JP7354790B2 - 画像検査装置 - Google Patents
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Description
対象物(1)の画像を撮影する撮影部(11)と、
前記画像から対象領域の部分画像を抽出する抽出部(14)と、
学習済みモデル(12a)によって、前記部分画像に基づいて、前記対象領域の再構成画像を生成する生成部(15)と、
少なくとも前記再構成画像を用いて、前記対象物(1)の検査を行う検査部(16)と、
を備える画像検査装置(10)。
Claims (8)
- 対象物の画像を撮影する撮影部と、
前記画像に対して平行移動、回転、拡大、縮小、剪断変換、射影変換及びフィルタ処理の少なくともいずれかを適用して基準状態に変換するための写像パラメータを求める算出部と、
前記画像から検査の対象領域を全て含む部分画像を抽出する抽出部と、
学習済みモデルによって、前記部分画像に基づいて、前記対象領域の再構成画像を生成する生成部と、
前記再構成画像と前記部分画像との差に基づいて、前記対象物の良否判定を行う検査部と、
を備え、
前記抽出部は、前記写像パラメータを用いて前記基準状態に変換された前記画像から前記部分画像を抽出する、
画像検査装置。 - 前記検査部は、前記再構成画像に基づいて、前記対象物の寸法を測定する、
請求項1に記載の画像検査装置。 - 前記算出部は、少なくとも1つの基準画像に基づいて前記基準状態を定める、
請求項1に記載の画像検査装置。 - 前記基準画像と、前記基準状態への写像を識別するための情報とを関連付けて記憶する記憶部をさらに備える、
請求項3に記載の画像検査装置。 - 前記抽出部は、前記基準画像について指定された領域に基づいて前記対象領域を定める、
請求項3又は4に記載の画像検査装置。 - 前記抽出部は、前記画像から所定の条件を満たす領域を探索し、当該領域を前記対象領域として、前記部分画像を抽出する、
請求項1又は2に記載の画像検査装置。 - 前記抽出部は、前記対象領域の形状の指定を受け付ける、
請求項1から6のいずれか一項に記載の画像検査装置。 - 正常な対象物の画像である学習用画像に関する前記部分画像に基づいて、前記対象領域の再構成画像を生成するように学習モデルを学習させる学習部をさらに備える、
請求項1から7のいずれか一項に記載の画像検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019212461A JP7354790B2 (ja) | 2019-11-25 | 2019-11-25 | 画像検査装置 |
PCT/JP2020/042062 WO2021106566A1 (ja) | 2019-11-25 | 2020-11-11 | 画像検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019212461A JP7354790B2 (ja) | 2019-11-25 | 2019-11-25 | 画像検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2021086208A JP2021086208A (ja) | 2021-06-03 |
JP7354790B2 true JP7354790B2 (ja) | 2023-10-03 |
Family
ID=76087668
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019212461A Active JP7354790B2 (ja) | 2019-11-25 | 2019-11-25 | 画像検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7354790B2 (ja) |
WO (1) | WO2021106566A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2019
- 2019-11-25 JP JP2019212461A patent/JP7354790B2/ja active Active
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2020
- 2020-11-11 WO PCT/JP2020/042062 patent/WO2021106566A1/ja active Application Filing
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021086208A (ja) | 2021-06-03 |
WO2021106566A1 (ja) | 2021-06-03 |
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