JP7765051B2 - 反射行列ベースの多重散乱追跡アルゴリズムを用いて散乱媒質内の対象イメージを補正及び復元するイメージング装置及び方法 - Google Patents
反射行列ベースの多重散乱追跡アルゴリズムを用いて散乱媒質内の対象イメージを補正及び復元するイメージング装置及び方法Info
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Description
本出願は、2023年09月18日付の韓国特許出願第10-2023-0124023号に基づく優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示された全ての内容は本明細書の一部として組み込まれる。
110 光源部
120 感知部
130 反射行列測定部
140 アルゴリズム処理部
150 イメージ処理部
160 制御部
Claims (12)
- 散乱媒質と前記散乱媒質内の多重散乱成分を透過した光を対象物体に入射する光源部;
前記入射後、前記対象物体から前記多重散乱成分を透過し、反射されて戻ってくる光を感知する感知部;
前記戻ってくる光に基づいて前記多重散乱成分に基づいた多重散乱軌跡が反映された時間分解反射行列を測定する反射行列測定部;
多重散乱追跡アルゴリズムによって前記散乱媒質から近似した複数の位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、入射透過行列及び反射透過行列を獲得し、前記獲得された入射透過行列及び前記獲得された反射透過行列の逆行列を前記測定された時間分解反射行列に反映することによって物体反射行列を獲得するアルゴリズム処理部;及び
前記獲得された物体反射行列に基づいて前記多重散乱軌跡による多重散乱歪曲が補正されたイメージを獲得するイメージ処理部;を含み、
前記アルゴリズム処理部は、前記多重散乱追跡アルゴリズムに基づいて前記時間分解反射行列の入力又は出力端にk番目の位相平面までの距離に該当する空間伝播行列(P k )を掛けることによって、それぞれの位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、前記k番目に該当する複数の入射透過行列及び複数の反射透過行列を獲得し、
前記空間伝播行列(P k )は、前記対象物体に該当する平面に対して決定された入射としての入力と、前記k番目のアクセス対象である位相平面に対して決定された反射としての出力とを含むことを特徴とする、イメージング装置。 - 前記アルゴリズム処理部は、前記多重散乱追跡アルゴリズムに基づいて前記複数の位相平面のうち特定の位相平面に対して互いに異なる二つの点に光を集束させた場合を考慮した上で、二つの地点の位相遅延値の差を獲得し、前記獲得した差を前記特定の位相平面に対して獲得される入射透過行列と反射透過行列に適用することを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 前記複数の位相平面のそれぞれは、前記散乱媒質内部の多重散乱成分と関連して透過行列を算出し、前記算出された透過行列に基づいた第1位相平面が設計され、前記設計された第1位相平面上に前記算出された透過行列の逆透過行列に基づいた第2位相平面が設計されることによって、前記散乱媒質の内部に仮想的に位置したり、前記散乱媒質上に位置することを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 前記複数の位相平面の位置は、前記対象物体からの距離を変更しながら前記多重散乱追跡アルゴリズムを適用することによる電場の強度を測定した後、前記測定された電場の強度が基準値より大きい位置として決定されることを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 前記複数の位相平面の数は、位相平面の数を変更しながら前記多重散乱追跡アルゴリズムを適用することによる電場の強度を測定した後、前記変更される数による計算時間を共に考慮して決定されることを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 前記反射行列測定部は、各行列成分を前記対象物体の面上の各位置に集中した光とし、入力基準の結果、反射された光における、物体面の共役イメージ平面に置かれたカメラの各位置において出力基準で測定した電場の強度及び位相値として決定された前記時間分解反射行列を測定することを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 前記光源部は、前記対象物体に点照明で前記光を入射し、前記点照明の位置を変更することによって前記対象物体上の入射位置を変更し、
前記感知部は、前記変更された入射位置によって変更された感知ピクセルを感知することを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。 - 前記アルゴリズム処理部は、前記多重散乱追跡アルゴリズムによって前記散乱媒質の前記多重散乱成分に対して前記複数の位相平面と前記複数の位相平面のそれぞれを構成する複数の地点に対する位相値と関連した入射透過行列と反射透過行列のそれぞれに対する各逆行列を算出し、前記算出された各逆行列を前記時間分解反射行列に反映することによって前記対象物体に対する物体反射行列を獲得することを特徴とする、請求項1に記載のイメージング装置。
- 光源部において、散乱媒質と前記散乱媒質内の多重散乱成分を透過した光を対象物体に入射する段階;
感知部において、前記入射後、前記対象物体から前記多重散乱成分を透過し、反射されて戻ってくる光を感知する段階;
反射行列測定部において、前記戻ってくる光に基づいて前記多重散乱成分に基づいた多重散乱軌跡が反映された時間分解反射行列を測定する段階;
アルゴリズム処理部において、多重散乱追跡アルゴリズムによって前記散乱媒質から近似した複数の位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、入射透過行列及び反射透過行列を獲得し、前記獲得された入射透過行列及び前記獲得された反射透過行列の逆行列を前記測定された時間分解反射行列に反映することによって物体反射行列を獲得する段階;及び
イメージ処理部において、前記獲得された物体反射行列に基づいて前記多重散乱軌跡による多重散乱歪曲が補正されたイメージを獲得する段階;を含み、
前記多重散乱追跡アルゴリズムによって前記複数の位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、入射透過行列及び反射透過行列を獲得し、前記獲得された入射透過行列及び前記獲得された反射透過行列の逆行列を前記測定された時間分解反射行列に反映することによって物体反射行列を獲得する段階は、
前記多重散乱追跡アルゴリズムに基づいて前記時間分解反射行列の入力又は出力端にk番目の位相平面までの距離に該当する空間伝播行列(P k )を掛けることによってそれぞれの位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、前記k番目に該当する複数の入射透過行列及び複数の反射透過行列を獲得する段階を含み、
前記空間伝播行列(P k )は、前記対象物体に該当する平面に対して決定された入射としての入力と、前記k番目のアクセス対象である位相平面に対して決定された反射としての出力とを含むことを特徴とする、イメージング方法。 - 前記多重散乱追跡アルゴリズムによって前記複数の位相平面に対して数値反復的にアクセスを行い、入射透過行列及び反射透過行列を獲得し、前記獲得された入射透過行列及び前記獲得された反射透過行列の逆行列を前記測定された時間分解反射行列に反映することによって物体反射行列を獲得する段階は、
前記多重散乱追跡アルゴリズムに基づいて前記複数の位相平面のうち特定の位相平面に対して互いに異なる二つの点に光を集束させた場合を考慮した上で、二つの地点の位相遅延値の差を獲得し、前記獲得した差を前記特定の位相平面に対して獲得される入射透過行列と反射透過行列に適用する段階を含むことを特徴とする、請求項9に記載のイメージング方法。 - 前記複数の位相平面のそれぞれは、前記散乱媒質内部の多重散乱成分と関連して透過行列を算出し、前記算出された透過行列に基づいた第1位相平面が設計され、前記設計された第1位相平面上に前記算出された透過行列の逆透過行列に基づいた第2位相平面が設計されることによって、前記散乱媒質の内部に仮想的に位置したり、前記散乱媒質上に位置することを特徴とする、請求項9に記載のイメージング方法。
- 前記複数の位相平面の位置は、前記対象物体からの距離を変更しながら前記多重散乱追跡アルゴリズムを適用することによる電場の強度を測定した後、前記測定された電場の強度が基準値より大きい位置として決定され、
前記複数の位相平面の数は、位相平面の数を変更しながら前記多重散乱追跡アルゴリズムを適用することによる電場の強度を測定した後、前記変更される数による計算時間を共に考慮して決定されることを特徴とする、請求項9に記載のイメージング方法。
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