JP7268123B2 - 機器の故障及び残存耐用時間を予測する方法、装置及びプログラム - Google Patents
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Description
L=αLo+βLa+γLs
ここで、重みα、β、及びγは、経験的に学習又は微調整することができる。
L=αLo+βLa+γLs
ここで、重みα、β、γは経験的に学習又は微調整可能である。
Claims (12)
- 装置が、機器の故障及び残存耐用時間(RUL)を予測する方法であって、
前記装置が、障害イベントを含む機器から受信したデータについて、前記データ上の特徴量抽出を行って障害イベントに基づくイベント特徴量のシーケンスを生成し、
前記装置が、データ拡張を前記データについて実行し、
前記装置が、前記イベント特徴量のシーケンスに深層学習モデリングを適用して、前記機器のデータから抽出されたイベント特徴量に基づいて前記機器の故障及びRULを予測するように構成されたモデルを生成し、
前記装置が、前記モデルに対して最適化を実行する、ことを含み、
前記シーケンスを生成することは、
スライディングウィンドウを使用してシーケンスから複数のサブシーケンスを生成することと、
故障からのイベント距離を分類するバケット化を行うことと、を含み、
前記データ拡張は、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのドロップアウト、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのランダムな注入、前記生成されたシーケンスにおける連続的な特徴量におけるランダムな変更、及び前記生成されたシーケンスの近接サブシーケンスの値の入れ替え、を実行することによって、前記データに基づいて追加の意味的に類似したデータサンプルを生成するように構成され、
前記最適化は、前記機器の故障及びRULの予測のために、前記機器から受信したデータから得られるデータを、前記意味的に類似したデータサンプルから得られるデータよりも重く見るように構成され、
前記最適化は、修復コストがより低い故障に比べて修復コストがより高い故障に対してより高い損失を割り当てることにより、修復コストに応じて故障の予測を高くするように構成されている、方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記深層学習モデリングは、学習可能なニューラルネットワークベースのアテンション機構を含み、
前記アテンション機構は、前記イベント特徴量のシーケンス内のイベント特徴量のうちの関連するイベント特徴量を決定し、前記イベント特徴量のうちのより低い関連のイベント特徴量を破棄するように構成される、方法。 - 請求項2に記載の方法であって、前記深層学習モデリングは、マルチヘッドアテンション、Long Short Term Memory及びアンサンブルモデリングのうちの一つである、方法。
- 請求項1に記載の方法であって、さらに、
前記機器から受信したデータに前記モデルを実行し、
前記予測された故障及びRULに基づいて前記機器の動作を制御する、ことをさらに含む方法。 - 機器の故障及び残存耐用時間(RUL)を予測するための処理を計算機に実行させるプログラムであって、
前記処理は、
障害イベントを含む機器から受信したデータについて、前記データ上の特徴量抽出を行って障害イベントに基づくイベント特徴量のシーケンスを生成し、
データ拡張を前記データについて実行し、
前記イベント特徴量のシーケンスに深層学習モデリングを適用して、前記機器のデータから抽出されたイベント特徴量に基づいて前記機器の故障及びRULを予測するように構成されたモデルを生成し、
前記モデルに対して最適化を実行する、ことを含み、
前記シーケンスを生成することは、
スライディングウィンドウを使用してシーケンスから複数のサブシーケンスを生成することと、
故障からのイベント距離を分類するバケット化を行うことと、を含み、
前記データ拡張は、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのドロップアウト、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのランダムな注入、前記生成されたシーケンスにおける連続的な特徴量におけるランダムな変更、及び前記生成されたシーケンスの近接サブシーケンスの値の入れ替え、を実行することによって、前記データに基づいて追加の意味的に類似したデータサンプルを生成するように構成され、
前記最適化は、前記機器の故障及びRULの予測のために、前記機器から受信したデータから得られるデータを、前記意味的に類似したデータサンプルから得られるデータよりも重く見るように構成され、
前記最適化は、修復コストがより低い故障に比べて修復コストがより高い故障に対してより高い損失を割り当てることにより、修復コストに応じて故障の予測を高くするように構成されている、プログラム。 - 請求項5に記載のプログラムであって、
前記深層学習モデリングは、学習可能なニューラルネットワークベースのアテンション機構を含み、
前記アテンション機構は、前記イベント特徴量のシーケンス内のイベント特徴量のうちの関連するイベント特徴量を決定し、前記イベント特徴量のうちのより低い関連のイベント特徴量を破棄するように構成される、プログラム。 - 請求項6に記載のプログラムであって、前記深層学習モデリングは、マルチヘッドアテンション、Long Short Term Memory及びアンサンブルモデリングのうちの一つである、プログラム。
- 請求項5に記載のプログラムであって、
前記処理は、
前記機器から受信したデータに前記モデルを実行し、
前記予測された故障及びRULに基づいて前記機器の動作を制御する、ことをさらに含むプログラム。 - 機器の故障及び残存耐用時間(RUL)を予測する装置であって、
プロセッサを含み、
前記プロセッサは、
障害イベントを含む機器から受信したデータについて、前記データ上の特徴量抽出を行って障害イベントに基づくイベント特徴量のシーケンスを生成し、
データ拡張を前記データについて実行し、
前記イベント特徴量のシーケンスに深層学習モデリングを適用して、前記機器のデータから抽出されたイベント特徴量に基づいて前記機器の故障及びRULを予測するように構成されたモデルを生成し、
前記モデルに対して最適化を実行し、
前記シーケンスを生成することは、
スライディングウィンドウを使用してシーケンスから複数のサブシーケンスを生成することと、
故障からのイベント距離を分類するバケット化を行うことと、を含み、
前記データ拡張は、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのドロップアウト、前記生成されたシーケンス内のサブシーケンスのランダムな注入、前記生成されたシーケンスにおける連続的な特徴量におけるランダムな変更、及び前記生成されたシーケンスの近接サブシーケンスの値の入れ替え、を実行することによって、前記データに基づいて追加の意味的に類似したデータサンプルを生成するように構成され、
前記最適化は、前記機器の故障及びRULの予測のために、前記機器から受信したデータから得られるデータを、前記意味的に類似したデータサンプルから得られるデータよりも重く見るように構成され、
前記最適化は、修復コストがより低い故障に比べて修復コストがより高い故障に対してより高い損失を割り当てることにより、修復コストに応じて故障の予測を高くするように構成されている、装置。 - 請求項9に記載の装置であって、
前記深層学習モデリングは、学習可能なニューラルネットワークベースのアテンション機構を含み、
前記アテンション機構は、前記イベント特徴量のシーケンス内のイベント特徴量のうちの関連するイベント特徴量を決定し、前記イベント特徴量のうちのより低い関連のイベント特徴量を破棄するように構成される、装置。 - 請求項10に記載の装置であって、前記深層学習モデリングは、マルチヘッドアテンション、Long Short Term Memory及びアンサンブルモデリングのうちの一つである、装置。
- 請求項9に記載の装置であって、
前記プロセッサは、
前記機器から受信したデータに前記モデルを実行し、
前記予測された故障及びRULに基づいて前記機器の動作を制御する、装置。
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