JP7257939B2 - 測定装置、及び、制御方法 - Google Patents
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Description
本発明は、測定対象に関する測定結果を算出する測定装置に関する。特に、測定結果を継続して算出する測定装置、及び、当該測定装置の制御方法に関する。
従来、測定対象についての所定の測定結果を連続して継続的に算出する測定装置が知られている。例えば、測定対象の表面の光沢度を継続して算出するユーザが把持して移動可能なポータブル型の光沢計が知られている（特許文献１を参照）。この測定装置では、電源をオン状態にすれば、その後は測定対象の測定結果を自動的に継続して測定できる。
その一方で、例えばポータブル型の光沢計のように、測定結果を継続して算出可能であっても、それを常時算出する必要がない場合も存在する。しかしながら、従来の測定装置は、電源がオン状態である限り測定結果の算出を継続するので、電源オンの状態で長時間放置された場合、測定対象又は測定位置を変更するために電源オンの状態でユーザによって移動された場合など、本来測定を必要としないタイミングにおいても測定結果の算出を継続していた。その結果、従来の測定装置では、不必要に無駄な電力が消費されていた。
本発明の課題は、測定対象に関する測定結果を算出するポータブル型の測定装置において、不必要な電力消費を防止することにある。
以下に、課題を解決するための手段として複数の態様を説明する。これら態様は、必要に応じて任意に組み合せることができる。
本発明の一見地に係る測定装置は、ユーザが把持して移動させることで測定対象を変更可能である。測定装置は、算出部と、電力制御部と、を備える。算出部は、センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて、測定対象に関する測定結果を算出する。電力制御部は、算出部への電力供給を制御する。
電力制御部は、測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には算出部へ供給する電力を維持する一方、測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には算出部へ供給する電力を低減する。
本発明の一見地に係る測定装置は、ユーザが把持して移動させることで測定対象を変更可能である。測定装置は、算出部と、電力制御部と、を備える。算出部は、センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて、測定対象に関する測定結果を算出する。電力制御部は、算出部への電力供給を制御する。
電力制御部は、測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には算出部へ供給する電力を維持する一方、測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には算出部へ供給する電力を低減する。
上記のポータブル型の測定装置では、電力制御部が、算出部にて算出される測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には、算出部へ供給する電力を維持する。その一方で、測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には算出部へ供給する電力を低減している。すなわち、電力制御部は、測定結果が変化している場合には測定対象の変更等がある可能性を考慮して算出部へ供給する電力量を維持する一方、測定結果が所定の時間継続して所定の範囲内であれば、測定結果が不必要に算出されていると判断し、算出部へ供給する電力を低減している。これにより、不必要な測定に対して電力が消費されなくなるので、不必要な電力消費を防止できる。
測定結果は、測定対象の表面の光沢度、測定対象の放射温度、測定対象の水質の指標、測定対象の表面粗さ、のいずれかである。これにより、常時測定を必要としない上記の測定結果の測定装置において、不必要な電力消費を防止できる。
測定装置は、計数部をさらに備える。計数部は、測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が継続する継続時間を計数する。この場合、電力制御部は、継続時間が所定の時間となったときに算出部へ供給する電力を低減する。これにより、不必要な測定に対する電力消費を防止できる。
計数部は、継続時間を計数中に測定結果の変化量が所定の範囲外となったら、継続時間を０とする。これにより、測定結果の変化量が大きい場合に、測定対象又は測定位置の変更等があったと判断して、必要な測定量の測定を実行できる。
測定装置は、操作部をさらに備える。この場合、計数部は、操作部に対して操作がなされたことを検知したら、継続時間を０とする。これにより、操作部により測定装置に対する操作がなされた場合には測定結果の算出が必要とされていると判断して、算出部への電力供給を継続できる。
算出部は所定の周期毎に測定結果を算出する。この場合、測定結果の変化量は、前回算出した測定結果と今回算出した測定結果との差である。これにより、測定結果の変化量を簡単に算出できる。
本発明の他の見地に係る制御方法は、ユーザが把持して移動させることで測定対象を変更可能な測定装置の制御方法である。制御方法は、以下のステップを備える。
◎センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて、測定対象に関する測定結果を算出するステップ。
◎測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には測定装置へ供給する電力を維持するステップ。
◎測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には測定装置へ供給する電力を低減するステップ。
◎センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて、測定対象に関する測定結果を算出するステップ。
◎測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には測定装置へ供給する電力を維持するステップ。
◎測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には測定装置へ供給する電力を低減するステップ。
上記のポータブル型の測定装置の制御方法では、測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には測定装置へ供給する電力を維持する一方、測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には測定装置へ供給する電力を低減している。すなわち、測定結果が変化している場合には測定対象の変更等がある可能性を考慮して供給する電力量を維持する一方、測定結果が所定の時間継続して所定の範囲内であれば、測定結果が不必要に算出されていると判断し供給する電力を低減している。これにより、不必要な測定に対して電力が消費されなくなるので、不必要な電力消費を防止できる。
測定対象に関する測定結果を算出するポータブル型の測定装置において、不必要な測定に対して電力が消費されなくなるので、不必要な電力消費を防止できる。
１．第１実施形態
（１）測定装置の構成
以下、図１及び図２を用いて、第１実施形態に係る測定装置の一例としての光沢計１００を説明する。図１は、光沢計の斜視図である。図２は、光沢計内部の構成を示す図である。光沢計１００は、測定対象の表面（以後、測定対象表面ＳＵと呼ぶ）の光沢度Ｇ（測定結果の一例）を測定する装置である。本実施形態の光沢計１００は、ユーザが把持して移動可能なポータブル型の光沢計であって、検査光Ｌ１（図３）を測定対象表面ＳＵに向けて照射し、検査光Ｌ１が当該表面で反射することで発生する反射光Ｌ２（図３）の強度に基づいて光沢度Ｇを測定する。光沢計１００で測定可能な測定対象としては、例えば、タイル、床、壁、机などの平面を有する物品がある。
（１）測定装置の構成
以下、図１及び図２を用いて、第１実施形態に係る測定装置の一例としての光沢計１００を説明する。図１は、光沢計の斜視図である。図２は、光沢計内部の構成を示す図である。光沢計１００は、測定対象の表面（以後、測定対象表面ＳＵと呼ぶ）の光沢度Ｇ（測定結果の一例）を測定する装置である。本実施形態の光沢計１００は、ユーザが把持して移動可能なポータブル型の光沢計であって、検査光Ｌ１（図３）を測定対象表面ＳＵに向けて照射し、検査光Ｌ１が当該表面で反射することで発生する反射光Ｌ２（図３）の強度に基づいて光沢度Ｇを測定する。光沢計１００で測定可能な測定対象としては、例えば、タイル、床、壁、机などの平面を有する物品がある。
光沢計１００は、筐体１と、測定部２と、表示部３と、制御部４と、バッテリー５と、第１操作部６と、を備える。筐体１は、光沢計１００の本体を構成する。本実施形態において、筐体１は、ユーザが片手で把持できる大きさ及び形状を有している。すなわち、光沢計１００は、ユーザが把持して移動させることで測定対象及び／又は測定位置を変更可能なポータブル型の測定装置である。
測定部２は、筐体１の内部かつ底部Ｂに設けられ、筐体１の底部Ｂと接している測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを算出するためのデータ（反射光Ｌ２の強度）を測定する。筐体１の内部に設けられる。ユーザが筐体１を把持して移動させることで、光沢計１００における測定対象の変更及び同一対象における測定位置の変更が容易となる。
詳細な構成は後述するが、測定部２は、筐体１の底部Ｂと接している測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射し、検査光Ｌ１が測定対象表面ＳＵにて反射することで発生する反射光Ｌ２を検出する。光沢度Ｇは、測定部２により検出された反射光Ｌ２の強度に基づいて算出される。
また、本実施形態において、測定部２は、制御部４により電力供給がされる間、検査光Ｌ１の照射と反射光Ｌ２の検出とを継続する。すなわち、測定部２は、測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇに関連するデータ（反射光Ｌ２の強度）を継続して測定する。
また、本実施形態において、測定部２は、制御部４により電力供給がされる間、検査光Ｌ１の照射と反射光Ｌ２の検出とを継続する。すなわち、測定部２は、測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇに関連するデータ（反射光Ｌ２の強度）を継続して測定する。
表示部３は、筐体１の上面に設けられ、光沢計１００に関する各種情報を表示する。表示部３に表示される情報は、例えば、現在測定中の表面の光沢度Ｇ、バッテリー５の残量、現在時刻、光沢計１００の状態、などである。表示部３は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイなどの薄型の表示装置である。
制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計１００の各構成要素（測定部２、表示部３、第１操作部、第２操作部など）を制御する。また、制御部４は、測定部２にて測定された反射光Ｌ２の強度に基づいて、測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを算出し、表示部３に表示する。
なお、制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
なお、制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
バッテリー５は、光沢計１００を動作させる電力の供給源である。図２に示すように、本実施形態において、バッテリー５は、制御部４を介して、光沢計１００の各構成要素に接続されている。すなわち、光沢計１００の各構成要素への電力供給は、制御部４により制御される。各構成要素への電力供給を制御するための制御部４の構成、及び、制御部４による光沢計１００の制御方法については、後ほど詳しく説明する。
第１操作部６は、筐体１の上面に設けられ、光沢計１００の操作を行うための複数のボタンにより構成される。具体的には、第１操作部６は、光沢計１００の各構成要素への電力供給を開始する電源ボタン６１、光沢計１００の校正を実行するための校正ボタン６２を有する。その他、第１操作部６には、例えば、光沢度Ｇの測定値の保存、消去等を行うボタン、光沢計１００の設定を行うためのボタン、などが設けられてもよい。
第１操作部６は制御部４に接続されており、第１操作部６の複数のボタンのいずれかが押されると、制御部４は、押されたボタンに対応した機能を実行する。
第１操作部６は制御部４に接続されており、第１操作部６の複数のボタンのいずれかが押されると、制御部４は、押されたボタンに対応した機能を実行する。
上記の構成を有する光沢計１００を用いることにより、ユーザは、所望の測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを容易に測定できる。
光沢計１００は、上記の構成以外の他の構成を備えてもよい。具体的には、光沢計１００は、保護カバー７を備えてもよい。保護カバー７は、筐体１の底部Ｂに装着可能な部材である。筐体１の底部Ｂに装着された場合、保護カバー７は、測定部２を外部から隔離し、測定部２の光学系（光照射部２１、光検出部２３）が塵埃により汚れてしまうことを防止すると共に、他の部材により接触して傷つくことを防止できる。
また、保護カバー７の内側であって、筐体１の底部Ｂに装着したときに測定部２と対向する位置には、校正基準板７１が設けられている。校正基準板７１は、あらかじめ決められた基準となる光沢度Ｇを有する板状の部材であり、例えば、板状のホウケイ酸ガラス（例えばＢＫ７、光沢度：９０程度）である。以後、この基準となる光沢度を「基準光沢度Ｇｓ」と呼ぶ。
上記の保護カバー７を筐体１の底部Ｂに装着したとき、測定部２は、校正基準板７１と対向する。すなわち、測定部２は、校正基準板７１に検査光Ｌ１を照射し、検査光Ｌ１が校正基準板７１にて反射されることで発生する反射光Ｌ２を検出できる。
従って、例えば、保護カバー７を筐体１の底部Ｂに装着した状態で測定部２により反射光Ｌ２の強度を測定中に第１操作部６の校正ボタン６２を押し、校正ボタン６２を押したタイミングでの反射光Ｌ２の強度と基準光沢度Ｇｓとを関連付けて記憶部４４（図４）に記憶することで、光沢計１００を校正できる。すなわち、校正基準板７１にて発生した反射光Ｌ２と同じ強度の反射光Ｌ２を測定部２が検出した場合の光沢度Ｇは基準光沢度Ｇｓであるとして、光沢計１００を校正できる。
以後、検査光Ｌ１が校正基準板７１にて反射することにより発生する反射光Ｌ２の強度を「基準強度Ｖｓ」と呼ぶ。
従って、例えば、保護カバー７を筐体１の底部Ｂに装着した状態で測定部２により反射光Ｌ２の強度を測定中に第１操作部６の校正ボタン６２を押し、校正ボタン６２を押したタイミングでの反射光Ｌ２の強度と基準光沢度Ｇｓとを関連付けて記憶部４４（図４）に記憶することで、光沢計１００を校正できる。すなわち、校正基準板７１にて発生した反射光Ｌ２と同じ強度の反射光Ｌ２を測定部２が検出した場合の光沢度Ｇは基準光沢度Ｇｓであるとして、光沢計１００を校正できる。
以後、検査光Ｌ１が校正基準板７１にて反射することにより発生する反射光Ｌ２の強度を「基準強度Ｖｓ」と呼ぶ。
また、光沢計１００は、第２操作部８を備えてもよい。第２操作部８は、筐体１の側面に設けられたボタンであり、第１操作部６を用いて実行できる機能以外の追加機能を制御部４に実行させることができる。例えば、第２操作部８を操作する（ボタンが押される）ことで、現在の光沢度Ｇの測定値を記憶装置に記憶できる。
さらに、光沢計１００は、外部接続端子９を備えてもよい。外部接続端子９は、外部の装置（例えば、コンピュータ）と光沢計１００とを接続するための端子である。外部接続端子９を備えることで、例えば、外部の装置を用いて光沢計１００を制御し、及び／又は、光沢計１００に保存した光沢度Ｇの測定値を外部の装置に転送できる。外部接続端子９は、例えば、ＵＳＢ端子である。
（２）測定部の具体的構成
次に、図３を用いて、測定部２の具体的構成を説明する。図３は、測定部の構成を示す図である。測定部２は、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射したときに生じる反射光Ｌ２を検出する。具体的には、測定部２は、光照射部２１と、光検出部２３と、を有する。
光照射部２１は、筐体１の底部Ｂの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射する。筐体１の底部Ｂの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で固定されているので、光照射部２１は、検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに入射角αにて入射する。
次に、図３を用いて、測定部２の具体的構成を説明する。図３は、測定部の構成を示す図である。測定部２は、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射したときに生じる反射光Ｌ２を検出する。具体的には、測定部２は、光照射部２１と、光検出部２３と、を有する。
光照射部２１は、筐体１の底部Ｂの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射する。筐体１の底部Ｂの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で固定されているので、光照射部２１は、検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに入射角αにて入射する。
光照射部２１は、ある特定の波長若しくはある範囲の波長を有する光（例えば、８００ｎｍ以上の波長を有する近赤外光）を発生させる発光ダイオードと、その光に適切な処理を施す機構（例えば、発光ダイオードから出力した光を平行光に変換して検査光Ｌ１とする平行レンズ）と、により構成される。
光照射部２１が上記の構成を有することで、光照射部２１は、楕円形状（例えば、短径が３ｍｍであり長径が６ｍｍ）の検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに照射できる。すなわち、本実施形態において、光沢度Ｇの測定範囲は、測定対象表面ＳＵのうち検査光Ｌ１が照射される上記楕円形状の範囲である。なお、この楕円形状の大きさ、すなわち光沢度Ｇの測定範囲は、例えば、光照射部２１と筐体１の底部Ｂ（測定対象表面ＳＵ）との間の距離を調整することで調整できる。
光検出部２３（センサの一例）は、筐体１の底部Ｂの法線方向に対して角度βにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、光照射部２１により照射された検査光Ｌ１が測定対象表面ＳＵにて反射されることで発生する反射光Ｌ２（検出値の一例）を検出する。筐体１の底部Ｂの法線方向に角度βにて傾斜した状態で固定されているので、光検出部２３は、測定対象表面ＳＵにおいて反射角βで反射した反射光Ｌ２を主に検出する。
光検出部２３は、上記の光照射部２１から照射された検査光Ｌ１が有する特定の波長若しくは波長範囲を検出可能な光検出器（上記の例であれば、例えば、近赤外光を検出するフォトダイオード）と、反射光Ｌ２に適切な処理を施す機構（例えば、光検出器の受光面に集光させる集光レンズ）と、により構成される。
光検出部２３は、上記の光照射部２１から照射された検査光Ｌ１が有する特定の波長若しくは波長範囲を検出可能な光検出器（上記の例であれば、例えば、近赤外光を検出するフォトダイオード）と、反射光Ｌ２に適切な処理を施す機構（例えば、光検出器の受光面に集光させる集光レンズ）と、により構成される。
なお、光照射部２１が筐体１に固定される角度αと光検出部２３が筐体１に固定される角度βは等しく設定される（例えば、６０°に設定される）。一般的に、入射光（本実施形態では検査光Ｌ１）の入射角と反射光（本実施形態では反射光Ｌ２）の反射角は等しくなるので、上記の角度αと角度βを等しくすることで、検査光Ｌ１の反射により発生した反射光Ｌ２を確実に検出できる。
（３）制御部の構成
（３－１）制御部の機能ブロック構成
次に、図４を用いて、光沢計１００の各構成要素を制御する制御部４の構成（機能ブロック）を説明する。図４は、第１実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。なお、以下に説明する機能ブロックの一部又は全部は、制御部４を構成するコンピュータシステムの記憶装置に記憶されたプログラムを実行することで実現されてもよいし、ハードウェア的に実現されてもよい。
制御部４は、測定制御部４１と、電力供給管理部４２と、電力供給切替部４３と、記憶部４４と、を主に有する。以下、これら機能ブロックの詳細を説明する。
（３－１）制御部の機能ブロック構成
次に、図４を用いて、光沢計１００の各構成要素を制御する制御部４の構成（機能ブロック）を説明する。図４は、第１実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。なお、以下に説明する機能ブロックの一部又は全部は、制御部４を構成するコンピュータシステムの記憶装置に記憶されたプログラムを実行することで実現されてもよいし、ハードウェア的に実現されてもよい。
制御部４は、測定制御部４１と、電力供給管理部４２と、電力供給切替部４３と、記憶部４４と、を主に有する。以下、これら機能ブロックの詳細を説明する。
（３－２）測定制御部の詳細構成
測定制御部４１は、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。図４に示すように、測定制御部４１は、電力供給切替部４３を介して、バッテリー５と接続されている。すなわち、測定制御部４１は、電力供給切替部４３がオン状態であり、バッテリー５から電力供給を受けているときに動作する。
また、測定制御部４１は、第１操作部６からの操作を入力可能となっており、第１操作部６において行われた操作に従って、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。さらに、光沢計１００が第２操作部８を備える場合には、測定制御部４１は、第２操作部８において行われた操作に従って、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。
測定制御部４１は、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。図４に示すように、測定制御部４１は、電力供給切替部４３を介して、バッテリー５と接続されている。すなわち、測定制御部４１は、電力供給切替部４３がオン状態であり、バッテリー５から電力供給を受けているときに動作する。
また、測定制御部４１は、第１操作部６からの操作を入力可能となっており、第１操作部６において行われた操作に従って、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。さらに、光沢計１００が第２操作部８を備える場合には、測定制御部４１は、第２操作部８において行われた操作に従って、光沢度Ｇの測定に関連する制御を実行する。
測定制御部４１は、具体的には、照射制御部４１１と、光沢度算出部４１２と、表示制御部４１３と、を機能ブロックとして有する。
照射制御部４１１は、バッテリー５から電力供給を受けている間、光照射部２１を制御することで検査光Ｌ１の発光を制御する。本実施形態では、照射制御部４１１は、バッテリー５から電力供給を受けている間、光照射部２１に対してパルス状の駆動電力を継続的に出力して、光照射部２１から間欠的かつ継続的に検査光Ｌ１を発光させる。照射制御部４１１は、例えば、デューティー比が１／２０（例えば、周期が１ｍｓｅｃ、駆動電力出力時間が５０μｓｅｃ）のパルス状の駆動電力を出力する。これにより、光照射部２１は、例えば、１ｍｓｅｃ周期で間欠的かつ継続的に、１周期あたり５０μｓｅｃの長さで検査光Ｌ１を発光できる。
照射制御部４１１は、バッテリー５から電力供給を受けている間、光照射部２１を制御することで検査光Ｌ１の発光を制御する。本実施形態では、照射制御部４１１は、バッテリー５から電力供給を受けている間、光照射部２１に対してパルス状の駆動電力を継続的に出力して、光照射部２１から間欠的かつ継続的に検査光Ｌ１を発光させる。照射制御部４１１は、例えば、デューティー比が１／２０（例えば、周期が１ｍｓｅｃ、駆動電力出力時間が５０μｓｅｃ）のパルス状の駆動電力を出力する。これにより、光照射部２１は、例えば、１ｍｓｅｃ周期で間欠的かつ継続的に、１周期あたり５０μｓｅｃの長さで検査光Ｌ１を発光できる。
光沢度算出部４１２は、バッテリー５から電力供給を受けている間、反射光Ｌ２を検出することで光検出部２３から出力された信号から反射光Ｌ２の強度を取得し、反射光Ｌ２の強度に基づいて測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを算出する。なお、光検出部２３から光沢度算出部４１２に入力される信号は、予め増幅器などによって増幅されてもよい。
具体的には、基準強度をＶｓ、基準光沢度をＧｓ、測定された反射光Ｌ２の強度をＶとした場合、光沢度算出部４１２は、測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを、Ｇ＝Ｇｓ＊（Ｖ／Ｖｓ）との式により算出する。なお、基準光沢度Ｇｓと基準強度Ｖｓは、光沢度Ｇの実際の測定時までには、予め取得され記憶部４４に記憶されている。
具体的には、基準強度をＶｓ、基準光沢度をＧｓ、測定された反射光Ｌ２の強度をＶとした場合、光沢度算出部４１２は、測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを、Ｇ＝Ｇｓ＊（Ｖ／Ｖｓ）との式により算出する。なお、基準光沢度Ｇｓと基準強度Ｖｓは、光沢度Ｇの実際の測定時までには、予め取得され記憶部４４に記憶されている。
光沢度算出部４１２は、バッテリー５から電力供給を受けている間、光検出部２３から出力された信号を周期的に取得し、光検出部２３から信号を取得する毎に上記の式を用いて光沢度Ｇを算出する。これにより、光沢度算出部４１２は、バッテリー５から電力供給を受けている間、継続的に光沢度Ｇを算出できる。
表示制御部４１３は、バッテリー５から電力供給を受けている間、表示部３を制御して、表示部３に光沢計１００に関する各種情報を表示させる。具体的には、表示制御部４１３は、光沢度算出部４１２にて算出された光沢度Ｇを取得し、これを表示部３に表示させる。
その他、表示制御部４１３は、バッテリー５の残量を確認し当該残量を表示部３に表示させる。さらに、表示制御部４１３は、現在時刻、光沢計１００の状態に関する情報を表示部３に表示させる。なお、現在時刻は、制御部４を構成するコンピュータシステムの時計機能から取得できる。
その他、表示制御部４１３は、バッテリー５の残量を確認し当該残量を表示部３に表示させる。さらに、表示制御部４１３は、現在時刻、光沢計１００の状態に関する情報を表示部３に表示させる。なお、現在時刻は、制御部４を構成するコンピュータシステムの時計機能から取得できる。
（３－３）電力供給管理部の詳細構成
電力供給管理部４２は、電力供給切替部４３を制御して、測定制御部４１への電力の供給及び停止を管理する。図４に示すように、電力供給管理部４２は、常時バッテリー５から電力の供給を受けて常に動作している。電力供給管理部４２は、具体的には、計数部４２１と、電力制御部４２２と、を機能ブロックとして有する。
電力供給管理部４２は、電力供給切替部４３を制御して、測定制御部４１への電力の供給及び停止を管理する。図４に示すように、電力供給管理部４２は、常時バッテリー５から電力の供給を受けて常に動作している。電力供給管理部４２は、具体的には、計数部４２１と、電力制御部４２２と、を機能ブロックとして有する。
計数部４２１は、測定制御部４１が動作中に、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内である状態が継続している継続時間Ｔを計数する。また、計数部４２１は、第１操作部６の操作がなされたか否かを監視し、継続時間Ｔを計数中に第１操作部６に対して操作がなされたことを検知したら、継続時間Ｔの計数を停止して、継続時間Ｔを０にリセットする。
電力制御部４２２は、電力供給切替部４３を制御して、測定制御部４１への電力の供給量を制御する。本実施形態において、電力制御部４２２は、計数部４２１にて計数された継続時間Ｔの値に基づいて、測定制御部４１への電力の供給量を決定する。
具体的には、電力制御部４２２は、測定制御部４１が動作中に継続時間Ｔが所定の時間（例えば、１０分）となったら、電力供給切替部４３をオン状態からオフ状態に切り替えて、測定制御部４１への電力供給を停止する。すなわち、電力制御部４２２は、光沢度Ｇの値の変化量が所定の時間継続して所定の範囲内にあれば、測定制御部４１（すなわち、測定部２）への電力供給を停止する。
具体的には、電力制御部４２２は、測定制御部４１が動作中に継続時間Ｔが所定の時間（例えば、１０分）となったら、電力供給切替部４３をオン状態からオフ状態に切り替えて、測定制御部４１への電力供給を停止する。すなわち、電力制御部４２２は、光沢度Ｇの値の変化量が所定の時間継続して所定の範囲内にあれば、測定制御部４１（すなわち、測定部２）への電力供給を停止する。
また、電力供給切替部４３がオフ状態であり測定制御部４１への電力供給が停止されている間、電力制御部４２２は、第１操作部６の電源ボタン６１が押されたか否かを監視し、電源ボタン６１が押されたことを検知したら、電力供給切替部４３をオン状態にして測定制御部４１への電力供給を開始する。
また、上記とは逆に、電力供給切替部４３がオン状態であり測定制御部４１への電力供給がなされている間も、電力供給管理部４２は、第１操作部６の電源ボタン６１が押されたか否かを監視する。電力制御部４２２は、測定制御部４１への電力供給がなされている間に電源ボタン６１が押されたことを検知したら、電力供給切替部４３をオフ状態にして測定制御部４１への電力供給を停止する。
このようにして、第１操作部６の電源ボタン６１の操作により、測定制御部４１への電力供給の開始と停止、つまり、光沢計１００への電源供給の開始と停止を切り替えることができる。
（３－４）電力供給切替部の構成
電力供給切替部４３は、測定制御部４１への電力の供給、停止を切り替える。図４に示すように、電力供給切替部４３の機能は、一端がバッテリー５に接続され、他端が測定制御部４１に接続され、これら二端子間のオン状態とオフ状態が電力制御部４２２からの信号により切り替えることが可能な二端子スイッチとして表すことができる。
この二端子スイッチで表される電力供給切替部４３がオン状態であることは、測定制御部４１に電力供給がなされていることを意味する。その一方、電力供給切替部４３がオフ状態であることは、測定制御部４１への電力供給が停止していることを意味する。
電力供給切替部４３は、測定制御部４１への電力の供給、停止を切り替える。図４に示すように、電力供給切替部４３の機能は、一端がバッテリー５に接続され、他端が測定制御部４１に接続され、これら二端子間のオン状態とオフ状態が電力制御部４２２からの信号により切り替えることが可能な二端子スイッチとして表すことができる。
この二端子スイッチで表される電力供給切替部４３がオン状態であることは、測定制御部４１に電力供給がなされていることを意味する。その一方、電力供給切替部４３がオフ状態であることは、測定制御部４１への電力供給が停止していることを意味する。
電力供給切替部４３は、例えば、リレー、スイッチング素子などによりハードウェアとして実現できる。その他、電力供給切替部４３の上記機能は、ソフトウェアとして実現されていてもよい。
（３－５）記憶部の構成
記憶部４４は、制御部４を構成するコンピュータシステムに備わる記憶装置の記憶領域の一部であり、光沢計１００で用いる各種設定等を記憶する。具体的には、記憶部４４は、上記の基準強度Ｖｓと基準光沢度Ｇｓとを関連付けて記憶する。その他、光沢計１００に関する設定情報、光沢度算出部４１２にて算出された光沢度Ｇなどを記憶する。
なお、記憶部４４（記憶装置）には、例えば、記憶部４４に記憶された情報の維持などの目的で、常時又は定期的にバッテリー５から電力が供給される。
記憶部４４は、制御部４を構成するコンピュータシステムに備わる記憶装置の記憶領域の一部であり、光沢計１００で用いる各種設定等を記憶する。具体的には、記憶部４４は、上記の基準強度Ｖｓと基準光沢度Ｇｓとを関連付けて記憶する。その他、光沢計１００に関する設定情報、光沢度算出部４１２にて算出された光沢度Ｇなどを記憶する。
なお、記憶部４４（記憶装置）には、例えば、記憶部４４に記憶された情報の維持などの目的で、常時又は定期的にバッテリー５から電力が供給される。
（３－６）その他の構成
制御部４は、上記の機能ブロック以外にも、必要に応じて他の機能ブロックを有してもよい。例えば、光沢計１００の外部接続端子９が備わる場合には、制御部４は、外部接続端子制御部４５を有してもよい。外部接続端子制御部４５は、外部接続端子９に接続された他の装置との通信を制御して、当該他の装置と光沢計１００との間で各種情報の送受信をおこなう。
制御部４は、上記の機能ブロック以外にも、必要に応じて他の機能ブロックを有してもよい。例えば、光沢計１００の外部接続端子９が備わる場合には、制御部４は、外部接続端子制御部４５を有してもよい。外部接続端子制御部４５は、外部接続端子９に接続された他の装置との通信を制御して、当該他の装置と光沢計１００との間で各種情報の送受信をおこなう。
（３－７）変形例
上記にて説明した電力制御部４２２は、測定制御部４１への電力の供給と停止のみの制御を行っていた。しかし、これに限られず、電力制御部４２２は、測定制御部４１への電力供給量を０（電力供給停止）と１００％（全電力供給）の間で調整してもよい。この場合、電力供給切替部４３は、例えば、外部からの信号に基づいて測定制御部４１に出力する電力を調整する電力制御回路などにより構成される。
具体的には、変形例における電力制御部４２２は、測定制御部４１が動作中に継続時間Ｔが所定の時間となったら、電力供給切替部４３に対して、測定制御部４１に供給する電力を通常の電力よりも低下させるよう指令する。例えば、通常時の３０％まで電力を低減するよう指令できる。
上記にて説明した電力制御部４２２は、測定制御部４１への電力の供給と停止のみの制御を行っていた。しかし、これに限られず、電力制御部４２２は、測定制御部４１への電力供給量を０（電力供給停止）と１００％（全電力供給）の間で調整してもよい。この場合、電力供給切替部４３は、例えば、外部からの信号に基づいて測定制御部４１に出力する電力を調整する電力制御回路などにより構成される。
具体的には、変形例における電力制御部４２２は、測定制御部４１が動作中に継続時間Ｔが所定の時間となったら、電力供給切替部４３に対して、測定制御部４１に供給する電力を通常の電力よりも低下させるよう指令する。例えば、通常時の３０％まで電力を低減するよう指令できる。
このように、測定制御部４１が動作中に継続時間Ｔが所定の時間となった場合に供給する電力量を低減することによっても、不必要な測定に対して無駄な電力消費が発生することを防止できる。また、不必要な測定においても低減させた電力の供給を継続することにより、例えば、必要な測定が実行されていると判断されて測定制御部４１の動作を開始する際の立ち上がり時間を短縮できる。
（４）光沢計による測定動作
以下、上記の構成を有する光沢計１００の動作を説明する。具体的には、図５を用いて、光沢計１００による光沢度Ｇの測定動作を説明する。図５は、第１実施形態に係る光沢計による光沢度の測定動作を示すフローチャートである。
光沢度Ｇの測定を開始する前に、光沢計１００を測定対象表面ＳＵに設置する（すなわち、筐体１の底部Ｂを測定対象表面ＳＵに接触させる）。その後、ユーザにより第１操作部６の電源ボタン６１が押されると、電力制御部４２２が、ステップＳ１において、電力供給切替部４３をオン状態にして、測定制御部４１への電力供給を開始する。
以下、上記の構成を有する光沢計１００の動作を説明する。具体的には、図５を用いて、光沢計１００による光沢度Ｇの測定動作を説明する。図５は、第１実施形態に係る光沢計による光沢度の測定動作を示すフローチャートである。
光沢度Ｇの測定を開始する前に、光沢計１００を測定対象表面ＳＵに設置する（すなわち、筐体１の底部Ｂを測定対象表面ＳＵに接触させる）。その後、ユーザにより第１操作部６の電源ボタン６１が押されると、電力制御部４２２が、ステップＳ１において、電力供給切替部４３をオン状態にして、測定制御部４１への電力供給を開始する。
測定制御部４１への電力供給が開始されると、ステップＳ２において、測定制御部４１が動作を開始し、光沢度Ｇの測定を開始する。具体的には、測定部２の光照射部２１が測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射し、光検出部２３が、測定対象表面ＳＵにおいて検査光Ｌ１が反射することで発生する反射光Ｌ２を検出する。
その後、光沢度算出部４１２が、光検出部２３から入力した信号に基づいて反射光Ｌ２の強度を算出し、算出した反射光Ｌ２の強度に基づいて上記で説明した式を用いて光沢度Ｇを算出する。
その後、光沢度算出部４１２が、光検出部２３から入力した信号に基づいて反射光Ｌ２の強度を算出し、算出した反射光Ｌ２の強度に基づいて上記で説明した式を用いて光沢度Ｇを算出する。
光沢度算出部４１２が光沢度Ｇを算出すると、ステップＳ３において、計数部４２１が、光沢度算出部４１２により算出された光沢度Ｇを取得する。なお、光沢度Ｇの測定中、計数部４２１は、所定の周期ｔｐ毎に光沢度Ｇを取得する。この所定の周期ｔｐは、例えば、０．５ｓｅｃと設定できる。
その後、計数部４２１は、ステップＳ４において、前回算出した光沢度Ｇの値に対する今回算出した光沢度Ｇの値の変化量を算出する。具体的には、計数部４２１は、今回算出した光沢度Ｇの値（今回測定部２にて取得した反射光Ｌ２の強度に基づいて算出された光沢度Ｇ）と、前回算出した光沢度Ｇの値（前回測定部２にて取得した反射光Ｌ２の強度に基づいて算出された光沢度Ｇ）との差を算出する。
次に、計数部４２１は、ステップＳ５において、上記の変化量が所定の範囲内にあるか否かを判断する。具体的には、計数部４２１は、今回算出した光沢度Ｇの値と前回算出した光沢度Ｇの値との差が、所定の範囲内の値となっているか否かを判断する。上記の所定の範囲は、例えば、－０．５以上、かつ、＋０．５以下の範囲とできる。この所定の範囲は、光沢計１００による光沢度Ｇの測定の安定性などを考慮して任意の範囲とできる。
上記の変化量が所定の範囲内にある場合（ステップＳ５で「Ｙｅｓ」）、すなわち、光沢度Ｇの変化量が小さい場合、計数部４２１は、ステップＳ６において、継続時間Ｔの計数を継続する。具体的には、これまでに計数された継続時間Ｔに、上記の所定の周期ｔｐを加算する。このように、本実施形態では、継続時間Ｔは、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内であると判断された回数ｎを用いて、ｎ＊ｔｐと表される。すなわち、継続時間Ｔは、光沢度Ｇを取得する周期である所定の周期ｔｐの倍数として算出される。
同一の測定対象表面ＳＵ又は同一の測定位置において光沢度Ｇの測定を継続すると、光沢度Ｇの変化量が小さい状態が継続するので、ステップＳ６の処理を実行することにより、同一の測定対象表面ＳＵ又は同一の測定位置において光沢度Ｇの測定を継続している時間を継続時間Ｔとして算出できる。
一方、上記の変化量が所定の範囲外にある場合（ステップＳ５で「Ｎｏ」）、すなわち、光沢度Ｇの変化量が大きい場合、ステップＳ７に進み、計数部４２１は、継続時間Ｔの計数を停止し、これまで計数した継続時間Ｔを０にする。つまり、計数部４２１は、光沢度Ｇの変化量が過大である場合には、継続時間Ｔの計数を最初からやり直す。光沢度Ｇの変化量が所定値よりも大きい場合、ユーザが光沢計１００を移動させて、測定対象表面ＳＵ又は測定位置を変更していることが考えられる。そのため、計数部４２１は、継続時間Ｔの計数をリセットして、測定制御部４１へ供給する電力を維持する。
上記のステップＳ６又はステップＳ７が実行された後、ステップＳ８において、電力制御部４２２は、計数部４２１が計数した継続時間Ｔが所定の時間となったか否かを判断する。上記の所定の時間は、例えば、１０分である。しかし、これに限られず、この所定の時間は、光沢度の測定が安定後のどのタイミングで電力供給を停止するかなどの基準に基づいて、任意の時間とできる。
継続時間Ｔが所定の時間となっている場合（ステップＳ８で「Ｙｅｓ」）、すなわち、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合、電力制御部４２２は、ステップＳ９において、電力供給切替部４３をオン状態からオフ状態に切り替えて、測定制御部４１への電力供給を停止する。その結果、測定制御部４１が動作を停止し、光沢度Ｇの測定、表示部３における情報の表示が停止する。これにより、光沢計１００は、同一の測定対象表面ＳＵ又は同一の測定位置での測定が不必要に長時間実行されることを防止できる。
なお、電力制御部４２２及び電力供給切替部４３が測定制御部４１への電力供給量を調節する実施例の場合には、上記ステップＳ９において、電力制御部４２２は、電力供給切替部４３に対して、測定制御部４１へ供給する電力を通常時より低減するよう指令する。
その一方、継続時間Ｔが所定の時間となっていない場合（ステップＳ８で「Ｎｏ」）、ステップＳ１に戻り、上記のステップＳ１～Ｓ８が再度実行される。具体的には、電力制御部４２２が、電力供給切替部４３をオン状態に維持し、測定制御部４１への電力供給を継続する。その結果、測定制御部４１が動作を継続し、光沢度Ｇの測定、表示部３における情報の表示が継続する。
なお、上記のステップＳ１～Ｓ９を実行中（光沢度Ｇの測定中）、計数部４２１は、第１操作部６に対して操作がなされたか否かを監視し、光沢度Ｇの測定中に第１操作部６に対して操作がなされたことを検知した場合、これまでに計数した継続時間Ｔを０にする。
なお、計数部４２１によるこの監視動作は、光沢度Ｇの測定とは別のプロセスにより実行される。そのため、第１操作部６に対して操作がなされることによる継続時間Ｔのリセットは、上記のステップＳ１～Ｓ９のいずれのタイミングでも実行されうる。
なお、計数部４２１によるこの監視動作は、光沢度Ｇの測定とは別のプロセスにより実行される。そのため、第１操作部６に対して操作がなされることによる継続時間Ｔのリセットは、上記のステップＳ１～Ｓ９のいずれのタイミングでも実行されうる。
（５）まとめ
上記にて説明した第１実施形態に係る光沢計１００の作用効果は、以下のようにまとめることができる。
まず、第１実施形態に係る光沢計１００では、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合に、電力制御部４２２が、測定制御部４１（すなわち、測定部２）への電力の供給量を低減している。
光沢度Ｇの変化量所定の範囲内である状態が所定の時間継続することは、例えば、光沢計１００が長時間同一の場所に放置された結果、同一の測定対象の同一の測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇが長時間継続して測定されていることを意味している。一般的に、同一の測定対象の同一の測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを所定の時間（例えば、光沢度Ｇを記録するために必要な時間）を超えて測定することは不必要である。
上記にて説明した第１実施形態に係る光沢計１００の作用効果は、以下のようにまとめることができる。
まず、第１実施形態に係る光沢計１００では、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合に、電力制御部４２２が、測定制御部４１（すなわち、測定部２）への電力の供給量を低減している。
光沢度Ｇの変化量所定の範囲内である状態が所定の時間継続することは、例えば、光沢計１００が長時間同一の場所に放置された結果、同一の測定対象の同一の測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇが長時間継続して測定されていることを意味している。一般的に、同一の測定対象の同一の測定対象表面ＳＵの光沢度Ｇを所定の時間（例えば、光沢度Ｇを記録するために必要な時間）を超えて測定することは不必要である。
従って、上記のように、光沢度Ｇの変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合に電力制御部４２２が測定部２への電力供給を停止することで、不必要な光沢度Ｇの測定に対して電力が消費されなくなる。その結果、第１実施形態に係る光沢計１００においては、電力が不必要に消費されることを回避できる。
その一方で、図５のフローチャートを用いて説明したように、継続時間Ｔが所定の時間となっていない場合には、上記のステップＳ１～Ｓ８が再度継続して実行される。すなわち、光沢度Ｇの測定が継続して実行される。
継続時間Ｔが所定の時間となっていないことは、光沢度Ｇの大きな変化があってから長時間が経過していないことを意味している。さらに、光沢度Ｇの大きな変化があってから長時間が経過していないことは、例えば、光沢計１００の測定部２が移動されることにより、測定対象の変更があったか、又は、同一の測定対象において光沢度Ｇの測定位置の変更があってから長時間が経過していないことを意味している。
継続時間Ｔが所定の時間となっていないことは、光沢度Ｇの大きな変化があってから長時間が経過していないことを意味している。さらに、光沢度Ｇの大きな変化があってから長時間が経過していないことは、例えば、光沢計１００の測定部２が移動されることにより、測定対象の変更があったか、又は、同一の測定対象において光沢度Ｇの測定位置の変更があってから長時間が経過していないことを意味している。
従って、光沢度Ｇの変化が所定の範囲内である状態が所定の時間継続していない場合、すなわち、測定対象の変更があったか、又は、同一の測定対象において光沢度Ｇの測定位置の変更があってから長時間が経過していない場合に、電力制御部４２２が測定部２への電力供給を継続することで、特定の測定対象又は特定の測定位置について所定の時間だけ継続して連続的に光沢度Ｇを測定できる。
また、第１実施形態に係る光沢計１００では、計数部４２１が、第１操作部６に対して操作がなされたことを検知したら、継続時間Ｔを０にしている。これにより、第１操作部６により光沢計１００に対する操作がなされた場合には光沢度Ｇの測定が必要とされていると判断して、光沢計１００への電力供給を継続できる。
２．第２実施形態
（１）第２実施形態に係る光沢計の構成
以下、第２実施形態に係る光沢計２００を説明する。
第１実施形態においても説明したように、測定対象表面ＳＵの光沢度は、測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射することで発生する反射光Ｌ２を光検出部２３が検出し、光検出部２３から入力した信号に基づいて算出された光（反射光Ｌ２に対応）の強度に基づいて測定される。
このような構成において、例えば、光検出部２３が反射光Ｌ２以外の光を検出した場合には、光検出部２３は反射光Ｌ２の実際の強度よりも大きい強度の光を検出したことを示す信号を出力する。その結果、当該強度に基づいて算出された光沢度は、測定対象表面ＳＵの実際の光沢度とは異なる値となる。
（１）第２実施形態に係る光沢計の構成
以下、第２実施形態に係る光沢計２００を説明する。
第１実施形態においても説明したように、測定対象表面ＳＵの光沢度は、測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射することで発生する反射光Ｌ２を光検出部２３が検出し、光検出部２３から入力した信号に基づいて算出された光（反射光Ｌ２に対応）の強度に基づいて測定される。
このような構成において、例えば、光検出部２３が反射光Ｌ２以外の光を検出した場合には、光検出部２３は反射光Ｌ２の実際の強度よりも大きい強度の光を検出したことを示す信号を出力する。その結果、当該強度に基づいて算出された光沢度は、測定対象表面ＳＵの実際の光沢度とは異なる値となる。
第１実施形態において説明したのと同じような構成を有する光沢計において、光検出部２３が反射光Ｌ２の実際の強度よりも大きい強度の光を検出する場合としては、例えば、筐体１の底部Ｂが測定対象表面ＳＵに適切に接触していないために、反射光Ｌ２以外の光（迷光）が測定部２に進入する場合がある。
従って、第２実施形態に係る光沢計２００は、筐体１の底部と測定対象表面ＳＵとが適切に接触しており、迷光が進入しない状態となっているか否かを検出する接触検出部１１、１１'を備える。
なお、第２実施形態に係る光沢計２００は、筐体１の底部Ｂに接触検出部１１、１１'が設けられること以外、第１実施形態に係る光沢計１００と同様の構成を有する。従って、第１実施形態と同じ構成を有する筐体１、測定部２、表示部３、バッテリー５、第１操作部６、保護カバー７、第２操作部８、外部接続端子９の説明は省略する。また、第２実施形態に係る光沢計２００は、光沢計２００を制御する制御部４'を備える。制御部４'の具体的構成については、後ほど説明する。
なお、第２実施形態に係る光沢計２００は、筐体１の底部Ｂに接触検出部１１、１１'が設けられること以外、第１実施形態に係る光沢計１００と同様の構成を有する。従って、第１実施形態と同じ構成を有する筐体１、測定部２、表示部３、バッテリー５、第１操作部６、保護カバー７、第２操作部８、外部接続端子９の説明は省略する。また、第２実施形態に係る光沢計２００は、光沢計２００を制御する制御部４'を備える。制御部４'の具体的構成については、後ほど説明する。
接触検出部１１は、例えば、図６Ａ及び図６Ｂに示すように、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触して迷光が進入しないときにオン状態となる押ボタンスイッチである。具体的には、押ボタンスイッチである接触検出部１１は、例えば、図６Ｂに示すように、筐体１が測定対象表面ＳＵに載置された際に光沢計１００の自重により押される押ボタンスイッチである。図６Ａは、押ボタンスイッチである接触検出部がオフ状態である測定装置の一例を示す図である。図６Ｂは、押ボタンスイッチである接触検出部がオン状態である測定装置の一例を示す図である。
その他、図６Ｃに示すように、接触検出部１１'は、測定部２において光検出部２３とは別に設けられた（すなわち、光検出部２３とは別個である）、迷光の強度を検出するフォトダイオードなどの光検出素子であってもよい。この場合、光検出素子である接触検出部１１'において所定の強度以上の迷光が検出されていない（所定の強度以上の光の検出がない）ときに、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しており迷光が進入していないと判断できる。
図６Ｃは、測定部の光検出部とは別個の光検出素子である接触検出部を備える測定装置の一例を示す図である。
図６Ｃは、測定部の光検出部とは別個の光検出素子である接触検出部を備える測定装置の一例を示す図である。
なお、第２実施形態においては、測定部２の両端に１つずつ合計２つの接触検出部１１、１１'が設けられているが、筐体１の底部Ｂにおける接触検出部１１、１１'の設置数及び／又は設置位置は、測定部２に迷光が進入していないことを検知できる限り任意とできる。
例えば、筐体１の底部Ｂにおいて、測定部２の四隅に対応する位置に１つずつ合計４つの接触検出部１１、１１'を設けてもよい。
例えば、筐体１の底部Ｂにおいて、測定部２の四隅に対応する位置に１つずつ合計４つの接触検出部１１、１１'を設けてもよい。
（２）第２実施形態に係る制御部の構成
以下、図７を用いて、第２実施形態に係る光沢計２００に備わる制御部４'の具体的構成を説明する。図７は、第２実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４'は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計２００の各構成要素を制御する。制御部４'は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
以下、図７を用いて、第２実施形態に係る光沢計２００に備わる制御部４'の具体的構成を説明する。図７は、第２実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４'は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計２００の各構成要素を制御する。制御部４'は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
制御部４'は、具体的には、測定制御部４１と、記憶部４４と、外部接続端子制御部４５と、接触検出通知部４６と、を有する。なお、これら機能ブロックの一部又は全部は、制御部４'を構成するコンピュータシステムの記憶装置に記憶されたプログラムを実行することで実現されてもよいし、ハードウェア的に実現されてもよい。
第２実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
第２実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
接触検出通知部４６は、接触検出部１１、１１'が筐体１の底部Ｂ（すなわち、測定部２）と測定対象表面ＳＵとが適切に接触しているか否かの検出結果を、測定制御部４１に通知する。
例えば、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しているとの検出結果を接触検出通知部４６から通知された場合、測定制御部４１の表示制御部４１３が、適切な光沢度の測定が実行されている旨を表示部３に表示する。
これにより、光沢計２００のユーザは、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しており、適切な光沢度の測定が行われることを視覚的に認識できる。
例えば、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しているとの検出結果を接触検出通知部４６から通知された場合、測定制御部４１の表示制御部４１３が、適切な光沢度の測定が実行されている旨を表示部３に表示する。
これにより、光沢計２００のユーザは、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しており、適切な光沢度の測定が行われることを視覚的に認識できる。
その他、例えば、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触していないとの検出結果を接触検出通知部４６から通知された場合に、測定制御部４１の表示制御部４１３が、表示部３にエラー表示をさせてもよい。
これにより、光沢計２００のユーザは、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しておらず、適切な光沢度の測定ができないことを視覚的に認識できる。
これにより、光沢計２００のユーザは、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触しておらず、適切な光沢度の測定ができないことを視覚的に認識できる。
さらに、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触していないとの検出結果が通知された場合に、光沢度算出部４１２が光沢度の算出を停止するか、又は、照射制御部４１１が光照射部２１に検査光Ｌ１の照射を停止させてもよい。
これにより、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触していないときに、無駄な光沢度の測定が実行されることを防止できる。
これにより、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとが適切に接触していないときに、無駄な光沢度の測定が実行されることを防止できる。
（３）付記
第２実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
筐体と、
前記筐体に設けられ、前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記測定部を制御するとともに、前記反射光の強度に基づいて前記光沢度を算出する測定制御部と、
前記筐体と前記測定対象とが接触しているか否かを検出する接触検出部と、
前記筐体と前記測定対象とが接触しているか否かの検出結果を前記測定制御部に通知する接触通知部と、
を備える測定装置。
第２実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
筐体と、
前記筐体に設けられ、前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記測定部を制御するとともに、前記反射光の強度に基づいて前記光沢度を算出する測定制御部と、
前記筐体と前記測定対象とが接触しているか否かを検出する接触検出部と、
前記筐体と前記測定対象とが接触しているか否かの検出結果を前記測定制御部に通知する接触通知部と、
を備える測定装置。
３．第３実施形態
（１）第３実施形態に係る光沢計の構成
以下、第３実施形態に係る光沢計３００を説明する。
すでに説明したように、測定対象表面ＳＵの光沢度は、測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射することで発生する反射光Ｌ２を光検出部２３が検出し、光検出部２３から入力した信号に基づいて算出された反射光Ｌ２の強度に基づいて測定される。
反射光Ｌ２の強度に基づいて光沢度を測定する従来の光沢計においては、測定対象表面ＳＵが水平面であり、測定対象表面ＳＵで発生した全ての反射光Ｌ２が光検出部２３で検出されることを前提に光沢度が算出されていた。
（１）第３実施形態に係る光沢計の構成
以下、第３実施形態に係る光沢計３００を説明する。
すでに説明したように、測定対象表面ＳＵの光沢度は、測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射することで発生する反射光Ｌ２を光検出部２３が検出し、光検出部２３から入力した信号に基づいて算出された反射光Ｌ２の強度に基づいて測定される。
反射光Ｌ２の強度に基づいて光沢度を測定する従来の光沢計においては、測定対象表面ＳＵが水平面であり、測定対象表面ＳＵで発生した全ての反射光Ｌ２が光検出部２３で検出されることを前提に光沢度が算出されていた。
従って、従来の光沢計により曲面である測定対象表面ＳＵの光沢度を測定した場合には、実際の光沢度とは異なる測定結果が得られることになる。なぜなら、測定対象表面ＳＵが曲面である場合、測定対象表面ＳＵの位置によっては検査光Ｌ１の入射角が予め設定した入射角（入射角α（例えば、６０°））とは異なることになるので、反射光Ｌ２の一部が光検出部２３の方向へ伝搬せず、光検出部２３により検出されなくなるからである。
また、一般的には、測定対象表面ＳＵの曲率は不明であるので、測定対象表面ＳＵからどの程度の反射光Ｌ２が光検出部２３に受光されたかについての情報を得ることができない。
また、一般的には、測定対象表面ＳＵの曲率は不明であるので、測定対象表面ＳＵからどの程度の反射光Ｌ２が光検出部２３に受光されたかについての情報を得ることができない。
第３実施形態に係る光沢計３００は、図８に示すように、筐体１の底部Ｂに、測定対象表面ＳＵの曲率を測定するための曲率測定部１３を備えている。図８は、第３実施形態に係る光沢計の構成を示す図である。
測定対象表面ＳＵの曲率を算出できれば、後述するように、当該曲率に基づいて、光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２と受光されない反射光Ｌ２との割合を算出できる。また、当該割合と実際に測定した反射光Ｌ２の強度とに基づいて、測定対象表面ＳＵが曲面であっても、正確に光沢度を算出できる。
測定対象表面ＳＵの曲率を算出できれば、後述するように、当該曲率に基づいて、光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２と受光されない反射光Ｌ２との割合を算出できる。また、当該割合と実際に測定した反射光Ｌ２の強度とに基づいて、測定対象表面ＳＵが曲面であっても、正確に光沢度を算出できる。
なお、第３実施形態に係る光沢計３００は、筐体１の底部Ｂに曲率測定部１３が設けられること以外、第１実施形態及び第２実施形態に係る光沢計１００、２００と同様の構成を有する。従って、第１実施形態及び第２実施形態と同じ構成を有する筐体１、測定部２、表示部３、バッテリー５、第１操作部６、保護カバー７、第２操作部８、外部接続端子９の説明は省略する。また、第３実施形態に係る光沢計３００は、光沢計３００を制御する制御部４''を備える。制御部４''の具体的構成については、後ほど説明する。
本実施形態において、曲率測定部１３は、筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離を測定する。従って、曲率測定部１３としては、例えば、接触式の変位センサを使用できる。測定対象表面ＳＵの曲率は、曲率測定部１３により得られた筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離から算出できる。
なお、第３実施形態においては、測定部２の両端に１つずつ合計２つの曲率測定部１３が設けられているが、筐体１の底部Ｂにおける曲率測定部１３の設置数及び／又は設置位置は、測定部２における測定対象表面ＳＵの曲率を算出するためのデータ（上記距離）を得られる限り任意とできる。
なお、第３実施形態においては、測定部２の両端に１つずつ合計２つの曲率測定部１３が設けられているが、筐体１の底部Ｂにおける曲率測定部１３の設置数及び／又は設置位置は、測定部２における測定対象表面ＳＵの曲率を算出するためのデータ（上記距離）を得られる限り任意とできる。
（２）第３実施形態に係る制御部の構成
以下、図９を用いて、第３実施形態に係る光沢計３００に備わる制御部４''の具体的構成を説明する。図９は、第３実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４''は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計３００の各構成要素を制御する。制御部４''は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
以下、図９を用いて、第３実施形態に係る光沢計３００に備わる制御部４''の具体的構成を説明する。図９は、第３実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４''は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計３００の各構成要素を制御する。制御部４''は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
制御部４''は、具体的には、測定制御部４１と、記憶部４４と、外部接続端子制御部４５と、曲率算出部４７と、を有する。なお、これら機能ブロックの一部又は全部は、制御部４''を構成するコンピュータシステムの記憶装置に記憶されたプログラムを実行することで実現されてもよいし、ハードウェア的に実現されてもよい。
第３実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態及び第２実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
第３実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態及び第２実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
曲率算出部４７は、曲率測定部１３により測定された筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離に基づいて測定対象表面ＳＵの曲率を算出し、算出した曲率を測定制御部４１に出力する。具体的には、曲率算出部４７は、例えば、測定対象表面ＳＵの既知の曲率と筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離との間の関係を表すテーブル（距離－曲率テーブルと呼ぶ）を用いて、測定対象表面ＳＵの曲率を算出できる。
距離－曲率テーブルは、例えば、既知の曲率を有する曲面に光沢計３００を接触させそのときに曲率測定部１３により実測される上記距離を測定することを複数の曲率について実行し、各曲率と当該各曲率で実測された筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離とを関連付けることで作成できる。このテーブルは、記憶部４４に記憶される。
距離－曲率テーブルは、例えば、既知の曲率を有する曲面に光沢計３００を接触させそのときに曲率測定部１３により実測される上記距離を測定することを複数の曲率について実行し、各曲率と当該各曲率で実測された筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離とを関連付けることで作成できる。このテーブルは、記憶部４４に記憶される。
その他、例えば、測定対象表面ＳＵを円曲面と仮定し、曲率測定部１３により測定された筐体１の底部Ｂと測定対象表面ＳＵとの間の距離から、２つの曲率測定部１３のそれぞれが距離を測定している（曲率測定部１３が接触している）測定対象表面ＳＵの位置の座標値を算出し、その２つの座標値から仮定した円の中心までの距離が等しいことを用いて仮定した円の半径を算出し、その半径の逆数を曲率とできる。
上記のようにして算出された曲率に基づいて、測定制御部４１の光沢度算出部４１２は、光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２と受光されない反射光Ｌ２との割合を算出する。例えば、測定対象表面ＳＵの曲率と全反射光Ｌ２のうち光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２の割合との関係を表したテーブル（曲率－受光割合テーブル）と、曲率算出部４７にて算出された曲率と、を用いて光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２の割合を算出できる。
曲率－受光割合テーブルは、例えば、既知の曲率と既知の光沢度を有する曲面に光沢計３００を接触させた状態で反射光Ｌ２の強度を光検出部２３により実測することを複数の曲率（光沢度は同一）について実行し、各曲率と当該各曲率で実測された反射光Ｌ２の強度とを関連付けることで作成できる。このテーブルは、記憶部４４に記憶される。
曲率－受光割合テーブルは、例えば、既知の曲率と既知の光沢度を有する曲面に光沢計３００を接触させた状態で反射光Ｌ２の強度を光検出部２３により実測することを複数の曲率（光沢度は同一）について実行し、各曲率と当該各曲率で実測された反射光Ｌ２の強度とを関連付けることで作成できる。このテーブルは、記憶部４４に記憶される。
全反射光Ｌ２のうち光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２の割合を算出後に、光沢度算出部４１２は、当該割合と実際に測定した反射光Ｌ２の強度とから、測定対象表面ＳＵが完全な水平面であると仮定した場合の反射光Ｌ２の強度を算出し、完全な水平面であると仮定した場合の反射光Ｌ２の強度に基づいて、測定対象表面ＳＵの実際の光沢度を算出できる。
その他、表示制御部４１３が、曲率算出部４７にて算出された曲率を表示部３に表示させてもよい。
また、照射制御部４１１が、曲率算出部４７にて算出された曲率から算出された反射光Ｌ２の受光割合に基づいて、検査光Ｌ１の強度を調整してもよい。具体的には、照射制御部４１１は、測定対象表面ＳＵの曲率が大きくなるほど光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２の割合が小さくなるとして、検査光Ｌ１の照射強度を、曲率が小さい（完全な水平面に近い）ときの検査光Ｌ１の照射強度よりも増加させる。
また、照射制御部４１１が、曲率算出部４７にて算出された曲率から算出された反射光Ｌ２の受光割合に基づいて、検査光Ｌ１の強度を調整してもよい。具体的には、照射制御部４１１は、測定対象表面ＳＵの曲率が大きくなるほど光検出部２３にて受光される反射光Ｌ２の割合が小さくなるとして、検査光Ｌ１の照射強度を、曲率が小さい（完全な水平面に近い）ときの検査光Ｌ１の照射強度よりも増加させる。
上記のように、第３実施形態に係る光沢計３００では、曲率測定部１３により測定されたデータを用いて曲率算出部４７が測定対象表面ＳＵの曲率を算出することで、算出された曲率に基づいて曲面である測定対象表面ＳＵの光沢度を正確に測定できる。
（３）付記
第３実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記測定対象の表面の曲率に関連するデータを測定する曲率測定部と、
前記曲率測定部にて測定したデータに基づいて前記曲率を算出する曲率算出部と、
前記測定部を制御するとともに、前記曲率と前記反射光の強度とに基づいて前記光沢度を算出する測定制御部と、
を備える測定装置。
第３実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記測定対象の表面の曲率に関連するデータを測定する曲率測定部と、
前記曲率測定部にて測定したデータに基づいて前記曲率を算出する曲率算出部と、
前記測定部を制御するとともに、前記曲率と前記反射光の強度とに基づいて前記光沢度を算出する測定制御部と、
を備える測定装置。
４．第４実施形態
（１）第４実施形態に係る光沢計の構成
以下、第４実施形態に係る光沢計４００を説明する。
第１実施形態において説明したように、第１実施形態～第３実施形態に係る光沢計において筐体１の底部Ｂに保護カバー７を取り付けると、校正基準板７１が測定部２に対向する。従って、筐体の底部Ｂに保護カバー７を取り付けた状態で光沢度を測定すると、基準光沢度Ｇｓを有する校正基準板７１が測定されることとなる。
従って、光沢計の筐体１に保護カバー７を取り付けた状態で光沢度の測定を実行しつつ、第１操作部６の校正ボタン６２を押すことで光沢計の校正を実行できる。
（１）第４実施形態に係る光沢計の構成
以下、第４実施形態に係る光沢計４００を説明する。
第１実施形態において説明したように、第１実施形態～第３実施形態に係る光沢計において筐体１の底部Ｂに保護カバー７を取り付けると、校正基準板７１が測定部２に対向する。従って、筐体の底部Ｂに保護カバー７を取り付けた状態で光沢度を測定すると、基準光沢度Ｇｓを有する校正基準板７１が測定されることとなる。
従って、光沢計の筐体１に保護カバー７を取り付けた状態で光沢度の測定を実行しつつ、第１操作部６の校正ボタン６２を押すことで光沢計の校正を実行できる。
しかしながら、従来は、光沢度の測定中に校正ボタン６２を押せば、校正基準板７１の光沢度を測定していなくとも光沢度の校正がなされていた。すなわち、校正基準板７１の光沢度とは異なる光沢度を有する測定対象表面ＳＵからの反射光Ｌ２の強度が基準強度Ｖｓとされ、誤った基準強度Ｖｓと基準光沢度Ｇｓとが関連付けられて適切な校正がなされないことがあった。
第４実施形態に係る光沢計４００は、図１０に示すように、筐体１の底部Ｂの前後に挿入孔１５を備えている。また、光沢計４００の保護カバー７には、保護カバー７を筐体１の底部Ｂに取り付けたときに挿入孔１５に挿入される挿入部７３が設けられる。さらに、挿入孔１５には、挿入部７３が挿入されたことを検知する挿入検知部７５（図１１）が設けられる。挿入検知部７５は、例えば、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されたときにオン状態となるスイッチである。図１０は、第４実施形態に係る光沢計の構成を示す図である。
なお、挿入孔１５には、挿入部７３が挿入された際に挿入部７３が挿入孔１５から外れないようにするロック機構が設けられてもよい。
また、図１１においては、挿入部７３及び挿入孔１５はそれぞれ一対しか設けられていないが、挿入部７３及び挿入孔１５をそれぞれ、光沢計４００の異なる箇所に複数個設けてもよい。
また、図１１においては、挿入部７３及び挿入孔１５はそれぞれ一対しか設けられていないが、挿入部７３及び挿入孔１５をそれぞれ、光沢計４００の異なる箇所に複数個設けてもよい。
後述するように、光沢計４００においては、挿入検知部７５により挿入孔１５に挿入部７３が挿入されたことを検知したときのみに校正を実行可能となる。これにより、誤った校正がなされることを防止できる。
第４実施形態に係る光沢計４００は、筐体１の側面下部に挿入孔１５と挿入検知部７５が設けられること、及び、保護カバー７に挿入部７３が設けられること以外、第１実施形態～第３実施形態に係る光沢計１００～３００と同様の構成を有する。従って、第１実施形態及び第２実施形態と同じ構成を有する測定部２、表示部３、バッテリー５、第１操作部６、第２操作部８、外部接続端子９の説明は省略する。また、第４実施形態に係る光沢計４００は、光沢計４００を制御する制御部４'''を備える。
（２）第４実施形態に係る制御部の構成
以下、図１１を用いて、第４実施形態に係る光沢計４００に備わる制御部４'''の具体的構成を説明する。図１１は、第４実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４'''は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計３００の各構成要素を制御する。制御部４'''は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
以下、図１１を用いて、第４実施形態に係る光沢計４００に備わる制御部４'''の具体的構成を説明する。図１１は、第４実施形態に係る制御部の機能ブロック構成を示す図である。
制御部４'''は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計３００の各構成要素を制御する。制御部４'''は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。
制御部４'''は、具体的には、測定制御部４１と、記憶部４４と、外部接続端子制御部４５と、挿入通知部４８と、を有する。なお、これら機能ブロックの一部又は全部は、制御部４'''を構成するコンピュータシステムの記憶装置に記憶されたプログラムを実行することで実現されてもよいし、ハードウェア的に実現されてもよい。
第４実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態～第３実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
第４実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５は、それぞれ、第１実施形態～第３実施形態に係る測定制御部４１、記憶部４４、及び外部接続端子制御部４５と同じ機能を有する。従って、ここでは説明を省略する。
挿入通知部４８は、挿入検知部７５が挿入孔１５に挿入部７３が挿入されたことを検知すると、挿入部７３が挿入されたことを測定制御部４１に通知する。
測定制御部４１は、第１操作部６の校正ボタン６２が押されたことを検知したときに、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されている通知がされていれば、光沢度算出部４１２は、現在測定している反射光Ｌ２の強度を基準強度Ｖｓとして、基準光沢度Ｇｓと関連付けて記憶部４４に記憶する。
その一方で、第１操作部６の校正ボタン６２が押されたことを検知したときに、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されている通知がされていない場合には、光沢度算出部４１２は、上記の基準強度Ｖｓの記憶を実行しない（光沢計４００の校正を実行しない）。
測定制御部４１は、第１操作部６の校正ボタン６２が押されたことを検知したときに、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されている通知がされていれば、光沢度算出部４１２は、現在測定している反射光Ｌ２の強度を基準強度Ｖｓとして、基準光沢度Ｇｓと関連付けて記憶部４４に記憶する。
その一方で、第１操作部６の校正ボタン６２が押されたことを検知したときに、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されている通知がされていない場合には、光沢度算出部４１２は、上記の基準強度Ｖｓの記憶を実行しない（光沢計４００の校正を実行しない）。
その他、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されている通知がなされたタイミングにおいて、光沢度算出部４１２が、現在測定している反射光Ｌ２の強度を基準強度Ｖｓとして、基準光沢度Ｇｓと関連付けて記憶部４４に記憶してもよい。これにより、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されたことが検知されたら、校正ボタン６２を押すことなく、自動的に光沢計４００の校正を実行できる。
上記のように、第４実施形態に係る光沢計４００では、挿入部７３が挿入孔１５に挿入されているときのみに、光沢計４００の校正を実行できる。その結果、誤った校正が実行されることを回避できる。
（３）付記
第４実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
筐体と、
前記筐体に設けられ、前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記筐体に取り付け可能であり、前記筐体に取り付けたときに前記測定部と対向する校正基準板を有する保護カバーと、
前記保護カバーに設けられた挿入部と、
前記筐体に設けられ、前記保護カバーが前記筐体に取り付けられたときに前記挿入部が挿入される挿入孔と、
前記挿入孔に前記挿入部が挿入されたことを検知したら、前記校正基準板の光沢度である基準光沢度と、前記校正基準板からの前記反射光の強度と、を関連付けて前記光沢度の測定のための校正を行う測定制御部と、
を備える測定装置。
第４実施形態に係る光沢計は、以下のように表現できる。
測定対象の表面の光沢度を測定する測定装置であって、
筐体と、
前記筐体に設けられ、前記測定対象の表面に向けて検査光を照射し、前記検査光が前記測定対象の表面にて反射することで発生する反射光を検出する測定部と、
前記筐体に取り付け可能であり、前記筐体に取り付けたときに前記測定部と対向する校正基準板を有する保護カバーと、
前記保護カバーに設けられた挿入部と、
前記筐体に設けられ、前記保護カバーが前記筐体に取り付けられたときに前記挿入部が挿入される挿入孔と、
前記挿入孔に前記挿入部が挿入されたことを検知したら、前記校正基準板の光沢度である基準光沢度と、前記校正基準板からの前記反射光の強度と、を関連付けて前記光沢度の測定のための校正を行う測定制御部と、
を備える測定装置。
５．他の実施形態
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。例えば、上記の第１実施形態～第４実施形態は、任意に組み合わせることができる。
（Ａ）第１実施形態にて説明した電力供給管理技術は、光沢度Ｇを測定するポータブル型の光沢計１００以外の、ユーザが把持することで移動可能であって、センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて測定結果を算出する他のポータブル型の測定装置にも適用できる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。例えば、上記の第１実施形態～第４実施形態は、任意に組み合わせることができる。
（Ａ）第１実施形態にて説明した電力供給管理技術は、光沢度Ｇを測定するポータブル型の光沢計１００以外の、ユーザが把持することで移動可能であって、センサにより得られた測定対象に関する検出値に基づいて測定結果を算出する他のポータブル型の測定装置にも適用できる。
例えば、測定対象の温度を測定するポータブル型の放射温度計にも適用できる。この場合、対象となる測定結果は測定対象の放射温度であり、この測定結果を算出するための検出値は、測定対象から発生する赤外光の強度である。
その他、表面からの反射光の強度に基づいて表面粗さを測定するポータブル型の表面粗さ測定装置、測定対象としての水に関する検出値に基づいて水質の指標（例えば、溶存酸素、導電率、アンモニア量、濁度、ｐＨ）を算出する測定装置などにも上記電力供給管理技術を適用できる。
（Ｂ）第１実施形態に係る光沢計１００において、センサから得られる情報に基づいて測定制御部４１への電力供給を制御してもよい。例えば、光沢計１００に加速度センサを設け、加速度センサにより光沢計１００の移動が検知された場合に測定制御部４１への電力供給を停止できる。
その他、光沢計１００の筐体１の表面にユーザが接触していることを検知するセンサ（例えば、ユーザの体温を検知する温度センサ）を設け、ユーザが筐体１の表面に触れていることが検知された場合に、ユーザが筐体１を保持して光沢度の測定を行っていると判断して、測定制御部４１への電力供給を開始できる。
その一方で、例えば、ユーザが筐体１の表面に触れていることが所定の時間以上検知されない場合には、光沢計１００が放置されて無駄な測定が実行されていると判断し、測定制御部４１への電力供給を停止できる。
その一方で、例えば、ユーザが筐体１の表面に触れていることが所定の時間以上検知されない場合には、光沢計１００が放置されて無駄な測定が実行されていると判断し、測定制御部４１への電力供給を停止できる。
（Ｃ）測定部２のみを筐体１内に収納し、制御部４など制御に関する構成要素を個別の筐体に収納してもよい。また、測定部２のみを筐体１内に収納した装置を、個別のパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォンなどで制御可能としてもよい。
本発明は、測定対象に関する測定結果を測定する測定装置に広く適用できる。
１００～４００ 光沢計
１ 筐体
Ｂ 底部
２ 測定部
２１ 光照射部
２３ 光検出部
３ 表示部
４、４’、４’’、４’’’ 制御部
４１ 測定制御部
４１１ 照射制御部
４１２ 光沢度算出部
４１３ 表示制御部
４２ 電力供給管理部
４２１ 計数部
４２２ 電力制御部
４３ 電力供給切替部
４４ 記憶部
４５ 外部接続端子制御部
４６ 接触検出通知部
４７ 曲率算出部
４８ 挿入通知部
５ バッテリー
６ 第１操作部
６１ 電源ボタン
６２ 校正ボタン
７ 保護カバー
７１ 校正基準板
７３ 挿入部
７５ 挿入検知部
８ 第２操作部
９ 外部接続端子
１１、１１’ 接触検出部
１３ 曲率測定部
１５ 挿入孔
ＳＵ 測定対象表面
Ｌ１ 検査光
Ｌ２ 反射光
１ 筐体
Ｂ 底部
２ 測定部
２１ 光照射部
２３ 光検出部
３ 表示部
４、４’、４’’、４’’’ 制御部
４１ 測定制御部
４１１ 照射制御部
４１２ 光沢度算出部
４１３ 表示制御部
４２ 電力供給管理部
４２１ 計数部
４２２ 電力制御部
４３ 電力供給切替部
４４ 記憶部
４５ 外部接続端子制御部
４６ 接触検出通知部
４７ 曲率算出部
４８ 挿入通知部
５ バッテリー
６ 第１操作部
６１ 電源ボタン
６２ 校正ボタン
７ 保護カバー
７１ 校正基準板
７３ 挿入部
７５ 挿入検知部
８ 第２操作部
９ 外部接続端子
１１、１１’ 接触検出部
１３ 曲率測定部
１５ 挿入孔
ＳＵ 測定対象表面
Ｌ１ 検査光
Ｌ２ 反射光
Claims (6)
- ユーザが把持して移動させることで測定対象を変更可能な測定装置であって、
センサにより得られた前記測定対象に関する検出値に基づいて、前記測定対象に関する測定結果を算出する算出部と、
前記算出部への電力供給を制御する電力制御部と、
を備え、
前記電力制御部は、前記測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には前記算出部へ供給する電力を維持する一方、前記測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には前記算出部へ供給する電力を低減し、
前記測定結果は、前記測定対象の表面の光沢度、前記測定対象の放射温度、前記測定対象の水質の指標、前記測定対象の表面粗さ、のいずれかである、
測定装置。 - 前記測定結果の変化量が前記所定の範囲内である状態が継続する継続時間を計数する計数部をさらに備え、
前記電力制御部は、前記継続時間が前記所定の時間となったときに前記算出部へ供給する電力を低減する、請求項１に記載の測定装置。 - 前記計数部は、前記継続時間を計数中に前記測定結果の変化量が前記所定の範囲外となったら、前記継続時間を０とする、請求項２に記載の測定装置。
- 操作部をさらに備え、
前記計数部は、前記操作部に対して操作がなされたことを検知したら、前記継続時間を０とする、請求項２又は３に記載の測定装置。 - 前記算出部は所定の周期毎に前記測定結果を算出し、
前記測定結果の変化量は、前回算出した測定結果と今回算出した測定結果との差である、
請求項１～４のいずれかに記載の測定装置。 - ユーザが把持して移動させることで測定対象を変更可能な測定装置の制御方法であって、
センサにより得られた前記測定対象に関する検出値に基づいて、前記測定対象に関する測定結果を算出するステップと、
前記測定結果の変化量が所定の範囲外である場合には前記測定装置へ供給する電力を維持するステップと、
前記測定結果の変化量が所定の範囲内である状態が所定の時間継続した場合には前記測定装置へ供給する電力を低減するステップと、
を備え、
前記測定結果は、前記測定対象の表面の光沢度、前記測定対象の放射温度、前記測定対象の水質の指標、前記測定対象の表面粗さ、のいずれかである、
制御方法。
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