JPH01148926A - Optical spectrum analyser - Google Patents

Optical spectrum analyser

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JPH01148926A
JPH01148926A JP30771687A JP30771687A JPH01148926A JP H01148926 A JPH01148926 A JP H01148926A JP 30771687 A JP30771687 A JP 30771687A JP 30771687 A JP30771687 A JP 30771687A JP H01148926 A JPH01148926 A JP H01148926A
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JP
Japan
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light
measured
optical
interferogram
movable mirror
Prior art date
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Pending
Application number
JP30771687A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuya Yamashita
克也 山下
Mitsuhiro Tatsuta
立田 光廣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

PURPOSE:To analyze a weak spectrum, by adding a separate interference route separate from one for measuring use and obtaining a narrow interferogram to form the measuring start trigger signal of light to be measured and preventing the generation of time jitter. CONSTITUTION:The light of a white light source 10 is incident to an interferomater as start triggering beam 1' while the beam 1' is separated into two beams by a half mirror 2' and both beams are reflected by a fixed mirror 31 and a double-side movable mirror 4' to interfere with each other through the mirror 2'. The inteferogram obtained herein is inputted to a start trigger pulse generator 14 through a photodetector 5' and an amplifier 6', and the output pulse of the generator 14 starts the sampling of an A/D converter 7. A driver 9 drives the movable mirror 4 to perform reciprocating scanning. By this constitution, even if there is mechanical backlash in the driver 9, the time difference between the interferograms detected by photodetectors 5, 5' becomes constant and the interferograms are simply added and integrated at every scanning of the movable mirror to prevent the generation of jitter and a weak spectrum can be accurately measured.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、微弱光のスペクトル分析を高精度に行う光ス
ペクトラムアナライザに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an optical spectrum analyzer that performs spectrum analysis of weak light with high accuracy.

(従来の技術) 従来のフーリエ分光法を用いた光スペクトラムアナライ
ザは、第6図に示すような構成であった。
(Prior Art) A conventional optical spectrum analyzer using Fourier spectroscopy has a configuration as shown in FIG.

第6図にいて、被測定光1はハーフミラ−2で二つの光
束1a、 lbに分割され、光束1aは固定ミラー3で
反射され、光束1bは可動ミラー4で反射され、それぞ
れ再びハーフミラ−2を通って受光器5に重なって入射
する。この時、光束1a、 lbの光路差によって二つ
の光束に干渉が生じ、第7図に示すようなインターフェ
ログラムが増幅器6の出力端で観察される。これをA/
D変換器7でA/D変換し、高速フーリエ変換装置8を
通すと、第8図に示すようにスペクトルが測定される。
In FIG. 6, the light to be measured 1 is split into two light beams 1a and lb by a half mirror 2, the light beam 1a is reflected by a fixed mirror 3, the light beam 1b is reflected by a movable mirror 4, and each beam is reflected by a half mirror 2 again. The light passes through the beam and enters the photoreceiver 5 in an overlapping manner. At this time, interference occurs between the two light beams due to the optical path difference between the light beams 1a and lb, and an interferogram as shown in FIG. 7 is observed at the output end of the amplifier 6. This is A/
When the signal is A/D converted by a D converter 7 and passed through a fast Fourier transform device 8, a spectrum is measured as shown in FIG.

被測定光1の光スペクトルのごく微弱な部分まで正確に
観測するためには、平均化手法が考えられる。平均化を
時間軸上で行うためには、可動ミラーを反復移動させ、
移動サイクルごとにインターフェログラムを取り込み平
均化する。ところが第7図に示したインターフェログラ
ムは機構部の“ガタ”などのために反復動作に対しては
±1μm程度のジッタを不可避的に生じる。この様子を
第9図(a)、 (b)に示す。(a)は1回のみ走査
した時の光パワを示し、Φ)は10回走査した時の重ね
書きした光パワを示す。ジッタを生じた波形のフーリエ
変換を行うと、当然のことながら正確なスペクトル測定
値は得られない。このように従来のフーリエ分光法を用
いた光スペクトラムアナライザでは、時間軸上の平均化
が困難で微弱なスペクトル分析には難点があった。
In order to accurately observe even the very weak portion of the optical spectrum of the light to be measured 1, an averaging method can be considered. In order to perform averaging on the time axis, the movable mirror is moved repeatedly,
Interferograms are acquired and averaged for each movement cycle. However, in the interferogram shown in FIG. 7, due to "backlash" in the mechanism, jitter of about ±1 μm inevitably occurs due to repeated operations. This situation is shown in FIGS. 9(a) and 9(b). (a) shows the optical power when scanning is performed only once, and Φ) shows the overwritten optical power when scanning is performed 10 times. Naturally, if a jittered waveform is subjected to Fourier transformation, accurate spectral measurements cannot be obtained. As described above, conventional optical spectrum analyzers using Fourier spectroscopy have difficulty in averaging over time, making it difficult to analyze weak spectra.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、可動ミラー駆動機構上の“ガタ゛′があって
も、インターフェログラムにジッタを生じないように光
学針を構成するとともに、時間軸上の平均化を可能とし
、微弱なスペクトル分析を行うことができる光スペクト
ラムアナライザを提供することにある。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has an optical needle configured so that even if there is "backlash" in the movable mirror drive mechanism, jitter does not occur in the interferogram, and the optical needle is The object of the present invention is to provide an optical spectrum analyzer that can perform a weak spectrum analysis.

(問題点を解決するための手段) 本発明は、測定用とは別の干渉系路を付加構成して、そ
れに白色光などの広いスペクトルを持つ光源からの信号
を入射させ、得られた狭いインターフェログラムを被測
定光の測定スタートトリガ信号とし、この時、可動ミラ
ーは測定用可動ミラーと機構的に一体化し、同一の駆動
体で駆動させ、トリガ用インターフェログラムと測定光
インターフェログラムの間に時間ジッタが発生しないよ
うにする。
(Means for Solving the Problems) The present invention additionally configures an interference path separate from the one for measurement, and inputs a signal from a light source with a wide spectrum such as white light into the interference path, and the resulting narrow The interferogram is used as a measurement start trigger signal for the light to be measured. At this time, the movable mirror is mechanically integrated with the measurement movable mirror and driven by the same driver, and the trigger interferogram and measurement light interferogram are Prevent time jitter from occurring between.

本発明は従来の技術とは、正確な時間軸平均化が可能と
なることが異なる。
The present invention differs from conventional techniques in that accurate time axis averaging is possible.

(実施例) 第1図は本発明の第1の実施例の構成図であって、A/
D変換スタートトリガ信号発生のための第2の干渉計が
組み込まれている。スタートトリガ用白色光源10の光
をレンズ11で絞り、光ファイバ12、コリメータ13
を経て、干渉針にスタートトリガ用光束1′が注入され
る。ハーフミラ−2゛で1’ a、 1’ bの2光束
に分けられ、光束1/aは固定ミラー3′で反射され、
l’bは両面可動ミラー4′で反射され、各々再びハー
フミラ−2′を経て干渉し、受光器5′でインターフェ
ログラムが光電変換される。6′は増幅器である。14
は波形を整形するスタートトリガパルス発生器であす、
コンパレータ、マルチパイプレークなどで構成され、増
幅器6′からの入力でステップ状パルスが出力され、こ
れがスタートトリガとなってA/D変換器7のサンプリ
ングを開始させる。9は両面可動ミラー4′の駆動体で
あって、左右方向に両面可動ミラー4′を往復走査する
(Embodiment) FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment of the present invention,
A second interferometer is incorporated for generating the D-conversion start trigger signal. The light from the white light source 10 for the start trigger is narrowed down by a lens 11, an optical fiber 12, and a collimator 13.
After that, the start trigger light beam 1' is injected into the interference needle. The half mirror 2' divides the beam into two beams 1'a and 1'b, and the beam 1/a is reflected by the fixed mirror 3'.
The beams l'b are reflected by the double-sided movable mirror 4', each pass through the half mirror 2' again and interfere with each other, and the interferogram is photoelectrically converted by the photoreceiver 5'. 6' is an amplifier. 14
is a start trigger pulse generator that shapes the waveform.
It is composed of a comparator, a multi-pipe rake, etc., and a step pulse is outputted from the input from the amplifier 6', which serves as a start trigger and causes the A/D converter 7 to start sampling. Reference numeral 9 denotes a driving body for the double-sided movable mirror 4', which reciprocates the double-sided movable mirror 4' in the left-right direction.

このような構成であるので、駆動体9に機械的な“ガタ
゛′が存在しても受光器5.5′で検出されるインター
フェログラム間の時間差は一定となる。第2の干渉計の
出力インターフェログラムは、白色光を光源とした場合
、狭い時間範囲にパルス状になるので、これを被測定光
の測定スタートトリガにすれば、理想的なトリガ信号が
得られる。
With this configuration, the time difference between the interferograms detected by the light receiver 5.5' remains constant even if there is mechanical "backlash" in the driving body 9. When white light is used as a light source, the output interferogram becomes pulsed in a narrow time range, so if this is used as the measurement start trigger for the light to be measured, an ideal trigger signal can be obtained.

白色光源10の代わりに半導体レーザなどの干渉性のよ
いものを用いた場合には、第2図(a)に示す白色光の
インターフェログラムと異なり、第2図(ロ)に示すよ
うな時間軸の広い範囲で干渉したインク−フエログラム
となり、スタートトリガ信号のタイミングが不確実とな
る。理想的には狭い単発のインターフェログラムがよい
。両面可動ミラー4′が可動ミラー駆動体9によって、
ある位置(第2の干渉計の光路差Oの点)に移動した場
合のみ、1走査内のただ1回スタートトリガパルスが発
生する。
When a device with good coherence, such as a semiconductor laser, is used instead of the white light source 10, the interferogram shown in FIG. 2(b) differs from the white light interferogram shown in FIG. 2(a). This results in ink-ferrograms that interfere over a wide range of axes, making the timing of the start trigger signal uncertain. Ideally, a narrow, single-shot interferogram is good. The double-sided movable mirror 4' is moved by the movable mirror driver 9,
A start trigger pulse is generated only once in one scan only when moving to a certain position (point of optical path difference O of the second interferometer).

ここで固定ミラー3′、ハーフミラ−2′、受光器5′
を一体として、入射光軸方向に微動可能とすれば、光束
1’ a 、 1’ bの光路差Oの点、すなわちイン
ターフェログラムビーク位置が可変でき、トリガ信号の
時間軸上の移動が実行できる。
Here, a fixed mirror 3', a half mirror 2', a light receiver 5'
If they can be made to move slightly in the direction of the incident optical axis, the point of optical path difference O between the light beams 1'a and 1'b, that is, the interferogram peak position, can be varied, and the trigger signal can be moved on the time axis. can.

つまり、被測定光のインターフェログラム測定(観察)
領域(ウィンドウ)を任意に設定できる。
In other words, interferogram measurement (observation) of the light to be measured
The area (window) can be set arbitrarily.

このように第2の干渉計の光路差0の両面可動ミラー4
′の位置に対してのみA/D変換器のサンプリングを実
行させるので、両面可動ミラー4′の反復走査をした場
合、可動ミラー駆動体9の機構上の“ガタ”バックラッ
シュ、ヒステリシスがあっても、常に一定の光路差位置
から被測定光のインターフニブラムが測定できる。従っ
て全くジッタのない波形が得られ、そのまま加算、積分
が可能となる。第3図(b)に1024回加算平均した
パワの例を示す。なお加算なしの場合のパワを第3図(
a)に示す。加算しない場合のノイズレベルは一72d
Bm/μm程度であるが、加算平均後−80dBm/μ
m以下に向上している。
In this way, the double-sided movable mirror 4 of the second interferometer has an optical path difference of 0.
Since sampling of the A/D converter is performed only for the position ', when the double-sided movable mirror 4' is repeatedly scanned, backlash and hysteresis due to the mechanism of the movable mirror driver 9 may occur. Also, the interfnibram of the light to be measured can always be measured from a constant optical path difference position. Therefore, a waveform completely free of jitter can be obtained, and addition and integration can be performed as is. FIG. 3(b) shows an example of the power averaged 1024 times. The power without addition is shown in Figure 3 (
Shown in a). The noise level without addition is -72d
Bm/μm, but after averaging -80dBm/μm
It has improved to below m.

第4図は本発明の第2の実施例の構成図であって、1.
la、 lbは被測定光の糸路を構成する光束、1’ 
+ 1’ a + 1’ bはスタートトリガ用光糸路
を構成する光束、1“、1″a、1“bはデータのサン
プリング用トリガ信号光系路を構成する光束であって、
光源はHeNeレーザ、半導体レーザを用いる。4“は
可動ミラーであって段差δのある2鏡面4.4からなる
。5.5” 、5“は各々の光束のインターフェログラ
ムの光電変換器であり、6.6’、6”は増幅器、15
はサンプリングトリガ用波形整形回路であって、シュミ
ットトリガ回路のような矩形波整形回路で構成される。
FIG. 4 is a configuration diagram of a second embodiment of the present invention, which includes 1.
la and lb are the light fluxes that constitute the thread path of the light to be measured, 1'
+ 1'a + 1'b is a light beam forming a start trigger optical path, 1'', 1''a, 1''b is a light beam forming a data sampling trigger signal optical path,
A HeNe laser or a semiconductor laser is used as a light source. 4" is a movable mirror consisting of two mirror surfaces 4.4 with a step δ. 5.5" and 5" are photoelectric converters for the interferogram of each luminous flux, and 6.6' and 6" are amplifier, 15
is a sampling trigger waveform shaping circuit, which is composed of a rectangular wave shaping circuit such as a Schmitt trigger circuit.

スタートトリガパルス発生器14の出力とサンプリング
トリガ用波形整形回路15の出力はAND回路16によ
って外部トリガ型A/D変換器7′はサンプリング指示
トリガを送出する。この場合の各増幅器6.6’、6“
の出力波形およびスタートトリガパルス発生器14、サ
ンプリングトリガ用波形整形回路15、AND回路IC
の出力波形を、それぞれ第5図(a)、 (b)、 (
C)、 (d)、 (e)、 (f)に示す。サンプリ
ングトリガ用波形整形回路15の出力は干渉性のよい光
源を用いているので、全域にわたってサンプリングトリ
ガ用光束1#の半波長ごとに−様なパルスが得られる。
The output of the start trigger pulse generator 14 and the output of the sampling trigger waveform shaping circuit 15 are connected to an AND circuit 16, and the external trigger type A/D converter 7' sends out a sampling instruction trigger. Each amplifier 6.6', 6" in this case
output waveform and start trigger pulse generator 14, sampling trigger waveform shaping circuit 15, AND circuit IC
The output waveforms of Figure 5 (a), (b), (
C), (d), (e), and (f). Since a light source with good coherence is used for the output of the sampling trigger waveform shaping circuit 15, --like pulses can be obtained for every half wavelength of the sampling trigger light beam 1# over the entire area.

スタートトリガパルス発生器14の出力は光束1’ a
 、 1’ bの光路差が0になった時のみステップパ
ルスが発生する。AND回路16によってスタートトリ
ガ発生器14、サンプリングトリガ用波形整形回路15
の出力がオン(“1″)のときのみ外部トリガ型A/D
変換器7′はデータをサンプリングする。
The output of the start trigger pulse generator 14 is a luminous flux 1' a
, 1'b, a step pulse is generated only when the optical path difference between them becomes 0. A start trigger generator 14 and a sampling trigger waveform shaping circuit 15 are generated by an AND circuit 16.
External trigger type A/D only when the output is on (“1”)
Converter 7' samples the data.

段差付ミラー4,4を機構上一体化して可動ミラー駆動
体9で駆動するような構成にしておけば、前記実施例と
同様に、可動ミラー駆動体9にバックラッシュなどがあ
っても段差付きミラー4と4の面の相対位置は変化しな
いので、1回の走査ごとにスタートトリガパルス発生器
14、サンプリングトリガ用波形整形回路15の出力に
基づいて正確なサンプリングが実行でき、ジッタのない
インターフェログラムを得ることができる。従って時間
軸上の単純加算・積分処理によって、雑音の低減が可能
である。ここで可動ミラー4“を2分割し、段差付きミ
ラーTのみを光束軸方向に微動可能な構成にしておけは
、光路差2δ可変となり、サンプリングウィンドウの変
更ができる。またへNO回路1Gの後に、てい倍、分周
回路を入れれば、サンプリング密度の変更もできる。
If the stepped mirrors 4, 4 are mechanically integrated and driven by the movable mirror driving body 9, the stepped mirrors 4, 4 can be driven by the movable mirror driving body 9, even if there is backlash in the movable mirror driving body 9, as in the above embodiment. Since the relative positions of the surfaces of the mirrors 4 and 4 do not change, accurate sampling can be performed based on the outputs of the start trigger pulse generator 14 and the sampling trigger waveform shaping circuit 15 for each scan, and jitter-free interface can be achieved. You can get a ferrogram. Therefore, noise can be reduced by simple addition and integration processing on the time axis. If the movable mirror 4'' is divided into two parts and only the stepped mirror T is configured to be able to move slightly in the direction of the beam axis, the optical path difference 2δ can be varied and the sampling window can be changed.Also, after the NO circuit 1G By inserting a frequency divider circuit, the sampling density can be changed.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明の光スペクトラムアナライ
ザは、光干渉計に駆動“ガタ゛・バックラッシュがあっ
ても、測定スタートトリガ用干渉系路を別途設け、両干
渉糸路の可動ミラーを機構的に一体化することによって
、スタートトリガに対して相対的に一定のタイミングで
インターフ工ログラム測定が可能であるから、このイン
ターフェログラムを可動ミラーの走査ごとで単純に加算
、積分処理することがジッタなしに可能となり、ごく微
弱なスペクトルの正確な測定を行うことができる利点が
ある。
(Effects of the Invention) As explained above, the optical spectrum analyzer of the present invention provides a separate interference path for the measurement start trigger even if there is drive backlash in the optical interferometer. By mechanically integrating the movable mirror, it is possible to measure the interferogram at a constant timing relative to the start trigger, so this interferogram can be simply added and integrated every time the movable mirror scans. This has the advantage that processing can be performed without jitter, and accurate measurement of extremely weak spectra can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成図、 第2図(a)、 (b)は白色光と半導体レーザのイン
ターフェログラムを示す図、 第3図(a)、 (b)は加算平均化処理前後のスペク
トルを示す図、 第4図は本発明の第2の実施例の構成図、第5図(a)
〜げ)は本発明の光スペクトラムアナライザの各部(各
増幅器ならびにスタートトリガパルス発生器、サンプリ
ングトリガ用波形整形回路およびAND回路)の出力の
電気波形を示す図、第6図は従来の光スペクトラムアナ
ライザの構成図、 第7図はインターフェログラムを示す図、第8図は高速
フーリエ変換装置によるスペクトルの計算結果を示す図
、 第9図(a)、 (b)は従来の光スペクトラムアナラ
イザの機構部の“ガタ′°によるインターフェログラム
のジッタを示す図である。 1・・・被測定光束 1′・・・スタートトリガ用光束 1”・・・サンプリングトリガ用光束 la、 1b+ 1’ al 1’ b+ 1” al
 1“b −・・光束2.2′ ・・・ハーフミラ− 3,3′ ・・・固定ミラー 4.4“・・・可動ミラー 4′・・・両面可動ミラー 1、7’・・・段差付きミラー “5.5’ 、 5“・・・受光器(光電変換器)6、
6’ 、 6″・・・増幅器 7・・・A/D変換器 7′・・・外部トリガ型A/D変換器 8・・・光束フーリエ変換装置 9・・・可動ミラー駆動体 10・・・スタートトリガ用白色光源 11・・・レンズ 12・・・光ファイバ 13・・・コリメータ 14・・・スタートトリガパルス発生器15・・・サン
プリングトリガ用波形整形回路16・・−AND回路 特許出願人   日本電信電話株式会社代理人弁理士 
  杉  村  暁  秀同  弁理士    杉  
 村   興   作第1図 第2図 (a) (b) □軟mmなど□ 半4享体レーデのインゲー人ログ弘 第3図 a) (bン 3F!、、長(pm) 第6図 7−A/Dt梗察 第7図 プヒ訃項1(憫まL1寥町動ミラー幸チh量)第8図 液長01M)
Figure 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, Figures 2 (a) and (b) are diagrams showing interferograms of white light and a semiconductor laser, and Figures 3 (a) and (b) are additions. Figures showing spectra before and after averaging processing; Figure 4 is a configuration diagram of the second embodiment of the present invention; Figure 5(a)
6) are diagrams showing the electrical waveforms of the output of each part (each amplifier, start trigger pulse generator, sampling trigger waveform shaping circuit, and AND circuit) of the optical spectrum analyzer of the present invention, and Figure 6 is a diagram showing the electrical waveform of the output of the optical spectrum analyzer of the present invention. Figure 7 is a diagram showing the interferogram, Figure 8 is a diagram showing the calculation results of the spectrum by the fast Fourier transform device, and Figures 9 (a) and (b) are the mechanism of a conventional optical spectrum analyzer. 1... Luminous flux to be measured 1'... Luminous flux for start trigger 1'... Luminous flux for sampling trigger la, 1b+1' al 1 ' b+ 1" al
1"b -...Light flux 2.2'...Half mirror 3,3'...Fixed mirror 4.4"...Movable mirror 4'...Double-sided movable mirror 1, 7'...Step Mirror with "5.5', 5" ... light receiver (photoelectric converter) 6,
6', 6''... Amplifier 7... A/D converter 7'... External trigger type A/D converter 8... Luminous flux Fourier transform device 9... Movable mirror driver 10...・Start trigger white light source 11...Lens 12...Optical fiber 13...Collimator 14...Start trigger pulse generator 15...Sampling trigger waveform shaping circuit 16...-AND circuit Patent applicant Patent attorney representing Nippon Telegraph and Telephone Corporation
Akatsuki Sugimura Patent Attorney Sugi
Figure 1 Figure 2 by Ko Mura (a) (b) □ Soft mm, etc. □ Half-4-body Rede's Ingeman log figure 3 a) (bn3F!, Long (pm) Figure 6 7 -A/Dt Inspection Figure 7 Puhi death item 1 (lol)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、二つの光干渉計の可動ミラー部を互いに機械的に一
体化し、第1の光干渉計に被測定光を入射させ、第2の
干渉計にハロゲンランプなどの広スペクトル光源からの
光を入射させ、該第2の干渉計で得られるインターフェ
ログラム信号をスタートトリガ信号とし、前記第1の干
渉計のインターフェログラムを測定し、フーリエ変換し
て被測定光の光スペクトルを求めることを特徴とする光
スペクトラムアナライザ。 2、一つの光干渉計の固定ミラーまたは可動ミラーに段
差を設け、光路長の異なる第1および第2の二つの干渉
系路を構成し、該第1の干渉系路に被測定光を入射させ
、かつ第2の干渉系路にハロゲンランプなどの広スプク
トル光源からの光を入射させ、該第2の干渉系路で得ら
れるインターフェログラム信号をスタートトリガ信号と
して、第1の干渉系路のインターフェログラムを測定し
、フーリエ変換して被測定光の光スペクトルを求めるこ
とを特徴とする光スペクトラムアナライザ。 3、ヘリウムネオンレーザなどの狭スペクトル光を1方
の干渉計または干渉系路に入射し、これから得られるイ
ンターフェログラム信号を該スタートトリガ信号発生以
降の測定用トリガ信号として用いることを特徴とする特
許請求の範囲第1項または第2項記載の光スペクトラム
アナライザ。 4、可動ミラーの移動サイクルごとに測定インターフェ
ログラムを時間軸上(移動軸上)で加算し、積分処理ま
たは平均化処理することを特徴とする特許請求の範囲第
1項〜第3項のいずれか1項記載の光スペクトラムアナ
ライザ。
[Claims] 1. The movable mirror parts of two optical interferometers are mechanically integrated with each other, the light to be measured is made incident on the first optical interferometer, and the second interferometer is provided with a wide beam such as a halogen lamp. Light from a spectral light source is incident, the interferogram signal obtained by the second interferometer is used as a start trigger signal, the interferogram of the first interferometer is measured, and Fourier transform is performed to obtain the measured light. An optical spectrum analyzer characterized by determining the optical spectrum. 2. A step is provided on the fixed mirror or movable mirror of one optical interferometer to form two interference paths, a first and a second interference path with different optical path lengths, and the light to be measured is incident on the first interference path. and input light from a wide spectrum light source such as a halogen lamp into the second interference path, and using the interferogram signal obtained in the second interference path as a start trigger signal, start the first interference path. An optical spectrum analyzer that measures the interferogram of the light and performs Fourier transformation to obtain the optical spectrum of the light to be measured. 3. A narrow spectrum light such as a helium neon laser is incident on one interferometer or interference system path, and the interferogram signal obtained from this is used as a trigger signal for measurement after generation of the start trigger signal. An optical spectrum analyzer according to claim 1 or 2. 4. The measured interferograms are added on the time axis (on the movement axis) for each movement cycle of the movable mirror and subjected to integration processing or averaging processing. The optical spectrum analyzer according to any one of the items.
JP30771687A 1987-12-07 1987-12-07 Optical spectrum analyser Pending JPH01148926A (en)

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Citations (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58100722A (en) * 1981-12-11 1983-06-15 Kiyomi Sakai Fourier conversion type spectrophotometer
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JPS61205828A (en) * 1985-03-08 1986-09-12 Jeol Ltd Data sampling system in fourier transform infrared spectrophotometer

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