JP7347501B2 - Macタグリスト生成装置、macタグリスト検証装置、方法及びプログラム - Google Patents
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Description
例えば、メッセージMが7個のアイテムからなるとき、(M[1],M[2],...,M[7])を
S[1] = (M[1],M[2],M[3],M[4])
S[2] = (M[1],M[2],M[5],M[6])
S[3] = (M[1],M[3],M[5],M[7])
という3つの部分系列に分解し、それぞれに対してMACを適用し3つのタグ
T[1]=MAC(S[1]),...,T[3]=MAC(S[3])
を計算したとする。
この場合、アイテムごとにMACを適用する場合に7個必要であったタグの数を、3つに減らすことが可能となる。さらに、検証時における各(T[i],S[i])に対する検証結果を2値(0ならMACが正しい、1なら改ざん)のB[i]で表現すると、ある時点でメッセージMに対してMACタグのチェックを行った結果が
B[1]=0,
B[2]=1,
B[3]=0,
の場合、M[6]が改ざんされたと特定できる。より正確には、この例では任意の1アイテムの改ざんであれば改ざんされたアイテムの特定が可能である。
(式1)t_min(d,m)=O(d2 log m)
であることが知られている。これを達成する方法はd=1ではよく知られており、ハミング符号のパリティ検査行列などから構成可能である。
(式2)
[1 1 1 1 0 0 0]
[1 1 0 0 1 1 0]
[1 0 1 0 1 0 1]
となる。
続いて、本発明の第1の実施形態のMACタグリスト生成装置について図面を参照して詳細に説明する。以下、特に断りのない限り、1ブロックの長さをnビットとする。
一例として、以下の行列を考える。
[1 1 0 0]
[1 0 1 0]
[0 1 1 0]
[1 0 0 1]
[0 1 0 1]
[0 0 1 1]
[1 0 0 1]
[0 1 0 1]
[0 0 1 1]
となるため、3つのタグで2アイテムの特定が可能となる。
続いて、本発明の第2の実施形態として、本発明の第1の実施形態と対をなすMACタグリスト検証装置について図面を参照して詳細に説明する。図4は、第2の実施形態のMACタグリスト検証装置の構成を示すブロック図である。図4を参照すると、メッセージ入力部201と、グループテスト行列生成および拡大部202と、タグ復号部203と、復号可能な線形グループテスト中間タグ生成部204と、中間タグリスト拡大部205と、中間タグリスト検証部206と、検証結果出力部207と、を備えた構成が示されている。
(式3)
exH[i]=XOR_{i:i∈R[i]}H[i]
となる(XOR_Sは集合Sに含まれるものすべてについての排他的論理和)。なお、グループテスト行列Hそのものもテストとして用いることが自然であり、その場合、exHはHを含む。
T[1]=G(1,S[1]),S[1]=F(M[1],1)+F(M[2],2)
T[2]=G(2,S[2]),S[2]=F(M[2],2)+F(M[3],3)
となる(+はビットごとの排他的論理和を表す)。
ここで排他的論理和の性質により
S[1]+S[2]=F(M[1],1)+F(M[3],3)
となるため、中間タグの和S[1]+S[2]は(M[1],M[3])に改ざんがあるかどうかを検証する(実質的な)タグとして機能する。
S[1]=G-1(1,T[1])
S[2]=G-1(2,T[2])
S*[1]=F(M[1],1)+F(M[2],2)
S*[2]=F(M[2],2)+F(M[3],3)
S[3]=S[1]+S[2]
S*[3]=S*[1]+S*[2]
続いて、上記した第1、第2の実施形態におけるグループテスト行列Hに変更を加えた第3の実施形態について説明する。
正の整数a,bについて(a,b)=a!/(a-b)!b!をa個からb個選択する場合の数とし、((a,b))を集合{1,2,...,a}の大きさbの部分集合の全体とする。
[1 1 0 0]
[1 0 1 0]
[0 1 1 0]
[1 0 0 1]
[0 1 0 1]
[0 0 1 1]
は、このMacula行列のパラメータ(n=4,k=3,d=2)に相当し、従って2-disjunctである。
・拡大テスト行列exH
[1 0 0 1]
[0 1 0 1]
[0 0 1 1]
[1 1 0 0]
[1 0 1 0]
[0 1 1 0]
・テスト行列H
[1 0 0 1]
[0 1 0 1]
[0 0 1 1]
・拡大ルールR
拡大ルールRはテスト行列Hの行の和でexHの行列の各行を表現するので、以下のようになる。
R=(R[1],...,R[6]),
R[1]={1}
R[2]={2}
R[3]={3}
R[4]={1,2}
R[5]={1,3}
R[6]={2,3}
続いて、上記した第1、第2の実施形態におけるグループテスト行列Hに変更を加えた第4の実施形態について図面を参照して説明する。
[1 1 1 1 1 1 1 1]
[1 -1 1 -1 1 -1 1 -1]
[1 1 -1 -1 1 1 -1 -1]
[1 -1 -1 1 1 -1 -1 1]
[1 1 1 1 -1 -1 -1 -1]
[1 -1 1 -1 -1 1 -1 1]
[1 1 -1 -1 -1 -1 1 1]
[1 -1 -1 1 -1 1 1 -1]
となり、
modHad(r)、すなわちexHは
[0 1 0 1 0 1 0]
[1 0 0 1 1 0 0]
[0 0 1 1 0 0 1]
[1 1 1 0 0 0 0]
[0 1 0 0 1 0 1]
[1 0 0 0 0 1 1]
[0 0 1 0 1 1 0]
となる。
[0 1 0 1 0 1 0]
[1 0 0 1 1 0 0]
[0 0 1 1 0 0 1]
[1 1 1 0 0 0 0]
となり、対応するテスト行列拡大ルールRは({1},{2},{3},{4},{2,3,4},{1,3,4},{1,2,4})となる。
続いて、上記した第1、第2の実施形態におけるグループテスト行列Hに変更を加えた第5の実施形態について説明する。
例えばs=1の時、有限体GF(2)を座標成分とする2次元射影空間の点の数と直線の数は共に7であり、7個の点の各々に対して7個の直線の各々が通過するか否かによって定められる接続行列は次の[数1]のように計算される。
[数1]
[表1]
続いて、上記した第1、第2の実施形態におけるグループテスト行列Hに変更を加えた第6の実施形態について説明する。
[数2]
例えばs=2の時、有限体GF(4)を座標成分とする2次元アフィン平面において、原点を通過する3本の直線上にある合計10個の点について、それらのいずれかを通過する直線は18本あり、これの直線が前記10個の点を通過するか否かによって定められる接続行列は次の[数3]のように計算される。
[第1の形態]
(上記第1の視点によるMACタグリスト生成装置参照)
[第2の形態]
上記したMACタグリスト生成装置において、前記グループテスト行列Hとして、
正の整数a,bについて(a,b)=a!/(a-b)!b!をa個からb個選択する場合の数とし、
((a,b))を集合{1,2,...,a}の大きさbの部分集合の全体としたうえで、
(n,d)×(n,k)2値行列であり、適当な順序で列と行のインデックスを((n,d))の要素と((n,k))の要素に対応させたうえで、ある((n,d))の要素Dが((n,k))の要素Kについて、
前記要素Dが前記要素Kに含まれるときに、
前記グループテスト行列Hの(D,K)エントリを1とし、それ以外を0とする行列の有限体GF(2)上の基底からなる、正の整数のパラメータ(n,k,d)を持つMacula行列を用いることができる。
[第3の形態]
上記したMACタグリスト生成装置において、
ある整数r>1についてm=2r-1,t=rを満たし、
m+1行m+1列のアダマール行列Had(r)から第1行目と第1列目を削除し、さらに行列要素である-1と1のうち、-1を0とすることで得られるm行m列バイナリ行列modHad(r)をとり、前記グループテスト行列Hはこの行列の有限体GF(2)上の基底からなり、
前記テスト行列拡大ルールRは、前記グループテスト行列Hを前記テスト行列拡大ルールRに従って行の拡大を行った場合にmodHad(r)とすることができる。
[第4の形態]
上記したMACタグリスト生成装置において、
グループテスト行列Hが、正整数sについて行数と列数が共に2(2s)+2s+1の正方行列Pの一次独立なt個の行ベクトルからなる部分行列であって、
前記正方行列Pは、有限体GF(2s)を座標成分とする2次元射影空間上の点と直線によって定まる接続行列であり、
前記テスト行列拡大ルールRによって生成されるテストベクトルが前記正方行列Pの全ての行ベクトルであってもよい。
[第5の形態]
上記したMACタグリスト生成装置において、
前記グループテスト行列Hが、正整数sと3以上2s+1以下の整数rについて、行数がr×(2s-1)+1、列数が2(2s)-1+rの行列A_rにおける一次独立なt個の行ベクトルからなる部分行列であって、
前記行列A_rは、有限体GF(2s)を座標成分とする2次元アフィン空間の原点を通過する予め指定したr本の直線上にあるr×(2s-1)+1個の点と、それらの点のいずれかを通過する2(2s)-1+r本の直線によって定まる接続行列であり、
前記テスト行列拡大ルールRによって生成されるテストベクトルが前記行列A_rの全ての行ベクトルであってもよい。
[第6の形態]
(上記第2の視点によるMACタグリスト検証装置参照)
[第7の形態]
(上記第3の視点によるMACタグリスト生成方法参照)
[第8の形態]
(上記第4の視点によるMACタグリスト検証方法参照)
[第9の形態]
(上記第5の視点によるコンピュータプログラム参照)
なお、上記第6~第9の形態は、第1の形態と同様に、第2~第5の形態に展開することが可能である。
20 MACタグリスト検証装置
101 メッセージ入力部
102 グループテスト行列生成部
103 復号可能な線形グループテストMAC適用部
104 MACタグリスト出力部
201 メッセージ入力部
202 グループテスト行列生成および拡大部
203 タグ復号部
204 復号可能な線形グループテスト中間タグ生成部
205 中間タグリスト拡大部
206 中間タグリスト検証部
207 検証結果出力部
9000 コンピュータ
9010 CPU
9020 通信インタフェース
9030 メモリ
9040 補助記憶装置
Claims (8)
- メッセージ認証コード(MAC)の対象となるm個のアイテムM[1],...,M[m]から構成されるメッセージ M=(M[1],...,M[m])を入力するメッセージ入力部と、
生成する前記MACの数s(sは正の整数)について、組み合わせグループテストのパラメータであるt行m列のグループテスト行列Hを生成するためのグループテスト行列生成部と、
前記メッセージMについて、前記グループテスト行列Hと、可変長入力固定長出力の擬似ランダム関数Fと、前記グループテスト行列Hの行インデックスをTweakとしたTweakableブロック暗号Gを用いて、
前記グループテスト行列Hのi行目で1が立つすべての列のインデックスj(j=1,...,m)について、前記擬似ランダム関数Fに前記M[j]と前記インデックスjとを入力し、得られた前記擬似ランダム関数Fの出力のすべての和をとり、i番目の中間タグS[i]とし、
前記iをTweakとしたTweakableブロック暗号GのTweakable暗号化関数で前記中間タグS[i]を暗号化して得られた出力を、i(i=1,...,t)番目のテストに対応するタグT[i]とする処理を、すべてのi=1,...,tについて行い、MACタグリストT=(T[1],...,T[t])を生成する復号可能な線形グループテストMAC適用部と、
前記復号可能な線形グループテストMAC適用部により生成されたMACタグリストを出力するMACタグリスト出力部と、を備える
ことを特徴とするMACタグリスト生成装置。 - 前記グループテスト行列Hは、
正の整数a,bについて(a,b)=a!/(a-b)!b!をa個からb個選択する場合の数とし、
((a,b))を集合{1,2,...,a}の大きさbの部分集合の全体としたうえで、
(n,d)×(n,k)2値行列であり、適当な順序で列と行のインデックスを((n,d))の要素と((n,k))の要素に対応させたうえで、ある((n,d))の要素Dが((n,k))の要素Kについて、
前記要素Dが前記要素Kに含まれるときに、
前記グループテスト行列Hの(D,K)エントリを1とし、それ以外を0とする行列の有限体GF(2)上の基底からなる、正の整数のパラメータ(n,k,d)を持つMacula行列である請求項1のMACタグリスト生成装置。 - ある整数r>1についてm=2r-1,t=r+1を満たし、
m+1行m+1列のアダマール行列Had(r)から第1行目と第1列目を削除し、さらに行列要素である-1と1のうち、-1を0とすることで得られるm行m列バイナリ行列modHad(r)をとり、前記グループテスト行列Hは、前記m行m列バイナリ行列の有限体GF(2)上の基底からなり、
テスト行列拡大ルールRは、前記グループテスト行列Hを前記テスト行列拡大ルールRに従って行の拡大を行った場合にmodHad(r)となる請求項1のMACタグリスト生成装置。 - グループテスト行列Hが、正整数sについて行数と列数が共に2(2s)+2s+1の正方行列Pの一次独立なt個の行ベクトルからなる部分行列であって、
前記正方行列Pは、有限体GF(2s)を座標成分とする2次元射影空間上の点と直線によって定まる接続行列であり、
テスト行列拡大ルールRによって生成されるテストベクトルが前記正方行列Pの全ての行ベクトルである請求項1のMACタグリスト生成装置。 - 前記グループテスト行列Hが、正整数sと3以上2s+1以下の整数rについて、行数がr×(2s-1)+1、列数が2(2s)-1+rの行列A_rにおける一次独立なt個の行ベクトルからなる部分行列であって、
前記行列A_rは、有限体GF(2s)を座標成分とする2次元アフィン空間の原点を通過する予め指定したr本の直線上にあるr×(2s-1)+1個の点と、それらの点のいずれかを通過する2(2s)-1+r本の直線によって定まる接続行列であり、
テスト行列拡大ルールRによって生成されるテストベクトルが前記行列A_rの全ての行ベクトルである請求項1のMACタグリスト生成装置。 - 前記グループテスト行列生成部は、すべての要素が1である行を含んだグループテスト行列Hを生成する請求項1から5いずれか一のMACタグリスト生成装置。
- メッセージ認証コード(MAC)の対象となるm個のアイテムM[1],...,M[m]から構成されるメッセージ M=(M[1],...,M[m])を入力するステップと、
生成する前記MACの数s(sは正の整数)について、組み合わせグループテストのパラメータであるt行m列のグループテスト行列Hを生成するステップと、
前記メッセージMについて、前記グループテスト行列Hと、可変長入力固定長出力の擬似ランダム関数Fと、前記グループテスト行列Hの行インデックスをTweakとしたTweakableブロック暗号Gを用いて、
前記グループテスト行列Hのi行目で1が立つすべての列のインデックスj(j=1,...,m)について、前記擬似ランダム関数Fに前記M[j]と前記インデックスjとを入力し、得られた前記擬似ランダム関数Fの出力のすべての和をとり、i番目の中間タグS[i]とし、
前記iをTweakとしたTweakableブロック暗号GのTweakable暗号化関数で前記中間タグS[i]を暗号化して得られた出力を、i(i=1,...,t)番目のテストに対応するタグT[i]とする処理を、すべてのi=1,...,tについて行いMACタグリストT=(T[1],...,T[t])を生成するステップと、
前記MACタグリストを出力するステップと、を含むMACタグリスト生成方法。 - メッセージ認証コード(MAC)の対象となるm個のアイテムM[1],...,M[m]から構成されるメッセージ M=(M[1],...,M[m])を入力する処理と、
生成する前記MACの数s(sは正の整数)について、組み合わせグループテストのパラメータであるt行m列のグループテスト行列Hを生成する処理と、
前記メッセージMについて、前記グループテスト行列Hと、可変長入力固定長出力の擬似ランダム関数Fと、前記グループテスト行列Hの行インデックスをTweakとしたTweakableブロック暗号Gを用いて、
前記グループテスト行列Hのi行目で1が立つすべての列のインデックスj(j=1,...,m)について、前記擬似ランダム関数Fに前記M[j]と前記インデックスjとを入力し、得られた前記擬似ランダム関数Fの出力のすべての和をとり、i番目の中間タグS[i]とし、
前記iをTweakとしたTweakableブロック暗号GのTweakable暗号化関数で前記中間タグS[i]を暗号化して得られた出力を、i(i=1,...,t)番目のテストに対応するタグT[i]とする処理を、すべてのi=1,...,tについて行いMACタグリストT=(T[1],...,T[t])を生成するステップと、
前記MACタグリストを出力する処理と、をコンピュータに実行させるプログラム。
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