JPH01162119U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示す光ヘツドの分
解斜視図、第２図は光ヘツドの光学系の構成図、
第３図は受光素子における対物レンズ位置誤差検
出方法についての説明図、第４図は従来の光ヘツ
ドの光学系の構成図である。 １０……半導体レーザ、１１……光ヘツドハウ
ジング、１３……光分離型平行平板、１４……対
物レンズ、１５……対物レンズホルダ、１６……
光分離型対物レンズユニツト、１８……円筒凹面
鏡、２０……受光素子。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 半導体レーザと、この半導体レーザからの光
   ビームを透過し、デイスクで反射した戻り光を受
   光素子に導くために反射するハーフミラーと、こ
   のハーフミラーを前記のように透過した光ビーム
   をデイスク上に集光して光スポツトを形成する対
   物レンズと、前記ハーフミラーで前記のように反
   射した戻り光を受光する受光素子とを備えた光ヘ
   ツドにおいて、 前記受光素子をハーフミラーで反射した戻り光
   の進行方向と同じ向きに配置するとともに、ハー
   フミラーで反射した戻り光を前記受光素子に向け
   て反射する円筒凹面鏡を光デイスク装置の固定部
   側に設けたことを特徴とする光ヘツド。 ２ 前記ハーフミラーを光分離型平行平板で構成
   したことを特徴とする請求項１記載の光ヘツド。 ３ 前記対物レンズと前記光分離型平行平板とを
   対物レンズホルダに一体化したことを特徴とする
   請求項２記載の光ヘツド。 ４ 前記対物レンズが有限系対物レンズであるこ
   とを特徴とする請求項１，２、または３記載の光
   ヘツド。 ５ 前記半導体レーザが前記対物レンズの光軸上
   に設けられていることを特徴とする請求項１，２
   ，３または４記載の光ヘツド。 ６ 受光素子に照射する光スポツトの径と基準ス
   ポツト径との差に基づいてフオーカシングエラー
   信号を出力するようにしたことを特徴とする請求
   項１，２，３，４または５記載の光ヘツド。 ７ 前記ハーフミラーを光分離型平行平板で構成
   し、前記対物レンズを有限系対物レンズで構成し
   、前記対物レンズと光分離型平行平板とを対物レ
   ンズホルダに一体化し、半導体レーザを前記対物
   レンズの光軸上に設け、さらに、受光素子に照射
   する光スポツトの径と基準スポツト径との差に基
   づいてフオーカシングエラー信号を出力するよう
   したことを特徴とする請求項１記載の光ヘツド。