JP7342771B2 - pressure sensor - Google Patents

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信明 山田
義浩 友松
泰史 ▲柳▼澤
祐介 緑川
博志 小玉
直樹 吉田
香織 宮下
英嗣 武田
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本発明は、ステム上に歪み検出素子が形成された圧力センサに関するものである。 The present invention relates to a pressure sensor in which a strain detection element is formed on a stem.

従来より、ステム上に歪み検出素子が形成された圧力センサが提案されている(例えば、特許文献1参照)。具体的には、この圧力センサでは、ステムは、一端部が開口部とされて圧力媒体が導入されるようになっており、他端部側が圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラムとされている。そして、ダイアフラム上には、変形することで抵抗値が変化するゲージ抵抗を有する歪み検出素子が形成されている。 BACKGROUND ART Conventionally, a pressure sensor in which a strain detection element is formed on a stem has been proposed (for example, see Patent Document 1). Specifically, in this pressure sensor, the stem has an opening at one end through which a pressure medium is introduced, and a diaphragm at the other end that can be deformed according to the pressure of the pressure medium. ing. A strain detection element having a gauge resistance whose resistance value changes when deformed is formed on the diaphragm.

特開2005-249520号公報Japanese Patent Application Publication No. 2005-249520

ところで、近年では、上記のような圧力センサにおいて、さらに信頼性を向上させることが望まれている。 Incidentally, in recent years, it has been desired to further improve the reliability of pressure sensors such as those described above.

本発明は上記点に鑑み、信頼性を向上させることができる圧力センサを提供することを目的とする。 In view of the above-mentioned points, an object of the present invention is to provide a pressure sensor that can improve reliability.

上記目的を達成するための請求項1、3、6、10、12、16では、圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、ダイアフラムに配置され、ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、ステムは、ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、第1ステムと第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、第2ステムは、溶接部と開口端との間に、溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有しており、中空部を有する筒状とされて一端部側がステムと接合され、ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、表面(50a)および裏面(50b)を有し、表面側に歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、裏面側が搭載部と対向する状態で搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、貫通孔にステムが位置する状態で搭載部に搭載されている。
そして、請求項1は、二組の対向する一辺(701a~701d)を有する外形とされ、回路基板に配置される電子部品(70)を有し、電子部品は、二組の対向する一辺のうちの二辺が貫通孔の中心と回路基板の外縁部とを結ぶ仮想線(K)と交差する状態で回路基板に配置され、貫通孔側の一辺(701a)と異なる三辺(701b~701d)に形成された複数の電極部(702)を有し、回路基板は、貫通孔側の一辺と異なる三辺に形成された電極部とはんだ(71)を介して接続される複数の電極部用ランド(501a~501c)を有し、貫通孔側の一辺と交差する二辺(701b、701d)に形成された電極部と接続される電極部用ランドとしての側方ランド(501a、501b)は、当該電極部と対向する位置に形成されていると共に互いに分離され、回路基板の面方向に対する法線方向において、電子部品から突出するように延設されており、貫通孔側の一辺と対向する一辺(701c)に形成された電極部と接続される電極部用ランドとしての対向ランド(501)は、当該電極部と対向する位置に形成されていると共に隣合う電極部用ランドが繋がって構成されており、回路基板の面方向に対する法線方向において、電子部品から突出するように延設され、かつ突出長さ(L2)が側方ランドの突出長さ(L1)よりも短くされている。
請求項3は、回路基板に配置される電子部品(70)を有し、回路基板は、表面側に、外部回路と接続される外部接続用ランド(502a~502c)と電子部品と接続される電極部用ランド(501a)とを接続する外部接続用パターン(511a~511c)と、素子用ランドと電子部品と接続される電極部用ランド(501b)とを接続するセンシング用パターン(512)を有し、外部接続用パターンとセンシング用パターンとは、貫通孔の中心と回路基板の外縁部とを結ぶ仮想線(K)に対し、それぞれ異なる仮想線と交差するように形成されている。
請求項6は、ハウジングに組み付けられるコネクタケース(80)と、ケースに保持され、ハウジングに組み付けられた際に回路基板と電気的に接続される端子部材(85)と、を有し、ダイアフラム上には、歪み検出素子を覆うゲルで構成される保護部材(22)が配置され、回路基板には、表面側に、歪み検出素子とワイヤ(52)を介して電気的に接続される素子用ランド、および端子部材が当接されることで当該端子部材と接続される外部接続用ランド(502a~502c)が形成されていると共に、所定領域を開口させる開口部(531)が形成された保護層(530)が形成されており、保護層には、素子用ランドから外部接続用ランドへゲルが流れることを抑制する堰き止め構造(531、540)が形成されている。
請求項10は、回路基板と搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、ハウジングには、搭載部に三個以上の凸部(421、422)が形成されており、回路基板は、凸部と三箇所で当接し、三個以上の凸部は、ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされている。
請求項12は、回路基板と搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、ハウジングには、搭載部に二個の凸部(421、422)が形成されており、回路基板は、凸部と二箇所で当接し、二個の凸部は、ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされており、少なくとも1つの凸部は、回路基板と当接する部分が所定長さを有する辺部(422)とされている。
請求項16は、回路基板には、ボディグラウンド用のパッド部(550)が形成され、パッド部と電気的に接続されると共に、搭載部と電気的に接続される導通端子部(900)を有し、導通端子部は、搭載部と溶接部(940)を介して接続され、回路基板と搭載部との間には、回路基板とハウジングとを機械的に接続する接合部材(60)が配置されている。
Claims 1 , 3, 6, 10, 12, and 16 for achieving the above object provide a pressure sensor for detecting the pressure of a pressure medium, wherein a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced is formed. and a stem (10) formed with a diaphragm (13) that can be deformed according to the pressure of the pressure medium, and a strain detection element (30) that is disposed on the diaphragm and outputs a detection signal according to the deformation of the diaphragm. , the stem has a first stem (101) constituting the diaphragm side, and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem are joined via a weld (103), and the second stem has a portion between the inner wall surface and the outer wall surface that is closer to the portion where the weld is formed between the weld portion and the open end. A housing (40) has a thin walled portion (121) with a reduced thickness, has a cylindrical shape with a hollow portion, is joined to a stem at one end, and constitutes a mounting portion (42) around the diaphragm. It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front side, and the back side faces the mounting part. A circuit board (50) is mounted on the mounting section, and the circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and the circuit board is mounted on the mounting section with the stem located in the through hole. It is installed in .
The first aspect of the invention includes an electronic component (70) having an external shape having two sets of opposing sides (701a to 701d) and disposed on a circuit board; The three sides (701b to 701d) are arranged on the circuit board with two sides intersecting the virtual line (K) connecting the center of the through hole and the outer edge of the circuit board, and are different from one side (701a) on the side of the through hole. ), and the circuit board has a plurality of electrode parts (702) formed on three sides different from one side on the through-hole side, and the plurality of electrode parts are connected via solder (71) to electrode parts formed on three sides different from one side on the through-hole side. side lands (501a, 501b) as lands for the electrode portion connected to the electrode portions formed on the two sides (701b, 701d) intersecting one side of the through hole side; are formed at a position facing the electrode part and are separated from each other, extending so as to protrude from the electronic component in the normal direction to the surface direction of the circuit board, and facing one side of the through hole side. The opposite land (501) as an electrode part land connected to the electrode part formed on one side (701c) is formed at a position facing the electrode part, and the adjacent electrode part lands are connected. It is configured such that it extends so as to protrude from the electronic component in the normal direction to the surface direction of the circuit board, and the protrusion length (L2) is shorter than the protrusion length (L1) of the side land. There is.
A third aspect of the present invention includes an electronic component (70) arranged on a circuit board, and the circuit board is connected to external connection lands (502a to 502c) connected to an external circuit and the electronic component on the front side. External connection patterns (511a to 511c) that connect the electrode land (501a), and sensing patterns (512) that connect the element land and the electrode land (501b) connected to the electronic component. The external connection pattern and the sensing pattern are formed to intersect different virtual lines with respect to the virtual line (K) connecting the center of the through hole and the outer edge of the circuit board.
A sixth aspect of the present invention includes a connector case (80) that is assembled to the housing, and a terminal member (85) that is held in the case and electrically connected to the circuit board when assembled to the housing, and includes a terminal member (85) that is attached to the diaphragm. A protective member (22) made of gel that covers the strain sensing element is disposed on the circuit board, and a protective member (22) for the element that is electrically connected to the strain sensing element via a wire (52) is disposed on the front side of the circuit board. A protection device in which external connection lands (502a to 502c) are formed to be connected to the terminal member when the land and the terminal member come into contact with each other, and an opening (531) is formed to open a predetermined area. A layer (530) is formed, and a dam structure (531, 540) is formed in the protective layer to suppress the gel from flowing from the element land to the external connection land.
According to a tenth aspect of the present invention, the housing includes a joining member (60) disposed between the circuit board and the mounting portion, and the housing has three or more convex portions (421, 422) formed on the mounting portion. The circuit board is in contact with the protrusions at three places, and the three or more protrusions are arranged such that the intervals between adjacent protrusions in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing are equal and the heights are equal. ing.
According to a twelfth aspect of the invention, the housing includes a joining member (60) disposed between the circuit board and the mounting part, and the housing has two protrusions (421, 422) formed on the mounting part, and the circuit board is mounted on the mounting part. The substrate contacts the convex portions at two places, and the two convex portions have equal spacing and heights between adjacent convex portions in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing. , at least one of the protrusions has a side portion (422) having a predetermined length at a portion that contacts the circuit board.
According to a sixteenth aspect of the present invention, the circuit board has a body ground pad section (550) formed thereon, and is electrically connected to the pad section, and also has a conductive terminal section (900) electrically connected to the mounting section. The conductive terminal portion is connected to the mounting portion via the welding portion (940), and a joining member (60) for mechanically connecting the circuit board and the housing is provided between the circuit board and the mounting portion. It is located.

これによれば、第2ステムは、第1ステムとの溶接部が形成される部分よりも開口端側に薄肉部を有している。このため、溶接部の疲労破壊に対する寿命を向上でき、圧力センサの信頼性を向上できる。 According to this, the second stem has a thinner portion closer to the open end than the portion where the welded portion with the first stem is formed. Therefore, the life of the welded portion against fatigue fracture can be improved, and the reliability of the pressure sensor can be improved.

なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。 Note that the reference numerals in parentheses attached to each component etc. indicate an example of the correspondence between the component etc. and specific components etc. described in the embodiments to be described later.

第1実施形態における圧力センサの全体構成を示す図である。It is a figure showing the whole composition of a pressure sensor in a 1st embodiment. 図1中のダイアフラム近傍の拡大図である。2 is an enlarged view of the vicinity of the diaphragm in FIG. 1. FIG. 薄肉部が形成されていないステムの変形を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining deformation of a stem in which a thin wall portion is not formed. 薄肉部が形成されているステムの変形を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining deformation of a stem in which a thin portion is formed. 薄肉部および位置合わせ部が形成されているステムの変形を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining deformation of a stem in which a thin wall portion and an alignment portion are formed. 第2実施形態におけるダイアフラム近傍の拡大図である。FIG. 7 is an enlarged view of the vicinity of the diaphragm in the second embodiment. 第2実施形態における歪み検出素子の平面形状を示す図である。It is a figure which shows the planar shape of the distortion detection element in 2nd Embodiment. 図5中のVI-VI線に沿った断面図である。6 is a sectional view taken along line VI-VI in FIG. 5. FIG. 第2実施形態における歪み検出素子の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a distortion detection element in a second embodiment. 第3実施形態における歪み検出素子の平面形状を示す図である。It is a figure which shows the planar shape of the distortion detection element in 3rd Embodiment. 第3実施形態の変形例における歪み検出素子の平面形状を示す図である。It is a figure which shows the planar shape of the distortion detection element in the modification of 3rd Embodiment. 第4実施形態におけるダイアフラム近傍の断面図を示す図である。It is a figure which shows the sectional view of the diaphragm vicinity in 4th Embodiment. 第5実施形態における電子部品の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the electronic component in 5th Embodiment. 第5実施形態における回路基板の表面側の構成を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing the configuration of the front side of a circuit board in a fifth embodiment. 電子部品と電極部用ランドとの関係を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the relationship between electronic components and lands for electrode parts. 電極部および側方ランドの大きさの関係を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the relationship between the sizes of the electrode portion and the side lands. 電極部および対向ランドの大きさの関係を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the relationship between the sizes of an electrode portion and an opposing land. 第6実施形態における回路基板の表面側の構成を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing the configuration of the front side of a circuit board in a sixth embodiment. 第6実施形態における回路基板の裏面側の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the back side of the circuit board in 6th Embodiment. 第7実施形態における堰き止め構造を示す断面図である。It is a sectional view showing the dam structure in a 7th embodiment. 第8実施形態における堰き止め構造を示す平面図である。It is a top view which shows the dam structure in 8th Embodiment. 第9実施形態におけるハウジングの斜視図である。It is a perspective view of the housing in a 9th embodiment. 図19中のXX-XX線に沿った断面図である。20 is a sectional view taken along line XX-XX in FIG. 19. FIG. 第10実施形態におけるハウジングの斜視図である。It is a perspective view of the housing in a 10th embodiment. 第11実施形態におけるハウジングおよび回路基板の断面図である。It is a sectional view of a housing and a circuit board in an 11th embodiment. 第11実施形態の変形例におけるハウジングおよび回路基板の断面図である。It is a sectional view of a housing and a circuit board in a modification of an 11th embodiment. 第12実施形態におけるハウジングおよび回路基板の平面図である。It is a top view of a housing and a circuit board in a 12th embodiment. 図24中のXXV-XXV線に沿った断面図である。25 is a sectional view taken along line XXV-XXV in FIG. 24. FIG. 図24に示す回路基板の導通端子部近傍の斜視図である。FIG. 25 is a perspective view of the vicinity of the conduction terminal portion of the circuit board shown in FIG. 24; 第13実施形態における回路基板の導通端子部近傍の斜視図である。FIG. 13 is a perspective view of the vicinity of the conduction terminal portion of the circuit board in the thirteenth embodiment.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。 Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings. Note that in each of the following embodiments, parts that are the same or equivalent to each other will be described with the same reference numerals.

(第1実施形態)
第1実施形態の圧力センサについて、図面を参照しつつ説明する。なお、本実施形態の圧力センサは、例えば、内燃機関の燃焼圧を検出するのに利用されると好適である。
(First embodiment)
The pressure sensor of the first embodiment will be described with reference to the drawings. Note that the pressure sensor of this embodiment is preferably used, for example, to detect combustion pressure of an internal combustion engine.

まず、本実施形態における圧力センサの全体構成について説明する。圧力センサは、図1および図2に示されるように、ステム10、歪み検出素子30、ハウジング40、回路基板50、およびコネクタケース80等を備えた構成とされている。 First, the overall configuration of the pressure sensor in this embodiment will be explained. As shown in FIGS. 1 and 2, the pressure sensor includes a stem 10, a strain detection element 30, a housing 40, a circuit board 50, a connector case 80, and the like.

ステム10は、図1に示されるように、一端部側に開口部11が形成されていると共に、当該開口部11から他端部側に向かって延びる圧力導入孔12が形成された有底円筒状とされている。そして、ステム10は、他端部側に、圧力に応じて変形可能なダイアフラム13が構成されている。つまり、ステム10には、他端部側にダイアフラム13が構成されるように圧力導入孔12が形成されている。そして、ステム10には、図2に示されるように、ダイアフラム13上に絶縁膜20を介して歪み検出素子30が配置されている。 As shown in FIG. 1, the stem 10 is a bottomed cylinder having an opening 11 formed at one end and a pressure introduction hole 12 extending from the opening 11 toward the other end. It is said that The stem 10 has a diaphragm 13 on its other end that can be deformed in response to pressure. That is, the pressure introduction hole 12 is formed in the stem 10 so that the diaphragm 13 is formed on the other end side. In the stem 10, as shown in FIG. 2, a strain detection element 30 is arranged on the diaphragm 13 with an insulating film 20 interposed therebetween.

なお、図1中では、紙面下側が一端部側に相当し、紙面上側が他端部側に相当する。また、以下では、各部材について同様に、紙面下側を一端部側とし、紙面上側を他端部側として説明する。言い換えると、後述するように、圧力センサは、ステム10、ハウジング40、コネクタケース80が一体化されて構成される。このため、圧力センサは、ステム10側が一端部側となり、コネクタケース80側が他端部側となる。 In FIG. 1, the lower side of the page corresponds to one end side, and the upper side of the page corresponds to the other end side. Further, in the following, each member will be similarly described with the lower side of the paper as one end side and the upper side of the paper as the other end side. In other words, as described later, the pressure sensor is configured by integrating the stem 10, the housing 40, and the connector case 80. Therefore, the pressure sensor has one end on the stem 10 side and the other end on the connector case 80 side.

ステム10には、図1に示されるように、開口部11側の外壁面に、燃料パイプ等の被取付部材にネジ結合可能なネジ部14が形成されている。また、ステム10は、一端部と他端部との間において、軸方向を中心とする周方向の外壁面の長さが変化させられている。具体的には、ステム10は、他端部側の外壁面における周方向の長さが、一端部側の外壁面における周方向の長さよりも短くされている。そして、ステム10は、後述するように、外壁面の周方向の長さが変化する部分がハウジング40と溶接部15によって接合されている。 As shown in FIG. 1, the stem 10 has a threaded portion 14 formed on the outer wall surface on the side of the opening 11, which can be screwed to a member to be attached, such as a fuel pipe. Furthermore, the length of the outer wall surface of the stem 10 in the circumferential direction centered on the axial direction is changed between one end and the other end. Specifically, the length of the stem 10 in the circumferential direction on the outer wall surface on the other end side is shorter than the length in the circumferential direction on the outer wall surface on the one end side. As will be described later, the stem 10 is joined to the housing 40 by a welded portion 15 at a portion where the circumferential length of the outer wall surface changes.

歪み検出素子30は、図2に示されるように、ステム10のダイアフラム13上に絶縁膜20を介して配置されている。歪み検出素子30は、変形に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗31や、図示しない配線層およびパッド部を有する構成とされている。そして、歪み検出素子30は、ゲージ抵抗31がブリッジ回路を構成するように配線層を介して接続され、各ゲージ抵抗31が外部回路と接続されるように配線層上にパッド部が配置された構成とされている。また、ステム10のダイアフラム13上には、歪み検出素子30を覆う保護膜21が形成されている。そして、保護膜21上には、保護部材22が配置されている。 As shown in FIG. 2, the strain detection element 30 is placed on the diaphragm 13 of the stem 10 with an insulating film 20 interposed therebetween. The strain detection element 30 is configured to include a gauge resistor 31 whose resistance value changes according to deformation, and a wiring layer and a pad portion (not shown). In the strain detection element 30, the gauge resistors 31 are connected via a wiring layer to form a bridge circuit, and a pad portion is arranged on the wiring layer so that each gauge resistor 31 is connected to an external circuit. It is said to be composed of Furthermore, a protective film 21 covering the strain detection element 30 is formed on the diaphragm 13 of the stem 10 . A protective member 22 is arranged on the protective film 21.

なお、保護膜21には、図2とは別断面において、パッド部を露出させる開口部が形成されている。そして、歪み検出素子30は、図1に示されるように、当該パッド部がボンディングワイヤ52を介して回路基板50に接続されている。また、本実施形態では、絶縁膜20は、シリコン酸化膜等で構成されている。ゲージ抵抗31および配線層は、ボロンがドープされたポリシリコンで構成されている。パッド部は、金または金を主成分とする合金等の電極膜で構成とされている。保護膜21は、窒化シリコン膜等で構成されている。保護部材22は、シリコーンゲル等のゲルで構成されている。 Note that an opening is formed in the protective film 21 in a cross section different from that shown in FIG. 2 to expose the pad portion. As shown in FIG. 1, the pad portion of the strain detection element 30 is connected to the circuit board 50 via a bonding wire 52. Further, in this embodiment, the insulating film 20 is made of a silicon oxide film or the like. The gauge resistor 31 and the wiring layer are made of polysilicon doped with boron. The pad portion is made of an electrode film of gold or an alloy containing gold as a main component. The protective film 21 is made of a silicon nitride film or the like. The protective member 22 is made of gel such as silicone gel.

ハウジング40は、図1に示されるように、一端部側および他端部側が開口された筒状とされ、一端部側が他端部側より対向する内壁面の間隔が短くされた筒状とされている。具体的には、ハウジングは、一端部側と他端部側との間に段差部41が形成され、当該段差部41によって対向する内壁面の間隔が変化させられている。段差部41は、後述するように、回路基板50を搭載可能な搭載部42を構成するように形成されている。 As shown in FIG. 1, the housing 40 has a cylindrical shape with openings on one end side and the other end side, and has a cylindrical shape where the distance between opposing inner wall surfaces is shorter on the one end side than on the other end side. ing. Specifically, the housing has a stepped portion 41 formed between one end and the other end, and the stepped portion 41 changes the distance between opposing inner wall surfaces. The step portion 41 is formed to constitute a mounting portion 42 on which a circuit board 50 can be mounted, as described later.

そして、ハウジング40は、ステム10におけるダイアフラム13が段差部41より他端部側に位置する状態でステム10と溶接部15を介して接合されている。つまり、ハウジング40およびステム10は、ステム10におけるダイアフラム13が段差部41より他端部側に突出するように各寸法等が設計されている。 The housing 40 is joined to the stem 10 via the welded portion 15 with the diaphragm 13 of the stem 10 located closer to the other end than the stepped portion 41 . That is, the dimensions of the housing 40 and the stem 10 are designed such that the diaphragm 13 of the stem 10 protrudes from the stepped portion 41 toward the other end.

なお、ステム10とハウジング40との溶接部15は、レーザ溶接や電子ビーム溶接等によって構成される。また、ハウジング40のうちの段差部41より他端部側の部位は、スパナ等の取付治具が取付られるように、外形が六角形状等とされている。そして、搭載部42は、この外形に合わせて平面形状の外形が六角形状とされている。 Note that the welded portion 15 between the stem 10 and the housing 40 is formed by laser welding, electron beam welding, or the like. Further, a portion of the housing 40 on the other end side of the stepped portion 41 has a hexagonal outer shape or the like so that a mounting jig such as a spanner can be attached thereto. The mounting portion 42 has a hexagonal planar outer shape in accordance with this outer shape.

回路基板50は、プリント基板等で構成され、搭載部42の平面形状の外形に合わせて外形が六角形状とされている。なお、回路基板50には、ここでは詳細な説明はしないが、表面50a側に、図示しない歪み検出素子30と接続される素子用ランド、後述する電子部品70と接続される電極部用ランド、後述する端子部材85と接続される外部接続用ランド、および所定の配線パターン等が形成されている。そして、回路基板50は、裏面50bがハウジング40の搭載部42と対向するように、搭載部42に接合部材60を介して配置されている。 The circuit board 50 is made of a printed circuit board or the like, and has a hexagonal outer shape matching the planar outer shape of the mounting portion 42 . Although detailed description will not be given here, the circuit board 50 has an element land connected to the strain detection element 30 (not shown) on the surface 50a side, an electrode land connected to the electronic component 70 described later, An external connection land connected to a terminal member 85 to be described later, a predetermined wiring pattern, etc. are formed. The circuit board 50 is placed on the mounting portion 42 via the joining member 60 so that the back surface 50b faces the mounting portion 42 of the housing 40.

具体的には、回路基板50は、略中央部に表面50aと裏面50bとの間を貫通する貫通孔51が形成されており、貫通孔51にステム10の他端部側が位置するように配置される。そして、回路基板50は、ステム10に形成された歪み検出素子30とボンディングワイヤ52を介して電気的に接続されている。また、回路基板50には、電子部品70が搭載されている。 Specifically, the circuit board 50 is formed with a through hole 51 that penetrates between the front surface 50a and the back surface 50b at approximately the center thereof, and is arranged such that the other end side of the stem 10 is located in the through hole 51. be done. The circuit board 50 is electrically connected to the strain detection element 30 formed on the stem 10 via a bonding wire 52. Moreover, an electronic component 70 is mounted on the circuit board 50.

なお、電子部品70は、本実施形態では、増幅回路や補正回路等が形成された回路チップがケースに収容され、ケースに電極部が形成されたQFN(quad flat non-leaded packageの略)等で構成されている。そして、電子部品70は、回路基板50に形成された電極部用ランドにはんだ71を介して搭載されている。 In this embodiment, the electronic component 70 is a QFN (abbreviation for quad flat non-leaded package), etc., in which a circuit chip on which an amplifier circuit, a correction circuit, etc. are formed is housed in a case, and an electrode part is formed in the case. It consists of The electronic component 70 is mounted on an electrode land formed on the circuit board 50 via a solder 71.

コネクタケース80は、PPS(すなわち、ポリプロピレンサルファイド)やPBT(すなわち、ポリブチレンテレフタレート)等の樹脂が型成形されて構成された柱状とされている。そして、コネクタケース80は、一端部側に凹部81が形成されていると共に、他端部側に開口部82が形成されている。 The connector case 80 has a columnar shape formed by molding a resin such as PPS (that is, polypropylene sulfide) or PBT (that is, polybutylene terephthalate). The connector case 80 has a recess 81 formed at one end and an opening 82 at the other end.

コネクタケース80は、外部回路との電気的な接続を図るターミナル83を有している。このターミナル83は、例えば、コネクタケース80が成形された後に配置されるが、インサート成型等によってコネクタケース80と一体的に成形されるようにしてもよい。 The connector case 80 has a terminal 83 for electrical connection with an external circuit. This terminal 83 is placed, for example, after the connector case 80 is molded, but it may also be molded integrally with the connector case 80 by insert molding or the like.

ターミナル83は、一端部が凹部81内に露出すると共に、他端部が開口部から露出するようにコネクタケース80内に備えられている。なお、本実施形態では、ターミナル83の一端部は、後述する端子部材85の接触部852aと当接可能なように、端子部材85側に向けられて曲げられている。 The terminal 83 is provided within the connector case 80 so that one end is exposed within the recess 81 and the other end is exposed from the opening. In this embodiment, one end of the terminal 83 is bent toward the terminal member 85 so that it can come into contact with a contact portion 852a of the terminal member 85, which will be described later.

また、コネクタケース80には、一端部側に、端子部材85を配置するための搭載孔84が形成されている。そして、搭載孔84に、ターミナル83と接触しつつ、回路基板50に当接する端子部材85が配置されている。 Furthermore, a mounting hole 84 for arranging a terminal member 85 is formed at one end of the connector case 80. A terminal member 85 is arranged in the mounting hole 84 so as to contact the terminal 83 and the circuit board 50 .

端子部材85は、基部851と、可動体852と、付勢部材853とを有する構成とされている。基部851および可動体852は、それぞれ、導電性の金属部材を打ち抜き加工したり、折り曲げ加工したりすることで構成されており、一対の側面と底面とを有する断面U字状とされている。また、特に図示しないが、基部851には、側面に凸部が形成されており、可動体852には、側面にスライド溝が形成されている。そして、基部851および可動体852は、それぞれの底面が対向する状態で凸部がスライド溝に挿入され、可動体852が基部851に対してスライド可能な状態で組み付けられている。 The terminal member 85 has a base portion 851, a movable body 852, and a biasing member 853. The base 851 and the movable body 852 are each formed by punching or bending a conductive metal member, and have a U-shaped cross section with a pair of side surfaces and a bottom surface. Although not particularly shown, the base 851 has a convex portion formed on its side surface, and the movable body 852 has a slide groove formed on its side surface. The protrusions of the base 851 and the movable body 852 are inserted into the slide grooves with their bottom surfaces facing each other, and the movable body 852 is assembled to the base 851 in a slidable manner.

また、基部851には、特に図示しないが、側面に固定用の係止部が形成されている。可動体852には、一方の側面に折り曲げられた接触部852aが備えられている。 Further, although not particularly shown in the drawings, the base portion 851 is provided with a locking portion for fixing on the side surface. The movable body 852 is provided with a bent contact portion 852a on one side.

付勢部材853は、コイルバネ等によって構成されており、一端部が可動体852の底面を押圧すると共に他端部が基部851の底面を押圧するように、基部851と可動体852との間に配置されている。 The biasing member 853 is made of a coil spring or the like, and is inserted between the base 851 and the movable body 852 such that one end presses the bottom surface of the movable body 852 and the other end presses the bottom surface of the base 851. It is located.

そして、このような端子部材85は、コネクタケース80に形成された搭載孔84に圧入され、基部851に形成された係止部がコネクタケース80に食い込むことにより、搭載孔84に保持される。なお、搭載孔84に保持されるのは基部851であり、可動体852は、基部851に対してスライド可能な状態となっている。また、端子部材85は、接触部852aがターミナル83と接触するように搭載孔84に保持される。より詳しくは、端子部材85は、スライドした際においても接触部852aがターミナル83と接触した状態が維持されるように、搭載孔84に保持される。 The terminal member 85 is press-fitted into the mounting hole 84 formed in the connector case 80 and is held in the mounting hole 84 by the locking portion formed on the base 851 biting into the connector case 80. Note that the base portion 851 is held in the mounting hole 84, and the movable body 852 is in a slidable state relative to the base portion 851. Further, the terminal member 85 is held in the mounting hole 84 such that the contact portion 852a contacts the terminal 83. More specifically, the terminal member 85 is held in the mounting hole 84 so that the contact portion 852a remains in contact with the terminal 83 even when the terminal member 85 slides.

そして、コネクタケース80は、一端部側がハウジング40における他端部側に挿入され、ハウジング40に形成されている爪部43がかしめられることにより、ハウジング40と一体化されている。この際、コネクタケース80は、端子部材85が回路基板50に形成された外部接続用ランドと当接するように挿入される。これにより、ターミナル83は、端子部材85、回路基板50、ボンディングワイヤ52等を通じて歪み検出素子30と電気的に接続される。 The connector case 80 is integrated with the housing 40 by inserting one end into the other end of the housing 40 and caulking the claws 43 formed in the housing 40. At this time, the connector case 80 is inserted so that the terminal members 85 come into contact with external connection lands formed on the circuit board 50. Thereby, the terminal 83 is electrically connected to the strain detection element 30 through the terminal member 85, the circuit board 50, the bonding wire 52, etc.

なお、コネクタケース80の一端部と、ハウジング40の搭載部42との間にはガスケット等の封止部材90が配置されている。そして、封止部材90が押し潰されることにより、内部の空間が封止されている。 Note that a sealing member 90 such as a gasket is disposed between one end of the connector case 80 and the mounting portion 42 of the housing 40. The internal space is sealed by crushing the sealing member 90.

以上が本実施形態における圧力センサの基本的な構成である。そして、本実施形態では、ステム10は、第1ステム101と、第2ステム102とを有し、これらが溶接接合されることで構成されている。 The above is the basic configuration of the pressure sensor in this embodiment. In this embodiment, the stem 10 includes a first stem 101 and a second stem 102, which are joined by welding.

具体的には、第1ステム101は、一端部側が開口端とされ、他端部側にダイアフラム13を有する有底筒状とされている。第2ステム102は、一端部側および他端部側が開口端とされ、一端部側にネジ部14を有する筒状とされている。つまり、第1ステム101は、ステム10の他端部側を構成し、第2ステム102は、ステム10の一端部側を構成している。なお、ハウジング40は、第2ステム102と溶接接合されている。 Specifically, the first stem 101 has a bottomed cylindrical shape with an open end at one end and a diaphragm 13 at the other end. The second stem 102 has a cylindrical shape with open ends at one end and the other end, and a threaded portion 14 at the one end. That is, the first stem 101 constitutes the other end side of the stem 10, and the second stem 102 constitutes the one end side of the stem 10. Note that the housing 40 is joined to the second stem 102 by welding.

そして、第1ステム101および第2ステム102は、第1ステム101の一端部側と第2ステム102の他端部側とが外壁面側からレーザ溶接や電子ビーム溶接等されて接合されている。つまり、第1ステム101と第2ステム102とは、溶接部103によって接合されている。なお、溶接部103は、第1ステム101における内壁面に達するように形成されていてもよいし、達しないように形成されていてもよい。 The first stem 101 and the second stem 102 are joined by laser welding, electron beam welding, etc. from the outer wall side to one end side of the first stem 101 and the other end side of the second stem 102. . That is, the first stem 101 and the second stem 102 are joined by the welded portion 103. Note that the welded portion 103 may be formed so as to reach the inner wall surface of the first stem 101, or may be formed so as not to reach the inner wall surface of the first stem 101.

また、第2ステム102は、第1ステム101との溶接部103が形成される部分よりも一端部側に、当該溶接部103が形成される部分よりも、内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部121を有している。つまり、第2ステム102は、第1ステム101との溶接部103が形成される部分よりも一端部側に、当該溶接部103が形成される部分よりも剛性が低い薄肉部121を有している。 In addition, the second stem 102 is located closer to one end than the part where the welded part 103 with the first stem 101 is formed, and the part between the inner wall surface and the outer wall surface is closer than the part where the welded part 103 is formed. It has a thin portion 121 with a reduced thickness. In other words, the second stem 102 has a thin walled portion 121 having lower rigidity than the portion where the welded portion 103 is formed on the one end side of the portion where the welded portion 103 with the first stem 101 is formed. There is.

また、本実施形態では、第1ステム101は、ダイアフラム13が構成されるため、第2ステム102よりも強度が高い材料で構成されている。例えば、第1ステム101は、SUS630を用いて構成され、第2ステム102は、SUS430を用いて構成されている。 Further, in this embodiment, the first stem 101 is made of a material having higher strength than the second stem 102 because the diaphragm 13 is formed therein. For example, the first stem 101 is constructed using SUS630, and the second stem 102 is constructed using SUS430.

さらに、第2ステム102には、他端部側に、第1ステム101内に挿入される位置合わせ部122が形成されている。 Further, the second stem 102 has a positioning portion 122 formed at the other end thereof to be inserted into the first stem 101 .

このような圧力センサは、例えば、ステム10に形成されたネジ部14を介して燃料供給パイプ等に取り付けられる。そして、圧力センサは、燃料供給パイプ内の圧力媒体が圧力導入孔12に導入されると、歪み検出素子30が圧力媒体に応じた検出信号を出力する。そして、圧力センサは、検出信号をボンディングワイヤ52、回路基板50、端子部材85、ターミナル83等を介して、外部回路へ伝達する。これにより、圧力媒体の圧力の検出が行われる。 Such a pressure sensor is attached, for example, to a fuel supply pipe or the like via a threaded portion 14 formed in the stem 10. In the pressure sensor, when the pressure medium in the fuel supply pipe is introduced into the pressure introduction hole 12, the strain detection element 30 outputs a detection signal according to the pressure medium. The pressure sensor then transmits the detection signal to the external circuit via the bonding wire 52, the circuit board 50, the terminal member 85, the terminal 83, etc. Thereby, the pressure of the pressure medium is detected.

以上説明したように、ステム10は、第1ステム101と第2ステム102とを有する構成とされている。このため、ステム10の全体を一体的に切削や冷間鍛造等で形成する場合と比較して、製造工程の簡略化を図ることができる。 As explained above, the stem 10 is configured to include the first stem 101 and the second stem 102. Therefore, compared to the case where the entire stem 10 is integrally formed by cutting, cold forging, etc., the manufacturing process can be simplified.

また、第2ステム102は、第1ステム101との溶接部103が形成される部分よりも一端部側に薄肉部121を有している。このため、溶接部103の疲労破壊に対する寿命を向上でき、圧力センサの信頼性を向上することができる。 Further, the second stem 102 has a thin wall portion 121 closer to one end than the portion where the weld portion 103 with the first stem 101 is formed. Therefore, the life of the welded portion 103 against fatigue fracture can be improved, and the reliability of the pressure sensor can be improved.

すなわち、第2ステム102に薄肉部121が形成されていない場合、図3Aに示されるように、圧力導入孔12内に圧力媒体が導入されると、ステム10は、変形の支点が溶接部103になる。この場合、溶接部103には、引張応力が印加される。 That is, in the case where the second stem 102 does not have the thin wall portion 121, when a pressure medium is introduced into the pressure introduction hole 12 as shown in FIG. become. In this case, tensile stress is applied to the welded portion 103.

これに対し、本実施形態では、図3Bに示されるように、圧力導入孔12に圧力媒体が導入されると、ステム10の変形の支点が薄肉部121となる。この場合、溶接部103には、圧縮応力が印加される。このため、本実施形態では、溶接部103の疲労破壊に対する寿命を向上できる。 In contrast, in this embodiment, as shown in FIG. 3B, when the pressure medium is introduced into the pressure introduction hole 12, the thin wall portion 121 becomes the fulcrum of the deformation of the stem 10. In this case, compressive stress is applied to the welded portion 103. Therefore, in this embodiment, the life of the welded portion 103 against fatigue fracture can be improved.

さらに、本実施形態では、第2ステム102には、第1ステム101内に挿入される位置合わせ部122が形成されている。このため、図3Cに示されるように、第1ステム101と第2ステム102とを溶接接合する際、第1ステム101と第2ステム102との位置ずれが発生することを抑制でき、溶接部103の出来栄えが部分毎にばらつくことを抑制できる。したがって、溶接部103に印加される圧縮応力が部分毎にばらつくことを抑制でき、局所的な応力集中が発生することを抑制できる。これにより、さらに溶接部103の疲労破壊に対する寿命を向上できる。 Furthermore, in this embodiment, the second stem 102 is formed with a positioning portion 122 that is inserted into the first stem 101 . Therefore, as shown in FIG. 3C, when the first stem 101 and the second stem 102 are welded together, it is possible to suppress the occurrence of positional deviation between the first stem 101 and the second stem 102, and the welded portion It is possible to suppress variations in the quality of the 103 from part to part. Therefore, it is possible to prevent the compressive stress applied to the welded portion 103 from varying from part to part, and to prevent local stress concentration from occurring. Thereby, the life of the welded portion 103 against fatigue fracture can be further improved.

また、本実施形態では、第1ステム101は、第2ステム102よりも強度が高い材料で構成されている。このため、例えば、第1ステム101が第2ステム102と同じ材料で構成されている場合と比較して、ダイアフラム13の強度を高くでき、ダイアフラム13が破壊されることを抑制できる。 Further, in this embodiment, the first stem 101 is made of a material having higher strength than the second stem 102. Therefore, for example, the strength of the diaphragm 13 can be increased compared to a case where the first stem 101 and the second stem 102 are made of the same material, and breakage of the diaphragm 13 can be suppressed.

さらに、第2ステム102には、位置合わせ部122が形成されている。このため、第1ステム101と第2ステム102とを溶接接合する際、位置合わせ部122を第1ステム101に挿入した状態で行えばよいため、製造工程の簡略化を図ることができる。 Furthermore, a positioning portion 122 is formed in the second stem 102 . Therefore, when welding and joining the first stem 101 and the second stem 102, it is sufficient to perform the welding with the positioning portion 122 inserted into the first stem 101, so that the manufacturing process can be simplified.

(第2実施形態)
第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、歪み検出素子30と絶縁膜20との間に低ドープ層を配置したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Second embodiment)
A second embodiment will be described. This embodiment differs from the first embodiment in that a lightly doped layer is disposed between the strain detection element 30 and the insulating film 20. Other aspects are the same as those in the first embodiment, so description thereof will be omitted here.

本実施形態では、図4に示されるように、絶縁膜20上には、歪み検出素子30を構成するポリシリコンよりも電気抵抗率が高く、かつ絶縁膜20よりも結晶性が高くされた低ドープ層23が形成されている。なお、本実施形態では、低ドープ層23は、歪み検出素子30を構成するポリシリコンよりもボロンのドープ量が少なくされたポリシリコンで構成される。例えば、低ドープ層23は、歪み検出素子30を構成するポリシリコンにドープされるボロンの量よりも50%少ないボロンがドープされたポリシリコンで構成される。そして、低ドープ層23上に、歪み検出素子30が形成されている。つまり、本実施形態では、歪み検出素子30と絶縁膜20との間に低ドープ層23が配置された構成となっている。 In this embodiment, as shown in FIG. A doped layer 23 is formed. In this embodiment, the lightly doped layer 23 is made of polysilicon doped with less boron than the polysilicon constituting the strain detection element 30. For example, the lightly doped layer 23 is made of polysilicon doped with 50% less boron than the amount of boron doped into the polysilicon constituting the strain sensing element 30. A strain detection element 30 is formed on the lightly doped layer 23. That is, in this embodiment, the lightly doped layer 23 is arranged between the strain detection element 30 and the insulating film 20.

また、歪み検出素子30は、図5に示されるように、ゲージ抵抗31が配線層32によってブリッジ回路を構成するように接続されている。具体的には、配線層32は、連結部分321と、延設部分322を有する構成とされている。そして、歪み検出素子30は、隣合うゲージ抵抗31が連結部分321によって接続され、連結部分321から延設部分322が引き出された構成されている。 Further, in the strain detection element 30, as shown in FIG. 5, a gauge resistor 31 is connected to a wiring layer 32 so as to form a bridge circuit. Specifically, the wiring layer 32 is configured to have a connecting portion 321 and an extending portion 322. The strain detection element 30 is configured such that adjacent gauge resistors 31 are connected by a connecting portion 321 and an extension portion 322 is drawn out from the connecting portion 321.

また、パッド部33は、上記のように金を有する構成とされており、各配線層32と接続されるように形成されている。本実施形態では、パッド部33は、延設部分322のみと接続されるように形成されている。言い換えると、パッド部33は、延設部分322のみを覆うように形成されている。そして、パッド部33は、連結部分321側の端部では、アンカー効果によってパッド部33が歪み検出素子30から剥離し難くなるように、幅Lが狭くなるように構成されている。 Further, the pad portion 33 is made of gold as described above, and is formed to be connected to each wiring layer 32. In this embodiment, the pad portion 33 is formed to be connected only to the extension portion 322. In other words, the pad portion 33 is formed to cover only the extension portion 322. The pad portion 33 is configured to have a narrow width L at the end on the connecting portion 321 side so that the pad portion 33 is difficult to peel off from the strain detection element 30 due to the anchor effect.

なお、パッド部33を構成する金は、ゲージ抵抗31や配線層32を構成するポリシリコンよりも耐腐食性が高い材料である。また、図5は、保護部材22を省略した平面図であり、断面図ではないが、理解をし易くするためにパッド部33にハッチングを施してある。そして、後述する同様の図においても、理解をし易くするためにパッド部33にハッチングを施してある。図4は、図5中のIV-IV線に沿った断面図である。但し、図4中では、理解をし易くするためにゲージ抵抗31を誇張して示してある。 Note that the gold forming the pad portion 33 is a material with higher corrosion resistance than the polysilicon forming the gauge resistor 31 and the wiring layer 32. Further, although FIG. 5 is a plan view with the protection member 22 omitted and not a cross-sectional view, the pad portion 33 is hatched for ease of understanding. Also in similar figures to be described later, the pad portion 33 is hatched for ease of understanding. FIG. 4 is a sectional view taken along line IV-IV in FIG. However, in FIG. 4, the gauge resistor 31 is exaggerated for ease of understanding.

そして、保護膜21には、パッド部33を露出させるように開口部21aが形成されている。本実施形態では、開口部21aは、二つ形成されており、各開口部21aが隣合うパッド部33を一体的に露出させるように形成されている。つまり、隣合うパッド部33は、共通の開口部21aから露出している。そして、パッド部33のうちの開口部21aから露出する部分には、回路基板50と電気的に接続するためのボンディングワイヤ52が接続される。 An opening 21 a is formed in the protective film 21 so as to expose the pad portion 33 . In this embodiment, two openings 21a are formed, and each opening 21a is formed so as to integrally expose the adjacent pad section 33. In other words, adjacent pad portions 33 are exposed through the common opening 21a. A bonding wire 52 for electrical connection to the circuit board 50 is connected to a portion of the pad portion 33 exposed from the opening 21a.

また、本実施形態では、図6に示されるように、パッド部33と配線層32との間には、配線層32側から順にNiCr(ニッケルクロム)膜341、Pd(パラジウム)膜342が積層されて構成されるバリアメタル34が形成されている。NiCr膜341は、耐腐食性が高く、歪み検出素子30を構成するポリシリコンを保護する機能を発揮するものである。Pd膜342は、パッド部33を構成する金が歪み検出素子30側へ拡散することを抑制する機能を発揮するものである。そして、パッド部33は、配線層32およびバリアメタル34を覆うように形成されている。 Further, in this embodiment, as shown in FIG. 6, between the pad portion 33 and the wiring layer 32, a NiCr (nickel chromium) film 341 and a Pd (palladium) film 342 are laminated in order from the wiring layer 32 side. A barrier metal 34 is formed by using the following methods. The NiCr film 341 has high corrosion resistance and functions to protect the polysilicon forming the strain detection element 30. The Pd film 342 has the function of suppressing the diffusion of gold constituting the pad portion 33 toward the strain detection element 30 side. The pad portion 33 is formed to cover the wiring layer 32 and the barrier metal 34.

このようなバリアメタル34およびパッド部33は、次のように構成される。すなわち、まず、NiCr膜341が形成される領域が開口されたメタルマスクを配置し、蒸着等することによってNiCr膜341を形成する。次に、Pd膜342が形成される領域が開口されたメタルマスクを配置し、蒸着等することによってPd膜342を形成することにより、バリアメタル34を形成する。この場合、NiCr膜341およびPd膜342は、同じ領域に積層されて配置されるため、共通のメタルマスクを用いることにより、製造工程の簡略化を図ることができる。 The barrier metal 34 and pad portion 33 are configured as follows. That is, first, a metal mask with an opening in the region where the NiCr film 341 is to be formed is placed, and the NiCr film 341 is formed by vapor deposition or the like. Next, a metal mask with an opening in the region where the Pd film 342 is to be formed is placed, and the Pd film 342 is formed by vapor deposition or the like, thereby forming the barrier metal 34. In this case, since the NiCr film 341 and the Pd film 342 are stacked and arranged in the same region, the manufacturing process can be simplified by using a common metal mask.

そして、パッド部33を形成する際には、バリアメタル34が覆われるように、NiCr膜341およびPd膜342を形成する際に用いたメタルマスクよりも開口部が大きくされたメタルマスクを用いる。これにより、上記のように、パッド部33は、配線層32およびバリアメタル34を覆うように形成される。 Then, when forming the pad portion 33, a metal mask having a larger opening than the metal mask used when forming the NiCr film 341 and the Pd film 342 is used so that the barrier metal 34 is covered. Thereby, the pad portion 33 is formed so as to cover the wiring layer 32 and the barrier metal 34 as described above.

以上説明したように、本実施形態では、歪み検出素子30は、低ドープ層23上に形成されている。このため、圧力センサの信頼性の向上を図ることができる。 As explained above, in this embodiment, the strain detection element 30 is formed on the lightly doped layer 23. Therefore, the reliability of the pressure sensor can be improved.

すなわち、本発明者らが検討したところ、絶縁膜20上に、ポリシリコンで構成される歪み検出素子30を直接形成する場合、ポリシリコンを成膜した際、ポリシリコンと絶縁膜20との間にアモルファス層が形成されることが確認された。そして、圧力センサは、アモルファス層が遅延弾性することにより、歪み検出素子30の特性が変化する可能性があることが確認された。 In other words, the present inventors have investigated that when forming the strain sensing element 30 made of polysilicon directly on the insulating film 20, when the polysilicon is formed, the gap between the polysilicon and the insulating film 20 is It was confirmed that an amorphous layer was formed. It was also confirmed that in the pressure sensor, the characteristics of the strain detection element 30 may change due to delayed elasticity of the amorphous layer.

このため、本実施形態では、絶縁膜20上に絶縁膜20より結晶性が高い低ドープ層23を配置し、低ドープ層23上に歪み検出素子30を形成している。これにより、歪み検出素子30を絶縁膜20上に形成する場合と比較すると、低ドープ層23と歪み検出素子30との間に形成されるアモルファス層を小さくできる。また、低ドープ層23と絶縁膜20との間にアモルファス層が形成されるが、当該アモルファス層の遅延弾性による影響は、低ドープ層23によって緩和され、歪み検出素子30には伝搬され難くなる。 For this reason, in this embodiment, a lightly doped layer 23 having higher crystallinity than the insulating film 20 is disposed on the insulating film 20, and a strain detection element 30 is formed on the lightly doped layer 23. This allows the amorphous layer formed between the lightly doped layer 23 and the strain sensing element 30 to be smaller than when the strain sensing element 30 is formed on the insulating film 20 . Furthermore, although an amorphous layer is formed between the lightly doped layer 23 and the insulating film 20, the influence of the delayed elasticity of the amorphous layer is alleviated by the lightly doped layer 23, and becomes difficult to propagate to the strain detection element 30. .

さらに、低ドープ層23は、ゲージ抵抗31よりも電気抵抗率が高い材料で構成されている。このため、低ドープ層23と絶縁膜20との間にアモルファス層が形成され、低ドープ層23にアモルファス層の遅延弾性による影響があったとしても、ゲージ抵抗31の抵抗値に関する影響を小さくできる。したがって、歪み検出素子30の特性が変化することを抑制でき、さらに圧力センサの信頼性を向上させることができる。 Furthermore, the lightly doped layer 23 is made of a material having higher electrical resistivity than the gauge resistor 31. Therefore, an amorphous layer is formed between the lightly doped layer 23 and the insulating film 20, and even if the lightly doped layer 23 is affected by the delay elasticity of the amorphous layer, the influence on the resistance value of the gauge resistor 31 can be reduced. . Therefore, it is possible to suppress changes in the characteristics of the strain detection element 30, and further improve the reliability of the pressure sensor.

また、配線層32は、延設部分322のみがパッド部33と接続されている。このため、図7に示されるように、延設部分322とパッド部33とのコンタクト抵抗Rcは、隣合うゲージ抵抗31の接続点よりパッド部33側に形成される。これにより、各コンタクト抵抗Rcの変化は、隣合うゲージ抵抗31に同様に印加される。したがって、このような圧力センサでは、コンタクト抵抗Rcの変化によって検出精度が低下することを抑制できる。 Further, in the wiring layer 32, only the extended portion 322 is connected to the pad portion 33. Therefore, as shown in FIG. 7, the contact resistance Rc between the extended portion 322 and the pad portion 33 is formed closer to the pad portion 33 than the connection point between the adjacent gauge resistors 31. Thereby, changes in each contact resistance Rc are applied to adjacent gauge resistances 31 in the same way. Therefore, in such a pressure sensor, it is possible to suppress a decrease in detection accuracy due to a change in contact resistance Rc.

ここで、保護部材22は、上記のように、シリコーンゲル等のゲルで構成されている。そして、ゲルは、水分を透過し得る材料である。このため、本実施形態では、パッド部33は、配線層32およびバリアメタル34を覆うように形成されている。これにより、保護部材22を水分が透過したとしても、パッド部33によって水分が配線層32(すなわち、歪み検出素子30)やバリアメタル34に達することを抑制できる。また、パッド部33は、水分に対する耐腐食性が高い金で構成されている。このため、パッド部33は、水分に曝されたとしても影響は少ない。したがって、歪み検出素子30の特性が変動することを抑制できる。 Here, the protective member 22 is made of gel such as silicone gel, as described above. Gel is a material that allows moisture to pass through. Therefore, in this embodiment, the pad portion 33 is formed to cover the wiring layer 32 and the barrier metal 34. Thereby, even if moisture passes through the protection member 22, the pad portion 33 can prevent the moisture from reaching the wiring layer 32 (that is, the strain detection element 30) and the barrier metal 34. Further, the pad portion 33 is made of gold, which has high corrosion resistance against moisture. Therefore, even if the pad portion 33 is exposed to moisture, the effect is small. Therefore, variations in the characteristics of the strain detection element 30 can be suppressed.

(第3実施形態)
第3実施形態について説明する。本実施形態は、第2実施形態に対し、保護膜21に形成される開口部21aの形状を変更したものである。その他に関しては、第2実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Third embodiment)
A third embodiment will be described. In this embodiment, the shape of the opening 21a formed in the protective film 21 is changed from the second embodiment. Other aspects are the same as those in the second embodiment, so explanations will be omitted here.

本実施形態では、図8に示されるように、保護膜21に形成される開口部21aは、ダイアフラム13の面方向に対する法線方向において、パッド部33および配線層32が重なる部分を露出させるように形成されている。また、この開口部21aは、パッド部33のうちの延設部分322の端部を覆う部分と異なる部分を露出させるように形成されている。言い換えると、開口部21aは、延設部分322の端部と交差することなく、延設部分322の内側に形成されている。つまり、開口部21aは、パッド部33に段差が形成される部分を露出させないように形成されている。なお、ダイアフラム13の面方向に対する法線方向においてとは、ダイアフラム13の面方向に対する法線方向から視ることである。 In this embodiment, as shown in FIG. 8, the opening 21a formed in the protective film 21 is designed to expose a portion where the pad portion 33 and the wiring layer 32 overlap in the normal direction to the surface direction of the diaphragm 13. is formed. Further, the opening 21a is formed to expose a portion of the pad portion 33 that is different from the portion that covers the end of the extension portion 322. In other words, the opening 21a is formed inside the extended portion 322 without intersecting the end of the extended portion 322. In other words, the opening 21a is formed so as not to expose the portion of the pad portion 33 where the step is formed. Note that "in the normal direction to the surface direction of the diaphragm 13" means viewing from the normal direction to the surface direction of the diaphragm 13.

これによれば、保護部材22を透過した水分はパッド部33によって浸入が抑制される。このため、水分が歪み検出素子30やバリアメタル34に達することを抑制でき、圧力センサの信頼性が低下することを抑制できる。 According to this, the pad portion 33 suppresses the moisture that has passed through the protection member 22 from entering. Therefore, it is possible to prevent moisture from reaching the strain detection element 30 and the barrier metal 34, and it is possible to prevent the reliability of the pressure sensor from decreasing.

すなわち、パッド部33は、上記のように蒸着等によって形成される。しかしながら、歪み検出素子30およびバリアメタル34の高さと幅の比であるアスペクト比が大きい場合等では、歪み検出素子30およびバリアメタル34を完全に覆うことが困難である場合がある。つまり、歪み検出素子30およびバリアメタル34の側面がパッド部33から露出した状態となることがある。この場合、開口部21aがパッド部33のうちの延設部分322の端部を覆う部分を露出させるように形成されていると、当該部分にパッド部33が適切に形成されていない場合には、保護部材22を透過した水分が当該部分から浸入する可能性がある。 That is, the pad portion 33 is formed by vapor deposition or the like as described above. However, in cases where the aspect ratio, which is the ratio of the height and width of the strain detection element 30 and the barrier metal 34, is large, it may be difficult to completely cover the strain detection element 30 and the barrier metal 34. That is, the side surfaces of the strain detection element 30 and the barrier metal 34 may be exposed from the pad portion 33. In this case, if the opening 21a is formed to expose the part of the pad part 33 that covers the end of the extension part 322, if the pad part 33 is not properly formed in that part, , there is a possibility that moisture that has passed through the protective member 22 may infiltrate from this part.

これに対し、本実施形態では、保護膜21に形成される開口部21aは、パッド部33および延設部分322が重なる部分であって、パッド部33のうちの延設部分322の端部を覆う部分と異なる部分を露出させるように形成されている。つまり、パッド部33が形成され難い部分を露出させないようにしている。このため、保護部材22を透過した水分が歪み検出素子30やパッド部33に達することを抑制でき、圧力センサの信頼性が低下することを抑制できる。 In contrast, in the present embodiment, the opening 21a formed in the protective film 21 is a portion where the pad portion 33 and the extended portion 322 overlap, and the end portion of the extended portion 322 of the pad portion 33 is It is formed to expose a different part from the covered part. In other words, the portion where the pad portion 33 is difficult to be formed is not exposed. Therefore, moisture that has passed through the protection member 22 can be prevented from reaching the strain detection element 30 and the pad portion 33, and a decrease in reliability of the pressure sensor can be prevented.

(第3実施形態の変形例)
上記第3実施形態の変形例について説明する。上記第3実施形態において、配線の制約等により、パッド部33のうちの延設部分322の端部を覆う部分を露出させるように開口部21aを形成しなくてはならない可能性もある。この場合、開口部21aは、歪み検出素子30におけるパッド部33から露出する部分との距離が遠くなるようにすることが好ましい。例えば、図5と図9とを比較すると、パッド部33のうちの延設部分322の端部を覆う部分を露出させる開口部21aと、歪み検出素子30におけるパッド部33から露出する部分との距離は、図5の方が長くなる。このため、図5のように、歪み検出素子30におけるパッド部33から露出する部分と開口部21aの端部との距離が遠くなるようにすることが好ましい。
(Modification of third embodiment)
A modification of the third embodiment will be described. In the third embodiment, there is a possibility that the opening 21a must be formed to expose the portion of the pad portion 33 that covers the end of the extension portion 322 due to wiring restrictions or the like. In this case, it is preferable that the distance between the opening 21a and the portion of the strain detection element 30 exposed from the pad section 33 is long. For example, when comparing FIG. 5 and FIG. 9, the opening 21a that exposes the portion of the pad portion 33 that covers the end of the extended portion 322, and the portion of the strain detection element 30 that is exposed from the pad portion 33. The distance is longer in FIG. For this reason, as shown in FIG. 5, it is preferable that the distance between the portion of the strain detection element 30 exposed from the pad portion 33 and the end of the opening portion 21a is long.

(第4実施形態)
第4実施形態について説明する。本実施形態は、第2実施形態に対し、第1ステム101に薄肉部を形成したものである。その他に関しては、第2実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Fourth embodiment)
A fourth embodiment will be described. This embodiment is different from the second embodiment in that a thinner portion is formed in the first stem 101. Other aspects are the same as those in the second embodiment, so explanations will be omitted here.

本実施形態では、図10に示されるように、第1ステム101には、溶接部103とダイアフラム13との間に、溶接部103が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部111が形成されている。本実施形態では、薄肉部111は、外壁面を一周するように溝部112が形成されることで構成されている。 In this embodiment, as shown in FIG. 10, the first stem 101 has a portion between the welded portion 103 and the diaphragm 13, which has a larger area between the inner wall surface and the outer wall surface than the portion where the welded portion 103 is formed. A thin portion 111 having a reduced thickness is formed. In this embodiment, the thin portion 111 is configured by forming a groove portion 112 so as to go around the outer wall surface.

これによれば、第1ステム101に薄肉部111が形成されているため、圧力センサの信頼性をさらに向上することができる。 According to this, since the thin portion 111 is formed in the first stem 101, the reliability of the pressure sensor can be further improved.

すなわち、上記圧力センサは、第1ステム101に歪み検出素子30が形成された後、第1ステム101と第2ステム102とが溶接接合されてステム10が構成される。この場合、第1ステム101と第2ステム102とを溶接接合する際に熱が印加されるが、この熱は、薄肉部111での熱抵抗が高くなるため、ダイアフラム13側に伝搬され難くなる。このため、ダイアフラム13上に配置される歪み検出素子30やパッド部33に対する溶接時の熱の影響を低減できる。特に、パッド部33を構成する金は、熱によって拡散し易いため、金が拡散することを抑制できる。したがって、圧力センサの信頼性をさらに向上することができる。 That is, in the pressure sensor, after the strain detection element 30 is formed on the first stem 101, the first stem 101 and the second stem 102 are welded together to form the stem 10. In this case, heat is applied when welding and joining the first stem 101 and the second stem 102, but this heat is difficult to propagate to the diaphragm 13 side because the thermal resistance at the thin wall portion 111 increases. . Therefore, the influence of heat during welding on the strain detection element 30 and pad portion 33 disposed on the diaphragm 13 can be reduced. In particular, since gold that constitutes the pad portion 33 is easily diffused by heat, diffusion of gold can be suppressed. Therefore, the reliability of the pressure sensor can be further improved.

(第4実施形態の変形例)
上記第4実施形態において、溝部112は、第1ステム101の外壁面を一周するように形成されていなくてもよい。また、溝部112は、外壁面ではなく、内壁面に形成されていてもよい。このように溝部112を形成しても、第1ステム101には、溶接部103とダイアフラム13との間の部分に薄肉部111が形成されるため、上記第4実施形態と同様の効果を得ることができる。
(Modified example of the fourth embodiment)
In the fourth embodiment, the groove portion 112 does not need to be formed so as to go around the outer wall surface of the first stem 101. Further, the groove portion 112 may be formed on the inner wall surface instead of the outer wall surface. Even if the groove portion 112 is formed in this way, the thin wall portion 111 is formed in the first stem 101 between the weld portion 103 and the diaphragm 13, so that the same effect as in the fourth embodiment can be obtained. be able to.

(第5実施形態)
第5実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、回路基板50の構成を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Fifth embodiment)
A fifth embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the circuit board 50 is changed from the first embodiment. Other aspects are the same as those in the first embodiment, so description thereof will be omitted here.

まず、本実施形態の電子部品70の構成について説明する。電子部品70は、QFNであり、増幅回路や補正回路等が形成された回路チップがケースに収容されている。そして、電子部品70は、図11に示されるように、二組の対向する一辺701a~701dを有し、各組の一辺701a~701dが直交する平面矩形状とされ、各一辺に複数の電極部702を有する構成とされている。なお、図11は、電子部品70のうちの回路基板50と対向する側を示す平面図である。また、図11では、電子部品70が平面矩形状とされているが、電子部品70は、平面略矩形状とされていてもよく、角部が面取りされて丸みを帯びた形状とされていてもよい。 First, the configuration of the electronic component 70 of this embodiment will be explained. The electronic component 70 is a QFN, and a circuit chip on which an amplifier circuit, a correction circuit, etc. are formed is housed in a case. As shown in FIG. 11, the electronic component 70 has two pairs of opposite sides 701a to 701d, each pair of sides 701a to 701d are perpendicular to each other, and has a rectangular planar shape, and each side has a plurality of electrodes. The configuration includes a section 702. Note that FIG. 11 is a plan view showing the side of the electronic component 70 that faces the circuit board 50. Further, in FIG. 11, the electronic component 70 has a planar rectangular shape, but the electronic component 70 may have a planar substantially rectangular shape or have a rounded shape with chamfered corners. Good too.

そして、図12に示されるように、電子部品70は、貫通孔51の中心と回路基板50の外縁部とを結ぶ仮想線Kと、二組の対向する一辺701a~701dのうちの二辺701a、701cの中心とが交差する状態で配置されている。言い換えると、電子部品70は、仮想線Kと二組の対向する一辺701a~701dのうちの二辺701a、701cとが直交する状態で配置されている。より詳しくは、回路基板50は外形が六角形状とされている。そして、電子部品70は、回路基板50の面方向に対する法線方向から視たとき、回路基板50の外縁部と対向する一辺701cが当該回路基板50における外縁部の一辺と平行となるように配置されている。 As shown in FIG. 12, the electronic component 70 is connected to a virtual line K connecting the center of the through hole 51 and the outer edge of the circuit board 50, and two sides 701a of two sets of opposing sides 701a to 701d. , 701c intersect with each other. In other words, the electronic component 70 is arranged such that the virtual line K and two sides 701a and 701c of the two pairs of opposing sides 701a to 701d are orthogonal to each other. More specifically, the circuit board 50 has a hexagonal outer shape. The electronic component 70 is arranged so that one side 701c facing the outer edge of the circuit board 50 is parallel to one side of the outer edge of the circuit board 50 when viewed from the normal direction to the surface direction of the circuit board 50. has been done.

回路基板50には、電子部品70のうちの貫通孔51側の一辺701aと交差する二辺701b、701dに形成された電極部702と対向する位置に電極部用ランド501a、501bが形成されている。また、回路基板50には、電子部品70のうちの貫通孔51側の一辺701aと対向する一辺701cに形成された電極部702と対向する位置に電極部用ランド501cが形成されている。以下では、電子部品70のうちの貫通孔51側の一辺701aと交差する二辺701b、701dに形成された電極部702と対向する位置の電極部用ランド501a、501bを側方ランド501a、501bとも称する。また、電子部品70のうちの貫通孔51側の一辺701aと対向する一辺701cに形成された電極部702と対向する位置の電極部用ランド501bを対向ランド501cとも称する。 On the circuit board 50, electrode portion lands 501a and 501b are formed at positions facing the electrode portions 702 formed on two sides 701b and 701d that intersect one side 701a on the through hole 51 side of the electronic component 70. There is. Further, on the circuit board 50, an electrode part land 501c is formed at a position facing the electrode part 702 formed on one side 701c of the electronic component 70 facing the one side 701a on the through hole 51 side. Below, the lands 501a, 501b for electrode portions at positions facing the electrode portions 702 formed on two sides 701b, 701d intersecting one side 701a on the through hole 51 side of the electronic component 70 are referred to as side lands 501a, 501b. Also called. Moreover, the land 501b for an electrode part at a position facing the electrode part 702 formed on one side 701c opposite to the one side 701a on the through-hole 51 side of the electronic component 70 is also referred to as a counter land 501c.

なお、本実施形態では、回路基板50には、電子部品70のうちの貫通孔51側の一辺701aに形成された電極部702と対向する位置には、電極部用ランド501cが形成されていない。また、回路基板50には、上記のように、端子部材85と対向する位置に端子部材85と接続される外部接続用ランド502a~502cも形成されている。本実施形態では、外部接続用ランド502は、電源電圧が印加される電源用ランド502a、グラウンドと接続されるグラウンド用ランド502b、検出結果が出力される出力用ランド502cを有する構成とされている。また、回路基板50には、貫通孔51側の部分に、歪み検出素子30と電気的に接続される素子用ランド503も形成されている。さらに、回路基板50には、電子部品70と対向する位置に所定電位に維持されて電子部品70の電位変動を抑制するグラウンドパターン504も形成されている。また、回路基板50には、所定箇所同士を接続する配線パターン511a~511c、512も接続されている。そして、回路基板50には、配線パターン511a~511c、512等を保護するレジスト等の保護層が形成されている。保護層には、ボンディングワイヤ52が接続される部分や端子部材85と接続される部分に適宜開口部が形成されている。なお、図12では、この保護層を省略して示してある。 Note that in this embodiment, the circuit board 50 does not have an electrode land 501c formed at a position facing the electrode part 702 formed on one side 701a of the electronic component 70 on the side of the through hole 51. . Furthermore, as described above, the circuit board 50 is also provided with external connection lands 502a to 502c, which are connected to the terminal member 85, at positions facing the terminal member 85. In this embodiment, the external connection land 502 has a power supply land 502a to which a power supply voltage is applied, a ground land 502b to be connected to the ground, and an output land 502c to which a detection result is output. . Furthermore, an element land 503 that is electrically connected to the strain detection element 30 is also formed on the circuit board 50 on the side of the through hole 51 . Furthermore, a ground pattern 504 is also formed on the circuit board 50 at a position facing the electronic component 70, which is maintained at a predetermined potential to suppress potential fluctuations of the electronic component 70. Also connected to the circuit board 50 are wiring patterns 511a to 511c and 512 that connect predetermined locations. A protective layer such as a resist is formed on the circuit board 50 to protect the wiring patterns 511a to 511c, 512, and the like. Appropriate openings are formed in the protective layer at a portion to which the bonding wire 52 is connected and a portion to be connected to the terminal member 85. Note that this protective layer is omitted in FIG. 12.

ここで、電子部品70は、上記のように電極部用ランド501a~501cにはんだ71を介して固定される。そして、はんだ71を構成するはんだペーストは、所定領域が開口されたメタルマスクを用いたスクリーン印刷によって配置される。この場合、電極部用ランド501a~501cは、スクリーン印刷時のはんだ抜け性を向上させるため、メタルマスクの開口部を所定面積よりも大きくできるように、大きくされることが好ましい。 Here, the electronic component 70 is fixed to the electrode lands 501a to 501c via the solder 71 as described above. The solder paste constituting the solder 71 is placed by screen printing using a metal mask with openings in predetermined areas. In this case, the electrode lands 501a to 501c are preferably made large so that the opening of the metal mask can be made larger than a predetermined area in order to improve solder removal during screen printing.

したがって、本実施形態では、図13に示されるように、側方ランド501a、501bは、回路基板50の面方向に対する法線方向において、はんだ抜け性を向上できるように、電子部品70からの突出長さL1を長くしている。しかしながら、対向ランド501cは、図12に示されるように、回路基板50の外縁部側に配置されており、側方ランド501a、501bと同様に、電子部品70からの突出長さL2を長くすると、回路基板50が大型化する原因となる。なお、突出長さL1とは、電子部品70のうちの側方ランド501a、501bと対向する一辺701b、701cに対して直交する方向の長さである。突出長さL2とは、電子部品70のうちの対向ランド501cと対向する一辺701cに対して直交する方向の長さである。 Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 13, the side lands 501a and 501b protrude from the electronic component 70 in the normal direction to the surface direction of the circuit board 50 so as to improve soldering performance. The length L1 is increased. However, as shown in FIG. 12, the opposing land 501c is disposed on the outer edge side of the circuit board 50, and like the side lands 501a and 501b, if the protruding length L2 from the electronic component 70 is increased, , which causes the circuit board 50 to become larger. Note that the protrusion length L1 is a length in a direction perpendicular to one side 701b, 701c of the electronic component 70 that faces the side lands 501a, 501b. The protrusion length L2 is a length in a direction perpendicular to one side 701c of the electronic component 70 that faces the opposing land 501c.

このため、本実施形態では、対向ランド501cは、突出長さL2が突出長さL1よりも短くなるようにしている。しかしながら、この場合、突出長さL2を短くするのみでは、対向ランド501cの面積が小さくなるため、この対向ランド501cに対応するメタルマスクの開口部の大きさも小さくなる。このため、対向ランド501cの突出長さL2を短くした場合、はんだ抜け性の悪化が懸念される。 Therefore, in this embodiment, the protrusion length L2 of the opposing land 501c is set to be shorter than the protrusion length L1. However, in this case, if only the protrusion length L2 is shortened, the area of the opposing land 501c becomes smaller, and the size of the opening of the metal mask corresponding to the opposing land 501c also becomes smaller. For this reason, if the protrusion length L2 of the opposing land 501c is shortened, there is a concern that the solder removal performance will deteriorate.

したがって、本実施形態では、さらに、電子部品70の一辺701cに形成された電極部702は、複数が共通の対向ランド501cと接続されるようにしている。つまり、対向ランド501cは、隣合う複数の電極部用ランドが繋げられて構成されている。言い換えると、電子部品70の一辺701cに形成された複数の電極部702は、共通の対向ランド501cと対向している。本実施形態では、二つの対向ランド501cが形成されている。そして、各対向ランド501cには、それぞれ電子部品70の一辺701cに形成された四つの電極部702が接続されている。 Therefore, in this embodiment, a plurality of electrode portions 702 formed on one side 701c of the electronic component 70 are connected to a common opposing land 501c. In other words, the opposing land 501c is configured by connecting a plurality of adjacent electrode portion lands. In other words, the plurality of electrode parts 702 formed on one side 701c of the electronic component 70 face a common opposing land 501c. In this embodiment, two opposing lands 501c are formed. Four electrode portions 702 formed on one side 701c of the electronic component 70 are connected to each opposing land 501c.

なお、電子部品70は、ケースの内部の回路チップが所定の電極部702と電気的に接続された状態とされている。このため、共通の対向ランド501cに接続される電極部702は、回路チップのうちの同電位となる部分が接続されているか、または回路チップと接続されていない状態とされている。 Note that the electronic component 70 is in a state in which a circuit chip inside the case is electrically connected to a predetermined electrode section 702. Therefore, the electrode portion 702 connected to the common opposing land 501c is connected to a portion of the circuit chip having the same potential, or is not connected to the circuit chip.

以上説明したように、対向ランド501cは、突出長さL2が突出長さL1より短くされている。このため、突出長さL2が突出長さL1と同じとされている場合と比較して、回路基板50の小型化を図ることができる。 As explained above, the protrusion length L2 of the opposing land 501c is shorter than the protrusion length L1. Therefore, the circuit board 50 can be made smaller compared to the case where the protrusion length L2 is the same as the protrusion length L1.

また、対向ランド501cは、隣合う複数の電極部用ランドが繋げられて構成されている。このため、対向ランド501cの面積を大きくでき、はんだ抜け性が低下することを抑制できる。したがって、電子部品70と回路基板50との接続不良が発生することを抑制でき、圧力センサの信頼性を向上することができる。 Further, the opposing land 501c is configured by connecting a plurality of adjacent lands for electrode portions. Therefore, the area of the opposing land 501c can be increased, and deterioration in solder removal performance can be suppressed. Therefore, occurrence of a connection failure between the electronic component 70 and the circuit board 50 can be suppressed, and the reliability of the pressure sensor can be improved.

すなわち、図14Aに示されるように、側方ランド501a、501bは、はんだ抜け性が良くなるように突出長さL1が設定されている。そして、はんだ71は、側方ランド501a、501bの大きさに合わせて配置される。このため、はんだペーストを配置する際のメタルマスクの開口部を大きくできる。 That is, as shown in FIG. 14A, the protrusion length L1 of the side lands 501a and 501b is set to improve solder removal performance. The solder 71 is arranged according to the size of the side lands 501a and 501b. Therefore, the opening of the metal mask can be made larger when placing the solder paste.

一方、図14Bに示されるように、対向ランド501cは、突出長さL2が突出長さL1よりも短くされている。このため、対向ランド501cは、隣合う電極部用ランドを繋げることにより、はんだ71を電極部702の配列方向にも広げることができるようにしている。つまり、はんだペーストを配置する際のメタルマスクの開口部を大きくできるようにしている。したがって、はんだ抜け性が低下することを抑制でき、電子部品70と回路基板50の接続不良が発生することを抑制できる。なお、図14Bは、二つの電極部702を共通の対向ランド501cに接続した状態を示している。 On the other hand, as shown in FIG. 14B, the protrusion length L2 of the opposing land 501c is shorter than the protrusion length L1. For this reason, the opposing land 501c connects adjacent lands for electrode portions, thereby making it possible to spread the solder 71 also in the arrangement direction of the electrode portions 702. In other words, the opening of the metal mask can be made larger when placing the solder paste. Therefore, it is possible to suppress deterioration of solder removal performance, and to suppress the occurrence of connection failure between electronic component 70 and circuit board 50. Note that FIG. 14B shows a state in which two electrode portions 702 are connected to a common opposing land 501c.

また、本実施形態では、回路基板50には、貫通孔51側の一辺701aに形成された電極部702と対向する位置に電極部用ランドは形成されていない。このため、電子部品70を貫通孔51の直近まで近接して配置でき、回路基板50の小型化を図ることができる。 Furthermore, in the present embodiment, no land for an electrode portion is formed on the circuit board 50 at a position facing the electrode portion 702 formed on one side 701a on the through hole 51 side. Therefore, the electronic component 70 can be placed close to the through hole 51, and the circuit board 50 can be made smaller.

なお、本実施形態では、上記のように電子部品70が回路基板50に配置されるため、電子部品70は、三領域が電極部用ランド501a~501cと接続されることになる。この場合、対向ランド501cと電極部702との間のはんだ71を多くし過ぎると、電子部品70が回路基板50に対して傾いてしまう懸念がある。したがって、対向ランド501に配置されるはんだ71は、電子部品70が傾かないように量(すなわち、厚さ)が調整されることが好ましい。 In this embodiment, since the electronic component 70 is arranged on the circuit board 50 as described above, three regions of the electronic component 70 are connected to the electrode lands 501a to 501c. In this case, if too much solder 71 is applied between the facing land 501c and the electrode portion 702, there is a concern that the electronic component 70 may be tilted with respect to the circuit board 50. Therefore, it is preferable that the amount (that is, the thickness) of the solder 71 placed on the opposing land 501 is adjusted so that the electronic component 70 does not tilt.

(第6実施形態)
第6実施形態について説明する。本実施形態は、第5実施形態に対し、回路基板50の構成を変更したものである。その他に関しては、第5実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Sixth embodiment)
A sixth embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the circuit board 50 is changed from the fifth embodiment. Other aspects are the same as those in the fifth embodiment, so explanations will be omitted here.

本実施形態では、図15に示されるように、外部接続用ランド502a~502cと電極部用ランド501bは、外部接続用パターン511a~511cを介して接続されている。素子用ランド503と電極部用ランド501aは、センシング用パターン512を介して接続されている。そして、外部接続用パターン511a~511cとセンシング用パターン512とは、異なる領域に形成されている。 In this embodiment, as shown in FIG. 15, external connection lands 502a to 502c and electrode portion land 501b are connected via external connection patterns 511a to 511c. The element land 503 and the electrode land 501a are connected via a sensing pattern 512. The external connection patterns 511a to 511c and the sensing pattern 512 are formed in different regions.

具体的には、外部接続用パターン511a~511cとセンシング用パターン512とは、貫通孔51の中心と回路基板50の外縁部とを結ぶ仮想線Kに対し、それぞれ異なる仮想線Kと交差するように形成されている。言い換えると、外部接続用パターン511a~511cとセンシング用パターン512とは、同じ仮想線Kと交差しないように形成されている。例えば、図15中の仮想線Kは、センシング用パターン512のみと交差している。 Specifically, the external connection patterns 511a to 511c and the sensing pattern 512 are arranged so that they intersect different virtual lines K with respect to the virtual line K connecting the center of the through hole 51 and the outer edge of the circuit board 50. is formed. In other words, the external connection patterns 511a to 511c and the sensing pattern 512 are formed so as not to intersect the same virtual line K. For example, the virtual line K in FIG. 15 intersects only the sensing pattern 512.

そして、回路基板50には、電源用ランド502aと電極部用ランド501aとを接続する電源用パターン511aとセンシング用パターン512との間に、所定電位に維持されたガードパターン520が形成されている。 A guard pattern 520 maintained at a predetermined potential is formed on the circuit board 50 between the power supply pattern 511a and the sensing pattern 512 that connect the power supply land 502a and the electrode land 501a. .

本実施形態では、ガードパターン520は、グラウンド電位に維持されている。具体的には、回路基板50には、図16に示されるように、裏面50b側にもガードパターン521が形成されていると共に、複数のスルーホール電極522が形成されている。そして、裏面50b側のガードパターン521は、スルーホール電極522を通じ、グラウンド用ランド502bと接続されるグラウンド用パターン511bと接続されることにより、グラウンド電位に維持されている。そして、表面50a側のガードパターン520は、スルーホール電極522を通じ、裏面50b側のガードパターン521と接続されることにより、グラウンド電位に維持される。 In this embodiment, the guard pattern 520 is maintained at ground potential. Specifically, as shown in FIG. 16, in the circuit board 50, a guard pattern 521 is also formed on the back surface 50b side, and a plurality of through-hole electrodes 522 are formed. The guard pattern 521 on the back surface 50b side is maintained at the ground potential by being connected to the grounding pattern 511b connected to the grounding land 502b through the through-hole electrode 522. The guard pattern 520 on the front surface 50a side is connected to the guard pattern 521 on the back surface 50b side through the through-hole electrode 522, thereby being maintained at the ground potential.

さらに、本実施形態では、回路基板50には、裏面50b側にボディグラウンド用のグラウンドパターン523が形成されている。また、本実施形態では、ハウジング40の搭載部42と回路基板50との間に配置される接合部材60は、導電性接着剤が用いられる。そして、回路基板50は、接続部位523aが接合部材60を介してハウジング40に電気的に接続されることにより、グラウンドパターン523がボディグラウンドとされるようになっている。 Furthermore, in this embodiment, a ground pattern 523 for body ground is formed on the back surface 50b side of the circuit board 50. Further, in the present embodiment, a conductive adhesive is used for the bonding member 60 disposed between the mounting portion 42 of the housing 40 and the circuit board 50. In the circuit board 50, the connection portion 523a is electrically connected to the housing 40 via the bonding member 60, so that the ground pattern 523 serves as a body ground.

これによれば、外部接続用パターン511a~511cと、センシング用パターン512とは、異なる領域に形成されている。そして、外部接続用パターン511a~511cは、端子部材85を介して外部回路と接続されるため、ノイズが印加され易い。このため、外部接続用パターン511a~511cとセンシング用パターン512とが同じ領域(すなわち、近接)に形成される場合と比較して、外部接続用パターン511a~511cからセンシング用パターン512にノイズが伝搬されることを抑制できる。 According to this, the external connection patterns 511a to 511c and the sensing pattern 512 are formed in different regions. Since the external connection patterns 511a to 511c are connected to an external circuit via the terminal member 85, noise is likely to be applied thereto. Therefore, compared to the case where the external connection patterns 511a to 511c and the sensing pattern 512 are formed in the same area (that is, close to each other), noise propagates from the external connection patterns 511a to 511c to the sensing pattern 512. It is possible to prevent this from happening.

また、外部接続用パターン511a~511では、特に電源用パターン511aにノイズが印加され易い。そして、本実施形態では、電源用パターン511aとセンシング用パターン512とのとの間には、所定電位に維持されたガードパターン520が形成されている。このため、電源用パターン511aにノイズが印加されとしても、当該ノイズがセンシング用パターン512にカップリングすることを抑制できる。したがって、検出精度が低下することを抑制でき、圧力センサの信頼性の向上を図ることができる。 Further, among the external connection patterns 511a to 511c , noise is likely to be applied particularly to the power supply pattern 511a. In this embodiment, a guard pattern 520 maintained at a predetermined potential is formed between the power supply pattern 511a and the sensing pattern 512. Therefore, even if noise is applied to the power supply pattern 511a, coupling of the noise to the sensing pattern 512 can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress a decrease in detection accuracy and improve the reliability of the pressure sensor.

(第7実施形態)
第7実施形態について説明する。本実施形態は、第5実施形態に対し、回路基板50の構成を変更したものである。その他に関しては、第5実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Seventh embodiment)
A seventh embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the circuit board 50 is changed from the fifth embodiment. Other aspects are the same as those in the fifth embodiment, so explanations will be omitted here.

上記のように、回路基板50には、レジスト等の保護層が形成され、保護層には、ボンディングワイヤ52が接続される部分や端子部材85と接続される部分に適宜開口部が形成されている。そして、本実施形態では、図17に示されるように、保護層530には、素子用ランド503の全体を露出させつつ貫通孔51まで達するように開口部531が形成されている。また、回路基板50の裏面50b側では、保護層530は、貫通孔51側の端部に位置する部分が除去されている。なお、本実施形態では、この開口部531が堰き止め構造に相当する。また、図17は、図12中のXVII-XVII線に沿った断面図に相当する。 As described above, a protective layer such as a resist is formed on the circuit board 50, and openings are appropriately formed in the protective layer at the portions to which the bonding wires 52 are connected and the terminal members 85. There is. In this embodiment, as shown in FIG. 17, an opening 531 is formed in the protective layer 530 so as to expose the entire element land 503 and reach the through hole 51. Further, on the rear surface 50b side of the circuit board 50, a portion of the protective layer 530 located at the end on the through hole 51 side is removed. Note that in this embodiment, this opening 531 corresponds to a dam structure. Further, FIG. 17 corresponds to a cross-sectional view taken along the line XVII-XVII in FIG. 12.

これによれば、保護層530には、素子用ランド503の全体を露出させつつ貫通孔51まで達するように開口部531が形成されている。このため、圧力センサの信頼性の向上を図ることができる。 According to this, an opening 531 is formed in the protective layer 530 so as to expose the entire element land 503 and reach the through hole 51. Therefore, the reliability of the pressure sensor can be improved.

すなわち、歪み検出素子30と素子用ランド503とはボンディングワイヤ52を介して電気的に接続されている。また、歪み検出素子30上には、図2に示されるように、シリコーンゲル等のゲルで構成される保護部材22が配置されている。この場合、保護部材22は、ボンディングワイヤ52を伝って回路基板50上へブリードする可能性がある。そして、保護部材22が回路基板50上へブリードして端子部材85と外部接続用ランド502a~502cとの間まで達すると、端子部材85と外部接続用ランド502a~502cとの接続不良が発生する可能性がある。 That is, the strain detection element 30 and the element land 503 are electrically connected via the bonding wire 52. Further, on the strain detection element 30, as shown in FIG. 2, a protection member 22 made of gel such as silicone gel is arranged. In this case, the protective member 22 may bleed onto the circuit board 50 along the bonding wire 52. When the protective member 22 bleeds onto the circuit board 50 and reaches between the terminal member 85 and the external connection lands 502a to 502c, a connection failure between the terminal member 85 and the external connection lands 502a to 502c occurs. there is a possibility.

このため、本実施形態では、保護層530には、素子用ランド503の全体を露出させつつ貫通孔51まで達するように開口部531が形成されている。これにより、保護層530に素子用ランド503の一部のみが開口する開口部531が形成されている場合と比較して、保護部材22が素子用ランド503側にブリードした際、保護部材22を溜める領域を増加できる。また、保護部材22が素子用ランド503側にブリードした際、貫通孔51を通じて保護部材22を回路基板50の裏面50b側に流すこともできる。したがって、保護部材22が外部接続用ランド502a~502cに達することを抑制でき、端子部材85と外部接続用ランド502a~502cとの接続不良が発生することを抑制できるため、圧力センサの信頼性の向上を図ることができる。 Therefore, in the present embodiment, an opening 531 is formed in the protective layer 530 so as to expose the entire element land 503 and reach the through hole 51. As a result, when the protective member 22 bleeds to the element land 503 side, the protective member 22 is You can increase the storage area. Further, when the protection member 22 bleeds to the element land 503 side, the protection member 22 can also flow to the back surface 50b side of the circuit board 50 through the through hole 51. Therefore, it is possible to prevent the protection member 22 from reaching the external connection lands 502a to 502c, and to suppress the occurrence of a connection failure between the terminal member 85 and the external connection lands 502a to 502c, thereby improving the reliability of the pressure sensor. You can improve your performance.

(第8実施形態)
第8実施形態について説明する。本実施形態は、第7実施形態に対し、回路基板50の構成を変更したものである。その他に関しては、第7実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Eighth embodiment)
An eighth embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the circuit board 50 is changed from the seventh embodiment. The rest is the same as in the seventh embodiment, so the explanation will be omitted here.

本実施形態では、図18に示されるように、歪み検出素子30と接続される素子用ランド503と、外部接続用ランド502a~502cとの間にダム部540が形成されている。具体的には、ダム部540は、保護層530に凹凸構造が形成されることで構成されている。つまり、ダム部540は、例えば、保護層530に周囲よりも窪んだ凹部が形成されることで構成されている。また、ダム部540は、例えば、周囲よりも突出した凸部が形成されることで構成されている。 In this embodiment, as shown in FIG. 18, a dam portion 540 is formed between the element land 503 connected to the strain detection element 30 and the external connection lands 502a to 502c. Specifically, the dam portion 540 is configured by forming an uneven structure on the protective layer 530. That is, the dam part 540 is configured by, for example, forming a recessed part in the protective layer 530 that is more depressed than the surrounding area. Furthermore, the dam portion 540 is configured by, for example, forming a convex portion that protrudes from the surrounding area.

なお、本実施形態では、ダム部540が堰き止め構造に相当する。また、図18では、回路基板50に保護層530が配置されている状態を示している。但し、保護層530に形成される素子用ランド503や外部接続用ランド502a~502cを露出させる開口部については省略して示してある。 In addition, in this embodiment, the dam part 540 corresponds to a dam structure. Further, FIG. 18 shows a state in which a protective layer 530 is disposed on the circuit board 50. However, openings formed in the protective layer 530 that expose the element lands 503 and the external connection lands 502a to 502c are omitted from illustration.

このように、素子用ランド503と外部接続用ランド502a~502cとの間にダム部540を形成するようにしてもよい。このような構成としても、保護部材22が素子用ランド503側にブリードした際、ダム部540によって保護部材22が外部接続用ランド502a~502cに達することを抑制できるため、上記第7実施形態と同様の効果を得ることができる。 In this way, the dam portion 540 may be formed between the element land 503 and the external connection lands 502a to 502c. Even with such a configuration, when the protection member 22 bleeds toward the element lands 503, the dam portion 540 can prevent the protection member 22 from reaching the external connection lands 502a to 502c, which is different from the seventh embodiment. A similar effect can be obtained.

なお、ダム部540は、素子用ランド503と、外部接続用ランド502a~502cとの間に複数形成されていてもよい。 Note that a plurality of dam portions 540 may be formed between the element land 503 and the external connection lands 502a to 502c.

(第9実施形態)
第9実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、ハウジング40の形状を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Ninth embodiment)
A ninth embodiment will be described. In this embodiment, the shape of the housing 40 is changed from the first embodiment. Other aspects are the same as those in the first embodiment, so description thereof will be omitted here.

本実施形態では、図19に示されるように、ハウジング40には、搭載部42に凸部としての高さ用突起421が形成されている。具体的には、高さ用突起421は、三箇所に形成されている。また、ハウジング40は、一方向を中心軸aとする中空部を有する筒状とされている。そして、各高さ用突起421は、中心軸aを中心として周方向に等間隔に形成されており、同じ高さとされている。なお、各高さ用突起421は、ハウジング40を用意する際に、プレス成形等によって形成される。つまり、各高さ用突起は、同じ加工装置を用いて形成される。 In this embodiment, as shown in FIG. 19, a height protrusion 421 as a convex portion is formed on the mounting portion 42 of the housing 40. Specifically, the height protrusions 421 are formed at three locations. Further, the housing 40 has a cylindrical shape with a hollow portion having a central axis a in one direction. The height protrusions 421 are formed at equal intervals in the circumferential direction around the central axis a, and have the same height. Note that each height protrusion 421 is formed by press molding or the like when preparing the housing 40. That is, each height protrusion is formed using the same processing device.

そして、回路基板50は、図20に示されるように、各高さ用突起421と当接するように配置されている。つまり、回路基板50は、周方向に等間隔に形成された高さ用突起と三箇所で当接して配置されている。そして、回路基板50と搭載部42との間には、接合部材60が配置されている。 The circuit board 50 is arranged so as to be in contact with each height protrusion 421, as shown in FIG. In other words, the circuit board 50 is disposed so as to be in contact with height protrusions formed at equal intervals in the circumferential direction at three locations. A joining member 60 is arranged between the circuit board 50 and the mounting section 42.

なお、本実施形態では、回路基板50は、貫通孔51の中心とハウジング40の中心軸aとが一致するように配置されている。このため、回路基板50のうちの高さ用突起421と当接する部分は、貫通孔51を中心として周方向に等間隔に位置しているともいえる。また、図20は、ハウジング40および回路基板50を示し、ステム10等の構成は省略して示している。 In this embodiment, the circuit board 50 is arranged so that the center of the through hole 51 and the central axis a of the housing 40 coincide. Therefore, it can be said that the portions of the circuit board 50 that come into contact with the height projections 421 are located at equal intervals in the circumferential direction with the through hole 51 as the center. Moreover, FIG. 20 shows the housing 40 and the circuit board 50, and the structure of the stem 10 and the like is omitted.

また、本実施形態では、特に図示しないが、高さ用突起421の一つは、回路基板50を挟んで端子部材85と反対側に位置するように形成されている。 Further, in this embodiment, although not particularly illustrated, one of the height protrusions 421 is formed to be located on the opposite side of the terminal member 85 with the circuit board 50 interposed therebetween.

これによれば、回路基板50は、各高さ用突起421に三箇所で当接している。また、各高さ用突起421は、周方向に等間隔に形成されており、同じ高さとされている。このため、回路基板50が搭載部42に対して傾くことを抑制できる。したがって、端子部材85と回路基板50との接続不良が発生することを抑制でき、圧力センサの信頼性の向上を図ることができる。 According to this, the circuit board 50 is in contact with each height protrusion 421 at three locations. Moreover, each height protrusion 421 is formed at equal intervals in the circumferential direction and has the same height. Therefore, tilting of the circuit board 50 with respect to the mounting portion 42 can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of a connection failure between the terminal member 85 and the circuit board 50, and it is possible to improve the reliability of the pressure sensor.

さらに、搭載部42と回路基板50との間隔は、高さ用突起421の高さによって規定される。このため、搭載部42と回路基板50との間隔を所望の間隔とできる。つまり、搭載部42と回路基板50との間に、所望厚さの接合部材60を配置できる。したがって、接合部材60に所望の応力緩和機能を発揮させることができ、ハウジング40から回路基板50へ伝搬される応力を低減できる。 Further, the distance between the mounting portion 42 and the circuit board 50 is defined by the height of the height protrusion 421. Therefore, the distance between the mounting portion 42 and the circuit board 50 can be set to a desired distance. In other words, the bonding member 60 having a desired thickness can be placed between the mounting portion 42 and the circuit board 50. Therefore, the joining member 60 can exhibit a desired stress relaxation function, and the stress propagated from the housing 40 to the circuit board 50 can be reduced.

ところで、回路基板50と搭載部42との間に、ハウジング40とは別に用意されたスペーサ等を配置することで回路基板50と搭載部42との間隔を確保することも考えられる。しかしながら、この構成では、スペーサをそれぞれ形成するため、各スペーサの高さがばらつくことが想定される。また、スペーサを用意することによって部品点数も増加する。 By the way, it is also possible to secure the distance between the circuit board 50 and the mounting part 42 by arranging a spacer or the like prepared separately from the housing 40 between the circuit board 50 and the mounting part 42. However, in this configuration, since each spacer is formed, it is assumed that the height of each spacer varies. Moreover, the number of parts also increases by preparing the spacer.

これに対し、本実施形態では、各高さ用突起421は、ハウジング40に同じ加工装置を用いて形成され、高さが異なることが抑制されている。このため、本実施形態では、ハウジング40とは別に用意されたスペーサ等を配置することで回路基板50と搭載部42との間隔を確保する場合と比較して、回路基板50が搭載部42に対して傾くことを抑制しつつ、部品点数の削減を図ることができる。 On the other hand, in this embodiment, the respective height protrusions 421 are formed on the housing 40 using the same processing device, so that the heights are prevented from being different. Therefore, in this embodiment, the circuit board 50 is placed in the mounting part 42, compared to the case where a spacer or the like prepared separately from the housing 40 is provided to ensure the distance between the circuit board 50 and the mounting part 42. It is possible to reduce the number of parts while suppressing tilting.

また、スペーサをハウジング40と別材料で構成する場合には、当該スペーサにハウジング40との熱膨張係数差によってクラックが発生することも懸念される。しかしながら、本実施形態では、各高さ用突起421は、ハウジング40の一部で構成されるため、熱膨張係数の差に起因して高さ用突起421にクラックが導入されることも抑制できる。 Further, when the spacer is made of a material different from the housing 40, there is also a concern that cracks may occur in the spacer due to the difference in coefficient of thermal expansion between the spacer and the housing 40. However, in this embodiment, since each height protrusion 421 is constituted by a part of the housing 40, it is also possible to prevent cracks from being introduced into the height protrusion 421 due to the difference in thermal expansion coefficients. .

さらに、本実施形態では、高さ用突起421の一つは、回路基板50を挟んで端子部材85と反対側に位置するように形成されている。このため、端子部材85の押圧力を高さ用突起421によって支持することができるため、回路基板50が傾くことをさらに抑制できる。 Furthermore, in this embodiment, one of the height protrusions 421 is formed to be located on the opposite side of the terminal member 85 with the circuit board 50 interposed therebetween. Therefore, since the pressing force of the terminal member 85 can be supported by the height protrusion 421, the tilting of the circuit board 50 can be further suppressed.

(第9実施形態の変形例)
上記第9実施形態の変形例について説明する。上記第9実施形態において、高さ用突起421は、中心軸aを中心として周方向に等間隔に四箇所以上形成されていてもよい。但し、高さ用突起421を四箇所以上形成したとしても、回路基板50は、原理的には、各高さ用突起421と三箇所で当接することになる。
(Modified example of the ninth embodiment)
A modification of the ninth embodiment will be described. In the ninth embodiment, the height protrusions 421 may be formed at four or more locations at equal intervals in the circumferential direction around the central axis a. However, even if the height protrusions 421 are formed at four or more locations, the circuit board 50 will, in principle, come into contact with each height protrusion 421 at three locations.

さらに、上記第9実施形態において、高さ用突起421は、回路基板50を挟んで端子部材85と反対側に位置するように形成されていなくてもよい。 Furthermore, in the ninth embodiment, the height protrusion 421 does not need to be formed to be located on the opposite side of the terminal member 85 with the circuit board 50 interposed therebetween.

(第10実施形態)
第10実施形態について説明する。本実施形態は、第9実施形態に対し、ハウジング40の形状を変更したものである。その他に関しては、第9実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(10th embodiment)
A tenth embodiment will be described. In this embodiment, the shape of the housing 40 is changed from the ninth embodiment. Other aspects are the same as those in the ninth embodiment, so explanations will be omitted here.

本実施形態では、図21に示されるように、ハウジング40には、搭載部42に一つの高さ用突起421と、所定長さを有する一つの辺部422が形成されている。具体的には、高さ用突起421および辺部422は、中心軸aを中心とし、高さ用突起421と、辺部422の各端部との間の周方向の長さが等間隔となるように形成されている。また、高さ用突起421と辺部422の高さとは同じとされている。なお、辺部422は、例えば、ハウジング40の外形を構成する六角形状の一辺に対して1/2程度の長さとされる。また、本実施形態では、高さ用突起421および辺部422が凸部に相当する。 In this embodiment, as shown in FIG. 21, the housing 40 is provided with one height protrusion 421 and one side portion 422 having a predetermined length on the mounting portion 42. Specifically, the height protrusion 421 and the side portion 422 are arranged such that the length in the circumferential direction between the height protrusion 421 and each end of the side portion 422 is equidistant about the central axis a. It is formed to be. Further, the height of the height protrusion 421 and the side portion 422 are the same. Note that the side portion 422 is, for example, approximately 1/2 the length of one side of the hexagonal shape that constitutes the outer shape of the housing 40. Further, in this embodiment, the height protrusion 421 and the side portion 422 correspond to a convex portion.

そして、回路基板50は、高さ用突起421および辺部422と当接するように配置されている。このため、回路基板50は、高さ用突起421および辺部422の二箇所と当接した状態となる。そして、辺部422は、回路基板50と所定長さに渡って当接した状態となる。 The circuit board 50 is arranged so as to be in contact with the height protrusion 421 and the side portion 422. Therefore, the circuit board 50 comes into contact with the height protrusion 421 and the side portion 422 at two locations. Then, the side portion 422 comes into contact with the circuit board 50 over a predetermined length.

このように、ハウジング40に一つの高さ用突起421と一つの辺部422を形成して回路基板50と二箇所で当接するようにしても、上記第9実施形態と同様の効果を得ることができる。 In this way, even if the housing 40 is formed with one height protrusion 421 and one side part 422 so as to come into contact with the circuit board 50 at two places, the same effect as in the ninth embodiment can be obtained. I can do it.

(第9、10実施形態の変形例)
上記第10実施形態の変形例について説明する。上記第10実施形態において、高さ用突起421を形成せずに二つの辺部422を備えるようにしてもよい。この場合、二つの辺部422は、各端部同士の間の周方向の長さが等間隔となるように形成されればよい。このような構成としても、回路基板50が二箇所で辺部422と当接するため、上記9実施形態と同様の効果を得ることができる。
(Modified example of the ninth and tenth embodiments)
A modification of the tenth embodiment will be described. In the tenth embodiment described above, the height protrusion 421 may not be formed and two side parts 422 may be provided. In this case, the two side portions 422 may be formed such that the lengths in the circumferential direction between the respective end portions are equally spaced. Even with such a configuration, since the circuit board 50 contacts the side portion 422 at two places, the same effects as in the nine embodiments described above can be obtained.

また、上記第9実施形態において、回路基板50が高さ用突起421と三箇所で当接するのであれば、ハウジング40に辺部422が形成されていてもよい。例えば、ハウジング40には、三つの辺部422が形成されるようにしてもよい。この場合は、各辺部422は、端部同士の間隔が、中心軸aを中心として周方向に等間隔に形成されていればよい。また、例えば、ハウジング40には、一つの高さ用突起421と、二つの辺部422が形成されるようにしてもよい。この場合は、一つの高さ用突起421および二つの辺部422は、高さ用突起421と、各辺部422の端部同士の間隔が、中心軸aを中心として周方向に等間隔に形成されていればよい。 Furthermore, in the ninth embodiment, the side portion 422 may be formed in the housing 40 as long as the circuit board 50 contacts the height protrusion 421 at three locations. For example, the housing 40 may be formed with three sides 422. In this case, it is sufficient that the edges of each side portion 422 are equally spaced in the circumferential direction around the central axis a. Further, for example, the housing 40 may be formed with one height protrusion 421 and two side portions 422. In this case, the one height protrusion 421 and the two side parts 422 are such that the distance between the ends of the height protrusion 421 and each side part 422 is equal in the circumferential direction around the central axis a. It is sufficient if it is formed.

(第11実施形態)
第11実施形態について説明する。本実施形態は、第9実施形態に対し、ハウジング40の構成を変更したものである。その他に関しては、第9実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Eleventh embodiment)
An eleventh embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the housing 40 is changed from the ninth embodiment. Other aspects are the same as those in the ninth embodiment, so explanations will be omitted here.

本実施形態では、図22に示されるように、ハウジング40には、高さ用突起421および位置合わせ用突起423が形成されている。本実施形態では、位置合わせ用突起423は、高さ用突起421上に形成されており、高さ用突起421よりも対向する外壁面の長さが短くされている。 In this embodiment, as shown in FIG. 22, the housing 40 is formed with a height protrusion 421 and a positioning protrusion 423. In this embodiment, the alignment protrusion 423 is formed on the height protrusion 421, and the length of the opposing outer wall surface is shorter than that of the height protrusion 421.

回路基板50には、位置合わせ用突起423と対応する位置に、位置合わせ用突起423が差し込まれる凹部53が形成されている。そして、回路基板50は、位置合わせ用突起423が凹部53に差し込まれ、高さ用突起421が回路基板50と当接した状態で配置されている。 A recess 53 into which the alignment protrusion 423 is inserted is formed in the circuit board 50 at a position corresponding to the alignment protrusion 423 . The circuit board 50 is arranged such that the alignment protrusion 423 is inserted into the recess 53 and the height protrusion 421 is in contact with the circuit board 50.

これによれば、回路基板50は、凹部53に位置合わせ用突起423が差し込まれるため、位置ずれが発生し難くなる。また、回路基板50を配置する際には、凹部53に位置合わせ用突起423を差し込んだ状態すればよいため、位置合わせを容易にできる。 According to this, since the positioning protrusion 423 of the circuit board 50 is inserted into the recess 53, positional deviation is less likely to occur. Furthermore, when placing the circuit board 50, it is sufficient to insert the positioning protrusion 423 into the recess 53, which facilitates positioning.

(第11実施形態の変形例)
上記第11実施形態の変形例について説明する。上記第11実施形態において、図23に示されるように、位置合わせ用突起423は、高さ用突起421と別に形成されていてもよい。また、凹部53は、図23に示されるように、回路基板50の外縁部に形成されていてもよい。つまり、凹部5は、回路基板50の外縁部に形成された切欠きであってもよい。
(Modification of the eleventh embodiment)
A modification of the eleventh embodiment will be described. In the eleventh embodiment, as shown in FIG. 23, the alignment protrusion 423 may be formed separately from the height protrusion 421. Furthermore, the recess 53 may be formed at the outer edge of the circuit board 50, as shown in FIG. 23. That is, the recess 53 may be a notch formed in the outer edge of the circuit board 50.

(第12実施形態)
第12実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、回路基板50に導通端子部を備えたものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(12th embodiment)
A twelfth embodiment will be described. This embodiment is different from the first embodiment in that the circuit board 50 is provided with a conductive terminal portion. Other aspects are the same as those in the first embodiment, so description thereof will be omitted here.

本実施形態では、図24~図26に示されるように、回路基板50には、表面50a側にボディグラウンド用のパッド部550が形成されている。具体的には、回路基板50には、外縁部に切欠部54が形成されている。本実施形態では、回路基板50は、切欠部54が形成される前においては外形が六角形状とされており、切欠部54は、六角形状を構成する一つの角部を切り欠くことで構成されている。そして、パッド部550は、当該切欠部54の周囲に配置されている。本実施形態では、パッド部550は、切欠部54を挟む各領域55a、55bに形成されている。 In this embodiment, as shown in FIGS. 24 to 26, the circuit board 50 has a body ground pad portion 550 formed on the front surface 50a side. Specifically, the circuit board 50 has a notch 54 formed at its outer edge. In this embodiment, the circuit board 50 has a hexagonal outer shape before the notch 54 is formed, and the notch 54 is formed by cutting out one corner of the hexagon. ing. The pad portion 550 is arranged around the cutout portion 54 . In this embodiment, the pad portion 550 is formed in each region 55a, 55b sandwiching the cutout portion 54.

なお、パッド部550は、少なくとも表面が金で構成されている。また、図24等では、回路基板50の平面図において、パッド部550と接続される所定の配線パターンや他の配線パターン等を省略して示している。 Note that at least the surface of the pad portion 550 is made of gold. Further, in FIG. 24 and the like, in the plan view of the circuit board 50, a predetermined wiring pattern connected to the pad portion 550, other wiring patterns, etc. are omitted.

そして、パッド部550と電気的に接続されると共に、ハウジング40の搭載部42と電気的に接続されるように、導通端子部900が配置されている。導通端子部900は、回路基板50と接合される基板側接続部910、ハウジング40の搭載部42に接続されるハウジング側接続部920、基板側接続部910とハウジング側接続部920とを連結させる連結部930を有する構成とされている。 The conductive terminal portion 900 is arranged so as to be electrically connected to the pad portion 550 and to the mounting portion 42 of the housing 40 . The conduction terminal portion 900 includes a board-side connection portion 910 that is joined to the circuit board 50, a housing-side connection portion 920 that is connected to the mounting portion 42 of the housing 40, and a connection between the board-side connection portion 910 and the housing-side connection portion 920. The configuration includes a connecting portion 930.

基板側接続部910は、平板状とされており、各パッド部550の形状に対応するように二つ備えられている。ハウジング側接続部920は、円板状とされており、略中央部にプロジェクションとしての凸部921が形成されている。 The board-side connecting portions 910 have a flat plate shape, and two are provided so as to correspond to the shape of each pad portion 550. The housing-side connecting portion 920 is disk-shaped, and has a projection portion 921 formed approximately in the center thereof.

なお、基板側接続部910とハウジング側接続部920とは、異なる面上に位置するように形成されている。また、基板側接続部910とハウジング側接続部920とは、ハウジング側接続部920が二つの基板側接続部910を結ぶ仮想面と交差しないように形成されている。つまり、ハウジング側接続部920は、二つの基板側接続部910を結ぶ仮想面に対して突出した位置に配置されている。 Note that the board-side connection portion 910 and the housing-side connection portion 920 are formed so as to be located on different surfaces. Further, the board-side connecting portion 910 and the housing-side connecting portion 920 are formed such that the housing-side connecting portion 920 does not intersect with the virtual plane connecting the two board-side connecting portions 910. In other words, the housing-side connecting portion 920 is arranged at a position protruding from the virtual plane connecting the two board-side connecting portions 910.

連結部930は、基板側連結部931およびハウジング側連結部932を有している。基板側連結部931は、各基板側接続部910と接続されると共に、基板側接続部910が位置する部分からハウジング側連結部932が位置する面上まで延設されている。なお、基板側連結部931は、基板側接続部910の面方向に対する法線方向に沿って延設されている。ハウジング側連結部932は、基板側連結部931における基板側接続部910と反対側の部分と、ハウジング側接続部920とを連結するように備えられている。 The connecting portion 930 has a board side connecting portion 931 and a housing side connecting portion 932. The board-side connecting portion 931 is connected to each board-side connecting portion 910 and extends from the portion where the board-side connecting portion 910 is located to the surface where the housing-side connecting portion 932 is located. Note that the board-side connecting portion 931 extends along the normal direction to the surface direction of the board-side connecting portion 910. The housing-side connecting portion 932 is provided to connect a portion of the board-side connecting portion 931 opposite to the board-side connecting portion 910 and the housing-side connecting portion 920.

また、連結部930は、弾性変形可能な弾性部933を有する構成とされている。本実施形態では、弾性部933は、ハウジング側連結部932に基板側接続部910等よりも剛性が低くされた部分を形成することにより、ハウジング側連結部932に構成されている。例えば、本実施形態では、ハウジング側連結部932は、基板側接続部910等と厚さが同じとされているが、ハウジング側連結部932の幅L1が基板側接続部910の幅L2より狭くなる部分を有する構成とされている。これにより、ハウジング側連結部932に弾性部933が構成される。 Further, the connecting portion 930 is configured to include an elastic portion 933 that can be elastically deformed. In this embodiment, the elastic portion 933 is configured in the housing-side connecting portion 932 by forming a portion in the housing-side connecting portion 932 that has lower rigidity than the board-side connecting portion 910 and the like. For example, in the present embodiment, the housing-side connecting portion 932 has the same thickness as the board-side connecting portion 910, etc., but the width L1 of the housing-side connecting portion 932 is narrower than the width L2 of the board-side connecting portion 910. It is configured to have a part. As a result, an elastic portion 933 is formed in the housing-side connecting portion 932.

そして、導通端子部900は、基板側接続部910が回路基板50の表面50aに形成された各パッド部550とはんだ560を介して接続されている。また、導通端子部900は、切欠部54に基板側連結部931が配置されることにより、回路基板50の裏面50b側にハウジング側接続部920が位置するように配置されている。 In the conduction terminal section 900, the board side connection section 910 is connected to each pad section 550 formed on the surface 50a of the circuit board 50 via a solder 560. Further, the conduction terminal portion 900 is arranged such that the housing side connection portion 920 is located on the back surface 50b side of the circuit board 50 by arranging the board side connection portion 931 in the notch portion 54.

この際、導通端子部900は、切欠部54を形成する前の回路基板50の外縁から外側に飛び出さないように配置される。つまり、導通端子部900は、回路基板50の面方向に対する法線方向において、ハウジング側接続部920および連結部930が切欠部54に収容された状態となっている。すなわち、本実施形態では、切欠部54および導通端子部900は、導通端子部900を配置した際に当該導通端子部900が切欠部54を形成する前の回路基板50の外縁から外側に飛び出さない大きさ、および形状とされている。また、導通端子部900は、回路基板50の面方向に対する法線方向において、当該導通端子部900の重心が二つのパッド部550の中心に位置するように配置されている。 At this time, the conductive terminal portion 900 is arranged so as not to protrude outward from the outer edge of the circuit board 50 before the cutout portion 54 is formed. That is, the conduction terminal portion 900 is in a state in which the housing-side connecting portion 920 and the connecting portion 930 are housed in the notch portion 54 in the normal direction to the surface direction of the circuit board 50 . That is, in the present embodiment, the notch portion 54 and the conductive terminal portion 900 are arranged such that when the conductive terminal portion 900 is arranged, the conductive terminal portion 900 protrudes outward from the outer edge of the circuit board 50 before the notch portion 54 is formed. It is of no size or shape. Furthermore, the conduction terminal portion 900 is arranged such that the center of gravity of the conduction terminal portion 900 is located at the center of the two pad portions 550 in the normal direction to the surface direction of the circuit board 50 .

そして、ハウジング側接続部920は、ハウジング40の搭載部42と抵抗溶接されて接続されている。つまり、ハウジング側接続部920とハウジング40の搭載部42とは、溶接部940を介して電気的に接続されている。これにより、回路基板50のパッド部550は、導通端子部900を介してハウジング40の搭載部42にボディグラウンド接続された状態となっている。なお、導通端子部900は、回路基板50のパッド部550に基板側接続部910が接続された後、ハウジング側接続部920がハウジング40の搭載部42と抵抗溶接される。 The housing-side connecting portion 920 is connected to the mounting portion 42 of the housing 40 by resistance welding. That is, the housing-side connecting portion 920 and the mounting portion 42 of the housing 40 are electrically connected via the welding portion 940. As a result, the pad portion 550 of the circuit board 50 is connected to the body ground of the mounting portion 42 of the housing 40 via the conduction terminal portion 900. Note that, after the board side connecting portion 910 of the conductive terminal portion 900 is connected to the pad portion 550 of the circuit board 50, the housing side connecting portion 920 is resistance welded to the mounting portion 42 of the housing 40.

本実施形態のハウジング40は、上記第9実施形態の図19を参照して説明したハウジング40と同様に、搭載部42に、中心軸aを中心として周方向に等間隔に三個の高さ用突起421が形成された構成とされている。そして、回路基板50は、六角形状の一つの角部に切欠部54が形成された構成とされており、三個の高さ用突起421がそれぞれ三箇所の角部近傍となるように配置されている。つまり、回路基板50は、一つの高さ用突起421が中心軸aを挟んで導通端子部900と反対側に位置するように配置されている。 The housing 40 of this embodiment, like the housing 40 described with reference to FIG. It is set as the structure in which the projection 421 for use is formed. The circuit board 50 has a hexagonal shape with a notch 54 formed at one corner, and the three height protrusions 421 are arranged near each of the three corners. ing. That is, the circuit board 50 is arranged so that one height protrusion 421 is located on the opposite side of the conductive terminal portion 900 with the central axis a interposed therebetween.

また、回路基板50は、ハウジング40の搭載部42との間に配置された接合部材60を介してハウジング40の搭載部42に機械的に接続されている。本実施形態では、回路基板50は、導通端子部900を介してハウジング40の搭載部42と電気的に接続されている。このため、接合部材60は、回路基板50とハウジング40の搭載部42とを機械的にのみ接続するものを用いればよく、例えば、シリコーン系接着剤等が用いられる。 Furthermore, the circuit board 50 is mechanically connected to the mounting section 42 of the housing 40 via a joining member 60 that is disposed between the circuit board 50 and the mounting section 42 of the housing 40 . In this embodiment, the circuit board 50 is electrically connected to the mounting section 42 of the housing 40 via the conduction terminal section 900. Therefore, the bonding member 60 may be one that connects the circuit board 50 and the mounting portion 42 of the housing 40 only mechanically, and for example, a silicone adhesive or the like may be used.

接合部材60は、本実施形態では、五箇所に配置されている。具体的には、三箇所の接合部材60は、各高さ用突起421の周囲に配置されている。また、二箇所の接合部材60は、回路基板50のうちの高さ用突起421が配置される角部と異なる二箇所の角部近傍に配置されている。つまり、二箇所の接合部材60は、導通端子部900と中心軸aを挟んで反対側に位置する高さ用突起421と、当該高さ用突起421と隣合う各高さ用突起421との間における周方向の中心に配置されている。 In this embodiment, the joining members 60 are arranged at five locations. Specifically, the three joining members 60 are arranged around each height protrusion 421. Further, the two joining members 60 are arranged near two corners of the circuit board 50 that are different from the corners where the height protrusions 421 are arranged. In other words, the two joining members 60 are connected to the height protrusion 421 located on the opposite side of the conductive terminal portion 900 across the center axis a, and the height protrusion 421 adjacent to the height protrusion 421. It is arranged at the center in the circumferential direction between the two.

以上説明したように、本実施形態では、回路基板50にボディグラウンド用のパッド部550が形成され、当該パッド部550が導通端子部900を介してハウジング40の搭載部42と電気的に接続さている。そして、導通端子部900は、ハウジング40の搭載部42と溶接部940を介して接合されている。また、回路基板50は、ハウジング40の搭載部42と接合部材60を介して機械的に接続されている。このため、回路基板50とハウジング40の搭載部42との接合性を向上しつつ、回路基板50のパッド部550とハウジング40の搭載部42との電気的な接続の安定性を図ることができる。 As described above, in this embodiment, the pad section 550 for body ground is formed on the circuit board 50, and the pad section 550 is electrically connected to the mounting section 42 of the housing 40 via the conductive terminal section 900. There is. The conductive terminal portion 900 is joined to the mounting portion 42 of the housing 40 via a welding portion 940. Further, the circuit board 50 is mechanically connected to the mounting portion 42 of the housing 40 via a joining member 60. Therefore, it is possible to improve the bondability between the circuit board 50 and the mounting section 42 of the housing 40, and to ensure the stability of the electrical connection between the pad section 550 of the circuit board 50 and the mounting section 42 of the housing 40. .

すなわち、例えば、回路基板50をハウジング40にボディグラウンド接続する際には、回路基板50の裏面50b側にボディグラウンド用のパッド部を構成し、当該パッド部とハウジング40の搭載部42との間に銀ペーストからなる導電性部材を配置することにより、パッド部とハウジング40とをボディグラウンド接続することが考えられる。なお、パッド部は、少なくとも表面が金で構成される。 That is, for example, when connecting the circuit board 50 to the housing 40 by body ground, a pad section for body ground is configured on the back surface 50b side of the circuit board 50, and a pad section for body ground is configured between the pad section and the mounting section 42 of the housing 40. It is conceivable to connect the pad portion and the housing 40 to the body ground by arranging a conductive member made of silver paste at the pad portion and the housing 40. Note that at least the surface of the pad portion is made of gold.

しかしながら、この構成では、銀ペーストからなる導電性部材と金で構成されるパッド部との接合性が低くなり易く、導電性部材の厚さがばらつき易い。このため、この構成では、パッド部550とハウジング40の搭載部42との間の接触抵抗のばらつきが懸念され、電気的な接続の安定性が低下する可能性がある。 However, with this configuration, the bondability between the conductive member made of silver paste and the pad portion made of gold tends to be low, and the thickness of the conductive member tends to vary. Therefore, with this configuration, there is a concern that the contact resistance between the pad portion 550 and the mounting portion 42 of the housing 40 may vary, and the stability of the electrical connection may deteriorate.

これに対し、本実施形態では、ハウジング40の搭載部42と溶接部940を介して電気的に接続される導通端子部900を用いているため、回路基板50とハウジング40の搭載部42との電気的な接続の安定性を図ることができる。なお、基板側接続部910とパッド部550との間にはんだ560が配置されるが、はんだ560は、パッド部550を構成する金との接合性が銀よりも高く、安定し易い。このため、はんだ560は、厚さがばらつき難く、接触抵抗がばらつくことが抑制される。つまり、基板側接続部910とパッド部550とは、はんだ560を介して電気的に安定した状態で接続されている。 On the other hand, in this embodiment, since the conduction terminal part 900 is electrically connected to the mounting part 42 of the housing 40 via the welding part 940, the connection between the circuit board 50 and the mounting part 42 of the housing 40 is The stability of electrical connection can be achieved. Note that the solder 560 is disposed between the substrate-side connection portion 910 and the pad portion 550, and the solder 560 has a higher bonding property with the gold forming the pad portion 550 than silver, and is more stable. Therefore, the thickness of the solder 560 is less likely to vary, and variation in contact resistance is suppressed. In other words, the board-side connecting portion 910 and the pad portion 550 are electrically and stably connected via the solder 560.

また、本実施形態では、パッド部550は、回路基板50の表面50aに形成され、はんだ560を介して導通端子部900の基板側接続部910と接続されている。このため、はんだ560は、電子部品70を回路基板50に配置する際のはんだペースト等と同時に配置されることができる。したがって、製造工程が複雑になることを抑制できる。 Further, in this embodiment, the pad section 550 is formed on the surface 50a of the circuit board 50, and is connected to the board-side connection section 910 of the conductive terminal section 900 via the solder 560. Therefore, the solder 560 can be placed at the same time as the solder paste when the electronic component 70 is placed on the circuit board 50. Therefore, it is possible to prevent the manufacturing process from becoming complicated.

さらに、導通端子部900は、連結部930に弾性部933を有する構成とされている。このため、ハウジング側接続部920の凸部921をハウジング40の搭載部42に抵抗溶接する際、弾性部933が弾性変形することにより、基板側接続部910に過大な応力が伝搬されることを抑制できる。つまり、基板側接続部910がパッド部550から剥離する等の不具合が発生することを抑制できる。 Further, the conductive terminal portion 900 is configured to have an elastic portion 933 in the connecting portion 930. Therefore, when resistance welding the convex portion 921 of the housing-side connecting portion 920 to the mounting portion 42 of the housing 40, excessive stress is prevented from being propagated to the board-side connecting portion 910 due to elastic deformation of the elastic portion 933. It can be suppressed. In other words, it is possible to suppress the occurrence of problems such as peeling of the board-side connecting portion 910 from the pad portion 550.

また、導通端子部900は、回路基板50の面方向に対する法線方向において、当該導通端子部900の重心が二つのパッド部550の中心に位置するように配置されている。このため、導通端子部900をハウジング40の搭載部42に接続する前等において、導通端子部900が傾くことを抑制でき、ハウジング側接続部920をハウジング40の搭載部42に抵抗溶接する工程が複雑になることを抑制できる。 Furthermore, the conduction terminal portion 900 is arranged such that the center of gravity of the conduction terminal portion 900 is located at the center of the two pad portions 550 in the normal direction to the surface direction of the circuit board 50 . Therefore, it is possible to prevent the conduction terminal part 900 from tilting before connecting the conduction terminal part 900 to the mounting part 42 of the housing 40, and the step of resistance welding the housing side connection part 920 to the mounting part 42 of the housing 40 is simplified. It can reduce complexity.

さらに、導通端子部900は、切欠部54を形成する前の回路基板50の外縁から外側に飛び出さないように配置される。このため、導通端子部900を配置することによって圧力センサが大型化することを抑制できる。 Further, the conductive terminal portion 900 is arranged so as not to protrude outward from the outer edge of the circuit board 50 before the cutout portion 54 is formed. Therefore, by arranging the conduction terminal portion 900, it is possible to suppress the pressure sensor from increasing in size.

(第12実施形態の変形例)
第12実施形態の変形例について説明する。上記第12実施形態では、回路基板50の外縁部に切欠部54を形成する例に説明したが、回路基板50の内縁部に貫通孔を形成し、当該貫通孔に導通端子部900を配置するようにしてもよい。
(Modified example of 12th embodiment)
A modification of the twelfth embodiment will be described. In the twelfth embodiment, the notch portion 54 is formed at the outer edge of the circuit board 50, but a through hole is formed at the inner edge of the circuit board 50, and the conductive terminal portion 900 is arranged in the through hole. You can do it like this.

また、上記第12実施形態において、パッド部550は、回路基板50の裏面50b側に形成されていてもよく、導通端子部900の基板側接続部910は、回路基板50の裏面50b側でパッド部550と接続されていてもよい。この場合、導通端子部900は、回路基板50の裏面50b側と接続可能となるように、適宜形状が調整される。 Further, in the twelfth embodiment, the pad section 550 may be formed on the back surface 50b side of the circuit board 50, and the board side connection section 910 of the conductive terminal section 900 is formed as a pad on the back surface 50b side of the circuit board 50. It may be connected to the section 550. In this case, the shape of the conductive terminal portion 900 is adjusted as appropriate so that it can be connected to the back surface 50b side of the circuit board 50.

(第13実施形態)
第13実施形態について説明する。本実施形態は、第12実施形態に対し、導通端子部900の構成を変更したものである。その他に関しては、第12実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(13th embodiment)
A thirteenth embodiment will be described. In this embodiment, the configuration of the conduction terminal section 900 is changed from the twelfth embodiment. The rest is the same as in the twelfth embodiment, so the explanation will be omitted here.

本実施形態では、図27に示されるように、導通端子部900の基板側連結部931は、基板側接続部910と接続されると共に、基板側接続部910よりもハウジング側接続部920と反対側に延設された第1連結部931aと、第1連結部931aとハウジング側連結部932とを接続する第2連結部931bとを有する構成とされている。つまり、導通端子部900は、一部が回路基板50の表面50a側から突出した状態となっている。 In this embodiment, as shown in FIG. 27, the board-side connecting part 931 of the continuity terminal part 900 is connected to the board-side connecting part 910, and is opposite to the housing-side connecting part 920 than the board-side connecting part 910. It is configured to include a first connecting portion 931a extending to the side, and a second connecting portion 931b connecting the first connecting portion 931a and the housing side connecting portion 932. In other words, a portion of the conduction terminal portion 900 protrudes from the surface 50a of the circuit board 50.

そして、弾性部933は、ハウジング側連結部932および第2連結部931bに構成されている。具体的には、第2連結部931bは、ハウジング側連結部932と同じ幅とされることによって弾性部933とされている。つまり、上記第1実施形態と比較すると、導通端子部900における弾性部933の領域が大きくされている。 The elastic portion 933 is configured in the housing-side connecting portion 932 and the second connecting portion 931b. Specifically, the second connecting portion 931b is made into an elastic portion 933 by having the same width as the housing side connecting portion 932. That is, compared to the first embodiment described above, the area of the elastic part 933 in the conductive terminal part 900 is enlarged.

以上説明したように、本実施形態では、弾性部933がハウジング側連結部932および第2連結部931bに構成されている。このため、ハウジング側接続部920の凸部921をハウジング40の搭載部42に抵抗溶接する際、さらに弾性部933が弾性変形することにより、基板側接続部910に過大な応力が伝搬されることをさらに抑制できる。 As described above, in this embodiment, the elastic portions 933 are configured in the housing-side connecting portion 932 and the second connecting portion 931b. Therefore, when the convex portion 921 of the housing-side connecting portion 920 is resistance-welded to the mounting portion 42 of the housing 40, the elastic portion 933 is further elastically deformed, thereby causing excessive stress to be propagated to the board-side connecting portion 910. can be further suppressed.

(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
(Other embodiments)
The present invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified as appropriate within the scope of the claims.

例えば、上記第2~第11実施形態において、第1ステム101および第2ステム102は、同じ材料を用いて構成されていてもよい。また、第2ステム102には、位置合わせ部122が形成されていなくてもよい。そして、上記第2、第3、第5~第11実施形態において、ステム10は、第1ステム101および第2ステム102を有する構成ではなく、単一の部材で構成されていてもよい。 For example, in the second to eleventh embodiments described above, the first stem 101 and the second stem 102 may be constructed using the same material. Furthermore, the second stem 102 does not need to be provided with the positioning portion 122 . In the second, third, fifth to eleventh embodiments described above, the stem 10 may be composed of a single member instead of having the first stem 101 and the second stem 102.

また、上記各実施形態を適宜組み合わせることもできる。例えば、上記第2実施形態を上記第3~第13実施形態に組み合わせ、低ドープ層23を配置するようにしてもよいし、パッド部33が延設部分322のみと接続されるようにしてもよい。また、上記第3実施形態を上記第4~第13実施形態に組み合わせ、開口部21aを形成する位置を規定するようにしてもよい。さらに、上記第4実施形態を上記第5~第13実施形態に組み合わせ、第1ステム101に薄肉部111を形成するようにしてもよい。そして、上記第5実施形態を上記第6~第13実施形態に組み合わせ、対向ランド501cを隣合う複数の電極部用ランドを繋げた構成としてもよい。また、上記第6実施形態を上記第7~第13実施形態に組み合わせ、回路基板50にガードパターン521を形成するようにしてもよい。さらに、上記第7実施形態を上記第8~第13実施形態に組み合わせ、回路基板50の保護層530に、素子用ランド503を露出させつつ貫通孔51に達する開口部531を形成するようにしてもよい。そして、上記第8実施形態を上記第9~第13実施形態に組み合わせ、回路基板50の保護層530に対し、素子用ランド503と外部接続用ランド502a~502cとの間にダム部540を形成するようにしてもよい。また、第10実施形態を第11~第13実施形態に組み合わせ、回路基板50がハウジング40の搭載部42に二箇所で支持されるようにしてもよい。また、第11実施形態を第12、第13実施形態に組み合わせ、ハウジング40に高さ用突起421および位置合わせ用突起423を形成するようにしてもよい。さらに、上記各実施形態を組み合わせたもの同士をさらに組み合わせるようにしてもよい。 Furthermore, the above embodiments can be combined as appropriate. For example, the second embodiment may be combined with the third to thirteenth embodiments, and the lightly doped layer 23 may be arranged, or the pad portion 33 may be connected only to the extension portion 322. good. Further, the third embodiment may be combined with the fourth to thirteenth embodiments to define the position where the opening 21a is formed. Furthermore, the fourth embodiment may be combined with the fifth to thirteenth embodiments to form the thin portion 111 in the first stem 101. The fifth embodiment may be combined with the sixth to thirteenth embodiments, and the opposing land 501c may be configured to connect a plurality of adjacent lands for electrode portions. Furthermore, the sixth embodiment may be combined with the seventh to thirteenth embodiments to form the guard pattern 521 on the circuit board 50. Further, the seventh embodiment is combined with the eighth to thirteenth embodiments, and an opening 531 that reaches the through hole 51 while exposing the element land 503 is formed in the protective layer 530 of the circuit board 50. Good too. Then, by combining the eighth embodiment with the ninth to thirteenth embodiments, a dam portion 540 is formed between the element land 503 and the external connection lands 502a to 502c on the protective layer 530 of the circuit board 50. You may also do so. Furthermore, the tenth embodiment may be combined with the eleventh to thirteenth embodiments so that the circuit board 50 is supported by the mounting portion 42 of the housing 40 at two locations. Further, the eleventh embodiment may be combined with the twelfth and thirteenth embodiments, and the height protrusion 421 and the positioning protrusion 423 may be formed on the housing 40. Furthermore, combinations of the above embodiments may be further combined.

10 ステム
12 圧力導入孔
13 ダイアフラム
30 歪み検出素子
101 第1ステム
102 第2ステム
103 溶接部
121 薄肉部
10 Stem 12 Pressure introduction hole 13 Diaphragm 30 Strain detection element 101 First stem 102 Second stem 103 Welded part 121 Thin wall part

Claims (21)

圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
二組の対向する一辺(701a~701d)を有する外形とされ、前記回路基板に配置される電子部品(70)を有し、
前記電子部品は、前記二組の対向する一辺のうちの二辺が前記貫通孔の中心と前記回路基板の外縁部とを結ぶ仮想線(K)と交差する状態で前記回路基板に配置され、前記貫通孔側の一辺(701a)と異なる三辺(701b~701d)に形成された複数の電極部(702)を有し、
前記回路基板は、前記貫通孔側の一辺と異なる三辺に形成された前記電極部とはんだ(71)を介して接続される複数の電極部用ランド(501a~501c)を有し、
前記貫通孔側の一辺と交差する二辺(701b、701d)に形成された前記電極部と接続される前記電極部用ランドとしての側方ランド(501a、501b)は、当該電極部と対向する位置に形成されていると共に互いに分離され、前記回路基板の面方向に対する法線方向において、前記電子部品から突出するように延設されており、
前記貫通孔側の一辺と対向する一辺(701c)に形成された前記電極部と接続される前記電極部用ランドとしての対向ランド(501)は、当該電極部と対向する位置に形成されていると共に隣合う前記電極部用ランドが繋がって構成されており、前記回路基板の面方向に対する法線方向において、前記電子部品から突出するように延設され、かつ突出長さ(L2)が前記側方ランドの突出長さ(L1)よりも短くされている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
It has an external shape having two sets of opposing sides (701a to 701d), and has an electronic component (70) disposed on the circuit board,
The electronic component is arranged on the circuit board in such a state that two sides of the two sets of opposing sides intersect with an imaginary line (K) connecting the center of the through hole and the outer edge of the circuit board, It has a plurality of electrode parts (702) formed on three sides (701b to 701d) different from one side (701a) on the through-hole side,
The circuit board has a plurality of electrode portion lands (501a to 501c) connected to the electrode portion via solder (71) formed on three sides different from one side on the through hole side,
Side lands (501a, 501b) as lands for the electrode portion connected to the electrode portion formed on two sides (701b, 701d) intersecting one side of the through hole side face the electrode portion. are formed at different positions and are separated from each other, and extend so as to protrude from the electronic component in the normal direction to the surface direction of the circuit board,
A counter land (501), which serves as a land for the electrode part and is connected to the electrode part formed on one side (701c) opposite to one side of the through-hole side, is formed at a position facing the electrode part. and adjacent lands for the electrode portion are connected to each other, and extend so as to protrude from the electronic component in the normal direction to the surface direction of the circuit board, and the protruding length (L2) is longer than the side. A pressure sensor that is shorter than the protrusion length (L1) of the square land .
前記回路基板は、前記表面側に、外部回路と接続される外部接続用ランド(502a~502c)と前記電子部品と接続される電極部用ランド(501a)とを接続する外部接続用パターン(511a~511c)と、前記素子用ランドと前記電子部品と接続される電極部用ランド(501b)とを接続するセンシング用パターン(512)を有し、
前記外部接続用パターンと前記センシング用パターンとは、前記貫通孔の中心と前記回路基板の外縁部とを結ぶ仮想線(K)に対し、それぞれ異なる仮想線と交差するように形成されている請求項に記載の圧力センサ。
The circuit board has an external connection pattern (511a) on the front surface side that connects external connection lands (502a to 502c) connected to an external circuit and an electrode part land (501a) connected to the electronic component. ~511c), and a sensing pattern (512) connecting the element land and the electrode land (501b) connected to the electronic component,
The external connection pattern and the sensing pattern are formed to intersect different virtual lines with respect to a virtual line (K) connecting the center of the through hole and the outer edge of the circuit board. The pressure sensor according to item 1 .
圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
前記回路基板に配置される電子部品(70)を有し、
前記回路基板は、前記表面側に、外部回路と接続される外部接続用ランド(502a~502c)と前記電子部品と接続される電極部用ランド(501a)とを接続する外部接続用パターン(511a~511c)と、前記素子用ランドと前記電子部品と接続される電極部用ランド(501b)とを接続するセンシング用パターン(512)を有し、
前記外部接続用パターンと前記センシング用パターンとは、前記貫通孔の中心と前記回路基板の外縁部とを結ぶ仮想線(K)に対し、それぞれ異なる仮想線と交差するように形成されている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
an electronic component (70) disposed on the circuit board;
The circuit board has an external connection pattern (511a) on the front surface side that connects external connection lands (502a to 502c) connected to an external circuit and an electrode part land (501a) connected to the electronic component. ~511c), and a sensing pattern (512) connecting the element land and the electrode land (501b) connected to the electronic component,
The external connection pattern and the sensing pattern are formed so as to intersect different imaginary lines with respect to an imaginary line (K) connecting the center of the through hole and the outer edge of the circuit board. sensor.
前記外部接続用パターンは、外部回路から電源電圧が印加される電源用ランド(502a)と前記電極部用ランドとを接続する電源用パターン(511a)を有し、
前記回路基板には、前記電源用パターンと前記センシング用パターンとの間に、所定電位に維持されるガードパターン(520)が形成されている請求項2または3に記載の圧力センサ。
The external connection pattern has a power supply pattern (511a) that connects a power supply land (502a) to which a power supply voltage is applied from an external circuit and the electrode part land,
The pressure sensor according to claim 2 or 3, wherein a guard pattern (520) maintained at a predetermined potential is formed on the circuit board between the power supply pattern and the sensing pattern.
前記ハウジングに組み付けられるコネクタケース(80)と、
前記ケースに保持され、前記ハウジングに組み付けられた際に前記回路基板と電気的に接続される端子部材(85)と、を有し、
前記ダイアフラム上には、前記歪み検出素子を覆うゲルで構成される保護部材(22)が配置され、
前記回路基板には、前記表面側に、前記歪み検出素子とワイヤ(52)を介して電気的に接続される前記素子用ランド、および前記端子部材が当接されることで当該端子部材と接続される外部接続用ランド(502a~502c)が形成されていると共に、所定領域を開口させる開口部(531)が形成された保護層(530)が形成されており、
前記保護層には、前記素子用ランドから前記外部接続用ランドへ前記ゲルが流れることを抑制する堰き止め構造(531、540)が形成されている請求項ないしのいずれか1つに記載の圧力センサ。
a connector case (80) assembled to the housing;
a terminal member (85) held in the case and electrically connected to the circuit board when assembled to the housing;
A protection member (22) made of gel that covers the strain detection element is arranged on the diaphragm,
The circuit board has the element land electrically connected to the strain detection element via a wire (52) on the front surface side, and the terminal member is connected to the terminal member by abutting the element land. external connection lands (502a to 502c) are formed therein, and a protective layer (530) is formed in which an opening (531) is formed to open a predetermined area.
5. The protective layer is provided with a dam structure (531, 540 ) that prevents the gel from flowing from the element land to the external connection land. pressure sensor.
圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
前記ハウジングに組み付けられるコネクタケース(80)と、
前記ケースに保持され、前記ハウジングに組み付けられた際に前記回路基板と電気的に接続される端子部材(85)と、を有し、
前記ダイアフラム上には、前記歪み検出素子を覆うゲルで構成される保護部材(22)が配置され、
前記回路基板には、前記表面側に、前記歪み検出素子とワイヤ(52)を介して電気的に接続される前記素子用ランド、および前記端子部材が当接されることで当該端子部材と接続される外部接続用ランド(502a~502c)が形成されていると共に、所定領域を開口させる開口部(531)が形成された保護層(530)が形成されており、
前記保護層には、前記素子用ランドから前記外部接続用ランドへ前記ゲルが流れることを抑制する堰き止め構造(531、540)が形成されている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
a connector case (80) assembled to the housing;
a terminal member (85) held in the case and electrically connected to the circuit board when assembled to the housing;
A protection member (22) made of gel that covers the strain detection element is arranged on the diaphragm,
The circuit board has the element land electrically connected to the strain detection element via a wire (52) on the front surface side, and the terminal member is connected to the terminal member by abutting the element land. external connection lands (502a to 502c) are formed therein, and a protective layer (530) is formed in which an opening (531) is formed to open a predetermined area.
A pressure sensor in which a dam structure (531, 540) is formed in the protective layer to prevent the gel from flowing from the element land to the external connection land.
前記堰き止め構造は、前記開口部が前記素子用ランドを露出させると共に前記貫通孔まで達するように形成されていることで構成されている請求項5または6に記載の圧力センサ。 7. The pressure sensor according to claim 5 , wherein the damming structure is formed such that the opening exposes the element land and reaches the through hole. 前記堰き止め構造は、前記素子用ランドと前記外部接続用ランドとの間に位置する前記保護層に凹凸構造のダム部(540)が形成されることで構成されている請求項5ないし7のいずれか1つに記載の圧力センサ。 8. The dam structure according to claim 5 , wherein the dam part (540) having an uneven structure is formed in the protective layer located between the element land and the external connection land. The pressure sensor according to any one of the above . 前記回路基板と前記搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、
前記ハウジングには、前記搭載部に三個以上の凸部(421、422)が形成されており、
前記回路基板は、前記凸部と三箇所で当接し、
前記三個以上の凸部は、前記ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う前記凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされている請求項ないしのいずれか1つに記載の圧力センサ。
a bonding member (60) disposed between the circuit board and the mounting section;
The housing has three or more convex portions (421, 422) formed on the mounting portion,
the circuit board contacts the convex portion at three places;
Any one of claims 1 to 8 , wherein the three or more protrusions are arranged such that the intervals between adjacent protrusions in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing are equal, and the heights are equal. The pressure sensor according to one.
圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
前記回路基板と前記搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、
前記ハウジングには、前記搭載部に三個以上の凸部(421、422)が形成されており、
前記回路基板は、前記凸部と三箇所で当接し、
前記三個以上の凸部は、前記ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う前記凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
a bonding member (60) disposed between the circuit board and the mounting section;
The housing has three or more convex portions (421, 422) formed on the mounting portion,
the circuit board contacts the convex portion at three places;
In the pressure sensor, the three or more protrusions are arranged such that the intervals between adjacent protrusions in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing are equal, and the heights are equal.
前記回路基板と前記搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、
前記ハウジングには、前記搭載部に二個の凸部(421、422)が形成されており、
前記回路基板は、前記凸部と二箇所で当接し、
前記二個の凸部は、前記ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う前記凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされており、少なくとも1つの前記凸部は、前記回路基板と当接する部分が所定長さを有する辺部(422)とされている請求項1ないしのいずれか1つに記載の圧力センサ。
a bonding member (60) disposed between the circuit board and the mounting section;
The housing has two protrusions (421, 422) formed on the mounting part,
the circuit board contacts the convex portion at two places;
In the two protrusions, the intervals between the protrusions adjacent to each other in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing are equal, and the heights are equal, and at least one of the protrusions is The pressure sensor according to any one of claims 1 to 8 , wherein the portion that contacts the circuit board is a side portion (422) having a predetermined length.
圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
前記回路基板と前記搭載部との間に配置される接合部材(60)を有し、
前記ハウジングには、前記搭載部に二個の凸部(421、422)が形成されており、
前記回路基板は、前記凸部と二箇所で当接し、
前記二個の凸部は、前記ハウジングの中心軸(a)に対する周方向の隣合う前記凸部同士の間隔が等しくされていると共に高さが等しくされており、少なくとも1つの前記凸部は、前記回路基板と当接する部分が所定長さを有する辺部(422)とされている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
a bonding member (60) disposed between the circuit board and the mounting section;
The housing has two protrusions (421, 422) formed on the mounting part,
the circuit board contacts the convex portion at two places;
In the two protrusions, the intervals between the protrusions adjacent to each other in the circumferential direction with respect to the central axis (a) of the housing are equal, and the heights are equal, and at least one of the protrusions is A pressure sensor in which a portion that comes into contact with the circuit board is a side portion (422) having a predetermined length .
前記ハウジングに組み付けられるコネクタケース(80)と、
前記ケースに保持され、前記ハウジングに組み付けられた際に前記回路基板と電気的に接続される端子部材(85)と、を有し、
前記回路基板には、前記表面側に、前記素子用ランド、および前記端子部材が当接されることで当該端子部材と接続される外部接続用ランド(502a~502c)が形成されており、
1つの前記凸部は、前記回路基板を挟んで前記端子部材と反対側に位置している請求項9ないし12のいずれか1つに記載の圧力センサ。
a connector case (80) assembled to the housing;
a terminal member (85) held in the case and electrically connected to the circuit board when assembled to the housing;
The circuit board is formed with external connection lands (502a to 502c) on the front surface thereof, which are connected to the element lands and the terminal members by contact with the terminal members,
The pressure sensor according to any one of claims 9 to 12, wherein one of the protrusions is located on the opposite side of the terminal member with the circuit board interposed therebetween.
前記回路基板には、位置合わせ用の凹部(53)が形成され、
前記ハウジングには、前記搭載部に、前記回路基板の凹部に差し込まれる位置合わせ用突起(423)が形成されている請求項ないし13のいずれか1つに記載の圧力センサ。
A recess (53) for positioning is formed in the circuit board,
The pressure sensor according to any one of claims 9 to 13, wherein the housing has a positioning projection (423) formed in the mounting portion to be inserted into a recess of the circuit board.
前記回路基板には、ボディグラウンド用のパッド部(550)が形成され、
前記パッド部と電気的に接続されると共に、前記搭載部と電気的に接続される導通端子部(900)を有し、
前記導通端子部は、前記搭載部と溶接部(940)を介して接続され、
前記回路基板と前記搭載部との間には、前記回路基板と前記ハウジングとを機械的に接続する接合部材(60)が配置されている請求項ないし14のいずれか1つに記載の圧力センサ。
A pad portion (550) for body ground is formed on the circuit board,
a conductive terminal portion (900) electrically connected to the pad portion and electrically connected to the mounting portion;
The conduction terminal portion is connected to the mounting portion via a welding portion (940),
The pressure sensor according to any one of claims 1 to 14, wherein a joining member (60) for mechanically connecting the circuit board and the housing is disposed between the circuit board and the mounting section. sensor.
圧力媒体の圧力を検出する圧力センサであって、
前記圧力媒体が導入される圧力導入孔(12)が形成されると共に、前記圧力媒体の圧力に応じて変形可能なダイアフラム(13)が形成されたステム(10)と、
前記ダイアフラムに配置され、前記ダイアフラムの変形に応じた検出信号を出力する歪み検出素子(30)と、を備え、
前記ステムは、前記ダイアフラム側を構成する第1ステム(101)と、前記圧力導入孔における開口端側を構成する第2ステム(102)と、を有し、前記第1ステムと前記第2ステムとが溶接部(103)を介して接合されることで構成され、
前記第2ステムは、前記溶接部と前記開口端との間に、前記溶接部が形成される部分よりも内壁面と外壁面との間の厚さが薄くされた薄肉部(121)を有し、
中空部を有する筒状とされて一端部側が前記ステムと接合され、前記ダイアフラムの周囲に搭載部(42)を構成するハウジング(40)と、
表面(50a)および裏面(50b)を有し、前記表面側に前記歪み検出素子と電気的に接続される素子用ランド(503)が形成されていると共に、前記裏面側が前記搭載部と対向する状態で前記搭載部に搭載される回路基板(50)と、を有し、
前記回路基板は、表面と裏面との間を貫通する貫通孔(51)が形成され、前記貫通孔に前記ステムが位置する状態で前記搭載部に搭載されており、
前記回路基板には、ボディグラウンド用のパッド部(550)が形成され、
前記パッド部と電気的に接続されると共に、前記搭載部と電気的に接続される導通端子部(900)を有し、
前記導通端子部は、前記搭載部と溶接部(940)を介して接続され、
前記回路基板と前記搭載部との間には、前記回路基板と前記ハウジングとを機械的に接続する接合部材(60)が配置されている圧力センサ。
A pressure sensor that detects the pressure of a pressure medium,
a stem (10) formed with a pressure introduction hole (12) into which the pressure medium is introduced, and a diaphragm (13) that is deformable according to the pressure of the pressure medium;
a distortion detection element (30) disposed on the diaphragm and outputting a detection signal according to deformation of the diaphragm;
The stem includes a first stem (101) constituting the diaphragm side and a second stem (102) constituting the open end side of the pressure introduction hole, and the first stem and the second stem and are joined via a welding part (103),
The second stem has a thin walled portion (121) between the welded portion and the open end, where the thickness between the inner wall surface and the outer wall surface is thinner than the portion where the welded portion is formed. death,
a housing (40) having a cylindrical shape with a hollow portion, one end side of which is joined to the stem, and forming a mounting portion (42) around the diaphragm;
It has a front surface (50a) and a back surface (50b), and an element land (503) electrically connected to the strain detection element is formed on the front surface side, and the back surface side faces the mounting part. a circuit board (50) mounted on the mounting section in a state,
The circuit board is formed with a through hole (51) passing through between the front surface and the back surface, and is mounted on the mounting portion with the stem positioned in the through hole,
A pad portion (550) for body ground is formed on the circuit board,
a conductive terminal portion (900) electrically connected to the pad portion and electrically connected to the mounting portion;
The conduction terminal portion is connected to the mounting portion via a welding portion (940),
In the pressure sensor, a joining member (60) for mechanically connecting the circuit board and the housing is disposed between the circuit board and the mounting part.
前記回路基板には、外縁部に切欠部(54)が形成され、
前記導通端子部のうちの前記パッド部と接合される部分と異なる部分は、前記回路基板の面方向に対する法線方向において、前記切欠部内に収容されている請求項15または16に記載の圧力センサ。
A notch (54) is formed in the outer edge of the circuit board,
17. The pressure sensor according to claim 15, wherein a portion of the conductive terminal portion that is different from the portion joined to the pad portion is accommodated within the cutout portion in a normal direction to a surface direction of the circuit board. .
前記パッド部は、前記回路基板の表面側に形成され、
前記導通端子部は、前記パッド部とはんだ(560)を介して接続されている請求項15ないし7のいずれか1つに記載の圧力センサ。
The pad portion is formed on the front side of the circuit board,
The pressure sensor according to any one of claims 15 to 17, wherein the conductive terminal portion is connected to the pad portion via solder (560).
前記導通端子部は、前記パッド部と接続される基板側接続部(910)と、前記搭載部と接続されるハウジング側接続部(920)と、前記基板側接続部と前記ハウジング側接続部とを連結する連結部(930)を有し、
前記連結部は、弾性変形可能な弾性部(933)を有している請求項15ないし1のいずれか1つに記載の圧力センサ。
The conduction terminal portion includes a board side connection portion (910) connected to the pad portion, a housing side connection portion (920) connected to the mounting portion, and the board side connection portion and the housing side connection portion. It has a connecting part (930) that connects the
The pressure sensor according to any one of claims 15 to 18 , wherein the connecting part has an elastic part (933) that can be elastically deformed.
前記導通端子部は、前記回路基板の表面側から突出する部分を有し、
前記弾性部は、前記回路基板の裏面側から前記回路基板の表面上まで延設されている請求項1に記載の圧力センサ。
The conduction terminal portion has a portion protruding from the front surface side of the circuit board,
The pressure sensor according to claim 19 , wherein the elastic portion extends from the back side of the circuit board to the front surface of the circuit board.
前記第1ステムは、一端部側が開口すると共に他端部側に前記ダイアフラムを有する有底筒状とされ、
前記第2ステムは、両端部側が開口した筒状とされ、前記第1ステム側の端部に、前記第1ステムの一端部側に挿入される位置合わせ部(122)が形成されている請求項1ないし20のいずれか1つに記載の圧力センサ。
The first stem has a bottomed cylindrical shape that is open at one end and has the diaphragm at the other end,
The second stem has a cylindrical shape with both ends open, and an alignment part (122) to be inserted into one end of the first stem is formed at the end on the first stem side. 21. The pressure sensor according to any one of items 1 to 20 .
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