JP7378689B1 - 処理装置及び処理システム - Google Patents
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Abstract
Description
環境監視部、センサ部監視部、及び警報部は、対象機器によって構成され、対象機器は、外部の機器との電気的な接続を担う第1コネクタを有し、センサ部は、第1コネクタと嵌合する第2コネクタを有し、第1コネクタと第2コネクタとを介して、第1センサ及び第2センサが対象機器に対して着脱可能に電気的に接続される。
図1に示すように、本実施の形態に係る処理システム600は、プログラマブルロジックコントローラ(Programmable Logic Controller)400に通信可能に接続された制御装置200を備える。
図1には、温度を計測するセンサ部100を例示したが、センサ部100で計測可能な物理量は温度に限られない。互いに異なる物理量を検出する複数のセンサ部100を用意しておけば、制御装置200が設置される環境に応じて、第1コネクタ220を介してセンサ部100の付け替えが可能となる。本実施の形態では、センサ部100の付け替えを可能とする場合の具体的な構成について述べる。
上記実施の形態2では、図4に例示する4つのセンサ部100A-100Dを択一的に使用することとした。制御装置200が、図1に示す第1コネクタ220を複数、具体的には4つ備える場合は、4つのセンサ部100A-100Dのすべてを制御装置200に同時に接続することもできる。本実施の形態では、そのようにして、4つのセンサ部100A-100Dのすべてが制御装置200に同時に接続されるものとする。
図8に示すように、本実施の形態では、制御装置200及びセンサ部100が、制御盤ボックス910に収容された状態で配置される。つまり、制御盤ボックス910は、制御装置200及びセンサ部100を収容する収容空間を画定している。
Claims (8)
- 各々保全の対象とする対象機器に付設され、前記対象機器が置かれている環境を表す物理量であって、前記対象機器に異常が生じる可能性を左右する前記物理量を計測する第1センサ及び第2センサを有し、前記第1センサが計測する前記物理量と、前記第2センサが計測する前記物理量とが共通であるセンサ部と、
前記第1センサの計測結果と前記第2センサの計測結果との少なくとも一方と、予め定められた閾値との比較に基づいて、前記対象機器に異常が生じうる異常事態が発生したか否かを判定する環境監視処理を行う環境監視部と、
前記第1センサの計測結果と、前記第2センサの計測結果との比較に基づいて、前記センサ部が正常であるか否かを判定するセンサ部監視処理を行うセンサ部監視部と、
前記環境監視部の判定結果及び前記センサ部監視部の判定結果に基づき、警報を発する制御を行う警報部と、
を備え、
前記環境監視部、前記センサ部監視部、及び前記警報部は、前記対象機器によって構成され、
前記対象機器は、外部の機器との電気的な接続を担う第1コネクタを有し、
前記センサ部は、前記第1コネクタと嵌合する第2コネクタを有し、
前記第1コネクタと前記第2コネクタとを介して、前記第1センサ及び前記第2センサが前記対象機器に対して着脱可能に電気的に接続される、
処理装置。 - 各々保全の対象とする対象機器に付設され、前記対象機器が置かれている環境を表す物理量であって、前記対象機器に異常が生じる可能性を左右する前記物理量を計測する第1センサ及び第2センサを有し、前記第1センサが計測する前記物理量と、前記第2センサが計測する前記物理量とが共通であるセンサ部と、
前記第1センサの計測結果と前記第2センサの計測結果との少なくとも一方と、予め定められた閾値との比較に基づいて、前記対象機器に異常が生じうる異常事態が発生したか否かを判定する環境監視処理を行う環境監視部と、
前記第1センサの計測結果と、前記第2センサの計測結果との比較に基づいて、前記センサ部が正常であるか否かを判定するセンサ部監視処理を行うセンサ部監視部と、
前記環境監視部の判定結果及び前記センサ部監視部の判定結果に基づき、警報を発する制御を行う警報部と、
を備え、
前記対象機器は、対象機器用筐体と、前記対象機器用筐体に収容される対象機器用被収容体とで構成されており、
前記センサ部は、前記第1センサ及び前記第2センサを収容するセンサ部用第1筐体を有し、
前記センサ部用第1筐体は、前記対象機器用筐体に連結されることにより、前記対象機器用被収容体、前記第1センサ、及び前記第2センサが一緒に配置される共通空間であって外部から仕切られた前記共通空間を、前記対象機器用筐体と共に画定するものである、
処理装置。 - 各々保全の対象とする対象機器に付設され、前記対象機器が置かれている環境を表す物理量であって、前記対象機器に異常が生じる可能性を左右する前記物理量を計測する第1センサ及び第2センサを有し、前記第1センサが計測する前記物理量と、前記第2センサが計測する前記物理量とが共通であるセンサ部と、
前記第1センサの計測結果と前記第2センサの計測結果との少なくとも一方と、予め定められた閾値との比較に基づいて、前記対象機器に異常が生じうる異常事態が発生したか否かを判定する環境監視処理を行う環境監視部と、
前記第1センサの計測結果と、前記第2センサの計測結果との比較に基づいて、前記センサ部が正常であるか否かを判定するセンサ部監視処理を行うセンサ部監視部と、
前記環境監視部の判定結果及び前記センサ部監視部の判定結果に基づき、警報を発する制御を行う警報部と、
を備え、
前記対象機器及び前記センサ部は、制御盤ボックスに収容されており、
前記センサ部は、前記第1センサ及び前記第2センサを収容するセンサ部用第2筐体を有し、
前記センサ部用第2筐体は、前記第1センサ及び前記第2センサを前記制御盤ボックスの内部の空間に晒す開放構造を有するものである、
処理装置。 - 各々保全の対象とする対象機器に付設され、前記対象機器が置かれている環境を表す物理量であって、前記対象機器に異常が生じる可能性を左右する前記物理量を計測する第1センサ及び第2センサを有し、前記第1センサが計測する前記物理量と、前記第2センサが計測する前記物理量とが共通であるセンサ部と、
前記第1センサの計測結果と前記第2センサの計測結果との少なくとも一方と、予め定められた閾値との比較に基づいて、前記対象機器に異常が生じうる異常事態が発生したか否かを判定する環境監視処理を行う環境監視部と、
前記第1センサの計測結果と、前記第2センサの計測結果との比較に基づいて、前記センサ部が正常であるか否かを判定するセンサ部監視処理を行うセンサ部監視部と、
前記環境監視部の判定結果及び前記センサ部監視部の判定結果に基づき、警報を発する制御を行う警報部と、
を備え、
前記対象機器及び前記センサ部は、制御盤ボックスに収容されており、
前記対象機器は、対象機器用筐体と、前記対象機器用筐体に収容される対象機器用被収容体とで構成されており、
前記センサ部は、前記第1センサ及び前記第2センサを収容するものとして択一的に使用されるセンサ部用第1筐体及びセンサ部用第2筐体を有し、
前記センサ部用第1筐体は、前記対象機器用筐体に連結されることにより、前記対象機器用被収容体、前記第1センサ、及び前記第2センサが一緒に配置される共通空間であって前記制御盤ボックスの内部の空間から仕切られた前記共通空間を、前記対象機器用筐体と共に画定するものであり、
前記センサ部用第2筐体は、前記第1センサ及び前記第2センサを前記制御盤ボックスの内部の空間に晒す開放構造を有するものである、
処理装置。 - 前記警報は、
前記センサ部監視部によって前記センサ部が正常であると判定された場合であって、前記環境監視部によって前記異常事態が発生したと判定された場合は、前記対象機器に異常が生じうる旨を表し、
前記センサ部監視部によって前記センサ部が正常でないと判定された場合には、前記センサ部が正常でない旨を表す、
請求項1から4のいずれか1項に記載の処理装置。 - 前記センサ部から前記第1センサの計測結果と前記第2センサの計測結果との少なくとも一方を繰り返し取得し、取得した前記計測結果にその計測結果が得られた時刻を表す時刻情報を付し、前記時刻情報が付された前記計測結果を外部に出力する出力部、
をさらに備える、請求項1から4のいずれか1項に記載の処理装置。 - 前記対象機器によって前記出力部も構成される、
請求項1を引用する請求項6に記載の処理装置。 - 請求項6に記載の処理装置と、
前記処理装置の前記出力部から、前記時刻情報が付された前記計測結果の時系列である計測結果時系列データを取得し、取得した前記計測結果時系列データを用いて前記対象機器の寿命を予測する予測処理を行う上位コンピュータと、
を備える、処理システム。
Applications Claiming Priority (1)
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PCT/JP2023/015613 WO2024218899A1 (ja) | 2023-04-19 | 処理装置及び処理システム |
Publications (1)
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JP2023552512A Active JP7378689B1 (ja) | 2023-04-19 | 2023-04-19 | 処理装置及び処理システム |
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Citations (3)
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JP2002189504A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-05 | Meidensha Corp | ビルディングブロック形コントローラ |
JP2019061368A (ja) * | 2017-09-25 | 2019-04-18 | Tdk株式会社 | センサモジュールおよびセンサ信号処理回路 |
JP2021012504A (ja) * | 2019-07-05 | 2021-02-04 | 株式会社日立製作所 | 故障確率評価システムおよびその方法 |
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2023
- 2023-04-19 JP JP2023552512A patent/JP7378689B1/ja active Active
Patent Citations (3)
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JP2019061368A (ja) * | 2017-09-25 | 2019-04-18 | Tdk株式会社 | センサモジュールおよびセンサ信号処理回路 |
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