JP7341224B2 - 磁気粒子画像化システムのキャリブレーション方法 - Google Patents
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Description
2 一次磁場
3 一次磁場の第1ゾーン
4 一次磁場の第2ゾーン
5 二次磁場
6 視野
7 ボクセル
8 磁性ナノ粒子サンプル
9 機械的スキャナー
10 符号化キャリブレーションシーン
11 球状キャリブレーションシーン
12 回転中心
13 1つの軸の周りでキャリブレーションシーンを並進および回転させるメカニズム
14 2つの軸の周りでキャリブレーションシーンを並進および回転させるメカニズム
15 キャリブレーションシーンを並進および回転させるための補助メカニズム
16 レール付きスライド
17 回転軸
18 細いチャネル
19 開口部
20 ロッド状ナノ粒子サンプル
21 直方体プリズムキャリブレーションシーン
22 スライドベルト
23 光学リフレクター
24 レーザートラッカー
25 円筒状キャリブレーションシーン
26 柱状キャビティ
27 磁性ナノ粒子をキャリブレーションシーンの内部に充填するための入力
28 磁性ナノ粒子をキャリブレーションシーンの内部から排出するための出力
29 細いチューブ
Claims (11)
- 視野の磁気粒子の画像化を実行する磁気粒子画像化システムのためのキャリブレーション方法であって、
機械的システムによって前記視野よりも大きなキャリブレーションシーンを1または複数の方向に直線的に動かす、および/または1または複数の軸の周りに回転させるステップであって、前記キャリブレーションシーンは複数のナノ粒子サンプルを含み、前記ナノ粒子サンプルは画像ボクセルボリューム以下のナノ粒子のボリュームを有する、ステップと、
前記視野における無磁場領域をスキャンして、前記キャリブレーションシーンの複数の位置にてキャリブレーション測定データを取得するステップと、
前記測定データおよびデータ取得中の前記キャリブレーションシーンの位置情報を用いることによって、圧縮センシング方法でシステム行列を再構成するステップと、
を含み、
以下の不等式を条件とする最適化問題を用いて、前記システム行列を再構成するステップを含む、方法。
- 前記キャリブレーションシーンは連続的に移動または回転される、請求項1に記載の方法。
- 前記キャリブレーションシーンにおける前記ナノ粒子は、ランダムまたは擬似ランダムに分布している、請求項1に記載の方法。
- 前記キャリブレーションシーンにおける前記複数のナノ粒子サンプルは、2つの端部から充填および空にするために互いに接続的に分布している、請求項1に記載の方法。
- 追跡装置を用いて前記キャリブレーションシーンの位置を連続的にモニターして、データ取得中の前記キャリブレーションシーンの位置を測定する、請求項1に記載の方法。
- 請求項1に記載されたキャリブレーション方法を実行する、磁気粒子画像化システムのためのキャリブレーション装置であって、
MPIシステムの視野よりも大きく、そのボリューム内に分布する複数のナノ粒子サンプルを有するキャリブレーションシーンであって、前記ナノ粒子サンプルは画像ボクセルボリューム以下のナノ粒子のボリュームを含む、キャリブレーションシーンと、
前記キャリブレーションシーンの1または複数の方向の直線的な移動および/または前記キャリブレーションシーンの1または複数の軸の周りの回転運動を実行する機械的システムと、
を含み、
前記キャリブレーションシーンは、ナノ粒子で充填または空にするための、前記キャリブレーションシーンを行き交う任意の経路の少なくとも1つのチューブを備える、装置。 - 前記キャリブレーションシーンの外形は、直方体プリズム、円筒状、球状である、請求項6に記載の装置。
- 前記キャリブレーションシーンの移動を追跡するために、1以上のリフレクターが前記キャリブレーションシーンに取り付けられている、請求項6に記載の装置。
- 前記キャリブレーションシーンは、ナノ粒子で前記キャリブレーションシーンを充填または空にする1または複数の開口部を有する、請求項6に記載の装置。
- 前記キャリブレーションシーンの位置は、追跡装置によって追跡される、請求項6に記載の装置。
- 前記機械的システムは、前記MPIシステムと通信して請求項1の前記キャリブレーション方法に対する操作を実行する制御ユニットを含む、請求項6に記載の装置。
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