JP7183724B2 - D/A conversion circuit and A/D conversion circuit - Google Patents

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Description

本発明は、D/A変換回路おびA/D変換回路に関する。 The present invention relates to a D/A conversion circuit and an A/D conversion circuit.

D/A変換回路の中でも、ΔΣ(デルタ・シグマ)変調型A/D変換回路に用いられるものでは、出力可能なレベルが5段階に設定されるものがある。このものでは、参照電位としてアナログレベルの電圧で一般的に、高、中、低の3レベル(Vrefp、Vcm、Vrefm)が設定されている。 Among the D/A conversion circuits, there are those used in ΔΣ (delta-sigma) modulation type A/D conversion circuits in which the possible output levels are set in five stages. In this device, three analog level voltages (Vrefp, Vcm, and Vrefm) of high, medium, and low are generally set as reference potentials.

通常、3つの参照電位のうち、Vcmはオペアンプの基準電位(アナロググランド:AGND)と同電位とされ、VrefpおよびVrefnはVrefp+Vrefm=Vcm/2を満たすように設定される。つまり、Vcm=0Vとすれば、Vrefm=-Vrefpである。 Usually, among the three reference potentials, Vcm is set to the same potential as the operational amplifier reference potential (analog ground: AGND), and Vrefp and Vrefn are set so as to satisfy Vrefp+Vrefm=Vcm/2. That is, if Vcm=0V, then Vrefm=-Vrefp.

そして、入力される5段階(-2、-1、0、1、2)のデジタル信号に対応して出力可能な5段階の出力レベルのうち、「0」に対応するアナログ信号を出力するとき、サンプル期間、ホールド期間のそれぞれでアナロググランド電位に対応するVcmを選択してDAC容量に出力している。 Then, when outputting an analog signal corresponding to "0" among the five output levels that can be output corresponding to the input digital signal in five stages (-2, -1, 0, 1, 2) , sample period, and hold period, Vcm corresponding to the analog ground potential is selected and output to the DAC capacitor.

この場合、D/A変換回路に接続されるオペアンプは、非反転入力端子がグランド電位とされており、非反転入力端子と反転入力端子とが仮想接地することから、反転入力端子に接続されるDAC容量の一端がグランド電位となる。上記のとおり、Vcm=AGND(アナログ・グランド)であることから、D/A変換回路の参照電位としてVcmを選択するとき、理想的にはDAC容量の両端に電位差は生じないはずである。 In this case, the operational amplifier connected to the D/A conversion circuit is connected to the inverting input terminal because the non-inverting input terminal is set to the ground potential and the non-inverting input terminal and the inverting input terminal are virtually grounded. One end of the DAC capacitance is at ground potential. As described above, since Vcm=AGND (analog ground), when Vcm is selected as the reference potential of the D/A conversion circuit, ideally no potential difference should occur across the DAC capacitance.

一般に、容量素子は両端にかかる電位差に応じて容量値が変化する電気特性がある。このため、DAC容量の出力部に接続されるアンプのオフセットによって、反転入力端子の電位が、AGNDと異なる場合には、DAC容量にオフセットおよび容量素子の両端の電位差に依存する容量値に対応する電荷が蓄積される。ホールド期間では、DAC容量の両端の電位差は参照電圧によって大きく異なるため、DAC容量の値も選択される参照電圧によって変動することとなる。 In general, a capacitive element has electrical characteristics such that the capacitance value changes according to the potential difference applied across both ends. Therefore, when the potential of the inverting input terminal is different from AGND due to the offset of the amplifier connected to the output part of the DAC capacity, the capacity value depends on the offset and the potential difference between both ends of the capacitive element in the DAC capacity. charge is accumulated. During the hold period, the potential difference across the DAC capacitance varies greatly depending on the reference voltage, so the value of the DAC capacitance also varies depending on the selected reference voltage.

この結果、D/A変換回路で減算される電荷量も変動してしまうため、ホールド期間に複数の異なる参照電圧から一つの参照電圧を選択するDACをA/D変換回路に用いる場合には、DAC容量の容量値の電圧特性およびオペアンプのオフセットに起因して、A/D変換の特性として線形性が低下する恐れがあった。 As a result, the amount of electric charge subtracted by the D/A conversion circuit also fluctuates. Due to the voltage characteristics of the capacitance value of the DAC capacitor and the offset of the operational amplifier, there is a possibility that the linearity of the A/D conversion characteristics may be degraded.

米国特許第7388533号明細書U.S. Pat. No. 7,388,533

本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、その目的は、内部に設けられる容量の電気的特性の悪影響を低減し、高速かつ高精度なD/A変換回路、および、このD/A変換回路に対応したA/D変換回路を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and its object is to reduce the adverse effects of the electrical characteristics of the capacitors provided therein, and to provide a high-speed and high-precision D/A conversion circuit and this D/A conversion circuit. An object of the present invention is to provide an A /D conversion circuit corresponding to an A conversion circuit.

請求項1に記載のD/A変換回路は、出力端子が量子化回路(4)に接続されたオペアンプの入力端子に接続されるD/A変換回路であって、DAC容量(Cd)と、前記DAC容量の入力側にアナログ電位として、基準電位(Vcm)、前記基準電位よりも高電位の第1電圧(Vrefp)および前記基準電圧よりも低電位の第2電圧(Vrefm)を選択的に与える選択スイッチ(Sdt、Sdm、Sdb)と、前記DAC容量の出力側をアナロググランド電位に接続する接地スイッチ(Sd2)と、前記DAC容量の出力側を出力端子に接続する出力スイッチ(Sd3)とを備え、前記量子化回路から出力される4レベルの量子化結果の値に対応して、第1期間で前記選択スイッチをいずれかの電位に選択接続し且つ前記接地スイッチをオンさせて前記DAC容量に充電し、前記第1期間に続く第2期間で前記選択スイッチを前記第1電圧および前記第2電圧のいずれかに選択接続し且つ前記出力スイッチをオンさせて前記DAC容量から前記出力端子に4レベルのいずれかのアナログ電位を出力する。 The D/A conversion circuit according to claim 1 is a D/A conversion circuit having an output terminal connected to an input terminal of an operational amplifier connected to a quantization circuit (4), comprising a DAC capacitance (Cd), A reference potential (Vcm), a first voltage (Vrefp) higher than the reference potential, and a second voltage (Vrefm) lower than the reference potential are selectively applied to the input side of the DAC capacitor as analog potentials. selection switches (Sdt, Sdm, Sdb) for supplying a voltage, a ground switch (Sd2) for connecting the output side of the DAC capacitor to the analog ground potential, and an output switch (Sd3) for connecting the output side of the DAC capacitor to the output terminal and selectively connecting the selection switch to one of the potentials and turning on the ground switch in a first period corresponding to the value of the 4-level quantization result output from the quantization circuit to turn on the DAC in a second period following the first period, the select switch is selectively connected to either the first voltage or the second voltage, and the output switch is turned on to transfer the voltage from the DAC capacitor to the output terminal; , one of four levels of analog potential is output.

上記構成において、D/A変換回路は、入力される4レベルの入力デジタル信号に対して、第1期間で選択スイッチをいずれかの電位となるように選択接続してDAC容量に充電し、続く第2期間ではVrefpおよびVrefmのいずれかを選択接続してDAC容量の電位を出力端子に出力する。この結果、第1期間でVcmを選択した場合でも、第2期間ではVcmを選択する条件を使用しないので、DAC容量からの電荷の転送時におけるDAC容量の容量値の電圧特性とオペアンプのオフセットの影響を低減でき、出力として精度良くアナログ電位を出力することができる。 In the above configuration, the D/A conversion circuit selectively connects the selection switch to any potential in the first period for an input four-level input digital signal, charges the DAC capacity, and continues. In the second period, either Vrefp or Vrefm is selectively connected to output the potential of the DAC capacitor to the output terminal. As a result, even if Vcm is selected in the first period, the condition for selecting Vcm is not used in the second period. The influence can be reduced, and an analog potential can be output with high accuracy as an output.

発明者は、上記の構成および作用を得るために、次の点を考慮している。
すなわち、高精度のA/D変換回路は、一般的には差動の回路構成を用いるため、DAC容量に電圧特性が存在しても、差動の一方側にVrefp(Vrefm)を選択すれば差動の反対側はVrefm(Vrefp)となるため、差動両側のDAC容量の和は同等となる。
The inventor considers the following points in order to obtain the above configuration and action.
That is, since a high-precision A/D conversion circuit generally uses a differential circuit configuration, even if the DAC capacitance has a voltage characteristic, if Vrefp (Vrefm) is selected for one side of the differential, Since the opposite side of the differential is Vrefm (Vrefp), the sum of the DAC capacitances on both sides of the differential is equal.

しかし、Vcmを選択した場合には、DAC容量の両端の電位はオフセットの影響を受けるものの、ほぼ同電位となるため、参照電圧としてVrefpもしくはVrefnを選択する場合と較べて、DAC容量の容量値が電圧特性の分だけ異なる値となる。この結果、特に差動構成では第2期間に参照電圧としてVrefp、Vrefmを選択する場合とVcmを選択する場合において、アンプのオフセットに起因してDAC容量により減算される電荷の量が変動する。すなわち、A/D変換の線形性が低下する。 However, when Vcm is selected, the potentials at both ends of the DAC capacitance are affected by the offset, but the potentials are substantially the same. are different values due to the voltage characteristics. As a result, especially in the differential configuration, the amount of charge subtracted by the DAC capacitance varies due to the amplifier offset when Vrefp, Vrefm or Vcm is selected as the reference voltage in the second period. That is, the linearity of A/D conversion is degraded.

この場合、VrefpおよびVrefmは外部の電源より供給されるか、もしくは、そのICが専用の外部端子を有することが多く、DAC容量の入力側とVrefpおよびVrefmとの間のインピーダンスとの間のインピーダンスはそれぞれ低いインピーダンスであることが多い。一方で、VcmはIC内部のアンプで生成されることが多いため、DAC容量の入力側とVcmとの間のインピーダンスは、VrefpおよびVrefmとの間のインピーダンスよりも高くなる傾向がある。 In this case, Vrefp and Vrefm are supplied from an external power supply, or the IC often has a dedicated external terminal, and the impedance between the input side of the DAC capacitance and the impedance between Vrefp and Vrefm is are often of low impedance, respectively. On the other hand, since Vcm is often generated by an amplifier inside the IC, the impedance between the input side of the DAC capacitance and Vcm tends to be higher than the impedance between Vrefp and Vrefm.

また、参照電圧にVcmを選択する場合に、Vcmを選択するためのスイッチは、スイッチを駆動するための電源とグランド(アナロググランドとは異なる電位で、アナロググランドを0Vとするとマイナスの電位となる)との中間の電位となることが多く、その場合にはスイッチのオン抵抗が高くなる傾向にある。この結果、第2期間でVcmを選択する場合には、Vcmを生成するアンプの性能とVcmを選択するスイッチのオン抵抗の影響をすべて受けるので、動作速度が低下してしまうという問題も出てくるものであった。 When Vcm is selected as the reference voltage, the switch for selecting Vcm is connected to the power supply for driving the switch and the ground (potential different from the analog ground, which is a negative potential if the analog ground is 0 V). ), in which case the on-resistance of the switch tends to increase. As a result, when Vcm is selected in the second period, the performance of the amplifier that generates Vcm and the on-resistance of the switch that selects Vcm are all affected, so there is a problem that the operating speed decreases. It came.

したがって、本発明では、上記の問題を回避することができるので、出力容量の電圧特性に依存した技術的課題を回避しながら高速かつ高精度なD/A変換を実施することができる。 Therefore, in the present invention, the above problem can be avoided, so that high-speed and high-precision D/A conversion can be performed while avoiding technical problems dependent on the voltage characteristics of the output capacitance.

第1実施形態を示す電気的構成図Electrical configuration diagram showing the first embodiment A/D変換におけるフェーズと閾値との関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the relationship between phases and thresholds in A/D conversion; 入力回路のスイッチのサンプルとホールドにおける動作関係を示す図Diagram showing the operational relationship between sample and hold switches in the input circuit D/A変換回路のスイッチのQout値に対応したサンプル期間とホールド期間における動作関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the operational relationship between the sample period and the hold period corresponding to the Qout value of the switch of the D/A conversion circuit; アンプ出力電圧V1と第1量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V1 and the amplifier output Vamp after first quantization; 第1量子化Qout1、第2量子化Qout2に対応したD/A変換回路の動作説明図Operation explanatory diagram of the D/A conversion circuit corresponding to the first quantization Qout1 and the second quantization Qout2 アンプ出力電圧V2と第2量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V2 and the amplifier output Vamp after second quantization; 第1量子化の条件を閾値電圧で示した図A diagram showing the conditions for the first quantization in terms of threshold voltages 第2量子化の条件を閾値電圧で示した図A diagram showing the second quantization condition in terms of threshold voltage 第1および第2量子化の条件を合成して閾値電圧で示した図FIG. 11 is a diagram showing threshold voltages obtained by synthesizing the first and second quantization conditions. 第1および第2量子化の条件を合成して参照電圧で示した図A diagram showing the synthesized first and second quantization conditions with reference voltages. 第2実施形態を示すアンプ出力電圧電圧V1と第1量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V1 and the amplifier output Vamp after the first quantization, showing the second embodiment; アンプ出力電圧V2と第2量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V2 and the amplifier output Vamp after second quantization; 第1および第2量子化の条件を合成して閾値電圧で示した図FIG. 11 is a diagram showing threshold voltages obtained by synthesizing the first and second quantization conditions. 第1および第2量子化の条件を合成して参照電圧で示した図A diagram showing the synthesized first and second quantization conditions with reference voltages. 第3実施形態を示すアンプ出力電圧V1と第1量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V1 and the amplifier output Vamp after the first quantization, showing the third embodiment; アンプ出力電圧V2と第2量子化後のアンプ出力Vampとの関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the amplifier output voltage V2 and the amplifier output Vamp after second quantization; 第1および第2量子化の条件を合成して閾値電圧で示した図FIG. 11 is a diagram showing threshold voltages obtained by synthesizing the first and second quantization conditions. 第1および第2量子化の条件を合成して参照電圧で示した図A diagram showing the synthesized first and second quantization conditions with reference voltages.

(第1実施形態)
以下、本発明のD/A変換回路をΔΣ変調型のA/D変換回路に用いた場合の第1実施形態について、図1~図11を参照して説明する。
図1において、ΔΣ変調型のA/D変換回路(以下、単にA/D変換回路と称する)1はアナログ入力Vinの入力端子1aおよびデジタル出力Doutの出力端子1bを備えている。A/D変換回路1は、入力回路2、積分回路3、量子化回路4、制御回路5およびD/A変換回路6を備えている。
(First embodiment)
A first embodiment in which the D/A conversion circuit of the present invention is used in a ΔΣ modulation type A/D conversion circuit will be described below with reference to FIGS. 1 to 11. FIG.
In FIG. 1, a ΔΣ modulation type A/D conversion circuit (hereinafter simply referred to as an A/D conversion circuit) 1 has an input terminal 1a for an analog input Vin and an output terminal 1b for a digital output Dout. The A/D conversion circuit 1 includes an input circuit 2, an integration circuit 3, a quantization circuit 4, a control circuit 5 and a D/A conversion circuit 6.

入力回路2は、サンプリング用の容量Csおよび4つのスイッチSs1~Ss4を備えている。入力端子1aは、スイッチSs1、容量CsおよびスイッチSs3を直列に介して積分回路3に接続される。容量Csの入出力側はそれぞれスイッチSs4、Ss2を介してアナロググランドAGND(以下単にAGNDと称する)に接続される。4つのスイッチSs1~Ss4は、制御回路5によりオンオフの動作制御がなされる。ここで、AGNDは、任意に設定可能なもので、この実施形態で説明するような0Vとは限らないものである。 The input circuit 2 has a sampling capacitor Cs and four switches Ss1 to Ss4. Input terminal 1a is connected to integration circuit 3 via switch Ss1, capacitor Cs and switch Ss3 in series. Input and output sides of the capacitor Cs are connected to an analog ground AGND (hereinafter simply referred to as AGND) via switches Ss4 and Ss2, respectively. The four switches Ss1 to Ss4 are controlled to turn on and off by the control circuit 5 . Here, AGND can be arbitrarily set, and is not limited to 0V as described in this embodiment.

スイッチSs1およびスイッチSs2がオンされて、スイッチSs3およびスイッチSs4がオフされることにより、サンプリング容量Csの積分回路3側の一端は積分回路3から電気的に切断されて、AGNDに接続される。これにより、アナログ入力Vinに対応した電荷がサンプリング容量Csに蓄積される。また、スイッチSs1およびスイッチSs2がオフされて、スイッチSs3およびスイッチSs4がオンされることにより、サンプリング容量Csに蓄積された電荷が積分回路3の帰還容量Cfに転送される。 By turning on the switches Ss1 and Ss2 and turning off the switches Ss3 and Ss4, one end of the sampling capacitor Cs on the integrating circuit 3 side is electrically disconnected from the integrating circuit 3 and connected to AGND. As a result, charges corresponding to the analog input Vin are accumulated in the sampling capacitor Cs. Also, the switches Ss1 and Ss2 are turned off and the switches Ss3 and Ss4 are turned on, whereby the charge accumulated in the sampling capacitor Cs is transferred to the feedback capacitor Cf of the integration circuit 3.

積分回路3は、アンプ31および帰還用の容量Cfを備えている。アンプ31の反転入力端子は入力回路2のスイッチSs3に接続されると共に、容量Cfを介して出力端子に接続される。アンプ31の非反転入力端子はアナロググランドに接続される。AGNDはアンプ31の基準電位であり、ひいてはA/D変換回路1全体の基準電位である。 The integration circuit 3 includes an amplifier 31 and a feedback capacitor Cf. The inverting input terminal of the amplifier 31 is connected to the switch Ss3 of the input circuit 2 and to the output terminal via the capacitor Cf. A non-inverting input terminal of the amplifier 31 is connected to the analog ground. AGND is the reference potential of the amplifier 31 and thus the reference potential of the entire A/D conversion circuit 1 .

量子化回路4は、5個のコンパレータ41~45を備える。5個のコンパレータ41~45は、反転入力端子に閾値電圧Vth2+、Vth1+、Vth0、Vth1-、Vth2-がそれぞれ与えられる。また、5個のコンパレータ41~45の非反転入力端子は共通にしてアンプ31の出力端子に接続される。 The quantization circuit 4 comprises five comparators 41-45. Threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- are applied to the inverting input terminals of the five comparators 41 to 45, respectively. The non-inverting input terminals of the five comparators 41 to 45 are commonly connected to the output terminal of the amplifier 31 .

コンパレータ41~45はアンプの出力電圧Vampとそれぞれの閾値電圧Vth2+、Vth1+、Vth0、Vth1-、Vth2-とを比較した結果を、量子化結果Qoutとして後述の制御回路5へと出力する。本実施形態では、4つのレベル「2」、「1」、「-1」、「-2」の量子化結果Qoutを出力する。 The comparators 41 to 45 compare the output voltage Vamp of the amplifier with the respective threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- and output the result as a quantization result Qout to the control circuit 5, which will be described later. In this embodiment, quantization results Qout of four levels "2", "1", "-1" and "-2" are output.

制御回路5は、量子化結果Qoutに対応した制御信号を後述するD/A変換回路6に出力するとともに、量子化結果Qoutに対して積分もしくはフィルタ等の信号処理を実行した結果をA/D変換結果Doutとして、出力端子1bに出力する。 The control circuit 5 outputs a control signal corresponding to the quantization result Qout to the D/A conversion circuit 6, which will be described later, and outputs the result of performing signal processing such as integration or filtering on the quantization result Qout to A/D. Output to the output terminal 1b as the conversion result Dout.

なお、上記した5つの閾値電圧Vth2+、Vth1+、Vth0、Vth1-、Vth2- は、図示しない閾値生成回路により生成される。この場合、Vth0は基準閾値であり、AGNDレベルに設定され、Vth1+ は、正の第1閾値であり、Vth0よりも第1電圧分だけ高い電位に設定される。Vth2+ は、正の第2閾値であり、Vth1+ よりもさらに高い電位であってVth0よりも第2電圧分だけ高い電位に設定される。また、Vth1- は、負の第1閾値であり、Vth0よりも第1電圧分だけ低い電位に設定される。Vth2- は、負の第2閾値であり、Vth1- よりもさらに低い電位であってVth0よりも第2電圧分だけ低い電位に設定される。 The five threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- are generated by a threshold generation circuit (not shown). In this case, Vth0 is a reference threshold and is set to the AGND level, and Vth1+ is a positive first threshold and is set to a potential higher than Vth0 by a first voltage. Vth2+ is a positive second threshold and is set to a potential higher than Vth1+ and higher than Vth0 by a second voltage. Vth1- is a negative first threshold, and is set to a potential lower than Vth0 by a first voltage. Vth2- is a second negative threshold and is set to a potential lower than Vth1- and lower than Vth0 by a second voltage.

なお、AGNDレベルが0Vの場合には、Vth1+およびVth1- は第1電圧である絶対値Vth1が同じで正負のレベル、Vth2+およびVth2-は第2電圧である絶対値Vth2がVth1よりも大きい正負のレベルに設定されている。また、後述するように、Vth1およびVth2は参照電圧Vrefと関係づけられたレベルで設定される。 When the AGND level is 0V, Vth1+ and Vth1- have the same absolute value Vth1, which is the first voltage, and have the same positive and negative levels. Set to large positive and negative levels. Also, as will be described later, Vth1 and Vth2 are set at levels related to the reference voltage Vref.

D/A変換回路6は、DAC容量Cdおよび5個のスイッチSdt、Sdm、Sdb、Sd2、Sd3を備える。また、D/A変換回路6には、3つのアナログ電位としてVrefp、Vrefm、Vcmが参照電位として設定されている。例えば、基準電位となるVcmはAGNDに設定され、VrefpはAGNDよりも高い電位に設定され、VrefmはAGNDよりも低い電位に設定される。 The D/A conversion circuit 6 has a DAC capacitor Cd and five switches Sdt, Sdm, Sdb, Sd2 and Sd3. In the D/A conversion circuit 6, three analog potentials Vrefp, Vrefm, and Vcm are set as reference potentials. For example, the reference potential Vcm is set to AGND, Vrefp is set to a potential higher than AGND, and Vrefm is set to a potential lower than AGND.

なお、VrefpとVrefmは、AGNDが0Vの場合には、互いに絶対値が同一で正負が逆の関係にあり、Vrefp=-Vrefmを満たすように設定される。スイッチSdt、Sdm、Sdbは選択スイッチとして機能するもので、それぞれVrefp、Vcm、VrefmをDAC容量Cdの入力側に接続する。つまり、DAC容量Cdの入力側の電位は、スイッチSdt、SdmおよびSdbによって排他的に選択されるVrefp、VrefmもしくはVcmのうちいずれかと等しくなる。 When AGND is 0V, Vrefp and Vrefm have the same absolute value and opposite polarities, and are set so as to satisfy Vrefp=-Vrefm. The switches Sdt, Sdm, and Sdb function as selection switches and connect Vrefp, Vcm, and Vrefm to the input side of the DAC capacitor Cd, respectively. That is, the potential on the input side of the DAC capacitor Cd is equal to one of Vrefp, Vrefm or Vcm exclusively selected by the switches Sdt, Sdm and Sdb.

DAC容量Cdの出力側は、スイッチSd2を介してAGNDに接続されると共に、スイッチSd3を介してアンプ31の反転入力端子と帰還容量Cfとの中間点に接続される。5個のスイッチSdt、Sdm、Sdb、Sd2、Sd3は、制御回路5によりオンオフの動作制御がなされる。 The output side of the DAC capacitor Cd is connected to AGND via a switch Sd2 and to the intermediate point between the inverting input terminal of the amplifier 31 and the feedback capacitor Cf via a switch Sd3. The five switches Sdt, Sdm, Sdb, Sd2, and Sd3 are on/off controlled by the control circuit 5 .

この場合、制御回路5は、量子化回路4から与えられる信号に基づいて、サンプル動作およびホールド動作を実施する。制御回路5は、サンプル動作では、スイッチSd3をオフしつつスイッチSd2をオンさせると共に選択スイッチSdt、Sdm、Sdbのうちのいずれかをオンすることによって所定の電荷を蓄積する。また、制御回路5は、ホールド動作では、スイッチSd2をオフしつつスイッチSd3をオンさせると共に選択スイッチSdtあるいはSdbのいずれか一方をオンさせる。 In this case, control circuit 5 performs a sample operation and a hold operation based on the signal applied from quantization circuit 4. FIG. In the sample operation, the control circuit 5 turns on the switch Sd2 while turning off the switch Sd3, and turns on any one of the selection switches Sdt, Sdm, and Sdb to accumulate a predetermined charge. In the hold operation, the control circuit 5 turns on the switch Sd3 while turning off the switch Sd2, and turns on either the selection switch Sdt or Sdb.

これによって、サンプル動作期間にDAC容量Cdに蓄積された電荷と、スイッチSdtもしくはSdbのいずれかがオンすることにより決定されるDAC容量Cdの入力側の電位に応じた電荷が、帰還容量Cfに転送される。すなわちD/A変換回路6によって、量子化結果Qoutに応じた減算が実行される。 As a result, the charge accumulated in the DAC capacitor Cd during the sampling operation period and the charge corresponding to the potential on the input side of the DAC capacitor Cd determined by turning on either the switch Sdt or Sdb are transferred to the feedback capacitor Cf. transferred. That is, the D/A conversion circuit 6 performs subtraction according to the quantization result Qout.

図2はA/D変換回路1によるアナログ電位VinのA/D変換処理におけるフェーズと閾値電圧との関係を示している。フェーズは第1量子化と第2量子化をそれぞれ示しており、各フェーズにおけるサンプル動作およびホールド動作において使用する閾値電圧を示している。ここで、第1量子化では、量子化回路4では、5個の閾値電圧Vth2+、Vth1+、Vth0、Vth1-、Vth2- をすべて用いる。また、第2量子化では、量子化回路4では、3個の閾値電圧Vth1+、Vth0、Vth1- を用いる。 FIG. 2 shows the relationship between the phase and the threshold voltage in the A/D conversion processing of the analog potential Vin by the A/D conversion circuit 1. In FIG. Phases indicate first quantization and second quantization, respectively, and indicate threshold voltages used in the sample operation and hold operation in each phase. Here, in the first quantization, the quantization circuit 4 uses all five threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, Vth2-. In the second quantization, the quantization circuit 4 uses three threshold voltages Vth1+, Vth0, and Vth1-.

上記構成において、この実施形態では、例えば、サンプル用容量Csと帰還用容量Cfとは同じ容量値に設定され、DAC容量Cdは帰還用容量Cfの1/8の容量値に設定されている。
Cs=Cf
Cd=Cf/8
In the above configuration, in this embodiment, for example, the sampling capacitor Cs and the feedback capacitor Cf are set to the same capacitance value, and the DAC capacitor Cd is set to 1/8 the capacitance value of the feedback capacitance Cf.
Cs=Cf
Cd=Cf/8

さらに、閾値電圧として上記した5個の閾値電圧Vth2+、Vth1+、Vth0、Vth1-、Vth2- は、参照電圧Vrefを分圧して生成した電圧が次のように設定されている。 Furthermore, the five threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- described above as threshold voltages are voltages generated by dividing the reference voltage Vref and set as follows.

Vth2+=7/16×Vref(V)
Vth1+=3/16×Vref(V)
Vth0=0(V)
Vth1-=-3/16×Vref(V)
Vth2-=-7/16×Vref(V)
Vth2+=7/16×Vref(V)
Vth1+=3/16×Vref(V)
Vth0=0 (V)
Vth1-=-3/16×Vref(V)
Vth2-=-7/16×Vref(V)

次に、上記構成の作用について図3から図10も参照して説明する。まず、入力回路2およびD/A変換回路5での各スイッチの基本的な動作について説明する。 Next, the operation of the above configuration will be described with reference to FIGS. 3 to 10 as well. First, the basic operation of each switch in the input circuit 2 and the D/A conversion circuit 5 will be described.

制御回路5では、量子化回路4から与えられる量子化回路出力Qoutに応じて第1期間であるサンプル期間および第2期間であるホールド期間でのスイッチ制御と選択される参照電圧の組み合わせを図4に示すようにして実行する。 In the control circuit 5, the combination of the switch control and the selected reference voltage in the sample period, which is the first period, and the hold period, which is the second period, according to the quantization circuit output Qout given from the quantization circuit 4 is shown in FIG. Execute as shown.

まず、Qoutの値が「2」の場合には、制御回路5は、サンプル期間でスイッチSdbおよびSd2をオン、スイッチSdm、Sdt、Sd3をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「L」のVrefmが接続され、出力側はAGNDに接続されるので、DAC容量Cdは、Vrefm-AGNDで充電される。 First, when the value of Qout is "2", the control circuit 5 turns on the switches Sdb and Sd2 and turns off the switches Sdm, Sdt, and Sd3 during the sample period. As a result, the input side of the DAC capacitance Cd is connected to Vrefm of "L" and the output side is connected to AGND, so that the DAC capacitance Cd is charged with Vrefm-AGND.

次に、ホールド期間でスイッチSdt、Sd3をオンさせ、スイッチSdb、SdmおよびSd2をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「H」のVrefpが接続され、出力側はアンプ31の反転入力端子に接続される。これにより、それぞれの期間で選択された参照電圧の電位差Vrefm-Vrefpに対応する電荷がDAC容量Cdから帰還容量Cfに転送される。 Next, during the hold period, switches Sdt and Sd3 are turned on, and switches Sdb, Sdm and Sd2 are turned off. As a result, the input side of the DAC capacitor Cd is connected to Vrefp of “H”, and the output side is connected to the inverting input terminal of the amplifier 31 . As a result, the charge corresponding to the potential difference Vrefm−Vrefp of the reference voltages selected in each period is transferred from the DAC capacitor Cd to the feedback capacitor Cf.

また、Qoutの値が「1」の場合には、制御回路5は、サンプル期間でスイッチSdmおよびSd2をオン、スイッチSdt、Sdb、Sd3をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「0」のVcmが接続され、出力側はAGNDに接続されるので、Vcm=AGNDだとすると、DAC容量Cdは、端子間が0Vの状態が保持される。 Also, when the value of Qout is "1", the control circuit 5 turns on the switches Sdm and Sd2 and turns off the switches Sdt, Sdb, and Sd3 during the sample period. As a result, the input side of the DAC capacitance Cd is connected to Vcm of "0", and the output side is connected to AGND, so if Vcm=AGND, the DAC capacitance Cd maintains a state of 0 V across the terminals.

次に、ホールド期間でスイッチSdt、Sd3をオンさせ、スイッチSdb、SdmおよびSd2をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「H」のVrefpが接続され、出力側はアンプ31の反転入力端子に接続される。これにより。それぞれの期間で選択された参照電圧の電位差Vcm-Vrefpに対応する電荷がDAC容量Cdから帰還容量Cfに転送される。 Next, during the hold period, switches Sdt and Sd3 are turned on, and switches Sdb, Sdm and Sd2 are turned off. As a result, the input side of the DAC capacitor Cd is connected to Vrefp of “H”, and the output side is connected to the inverting input terminal of the amplifier 31 . By this. A charge corresponding to the potential difference Vcm−Vrefp of the reference voltage selected in each period is transferred from the DAC capacitor Cd to the feedback capacitor Cf.

また、Qoutの値が「-1」の場合には、制御回路5は、サンプル期間でスイッチSdmおよびSd2をオン、スイッチSdt、Sdb、Sd3をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「0」のVcmが接続され、出力側はAGNDに接続されるので、Vcm=AGNDだとすると、DAC容量Cdは、端子間が0Vの状態が保持される。 Also, when the value of Qout is "-1", the control circuit 5 turns on the switches Sdm and Sd2 and turns off the switches Sdt, Sdb, and Sd3 during the sample period. As a result, the input side of the DAC capacitance Cd is connected to Vcm of "0", and the output side is connected to AGND, so if Vcm=AGND, the DAC capacitance Cd maintains a state of 0 V across the terminals.

次に、ホールド期間でスイッチSdb、Sd3をオンさせ、スイッチSdt、SdmおよびSd2をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「L」のVrefmが接続され、出力側はアンプ31の非反転入力端子に接続される。これにより。それぞれの期間で選択された参照電圧の電位差Vcm-Vrefmに対応する電荷がDAC容量Cdから帰還容量Cfに転送される。 Next, during the hold period, switches Sdb and Sd3 are turned on, and switches Sdt, Sdm and Sd2 are turned off. As a result, the input side of the DAC capacitor Cd is connected to Vrefm of “L”, and the output side is connected to the non-inverting input terminal of the amplifier 31 . By this. A charge corresponding to the potential difference Vcm−Vrefm of the reference voltage selected in each period is transferred from the DAC capacitor Cd to the feedback capacitor Cf.

そして、Qoutの値が「-2」の場合には、制御回路5は、サンプル期間でスイッチSdtおよびSd2をオン、スイッチSdb、Sdm、Sd3をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「H」のVrefpが接続され、出力側はAGNDに接続されるので、DAC容量Cdは、Vrefp-AGNDで充電される。 When the value of Qout is "-2", the control circuit 5 turns on the switches Sdt and Sd2 and turns off the switches Sdb, Sdm, and Sd3 during the sample period. As a result, the input side of the DAC capacitance Cd is connected to Vrefp of "H" and the output side is connected to AGND, so that the DAC capacitance Cd is charged with Vrefp-AGND.

次に、ホールド期間でスイッチSdb、Sd3をオンさせ、スイッチSdt、SdmおよびSd2をオフさせる。これにより、DAC容量Cdの入力側は「L」のVrefmが接続され、出力側はアンプ31の非反転入力端子に接続される。これにより。それぞれの期間で選択された参照電圧の電位差Vrefp-Vrefmに対応する電荷がDAC容量Cdから帰還容量Cfに転送される。 Next, during the hold period, switches Sdb and Sd3 are turned on, and switches Sdt, Sdm and Sd2 are turned off. As a result, the input side of the DAC capacitor Cd is connected to Vrefm of “L”, and the output side is connected to the non-inverting input terminal of the amplifier 31 . By this. A charge corresponding to the potential difference Vrefp-Vrefm of the reference voltage selected in each period is transferred from the DAC capacitor Cd to the feedback capacitor Cf.

上記の場合、D/A変換回路6からアンプの出力電圧にフィードバックされる電圧は、前述のように、DAC容量Cdと帰還容量Cfの比の値からサンプル期間とホールド期間のそれぞれで選択された参照電圧の電位差の8分の1に相当する電圧となる。また、一般的に差動の回路構成をとるため、選択された参照電圧の電位差は2倍される。 In the above case, the voltage fed back from the D/A conversion circuit 6 to the output voltage of the amplifier is selected in each of the sample period and the hold period from the ratio of the DAC capacitance Cd and the feedback capacitance Cf, as described above. A voltage corresponding to 1/8 of the potential difference of the reference voltage is obtained. In addition, since a differential circuit configuration is generally employed, the potential difference of the selected reference voltage is doubled.

つまり、Vref=(Vrefp-Vcm)×2=(Vcm-Vrefm)×2としたとき、選択された参照電圧の電位差がVcm-VrefmあるいはVrefp-Vrefmの場合にはVref/8あるいはVref/4がアンプの出力電圧に加算され、Vcm-VrefpあるいはVrefm-Vrefpの場合にはアンプの出力電圧にVref/8あるいはVref/4が減算される。 That is, when Vref=(Vrefp−Vcm)×2=(Vcm−Vrefm)×2, when the potential difference of the selected reference voltage is Vcm−Vrefm or Vrefp−Vrefm, Vref/8 or Vref/4 is It is added to the output voltage of the amplifier, and in the case of Vcm-Vrefp or Vrefm-Vrefp, Vref/8 or Vref/4 is subtracted from the output voltage of the amplifier.

次に、D/A変換回路6による1回目のD/A変換処理の内容について説明する。図5に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、D/A変換前はV1、D/A変換後はV2となる。 Next, the contents of the first D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 5, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V1 before D/A conversion and V2 after D/A conversion.

ここで、まずD/A変換をする前のアンプ出力電圧V1に対して、量子化回路4において前述したように5個の閾値電圧で第1量子化を実施すると、アンプ出力電圧V1の大きさに応じて図8に示すように、「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout1が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V1をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。 Here, if the amplifier output voltage V1 before D/A conversion is first quantized with five threshold voltages as described above in the quantization circuit 4, the magnitude of the amplifier output voltage V1 is As shown in FIG. 8, a quantized output Qout1 of four levels of "2", "1", "-1" and "-2" is obtained according to . Based on this result, adding the amplifier output voltage V1 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result.

D/A変換回路6では、第1量子化の値Qout1に対して、図6に示すような動作を実施する。すなわち、Qout1が「2」の場合には、サンプル期間では「L」となりホールド期間では「H」となる。Qout1が「1」の場合には、サンプル期間では「0」となりホールド期間では「H」となる。Qout1が「-1」の場合には、サンプル期間では「0」となりホールド期間では「L」となる。Qout1が「-2」の場合には、サンプル期間では「H」となりホールド期間では「L」となる。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the first quantized value Qout1. That is, when Qout1 is "2", it is "L" during the sample period and "H" during the hold period. When Qout1 is "1", it is "0" during the sample period and "H" during the hold period. When Qout1 is "-1", it is "0" during the sample period and "L" during the hold period. When Qout1 is "-2", it is "H" during the sample period and "L" during the hold period.

したがって、アンプ出力電圧V1に第1量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図5に太実線で示すようにアンプ出力電圧V2を得ることができる。この場合、第1量子化の出力Qout1は、アンプ出力電圧V1が閾値Vth0以上で閾値Vth1+ 未満では「-1」、アンプ出力電圧V1が閾値Vth1- 以上で閾値Vth0未満では「1」としている。 Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the first quantization to the amplifier output voltage V1, the amplifier output voltage V2 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG. In this case, the output Qout1 of the first quantization is "-1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth0 and less than the threshold Vth1+, and is "1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth1- and less than the threshold Vth0. .

なお、上述の場合に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 In the above case, regardless of the value of the quantization result Qout, the potential of the DAC capacitor Cd is output to the input terminal of the amplifier 31 so that Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period. Even if the capacitance Cd has voltage characteristics, it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 .

次に、D/A変換回路6による2回目のD/A変換処理の内容について説明する。図7に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、1回目のD/A変換後はV2、2回目のA/D変換後はV3となる。 Next, the contents of the second D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 7, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V2 after the first D/A conversion and V3 after the second A/D conversion.

ここで、D/A変換をする前のアンプ出力電圧V2に対して、量子化回路4において前述したように3個の閾値電圧で第2量子化を実施すると、アンプ出力電圧V2の大きさに応じて図9に示すように、「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout2が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V2をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。この場合、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対して図9に示すように、閾値Vth2+ および閾値Vth2- は使用しないで、4つのレベルに分けて量子化出力Qout2を出力する。 Here, when the amplifier output voltage V2 before D/A conversion is subjected to the second quantization with three threshold voltages as described above in the quantization circuit 4, the magnitude of the amplifier output voltage V2 becomes Accordingly, as shown in FIG. 9, four levels of quantized output Qout2 of "2", "1", "-1" and "-2" are obtained. Based on this result, adding the amplifier output voltage V2 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result. In this case, in the second quantization, as shown in FIG. 9, the amplifier output voltage V2 is divided into four levels and the quantized output Qout2 is output without using the thresholds Vth2+ and Vth2-.

D/A変換回路6では、第2量子化の値Qout2に対して、第1量子化の場合と同様に図6に示すような動作を実施する。すなわち、Qout2が「2」の場合には、サンプル期間では「L」となりホールド期間では「H」となる。Qout2が「1」の場合には、サンプル期間では「0」となりホールド期間では「H」となる。Qout2が「-1」の場合には、サンプル期間では「0」となりホールド期間では「L」となる。Qout2が「-2」の場合には、サンプル期間では「H」となりホールド期間では「L」となる。したがって、アンプ出力電圧V2に第2量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図7に太実線で示すようにアンプ出力電圧V3を得ることができる。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the second quantization value Qout2, as in the case of the first quantization. That is, when Qout2 is "2", it is "L" during the sample period and "H" during the hold period. When Qout2 is "1", it is "0" during the sample period and "H" during the hold period. When Qout2 is "-1", it is "0" during the sample period and "L" during the hold period. When Qout2 is "-2", it is "H" during the sample period and "L" during the hold period. Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the second quantization to the amplifier output voltage V2, the amplifier output voltage V3 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG.

なお、上述の場合に、1回目のD/A変換と同様に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 In the above case, similarly to the first D/A conversion, regardless of the value of the quantization result Qout, Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period, and the potential of the DAC capacitor Cd is increased by the amplifier 31. Therefore, even if the DAC capacitance Cd has voltage characteristics, it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 .

上記のようにして、2回の量子化およびD/A変換処理を実行することで、9レベルの量子化結果を出力することができるようになる。また、この場合に、D/A変換回路5では、ホールド期間においてVcmを選択する動作を行わないので、DAC容量Cdの電気特性がアンプ31のオフセットで誤差を発生するのを回避することができるので、精度の良いA/D変換を実行することができる。 By executing quantization and D/A conversion processing twice as described above, it is possible to output 9-level quantization results. Also, in this case, the D/A conversion circuit 5 does not perform the operation of selecting Vcm during the hold period, so it is possible to avoid the occurrence of an error in the electrical characteristics of the DAC capacitance Cd due to the offset of the amplifier 31. Therefore, accurate A/D conversion can be performed.

次に、図8から図11を参照して、上記した2回の量子化およびD/A変換処理における動作をまとめた結果について説明する。前述の説明のように、第1量子化では、図8に示すようにしてアンプ出力電圧V1に対して5個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout1を出力している。また、第2量子化では、図9に示すようにしてアンプ出力電圧V2に対して3個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout2を出力している。 Next, with reference to FIG. 8 to FIG. 11, a summary of the operations in the two quantization and D/A conversion processes described above will be described. As described above, in the first quantization, a four-level quantization result Qout1 is output with five threshold voltages for the amplifier output voltage V1 as shown in FIG. In the second quantization, as shown in FIG. 9, a four-level quantization result Qout2 is output with three threshold voltages for the amplifier output voltage V2.

ここで、2回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V2は、1回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V1からD/A変換回路6の出力との差分を演算した結果となっているため、D/A変換回路6の出力リファレンス電圧Vrefを用いて次式(1)のように表すことができる。
またVref×Cd/Cfは一定値であるからVRと置くと、式(1)は次式(2)のように簡略した表現で示すことができる。
V2=V1-Qout1×Vref×Cd/Cf (1)
V2=V1-Qout1×VR (2)
Here, the amplifier output voltage V2 before the second D/A conversion is the result of calculating the difference between the output of the D/A conversion circuit 6 and the amplifier output voltage V1 before the first D/A conversion. Therefore, the output reference voltage Vref of the D/A conversion circuit 6 can be used to express the following equation (1).
Also, since Vref×Cd/Cf is a constant value, if it is set to VR, the equation (1) can be expressed in a simplified expression as the following equation (2).
V2=V1-Qout1*Vref*Cd/Cf (1)
V2=V1-Qout1×VR (2)

ここで、第1量子化では、図8に示したように、5個の閾値電圧によって6個の判定条件が設定される。このとき、例えば記号1bで示す条件に該当する場合には、第2量子化で図9に記号2a、2bで示す2通りの条件に該当する可能性がある。 Here, in the first quantization, as shown in FIG. 8, 6 determination conditions are set by 5 threshold voltages. At this time, for example, if the condition indicated by symbol 1b is met, there is a possibility that two conditions indicated by symbols 2a and 2b in FIG. 9 may be met in the second quantization.

すなわち、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対応しているが、式(2)で示したV1を用いて2a、2bの条件を書き直してみる。まず、記号2aの条件は、次式(3)であるから、これに式(2)を代入すると、次式(4)のようになる。
記号2aの条件:V2≧Vth1+ (3)
→V1-Qout1×VR≧Vth1+ (4)
記号2bの条件:Vth1+>V2≧Vth0 (5)
→Vth1+>V1-Qout1×VR≧Vth0 (6)
That is, although the second quantization corresponds to the amplifier output voltage V2, the conditions 2a and 2b are rewritten using V1 shown in Equation (2). First, since the condition of the symbol 2a is the following formula (3), substituting the formula (2) into this results in the following formula (4).
Condition of symbol 2a: V2≧Vth1+ (3)
→V1−Qout1×VR≧Vth1+ (4)
Condition of symbol 2b: Vth1+>V2≧Vth0 (5)
→Vth1+>V1−Qout1×VR≧Vth0 (6)

そこで、第1量子化のアンプ出力電圧V1が記号1bの条件すなわち、次式(7)に該当する場合には、Qout1は「1」であるから、記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1の条件として書き直すと、式(8)、(9)のようになる。
Vth2+ >V1≧Vth1+ (7)
記号2aの条件:V1-VR≧Vth1+
→V1≧Vth1+ +VR (8)
記号2bの条件:Vth1+>V1-VR≧Vth0
→Vth1+ +VR>V1≧Vth0+VR (9)
Therefore, when the first quantized amplifier output voltage V1 satisfies the condition of the symbol 1b, that is, the following equation (7), Qout1 is "1", so the conditions of the symbols 2a and 2b are changed to the amplifier output voltage V1 When rewritten as the condition of , the equations (8) and (9) are obtained.
Vth2+>V1≥Vth1+ (7)
Condition of symbol 2a: V1-VR≧Vth1+
→V1≧Vth1++VR (8)
Condition of symbol 2b: Vth1+>V1-VR≧Vth0
→Vth1++VR>V1≧Vth0+VR (9)

これにより、第1量子化の記号1bの条件を満たすとき、第2量子化の記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1で示すと、次式(10)、(11)のようになる。
記号2aの条件:Vth2+ >V1≧Vth1+ +VR (10)
記号2bの条件:Vth1+ +VR>V1≧Vth1+ (11)
As a result, when the condition of symbol 1b of the first quantization is satisfied, the conditions of symbols 2a and 2b of the second quantization are represented by the amplifier output voltage V1, and the following equations (10) and (11) are obtained.
Condition of symbol 2a: Vth2+>V1≧Vth1++VR (10)
Condition 2b: Vth1++VR>V1≧Vth1+ (11)

他の記号についても同様の考え方で書き換えを行うと、2つのレベルに分けられる部分が互いに異なる量子化の値Qout2を出力することで、最終的には、図10に示すように、9レベルの量子化レベルの出力を得ることができるようになる。 If other symbols are rewritten in the same way, by outputting quantization values Qout2 that differ from each other in the parts divided into two levels, finally, as shown in FIG. It becomes possible to obtain the output of the quantization level.

さらに、上記した5個の閾値電圧を、前述した参照電圧Vrefとの関係で書き直すと、図11のようにすべての条件を参照電圧Vrefの分圧として設定することができる。 Further, if the five threshold voltages described above are rewritten in relation to the reference voltage Vref described above, all conditions can be set as divided voltages of the reference voltage Vref as shown in FIG.

このような第1実施形態によれば、D/A変換回路6により4レベルの量子化結果Qout値「2」、「1」、「-1」、「-2」に基づいて4レベルのアナログ電位を出力する構成とした。このとき、D/A変換回路6においては、サンプル期間ではAGNDに相当するVcmを選択しても、ホールド期間ではVcmを選択しないので積分回路3のアンプ31がオフセットを有する場合でも、DAC容量Cdの電気的特性に起因した誤差が生ずるのを抑制することができる。これにより、精度の高いアナログ電位を出力することができる。 According to the first embodiment as described above, the D/A conversion circuit 6 performs four-level analog conversion based on the four-level quantization result Qout values "2", "1", "-1", and "-2". It is configured to output a potential. At this time, even if the D/A conversion circuit 6 selects Vcm corresponding to AGND during the sample period, it does not select Vcm during the hold period. It is possible to suppress the occurrence of errors due to the electrical characteristics of As a result, a highly accurate analog potential can be output.

また、上記した4レベルのD/A変換回路6を2回用いることで、A/D変換回路1においては、最終的に9レベルの出力を得ることができるようになる。
そして、本実施形態によれば、上記したようにD/A変換回路6において、高インピーダンスになるAGND電位のVcmをホールド期間で使用しないので、動作速度の低下を抑制することができる。
Further, by using the 4-level D/A conversion circuit 6 twice, the A/D conversion circuit 1 can finally obtain a 9-level output.
According to this embodiment, as described above, the D/A conversion circuit 6 does not use Vcm of the AGND potential, which becomes a high impedance, during the hold period, so it is possible to suppress a decrease in operating speed.

さらに、D/A変換回路6における動作で、サンプル期間およびホールド期間でAGND電位となるVcmを連続して用いないので、アンプ31の出力を同じレベルに固着させることがなくなり、ディザ的な役割を果たすことができるようになる。 Furthermore, in the operation of the D/A conversion circuit 6, since Vcm which is the AGND potential is not continuously used during the sample period and the hold period, the output of the amplifier 31 is not fixed at the same level, and the dithering function is achieved. be able to fulfill

(第2実施形態)
図12から図15は第2実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、5個の閾値電圧Vth2+ 、Vth1+ 、Vth0、Vth1- 、Vth2- の設定の条件を変えている。
(Second embodiment)
12 to 15 show the second embodiment, and the differences from the first embodiment will be explained below. In this embodiment, the conditions for setting five threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- are changed.

すなわち、具体的には閾値電圧のうち閾値電圧Vth2+ およびVth2- の2個について、第1実施形態と異なる値として、次のように設定している。
Vth2+=5/16×Vref(V)
Vth2-=-5/16×Vref(V)
More specifically, two threshold voltages Vth2+ and Vth2- of the threshold voltages are set as follows as values different from those in the first embodiment.
Vth2+=5/16×Vref(V)
Vth2-=-5/16×Vref(V)

次に、D/A変換回路6による1回目のD/A変換処理の内容について説明する。図12に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、D/A変換前はV1、D/A変換後はV2となる。 Next, the contents of the first D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 12, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V1 before D/A conversion and V2 after D/A conversion.

D/A変換をする前のアンプ出力電圧V1に対して、量子化回路4において5個の閾値電圧で1回目の量子化(以下、第1量子化と称する)を実施すると、アンプ出力電圧V1の大きさに応じて図8に示しているように、「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout1が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V1をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。 When the amplifier output voltage V1 before D/A conversion is subjected to the first quantization (hereinafter referred to as first quantization) with five threshold voltages in the quantization circuit 4, the amplifier output voltage V1 As shown in FIG. 8, four levels of quantization output Qout1 of "2", "1", "-1", and "-2" are obtained according to the magnitude of . Based on this result, adding the amplifier output voltage V1 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result.

D/A変換回路6では、第1量子化出力Qout1に対して、図6に示すような動作を実施する。したがって、アンプ出力電圧V1に第1量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図12に太実線で示すようにアンプ出力電圧V2を得ることができる。この場合、第1量子化出力Qout1は、アンプ出力電圧V1が閾値Vth0以上で閾値Vth1+ 未満では「-1」、アンプ出力電圧V1が閾値Vth1- 以上で閾値Vth0未満では「1」としている。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the first quantized output Qout1. Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the first quantization to the amplifier output voltage V1, the amplifier output voltage V2 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG. In this case, the first quantized output Qout1 is "-1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth0 and less than the threshold Vth1+, and is "1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth1- and less than the threshold Vth0.

なお、上述の場合に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 In the above case, regardless of the value of the quantization result Qout, the potential of the DAC capacitor Cd is output to the input terminal of the amplifier 31 so that Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period. Even if the capacitance Cd has voltage characteristics, it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 .

次に、D/A変換回路6による2回目のD/A変換処理の内容について説明する。図13に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、1回目のD/A変換後はV2、2回目のA/D変換後はV3となる。 Next, the contents of the second D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 13, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V2 after the first D/A conversion and V3 after the second A/D conversion.

ここで、D/A変換をする前のアンプ出力電圧V2に対して、量子化回路4において前述したように3個の閾値電圧で第2量子化を実施すると、アンプ出力電圧V2の大きさに応じて「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout2が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V1をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。この場合、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対して図9に示すように、閾値Vth2+ および閾値Vth2- は使用しないで、4つのレベルに分けて量子化出力Qout2を出力する。 Here, when the amplifier output voltage V2 before D/A conversion is subjected to the second quantization with three threshold voltages as described above in the quantization circuit 4, the magnitude of the amplifier output voltage V2 becomes Accordingly, four levels of quantized output Qout2 of "2", "1", "-1" and "-2" are obtained. Based on this result, adding the amplifier output voltage V1 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result. In this case, in the second quantization, as shown in FIG. 9, the amplifier output voltage V2 is divided into four levels and the quantized output Qout2 is output without using the thresholds Vth2+ and Vth2-.

D/A変換回路6では、第2量子化の値Qout2に対して、第1量子化の場合と同様に図6に示すような動作を実施する。したがって、アンプ出力電圧V2に第2量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図13に太実線で示すようにアンプ出力電圧V3を得ることができる。この場合に、1回目のD/A変換と同様に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the second quantization value Qout2, as in the case of the first quantization. Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the second quantization to the amplifier output voltage V2, the amplifier output voltage V3 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG. In this case, as in the first D/A conversion, regardless of the value of the quantization result Qout, Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period, and the potential of the DAC capacitor Cd is applied to the input terminal of the amplifier 31. , it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 even when the DAC capacitance Cd has voltage characteristics.

上記のようにして、2回の量子化およびD/A変換処理を実行することで、9レベルの量子化結果を出力することができるようになる。また、この場合に、D/A変換回路6では、ホールド期間においてVcmを選択する動作を行わないので、DAC容量Cdの電気特性がアンプ31のオフセットで誤差を発生するのを回避することができるので、精度の良いA/D変換を実行することができる。 By executing quantization and D/A conversion processing twice as described above, it is possible to output 9-level quantization results. Further, in this case, the D/A conversion circuit 6 does not perform the operation of selecting Vcm during the hold period, so it is possible to avoid the occurrence of an error in the electrical characteristics of the DAC capacitance Cd due to the offset of the amplifier 31. Therefore, accurate A/D conversion can be performed.

次に、図14および図15を参照して、上記した2回の量子化およびD/A変換処理における動作をまとめた結果について説明する。前述の説明のように、第1量子化では、図8に示すようにしてアンプ出力電圧V1に対して5個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout1を出力している。また、第2量子化では、図9に示すようにしてアンプ出力電圧V2に対して3個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout2を出力している。 Next, with reference to FIG. 14 and FIG. 15, a summary of the operations in the two quantization and D/A conversion processes described above will be described. As described above, in the first quantization, a four-level quantization result Qout1 is output with five threshold voltages for the amplifier output voltage V1 as shown in FIG. In the second quantization, as shown in FIG. 9, a four-level quantization result Qout2 is output with three threshold voltages for the amplifier output voltage V2.

ここで、2回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V2は、1回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V1からD/A変換回路6の出力との差分を演算した結果となっているので、D/A変換回路6の出力リファレンス電圧Vrefを用いて前述した式(1)のように表せ、Vref×Cd/Cf=VRと置くと、前述の式(2)のように表すことができる。 Here, the amplifier output voltage V2 before the second D/A conversion is the result of calculating the difference between the output of the D/A conversion circuit 6 and the amplifier output voltage V1 before the first D/A conversion. Therefore, by using the output reference voltage Vref of the D/A conversion circuit 6, it can be expressed as the above-mentioned equation (1), and if Vref×Cd/Cf=VR, it can be expressed as the above-mentioned equation (2). can be done.

ここで、第1量子化では、図8に示したように、5個の閾値電圧によって6個の判定条件が設定される。このとき、例えば記号1aで示す条件に該当する場合には、2回目の量子化で図9に記号2a、2bで示す2通りの条件に該当する可能性がある。 Here, in the first quantization, as shown in FIG. 8, 6 determination conditions are set by 5 threshold voltages. At this time, for example, if the condition indicated by symbol 1a is satisfied, there is a possibility that two conditions indicated by symbols 2a and 2b in FIG. 9 may be satisfied in the second quantization.

すなわち、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対応しているが、式(2)で示したV1を用いて2a、2bの条件を書き直してみる。まず、記号2aの条件は、次式(12)であるから、これに式(2)を代入すると、次式(13)のようになる。同様に、記号2bの条件は、次式(14)であるから、これに式(2)を代入すると、次式(15)のようになる。
記号2aの条件:V2≧Vth1+ (12)
→V1-Qout1×VR≧Vth1+ (13)
記号2bの条件:Vth1+>V2≧Vth0 (14)
→Vth1+>V1-Qout1×VR≧Vth0 (15)
That is, although the second quantization corresponds to the amplifier output voltage V2, the conditions 2a and 2b are rewritten using V1 shown in Equation (2). First, since the condition of the symbol 2a is the following formula (12), substituting the formula (2) into this results in the following formula (13). Similarly, the condition of symbol 2b is given by the following formula (14), so substituting the formula (2) into this results in the following formula (15).
Condition of symbol 2a: V2≧Vth1+ (12)
→V1−Qout1×VR≧Vth1+ (13)
Condition of symbol 2b: Vth1+>V2≧Vth0 (14)
→Vth1+>V1−Qout1×VR≧Vth0 (15)

そこで、第1量子化のアンプ出力電圧V1が記号1aの条件すなわち、次式(16)に該当する場合には、Qout1は「2」であるから、記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1の条件として書き直すと、式(16)、(17)のようになる。
V1≧Vth2+ (16)
記号2aの条件:V1-2VR≧Vth1+
→V1≧Vth1+ +2VR (17)
記号2bの条件:Vth1+>V1-2VR≧Vth0
→Vth1+ +2VR>V1≧Vth0+2VR (18)
Therefore, when the first quantized amplifier output voltage V1 satisfies the condition of symbol 1a, that is, the following equation (16), Qout1 is "2", so the conditions of symbols 2a and 2b are changed to the amplifier output voltage V1 is rewritten as the condition, the equations (16) and (17) are obtained.
V1≧Vth2+ (16)
Condition of symbol 2a: V1-2VR≧Vth1+
→V1≧Vth1++2VR (17)
Condition 2b: Vth1+>V1-2VR≧Vth0
→Vth1++2VR>V1≧Vth0+2VR (18)

これにより、第1量子化の記号1aの条件を満たすとき、第2量子化の記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1で示すと、次式(19)、(20)のようになる。
記号2aの条件:V1≧Vth1+ +2VR (19)
記号2bの条件:Vth1+ +2VR>V1≧Vth2+ (20)
As a result, when the condition of symbol 1a of the first quantization is satisfied, the conditions of symbols 2a and 2b of the second quantization are represented by the amplifier output voltage V1, and the following equations (19) and (20) are obtained.
Condition of symbol 2a: V1≧Vth1++2VR (19)
Condition of symbol 2b: Vth1++2VR>V1≧Vth2+ (20)

他の記号についても同様の考え方で書き換えを行うと、2つのレベルに分けられる部分が互いに異なる量子化の値Qout2を出力することで、最終的には、図14に示すように、9レベルの量子化レベルの出力を得ることができるようになる。 If other symbols are rewritten in the same way, by outputting quantization values Qout2 that are different from each other for the parts divided into two levels, finally, as shown in FIG. It becomes possible to obtain the output of the quantization level.

さらに、上記した5個の閾値電圧を、前述した参照電圧Vrefとの関係で書き直すと、図15のようにすべての条件を参照電圧Vrefの分圧として設定することができる。
このような第2実施形態によっても、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
Further, if the five threshold voltages described above are rewritten in relation to the reference voltage Vref described above, all conditions can be set as divided voltages of the reference voltage Vref as shown in FIG.
Also by such a second embodiment, it is possible to obtain the same effects as those of the first embodiment.

(第3実施形態)
図16から図19は第3実施形態を示すもので、以下、第2実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、5個の閾値電圧Vth2+ 、Vth1+ 、Vth0、Vth1- 、Vth2- の設定の条件を変えている。
(Third Embodiment)
16 to 19 show the third embodiment, and the differences from the second embodiment will be explained below. In this embodiment, the conditions for setting five threshold voltages Vth2+, Vth1+, Vth0, Vth1-, and Vth2- are changed.

すなわち、具体的には閾値電圧のうち閾値Vth2+ およびVth2- の2個について、第1実施形態と異なる値として、次のように設定している。
Vth2+=6/16×Vref(V)
Vth2-=-6/16×Vref(V)
More specifically, two threshold values Vth2+ and Vth2- of the threshold voltages are set as follows as values different from those in the first embodiment.
Vth2+ = 6/16 x Vref (V)
Vth2-=-6/16×Vref(V)

次に、D/A変換回路6による1回目のD/A変換処理の内容について説明する。図16に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、D/A変換前はV1、D/A変換後はV2となる。 Next, the contents of the first D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 16, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V1 before D/A conversion and V2 after D/A conversion.

D/A変換をする前のアンプ出力電圧V1に対して、量子化回路4において5個の閾値電圧で第1量子化を実施すると、アンプ出力電圧V1の大きさに応じて図8に示しているように、「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout1が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V1をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。 When the amplifier output voltage V1 before D/A conversion is subjected to the first quantization with five threshold voltages in the quantization circuit 4, the following values are obtained according to the magnitude of the amplifier output voltage V1 as shown in FIG. A quantized output Qout1 of four levels of "2", "1", "-1" and "-2" is obtained. Based on this result, adding the amplifier output voltage V1 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result.

D/A変換回路6では、第1量子化の値Qout1に対して、図6に示すような動作を実施する。したがって、アンプ出力電圧V1に第1量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図16に太実線で示すようにアンプ出力電圧V2を得ることができる。この場合、第1量子化の出力Qout1は、アンプ出力電圧V1が閾値Vth0以上で閾値Vth1+ 未満では「-1」、アンプ出力電圧V1が閾値Vth1- 以上で閾値Vth0未満では「1」としている。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the first quantized value Qout1. Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the first quantization to the amplifier output voltage V1, the amplifier output voltage V2 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG. In this case, the output Qout1 of the first quantization is "-1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth0 and less than the threshold Vth1+, and is "1" when the amplifier output voltage V1 is greater than or equal to the threshold Vth1- and less than the threshold Vth0. .

なお、上述の場合に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 In the above case, regardless of the value of the quantization result Qout, the potential of the DAC capacitor Cd is output to the input terminal of the amplifier 31 so that Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period. Even if the capacitance Cd has voltage characteristics, it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 .

次に、D/A変換回路6による2回目のD/A変換処理の内容について説明する。図17に示すように、入力電位Vinとアンプ31の出力電圧Vampとの関係は、1回目のD/A変換後はV2、2回目のA/D変換後はV3となる。 Next, the contents of the second D/A conversion process by the D/A conversion circuit 6 will be described. As shown in FIG. 17, the relationship between the input potential Vin and the output voltage Vamp of the amplifier 31 is V2 after the first D/A conversion and V3 after the second A/D conversion.

ここで、D/A変換をする前のアンプ出力電圧V2に対して、量子化回路4において前述したように3個の閾値電圧で第2量子化を実施すると、アンプ出力電圧V2の大きさに応じて「2」、「1」、「-1」、「-2」の4レベルの量子化出力Qout2が得られる。この結果に基づいて、アンプ出力電圧V1をD/A変換回路6からの出力と加算すると、次のような結果となる。この場合、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対して図9に示すように、閾値Vth2+ および閾値Vth2- は使用しないで、4つのレベルに分けて量子化出力Qout2を出力する。 Here, when the amplifier output voltage V2 before D/A conversion is subjected to the second quantization with three threshold voltages as described above in the quantization circuit 4, the magnitude of the amplifier output voltage V2 becomes Accordingly, four levels of quantized output Qout2 of "2", "1", "-1" and "-2" are obtained. Based on this result, adding the amplifier output voltage V1 to the output from the D/A conversion circuit 6 yields the following result. In this case, in the second quantization, as shown in FIG. 9, the amplifier output voltage V2 is divided into four levels and the quantized output Qout2 is output without using the thresholds Vth2+ and Vth2-.

D/A変換回路6では、第2量子化の値Qout2に対して、第1量子化の場合と同様に図6に示すような動作を実施する。したがって、アンプ出力電圧V2に第2量子化の結果によるD/A変換回路6の出力を加算すると、図17に太実線で示すようにアンプ出力電圧V3を得ることができる。この場合に、1回目のD/A変換と同様に、量子化結果Qoutの値にかかわらず、ホールド期間では参照電圧としてVcmの選択をしないようにしてDAC容量Cdの電位をアンプ31の入力端子に出力しているので、DAC容量Cdが電圧特性を有する場合でも、アンプ31のオフセットに起因して出力誤差が発生するのを抑制することができる。 The D/A conversion circuit 6 performs the operation shown in FIG. 6 for the second quantization value Qout2, as in the case of the first quantization. Therefore, by adding the output of the D/A conversion circuit 6 resulting from the second quantization to the amplifier output voltage V2, the amplifier output voltage V3 can be obtained as indicated by the thick solid line in FIG. In this case, as in the first D/A conversion, regardless of the value of the quantization result Qout, Vcm is not selected as the reference voltage during the hold period, and the potential of the DAC capacitor Cd is applied to the input terminal of the amplifier 31. , it is possible to suppress the occurrence of an output error due to the offset of the amplifier 31 even when the DAC capacitance Cd has voltage characteristics.

上記のようにして、2回の量子化およびD/A変換処理を実行することで、9レベルの量子化結果を出力することができるようになる。また、この場合に、D/A変換回路6では、ホールド期間においてVcmを選択する動作を行わないので、DAC容量Cdの電気特性がアンプ31のオフセットで誤差を発生するのを回避することができるので、精度の良いA/D変換を実行することができる。 By executing quantization and D/A conversion processing twice as described above, it is possible to output 9-level quantization results. Further, in this case, the D/A conversion circuit 6 does not perform the operation of selecting Vcm during the hold period, so it is possible to avoid the occurrence of an error in the electrical characteristics of the DAC capacitance Cd due to the offset of the amplifier 31. Therefore, accurate A/D conversion can be performed.

次に、図18および図19を参照して、上記した2回の量子化およびD/A変換処理における動作をまとめた結果について説明する。前述の説明のように、第1量子化では、図8に示すようにしてアンプ出力電圧V1に対して5個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout1を出力している。また、第2量子化では、図9に示すようにしてアンプ出力電圧V2に対して3個の閾値電圧により4レベルの量子化結果Qout2を出力している。 Next, with reference to FIG. 18 and FIG. 19, a summary of the operations in the two quantization and D/A conversion processes described above will be described. As described above, in the first quantization, a four-level quantization result Qout1 is output with five threshold voltages for the amplifier output voltage V1 as shown in FIG. In the second quantization, as shown in FIG. 9, a four-level quantization result Qout2 is output with three threshold voltages for the amplifier output voltage V2.

ここで、2回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V2は、1回目のD/A変換前のアンプ出力電圧V1からD/A変換回路5の出力との差分を演算した結果となっているから、D/A変換回路6の出力リファレンス電圧Vrefを用いて前述した式(1)のように表せ、Vref×Cd/Cf=VRと置くと、前述の式(2)のように表すことができる。 Here, the amplifier output voltage V2 before the second D/A conversion is the result of calculating the difference between the output of the D/A conversion circuit 5 and the amplifier output voltage V1 before the first D/A conversion. Therefore, using the output reference voltage Vref of the D/A conversion circuit 6, the above equation (1) can be expressed. can be done.

ここで、第1量子化では、図8に示したように、5個の閾値電圧によって6個の判定条件が設定される。このとき、例えば記号1aで示す条件に該当する場合には、第2実施形態と同様にして、第2量子化の記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1で示すと、次式(19)、(20)のようになる。 Here, in the first quantization, as shown in FIG. 8, 6 determination conditions are set by 5 threshold voltages. At this time, for example, if the condition indicated by symbol 1a is satisfied, the conditions indicated by symbols 2a and 2b of the second quantization are represented by the amplifier output voltage V1 in the same manner as in the second embodiment. , (20).

そして、例えば記号1bで示す条件に該当する場合には、第2量子化で図9に示している記号2a、2bで示す2通りの条件に該当する可能性がある。すなわち、第2量子化では、アンプ出力電圧V2に対応しているが、式(2)で示したアンプ出力電圧V1を用いて2a、2bの条件を書き直してみる。まず、記号2aの条件は、次式(21)であるから、これに式(2)を代入すると、次式(22)のようになる。同様に、記号2bの条件は、次式(23)であるから、これに式(2)を代入すると、次式(24)のようになる。 For example, when the condition indicated by symbol 1b is met, there is a possibility that the second quantization may meet two conditions indicated by symbols 2a and 2b shown in FIG. That is, although the second quantization corresponds to the amplifier output voltage V2, the conditions 2a and 2b are rewritten using the amplifier output voltage V1 shown in Equation (2). First, since the condition of the symbol 2a is the following formula (21), substituting the formula (2) into this results in the following formula (22). Similarly, the condition of symbol 2b is given by the following formula (23), so substituting the formula (2) into this results in the following formula (24).

記号2aの条件:V2≧Vth1+ (21)
→V1-Qout1×VR≧Vth1+ (22)
記号2bの条件:Vth1+>V2≧Vth0 (23)
→Vth1+>V1-Qout1×VR≧Vth0 (24)
Condition of symbol 2a: V2≧Vth1+ (21)
→V1−Qout1×VR≧Vth1+ (22)
Condition of symbol 2b: Vth1+>V2≧Vth0 (23)
→Vth1+>V1−Qout1×VR≧Vth0 (24)

そこで、第1量子化のアンプ出力電圧V1が記号1bの条件すなわち、次式(7)に該当する場合には、Qout1は「1」であるから、記号2a、2bの条件をアンプ出力電圧V1の条件として書き直すと、式(25)、(26)のようになる。 Therefore, when the first quantized amplifier output voltage V1 satisfies the condition of the symbol 1b, that is, the following equation (7), Qout1 is "1", so the conditions of the symbols 2a and 2b are changed to the amplifier output voltage V1 is rewritten as the condition, the equations (25) and (26) are obtained.

Vth2+ >V1≧Vth1+ (7)
記号2aの条件:V1-VR≧Vth1+
→V1≧Vth1+ +VR (25)
記号2bの条件:Vth1+>V1-VR≧Vth0
→Vth1+ +VR>V1≧Vth0+VR (26)
Vth2+>V1≥Vth1+ (7)
Condition of symbol 2a: V1-VR≧Vth1+
→V1≧Vth1++VR (25)
Condition of symbol 2b: Vth1+>V1-VR≧Vth0
→Vth1++VR>V1≧Vth0+VR (26)

これにより、第1量子化の記号1bの条件を満たすとき、第2量子化の記号2a、2bの条件を入力V1で示すと、次式(27)、(28)のようになる。
記号2aの条件:Vth2+ >V1≧Vth1+ +VR (27)
記号2bの条件:Vth1+ +VR>V1≧Vth1+ (28)
Thus, when the condition of symbol 1b of the first quantization is satisfied, the conditions of symbols 2a and 2b of the second quantization are represented by the input V1, and the following equations (27) and (28) are obtained.
Condition of symbol 2a: Vth2+>V1≧Vth1++VR (27)
Condition 2b: Vth1++VR>V1≧Vth1+ (28)

他の記号についても同様の考え方で書き換えを行うと、2つのレベルに分けられる部分が互いに異なる量子化の値Qout2を出力することで、最終的には、図18に示すように、9レベルの量子化レベルの出力を得ることができるようになる。
さらに、上記した5個の閾値電圧を、前述した参照電圧Vrefとの関係で書き直すと、図19のようにすべての条件を参照電圧Vrefの分圧として設定することができる。
If other symbols are rewritten in the same way, by outputting quantization values Qout2 that differ from each other in the parts divided into two levels, finally, as shown in FIG. It becomes possible to obtain the output of the quantization level.
Further, if the five threshold voltages described above are rewritten in relation to the reference voltage Vref described above, all conditions can be set as divided voltages of the reference voltage Vref as shown in FIG.

このような第3実施形態によっても、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができる。また、この第3実施形態では、閾値Vth2+ およびVth2- をそれぞれ閾値Vth1+ およびVth1- の整数倍となるように設定しているので、閾値電圧の生成回路を簡単な構成とすることができる。 Also by such a third embodiment, it is possible to obtain the same effects as those of the first embodiment. Further, in the third embodiment, the threshold voltages Vth2+ and Vth2- are set to be integral multiples of the threshold voltages Vth1+ and Vth1-, respectively, so that the threshold voltage generation circuit can be simplified. .

(他の実施形態)
本開示は、実施例に準拠して記述されたが、本開示は当該実施例や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。
(Other embodiments)
Although the present disclosure has been described with reference to examples, it is understood that the present disclosure is not limited to such examples or structures. The present disclosure also includes various modifications and modifications within the equivalent range. In addition, various combinations and configurations, as well as other combinations and configurations, including single elements, more, or less, are within the scope and spirit of this disclosure.

図面中、1はA/D変換回路、2は入力回路、3は積分回路、4は量子化回路、5は制御回路、6はD/A変換回路、31はアンプ、41~45はコンパレータ、Csはサンプリング用の容量、Cfは帰還用の容量、CdはDAC容量、Ss1~Ss4はスイッチ、Sdt、Sdm、Sdbは選択スイッチ、Sd2は接地スイッチ、Sd3は出力スイッチである。 In the drawings, 1 is an A/D conversion circuit, 2 is an input circuit, 3 is an integration circuit, 4 is a quantization circuit, 5 is a control circuit, 6 is a D/A conversion circuit, 31 is an amplifier, 41 to 45 are comparators, Cs is a sampling capacitor, Cf is a feedback capacitor, Cd is a DAC capacitor, Ss1 to Ss4 are switches, Sdt, Sdm and Sdb are selection switches, Sd2 is a ground switch, and Sd3 is an output switch.

Claims (8)

出力端子が量子化回路(4)に接続されたオペアンプの入力端子に接続されるD/A変換回路であって、
DAC容量(Cd)と、
前記DAC容量の入力側にアナログ電位として、基準電位(Vcm)、前記基準電位よりも高電位の第1電圧(Vrefp)および前記基準電位よりも低電位の第2電圧(Vrefm)を選択的に与える選択スイッチ(Sdt、Sdm、Sdb)と、
前記DAC容量の出力側をアナロググランド電位に接続する接地スイッチ(Sd2)と、
前記DAC容量の出力側を出力端子に接続する出力スイッチ(Sd3)とを備え、
前記量子化回路から出力される4レベルの量子化結果の値に対応して、第1期間で前記選択スイッチをいずれかの電位に選択接続し且つ前記接地スイッチをオンさせて前記DAC容量に充電し、前記第1期間に続く第2期間で前記選択スイッチを前記第1電圧および前記第2電圧のいずれかに選択接続し且つ前記出力スイッチをオンさせて前記DAC容量から前記出力端子に4レベルのいずれかのアナログ電位を出力するD/A変換回路(6)。
A D/A conversion circuit whose output terminal is connected to the input terminal of an operational amplifier connected to a quantization circuit (4),
DAC capacity (Cd);
A reference potential (Vcm), a first voltage (Vrefp) higher than the reference potential, and a second voltage (Vrefm) lower than the reference potential are selectively applied to the input side of the DAC capacitor as analog potentials. selection switches (Sdt, Sdm, Sdb) that provide
a ground switch (Sd2) that connects the output side of the DAC capacitor to an analog ground potential;
An output switch (Sd3) that connects the output side of the DAC capacity to an output terminal,
According to the value of the four-level quantization result output from the quantization circuit, the selection switch is selectively connected to any potential and the ground switch is turned on in the first period to charge the DAC capacitance. In a second period following the first period, the selection switch is selectively connected to either the first voltage or the second voltage, the output switch is turned on, and four levels are supplied from the DAC capacitor to the output terminal. A D/A conversion circuit (6) for outputting any analog potential.
前記4レベルの量子化結果の値は、「+2」、「+1」、「-1」、「-2」のいずれかの値として設定され、
前記選択スイッチに対して、
前記量子化結果の値が「+2」のときに、前記第1期間で前記第2電圧、前記第2期間で前記第1電圧に接続し、
前記量子化結果の値が「+1」のときに、前記第1期間で前記基準電位、前記第2期間で前記第1電圧に接続し、
前記量子化結果の値が「-1」のときに、前記第1期間で前記基準電位、前記第2期間で前記第2電圧に接続し、
前記量子化結果の値が「-2」のときに、前記第1期間で前記第1電圧、前記第2期間で前記第2電圧に接続する請求項1に記載のD/A変換回路(6)。
The value of the 4-level quantization result is set as one of "+2", "+1", "-1", and "-2",
For the selection switch,
connecting to the second voltage in the first period and to the first voltage in the second period when the value of the quantization result is "+2";
when the value of the quantization result is "+1", connecting to the reference potential in the first period and to the first voltage in the second period;
when the value of the quantization result is "-1", connecting to the reference potential in the first period and to the second voltage in the second period;
2. The D/A conversion circuit according to claim 1, wherein when the value of said quantization result is "-2", it connects to said first voltage in said first period and to said second voltage in said second period. ).
前記量子化回路によりアナログ電位を5個の閾値電圧で比較して4レベルに変換する処理が2回繰り返し実施された量子化の結果が与えられ、
第1回量子化では、アナログ電位が、正の第2閾値以上で「2」、正の前記第2閾値未満且つ正の第1閾値以上で「1」、正の前記第1閾値未満且つ基準閾値以上で「-1」、前記基準閾値未満且つ負の前記第1閾値以上で「1」、負の前記第1閾値未満且つ負の前記第2閾値以上で「-1」、負の前記第2閾値未満で「-2」のデジタル値として生成したものが与えられ、
第2回量子化では、アナログ電位が、正の前記第1閾値以上で「2」、正の前記第1閾値未満且つ正の前記基準閾値以上で「1」、前記基準閾値未満且つ負の前記第1閾値以上で「-1」、負の前記第1閾値未満且つ負の前記第2閾値以上で「-2」のデジタル値として生成したものが与えられ、
前記第1期間および前記第2期間を経て前記出力端子に4レベルのアナログ電位を出力することにより、前記量子化回路から9レベルのデジタル値を生成させる請求項2に記載のD/A変換回路。
A quantization result in which the quantization circuit compares the analog potential with five threshold voltages and converts the analog potential into four levels is repeatedly performed twice, and
In the first quantization, the analog potential is "2" above the positive second threshold, "1" below the second positive threshold and above the first positive threshold, below the first positive threshold and "-1" at or above the reference threshold, "1" at or above the negative first threshold and below the reference threshold, "-1" at or above the second negative threshold and below the first threshold, negative provided that it is generated as a digital value of "-2" below the second threshold;
In the second quantization, the analog potential is "2" at the positive first threshold or more, "1" at the positive reference threshold or more and less than the positive first threshold, less than the reference threshold and the negative A digital value generated as "-1" above the first threshold and "-2" below the negative first threshold and above the second negative threshold is given,
3. The D/A conversion circuit according to claim 2, wherein a 9-level digital value is generated from said quantization circuit by outputting a 4-level analog potential to said output terminal through said first period and said second period. .
アナログ電位を5個の閾値電圧で比較して4レベルのデジタル値に変換して請求項2に記載のD/A変換回路に与える入力デジタル信号を生成する量子化回路であって、前記5個の閾値電圧は、前記基準電位に対応した基準閾値(Vth0)、前記基準閾値から正負に第1電圧分の差を有する正負の第1閾値(Vth1+、Vth1-)、前記基準閾値から正負に前記第1電圧よりも大きい第2電圧分の差を有する正負の第2閾値(Vth2+、Vth2-)として設定され、入力される前記アナログ電位が、正の前記第2閾値以上で「2」、正の前記第2閾値未満且つ正の前記第1閾値以上で「1」、正の前記第1閾値未満且つ前記基準閾値以上で「-1」、前記基準閾値未満且つ負の前記第1閾値以上で「1」、負の前記第1閾値未満且つ負の前記第2閾値以上で「-1」、負の前記第2閾値未満で「-2」のデジタル値として生成する量子化回路(4)と、
請求項2に記載のD/A変換回路(6)と、
外部から入力されるアナログ電位と前記D/A変換回路が出力するアナログ電位とを加算して前記量子化回路に入力させるアナログ電位とするアンプ(3)と、
を備えたA/D変換回路。
3. A quantization circuit that compares an analog potential with five threshold voltages, converts the analog potential into a four-level digital value, and generates an input digital signal to be supplied to the D/A conversion circuit according to claim 2, The five threshold voltages are a reference threshold (Vth0) corresponding to the reference potential, positive and negative first thresholds (Vth1+, Vth1-) having a positive/negative first voltage difference from the reference threshold, It is set as positive and negative second thresholds (Vth2+, Vth2-) having a difference of a second voltage larger than the first voltage in positive and negative, and the input analog potential is equal to or higher than the positive second threshold. 2", "1" when less than the positive second threshold and the first positive threshold or more, "-1" when less than the positive first threshold and the reference threshold or more, less than the reference threshold and the negative first A quantization circuit that generates a digital value of "1" when it is one threshold or more, "-1" when it is less than the first negative threshold and is more than the second negative threshold, and "-2" when it is less than the second negative threshold. (4) and
a D/A conversion circuit (6) according to claim 2;
an amplifier (3) adding an analog potential input from the outside and an analog potential output from the D/A conversion circuit to obtain an analog potential to be input to the quantization circuit;
A/D conversion circuit.
ΔΣ変調型A/D変換回路として構成され、
前記量子化回路は、前記外部から入力されるアナログ電位に対応して少なくとも2回の変換処理を実行して9レベルのデジタル値を生成する請求項4に記載のA/D変換回路。
configured as a ΔΣ modulation type A/D conversion circuit,
5. The A/D conversion circuit according to claim 4, wherein said quantization circuit executes conversion processing at least twice in response to said externally input analog potential to generate a 9-level digital value.
前記量子化回路は、2回目の変換処理では、
外部から入力される前記アナログ電位が、正の前記第1閾値以上で「2」、正の前記第1閾値未満且つ前記基準閾値以上で「1」、前記基準閾値未満且つ負の前記第1閾値以上で「-1」、負の前記第1閾値以下で「-2」のデジタル値を生成する請求項4に記載のA/D変換回路。
The quantization circuit, in the second conversion process,
The analog potential input from the outside is "2" when the positive first threshold or more, "1" when it is less than the positive first threshold and the reference threshold or more, and is less than the reference threshold and the negative first threshold. 5. The A/D conversion circuit according to claim 4, which generates a digital value of "-1" above and "-2" below the negative first threshold.
前記量子化回路は、
正負の前記第2閾値が、基準閾値との差の絶対値が前記第1閾値よりも大きく且つ整数倍に設定される請求項4に記載のA/D変換回路。
The quantization circuit is
5. The A/D conversion circuit according to claim 4, wherein the positive/negative second threshold is set such that the absolute value of the difference from the reference threshold is larger than the first threshold and is an integer multiple.
前記量子化回路は、
正負の前記第2閾値が、絶対値が前記第1閾値よりも大きく且つ前記第1閾値の2倍よりも小さく設定される請求項4に記載のA/D変換回路。
The quantization circuit is
5. The A/D conversion circuit according to claim 4, wherein the positive and negative second threshold is set such that the absolute value thereof is larger than the first threshold and smaller than twice the first threshold.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006041992A (en) 2004-07-28 2006-02-09 Renesas Technology Corp Semiconductor integrated circuit incorporating a/d conversion circuit and communication purpose semiconductor integrated circuit
US20070126615A1 (en) 2005-12-06 2007-06-07 Yi Gyeong Kim Multi-bit sigma-delta modulator and digital-to-analog converter with one digital-to-analog capacitor
WO2013157127A1 (en) 2012-04-19 2013-10-24 トヨタ自動車株式会社 Δς modulator and δς a/d converter
JP2018133702A (en) 2017-02-15 2018-08-23 株式会社デンソー Δς modulator, δς a/d modulator and incremental δς a/d modulator

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3372753B2 (en) * 1996-04-26 2003-02-04 株式会社日立製作所 Oversampling type A / D converter

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006041992A (en) 2004-07-28 2006-02-09 Renesas Technology Corp Semiconductor integrated circuit incorporating a/d conversion circuit and communication purpose semiconductor integrated circuit
US20070126615A1 (en) 2005-12-06 2007-06-07 Yi Gyeong Kim Multi-bit sigma-delta modulator and digital-to-analog converter with one digital-to-analog capacitor
WO2013157127A1 (en) 2012-04-19 2013-10-24 トヨタ自動車株式会社 Δς modulator and δς a/d converter
JP2018133702A (en) 2017-02-15 2018-08-23 株式会社デンソー Δς modulator, δς a/d modulator and incremental δς a/d modulator

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