JP7497413B1 - Clock recovery circuit, error rate measurement device, and error rate measurement method - Google Patents

Clock recovery circuit, error rate measurement device, and error rate measurement method Download PDF

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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

Figure 0007497413000001

【課題】周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からクロックを再生することができるクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法を提供する。
【解決手段】クロックリカバリ回路1は、SSC変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部10と、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号のSSC変調クロックをリファレンスクロックに同期して再生するクロックリカバリ部20と、クロックリカバリ部20により再生されたSSC変調クロックをFM復調して、上記SSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するFM復調部22と、を備え、リファレンスクロック生成部10は、VCO14のクロックをFM復調信号でSSC変調してリファレンスクロックを生成し、SSC変調されたリファレンスクロックをクロックリカバリ部20にフィードバックする。
【選択図】図1

Figure 0007497413000001

A clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method capable of recovering a clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation are provided.
[Solution] The clock recovery circuit 1 comprises a reference clock generation unit 10 that generates an SSC modulated reference clock, a clock recovery unit 20 that reproduces the SSC modulated clock of a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock, and an FM demodulation unit 22 that FM demodulates the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit 20 to generate an FM demodulated signal having the above-mentioned SSC modulation frequency, and the reference clock generation unit 10 SSC modulates the clock of a VCO 14 with the FM demodulated signal to generate a reference clock, and feeds back the SSC modulated reference clock to the clock recovery unit 20.
[Selected Figure] Figure 1

Description

本発明は、クロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法に関し、特に、スペクトラム拡散クロックにより変調されたデータ信号からクロックを再生するためのクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法に関する。 The present invention relates to a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method, and in particular to a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method for recovering a clock from a data signal modulated by a spread spectrum clock.

近年、IoT(Internet of Things)やクラウドコンピューティングの普及により通信システムは膨大なデータを扱うようになり、通信システムを構成する各種の通信機器のインタフェースは高速化とシリアル伝送化が進んでいる。例えば、USB(登録商標)(Universal Serial Bus)やPCI Express(登録商標)(Peripheral Component Interconnect Express)などの高速シリアルバス(High Speed Serial Bus)の規格では、電磁両立性(Electro-Magnetic Compatibility:EMC)対策として、基準信号のスペクトラムを拡散したスペクトラム拡散クロック(Spread-Spectrum Clock:SSC)によるSSC変調が採用されている。 In recent years, with the spread of IoT (Internet of Things) and cloud computing, communication systems have begun to handle huge amounts of data, and the interfaces of various communication devices that make up the communication systems are becoming faster and more serial in transmission. For example, standards for high-speed serial buses such as USB (registered trademark) (Universal Serial Bus) and PCI Express (registered trademark) (Peripheral Component Interconnect Express) employ SSC modulation using a spread-spectrum clock (SSC) that spreads the spectrum of the reference signal as a measure against Electro-Magnetic Compatibility (EMC).

SSC変調されたデータ信号(以下、「SSC変調データ信号」とも言う)は、図7(a)に示すような所定の変調周波数を有するSSC変調波により周波数掃引された基準クロックに同期したタイミングで生成される。例えば、PCI Express規格のSSC変調波は、図7(a)に示すような周期33kHzの三角波の波形形状を有している。 The SSC modulated data signal (hereinafter also referred to as "SSC modulated data signal") is generated at a timing synchronized with a reference clock that is frequency swept by an SSC modulated wave having a predetermined modulation frequency as shown in FIG. 7(a). For example, an SSC modulated wave of the PCI Express standard has a triangular waveform shape with a period of 33 kHz as shown in FIG. 7(a).

ところで、通信機器における信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうちビット誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率(Bit Error Rate:BER)が知られている。 By the way, one of the indicators for evaluating the quality of signals in communication devices is the bit error rate (BER), which is defined as the comparison between the number of bit errors that occurred in the received data and the total number of received data.

近年、通信システムを構成する各種の通信機器の多くは、同期用のクロックを伝送せず、データ信号のみを伝送するようになっており、BERを測定する従来の誤り率測定装置は、受信したデータ信号からクロックを再生するクロックリカバリデバイスを備えている。 In recent years, many of the various communication devices that make up communication systems are designed to transmit only data signals without transmitting a clock for synchronization, and conventional error rate measurement devices that measure BER are equipped with a clock recovery device that recovers the clock from the received data signal.

10Gイーサネット(登録商標)規格等の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスは通常±100ppm程度の周波数偏差又はビットレート偏差に対応できるようになっているが、このようなクロックリカバリデバイスに、例えば最大5300ppmの周波数偏移を有するPCI Express規格のSSC変調データ信号が入力されると、クロックリカバリデバイスがアンロックしたり誤動作したりする。また、クロックリカバリデバイスが動作していても、SSC変調の周波数偏移に追従しきれない場合がある。 General-purpose clock recovery devices for high-speed serial communication applications such as the 10G Ethernet (registered trademark) standard are usually designed to handle frequency deviations or bit rate deviations of about ±100 ppm. However, when an SSC modulated data signal of the PCI Express standard, which has a frequency deviation of up to 5,300 ppm, for example, is input to such a clock recovery device, the clock recovery device may unlock or malfunction. In addition, even if the clock recovery device is operating, it may not be able to keep up with the frequency deviation of the SSC modulation.

このような場合、クロックリカバリデバイスの出力をFM(Frequency Modulation)復調して得られるSSC変調波は、図7(b)の実線のグラフに示すように、破線で示す本来の三角波の頂点部分が削られたような歪な波形になってしまう。 In such a case, the SSC modulated wave obtained by FM (Frequency Modulation) demodulation of the output of the clock recovery device will have a distorted waveform in which the peak of the original triangular wave shown by the dashed line has been removed, as shown by the solid line in Figure 7(b).

一般的には、高速シリアル通信向けのクロックリカバリデバイスのループ帯域は、数MHzから数十MHz程度であることから、SSC変調の33kHz程度の変調周波数に十分対応可能である。つまり、従来のクロックリカバリデバイスは、目的の周波数に確実にロックさせるために許容されるビットレート偏差を設計上の理由で制約しているために、PCI Express規格のSSC変調に対する耐力が十分でないものと考えられる。 Generally, the loop bandwidth of clock recovery devices for high-speed serial communication is on the order of several MHz to several tens of MHz, which is sufficient to handle modulation frequencies of around 33 kHz for SSC modulation. In other words, conventional clock recovery devices are considered to have insufficient resistance to the SSC modulation of the PCI Express standard because the allowable bit rate deviation for reliably locking to the target frequency is restricted for design reasons.

従来、図8に示すように、位相比較器51aと、ループフィルタ52aと、電圧制御発振器53aと、信号入力端子57aと、信号出力端子59aと、付加的なループである電圧追尾回路VT1とを有し、クロックリカバリデバイスとして利用可能な位相同期回路PS1が知られている(例えば、特許文献1参照)。電圧追尾回路VT1は、基準電圧発生器58aと、差動増幅器54aと、フィルタ55aと、加算器56aとによって構成されている。 As shown in Fig. 8, a phase-locked loop circuit PS1 is known that has a phase comparator 51a, a loop filter 52a, a voltage-controlled oscillator 53a, a signal input terminal 57a, a signal output terminal 59a, and a voltage tracking circuit VT1 that is an additional loop, and can be used as a clock recovery device (see, for example, Patent Document 1). The voltage tracking circuit VT1 is composed of a reference voltage generator 58a, a differential amplifier 54a, a filter 55a, and an adder 56a.

電圧追尾回路VT1は、位相比較器51aの出力電圧の平均値を、基準電圧発生器58aの出力電圧Vに一致させるように制御する。電圧追尾回路VT1は、位相比較器51aの出力電圧のデューティ比を保つようにフィードバック制御するので、電圧追尾回路VT1が存在しない場合の位相同期回路と比較すると、位相同期回路PS1では、ロックレンジが大幅に拡大されている。 The voltage tracking circuit VT1 controls the average value of the output voltage of the phase comparator 51a so that it coincides with the output voltage VR of the reference voltage generator 58a. Since the voltage tracking circuit VT1 performs feedback control so as to maintain the duty ratio of the output voltage of the phase comparator 51a, the lock range of the phase locked loop circuit PS1 is significantly expanded compared to a phase locked loop without the voltage tracking circuit VT1.

特開2002-84189号公報JP 2002-84189 A

しかしながら、特許文献1に開示された位相同期回路PS1は、ロックレンジの拡大に限度があり、SSC変調データ信号の最大5300ppmの周波数偏差又はビットレート偏差に対応したクロック再生には適していないという問題があった。 However, the phase-locked loop circuit PS1 disclosed in Patent Document 1 has a limit to the expansion of the lock range, and is not suitable for clock recovery corresponding to a maximum frequency deviation or bit rate deviation of 5,300 ppm in SSC modulated data signals.

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からクロックを再生することができるクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve these problems in the past, and aims to provide a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method that can recover a clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation.

上記課題を解決するために、本発明に係るクロックリカバリ回路は、SSC(Spread Spectrum Clock)変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部と、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号のSSC変調クロックを、前記リファレンスクロックに同期して再生するクロックリカバリ部と、前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックをFM復調して、前記SSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するFM復調部と、を備え、前記リファレンスクロック生成部は、入力される制御電圧に応じた周波数の出力信号を出力する電圧制御発振器と、所定の周波数を有する基準クロック源と、前記電圧制御発振器の前記出力信号との位相差に応じた位相差信号を出力する位相比較器と、前記位相差信号に従った充電/放電電流を生成するチャージポンプと、前記充電/放電電流から高周波成分を除去した信号を出力するループフィルタと、前記FM復調部により生成された前記FM復調信号と、前記ループフィルタの出力とを加算する信号合成部と、を有し、前記電圧制御発振器は、前記信号合成部の出力が前記制御電圧として入力されることにより、前記リファレンスクロックを前記出力信号で変調して出力する構成である。 In order to solve the above problems, the clock recovery circuit of the present invention uses SSC (Spread Spectrum The reference clock generating unit generates a reference clock modulated by FM (FM Clock), a clock recovery unit reproduces an SSC-modulated clock of a data signal SSC-modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock, and an FM demodulation unit FM demodulates the SSC-modulated clock reproduced by the clock recovery unit to generate an FM demodulated signal having the SSC modulation frequency. The reference clock generating unit has a voltage-controlled oscillator that outputs an output signal having a frequency according to an input control voltage, a reference clock source having a predetermined frequency, a phase comparator that outputs a phase difference signal according to the phase difference with the output signal of the voltage-controlled oscillator, a charge pump that generates a charge/discharge current according to the phase difference signal, a loop filter that outputs a signal obtained by removing high-frequency components from the charge/discharge current, and a signal synthesis unit that adds the FM demodulated signal generated by the FM demodulation unit and the output of the loop filter. The voltage-controlled oscillator is configured to modulate the reference clock with the output signal by inputting the output of the signal synthesis unit as the control voltage.

この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、クロックリカバリ部の出力をFM復調して得られたSSC変調波であるFM復調信号を生成し、電圧制御発振器のクロックをFM復調信号でSSC変調してリファレンスクロックを生成し、SSC変調されたリファレンスクロックをクロックリカバリ部にフィードバックするようになっている。この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、従来の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスをクロックリカバリ部として用いながらも、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を最小化させるように、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数を追従させることで、クロックリカバリ部の耐力を向上させて、SSC変調クロックを再生することができる。 With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention generates an FM demodulated signal that is an SSC modulated wave obtained by FM demodulating the output of the clock recovery section, SSC modulates the clock of the voltage controlled oscillator with the FM demodulated signal to generate a reference clock, and feeds back the SSC modulated reference clock to the clock recovery section. With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention uses a general-purpose clock recovery device for conventional high-speed serial communication applications as the clock recovery section, but can improve the durability of the clock recovery section and reproduce the SSC modulated clock by making the frequency of the reference clock follow the frequency of the SSC modulated data signal so as to minimize the frequency deviation between the SSC modulated data signal, which has a large frequency deviation, and the reference clock.

また、本発明に係るクロックリカバリ回路は、前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックを分周して、前記FM復調部に出力する分周器と、前記分周器の分周比を制御する分周比制御部と、を更に備え、前記FM復調部は、前記分周器により分周された前記SSC変調クロックを遅延させて出力する遅延部と、前記分周器の出力と、前記遅延部の出力との排他的論理和を演算する排他的論理和回路と、前記排他的論理和回路の出力を平滑化して前記FM復調信号を生成するローパスフィルタと、を有し、前記分周比制御部は、前記排他的論理和回路に入力される前記SSC変調クロックの最高周波数が、前記排他的論理和回路の動作上限周波数の1/4以下になるように、前記データ信号のビットレートに基づいて前記分周比を制御する構成であってもよい。 The clock recovery circuit according to the present invention may further include a divider that divides the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit and outputs the clock to the FM demodulation unit, and a division ratio control unit that controls the division ratio of the divider. The FM demodulation unit may include a delay unit that delays and outputs the SSC modulated clock divided by the divider, an exclusive OR circuit that calculates the exclusive OR of the output of the divider and the output of the delay unit, and a low-pass filter that smooths the output of the exclusive OR circuit to generate the FM demodulated signal. The division ratio control unit may be configured to control the division ratio based on the bit rate of the data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the exclusive OR circuit is equal to or less than 1/4 of the upper operating frequency limit of the exclusive OR circuit.

この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、排他的論理和回路の復調分解能を確保しつつ、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生することができる。 With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention can recover an SSC modulated clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation while maintaining the demodulation resolution of the exclusive OR circuit.

また、本発明に係る誤り率測定装置は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信部と、前記信号受信部により受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出部と、を備える誤り率測定装置であって、前記信号受信部は、上記のいずれかのクロックリカバリ回路を有し、前記クロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出する構成である。 The error rate measurement device according to the present invention is an error rate measurement device including a signal receiving unit that receives a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency, and an error rate calculation unit that calculates the bit error rate of bit string data that constitutes the data signal received by the signal receiving unit, and the signal receiving unit has any of the clock recovery circuits described above, and is configured to extract the bit string data that constitutes the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit.

この構成により、本発明に係る誤り率測定装置は、被測定物から送信されるSSC変調データ信号を受信し、上記のいずれかのクロックリカバリ回路を用いてSSC変調データ信号からSSC変調クロックを生成することができる。さらに、本発明に係る誤り率測定装置は、生成したSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出し、このビット列データのBERを測定することができる。 With this configuration, the error rate measurement device according to the present invention can receive an SSC modulated data signal transmitted from the device under test, and generate an SSC modulated clock from the SSC modulated data signal using any of the clock recovery circuits described above. Furthermore, the error rate measurement device according to the present invention can extract bit string data constituting the SSC modulated data signal at the timing of the generated SSC modulated clock, and measure the BER of this bit string data.

また、本発明に係る誤り率測定方法は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信ステップと、前記信号受信ステップにより受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出ステップと、を含む誤り率測定方法であって、前記信号受信ステップは、上記のいずれかのクロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出する構成である。 The error rate measurement method according to the present invention includes a signal receiving step of receiving a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency, and an error rate calculation step of calculating a bit error rate of bit string data constituting the data signal received by the signal receiving step, and the signal receiving step is configured to extract bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by any one of the clock recovery circuits described above.

本発明は、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からクロックを再生することができるクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法を提供するものである。 The present invention provides a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method that can recover a clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation.

本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of a clock recovery circuit according to a first embodiment of the present invention; 本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路が備えるクロックリカバリ部から出力されるSSC変調クロックの波形の例を示す図である。4 is a diagram showing an example of a waveform of an SSC modulated clock output from a clock recovery unit included in the clock recovery circuit according to the first embodiment of the present invention; FIG. 本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路が備える遅延検波回路の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of a delay detection circuit included in a clock recovery circuit according to a first embodiment of the present invention; 本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路が備えるリファレンスクロック生成部の構成を示すブロック図である。2 is a block diagram showing a configuration of a reference clock generating unit included in the clock recovery circuit according to the first embodiment of the present invention; FIG. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing the configuration of an error rate measurement device according to a second embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定方法の処理を示すフローチャートである。10 is a flowchart showing a process of an error rate measuring method according to a second embodiment of the present invention. (a)は所定のSSC変調周波数を有するSSC変調波の波形の例を示す図であり、(b)は従来のクロックリカバリデバイスの出力を復調して得られるSSC変調波の波形の例を示す図である。FIG. 1A is a diagram showing an example of the waveform of an SSC modulated wave having a predetermined SSC modulation frequency, and FIG. 1B is a diagram showing an example of the waveform of an SSC modulated wave obtained by demodulating the output of a conventional clock recovery device. 従来の位相同期回路の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a conventional phase locked loop circuit.

以下、本発明に係るクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。 The following describes embodiments of the clock recovery circuit, error rate measurement device, and error rate measurement method according to the present invention with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
図1に示す本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、SSC変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部10と、クロックリカバリ部20と、分周器21と、FM復調部22と、増幅器25と、アナログスイッチ26と、操作部27と、制御部30と、を備える。制御部30は、分周比制御部31と、ゲイン制御部32と、切替制御部33と、周波数補正制御部34と、を含む。
First Embodiment
1 includes a reference clock generating unit 10 that generates an SSC modulated reference clock, a clock recovery unit 20, a frequency divider 21, an FM demodulating unit 22, an amplifier 25, an analog switch 26, an operation unit 27, and a control unit 30. The control unit 30 includes a frequency division ratio control unit 31, a gain control unit 32, a switching control unit 33, and a frequency correction control unit 34.

以下では、主に、後述するアナログスイッチ26が切替制御部33によりオンの状態(以下、「有効」とも言う)に設定されている場合の各部の構成及び動作について説明する。 The following mainly describes the configuration and operation of each part when the analog switch 26, which will be described later, is set to the on state (hereinafter also referred to as "enabled") by the switching control unit 33.

クロックリカバリ部20は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号のSSC変調クロックを、リファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックに同期して再生するようになっている。すなわち、SSC変調されたデータ信号をクロックリカバリ部20で再生したクロックは、データ信号と同様にSSC変調されたクロックである。クロックリカバリ部20としては、高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスを用いることができる。ここで、SSC変調周波数は、通信規格ごとに規定されており、例えば30~33kHzの範囲の周波数である。例えば、クロックリカバリ部20から出力されるSSC変調クロックは、SSC変調の周波数偏移とSSC変調周波数に応じて、図2に示すように、パルスの立ち上がり(又は立ち下がり)の間隔や、パルス幅が変化したものになっている。 The clock recovery unit 20 reproduces the SSC-modulated clock of the SSC-modulated data signal SSC-modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock generated by the reference clock generation unit 10. In other words, the clock reproduced by the clock recovery unit 20 from the SSC-modulated data signal is a clock SSC-modulated like the data signal. A general-purpose clock recovery device for high-speed serial communication applications can be used as the clock recovery unit 20. Here, the SSC modulation frequency is specified for each communication standard, and is, for example, a frequency in the range of 30 to 33 kHz. For example, the SSC-modulated clock output from the clock recovery unit 20 has a pulse rise (or fall) interval and pulse width that change according to the frequency shift of the SSC modulation and the SSC modulation frequency, as shown in FIG. 2.

分周器21は、クロックリカバリ部20により再生されたSSC変調クロックを、後段のFM復調部22で扱いやすい周波数まで分周して、FM復調部22に出力するようになっている。FM復調部22がクロックリカバリ部20の出力をそのままFM復調できる場合には、分周器21はなくてもよい。 The frequency divider 21 divides the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit 20 to a frequency that is easy to handle in the downstream FM demodulation unit 22, and outputs it to the FM demodulation unit 22. If the FM demodulation unit 22 can directly FM demodulate the output of the clock recovery unit 20, the frequency divider 21 may not be necessary.

FM復調部22は、クロックリカバリ部20により再生されたSSC変調クロックをFM復調して、通信規格で規定されたSSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するようになっている。FM復調信号は、例えば、PCI Express規格であれば、図7(a)に示すような周期33kHzの三角波の波形形状を有する。FM復調には多種多様な方式があるが、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、後述する誤り率測定装置で採用可能な広帯域(広いビットレート範囲)のクロックリカバリを実現するために、広帯域化に有利な遅延検波方式を採用した。すなわち、FM復調部22は、分周器21により分周されたSSC変調クロックを遅延検波するものであり、遅延検波回路23と、ローパスフィルタ(Low Pass Filter:LPF)24と、を有する。 The FM demodulation unit 22 performs FM demodulation on the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit 20 to generate an FM demodulated signal having an SSC modulated frequency defined by the communication standard. For example, in the case of the PCI Express standard, the FM demodulated signal has a triangular waveform shape with a period of 33 kHz as shown in FIG. 7(a). There are many different methods for FM demodulation, but the clock recovery circuit 1 according to this embodiment employs a delay detection method that is advantageous for wideband in order to realize wideband (wide bit rate range) clock recovery that can be used in the error rate measurement device described later. That is, the FM demodulation unit 22 performs delay detection on the SSC modulated clock divided by the frequency divider 21, and includes a delay detection circuit 23 and a low pass filter (LPF) 24.

図3に示すように、遅延検波回路23は、遅延部23aと、高速動作の排他的論理和(Exclusive OR:EXOR)回路23bとで構成される。EXOR回路23bでの復調分解能を確保するために、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数は、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下とすることが望ましい。このため、分周比制御部31は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて分周器21の分周比を制御するようになっている。 As shown in FIG. 3, the delay detection circuit 23 is composed of a delay unit 23a and a high-speed exclusive OR (EXOR) circuit 23b. In order to ensure the demodulation resolution in the EXOR circuit 23b, it is desirable to set the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b to 1/4 or less of the upper operating frequency of the EXOR circuit 23b. For this reason, the division ratio control unit 31 controls the division ratio of the divider 21 based on the bit rate of the SSC modulated data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b is 1/4 or less of the upper operating frequency of the EXOR circuit 23b.

遅延部23aは、分周器21により分周されたSSC変調クロックを、その最高周波数の1/4周期分だけ遅延させて出力するようになっている。EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの周波数が低いと、遅延部23aによる遅延時間が大きくなり、実装規模や遅延安定性とのトレードオフが生じるため、分周器21の分周比はこの点を考慮して設定されることが望ましい。 The delay unit 23a delays the SSC modulated clock divided by the frequency divider 21 by 1/4 period of its maximum frequency and outputs it. If the frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b is low, the delay time by the delay unit 23a increases, resulting in a trade-off with implementation scale and delay stability, so it is desirable to set the frequency division ratio of the frequency divider 21 taking this into consideration.

遅延部23aは、例えば、固定遅延素子や可変遅延デバイスなどの素子又はデバイスにより構成することや、ケーブルやプリント配線板の伝送路を伸ばすなどの方法により構成することができる。 The delay unit 23a can be configured, for example, by an element or device such as a fixed delay element or a variable delay device, or by extending the transmission path of a cable or a printed wiring board.

EXOR回路23bは、分周器21により分周されたSSC変調クロックと、分周器21により分周されて遅延部23aにより遅延されたSSC変調クロックとの排他的論理和を演算するようになっている。遅延部23aから入力されたSSC変調クロックの最高周波数は1/4周期分だけ遅延しているため、EXOR回路23bは、EXOR回路23bに入力されたSSC変調クロックの2倍の周波数のクロックを出力する。 The EXOR circuit 23b is configured to perform an exclusive OR operation between the SSC modulated clock divided by the frequency divider 21 and the SSC modulated clock divided by the frequency divider 21 and delayed by the delay unit 23a. Since the maximum frequency of the SSC modulated clock input from the delay unit 23a is delayed by 1/4 period, the EXOR circuit 23b outputs a clock with twice the frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b.

LPF24は、EXOR回路23bの出力を平滑化して、通信規格で規定されたSSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するようになっている。このとき、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数において、遅延部23aによりSSC変調クロックに付加される遅延時間に誤差がなければ、EXOR回路23bの出力波形のデューティ比は50%となるため、LPF24の出力の直流平均値レベル(以下、「DCオフセット」とも言う)はEXOR回路23bの出力振幅の半分の電圧レベルとなる。 The LPF 24 smoothes the output of the EXOR circuit 23b to generate an FM demodulated signal having an SSC modulation frequency specified by the communication standard. At this time, if there is no error in the delay time added to the SSC modulation clock by the delay unit 23a at the highest frequency of the SSC modulation clock input to the EXOR circuit 23b, the duty ratio of the output waveform of the EXOR circuit 23b will be 50%, and the DC average level (hereinafter also referred to as "DC offset") of the output of the LPF 24 will be a voltage level that is half the output amplitude of the EXOR circuit 23b.

LPF24は、FM復調信号の雑音に応じて、SSC変調周波数である33kHzの例えば3~10倍程度の範囲のカットオフ周波数を有するものを好適に用いることができる。LPF24は、このようにカットオフ周波数が比較的低いものであるため、1次のRCローパスフィルタで構成することができる。ただし、LPF24は、RCローパスフィルタ及びその次数に限定されず、オペアンプで構成したものであってもLCローパスフィルタで構成したものであってもよい。 The LPF 24 can be suitably used to have a cutoff frequency in the range of, for example, 3 to 10 times the SSC modulation frequency of 33 kHz, depending on the noise of the FM demodulated signal. Since the cutoff frequency of the LPF 24 is relatively low in this way, it can be configured as a first-order RC low-pass filter. However, the LPF 24 is not limited to an RC low-pass filter and its order, and may be configured as an operational amplifier or an LC low-pass filter.

EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの周波数範囲が変化すると、EXOR回路23bの出力波形のデューティ比が変化し、EXOR回路23b出力の直流平均値レベルも変化する。EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数がEXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以上になった場合は、分周比制御部31は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、再度EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて分周器21の分周比を制御する。 When the frequency range of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b changes, the duty ratio of the output waveform of the EXOR circuit 23b changes, and the DC average value level of the EXOR circuit 23b output also changes. When the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b becomes equal to or greater than 1/4 of the upper operating frequency of the EXOR circuit 23b, the division ratio control unit 31 controls the division ratio of the divider 21 based on the bit rate of the SSC modulated data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b becomes equal to or less than 1/4 of the upper operating frequency of the EXOR circuit 23b again.

遅延部23aの遅延量が固定遅延量である場合は、EXOR回路23bへ入力されるSSC変調クロックの周波数が下がると、LPF24通過後のEXOR回路23bの出力のDCオフセットと検波効率が下がってしまう。 If the delay amount of the delay unit 23a is a fixed delay amount, when the frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b decreases, the DC offset and detection efficiency of the output of the EXOR circuit 23b after passing through the LPF 24 decrease.

このため、増幅器25は、ゲイン制御部32により設定されたゲインで、FM復調部22により生成されたFM復調信号を増幅するようになっている。例えば、ゲイン制御部32は、クロックリカバリ回路1に入力されたSSC変調データ信号のSSC変調の既知の周波数偏移に応じたゲインを増幅器25に設定するようになっている。ゲイン制御部32は、増幅器25のゲインを調整することにより、後段のリファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックの周波数偏移を調整して、SSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差が、クロックリカバリ部20のロック可能な範囲内でなるべく小さくなるようにする。 For this reason, the amplifier 25 amplifies the FM demodulated signal generated by the FM demodulation unit 22 with a gain set by the gain control unit 32. For example, the gain control unit 32 sets a gain for the amplifier 25 according to the known frequency deviation of the SSC modulation of the SSC modulated data signal input to the clock recovery circuit 1. The gain control unit 32 adjusts the gain of the amplifier 25 to adjust the frequency deviation of the reference clock generated by the reference clock generation unit 10 in the subsequent stage, so that the frequency deviation between the SSC modulated data signal and the reference clock is as small as possible within the range in which the clock recovery unit 20 can lock.

なお、SSC変調クロックの周波数範囲によって変動してしまうDCオフセット成分は、後段のリファレンスクロック生成部10において不要である。このため、FM復調部22と増幅器25との間に、コンデンサや公知のDCオフセットキャンセル回路等を適宜設けることにより、増幅器25がLPF24の出力のAC成分、すなわちSSC変調波の波形だけを増幅できるようにすることが望ましい。 The DC offset component that varies depending on the frequency range of the SSC modulated clock is not necessary in the downstream reference clock generating unit 10. For this reason, it is desirable to appropriately provide a capacitor or a known DC offset cancellation circuit between the FM demodulation unit 22 and the amplifier 25 so that the amplifier 25 can amplify only the AC component of the output of the LPF 24, i.e., the waveform of the SSC modulated wave.

あるいは、遅延量が可変な可変遅延デバイスを遅延部23aとして使用して、SSC変調クロックの周波数範囲に応じて、LPF24の出力のDCオフセットと検波効率の低下を抑制する最適な遅延量を設定する方法もある。 Alternatively, a variable delay device with a variable delay amount can be used as the delay unit 23a to set the optimal delay amount that suppresses the DC offset of the output of the LPF 24 and the decrease in detection efficiency according to the frequency range of the SSC modulation clock.

アナログスイッチ26は、切替制御部33の制御に応じて、増幅器25により増幅されたFM復調信号の後段のリファレンスクロック生成部10へのフィードバックを「有効」又は「無効」に切り替えるようになっている。例えば、切替制御部33は、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調データ信号である場合には、FM復調信号をリファレンスクロック生成部10においてリファレンスクロックに重畳するためアナログスイッチ26を「有効」にする制御を行う。一方、切替制御部33は、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調されていない信号である場合には、不要なFM復調信号がリファレンスクロック生成部10においてリファレンスクロックに重畳されるのを防ぐため、アナログスイッチ26をオフの状態である「無効」にする制御を行う。 The analog switch 26 switches between "enabled" and "disabled" feedback of the FM demodulated signal amplified by the amplifier 25 to the reference clock generating unit 10 in the subsequent stage according to the control of the switching control unit 33. For example, when the data signal input to the clock recovery circuit 1 is an SSC modulated data signal, the switching control unit 33 controls the analog switch 26 to be "enabled" in order to superimpose the FM demodulated signal on the reference clock in the reference clock generating unit 10. On the other hand, when the data signal input to the clock recovery circuit 1 is a signal that is not SSC modulated, the switching control unit 33 controls the analog switch 26 to be "disabled", which is the off state, in order to prevent an unnecessary FM demodulated signal from being superimposed on the reference clock in the reference clock generating unit 10.

切替制御部33によりアナログスイッチ26が「無効」から「有効」に切り替えられた直後は、FM復調部22から出力されるFM復調信号の波形は、図7(b)の実線のグラフに示すように三角波の頂点部分が削られたような歪な波形となっている。しかしながら、三角波が本来の傾きを持っている期間に、クロックリカバリ部20に入力されるSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差が小さくなり、FM復調信号の波形が、図7(a)に示すような理想的な三角波の波形になる。なお、FM復調部22から出力されるFM復調信号は電圧信号であり、図7(a)及び(b)は、FM復調信号の電圧と、その電圧に比例する周波数偏移とを、任意単位で表示している。 Immediately after the analog switch 26 is switched from "disabled" to "enabled" by the switching control unit 33, the waveform of the FM demodulation signal output from the FM demodulation unit 22 is distorted, as shown by the solid line graph in Figure 7(b), with the apex of the triangular wave cut off. However, during the period when the triangular wave has its original slope, the frequency deviation between the SSC modulated data signal input to the clock recovery unit 20 and the reference clock becomes small, and the waveform of the FM demodulation signal becomes an ideal triangular waveform as shown in Figure 7(a). Note that the FM demodulation signal output from the FM demodulation unit 22 is a voltage signal, and Figures 7(a) and (b) show the voltage of the FM demodulation signal and the frequency shift proportional to that voltage in arbitrary units.

なお、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調されていない信号である場合には、アナログスイッチ26が切替制御部33により「無効」に設定され、リファレンスクロック生成部10は、SSC変調されていないリファレンスクロックを生成することになる。 When the data signal input to the clock recovery circuit 1 is not SSC modulated, the analog switch 26 is set to "disabled" by the switching control unit 33, and the reference clock generating unit 10 generates a reference clock that is not SSC modulated.

図4に示すように、リファレンスクロック生成部10は、信号合成部11と、ループフィルタ12と、PLL(Phase Locked Loop)部13と、を有する。PLL部13は、VCO14と、プログラマブル分周器である分周器15a~15cと、位相比較器16と、チャージポンプ17と、を有する。 As shown in FIG. 4, the reference clock generation unit 10 has a signal synthesis unit 11, a loop filter 12, and a PLL (Phase Locked Loop) unit 13. The PLL unit 13 has a VCO 14, programmable frequency dividers 15a to 15c, a phase comparator 16, and a charge pump 17.

信号合成部11は、例えば、オペアンプによる加算回路で構成され、FM復調部22により生成されたFM復調信号と、ループフィルタ12の出力と、を加算するようになっている。信号合成部11の出力は、VCO14に制御電圧として入力される。 The signal synthesis unit 11 is composed of, for example, an adder circuit using an operational amplifier, and is configured to add the FM demodulation signal generated by the FM demodulation unit 22 and the output of the loop filter 12. The output of the signal synthesis unit 11 is input to the VCO 14 as a control voltage.

VCO14は、信号合成部11の出力が制御電圧として入力されることにより、VCO14のクロックを変調して、信号合成部11から入力される制御電圧にほぼ比例した周波数のリファレンスクロックを生成し、生成したリファレンスクロックを出力信号として出力するようになっている。VCO14は、クロックリカバリ部20に入力されたSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を小さくして、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数が追従するように制御する。 The VCO 14 receives the output of the signal synthesis unit 11 as a control voltage, modulates the clock of the VCO 14, generates a reference clock with a frequency approximately proportional to the control voltage input from the signal synthesis unit 11, and outputs the generated reference clock as an output signal. The VCO 14 reduces the frequency deviation between the SSC modulated data signal input to the clock recovery unit 20 and the reference clock, and controls the frequency of the reference clock to follow the frequency of the SSC modulated data signal.

分周器15aは、VCO14から出力されたリファレンスクロックを、例えば、SSC変調データ信号のボーレート(Baud rate)の1/Naの周波数まで分周して、クロックリカバリ部20に出力するようになっている。分周器15aの分周比Naは、VCO14から出力されたリファレンスクロックの周波数がクロックリカバリ部20の要求する周波数になるように、分周比制御部31により設定される。なお、VCO14から出力されたリファレンスクロックをそのままクロックリカバリ部20に入力すればよい場合には、分周器15aはなくてもよい。 The frequency divider 15a divides the reference clock output from the VCO 14, for example, to a frequency of 1/Na of the baud rate of the SSC modulated data signal, and outputs the frequency to the clock recovery unit 20. The division ratio Na of the frequency divider 15a is set by the division ratio control unit 31 so that the frequency of the reference clock output from the VCO 14 becomes the frequency required by the clock recovery unit 20. Note that if it is sufficient to input the reference clock output from the VCO 14 directly to the clock recovery unit 20, the frequency divider 15a may not be necessary.

分周器15bは、VCO14から出力されたリファレンスクロックの中心周波数を、外部の信号源から分周器15cに入力される基準クロック源の分周及び逓倍関係になるように設定するものである。分周器15bは、VCO14からの出力信号をフィードバック信号として所定の分周比Nbで分周し、分周したフィードバック信号の中心周波数と、分周器15cの出力の周波数とを一致させる。分周器15bの分周比Nbは、周波数補正制御部34により設定される。 The frequency divider 15b sets the center frequency of the reference clock output from the VCO 14 so that it has a division and multiplication relationship with the reference clock source input from an external signal source to the frequency divider 15c. The frequency divider 15b divides the output signal from the VCO 14 as a feedback signal by a predetermined division ratio Nb, and matches the center frequency of the divided feedback signal with the frequency of the output of the frequency divider 15c. The division ratio Nb of the frequency divider 15b is set by the frequency correction control unit 34.

分周器15cは、外部の信号源から入力される基準クロック源を所定の分周比Ncで分周して、位相比較器16に出力するようになっている。分周器15cの分周比Ncは、周波数補正制御部34により設定される。基準クロック源は、SSC変調されていない固定周波数(例えば、40MHz)のクロックである。 The frequency divider 15c divides the reference clock source input from an external signal source by a predetermined division ratio Nc and outputs the result to the phase comparator 16. The division ratio Nc of the frequency divider 15c is set by the frequency correction control unit 34. The reference clock source is a clock with a fixed frequency (e.g., 40 MHz) that is not SSC modulated.

周波数補正制御部34は、分周器15bにより分周されたリファレンスクロックの中心周波数と、分周器15cにより分周された基準クロック源の周波数とを一致させるように、分周比Nb及び分周比Ncを設定するようになっている。 The frequency correction control unit 34 is configured to set the division ratio Nb and the division ratio Nc so that the center frequency of the reference clock divided by the frequency divider 15b matches the frequency of the reference clock source divided by the frequency divider 15c.

位相比較器16は、例えば排他的論理和(EXOR)回路で構成されており、分周器15bにより分周されたリファレンスクロックと、分周器15cにより分周された基準クロック源との位相差に比例したパルス幅の位相差信号を出力するようになっている。 The phase comparator 16 is configured, for example, with an exclusive OR (EXOR) circuit, and outputs a phase difference signal with a pulse width proportional to the phase difference between the reference clock divided by the frequency divider 15b and the reference clock source divided by the frequency divider 15c.

チャージポンプ17は、位相比較器16から入力される位相差信号に従った充電/放電電流を生成して、ループフィルタ12に供給するようになっている。 The charge pump 17 generates a charge/discharge current according to the phase difference signal input from the phase comparator 16 and supplies it to the loop filter 12.

ループフィルタ12は、チャージポンプ17から供給される充電/放電電流を電圧に変換し、変換した電圧の高周波成分を除去して平滑化した信号を信号合成部11に出力するようになっている。ループフィルタ12を含めたPLL部13のループ帯域幅は、VCO14のクロックをSSC変調する目的と、リファレンスクロックの中心周波数を安定化させる目的とを両立するために、SSC変調周波数30~33kHzよりも狭い周波数(例えば、10kHz)に設定されている。 The loop filter 12 converts the charge/discharge current supplied from the charge pump 17 into a voltage, removes high-frequency components from the converted voltage, and outputs a smoothed signal to the signal synthesis unit 11. The loop bandwidth of the PLL unit 13 including the loop filter 12 is set to a frequency narrower than the SSC modulation frequency of 30 to 33 kHz (for example, 10 kHz) in order to achieve both the objectives of SSC modulation of the clock of the VCO 14 and stabilization of the center frequency of the reference clock.

これにより、信号合成部11は、PLL部13のループ帯域外の成分をFM復調信号に重畳して、VCO14に対して直接SSC変調を実施することができる。仮に、PLL部13のループ帯域内でSSC変調を実施しようとする場合には、変調はフィードバックにより打ち消されてしまうことになる。 This allows the signal synthesis unit 11 to superimpose components outside the loop band of the PLL unit 13 onto the FM demodulated signal and perform SSC modulation directly on the VCO 14. If an attempt were made to perform SSC modulation within the loop band of the PLL unit 13, the modulation would be canceled out by feedback.

FM復調部22から出力されたFM復調信号のDCオフセット成分が、DCオフセットキャンセル回路等により除去されている場合には、リファレンスクロック生成部10により生成されたリファレンスクロックにセンタースプレッド方式相当のSSC変調が掛かっていることになる。このため、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号がダウンスプレッド方式又はアップスプレッド方式のSSC変調が掛かったものである場合は、例えば、特開2018-156647号公報に開示されたような公知の方法で、リファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックの周波数をダウンスプレッド方式又はアップスプレッド方式に合わせて換算することが望ましい。 When the DC offset component of the FM demodulated signal output from the FM demodulation unit 22 has been removed by a DC offset cancellation circuit or the like, the reference clock generated by the reference clock generation unit 10 is subjected to SSC modulation equivalent to the center spread method. Therefore, when the SSC modulated data signal input to the clock recovery circuit 1 is subjected to SSC modulation of the downspread method or the upspread method, it is desirable to convert the frequency of the reference clock generated by the reference clock generation unit 10 to match the downspread method or the upspread method, for example, by a known method such as that disclosed in JP 2018-156647 A.

このため、周波数補正制御部34は、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号のスプレッド方式に応じて、信号合成部11によるFM復調信号とループフィルタ12の出力との加算結果から得られるSSC変調周波数偏移の中心をずらす制御、すなわち、VCO14から出力されるリファレンスクロックの中心周波数をずらす制御を行うようになっている。例えば、周波数補正制御部34は、分周器15b,15cの分周比を制御して、リファレンスクロックの中心周波数を所望のスプレッド方式に対応する周波数に制御するようになっている。 For this reason, the frequency correction control unit 34 controls to shift the center of the SSC modulation frequency deviation obtained from the sum of the FM demodulated signal by the signal synthesis unit 11 and the output of the loop filter 12, in other words, controls to shift the center frequency of the reference clock output from the VCO 14, according to the spread method of the SSC modulated data signal input to the clock recovery circuit 1. For example, the frequency correction control unit 34 controls the division ratio of the dividers 15b and 15c to control the center frequency of the reference clock to a frequency corresponding to the desired spread method.

操作部27は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示装置の表示画面に対応する入力面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。あるいは、操作部27は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。操作部27への操作入力は、制御部30により検知されるようになっている。 The operation unit 27 is for accepting operation input by the user, and is configured, for example, as a touch panel equipped with a touch sensor for detecting a contact position by a touch operation on an input surface corresponding to the display screen of the display device. Alternatively, the operation unit 27 may be configured to include an input device such as a keyboard or a mouse. Operation input to the operation unit 27 is detected by the control unit 30.

ユーザによる操作部27への操作入力により、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号からリファレンスクロックを生成するために必要な設定情報として、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調データ信号であるか否か、SSC変調データ信号のビットレート、スプレッド方式の選択などの設定を行うことが可能である。 By inputting operations into the operation unit 27 by the user, it is possible to set the setting information required for generating a reference clock from the SSC modulated data signal input to the clock recovery circuit 1, such as whether the data signal input to the clock recovery circuit 1 is an SSC modulated data signal, the bit rate of the SSC modulated data signal, and the selection of the spreading method.

制御部30は、例えばCPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)などを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、クロックリカバリ回路1を構成する上記各部の動作を制御するものであって、上述の分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34を含む。また、制御部30は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部は、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)などのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。 The control unit 30 is composed of a microcomputer or a personal computer including, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), etc., and controls the operation of each of the above-mentioned components constituting the clock recovery circuit 1, and includes the above-mentioned division ratio control unit 31, gain control unit 32, switching control unit 33, and frequency correction control unit 34. In addition, the control unit 30 can configure at least a part of the division ratio control unit 31, gain control unit 32, switching control unit 33, and frequency correction control unit 34 in software by transferring a predetermined program stored in the ROM or the like to the RAM and executing it. In addition, at least a part of the division ratio control unit 31, gain control unit 32, switching control unit 33, and frequency correction control unit 34 can also be configured with digital circuits such as FPGA (Field Programmable Gate Array) and ASIC (Application Specific Integrated Circuit). Alternatively, at least a portion of the division ratio control unit 31, the gain control unit 32, the switching control unit 33, and the frequency correction control unit 34 can be configured by appropriately combining hardware processing using digital circuits and software processing using a specified program.

以上説明したように、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、クロックリカバリ部20の出力をFM復調して得られたSSC変調波であるFM復調信号を生成し、VCO14のクロックをFM復調信号でSSC変調してリファレンスクロックを生成し、SSC変調されたリファレンスクロックをクロックリカバリ部20にフィードバックするようになっている。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、従来の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスをクロックリカバリ部20として用いながらも、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を最小化させるように、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数を追従させることで、クロックリカバリ部20の耐力を向上させて、SSC変調クロックを再生することができる。 As described above, the clock recovery circuit 1 according to this embodiment generates an FM demodulated signal, which is an SSC modulated wave obtained by FM demodulating the output of the clock recovery unit 20, SSC modulates the clock of the VCO 14 with the FM demodulated signal to generate a reference clock, and feeds back the SSC modulated reference clock to the clock recovery unit 20. With this configuration, the clock recovery circuit 1 according to this embodiment uses a general-purpose clock recovery device for conventional high-speed serial communication applications as the clock recovery unit 20, but can improve the durability of the clock recovery unit 20 and reproduce the SSC modulated clock by making the frequency of the reference clock follow the frequency of the SSC modulated data signal so as to minimize the frequency deviation between the SSC modulated data signal, which has a large frequency deviation, and the reference clock.

また、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて、分周器21の分周比を制御するようになっている。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、EXOR回路23bの復調分解能を確保しつつ、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生することができる。 The clock recovery circuit 1 according to this embodiment controls the division ratio of the frequency divider 21 based on the bit rate of the SSC modulated data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the EXOR circuit 23b is equal to or less than 1/4 of the upper operating frequency limit of the EXOR circuit 23b. With this configuration, the clock recovery circuit 1 according to this embodiment can reproduce the SSC modulated clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation while ensuring the demodulation resolution of the EXOR circuit 23b.

(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法について、図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第1の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。
Second Embodiment
Next, an error rate measurement device and an error rate measurement method according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the same components as those in the first embodiment are given the same reference numerals and the description thereof will be omitted as appropriate. Also, the description of the same operations as those in the first embodiment will be omitted as appropriate.

図5に示すように、第2の実施形態に係る誤り率測定装置100は、被測定物(Device Under Test:DUT)200から送信されるSSC変調データ信号の誤り率を測定するものであって、データ記憶部41と、信号送信部42と、信号受信部43と、同期検出部44と、誤り率算出部45と、表示部46と、制御部47と、を備える。 As shown in FIG. 5, the error rate measurement device 100 according to the second embodiment measures the error rate of an SSC modulated data signal transmitted from a device under test (DUT) 200, and includes a data memory unit 41, a signal transmission unit 42, a signal reception unit 43, a synchronization detection unit 44, an error rate calculation unit 45, a display unit 46, and a control unit 47.

DUT200は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号を出力するものである。DUT200が対応する規格の例としては、PCI Express Gen1~6、USB3.1~4、DP1.4~2などが挙げられる。 DUT 200 outputs an SSC modulated data signal that is SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency. Examples of standards that DUT 200 supports include PCI Express Gen1-6, USB3.1-4, and DP1.4-2.

データ記憶部41は、RAMなどのメモリによって構成され、基準になるビット列データをあらかじめ記憶している。ここで、ビット列データとは、2値以上の多値K(Kは2以上の整数)からなるPAM信号が取り得る0レベルからK-1レベルまでのK個のレベルに対応したデータである。例えば、4値のPAM信号であるPAM4信号のビット列データは、"00"、"01"、"10"、及び"11"のビットの組合せからなる。 The data storage unit 41 is configured with a memory such as a RAM, and stores reference bit string data in advance. Here, the bit string data is data corresponding to K levels, from 0 to K-1, that a PAM signal consisting of multiple values K (K is an integer equal to or greater than 2) of 2 or more values can take. For example, the bit string data of a PAM4 signal, which is a 4-value PAM signal, consists of a combination of bits "00", "01", "10", and "11".

信号送信部42は、データ記憶部41から読み込んだビット列データを所定のSSC変調周波数でSSC変調してテスト信号を生成し、生成したテスト信号をDUT200に送信するようになっている。このとき、DUT200は、信号送信部42から送信されたテスト信号を受信して、受信したテスト信号をSSC変調データ信号として信号受信部43に送信することになる。すなわち、DUT200は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたK値のPAM信号をSSC変調データ信号として送信するものである。 The signal transmitting unit 42 generates a test signal by SSC-modulating the bit string data read from the data storage unit 41 at a predetermined SSC modulation frequency, and transmits the generated test signal to the DUT 200. At this time, the DUT 200 receives the test signal transmitted from the signal transmitting unit 42, and transmits the received test signal to the signal receiving unit 43 as an SSC-modulated data signal. In other words, the DUT 200 transmits a K-value PAM signal SSC-modulated at a predetermined SSC modulation frequency as an SSC-modulated data signal.

信号受信部43は、DUT200から送信されたSSC変調データ信号を受信し、受信したSSC変調データ信号のビット列データを同期検出部44に出力するようになっており、第1の実施形態のクロックリカバリ回路1と、ビット列データ抽出部48と、を有する。 The signal receiving unit 43 receives the SSC modulated data signal transmitted from the DUT 200 and outputs the bit string data of the received SSC modulated data signal to the synchronization detection unit 44, and includes the clock recovery circuit 1 of the first embodiment and a bit string data extraction unit 48.

クロックリカバリ回路1は、DUT200から送信されたSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生する。 The clock recovery circuit 1 recovers the SSC modulated clock from the SSC modulated data signal transmitted from the DUT 200.

ビット列データ抽出部48は、クロックリカバリ回路1により再生されたSSC変調クロックのタイミングで、DUT200から送信されたSSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出するようになっている。例えば、ビット列データ抽出部48は、少なくとも1つの0/1判定器を有しており、各0/1判定器にクロックリカバリ回路1からのSSC変調クロックが入力されることで、DUT200から送信されたSSC変調データ信号のレベルの判定をSSC変調クロックのタイミングで行うことができる。なお、クロックリカバリ回路1から出力されるSSC変調クロックは、ビット列データ抽出部48に限らず、誤り率測定装置100を構成する各部で動作クロックとして使用されてもよい。 The bit string data extraction unit 48 is configured to extract bit string data constituting the SSC modulated data signal transmitted from the DUT 200 at the timing of the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery circuit 1. For example, the bit string data extraction unit 48 has at least one 0/1 judger, and the SSC modulated clock from the clock recovery circuit 1 is input to each 0/1 judger, so that the level of the SSC modulated data signal transmitted from the DUT 200 can be judged at the timing of the SSC modulated clock. The SSC modulated clock output from the clock recovery circuit 1 may be used as an operating clock not only for the bit string data extraction unit 48 but also for each unit constituting the error rate measurement device 100.

同期検出部44は、データ記憶部41から読み込んだビット列データと、ビット列データ抽出部48により抽出されたSSC変調データ信号のビット列データとの同期を取るようになっている。そして、同期検出部44は、同期が取れたSSC変調データ信号のビット列データを誤り率算出部45に出力する。 The synchronization detection unit 44 synchronizes the bit string data read from the data storage unit 41 with the bit string data of the SSC modulated data signal extracted by the bit string data extraction unit 48. Then, the synchronization detection unit 44 outputs the synchronized bit string data of the SSC modulated data signal to the error rate calculation unit 45.

誤り率算出部45は、同期検出部44から出力されたSSC変調データ信号を構成するビット列データと、データ記憶部41に記憶されているビット列データとを順次比較することにより、SSC変調データ信号を構成するビット列データの誤りビットを検出するとともに、SSC変調データ信号を構成するビット列データのBERを算出するようになっている。 The error rate calculation unit 45 sequentially compares the bit string data constituting the SSC modulated data signal output from the synchronization detection unit 44 with the bit string data stored in the data storage unit 41 to detect error bits in the bit string data constituting the SSC modulated data signal and calculate the BER of the bit string data constituting the SSC modulated data signal.

表示部46は、例えばLCD(Liquid Crystal Display)やCRT(Cathode Ray Tube)などの表示機器で構成され、制御部47から出力される制御信号に応じて、誤り率算出部45により算出されたビット列データのBERなどの各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部46は、制御部47から出力される制御信号に応じて、各種条件を設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。 The display unit 46 is composed of a display device such as an LCD (Liquid Crystal Display) or a CRT (Cathode Ray Tube), and is configured to display various display contents such as the BER of the bit string data calculated by the error rate calculation unit 45 in response to a control signal output from the control unit 47. Furthermore, the display unit 46 is configured to display operation objects such as buttons, soft keys, pull-down menus, and text boxes for setting various conditions in response to a control signal output from the control unit 47.

制御部47は、第1の実施形態における制御部30と同様に構成され、誤り率測定装置100を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。また、制御部47は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、誤り率算出部45の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、誤り率算出部45の少なくとも一部は、FPGAやASICなどのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、誤り率算出部45の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。なお、本実施形態における制御部47は、第1の実施形態における制御部30を兼ねていてもよい。 The control unit 47 is configured in the same manner as the control unit 30 in the first embodiment, and controls the operation of each of the above-mentioned units constituting the error rate measurement device 100. The control unit 47 can also configure at least a part of the error rate calculation unit 45 in software by transferring a predetermined program stored in a ROM or the like to a RAM and executing it. At least a part of the error rate calculation unit 45 can also be configured with a digital circuit such as an FPGA or an ASIC. Alternatively, at least a part of the error rate calculation unit 45 can be configured by appropriately combining hardware processing by a digital circuit and software processing by a predetermined program. The control unit 47 in this embodiment may also serve as the control unit 30 in the first embodiment.

以下、本実施形態の誤り率測定方法について、図6のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。 Below, an example of the process for measuring the error rate according to this embodiment will be described with reference to the flowchart in Figure 6.

まず、信号送信部42は、データ記憶部41から読み込んだビット列データを所定のSSC変調周波数でSSC変調してテスト信号を生成し、生成したテスト信号をDUT200に送信する(ステップS1)。 First, the signal transmission unit 42 SSC-modulates the bit string data read from the data storage unit 41 at a predetermined SSC modulation frequency to generate a test signal, and transmits the generated test signal to the DUT 200 (step S1).

次に、クロックリカバリ回路1は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号をDUT200から受信して、SSC変調クロックを生成する(信号受信ステップS2)。 Next, the clock recovery circuit 1 receives an SSC modulated data signal that has been SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency from the DUT 200, and generates an SSC modulated clock (signal reception step S2).

次に、ビット列データ抽出部48は、クロックリカバリ回路1によりSSC変調データ信号から再生されたSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出する(信号受信ステップS3)。 Next, the bit string data extraction unit 48 extracts the bit string data constituting the SSC modulated data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the SSC modulated data signal by the clock recovery circuit 1 (signal receiving step S3).

次に、誤り率算出部45は、ステップS3により抽出されたSSC変調データ信号を構成するビット列データのBERを算出する(誤り率算出ステップS4)。 Next, the error rate calculation unit 45 calculates the BER of the bit string data constituting the SSC modulated data signal extracted in step S3 (error rate calculation step S4).

以上説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、DUT200から送信されるK値のPAM信号をSSC変調データ信号として受信し、第1の実施形態のクロックリカバリ回路1を用いてSSC変調データ信号からSSC変調クロックを生成することができる。さらに、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、生成したSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出し、このビット列データのBERを測定することができる。 As described above, the error rate measurement device 100 according to this embodiment can receive the K-value PAM signal transmitted from the DUT 200 as an SSC modulated data signal, and generate an SSC modulated clock from the SSC modulated data signal using the clock recovery circuit 1 according to the first embodiment. Furthermore, the error rate measurement device 100 according to this embodiment can extract bit string data constituting the SSC modulated data signal at the timing of the generated SSC modulated clock, and measure the BER of this bit string data.

1 クロックリカバリ回路
10 リファレンスクロック生成部
11 信号合成部
12 ループフィルタ
13 PLL部
14 VCO
15a~15c 分周器
16 位相比較器
17 チャージポンプ
20 クロックリカバリ部
21 分周器
22 FM復調部
23 遅延検波回路
23a 遅延部
23b EXOR回路
24 LPF
25 増幅器
26 アナログスイッチ
31 分周比制御部
32 ゲイン制御部
33 切替制御部
34 周波数補正制御部
41 データ記憶部
42 信号送信部
43 信号受信部
44 同期検出部
45 誤り率算出部
48 ビット列データ抽出部
100 誤り率測定装置
200 DUT
REFERENCE SIGNS LIST 1 Clock recovery circuit 10 Reference clock generation section 11 Signal synthesis section 12 Loop filter 13 PLL section 14 VCO
15a to 15c Frequency dividers 16 Phase comparator 17 Charge pump 20 Clock recovery section 21 Frequency divider 22 FM demodulation section 23 Delay detection circuit 23a Delay section 23b EXOR circuit 24 LPF
25 Amplifier 26 Analog switch 31 Division ratio control section 32 Gain control section 33 Switching control section 34 Frequency correction control section 41 Data storage section 42 Signal transmission section 43 Signal reception section 44 Synchronization detection section 45 Error rate calculation section 48 Bit string data extraction section 100 Error rate measurement device 200 DUT

Claims (4)

SSC(Spread Spectrum Clock)変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部(10)と、
所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号のSSC変調クロックを、前記リファレンスクロックに同期して再生するクロックリカバリ部(20)と、
前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックをFM復調して、前記SSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するFM復調部(22)と、を備え、
前記リファレンスクロック生成部は、
入力される制御電圧に応じた周波数の出力信号を出力する電圧制御発振器(14)と、
所定の周波数を有する基準クロック源と、前記電圧制御発振器の前記出力信号との位相差に応じた位相差信号を出力する位相比較器(16)と、
前記位相差信号に従った充電/放電電流を生成するチャージポンプ(17)と、
前記充電/放電電流から高周波成分を除去した信号を出力するループフィルタ(12)と、
前記FM復調部により生成された前記FM復調信号と、前記ループフィルタの出力とを加算する信号合成部(11)と、を有し、
前記電圧制御発振器は、前記信号合成部の出力が前記制御電圧として入力されることにより、前記電圧制御発振器のクロックを変調して前記リファレンスクロックを生成し、生成した前記リファレンスクロックを前記出力信号として出力することを特徴とするクロックリカバリ回路。
A reference clock generating unit (10) that generates a reference clock modulated by SSC (Spread Spectrum Clock);
a clock recovery unit (20) for recovering an SSC modulated clock of a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock;
an FM demodulation unit (22) that FM demodulates the SSC modulated clock recovered by the clock recovery unit to generate an FM demodulated signal having the SSC modulation frequency;
The reference clock generating unit
a voltage controlled oscillator (14) that outputs an output signal having a frequency corresponding to an input control voltage;
a phase comparator (16) that outputs a phase difference signal corresponding to a phase difference between a reference clock source having a predetermined frequency and the output signal of the voltage controlled oscillator;
A charge pump (17) for generating a charge/discharge current according to the phase difference signal;
a loop filter (12) that outputs a signal obtained by removing high-frequency components from the charge/discharge current;
a signal synthesis unit (11) that adds the FM demodulated signal generated by the FM demodulation unit and an output of the loop filter,
The clock recovery circuit is characterized in that the voltage-controlled oscillator receives the output of the signal synthesis unit as the control voltage, modulates the clock of the voltage-controlled oscillator to generate the reference clock, and outputs the generated reference clock as the output signal.
前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックを分周して、前記FM復調部に出力する分周器(21)と、
前記分周器の分周比を制御する分周比制御部(31)と、を更に備え、
前記FM復調部は、
前記分周器により分周された前記SSC変調クロックを遅延させて出力する遅延部(23a)と、
前記分周器の出力と、前記遅延部の出力との排他的論理和を演算する排他的論理和回路(23b)と、
前記排他的論理和回路の出力を平滑化して前記FM復調信号を生成するローパスフィルタ(24)と、を有し、
前記分周比制御部は、前記排他的論理和回路に入力される前記SSC変調クロックの最高周波数が、前記排他的論理和回路の動作上限周波数の1/4以下になるように、前記データ信号のビットレートに基づいて前記分周比を制御することを特徴とする請求項1に記載のクロックリカバリ回路。
a frequency divider (21) that divides the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit and outputs the divided clock to the FM demodulation unit;
A frequency division ratio control unit (31) that controls the frequency division ratio of the frequency divider,
The FM demodulation unit includes:
a delay unit (23a) that delays and outputs the SSC modulated clock frequency-divided by the frequency divider;
an exclusive OR circuit (23b) that calculates an exclusive OR between the output of the frequency divider and the output of the delay unit;
a low-pass filter (24) that smoothes the output of the exclusive OR circuit to generate the FM demodulated signal;
2. The clock recovery circuit according to claim 1, wherein the division ratio control unit controls the division ratio based on a bit rate of the data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the exclusive OR circuit is equal to or lower than 1/4 of an upper limit operating frequency of the exclusive OR circuit.
所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信部(43)と、
前記信号受信部により受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出部(45)と、を備える誤り率測定装置(100)であって、
前記信号受信部は、前記請求項1又は請求項2に記載のクロックリカバリ回路を有し、前記クロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出することを特徴とする誤り率測定装置。
A signal receiving unit (43) for receiving a data signal modulated by a predetermined SSC modulation frequency;
an error rate calculation unit (45) that calculates a bit error rate of bit string data that constitutes the data signal received by the signal receiving unit,
3. An error rate measuring device, comprising: a clock recovery circuit according to claim 1, wherein the signal receiving section extracts bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit.
所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信ステップ(S2,S3)と、
前記信号受信ステップにより受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出ステップ(S4)と、を含む誤り率測定方法であって、
前記信号受信ステップは、前記請求項1又は請求項2に記載のクロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出することを特徴とする誤り率測定方法。
A signal receiving step (S2, S3) of receiving a data signal modulated by a predetermined SSC modulation frequency;
an error rate calculation step (S4) of calculating a bit error rate of bit string data constituting the data signal received by the signal receiving step,
3. The error rate measuring method according to claim 1, wherein the signal receiving step extracts bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit according to claim 1.
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