JP7528939B2 - 検査装置、検査方法、位置決め方法、およびプログラム - Google Patents
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Description
を含むプログラムが提供される。
図1は、本実施形態の検査装置1の全体構成を示す図である。検査装置1は、検査対象物7の外観検査を行う装置であり、主に、供給機構2、把持機構3、測定機構4、排出機構5、および制御装置6から構成される。
Device)イメージセンサやCMOS(Complementary Metal Oxide
Semiconductor)イメージセンサ等の撮像センサが搭載されている。照明44は、例えば白色LEDである。検査対象物7の撮像時に、照明44の点灯が切り替えられ、照明角度の異なる2次元画像を取得することができる。なお、カメラ43は複数配置されてもよい。
なお、カメラ43や3Dセンサ45は、本開示における測定センサの一例である。
以下、制御装置6のハードウェア構成(図4)および機能構成(図5)について説明する。
図4は、制御装置6のハードウェア構成を示すブロック図である。図に示すように、制御装置6は、制御部61、記憶部62、通信部63、入力部64、モニタ65、周辺機器I/F部66、UPS67等が、バス69を介して接続される汎用のコンピュータで実現される。但し、これに限ることなく、用途、目的に応じて様々な構成を採ることが可能である。
バス69は、各装置間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
図5は、制御装置6の機能構成を示すブロック図である。図に示すように、制御装置6は、コンベア制御部11、ワーク認識部12、ロボット制御部13、動作設定部14、測定部15、検査部16、およびデータ表示部17の各機能から構成される。
exploring Random Tree)法などの経路計画法(Motion Planning)を用いて、干渉を回避した把持用ロボットアーム31および測定用ロボットアーム41の軌道を生成する。
図5に示すように、測定部15は、第1測定部151および第2測定部152から構成される。
図5に示すように、検査部16は、第1検査部161および第2検査部162から構成される。
Learning)により学習させた深層学習器72を用いて、欠陥候補71を抽出する。深層学習器72は、欠陥の種類ごとに用意された欠陥あり/なしの良否画像データ(学習データ)に基づき学習させた識別器であり、あらかじめ記憶部62に記憶されている。深層学習手法としては、SegNetやResNet、あるいはSegNetとResNetを併用した手法などが利用できるが、これら手法に限定されない。
図7~図10を参照して、検査に先立ち、検査対象物7の形状データ8に対して検査対象とする検査部位80、および検査仕様9(欠陥種類91、欠陥仕様92)を設定する処理を説明する。
制御装置6の制御部61は、まず、検査対象物7の形状データ8を記憶部62から読込み、モニタ65に表示する(ステップS1)。
図8は、検査対象物7(継手)の形状データ8の例を示す。
図11~図15を参照して、検査対象物7の測定位置10を算出する処理を説明する。ここで算出された測定位置10に基づいて、把持用ロボットアーム31および測定用ロボットアーム41の軌道が生成される。
まず、制御装置6の制御部61(幾何生成部142a)は、検査対象物7の形状データ8を包含し、かつ、形状データ8の各方向を規定可能な幾何形状81を生成する(ステップS11)。例えば、図12に示すような形状データ8を包含する多面体81や、図13に示すような形状データ8を包含する球面グリッド81などを生成する。
図17~図23を参照して、検査装置1の動作について説明する。
全ての検査が終了していない場合(ステップS26;No)、制御部61は、次の測定・検査を行うにあたり、検査対象物7の把持用ロボットアーム31a、31b間での持ち替えが必要か否かを判断する(ステップS27)。
2 :供給機構
2D :測定用ロボットアーム
3 :把持機構
4 :測定機構
5 :排出機構
6 :制御装置
7 :検査対象物
8 :形状データ
9 :検査仕様
10 :測定位置
11 :コンベア制御部
12 :ワーク認識部
13 :ロボット制御部
14 :動作設定部
15 :測定部
16 :検査部
17 :データ表示部
21 :コンベア
31 :把持用ロボットアーム
31a :把持用ロボットアーム
31b :把持用ロボットアーム
41 :測定用ロボットアーム
42 :2D光学系
43 :カメラ
44 :照明
45 :3Dセンサ
51 :コンベア
71 :欠陥候補
72 :深層学習器
80 :検査部位
80a :検査部位
80b :検査部位
81 :幾何形状
81 :球面グリッド
81 :多面体
82 :面
83 :中心
84 :面法線
91 :欠陥種類
92 :欠陥仕様
93 :照明条件
94 :第1測定データ
95 :第2測定データ
96 :検査結果
100 :測定検査テーブル
101 :測定候補位置
101a :測定候補位置
101b :測定候補位置
101c :測定候補位置
140 :検査部位設定部
141 :検査仕様設定部
142 :測定位置算出部
142a :幾何生成部
142b :測定候補位置設定部
142c :測定可能領域算出部
142d :測定位置選定部
143 :軌道生成部
151 :第1測定部
152 :第2測定部
161 :第1検査部
162 :第2検査部
311 :アーム部
311a :アーム部
311b :アーム部
312 :ハンド部
312a :ハンド部
312b :ハンド部
D1 :2次元画像データ
D2 :3次元形状データ
P :測定可能領域
P1 :測定可能領域
P2 :測定可能領域
P3 :測定可能領域
R :統合領域
R1 :統合領域
R2 :統合領域
Claims (16)
- 検査対象物を把持する把持用ロボットアームと、測定センサと、
前記検査対象物の形状データに検査対象とする検査部位を設定する検査部位設定部と、
前記検査対象物の形状データに基づいて前記検査対象物に対する前記測定センサの測定位置を算出する測定位置算出部と、
前記測定位置に基づいて前記把持用ロボットアームの軌道を生成する軌道生成部と、
前記軌道に基づいて前記把持用ロボットアームの動作を制御し、前記検査対象物の位置決めを行うロボット制御部と、
位置決め後、前記測定センサにより前記検査対象物の測定を行う測定部と、
測定されたデータに基づいて前記検査対象物の検査を行う検査部と、
を備え、
前記測定位置算出部は、
前記形状データを包含し、かつ、前記形状データの各方向を規定可能な幾何形状を生成する幾何生成部と、
前記幾何形状により規定される各方向ごとに複数の測定候補位置を設定する測定候補位置設定部と、
設定された各測定候補位置について、前記形状データにおける各測定可能領域を算出する測定可能領域算出部と、
算出された各測定可能領域に基づいて、全ての前記検査部位が測定されるように、前記測定候補位置の中から、測定位置を選定する測定位置選定部と、
を含む
検査装置。 - 前記測定センサは、測定用ロボットアームに設けられ、
前記軌道生成部は、経路計画法を用いて、干渉を回避した前記把持用ロボットアームおよび前記測定用ロボットアームの軌道を生成し、
前記ロボット制御部は、前記軌道に基づいて前記把持用ロボットアームおよび前記測定用ロボットアームの動作を制御し、前記検査対象物および前記測定センサの位置決めを行う
請求項1に記載の検査装置。 - 前記幾何生成部は、前記形状データを包含する多面体を生成し、
前記測定候補位置設定部は、前記多面体の各面の法線方向上に前記測定候補位置を設定する
請求項1または請求項2に記載の検査装置。 - 前記測定位置選定部は、全ての検査部位が測定され、かつ、測定数が最小となるように測定位置を選定する
請求項1から請求項3のいずれかに記載の検査装置。 - 前記検査部位設定部により設定された検査部位に対して検査対象とする欠陥種類を設定する検査仕様設定部と、を更に備える
請求項1から請求項4のいずれかに記載の検査装置。 - 前記検査仕様設定部は、前記欠陥種類の欠陥の有害/無害を判定するための基準である限度基準をさらに設定し、
前記検査部は、測定されたデータと前記欠陥種類の限度基準とを照合することで、前記検査対象物の検査を行う
請求項5に記載の検査装置。 - 前記測定部は、前記欠陥種類に応じた照明条件により前記検査対象物の測定を行う
請求項5または請求項6に記載の検査装置。 - 前記測定部は、
前記検査対象物の2次元画像を測定する第1測定部と、
前記検査対象物の3次元形状を測定する第2測定部と、を含み、
前記検査部は、
前記第1測定部により測定された2次元画像に基づいて、前記検査対象物の欠陥候補を抽出する第1検査部と、
前記第2測定部により測定された3次元形状に基づいて、抽出された前記欠陥候補の形状検査を行う第2検査部と、を含む
請求項1から請求項7のいずれかに記載の検査装置。 - 前記検査部の検査結果を表示する表示部と、を更に備える
請求項1から請求項8のいずれかに記載の検査装置。 - 前記ロボット制御部は、前記把持用ロボットアームが把持する前記検査対象物を、他の把持用ロボットアームに把持させるように制御する
請求項1から請求項9のいずれかに記載の検査装置。 - 前記測定位置選定部は、ある測定候補位置を測定位置として選定する際に、当該測定候補位置の測定可能領域の全領域が、既に選定された測定位置の測定可能領域を統合した統合領域に含まれる場合には、当該測定候補位置は測定位置として選定しない
ことを特徴とする請求項1から請求項10のいずれかに記載の検査装置。 - 前記測定センサはカメラであり、
半球状に配置された複数の照明と、半球の頂点上方に配置され、球中心方向を向く前記カメラと、から構成される光学系を備え、
欠陥種類ごとに、前記半球状に配置された複数の照明のうち、どの照明を点灯させるかの照明条件が設定されており、
前記測定部は、ある測定位置に位置決め後、当該測定位置で測定する欠陥種類に応じた前記照明条件に基づき、前記照明を点灯したうえで、前記カメラによる測定を行う
ことを特徴とする請求項1から請求項11のいずれかに記載の検査装置。 - 欠陥種類ごとに用意された欠陥あり/なしの良否画像データに基づき学習させた深層学習器が記憶部に記憶されており、
前記測定部は、前記検査対象物の2次元画像を測定し、
前記検査部は、前記深層学習器を用いて、前記2次元画像から欠陥候補を抽出する
ことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれかに記載の検査装置。 - コンピュータが、
検査対象物の形状データに検査対象とする検査部位を設定するステップと、
前記検査対象物の形状データに基づいて前記検査対象物に対する測定センサの測定位置を算出するステップと、
前記測定位置に基づいて前記検査対象物を把持する把持用ロボットアームの軌道を生成するステップと、
前記軌道に基づいて前記把持用ロボットアームの動作を制御し、前記検査対象物の位置決めを行うステップと、
位置決め後、前記測定センサにより前記検査対象物の測定を行うステップと、
測定されたデータに基づいて前記検査対象物の検査を行うステップと、
を実行し、
前記測定位置を算出するステップは、
前記形状データを包含し、かつ、前記形状データの各方向を規定可能な幾何形状を生成するステップと、
前記幾何形状により規定される各方向ごとに複数の測定候補位置を設定するステップと、
設定された各測定候補位置について、前記形状データにおける各測定可能領域を算出するステップと、
算出された各測定可能領域に基づいて、全ての前記検査部位が測定されるように、前記測定候補位置の中から、測定位置を選定するステップと、
を実行する
検査方法。 - コンピュータを、
検査対象物の形状データに検査対象とする検査部位を設定する検査部位設定部、
検査対象物の形状データに基づいて前記検査対象物に対する測定センサの測定位置を算出する測定位置算出部、
前記測定位置に基づいて前記検査対象物を把持する把持用ロボットアームの軌道を生成する軌道生成部、
前記軌道に基づいて前記把持用ロボットアームの動作を制御し、前記検査対象物の位置決めを行うロボット制御部、
位置決め後、前記測定センサにより前記検査対象物の測定を行う測定部、
測定されたデータに基づいて前記検査対象物の検査を行う検査部、
として機能させ、
前記測定位置算出部は、
前記形状データを包含し、かつ、前記形状データの各方向を規定可能な幾何形状を生成する幾何生成部と、
前記幾何形状により規定される各方向ごとに複数の測定候補位置を設定する測定候補位置設定部と、
設定された各測定候補位置について、前記形状データにおける各測定可能領域を算出する測定可能領域算出部と、
算出された各測定可能領域に基づいて、全ての前記検査部位が測定されるように、前記測定候補位置の中から、測定位置を選定する測定位置選定部と、
を含む
プログラム。 - コンピュータが、
検査対象物の形状データに検査対象とする検査部位を設定するステップと、
前記検査対象物の形状データに基づいて前記検査対象物に対する測定位置を算出するステップと、
前記測定位置に基づいて前記検査対象物を把持する把持用ロボットアームの軌道を生成するステップと、
前記軌道に基づいて前記把持用ロボットアームの動作を制御し、前記検査対象物の位置決めを行うステップと、
を実行し、
前記測定位置を算出するステップは、
前記形状データを包含し、かつ、前記形状データの各方向を規定可能な幾何形状を生成するステップと、
前記幾何形状により規定される各方向ごとに複数の測定候補位置を設定するステップと、
設定された各測定候補位置について、前記形状データにおける各測定可能領域を算出するステップと、
算出された各測定可能領域に基づいて、全ての前記検査部位が測定されるように、前記測定候補位置の中から、測定位置を選定するステップと、
を実行する
位置決め方法。
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