JP7601643B2 - Ophthalmic device, method for controlling ophthalmic device, and program - Google Patents

Ophthalmic device, method for controlling ophthalmic device, and program Download PDF

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Description

この発明は、眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムに関する。 This invention relates to an ophthalmic device, a control method for an ophthalmic device, and a program.

眼軸長の測定は、白内障手術前の眼内レンズ(intraocular lens:IOL)の度数選択だけではなく、軸性屈折異常の確認や眼球形状の計測などを目的として行われる。 Axial length is measured not only to select the power of the intraocular lens (IOL) before cataract surgery, but also to check for axial refractive errors and measure the shape of the eyeball.

眼軸長の測定が可能な装置として、角膜に超音波プローブを接触させて眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定装置や、被検眼に対して光コヒーレンストモグラフィを実行して非接触にて眼軸長を光学的に測定する光学式眼軸長測定装置などがある。 Devices capable of measuring axial length include ultrasonic axial length measuring devices that measure axial length by contacting an ultrasonic probe with the cornea, and optical axial length measuring devices that perform optical coherence tomography on the examinee's eye to optically measure axial length in a non-contact manner.

一般的に、超音波式眼軸長測定装置により得られた眼軸長が用いられる。しかしながら、超音波式眼軸長測定装置による測定には熟練の手技が必要な上に、被検眼に対して点眼麻酔を行う必要があるため、被検者の負担が大きくなる。 Generally, the axial length measured using an ultrasonic axial length measuring device is used. However, measurement using an ultrasonic axial length measuring device requires skilled technique, and the subject's eye must be anesthetized with eye drops, which places a heavy burden on the subject.

これに対して、光学式眼軸長測定装置による測定には、熟練の手技が不要であり、非接触での測定が可能なため、被検者の負担が大幅に軽減される。しかしながら、白内障眼の場合には測定ができず、信頼性の高い測定結果を得ることが難しくなる。 In contrast, measurements using optical axial length measurement devices do not require skilled techniques and can be performed without contact, significantly reducing the burden on the subject. However, measurements cannot be performed on eyes with cataracts, making it difficult to obtain reliable measurement results.

例えば、特許文献1には、超音波式で眼軸長の測定を行う超音波式眼軸長測定手段と、非接触にて光学的に眼軸長の測定を行う非接触式眼軸長測定手段とを備えた眼軸長測定装置が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses an axial length measuring device that includes an ultrasonic axial length measuring means that measures axial length ultrasonically, and a non-contact axial length measuring means that measures axial length optically without contact.

例えば、特許文献2には、被検眼に対して光コヒーレンストモグラフィを実行することにより得られたAスキャン方向の強度プロファイルから角膜頂点の位置と網膜色素上皮層の位置とを特定し、眼軸長を測定する手法が開示されている。 For example, Patent Document 2 discloses a method for measuring the axial length by identifying the position of the corneal apex and the position of the retinal pigment epithelium from an intensity profile in the A-scan direction obtained by performing optical coherence tomography on the subject's eye.

例えば、非特許文献1には、780ナノメートル(nm)の近赤外光を測定光として用いた光コヒーレンストモグラフィにより得られた眼軸長に対応する光路長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて測定された眼軸長(物理長)に変換する手法が開示されている。 For example, Non-Patent Document 1 discloses a method for converting the optical path length corresponding to the axial length obtained by optical coherence tomography using near-infrared light of 780 nanometers (nm) as the measurement light into the axial length (physical length) measured using an ultrasonic axial length measurement device.

特開2008-161218号公報JP 2008-161218 A 特表2014-500096号公報Special Publication No. 2014-500096

Suheimat M, Verkicharla PK, Mallen EAH, Rozema J, Atchison DA, “Refractive indices used by the Haag-Streit Lenstar to calculate axial biometric dimensions”, Ophthalmic & Physiological Optics 2015, 35:90-96.doi:10.1111/opo.12182Suheimat M, Verkicharla PK, Mallen EAH, Rozema J, Atchison DA, “Refractive indicators used by the Haag-Street Leinstar to calculate axial biometric dimensions”, Ophthalmic & Physiological Optics 2015, 35:90-96. doi:10.1111/opo. 12182

眼軸長は、角膜頂点から網膜色素上皮(Retinal Pigment Epithelium:以下、RPE)層までの距離である。しかしながら、光コヒーレンストモグラフィを実行して得られた干渉信号の強度プロファイルでは、RPE層に相当するピークが、内節外節結合部(IS/OSライン)やブルッフ膜(Bruch membrane)等の層領域に相当するピークに埋もれる場合がある。その場合、RPE層に相当するピークの特定に時間を要したり、RPE層に相当するピークの特定に失敗したり、RPE層に相当するピークを誤検出したりする場合がある。その結果、眼軸長の測定結果の信頼性を低下させる。 Axial length is the distance from the corneal apex to the retinal pigment epithelium (RPE) layer. However, in the intensity profile of the interference signal obtained by performing optical coherence tomography, the peak corresponding to the RPE layer may be buried in peaks corresponding to layer regions such as the inner segment-outer segment junction (IS/OS line) and Bruch membrane. In such cases, it may take time to identify the peak corresponding to the RPE layer, or the peak corresponding to the RPE layer may fail to be identified, or the peak corresponding to the RPE layer may be erroneously detected. As a result, the reliability of the axial length measurement results is reduced.

従って、被検眼における所望の層領域の深さ位置を短時間に、且つ、正確に特定することが求められる。 Therefore, it is necessary to quickly and accurately identify the depth position of the desired layer region in the test eye.

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的の1つは、被検眼における所望の層領域の深さ位置を短時間に、且つ、正確に特定するための新たな技術を提供することにある。 The present invention was made in consideration of these circumstances, and one of its objectives is to provide a new technology for quickly and accurately identifying the depth position of a desired layer region in a test eye.

いくつかの実施形態の第1態様は、被検眼の眼底に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、前記眼底における第1層領域に相当する第1深さ位置を特定する層領域特定部と、前記第1深さ位置に所定のオフセット値を加算して前記眼底における第2層領域に相当する第2深さ位置を算出する層領域位置算出部と、を含む、眼科装置である。 A first aspect of some embodiments is an ophthalmologic device including a layer region identifying unit that identifies a first depth position corresponding to a first layer region in the fundus based on a detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the fundus of a test eye, and a layer region position calculating unit that calculates a second depth position corresponding to a second layer region in the fundus by adding a predetermined offset value to the first depth position.

いくつかの実施形態の第2態様では、第1態様において、前記第1層領域は、IS/OSラインであり、前記第2層領域は、網膜色素上皮層である。 In a second aspect of some embodiments, in the first aspect, the first layer region is an IS/OS line and the second layer region is a retinal pigment epithelium layer.

いくつかの実施形態の第3態様では、第1態様又は第2態様において、前記層領域位置算出部は、前記被検眼に応じて異なるオフセット値を前記第1深さ位置に加算する。 In a third aspect of some embodiments, in the first or second aspect, the layer region position calculation unit adds a different offset value to the first depth position depending on the subject's eye.

いくつかの実施形態の第4態様では、第2態様又は第3態様において、前記層領域特定部は、前記干渉光の検出結果に基づいて、前記第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置とを特定する。眼科装置は、前記第3深さ位置と前記第2深さ位置とに基づいて前記被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出部を含む。 In a fourth aspect of some embodiments, in the second or third aspect, the layer region identifying unit identifies the first depth position and a third depth position corresponding to the corneal apex based on the detection result of the interference light. The ophthalmic apparatus includes an axial length calculating unit that calculates the axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.

いくつかの実施形態の第5態様では、第4態様において、前記OCTスキャンは、第1波長を測定波長とする測定光を前記被検眼に照射することにより実行される。眼科装置は、前記眼軸長算出部により算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正部を含む。 In a fifth aspect of some embodiments, in the fourth aspect, the OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength. The ophthalmic device includes a wavelength correction unit that performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit to correct the axial length to a second wavelength different from the first wavelength.

いくつかの実施形態の第6態様は、第1波長を測定波長とする測定光を用いて被検眼に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて眼軸長を算出する眼軸長算出部と、前記眼軸長算出部により算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正部と、を含む、眼科装置である。 A sixth aspect of some embodiments is an ophthalmic device including an axial length calculation unit that calculates an axial length based on a detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on a test eye using measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength, and a wavelength correction unit that performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit to correct the axial length to a second wavelength different from the first wavelength.

いくつかの実施形態の第7態様では、第5態様又は第6態様において、前記波長補正部は、前記第2波長における人眼の屈折率に対する前記第1波長における人眼の屈折率の比を、前記眼軸長算出部により算出された前記眼軸長に乗算することにより前記第2波長における眼軸長に補正する。 In a seventh aspect of some embodiments, in the fifth or sixth aspect, the wavelength correction unit corrects the axial length at the second wavelength by multiplying the axial length calculated by the axial length calculation unit by the ratio of the refractive index of the human eye at the first wavelength to the refractive index of the human eye at the second wavelength.

いくつかの実施形態の第8態様では、第5態様~第7態様のいずれかにおいて、前記第2波長は、780nmである。 In an eighth aspect of some embodiments, in any of the fifth to seventh aspects, the second wavelength is 780 nm.

いくつかの実施形態の第9態様は、第5態様~第8態様のいずれかにおいて、前記波長補正部により補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算部を含む。 A ninth aspect of some embodiments is any of the fifth to eighth aspects, which includes an axial length conversion unit that converts the axial length corrected by the wavelength correction unit into an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

いくつかの実施形態の第10態様では、第9態様において、前記眼軸長換算部は、前記波長補正部により補正された眼軸長としての光路長を、前記超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長としての物理長に換算する。 In a tenth aspect of some embodiments, in the ninth aspect, the axial length conversion unit converts the optical path length as the axial length corrected by the wavelength correction unit into a physical length as the axial length obtained using the ultrasonic axial length measurement device.

いくつかの実施形態の第11態様は、第1態様~第10態様のいずれかにおいて、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と参照光路を経由した前記参照光との前記干渉光を検出するOCT光学系を含む。 An eleventh aspect of some embodiments includes an OCT optical system in any one of the first to tenth aspects that splits light from a light source into measurement light and reference light, irradiates the test eye with the measurement light, and detects the interference light between the return light of the measurement light from the test eye and the reference light that has passed through a reference light path.

いくつかの実施形態の第12態様は、被検眼の眼底に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、前記眼底における第1層領域に相当する第1深さ位置を特定する層領域特定ステップと、前記第1深さ位置に所定のオフセット値を加算して前記眼底における第2層領域に相当する第2深さ位置を算出する層領域位置算出ステップと、を含む、眼科装置の制御方法である。 A twelfth aspect of some embodiments is a method for controlling an ophthalmologic device, which includes a layer region identifying step for identifying a first depth position corresponding to a first layer region in the fundus based on a detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the fundus of a test eye, and a layer region position calculating step for calculating a second depth position corresponding to a second layer region in the fundus by adding a predetermined offset value to the first depth position.

いくつかの実施形態の第13態様では、第12態様において、前記第1層領域は、IS/OSラインであり、前記第2層領域は、網膜色素上皮層である。 In some embodiments, in the thirteenth aspect, in the twelfth aspect, the first layer region is an IS/OS line and the second layer region is a retinal pigment epithelium layer.

いくつかの実施形態の第14態様では、第12態様又は第13態様において、前記層領域特定ステップは、前記干渉光の検出結果に基づいて、前記第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置とを特定する。眼科装置の制御方法は、前記第3深さ位置と前記第2深さ位置とに基づいて前記被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出ステップを含む。 In a fourteenth aspect of some embodiments, in the twelfth or thirteenth aspect, the layer region identifying step identifies the first depth position and a third depth position corresponding to the corneal apex based on the detection result of the interference light. The control method for an ophthalmic apparatus includes an axial length calculation step of calculating the axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.

いくつかの実施形態の第15態様では、第14態様において、前記OCTスキャンは、第1波長を測定波長とする測定光を前記被検眼に照射することにより実行される。眼科装置の制御方法は、前記眼軸長算出ステップにおいて算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正ステップを含む。 In a fifteenth aspect of some embodiments, in the fourteenth aspect, the OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength. The control method for an ophthalmic device includes a wavelength correction step of correcting the axial length calculated in the axial length calculation step to a wavelength at a second wavelength different from the first wavelength.

いくつかの実施形態の第16態様は、第1波長を測定波長とする測定光を用いて被検眼に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて眼軸長を算出する眼軸長算出ステップと、前記眼軸長算出ステップにおいて算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正ステップと、を含む、眼科装置の制御方法である。 A sixteenth aspect of some embodiments is a method for controlling an ophthalmic device, which includes an axial length calculation step of calculating the axial length based on the detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the subject's eye using measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength, and a wavelength correction step of correcting the axial length calculated in the axial length calculation step to a second wavelength different from the first wavelength by performing wavelength correction on the axial length.

いくつかの実施形態の第17態様は、第15態様又は第16態様において、前記波長補正ステップにおいて補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算ステップを含む。 A seventeenth aspect of some embodiments, in the fifteenth or sixteenth aspect, includes an axial length conversion step in which the axial length corrected in the wavelength correction step is converted to an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

いくつかの実施形態の第18態様は、コンピュータに、第12態様~第17態様のいずれかに記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させるプログラムである。 An 18th aspect of some embodiments is a program that causes a computer to execute each step of the method for controlling an ophthalmic device described in any one of the 12th to 17th aspects.

なお、上記した複数の請求項に係る構成を任意に組み合わせることが可能である。 The configurations according to the above claims can be combined in any way.

本発明によれば、被検眼における所望の層領域の深さ位置を短時間に、且つ、正確に特定するための新たな技術を提供することができるようになる。 The present invention provides a new technology for quickly and accurately identifying the depth position of a desired layer region in a test eye.

実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。1 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of an optical system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。1 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of an optical system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。2 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of a processing system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. FIG. 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。2 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of a processing system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. FIG. 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。2 is a schematic diagram illustrating an example of the configuration of a processing system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. FIG. 実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。5A and 5B are schematic diagrams for explaining the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作を説明するための概略図である。5A and 5B are schematic diagrams for explaining the operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作例のフローを示す概略図である。5 is a schematic diagram showing a flow of an example of an operation of the ophthalmologic apparatus according to the embodiment. FIG.

この発明に係る眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムの実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。 Examples of embodiments of an ophthalmic device, a control method for an ophthalmic device, and a program according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the contents of the documents cited in this specification and any publicly known technology may be incorporated into the following embodiments.

実施形態に係る眼科装置は、被検眼に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、眼底における第1層領域に相当する深さ位置を特定し、特定された深さ位置に所定のオフセット値を加算して眼底における第2層領域に相当する深さ位置を算出する。例えば、第1層領域は、IS/OSラインであり、第2層領域は、RPE層である。 The ophthalmologic apparatus according to the embodiment identifies a depth position corresponding to a first layer region in the fundus based on the detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the subject's eye, and calculates a depth position corresponding to a second layer region in the fundus by adding a predetermined offset value to the identified depth position. For example, the first layer region is the IS/OS line, and the second layer region is the RPE layer.

これにより、眼底(網膜)側の代表位置の特定に失敗することなく、短時間で正確に眼底側の代表位置を特定することが可能になる。その結果、眼底側の代表位置を用いて特定される被検眼の眼内距離(例えば、眼軸長)の測定精度を向上させることができる。 This makes it possible to accurately identify the representative position on the fundus (retina) side in a short time without failing to identify the representative position on the fundus side. As a result, it is possible to improve the measurement accuracy of the intraocular distance (e.g., axial length) of the test eye identified using the representative position on the fundus side.

また、実施形態に係る眼科装置は、被検眼に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて得られた眼軸長等の眼内距離に対して、波長補正、又は、波長補正及び所定の換算式を用いて換算することが可能である。これにより、波長が異なる測定光で眼軸長の測定が可能な他の眼軸長測定装置の測定結果や、超音波式眼軸長測定装置の測定結果と高精度に比較することができるようになる。 The ophthalmic device according to the embodiment is also capable of performing wavelength correction, or wavelength correction and conversion using a predetermined conversion formula, on intraocular distances such as axial length obtained based on the detection results of interference light obtained by performing an OCT scan on the subject's eye. This makes it possible to compare with high accuracy the measurement results of other axial length measurement devices capable of measuring axial length using measurement light of different wavelengths, and the measurement results of ultrasonic axial length measurement devices.

実施形態に係る眼科装置の制御方法は、実施形態に係る眼科装置を制御する方法である。実施形態に係るプログラムは、眼科装置の制御方法の各ステップをプロセッサ(コンピュータ)に実行させる。実施形態に係る記録媒体は、実施形態に係るプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体(記憶媒体)である。 The control method of the ophthalmic device according to the embodiment is a method for controlling the ophthalmic device according to the embodiment. The program according to the embodiment causes a processor (computer) to execute each step of the control method of the ophthalmic device. The recording medium according to the embodiment is a computer-readable non-transitory recording medium (storage medium) on which the program according to the embodiment is recorded.

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。 In this specification, the term "processor" refers to a circuit such as a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), or a programmable logic device (e.g., an SPLD (Simple Programmable Logic Device), a CPLD (Complex Programmable Logic Device), or an FPGA (Field Programmable Gate Array)). The processor realizes the functions of the embodiment by, for example, reading and executing a program stored in a memory circuit or a storage device.

以下、実施形態に係る眼科装置が、被検眼に対してOCTを実行するOCT光学系を含む測定光学系を備える場合について説明するが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、実施形態に係る眼科装置は、外部のOCT装置から干渉光の検出結果を取得するように構成されていてもよい。 Below, we will explain a case where the ophthalmic device according to the embodiment is equipped with a measurement optical system including an OCT optical system that performs OCT on the test eye, but the configuration of the ophthalmic device according to the embodiment is not limited to this. For example, the ophthalmic device according to the embodiment may be configured to obtain the detection results of the interference light from an external OCT device.

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、OCTを実行するためのOCT装置の機能だけではなく、眼底カメラ、走査型レーザー検眼鏡、スリットランプ顕微鏡、及び手術用顕微鏡の少なくとも1つの機能を備える。更に、いくつかの実施形態に係る眼科装置は、被検眼の光学的な特性を測定する機能を備える。被検眼の光学的な特性を測定する機能を備えた眼科装置には、眼圧計、ウェーブフロントアナライザー、スペキュラーマイクロスコープ、視野計などがある。いくつかの実施形態に係る眼科装置は、レーザー治療に用いられるレーザー治療装置の機能を備える。 The ophthalmic device according to some embodiments has not only the function of an OCT device for performing OCT, but also at least one of the functions of a fundus camera, a scanning laser ophthalmoscope, a slit lamp microscope, and a surgical microscope. Furthermore, the ophthalmic device according to some embodiments has a function of measuring the optical characteristics of the subject's eye. Ophthalmic devices having the function of measuring the optical characteristics of the subject's eye include a tonometer, a wavefront analyzer, a specular microscope, and a perimeter. The ophthalmic device according to some embodiments has the function of a laser treatment device used for laser treatment.

以下、実施形態では、OCTを用いた計測等においてスペクトラルドメインタイプのOCTの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ(例えば、スウェプトソースタイプ)のOCTを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。 In the following embodiment, a detailed description will be given of the case where a spectral domain type OCT technique is used in measurements using OCT. However, the configuration according to the embodiment can also be applied to ophthalmic devices that use other types of OCT (e.g., swept source type).

<光学系の構成>
図1及び図2に、実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図1は、実施形態に係る眼科装置1000の光学系の全体の構成例を表す。図2は、図1のOCTユニット100の光学系の構成例を表す。
<Configuration of Optical System>
1 and 2 show examples of the configuration of an optical system of an ophthalmic apparatus according to an embodiment. Fig. 1 shows an example of the overall configuration of an optical system of an ophthalmic apparatus 1000 according to an embodiment. Fig. 2 shows an example of the configuration of an optical system of an OCT unit 100 in Fig. 1.

実施形態に係る眼科装置1000は、被検眼Eを観察するための光学系と、被検眼Eを検査するための光学系と、これらの光学系の光路を波長分離するダイクロイックミラーとを含む。被検眼Eを観察するための光学系として、前眼部観察系5が設けられている。被検眼Eを検査するための光学系としてOCT光学系やレフ測定光学系(屈折力測定光学系)が設けられている。 The ophthalmic device 1000 according to the embodiment includes an optical system for observing the subject's eye E, an optical system for inspecting the subject's eye E, and a dichroic mirror that separates the optical paths of these optical systems by wavelength. An anterior segment observation system 5 is provided as the optical system for observing the subject's eye E. An OCT optical system and a refraction measurement optical system (refractive power measurement optical system) are provided as the optical system for inspecting the subject's eye E.

眼科装置1000は、アライメント系1と、ケラト測定系3、固視投影系4、前眼部観察系5、レフ測定投射系6、レフ測定受光系7、及びOCT光学系8を含む。以下では、例えば、前眼部観察系5が940nm~1000nmの光を用い、レフ測定光学系(レフ測定投射系6、レフ測定受光系7)が850nm~880nmの光を用い、固視投影系4が400nm~700nmの光を用いるものとする。また、OCT光学系8が840nmの光を用いるものとする。すなわち、OCT光学系8は、840nmを測定波長とするOCT計測(OCTスキャン)を実行するものとする。 The ophthalmic device 1000 includes an alignment system 1, a keratometry system 3, a fixation projection system 4, an anterior segment observation system 5, a reflex measurement projection system 6, a reflex measurement light receiving system 7, and an OCT optical system 8. In the following, for example, the anterior segment observation system 5 uses light of 940 nm to 1000 nm, the reflex measurement optical system (reflex measurement projection system 6, reflex measurement light receiving system 7) uses light of 850 nm to 880 nm, and the fixation projection system 4 uses light of 400 nm to 700 nm. In addition, the OCT optical system 8 uses light of 840 nm. In other words, the OCT optical system 8 performs OCT measurement (OCT scan) with a measurement wavelength of 840 nm.

(アライメント系1)
アライメント系1は、被検眼Eに対する光学系のZアライメントとXYアライメントとに用いられる。Zアライメントは、前眼部観察系5(例えば、対物レンズ51)の光軸に平行なZ方向(前後方向、作動距離方向)のアライメントである。XYアライメントは、この光軸に垂直な方向(左右方向(X方向)、上下方向(Y方向))のアライメントである。
(Alignment system 1)
The alignment system 1 is used for Z alignment and XY alignment of the optical system with respect to the subject's eye E. The Z alignment is alignment in the Z direction (front-back direction, working distance direction) parallel to the optical axis of the anterior segment observation system 5 (e.g., the objective lens 51). The XY alignment is alignment in directions perpendicular to this optical axis (left-right direction (X direction), up-down direction (Y direction)).

アライメント系1は、2以上の前眼部カメラ14を含む。2以上の前眼部カメラ14は、被検眼Eの前眼部を互いに異なる方向から実質的に同時に撮影し、取得された2以上の撮影画像(前眼部像)を後述の処理部9に出力する。処理部9は、2以上の前眼部カメラ14からの2以上の撮影画像を解析して被検眼E(具体的には、被検眼Eの特徴部位)の3次元位置を特定し、特定された3次元位置に基づいて被検眼E(特徴部位)に対する光学系のXY方向及びZ方向のアライメントを行う。 The alignment system 1 includes two or more anterior eye cameras 14. The two or more anterior eye cameras 14 capture images of the anterior eye of the subject's eye E from different directions substantially simultaneously, and output the two or more captured images (anterior eye images) to a processing unit 9 described below. The processing unit 9 analyzes the two or more captured images from the two or more anterior eye cameras 14 to identify the three-dimensional position of the subject's eye E (specifically, a characteristic portion of the subject's eye E), and aligns the optical system in the XY and Z directions with respect to the subject's eye E (characteristic portion) based on the identified three-dimensional position.

以下では、アライメント系1は、2つの前眼部カメラ14を含むものとする。しかしながら、アライメント系1は、3以上の前眼部カメラ14を含んでもよい。また、2つの前眼部カメラ14の1つの機能は、後述する前眼部観察系5が備える撮像素子59により実現されてよい。 In the following, the alignment system 1 is assumed to include two anterior eye cameras 14. However, the alignment system 1 may include three or more anterior eye cameras 14. Furthermore, the function of one of the two anterior eye cameras 14 may be realized by an image sensor 59 provided in the anterior eye observation system 5 described below.

(前眼部観察系5)
前眼部観察系5は、被検眼Eの前眼部を動画撮影する。前眼部観察系5を経由する光学系において、撮像素子59の撮像面は瞳孔共役位置(被検眼Eの瞳孔と光学的に略共役な位置)に配置されている。前眼部照明光源50は、被検眼Eの前眼部に照明光(例えば、赤外光)を照射する。被検眼Eの前眼部により反射された光は、対物レンズ51を通過し、ダイクロイックミラー52を透過し、絞り(テレセン絞り)53に形成された孔部を通過し、リレーレンズ55及び56を通過し、ダイクロイックミラー76を透過する。ダイクロイックミラー52は、レフ測定光学系の光路と前眼部観察系5の光路とを合成(分離)する。ダイクロイックミラー52は、これらの光路を合成する光路合成面が対物レンズ51の光軸に対して傾斜して配置される。ダイクロイックミラー76を透過した光は、結像レンズ58により撮像素子59(エリアセンサー)の撮像面に結像される。撮像素子59は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子59の出力(映像信号)は、後述の処理部9に入力される。処理部9は、この映像信号に基づく前眼部像E´を後述の表示部10の表示画面10aに表示させる。前眼部像E´は、例えば赤外動画像である。
(Anterior Eye Observation System 5)
The anterior eye observation system 5 captures a moving image of the anterior eye of the subject's eye E. In the optical system passing through the anterior eye observation system 5, the imaging surface of the imaging element 59 is disposed at a pupil conjugate position (a position optically approximately conjugate with the pupil of the subject's eye E). The anterior eye illumination light source 50 irradiates the anterior eye of the subject's eye E with illumination light (e.g., infrared light). The light reflected by the anterior eye of the subject's eye E passes through the objective lens 51, transmits through the dichroic mirror 52, passes through a hole formed in the aperture (telecentric aperture) 53, passes through the relay lenses 55 and 56, and transmits through the dichroic mirror 76. The dichroic mirror 52 combines (separates) the optical path of the reflex measurement optical system and the optical path of the anterior eye observation system 5. The dichroic mirror 52 is disposed such that the optical path combining surface that combines these optical paths is inclined with respect to the optical axis of the objective lens 51. The light transmitted through the dichroic mirror 76 is imaged on the imaging surface of an image sensor 59 (area sensor) by an imaging lens 58. The image sensor 59 captures images and outputs signals at a predetermined rate. The output (video signal) of the image sensor 59 is input to a processing unit 9 described below. The processing unit 9 displays an anterior eye image E' based on this video signal on a display screen 10a of a display unit 10 described below. The anterior eye image E' is, for example, an infrared moving image.

(ケラト測定系3)
ケラト測定系3は、被検眼Eの角膜Crの形状を測定するためのリング状光束(赤外光)を角膜Crに投射する。ケラト板31は、対物レンズ51と被検眼Eとの間に配置されている。ケラト板31の背面側(対物レンズ51側)にはケラトリング光源32が設けられている。ケラト板31には、対物レンズ51の光軸を中心とする円周上に沿ってケラトリング光源32からの光を透過するケラトパターン(透過部)が形成されている。なお、ケラトパターンは、対物レンズ51の光軸を中心とする円弧状(円周の一部)に形成されていてもよい。ケラトリング光源32からの光でケラト板31を照明することにより、被検眼Eの角膜Crにリング状光束(円弧状又は円周状の測定パターン)が投射される。被検眼Eの角膜Crからの反射光(ケラトリング像)は撮像素子59により前眼部像E´とともに検出される。処理部9は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで、角膜Crの形状を表す角膜形状パラメータを算出する。
(Kerato measurement system 3)
The kerato measurement system 3 projects a ring-shaped light beam (infrared light) onto the cornea Cr of the subject's eye E to measure the shape of the cornea Cr. The kerato plate 31 is disposed between the objective lens 51 and the subject's eye E. The kerato plate 31 is provided on the rear side (objective lens 51 side) of the kerato plate 31 with a kerato ring light source 32. The kerato plate 31 is formed with a kerato pattern (transmitting portion) that transmits light from the kerato ring light source 32 along a circumference centered on the optical axis of the objective lens 51. The kerato pattern may be formed in an arc shape (part of the circumference) centered on the optical axis of the objective lens 51. By illuminating the kerato plate 31 with light from the kerato ring light source 32, a ring-shaped light beam (arc-shaped or circumferential measurement pattern) is projected onto the cornea Cr of the subject's eye E. The reflected light (keratinization image) from the cornea Cr of the subject's eye E is detected together with the anterior eye image E' by the imaging element 59. The processing unit 9 performs a known calculation based on this keratinization image to calculate corneal shape parameters that represent the shape of the cornea Cr.

(レフ測定投射系6、レフ測定受光系7)
レフ測定光学系は、屈折力測定に用いられるレフ測定投射系6及びレフ測定受光系7を含む。レフ測定投射系6は、屈折力測定用の光束(例えば、リング状光束)(赤外光)を眼底Efに投射する。レフ測定受光系7は、この光束の被検眼Eからの戻り光を受光する。レフ測定投射系6は、レフ測定受光系7の光路に設けられた孔開きプリズム65によって分岐された光路に設けられる。孔開きプリズム65に形成されている孔部は、瞳孔共役位置に配置される。レフ測定受光系7を経由する光学系において、撮像素子59の撮像面は眼底共役位置(被検眼Eの眼底Efと光学的に略共役な位置)に配置される。
(Reflection measurement projection system 6, reflection measurement light receiving system 7)
The refraction measurement optical system includes a refraction measurement projection system 6 and a refraction measurement light receiving system 7 used for refractive power measurement. The refraction measurement projection system 6 projects a light beam (e.g., a ring-shaped light beam) (infrared light) for refractive power measurement onto the fundus Ef. The refraction measurement light receiving system 7 receives the return light of this light beam from the subject's eye E. The refraction measurement projection system 6 is provided on an optical path branched by an aperture prism 65 provided on the optical path of the refraction measurement light receiving system 7. The hole formed in the aperture prism 65 is arranged at a pupil conjugate position. In the optical system passing through the refraction measurement light receiving system 7, the imaging surface of the imaging element 59 is arranged at a fundus conjugate position (a position optically approximately conjugate with the fundus Ef of the subject's eye E).

いくつかの実施形態では、レフ測定光源61は、高輝度光源であるSLD(Superluminescent Diode)光源である。レフ測定光源61は、光軸方向に移動可能である。レフ測定光源61は、眼底共役位置に配置される。レフ測定光源61から出力された光は、リレーレンズ62を通過し、円錐プリズム63の円錐面に入射する。円錐面に入射した光は偏向され、円錐プリズム63の底面から出射する。円錐プリズム63の底面から出射した光は、リング絞り64にリング状に形成された透光部を通過する。リング絞り64の透光部を通過した光(リング状光束)は、孔開きプリズム65の孔部の周囲に形成された反射面により反射され、ロータリープリズム66を通過し、ダイクロイックミラー67により反射される。ダイクロイックミラー67により反射された光は、ダイクロイックミラー52により反射され、対物レンズ51を通過し、被検眼Eに投射される。ロータリープリズム66は、眼底Efの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化や光源に起因するスペックルノイズの低減のために用いられる。 In some embodiments, the reflex measurement light source 61 is a superluminescent diode (SLD) light source, which is a high-brightness light source. The reflex measurement light source 61 is movable in the optical axis direction. The reflex measurement light source 61 is arranged at a fundus conjugate position. The light output from the reflex measurement light source 61 passes through the relay lens 62 and enters the conical surface of the conical prism 63. The light that enters the conical surface is deflected and exits from the bottom surface of the conical prism 63. The light that exits from the bottom surface of the conical prism 63 passes through a ring-shaped light-transmitting portion formed in the ring aperture 64. The light that passes through the light-transmitting portion of the ring aperture 64 (ring-shaped light beam) is reflected by a reflecting surface formed around the hole of the hole prism 65, passes through the rotary prism 66, and is reflected by the dichroic mirror 67. The light reflected by the dichroic mirror 67 is reflected by the dichroic mirror 52, passes through the objective lens 51, and is projected onto the subject's eye E. The rotary prism 66 is used to average the light intensity distribution of the ring-shaped light beam on the blood vessels and diseased areas of the fundus Ef and to reduce speckle noise caused by the light source.

眼底Efに投射されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ51を通過し、ダイクロイックミラー52及びダイクロイックミラー67により反射される。ダイクロイックミラー67により反射された戻り光は、ロータリープリズム66を通過し、孔開きプリズム65の孔部を通過し、リレーレンズ71を通過し、反射ミラー72により反射され、リレーレンズ73及び合焦レンズ74を通過する。合焦レンズ74は、レフ測定受光系7の光軸に沿って移動可能である。合焦レンズ74を通過した光は、反射ミラー75により反射され、ダイクロイックミラー76により反射され、結像レンズ58により撮像素子59の撮像面に結像される。処理部9は、撮像素子59からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Eの屈折力値を算出する。例えば、屈折力値は、球面度数、乱視度数及び乱視軸角度、又は等価球面度数を含む。 The return light of the ring-shaped light beam projected on the fundus Ef passes through the objective lens 51 and is reflected by the dichroic mirror 52 and the dichroic mirror 67. The return light reflected by the dichroic mirror 67 passes through the rotary prism 66, passes through the hole of the aperture prism 65, passes through the relay lens 71, is reflected by the reflecting mirror 72, and passes through the relay lens 73 and the focusing lens 74. The focusing lens 74 can move along the optical axis of the reflex measurement light receiving system 7. The light that passes through the focusing lens 74 is reflected by the reflecting mirror 75, is reflected by the dichroic mirror 76, and is imaged on the imaging surface of the imaging element 59 by the imaging lens 58. The processing unit 9 calculates the refractive power value of the subject's eye E by performing a known calculation based on the output from the imaging element 59. For example, the refractive power value includes a spherical power, a cylindrical power and an astigmatism axis angle, or an equivalent spherical power.

(固視投影系4)
ダイクロイックミラー67によりレフ測定光学系の光路から波長分離された光路に、後述のOCT光学系8が設けられる。ダイクロイックミラー83によりOCT光学系8の光路から分岐された光路に固視投影系4が設けられる。
(Fixation Projection System 4)
The OCT optical system 8 described below is provided on an optical path separated by wavelength from the optical path of the reflex measurement optical system by the dichroic mirror 67. The fixation projection system 4 is provided on an optical path branched off from the optical path of the OCT optical system 8 by the dichroic mirror 83.

固視投影系4は、固視標を被検眼Eに呈示する。固視投影系4の光路には、固視ユニット40が配置されている。固視ユニット40は、後述の処理部9からの制御を受け、固視投影系4の光路に沿って移動可能である。固視ユニット40は、液晶パネル41を含む。ダイクロイックミラー83と固視ユニット40との間に、リレーレンズ42が配置されている。 The fixation projection system 4 presents a fixation target to the subject's eye E. A fixation unit 40 is disposed in the optical path of the fixation projection system 4. The fixation unit 40 is controlled by a processing unit 9, which will be described later, and is movable along the optical path of the fixation projection system 4. The fixation unit 40 includes a liquid crystal panel 41. A relay lens 42 is disposed between the dichroic mirror 83 and the fixation unit 40.

処理部9による制御を受けた液晶パネル41は、固視標を表すパターンを表示する。液晶パネル41の画面上におけるパターンの表示位置を変更することにより、被検眼Eの固視位置を変更できる。被検眼Eの固視位置としては、眼底Efの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。固視標を表すパターンの表示位置を任意に変更することが可能である。 The liquid crystal panel 41, controlled by the processing unit 9, displays a pattern representing a fixation target. By changing the display position of the pattern on the screen of the liquid crystal panel 41, the fixation position of the subject's eye E can be changed. Fixation positions of the subject's eye E include a position for acquiring an image centered on the macular portion of the fundus Ef, a position for acquiring an image centered on the optic disc, and a position for acquiring an image centered on the center of the fundus between the macular portion and the optic disc. The display position of the pattern representing the fixation target can be changed as desired.

液晶パネル41からの光は、リレーレンズ42を通過し、ダイクロイックミラー83を透過し、リレーレンズ82を通過し、反射ミラー81により反射され、ダイクロイックミラー67を透過し、ダイクロイックミラー52により反射される。ダイクロイックミラー52により反射された光は、対物レンズ51を通過して眼底Efに投射される。いくつかの実施形態では、液晶パネル41及びリレーレンズ42のそれぞれは、独立に光軸方向に移動可能である。 Light from the liquid crystal panel 41 passes through the relay lens 42, is transmitted through the dichroic mirror 83, passes through the relay lens 82, is reflected by the reflecting mirror 81, is transmitted through the dichroic mirror 67, and is reflected by the dichroic mirror 52. The light reflected by the dichroic mirror 52 passes through the objective lens 51 and is projected onto the fundus Ef. In some embodiments, the liquid crystal panel 41 and the relay lens 42 can each be moved independently in the optical axis direction.

(OCT光学系8)
OCT光学系8は、OCT計測を行うための光学系である。OCT計測よりも前に実施されたレフ測定結果に基づいて、光ファイバーf1の端面がOCT計測部位と光学系に共役となるように合焦レンズ87の位置が調整される。OCT計測部位は、眼底Ef、前眼部等の被検眼Eの任意の部位であってよい。
(OCT optical system 8)
The OCT optical system 8 is an optical system for performing OCT measurement. Based on the result of a reflex measurement performed before the OCT measurement, the position of the focusing lens 87 is adjusted so that the end face of the optical fiber f1 is conjugate with the OCT measurement site and the optical system. The OCT measurement site may be any site of the subject's eye E, such as the fundus Ef or the anterior segment.

OCT光学系8は、ダイクロイックミラー67によりレフ測定光学系の光路から波長分離された光路に設けられる。上記の固視投影系4の光路は、ダイクロイックミラー83によりOCT光学系8の光路に結合される。それにより、OCT光学系8及び固視投影系4のそれぞれの光軸を同軸で結合することができる。 The OCT optical system 8 is provided on an optical path that is wavelength-separated from the optical path of the reflex measurement optical system by a dichroic mirror 67. The optical path of the fixation projection system 4 is coupled to the optical path of the OCT optical system 8 by a dichroic mirror 83. This allows the optical axes of the OCT optical system 8 and the fixation projection system 4 to be coaxially coupled.

OCT光学系8は、OCTユニット100を含む。図2に示すように、OCTユニット100には、被検眼Eに対してOCT計測(OCT撮影、OCTスキャン)を行うための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスペクトラルドメインタイプのOCT装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、広帯域光源からの光(低コヒーレンス光)を参照光と測定光とに分割し、被検眼E(OCT計測部位)を経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するように構成されている。この検出結果(検出信号)は処理部9に送られる。 The OCT optical system 8 includes an OCT unit 100. As shown in FIG. 2, the OCT unit 100 is provided with an optical system for performing OCT measurement (OCT photography, OCT scanning) on the subject's eye E. This optical system has a configuration similar to that of a conventional spectral domain type OCT device. That is, this optical system is configured to split light (low coherence light) from a broadband light source into reference light and measurement light, cause the measurement light that has passed through the subject's eye E (OCT measurement site) to interfere with the reference light that has passed through the reference light path to generate interference light, and detect the spectral components of this interference light. This detection result (detection signal) is sent to the processing unit 9.

光源ユニット101は広帯域の低コヒーレンス光L0を出力する。低コヒーレンス光L0は、例えば、近赤外領域の波長帯(約800nm~900nm程度)の波長成分を有し、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。また、人眼では視認できない波長帯、例えば1040~1060nm程度の中心波長を有する近赤外光を低コヒーレンス光L0として用いてもよい。 The light source unit 101 outputs broadband low-coherence light L0. The low-coherence light L0 has wavelength components in the near-infrared wavelength band (approximately 800 nm to 900 nm) and has a temporal coherence length of approximately several tens of micrometers. In addition, near-infrared light having a central wavelength of approximately 1040 to 1060 nm, for example, a wavelength band that cannot be seen by the human eye, may be used as the low-coherence light L0.

以下、光源ユニット101は、840nmの波長成分を有する低コヒーレンス光L0を出力するものとする。 Hereinafter, the light source unit 101 is assumed to output low-coherence light L0 having a wavelength component of 840 nm.

光源ユニット101は、スーパールミネセントダイオード(Super Luminescent Diode:SLD)や、LEDや、SOA(Semiconductor Optical Amplifier)等の光出力デバイスを含んで構成される。 The light source unit 101 is composed of optical output devices such as a super luminescent diode (SLD), an LED, and an SOA (Semiconductor Optical Amplifier).

光源ユニット101から出力された低コヒーレンス光L0は、光ファイバー102によりファイバーカプラー103に導かれて測定光LSと参照光LRとに分割される。 The low-coherence light L0 output from the light source unit 101 is guided by the optical fiber 102 to the fiber coupler 103 and split into the measurement light LS and the reference light LR.

参照光LRは、光ファイバー104により導かれてアッテネータ(光減衰器)105に到達する。アッテネータ105は、公知の技術を用いて、処理部9の制御の下、光ファイバー104により導かれる参照光LRの光量を自動で調整する。アッテネータ105により光量が調整された参照光LRは、光ファイバー104により導かれて偏波コントローラ(偏波調整器)106に到達する。偏波コントローラ106は、例えば、ループ状にされた光ファイバー104に対して外部から応力を与えることで、光ファイバー104内を導かれる参照光LRの偏波状態を調整する装置である。なお、偏波コントローラ106の構成はこれに限定されるものではなく、任意の公知技術を用いることが可能である。偏波コントローラ106により偏波状態が調整された参照光LRは、ファイバーカプラー109に到達する。 The reference light LR is guided by the optical fiber 104 and reaches the attenuator (optical attenuator) 105. The attenuator 105 automatically adjusts the amount of light of the reference light LR guided by the optical fiber 104 under the control of the processing unit 9 using a known technique. The reference light LR whose amount of light has been adjusted by the attenuator 105 is guided by the optical fiber 104 and reaches the polarization controller (polarization adjuster) 106. The polarization controller 106 is a device that adjusts the polarization state of the reference light LR guided through the optical fiber 104, for example, by applying external stress to the looped optical fiber 104. Note that the configuration of the polarization controller 106 is not limited to this, and any known technique can be used. The reference light LR whose polarization state has been adjusted by the polarization controller 106 reaches the fiber coupler 109.

ファイバーカプラー103により生成された測定光LSは、光ファイバーf1によりコリメータレンズ90(図1)に導かれ、コリメータレンズ90により平行光束とされる。更に、測定光LSは、光路長変更部89、光スキャナー88、合焦レンズ87、リレーレンズ85、及び反射ミラー84を経由してダイクロイックミラー83に到達する。 The measurement light LS generated by the fiber coupler 103 is guided by the optical fiber f1 to the collimator lens 90 (Figure 1), where it is collimated into a parallel beam. The measurement light LS then passes through the optical path length changer 89, the optical scanner 88, the focusing lens 87, the relay lens 85, and the reflecting mirror 84 to reach the dichroic mirror 83.

いくつかの実施形態では、合焦レンズ87と光スキャナー88とは、光軸方向に移動可能な1つのユニット内に収容される。これにより、合焦レンズ87と光スキャナー88との光学的な位置関係が維持されたまま光軸方向に移動することができる。このように合焦レンズ87と光スキャナー88とを一体的に移動可能に構成することにより、光スキャナー88と被検眼Eとの共役関係を維持したまま光学系の調整が可能となる。また、この構成の場合、合焦レンズ87の焦点距離fを変えることで、被検眼Eの瞳孔と光スキャナー88の倍率関係を容易に変更ことが可能である。 In some embodiments, the focusing lens 87 and the optical scanner 88 are housed in a single unit that can move in the optical axis direction. This allows the focusing lens 87 and the optical scanner 88 to move in the optical axis direction while maintaining the optical positional relationship between them. By configuring the focusing lens 87 and the optical scanner 88 to be movable as a unit in this manner, it is possible to adjust the optical system while maintaining the conjugate relationship between the optical scanner 88 and the subject's eye E. Furthermore, with this configuration, by changing the focal length f of the focusing lens 87, it is possible to easily change the magnification relationship between the pupil of the subject's eye E and the optical scanner 88.

いくつかの実施形態では、合焦レンズ87と光スキャナー88とは、ユニット内で独立に光軸方向に移動される。いくつかの実施形態では、合焦レンズ87と光スキャナー88とは、処理部9からの制御を受けて独立に又は一体的に光軸方向に移動される。例えば、対物レンズ51の焦点位置に被検眼Eの瞳孔が配置され、合焦レンズ87の焦点位置に光スキャナー88の偏向面が配置される(合焦レンズ87の焦点位置に光スキャナー88が配置される場合、瞳孔共役関係が保たれ、光スキャナー88の偏向面は瞳孔共役位置に配置される)。 In some embodiments, the focusing lens 87 and the optical scanner 88 are moved independently in the optical axis direction within the unit. In some embodiments, the focusing lens 87 and the optical scanner 88 are moved independently or integrally in the optical axis direction under control of the processing unit 9. For example, the pupil of the subject's eye E is positioned at the focal position of the objective lens 51, and the deflection surface of the optical scanner 88 is positioned at the focal position of the focusing lens 87 (when the optical scanner 88 is positioned at the focal position of the focusing lens 87, the pupil conjugate relationship is maintained, and the deflection surface of the optical scanner 88 is positioned at the pupil conjugate position).

光路長変更部89は、測定光LSの光路長を変更する。測定光LSの光路長を変更することにより、参照光LRの光路長と測定光LSの光路長との差を変更することが可能である。例えば、光路長変更部89は、測定光LSの光路及び測定光LSの戻り光の光路に沿って移動可能なリトロリフレクター(retroreflector)を含み、リトロリフレクターを移動することで測定光LSの光路長を変更する。 The optical path length change unit 89 changes the optical path length of the measurement light LS. By changing the optical path length of the measurement light LS, it is possible to change the difference between the optical path length of the reference light LR and the optical path length of the measurement light LS. For example, the optical path length change unit 89 includes a retroreflector that can move along the optical path of the measurement light LS and the optical path of the return light of the measurement light LS, and changes the optical path length of the measurement light LS by moving the retroreflector.

光スキャナー88は、測定光LSを1次元的又は2次元的に偏向する。 The optical scanner 88 deflects the measurement light LS one-dimensionally or two-dimensionally.

いくつかの実施形態では、光スキャナー88は、第1ガルバノミラーと、第2ガルバノミラーとを含む。第1ガルバノミラーは、OCT光学系8の光軸に直交する水平方向にOCT計測部位をスキャンするように測定光LSを偏向する。第2ガルバノミラーは、OCT光学系8の光軸に直交する垂直方向に撮影部位をスキャンするように、第1ガルバノミラーにより偏向された測定光LSを偏向する。このような光スキャナー88による測定光LSの走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。 In some embodiments, the optical scanner 88 includes a first galvanometer mirror and a second galvanometer mirror. The first galvanometer mirror deflects the measurement light LS so as to scan the OCT measurement site in a horizontal direction perpendicular to the optical axis of the OCT optical system 8. The second galvanometer mirror deflects the measurement light LS deflected by the first galvanometer mirror so as to scan the imaging site in a vertical direction perpendicular to the optical axis of the OCT optical system 8. Examples of the scanning mode of the measurement light LS by such an optical scanner 88 include horizontal scan, vertical scan, cross scan, radial scan, circular scan, concentric circle scan, and spiral scan.

いくつかの実施形態では、光スキャナー88は、測定光LSを2次元的に偏向するMEMSスキャナー(MEMSミラースキャナー)を含む。MEMSスキャナーは、OCT光学系8の光軸に直交する水平方向及び垂直方向にOCT計測部位をスキャンするように測定光LSを偏向する。 In some embodiments, the optical scanner 88 includes a MEMS scanner (MEMS mirror scanner) that two-dimensionally deflects the measurement light LS. The MEMS scanner deflects the measurement light LS so as to scan the OCT measurement site in horizontal and vertical directions perpendicular to the optical axis of the OCT optical system 8.

なお、光スキャナー88は、ガルバノミラー及びMEMSスキャナー以外に、ポリゴンミラー、回転ミラー、ダボプリズム、ダブルダボプリズム、ローテーションプリズムなどを含んで構成されていてもよい。 In addition, the optical scanner 88 may be configured to include a polygon mirror, a rotating mirror, a dowel prism, a double dowel prism, a rotation prism, etc., in addition to the galvanometer mirror and the MEMS scanner.

ダイクロイックミラー83に到達した測定光LSは、ダイクロイックミラー83により反射され、リレーレンズ82を通過し、反射ミラー81により反射される。反射ミラー81により反射された測定光LSは、ダイクロイックミラー52により反射され、対物レンズ51により屈折されてOCT計測部位に照射される。測定光LSは、OCT計測部位の様々な深さ位置において散乱(反射を含む)される。OCT計測部位による測定光LSの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラー103に導かれ、光ファイバー108を経由してファイバーカプラー109に到達する。 The measurement light LS that reaches the dichroic mirror 83 is reflected by the dichroic mirror 83, passes through the relay lens 82, and is reflected by the reflecting mirror 81. The measurement light LS reflected by the reflecting mirror 81 is reflected by the dichroic mirror 52, refracted by the objective lens 51, and irradiated onto the OCT measurement site. The measurement light LS is scattered (including reflected) at various depth positions of the OCT measurement site. The backscattered light of the measurement light LS by the OCT measurement site travels in the opposite direction along the same path as the outward path and is guided to the fiber coupler 103, and reaches the fiber coupler 109 via the optical fiber 108.

ファイバーカプラー109は、測定光LSの後方散乱光と、アッテネータ105等を経由した参照光LRとを干渉させる。これにより生成された干渉光LCは、光ファイバー110により導かれて出射端111から出射される。更に、干渉光LCは、コリメータレンズ112により平行光束とされ、回折格子(分光器)113により分光(スペクトル分解)され、ズーム光学系114により集光されてCCDイメージセンサ115の受光面に投影される。なお、図2に示す回折格子113は透過型であるが、例えば反射型の回折格子など、他の形態の分光素子を用いることも可能である。 The fiber coupler 109 causes interference between the backscattered light of the measurement light LS and the reference light LR that has passed through the attenuator 105, etc. The interference light LC thus generated is guided by the optical fiber 110 and emitted from the emission end 111. The interference light LC is then collimated by the collimator lens 112, dispersed (spectrally resolved) by the diffraction grating (spectroscope) 113, and focused by the zoom optical system 114 to be projected onto the light receiving surface of the CCD image sensor 115. Note that although the diffraction grating 113 shown in FIG. 2 is a transmissive type, it is also possible to use other types of spectroscopic elements, such as a reflective diffraction grating.

CCDイメージセンサ115は、例えばラインセンサーであり、2以上の受光素子(検出素子)が配列され、分光された干渉光LCの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。CCDイメージセンサ115は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを処理部9に送る。 The CCD image sensor 115 is, for example, a line sensor that has two or more light receiving elements (detection elements) arranged in an array, and detects each spectral component of the dispersed interference light LC and converts it into an electric charge. The CCD image sensor 115 accumulates the electric charge to generate a detection signal, which is then sent to the processing unit 9.

この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、例えばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、CCDイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、例えばCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどを用いることが可能である。 In this embodiment, a Michelson-type interferometer is used, but any type of interferometer, such as a Mach-Zehnder type, can be used as appropriate. Also, instead of the CCD image sensor, other types of image sensors, such as a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor, can be used.

また、図1に示す構成では、光路長変更部89により測定光LSの光路長を変更することにより、測定光LSの光路長と参照光LRの光路長との差を変更するように構成されているが、実施形態に係る構成は、これに限定されるものではない。例えば、公知の手法により参照光LRの光路長を変更することにより、測定光LSの光路長と参照光LRの光路長との差を変更するように構成されていてもよい。 In addition, in the configuration shown in FIG. 1, the optical path length change unit 89 is configured to change the optical path length of the measurement light LS to change the difference between the optical path length of the measurement light LS and the optical path length of the reference light LR, but the configuration according to the embodiment is not limited to this. For example, the optical path length of the reference light LR may be changed by a known method to change the difference between the optical path length of the measurement light LS and the optical path length of the reference light LR.

処理部9は、レフ測定光学系を用いて得られた測定結果から屈折力値を算出し、算出された屈折力値に基づいて、眼底Efとレフ測定光源61と撮像素子59とが共役となる位置に、レフ測定光源61及び合焦レンズ74それぞれを光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部9は、合焦レンズ74の移動に連動して合焦レンズ87及び光スキャナー88をその光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部9は、レフ測定光源61及び合焦レンズ74の移動に連動して液晶パネル41(固視ユニット40)をその光軸方向に移動させる。 The processing unit 9 calculates the refractive power value from the measurement results obtained using the refraction measurement optical system, and based on the calculated refractive power value, moves the refraction measurement light source 61 and the focusing lens 74 in the optical axis direction to a position where the fundus Ef, the refraction measurement light source 61, and the image sensor 59 are conjugate. In some embodiments, the processing unit 9 moves the focusing lens 87 and the optical scanner 88 in the optical axis direction in conjunction with the movement of the focusing lens 74. In some embodiments, the processing unit 9 moves the liquid crystal panel 41 (fixation unit 40) in the optical axis direction in conjunction with the movement of the refraction measurement light source 61 and the focusing lens 74.

上記の実施形態において、合焦レンズ74、87の少なくとも1つの機能が液晶レンズ又は液体レンズにより実現されてもよい。 In the above embodiment, at least one function of the focusing lenses 74, 87 may be realized by a liquid crystal lens or a liquid lens.

<処理系の構成>
眼科装置1000の処理系の構成について説明する。眼科装置1000の処理系の機能的構成の例を図3~図5に示す。図3は、眼科装置1000の処理系の機能ブロック図の一例を表す。図4は、処理部9の処理対象である図3のOCT光学系8の機能ブロック図の一例を表す。図5は、図3のデータ処理部250の機能ブロック図の一例を表す。
<Processing system configuration>
The configuration of the processing system of the ophthalmic apparatus 1000 will be described. Examples of the functional configuration of the processing system of the ophthalmic apparatus 1000 are shown in Figs. 3 to 5. Fig. 3 shows an example of a functional block diagram of the processing system of the ophthalmic apparatus 1000. Fig. 4 shows an example of a functional block diagram of the OCT optical system 8 in Fig. 3 which is the processing target of the processing unit 9. Fig. 5 shows an example of a functional block diagram of the data processing unit 250 in Fig. 3.

処理部9は、眼科装置1000の各部を制御する。また、処理部9は、各種演算処理を実行可能である。処理部9は、プロセッサを含む。処理部9は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。 The processing unit 9 controls each part of the ophthalmic device 1000. The processing unit 9 can also execute various types of arithmetic processing. The processing unit 9 includes a processor. The processing unit 9 realizes the functions according to the embodiment, for example, by reading and executing a program stored in a memory circuit or a storage device.

処理部9は、制御部210と、演算処理部220とを含む。また、眼科装置1000は、移動機構40D、74D、87D、200と、表示部270と、操作部280と、通信部290とを含む。 The processing unit 9 includes a control unit 210 and an arithmetic processing unit 220. The ophthalmic device 1000 also includes movement mechanisms 40D, 74D, 87D, 200, a display unit 270, an operation unit 280, and a communication unit 290.

移動機構200は、上記の光学系が収納されたヘッド部をX方向、Y方向、及びZ方向に移動させるための機構である。例えば、移動機構200には、ヘッド部を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部210(主制御部211)は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構200に対する制御を行う。 The moving mechanism 200 is a mechanism for moving the head unit housing the optical system in the X, Y, and Z directions. For example, the moving mechanism 200 is provided with an actuator that generates a driving force for moving the head unit, and a transmission mechanism that transmits this driving force. The actuator is, for example, a pulse motor. The transmission mechanism is, for example, a combination of gears or a rack and pinion. The control unit 210 (main control unit 211) controls the moving mechanism 200 by sending a control signal to the actuator.

移動機構40Dは、固視ユニット40を固視投影系4の光軸方向(対物レンズ51の光軸方向)に移動するための機構である。例えば、移動機構40Dには、移動機構200と同様に、固視ユニット40を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部210(主制御部211)は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構40Dに対する制御を行う。 The moving mechanism 40D is a mechanism for moving the fixation unit 40 in the optical axis direction of the fixation projection system 4 (the optical axis direction of the objective lens 51). For example, like the moving mechanism 200, the moving mechanism 40D is provided with an actuator that generates a driving force for moving the fixation unit 40, and a transmission mechanism that transmits this driving force. The actuator is, for example, a pulse motor. The transmission mechanism is, for example, a combination of gears or a rack and pinion. The control unit 210 (main control unit 211) controls the moving mechanism 40D by sending a control signal to the actuator.

移動機構74Dは、合焦レンズ74をレフ測定受光系7の光軸方向に移動するための機構である。例えば、移動機構74Dには、移動機構200と同様に、合焦レンズ74を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部210(主制御部211)は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構74Dに対する制御を行う。 The moving mechanism 74D is a mechanism for moving the focusing lens 74 in the optical axis direction of the reflex measurement light receiving system 7. For example, like the moving mechanism 200, the moving mechanism 74D is provided with an actuator that generates a driving force for moving the focusing lens 74, and a transmission mechanism that transmits this driving force. The actuator is, for example, a pulse motor. The transmission mechanism is, for example, a combination of gears or a rack and pinion. The control unit 210 (main control unit 211) controls the moving mechanism 74D by sending a control signal to the actuator.

移動機構87Dは、合焦レンズ87をOCT光学系8の光軸方向(対物レンズ51の光軸方向)に移動するための機構である。例えば、移動機構87Dには、移動機構200と同様に、合焦レンズ87を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部210(主制御部211)は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構87Dに対する制御を行う。 The moving mechanism 87D is a mechanism for moving the focusing lens 87 in the optical axis direction of the OCT optical system 8 (the optical axis direction of the objective lens 51). For example, similar to the moving mechanism 200, the moving mechanism 87D is provided with an actuator that generates a driving force for moving the focusing lens 87, and a transmission mechanism that transmits this driving force. The actuator is, for example, a pulse motor. The transmission mechanism is, for example, a combination of gears or a rack and pinion. The control unit 210 (main control unit 211) controls the moving mechanism 87D by sending a control signal to the actuator.

いくつかの実施形態では、移動機構87Dの制御には、合焦レンズ87の光軸方向への移動制御、撮影部位に対応した合焦基準位置への合焦レンズ87の移動制御、撮影部位に対応した移動範囲(合焦範囲)内での移動制御などがある。例えば、主制御部211は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構87Dに対する制御を行い、合焦レンズ87を光軸方向に移動させる。 In some embodiments, the control of the moving mechanism 87D includes controlling the movement of the focusing lens 87 in the optical axis direction, controlling the movement of the focusing lens 87 to a focusing reference position corresponding to the imaging region, and controlling the movement within a movement range (focusing range) corresponding to the imaging region. For example, the main control unit 211 controls the moving mechanism 87D by sending a control signal to the actuator, and moves the focusing lens 87 in the optical axis direction.

(制御部210)
制御部210は、プロセッサを含み、眼科装置の各部を制御する。制御部210は、主制御部211と、記憶部212とを含む。記憶部212には、眼科装置1000を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。コンピュータプログラムには、アライメント系制御用プログラム、ケラト系制御用プログラム、固視系制御用プログラム、前眼部観察系制御用プログラム、レフ測定投射系制御用プログラム、レフ測定受光系制御用プログラム、OCT光学系制御用プログラム、演算処理用プログラム及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部211が動作することにより、制御部210は制御処理を実行する。
(Control unit 210)
The control unit 210 includes a processor and controls each unit of the ophthalmic apparatus. The control unit 210 includes a main control unit 211 and a storage unit 212. The storage unit 212 stores in advance computer programs for controlling the ophthalmic apparatus 1000. The computer programs include an alignment system control program, a keratoconjugation system control program, a fixation system control program, an anterior eye observation system control program, a reflex measurement projection system control program, a reflex measurement light receiving system control program, an OCT optical system control program, a calculation processing program, and a user interface program. The main control unit 211 operates according to such computer programs, and the control unit 210 executes control processing.

主制御部211は、測定制御部として眼科装置の各種制御を行う。 The main control unit 211 performs various controls of the ophthalmic device as a measurement control unit.

アライメント系1に対する制御には、前眼部カメラ14の制御などがある。 Control of the alignment system 1 includes control of the anterior eye camera 14.

前眼部カメラ14の制御には、各前眼部カメラの露光調整、ゲイン調整、及び検出レート調整や、2つの前眼部カメラ14の撮影の同期制御などがある。いくつかの実施形態では、2つの前眼部カメラの露光条件、ゲイン、及び検出レートが実質的に同一になるように2つの前眼部カメラ14が制御される。 Control of the anterior eye cameras 14 includes adjusting the exposure, gain, and detection rate of each anterior eye camera, and controlling the synchronization of the image capture of the two anterior eye cameras 14. In some embodiments, the two anterior eye cameras 14 are controlled so that the exposure conditions, gain, and detection rate of the two anterior eye cameras are substantially identical.

ケラト測定系3に対する制御には、ケラトリング光源32の制御などがある。 Control of the keratometry system 3 includes control of the keratin ring light source 32.

ケラトリング光源32の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ケラトリング光源32の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部211は、撮像素子59により検出されたケラトリング像に対する公知の演算を演算処理部220に実行させる。それにより、被検眼Eの角膜形状パラメータが求められる。 The control of the keratinizing light source 32 includes turning the light source on and off, adjusting the light intensity, and adjusting the aperture. This causes the keratinizing light source 32 to be switched on and off, and changes the light intensity. The main control unit 211 causes the calculation processing unit 220 to execute a known calculation on the keratinizing image detected by the image sensor 59. This allows the corneal shape parameters of the test eye E to be found.

固視投影系4に対する制御には、液晶パネル41の制御や固視ユニット40の移動制御などがある。 Control of the fixation projection system 4 includes control of the liquid crystal panel 41 and movement control of the fixation unit 40.

液晶パネル41の制御には、固視標の表示のオン・オフや、検査や測定の種別に応じた固視標の切り替えや、固視標の表示位置の切り替えなどがある。主制御部211は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構40Dに対する制御を行い、少なくとも液晶パネル41を光軸方向に移動させる。それにより、液晶パネル41と眼底Efとが光学的に共役となるように液晶パネル41の位置が調整される。 Control of the liquid crystal panel 41 includes turning the display of the fixation target on and off, switching the fixation target according to the type of examination or measurement, and switching the display position of the fixation target. The main controller 211 controls the moving mechanism 40D by sending a control signal to the actuator, and moves at least the liquid crystal panel 41 in the optical axis direction. This adjusts the position of the liquid crystal panel 41 so that the liquid crystal panel 41 and the fundus Ef are optically conjugate.

前眼部観察系5に対する制御には、前眼部照明光源50の制御、撮像素子59の制御などがある。 Control of the anterior eye observation system 5 includes control of the anterior eye illumination light source 50 and control of the image sensor 59.

前眼部照明光源50の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、前眼部照明光源50の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。撮像素子59の制御には、撮像素子59の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部211は、撮像素子59により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部220に実行させる。 The control of the anterior eye illumination light source 50 includes turning the light source on and off, adjusting the light intensity, and adjusting the aperture. This causes the anterior eye illumination light source 50 to be switched on and off, and the light intensity to be changed. The control of the image sensor 59 includes adjusting the exposure, gain, and detection rate of the image sensor 59. The main control unit 211 captures the signal detected by the image sensor 59, and causes the calculation processing unit 220 to perform processing such as forming an image based on the captured signal.

レフ測定投射系6に対する制御には、レフ測定光源61の制御、ロータリープリズム66の制御などがある。 Control of the reflex measurement projection system 6 includes control of the reflex measurement light source 61 and control of the rotary prism 66.

レフ測定光源61の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、レフ測定光源61の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。例えば、レフ測定投射系6は、レフ測定光源61を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構200と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部211は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、レフ測定光源61を光軸方向に移動させる。ロータリープリズム66の制御には、ロータリープリズム66の回転制御などがある。例えば、ロータリープリズム66を回転させる回転機構が設けられており、主制御部211は、この回転機構を制御することによりロータリープリズム66を回転させる。 The control of the reflex measurement light source 61 includes turning the light source on and off, adjusting the light intensity, and adjusting the aperture. This causes the reflex measurement light source 61 to be switched on and off, or the light intensity to be changed. For example, the reflex measurement projection system 6 includes a moving mechanism that moves the reflex measurement light source 61 in the optical axis direction. This moving mechanism is provided with an actuator that generates a driving force for moving the moving mechanism, and a transmission mechanism that transmits this driving force, similar to the moving mechanism 200. The main control unit 211 controls the moving mechanism by sending a control signal to the actuator, and moves the reflex measurement light source 61 in the optical axis direction. The control of the rotary prism 66 includes controlling the rotation of the rotary prism 66. For example, a rotating mechanism that rotates the rotary prism 66 is provided, and the main control unit 211 rotates the rotary prism 66 by controlling this rotating mechanism.

レフ測定受光系7に対する制御には、レフ測定光源61と眼底Efと撮像素子59とが光学的に共役となるように、例えば被検眼Eの屈折力に応じてレフ測定光源61及び合焦レンズ74をそれぞれ光軸方向に移動させる制御が含まれる。この場合、主制御部211は、被検眼Eの屈折力に応じて移動機構74D等を制御することにより、レフ測定光源61と眼底Efと撮像素子59とが光学的に略共役な位置に配置させる。 The control of the reflex measurement light receiving system 7 includes control to move the reflex measurement light source 61 and the focusing lens 74 in the optical axis direction according to the refractive power of the test eye E, for example, so that the reflex measurement light source 61, the fundus Ef, and the image sensor 59 are optically conjugate. In this case, the main control unit 211 controls the movement mechanism 74D, etc. according to the refractive power of the test eye E to position the reflex measurement light source 61, the fundus Ef, and the image sensor 59 at positions where they are approximately optically conjugate.

OCT光学系8に対する制御には、光スキャナー88の制御、光路長変更部89、OCTユニット100に対する制御などがある。OCTユニット100に対する制御には、光源ユニット101の制御、アッテネータ105の制御、偏波コントローラ106の制御、ズーム光学系114の制御、CCDイメージセンサ115の制御などがある。 Control over the OCT optical system 8 includes control over the optical scanner 88, the optical path length changer 89, and the OCT unit 100. Control over the OCT unit 100 includes control over the light source unit 101, the attenuator 105, the polarization controller 106, the zoom optical system 114, and the CCD image sensor 115.

光スキャナー88の制御には、予め決められたスキャンパターンで計測部位をスキャンするためのスキャンモードの設定や、スキャン範囲の制御、スキャン速度の制御などがある。スキャン範囲(スキャン開始位置及びスキャン終了位置)を制御することで、測定光LSを偏向する偏向面の角度範囲を制御することが可能である。スキャン速度を制御することで、偏向面の角度の変更速度を制御することが可能である。主制御部211は、光スキャナー88に対して制御信号を出力することにより、スキャンモード、スキャン範囲、及びスキャン速度の少なくとも1つを制御する。 Control of the optical scanner 88 includes setting a scan mode for scanning the measurement site with a predetermined scan pattern, controlling the scan range, and controlling the scan speed. By controlling the scan range (scan start position and scan end position), it is possible to control the angle range of the deflection plane that deflects the measurement light LS. By controlling the scan speed, it is possible to control the speed at which the angle of the deflection plane is changed. The main control unit 211 controls at least one of the scan mode, scan range, and scan speed by outputting a control signal to the optical scanner 88.

光路長変更部89の制御には、測定光LSの光路長の制御などがある主制御部211は、光路長変更部89に対して制御信号を出力することにより、光路長変更部89に測定光LSの光路長を変更させる。 The control of the optical path length changing unit 89 includes control of the optical path length of the measurement light LS. The main control unit 211 outputs a control signal to the optical path length changing unit 89, causing the optical path length changing unit 89 to change the optical path length of the measurement light LS.

光源ユニット101の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。アッテネータ105の制御には、参照光LRの光量の調整などがある。偏波コントローラ106の制御には、参照光LRの偏波状態の調整などがある。ズーム光学系114の制御には、光学倍率の制御などがある。CCDイメージセンサ115の制御には、CCDイメージセンサ115の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部211は、イメージセンサ115により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部220に実行させる。 The control of the light source unit 101 includes turning the light source on and off, adjusting the light intensity, and adjusting the aperture. The control of the attenuator 105 includes adjusting the light intensity of the reference light LR. The control of the polarization controller 106 includes adjusting the polarization state of the reference light LR. The control of the zoom optical system 114 includes controlling the optical magnification. The control of the CCD image sensor 115 includes adjusting the exposure, gain, and detection rate of the CCD image sensor 115. The main control unit 211 takes in the signal detected by the image sensor 115, and causes the calculation processing unit 220 to execute processing such as forming an image based on the taken-in signal.

また、主制御部211は、記憶部212にデータを書き込む処理や、記憶部212からデータを読み出す処理を行う。 The main control unit 211 also performs processes for writing data to the memory unit 212 and reading data from the memory unit 212.

(記憶部212)
記憶部212は、各種のデータを記憶する。記憶部212に記憶されるデータとしては、例えば他覚測定の測定結果(OCT計測結果)、OCT画像の画像データ、前眼部像の画像データ、自覚検査の結果、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部212には、眼科装置を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
(Memory unit 212)
The storage unit 212 stores various data. Examples of data stored in the storage unit 212 include objective measurement results (OCT measurement results), image data of OCT images, image data of anterior eye images, subjective test results, and subject eye information. The subject eye information includes information about the subject, such as a patient ID and name, and information about the subject eye, such as left/right eye identification information. The storage unit 212 also stores various programs and data for operating the ophthalmic apparatus.

(演算処理部220)
演算処理部220は、プロセッサを含み、各種の演算処理を実行する。図示しない記憶部(例えば、記憶部212)には、各種演算処理を実行するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。プロセッサは、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、各種の演算処理を実行する各部の機能を実現する。
(Calculation processing unit 220)
The arithmetic processing unit 220 includes a processor and executes various arithmetic processing. A storage unit (e.g., the storage unit 212) not shown in the figure stores computer programs for executing various arithmetic processing in advance. The processor operates according to the computer programs to realize the functions of each unit that executes various arithmetic processing.

図3に示すように、演算処理部220は、眼屈折力算出部230と、画像形成部240と、データ処理部250とを含む。眼屈折力算出部230は、被検眼Eの眼屈折力を算出する。画像形成部240は、OCT光学系8を用いて取得された干渉光LCの検出結果に基づいてOCT画像を形成する。データ処理部250は、眼科装置1000が備える光学系を用いて得られた測定結果(干渉光LCの検出結果等)や画像形成部240により形成されたOCT画像に対して各種のデータ処理(画像処理)や解析処理を施す。 As shown in FIG. 3, the calculation processing unit 220 includes an eye refractive power calculation unit 230, an image forming unit 240, and a data processing unit 250. The eye refractive power calculation unit 230 calculates the eye refractive power of the test eye E. The image forming unit 240 forms an OCT image based on the detection result of the interference light LC obtained using the OCT optical system 8. The data processing unit 250 performs various data processing (image processing) and analysis processing on the measurement results (detection result of the interference light LC, etc.) obtained using the optical system provided in the ophthalmic device 1000 and the OCT image formed by the image forming unit 240.

(眼屈折力算出部230)
眼屈折力算出部230は、レフ測定投射系6により眼底Efに投影されたリング状光束(リング状の測定パターン)の戻り光を撮像素子59が受光することにより得られたリング像(パターン像)を解析する。例えば、眼屈折力算出部230は、得られたリング像が描出された画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部230は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を求める。或いは、眼屈折力算出部230は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。
(Eye refractive power calculation unit 230)
The ocular refractive power calculation unit 230 analyzes a ring image (pattern image) obtained by receiving the return light of the ring-shaped light beam (ring-shaped measurement pattern) projected on the fundus Ef by the reflex measurement projection system 6 with the imaging element 59. For example, the ocular refractive power calculation unit 230 obtains the center of gravity of the ring image from the luminance distribution in the image in which the obtained ring image is depicted, obtains the luminance distribution along a plurality of scanning directions extending radially from the center of gravity, and identifies the ring image from the luminance distribution. Next, the ocular refractive power calculation unit 230 obtains an ellipse approximation of the identified ring image, and obtains the spherical power, the cylindrical power, and the cylindrical axis angle by substituting the major axis and minor axis of the ellipse into a known formula. Alternatively, the ocular refractive power calculation unit 230 can obtain parameters of the ocular refractive power based on the deformation and displacement of the ring image relative to the reference pattern.

また、眼屈折力算出部230は、前眼部観察系5により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部230は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。 The eye refractive power calculation unit 230 also calculates the corneal refractive power, the degree of corneal astigmatism, and the corneal astigmatism axis angle based on the keratinizing image acquired by the anterior eye observation system 5. For example, the eye refractive power calculation unit 230 calculates the corneal curvature radius of the principal meridian and the principal meridian of the anterior cornea by analyzing the keratinizing image, and calculates the above parameters based on the corneal curvature radius.

(画像形成部240)
画像形成部240は、CCDイメージセンサ115により得られた干渉光LCの検出信号に基づいて、被検眼EのOCT画像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部240は、干渉光学系による干渉光LCの検出結果に基づいて被検眼Eの画像データを形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのOCTと同様に、フィルター処理、FFT(Fast Fourier Transform)などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のAライン(被検眼E内における各測定光LSの経路)における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。
(Image forming unit 240)
The image forming unit 240 forms image data of the OCT image of the test eye E based on the detection signal of the interference light LC obtained by the CCD image sensor 115. That is, the image forming unit 240 forms image data of the test eye E based on the detection result of the interference light LC by the interference optical system. This processing includes filtering, FFT (Fast Fourier Transform), and other processing, as in the conventional spectral domain type OCT. The image data acquired in this manner is a data set including a group of image data formed by imaging the reflection intensity profile in a plurality of A-lines (paths of each measurement light LS in the test eye E).

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる(加算平均する)ことができる。 To improve image quality, multiple data sets collected by repeating the same scan pattern multiple times can be superimposed (averaged).

(データ処理部250)
データ処理部250は、画像形成部240により形成されたOCT画像又はCCDイメージセンサ115により得られた干渉光LCの検出信号に対して各種のデータ処理(画像処理)や解析処理を施す。例えば、データ処理部250は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部250は、前眼部観察系5を用い得られた画像(前眼部像等)に対して各種の画像処理や解析処理を施す。
(Data Processing Unit 250)
The data processing unit 250 performs various data processing (image processing) and analysis processing on the OCT image formed by the image forming unit 240 or the detection signal of the interference light LC obtained by the CCD image sensor 115. For example, the data processing unit 250 executes correction processing such as luminance correction and dispersion correction of the image. In addition, the data processing unit 250 performs various image processing and analysis processing on the image (anterior eye image, etc.) obtained by using the anterior eye observation system 5.

データ処理部250は、画像形成部240により形成されたOCT画像(断層像)の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ef又は前眼部の3次元画像の画像データを形成することができる。なお、3次元画像の画像データとは、3次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。3次元画像の画像データとしては、3次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部250は、このボリュームデータに対してレンダリング処理(ボリュームレンダリングやMIP(Maximum Intensity Projection:最大値投影)など)を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な3次元画像の画像データを形成する。表示部270等の表示デバイスには、この擬似的な3次元画像が表示される。 The data processing unit 250 can perform known image processing such as an interpolation process that interpolates pixels between OCT images (tomographic images) formed by the image forming unit 240 to form image data of a three-dimensional image of the fundus Ef or the anterior segment. The image data of the three-dimensional image means image data in which the positions of pixels are defined by a three-dimensional coordinate system. The image data of the three-dimensional image includes image data consisting of three-dimensionally arranged voxels. This image data is called volume data or voxel data. When an image based on the volume data is to be displayed, the data processing unit 250 performs a rendering process (such as volume rendering or MIP (Maximum Intensity Projection)) on the volume data to form image data of a pseudo three-dimensional image as viewed from a specific line of sight. The pseudo three-dimensional image is displayed on a display device such as the display unit 270.

また、3次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて3次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の2次元座標系により定義されていた複数の断層像を、1つの3次元座標系により表現する(つまり1つの3次元空間に埋め込む)ことにより得られる画像データである。 It is also possible to form stack data of multiple tomographic images as image data for a three-dimensional image. Stack data is image data obtained by arranging multiple tomographic images obtained along multiple scan lines in three dimensions based on the positional relationship of the scan lines. In other words, stack data is image data obtained by expressing multiple tomographic images that were originally defined by separate two-dimensional coordinate systems using a single three-dimensional coordinate system (i.e., embedding them in a single three-dimensional space).

データ処理部250は、取得された3次元データセット(ボリュームデータ、スタックデータ等)に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるBモード画像(縦断面像、軸方向断面像)、任意断面におけるCモード画像(横断面像、水平断面像)、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Bモード画像やCモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素(ピクセル、ボクセル)を3次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、3次元データセットを所定方向(Z方向、深さ方向、軸方向)に投影することによって形成される。シャドウグラムは、3次元データセットの一部(たとえば特定層に相当する部分データ)を所定方向に投影することによって形成される。Cモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像(en-face画像)と呼ぶ。 The data processing unit 250 can perform various rendering operations on the acquired three-dimensional data set (volume data, stack data, etc.) to form B-mode images (longitudinal and axial images) in any cross section, C-mode images (transverse and horizontal images) in any cross section, projection images, shadowgrams, and the like. Images of any cross section, such as B-mode images and C-mode images, are formed by selecting pixels (voxels) on a specified cross section from the three-dimensional data set. Projection images are formed by projecting the three-dimensional data set in a specified direction (Z direction, depth direction, axial direction). Shadowgrams are formed by projecting a part of the three-dimensional data set (e.g., partial data corresponding to a specific layer) in a specified direction. Images with the front side of the subject's eye as a viewpoint, such as C-mode images, projection images, and shadowgrams, are called en-face images.

データ処理部250は、OCTスキャンにより時系列に収集されたデータ(例えば、Bスキャン画像データ)に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたBモード画像や正面画像(血管強調画像、アンギオグラム)を構築することができる。例えば、被検眼Eの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のOCTデータを収集することができる。 The data processing unit 250 can construct B-mode images or frontal images (vessel-enhanced images, angiograms) in which retinal blood vessels and choroidal blood vessels are emphasized based on data (e.g., B-scan image data) collected in a time series by OCT scanning. For example, time-series OCT data can be collected by repeatedly scanning approximately the same area of the subject's eye E.

いくつかの実施形態では、データ処理部250は、略同一部位に対するBスキャンにより得られた時系列のBスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部250は、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してen-face画像として構築することでOCTA像を形成する。 In some embodiments, the data processor 250 compares time-series B-scan images obtained by B-scanning approximately the same area, and constructs an enhanced image in which the changed area is emphasized by converting pixel values of the changed area in signal intensity into pixel values corresponding to the change. Furthermore, the data processor 250 extracts information of a predetermined thickness in the desired area from the multiple enhanced images constructed, and constructs it as an en-face image to form an OCTA image.

データ処理部250により生成された画像(例えば、3次元画像、Bモード画像、Cモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、OCTA像)もまたOCT画像に含まれる。 Images generated by the data processing unit 250 (e.g., 3D images, B-mode images, C-mode images, projection images, shadowgrams, OCTA images) are also included in the OCT images.

また、データ処理部250は、2つの前眼部カメラ14により実質的に同時に取得された2つの撮影画像のそれぞれを解析することにより、前眼部の特徴部位に相当する特徴位置を特定する。前眼部の特徴部位は、例えば瞳孔中心(瞳孔重心)である。データ処理部250は、2つの前眼部カメラ14の位置と、特定された2つの撮影画像における特徴部位に相当する特徴位置とに対して公知の三角法を適用することにより、特徴部位の3次元位置(すなわち、被検眼Eの3次元位置)を算出する。算出された3次元位置は、被検眼Eに対する光学系の位置合わせに用いることができる。 The data processing unit 250 also identifies a characteristic position corresponding to a characteristic portion of the anterior eye by analyzing each of the two captured images acquired substantially simultaneously by the two anterior eye cameras 14. The characteristic portion of the anterior eye is, for example, the pupil center (pupil centroid). The data processing unit 250 calculates the three-dimensional position of the characteristic portion (i.e., the three-dimensional position of the subject's eye E) by applying known trigonometric methods to the positions of the two anterior eye cameras 14 and the characteristic positions corresponding to the characteristic portions in the two identified captured images. The calculated three-dimensional position can be used to align the optical system with the subject's eye E.

更に、眼科装置1000は、被検眼Eに対してOCTスキャンを実行することにより被検眼Eの眼軸長等の眼内距離を測定することが可能である。実施形態では、データ処理部250が、眼軸長算出部としての機能を実現するものとする。 Furthermore, the ophthalmic device 1000 is capable of measuring intraocular distances such as the axial length of the subject eye E by performing an OCT scan on the subject eye E. In the embodiment, the data processing unit 250 realizes the function of an axial length calculation unit.

データ処理部250は、OCTスキャンを実行して得られた干渉光LCの検出結果に基づいて、角膜頂点に相当する位置とRPE層に相当する位置との距離を眼軸長として算出することが可能である。 The data processing unit 250 can calculate the distance between the position corresponding to the corneal apex and the position corresponding to the RPE layer as the axial length based on the detection results of the interference light LC obtained by performing an OCT scan.

ここで、干渉光LCを検出することにより生成される干渉信号の強度プロファイルでは、RPE層に相当するピークがIS/OSラインやブルッフ膜等の層領域に相当するピークに近接し、RPE層に相当するピークレベルがIS/OSライン等に相当するピークレベルより低い場合、RPE層に相当するピークが、IS/OSライン等に相当するピークに埋もれる。それにより、RPE層に相当するピークの特定に時間を要したり、RPE層に相当するピークの特定に失敗したり、RPE層に相当するピークを誤検出したりする場合がある。 Here, in the intensity profile of the interference signal generated by detecting the interference light LC, if the peak corresponding to the RPE layer is close to peaks corresponding to layer regions such as the IS/OS line and Bruch's membrane, and the peak level corresponding to the RPE layer is lower than the peak level corresponding to the IS/OS line, etc., the peak corresponding to the RPE layer will be buried in the peak corresponding to the IS/OS line, etc. This may result in time being required to identify the peak corresponding to the RPE layer, failure to identify the peak corresponding to the RPE layer, or erroneous detection of the peak corresponding to the RPE layer.

そこで、まず、データ処理部250は、干渉光LCの検出結果(干渉光LCの強度プロファイル)に基づいて、IS/OSライン又はブルッフ膜(第1層領域)に相当する深さ位置を特定する。続いて、データ処理部250は、特定された深さ位置に所定のオフセット値を加算して眼底におけるRPE層(第2層領域)に相当する深さ位置を算出する。これにより、RPE層に相当する深さ位置を短時間に、且つ、確実に特定することが可能になる。その結果、RPE層を直接的に特定する場合と比較して、特定されたRPE層を用いて算出された眼軸長等の眼内距離の信頼性を向上させることができるようになる。 First, the data processing unit 250 identifies a depth position corresponding to the IS/OS line or Bruch's membrane (first layer region) based on the detection result of the interference light LC (the intensity profile of the interference light LC). Next, the data processing unit 250 adds a predetermined offset value to the identified depth position to calculate a depth position corresponding to the RPE layer (second layer region) in the fundus. This makes it possible to quickly and reliably identify the depth position corresponding to the RPE layer. As a result, it becomes possible to improve the reliability of intraocular distances such as axial length calculated using the identified RPE layer, compared to when the RPE layer is directly identified.

また、データ処理部250は、角膜頂点に相当する位置とRPE層に相当する位置との距離である眼軸長に相当する距離を光路長OPLとして特定し、式(1)に示す関係式に従って、眼軸長(物理長)ALを求める。 The data processing unit 250 also identifies the distance corresponding to the axial length, which is the distance between the position corresponding to the corneal apex and the position corresponding to the RPE layer, as the optical path length OPL, and calculates the axial length (physical length) AL according to the relational expression shown in equation (1).

Figure 0007601643000001
Figure 0007601643000001

式(1)において、OPLは光路長を表し、ALは眼軸長の物理長を表し、nは人眼の屈折率(群屈折率:group index)を表す。ここで、眼の構成物(角膜、水晶体、等)毎に屈折率は異なるが、nは眼球を単一の構成物に換算した場合の屈折率を表している。 In formula (1), OPL represents the optical path length, AL represents the physical length of the axial length, and n represents the refractive index of the human eye (group index). Here, the refractive index differs for each component of the eye (cornea, lens, etc.), but n represents the refractive index when the eyeball is converted into a single component.

ここで、屈折率nは、波長依存性を有する。これは、測定波長に応じて、物理長として算出される眼軸長が変化することを意味する。例えば、840nmを測定波長とする測定光LSで眼軸長を測定したときの光路長をOPL840と表し、840nmにおける屈折率をn840と表すと、式(2)のような関係式が得られる。同様に、例えば、780nmを測定波長とする測定光LSで眼軸長を測定したときの光路長をOPL780と表し、780nmにおける屈折率をn780と表すと、式(3)のような関係式が得られる。 Here, the refractive index n has wavelength dependency. This means that the axial length calculated as the physical length changes depending on the measurement wavelength. For example, if the optical path length when the axial length is measured with the measurement light LS having a measurement wavelength of 840 nm is expressed as OPL 840 and the refractive index at 840 nm is expressed as n 840 , a relational expression such as formula (2) is obtained. Similarly, for example, if the optical path length when the axial length is measured with the measurement light LS having a measurement wavelength of 780 nm is expressed as OPL 780 and the refractive index at 780 nm is expressed as n 780 , a relational expression such as formula (3) is obtained.

Figure 0007601643000002
Figure 0007601643000002

従って、840nmを測定波長とする測定光LSを用いて測定された眼軸長は、780nmを測定波長とする測定光LSを用いて測定された眼軸長と異なることを意味する。 This means that the axial length measured using measurement light LS with a measurement wavelength of 840 nm is different from the axial length measured using measurement light LS with a measurement wavelength of 780 nm.

そこで、実施形態では、840nmを測定波長とする測定光LSを用いて測定された眼軸長に対して波長補正を行う。それにより、840nmとは異なる他の波長(例えば、780nm)における眼軸長(他の波長成分を有する測定光LSを用いて測定される眼軸長)を算出することが可能である。 Therefore, in the embodiment, wavelength correction is performed on the axial length measured using measurement light LS with a measurement wavelength of 840 nm. This makes it possible to calculate the axial length at a wavelength other than 840 nm (e.g., 780 nm) (axial length measured using measurement light LS with other wavelength components).

更に、厳密には、実施形態に係る非接触式眼軸長測定装置により得られる眼軸長の測定値は、超音波式眼軸長測定装置により得られる眼軸長の測定値と異なる。 More precisely, the axial length measurement value obtained by the non-contact axial length measurement device according to the embodiment is different from the axial length measurement value obtained by the ultrasonic axial length measurement device.

そこで、実施形態では、840nmを測定波長とする測定光LSを用いて測定された眼軸長の測定値を、超音波式眼軸長測定装置により得られる眼軸長の測定値に換算することが可能である。 Therefore, in the embodiment, the measurement value of the axial length measured using measurement light LS with a measurement wavelength of 840 nm can be converted to the measurement value of the axial length obtained by an ultrasonic axial length measurement device.

このようなデータ処理部250は、図5に示すように、層領域特定部251と、層領域位置算出部252と、眼軸長算出部253と、波長補正部254と、眼軸長換算部255とを含む。 As shown in FIG. 5, such a data processing unit 250 includes a layer region identification unit 251, a layer region position calculation unit 252, an axial length calculation unit 253, a wavelength correction unit 254, and an axial length conversion unit 255.

(層領域特定部251)
層領域特定部251は、OCTユニット100において取得された干渉光LCの検出結果に基づいて、被検眼Eの所定部位に相当する深さ位置を特定する。所定部位の例として、眼底Efにおける所定の層領域、前眼部における角膜頂点などがある。眼底Efにおける所定の層領域の例として、IS/OSライン、ブルッフ膜などがある。
(Layer area identification unit 251)
The layer region specifying part 251 specifies a depth position corresponding to a predetermined part of the subject's eye E based on the detection result of the interference light LC acquired by the OCT unit 100. Examples of a predetermined layer region in the fundus Ef include the IS/OS line and Bruch's membrane.

実施形態では、層領域特定部251は、前眼部(角膜Cr)における角膜頂点に相当する深さ位置と、眼底EfにおけるIS/OSラインに相当する深さ位置とを特定する。 In the embodiment, the layer region identification unit 251 identifies a depth position corresponding to the corneal apex in the anterior segment (cornea Cr) and a depth position corresponding to the IS/OS line in the fundus Ef.

(層領域位置算出部252)
層領域位置算出部252は、層領域特定部251により特定された深さ位置に所定のオフセット値を加算することにより、層領域特定部251により深さ位置が特定された部位と異なる被検眼Eにおける別の部位に相当する深さ位置を算出する。別の部位の例として、RPE層などがある。
(Layer region position calculation unit 252)
The layer region position calculation unit 252 adds a predetermined offset value to the depth position specified by the layer region specification unit 251, thereby determining whether the layer region of the subject's eye E is different from the region specified by the layer region specification unit 251. An example of the other portion is the RPE layer.

図6に、実施形態に係る層領域位置算出部252の動作説明図を示す。図6は、眼底EfにおけるOCT画像(断層像)の一例を模式的に表す。 Figure 6 shows an explanatory diagram of the operation of the layer region position calculation unit 252 according to the embodiment. Figure 6 shows a schematic diagram of an example of an OCT image (tomographic image) of the fundus Ef.

上記のように、層領域特定部251によりIS/OSラインに相当する深さ位置が特定されたものとする。層領域位置算出部252は、IS/OSラインに相当する深さ位置にオフセット値dtを加算することにより、IS/OSラインを基準にIS/OSラインと異なる別の層領域に相当する深さ位置を算出する。従って、層領域位置算出部252は、IS/OSラインに相当する深さ位置にオフセット値dtを加算することによりRPE層に相当する深さ位置を算出することが可能である。 As described above, it is assumed that the layer region identification unit 251 has identified the depth position corresponding to the IS/OS line. The layer region position calculation unit 252 calculates a depth position corresponding to another layer region different from the IS/OS line based on the IS/OS line by adding an offset value dt to the depth position corresponding to the IS/OS line. Therefore, the layer region position calculation unit 252 can calculate the depth position corresponding to the RPE layer by adding an offset value dt to the depth position corresponding to the IS/OS line.

オフセット値dtの例として、定数、被検者又は被検眼に応じて変化する変数などがある。 Examples of the offset value dt include a constant, a variable that varies depending on the subject or the eye being examined, etc.

オフセット値dtが定数の場合、オフセット値dtは、事前に複数の被検眼に対する測定により得られたノーマティブデータにより決定される。例えば、複数の被検眼に対する測定値を平均することによりオフセット値dtが決定される。 When the offset value dt is a constant, the offset value dt is determined based on normative data obtained in advance by measuring multiple test eyes. For example, the offset value dt is determined by averaging the measurement values for multiple test eyes.

オフセット値dtが変数の場合、オフセット値dtは、被検者の情報に応じて決定することが可能である。また、オフセット値dtは、被検眼Eの情報に応じて決定することが可能である。被検眼Eの情報には、眼内距離(例えば、眼底Efにおける所定の層領域間の距離)などがある。いくつかの実施形態では、オフセット値dtは、被検眼EのIS/OSラインに相当する深さ位置とブルッフ膜に相当する深さ位置との距離に応じて決定される。 When the offset value dt is variable, the offset value dt can be determined according to information about the subject. The offset value dt can also be determined according to information about the subject's eye E. The information about the subject's eye E includes the intraocular distance (e.g., the distance between specific layer regions in the fundus Ef). In some embodiments, the offset value dt is determined according to the distance between the depth position corresponding to the IS/OS line of the subject's eye E and the depth position corresponding to Bruch's membrane.

(眼軸長算出部253)
眼軸長算出部253は、層領域特定部251により特定された層領域の深さ位置(第1深さ位置)と、層領域位置算出部252により算出された当該層領域と異なる別の層領域の深さ位置(第2深さ位置)との距離を眼軸長(光路長)として算出する。眼軸長を物理長として算出する場合、眼軸長算出部253は、式(1)に従って眼軸長の物理長を算出する。
(Ecular axis length calculation unit 253)
The axial length calculation part 253 is configured to calculate a depth position (first depth position) of the layer region specified by the layer region specification part 251 and a depth position of another layer different from the layer region calculated by the layer region position calculation part 252. The distance to the depth position (second depth position) of the region is calculated as the axial length (optical path length). When the axial length is calculated as a physical length, the axial length calculation unit 253 calculates the distance from the depth position (second depth position) of the region as the axial length (optical path length) using the formula (1) The physical length of the eye's axial length is calculated according to the following:

図7に、実施形態に係る眼軸長算出部253の動作説明図を示す。図7は、前眼部に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉信号の強度プロファイルの一例と、眼底Efに対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉信号の強度プロファイルの一例とを模式的に表す。図7において、図1又は図6と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。 Figure 7 shows an explanatory diagram of the operation of the axial length calculation unit 253 according to the embodiment. Figure 7 shows a schematic diagram of an example of an intensity profile of an interference signal obtained by performing an OCT scan on the anterior segment, and an example of an intensity profile of an interference signal obtained by performing an OCT scan on the fundus Ef. In Figure 7, parts that are the same as those in Figure 1 or Figure 6 are given the same reference numerals, and descriptions thereof will be omitted as appropriate.

例えば、アライメント系1と移動機構200とを用いてOCT光学系8の光軸が被検眼Eの瞳孔中心と一致するように被検眼Eと図1に示す光学系とのアライメントが完了しているものとする。層領域特定部251は、アライメント完了後に前眼部に対してOCTスキャンを実行して得られた干渉信号の強度プロファイルのピークを探索して特定されたピークの位置を角膜頂点に相当する深さ位置zaとして特定する。 For example, it is assumed that the alignment between the subject eye E and the optical system shown in FIG. 1 has been completed using the alignment system 1 and the moving mechanism 200 so that the optical axis of the OCT optical system 8 coincides with the center of the pupil of the subject eye E. After the alignment is completed, the layer region identifying unit 251 searches for a peak in the intensity profile of the interference signal obtained by performing an OCT scan on the anterior segment, and identifies the position of the identified peak as the depth position za corresponding to the corneal apex.

続いて、層領域特定部251は、アライメント完了後に眼底Efに対してOCTスキャンを実行して得られた干渉信号の強度プロファイルのピークを探索し、IS/OSライン(又はブルッフ膜)に相当するピークの位置を深さ位置zfとして特定する。層領域位置算出部252は、IS/OSラインに相当する深さ位置zfにオフセット値dtを加算することによりRPE層に相当する深さ位置(zf+dt)を算出する。 Next, the layer region identification unit 251 searches for a peak in the intensity profile of the interference signal obtained by performing an OCT scan on the fundus Ef after the alignment is completed, and identifies the position of the peak corresponding to the IS/OS line (or Bruch's membrane) as the depth position zf. The layer region position calculation unit 252 calculates the depth position (zf+dt) corresponding to the RPE layer by adding an offset value dt to the depth position zf corresponding to the IS/OS line.

ここで、干渉信号の強度プロファイルにおけるRPE層に相当するピークが他の層領域に相当するピークに近接し、且つ、RPE層に相当するピークレベルが他の層領域に相当するピークレベルより低い場合、RPE層に相当するピークの特定が困難になる。これに対して、実施形態では、ピークの特定が容易なIS/OSライン(又はブルッフ膜)に相当する深さ位置を特定し、特定された深さ位置にオフセット値を加算する。それにより、眼底Ef側の代表位置の特定に失敗することなく、短時間で正確に眼底Ef側の代表位置を特定することが可能になる。 Here, when the peak corresponding to the RPE layer in the intensity profile of the interference signal is close to a peak corresponding to another layer region, and the peak level corresponding to the RPE layer is lower than the peak level corresponding to the other layer region, it becomes difficult to identify the peak corresponding to the RPE layer. In response to this, in the embodiment, a depth position corresponding to the IS/OS line (or Bruch's membrane), where the peak is easy to identify, is identified, and an offset value is added to the identified depth position. This makes it possible to accurately identify the representative position on the fundus Ef side in a short time without failing to identify the representative position on the fundus Ef side.

眼軸長算出部253は、層領域特定部251により特定された角膜頂点に相当する深さ位置zaと、層領域位置算出部252により算出されたRPE層に相当する深さ位置(zf+dt)との距離を眼軸長AL0(光路長)として算出する。 The axial length calculation unit 253 calculates the distance between the depth position za corresponding to the corneal apex identified by the layer region identification unit 251 and the depth position (zf+dt) corresponding to the RPE layer calculated by the layer region position calculation unit 252 as the axial length AL0 (optical path length).

上記のように、眼底Ef側の代表位置の特定に失敗することなく、短時間で正確に眼底Ef側の代表位置を特定するようにしたので、被検眼Eの眼軸長の測定精度を向上させることができる。 As described above, the representative position on the fundus Ef side is accurately identified in a short time without failing to be identified, thereby improving the measurement accuracy of the axial length of the test eye E.

いくつかの実施形態では、1度のOCTスキャンにより前眼部から眼底Efまでの範囲の干渉信号の強度スペクトルを取得し、取得された強度スペクトルから角膜頂点に相当する深さ位置、及びIS/OSラインに相当する深さ位置が特定される。 In some embodiments, a single OCT scan is used to obtain an intensity spectrum of the interference signal ranging from the anterior segment to the fundus Ef, and the depth position corresponding to the corneal apex and the depth position corresponding to the IS/OS line are identified from the obtained intensity spectrum.

いくつかの実施形態では、層領域特定部251は、IS/OSライン(又はブルッフ膜)以外の眼底Efの層領域の深さ位置を特定し、層領域位置算出部252は、特定された深さ位置にオフセット値を加算することでRPE層の深さ位置を算出する。 In some embodiments, the layer region identifying unit 251 identifies the depth position of a layer region of the fundus Ef other than the IS/OS line (or Bruch's membrane), and the layer region position calculating unit 252 calculates the depth position of the RPE layer by adding an offset value to the identified depth position.

(波長補正部254)
波長補正部254は、眼軸長算出部253により算出された眼軸長に対して式(4)に示すように波長補正を行うことにより、測定光LSの測定波長(840nm)と異なる波長(例えば、780nm)を測定波長とする測定光を用いて得られる眼軸長に補正する。
(Wavelength correction unit 254)
The wavelength correction unit 254 performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit 253 as shown in Equation (4), thereby correcting the wavelength ( For example, the axial length is corrected to the axial length obtained using a measurement light having a measurement wavelength of 780 nm.

Figure 0007601643000003
Figure 0007601643000003

ここで、眼軸長算出部253により眼軸長(光路長)OPL840が算出されたものとする。このとき、波長補正部254は、780nmにおける人眼の屈折率(n780)に対する840nmにおける人眼の屈折率(n840)の比を眼軸長(光路長)OPL840に乗算する。それにより、780nmの波長成分を有する測定光を用いて得られる眼軸長(光路長)OPL780に補正する。 Here, it is assumed that the axial length (optical path length) OPL 840 has been calculated by the axial length calculation unit 253. At this time, the wavelength correction unit 254 multiplies the axial length (optical path length) OPL 840 by the ratio of the refractive index of the human eye at 840 nm (n 840 ) to the refractive index of the human eye at 780 nm (n 780 ). This corrects the axial length (optical path length) OPL 840 to the axial length (optical path length) OPL 780 obtained using measurement light having a wavelength component of 780 nm.

(眼軸長換算部255)
眼軸長換算部255は、波長補正部254により波長補正が行われた眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長(物理長)に換算する。
(Ecular axis length conversion unit 255)
The axial length conversion section 255 converts the axial length that has been wavelength-corrected by the wavelength correction section 254 into an axial length (physical length) obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

例えば、眼軸長換算部255は、式(5)に従って、波長補正部254により波長補正が行われた眼軸長(光路長)を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長(物理長)に換算する。例えば、非特許文献1には、非接触式眼軸長測定装置により得られた光路長を超音波式眼軸長測定装置を用いて測定された眼軸長に変換する式として、式(5)が開示されている。 For example, the axial length conversion unit 255 converts the axial length (optical path length) that has been wavelength-corrected by the wavelength correction unit 254 into the axial length (physical length) obtained using an ultrasonic axial length measurement device according to formula (5). For example, Non-Patent Document 1 discloses formula (5) as a formula for converting the optical path length obtained by a non-contact axial length measurement device into the axial length measured using an ultrasonic axial length measurement device.

Figure 0007601643000004
Figure 0007601643000004

ここで、波長補正部254により眼軸長(光路長)OPL780が算出されたものとする。このとき、眼軸長換算部255は、波長補正部254により算出された眼軸長(光路長)OPL780を式(5)に代入することで、眼軸長(物理長)AL1を算出する。 Here, it is assumed that the axial length (optical path length) OPL 780 is calculated by the wavelength correction unit 254. At this time, the axial length conversion unit 255 calculates the axial length (physical length) AL1 by substituting the axial length (optical path length) OPL 780 calculated by the wavelength correction unit 254 into equation (5).

いくつかの実施形態では、眼軸長換算部255は、波長補正部254による式(4)に従った波長補正を行うことなく、眼軸長算出部253により算出された眼軸長(光路長)OPL840を式(6)に直接に代入することで、眼軸長(物理長)AL1を算出する。 In some embodiments, the axial length conversion unit 255 calculates the axial length (physical length) AL1 by directly substituting the axial length (optical path length) OPL 840 calculated by the axial length calculation unit 253 into equation (6) without performing wavelength correction according to equation (4) by the wavelength correction unit 254.

Figure 0007601643000005
Figure 0007601643000005

いくつかの実施形態では、主制御部211は、後述の表示部270を制御し、眼軸長算出部253により算出された眼軸長(光路長)、及び波長補正部254により補正された眼軸長(光路長)を同一画面に表示させる。いくつかの実施形態では、主制御部211は、後述の表示部270を制御し、眼軸長算出部253により算出された眼軸長(光路長)を式(2)に従って変換した眼軸長(物理長)、及び波長補正部254により補正された眼軸長(光路長)を式(3)に従って変換した眼軸長(物理長)を同一画面に表示させる。 In some embodiments, the main controller 211 controls the display unit 270 described below to display the axial length (optical path length) calculated by the axial length calculator 253 and the axial length (optical path length) corrected by the wavelength corrector 254 on the same screen. In some embodiments, the main controller 211 controls the display unit 270 described below to display the axial length (physical length) obtained by converting the axial length (optical path length) calculated by the axial length calculator 253 according to formula (2) and the axial length (physical length) obtained by converting the axial length (optical path length) corrected by the wavelength corrector 254 according to formula (3) on the same screen.

いくつかの実施形態では、主制御部211は、後述の表示部270を制御し、眼軸長算出部253により算出された眼軸長(光路長)を式(2)に従って変換した眼軸長(物理長)、波長補正部254により補正された眼軸長(光路長)を式(3)に従って変換した眼軸長(物理長)、及び眼軸長換算部255により求められた眼軸長(物理長)の少なくとも2つを同一画面に表示させる。 In some embodiments, the main control unit 211 controls the display unit 270 described below to display at least two of the axial length (physical length) calculated by the axial length calculation unit 253 and converted according to formula (2), the axial length (physical length) corrected by the wavelength correction unit 254 and converted according to formula (3), and the axial length (physical length) calculated by the axial length conversion unit 255 on the same screen.

実施形態によれば、波長が異なる測定光で眼軸長を測定する他の眼軸長測定装置の測定結果や、超音波式眼軸長測定装置の測定結果と高精度に比較することができるようになる。 According to the embodiment, it becomes possible to compare with high accuracy the measurement results of other axial length measurement devices that measure axial length using measurement light of different wavelengths, and with the measurement results of ultrasonic axial length measurement devices.

(表示部270、操作部280)
表示部270は、ユーザインターフェイス部として、制御部210による制御を受けて情報を表示する。表示部270は、図1などに示す表示部10を含む。
(Display section 270, operation section 280)
The display unit 270 serves as a user interface unit and displays information under the control of the control unit 210. The display unit 270 includes the display unit 10 shown in FIG.

操作部280は、ユーザインターフェイス部として、眼科装置を操作するために使用される。操作部280は、眼科装置に設けられた各種のハードウェアキー(ジョイスティック、ボタン、スイッチなど)を含む。また、操作部280は、タッチパネル式の表示画面10aに表示される各種のソフトウェアキー(ボタン、アイコン、メニューなど)を含んでもよい。 The operation unit 280 is used as a user interface unit to operate the ophthalmic device. The operation unit 280 includes various hardware keys (joystick, buttons, switches, etc.) provided on the ophthalmic device. The operation unit 280 may also include various software keys (buttons, icons, menus, etc.) displayed on the touch panel display screen 10a.

表示部270及び操作部280の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面10aがある。 At least a portion of the display unit 270 and the operation unit 280 may be configured as an integrated unit. A typical example of this is a touch panel type display screen 10a.

(通信部290)
通信部290は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部290は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置1000に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置(リーダ)や、記録媒体に情報を書き込む装置(ライタ)などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム(HIS)サーバ、DICOM(Digital Imaging and COmmunication in Medicine)サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。通信部290は、例えば処理部9に設けられていてもよい。
(Communication unit 290)
The communication unit 290 has a function for communicating with an external device (not shown). The communication unit 290 has a communication interface according to the connection form with the external device. An example of the external device is a spectacle lens measuring device for measuring the optical characteristics of a lens. The spectacle lens measuring device measures the degree of the spectacle lens worn by the subject, and inputs the measurement data to the ophthalmic device 1000. The external device may be any ophthalmic device, a device (reader) that reads information from a recording medium, or a device (writer) that writes information to a recording medium. Furthermore, the external device may be a hospital information system (HIS) server, a DICOM (Digital Imaging and Communication in Medicine) server, a doctor's terminal, a mobile terminal, a personal terminal, a cloud server, or the like. The communication unit 290 may be provided in, for example, the processing unit 9.

IS/OSライン又はブルッフ膜は、実施形態に係る「第1層領域」の一例である。RPE層は、実施形態に係る「第2層領域」の一例である。840nmは、実施形態に係る「第1波長」の一例である。780nmは、実施形態に係る「第2波長」の一例である。 The IS/OS line or Bruch's membrane is an example of a "first layer region" according to an embodiment. The RPE layer is an example of a "second layer region" according to an embodiment. 840 nm is an example of a "first wavelength" according to an embodiment. 780 nm is an example of a "second wavelength" according to an embodiment.

<動作例>
実施形態に係る眼科装置1000の動作について説明する。
<Example of operation>
The operation of the ophthalmologic apparatus 1000 according to the embodiment will be described.

図8に、眼科装置1000の動作の一例を示す。図8は、眼科装置1000の動作例のフロー図を表す。記憶部212には、図8に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部211は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図8に示す処理を実行する。 Figure 8 shows an example of the operation of the ophthalmic device 1000. Figure 8 shows a flow diagram of an example of the operation of the ophthalmic device 1000. The memory unit 212 stores a computer program for realizing the processing shown in Figure 8. The main control unit 211 operates according to this computer program to execute the processing shown in Figure 8.

(S1:アライメント)
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部280に対して所定の操作を行うことで、眼科装置1000は、アライメントを実行する。
(S1: Alignment)
With the subject's face fixed on a face receiving portion (not shown), the examiner performs a predetermined operation on the operation portion 280, whereby the ophthalmologic apparatus 1000 performs alignment.

具体的には、主制御部211は、2つの前眼部カメラ14を制御し、被検眼Eの前眼部の撮影を開始させる。2つの前眼部カメラ14により2つの撮影画像(前眼部像)が取得されると、主制御部211は、データ処理部250を制御して、2つの撮影画像のそれぞれを解析して瞳孔中心に相当する特徴位置を特定させ、2つの前眼部カメラ14の位置と特定された2つの撮影画像における特徴位置とに対して公知の三角法を適用することにより、瞳孔中心(被検眼E)の3次元位置を算出させる。主制御部211は、算出された被検眼Eの3次元位置に基づいて移動機構200を制御することにより、被検眼Eに対する光学系の位置合わせを実行する。具体的には、主制御部211は、算出された3次元位置に基づいて、OCT光学系8の光軸(対物レンズ51の光軸)を被検眼Eの軸に合わせるように、且つ、被検眼Eに対する光学系(対物レンズ51)の距離が所定の作動距離になるように移動機構200を制御する。ここで、作動距離とは、ワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた検査時における被検眼Eと光学系との間の距離を意味する。 Specifically, the main controller 211 controls the two anterior eye cameras 14 to start photographing the anterior eye of the subject's eye E. When the two photographed images (anterior eye images) are acquired by the two anterior eye cameras 14, the main controller 211 controls the data processor 250 to analyze each of the two photographed images to identify a characteristic position corresponding to the pupil center, and calculates the three-dimensional position of the pupil center (subject's eye E) by applying a known trigonometric method to the positions of the two anterior eye cameras 14 and the characteristic positions in the identified two photographed images. The main controller 211 performs alignment of the optical system with respect to the subject's eye E by controlling the moving mechanism 200 based on the calculated three-dimensional position of the subject's eye E. Specifically, the main controller 211 controls the moving mechanism 200 based on the calculated three-dimensional position so as to align the optical axis of the OCT optical system 8 (optical axis of the objective lens 51) with the axis of the subject's eye E, and so that the distance of the optical system (objective lens 51) with respect to the subject's eye E is a predetermined working distance. Here, the working distance is a preset value, also called the working distance, and refers to the distance between the subject's eye E and the optical system during examination using the optical system.

また、前眼部カメラ14が前眼部を異なる方向から並行して動画撮影する場合、例えば、次のような処理(1)および(2)を行うことにより、主制御部211は、被検眼Eの動きに対する光学系のトラッキングを実行することが可能である。
(1)データ処理部250が、2つの前眼部カメラ14による動画撮影において実質的に同時に得られた2つのフレームを逐次に解析することで、被検眼Eの3次元位置を逐次に求める。
(2)主制御部211が、データ処理部250により逐次に求められる被検眼Eの3次元位置に基づき移動機構200を逐次に制御することにより、光学系の位置を被検眼Eの動きに追従させる。
In addition, when the anterior eye camera 14 captures video of the anterior eye from different directions in parallel, the main control unit 211 can perform tracking of the optical system in response to the movement of the subject eye E, for example, by performing the following processes (1) and (2).
(1) The data processing unit 250 sequentially analyzes two frames obtained substantially simultaneously in moving image capture by the two anterior eye cameras 14, thereby sequentially determining the three-dimensional position of the subject's eye E.
(2) The main control unit 211 sequentially controls the moving mechanism 200 based on the three-dimensional position of the subject's eye E sequentially obtained by the data processing unit 250, thereby causing the position of the optical system to follow the movement of the subject's eye E.

また、主制御部211は、レフ測定光源61と、合焦レンズ74と、液晶パネル41をそれぞれの光軸に沿って原点の位置(例えば、0D(ディオプター)に相当する位置)に移動させる。 The main control unit 211 also moves the reflex measurement light source 61, the focusing lens 74, and the liquid crystal panel 41 along their respective optical axes to their origin positions (e.g., a position equivalent to 0D (diopter)).

(S2:眼底OCTスキャン)
次に、主制御部211は、眼底Efに対してOCTスキャンを実行するようにOCT光学系8等を制御する。
(S2: Fundus OCT scan)
Next, the main controller 211 controls the OCT optical system 8 and the like to perform an OCT scan of the fundus Ef.

具体的には、主制御部211は、移動機構87Dを制御することにより、眼底Efに測定光LSの焦点位置が設定されるように合焦レンズ87を光軸方向に移動させる。続いて、主制御部211は、光源ユニット101、アッテネータ105、偏波コントローラ106、ズーム光学系114、CCDイメージセンサ115、及び光路長変更部89を調整する。次に、主制御部211は、所望の固視位置に対応した表示位置に固視標を示すパターンを液晶パネル41に表示させる。それにより、所望の固視位置に被検眼Eを注視させる。主制御部211は、光スキャナー88を制御して眼底Efにおける所定のスキャン範囲に対して測定光LSでスキャンを実行させる。測定光LSのスキャンにより得られた干渉光LCの検出結果は、画像形成部240に送られる。 Specifically, the main controller 211 controls the moving mechanism 87D to move the focusing lens 87 in the optical axis direction so that the focal position of the measurement light LS is set on the fundus Ef. Next, the main controller 211 adjusts the light source unit 101, the attenuator 105, the polarization controller 106, the zoom optical system 114, the CCD image sensor 115, and the optical path length change unit 89. Next, the main controller 211 displays a pattern indicating a fixation target on the liquid crystal panel 41 at a display position corresponding to the desired fixation position. This allows the subject's eye E to gaze at the desired fixation position. The main controller 211 controls the optical scanner 88 to perform a scan with the measurement light LS over a predetermined scan range on the fundus Ef. The detection result of the interference light LC obtained by scanning the measurement light LS is sent to the image forming unit 240.

(S3:前眼部OCTスキャン)
続いて、主制御部211は、前眼部に対してOCTスキャンを実行するようにOCT光学系8等を制御する。
(S3: Anterior segment OCT scan)
Next, the main controller 211 controls the OCT optical system 8 and the like to perform an OCT scan on the anterior segment.

具体的には、主制御部211は、移動機構87Dを制御することにより、前眼部に測定光LSの焦点位置が設定されるように合焦レンズ87を光軸方向に移動させる。続いて、主制御部211は、光源ユニット101、アッテネータ105、偏波コントローラ106、ズーム光学系114、CCDイメージセンサ115、及び光路長変更部89を調整する。次に、主制御部211は、所望の固視位置に対応した表示位置に固視標を示すパターンを液晶パネル41に表示させる。主制御部211は、光スキャナー88を制御して前眼部における所定のスキャン範囲に対して測定光LSでスキャンを実行させる。測定光LSのスキャンにより得られた干渉光LCの検出結果は、画像形成部240に送られる。 Specifically, the main controller 211 controls the moving mechanism 87D to move the focusing lens 87 in the optical axis direction so that the focal position of the measurement light LS is set on the anterior segment. Next, the main controller 211 adjusts the light source unit 101, the attenuator 105, the polarization controller 106, the zoom optical system 114, the CCD image sensor 115, and the optical path length changer 89. Next, the main controller 211 causes the liquid crystal panel 41 to display a pattern showing a fixation target at a display position corresponding to the desired fixation position. The main controller 211 controls the optical scanner 88 to perform a scan with the measurement light LS over a predetermined scan range in the anterior segment. The detection result of the interference light LC obtained by scanning the measurement light LS is sent to the image forming unit 240.

(S4:IS/OSラインを特定)
次に、主制御部211は、層領域特定部251を制御して、ステップS2において取得された眼底Efにおける干渉光LCの検出結果(又は眼底EfのOCT画像)を解析させて、IS/OSラインに相当する深さ位置を特定させる。
(S4: Identify IS/OS line)
Next, the main control unit 211 controls the layer region identification unit 251 to analyze the detection results of the interference light LC at the fundus Ef acquired in step S2 (or the OCT image of the fundus Ef) and identify the depth position corresponding to the IS/OS line.

また、主制御部211は、層領域特定部251を制御して、ステップS3において取得された前眼部における干渉光LCの検出結果(又は前眼部のOCT画像)を解析させて、角膜頂点に相当する深さ位置を特定させる。 The main controller 211 also controls the layer region identification unit 251 to analyze the detection result of the interference light LC in the anterior segment (or the OCT image of the anterior segment) acquired in step S3, and to identify the depth position corresponding to the corneal apex.

(S5:オフセット値を加算)
続いて、主制御部211は、層領域位置算出部252を制御して、ステップS4において特定されたIS/OSラインの深さ位置に所定のオフセット値を加算させてRPE層に相当する深さ位置を特定させる。
(S5: Add offset value)
Next, the main controller 211 controls the layer region position calculator 252 to add a predetermined offset value to the depth position of the IS/OS line identified in step S4, thereby identifying the depth position corresponding to the RPE layer.

(S6:眼軸長を算出)
次に、主制御部211は、眼軸長算出部253を制御して、ステップS2において特定された角膜頂点に相当する深さ位置とステップS3において算出されたRPE層に相当する深さ位置との距離を眼軸長(光路長)OPL840として算出させる。
(S6: Calculate axial length)
Next, the main controller 211 controls the axial length calculator 253 to calculate the distance between the depth position corresponding to the corneal apex identified in step S2 and the depth position corresponding to the RPE layer calculated in step S3 as the axial length (optical path length) OPL 840 .

(S7:波長補正)
次に、主制御部211は、波長補正部254を制御して、ステップS6において算出された眼軸長OPL840を式(4)に従って波長補正を行うことにより、780nmにおける眼軸長OPL780に補正する。
(S7: Wavelength correction)
Next, the main controller 211 controls the wavelength corrector 254 to perform wavelength correction on the axial length OPL 840 calculated in step S6 according to equation (4), thereby correcting the axial length OPL 840 to the axial length OPL 780 at 780 nm.

(S8:眼軸長を換算)
次に、主制御部211は、眼軸長換算部255を制御して、ステップS7において補正された眼軸長OPL780を式(5)に代入して、超音波式眼軸長測定装置を用いて測定される眼軸長AL1に変換させる。
(S8: Convert axial length)
Next, the main controller 211 controls the axial length converter 255 to convert the axial length OPL 780 corrected in step S7 into equation (5) to convert it into the axial length AL1 measured using the ultrasonic axial length measurement device.

いくつかの実施形態では、主制御部211は、ステップS6~ステップS8の演算結果の少なくとも2つを表示部270の同一画面に表示させる。これにより、ステップS6~ステップS8の演算結果を容易に比較できるようになる。 In some embodiments, the main control unit 211 displays at least two of the calculation results of steps S6 to S8 on the same screen of the display unit 270. This makes it easy to compare the calculation results of steps S6 to S8.

以上で、眼科装置1000の動作は終了である(エンド)。 This completes the operation of the ophthalmic device 1000 (end).

なお、図8に示すフローにおいて、ステップS8は、ステップS6において算出された眼軸長OPL840を式(6)に代入することで、超音波式眼軸長測定装置を用いて測定される眼軸長AL1に変換させてもよい。 In the flow shown in FIG. 8, step S8 may convert the axial length OPL 840 calculated in step S6 into the equation (6) to the axial length AL1 measured using an ultrasonic axial length measurement device.

[作用]
実施形態に係る眼科装置、眼科装置の制御方法、及びプログラムについて説明する。
[Action]
An ophthalmic apparatus, a control method for the ophthalmic apparatus, and a program according to an embodiment will be described.

実施形態に係る眼科装置(1000)は、層領域特定部(251)と、層領域位置算出部(252)とを含む。層領域特定部は、被検眼(E)の眼底(Ef)に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、眼底における第1層領域に相当する第1深さ位置(zf)を特定する。層領域位置算出部は、第1深さ位置に所定のオフセット値(dt)を加算して眼底における第2層領域に相当する第2深さ位置(zf+dt)を算出する。 The ophthalmic device (1000) according to the embodiment includes a layer region identification unit (251) and a layer region position calculation unit (252). The layer region identification unit identifies a first depth position (zf) corresponding to a first layer region in the fundus based on the detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the fundus (Ef) of the subject eye (E). The layer region position calculation unit calculates a second depth position (zf+dt) corresponding to a second layer region in the fundus by adding a predetermined offset value (dt) to the first depth position.

このような態様によれば、第2層領域に相当する干渉光(干渉信号)の強度のピークが、他の層領域に相当する干渉光の強度のピークに近接する等、第2層領域の特定に時間を要したり特定に失敗したり誤検出したりする場合でも、短時間で正確に第2層領域の深さ位置を特定することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the second layer region, or if the identification fails or is erroneously detected, for example, because the intensity peak of the interference light (interference signal) corresponding to the second layer region is close to the intensity peak of the interference light corresponding to another layer region, it is possible to accurately identify the depth position of the second layer region in a short time.

いくつかの実施形態では、第1層領域は、IS/OSラインであり、第2層領域は、網膜色素上皮層である。 In some embodiments, the first layer region is the IS/OS line and the second layer region is the retinal pigment epithelium layer.

このような態様によれば、網膜色素上皮層の特定に時間を要したり、特定に失敗したり、誤検出したりする場合でも、短時間で正確に網膜色素上皮層の深さ位置を特定することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the retinal pigment epithelium layer, or if identification fails or there is a false detection, it is possible to accurately identify the depth position of the retinal pigment epithelium layer in a short time.

いくつかの実施形態では、層領域位置算出部は、被検眼に応じて異なるオフセット値を第1深さ位置に加算する。 In some embodiments, the layer region position calculation unit adds a different offset value to the first depth position depending on the test eye.

このような態様によれば、被検眼に応じてオフセット値を変更するようにしたので、第2層領域の深さ位置をより正確に特定することができるようになる。 According to this aspect, the offset value is changed depending on the subject's eye, so that the depth position of the second layer region can be identified more accurately.

いくつかの実施形態では、層領域特定部は、干渉光の検出結果に基づいて、第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置(za)とを特定する。眼科装置は、第3深さ位置と第2深さ位置とに基づいて被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出部(253)を含む。 In some embodiments, the layer region identifying unit identifies the first depth position and a third depth position (za) corresponding to the corneal apex based on the detection result of the interference light. The ophthalmic apparatus includes an axial length calculating unit (253) that calculates the axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.

このような態様によれば、第2層領域の特定に時間を要したり特定に失敗したり誤検出したりする場合でも、短時間で正確に第2層領域の深さ位置を特定することができるため、眼軸長をより高精度に算出することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the second layer region, or if identification fails or there is a false detection, the depth position of the second layer region can be identified accurately in a short time, making it possible to calculate the axial length with higher accuracy.

いくつかの実施形態では、OCTスキャンは、第1波長(840nm)を測定波長とする測定光(LS)を被検眼に照射することにより実行される。眼科装置は、眼軸長算出部により算出された眼軸長に対して波長補正を行うことにより、第1波長と異なる第2波長(780nm)における眼軸長に補正する波長補正部(254)を含む。 In some embodiments, the OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light (LS) having a first wavelength (840 nm) as a measurement wavelength. The ophthalmic device includes a wavelength correction unit (254) that performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit to correct the axial length to a second wavelength (780 nm) different from the first wavelength.

このような態様によれば、互いに異なる測定波長で得られた眼軸長の測定値の波長依存性にかかわらず、眼軸長の測定値を比較することが可能になる。 This aspect makes it possible to compare axial length measurements obtained at different measurement wavelengths, regardless of the wavelength dependence of the axial length measurements.

実施形態に係る眼科装置(1000)は、眼軸長算出部(253)と、波長補正部(254)とを含む。眼軸長算出部は、第1波長(840nm)を測定波長とする測定光(LS)を用いて被検眼(E)に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて眼軸長を算出する。波長補正部は、眼軸長算出部により算出された眼軸長に対して波長補正を行うことにより、第1波長と異なる第2波長(780nm)における眼軸長に補正する。 The ophthalmic device (1000) according to the embodiment includes an axial length calculation unit (253) and a wavelength correction unit (254). The axial length calculation unit calculates the axial length based on the detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the test eye (E) using measurement light (LS) having a first wavelength (840 nm) as a measurement wavelength. The wavelength correction unit performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit, thereby correcting the axial length to a second wavelength (780 nm) different from the first wavelength.

このような態様によれば、互いに異なる測定波長で得られた眼軸長の測定値の波長依存性にかかわらず、眼軸長の測定値を比較することが可能になる。 This aspect makes it possible to compare axial length measurements obtained at different measurement wavelengths, regardless of the wavelength dependence of the axial length measurements.

いくつかの実施形態では、波長補正部は、第2波長における人眼の屈折率(n780)に対する第1波長における人眼の屈折率(n840)の比を、眼軸長算出部により算出された眼軸長に乗算することにより第2波長における眼軸長に補正する。 In some embodiments, the wavelength correction unit corrects the axial length at the second wavelength by multiplying the axial length calculated by the axial length calculation unit by a ratio of the refractive index of the human eye at the first wavelength (n 840 ) to the refractive index of the human eye at the second wavelength (n 780 ).

このような態様によれば、簡素な処理で、所望の測定波長で得られた眼軸長に補正することが可能になる。 This aspect makes it possible to correct the axial length to that obtained at the desired measurement wavelength through simple processing.

いくつかの実施形態では、第2波長成分は、780nmである。 In some embodiments, the second wavelength component is 780 nm.

このような態様によれば、780nmを測定波長とする非接触式眼軸長測定装置により得られた眼軸長の測定値と比較することが可能になる。 This aspect makes it possible to compare the measured axial length with that obtained using a non-contact axial length measuring device that uses a measurement wavelength of 780 nm.

いくつかの実施形態は、波長補正部により補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算部(255)を含む。 Some embodiments include an axial length conversion unit (255) that converts the axial length corrected by the wavelength correction unit into an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

このような態様によれば、眼科装置により得られた眼軸長の測定値と超音波式眼軸長測定装置の測定結果とを高精度に比較することができるようになる。 This aspect makes it possible to compare the axial length measurement obtained by the ophthalmic device with the measurement results of the ultrasonic axial length measurement device with high accuracy.

いくつかの実施形態では、眼軸長換算部は、波長補正部により補正された眼軸長としての光路長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長としての物理長に換算する。 In some embodiments, the axial length conversion unit converts the optical path length as the axial length corrected by the wavelength correction unit into a physical length as the axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

このような態様によれば、簡素な処理で、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長の測定に換算することが可能になる。 According to this aspect, it is possible to convert the measurement of axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device with simple processing.

いくつかの実施形態は、光源(光源ユニット101)からの光(L0)を測定光(LS)と参照光(LR)とに分割し、測定光を被検眼に照射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光(LC)を検出するOCT光学系(8)を含む。 Some embodiments include an OCT optical system (8) that splits light (L0) from a light source (light source unit 101) into measurement light (LS) and reference light (LR), irradiates the test eye with the measurement light, and detects interference light (LC) between the return light of the measurement light from the test eye and the reference light that has passed through the reference light path.

このような態様によれば、被検眼に対してOCTを実行し、眼底における第2層領域の深さ位置を短時間で正確に特定することが可能な眼科装置を提供することができるようになる。 According to this aspect, it is possible to provide an ophthalmic device that can perform OCT on the subject's eye and accurately identify the depth position of the second layer region in the fundus in a short period of time.

実施形態に係る眼科装置(1000)の制御方法は、層領域特定ステップと、層領域位置算出ステップとを含む。層領域特定ステップは、被検眼(E)の眼底(Ef)に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光(LC)の検出結果に基づいて、眼底における第1層領域に相当する第1深さ位置(zf)を特定する。層領域位置算出ステップは、第1深さ位置に所定のオフセット値(dt)を加算して眼底における第2層領域に相当する第2深さ位置(zf+dt)を算出する。 The control method for the ophthalmic device (1000) according to the embodiment includes a layer region identification step and a layer region position calculation step. The layer region identification step identifies a first depth position (zf) corresponding to a first layer region in the fundus based on the detection result of interference light (LC) obtained by performing an OCT scan on the fundus (Ef) of the subject eye (E). The layer region position calculation step calculates a second depth position (zf+dt) corresponding to a second layer region in the fundus by adding a predetermined offset value (dt) to the first depth position.

このような態様によれば、第2層領域に相当する干渉光(干渉信号)の強度のピークが、他の層領域に相当する干渉光の強度のピークに近接する等、第2層領域の特定に時間を要したり特定に失敗したり誤検出したりする場合でも、短時間で正確に第2層領域の深さ位置を特定することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the second layer region, or if the identification fails or is erroneously detected, for example, because the intensity peak of the interference light (interference signal) corresponding to the second layer region is close to the intensity peak of the interference light corresponding to another layer region, it is possible to accurately identify the depth position of the second layer region in a short time.

いくつかの実施形態では、第1層領域は、IS/OSラインであり、第2層領域は、網膜色素上皮層である。 In some embodiments, the first layer region is the IS/OS line and the second layer region is the retinal pigment epithelium layer.

このような態様によれば、網膜色素上皮層の特定に時間を要したり、特定に失敗したり、誤検出したりする場合でも、短時間で正確に網膜色素上皮層の深さ位置を特定することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the retinal pigment epithelium layer, or if identification fails or there is a false detection, it is possible to accurately identify the depth position of the retinal pigment epithelium layer in a short time.

いくつかの実施形態では、層領域特定ステップは、干渉光の検出結果に基づいて、第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置(za)とを特定する。眼科装置の制御方法は、第3深さ位置と第2深さ位置とに基づいて被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出ステップを含む。 In some embodiments, the layer region identifying step identifies a first depth position and a third depth position (za) corresponding to the corneal apex based on the detection result of the interference light. The control method for an ophthalmic apparatus includes an axial length calculating step of calculating the axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.

このような態様によれば、第2層領域の特定に時間を要したり特定に失敗したり誤検出したりする場合でも、短時間で正確に第2層領域の深さ位置を特定することができるため、眼軸長をより高精度に算出することが可能になる。 According to this aspect, even if it takes a long time to identify the second layer region, or if identification fails or there is a false detection, the depth position of the second layer region can be accurately identified in a short time, making it possible to calculate the axial length with higher accuracy.

いくつかの実施形態では、OCTスキャンは、第1波長(840nm)を測定波長とする測定光を被検眼に照射することにより実行される。眼科装置の制御方法は、眼軸長算出ステップにおいて算出された眼軸長に対して波長補正を行うことにより、第1波長と異なる第2波長(780nm)における眼軸長に補正する波長補正ステップを含む。 In some embodiments, the OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light having a first wavelength (840 nm) as the measurement wavelength. The control method for the ophthalmic device includes a wavelength correction step of correcting the axial length calculated in the axial length calculation step to a wavelength at a second wavelength (780 nm) different from the first wavelength.

このような態様によれば、互いに異なる測定波長で得られた眼軸長の測定値の波長依存性にかかわらず、眼軸長の測定値を比較することが可能になる。 This aspect makes it possible to compare axial length measurements obtained at different measurement wavelengths, regardless of the wavelength dependence of the axial length measurements.

実施形態に係る眼科装置(1000)の制御方法は、眼軸長算出ステップと、波長補正ステップとを含む。眼軸長算出ステップは、第1波長(840nm)を測定波長とする測定光(LS)を用いて被検眼(E)に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて眼軸長を算出する。波長補正ステップは、眼軸長算出ステップにおいて算出された眼軸長に対して波長補正を行うことにより、第1波長と異なる第2波長(780nm)における眼軸長に補正する。 The control method for the ophthalmic device (1000) according to the embodiment includes an axial length calculation step and a wavelength correction step. The axial length calculation step calculates the axial length based on the detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the subject's eye (E) using measurement light (LS) having a first wavelength (840 nm) as a measurement wavelength. The wavelength correction step performs wavelength correction on the axial length calculated in the axial length calculation step, thereby correcting the axial length to a second wavelength (780 nm) different from the first wavelength.

このような態様によれば、互いに異なる測定波長で得られた眼軸長の測定値の波長依存性にかかわらず、眼軸長の測定値を比較することが可能になる。 This aspect makes it possible to compare axial length measurements obtained at different measurement wavelengths, regardless of the wavelength dependence of the axial length measurements.

いくつかの実施形態は、波長補正ステップにおいて補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算ステップを含む。 Some embodiments include an axial length conversion step in which the axial length corrected in the wavelength correction step is converted to an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.

このような態様によれば、眼科装置により得られた眼軸長の測定値と超音波式眼軸長測定装置の測定結果とを高精度に比較することができるようになる。 This aspect makes it possible to compare the axial length measurement obtained by the ophthalmic device with the measurement results of the ultrasonic axial length measurement device with high accuracy.

実施形態に係るプログラムは、コンピュータに、上記のいずれかに記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させる。 The program according to the embodiment causes a computer to execute each step of the control method for an ophthalmic device described above.

このような態様によれば、第2層領域に相当する干渉光(干渉信号)の強度のピークが、他の層領域に相当する干渉光の強度のピークに近接する等、第2層領域の特定に時間を要したり特定に失敗したり誤検出したりする場合でも、短時間で正確に第2層領域の深さ位置を特定することが可能なプログラムを提供することができるようになる。 According to this aspect, it is possible to provide a program that can accurately identify the depth position of the second layer region in a short time even when it takes a long time to identify the second layer region, or when identification fails or there is a false detection, for example, when the intensity peak of the interference light (interference signal) corresponding to the second layer region is close to the intensity peak of the interference light corresponding to another layer region.

<その他>
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
<Other>
The embodiment described above is merely one example for carrying out the present invention. Anyone who wishes to carry out the present invention may make any modifications, omissions, additions, etc. within the scope of the gist of the present invention.

1 アライメント系
3 ケラト測定系
4 固視投影系
5 前眼部観察系
6 レフ測定投射系
7 レフ測定受光系
8 OCT光学系
9 処理部
51 対物レンズ
88 光スキャナー
210 制御部
211 主制御部
250 データ処理部
251 層領域特定部
252 層領域位置算出部
253 眼軸長算出部
254 波長補正部
255 眼軸長換算部
1000 眼科装置
Reference Signs List 1 Alignment system 3 Keratometry system 4 Fixation projection system 5 Anterior segment observation system 6 Refractive measurement projection system 7 Refractive measurement light receiving system 8 OCT optical system 9 Processing unit 51 Objective lens 88 Optical scanner 210 Control unit 211 Main control unit 250 Data processing unit 251 Layer region identification unit 252 Layer region position calculation unit 253 Axial length calculation unit 254 Wavelength correction unit 255 Axial length conversion unit 1000 Ophthalmic device

Claims (14)

被検眼の眼底に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、前記眼底におけるIS/OSライン又はブルッフ膜に相当する第1深さ位置を特定する層領域特定部と、
前記第1深さ位置に所定のオフセット値を加算して前記眼底における網膜色素上皮層に相当する第2深さ位置を算出する層領域位置算出部と、
を含む、眼科装置。
a layer region specifying unit that specifies a first depth position corresponding to an IS/OS line or a Bruch's membrane in the fundus based on a detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the fundus of the test eye;
a layer region position calculation unit that calculates a second depth position corresponding to a retinal pigment epithelium layer of the fundus by adding a predetermined offset value to the first depth position;
13. An ophthalmic device comprising:
前記層領域位置算出部は、前記被検眼に応じて異なるオフセット値を前記第1深さ位置に加算する
ことを特徴とする請求項1記載の眼科装置。
The ophthalmic apparatus according to claim 1 , wherein the layer region position calculation unit adds a different offset value to the first depth position depending on the subject's eye.
前記層領域特定部は、前記干渉光の検出結果に基づいて、前記第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置とを特定し、
前記第3深さ位置と前記第2深さ位置とに基づいて前記被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出部を含む
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の眼科装置。
the layer region specifying unit specifies the first depth position and a third depth position corresponding to a corneal apex based on a detection result of the interference light,
The ophthalmologic apparatus according to claim 1 or 2, further comprising an axial length calculation unit that calculates an axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.
前記OCTスキャンは、第1波長を測定波長とする測定光を前記被検眼に照射することにより実行され、
前記眼軸長算出部により算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正部を含む
ことを特徴とする請求項3に記載の眼科装置。
The OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength,
The ophthalmic apparatus according to claim 3 , further comprising a wavelength correction unit that performs wavelength correction on the axial length calculated by the axial length calculation unit to correct the axial length to a second wavelength different from the first wavelength.
前記波長補正部は、前記第2波長における人眼の屈折率に対する前記第1波長における人眼の屈折率の比を、前記眼軸長算出部により算出された前記眼軸長に乗算することにより前記第2波長における眼軸長に補正する
ことを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。
The ophthalmic device according to claim 4, wherein the wavelength correction unit corrects the axial length at the second wavelength by multiplying the axial length calculated by the axial length calculation unit by a ratio of the refractive index of the human eye at the first wavelength to the refractive index of the human eye at the second wavelength .
前記第2波長は、780nmである
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の眼科装置。
The ophthalmic apparatus according to claim 4 or 5 , wherein the second wavelength is 780 nm.
前記波長補正部により補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算部を含む
ことを特徴とする請求項4~請求項6のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmic device according to any one of claims 4 to 6 , further comprising an axial length conversion unit that converts the axial length corrected by the wavelength correction unit into an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.
前記眼軸長換算部は、前記波長補正部により補正された眼軸長としての光路長を、前記超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長としての物理長に換算する
ことを特徴とする請求項7に記載の眼科装置。
The ophthalmic apparatus according to claim 7 , wherein the axial length conversion unit converts the optical path length as the axial length corrected by the wavelength correction unit into a physical length as the axial length obtained by using the ultrasonic axial length measurement device.
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記被検眼に照射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と参照光路を経由した前記参照光との前記干渉光を検出するOCT光学系を含む
ことを特徴とする請求項1~請求項8のいずれか一項に記載の眼科装置。
The ophthalmic device according to any one of claims 1 to 8, further comprising an OCT optical system that splits light from a light source into measurement light and reference light, irradiates the measurement light onto the subject's eye, and detects the interference light between return light of the measurement light from the subject's eye and the reference light that has passed through a reference light path .
被検眼の眼底に対してOCTスキャンを実行することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて、前記眼底におけるIS/OSライン又はブルッフ膜に相当する第1深さ位置を特定する層領域特定ステップと、
前記第1深さ位置に所定のオフセット値を加算して前記眼底における網膜色素上皮層に相当する第2深さ位置を算出する層領域位置算出ステップと、
を含む、眼科装置の制御方法。
a layer region identifying step of identifying a first depth position corresponding to the IS/OS line or Bruch's membrane in the fundus based on a detection result of interference light obtained by performing an OCT scan on the fundus of the test eye;
a layer region position calculation step of calculating a second depth position corresponding to a retinal pigment epithelium layer in the fundus by adding a predetermined offset value to the first depth position;
A method for controlling an ophthalmic device, comprising:
前記層領域特定ステップは、前記干渉光の検出結果に基づいて、前記第1深さ位置と角膜頂点に相当する第3深さ位置とを特定し、
前記第3深さ位置と前記第2深さ位置とに基づいて前記被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出ステップを含む
ことを特徴とする請求項10に記載の眼科装置の制御方法。
the layer region specifying step includes specifying the first depth position and a third depth position corresponding to a corneal apex based on a detection result of the interference light;
The control method for an ophthalmologic apparatus according to claim 10, further comprising: an axial length calculating step of calculating an axial length of the subject's eye based on the third depth position and the second depth position.
前記OCTスキャンは、第1波長を測定波長とする測定光を前記被検眼に照射することにより実行され、
前記眼軸長算出ステップにおいて算出された前記眼軸長に対して波長補正を行うことにより、前記第1波長と異なる第2波長における眼軸長に補正する波長補正ステップを含む
ことを特徴とする請求項11に記載の眼科装置の制御方法。
The OCT scan is performed by irradiating the test eye with measurement light having a first wavelength as a measurement wavelength,
The method for controlling an ophthalmic apparatus according to claim 11, further comprising a wavelength correction step of performing wavelength correction on the axial length calculated in the axial length calculation step to correct the axial length to a second wavelength different from the first wavelength.
前記波長補正ステップにおいて補正された眼軸長を、超音波式眼軸長測定装置を用いて得られる眼軸長に換算する眼軸長換算ステップを含む
ことを特徴とする請求項12に記載の眼科装置の制御方法。
13. The method of controlling an ophthalmic apparatus according to claim 12 , further comprising an axial length conversion step of converting the axial length corrected in the wavelength correction step into an axial length obtained using an ultrasonic axial length measurement device.
コンピュータに、請求項10~請求項13のいずれか一項に記載の眼科装置の制御方法の各ステップを実行させることを特徴とするプログラム。 A program for causing a computer to execute each step of the method for controlling an ophthalmic apparatus according to any one of claims 10 to 13 .
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