JP7331971B2 - 温度によるエラーを低減するアンカー構造体 - Google Patents

温度によるエラーを低減するアンカー構造体 Download PDF

Info

Publication number
JP7331971B2
JP7331971B2 JP2022022157A JP2022022157A JP7331971B2 JP 7331971 B2 JP7331971 B2 JP 7331971B2 JP 2022022157 A JP2022022157 A JP 2022022157A JP 2022022157 A JP2022022157 A JP 2022022157A JP 7331971 B2 JP7331971 B2 JP 7331971B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stator
anchor point
rotor
common axis
mems device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022022157A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022128422A (ja
Inventor
彰 紺野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JP2022128422A publication Critical patent/JP2022128422A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7331971B2 publication Critical patent/JP7331971B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/006Details of instruments used for thermal compensation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • B81B3/0064Constitution or structural means for improving or controlling the physical properties of a device
    • B81B3/0081Thermal properties
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0009Structural features, others than packages, for protecting a device against environmental influences
    • B81B7/0019Protection against thermal alteration or destruction
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2201/00Specific applications of microelectromechanical systems
    • B81B2201/02Sensors
    • B81B2201/0228Inertial sensors
    • B81B2201/0235Accelerometers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/03Static structures
    • B81B2203/0307Anchors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/03Static structures
    • B81B2203/0369Static structures characterized by their profile
    • B81B2203/0392Static structures characterized by their profile profiles not provided for in B81B2203/0376 - B81B2203/0384
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/05Type of movement
    • B81B2203/056Rotation in a plane parallel to the substrate
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

本発明は、微小電気機械システム(MEMS)、より詳細には、MEMS部品をMEMSデバイス内に固定するアンカー構造体に関する。
MEMSデバイスでは、加速または回転などの外部量を測定するために、MEMSデバイス内の部品の動きが測定され得る。MEMS加速度計では、例えば、比較的自由に少なくとも1つの軸に沿って動くことができるプルーフマスが、外部加速を受けて加速度計の固定部品に対して動く。プルーフマスの動きは、プルーフマス上に位置する1以上の可動電極と、加速度計内の固定構造体上に位置する1以上の固定電極とを用いて容量的に測定される。固定電極および可動電極は、1以上のコンデンサを形成し、それらのコンデンサの静電容量は、プルーフマスが固定構造体に対して動くにつれて変化する。
加速度を正確に測定するために、外部加速による固定構造体の動きを最小限に抑えなければならず、そのため、固定構造体は、1以上のアンカーポイントにおいてMEMSデバイス、例えばデバイスの基板に固定される。しかしながら、MEMSデバイスは温度変化を受けるため、固定電極と可動電極の相対位置は、デバイス自体内の膨張または収縮によって変化し得る。したがって、温度の変化によって生じる、MEMS加速度計および他のデバイスの測定にもたらされるエラーを最小限に抑えることが望ましい。
本発明の第1の態様によれば、基板面を規定する基板と、ロータ・アンカーポイントを介して基板に取り付けられ、基板面に対して回転可能なロータと、それぞれの位置が基板面に対して固定され、ステータ・アンカーポイントを介して基板に取り付けられた2つのステータとを備えるMEMSデバイスが提供される。ロータ・アンカーポイントおよびステータ・アンカーポイントは、アンカーポイントのすべてが共通軸と重なるように配置される。
ロータ・アンカーポイントの幅とステータ・アンカーポイントの幅は同じであってもよく、ロータ・アンカーポイントおよびステータ・アンカーポイントは、共通軸に沿って並んでいてもよい。
ロータ・アンカーポイントおよびステータ・アンカーポイントは、矩形であってもよい。
ステータ・アンカーポイントはL字形であってもよく、L字形のステータ・アンカーポイントは、ステータ・アンカーポイントのL字形が同じサイズであり、ステータ・アンカーポイントのうちの1つの1つが他のステータ・アンカーポイントに対して180度回転しており、各L字形の第1部分が共通軸と平行であり、各L字形の第2部分が共通軸に垂直であり、L字形のステータ・アンカーポイントの第2部分が共通軸に沿って並ぶように配置されてもよい。
L字形のステータ・アンカーポイントの第1部分は、共通軸に垂直な第2軸と重なってもよい。
共通軸に垂直に測定されるロータ・アンカーポイントの幅は、L字形のステータ・アンカーポイントの幅と同じであってもよい。
ロータ・アンカーポイントは、形状が矩形であってもよい。
ロータ・アンカーポイントの長さおよびステータ・アンカーポイントの長さは、それぞれロータ・アンカーポイントの幅およびステータ・アンカーポイントの幅より小さくてもよい。
デバイスは、加速度計であってもよく、ステータに対するロータの動きを容量的に測定することによって、加速度が測定されてもよい。
共通軸と平行な方向における隣接するアンカーポイント間の距離は、共通軸と平行な方向における、アンカーポイントのうちのいずれの長さの2倍よりも小さくてよい。
図1は、本発明の第1実施形態によるアンカー配置を示す図である。 図2は、本発明の第2実施形態によるアンカー配置を示す図である。 図3は、MEMS加速度計に使用されている第2実施形態のアンカー配置を示す図である。
図1は、本発明の第1実施形態によるMEMSデバイスのアンカー配置を示す。3つのアンカーポイント101、102、103は、MEMSデバイスが形成される基板にMEMSデバイスの微小機械部品を固定する。
MEMSデバイスは加速度計であってもよく、その場合、アンカーポイント101はロータ・アンカーポイント101と称され、アンカーポイント102および103はステータ・アンカーポイント102、103と称されてもよい。図3に関してより詳細に示すように、ロータ・アンカーポイント101は、ロータ構造体104、例えば、ロータが取り付けられ、かつある程度の動きが許容されるロータ懸架部を、基板に固定する。ステータ・アンカーポイント102、103は、基板に対して固定位置にとどまるステータ105、106を基板に固定する。ロータ構造体104およびステータ105、106の一部だけが図1に示されていることが理解される。動作中、容量性測定を用いてステータに対するロータの動きを測定することによって、MEMSデバイスの加速度が検出される。
図1に示すように、アンカーポイント101~103は、すべてが共通軸110と重なるように配置される。言い換えれば、アンカーポイント101~103は、一列に配置される。これは、ステータ・アンカーポイント102、103が「上下」ではなく、通常「横並び」である従来のアンカーポイント配置と対照的である。この配置の利点は、MEMSデバイスが温度変化を受け、アンカーポイント101~103が、温度変化によって引き起こされる基板の膨張/収縮および応力により必然的に動く際、アンカーポイント101~103のすべての動きが略同一方向になることである。対照的に、ステータ・アンカーポイント102、103が横並びに配置される場合、それらは、水平方向(すなわち、軸110に垂直)に離れるとともに、垂直方向(すなわち、軸110と平行)にも動く傾向がある。したがって、図1に示すアンカーポイントの配置により、アンカーポイント101~103の互いに対する動きが抑制されるため、アンカーポイント101~103に連結される部品の互いに対する動きも抑制される。MEMS加速度計では、加速度は、ステータ上およびロータ上に位置する電極間の距離変化に基づいて測定されるため、外部加速以外の原因によって引き起こされる動きを抑制することにより、加速度測定の精度が向上する。
この実施形態では、アンカーポイント101~103は、共通軸110に沿って並ぶことが好ましい。本明細書において、「並ぶ」とは、アンカーポイント101~103の中心点がすべて、軸110に垂直な軸において測定される共通軸110に対する位置が同じであることを意味する。この配置により、共通軸110に垂直に沿った基板の膨張/収縮または他の変形が、アンカーポイントすべてにほぼ等しく影響するため、アンカーポイント101~103の相対的な動きが最小限に抑えられる。
また、アンカーポイント101~103はすべて、軸110に垂直に測定されるような幅が同じであってもよい。この配置により、さらに、アンカーポイント101~103の相対的な動きが抑制される。
各アンカーポイント101~103の長さ、すなわち、共通軸110と平行に測定されるようなアンカーポイントの最外縁部間の距離は、共通軸110に垂直に測定されるようなアンカーポイント101~103の幅より小さいことが好ましい。このように、個々のアンカーポイント101~103それぞれの幅は、アンカーポイントがエッチングされた後、十分安定している。
本発明の第2実施形態を図2に示す。この場合も、アンカーポイント201~203は、すべてが共通軸210と重なるように配置されるが、図1のステータ・アンカーポイント102~103とは対照的に、ステータ・アンカーポイント202~203はL字形である。ステータ・アンカーポイント202~203のうちの一方は、他方のステータ・アンカーポイントの180度回転したものとなるように配置される。この場合も、3つのアンカーポイント201~203はすべて、共通軸210に沿って並ぶことが好ましい。
ステータ・アンカーポイント202、203のL字形により、各アンカーポイントの最大長および最大幅を大きくすることができ、それによって、アンカーポイント202~304が占める基板上のスペースを小さくしつつ、各方向の剛性を高めることができる。実際、ステータ・アンカーポイント202~203は、また、それが占める基板上のスペースを最小限に抑えるために、共通軸210に垂直な第2軸211と重なってもよい。
ロータ・アンカーポイント201は、ステータ・アンカーポイント202、203の最大幅と同じ幅を有してもよいが、図2に示すように、形状が略矩形であってもよい。
図3は、図2のアンカー構造体が使用される例示的MEMS加速度計を示す。図3から、代わりに図1のアンカー構造体がどのように使用され得るか容易に理解される。図3は、ロータ懸架部304aとロータ304b自体とを含むロータ構造体304a、304bを示す。ロータ懸架部304aは、ロータ・アンカーポイント301を介して基板に固定される静止素子である。ロータ304bは、ばね321、322によってロータ懸架部304aに連結される可動素子であり、ばね321、322により、ロータは、ステータ・アンカーポイント302、303を介して基板に固定されるステータ305、306と、基板とに対して紙面外に回転することができる。具体的には、ロータは、基板と平行で、かつ共通軸310に垂直な回転軸312を中心に回転する。ロータ304bおよびステータ305、306はそれぞれ、ステータ305、306に向かうまたはステータ305、306から離れるロータ304bの動きが電極間の静電容量の変化を引き起こすように、櫛電極などのコンデンサ電極を含む。静電容量の変化の範囲は、ロータ304bの動きの範囲に比例し、ロータ304bの動きの範囲は、加速度計にかかる紙面に垂直な方向の力(ひいては加速度)の範囲に比例する。したがって、静電容量を測定することによって、MEMSデバイスの加速度を決定することができる。図3に示すように、ステータ305、306は、ロータ304bの動きによって引き起こされる静電容量を差動的に測定するために使用できるように、電気的に分離され、共通軸310に対して対称である。ステータ・アンカーポイントおよびロータ・アンカーポイントを共通軸310と重なるように配置することによって、ステータ・アンカーポイントの互いに対する動きが抑制されるため、具体的には、ステータ・アンカーポイントおよびロータ・アンカーポイントを介した差動検出の精度が向上する。

Claims (10)

  1. 基板面を規定する基板と、
    ロータ・アンカーポイントを介して前記基板に取り付けられ、前記基板面に対して回転軸を中心に回転可能なロータと、
    それぞれの位置が前記基板面に対して固定された2つのステータとを備え、
    第1ステータが、第1のステータ・アンカーポイントを介して前記基板に取り付けられ、第2ステータが、第2のステータ・アンカーポイントを介して前記基板に取り付けられており、
    前記第1ステータおよび前記第2ステータは、前記回転軸の片側に位置しており、
    前記第1ステータおよび前記第2ステータは、電気的に分離され、前記回転軸に垂直な共通軸に対して対称であり、
    前記ロータ・アンカーポイント、前記第1のステータ・アンカーポイント、および前記第2のステータ・アンカーポイントは、前記共通軸と重なる
    MEMSデバイス。
  2. 前記ロータ・アンカーポイントの幅と前記ステータ・アンカーポイントの幅は、同じであり、前記ロータ・アンカーポイントおよび前記ステータ・アンカーポイントは、前記共通軸に沿って並んでいる
    請求項1に記載のMEMSデバイス。
  3. 前記ロータ・アンカーポイントおよび前記ステータ・アンカーポイントは、矩形である
    請求項1または2に記載のMEMSデバイス。
  4. 前記ステータ・アンカーポイントは、L字形であり、L字形の前記ステータ・アンカーポイントは、
    前記ステータ・アンカーポイントのL字形が同じサイズであり、前記ステータ・アンカーポイントのうちの一方が他方の前記ステータ・アンカーポイントに対して180度回転しており、
    各L字形の第1部分が前記共通軸と平行であり、各L字形の第2部分が前記共通軸に垂直であり、
    L字形の前記ステータ・アンカーポイントの前記第2部分が前記共通軸に沿って並ぶように配置される
    請求項1または2に記載のMEMSデバイス。
  5. L字形の前記ステータ・アンカーポイントの前記第1部分は、前記共通軸に垂直な第2軸と重なる
    請求項4に記載のMEMSデバイス。
  6. 前記共通軸に垂直に測定される前記ロータ・アンカーポイントの幅は、L字形の前記ステータ・アンカーポイントの幅と同じである
    請求項4または5に記載のMEMSデバイス。
  7. 前記ロータ・アンカーポイントは、形状が矩形である
    請求項6に記載のMEMSデバイス。
  8. 前記ロータ・アンカーポイントの長さおよび前記ステータ・アンカーポイントの長さは、それぞれ前記ロータ・アンカーポイントの幅および前記ステータ・アンカーポイントの幅より小さい
    請求項1~7のいずれか1項に記載のMEMSデバイス。
  9. 前記MEMSデバイスは、加速度計であり、前記ステータに対する前記ロータの動きを容量的に測定することによって、加速度が測定される
    請求項1~8のいずれか1項に記載のMEMSデバイス。
  10. 前記共通軸と平行な方向における隣接するアンカーポイント間の距離は、前記共通軸と平行な方向における、前記アンカーポイントのうちのいずれの長さの2倍よりも小さい
    請求項1~9のいずれか1項に記載のMEMSデバイス。
JP2022022157A 2021-02-22 2022-02-16 温度によるエラーを低減するアンカー構造体 Active JP7331971B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20215191 2021-02-22
FI20215191 2021-02-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022128422A JP2022128422A (ja) 2022-09-01
JP7331971B2 true JP7331971B2 (ja) 2023-08-23

Family

ID=80119531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022022157A Active JP7331971B2 (ja) 2021-02-22 2022-02-16 温度によるエラーを低減するアンカー構造体

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11852649B2 (ja)
EP (1) EP4047375A1 (ja)
JP (1) JP7331971B2 (ja)
CN (1) CN114966107A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014061099A1 (ja) 2012-10-16 2014-04-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009000167A1 (de) * 2009-01-13 2010-07-22 Robert Bosch Gmbh Sensoranordnung
TWI649565B (zh) 2012-01-12 2019-02-01 芬蘭商村田電子公司 加速度感測器結構和其之使用
JP5962900B2 (ja) 2012-04-02 2016-08-03 セイコーエプソン株式会社 物理量センサーおよび電子機器
WO2013184816A1 (en) * 2012-06-05 2013-12-12 Analog Devices, Inc. Mems sensor with dynamically variable reference capacitance
FI20135714L (fi) * 2013-06-28 2014-12-29 Murata Manufacturing Co Kapasitiivinen mikromekaaninen kiihtyvyysanturi
CN110058051B (zh) * 2014-12-11 2021-08-06 意法半导体股份有限公司 具有减少漂移功能的z轴微机电检测结构
EP3757579B1 (en) 2019-06-26 2023-07-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. Capacitive micromechanical accelerometer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014061099A1 (ja) 2012-10-16 2014-04-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ

Also Published As

Publication number Publication date
EP4047375A1 (en) 2022-08-24
US11852649B2 (en) 2023-12-26
US20220268799A1 (en) 2022-08-25
CN114966107A (zh) 2022-08-30
JP2022128422A (ja) 2022-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7412887B2 (en) Multiple axis acceleration sensor
US20220205784A1 (en) Micromechanical detection structure of a mems multi-axis gyroscope, with reduced drifts of corresponding electrical parameters
EP3121605B1 (en) Multi-axis inertial sensor with dual mass and integrated damping structure
US8020443B2 (en) Transducer with decoupled sensing in mutually orthogonal directions
US10024881B2 (en) MEMS sensor
US8459114B2 (en) Multi-axis capacitive accelerometer
CN106915721B (zh) 具有中央固定座的微机电装置
EP1640726B1 (en) Micro-electromechanical structure with self-compensation of the thermal drifts caused by thermomechanical stress
US11105828B2 (en) Microelectromechanical device for out-of-plane motion detection
CN110824196A (zh) 对应力不敏感的mems电容式z轴加速度计
CN112485470B (zh) 低噪声多轴微机电系统加速度计
KR20090098845A (ko) 다축 마이크로메카닉 가속도센서
US20160349286A1 (en) Micromechanical acceleration sensor
JP7331971B2 (ja) 温度によるエラーを低減するアンカー構造体
CN109073673B (zh) 微机械传感器和用于制造微机械传感器的方法
US20210396781A1 (en) Z-axis inertial sensor with extended motion stops
US20220050124A1 (en) Inertial sensor with split anchors and flexure compliance between the anchors
CN116298387A (zh) 一种加速度计
JP4659830B6 (ja) 多軸加速度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220502

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230711

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230724

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7331971

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150