JP7208233B2 - Method and apparatus for detecting surface defects in glass sheets - Google Patents

Method and apparatus for detecting surface defects in glass sheets Download PDF

Info

Publication number
JP7208233B2
JP7208233B2 JP2020526279A JP2020526279A JP7208233B2 JP 7208233 B2 JP7208233 B2 JP 7208233B2 JP 2020526279 A JP2020526279 A JP 2020526279A JP 2020526279 A JP2020526279 A JP 2020526279A JP 7208233 B2 JP7208233 B2 JP 7208233B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
glass sheet
scattered
light source
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020526279A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021503079A (en
Inventor
アレン ノウルズ,ジェフリー
ロバート ウスタニク,コリー
ジャン,ジアシアン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Corning Inc
Original Assignee
Corning Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Corning Inc filed Critical Corning Inc
Publication of JP2021503079A publication Critical patent/JP2021503079A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7208233B2 publication Critical patent/JP7208233B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G01N2021/8967Discriminating defects on opposite sides or at different depths of sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06113Coherent sources; lasers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/063Illuminating optical parts
    • G01N2201/0633Directed, collimated illumination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/064Stray light conditioning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/068Optics, miscellaneous

Description

関連出願の相互参照Cross-reference to related applications

本願は、米国特許法第119条の下、2017年11月15日出願の米国仮特許出願第62/586、367号の優先権の利益を主張し、その内容は依拠され、全体として参照により本明細書に組み込まれる。 This application claims the benefit of priority under 35 U.S.C. incorporated herein.

本開示は、光学検査方法および装置、特に、ガラスシートなどの材料シートの表面欠陥の検出方法および装置に関する。 FIELD OF THE DISCLOSURE The present disclosure relates to optical inspection methods and apparatus, and more particularly to methods and apparatus for detecting surface defects in sheets of material, such as glass sheets.

透明な材料シート、例えば、ガラス、宝石または鉱物(例えば、サファイア)、若しくは、ポリマーシートが、LCD(液晶表示)パネルなどの表示パネルや、そのようなパネルの保護カバーとしてを含む様々な異なる装置での利用で用いられている。そのような表示装置、および、それを含むパネルは、更に薄く軽量に製作されるようになっており、それに伴い、材料シートも薄く軽量であることが望まれている。 Transparent material sheets such as glass, gems or minerals (e.g. sapphire) or polymer sheets in a variety of different devices including display panels such as LCD (liquid crystal display) panels and as protective covers for such panels It is used in the use of Such display devices and panels including them are being manufactured to be thinner and lighter, and along with this, it is desired that the material sheets be thinner and lighter.

表示パネルまたはカバー用の典型的な透明シートは、ガラス基材を用いて製作される。元の、または、開始ガラス基材を、例えば研削などの機械的処理と研磨、例えばエッチングなどの化学的処理と研磨を用いて薄くして、最終的なガラスシートについて望ましい厚さ(例えば、約0.1mmから約0.7mm)を実現しうる。薄くする処理の間に、表面欠陥が形成されうる。例えば、化学的に薄くする間に、各々、「ディンプル」または「ピンプル」とも称される窪み(凹み)および/または隆起(突出)状の欠陥が形成されうる。欠陥は、典型的には、横方向には約10マイクロメートル(μm)から数ミリメートル(mm)の範囲であり、典型的な垂直方向の寸法(つまり、表面平均値に対する深さ、または、高さ)は、1/4マイクロメートルもの大きさでありうる。光学表示装置でのそのような欠陥は、容易に視認されうるので、薄くしたガラス基材を表面欠陥について検査して、欠陥を除去するか、または、欠陥を有する基材は破壊するようにすべきである。 A typical transparent sheet for a display panel or cover is made using a glass substrate. The original or starting glass substrate is thinned using mechanical treatment such as grinding and polishing, chemical treatment such as etching and polishing to the thickness desired for the final glass sheet (e.g., about 0.1 mm to about 0.7 mm) can be achieved. Surface defects can be formed during the thinning process. For example, during chemical thinning, imperfections in the form of dimples and/or bumps can be formed, also referred to as "dimples" or "pimples", respectively. Defects typically range from about 10 micrometers (μm) to several millimeters (mm) laterally, with typical vertical dimensions (i.e., depth to surface average, or height). ) can be as large as 1/4 micrometer. Since such defects in optical displays are readily visible, thinned glass substrates are inspected for surface defects and the defects removed or substrates with defects destroyed. should.

現在、手動の方法を用いて、材料シートの欠陥を検査している。残念ながら、手動の検査は、労働集約的で、一貫性がなく、更に、時間が掛かってしまう。例えば、大型製造サイズのシートを検査するには、何時間も要しうる。更に、欠陥の向きを特定するのも困難なことがありうる。つまり、検出装置は、等方的検出能力を示さないことがありうる。 Manual methods are currently used to inspect sheets of material for defects. Unfortunately, manual inspection is labor intensive, inconsistent, and time consuming. For example, it can take many hours to inspect large production size sheets. Furthermore, it can be difficult to identify the orientation of the defect. That is, the detection device may not exhibit isotropic detection capabilities.

大型のガラスシートなどの材料シートにおける、例えば、引っ掻き傷などの欠陥を、欠陥の向きの影響を受けることなく検出できる検出装置が必要である。 There is a need for a detection device that can detect defects, for example scratches, in sheets of material, such as large sheets of glass, without being affected by the orientation of the defect.

本開示によれば、ガラスシート表面の欠陥検出方法を開示し、その方法は、光源から発せられた光ビームを平行にする工程と、平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる工程とを含む。ビームスプリッタは、交差した平行な光ビームの第1の部分をガラスシートの第1の表面に向けて、交差した平行な光ビームの向けられた部分がガラスシートの第1の表面を照らすようにするものである。ガラスシートの第1の表面を照らす光の第1の部分は、第1の表面によって反射され、ガラスシートの第1の表面を照らす光の第2の部分は、欠陥によって散乱される。方法は、更に、反射光および散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する工程であり、第1のレンズ要素は、反射光および散乱光を逆開口部に向けて、反射光は逆開口部によって遮られ、散乱光は逆開口部によって透過されるものである工程を含む。方法は、更に、逆開口部によって透過された散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、散乱光を検出する工程を含む。 According to the present disclosure, a method for detecting defects in a glass sheet surface is disclosed, the method comprising collimating a light beam emitted from a light source and intersecting the collimated light beam with a beam splitter. . The beam splitter directs a first portion of the crossed parallel light beams onto the first surface of the glass sheet such that the directed portion of the crossed parallel light beams illuminates the first surface of the glass sheet. It is something to do. A first portion of the light that illuminates the first surface of the glass sheet is reflected by the first surface and a second portion of the light that illuminates the first surface of the glass sheet is scattered by the defect. The method also includes receiving the reflected light and the scattered light with a first lens element, the first lens element directing the reflected light and the scattered light to the reverse aperture and the reflected light to the reverse aperture. The scattered light is blocked by the aperture and the scattered light is transmitted by the reverse aperture. The method further includes directing the scattered light transmitted by the reverse aperture to an imaging device using the second lens element to detect the scattered light.

光源は、レーザ、発光ダイオード、または、白色光源でありうる。光源は、1つ以上の可視光波長を含むか、発しうる。 The light source can be a laser, light emitting diode, or white light source. A light source may contain or emit one or more visible light wavelengths.

方法は、更に、反射光は、逆開口部に含まれる不透明なディスクによって遮られ、散乱光は、不透明なディスクを囲む透明領域によって透過されるものである。 The method further includes that reflected light is blocked by an opaque disc contained in the reverse aperture and scattered light is transmitted by a transparent area surrounding the opaque disc.

いくつかの実施形態において、ビームスプリッタと交差する平行な光の第2の部分は、次に、ビームダンプに入射するものである。 In some embodiments, a second portion of the collimated light that intersects the beam splitter is then incident on the beam dump.

いくつかの実施形態において、ガラスシートは、交差した平行な光ビームの向けられた部分がガラスシートの表面を照らさない第1の位置から、交差した平行な光ビームの向けられた部分がガラスシートの表面を照らす第2の位置へ移動されるものであり、方法は、更に、ガラスシートが第1の位置から第2の位置へ移動される時に、ガラスシートを監視する工程と、ガラスシートが第1の位置に位置する時に、光源によって発せられた光を監視し、光源の出力が所定の出力から変化した場合には、光源の出力を調節する工程と、ガラスシートが第2の位置に位置する時に、光源によって発せられた光の監視を無効にする工程とを含むものである。 In some embodiments, the glass sheet is moved from a first position where the directed portion of the crossed parallel light beams does not illuminate the surface of the glass sheet. The method further comprises monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position; monitoring the light emitted by the light source when in the first position and adjusting the output of the light source if the output of the light source varies from the predetermined output; and moving the glass sheet to the second position. and disabling monitoring of the light emitted by the light source when positioned.

第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるうるものであり、いくつかの実施形態において、方法は、更に、レンズアセンブリの焦点を、第1の主面の反対側の第2の表面にずらす工程か、レンズアセンブリの焦点を、第1の主面と第2の主面の間の位置にずらす工程を含むものである。 The first and second lens elements can be included in a lens assembly, and in some embodiments the method further comprises focusing the lens assembly on a second lens element opposite the first major surface. Defocusing to the surface, or defocusing the lens assembly to a position between the first and second major surfaces.

更に他の実施形態において、ガラスシート表面の欠陥検出方法を記載し、方法は、ガラスシートを搬送方向に搬送する工程であって、複数の欠陥検出モジュールが、ガラスシートの横寸法に亘って第1のアレイに並べられたものである工程を含み、各欠陥検出モジュールは、光源から発せられた光ビームを平行にする手段と、平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる手段であって、ビームスプリッタは、交差した平行な光ビームの第1の部分を、移動するガラスシートの第1の表面に向けて、交差した平行な光ビームの向けられた部分がガラスシートの第1の表面を照らすようにするものであり、ガラスシートの第1の表面を照らす光の第1の部分は、第1の表面によって反射され、ガラスシートの第1の表面を照らす光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものである手段と、反射光および散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する手段であり、第1のレンズ要素は、反射光および散乱光を逆開口部に向けて、反射光は逆開口部によって遮られ、散乱光は逆開口部によって透過されるものである手段と、逆開口部によって透過された散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、散乱光を検出する手段とを含むものである。 In yet another embodiment, a method of detecting defects in a surface of a glass sheet is described, the method comprising transporting the glass sheet in a transport direction, wherein a plurality of defect detection modules are positioned across the lateral dimension of the glass sheet. arranged in an array, each defect detection module having means for collimating the light beams emitted by the light source and means for intersecting the parallel light beams with a beam splitter, comprising: The beam splitter directs a first portion of the crossed parallel light beams onto the first surface of the moving glass sheet such that the directed portion of the crossed parallel light beams strikes the first surface of the glass sheet. wherein a first portion of the light illuminating the first surface of the glass sheet is reflected by the first surface and a second portion of the light illuminating the first surface of the glass sheet comprises: and means for receiving the reflected and scattered light with a first lens element, the first lens element directing the reflected and scattered light to the reverse aperture. the reflected light is blocked by the reverse aperture and the scattered light is transmitted by the reverse aperture; and means for detecting the scattered light directed toward the.

欠陥検出モジュールの第1のアレイは、例えば、線形アレイでありうる。 The first array of defect detection modules can be, for example, a linear array.

いくつかの実施形態において、搬送方向は、欠陥検出モジュールの線形の第1のアレイの方向に直交するものである。 In some embodiments, the transport direction is orthogonal to the direction of the linear first array of defect detection modules.

いくつかの実施形態において、複数の欠陥検出モジュールは、欠陥検出モジュールの第1のアレイの反対側に、欠陥検出モジュールの第2のアレイを含みうる。 In some embodiments, the plurality of defect detection modules may include a second array of defect detection modules opposite the first array of defect detection modules.

いくつかの実施形態において、ガラスシートは、搬送方向に、各欠陥検出モジュールについて、交差した平行な光ビームの向けられた部分がガラスシートの第1の表面を照らさない第1の位置から、交差した平行なビームがガラスシートの第1の表面を照らす第2の位置へ搬送されるものであり、方法は、更に、ガラスシートが第1の位置から第2の位置へ移動される時に、ガラスシートを監視する工程と、各欠陥検出モジュールについて、ガラスシートが第1の位置に位置する時に、光源によって発せられた光を監視し、光源の出力が所定の出力から変化した場合には、光源の出力を調節する工程と、各欠陥検出モジュールについて、ガラスシートが第2の位置に位置する時に、光源によって発せられた光の監視を無効にする工程とを含むものである。 In some embodiments, the glass sheets are crossed in the transport direction from a first position where the directed portion of the crossed parallel light beams does not illuminate the first surface of the glass sheet for each defect detection module. The parallel beams are conveyed to a second position to illuminate the first surface of the glass sheet, and the method further comprises moving the glass sheet from the first position to the second position. monitoring the sheet; and for each defect detection module, monitoring the light emitted by the light source when the glass sheet is in the first position, and if the output of the light source varies from the predetermined output, and for each defect detection module, disabling monitoring of light emitted by the light source when the glass sheet is in the second position.

各欠陥検出モジュールについて、第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるうるものであり、方法は、更に、レンズアセンブリの焦点をずらす工程、例えば、焦点をガラスシートの厚さ内にずらす工程を含みうる。 For each defect detection module, the first and second lens elements can be included in the lens assembly, and the method further comprises defocusing the lens assembly, e.g., focusing within the thickness of the glass sheet. A shifting step may be included.

更に他の実施形態において、材料シートの表面欠陥検出装置を開示し、装置は、光源と、交差した平行な光の第1の部分を妨げて、ガラスシートの第1の表面に向かうように向けて、交差した平行な光の向けられた部分が、ガラスシートの第1の表面を照らすように構成されたビームスプリッタであって、ガラスシートの第1の表面を照らす光の第1の部分は、ガラスシートの第1の表面によって反射され、ガラスシートの第1の表面を照らす光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものであるビームスプリッタと、第1のレンズ要素および第2のレンズ要素を含むレンズアセンブリと、第1のレンズ要素と第2のレンズ要素の間に位置し、背景光を遮り、散乱光を透過するように構成された逆開口部と、透過された散乱光を検出するように構成された撮像装置とを含む。 In yet another embodiment, an apparatus for detecting surface defects in a sheet of material is disclosed, wherein the apparatus blocks a light source and a first portion of crossed parallel light and directs it toward a first surface of a glass sheet. a beam splitter configured to direct a portion of crossed parallel light to illuminate a first surface of the glass sheet, the first portion of the light illuminating the first surface of the glass sheet being , a second portion of the light reflected by the first surface of the glass sheet and illuminating the first surface of the glass sheet is scattered by the defect; a beam splitter; a lens assembly including a lens element; a reverse aperture positioned between the first lens element and the second lens element and configured to block background light and transmit scattered light; and the transmitted scattered light. and an imaging device configured to detect the

本明細書に開示の実施形態の更なる特徴および利点を、以下の詳細な記載で示し、それは、部分的には、当業者には、その記載から、または、以下の詳細な記載、請求項、および、添付の図面を含む本明細書に記載の実施形態を実施することで、容易に分かるだろう。 Additional features and advantages of the embodiments disclosed herein will be set forth in the following detailed description, which will be readily apparent to those skilled in the art, in part from that description, or from the following detailed description, claims. , and by practicing the embodiments described herein, including the accompanying drawings.

ここまでの概略的記載および次の実施形態の詳細な記載の両方が、本明細書に開示の実施形態の本質および特徴を理解するための概観または枠組みを提供することを意図すると、理解すべきである。添付の図面は、更なる理解のために提供されたものであり、本明細書に組み込まれ、その一部を形成する。図面は、本開示の様々な実施形態を示し、記載と共に、本開示の原理および動作を説明する役割を果たす。 It should be understood that both the foregoing general description and the detailed description of the embodiments that follow are intended to provide an overview or framework for understanding the nature and features of the embodiments disclosed herein. is. The accompanying drawings are provided to provide a further understanding, and are incorporated in and form a part of this specification. The drawings illustrate various embodiments of the disclosure and together with the description serve to explain the principles and operation of the disclosure.

検査中のガラスシートの斜視図であり、欠陥の観察が、欠陥の向き、および、照射角にいかに依存するかを示している。1 is a perspective view of a glass sheet under inspection, showing how defect observation depends on defect orientation and illumination angle. FIG. 検査中のガラスシートの斜視図であり、欠陥の観察が、欠陥の向き、および、照射角にいかに依存するかを示している。1 is a perspective view of a glass sheet under inspection, showing how defect observation depends on defect orientation and illumination angle. FIG. 検査中のガラスシートの斜視図であり、直交方向に照らされた欠陥の観察を、いかに欠陥の向きに依存しないようにしうるかを示している。1 is a perspective view of a glass sheet under inspection, showing how observation of orthogonally illuminated defects can be made independent of defect orientation; FIG. 検査中のガラスシートの斜視図であり、直交方向に照らされた欠陥の観察を、いかに欠陥の向きに依存しないようにしうるかを示している。1 is a perspective view of a glass sheet under inspection, showing how observation of orthogonally illuminated defects can be made independent of defect orientation; FIG. 本開示の実施形態による例示的な欠陥検出装置の概略図である。1 is a schematic diagram of an exemplary defect detection apparatus according to embodiments of the present disclosure; FIG. 他の例示的な欠陥検出装置の概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of another exemplary defect detection apparatus; 更に他の例示的な欠陥検出装置の概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of yet another exemplary defect detection apparatus; 更に他の例示的な欠陥検出装置の概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of yet another exemplary defect detection apparatus; 他の例示的な欠陥検出装置の概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram of another exemplary defect detection apparatus; 本明細書に記載の例示的な欠陥検出装置を用いて撮像した様々な欠陥の一連の写真である。4 is a series of photographs of various defects captured using an exemplary defect detection apparatus described herein;

ここで、本開示の実施形態を詳細に記載し、例を添付の図面に示している。全図を通して、同じ、または、類似の部分を指すには、可能な限り同じ参照番号を用いている。しかしながら、本開示は、多くの異なる形態で実施しうるものであり、本明細書に示した実施形態に限定されると解釈されるべきではない。 Reference will now be made in detail to embodiments of the disclosure, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. Wherever possible, the same reference numbers are used throughout the drawings to refer to the same or like parts. This disclosure may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein.

本明細書において、範囲を、「約」1つの特定の値から、および/または、「約」他の特定の値までと表しうる。そのような範囲を表す場合には、他の実施形態は、その1つの特定の値から、他方の特定の値までの範囲を含む。同様に、値を、例えば、「約」を前に付けて、概数で表す場合には、その特定の値が他の実施形態を形成することが、理解されよう。更に、各範囲の端点は、他方の端点との関係でと、他方の端点とは独立にとの両方で、重要であることが理解されよう。 Ranges may be expressed herein as from "about" one particular value, and/or to "about" another particular value. When such a range is expressed, another embodiment includes the range from the one particular value to the other particular value. Similarly, when a value is expressed as an approximation, eg, preceded by "about," it will be understood that the particular value forms another embodiment. Further, it will be understood that the endpoints of each range are important both relative to the other endpoint and independently of the other endpoint.

本明細書において用いる、例えば、上に、下に、右、左、前、後ろ、最上部、底部などの方向を表す用語は、示した図面に関する記載であり、絶対的な向きを意味することを意図しない。 Directional terms used herein, e.g., up, down, right, left, front, back, top, bottom, etc., refer to the drawings shown and are intended to refer to absolute orientations. not intended to

別段の記載がない限りは、本明細書に示した、いずれの方法も、工程が特定の順序で行われることを要するとも、いずれの装置も、特定の向きであることを要すると解釈されることを意図しない。したがって、方法の請求項が、工程の行われる順序を実際に記載しないか、または、いずれの装置の請求項も、個々の構成要素の順序も向きも実際に記載しないか、若しくは、そうではなく、請求項または明細書の記載で、工程は特定の順序に限定されるとも、装置の構成要素の具体的な順序も向きも記載しない場合には、いかなる点でも、順序も向きも推測されることを全く意図しない。このことは、記載がないことに基づく、いずれの解釈にも当てはまり、そのような解釈は、工程の配列についての論理的事項、動作フロー、構成要素の順序、または、構成要素の向き、文法構造または句読点に由来する単なる意味、並びに、明細書に記載された実施形態の数または種類を含む。 Unless otherwise stated, any method presented herein should be construed to require that the steps be performed in a particular order, or that any apparatus be in a particular orientation. not intended to Thus, neither the method claims do not actually recite the order in which the steps are performed, nor the device claims either actually recite the order or orientation of the individual components, or rather the If, in a claim or written description, neither the steps are limited to a particular order nor the specific order or orientation of the components of the apparatus, then at all points the order and orientation are to be inferred. not intended at all. This applies to any interpretation based on the absence of description, and such interpretations do not include logic about the sequence of steps, operational flow, component order or component orientation, grammatical structure. or the mere meaning derived from punctuation, as well as the number or kind of embodiments described in the specification.

本明細書において用いるように、原文の英語で単数を表す不定冠詞および定冠詞は、文脈から、そうでないことが明らかでない限りは、複数のものを含む。したがって、例えば、不定冠詞を付けた構成要素は、文脈から、そうでないことが明らかでない限りは、そのような構成要素を2つ以上有する態様を含む。 As used herein, the singular indefinite and definite articles in the original English include the plural unless the context clearly dictates otherwise. Thus, for example, reference to an element with an indefinite article includes aspects having two or more of such elements, unless the context clearly dictates otherwise.

本明細書で、「例示的」、「例」という用語、または、それらの変化形を用いて、例、実例、または、例示としてであることを意味する。本明細書に記載の「例示的」、または、「例」としての任意の態様または設計は、必ずしも、他の態様または設計より好ましいか、利点を有すると解釈されるべきではない。更に、例は、単に、明確にするため、および、理解のために提供したものであり、開示した主題も、本開示に関連する部分も、いかなる点でも限定も制限することも意図しない。更なる、または、代わりの無数の様々な範囲の例を提供しうるものであるが、簡潔にするために省略したことが分かるだろう。 As used herein, the terms "exemplary," "example," or variations thereof are used to mean as an example, instance, or illustration. Any "exemplary" or "example" aspect or design described herein is not necessarily to be construed as preferred or advantageous over other aspects or designs. Further, the examples are provided merely for clarity and understanding, and are not intended to limit or limit the disclosed subject matter or relevant portions of the present disclosure in any way. It will be appreciated that further or alternative myriad examples of different ranges could be provided, but have been omitted for the sake of brevity.

例えば、ガラスシートなど、透明な材料の材料シートの表面欠陥を検出する現在の方法は、ガラスシートが搬送方向に搬送される時に、平行な光をガラスシートを通して投射する工程と、ガラスシート(例えば、平行な光が照らした部分)をセンサ上で撮像する工程とを含む。本開示の実施形態は、不透明または半透明のいずれの材料と用いるのに適しうるが、そのような実施形態は、透明の材料について、反対側を向いた主面に隣接して位置する別々の装置を必要とせずに、表面欠陥の撮像をガラスシートの両面から行えるので、特に効果的であることを示した。しかしながら、引っ掻き傷など、ある欠陥を照らすのに用いた光の方向および角度に対する欠陥の向きは、欠陥を検出できるかに影響しうる。例えば、引っ掻き傷は、典型的には、細長い欠陥であり、したがって、識別可能な方向を示しうる。そのような細長い欠陥を、照射方向にか、照射方向に直交してか、または、それらの間の角度に位置合わせしうる(特定の欠陥は、完全な線形ではないこともあるのも分かる)。入射面に対して低い(かすめるような)角度で照らされ、欠陥の方向が照射方向と位置合わせされた場合には、そのような欠陥の撮像は妨げられうる。 For example, current methods of detecting surface defects in a sheet of material of transparent material, such as a glass sheet, involve projecting parallel light through the glass sheet as the glass sheet is conveyed in the conveying direction, and , illuminated by parallel light) on the sensor. Embodiments of the present disclosure may be suitable for use with either opaque or translucent materials, although such embodiments may be used for transparent materials with separate electrodes located adjacent opposing major surfaces. It has been shown to be particularly effective, as surface defects can be imaged from both sides of the glass sheet without the need for any equipment. However, the orientation of a defect relative to the direction and angle of light used to illuminate a defect, such as a scratch, can affect the ability to detect the defect. For example, scratches are typically elongated defects and thus may exhibit identifiable directions. Such elongated defects may be aligned with the direction of illumination, perpendicular to the direction of illumination, or at an angle therebetween (it should also be noted that certain defects may not be perfectly linear). . Imaging of such defects can be hindered if illuminated at a low (grazing) angle to the plane of incidence and the direction of the defect is aligned with the illumination direction.

図1は、第1の主面12、および、第1の表面12の反対側の第2の主面14を含む例示的なガラスシート10を示し、第1および第2の主面12、14は、それらの間の厚さTを画定する。ガラスシート10は、いくつかの実施形態において、透明なガラスシートであり、例えば、照射光に対して透明でありうる。本明細書で用いるように、透明という用語は、材料の透過性が、照射光の波長(例えば、中心の波長)において90%以上であることを意味すると解釈されるものとする。第1の表面12は、第2の表面14と平行か、または、略平行で、厚さTは、例えば、約2mm以下、例えば、約1.5mm以下、約1mm以下、約0.7mm以下、約0.5mm以下、約0.3mm以下、または、約0.1mm以下でありうる。しかしながら、表面の欠陥、特に、検出装置に対向する表面の欠陥は、概して、材料シートの厚さに影響されないので、更なる実施形態において、厚さTは、2mmより厚くてもよい。本実施形態によれば、第1の表面12を、ガラスシートの側部で始まり、第1の表面12に対して低い入射角の入射光18に直交して延伸する引っ掻き傷16を含むものとして示している。ガラスシート10は、搬送方向20に搬送され、搬送方向20も引っ掻き傷16に直交する。次に、入射光18は、引っ掻き傷16によって、引っ掻き傷の方向に略直交する方向に散乱される。つまり、入射光が、ガラスシートの表面に直交し、引っ掻き傷にも直交する平面に位置すると考えると、次に、引っ掻き傷からの散乱光22は、概して、その同じ平面に位置して、散乱光22を検出器24によって集めうる。この散乱光は、通常、または、必ずしも平面状ではないので、簡略化したものにすぎないが、説明のための記載には十分である。 FIG. 1 shows an exemplary glass sheet 10 including a first major surface 12 and a second major surface 14 opposite the first surface 12, the first and second major surfaces 12, 14 define a thickness T between them. Glass sheet 10, in some embodiments, can be a transparent glass sheet, eg, transparent to irradiating light. As used herein, the term transparent shall be interpreted to mean that the transparency of the material is greater than or equal to 90% at the wavelength of the illuminating light (eg, center wavelength). The first surface 12 is parallel or substantially parallel to the second surface 14 and has a thickness T of, for example, about 2 mm or less, such as about 1.5 mm or less, about 1 mm or less, about 0.7 mm or less. , about 0.5 mm or less, about 0.3 mm or less, or about 0.1 mm or less. However, since surface imperfections, in particular those facing the detection device, are generally insensitive to the thickness of the material sheet, in a further embodiment the thickness T may be greater than 2 mm. According to this embodiment, the first surface 12 is assumed to include a scratch 16 that begins on the side of the glass sheet and extends perpendicular to the incident light 18 at low angles of incidence with respect to the first surface 12 . showing. The glass sheet 10 is transported in a transport direction 20 which is also perpendicular to the scratches 16 . Incident light 18 is then scattered by the scratch 16 in a direction substantially perpendicular to the direction of the scratch. That is, if we consider the incident light to lie in a plane orthogonal to the surface of the glass sheet and also orthogonal to the scratch, then the scattered light 22 from the scratch is generally located in that same plane and scattered Light 22 may be collected by detector 24 . Since this scattered light is not usually or necessarily planar, it is only a simplification but sufficient for illustrative purposes.

図2は、引っ掻き傷16が入射光18に平行に、更に搬送方向20にも平行になるように配列された例示的なガラスシート10を示している。引っ掻き傷を、ここでも第1の表面12に対して低い角度で照らす入射光18は、次に、引っ掻き傷によって、引っ掻き傷の方向に沿った方向に散乱される。この場合、散乱光22を検出できるかは、引っ掻き傷の方向、および、入射角に依存する。ガラスシート10の表面に対する入射角が、例えば20度以内などの小さい角度の場合、次に、散乱角も概して小さい角度になる。この場合の散乱光は、検出器24によって受光されないか、または、十分に弱く、容易に検出されないことがありうる。したがって、図1、2は、低い角度で照らすことと、欠陥が方向性を有することが組み合わさることで、欠陥の検出に問題を生じることを示している。 FIG. 2 shows an exemplary glass sheet 10 arranged such that the scratches 16 are aligned parallel to the incident light 18 and also parallel to the transport direction 20 . Incident light 18, which illuminates the scratch, again at a low angle to the first surface 12, is then scattered by the scratch in directions along the direction of the scratch. In this case, whether the scattered light 22 can be detected depends on the direction of the scratch and the angle of incidence. If the angle of incidence with respect to the surface of the glass sheet 10 is small, eg, within 20 degrees, then the angle of scattering will also generally be small. The scattered light in this case may not be received by the detector 24 or may be sufficiently weak to not be easily detected. Thus, FIGS. 1 and 2 show that the combination of low angle illumination and the directional nature of defects creates problems in defect detection.

一方、図3、4は、入射光18が、ガラスシート10の第1の表面12に直交するか、または、略直交して向けられる場合を示しており(図面では、入射光18は、検出器24の軸と略一致するように示されている)、引っ掻き傷を検出できるかは、引っ掻き傷の向きに依存しない(簡略化するために、図3、4では、入射光18の引っ掻き傷16による散乱を単一の直交する平面に示している)。したがって、図3は、引っ掻き傷16に直交する搬送方向20に移動するガラスシート10を示しており、散乱光22は、引っ掻き傷16に直交する平面に延伸する。図4は、引っ掻き傷16に平行な搬送方向20に移動するガラスシート10を示しており、散乱光22は、引っ掻き傷16に平行な平面に延伸する。両方の場合において、散乱光22は、ガラスシートの主面に直交する検出軸を含む検出器24によって受光されうる。 3 and 4, on the other hand, show the case where the incident light 18 is directed orthogonally or substantially orthogonally to the first surface 12 of the glass sheet 10 (in the drawings, the incident light 18 is detected 3 and 4), the ability to detect a scratch is independent of the orientation of the scratch (for simplicity, in FIGS. 16 are shown in a single orthogonal plane). Accordingly, FIG. 3 shows the glass sheet 10 moving in a transport direction 20 perpendicular to the scratch 16 and the scattered light 22 extends in a plane perpendicular to the scratch 16 . FIG. 4 shows the glass sheet 10 moving in a transport direction 20 parallel to the scratch 16 and scattered light 22 extends in a plane parallel to the scratch 16 . In both cases, the scattered light 22 can be received by a detector 24 that includes a detection axis orthogonal to the principal plane of the glass sheet.

上記記載を基に、図5は、図3、4の主要事項を用いて、材料シートの表面欠陥の等方的欠陥検出を行うように構成された例示的な検出装置100を示している。例示のためであり、限定するものではないが、欠陥を検出すべき材料シートは、表示装置の製造に適した視覚的に透明なガラスシートなど、透明のガラスシートとして記載する。したがって、欠陥は、限定されるものではないが、隆起、窪み(成形動作で生じた窪みなど)、表面残留物、引っ掻き傷、石状物(例えば、ガラスシートを製造するのに用いて融けなかった原料)、付着ガラス欠け片、シート表面に付着した繊維または他の粒子、表面包有物、および、ステインなどを含みうる。本明細書で用いるように、等方性欠陥検出は、欠陥の向き、特に、ガラスシート表面の平面内での向きに依存せずに表面欠陥を検出することを称する。装置100は、光源102、光源102から発せられた光106を平行にするように配列されたコリメータ104、平行な光106を妨げるように位置するビームスプリッタ108、第1の前側レンズ要素112および第2の後ろ側レンズ要素114を含むレンズアセンブリ110、並びに、第1のレンズ要素112と第2のレンズ要素114の間に位置する逆開口部116を含む検出モジュール101を含む。レンズアセンブリ110は、例えば、テレセントリックレンズを含みうる。 Based on the above description, FIG. 5 illustrates an exemplary detection apparatus 100 configured for isotropic defect detection of surface defects in a sheet of material using the principals of FIGS. For purposes of illustration and not limitation, the sheet of material for which defects are to be detected is described as a transparent glass sheet, such as a visually transparent glass sheet suitable for manufacturing display devices. Defects therefore include, but are not limited to, bumps, dents (such as pits caused by molding operations), surface residues, scratches, stones (e.g., unmelted material used to make glass sheets). materials), attached glass chips, fibers or other particles attached to the surface of the sheet, surface inclusions, stains, and the like. As used herein, isotropic defect detection refers to detecting surface defects independent of the orientation of the defect, particularly within the plane of the glass sheet surface. The apparatus 100 includes a light source 102, a collimator 104 arranged to collimate the light 106 emitted from the light source 102, a beam splitter 108 positioned to block the collimated light 106, a first front lens element 112 and a second lens element 112. It includes a lens assembly 110 including two rear lens elements 114 and a detection module 101 including a reverse aperture 116 located between a first lens element 112 and a second lens element 114 . Lens assembly 110 may include, for example, a telecentric lens.

検出モジュール101は、更に、撮像センサ120を含む撮像装置118を含みうる。いくつかの実施形態において、撮像センサ120は、撮像センサ120によって取得された画像を見る方法、並びに/若しくは、後で見るためか、および/または、分析するための保存方法に応じて、制御部に接続され、任意で計算システムに、任意でモニター(表示装置)に、更に、任意で記録装置に接続されうる。 Detection module 101 may further include imaging device 118 , which includes imaging sensor 120 . In some embodiments, the imaging sensor 120 controls the control unit depending on how the images acquired by the imaging sensor 120 are viewed and/or stored for later viewing and/or analysis. , optionally to a computing system, optionally to a monitor (display device), and optionally to a recording device.

検出装置100は、更に、ガラスシートを搬送方向20に検出モジュール101を過ぎて搬送するように構成された搬送装置122を含みうる。搬送装置122は、例えば、ガラスシート10を搬送方向20に移動するように配列された1つ以上のエンドレスベルト124を含みうる。搬送装置122は、光源102からの光(例えば、ビームスプリッタ108によって反射された光)が入射する第1の表面12が遮られないように位置する(例えば、レンズ110の実視野に適合し、遮らない大きさ、および、位置の)間隙126を含みうる。例えば、搬送装置122は、ループ状に配列された少なくとも2つのエンドレスベルトを含み、ループの端部同士の間には間隙を備えうる。他の実施形態において、搬送装置122は、空気ベアリング、例えば、多数の空気ベアリングを含み、空気ベアリングの端部同士の間に間隙を備えて並べて配列しうるもので、ガラスシート10は、空気ベアリングの上を、第1の空気ベアリングから、間隙の上を通って、次の空気ベアリングへと搬送される。ガラスシート10が水平方向に搬送されるものとして示しているが、本明細書に開示の装置および方法を、他の向きにも構成しうる。例えば、ガラスシート10は、垂直の向き、または、垂直を外れた向きに(例えば、5度から20度の角度で、空気ベアリングによって支持されて)位置しうる。当業者であれば、他のガラスシートの向き、および、搬送方法も容易に企図しうるものであり、本明細書に記載の実施形態は、添付の図面に示した構成に特に限定されるものではない。 The detection device 100 may further include a transport device 122 configured to transport the glass sheet in the transport direction 20 past the detection module 101 . Transport device 122 may include, for example, one or more endless belts 124 arranged to move glass sheet 10 in transport direction 20 . Transport device 122 is positioned such that first surface 12 upon which light from light source 102 (eg, light reflected by beam splitter 108) is incident is unobstructed (eg, matches the field of view of lens 110, gaps 126 of unobstructed size and location). For example, the transport device 122 may include at least two endless belts arranged in loops with a gap between the ends of the loops. In other embodiments, the transport apparatus 122 may include air bearings, such as multiple air bearings, arranged side by side with a gap between the ends of the air bearings, the glass sheets 10 from the first air bearing over the gap to the next air bearing. Although the glass sheet 10 is shown to be conveyed in a horizontal orientation, the apparatus and methods disclosed herein may be configured in other orientations. For example, the glass sheet 10 can be positioned in a vertical orientation or in an off-vertical orientation (eg, at an angle of 5 to 20 degrees and supported by air bearings). Other glass sheet orientations and transport methods can be readily envisioned by those skilled in the art, and the embodiments described herein are specifically limited to the configurations shown in the accompanying drawings. is not.

更に図5を参照すると、光源102から発せられた光106は、コリメータ104によって、平行にされて、平行な光128がビームスプリッタ108に入射する。ビームスプリッタ108は、入射した平行な光128を、2つのビームへと分割するもので、(光線130で表した)一方のビームは、ビームスプリッタ108を通って透過され、(光線132で表した)第2のビームは、下方に、ガラスシート10の第1の表面12に向かって、直交または略直交するように反射される。本明細書で用いるように、略直交という用語は、例えば、第1の表面などの基準表面または方向に対して垂直から、10度以内、5度以内、または、1度以内など、20度以内である意味を意図する。ビームスプリッタ108を通って透過された光130は、第1のビームダンプ134によって、捉えられうる(例えば、吸収されうる)。例えば、第1のビームダンプ134は、ビームダンプに入射した光を吸収するように暗い(例えば、黒色の)材料で構成された表面を有する構成要素を含みうる。構成要素の表面を、光吸収材料でペイントするか、または、他の態様で被膜して、その構成要素が吸収するようにさせうるもので、光吸収材料の例は、つや消し黒色塗料、炭素層、陽極酸化層、若しくは、任意の他の適した吸収層または材料を含みうる。実施形態において、第1のビームダンプ134の吸収構成要素は、透過された光130のビーム方向に対して角度を成して、ビームダンプ134から反射した光が、光源102に向けられるのも、ビームスプリッタ108によって検出装置118に向かう方向に反射されるのも防ぎうる。実施形態において、吸収構成要素は被膜プレートでありうるが、更なる実施形態において、吸収構成要素は、互いに角度を成して配列された多数の被膜プレートを含みうる。 Still referring to FIG. 5, light 106 emitted by light source 102 is collimated by collimator 104 and collimated light 128 is incident on beam splitter 108 . Beam splitter 108 splits incident parallel light 128 into two beams, one of which (represented by rays 130) is transmitted through beam splitter 108 (represented by rays 132). ) the second beam is reflected orthogonally or nearly orthogonally downward toward the first surface 12 of the glass sheet 10 . As used herein, the term substantially orthogonal means, e.g., within 20 degrees, such as within 10 degrees, within 5 degrees, or within 1 degree, from normal to a reference surface or direction, such as the first surface. intended to mean that Light 130 transmitted through beam splitter 108 may be captured (eg, absorbed) by first beam dump 134 . For example, first beam dump 134 may include a component having a surface composed of a dark (eg, black) material to absorb light incident on the beam dump. The surface of the component may be painted or otherwise coated with a light absorbing material to cause the component to absorb, examples of light absorbing material are matte black paint, carbon layer , an anodized layer, or any other suitable absorbent layer or material. In embodiments, the absorbing component of the first beam dump 134 is at an angle to the beam direction of the transmitted light 130 such that light reflected from the beam dump 134 is directed toward the light source 102 also It may also be prevented from being reflected by the beam splitter 108 in a direction towards the detector 118 . In embodiments, the absorbent component can be a coating plate, but in further embodiments, the absorbent component can include multiple coating plates arranged at an angle to each other.

ガラスシート10の第1の表面12に入射した第2のビーム132の第1の部分は、第1の表面12から反射され、ビームスプリッタ108を通って透過され、レンズアセンブリ110によって、背景光138として集光され、欠陥(例えば、引っ掻き傷16)に入射した第2のビーム132の第2の部分は、欠陥によって、概してレンズアセンブリ110に向かう方向に散乱され、したがって、散乱光140として捉えられる。更に、ビームスプリッタ108によって反射された光132の他の(第3の)部分142は、ガラスシート10を通って透過されて、第2のビームダンプ144によって吸収されうる。例えば、第1のビームダンプ134のように、第2のビームダンプ144は、材料に入射した光を吸収するように暗い(例えば、黒色の)材料を含む表面を有する構成要素を含みうる。構成要素の表面を、光吸収材料でペイントするか、または、他の態様で被膜して、その構成要素が吸収するようにさせうるもので、光吸収材料の例は、つや消し黒色塗料、炭素層、陽極酸化層、若しくは、任意の他の適した吸収層または材料を含みうる。実施形態において、吸収構成要素は、平行な光のうちガラスシート10を通って透過した部分の(主面12、14に直交する)ビーム方向146に対して角度を成して、第2のビームダンプ144によって反射された光が、撮像装置118または光源102に向けられるのを防ぎうる。実施形態において、吸収構成要素は、単一の被膜プレートでありうるが、更なる実施形態において、吸収構成要素は、互いに角度を成して配列された多数の被膜プレートを含みうる。 A first portion of the second beam 132 incident on the first surface 12 of the glass sheet 10 is reflected from the first surface 12 , transmitted through the beam splitter 108 , and illuminated by the lens assembly 110 as background light 138 . A second portion of the second beam 132 that is focused as and incident on the defect (e.g., scratch 16) is scattered by the defect in a direction generally toward the lens assembly 110 and is thus captured as scattered light 140. . Additionally, another (third) portion 142 of light 132 reflected by beam splitter 108 may be transmitted through glass sheet 10 and absorbed by a second beam dump 144 . For example, like first beam dump 134, second beam dump 144 may include a component having a surface that includes a dark (eg, black) material to absorb light incident on the material. The surface of the component may be painted or otherwise coated with a light absorbing material to cause the component to absorb, examples of light absorbing material are matte black paint, carbon layer , an anodized layer, or any other suitable absorbent layer or material. In an embodiment, the absorbing component is at an angle to the beam direction 146 (perpendicular to the major surfaces 12, 14) of the portion of the collimated light transmitted through the glass sheet 10, and the second beam Light reflected by dump 144 may be prevented from being directed toward imaging device 118 or light source 102 . In embodiments, the absorbent component can be a single coating plate, but in further embodiments, the absorbent component can include multiple coating plates arranged at an angle to each other.

更に、図5を参照すると、背景光138は、前側レンズ要素112によって、第1のレンズ要素112の後ろ側合焦面150に位置する逆開口部116の不透明な中心ディスク148に合焦され、そこで、背景光138は吸収される。欠陥16によって散乱された光140は、逆開口部116の不透明な中心ディスク148を囲む透明領域152を通って透過され、更に、第2のレンズ要素114によって、撮像装置118の撮像センサ120に合焦される。 Still referring to FIG. 5, the background light 138 is focused by the front lens element 112 to an opaque central disk 148 of the reverse aperture 116 located at the rear focal plane 150 of the first lens element 112, There, the background light 138 is absorbed. Light 140 scattered by defect 16 is transmitted through a transparent region 152 surrounding an opaque central disk 148 of reverse aperture 116 and is further coupled by second lens element 114 to imaging sensor 120 of imager 118 . be burned.

光源102は、レーザを含みうるか、他の実施形態において、光源102は、発光ダイオード(LED)を含みうる。レーザまたはLEDは、撮像装置118が検知可能な任意の適した波長、または、1群の波長の光を発しうる。例えば、実施形態において、レーザまたはLEDは、可視光波長(例えば、約400ナノメートル(nm)から約700nmの範囲)の光を発しうる。いくつかの実施形態において、光源102は、白色光源、例えば、白熱電球など、白色光源を含みうる。 Light source 102 may include a laser, or in other embodiments, light source 102 may include light emitting diodes (LEDs). A laser or LED may emit light at any suitable wavelength or group of wavelengths that imager 118 can detect. For example, in embodiments, lasers or LEDs can emit light in visible wavelengths (eg, in the range of about 400 nanometers (nm) to about 700 nm). In some embodiments, light source 102 may include a white light source, such as a white light source, eg, an incandescent light bulb.

ビームスプリッタ108は、任意の適したビームスプリッタでありうる。例えば、いくつかの実施形態において、ビームスプリッタ108は、半鍍銀鏡、例えば、ペリクル鏡でありうる。入射光の波長、検出を意図する欠陥の種類などに応じて、他のビームスプリッタ設計を用いうるもので、そのような設計は、当業者によく知られている。 Beam splitter 108 may be any suitable beam splitter. For example, in some embodiments beamsplitter 108 can be a half-plated silver mirror, such as a pellicle mirror. Other beamsplitter designs may be used, depending on the wavelength of the incident light, the type of defects intended to be detected, etc., and such designs are well known to those skilled in the art.

撮像装置118は、カメラ、または、他の適した撮像装置、例えば、線走査カメラでありうるもので、撮像センサ120は、搬送方向20に直交または略直交して位置合わせされた線センサでありうる。 Imaging device 118 may be a camera or other suitable imaging device, such as a line scan camera, and imaging sensor 120 is a line sensor aligned orthogonally or substantially orthogonally to transport direction 20. sell.

いくつかの実施形態において、逆開口部116は、外側材料154から延伸するワイヤまたは他の細い材料によって支持された不透明な中心ディスク148を含み、外側材料は、不透明な中心ディスク148との組合せで、不透明な中心ディスク148を囲む環状の透明領域152を画定する。しかしながら、そのような支持部材は、等方的検出を妨げうる。したがって、好適な実施形態において、逆開口部116は、その上に成膜されたマスク材料を含むガラスプレートなどの透明プレートを含み、マスク材料は、内側マスク(つまり、不透明な中心ディスク148)、および、(環状の透明領域152であり、したがって、外側マスク154と不透明な中心ディスク148の間に画定される)透明領域152の外周を画定する外側マスク154含み、不透明な支持または接続要素が、外側マスク材料と内側マスク材料の間に延伸しない。次に、逆開口部116は、永久的にレンズ110内に載置されるか、レンズ110を、ポートまたは他の開口部を有して構成し、逆開口部116の挿入、および/または、取り外し(若しくは、任意の他の望ましい開口部またはフィルタの挿入、および/または、取り外し)を可能とするようにしうる。 In some embodiments, reverse aperture 116 includes an opaque central disk 148 supported by a wire or other thin material extending from outer material 154 , the outer material in combination with opaque central disk 148 . , defines an annular transparent region 152 surrounding the opaque central disk 148 . However, such support members can interfere with isotropic detection. Thus, in a preferred embodiment, the reverse aperture 116 comprises a transparent plate, such as a glass plate, having a masking material deposited thereon, the masking material being the inner mask (i.e., the opaque central disk 148); and an outer mask 154 defining the perimeter of the transparent region 152 (which is an annular transparent region 152 and is thus defined between the outer mask 154 and the opaque central disc 148), wherein the opaque support or connecting elements are It does not stretch between the outer mask material and the inner mask material. The reverse aperture 116 is then permanently seated within the lens 110 or the lens 110 is configured with a port or other opening to facilitate insertion of the reverse aperture 116 and/or Removal (or insertion and/or removal of any other desired opening or filter) may be allowed.

光源からの出力を安定させるために、フォトダイオード(不図示)を、光源、例えば、レーザフォトダイオードからのレーザ光を監視するように配置しうる。光源からの出力を検出して、適切な信号を、データ線161を通して制御部160に送出し、それにより、光源出力を監視し調節する制御ループを確立しうる。例えば、レーザ光源の出力が、所定の出力設定点を逸れた場合には、制御部160は、レーザ(例えば、フォトダイオード)の出力調整を、データ線162を通して調節し、レーザの出力が、所定の出力設定点に戻るようにしうる。 A photodiode (not shown) may be positioned to monitor the laser light from the light source, eg, a laser photodiode, to stabilize the output from the light source. The output from the light source may be detected and an appropriate signal sent over data line 161 to controller 160, thereby establishing a control loop to monitor and adjust the light source output. For example, if the power of the laser source deviates from the predetermined power set point, the controller 160 adjusts the laser (e.g., photodiode) power regulation through the data line 162 so that the laser power is at the predetermined power set point. output set point.

本明細書に記載の実施形態によれば、ガラスシートを検査していない(例えば、間隙126内にも、間隙126に隣接してもガラスシート10がない)場合には、制御部160がレーザを制御するようにプログラムされうる。しかしながら、ガラスシートを検査している時に、反射光、例えば、ビームスプリッタ108から光源102に向かう方向に反射された光は、レーザ内に入り散乱されうる。これにより、フォトダイオードの出力が実際より大きく見えうる。結果的に、制御部160は、レーザ出力を低くしようとする。したがって、実際のレーザ出力が、検査を行うのに低くなりすぎうる。 According to embodiments described herein, if no glass sheet is being inspected (e.g., there is no glass sheet 10 in or adjacent to gap 126), controller 160 causes laser can be programmed to control However, when inspecting a glass sheet, reflected light, eg, light reflected from beam splitter 108 in a direction toward light source 102, may enter the laser and be scattered. This can make the output of the photodiode appear larger than it actually is. As a result, the controller 160 tries to lower the laser power. Therefore, the actual laser power may be too low for inspection.

これらの問題を解決するために、ガラスシート近接センサ163を配置して、ガラスシートを検出しうる。ガラスシート搬送速度が分かるので、制御部160内のタイミング回路を用いて、ガラスシートが検出装置の前方にある場合にはいつも、制御部160はフィードバック制御を無効にする。したがって、レーザのフィードバック制御は、検査中のガラスシートがない(例えば、ガラスシートが間隙126の上にない(例えば、妨げない))場合に、有効にされる。その代わりに、ガラスシートが間隙に存在するか、存在しないかを、直接検出してもよく、その場合には、速度および位置の計算を必要としない。上記光源出力を、他の光源、例えば、LED光源でも用いうる。 To solve these problems, a glass sheet proximity sensor 163 can be deployed to detect the glass sheet. Knowing the glass sheet transport speed, using a timing circuit in controller 160, controller 160 disables feedback control whenever a glass sheet is in front of the detector. Thus, feedback control of the laser is enabled when there is no glass sheet under inspection (eg, the glass sheet is not over (eg, obstructs) the gap 126). Alternatively, the presence or absence of a glass sheet in the gap may be detected directly, in which case velocity and position calculations are not required. The light source output may also be used with other light sources, such as LED light sources.

上記記載に基づけば、検出装置の構成要素の配列を変えて、例えば、よりコンパクトな装置を実現しうることが明らかだろう。図6に、等方的欠陥検出を行うように構成された他の例示的な検出装置200を示している。検出装置200は、光源204を含む検出モジュール202、光源204から発せられた光208を平行にするように配列されたコリメータ206、ビームスプリッタ210、第1の前側レンズ要素214および第2の後ろ側レンズ要素216を含むレンズアセンブリ212、並びに、第1のレンズ要素214と第2のレンズ要素216の間に配置された逆開口部218を含む。レンズアセンブリ212は、例えば、テレセントリックレンズを含みうる。検出モジュール202は、更に、撮像センサ222を含む撮像装置220を含みうる。上記構成要素の任意の1つ以上は、枠部224に載置されて、選択された構成要素間の空間的関係を確立、および/または、維持しうる。 Based on the above description, it will be clear that the arrangement of the components of the detection device may be varied to achieve, for example, a more compact device. FIG. 6 shows another exemplary detection apparatus 200 configured for isotropic defect detection. The detection apparatus 200 includes a detection module 202 including a light source 204, a collimator 206 arranged to collimate light 208 emitted from the light source 204, a beam splitter 210, a first front lens element 214 and a second rear lens element 214. It includes a lens assembly 212 including a lens element 216 and a reverse aperture 218 positioned between a first lens element 214 and a second lens element 216 . Lens assembly 212 may include, for example, a telecentric lens. Detection module 202 may further include imaging device 220 including imaging sensor 222 . Any one or more of the above components may rest on frame 224 to establish and/or maintain spatial relationships between selected components.

検出装置200は、任意で、光源204によって発せられた光の外側領域を遮るように配列された視野絞り226を含みうる。検出装置200は、更に、レンズ212をビームスプリッタ210(およびガラスシート10)に対して移動するように構成された合焦装置228も含み、それによって、レンズアセンブリの焦点を、第1の主面12と第2の表面14の間で移動しうる。したがって、レンズ212の焦点を、第1の主面12から第2の主面14へ、または、ガラスシートの第1と第2の主面の間の厚さTに亘る任意の点へ移動しうる。合焦装置228は、例えば、線形のレール、または、ステージアセンブリで、レンズ212を、ビームスプリッタ210およびガラスシート10に対して移動するのを可能にさせうる。つまり、レンズ212を移動することで、レンズアセンブリとガラスシートの間の光路長が変化する。したがって、いくつかの実施形態において、レンズアセンブリ212を、枠部224に、合焦装置228を介して載置し、レンズアセンブリ212の位置を、合焦装置228の位置を調節することによって調節しうる。いくつかの実施形態において、合焦装置228は、スクリュー式組立て部によって手動で調節しうるが、更なる実施形態において、合焦装置は、合焦装置228と係合したモータ、例えば、サーボモータを介した調節を含みうる。いくつかの実施形態において、合焦を、遠隔制御を介して、または、更に自動でも実現しうる。当業者であれば、適切な構成要素を容易に配列して、遠隔または自動合焦制御を実現しうる。合焦装置228を、本明細書に記載の他の実施形態と共に用いうることも容易に分かるだろう。 Detecting device 200 may optionally include a field stop 226 arranged to block an outer region of light emitted by light source 204 . The detector 200 also includes a focusing device 228 configured to move the lens 212 relative to the beam splitter 210 (and glass sheet 10), thereby focusing the lens assembly to the first principal plane. 12 and the second surface 14. Therefore, the focus of the lens 212 can be moved from the first major surface 12 to the second major surface 14 or to any point across the thickness T between the first and second major surfaces of the glass sheet. sell. Focusing device 228 may be, for example, a linear rail or stage assembly that allows lens 212 to move relative to beam splitter 210 and glass sheet 10 . That is, moving lens 212 changes the optical path length between the lens assembly and the glass sheet. Accordingly, in some embodiments, lens assembly 212 is mounted to frame 224 via focusing device 228 and the position of lens assembly 212 is adjusted by adjusting the position of focusing device 228. sell. In some embodiments, the focus device 228 may be manually adjusted by a screw assembly, but in further embodiments the focus device is a motor, e.g., a servomotor, engaged with the focus device 228. can include regulation via In some embodiments, focusing may be accomplished via remote control or even automatically. A person skilled in the art can easily arrange the appropriate components to achieve remote or automatic focus control. It will also be readily appreciated that the focusing device 228 may be used with other embodiments described herein.

本実施形態の動作は、上記実施形態の動作と同様である。光源204は、発せられた光208が、ガラスシート10の第1の主面12と直交、または、略直交するように向けられるように配列される。つまり、光208は、第1の光軸224に沿って、第1の主面12に向かい直交する方向に発せられ、レンズ212の第2の光軸226は、第1の主面12に平行に(かつ、第1の光軸224に直交して)配列される。発せられた光208は、コリメータ206によって平行にされ、平行な光228がビームスプリッタ210に入射する。ビームスプリッタ210は、入射した平行な光228を2つのビームに分け、(光線232で表した)一方のビームは、ビームスプリッタ210を通って透過され、ガラスシートの第1の表面12に向かい、(光線234で表した)第2のビームは、ビームスプリッタ210から、透過されたビーム230に直交する方向に、第1のビームダンプ236に向かって反射される。ビームスプリッタ210によって反射された光234は、第1のビームダンプ236によって捉えられうる(例えば、吸収されうる)。例えば、第1のビームダンプ236は、吸収構成要素に入射した光を吸収するように構成された吸収構成要素を含みうる。吸収構成要素は、例えば、吸収構成要素の表面を、光吸収材料でペイントするか、他の態様で被膜することによって、吸収するようにされうるもので、光吸収材料の例は、つや消し黒色塗料、炭素層、または、任意の他の適した吸収材料を含みうる。実施形態において、吸収構成要素は、反射されたビーム234の伝播方向に対して角度を成して、ビームダンプから反射されうる光が、光源204に向かう方向に戻るように向けられるのを防ぎうる。 The operation of this embodiment is the same as the operation of the above embodiment. Light sources 204 are arranged such that emitted light 208 is directed orthogonally or substantially orthogonally to first major surface 12 of glass sheet 10 . That is, light 208 is emitted in a direction orthogonal to first major surface 12 along first optical axis 224 , and second optical axis 226 of lens 212 is parallel to first major surface 12 . (and orthogonal to the first optical axis 224). Emitted light 208 is collimated by collimator 206 and collimated light 228 enters beam splitter 210 . Beam splitter 210 splits incident collimated light 228 into two beams, one beam (represented by rays 232) being transmitted through beam splitter 210 toward first surface 12 of the glass sheet, A second beam (represented by ray 234 ) is reflected from beam splitter 210 in a direction orthogonal to transmitted beam 230 toward first beam dump 236 . Light 234 reflected by beam splitter 210 may be captured (eg, absorbed) by first beam dump 236 . For example, first beam dump 236 may include an absorbing component configured to absorb light incident on the absorbing component. The absorbing component can be made absorbing, for example, by painting or otherwise coating the surface of the absorbing component with a light absorbing material, an example of a light absorbing material being matte black paint. , a carbon layer, or any other suitable absorbent material. In embodiments, the absorbing component may be at an angle to the direction of propagation of the reflected beam 234 to prevent light that may be reflected from the beam dump from being directed back towards the light source 204 . .

ガラスシート10の第1の表面12に入射した第1のビーム232の一部は、ガラスシート10の第1の表面12から、ビームスプリッタ210に向かって戻るように反射され、次に、ビームスプリッタ210から、レンズアセンブリ212に向かう方向に反射され、レンズアセンブリ212によって背景光として集光され、一方、第1の主面12(および/または、第2の主面14)の欠陥に入射した第1のビーム232の第2の部分は、欠陥によって、概してレンズアセンブリ212に向かう方向に散乱されて(ビームスプリッタ210から反射した後に)レンズアセンブリ212によって、散乱光として捉えられる(簡略化するために、第1の表面12からの反射光、および、散乱光の両方を単一の光線238として示している)。それでも、ガラスシート10の第1の表面12からの反射光の振舞い、散乱光の振舞い、並びに、反射光および散乱光の逆開口部218との相互作用は、検出モジュール101および逆開口部116についての記載と同一である。 A portion of the first beam 232 incident on the first surface 12 of the glass sheet 10 is reflected from the first surface 12 of the glass sheet 10 back toward the beam splitter 210 and then reflected by the beam splitter. 210 reflected in a direction toward lens assembly 212 and collected as background light by lens assembly 212 while incident on defects in first major surface 12 (and/or second major surface 14). A second portion of beam 232 of 1 is scattered by the defect in a direction generally toward lens assembly 212 (after reflection from beamsplitter 210) and captured by lens assembly 212 as scattered light (for simplicity , both the reflected light from the first surface 12 and the scattered light are shown as a single ray 238). Nonetheless, the behavior of the reflected light from the first surface 12 of the glass sheet 10, the behavior of the scattered light, and the interaction of the reflected and scattered light with the reverse aperture 218 are different for the detection module 101 and the reverse aperture 116. is the same as described in

更に、ビームスプリッタ210を通って透過され、第1の表面12に入射した光232の他の(第3の)部分240は、ガラスシート10を通って透過され、第2のビームダンプ242によって、捉えられうる(例えば、吸収されうる)。例えば、第1のビームダンプ236と同様に、第2のビームダンプ242は、吸収構成要素に入射した光を吸収するように構成された吸収構成要素を含みうる。材料シートは、例えば、吸収構成要素を、吸収材料でペイントするか、他の態様で被膜することによって、吸収するようにされうるもので、吸収材料の例は、つや消し黒色塗料、炭素層、または、任意の他の適した吸収材料を含みうる。実施形態において、吸収構成要素は、ガラスシート10を通って透過した入射ビーム240に対して角度を成して、第2のビームダンプ242から反射された光が、撮像装置220または光源204に向かう方向に戻るように反射されるのを防ぎうる。実施形態において、吸収構成要素は、光吸収材料で被膜されたプレートでありうるが、更なる実施形態において、吸収構成要素は、互いに角度を成して配列された多数の被膜プレートを含みうる。 In addition, another (third) portion 240 of the light 232 transmitted through the beam splitter 210 and incident on the first surface 12 is transmitted through the glass sheet 10 and by a second beam dump 242 It can be captured (eg, absorbed). For example, similar to first beam dump 236, second beam dump 242 can include an absorbing component configured to absorb light incident on the absorbing component. The sheet of material can be made absorbent, for example, by painting or otherwise coating the absorbent component with an absorbent material, examples of which are matte black paint, a carbon layer, or , may include any other suitable absorbent material. In an embodiment, the absorbing component is at an angle to the incident beam 240 transmitted through the glass sheet 10 such that light reflected from the second beam dump 242 is directed toward the imager 220 or light source 204. It can prevent it from being reflected back in direction. In embodiments, the absorbing component can be a plate coated with light absorbing material, but in a further embodiment, the absorbing component can include multiple coated plates arranged at angles to each other.

更に図6を参照すると、背景光は、前側レンズ要素214によって、第1のレンズ要素214の後ろ側合焦面に位置する逆開口部218の不透明な中心ディスク244へと合焦され、そこで、背景光は吸収される。欠陥(例えば、引っ掻き傷)16によって散乱された光は、逆開口部218の不透明な中心ディスク244を囲む透明領域246を通って透過され、更に、第2のレンズ要素216によって、撮像装置220の撮像センサ222に合焦される。 Still referring to FIG. 6, background light is focused by the front lens element 214 onto an opaque central disc 244 of the reverse aperture 218 located at the rear focal plane of the first lens element 214, where Background light is absorbed. Light scattered by defects (e.g., scratches) 16 is transmitted through a transparent region 246 surrounding an opaque central disk 244 of reverse aperture 218 and is further directed by second lens element 216 to imager 220 . The imaging sensor 222 is focused.

上記記載に基づけば、いくつかの例において、上記構成要素の配列は、対象ガラスシートの小さい部分を、特に、ガラスシートが搬送方向20に沿って搬送される場合に撮像することが明らかだろう。したがって、実施形態において、検出装置200(または、100)は、ガラスシート10に対向して隣接し、アレイ状に配列された複数の検出モジュール202(または、101)を含みうる。いくつかの実施形態において、図7に示すように、複数の検出モジュールを対向関係に配列しうる。更に、実施形態において、多数の列に並んだ検出モジュールを用いうるものであり、いくつかの実施形態において、図8に示したように、対向する列に並んだ検出モジュールを用いうる。いくつかの実施形態において、対向する列に並んだ検出モジュール202(または、101)は、一方の列のレンズアセンブリの光軸が、対向する列の対向するレンズアセンブリの間に延伸するようにずれうる(図9を参照)。つまり、レンズアセンブリは、対向する検出モジュール列の2つのレンズアセンブリの間の間隙に対向して、配置される。他の実施形態において、対向するレンズアセンブリの光軸は一致しうる。 Based on the above description, it will be apparent that in some instances the arrangement of components will image a small portion of the target glass sheet, particularly when the glass sheet is conveyed along conveying direction 20. . Thus, in embodiments, the detection apparatus 200 (or 100) may include a plurality of detection modules 202 (or 101) arranged in an array facing and adjacent to the glass sheet 10. FIG. In some embodiments, multiple detection modules may be arranged in a facing relationship, as shown in FIG. Further, in embodiments, multiple rows of detection modules may be used, and in some embodiments, opposing rows of detection modules may be used, as shown in FIG. In some embodiments, opposing rows of detection modules 202 (or 101) are offset such that the optical axis of a lens assembly in one row extends between the opposing lens assemblies in an opposing row. (see Figure 9). That is, the lens assemblies are positioned opposite the gap between the two lens assemblies of opposing rows of detection modules. In other embodiments, the optical axes of opposing lens assemblies may coincide.

図10は、本開示の検出装置を用いて観察された異なる欠陥の一連の画像を含んでいる。画像は、本開示の実施形態を用いて、広範囲の様々な表面欠陥を検出しうることを示している。 FIG. 10 contains a series of images of different defects observed using the detection apparatus of the present disclosure. The images demonstrate that a wide variety of surface defects can be detected using embodiments of the present disclosure.

当業者には、本開示の精神および範囲を逸脱することなく、本開示の実施形態に、様々な変更および変更が可能なことが明らかだろう。したがって、本開示は、添付の請求項および等価物の範囲である限りは、そのような変更および変形も網羅することを意図する。 It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and alterations can be made to the embodiments of the disclosure without departing from the spirit and scope of the disclosure. Accordingly, the present disclosure is intended to cover such modifications and variations insofar as they come within the scope of the appended claims and their equivalents.

以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described item by item.

実施形態1
ガラスシート表面の欠陥検出方法において、
光源から発せられた光ビームを平行にする工程と、
前記平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる工程であって、前記ビームスプリッタは、該交差した平行な光ビームの第1の部分をガラスシートの第1の表面に向けて、該交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が前記ガラスシートの前記第1の表面を照らすようにするものであり、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものである工程と、
前記反射光および前記散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する工程であり、前記第1のレンズ要素は、該反射光および該散乱光を逆開口部に向けて、該反射光は前記逆開口部によって遮られ、該散乱光は該逆開口部によって透過されるものである工程と、
前記逆開口部によって透過された前記散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、該散乱光を検出する工程と
を含む方法。
Embodiment 1
In the method for detecting defects on the surface of a glass sheet,
collimating a beam of light emitted from a light source;
intersecting the parallel light beam with a beam splitter, the beam splitter directing a first portion of the crossed parallel light beam to a first surface of a glass sheet to direct the crossed parallel light beam to a first surface of a glass sheet; said directed portion of a beam of light illuminating said first surface of said glass sheet, said first portion of said light illuminating said first surface of said glass sheet illuminating said first surface of said glass sheet; a second portion of the light reflected by one surface and illuminating the first surface of the glass sheet is scattered by a defect;
a step of receiving the reflected light and the scattered light using a first lens element, the first lens element directing the reflected light and the scattered light to a reverse aperture, and the reflected light is intercepted by the reverse aperture, the scattered light being transmitted by the reverse aperture;
and directing the scattered light transmitted by the reverse aperture to an imaging device using a second lens element to detect the scattered light.

実施形態2
前記光源は、レーザである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 2
3. The method of embodiment 1, wherein the light source is a laser.

実施形態3
前記光源は、1つ以上の可視光波長を含むものである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 3
3. The method of embodiment 1, wherein the light source comprises one or more visible light wavelengths.

実施形態4
前記ビームスプリッタと交差する前記平行な光の第2の部分は、次に、ビームダンプに入射するものである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 4
3. The method of embodiment 1, wherein a second portion of the collimated light that intersects the beam splitter is then incident on a beam dump.

実施形態5
前記ガラスシートは、前記交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記表面を照らさない第1の位置から、該交差した平行な光ビームの該向けられた部分が該ガラスシートの該表面を照らす第2の位置へ移動されるものであり、
方法は、更に、
前記ガラスシートが前記第1の位置から前記第2の位置へ移動される時に、該ガラスシートを監視する工程と、
前記ガラスシートが前記第1の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光を監視し、該光源の出力が所定の出力から変化した場合には、該光源の前記出力を調節する工程と、
前記ガラスシートが前記第2の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光の監視を無効にする工程と
を含むものである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 5
The glass sheet is moved from a first position where the directed portion of the crossed parallel light beam does not illuminate the surface of the glass sheet so that the directed portion of the crossed parallel light beam is moved to a second position to illuminate said surface of the sheet;
The method further includes:
monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position;
monitoring the light emitted by the light source when the glass sheet is in the first position and adjusting the output of the light source if the output of the light source varies from a predetermined output; When,
and disabling monitoring of the light emitted by the light source when the glass sheet is in the second position.

実施形態6
前記第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるものであり、
方法は、更に、
前記レンズアセンブリの焦点を、前記ガラスシートの前記第1の表面の反対側の第2の表面にずらす工程を、
含むものである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 6
wherein the first and second lens elements are included in a lens assembly;
The method further includes:
defocusing the lens assembly to a second surface of the glass sheet opposite the first surface;
2. The method of embodiment 1, comprising:

実施形態7
前記第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるものであり、
方法は、更に、
前記レンズアセンブリの焦点を、前記第1の表面と該第1の表面の反対側の第2の表面の間の位置にずらす工程を、
含むものである、実施形態1に記載の方法。
Embodiment 7
wherein the first and second lens elements are included in a lens assembly;
The method further includes:
shifting the focus of the lens assembly to a position between the first surface and a second surface opposite the first surface;
2. The method of embodiment 1, comprising:

実施形態8
ガラスシート表面の欠陥検出方法において、
ガラスシートの横寸法に亘って第1のアレイに並べられた複数の欠陥検出モジュールに隣接した前記ガラスシートを、搬送方向に搬送する工程を、
含み、
各前記欠陥検出モジュールは、
光源から発せられた光ビームを平行にする手段と、
前記平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる手段であって、前記ビームスプリッタは、該交差した平行な光ビームの第1の部分を、前記移動するガラスシートの第1の表面に向けて、該交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記第1の表面を照らすようにするものであり、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものである手段と、
前記反射光および前記散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する手段であり、前記第1のレンズ要素は、該反射光および該散乱光を逆開口部に向けて、該反射光は前記逆開口部によって遮られ、該散乱光は該逆開口部によって透過されるものである手段と、
前記逆開口部によって透過された前記散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、該散乱光を検出する手段と
を含むものである方法。
Embodiment 8
In the method for detecting defects on the surface of a glass sheet,
transporting the glass sheet in a transport direction adjacent to a plurality of defect detection modules arranged in a first array across the lateral dimension of the glass sheet;
including
Each said defect detection module includes:
means for collimating a beam of light emitted from a light source;
means for intersecting the parallel light beam with a beam splitter, the beam splitter directing a first portion of the intersected parallel light beam toward a first surface of the moving glass sheet; causing said directed portion of said crossed parallel light beam to illuminate said first surface of said glass sheet, said first portion of said light illuminating said first surface of said glass sheet wherein a second portion of the light reflected by the first surface and illuminating the first surface of the glass sheet is scattered by a defect;
means for receiving the reflected light and the scattered light using a first lens element, the first lens element directing the reflected light and the scattered light to a reverse aperture, and the reflected light is means intercepted by said reverse aperture, said scattered light being transmitted by said reverse aperture;
and means for directing the scattered light transmitted by the reverse aperture to an imaging device using a second lens element to detect the scattered light.

実施形態9
前記欠陥検出モジュールの前記第1のアレイは、線形アレイである、実施形態8に記載の方法。
Embodiment 9
9. The method of embodiment 8, wherein the first array of defect detection modules is a linear array.

実施形態10
前記搬送方向は、前記欠陥検出モジュールの前記線形の第1のアレイの方向に直交するものである、実施形態9に記載の方法。
Embodiment 10
10. The method of embodiment 9, wherein the transport direction is orthogonal to the linear first array direction of the defect detection modules.

実施形態11
前記複数の欠陥検出モジュールは、前記欠陥検出モジュールの前記第1のアレイの反対側に、欠陥検出モジュールの第2のアレイを含むものである、実施形態8に記載の方法。
Embodiment 11
9. The method of embodiment 8, wherein the plurality of defect detection modules includes a second array of defect detection modules opposite the first array of defect detection modules.

実施形態12
前記ガラスシートは、前記搬送方向に、各前記欠陥検出モジュールについて、前記交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記第1の表面を照らさない第1の位置から、該交差した平行なビームが該ガラスシートの該第1の表面を照らす第2の位置へ搬送されるものであり、
方法は、更に、
前記ガラスシートが前記第1の位置から前記第2の位置へ移動される時に、該ガラスシートを監視する工程と、
各前記欠陥検出モジュールについて、前記ガラスシートが前記第1の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光を監視し、該光源の出力が所定の出力から変化した場合には、該光源の前記出力を調節する工程と、
各前記欠陥検出モジュールについて、前記ガラスシートが前記第2の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光の監視を無効にする工程と
を含むものである、実施形態8に記載の方法。
Embodiment 12
The glass sheet is moved in the transport direction, for each defect detection module, from a first position where the directed portions of the crossed parallel light beams do not illuminate the first surface of the glass sheet. conveyed to a second position where crossed parallel beams illuminate the first surface of the glass sheet;
The method further includes:
monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position;
for each said defect detection module, monitoring said light emitted by said light source when said glass sheet is in said first position; adjusting the output of
and for each said defect detection module, disabling monitoring of said light emitted by said light source when said glass sheet is in said second position.

実施形態13
各前記欠陥検出モジュールについて、前記第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるものであり、
方法は、更に、
前記レンズアセンブリの焦点をずらす工程を、
含むものである、実施形態8に記載の方法。
Embodiment 13
for each said defect detection module, said first and second lens elements are included in a lens assembly;
The method further includes:
defocusing the lens assembly,
9. The method of embodiment 8, comprising:

実施形態14
少なくとも1つの前記レンズアセンブリの前記焦点をずらす工程は、該焦点を前記ガラスシートの厚さ内にずらす工程を含むものである、実施形態13に記載の方法。
Embodiment 14
14. The method of embodiment 13, wherein defocusing the at least one lens assembly comprises defocusing the focus within the thickness of the glass sheet.

実施形態15
材料シートの表面欠陥検出装置において、
光源と、
前記光源からの光を平行にするように配列されたコリメータと、
前記平行な光の第1の部分を、前記ガラスシートの第1の表面に向かって直交するように向けて、該平行な光の前記向けられた部分が、該ガラスシートの前記第1の表面を照らすように構成されたビームスプリッタであって、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該ガラスシートの該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものであるビームスプリッタと、
第1のレンズ要素および第2のレンズ要素を含み、前記平行な光の前記向けられた部分であって、前記ガラスシートの前記第1の表面から反射した光および該ガラスシートの該第1の表面の欠陥から散乱した光を受光するように配列されたレンズアセンブリと、
前記第1のレンズ要素と前記第2のレンズ要素の間に位置する逆開口部と、
前記欠陥によって散乱され、前記逆開口部によって透過された光を受光するように位置する撮像装置と
を含む装置。
Embodiment 15
In the surface defect detection device for material sheets,
a light source;
a collimator arranged to collimate the light from the light source;
Directing a first portion of the collimated light orthogonally toward a first surface of the glass sheet such that the directed portion of the collimated light is directed toward the first surface of the glass sheet. wherein a first portion of the light illuminating the first surface of the glass sheet is reflected by the first surface of the glass sheet and a beam splitter, wherein a second portion of the light illuminating the first surface is scattered by a defect;
a first lens element and a second lens element, the directed portion of the collimated light, the light reflected from the first surface of the glass sheet and the first lens element of the glass sheet; a lens assembly arranged to receive light scattered from surface imperfections;
a reverse aperture located between the first lens element and the second lens element;
an imaging device positioned to receive light scattered by the defect and transmitted by the reverse aperture.

実施形態16
前記逆開口部は、前記第1の表面から反射された光を遮るように構成されたものである、実施形態15に記載の装置。
Embodiment 16
16. The apparatus of embodiment 15, wherein the reverse aperture is configured to block light reflected from the first surface.

10 ガラスシート
24 検出器
100、200 検出装置
101、202 検出モジュール
102、204 光源
104、206 コリメータ
108、210 ビームスプリッタ
110、212 レンズアセンブリ
112、214 前側レンズ要素
114、216 後ろ側レンズ要素
116、218 逆開口
118、122 撮像装置
120、222 撮像センサ
134、144 ビームバンプ
10 glass sheet 24 detector 100, 200 detector 101, 202 detector module 102, 204 light source 104, 206 collimator 108, 210 beam splitter 110, 212 lens assembly 112, 214 front lens element 114, 216 rear lens element 116, 218 reverse aperture 118, 122 imaging device 120, 222 imaging sensor 134, 144 beam bump

Claims (8)

ガラスシート表面の欠陥検出方法において、
光源から発せられた光ビームを平行にする工程と、
前記平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる工程であって、前記ビームスプリッタは、該交差した平行な光ビームの第1の部分をガラスシートの第1の表面に向けて、該交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が前記ガラスシートの前記第1の表面を照らすようにするものであり、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものである工程と、
前記反射光および前記散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する工程であり、前記第1のレンズ要素は、該反射光および該散乱光を逆開口部に向けて、該反射光は前記逆開口部によって遮られ、該散乱光は該逆開口部によって透過されるものである工程と、
前記逆開口部によって透過された前記散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、該散乱光を検出する工程と、を含み、
前記ガラスシートは、前記交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記表面を照らさない第1の位置から、該交差した平行な光ビームの該向けられた部分が該ガラスシートの該表面を照らす第2の位置へ移動されるものであり、
方法は、更に、
前記ガラスシートが前記第1の位置から前記第2の位置へ移動される時に、該ガラスシートを監視する工程と、
前記ガラスシートが前記第1の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光を監視し、該光源の出力が所定の出力から変化した場合には、該光源の前記出力を調節する工程と、
前記ガラスシートが前記第2の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光の監視を無効にする工程と、
を含む方法。
In the method for detecting defects on the surface of a glass sheet,
collimating a beam of light emitted from a light source;
intersecting the parallel light beam with a beam splitter, the beam splitter directing a first portion of the crossed parallel light beam to a first surface of a glass sheet to direct the crossed parallel light beam to a first surface of a glass sheet; said directed portion of a beam of light illuminating said first surface of said glass sheet, said first portion of said light illuminating said first surface of said glass sheet illuminating said first surface of said glass sheet; a second portion of the light reflected by one surface and illuminating the first surface of the glass sheet is scattered by a defect;
a step of receiving the reflected light and the scattered light using a first lens element, the first lens element directing the reflected light and the scattered light to a reverse aperture, and the reflected light is intercepted by the reverse aperture, the scattered light being transmitted by the reverse aperture;
directing the scattered light transmitted by the reverse aperture to an imaging device using a second lens element to detect the scattered light ;
The glass sheet is moved from a first position where the directed portion of the crossed parallel light beam does not illuminate the surface of the glass sheet so that the directed portion of the crossed parallel light beam is moved to a second position to illuminate said surface of the sheet;
The method further includes:
monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position;
monitoring the light emitted by the light source when the glass sheet is in the first position and adjusting the output of the light source if the output of the light source varies from a predetermined output; When,
disabling monitoring of the light emitted by the light source when the glass sheet is in the second position;
method including.
前記光源は、レーザである、請求項1に記載の方法。 2. The method of claim 1, wherein the light source is a laser. 前記ビームスプリッタと交差する前記平行な光の第2の部分は、次に、ビームダンプに入射するものである、請求項1または2に記載の方法。 3. A method according to claim 1 or 2, wherein the second portion of the collimated light that intersects the beam splitter is then incident on a beam dump. 前記第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるものであり、
方法は、更に、
前記レンズアセンブリの焦点を、前記ガラスシートの前記第1の表面の反対側の第2の表面にずらす工程を、
含むものである、請求項1からのいずれか1項に記載の方法。
wherein the first and second lens elements are included in a lens assembly;
The method further includes:
defocusing the lens assembly to a second surface of the glass sheet opposite the first surface;
4. A method according to any one of claims 1 to 3 , comprising
前記第1および第2のレンズ要素は、レンズアセンブリに含まれるものであり、
方法は、更に、
前記レンズアセンブリの焦点を、前記第1の表面と該第1の表面の反対側の第2の表面の間の位置にずらす工程を、
含むものである、請求項1からのいずれか1項に記載の方法。
wherein the first and second lens elements are included in a lens assembly;
The method further includes:
shifting the focus of the lens assembly to a position between the first surface and a second surface opposite the first surface;
4. A method according to any one of claims 1 to 3 , comprising
ガラスシート表面の欠陥検出方法において、
ガラスシートの横寸法に亘って第1のアレイに並べられた複数の欠陥検出モジュールに隣接した前記ガラスシートを、搬送方向に搬送する工程を、
含み、
各前記欠陥検出モジュールは、
光源から発せられた光ビームを平行にする手段と、
前記平行な光ビームを、ビームスプリッタと交差させる手段であって、前記ビームスプリッタは、該交差した平行な光ビームの第1の部分を、前記移動するガラスシートの第1の表面に向けて、該交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記第1の表面を照らすようにするものであり、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものである手段と、
前記反射光および前記散乱光を、第1のレンズ要素を用いて受光する手段であり、前記第1のレンズ要素は、該反射光および該散乱光を逆開口部に向けて、該反射光は前記逆開口部によって遮られ、該散乱光は該逆開口部によって透過されるものである手段と、
前記逆開口部によって透過された前記散乱光を、第2のレンズ要素を用いて、撮像装置に向けて、該散乱光を検出する手段と
を含み、
前記ガラスシートは、前記搬送方向に、各前記欠陥検出モジュールについて、前記交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記第1の表面を照らさない第1の位置から、該交差した平行なビームが該ガラスシートの該第1の表面を照らす第2の位置へ搬送されるものであり、
方法は、更に、
前記ガラスシートが前記第1の位置から前記第2の位置へ移動される時に、該ガラスシートを監視する工程と、
各前記欠陥検出モジュールについて、前記ガラスシートが前記第1の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光を監視し、該光源の出力が所定の出力から変化した場合には、該光源の前記出力を調節する工程と、
各前記欠陥検出モジュールについて、前記ガラスシートが前記第2の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光の監視を無効にする工程と
を含むものである方法。
In the method for detecting defects on the surface of a glass sheet,
transporting the glass sheet in a transport direction adjacent to a plurality of defect detection modules arranged in a first array across the lateral dimension of the glass sheet;
including
Each said defect detection module includes:
means for collimating a beam of light emitted from a light source;
means for intersecting the parallel light beam with a beam splitter, the beam splitter directing a first portion of the intersected parallel light beam toward a first surface of the moving glass sheet; causing said directed portion of said crossed parallel light beam to illuminate said first surface of said glass sheet, said first portion of said light illuminating said first surface of said glass sheet wherein a second portion of the light reflected by the first surface and illuminating the first surface of the glass sheet is scattered by a defect;
means for receiving the reflected light and the scattered light using a first lens element, the first lens element directing the reflected light and the scattered light to a reverse aperture, and the reflected light is means intercepted by said reverse aperture, said scattered light being transmitted by said reverse aperture;
means for directing the scattered light transmitted by the reverse aperture to an imaging device using a second lens element to detect the scattered light ;
The glass sheet is moved in the transport direction, for each defect detection module, from a first position where the directed portions of the crossed parallel light beams do not illuminate the first surface of the glass sheet. conveyed to a second position where crossed parallel beams illuminate the first surface of the glass sheet;
The method further includes:
monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position;
for each said defect detection module, monitoring said light emitted by said light source when said glass sheet is in said first position; adjusting the output of
for each said defect detection module, disabling monitoring of said light emitted by said light source when said glass sheet is in said second position;
The method that is the one that contains .
ガラスシートの表面欠陥検出装置において、
光源と、
前記光源からの光を平行にするように配列されたコリメータと、
前記平行な光の第1の部分を、前記ガラスシートの第1の表面に向かって直交するように向けて、該平行な光の前記向けられた部分が、該ガラスシートの前記第1の表面を照らすように構成されたビームスプリッタであって、該ガラスシートの該第1の表面を照らす前記光の第1の部分は、該ガラスシートの該第1の表面によって反射され、該ガラスシートの該第1の表面を照らす該光の第2の部分は、欠陥によって散乱されるものであるビームスプリッタと、
第1のレンズ要素および第2のレンズ要素を含み、前記平行な光の前記向けられた部分であって、前記ガラスシートの前記第1の表面から反射した光および該ガラスシートの該第1の表面の欠陥から散乱した光を受光するように配列されたレンズアセンブリと、
前記第1のレンズ要素と前記第2のレンズ要素の間に位置する逆開口部と、
前記欠陥によって散乱され、前記逆開口部によって透過された光を受光するように位置する撮像装置と
前記ガラスシートを搬送方向に搬送するように構成された搬送装置と、
前記ガラスシートが前記第1の位置から前記第2の位置へ移動される時に、該ガラスシートを監視する制御部と、
を含み、
前記搬送装置は、前記ガラスシートを、前記交差した平行な光ビームの前記向けられた部分が該ガラスシートの前記第1の表面を照らさない第1の位置から、該交差した平行なビームが該ガラスシートの該第1の表面を照らす第2の位置へ搬送し、
前記制御部は、前記ガラスシートが前記第1の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光を監視して、該光源の出力が所定の出力から変化した場合には、該光源の前記出力を調節し、前記ガラスシートが前記第2の位置に位置する時に、前記光源によって発せられた前記光の監視を無効にするよう制御する装置。
In the glass sheet surface defect detection device,
a light source;
a collimator arranged to collimate the light from the light source;
Directing a first portion of the collimated light orthogonally toward a first surface of the glass sheet such that the directed portion of the collimated light is directed toward the first surface of the glass sheet. wherein a first portion of the light illuminating the first surface of the glass sheet is reflected by the first surface of the glass sheet and a beam splitter, wherein a second portion of the light illuminating the first surface is scattered by a defect;
a first lens element and a second lens element, the directed portion of the collimated light, the light reflected from the first surface of the glass sheet and the first lens element of the glass sheet; a lens assembly arranged to receive light scattered from surface imperfections;
a reverse aperture located between the first lens element and the second lens element;
an imaging device positioned to receive light scattered by the defect and transmitted by the reverse aperture ;
a conveying device configured to convey the glass sheet in a conveying direction;
a controller for monitoring the glass sheet as it is moved from the first position to the second position;
including
The conveying device moves the glass sheet from a first position where the directed portion of the crossed parallel light beam does not illuminate the first surface of the glass sheet. conveying to a second position that illuminates the first surface of the glass sheet;
The controller monitors the light emitted by the light source when the glass sheet is in the first position, and detects if the output of the light source changes from a predetermined output. A device for adjusting said power and controlling to disable monitoring of said light emitted by said light source when said glass sheet is in said second position .
前記逆開口部は、前記第1の表面から反射された光を遮るように構成されたものである、請求項に記載の装置。 8. The device of Claim 7 , wherein the reverse aperture is configured to block light reflected from the first surface.
JP2020526279A 2017-11-15 2018-11-09 Method and apparatus for detecting surface defects in glass sheets Active JP7208233B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201762586367P 2017-11-15 2017-11-15
US62/586,367 2017-11-15
PCT/US2018/059921 WO2019099285A1 (en) 2017-11-15 2018-11-09 Methods and apparatus for detecting surface defects on glass sheets

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021503079A JP2021503079A (en) 2021-02-04
JP7208233B2 true JP7208233B2 (en) 2023-01-18

Family

ID=66539101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020526279A Active JP7208233B2 (en) 2017-11-15 2018-11-09 Method and apparatus for detecting surface defects in glass sheets

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11249032B2 (en)
JP (1) JP7208233B2 (en)
KR (1) KR102633672B1 (en)
CN (1) CN212207144U (en)
TW (1) TWI790311B (en)
WO (1) WO2019099285A1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111189803A (en) * 2019-12-30 2020-05-22 彩虹显示器件股份有限公司 Method for detecting micro-particles on working surface of flat glass plate
KR20220166494A (en) * 2021-06-10 2022-12-19 주식회사 에프에스티 Defect removal method of pellicle film for extreme ultraviolet lithography

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000155087A (en) 1998-09-14 2000-06-06 Nec Corp Particle monitoring device, particle monitoring method and recording medium
JP2003149166A (en) 2001-11-15 2003-05-21 Fuji Heavy Ind Ltd Automatic stain detecting method, automatic cleaning method and automatic cleaning apparatus
JP2011257257A (en) 2010-06-09 2011-12-22 Panasonic Corp Inspection device and inspection method, and method of manufacturing panel for image display using the same
JP2014197017A (en) 2014-06-24 2014-10-16 株式会社プレックス Cloth piece inspection device and inspection method
JP2015521286A (en) 2012-05-15 2015-07-27 ケーエルエー−テンカー コーポレイション PCB inspection

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3954337A (en) * 1974-10-04 1976-05-04 Rca Corporation Method and apparatus for determining the average size of apertures in an apertured member
JPH0795037B2 (en) * 1987-01-14 1995-10-11 日本板硝子株式会社 Optical defect detector
JPH05322694A (en) * 1992-05-22 1993-12-07 Olympus Optical Co Ltd Lens inspection instrument
US5493123A (en) * 1994-04-28 1996-02-20 Particle Measuring Systems, Inc. Surface defect inspection system and method
JPH10115592A (en) * 1996-10-14 1998-05-06 Konica Corp Method and apparatus for inspection of flaw as well as production control system
US5945685A (en) * 1997-11-19 1999-08-31 International Business Machines Corporation Glass substrate inspection tool having a telecentric lens assembly
US6122056A (en) * 1998-04-07 2000-09-19 International Business Machines Corporation Direct phase shift measurement between interference patterns using aerial image measurement tool
JP2006029881A (en) * 2004-07-14 2006-02-02 Hitachi High-Technologies Corp Inspection method of pattern defect and inspection device thereof
EP1794577A4 (en) * 2004-09-17 2010-10-06 Wdi Wise Device Inc Optical inspection of flat media using direct image technology
US20060092276A1 (en) 2004-10-28 2006-05-04 Ariglio James A Inspection system and method for identifying surface and body defects in a glass sheet
DE102005035552A1 (en) * 2005-07-29 2007-02-01 Carl Zeiss Sms Gmbh Structured dark-field illumination device for microscope, e.g. for inspecting photolithographic mask, has beam splitter and inverse aperture in focussing beam path for masking structured illumination beam reflected from object
US7345754B1 (en) 2005-09-16 2008-03-18 Kla-Tencor Technologies Corp. Fourier filters and wafer inspection systems
US7289200B1 (en) 2005-10-04 2007-10-30 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Confocal reflectommeter/ellipsometer to inspect low-temperature fusion seals
JP4723362B2 (en) * 2005-11-29 2011-07-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ Optical inspection apparatus and method
CA2675456C (en) * 2007-01-12 2017-03-07 Synergx Technologies Inc. Bright field and dark field channels, used for automotive glass inspection systems
US7714996B2 (en) * 2007-01-23 2010-05-11 3i Systems Corporation Automatic inspection system for flat panel substrate
US7738090B1 (en) * 2007-05-29 2010-06-15 Kla-Tencor Corporation Fourier filters, systems for fabricating fourier filters, and systems and methods for inspecting a specimen using fourier filters
CN104081192B (en) 2011-04-21 2017-02-22 艾悌亚信息技术(上海)有限公司 Apparatus and method for photographing glass defects in multiple layers
US9182351B2 (en) * 2013-11-26 2015-11-10 Nanometrics Incorporated Optical metrology system for spectral imaging of a sample
CN103913468B (en) 2014-03-31 2016-05-04 湖南大学 Many defects of vision checkout equipment and the method for large-scale LCD glass substrate on production line
US9709510B2 (en) * 2014-06-26 2017-07-18 Kla-Tencor Corp. Determining a configuration for an optical element positioned in a collection aperture during wafer inspection
KR102003781B1 (en) 2014-09-16 2019-07-25 한화정밀기계 주식회사 Apparatus for detecting defects on the glass substrate using hyper-spectral imaging
KR101695563B1 (en) 2015-08-26 2017-01-11 이성대 Scratch and debris detecting system for double glass
CN105548212B (en) 2016-02-03 2018-12-25 杭州晶耐科光电技术有限公司 A kind of touched panel glass surface blemish on-line automaticization detection system and method
WO2018048843A1 (en) 2016-09-08 2018-03-15 Corning Incorporated Optical inspection systems and methods for detecting surface defects in a transparent sheet

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000155087A (en) 1998-09-14 2000-06-06 Nec Corp Particle monitoring device, particle monitoring method and recording medium
JP2003149166A (en) 2001-11-15 2003-05-21 Fuji Heavy Ind Ltd Automatic stain detecting method, automatic cleaning method and automatic cleaning apparatus
JP2011257257A (en) 2010-06-09 2011-12-22 Panasonic Corp Inspection device and inspection method, and method of manufacturing panel for image display using the same
JP2015521286A (en) 2012-05-15 2015-07-27 ケーエルエー−テンカー コーポレイション PCB inspection
JP2014197017A (en) 2014-06-24 2014-10-16 株式会社プレックス Cloth piece inspection device and inspection method

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019099285A1 (en) 2019-05-23
KR20200074228A (en) 2020-06-24
TWI790311B (en) 2023-01-21
CN212207144U (en) 2020-12-22
TW201925764A (en) 2019-07-01
JP2021503079A (en) 2021-02-04
US11249032B2 (en) 2022-02-15
US20200333258A1 (en) 2020-10-22
KR102633672B1 (en) 2024-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106959293B (en) System and method for detecting defects on reflective surface through vision system
US8120654B2 (en) Device and method for detecting defect on end face of glass sheet
EP2482058B1 (en) Apparatus for detecting particles in flat glass and detecting method using same
WO2010024082A1 (en) Defect inspecting system, and defect inspecting method
CN110073203B (en) Method and apparatus for inspecting defects on transparent substrates
US11275033B2 (en) Device for optical inspection of empty and liquid-filled containers
KR101120226B1 (en) Surface inspecting apparatus
JP7208233B2 (en) Method and apparatus for detecting surface defects in glass sheets
JP7183156B2 (en) Method and apparatus for inspecting defects on transparent substrate and method for emitting incident light
WO2015174114A1 (en) Substrate inspection device
US6184977B1 (en) Inspection method and inspection device
JP2007279047A (en) Optical inspection system
JP7274312B2 (en) Optical system for automated optical inspection
KR20080019395A (en) A defect detecting apparatus for flat panel display
KR20070082773A (en) Apparatus for defecting of panel
KR20110119869A (en) Illumination device and substrate inspection apparatus including the same
JP2000333047A (en) Optical image pickup device and optical image pickup method
KR20230116937A (en) Apparatus and method for inspecting the surface of transparent objects
CN116359236A (en) Detection device
TWM497271U (en) Substrate defect inspection device for detecting substrate
JP5474498B2 (en) Coating adhesive inspection method and inspection apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211109

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221107

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7208233

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150