JP7364377B2 - Explosives inspection equipment - Google Patents
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Description
本発明は、爆発物検査装置に係り、特に爆発物検査装置のクリーニングに関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to an explosives testing device, and more particularly to cleaning of an explosives testing device.
爆発物検査装置は手荷物等の表面に付着する物質を検出・同定する装置であり、空港やイベント会場等の不特定多数の人が集まる場所におけるセキュリティ対策等に用いられる。爆発物検査装置では、手荷物等の表面を拭き取った紙片に付着した物質が、紙片の加熱によって気化され、さらにイオン化された後、質量分析法によって検出・同定される。質量分析法は、10-15gレベルの検出・同定が可能であるものの残留物質の影響を受けやすいので、分析前のクリーニングにより残留物質を除去しておくことが重要である。 Explosives inspection equipment is a device that detects and identifies substances that adhere to the surface of baggage, etc., and is used for security measures in places where a large number of unspecified people gather, such as airports and event venues. In explosives inspection equipment, substances adhering to a piece of paper that has been wiped off the surface of baggage, etc. are vaporized by heating the paper piece, further ionized, and then detected and identified using mass spectrometry. Although mass spectrometry is capable of detecting and identifying samples at the 10 −15 g level, it is easily affected by residual substances, so it is important to remove residual substances by cleaning before analysis.
特許文献1には、化学物質モニタ装置の内壁に吸着した物質のクリーニングを容易にするために、質量分析の結果に基づいて脱離ガスを選択することが開示されている。具体的には吸着物質が塩か有機物かを判定し、塩ならば水蒸気を、有機物ならば有機溶媒ガスを脱離ガスに用いてクリーニングがなされる。
しかしながら特許文献1では、吸着物質の種類に応じて脱離ガスを選択しているに過ぎず、クリーニング条件として不適切である場合がある。クリーニング条件が不適切である場合、質量分析法の分析精度を低下させたり、クリーニングに長時間を要したりする。
However, in
そこで本発明は、より適切なクリーニング条件を設定することができる爆発物検査装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide an explosives inspection device that can set more appropriate cleaning conditions.
上記目的を達成するために本発明は、クリーニング前に取得される質量分析の結果に基づいて、加熱温度またはガス流量をクリーニング条件として設定し、設定されたクリーニング条件によってクリーニングすることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention is characterized in that heating temperature or gas flow rate is set as a cleaning condition based on the result of mass spectrometry obtained before cleaning, and cleaning is performed according to the set cleaning condition. .
より具体的には、挿入される試料を加熱により気化させて気化試料を生成する試料加熱部と、前記気化試料をイオン化してイオン化試料を生成するイオン化部と、前記試料加熱部から前記イオン化部へのガス流量を調節する流量調節部と、前記イオン化試料を質量分析する質量分析部と、各部を制御する制御部を備える爆発物検査装置であって、前記制御部は、前記試料が挿入される前に前記質量分析部から質量分析の結果を取得する質量分析結果取得部と、前記結果に基づいて前記試料加熱部の加熱温度または前記ガス流量をクリーニング条件として設定するクリーニング条件設定部とを有し、前記クリーニング条件によってクリーニングすることを特徴とする。 More specifically, a sample heating section that vaporizes the sample to be inserted by heating to generate a vaporized sample, an ionization section that ionizes the vaporized sample to generate an ionized sample, and an ionization section that connects the sample heating section to the ionization section. An explosives testing device comprising: a flow rate adjustment section that adjusts a gas flow rate to the sample; a mass spectrometry section that performs mass spectrometry on the ionized sample; and a control section that controls each section; a mass spectrometry result acquisition unit that acquires the mass spectrometry results from the mass spectrometry unit before the mass spectrometry analysis, and a cleaning condition setting unit that sets the heating temperature of the sample heating unit or the gas flow rate as a cleaning condition based on the results. and cleaning is performed under the cleaning conditions described above.
本発明によれば、より適切なクリーニング条件を設定することができる爆発物検査装置を提供することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to provide an explosives inspection device that can set more appropriate cleaning conditions.
以下、添付図面に従って本発明に係る爆発物検査装置の好ましい実施例について説明する。爆発物検査装置は、手荷物等の表面に付着する物質を検出・同定する装置であり、手荷物等の表面を拭き取った紙片の加熱により気化された物質をイオン化した後、質量分析法によって分析する。 Preferred embodiments of the explosives testing device according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Explosives inspection equipment is a device that detects and identifies substances that adhere to the surface of baggage, etc. It ionizes the vaporized substance by heating a piece of paper that has been wiped off the surface of baggage, etc., and then analyzes it using mass spectrometry.
図1を用いて、本実施例の爆発物検査装置の全体構成の一例を説明する。爆発物検査装置は、試料加熱部1、接続部2、イオン化部3、質量分析部4、流量調節部5、吸引ポンプ6、制御部7を備える。以下、各部について説明する。
An example of the overall configuration of the explosives testing device of this embodiment will be described with reference to FIG. The explosives testing device includes a
試料加熱部1は、手荷物等の表面を拭き取った紙片を加熱し、紙片に付着した物質を気化させて気化試料を生成する装置である。図2を用いて試料加熱部1の構成例について説明する。試料加熱部1は、紙片導入口21と光学センサ22と紙片挟み込み部23を有する。
The
紙片導入口21は、分析対象である物質が付着した紙片が挿入される開口である。光学センサ22は、試料加熱部1に紙片が挿入されたことを検知するセンサである。紙片挟み込み部23は、紙片を鉛直方向から挟み込むとともに加熱する部位である。紙片挟み込み部23の加熱温度は、分析対象となる物質が気化する温度、例えば250℃に設定される。すなわち、紙片導入口21から挿入された紙片が光学センサ22によって検知されると、紙片挟み込み部23が紙片を上下から挟み込むとともに加熱する。このような動作により、紙片に付着した物質が気化して気化試料が生成される。
The
図1の説明に戻る。接続部2は、試料加熱部1とイオン化部3を接続する配管である。試料加熱部1で生成された気化試料は接続部2を介してイオン化部3へ供給される。気化試料の吸着や再凝縮を防ぐために、接続部2は所定の温度、例えば200℃に保たれる。
Returning to the explanation of FIG. The connecting
イオン化部3は、気化試料をイオン化してイオン化試料を生成する装置である。気化試料のイオン化には、APCI(Atmospheric Pressure Chemical Ionization)法やEI(Electron Ionization)法等が用いられる。イオン化試料は質量分析部4へ供給される。
The
質量分析部4は、イオン化試料を質量分析する装置である。イオン化試料は、質量/電荷比、いわゆるm/z毎に分離された後、個々に検出される。m/z毎に分離されて検出された結果は、制御部7に送信される。
The mass spectrometer 4 is a device that performs mass spectrometry on an ionized sample. Ionized samples are separated by mass/charge ratio, so-called m/z, and then detected individually. The separated and detected results for each m/z are transmitted to the
吸引ポンプ6は、試料加熱部1で生成された気化試料がイオン化部3へ供給されるようにイオン化部3の内部を吸引するポンプである。吸引ポンプ6の吸引能力は、例えば2.0L/minである。
The suction pump 6 is a pump that sucks the inside of the
流量調節部5は、イオン化部3と吸引ポンプ6との間に設置される弁であり、イオン化部3から吸引されるガス流量の調節に用いられる。流量調節部5によってガス流量は、例えば0.6L/minや1.0L/minに調節される。
The flow
制御部7は、爆発物検査装置が備える各部を制御する装置であり、例えばコンピュータによって構成される。また制御部7は、質量分析部4から送信される検出結果に基づいて、m/z毎のカウント数がプロットされたマススペクトルを生成する。マススペクトルは物質によって異なるので、得られたマススペクトルから物質、特にTNT(TriNitroToluene)等の爆発物を同定することができる。なお物質の同定には、既知の物質を質量分析して得られたマススペクトルが用いられても良い。すなわち既知の物質のマススペクトルを複数記録しておき、分析対象の物質を質量分析した結果を、記録されたデータ群と照合することにより物質を同定しても良い。生成されたマススペクトルや物質の同定結果は、液晶ディスプレイ等の表示装置に表示される。
The
質量分析により10-15gレベルの物質の同定が可能であるものの、分析精度を維持するには分析対象となる物質や微量な異物をクリーニングによって予め除去しておく必要がある。またクリーニング条件が不適切である場合、残留物質によって分析精度が低下したり、残留物質の除去に長時間を要したりする。そこで本実施例では、試料が試料加熱部1に挿入される前に各部を起動させることにより質量分析部4から取得される質量分析の結果に基づいて適切なクリーニング条件を設定してクリーニングを実施する。なおクリーニング条件には、試料加熱部1の加熱温度や流量調節部5によって調節されるガス流量が含まれる。
Although it is possible to identify substances on the 10 −15 g level by mass spectrometry, in order to maintain analysis accuracy, it is necessary to remove the substance to be analyzed and trace amounts of foreign matter by cleaning in advance. Furthermore, if the cleaning conditions are inappropriate, residual substances may reduce analysis accuracy or require a long time to remove residual substances. Therefore, in this embodiment, cleaning is performed by setting appropriate cleaning conditions based on the mass spectrometry results obtained from the mass spectrometry section 4 by starting each section before the sample is inserted into the
図3を用いて、本実施例の要部の構成例について説明する。なおこれらの要部は、専用のハードウェアで構成されても良いし、制御部7上で動作するソフトウェアで構成されても良い。以降の説明では本実施例の要部がソフトウェアで構成された場合について説明する。本実施例は、質量分析結果取得部31とクリーニング条件DB(Data Base)32とクリーニング条件設定部33を有する。以下、各部について説明する。
A configuration example of the main parts of this embodiment will be explained using FIG. 3. Note that these main parts may be configured with dedicated hardware or with software that operates on the
質量分析結果取得部31は、試料が試料加熱部1に挿入される前に、質量分析部4から送信される検出結果によって生成されるマススペクトルに基づいて、試料加熱部1やイオン化部3に残留する物質を同定する。試料加熱部1やイオン化部3の残留物質の同定のための分析は、バックグラウンド分析とも呼ばれる。バックグラウンド分析の結果は、クリーニング条件設定部33に送信される。
Before the sample is inserted into the
クリーニング条件設定部33は、バックグラウンド分析の結果に基づいて、クリーニング条件を設定する。すなわち、バックグラウンド分析の結果として同定された残留物質を除去するのに適したクリーニング条件として、試料加熱部1の加熱温度や流量調節部5によって調節されるガス流量が設定される。クリーニング条件設定部33は、加熱温度やガス流量を設定するにあたり、対象成分とクリーニング条件とを対応付けて記憶するクリーニング条件DB32にバックグラウンド分析の結果を照合しても良い。
The cleaning
図4を用いて、本実施例の処理の流れの一例について説明する。 An example of the processing flow of this embodiment will be explained using FIG. 4.
(S401)
制御部7は、爆発部検査装置の各部を起動させ、通常測定条件の状態、例えば試料加熱部1を250℃、接続部2を200℃とし、流量調節部5によってガス流量を0.6L/minに調節する。試料加熱部1に試料が挿入される前に、各部を通常測定条件の状態にすることにより、バックグラウンド分析が実施できるようになる。
(S401)
The
(S402)
制御部7がバックグラウンド分析を実施させることによって、質量分析結果取得部31がバックグラウンド分析の結果を取得する。
(S402)
When the
(S403)
質量分析結果取得部31は、バックグラウンド分析の結果が閾値を超過しているか否かを判定する。閾値は、図5に例示されるクリーニング条件DBから判定m/zの値毎に取得され、バックグラウンド分析の結果と照合される。すなわちバックグラウンド分析の結果が、クリーニング条件DBに含まれるいずれかの閾値を超過している場合はS404へ処理が進み、超過していない場合はS406へ処理が進む。
(S403)
The mass spectrometry
例えば、質量分析部4での検出結果に基づいて生成されるマススペクトルにおいて、m/z=265の信号強度が閾値17000を超過する場合は、図5のクリーニング条件DBから、試料加熱部1やイオン化部3に残留する物質としてNo.1の爆発物Aが同定される。またm/z=62の信号強度が閾値20000を超過する場合は、No.2の爆発物Bが残留物質として同定される。
For example, if the signal intensity of m/z=265 exceeds the
なお、クリーニング条件DBに該当する対象成分が未登録であっても、信号強度が所定の閾値、例えば50000を超過する場合には、残留物質が未知成分であるとしてS404に処理を進めても良い。残留物質を未知成分として同定したときには、マススペクトルのピークを示すm/zの値に応じて、図5のNo.4とNo.5のように低沸点と高沸点のいずれかに分類しても良い。 Note that even if the target component corresponding to the cleaning condition DB is not registered, if the signal strength exceeds a predetermined threshold value, for example 50,000, the residual substance may be determined to be an unknown component and the process may proceed to S404. . When a residual substance is identified as an unknown component, it is classified into either low boiling point or high boiling point, as shown in No. 4 and No. 5 in Figure 5, according to the m/z value that indicates the peak in the mass spectrum. Also good.
(S404)
クリーニング条件設定部33は、クリーニング条件を設定する。クリーニング条件は、S403での同定結果に基づいて設定される。すなわち試料加熱部1やイオン化部3の残留物質を除去するのに適したクリーニング条件として、試料加熱部1の加熱温度や流量調節部5によって調節されるガス流量が設定される。具体的には、図5に例示されるクリーニング条件DBにS403での同定結果が照合されることによってクリーニング条件が設定される。例えば、S403において爆発物Aが同定された場合には、加熱温度270℃またはガス流量0.6L/minが設定される。
(S404)
The cleaning
加熱温度は、対象成分の沸点Tbよりも若干高い温度、例えばTb+30に設定される。加熱温度が沸点Tbよりも若干高い温度に設定されることにより、対象成分が十分に気化され、吸引ポンプ6の吸引によって除去されるとともに、昇温後の冷却に要する時間を短くできる。なお爆発物Bのように沸点が低い場合は、通常測定条件の加熱温度250℃でも十分に気化されるので、通常測定条件と同じ加熱温度が設定されても良い。ただし、クリーニングの時間を短縮するために、通常測定条件よりも大きいガス流量が設定されても良い。また爆発物Cのように沸点が高い場合は、昇温に要する時間を短くするために、通常測定条件と同じガス流量が設定されても良い。 The heating temperature is set to a temperature slightly higher than the boiling point Tb of the target component, for example, Tb+30. By setting the heating temperature to a temperature slightly higher than the boiling point Tb, the target component is sufficiently vaporized and removed by suction by the suction pump 6, and the time required for cooling after the temperature is raised can be shortened. In addition, when the boiling point is low like explosive B, since it is sufficiently vaporized even at the heating temperature of 250° C. under the normal measurement conditions, the same heating temperature as the normal measurement conditions may be set. However, in order to shorten the cleaning time, a gas flow rate larger than the normal measurement conditions may be set. Further, when the boiling point is high like explosive C, the same gas flow rate as the normal measurement conditions may be set in order to shorten the time required to raise the temperature.
(S405)
制御部7は、S404で設定されたクリーニング条件により、爆発部検査装置をクリーニングする。特に、試料が挿入されることにより様々な物質が付着しやすい試料加熱部1とイオン化部3とがクリーニングされる。クリーニングが実施された後、S402のバックグラウンド分析とS403の閾値判定が行われる。すなわち、バックグラウンド分析の結果が閾値以下となるまでクリーニングが繰り返される。
(S405)
The
(S406)
手荷物等の表面を拭き取った紙片が試料加熱部1へ挿入され、制御部7が各部を通常測定条件の状態にすることにより、紙片に含まれる物質が質量分析される。質量分析の結果は表示装置に表示される。新たな試料が質量分析される場合は、分析済みの試料が試料加熱部1から取り除かれた後、S402に処理が戻される。
(S406)
A piece of paper on which the surface of baggage or the like has been wiped is inserted into the
以上説明した処理の流れにより、爆発部検査装置が十分にクリーニングされた状態で、試料を質量分析することができるので、高い分析精度を達成できる。また、バックグラウンド分析の結果に基づき、試料加熱部1の加熱温度や流量調節部5によって調節されるガス流量が設定されるので、より適切なクリーニング条件が設定できる。そして、より適切なクリーニング条件が設定できるので、クリーニングを短時間で済ませることができる。
According to the process flow described above, it is possible to perform mass spectrometry on a sample while the explosion part inspection device is sufficiently cleaned, so that high analysis accuracy can be achieved. Further, since the heating temperature of the
図6を用いて、クリーニング条件の違いによる残留物質の経時変化の差異について説明する。図6には残留物質の一例として、m/z=152にピークを有する香料由来成分である高揮発性成分、すなわち低沸点の対象成分の経時変化が示される。m/z=152であり250未満であるので、図5においてNo.4のクリーニング条件、すなわち加熱温度250℃、ガス流量1.0L/minが設定され、図6では実線で示される。なお比較条件として、通常測定条件である加熱温度250℃、ガス流量0.6L/minが設定されたときの経時変化が破線で示される。 Differences in changes in residual substances over time due to differences in cleaning conditions will be explained using FIG. 6. As an example of residual substances, FIG. 6 shows the change over time of a highly volatile component, which is a fragrance-derived component having a peak at m/z=152, that is, a target component with a low boiling point. Since m/z=152 and less than 250, No. Cleaning conditions No. 4, namely, a heating temperature of 250° C. and a gas flow rate of 1.0 L/min, are set, and are shown by a solid line in FIG. As a comparison condition, the broken line shows the change over time when the normal measurement conditions were set to a heating temperature of 250° C. and a gas flow rate of 0.6 L/min.
図6において、m/z=152の信号強度が閾値50000を下回るまでに、破線では14sを要したのに対し、実線では8sであった。すなわち、より適切なクリーニング条件が設定されることにより、クリーニングを短時間で済ませられることが示された。 In FIG. 6, it took 14 seconds for the signal strength of m/z=152 to fall below the threshold value of 50,000 on the broken line, whereas it took 8 seconds on the solid line. In other words, it was shown that by setting more appropriate cleaning conditions, cleaning can be completed in a shorter time.
以上、本発明の実施例について説明した。本発明は上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形しても良い。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせても良い。さらに、上記実施例に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。 The embodiments of the present invention have been described above. The present invention is not limited to the above-described embodiments, and the constituent elements may be modified without departing from the gist of the invention. Further, a plurality of components disclosed in the above embodiments may be combined as appropriate. Furthermore, some components may be deleted from all the components shown in the above embodiments.
1:試料加熱部、2:接続部、3:イオン化部、4:質量分析部、5:流量調節部、6:吸引ポンプ、7:制御部、21:紙片導入口、22:光学センサ、23:紙片挟み込み部、31:質量分析結果取得部、32:クリーニング条件DB、33:クリーニング条件設定部 1: Sample heating section, 2: Connection section, 3: Ionization section, 4: Mass spectrometry section, 5: Flow rate adjustment section, 6: Suction pump, 7: Control section, 21: Paper strip introduction port, 22: Optical sensor, 23 : Paper piece sandwiching part, 31: Mass spectrometry result acquisition part, 32: Cleaning condition DB, 33: Cleaning condition setting part
Claims (4)
前記気化試料をイオン化してイオン化試料を生成するイオン化部と、
前記試料加熱部から前記イオン化部へのガス流量を調節する流量調節部と、
前記イオン化試料を質量分析する質量分析部と、
各部を制御する制御部を備える爆発物検査装置であって、
前記制御部は、前記試料が挿入される前に前記質量分析部から質量分析の結果を取得する質量分析結果取得部と、前記結果に基づいて前記試料加熱部の加熱温度または前記ガス流量をクリーニング条件として設定するクリーニング条件設定部とを有し、前記クリーニング条件によってクリーニングし、
前記加熱温度が、前記試料加熱部が前記試料を加熱する温度以下である場合、前記クリーニング条件設定部は前記イオン化試料を質量分析するときよりも前記ガス流量を大きくすることを特徴とする爆発物検査装置。 a sample heating section that vaporizes the inserted sample by heating to generate a vaporized sample;
an ionization unit that ionizes the vaporized sample to generate an ionized sample;
a flow rate adjustment unit that adjusts the gas flow rate from the sample heating unit to the ionization unit;
a mass spectrometer that performs mass spectrometry on the ionized sample;
An explosives inspection device comprising a control unit that controls each part,
The control unit includes a mass spectrometry result acquisition unit that acquires a mass spectrometry result from the mass spectrometry unit before the sample is inserted, and a cleaning unit that cleans the heating temperature of the sample heating unit or the gas flow rate based on the result. a cleaning condition setting section for setting conditions, and cleaning according to the cleaning conditions ;
When the heating temperature is lower than the temperature at which the sample heating section heats the sample, the cleaning condition setting section increases the gas flow rate when mass spectrometry is performed on the ionized sample. Inspection equipment.
前記クリーニング条件設定部は、対象成分とクリーニング条件とを対応付けて記憶するクリーニング条件DBに、前記結果を照合することによって前記クリーニング条件を設定することを特徴とする爆発物検査装置。 The explosives inspection device according to claim 1,
The explosives testing device is characterized in that the cleaning condition setting unit sets the cleaning conditions by collating the results in a cleaning condition DB that stores target components and cleaning conditions in association with each other.
前記加熱温度は、対象成分の沸点よりも高いことを特徴とする爆発物検査装置。 The explosives inspection device according to claim 1,
An explosives testing device characterized in that the heating temperature is higher than the boiling point of the target component.
前記結果に含まれる対象成分の信号強度が閾値以下となるまでクリーニングを繰り返すことを特徴とする爆発物検査装置。 The explosives inspection device according to claim 1,
An explosives testing device characterized in that cleaning is repeated until the signal strength of the target component included in the result becomes equal to or less than a threshold value.
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