on variable length data, the search result is output to the match input/output line 108. Therefore, by applying the precharge signal 421 immediately before the search operation, the -several output line 108 is precharged to a high potential by the MOS transistor 420. The matching person output line 108 of the row in which information matching the search data is stored is held at a high potential,
The match input/output line 108 of the row storing the mismatch information is discharged to a low potential. - Makito output line 10
The match signal on 8 is supplied to an encoder 440 and output as a match'address 441 via the encoder 440.

発明の詳細 な説明したように、本発明に従う連想記憶回路は、その
独自の構成によって、ドントケアの記憶状態を実現して
いる。従って、従来の連想記憶回路では不可能であった
、可変長データの登録や検索を可能としている。
As described in detail, the associative memory circuit according to the present invention achieves a don't care memory state due to its unique configuration. Therefore, it is possible to register and search variable length data, which was impossible with conventional associative memory circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明による連想記憶回路の構成例を示す回
路図であり、 第2図、第3図並びに第4図は、それぞれ本発明の異な
る実施例の構成を示す回路図である。 〔主な参照番号〕 100.200  ・・・第1の記憶セル、110.2
10  ・・・第2の記憶セル、120.220  ・
・・−散積出回路、130  ・・・第1スイツチ、 140  ・・・第2スイツチ、 230  ・・・インバータ、 240.420  ・・・MOS)ランジスタ、250
.310  ・・・第lMOSトランジスタ、260.
320  ・・・第2M03)ランジスタ、410  
・・・連想記憶回路、 430  ・・・リードドライバ、 440  ・・・エンコーダ、 450  ・・・読取り・書・込みアンプ。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of an associative memory circuit according to the present invention, and FIGS. 2, 3, and 4 are circuit diagrams showing configurations of different embodiments of the present invention. [Main reference number] 100.200...first storage cell, 110.2
10...Second storage cell, 120.220
...-scattering output circuit, 130 ... first switch, 140 ... second switch, 230 ... inverter, 240.420 ... MOS) transistor, 250
.. 310...Ith MOS transistor, 260.
320...2nd M03) transistor, 410
... Content addressable memory circuit, 430 ... Read driver, 440 ... Encoder, 450 ... Read/write/write amplifier.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 第1ビット線並びにワード線に接続された第1の記憶素
子と、第2ビット線並びに該ワード線に接続された第2
の記憶素子と、該第1の記憶素子の記憶出力と該第1ビ
ット線の検索データとを入力とされる一致検出回路と、
該一致検出回路の一致出力により制御される第1スイッ
チ手段と、該第1スイッチ手段と一致出力線間に接続さ
れて該第2の記憶素子の記憶出力により制御される第2
スイッチ手段とを有することを特徴とする連想記憶回路
a first storage element connected to a first bit line and a word line; a second storage element connected to a second bit line and the word line;
a memory element, and a coincidence detection circuit that receives as input the memory output of the first memory element and the search data of the first bit line;
a first switch means controlled by the coincidence output of the coincidence detection circuit; and a second switch means connected between the first switch means and the coincidence output line and controlled by the memory output of the second memory element.
An associative memory circuit comprising switch means.
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