JP7358254B2 - Equipment condition evaluation support device - Google Patents
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Description
本願は、機器状態評価支援装置に関するものである。 The present application relates to an equipment condition evaluation support device.
電力関係の機器は、発電、送電、変電、配電などで使用されている。これらの電力機器が発する異常の兆候に基づいて、機器における状態変化の評価を支援する機器状態評価支援装置および機器状態評価支援方法が提案されている（例えば、特許文献１の段落０００７、および第２図を参照）。この、機器状態評価支援装置および機器状態評価支援方法では、機器が発する音響を測定し、測定された音響データに含まれている異常の兆候を示すパターンを捉えている。さらに、この機器状態評価支援装置および機器状態評価支援方法では、捉えられた兆候パターンが発生する頻度の増加をもって、機器状態が低下していると判断する。
Electric power-related equipment is used in power generation, transmission, transformation, distribution, etc. An equipment status evaluation support device and an equipment status evaluation support method have been proposed that support evaluation of status changes in the equipment based on signs of abnormality emitted by these power equipment (for example,
上述した、機器状態評価支援装置および機器状態評価支援方法では、時間とともに増加していく予兆パターンの発生頻度をもって、機器状態の変化を判定している。そのため、時間とともに発生頻度が増加していかない予兆パターンについては、機器状態を判定することができなかった。また、基準となる時間については、明記されていない。さらに、どのぐらいの時間でどのぐらい発生頻度が増えると、どの程度変化していると判断できるのかについては、具体的な記載が見当たらない。 In the device status evaluation support device and the device status evaluation support method described above, changes in the device status are determined based on the frequency of occurrence of predictive patterns that increases with time. Therefore, the device status could not be determined for predictive patterns whose frequency of occurrence does not increase over time. Furthermore, the standard time is not specified. Furthermore, there is no specific description of how much time and how much the frequency of occurrence should increase to determine the degree of change.
本願に関わる機器状態評価支援装置は、上記のような課題を解決するためになされたものである。すなわち、時間とともに予兆パターンの発生頻度が増加する場合以外の事例ついても、評価対象機器における機器状態の変化を診断することが可能な、機器状態評価支援装置を得ることを目的とする。 The equipment condition evaluation support device related to the present application has been developed to solve the above problems. That is, the object of the present invention is to obtain an equipment state evaluation support device that can diagnose changes in the equipment state of equipment to be evaluated even in cases other than cases where the frequency of occurrence of a symptom pattern increases with time.
本願に関わる機器状態評価支援装置は、
評価対象機器に関わる、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値が入力される入力装置と、
前記入力装置から入力された、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値を基にして、タイムスロットに配分されたイベント発生回数とタイムスロットに配分されたイベントスコアを計算する中央処理装置と、
前記入力装置から入力された、機器データおよびイベント発生回数閾値と、前記中央処理装置で計算された、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアとを格納する記憶装置と、
前記記憶装置に格納されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアを基にして、評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示する表示装置とを、備え、
前記表示装置は、前記入力装置から評価対象機器を特定する情報が入力されると、この特定する情報に対応した評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示することを特徴とする。
The equipment condition evaluation support device related to this application is:
an input device into which device data, event data, and event occurrence frequency threshold related to the evaluation target device are input;
a central processing unit that calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device; ,
a storage device that stores device data and event occurrence frequency thresholds input from the input device, and event occurrence counts distributed to time slots and event scores distributed to time slots calculated by the central processing unit; and,
Displaying event trend data and event map data related to the evaluation target device based on the number of event occurrences allocated to the time slots and the event scores allocated to the time slots, which are stored in the storage device. a display device;
The display device is characterized in that, when information specifying the evaluation target device is input from the input device, the display device displays event trend data and event map data related to the evaluation target device corresponding to this identifying information. shall be.
本願に関わる機器状態評価支援装置は、
評価対象機器に関わる、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値が入力される入力装置と、
前記入力装置から入力された、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値を基にして、タイムスロットに配分されたイベント発生回数とタイムスロットに配分されたイベントスコアを計算する中央処理装置と、
前記入力装置から入力された、機器データおよびイベント発生回数閾値と、前記中央処理装置で計算された、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアとを格納する記憶装置と、
前記記憶装置に格納されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアを基にして、評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示する表示装置とを、備え、
前記表示装置は、前記入力装置から評価対象機器を特定する情報が入力されると、この特定する情報に対応した評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示することを特徴とすることにより、
イベントのトレンドデータに加え、イベントのマップデータにより、イベントの発生日時（発生時刻）に基づいて、イベント発生回数を領域（タイムスロット）に分けて表示することが可能である。その結果、時間とともに予兆パターンの発生頻度が増加する場合以外の事例ついても、評価対象機器における機器状態の変化を診断することが可能な、機器状態評価支援装置を得ることができる。
The equipment condition evaluation support device related to this application is:
an input device into which device data, event data, and event occurrence frequency threshold related to the evaluation target device are input;
a central processing unit that calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device; ,
a storage device that stores device data and event occurrence frequency thresholds input from the input device, and event occurrence counts distributed to time slots and event scores distributed to time slots calculated by the central processing unit; and,
Displaying event trend data and event map data related to the evaluation target device based on the number of event occurrences allocated to the time slots and the event scores allocated to the time slots, which are stored in the storage device. a display device;
The display device is characterized in that, when information specifying the evaluation target device is input from the input device, the display device displays event trend data and event map data related to the evaluation target device corresponding to this identifying information. By doing so,
In addition to event trend data, event map data allows the number of event occurrences to be divided into areas (time slots) and displayed based on the date and time of event occurrence. As a result, it is possible to obtain an equipment state evaluation support device that can diagnose changes in the equipment state of equipment to be evaluated even in cases other than cases where the frequency of occurrence of a symptom pattern increases with time.
本願の実施の形態に関わる、機器状態評価支援装置について、図を参照しながら以下に説明する。なお、各図において、同一または同様の構成部分については同じ符号を付しており、対応する各構成部のサイズと縮尺はそれぞれ独立している。例えば構成の一部を変更した断面図の間で、変更されていない同一構成部分を図示する際に、同一構成部分のサイズと縮尺が異なっている場合もある。また、機器状態評価支援装置は、実際にはさらに複数の部材を備えているが、説明を簡単にするため、説明に必要な部分のみを記載し、他の部分については省略している。 An equipment condition evaluation support device related to an embodiment of the present application will be described below with reference to the drawings. In each figure, the same or similar components are denoted by the same reference numerals, and the sizes and scales of the corresponding components are independent. For example, when illustrating the same component that has not been changed between cross-sectional views in which a part of the configuration has been changed, the size and scale of the same component may be different. Furthermore, although the equipment condition evaluation support device actually includes a plurality of members, in order to simplify the explanation, only the parts necessary for the explanation are described and other parts are omitted.
実施の形態１．
以下、本願の実施の形態に関わる、機器状態評価支援装置を図に基づいて説明する。本実施の形態によれば、時間と予兆パターンの発生関係に基づく状態評価のアルゴリズムについて具体的に記載を行っており、本願に関わる機器状態評価支援装置を再現可能なものとしている。図１は、本願の実施の形態１に関わる機器状態評価支援システム２００の全体構成を示しているシステム構成図である。機器状態評価支援システム２００は、Ｗｅｂ端末１１、Ｗｅｂサーバ１３、アプリケーションサーバ１５、データベースサーバ１６、評価対象機器１８、およびネットワーク関連機器を備えている。実施の形態１に関わる機器状態評価支援装置は、Ｗｅｂ端末１１、Ｗｅｂサーバ１３、アプリケーションサーバ１５、データベースサーバ１６などから構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An equipment condition evaluation support device according to an embodiment of the present application will be described below based on the drawings. According to the present embodiment, an algorithm for condition evaluation based on the occurrence relationship between time and predictive patterns is specifically described, and the apparatus condition evaluation support apparatus according to the present application can be reproduced. FIG. 1 is a system configuration diagram showing the overall configuration of an equipment condition
実施の形態１に関わる機器状態評価支援装置では、Ｗｅｂサーバ１３、アプリケーションサーバ１５、データベースサーバ１６からなる、Ｗｅｂ３階層方式が採用されている。Ｗｅｂ端末１１（機器データ入力手段、イベント発生回数閾値入力手段、イベントデータ入力手段）は、Ｗｅｂサーバ１３にネットワーク回線（インターネット）１２を経由して接続し、機器状態評価支援システム２００におけるユーザインタフェイスとして使用される。状態評価の対象となる評価対象機器１８は、電力の発電、送電、変電、配電に使用されるもので、ネットワーク１７に接続している。Ｗｅｂ端末１１（入力装置）は、ネットワーク回線１２を経由して、評価対象機器１８と接続することができる。
The device status evaluation support device according to the first embodiment employs a three-layer Web system consisting of a
機器状態評価支援システム２００では、ネットワーク回線１２の例としてインターネットを使用することを想定しているが、ネットワーク回線１２はイントラネットでも実現可能である。Ｗｅｂサーバ１３は、ネットワーク回線１２を経由して、Ｗｅｂ端末１１（入力装置）と情報のやり取りを行う。ファイヤーウォール１４は、インターネットを経由してのやり取りにおけるセキュリティ確保のために、Ｗｅｂサーバ１３とアプリケーションサーバ１５の間に設けられている。アプリケーションサーバ１５（中央処理装置、表示装置）は、本願の主たる構成要素（イベント発生回数／イベントスコア計算手段、トレンドデータ表示手段、マップデータ表示手段）を実現するためのものである。
Although the device condition
データベースサーバ１６（記憶装置）は、本願のデータをつかさどる構成要素（機器データ記憶手段、イベント発生回数閾値記憶手段、トレンドデータ記憶手段、マップデータ記憶手段）を実現するために設けられている。アプリケーションサーバ１５とデータベースサーバ１６は、ファイヤーウォール１４と、ネットワーク１７で接続されている。ここでは、本願の実施の形態として、Ｗｅｂ３階層方式（Ｗｅｂサーバ１３、アプリケーションサーバ１５、データベースサーバ１６）での実現例を示している。
The database server 16 (storage device) is provided to realize the components (device data storage means, event occurrence threshold storage means, trend data storage means, map data storage means) that manage the data of the present application. The
上記を踏まえ、以下に、本願に関わる機器状態評価支援装置の機能上の構成を説明する。図２は、本願の実施の形態に関わる機器状態評価支援装置１００を示す機能ブロック図である。機器状態評価支援装置１００は、入力装置（Ｗｅｂ端末１１）を実現する機能として、機器データ入力手段２１、イベント発生回数閾値入力手段２２、イベントデータ入力手段２３を備えている。機器状態評価支援装置１００は、記憶装置を実現する機能として、機器データ記憶手段２４、イベント発生回数閾値記憶手段２５、トレンドデータ記憶手段２６、マップデータ記憶手段２７を備えている。
Based on the above, the functional configuration of the equipment condition evaluation support device related to the present application will be described below. FIG. 2 is a functional block diagram showing the equipment condition
機器状態評価支援装置１００は、中央処理装置を実現する機能として、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８を備えている。機器状態評価支援装置１００は、表示装置を実現する機能として、トレンドデータ表示手段２９、マップデータ表示手段３０を備えている。機器状態評価支援装置１００の入力手段のうち、機器データ入力手段２１は、機器状態評価支援装置の外部より、状態評価の対象となる評価対象機器１８の機器データ（機器名称、機器種別、製造者など）を機器状態評価支援装置に入力するために使用する。
The device condition
機器状態評価支援装置１００の入力手段のうち、イベント発生回数閾値入力手段２２は、イベントスコアを算出するうえで使用する、イベント発生回数閾値を入力するためのものである。機器状態評価支援装置１００の入力手段のうち、イベントデータ入力手段２３は、状態評価の対象となる評価対象機器１８における異常の予兆を示すイベントデータ（機器名称、イベントの発生日時など）を入力するためのものである。
Among the input means of the device condition
機器状態評価支援装置１００の記憶手段のうち、機器データ記憶手段２４は、機器データ入力手段２１で入力した機器データを記憶しておくためのものである。機器状態評価支援装置１００の記憶手段のうち、イベント発生回数閾値記憶手段２５は、イベントスコアを算出するうえで使用する、イベント発生回数閾値を記憶しておくためのものである。機器状態評価支援装置１００の記憶手段のうち、トレンドデータ記憶手段２６は、イベントデータ入力手段２３で入力したイベントデータをもとに計算した、イベント発生回数およびイベントスコアを日単位で記憶するためのものである。
Among the storage means of the equipment condition
なお、トレンドデータは、日単位としているが、トレンドデータ記憶手段のデータ容量が許せば、トレンドデータ記憶手段２６は、時間単位、分単位、または秒単位で記憶することも可能である。機器状態評価支援装置１００の記憶手段のうち、マップデータ記憶手段２７は、イベントデータ入力手段２３で入力したイベントデータをもとに計算したイベント発生回数およびイベントスコアをタイムスロットに配分して記憶するためのものである。イベント発生回数は、一つの評価対象機器に対し１種類に限定する必要はない。機器データ記憶手段２４の容量が許せば、本願の構成を応用することで、一つの評価対象機器に対し複数のイベントを入力し、それぞれのイベント発生回数とイベントスコアを評価する仕組みを実現することは容易である。
Although the trend data is stored in units of days, the trend
機器状態評価支援装置１００は、中央処理装置を実現する機能として、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８を備えている。イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８のうち、イベント発生回数計算部は、イベントデータ入力手段２３で入力したイベントデータをもとに、トレンドデータにおける各日付のイベント発生回数と、マップデータにおける各タイムスロットのイベント発生回数を、計算する。イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８のうち、イベントスコア計算部は、各タイムスロットにおける閾値を超えたイベント発生回数をイベントスコアとして計算し、その結果をマップデータ記憶手段２７に格納する。
The device condition
また、イベントスコア計算部は、イベントの発生日付におけるイベントスコアの合計値を、トレンドデータ記憶手段２６に格納する。機器状態評価支援装置１００の表示手段のうち、トレンドデータ表示手段２９は、トレンドデータ記憶手段２６に格納されたイベント発生回数、イベントスコアを、日単位、月単位、年単位で表示するためのものである。機器状態評価支援装置１００の表示手段のうち、マップデータ表示手段３０は、マップデータ記憶手段２７に格納されたイベント発生回数、イベントスコアを、タイムスロット単位で表示するためのものである。
Further, the event score calculation section stores the total value of the event scores on the date of occurrence of the event in the trend data storage means 26. Among the display means of the device condition
本願には、イベント、イベントスコア、タイムスロットなどの用語が使用されている。このうち、イベントは、先行技術文献では「予兆パターン」と記載されている事柄である。実施の形態に関わる機器状態評価支援装置１００では、機器の異常の兆候を示す事象を「イベント」と呼ぶこととしている。よって、以降、異常兆候の発生＝イベントの発生と記載することとする。また、本願では、評価対象機器におけるイベント発生回数より、評価対象機器の状態変化度合いを推定している。
Terms such as event, event score, time slot, etc. are used in this application. Among these, an event is a matter described as a "predictive pattern" in prior art documents. In the device state
本願では、状態変化度合いを評価する指標を「イベントスコア」と呼ぶこととする。イベントスコアは、値が大きくなればなるほど、評価対象機器の状態変化が進んでおり、近い将来に故障する可能性が高いことを示しているものである。また、本実施の形態では、イベントの発生分布を時間軸で評価するために、評価用の時間メッシュを設けている。この評価用の時間メッシュを「タイムスロット」と呼ぶこととする。さらに、個々のタイムスロットを「発生領域」と呼ぶことにする。 In this application, an index for evaluating the degree of state change will be referred to as an "event score." The event score indicates that the larger the value, the more advanced the state change of the evaluation target device is, and the higher the possibility that it will break down in the near future. Furthermore, in this embodiment, a time mesh for evaluation is provided in order to evaluate the event occurrence distribution on the time axis. This time mesh for evaluation will be called a "time slot". Further, each time slot will be referred to as an "occurrence region."
ここで、タイムスロットの意味を以下で具体的に説明する。タイムスロット「秒」は、００秒から５９秒までの６０領域を表している。タイムスロット「分」は、００分から５９分までの６０領域を表している。タイムスロット「時」は、０時から２３時までの２３領域を表している。タイムスロット「日」は、１日から３１日までの３１領域を表している。タイムスロット「曜日」は、月曜日から日曜日までの７領域を表している。タイムスロット「月」は、１月から１２月までの１２領域を表している。 Here, the meaning of the time slot will be specifically explained below. The time slot "second" represents 60 areas from 00 seconds to 59 seconds. The time slot "minute" represents 60 areas from 00 minutes to 59 minutes. The time slot "hour" represents 23 areas from 0:00 to 23:00. The time slot "day" represents 31 areas from the 1st to the 31st. The time slot "day of the week" represents seven areas from Monday to Sunday. The time slot "month" represents 12 areas from January to December.
例えば、イベントの発生時刻が、２０１９／５／１（水）；１２：２２：００の場合、トレンドデータ記憶手段２６では、発生領域（２０１９／５／１）と記憶されている。マップデータ記憶手段２７では、秒：発生領域（０）、分：発生領域（２２）、時：発生領域（１２）、日：発生領域（１）、曜日：発生領域（水）、月：発生領域（５）と記憶されている。評価対象機器にイベントが発生した場合、２０１９／５／１（水）；１２：２２：００における、各タイムスロットについて、発生回数を＋１インクリメントする。 For example, if the event occurrence time is 2019/5/1 (Wed); 12:22:00, the trend data storage means 26 stores the occurrence area (2019/5/1). In the map data storage means 27, seconds: Occurrence area (0), minutes: Occurrence area (22), hour: Occurrence area (12), day: Occurrence area (1), day of the week: Occurrence area (Wednesday), month: Occurrence It is stored as area (5). When an event occurs in the evaluation target device, the number of occurrences is incremented by +1 for each time slot on 2019/5/1 (Wed); 12:22:00.
機器状態評価支援装置１００の機能ブロックのそれぞれは、図３に示すハードウェアによって実現される。同図は、本願の実施の形態に関わる機器状態評価支援装置１００の内部構成を示している。機器状態評価支援装置１００は、プロセッサ７００（中央処理装置）、メモリ７０１、入出力デバイス７０２、ネットワーク７０３（データバス）などを備えている。すなわち、プロセッサ７００と、プログラムおよびデータを蓄積するメモリ７０１と、キーボード、センサなどの入出力デバイス７０２とをネットワーク７０３（データバス）によって接続し、プロセッサ７００による制御によって、データの処理とデータの伝送を行っている。
Each of the functional blocks of the device condition
ここで、メモリ７０１は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリー、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）等の、不揮発性または揮発性の半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等が該当する。メモリ７０１は、機器状態評価支援装置１００の記憶装置（機器データ記憶手段２４、イベント発生回数閾値記憶手段２５、トレンドデータ記憶手段２６、マップデータ記憶手段２７）に該当する。
Here, the
入出力デバイス７０２（ユーザインタフェイス）は、ディスプレイ、キーボードなどであり、機器状態評価支援装置１００における入力装置（機器データ入力手段２１、イベント発生回数閾値入力手段２２、イベントデータ入力手段２３など）および表示装置（トレンドデータ表示手段２９、マップデータ表示手段３０など）に該当する。機器状態評価支援装置１００における各機能は、プロセッサ７００およびメモリ７０１により実現される。各機能の実行部は、専用のハードウェアであっても、メモリ７０１に格納されるプログラムを実行するＣＰＵ（Central Processing Unit：中央処理装置）であってもよい。ＣＰＵは、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）ともいう。
The input/output device 702 (user interface) is a display, a keyboard, etc., and is used as an input device (equipment data input means 21, event occurrence frequency threshold input means 22, event data input means 23, etc.) in the equipment status
各機能の実行部がＣＰＵの場合、機器状態評価支援装置１００の機能（イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８など）は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアとファームウェアはプログラムとして記述され、メモリ７０１に格納される。各機能の実行部は、メモリ７０１に記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、各部の機能を実現する。
When the execution unit of each function is a CPU, the functions of the device condition evaluation support device 100 (number of event occurrences/event score calculation means 28, etc.) are realized by software, firmware, or a combination of software and firmware. Software and firmware are written as programs and stored in
次に、機器状態評価支援装置１００の第１の動作を、図に基づいて説明する。第１の動作では、機器状態評価支援システムの初期構築段階および設定段階において、機器データとイベント発生回数閾値を、入出力デバイス７０２（機器データ入力手段２１およびイベント発生回数閾値入力手段２２）から入力する。図４は、本願の機器状態評価支援装置１００における第１の動作を説明するためのフロー図である。評価対象機器のメンテナンスが開始すると（ステップＳＴ２０)、ユーザは、機器データ入力手段２１から機器データを機器状態評価支援システムに入力する（ステップＳＴ２１）。
Next, the first operation of the device condition
次いで、ユーザは、イベント発生回数閾値入力手段２２からイベント発生回数閾値を機器状態評価支援システムに入力する（ステップＳＴ２２）。機器データとイベント発生回数閾値の入力が終了すると、メンテナンスが終了する（ステップＳＴ２３）。機器データ入力手段２１からの機器データの入力（ステップＳＴ２１）とイベント発生回数閾値入力手段２２からのイベント発生回数閾値の入力（ステップＳＴ２２）は、Ｗｅｂ端末１１から自動で、吸い上げることも可能である。
Next, the user inputs the event occurrence frequency threshold into the device condition evaluation support system from the event occurrence frequency threshold input means 22 (step ST22). When the input of the device data and the threshold for the number of event occurrences is completed, the maintenance ends (step ST23). The input of device data from the device data input means 21 (step ST21) and the input of the event occurrence frequency threshold from the event occurrence frequency threshold input means 22 (step ST22) can also be automatically downloaded from the
図５は、本願の機器データ入力手段２１に入力されている機器データの例を表している。ここに示してある例では、機器データは、機器名称、機器種別、および製造者から構成されている。機器名称は、２文字の英字と、３桁の数字で表されている。機器種別は、変圧器、電柱、電線などが、該当する。製造者は、それぞれの評価対象機器の製造会社（Ａ社、Ｂ社、Ｃ社、Ｄ社）を表している。 FIG. 5 shows an example of device data input into the device data input means 21 of the present application. In the example shown here, the device data consists of device name, device type, and manufacturer. The device name is represented by two alphabetic characters and three digits. Applicable equipment types include transformers, utility poles, and electric wires. The manufacturer represents the manufacturing company (Company A, Company B, Company C, Company D) of each device to be evaluated.
図６は、本願の機器データ記憶手段２４に記憶されている機器データの例を表している。ここに示してある例では、機器データ入力手段２１から入力された機器データは、機器名称、機器種別、および製造者から構成されている。機器名称は、２文字の英字と、３桁の数字で表されている。機器種別は、変圧器、電柱、電線などが、該当する。製造者は、それぞれの機器の製造会社（Ａ社、Ｂ社、Ｃ社、Ｄ社、）を表している。 FIG. 6 shows an example of device data stored in the device data storage means 24 of the present application. In the example shown here, the device data input from the device data input means 21 is composed of a device name, device type, and manufacturer. The device name is represented by two alphabetic characters and three digits. Applicable equipment types include transformers, utility poles, and electric wires. The manufacturer represents the manufacturing company (Company A, Company B, Company C, Company D) of each device.
図７は、本願のイベント発生回数閾値入力手段２２に入力されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数閾値を表している。イベント発生回数閾値は、機器状態評価支援装置１００のイベント発生回数閾値入力手段２２から入力され、イベントスコアを算出するうえで使用する。ここに示してある例では、機器種別は、変圧器と電柱が選ばれている。イベント発生回数閾値は、領域種別ごとに入力可能で、同図では、領域種別は、時、分、秒、日、月、曜日に分けられている。
FIG. 7 shows event occurrence frequency thresholds distributed to time slots, which are input to the event occurrence frequency threshold input means 22 of the present invention. The event occurrence frequency threshold is input from the event occurrence frequency threshold input means 22 of the device condition
ここには、イベント発生回数閾値として、時（１５）、分（６）、秒（６）、日（１２）、月（３０）、曜日（５５）が入力されている。また、同図には、領域種別ごとに開始点と終点が表示されている。開始点と終点は、タイムスロットの領域種別に対応している。領域種別「時」では、０時から２３時までの２４領域を表すように、開始点「０」と終了点「２３」が入力されている。領域種別「分」では、００分から５９分までの６０領域を表すように、開始点「０」と終了点「５９」が入力されている。 Here, the hour (15), minute (6), second (6), day (12), month (30), and day of the week (55) are input as the threshold for the number of event occurrences. Further, in the figure, a start point and an end point are displayed for each region type. The start point and end point correspond to the area type of the time slot. For the area type "hour", a start point "0" and an end point "23" are input to represent 24 areas from 0:00 to 23:00. For the region type "minute", a start point "0" and an end point "59" are input to represent 60 regions from 00 minutes to 59 minutes.
領域種別「秒」では、００秒から５９秒までの６０領域を表すように、開始点「０」と終了点「５９」が入力されている。領域種別「日」では、１日から３１日までの３１領域を表すように、開始点「１」と終了点「３１」が入力されている。領域種別「月」では、１月から１２月までの１２領域を表すように、開始点「１」と終了点「１２」が入力されている。領域種別「曜日」では、月曜日から日曜日までの７領域を表すように、開始点「月」と終了点「日」が入力されている。 For the region type "seconds", a start point "0" and an end point "59" are input to represent 60 regions from 00 seconds to 59 seconds. For the region type "day", a start point "1" and an end point "31" are input to represent 31 regions from the 1st to the 31st. For the region type "Month", a start point "1" and an end point "12" are input to represent 12 regions from January to December. For the region type "day of the week," a start point "month" and an end point "day" are input to represent seven regions from Monday to Sunday.
図８は、本願のイベント発生回数閾値記憶手段２５に入力されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数閾値を表している。イベント発生回数閾値は、機器状態評価支援装置１００のイベント発生回数閾値入力手段２２から入力され、イベントスコアを算出する際に使用される。ここに示してある例では、機器種別は、変圧器と電柱が選ばれている。イベント発生回数閾値は、領域種別ごとに入力可能で、同図では、領域種別は、時、分、秒、日、月、曜日に分けられている。ここには、イベント発生回数閾値として、時（１５）、分（６）、秒（６）、日（１２）、月（３０）、曜日（５５）が入力されている。
FIG. 8 shows event occurrence frequency thresholds distributed to time slots, which are input into the event occurrence frequency threshold storage means 25 of the present application. The event occurrence frequency threshold is input from the event occurrence frequency threshold input means 22 of the device condition
また、同図には、領域種別ごとに開始点と終点が表示されている。開始点と終点は、タイムスロットの領域に対応している。領域種別「時」では、０時から２３時までの２４領域を表すように、開始点「０」と終了点「２３」が入力されている。領域種別「分」では、００分から５９分までの６０領域を表すように、開始点「０」と終了点「５９」が入力されている。なお、同図に示すイベント発生回数閾値は、機器種別ごとだけではなく、機器コードごとに設定できるようにすることもできる。機器種別が設定されていない評価対象機器に対応する場合、特定の機器に注力して評価する場合などに使用することを想定している。 Further, in the figure, a start point and an end point are displayed for each area type. The start point and end point correspond to the time slot area. For the area type "hour", a start point "0" and an end point "23" are input to represent 24 areas from 0:00 to 23:00. For the region type "minute", a start point "0" and an end point "59" are input to represent 60 regions from 00 minutes to 59 minutes. Note that the event occurrence count threshold shown in the figure can be set not only for each device type but also for each device code. It is intended to be used when dealing with evaluation target devices for which no device type has been set, or when focusing on evaluating a specific device.
次に、機器状態評価支援装置１００の第２の動作を、図に基づいて説明する。第２の動作では、初期構築段階、あるいは日々の運用段階として、機器状態評価支援システムの外部または内部で作成したイベントデータを機器状態評価支援システム２００に入力する。図９は、本願の機器状態評価支援装置１００における第２の動作を説明するためのフロー図である。
Next, the second operation of the device condition
評価対象機器のイベントデータは、イベントデータ入力手段２３から入力される。具体的なイベントデータの入力方法としては、Ｗｅｂ端末１１を使用してスプレッドシートなどのファイルをアップロードする方式、Ｗｅｂサービスを使用して人手を介さずに、イベントデータをネットワーク経由で送信する方法、あるいは、画面よりイベントデータを入力する方法などが考えらえる。イベントデータの入力は、機器状態評価支援システムの初期構築段階、あるいは日々の運用段階で、開始する（ステップＳＴ３０）。
Event data of the device to be evaluated is input from the event data input means 23. Specific methods for inputting event data include uploading a file such as a spreadsheet using the
イベントデータは、イベントデータ入力手段２３から入力される（ステップＳＴ３１）。機器状態評価支援システムは、イベントデータの入力を起点として、中央処理装置（イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８）において、イベント発生回数の計算（ステップＳＴ３２）と、イベントスコアの計算（ステップＳＴ３３)を実行する。そして、イベント発生回数の計算結果と、イベントスコアの計算結果を、トレンドデータ記憶手段２６と、マップデータ記憶手段２７に、それぞれ格納する（ステップＳＴ３４）。ステップＳＴ３４が終了すれば、イベントデータの入力は終了する（ステップＳＴ３５）。 Event data is input from the event data input means 23 (step ST31). The equipment condition evaluation support system uses the input of event data as a starting point, and calculates the number of event occurrences (step ST32) and the event score (step ST33) in the central processing unit (event occurrence number/event score calculation means 28). Execute. Then, the calculation result of the number of event occurrences and the calculation result of the event score are stored in the trend data storage means 26 and the map data storage means 27, respectively (step ST34). When step ST34 ends, input of event data ends (step ST35).
図１０は、本願のイベントデータ入力手段２３に入力されて記憶されている、機器名称とイベントの発生日時との関係を表している。イベントデータ入力手段２３は、評価対象機器１８における異常の予兆を示すイベントデータ（機器名称、イベントの発生日時）を入力するためのものである。ここの例では、イベントが発生するたびに、機器名称とイベントの発生日時（および発生時刻）が対応付けられて表示されている。
FIG. 10 shows the relationship between the device name and the date and time of event occurrence, which are input and stored in the event data input means 23 of the present application. The event data input means 23 is for inputting event data (device name, event occurrence date and time) indicating a sign of abnormality in the
図１１は、本願の中央処理装置（イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８）が実行する、イベント発生回数とイベントスコアを計算するための、フローチャートを示している。まず、計算が開始すると（ステップＳＴ００）、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、イベントデータ入力手段２３より、最初のイベントを受け取る（ステップＳＴ０１）。ステップＳＴ０１が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、イベントの発生時刻より、イベントの発生領域（曜日／月／日／時／分／秒）を計算し、マップデータ記憶手段２７より、当該機器の当該領域におけるイベント発生回数を取得する（ステップＳＴ０２）。 FIG. 11 shows a flowchart for calculating the number of event occurrences and the event score, which is executed by the central processing unit (event occurrence number/event score calculation means 28) of the present application. First, when calculation starts (step ST00), the event occurrence number/event score calculation means 28 receives the first event from the event data input means 23 (step ST01). When step ST01 is completed, the event occurrence number/event score calculation means 28 calculates the event occurrence area (day of the week/month/day/hour/minute/second) from the event occurrence time, and stores the event occurrence area from the map data storage means 27. , obtains the number of event occurrences in the region of the device (step ST02).
ステップＳＴ０２が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、該当領域にデータがあるかどうかを判断する（ステップＳＴ０３）。すなわち、該当領域でイベントの発生回数がゼロか否か、したがって、過去にイベントが発生したことがあるかどうかを判断する。データが有ると判断した場合には、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、当該領域の発生回数をインクリメントし、そのイベント発生回数を記録する（ステップＳＴ０４）。イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、該当領域にデータがあるかどうかを判断し（ステップＳＴ０３）、データが無いと判断した場合には、当該領域を作成し、イベント発生回数＝１を記録する（ステップＳＴ０５）。 When step ST02 ends, the event occurrence count/event score calculation means 28 determines whether there is data in the corresponding area (step ST03). That is, it is determined whether the number of occurrences of an event in the corresponding area is zero, and therefore whether an event has occurred in the past. If it is determined that there is data, the event occurrence number/event score calculation means 28 increments the number of occurrences of the area and records the number of event occurrences (step ST04). The number of event occurrences/event score calculation means 28 determines whether there is data in the corresponding area (step ST03), and if it is determined that there is no data, it creates the corresponding area and records the number of event occurrences = 1. (Step ST05).
ステップＳＴ０４またはステップＳＴ０５が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、トレンドデータ記憶手段２６の当該機器、当該日付のイベント発生回数をインクリメントする（ステップＳＴ０６）。ステップＳＴ０６が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、マップデータ記憶手段２７より、当該領域のイベント発生回数閾値を取得する（ステップＳＴ０７）。ステップＳＴ０７が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、当該領域のイベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えているかどうかを判断する（ステップＳＴ０８）。 When step ST04 or step ST05 ends, the event occurrence count/event score calculation means 28 increments the number of event occurrences for the relevant device and the relevant date in the trend data storage means 26 (step ST06). When step ST06 is completed, the event occurrence number/event score calculation means 28 acquires the event occurrence number threshold of the region from the map data storage means 27 (step ST07). When step ST07 is completed, the event occurrence number/event score calculation means 28 determines whether the number of event occurrences in the area exceeds the event occurrence number threshold (step ST08).
当該領域のイベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていると判断した場合には、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、マップデータ記憶手段２７の当該領域のイベントスコアをインクリメントし（ステップＳＴ０９）、さらに、トレンドデータ記憶手段２６の当該領域のイベントスコアをインクリメントする（ステップＳＴ１０）。ステップＳＴ１０が終了すると、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、全てのイベントデータを処理したか、どうかを判断する（ステップＳＴ１１）。 If it is determined that the number of event occurrences in the region exceeds the event occurrence frequency threshold, the event occurrence number/event score calculation means 28 increments the event score of the region in the map data storage means 27 (step ST09). ), and further increments the event score of the relevant area in the trend data storage means 26 (step ST10). When step ST10 ends, the event occurrence count/event score calculation means 28 determines whether all event data has been processed (step ST11).
ステップＳＴ０８で、当該領域のイベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていないと判断した場合も、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、ステップＳＴ１１に移行して、全てのイベントデータを処理したか、どうかを判断する。ステップＳＴ１１で、全てのイベントデータを処理していないと判断した場合には、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、イベントデータ入力手段２３より、次のイベントデータを受け取り（ステップＳＴ１２）、ステップＳＴ０２に戻る。ステップＳＴ１１で、全てのイベントデータを処理したと判断した場合には、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８は、計算を終了する（ステップＳＴ１３）。 Even when it is determined in step ST08 that the number of event occurrences in the area does not exceed the event occurrence number threshold, the event occurrence number/event score calculation means 28 moves to step ST11 and processes all event data. Decide whether or not. If it is determined in step ST11 that all event data has not been processed, the event occurrence count/event score calculation means 28 receives the next event data from the event data input means 23 (step ST12), and Return to ST02. If it is determined in step ST11 that all event data has been processed, the event occurrence count/event score calculation means 28 ends the calculation (step ST13).
次に、イベント発生回数およびイベントスコアの具体例を示す。図１２は、本願のマップデータ記憶手段２７に記憶されているイベントのマップデータを表している。機器状態評価支援装置１００のマップデータ記憶手段２７は、イベントデータ入力手段２３で入力したイベントデータをもとに計算したイベント発生回数およびイベントスコアをタイムスロットごとに記憶するためのものである。ここの例では、イベント発生回数およびイベントスコアが、機器名称、領域種別、領域値と対応付けられて表示されている。
Next, specific examples of the number of event occurrences and event scores will be shown. FIG. 12 shows event map data stored in the map data storage means 27 of the present application. The map data storage means 27 of the device condition
図１３は、本願のトレンドデータ記憶手段２６に記憶されているトレンドデータの具体例を表している。トレンドデータ記憶手段２６には、イベントの発生日付におけるイベントスコアの合計値を格納する。ここの例では、イベント発生回数およびイベントスコアが、機器名称、イベントの発生日付と対応付けられて表示されている。 FIG. 13 shows a specific example of trend data stored in the trend data storage means 26 of the present application. The trend data storage means 26 stores the total value of event scores on the date of event occurrence. In this example, the number of event occurrences and the event score are displayed in association with the device name and the event occurrence date.
続いて、評価対象機器の状態評価を行う段階での手順を説明する。図１４は、本願の機器状態評価支援装置１００が実行する第３の動作を説明するためのフロー図である。評価対象機器１８の評価が開始すると（ステップＳＴ４０）、ユーザは、Ｗｅｂ端末１１を使用して、評価対象機器を特定する情報（機器名称など）を入力し、評価を行う対象機器を選択する（ステップＳＴ４１）。機器状態評価支援装置１００（トレンドデータ表示手段２９）は、選択された評価対象機器１８に関するトレンドデータを作成して、表示する。
Next, the procedure at the stage of evaluating the condition of the equipment to be evaluated will be explained. FIG. 14 is a flow diagram for explaining the third operation performed by the device condition
ユーザは、トレンドデータ表示手段２９により作成され、表示されたイベントのトレンドデータを確認して、評価対象機器１８に関する状態変化状況の評価を行う（ステップＳＴ４２)。さらに、ユーザは、機器状態評価支援装置１００（マップデータ表示手段３０）が作成した評価対象機器１８に関するマップデータを使用して、イベントの集中するタイムスロットの分析を行う（ステップＳＴ４４）。ユーザがステップＳＴ４２およびステップＳＴ４３を終了すれば、評価対象機器１８の状態評価は終了する（ステップＳＴ４５）。
The user checks the event trend data created and displayed by the trend data display means 29, and evaluates the state change situation regarding the evaluation target device 18 (step ST42). Furthermore, the user uses the map data regarding the
図１５は、本願のトレンドデータ表示手段２９が、トレンドデータを表示するために作成した、トレンドグラフの例を表している。機器状態評価支援装置１００のトレンドデータ表示手段２９は、トレンドデータ記憶手段２６に格納された、イベント発生回数とイベントスコアを、日単位、月単位（または半月単位）、年単位で表示するためのものである。ここの例では、２０１８／４／１（初回イベント）から２０１９／１１／１（最終イベント）までのイベントのトレンドデータが、タイムスロット単位でトレンドグラフとして表示されている。
FIG. 15 shows an example of a trend graph created by the trend data display means 29 of the present application to display trend data. The trend data display means 29 of the equipment condition
イベントのトレンドデータ（イベントスコアおよびイベント発生回数）は、機器名称、機器種別、製造者と対応付けられている。図中、イベントスコアのトレンドデータは、折れ線グラフで、イベント発生回数のトレンドデータは、棒グラフで表示されている。イベントスコア（時／分／秒）は２，０８５であり、イベントスコア（月／日／曜日）は１，７９８である。このため、イベントスコア（総合）は３，８８３になる。 Event trend data (event score and number of event occurrences) is associated with device name, device type, and manufacturer. In the figure, trend data for event scores is displayed as a line graph, and trend data for the number of event occurrences is displayed as a bar graph. The event score (hour/minute/second) is 2,085, and the event score (month/day/day of the week) is 1,798. Therefore, the event score (total) is 3,883.
なお、同図に示す評価対象機器のトレンドデータは、機器種別ごとのデータ表示としている。機器種別ごとのイベントデータを集計することで、機器種別ごとの状態評価の傾向をみることができる。あるいは、機器種別と製造者の組み合わせでイベントデータを集計することで、製造者の特定の機器種別に状態変化に著しい傾向がないかというような評価を行うこともできる。したがって、評価対象機器における状態変化の度合いを異常兆候の発生量と発生傾向により評価することが可能である。 Note that the trend data of the evaluation target equipment shown in the figure is displayed for each equipment type. By aggregating event data for each device type, it is possible to see trends in condition evaluation for each device type. Alternatively, by aggregating event data based on a combination of device type and manufacturer, it is possible to evaluate whether there is a significant tendency in state changes for a specific device type of the manufacturer. Therefore, it is possible to evaluate the degree of state change in the device to be evaluated based on the amount and tendency of occurrence of abnormal signs.
図１６から図２１は、本願のマップデータ表示手段３０が、マップデータを表示するために作成した、マップグラフの例を表しており、イベントに関わる第１のマップデータから第６のマップデータが、タイムスロット単位で表示されている。機器状態評価支援装置１００のマップデータ表示手段３０は、イベントデータ入力手段２３で入力したイベントデータをもとに計算したイベント発生回数およびイベントスコアをタイムスロットごとに表示するためのものである。第１のマップデータから第６のマップデータは、イベントの発生回数が、時、分、秒、月、日、曜日に分けられて、タイムスロット単位で表示されている。
16 to 21 show examples of map graphs created by the map data display means 30 of the present application in order to display map data, and the first map data to the sixth map data related to the event are shown in FIG. , displayed in time slot units. The map data display means 30 of the equipment condition
図１６が示している第１のマップデータ（第１のマップグラフ）は、イベント発生回数（時）を表している。ここでは、イベント発生回数が、時間ごとに表示されており、イベントスコア（時）が６７５であることが示されている。図１７が示している第２のマップデータ（第２のマップグラフ）は、イベント発生回数（分）を表している。ここでは、イベント発生回数が、分ごとに表示されており、イベントスコア（分）が６９６であることが示されている。図１８が示している第３のマップデータ（第３のマップグラフ）は、イベント発生回数（秒）を表している。ここでは、イベント発生回数が、秒ごとに表示されており、イベントスコア（秒）が７１４であることが示されている。 The first map data (first map graph) shown in FIG. 16 represents the number of times (hours) of event occurrence. Here, the number of event occurrences is displayed for each hour, and it is shown that the event score (hour) is 675. The second map data (second map graph) shown in FIG. 17 represents the number of times (minutes) of event occurrence. Here, the number of event occurrences is displayed for each minute, and it is shown that the event score (minutes) is 696. The third map data (third map graph) shown in FIG. 18 represents the number of event occurrences (in seconds). Here, the number of event occurrences is displayed every second, and it is shown that the event score (seconds) is 714.
図１９が示している第４のマップデータ（第４のマップグラフ）は、イベント発生回数（月）を表している。ここでは、イベント発生回数が、月ごとに表示されており、イベントスコア（月）が５４０であることが示されている。図２０が示している第５のマップデータ（第５のマップグラフ）は、イベント発生回数（日）を表している。ここでは、イベント発生回数が、日ごとに表示されており、イベントスコア（日）が６４８であることが示されている。図２１が示している第６のマップデータ（第６のマップグラフ）は、イベント発生回数（曜日）を表している。ここでは、イベント発生回数が、曜日ごとに表示されており、イベントスコア（曜日）が６１０であることが示されている。 The fourth map data (fourth map graph) shown in FIG. 19 represents the number of times (months) that events occur. Here, the number of event occurrences is displayed for each month, and it is shown that the event score (month) is 540. The fifth map data (fifth map graph) shown in FIG. 20 represents the number of times (days) that an event has occurred. Here, the number of event occurrences is displayed for each day, and it is shown that the event score (day) is 648. The sixth map data (sixth map graph) shown in FIG. 21 represents the number of event occurrences (days of the week). Here, the number of event occurrences is displayed for each day of the week, and it is shown that the event score (day of the week) is 610.
なお、同図に示す評価対象機器のマップデータ（マップグラフ）は、機器種別ごとのデータ表示としている。機器種別ごとのデータを集計することで、機器種別ごとの状態変化における傾向をみることができる。あるいは、機器種別と製造者の組み合わせでデータを集計することで、製造者の特定の機器種別に、状態変化に著しい傾向がないかというような評価を行うこともできる。したがって、評価対象機器の状態変化の度合いを異常兆候の発生量と発生傾向により評価することが可能である。 Note that the map data (map graph) of the evaluation target equipment shown in the figure is displayed for each equipment type. By aggregating data for each device type, trends in status changes for each device type can be seen. Alternatively, by aggregating data based on a combination of device type and manufacturer, it is possible to evaluate whether there is a significant tendency in state changes for a specific device type of the manufacturer. Therefore, it is possible to evaluate the degree of change in the state of the equipment to be evaluated based on the amount and tendency of occurrence of abnormal signs.
以上説明した本実施の形態によれば、トレンドデータに加え、マップデータによりイベントの発生時刻に基づいてイベント発生回数を領域（タイムスロット）を分けて記憶することで、発生頻度が増えていかない、一定の周期で発生するような予兆パターンについても評価することができる。また、イベントの発生が集中する時刻、時間帯、曜日、季節、年数などが特定できることで、次に予兆パターンが起きそうな時期を推定することが容易となる。実際に別手段を用いての診断行為を行うタイミングを絞り込むことができ、より効率的な状態評価を行うことができるようになる。さらに本願は具体的な実現方式を開示しているので、この手法による状態評価を容易に再現することができる。 According to the present embodiment described above, in addition to trend data, the number of event occurrences is stored in separate areas (time slots) based on the time of event occurrence using map data, so that the frequency of occurrence does not increase. It is also possible to evaluate predictive patterns that occur at regular intervals. Furthermore, by being able to identify the time, time zone, day of the week, season, number of years, etc. when the occurrence of events is concentrated, it becomes easy to estimate when the predictive pattern is likely to occur next. It is possible to narrow down the timing of actually performing a diagnostic action using another means, and it becomes possible to perform a more efficient condition evaluation. Furthermore, since the present application discloses a specific implementation method, state evaluation using this method can be easily reproduced.
実施の形態２．
以下、本願の実施の形態２に関わる機器状態評価支援装置を図に基づいて説明する。図２２は、スタンドアロン方式の機器状態評価支援システム２００の構成を示している。実施の形態２に関わる機器状態評価支援システム２００は、Ｗｅｂ端末１１、評価対象機器１８、アプリケーションサーバ１５ａ、およびネットワーク関連機器を備えている。実施の形態２に関わる機器状態評価支援装置１００は、Ｗｅｂ端末１１（機器データ入力手段２１、イベント発生回数閾値入力手段２２、イベントデータ入力手段２３）、アプリケーションサーバ１５ａなどから構成されている。
Embodiment 2.
Hereinafter, an equipment condition evaluation support device according to Embodiment 2 of the present application will be explained based on the drawings. FIG. 22 shows the configuration of a stand-alone device condition
アプリケーションサーバ１５ａ（中央処理装置、記憶装置、表示装置）は、本願の主たる構成要素（機器データ記憶手段２４、イベント発生回数閾値記憶手段２５、トレンドデータ記憶手段２６、マップデータ記憶手段２７、イベント発生回数／イベントスコア計算手段２８、トレンドデータ表示手段２９、マップデータ表示手段３０）を実現するためのものである。なお、本願の手法は機器状態評価支援システムの具体的な実現形態を問わないため、スタンドアロン方式のほかに、クライアントーサーバ方式でも同様の機器状態評価支援システムを構築することが可能である。 The application server 15a (central processing unit, storage device, display device) is the main component of the present application (equipment data storage means 24, event occurrence frequency threshold storage means 25, trend data storage means 26, map data storage means 27, event occurrence This is for realizing the number/event score calculation means 28, trend data display means 29, and map data display means 30). Note that the method of the present application does not depend on the specific implementation form of the device condition evaluation support system, so it is possible to construct a similar device condition evaluation support system not only in a stand-alone method but also in a client-server method.
以上説明した本実施の形態によれば、トレンドデータに加え、マップデータによりイベントの発生時刻に基づいてイベント発生回数を領域（タイムスロット）を分けて記憶することで、発生頻度が増えていかない、一定の周期で発生するような予兆パターンについても評価することができる。また、イベントの発生が集中する時刻、時間帯、曜日、季節、年数などが特定できることで、次に予兆パターンが起きそうな時期を推定することが容易となる。実際に別手段を用いての診断行為を行うタイミングを絞り込むことができるので、より効率的な状態評価を行うことができるようになる。さらに本願は、具体的な実現方式を開示することでこの手法による状態評価を容易に再現することができるようになる。 According to the present embodiment described above, in addition to trend data, the number of event occurrences is stored in separate areas (time slots) based on the time of event occurrence using map data, so that the frequency of occurrence does not increase. It is also possible to evaluate predictive patterns that occur at regular intervals. Furthermore, by being able to identify the time, time zone, day of the week, season, number of years, etc. when the occurrence of events is concentrated, it becomes easy to estimate when the predictive pattern is likely to occur next. Since it is possible to narrow down the timing of actually performing diagnostic actions using other means, it becomes possible to perform more efficient condition evaluation. Furthermore, by disclosing a specific implementation method, the present application makes it possible to easily reproduce the state evaluation using this method.
すなわち、本願に関わる機器状態評価支援装置は、
評価対象機器に関わる、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値が入力される入力装置と、
前記入力装置から入力された、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値を基にして、タイムスロットに配分されたイベント発生回数とタイムスロットに配分されたイベントスコアを計算する中央処理装置と、
前記入力装置から入力された、機器データおよびイベント発生回数閾値と、前記中央処理装置で計算された、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアとを格納する記憶装置と、
前記記憶装置に格納されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアを基にして、評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示する表示装置とを、備え、
前記表示装置は、前記入力装置から評価対象機器を特定する情報が入力されると、この特定する情報に対応した評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示することを特徴とするものである。
In other words, the equipment condition evaluation support device related to the present application is
an input device into which device data, event data, and event occurrence frequency threshold related to the evaluation target device are input;
a central processing unit that calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device; ,
a storage device that stores device data and event occurrence frequency thresholds input from the input device, and event occurrence counts distributed to time slots and event scores distributed to time slots calculated by the central processing unit; and,
Displaying event trend data and event map data related to the evaluation target device based on the number of event occurrences allocated to the time slots and the event scores allocated to the time slots, which are stored in the storage device. a display device;
The display device is characterized in that, when information specifying the evaluation target device is input from the input device, the display device displays event trend data and event map data related to the evaluation target device corresponding to this identifying information. That is.
また、本願に関わる機器状態評価支援装置では、
前記中央処理装置は、前記入力装置から入力された、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値を基にして、タイムスロットに配分されたイベント発生回数とタイムスロットに配分されたイベントスコアを計算する際に、
評価対象機器に関わる最初のイベントデータを受け取る第１のステップと、
受け取ったイベントデータに含まれているイベントの発生日時を基にして、イベントが発生したタイムスロットを計算し、さらに、この計算されたタイムスロットにおけるイベント発生回数を前記記憶装置から取得する第２のステップと、
前記第２のステップで取得したイベント発生回数を基にして、前記第２のステップで計算されたイベントが発生したタイムスロットに、過去にイベントがあったかどうかを判断する第３のステップと、
前記第３のステップを実行した結果、過去にイベントがあったと判断した場合には、このイベントがあったと判断されたタイムスロットにおけるイベント発生回数をインクリメントして、記録する第４のステップと、
前記第３のステップを実行した結果、過去にイベントがなかったと判断した場合には、このイベントがなかったと判断されたタイムスロットにおけるイベント発生回数を１に設定する第５のステップと、
前記第４のステップまたは前記第５のステップが終了すると、前記記憶装置に格納されているトレンドデータのイベント発生回数をインクリメントする第６のステップと、
前記第６のステップが終了すると、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関わるイベント発生回数閾値を、前記記憶装置から取得する第７のステップと、
前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントは、イベント発生回数が、前記第７のステップで前記記憶装置から取得したイベント発生回数閾値を超えているかどうかを判断する第８のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていると判断した場合には、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関して、マップデータのイベントスコアをインクリメントする第９のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていると判断した場合には、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関して、前記トレンドデータのイベントスコアをインクリメントする第１０のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていないと判断した場合、または、前記第９のステップと前記第１０のステップが終了した場合、イベントデータの処理が全て終了したかどうかを判断する第１１のステップと、
前記第１１のステップで、イベントデータの処理が全ては終了していないと判断した場合は、前記入力装置から次のイベントデータを受け取る第１２のステップと、を実行するものである。
In addition, in the equipment condition evaluation support device related to this application,
The central processing unit calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device. When calculating,
a first step of receiving first event data related to the device to be evaluated;
A second method that calculates the time slot in which the event occurred based on the date and time of the event included in the received event data, and further acquires the number of times the event occurred in the calculated time slot from the storage device. step and
a third step of determining whether an event occurred in the past in the time slot in which the event calculated in the second step occurred, based on the number of event occurrences obtained in the second step;
As a result of executing the third step, if it is determined that an event occurred in the past, a fourth step of incrementing and recording the number of times the event occurred in the time slot in which it was determined that the event occurred;
As a result of executing the third step, if it is determined that there was no event in the past, a fifth step of setting the number of event occurrences to 1 in the time slot in which it was determined that the event did not occur;
When the fourth step or the fifth step is completed, a sixth step of incrementing the number of event occurrences of trend data stored in the storage device;
When the sixth step is completed, a seventh step of acquiring from the storage device an event occurrence frequency threshold related to the event whose event occurrence frequency has been incremented in the sixth step;
an eighth step of determining whether or not the number of event occurrences of the event for which the number of event occurrences has been incremented in the sixth step exceeds the threshold number of event occurrences acquired from the storage device in the seventh step;
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences exceeds the threshold for the number of event occurrences, the event score of the map data is incremented for the event whose number of event occurrences has been incremented in the sixth step. 9 steps and
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences exceeds the event occurrence frequency threshold, the event score of the trend data is incremented for the event whose number of event occurrences has been incremented in the sixth step. The tenth step and
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences does not exceed the threshold for the number of event occurrences, or if the ninth step and the tenth step are completed, all event data processing has been completed. The eleventh step is to determine whether
If it is determined in the eleventh step that all event data processing has not been completed, a twelfth step of receiving the next event data from the input device is executed.
本願は、様々な例示的な実施の形態及び実施例が記載されているが、１つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、及び機能は特定の実施の形態の適用に限られるのではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。従って、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも１つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも１つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。 Although this application describes various exemplary embodiments and examples, various features, aspects, and functions described in one or more embodiments may be applicable to a particular embodiment. The present invention is not limited to, and can be applied to the embodiments alone or in various combinations. Therefore, countless variations not illustrated are envisioned within the scope of the technology disclosed herein. For example, this includes cases where at least one component is modified, added, or omitted, and cases where at least one component is extracted and combined with components of other embodiments.
１１ Ｗｅｂ端末、１２ ネットワーク回線、１３ Ｗｅｂサーバ、１４ ファイヤーウォール、１５ アプリケーションサーバ、１５ａ アプリケーションサーバ、１６ データベースサーバ、１７ ネットワーク、１８ 評価対象機器、２１ 機器データ入力手段、２２ イベント発生回数閾値入力手段、２３ イベントデータ入力手段、２４ 機器データ記憶手段、２５ イベント発生回数閾値記憶手段、２６ トレンドデータ記憶手段、２７ マップデータ記憶手段、２８ イベント発生回数／イベントスコア計算手段、２９ トレンドデータ表示手段、３０ マップデータ表示手段、１００ 機器状態評価支援装置、２００ 機器状態評価支援システム、７００ プロセッサ、７０１ メモリ、７０２ 入出力デバイス、７０３ ネットワーク 11 Web terminal, 12 network line, 13 Web server, 14 firewall, 15 application server, 15a application server, 16 database server, 17 network, 18 evaluation target device, 21 device data input means, 22 event occurrence frequency threshold input means, 23 event data input means, 24 device data storage means, 25 event occurrence frequency threshold storage means, 26 trend data storage means, 27 map data storage means, 28 event occurrence number/event score calculation means, 29 trend data display means, 30 map data display means, 100 equipment status evaluation support device, 200 equipment status evaluation support system, 700 processor, 701 memory, 702 input/output device, 703 network
Claims (2)
前記入力装置から入力された、機器データ、イベントデータ、および、イベント発生回数閾値を基にして、タイムスロットに配分されたイベント発生回数とタイムスロットに配分されたイベントスコアを計算する中央処理装置と、
前記入力装置から入力された、機器データおよびイベント発生回数閾値と、前記中央処理装置で計算された、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアとを格納する記憶装置と、
前記記憶装置に格納されている、タイムスロットに配分されたイベント発生回数およびタイムスロットに配分されたイベントスコアを基にして、評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示する表示装置とを、備え、
前記表示装置は、前記入力装置から評価対象機器を特定する情報が入力されると、この特定する情報に対応した評価対象機器に関わる、イベントのトレンドデータとイベントのマップデータを表示することを特徴とする機器状態評価支援装置。 an input device into which device data, event data, and event occurrence frequency threshold related to the evaluation target device are input;
a central processing unit that calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device; ,
a storage device that stores device data and event occurrence frequency thresholds input from the input device, and event occurrence counts distributed to time slots and event scores distributed to time slots calculated by the central processing unit; and,
Displaying event trend data and event map data related to the evaluation target device based on the number of event occurrences allocated to the time slots and the event scores allocated to the time slots, which are stored in the storage device. a display device;
The display device is characterized in that, when information specifying the evaluation target device is input from the input device, the display device displays event trend data and event map data related to the evaluation target device corresponding to this identifying information. equipment condition evaluation support device.
評価対象機器に関わる最初のイベントデータを受け取る第１のステップと、
受け取ったイベントデータに含まれているイベントの発生日時を基にして、イベントが発生したタイムスロットを計算し、さらに、この計算されたタイムスロットにおけるイベント発生回数を前記記憶装置から取得する第２のステップと、
前記第２のステップで取得したイベント発生回数を基にして、前記第２のステップで計算されたイベントが発生したタイムスロットに、過去にイベントがあったかどうかを判断する第３のステップと、
前記第３のステップを実行した結果、過去にイベントがあったと判断した場合には、このイベントがあったと判断されたタイムスロットにおけるイベント発生回数をインクリメントして、記録する第４のステップと、
前記第３のステップを実行した結果、過去にイベントがなかったと判断した場合には、このイベントがなかったと判断されたタイムスロットにおけるイベント発生回数を１に設定する第５のステップと、
前記第４のステップまたは前記第５のステップが終了すると、前記記憶装置に格納されているトレンドデータのイベント発生回数をインクリメントする第６のステップと、
前記第６のステップが終了すると、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関わるイベント発生回数閾値を、前記記憶装置から取得する第７のステップと、
前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントは、イベント発生回数が、前記第７のステップで前記記憶装置から取得したイベント発生回数閾値を超えているかどうかを判断する第８のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていると判断した場合には、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関して、マップデータのイベントスコアをインクリメントする第９のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていると判断した場合には、前記第６のステップでイベント発生回数をインクリメントしたイベントに関して、前記トレンドデータのイベントスコアをインクリメントする第１０のステップと、
前記第８のステップで、イベント発生回数がイベント発生回数閾値を超えていないと判断した場合、または、前記第９のステップと前記第１０のステップが終了した場合、イベントデータの処理が全て終了したかどうかを判断する第１１のステップと、
前記第１１のステップで、イベントデータの処理が全ては終了していないと判断した場合は、前記入力装置から次のイベントデータを受け取る第１２のステップと、を実行することを特徴とする請求項１に記載の機器状態評価支援装置。 The central processing unit calculates the number of event occurrences distributed to the time slots and the event score distributed to the time slots based on the device data, event data, and event occurrence frequency threshold values input from the input device. When calculating,
a first step of receiving first event data related to the device to be evaluated;
A second method that calculates the time slot in which the event occurred based on the date and time of the event included in the received event data, and further acquires the number of times the event occurred in the calculated time slot from the storage device. step and
a third step of determining whether an event occurred in the past in the time slot in which the event calculated in the second step occurred, based on the number of event occurrences obtained in the second step;
As a result of executing the third step, if it is determined that an event occurred in the past, a fourth step of incrementing and recording the number of times the event occurred in the time slot in which it was determined that the event occurred;
As a result of executing the third step, if it is determined that there was no event in the past, a fifth step of setting the number of event occurrences to 1 in the time slot in which it was determined that the event did not occur;
When the fourth step or the fifth step is completed, a sixth step of incrementing the number of event occurrences of trend data stored in the storage device;
When the sixth step is completed, a seventh step of acquiring from the storage device an event occurrence frequency threshold related to the event whose event occurrence frequency has been incremented in the sixth step;
an eighth step of determining whether or not the number of event occurrences of the event for which the number of event occurrences has been incremented in the sixth step exceeds the threshold number of event occurrences acquired from the storage device in the seventh step;
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences exceeds the threshold for the number of event occurrences, the event score of the map data is incremented for the event whose number of event occurrences has been incremented in the sixth step. 9 steps and
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences exceeds the event occurrence frequency threshold, the event score of the trend data is incremented for the event whose number of event occurrences has been incremented in the sixth step. The tenth step and
If it is determined in the eighth step that the number of event occurrences does not exceed the threshold for the number of event occurrences, or if the ninth step and the tenth step are completed, all event data processing has been completed. The eleventh step is to determine whether
If it is determined in the eleventh step that all event data processing has not been completed, a twelfth step of receiving next event data from the input device is executed. 1. The equipment condition evaluation support device according to 1.
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