JPH01160338U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01160338U JPH01160338U JP5523788U JP5523788U JPH01160338U JP H01160338 U JPH01160338 U JP H01160338U JP 5523788 U JP5523788 U JP 5523788U JP 5523788 U JP5523788 U JP 5523788U JP H01160338 U JPH01160338 U JP H01160338U
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- JP
- Japan
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- black
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- flaw detection
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 claims description 2
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
図面は本考案による磁粉探傷・蛍光探傷用ブラ
ツクライト強度測定装置を示すためのもので、第
１図は全体構成を示す正面図、第２図は第１図の
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は第２図のセンサ
ー部を示す側面図である。 １は基部、２は支柱、３はブラツクライト保持
部、６はブラツクライト止め具、８はブラツクラ
イト体、１１は溝、１２はセンサー部である。
ツクライト強度測定装置を示すためのもので、第
１図は全体構成を示す正面図、第２図は第１図の
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は第２図のセンサ
ー部を示す側面図である。 １は基部、２は支柱、３はブラツクライト保持
部、６はブラツクライト止め具、８はブラツクラ
イト体、１１は溝、１２はセンサー部である。
Claims (1)
- 基部１に設けられた溝１１内に着脱自在に設け
られたセンサー部１２と、前記基部１上に立設し
て設けられた複数の支柱２と、前記各支柱２の上
部に設けられたブラツクライト保持部３と、前記
ブラツクライト保持部３に設けられたブラツクラ
イト止め具６と、前記ブラツクライト保持部３に
着脱自在に設けられたブラツクライト体８とを備
え、前記ブラツクライト体８の光源部７から前記
センサー部１２迄の距離Ｄを一定としたことを特
徴とする磁粉探傷・蛍光探傷用ブラツクライト強
度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5523788U JPH01160338U (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5523788U JPH01160338U (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01160338U true JPH01160338U (ja) | 1989-11-07 |
Family
ID=31281136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5523788U Pending JPH01160338U (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01160338U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021522468A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 非破壊試験のためのカスタマイズされた品質管理タスクを用いるシステム及び方法 |
-
1988
- 1988-04-26 JP JP5523788U patent/JPH01160338U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021522468A (ja) * | 2018-04-17 | 2021-08-30 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 非破壊試験のためのカスタマイズされた品質管理タスクを用いるシステム及び方法 |