JP7212686B2 - 超音波プローブトランスデューサ試験 - Google Patents
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Description
Claims (14)
- 画像品質欠陥についてトランスデューサプローブを試験する超音波診断イメージングシステムであって:
超音波エコー信号を取得するように構成されるトランスデューサ素子のアレイを有する超音波プローブと;
前記トランスデューサ素子のアレイに結合されるとともに複数の取得されたエコー信号からスキャンラインのビーム形成されたエコー信号を形成するように構成されるビームフォーマと;
前記ビーム形成されたエコー信号を受信するように結合されるとともに前記ビーム形成されたエコー信号の周波数応答を示す信号を生成するように構成される周波数アナライザと;
前記ビーム形成されたエコー信号の前記周波数応答の基準信号を格納するように構成されるメモリと;
前記周波数アナライザによって生成された前記周波数応答を前記基準信号と比較するとともに、前記の比較が前記周波数応答と前記基準信号との間に許容できない差を示すときに不良のプローブを識別する出力信号を生成するように構成されるコンパレータと;
前記コンパレータから前記出力信号を受信するように結合されるとともに、前記不良のプローブの指示を表示するように構成されるディスプレイと;
を有し、
前記超音波プローブはさらに、前記トランスデューサ素子のアレイをカバーするレンズを有し、
前記ビームフォーマはさらに、前記レンズが空気と接触するときに前記スキャンラインのビーム形成されたエコー信号を形成するように構成される、
超音波診断イメージングシステム。 - 前記超音波プローブはさらに、直線アレイプローブを含む、
請求項1に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記超音波プローブはさらに、フェーズドアレイプローブを含む、
請求項1に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記周波数アナライザはさらに、スキャンラインエコー信号のパワー対周波数応答を生成するように構成されるFFTアルゴリズムを含む、
請求項1に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記メモリはさらに、超音波プローブのスキャンラインのパワー対周波数応答の基準信号を格納するように構成される、
請求項4に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記コンパレータはさらに、前記超音波プローブのスキャンラインの前記パワー対周波数応答を、前記メモリに格納された前記スキャンラインのパワー対周波数応答の前記基準信号と比較するように構成される、
請求項5に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記ディスプレイはさらに、超音波プローブのスキャンラインの前記パワー対周波数応答の前記基準信号とともに前記超音波プローブのスキャンラインの前記パワー対周波数応答の表示を生成するように構成される、
請求項6に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記コンパレータはさらに、前記周波数アナライザによって生成された前記スキャンラインエコー信号の前記パワー対周波数応答の平均パワーを計算するように構成される、
請求項4に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記メモリはさらに、超音波プローブの前記スキャンラインエコー信号の前記平均パワーの基準信号を格納するように構成される、
請求項8に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記コンパレータはさらに、前記プローブによって生成された前記スキャンラインエコー信号の前記パワー対周波数応答の平均パワー値を基準平均パワー値と比較するように構成される、
請求項9に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記ディスプレイはさらに、プローブの前記平均パワー値の前記メモリに格納された前記基準信号とともに前記プローブの前記スキャンラインの前記平均パワー値の表示を生成するように構成される、
請求項10に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記ディスプレイはさらに、前記メモリに格納されたプローブの基準信号平均パワー値のプロットとともに前記プローブの前記スキャンラインの前記平均パワー値のプロットの表示を生成するように構成される、
請求項11に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記メモリはさらに、前記超音波プローブと同じタイプの既知の良好な超音波プローブのスキャンラインの前記パワー対周波数応答の基準信号を格納するように構成される、
請求項7に記載の超音波診断イメージングシステム。 - 前記メモリはさらに、前記超音波プローブと同じタイプの既知の良好な超音波プローブの平均パワー値の基準信号を格納するように構成される、
請求項11に記載の超音波診断イメージングシステム。
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