JP7427327B2 - How to grind the workpiece - Google Patents

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Description

本発明は、平面視で非円形状に形成されたワークピースを研削する際に用いられるワークピースの研削方法に関する。 The present invention relates to a workpiece grinding method used when grinding a workpiece formed into a non-circular shape in plan view.

携帯電話機やパーソナルコンピュータに代表される電子機器では、LSI(Large Scale Integration)等のデバイスを備えたデバイスチップが必須の構成要素になっている。デバイスチップは、例えば、シリコン等の半導体材料でなるウェーハの表面を分割予定ライン(ストリート)で複数の領域に区画し、各領域にデバイスを形成した後、この分割予定ラインでウェーハを分割することにより得られる。 2. Description of the Related Art Device chips equipped with devices such as LSI (Large Scale Integration) have become essential components in electronic devices such as mobile phones and personal computers. A device chip is produced by, for example, dividing the surface of a wafer made of a semiconductor material such as silicon into multiple regions along dividing lines (street), forming devices in each area, and then dividing the wafer along these dividing lines. It is obtained by

上述のような方法で複数のデバイスチップを得た後には、例えば、これら複数のデバイスチップをCSP(Chip Size Package)用の基板上に配置し、ワイヤボンディング等の方法で各デバイスチップを基板の端子等に接続する。そして、複数のデバイスチップを樹脂等で封止してパッケージ基板を形成し、このパッケージ基板を各デバイスチップに対応する複数のパッケージデバイスチップへと分割する。 After obtaining multiple device chips using the method described above, for example, place these multiple device chips on a substrate for CSP (Chip Size Package), and bond each device chip to the substrate using a method such as wire bonding. Connect to terminals, etc. Then, a plurality of device chips are sealed with resin or the like to form a package substrate, and this package substrate is divided into a plurality of package device chips corresponding to each device chip.

このように、各デバイスチップを樹脂等で封止することにより、衝撃、水、光、熱等の外的な要因からデバイスチップを保護できるようになる。なお、デバイスチップを樹脂等で封止して得られるパッケージ基板は、平面視で非円形状(代表的には、矩形状)に形成されることがある。 In this way, by sealing each device chip with resin or the like, it becomes possible to protect the device chips from external factors such as impact, water, light, and heat. Note that a package substrate obtained by sealing a device chip with a resin or the like may be formed in a non-circular shape (typically, a rectangular shape) in plan view.

近年では、電子機器の小型化及び薄型化が進められており、この電子機器に搭載されるパッケージデバイスチップにも、更なる小型化及び薄型化が求められている。薄型のパッケージデバイスチップを製造する際には、例えば、パッケージデバイスチップへと分割される前のパッケージ基板を研削等の方法によって薄くする(例えば、特許文献1参照)。 In recent years, electronic devices have become smaller and thinner, and the package device chips mounted on these electronic devices are also required to be smaller and thinner. When manufacturing thin package device chips, for example, a package substrate before being divided into package device chips is made thinner by a method such as grinding (for example, see Patent Document 1).

特開2015-205358号公報Japanese Patent Application Publication No. 2015-205358

ところで、パッケージ基板のような非円形状のワークピースと、環状に配列された複数の砥石と、を相互に回転させて接触させる方法でこのワークピースを研削する場合には、研削後のワークピースの厚みをその全体で等しくすることが難しい。非円形状のワークピースの回転に起因して、砥石とワークピースとの接触にかかる面積が変化し、砥石からワークピースに作用する圧力が一定にならないためである。なお、接触にかかる面積が大きくなると、砥石からワークピースに作用する圧力が小さくなって、研削は進み難くなる。 By the way, when grinding a non-circular workpiece such as a package board by rotating and contacting a plurality of grindstones arranged in an annular manner with each other, the workpiece after grinding It is difficult to make the thickness the same throughout. This is because the area of contact between the grindstone and the workpiece changes due to the rotation of the non-circular workpiece, and the pressure exerted from the grindstone on the workpiece is not constant. Note that as the contact area increases, the pressure applied from the grindstone to the workpiece decreases, making it difficult for grinding to proceed.

これに対して、例えば、上述の特許文献1では、矩形状のワークピースと砥石との接触にかかる面積が大きくなる対角線の方向でワークピースの回転の速度を下げ、対角線から離れる方向でワークピースの回転の速度を上げる方法が提案されている。この方法では、単位時間当たりに砥石とワークピースとが接触する面積を一定に保つことで、研削後のワークピースの厚みのばらつきを小さく抑えている。しかしながら、この方法では、複雑な制御によってワークピースの回転の速度を最適化する必要があった。 On the other hand, for example, in the above-mentioned Patent Document 1, the rotation speed of the workpiece is reduced in the diagonal direction where the area required for contact between the rectangular workpiece and the grinding wheel increases, and the workpiece is rotated in the direction away from the diagonal. A method has been proposed to increase the speed of rotation. In this method, by keeping the contact area between the grindstone and the workpiece constant per unit time, variations in the thickness of the workpiece after grinding are suppressed. However, this method requires complex control to optimize the speed of rotation of the workpiece.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、非円形状のワークピースに発生する厚みのばらつきを簡単な制御で小さく抑えられるワークピースの研削方法を提供することである。 The present invention has been made in view of these problems, and its purpose is to provide a workpiece grinding method that can suppress variations in thickness that occur in non-circular workpieces by simple control. That's true.

本発明の一態様によれば、非円形状のワークピースを保持した保持テーブルと、研削用の砥石が固定された研削ホイールと、をそれぞれ回転させた状態で、該ワークピースの被研削面に該砥石を接触させて該ワークピースを研削するワークピースの研削方法であって、該砥石から該ワークピースに作用する荷重が第1の値となるように該ワークピースの平面視における全域を研削する第1研削ステップと、該第1研削ステップの後に、該荷重が、該第1の値よりも小さい第2の値から該第2の値よりも大きく該第1の値よりも小さい第3の値に変化するように該ワークピースの平面視における全域を研削する第2研削ステップと、を含み、該第1研削ステップ及び該第2研削ステップは、共通の研削条件で行われ、該第1の値は、該ワークピースの研削時間の経過とともに増大する該荷重が達する最大値であるワークピースの研削方法が提供される。 According to one aspect of the present invention, a holding table holding a non-circular workpiece and a grinding wheel to which a grindstone for grinding is fixed are each rotated, and the surface to be ground of the workpiece is rotated. A workpiece grinding method of grinding the workpiece by bringing the grindstone into contact with the workpiece, the method comprising : grinding the entire area of the workpiece in plan view so that the load acting on the workpiece from the grindstone becomes a first value. and after the first grinding step, the load changes from a second value smaller than the first value to a third value larger than the second value and smaller than the first value. a second grinding step of grinding the entire area of the workpiece in plan view so that the value changes to a value of A method of grinding a workpiece is provided, wherein a first value is a maximum value reached by the load, which increases over time of grinding the workpiece.

本発明の一態様では、矩形状の該ワークピースを研削することがある。 In one aspect of the invention, the rectangular workpiece may be ground.

また、本発明の一態様において、該第2研削ステップでは、該砥石を該ワークピースの該被研削面から離して該荷重を該第2の値にした後に、該砥石を該ワークピースの該被研削面に再び接触させて該荷重を該第3の値に変化させることが好ましい。 Further, in one aspect of the present invention, in the second grinding step, after the grindstone is separated from the ground surface of the workpiece and the load is set to the second value, the grindstone is moved to the grinding surface of the workpiece. It is preferable to change the load to the third value by contacting the surface to be ground again.

また、本発明の一態様において、該第1の値は、該ワークピースと該砥石との接触にかかる面積が該ワークピースの領域毎に異なることに起因して生じる該ワークピースの厚みのばらつきが許容値を超える値に設定され、該第2の値及び該第3の値は、該第1研削ステップで発生した該ワークピースの厚みのばらつきを減少させる値に設定されることが好ましい。 Further, in one aspect of the present invention, the first value is a variation in the thickness of the workpiece that occurs due to the area of contact between the workpiece and the grindstone being different for each region of the workpiece. is set to a value that exceeds a tolerance value, and the second value and the third value are preferably set to values that reduce variations in the thickness of the workpiece that occur in the first grinding step.

本発明の一態様にかかるワークピースの研削方法では、砥石からワークピースに作用する荷重が第1の値となるようにワークピースを研削し、その後、この荷重が、第1の値よりも小さい第2の値から第2の値よりも大きく第1の値よりも小さい第3の値に変化するようにワークピースを研削する。つまり、所定の荷重でワークピースを研削した後に、それよりも小さな荷重でワークピースを研削する。 In the workpiece grinding method according to one aspect of the present invention, the workpiece is ground so that the load acting on the workpiece from the grindstone becomes a first value, and then this load is smaller than the first value. The workpiece is ground to change from the second value to a third value that is greater than the second value and less than the first value. That is, after grinding the workpiece with a predetermined load, the workpiece is ground with a smaller load.

砥石からワークピースに作用する荷重が大きくなると、研削後のワークピースに発生する厚みのばらつきは大きくなる。一方で、砥石からワークピースに作用する荷重が小さくなると、研削後のワークピースに発生する厚みのばらつきも小さくなる。よって、本発明の一態様にかかるワークピースの研削方法のように荷重を制御することで、非円形状のワークピースに発生する厚みのばらつきを小さく抑えられる。 As the load acting on the workpiece from the grindstone increases, the variation in thickness of the workpiece after grinding increases. On the other hand, when the load acting on the workpiece from the grindstone is reduced, the variation in thickness that occurs in the workpiece after grinding is also reduced. Therefore, by controlling the load as in the workpiece grinding method according to one aspect of the present invention, variations in thickness that occur in non-circular workpieces can be suppressed to a small level.

図1は、研削装置を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a grinding device. 図2は、ワークピースが研削される様子を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing how a workpiece is ground. 図3は、研削ホイールを一定の速度で下降させてワークピースを研削する際に研削ホイールからワークピースに作用する荷重と、時間と、の関係を示すグラフである。FIG. 3 is a graph showing the relationship between the load applied from the grinding wheel to the workpiece and time when the grinding wheel is lowered at a constant speed to grind the workpiece. 図4は、研削後のワークピースの厚みのばらつきを模式的に示す平面図である。FIG. 4 is a plan view schematically showing variations in the thickness of the workpiece after grinding. 図5は、本実施形態にかかるワークピースの研削方法で研削ホイールからワークピースに作用する荷重と、時間と、の関係を示すグラフであるFIG. 5 is a graph showing the relationship between the load acting on the workpiece from the grinding wheel and time in the workpiece grinding method according to the present embodiment.

添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は、本実施形態にかかるワークピースの研削方法で使用される研削装置2を示す斜視図であり、図2は、この研削装置2でワークピース11が研削される様子を示す側面図である。なお、図2では、一部の要素を切断面によって示している。また、図2では、説明の便宜上、一部の要素の形状等を誇張している。更に、以下の説明で用いられるX軸方向(前後方向)、Y軸方向(左右方向)、及びZ軸方向(鉛直方向)は、互いに垂直である。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a grinding device 2 used in the workpiece grinding method according to the present embodiment, and FIG. 2 is a side view showing how a workpiece 11 is ground by this grinding device 2. be. In addition, in FIG. 2, some elements are shown by cut planes. Further, in FIG. 2, the shapes of some elements are exaggerated for convenience of explanation. Furthermore, the X-axis direction (front-back direction), Y-axis direction (left-right direction), and Z-axis direction (vertical direction) used in the following description are perpendicular to each other.

図1に示すように、研削装置2は、各構成要素が搭載される基台4を備えている。基台4の後端には、柱状の支持構造6が設けられている。基台4の上面には、X軸方向に長い開口4aが形成されている。開口4a内には、ボールネジ式のX軸移動機構8と、X軸移動機構8の一部を覆うカバー10とが配置されている。X軸移動機構8は、X軸移動テーブル8aを備えており、このX軸移動テーブル8aをX軸方向に移動させる。開口4aの前方には、研削の条件等を入力する際に使用される操作パネル12が設置されている。 As shown in FIG. 1, the grinding device 2 includes a base 4 on which each component is mounted. A columnar support structure 6 is provided at the rear end of the base 4. An opening 4a that is long in the X-axis direction is formed in the upper surface of the base 4. A ball screw type X-axis moving mechanism 8 and a cover 10 that partially covers the X-axis moving mechanism 8 are arranged in the opening 4a. The X-axis moving mechanism 8 includes an X-axis moving table 8a, and moves the X-axis moving table 8a in the X-axis direction. An operation panel 12 is installed in front of the opening 4a, which is used to input grinding conditions and the like.

X軸移動テーブル8a上には、板状のワークピース11(図2等)を保持するための保持テーブル(チャックテーブル)14が設けられている。ワークピース11は、例えば、シリコン等の半導体や封止用の樹脂等を用いて平面視で矩形状に形成されたパッケージ基板である(図4参照)。本実施形態では、このワークピース11の第1面(被研削面)11aを研削する。 A holding table (chuck table) 14 for holding a plate-shaped workpiece 11 (FIG. 2, etc.) is provided on the X-axis moving table 8a. The workpiece 11 is a package substrate formed into a rectangular shape in plan view using, for example, a semiconductor such as silicon or a sealing resin (see FIG. 4). In this embodiment, the first surface (surface to be ground) 11a of the workpiece 11 is ground.

ただし、ワークピース11は、少なくとも平面視で非円形状に形成されていれば良く、その材質、形状、構造、大きさ等に大きな制限はない。例えば、他の半導体、他の樹脂、セラミックス、金属等の材料を用いて形成される基板をワークピース11として用いることもできる。ワークピース11の第1面11aとは反対の第2面11b側(研削されない面側)には、LSI(Large Scale Integration)等のデバイスが設けられていても良い。 However, the workpiece 11 only needs to be formed into a non-circular shape at least in plan view, and there are no major restrictions on its material, shape, structure, size, etc. For example, a substrate formed using materials such as other semiconductors, other resins, ceramics, and metals can also be used as the workpiece 11. A device such as an LSI (Large Scale Integration) may be provided on the second surface 11b of the workpiece 11 opposite to the first surface 11a (the surface that is not ground).

保持テーブル14の上面の一部は、ワークピース11を保持するための保持面14aになっている。保持面14aは、円錐の側面を中央の一部に含むように構成され、保持テーブル14の内部に形成された吸引路14b(図2)等を介して吸引源(不図示)に接続されている。また、保持面14aは、平面視でワークピース11に対応する形状(矩形状)に形成されている。 A part of the upper surface of the holding table 14 is a holding surface 14a for holding the workpiece 11. The holding surface 14a is configured to include a conical side surface in a part of the center, and is connected to a suction source (not shown) through a suction path 14b (FIG. 2) formed inside the holding table 14. There is. Moreover, the holding surface 14a is formed in a shape (rectangular shape) corresponding to the workpiece 11 in plan view.

この保持面14aにワークピース11を載せ、吸引源の負圧を作用させることで、ワークピース11を保持テーブル14によって吸引し、保持できる。なお、図2では、保持面14aの一部を構成する円錐の側面の形状を誇張しているが、実際には、保持面14aの最も高い点と最も低い点との差(高低差)が15μm~20μm程度になる。 By placing the workpiece 11 on this holding surface 14a and applying negative pressure from a suction source, the workpiece 11 can be sucked and held by the holding table 14. Although the shape of the side surface of the cone that forms part of the holding surface 14a is exaggerated in FIG. 2, in reality, the difference (height difference) between the highest point and the lowest point of the holding surface 14a is It becomes about 15 μm to 20 μm.

保持テーブル14は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、円錐の頂点に相当する保持面14aの頂点14cが回転の中心となるように、Z軸方向に対して平行な回転軸、又はZ軸方向に対して僅かに傾いた回転軸の周りに回転する。また、保持テーブル14は、上述したX軸移動機構8によって、X軸移動テーブル8aとともにX軸方向に移動する。 The holding table 14 is connected to a rotational drive source (not shown) such as a motor, and is rotated parallel to the Z-axis direction so that the apex 14c of the holding surface 14a, which corresponds to the apex of the cone, is the center of rotation. It rotates around a rotation axis or a rotation axis slightly tilted with respect to the Z-axis direction. Further, the holding table 14 is moved in the X-axis direction together with the X-axis moving table 8a by the above-mentioned X-axis moving mechanism 8.

支持構造6の前面には、Z軸移動機構16が設けられている。Z軸移動機構16は、Z軸方向に対して概ね平行な一対のZ軸ガイドレール18を備えており、このZ軸ガイドレール18には、Z軸移動プレート20がスライドできる態様で取り付けられている。Z軸移動プレート20の後面側(裏面側)には、ボールネジを構成するナット(不図示)が固定されており、このナットには、Z軸ガイドレール18に対して概ね平行なネジ軸22が回転できる態様で連結されている。 A Z-axis moving mechanism 16 is provided on the front surface of the support structure 6. The Z-axis moving mechanism 16 includes a pair of Z-axis guide rails 18 that are generally parallel to the Z-axis direction, and a Z-axis moving plate 20 is attached to the Z-axis guide rails 18 in a slidable manner. There is. A nut (not shown) constituting a ball screw is fixed to the rear side (back side) of the Z-axis moving plate 20, and this nut has a screw shaft 22 that is generally parallel to the Z-axis guide rail 18. They are rotatably connected.

ネジ軸22の一端部には、Z軸パルスモータ24が連結されている。Z軸パルスモータ24によってネジ軸22を回転させることにより、Z軸移動プレート20はZ軸ガイドレール18に沿ってZ軸方向に移動する。Z軸移動プレート20の前面(表面)には、前方に突出する支持具26が設けられている。 A Z-axis pulse motor 24 is connected to one end of the screw shaft 22 . By rotating the screw shaft 22 by the Z-axis pulse motor 24, the Z-axis moving plate 20 moves in the Z-axis direction along the Z-axis guide rail 18. A support 26 that protrudes forward is provided on the front (surface) of the Z-axis moving plate 20.

支持具26には、ワークピース11を研削するための研削ユニット(加工ユニット)28が支持されている。研削ユニット28は、支持具26に固定されるスピンドルハウジング30を含んでいる。スピンドルハウジング30には、回転軸となるスピンドル32が回転できる状態で収容されている。 A grinding unit (processing unit) 28 for grinding the workpiece 11 is supported on the support 26 . Grinding unit 28 includes a spindle housing 30 that is secured to support 26 . A spindle 32 serving as a rotating shaft is rotatably housed in the spindle housing 30 .

スピンドル32の下端部は、スピンドルハウジング30の外部に露出している。このスピンドル32の下端部には、円盤状のホイールマウント34が設けられている。ホイールマウント34の下面には、ホイールマウント34と概ね同径に構成された円盤状の研削ホイール36がボルト等で固定されている。 A lower end portion of the spindle 32 is exposed to the outside of the spindle housing 30. A disc-shaped wheel mount 34 is provided at the lower end of the spindle 32. A disc-shaped grinding wheel 36 having approximately the same diameter as the wheel mount 34 is fixed to the lower surface of the wheel mount 34 with bolts or the like.

研削ホイール36は、ステンレスやアルミニウム等でなる円盤状(円環状)のホイール基台38(図2)を備えている。ホイール基台38は、互いに概ね平行な上面と下面とを有し、その中央には、ホイール基台38を上面から下面まで貫通する円形の開口が形成されている。また、ホイール基台38の内部には、純水等の液体(加工液)を下方に供給するための流路が設けられている。 The grinding wheel 36 includes a disc-shaped (annular) wheel base 38 (FIG. 2) made of stainless steel, aluminum, or the like. The wheel base 38 has an upper surface and a lower surface that are generally parallel to each other, and a circular opening that penetrates the wheel base 38 from the upper surface to the lower surface is formed in the center thereof. Further, inside the wheel base 38, a flow path is provided for supplying a liquid (processing liquid) such as pure water downward.

ホイール基台38の下面には、樹脂や金属等の結合剤にダイヤモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒を分散させてなる研削用の複数の砥石40が環状に配列されている。砥石40を構成する結合剤の種類(材質)や、砥粒の材質、大きさ等に特段の制限はないが、これらは、例えば、ワークピース11の材質や、研削に求められる平坦度等に合わせて任意に設定される。 On the lower surface of the wheel base 38, a plurality of grinding wheels 40, each made of a binder such as resin or metal with abrasive grains such as diamond or CBN (Cubic Boron Nitride) dispersed therein, are arranged in a ring. There are no particular restrictions on the type (material) of the binder that constitutes the grindstone 40, the material and size of the abrasive grains, but these may vary depending on, for example, the material of the workpiece 11, the flatness required for grinding, etc. It can be set arbitrarily.

研削装置2を用いてワークピース11の第1面11aを研削する際には、まず、ワークピース11の第2面11bの全体を保持テーブル14の保持面14aに接触させて、この保持面14aに吸引源の負圧を作用させる。これにより、ワークピース11の第2面11bが保持テーブル14によって吸引され、ワークピース11は、第1面11aが上方に露出した状態で保持テーブル14に保持される。 When grinding the first surface 11a of the workpiece 11 using the grinding device 2, first, the entire second surface 11b of the workpiece 11 is brought into contact with the holding surface 14a of the holding table 14, and this holding surface 14a Apply negative pressure from a suction source to the As a result, the second surface 11b of the workpiece 11 is attracted by the holding table 14, and the workpiece 11 is held on the holding table 14 with the first surface 11a exposed upward.

保持テーブル14でワークピース11を保持した後には、X軸移動機構8で保持テーブル14を移動させて、例えば、図2に示すように、保持面14aの頂点14cに相当する位置を砥石40が通過できるように、保持テーブル14と研削ホイール36との相対的な位置を調整する。 After the workpiece 11 is held by the holding table 14, the holding table 14 is moved by the X-axis moving mechanism 8, and the grindstone 40 is moved to a position corresponding to the apex 14c of the holding surface 14a, for example, as shown in FIG. The relative positions of the holding table 14 and the grinding wheel 36 are adjusted so that they can pass through.

次に、保持テーブル14と研削ホイール36とを所定の方向にそれぞれ所定の回転数で回転させる。保持テーブル14の回転数は、例えば、10rpm~1000rpmであり、研削ホイール36の回転数は、例えば、1000~5000rpmである。ただし、保持テーブル14の回転数及び研削ホイール36の回転数は、これらに限定されない。 Next, the holding table 14 and the grinding wheel 36 are rotated in a predetermined direction at a predetermined number of rotations. The rotation speed of the holding table 14 is, for example, 10 rpm to 1000 rpm, and the rotation speed of the grinding wheel 36 is, for example, 1000 to 5000 rpm. However, the rotation speed of the holding table 14 and the rotation speed of the grinding wheel 36 are not limited to these.

そして、ホイール基台38の流路等を通じてワークピース11の第1面11aに液体(加工液)を供給しながら、ワークピース11の第1面11aに砥石40を接触させて、研削ホイール36を所定の速度で下降させる。これにより、図2に示すように、砥石40によってワークピース11の第1面11a側を削り取るように加工して、ワークピース11を薄くできる。 Then, while supplying liquid (processing liquid) to the first surface 11a of the workpiece 11 through the channel of the wheel base 38, the grinding wheel 40 is brought into contact with the first surface 11a of the workpiece 11, and the grinding wheel 36 is rotated. lower at a predetermined speed. Thereby, as shown in FIG. 2, the workpiece 11 can be made thinner by grinding off the first surface 11a side of the workpiece 11 using the grindstone 40.

研削ホイール36を下降させる速度は、例えば、0.1μm/s~1.0μm/sであり、液体の供給量は、例えば、1.0L/min~10.0L/minである。ただし、研削ホイール36を下降させる速度及び液体の供給量は、これらに限定されない。 The speed at which the grinding wheel 36 is lowered is, for example, 0.1 μm/s to 1.0 μm/s, and the amount of liquid supplied is, for example, 1.0 L/min to 10.0 L/min. However, the speed at which the grinding wheel 36 is lowered and the amount of liquid supplied are not limited to these.

図3は、研削ホイール36を一定の速度で下降させてワークピース11を研削する際に、研削ホイール36からワークピース11に作用する荷重wと、時間tと、の関係を示すグラフである。なお、この荷重wは、例えば、保持テーブル14の下部に設けられた荷重センサによって測定される。 FIG. 3 is a graph showing the relationship between the load w acting on the workpiece 11 from the grinding wheel 36 and the time t when the grinding wheel 36 is lowered at a constant speed to grind the workpiece 11. Note that this load w is measured, for example, by a load sensor provided at the bottom of the holding table 14.

図3に示すように、ワークピース11に砥石40が接触した時間tから所定の時間tまでの間は、時間の経過とともに、砥石40からワークピース11に作用する荷重wが増大する。時間tで荷重wが第1の値wになった後には、研削が終了する時間tまで荷重wは殆ど変動しない。なお、研削が終了する時間tは、例えば、ワークピース11を所望の厚さまで加工する際に必要となる研削ホイール36の下降量等に基づいて決定される。 As shown in FIG. 3, from time ts when the grindstone 40 contacts the workpiece 11 to a predetermined time t1 , the load w acting on the workpiece 11 from the grindstone 40 increases as time passes. After the load w reaches the first value w 1 at time t 1 , the load w hardly changes until time t e when grinding ends. Note that the time te at which the grinding ends is determined based on, for example, the amount of descent of the grinding wheel 36 that is necessary when processing the workpiece 11 to a desired thickness.

ところで、平面視で矩形状のワークピース11を上述の方法で研削すると、矩形状の対角線に近い領域では、対角線から離れた領域に比べて研削が進み難くなる。対角線に近い領域では、対角線から離れた領域に比べてワークピース11と研削ホイール36(砥石40)とが広い面積で接触し、単位面積当たりの荷重(すなわち、圧力)が小さくなるためである。 By the way, when the workpiece 11, which is rectangular in plan view, is ground by the above-described method, grinding progresses more slowly in areas close to the diagonal of the rectangle than in areas away from the diagonal. This is because in the area close to the diagonal line, the workpiece 11 and the grinding wheel 36 (grinding stone 40) come into contact over a wider area than in the area away from the diagonal line, and the load (i.e., pressure) per unit area becomes smaller.

よって、平面視で矩形状のワークピース11を一定の荷重で研削した場合には、このワークピース11に厚みのばらつきが発生し易くなる。同様の現象は、非円形状のワークピースを一定の荷重で研削する場合にも発生する。図4は、研削後のワークピース11の厚みのばらつきを模式的に示す平面図である。なお、図4では、ワークピース11内の厚い領域を密なハッチングで示し、ワークピース11内の薄い領域を疎なハッチングで示している。 Therefore, when the workpiece 11, which is rectangular in plan view, is ground with a constant load, variations in the thickness of the workpiece 11 are likely to occur. A similar phenomenon occurs when grinding a non-circular workpiece with a constant load. FIG. 4 is a plan view schematically showing variations in the thickness of the workpiece 11 after grinding. Note that, in FIG. 4, thick regions within the workpiece 11 are shown with dense hatching, and thin regions within the workpiece 11 are shown with sparse hatching.

図4に示すように、研削後のワークピース11は、対角線に近い領域で厚く、対角線から離れた領域で薄い。つまり、研削後のワークピース11の厚みは、対角線に最も近い領域Aで最大となり、対角線から最も遠い領域Dで最小となる。より詳細には、ワークピース11は、領域A、領域B、領域F、領域C、領域E、領域Dの順に薄くなる。このように、荷重wが第1の値wとなった後に殆ど変動しない上述の方法では、平面視で矩形状(非円形状)のワークピース11を必ずしも平坦に研削できない。 As shown in FIG. 4, the workpiece 11 after grinding is thick in areas close to the diagonal and thin in areas away from the diagonal. That is, the thickness of the workpiece 11 after grinding is maximum in the region A closest to the diagonal, and minimum in the region D furthest from the diagonal. More specifically, the workpiece 11 becomes thinner in the order of region A, region B, region F, region C, region E, and region D. In this way, with the above-described method in which the load w hardly changes after reaching the first value w1 , the workpiece 11, which is rectangular (non-circular) in plan view, cannot necessarily be ground flat.

そこで、本実施形態にかかるワークピースの研削方法では、ワークピース11の厚みのばらつきが小さくなるように荷重wを変化させる。具体的には、ワークピース11と砥石40との接触によって発生する荷重wが第1の値wとなる条件でワークピース11を研削し(第1研削ステップ)、その後、荷重wが第1の値wよりも小さい第2の値wから第2の値wよりも大きく第1の値wよりも小さい第3の値wに変化する条件でワークピース11を研削する(第2研削ステップ)。 Therefore, in the workpiece grinding method according to the present embodiment, the load w is changed so that the variation in the thickness of the workpiece 11 is reduced. Specifically, the workpiece 11 is ground under conditions in which the load w generated by contact between the workpiece 11 and the grindstone 40 becomes a first value w1 (first grinding step), and then the load w becomes the first value w1. Grinding the workpiece 11 under conditions that change from a second value w 2 smaller than the value w 1 to a third value w 3 larger than the second value w 2 and smaller than the first value w 1 ( 2nd grinding step).

図5は、本実施形態にかかるワークピースの研削方法において、研削ホイール36からワークピース11に作用する荷重wと、時間tと、の関係を示すグラフである。本実施形態にかかるワークピースの研削方法でも、ワークピース11を保持した保持テーブル14と、砥石40が固定された研削ホイール36と、をそれぞれ回転させた状態で、上方に露出するワークピース11の第1面(被研削面)11aに砥石40を接触させて、ワークピース11を研削する。 FIG. 5 is a graph showing the relationship between the load w acting on the workpiece 11 from the grinding wheel 36 and the time t in the workpiece grinding method according to the present embodiment. In the workpiece grinding method according to the present embodiment, the workpiece 11 exposed above is rotated while the holding table 14 holding the workpiece 11 and the grinding wheel 36 to which the grindstone 40 is fixed are rotated. The workpiece 11 is ground by bringing the grindstone 40 into contact with the first surface (surface to be ground) 11a.

保持テーブル14の回転数は、例えば、10rpm~1000rpm、代表的には、300rpm程度であり、研削ホイール36の回転数は、例えば、1000~5000rpm、代表的には、1700rpm程度である。ただし、保持テーブル14の回転数及び研削ホイール36の回転数は、これらに限定されない。 The rotation speed of the holding table 14 is, for example, 10 rpm to 1000 rpm, typically about 300 rpm, and the rotation speed of the grinding wheel 36 is, for example, 1000 to 5000 rpm, typically about 1700 rpm. However, the rotation speed of the holding table 14 and the rotation speed of the grinding wheel 36 are not limited to these.

また、研削ホイール36を下降させる速度は、例えば、0.1μm/s~1.0μm/s、代表的には、0.6μm/s程度であり、液体の供給量は、例えば、1.0L/min~10.0L/min、代表的には、4.0L/min程度である。ただし、研削ホイール36を下降させる速度及び液体の供給量は、これらに限定されない。 Further, the speed at which the grinding wheel 36 is lowered is, for example, 0.1 μm/s to 1.0 μm/s, typically about 0.6 μm/s, and the amount of liquid supplied is, for example, 1.0 L. /min to 10.0 L/min, typically about 4.0 L/min. However, the speed at which the grinding wheel 36 is lowered and the amount of liquid supplied are not limited to these.

図5に示すように、ワークピース11に砥石40が接触した時間tから所定の時間tまでの間は、時間の経過とともに、ワークピース11と砥石40との接触によって発生する荷重wが増大する。時間tで荷重wが第1の値wになった後には、時間tまで荷重wが殆ど変動しない。なお、この第1の値wは、ワークピース11の大きさや材質、研削ホイール36の大きさ、砥石40の材質、研削ホイール36を下降させる速度等の条件によって決まる。本実施形態では、第1の値wを55N程度にしている。 As shown in FIG. 5, from the time ts when the grindstone 40 contacts the workpiece 11 to the predetermined time t1 , the load w generated by the contact between the workpiece 11 and the grindstone 40 increases over time. increase After the load w reaches the first value w 1 at time t 1 , the load w hardly changes until time t 2 . Note that this first value w1 is determined by conditions such as the size and material of the workpiece 11, the size of the grinding wheel 36, the material of the grindstone 40, and the speed at which the grinding wheel 36 is lowered. In this embodiment, the first value w1 is approximately 55N.

時間tになると、荷重wが第1の値wよりも小さい第2の値wへと変化するように研削装置2を動作させる。例えば、研削ホイール36を上昇させて、砥石40をワークピース11の第1面11aから離すことで、荷重wを第1の値wよりも小さい第2の値wへと変化させることができる。なお、この場合には、第2の値wがゼロ(すなわち、無荷重)になる。 At time t2 , the grinding device 2 is operated so that the load w changes to a second value w2 smaller than the first value w1 . For example, by raising the grinding wheel 36 and separating the grindstone 40 from the first surface 11a of the workpiece 11, the load w can be changed to a second value w2 smaller than the first value w1 . can. Note that in this case, the second value w2 becomes zero (ie, no load).

その後、時間tでワークピース11に砥石40を再び接触させる。保持テーブル14の回転数、研削ホイール36の回転数、研削ホイール36を下降させる速度、液体の供給量等の条件は、時間t(時間t)から時間tまでの間に行われる研削(第1研削ステップ)の条件と同じで良い。 Thereafter, the grindstone 40 is brought into contact with the workpiece 11 again at time t3 . Conditions such as the number of rotations of the holding table 14, the number of rotations of the grinding wheel 36, the speed at which the grinding wheel 36 is lowered, and the amount of liquid supplied are determined based on the grinding performed between time t1 (time ts ) and time t2 . The conditions may be the same as those for (first grinding step).

そして、荷重wが第1の値wよりも小さい第3の値wに達した時間tにおいて、ワークピース11の研削を終了させる。すなわち、荷重wが第1の値wまで増大する前に、ワークピース11の研削を終了させる。第3の値wは、例えば、第1の値wの3/4以下、好ましくは、第1の値wの2/3以下である。なお、本実施形態では、第3の値wを30N程度にしている。 Then, at time t e when the load w reaches a third value w 3 smaller than the first value w 1 , grinding of the workpiece 11 is finished. That is, the grinding of the workpiece 11 is finished before the load w increases to the first value w1 . The third value w 3 is, for example, 3/4 or less of the first value w 1 , preferably 2/3 or less of the first value w 1 . Note that in this embodiment, the third value w3 is set to about 30N.

このように、研削の最後のタイミングで荷重wを小さくすることにより、ワークピース11の厚みのばらつきを小さく抑えることができる。本実施形態にかかるワークピースの研削方法は、荷重wが大きくなるほどワークピース11の厚みのばらつきが大きくなり、荷重wが小さくなるほどワークピース11の厚みのばらつき小さくなるという新たな知見に基づくものである。 In this way, by reducing the load w at the final timing of grinding, variations in the thickness of the workpiece 11 can be suppressed to a small level. The workpiece grinding method according to the present embodiment is based on the new knowledge that the larger the load w, the larger the variation in the thickness of the workpiece 11, and the smaller the load w, the smaller the variation in the thickness of the workpiece 11. be.

なお、上述した第1の値w、第2の値w、及び第3の値wに特段の制限はない。例えば、第1の値wは、許容値を超えるような厚みのばらつき(ワークピース11と砥石40との接触にかかる面積がワークピース11の領域毎に異なることに起因して生じる厚みのばらつき)がワークピース11に発生する値に設定されることがある。 Note that there is no particular restriction on the above-described first value w 1 , second value w 2 , and third value w 3 . For example, the first value w1 is a variation in thickness that exceeds the allowable value (a variation in thickness that occurs due to the area of contact between the workpiece 11 and the grindstone 40 being different for each region of the workpiece 11). ) may be set to a value that occurs on the workpiece 11.

一方で、第2の値w及び該第3の値wは、第1の値wでの研削(第1研削ステップ)によって発生したワークピース11の厚みのばらつきを減少させることができる値に設定される。ただし、第2の値wは、ゼロ(無荷重)でなくとも良い。すなわち、砥石40をワークピース11の第1面11aから完全に離さなくても良い。 On the other hand, the second value w 2 and the third value w 3 can reduce the variation in the thickness of the workpiece 11 caused by grinding at the first value w 1 (first grinding step). set to the value. However, the second value w2 does not have to be zero (no load). That is, it is not necessary to completely separate the grindstone 40 from the first surface 11a of the workpiece 11.

なお、砥石40をワークピース11の第1面11aから完全に離す場合には、砥石40がワークピース11の第1面11aと再び接触する際に砥石40が摩耗するので、いわゆる自生発刃が生じ易い。そのため、砥石40をワークピース11の第1面11aから完全に離さない場合に比べて、より良い状態の砥石40でワークピース11を研削できるようになる。 Note that if the grindstone 40 is completely separated from the first surface 11a of the workpiece 11, the grindstone 40 will wear out when it comes into contact with the first surface 11a of the workpiece 11 again, so that so-called self-sharpening will occur. Easy to occur. Therefore, the workpiece 11 can be ground with the grindstone 40 in a better condition than when the grindstone 40 is not completely separated from the first surface 11a of the workpiece 11.

以上のように、本実施形態にかかるワークピースの研削方法では、所定の荷重w(第1の値w)でワークピース11を研削した後に、それよりも小さな荷重w(第2の値w~該第3の値w)でワークピースを研削するので、所定の荷重w(第1の値w)でワークピース11を研削し続ける場合に比べて、非円形状のワークピースに発生する厚みのばらつきを小さく抑えられる。 As described above, in the workpiece grinding method according to the present embodiment, after grinding the workpiece 11 with a predetermined load w (first value w 1 ), a smaller load w (second value w 1 ) is applied. 2 to the third value w 3 ), the workpiece 11 is ground with a predetermined load w (the first value w 1 ). Variations in thickness that occur can be suppressed to a small level.

なお、本発明は、上述した実施形態の記載に制限されず種々変更して実施可能である。例えば、上述した実施形態では、平面視でワークピース11に対応する形状(矩形状)の保持面14aを含む保持テーブル14を使用しているが、平面視で円形状に形成された保持面を含む保持テーブルを使用しても良い。この場合には、例えば、保持面の全体を覆うことのできるテープ等をワークピース11に貼付すれば良い。 Note that the present invention is not limited to the description of the embodiments described above, and can be implemented with various modifications. For example, in the embodiment described above, the holding table 14 including the holding surface 14a having a shape (rectangular shape) corresponding to the workpiece 11 in plan view is used; You may also use a holding table that includes: In this case, for example, a tape or the like that can cover the entire holding surface may be attached to the workpiece 11.

また、上述した実施形態では、時間tから時間tまでの間に行われる研削(第2研削ステップ)の条件を、時間t(時間t)から時間tまでの間に行われる研削(第1研削ステップ)の条件と同じにしているが、これらを異ならせても良い。例えば、第3の値wがより小さくなるように、時間tから時間tまでの間に行われる研削の条件を設定することができる。 Furthermore, in the embodiment described above, the conditions for the grinding (second grinding step) performed between time t 3 and time t e are changed from the conditions for grinding performed between time t 1 (time t s ) and time t 2 . Although the conditions are the same as those for grinding (first grinding step), they may be different. For example, the conditions for grinding performed between time t 3 and time te can be set so that the third value w 3 becomes smaller.

その他、上述した実施形態や変形例にかかる構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて変更して実施できる。 In addition, the structures, methods, etc. according to the embodiments and modifications described above can be modified and implemented without departing from the scope of the objective of the present invention.

2 :研削装置
4 :基台
4a :開口
6 :支持構造
8 :X軸移動機構
8a :X軸移動テーブル
10 :カバー
12 :操作パネル
14 :保持テーブル(チャックテーブル)
14a :保持面
14b :吸引路
14c :頂点
16 :Z軸移動機構
18 :Z軸ガイドレール
20 :Z軸移動プレート
22 :ネジ軸
24 :Z軸パルスモータ
26 :支持具
28 :研削ユニット
30 :スピンドルハウジング
32 :スピンドル
34 :ホイールマウント
36 :研削ホイール
38 :ホイール基台
40 :砥石
11 :ワークピース
11a :第1面(被研削面)
11b :第2面
A :領域
B :領域
C :領域
D :領域
E :領域
F :領域
2: Grinding device 4: Base 4a: Opening 6: Support structure 8: X-axis moving mechanism 8a: X-axis moving table 10: Cover 12: Operation panel 14: Holding table (chuck table)
14a: Holding surface 14b: Suction path 14c: Vertex 16: Z-axis moving mechanism 18: Z-axis guide rail 20: Z-axis moving plate 22: Screw shaft 24: Z-axis pulse motor 26: Support tool 28: Grinding unit 30: Spindle Housing 32: Spindle 34: Wheel mount 36: Grinding wheel 38: Wheel base 40: Grinding wheel 11: Workpiece 11a: First surface (surface to be ground)
11b: Second surface A: Area B: Area C: Area D: Area E: Area F: Area

Claims (4)

非円形状のワークピースを保持した保持テーブルと、研削用の砥石が固定された研削ホイールと、をそれぞれ回転させた状態で、該ワークピースの被研削面に該砥石を接触させて該ワークピースを研削するワークピースの研削方法であって、
該砥石から該ワークピースに作用する荷重が第1の値となるように該ワークピースの平面視における全域を研削する第1研削ステップと、
該第1研削ステップの後に、該荷重が、該第1の値よりも小さい第2の値から該第2の値よりも大きく該第1の値よりも小さい第3の値に変化するように該ワークピースの平面視における全域を研削する第2研削ステップと、を含み、
該第1研削ステップ及び該第2研削ステップは、共通の研削条件で行われ、
該第1の値は、該ワークピースの研削時間の経過とともに増大する該荷重が達する最大値であることを特徴とするワークピースの研削方法。
While rotating a holding table holding a non-circular workpiece and a grinding wheel to which a grinding wheel is fixed, the workpiece is brought into contact with the grinding surface of the workpiece. A method for grinding a workpiece, comprising:
a first grinding step of grinding the entire area of the workpiece in plan view so that the load acting on the workpiece from the grindstone becomes a first value;
After the first grinding step, the load changes from a second value that is less than the first value to a third value that is greater than the second value and less than the first value. a second grinding step of grinding the entire area of the workpiece in plan view ;
The first grinding step and the second grinding step are performed under common grinding conditions,
A method for grinding a workpiece, wherein the first value is a maximum value reached by the load, which increases with the lapse of grinding time of the workpiece .
矩形状の該ワークピースを研削することを特徴とする請求項1に記載のワークピースの研削方法。 2. The method of grinding a workpiece according to claim 1, wherein the workpiece has a rectangular shape. 該第2研削ステップでは、該砥石を該ワークピースの該被研削面から離して該荷重を該第2の値にした後に、該砥石を該ワークピースの該被研削面に再び接触させて該荷重を該第3の値に変化させることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のワークピースの研削方法。 In the second grinding step, the grindstone is separated from the surface to be ground of the workpiece to bring the load to the second value, and then the grindstone is brought into contact with the surface to be ground of the workpiece again. 3. The workpiece grinding method according to claim 1, further comprising changing the load to the third value. 該第1の値は、該ワークピースと該砥石との接触にかかる面積が該ワークピースの領域毎に異なることに起因して生じる該ワークピースの厚みのばらつきが許容値を超える値に設定され、
該第2の値及び該第3の値は、該第1研削ステップで発生した該ワークピースの厚みのばらつきを減少させる値に設定されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のワークピースの研削方法。
The first value is set to a value that causes variations in the thickness of the workpiece that occur due to the area of contact between the workpiece and the grindstone being different for each area of the workpiece to exceed a tolerance value. ,
The second value and the third value are set to values that reduce variations in the thickness of the workpiece that occur in the first grinding step. Method for grinding workpieces described in Crab.
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