JP7169507B2 - power converter - Google Patents

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Description

本発明は、半導体スイッチング素子の短絡故障、開放故障を検出する機能を備えたインバータ等の電力変換装置に関するものである。 The present invention relates to a power converter such as an inverter having a function of detecting short-circuit failures and open-circuit failures of semiconductor switching elements.

従来から、インバータ等を構成する半導体スイッチング素子の短絡故障や開放故障を診断する技術が種々提案されている。
例えば、特許文献1には、インバータの直流電圧が所定値以下の状態で、インバータのスイッチング素子を選択的にONした時の直流電圧または直流電流の変化に基づいてスイッチング素子の短絡故障や開放故障の有無を検出するようにした故障診断方法が記載されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, various techniques have been proposed for diagnosing short-circuit failures and open-circuit failures of semiconductor switching elements that constitute inverters and the like.
For example, in Patent Document 1, when the DC voltage of the inverter is below a predetermined value, the switching element of the inverter is selectively turned ON. A failure diagnosis method for detecting the presence or absence of

また、特許文献2には、インバータを用いたモータ駆動システムにおけるスイッチング素子の故障診断方法が記載されている。
図1は、このモータ駆動システムの構成図であり、Eは直流電源、SWは初期充電リレー、Rは限流用の抵抗、SWはメインリレー、Cはフィルムコンデンサ等のコンデンサ、INVは半導体スイッチング素子Q,Q,Q,Q,Q,Qからなる三相のインバータ主回路、Mは主回路INVの出力電圧が固定子巻線に印加される三相のモータである。
Further, Patent Literature 2 describes a failure diagnosis method for switching elements in a motor drive system using an inverter.
Fig. 1 is a block diagram of this motor drive system, E1 is a DC power supply, SW1 is an initial charging relay, R1 is a current limiting resistor, SW2 is a main relay, C1 is a capacitor such as a film capacitor, INV is a three-phase inverter main circuit composed of semiconductor switching elements Qu , Qv , Qw , Qx , Qy , and Qz , and M is a three-phase inverter in which the output voltage of the main circuit INV is applied to the stator winding. motor.

上記スイッチング素子Q,Q,Q,Q,Q,Qを駆動する制御装置において、主回路INVの出力電流は電流検出器11及び交流電流検出回路12により検出されて故障診断部15に入力される。また、主回路INVの直流入力電圧は電圧検出器13及び直流中間電圧検出回路14により検出されて故障診断部15に入力される。故障診断部15は、スイッチング素子Q,Q,Q,Q,Q,Qの短絡故障、開放故障の有無を診断する機能と、各リレーSW,SWを開閉制御する機能と、ゲート駆動回路17に対する制御指令を生成する機能とを有し、ゲート駆動回路17は制御指令に従ってスイッチング素子Q,Q,Q,Q,Q,Qのゲート信号を出力する。 In the control device for driving the switching elements Q u , Q v , Q w , Q x , Q y , and Q z , the output current of the main circuit INV is detected by the current detector 11 and the alternating current detection circuit 12 to diagnose failures. It is input to the part 15 . Also, the DC input voltage of the main circuit INV is detected by the voltage detector 13 and the DC intermediate voltage detection circuit 14 and input to the fault diagnosis section 15 . The fault diagnosis unit 15 has a function of diagnosing the presence or absence of short-circuit faults and open-circuit faults of the switching elements Q u , Q v , Q w , Q x , Q y , and Q z , and controls opening and closing of the relays SW 1 and SW 2 . and a function of generating a control command for the gate drive circuit 17. The gate drive circuit 17 generates gate signals for the switching elements Qu , Qv , Qw , Qx , Qy , and Qz in accordance with the control command. Output.

この従来技術における故障診断処理を、図10のフローチャートに基づいて説明する。
図1の初期充電リレーSWをONしてコンデンサCの初期充電を開始し(ステップS10)、これに合わせて故障診断部15が計時を開始すると共に、直流中間電圧(コンデンサCの電圧)及び主回路INVの出力電流の監視を開始する。
故障診断部15は、全てのスイッチング素子にOFF指令が与えられている状態で、計時開始から所定時間が経過するまでに直流中間電圧が所定電圧に到達しない場合には(S11 No)、各相の上アームのスイッチング素子のうち少なくとも1個と同一相の下アームのスイッチング素子とに短絡故障が発生している(直流母線間が短絡している)と判断する(S12)。その後、初期充電リレーSWをOFFし(S13)、短絡故障の表示や上位コントローラ等への通知を行い、通常運転への移行を禁止して処理を終了する(S14)。
The failure diagnosis processing in this prior art will be described with reference to the flow chart of FIG.
Initial charging relay SW1 in FIG. 1 is turned ON to start initial charging of capacitor C1 (step S10 ). ) and start monitoring the output current of the main circuit INV.
If the DC intermediate voltage does not reach a predetermined voltage within a predetermined period of time from the start of time measurement (S11 No), the fault diagnosis unit 15 determines that each phase It is determined that at least one of the switching elements in the upper arm of 1 and the switching element in the lower arm of the same phase has a short-circuit failure (a short circuit exists between the DC bus lines) (S12). After that, the initial charging relay SW1 is turned off (S13), the short - circuit fault is displayed and the host controller is notified, and the process is terminated by prohibiting the shift to normal operation (S14).

計時開始から所定時間内に直流中間電圧が所定電圧に到達した場合(S11 Yes)、故障診断部15は短絡故障なしと診断し、直流中間電圧が所定の診断用電圧に到達したか否かを判断する(S15)。そして、直流中間電圧が上記診断用電圧以上になると初期充電リレーSWをOFFし(S15 Yes,S16)、各スイッチング素子を短時間だけONさせるようにゲート駆動回路17から微小パルスを与え(S17)、ONさせるスイッチング素子を切り替えながらステップS18以後の処理を行う。 When the DC intermediate voltage reaches a predetermined voltage within a predetermined time from the start of time measurement (S11 Yes), the fault diagnosis unit 15 diagnoses that there is no short-circuit fault, and determines whether or not the DC intermediate voltage has reached a predetermined diagnostic voltage. It judges (S15). Then, when the DC intermediate voltage becomes equal to or higher than the diagnostic voltage, the initial charge relay SW1 is turned OFF (S15 Yes, S16), and a minute pulse is applied from the gate drive circuit 17 so as to turn ON each switching element for a short period of time (S17). ), the processing after step S18 is performed while switching the switching element to be turned ON.

故障診断部15は、スイッチング素子がONしている間の単位時間当たりの直流中間電圧低下率が、コンデンサCの自然放電による電圧低下率よりも若干大きい所定値よりも大きいか否かを判断する(S18)。上記低下率が所定値よりも小さい場合(S18 No)、故障診断部15は、ONさせたスイッチング素子を含むアームと反対側の全アームのスイッチング素子は短絡故障していないと判断する。その後、故障診断部15は、ステップS17の処理に戻ってONさせるスイッチング素子を順次切り替えながら全てのスイッチング素子につきステップS18以降の処理を行う。 The failure diagnosis unit 15 determines whether or not the DC intermediate voltage drop rate per unit time while the switching element is ON is larger than a predetermined value slightly larger than the voltage drop rate due to natural discharge of the capacitor C1. (S18). If the rate of decrease is smaller than the predetermined value (No in S18), the fault diagnosis section 15 determines that the switching elements of all the arms opposite to the arm containing the turned-on switching element are not short-circuited. After that, the failure diagnosis unit 15 returns to the process of step S17, and performs the processes from step S18 onward for all the switching elements while sequentially switching the switching elements to be turned on.

故障診断部15は、直流中間電圧の低下率が所定値よりも大きい場合(S18 Yes)、全相の出力電流がゼロであれば(S19 Yes)、微小パルスを与えたスイッチング素子を含むアームと同一相の反対側アームのスイッチング素子が短絡故障していると判断する(S20)。全相の出力電流がゼロでない場合には(S19 No)、微小パルスを与えたスイッチング素子を含むアームとは異なる相の反対側アームの少なくとも1個のスイッチング素子が短絡故障していると判断する(S21)。 If the drop rate of the DC intermediate voltage is greater than a predetermined value (Yes in S18), and if the output current of all phases is zero (Yes in S19), the failure diagnosis unit 15 detects the arm including the switching element to which the minute pulse is applied. It is determined that the switching element of the opposite arm of the same phase is short-circuited (S20). If the output current of all phases is not zero (S19 No), it is determined that at least one switching element in the opposite arm of the phase different from the arm containing the switching element to which the minute pulse is applied has a short-circuit failure. (S21).

故障診断部15は、ステップS21において、出力電流がゼロではない相から短絡故障しているスイッチング素子を特定する。例えば、U相上アームのスイッチング素子をONした時にW相の出力電流がゼロであってU相,V相の出力電流がゼロでない場合は、V相下アームのスイッチング素子が短絡故障していると判断する。また、V相の出力電流がゼロであってU相,W相の出力電流がゼロでない場合にはW相下アームのスイッチング素子が短絡故障し、全相の出力電流がゼロでない場合にはV相下アーム及びW相下アームの両方のスイッチング素子が短絡故障していると判断する。
次に、故障診断部15は、短絡故障の表示や上位コントローラ等への通知を行い、通常運転への移行を禁止して処理を終了する(S22)。
In step S<b>21 , the fault diagnosis unit 15 identifies the switching element having the short-circuit fault from the phase whose output current is not zero. For example, if the W-phase output current is zero and the U-phase and V-phase output currents are not zero when the U-phase upper arm switching element is turned ON, the V-phase lower arm switching element has a short-circuit fault. I judge. If the V-phase output current is zero and the U-phase and W-phase output currents are not zero, the switching element in the lower arm of the W-phase short-circuits. It is determined that the switching elements of both the phase lower arm and the W phase lower arm are short-circuited.
Next, the fault diagnosis unit 15 displays the short-circuit fault and notifies the host controller and the like, prohibits the shift to normal operation, and terminates the process (S22).

また、ステップS18において、直流中間電圧低下率が所定値よりも小さく(S18 No)、全てのスイッチング素子が短絡故障していないと判断される場合は、開放故障診断であるステップS23以下の処理を行う。故障診断部15は、ゲート駆動回路17により、何れかの相の上アームスイッチング素子と、この相とは異なる相の下アームスイッチング素子とをONさせる微小パルスを印加する(S23)。そして、故障診断部15は、パルスを与えるスイッチング素子の組を順次切り替えながら、各組についてステップS24~S26の処理を繰り返す。 Further, in step S18, if it is determined that the DC intermediate voltage drop rate is smaller than the predetermined value (S18 No) and none of the switching elements have a short-circuit failure, the processing from step S23 onward, which is an open-circuit failure diagnosis, is performed. conduct. The failure diagnosis unit 15 applies a minute pulse to turn ON the upper arm switching element of any phase and the lower arm switching element of a different phase from the gate drive circuit 17 (S23). Then, the failure diagnosis unit 15 repeats the processing of steps S24 to S26 for each pair while sequentially switching the pair of switching elements to which pulses are applied.

故障診断部15は、2個のスイッチング素子に微小パルスを与えている期間の直流中間電圧低下率が所定値(コンデンサCの自然放電による電圧低下率)よりも大きい場合(S24 No)には、上記2個のスイッチング素子の何れかが開放故障していると判断し(S25)、開放故障表示及び通知を行って通常運転への移行を禁止する(S26)。
これは、開放故障が発生しているスイッチング素子はONパルスが与えられてもコレクタ-エミッタ間が短絡することはなく、微小パルスが与えられる2個のスイッチング素子の少なくとも一方が開放故障している場合にはモータMの固定子巻線を経由する電流は流れず、コンデンサCは自然放電を維持するので、直流中間電圧低下率が所定値より小さい場合にステップS25,S26を実行するということである。
When the DC intermediate voltage drop rate during the period in which the minute pulse is applied to the two switching elements is larger than a predetermined value (voltage drop rate due to natural discharge of the capacitor C1), the failure diagnosis unit 15 , it is determined that one of the two switching elements has an open failure (S25), and the open failure is displayed and notified to prohibit the shift to normal operation (S26).
This is because the switching element with the open fault does not short-circuit between the collector and the emitter even if the ON pulse is given, and at least one of the two switching elements to which the minute pulse is given has the open fault. In this case, no current flows through the stator windings of the motor M, and the capacitor C1 maintains natural discharge. Therefore, steps S25 and S26 are executed when the DC intermediate voltage drop rate is smaller than a predetermined value. is.

また、故障診断部15は、直流中間電圧の低下率が所定値よりも小さい場合に(S24 Yes)、微小パルスを与えた2個のスイッチング素子の何れも開放故障していないと判断し、初期充電リレーSWを再度ONする(S27)。これにより、コンデンサCの初期充電が再開されて直流中間電圧が上昇する。
故障診断部15は直流中間電圧が所定電圧に到達したら、リレー駆動回路16によりメインリレーSWをONし(S29)、コンデンサCはメインリレーSWを介して完全にを充電する。コンデンサCの充電が完了すると、故障診断部15は、ゲート駆動回路17に制御指令を送って通常の運転を許可する(S30)。
Further, when the drop rate of the DC intermediate voltage is smaller than the predetermined value (S24 Yes), the failure diagnosis unit 15 determines that neither of the two switching elements to which the minute pulse is applied has an open failure. The charging relay SW1 is turned ON again (S27). As a result, the initial charging of the capacitor C1 is resumed and the DC intermediate voltage rises.
When the DC intermediate voltage reaches a predetermined voltage, the fault diagnosis unit 15 turns on the main relay SW2 by the relay driving circuit 16 (S29), and the capacitor C1 is completely charged through the main relay SW2 . When the charging of the capacitor C1 is completed, the fault diagnosis unit 15 sends a control command to the gate drive circuit 17 to permit normal operation (S30).

以上のように、特許文献2のモータ駆動システムでは、コンデンサCの初期充電を開始して所定時間が経過するまでの間に、全てのスイッチング素子の短絡故障の有無の診断(第1の短絡故障診断)を行い、コンデンサC及び主回路INVを直流電源Eから切り離した状態で、スイッチング素子の短絡故障及び開放故障の有無の診断(第2の短絡故障診断及び開放故障診断)を行っている。
このようにインバータの直流電圧が低い状態で診断を行うため、仮にスイッチング素子の短絡によって上下アームが短絡したとしても、正常なスイッチング素子が高電圧によって破壊される恐れはない。
As described above, in the motor drive system of Patent Document 2, the presence or absence of a short-circuit fault in all switching elements is diagnosed ( first short-circuit Diagnosis of short-circuit failure and open-circuit failure of the switching element (second short-circuit failure diagnosis and open - circuit failure diagnosis) is performed with the capacitor C1 and the main circuit INV disconnected from the DC power supply E1. ing.
Since the diagnosis is performed while the DC voltage of the inverter is low in this way, even if the upper and lower arms are short-circuited due to a short circuit of the switching element, there is no fear that the normal switching element will be destroyed by the high voltage.

特開2004-357437号公報(段落[0009]~[0019]、図1等)JP 2004-357437 A (paragraphs [0009] to [0019], FIG. 1, etc.) 特開2017-163714号公報(段落[0029]~[0064]、図2等)JP 2017-163714 A (paragraphs [0029] to [0064], FIG. 2, etc.)

特許文献1に記載された従来技術によれば、スイッチング素子の短絡故障や開放故障の有無を検出することが可能であるが、これらの故障が発生したスイッチング素子を特定することができない。
また、特許文献2に記載された従来技術では、前述したステップS20,S21により短絡故障しているスイッチング素子を特定できる一方、インバータの相数をn(nは3以上の整数)とすると、短絡故障を診断するための判定回数が2n回必要であり、多相インバータでは診断時間が長期化するという問題がある。
更に、特許文献2におけるステップS23以降の診断では、開放故障が発生したスイッチング素子を特定できないという問題もあった。
According to the conventional technique described in Patent Document 1, it is possible to detect the presence or absence of a short-circuit fault or an open-circuit fault in a switching element, but it is impossible to specify the switching element in which these faults have occurred.
Further, in the conventional technology described in Patent Document 2, while the switching element having the short circuit failure can be identified by the steps S20 and S21 described above, if the number of phases of the inverter is n (n is an integer of 3 or more), the short circuit There is a problem that 2n judgments are necessary for diagnosing a failure, and the diagnosis time becomes long in the case of a polyphase inverter.
Furthermore, in the diagnosis after step S23 in Patent Document 2, there is also a problem that the switching element in which the open failure has occurred cannot be identified.

そこで、本発明の解決課題は、開放固着等の故障の有無を少ない判定回数により検出すると共に、開放固着が発生したスイッチング素子の特定も可能にした電力変換装置を提供することにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is to provide a power conversion device that detects the presence or absence of failures such as open sticking with a small number of determinations and also enables specification of switching elements in which open sticking has occurred.

上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、直流電源から開閉手段を介して充電されるコンデンサと、このコンデンサの両端に接続され、かつ複数のスイッチング素子をブリッジ接続してなる主回路と、前記スイッチング素子をON,OFFするための駆動信号を生成する制御回路と、を備えた電力変換装置において、
前記制御回路は、
前記主回路における互いに異なる相の上アームのスイッチング素子と下アームのスイッチング素子とを組み合わせてこれら2個のスイッチング素子を同時にONするテストを行った時の前記コンデンサの両端電圧の変化量が変化量規定値を下回る時に、前記2個のスイッチング素子のうち少なくとも1個が開放固着していると判断して前記テストの不合格データを保存する処理を行い、
当該処理を前記主回路の全てのスイッチング素子について実行して得た前記不合格データに基づいて、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断すると共に、
前記不合格データが一つだけである時に、
前記不合格データを構成する上アームのスイッチング素子と他相の下アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行い、かつ、前記不合格データを構成する下アームのスイッチング素子と他相の上アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより、n+2個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is a main circuit which is connected to both ends of a capacitor which is charged from a DC power source via switching means, and which is formed by connecting a plurality of switching elements in a bridge. and a control circuit that generates a drive signal for turning on and off the switching element,
The control circuit is
The amount of change in the voltage across the capacitor when a test is conducted in which the upper arm switching element and the lower arm switching element of different phases in the main circuit are combined and these two switching elements are simultaneously turned on. performing a process of determining that at least one of the two switching elements is stuck open when the value is below a specified value and storing the test failure data;
Based on the failure data obtained by executing the processing for all the switching elements of the main circuit, it is determined that any switching element is stuck open,
When there is only one failed data,
The test and the failure data are stored by combining the switching element of the upper arm that constitutes the failure data and the switching element of the lower arm of the other phase, and the switching of the lower arm that constitutes the failure data. By combining the element and the switching element of the upper arm of the other phase, performing the test and storing the failure data, n+2 (n is the number of phases of the main circuit) pass/fail data are generated, and the pass/fail data is compared with a failure map prepared in advance to identify the switching element stuck open .

請求項2に係る発明は、直流電源から開閉手段を介して充電されるコンデンサと、このコンデンサの両端に接続され、かつ複数のスイッチング素子をブリッジ接続してなる主回路と、前記スイッチング素子をON,OFFするための駆動信号を生成する制御回路と、を備えた電力変換装置において、
前記制御回路は、
前記主回路における互いに異なる相の上アームのスイッチング素子と下アームのスイッチング素子とを組み合わせてこれら2個のスイッチング素子を同時にONするテストを行なって一相の出力電流が零になった時に、前記2個のスイッチング素子のうち少なくとも1個が開放固着していると判断して前記テストの不合格データを保存する処理を行い、
当該処理を前記主回路の全てのスイッチング素子について実行して得た前記不合格データに基づいて、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断すると共に、
前記不合格データが一つだけである時に、
前記不合格データを構成する上アームのスイッチング素子と他相の下アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行い、かつ、前記不合格データを構成する下アームのスイッチング素子と他相の上アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより、n+2個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とする。
The invention according to claim 2 comprises a capacitor that is charged from a DC power source via switching means, a main circuit that is connected to both ends of the capacitor and that is formed by connecting a plurality of switching elements in a bridge, and a switching element that is turned on. , and a control circuit for generating a drive signal for turning off,
The control circuit is
When the output current of one phase becomes zero in a test in which an upper arm switching element and a lower arm switching element of different phases in the main circuit are combined and these two switching elements are turned on simultaneously, the above-mentioned Determining that at least one of the two switching elements is stuck open and storing the test failure data,
Based on the failure data obtained by executing the processing for all the switching elements of the main circuit, it is determined that any switching element is stuck open ,
When there is only one failed data,
The test and the failure data are stored by combining the switching element of the upper arm that constitutes the failure data and the switching element of the lower arm of the other phase, and the switching of the lower arm that constitutes the failure data. By combining the element and the switching element of the upper arm of the other phase, performing the test and storing the failure data, n+2 (n is the number of phases of the main circuit) pass/fail data are generated, and the pass/fail data is compared with a failure map prepared in advance to identify the switching element stuck open .

請求項3に係る発明は、請求項1または2に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、同時にONした2個のスイッチング素子が何れも開放固着していないと判断した場合に、前記コンデンサを充電してその両端電圧が直流電圧規定値以上になったら前記コンデンサの充電を停止することを特徴とする。
The invention according to claim 3 is the power conversion device according to claim 1 or 2 ,
The control circuit charges the capacitor when it determines that none of the two switching elements turned on at the same time is stuck open, and charges the capacitor when the voltage across the capacitor reaches a DC voltage specified value or more. It is characterized by stopping .

請求項4に係る発明は、請求項に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断した時に、前記主回路の全てのスイッチング素子について、請求項1における2個のスイッチング素子の組み合わせとは異なる組み合わせによりそれぞれ選択した2個のスイッチング素子を対象として、前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより2n個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とする。
The invention according to claim 4 is the power conversion device according to claim 1 ,
When the control circuit determines that one of the switching elements is stuck open, it selects all the switching elements of the main circuit according to a combination different from the combination of the two switching elements in claim 1. A fault map in which 2n pass/fail data (where n is the number of phases of the main circuit) is generated by performing the test and storing the fail data for two switching elements, and the pass/fail data is prepared in advance. It is characterized in that the switching element that is open and fixed is specified by collating with .

請求項5に係る発明は、請求項2に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、
何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断した時に、前記主回路の全てのスイッチング素子について、請求項2における2個のスイッチング素子の組み合わせとは異なる組み合わせによりそれぞれ選択した2個のスイッチング素子を対象として、前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより2n個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とする。
The invention according to claim 5 is the power conversion device according to claim 2,
The control circuit is
Two switching elements each selected by a combination different from the combination of the two switching elements in claim 2 for all the switching elements of the main circuit when it is determined that any one of the switching elements is stuck open. By performing the test and saving the failure data, 2n (n is the number of phases of the main circuit) pass/fail data are generated, and the pass/fail data is compared with a prepared failure map. It is characterized by specifying a switching element stuck open.

発明においては、n相のインバータであればn回の判定により開放固着しているスイッチング素子の有無を検出することができると共に、開放固着しているスイッチング素子を特定することが可能である。 In the present invention, in the case of an n-phase inverter, it is possible to detect the presence or absence of a switching element that is stuck open by making n determinations, and to specify the switching element that is stuck open.

本発明の実施形態が適用されるモータ駆動システムの構成図である。1 is a configuration diagram of a motor drive system to which an embodiment of the invention is applied; FIG. 本発明の実施形態が適用されるモータ駆動システムの他の例を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing another example of the motor drive system to which the embodiment of the invention is applied; 本発明の実施形態における診断1を示すフローチャートである。Fig. 4 is a flow chart showing Diagnosis 1 in an embodiment of the present invention; 本発明の実施形態における診断2を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flow chart showing Diagnosis 2 in an embodiment of the present invention; FIG. 本発明の実施形態における診断2,3のテスト対象となるスイッチング素子を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing switching elements to be tested for diagnosis 2 and 3 in the embodiment of the present invention; 本発明の実施形態における診断3を示すフローチャートである。Fig. 4 is a flow chart showing Diagnosis 3 in an embodiment of the present invention; 三相インバータの何れかのアームの開放固着発生時の故障マップを示す図である。It is a figure which shows the failure map at the time of open|release fixation occurrence of any arm of a three-phase inverter. 三相インバータの1アームの開放固着発生時の故障マップを示す図である。It is a figure which shows the failure map at the time of open fixation occurrence of 1 arm of a three-phase inverter. 三相インバータの主回路の1アーム(図9(a))及び1レグ(図9(b))の説明図である。It is explanatory drawing of 1 arm (Fig.9 (a)) and 1 leg (FIG.9(b)) of the main circuit of a three-phase inverter. 特許文献2に記載された故障診断方法を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a failure diagnosis method described in Patent Document 2;

以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態を説明する。本実施形態に係るインバータを備えたモータ駆動システムの全体的な構成は、前述した図1と同様であるため説明を省略する。
なお、本発明は、図2に示すように、図1における電流検出器11及び交流電流検出回路12を除去し、直流中間電圧のみを検出してスイッチング素子を駆動するインバータ等にも適用可能である。これは、インバータの出力電流は瞬時に変化するため計測が難しいのに対し、直流中間電圧は変化が比較的緩やかであって計測が容易であるためである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The overall configuration of the motor drive system provided with the inverter according to this embodiment is the same as that of FIG.
As shown in FIG. 2, the present invention can also be applied to an inverter or the like in which the current detector 11 and the AC current detection circuit 12 in FIG. 1 are removed and only the DC intermediate voltage is detected to drive the switching element. be. This is because the inverter output current changes instantaneously and is difficult to measure, whereas the DC intermediate voltage changes relatively slowly and is easy to measure.

次に、本実施形態の特徴である故障診断部15の診断内容について説明する。
この故障診断は、大別して、インバータの上アームまたは下アームのスイッチング素子の短絡固着(短絡故障が継続すること)の有無を検出する診断1と、上アームまたは下アームのスイッチング素子の開放固着(開放故障が継続すること)の有無を検出する診断2と、診断2によって開放固着ありと診断された場合に該当するスイッチング素子を特定するための診断3と、からなる。
故障診断の対象となるインバータのスイッチング素子は、図1に示すIGBTのほかMOSFETやパワートランジスタであっても良く、その種類は何ら限定されない。
Next, the contents of diagnosis by the fault diagnosis unit 15, which is a feature of this embodiment, will be described.
This fault diagnosis is roughly divided into diagnosis 1 for detecting the presence or absence of fixed short-circuiting (continuous short-circuit fault) in the switching elements of the upper or lower arm of the inverter, and open-fixing of the switching elements in the upper or lower arm ( Diagnosis 2 for detecting the presence or absence of open circuit failure), and diagnosis 3 for specifying the corresponding switching element when the diagnosis 2 diagnoses that there is an open fixation.
The switching element of the inverter that is the target of failure diagnosis may be an IGBT shown in FIG. 1, a MOSFET or a power transistor, and the type thereof is not limited at all.

始めに、図3に基づいて診断1を説明する。この診断1は、モータMが静止していてインバータ主回路INVの全てのスイッチング素子がOFFしている状態で開始する。
まず、故障診断部15がリレー駆動回路16に指令を送って初期充電リレーSWをONし、抵抗Rを介してコンデンサCを充電する(ステップS101)。
First, diagnosis 1 will be explained based on FIG. This diagnosis 1 starts with the motor M stationary and all the switching elements of the inverter main circuit INV turned off.
First , the fault diagnosis unit 15 sends a command to the relay drive circuit 16 to turn on the initial charge relay SW1 and charge the capacitor C1 through the resistor R1 (step S101).

次に、初期充電リレーSWをONしてから所定時間を経過するまでに、直流中間電圧検出回路14により検出される直流中間電圧Vdcが規定値A以上になった否かを判断する(S102)。ここで、直流中間電圧Vdcの上昇率は、抵抗RとコンデンサCの容量とに依存する。しかし、主回路INVの同一相の上アーム及び下アームに短絡故障したスイッチング素子がある場合、例えば、U相の上下アームのスイッチング素子Q,Qが短絡固着していると、正負の直流母線の短絡により直流中間電圧Vdcは上記所定時間内に規定値A以上になることはない。また、U相の上アームスイッチング素子QとV相の下アームスイッチング素子Qとが短絡固着していると、初期充電中にQ→モータMの固定子巻線→Qという経路で通流するため、直流中間電圧Vdcの上昇は緩やかになり、やはり、上記所定時間内に規定値A以上になることはない。 Next, it is determined whether or not the DC intermediate voltage Vdc detected by the DC intermediate voltage detection circuit 14 has reached or exceeded a specified value A within a predetermined period of time after the initial charging relay SW1 is turned ON ( S102). Here, the rate of increase of the DC intermediate voltage Vdc depends on the capacity of the resistor R1 and the capacitor C1. However, if there are short-circuited switching elements in the upper arm and lower arm of the same phase of the main circuit INV, for example, if the switching elements Q u and Q x in the upper and lower arms of the U phase are short-circuited and fixed, positive and negative DC Due to the short circuit of the bus, the DC intermediate voltage Vdc will not exceed the specified value A within the predetermined time. Further, if the upper arm switching element Q u of the U phase and the lower arm switching element Q y of the V phase are short-circuited and fixed, the path Q u →the stator winding of the motor M →Q y during the initial charging will Since the current flows, the rise of the DC intermediate voltage Vdc becomes gradual, and it does not reach or exceed the specified value A within the predetermined time.

従って、故障診断部15は、初期充電リレーSWをONしてから所定時間を経過するまでに直流中間電圧Vdcが規定値A以上にならない場合(S102 No)には、上下アームのそれぞれ少なくとも1個以上のスイッチング素子が短絡固着していると判断することができる(S104)。インバータをPWM(パルス幅変調)制御する場合、1アームでも短絡固着していると運転不可能であるため、ステップS104により重故障発生と判断し、初期充電リレーSWをOFFして運転を停止する(S105)。 Therefore, if the DC intermediate voltage Vdc does not reach or exceed the specified value A within a predetermined period of time after the initial charging relay SW1 is turned ON (S102 No), the failure diagnosis unit 15 determines that the upper and lower arms are at least It can be determined that one or more switching elements are short-circuited (S104). In the case of PWM (pulse width modulation) control of the inverter, operation is impossible if even one arm is short-circuited. Therefore, it is determined in step S104 that a major failure has occurred, and the initial charging relay SW1 is turned OFF to stop operation. (S105).

上述したステップS101,S102,S104,105は、コンデンサCの初期充電時に行われる短絡固着の有無の診断である。仮に、スイッチング素子に短絡固着があったとしても、主回路INVに流入する電流は抵抗Rによって制限されているため、抵抗Rの値を適切に選定することで、正常なスイッチング素子や直流電源E、モータM等に過電流が流れることはなく、故障が波及するのを防止することができる。また、ステップS102における所定時間や規定値Aを低めに設定することで、短絡固着の診断に要する時間の短縮も可能になる。 Steps S101, S102, S104, and 105 described above are diagnostics for the presence or absence of a short - circuit fixation performed during initial charging of the capacitor C1. Even if there is a short-circuit fixation in the switching element, the current flowing into the main circuit INV is limited by the resistor R1 . An overcurrent does not flow to the power supply E1, the motor M, etc., and it is possible to prevent the failure from spreading. Further, by setting the predetermined time and the specified value A in step S102 to be relatively low, it is possible to shorten the time required for diagnosing short-circuit fixation.

所定時間内に直流中間電圧Vdcが規定値A以上になった場合(S102 Yes)には、上下アームにそれぞれ短絡固着しているスイッチング素子はないと判断して初期充電リレーSWをON状態に保ち、抵抗Rを介してコンデンサCの初期充電を継続する。
上下アームにそれぞれ短絡固着しているスイッチング素子がない場合は直流中間電圧Vdcが上昇し続け、この電圧Vdcが規定値B(請求項における直流電圧規定値)以上になったら初期充電リレーSWをOFFして初期充電を完了する(S103 Yes,S106)。
When the DC intermediate voltage Vdc becomes equal to or higher than the specified value A within a predetermined time (Yes in S102), it is determined that there is no switching element short-circuited and fixed in the upper and lower arms, and the initial charging relay SW1 is turned ON. to continue the initial charging of capacitor C1 through resistor R1 .
When there is no switching element short-circuited and fixed in the upper and lower arms, the DC intermediate voltage Vdc continues to rise, and when this voltage Vdc reaches or exceeds the specified value B (the DC voltage specified value in claims), the initial charging relay SW 1 is turned off to complete the initial charging (S103 Yes, S106).

初期充電リレーSWをOFFすることにより、主回路INVは直流電源Eと切り離される。この時、コンデンサCに蓄積されているエネルギー、言い換えれば直流中間電圧Vdcは限定的であるため、この電圧Vdcを用いてスイッチング素子の故障診断を行ったとしてもスイッチング素子を破損する恐れはない。また、ステップS103における規定値Bを低めに設定すれば、より安全に故障診断を行うことができる。
主回路INVを直流電源Eと切り離した状態では、直流中間電圧Vdcの変化はコンデンサCの自然放電と故障診断に伴う放電のみによって生じる。コンデンサCの自然放電による電圧の変化量は事前に把握可能であるから、後述するステップS108のように、コンデンサCの自然放電による電圧変化量を考慮した直流中間電圧Vdcの変化量ΔVdcを所定の規定値C(請求項における変化量規定値)と比較することにより、スイッチング素子の短絡固着の有無を検出することができる。
By turning off the initial charging relay SW1, the main circuit INV is disconnected from the DC power supply E1. At this time, the energy stored in the capacitor C1, in other words, the DC intermediate voltage Vdc is limited. no. Also, if the specified value B in step S103 is set to a lower value, failure diagnosis can be performed more safely.
When the main circuit INV is disconnected from the DC power supply E1, the change in the DC intermediate voltage Vdc is caused only by the natural discharge of the capacitor C1 and the discharge accompanying the fault diagnosis. Since the amount of change in voltage due to the natural discharge of the capacitor C1 can be grasped in advance, the amount of change ΔV in the DC intermediate voltage Vdc considering the amount of voltage change due to the natural discharge of the capacitor C1 is calculated as in step S108 , which will be described later. By comparing dc with a predetermined specified value C (variation specified value in claims), it is possible to detect whether or not the switching element is short-circuited.

次に、初期充電リレーSWをOFFした後に、下アームまたは上アームにおける短絡固着の有無を診断するために、短時間だけ、全相の上アームのスイッチング素子を同時にONする(S107)。
いま、下アームのスイッチング素子は全てOFFのはずであるから、下アームのスイッチング素子に異常がなければ電流は流れず、変化量ΔVdcはコンデンサCの自然放電に起因する電圧低下によるものだけである。しかし、変化量ΔVdcが、自然放電による電圧低下量よりやや大きめの規定値Cを超える場合(S108 No)には、下アームの何れかのスイッチング素子が短絡固着しており、ステップS107による全相の上アームスイッチング素子のONによって直流母線間が短絡した結果、コンデンサCが放電して変化量ΔVdcが規定値Cを超えたと推測することができる。
従って、この場合には、下アームの少なくとも1個以上のスイッチング素子の短絡固着による重故障と判断し、初期充電リレーSWをOFFして運転を停止する(S110,S111)。
Next, after the initial charge relay SW1 is turned off, the upper arm switching elements of all phases are simultaneously turned on for a short period of time in order to diagnose the presence or absence of short-circuit fixation in the lower arm or upper arm (S107).
Now, all the switching elements of the lower arm should be OFF, so if there is no abnormality in the switching elements of the lower arm, no current will flow, and the amount of change ΔV dc is only due to the voltage drop caused by the natural discharge of the capacitor C1. is. However, if the amount of change ΔV dc exceeds the specified value C, which is slightly larger than the amount of voltage drop due to natural discharge (No in S108), one of the switching elements in the lower arm is short-circuited and fixed, and all the switching elements in step S107 are stuck. It can be inferred that the amount of change ΔV dc exceeded the specified value C due to the discharge of the capacitor C1 as a result of the short circuit between the DC bus lines due to the ON of the upper arm switching element of the phase.
Therefore, in this case, it is determined that at least one or more switching elements of the lower arm are short-circuited and stuck, causing a serious failure, and the initial charging relay SW1 is turned OFF to stop the operation (S110, S111).

また、変化量ΔVdcが規定値C以下である場合(S108 Yes)、下アームのスイッチング素子は全てOFFであるから、変化量ΔVdcはコンデンサCの自然放電によるものと判断して次のステップに移り、短時間だけ、全相の下アームのスイッチング素子を同時にONする(S109)。
その後に、前記ステップS108,S110,S111と同様の処理を行って上アームの何れかのスイッチング素子の短絡固着による重故障の有無を判断する(ステップS112,S114,S115)。そして、ステップS112の判断結果がYesであれば、「下アームのスイッチング素子に短絡固着がなく、または、全相の上アームのスイッチング素子が開放固着している。」あるいは、「上アームのスイッチング素子に短絡固着がなく、または、全相の下アームのスイッチング素子が開放固着している。」と判断し、図4の診断2に移行する(S113)。
Further, when the amount of change ΔV dc is equal to or less than the specified value C (Yes in S108), all the switching elements of the lower arm are OFF . In step S109, the lower arm switching elements of all phases are simultaneously turned on for a short period of time.
After that, the same processing as in steps S108, S110 and S111 is performed to determine the presence or absence of serious failure due to short-circuit fixation of any switching element of the upper arm (steps S112, S114 and S115). Then, if the determination result in step S112 is Yes, "there is no short-circuit fixation in the lower arm switching elements, or the upper arm switching elements of all phases are open and fixation." There is no short-circuit fixation in the elements, or the lower arm switching elements of all phases are open-fixed.", and the process proceeds to Diagnosis 2 in FIG. 4 (S113).

このように、ステップS107~S115では、下アームまたは上アームのスイッチング素子の短絡固着の有無を診断している。この点、図10の従来技術では、1アームずつONさせて診断する必要がある(ステップS17等)のに対し、本実施形態では、上アームまたは下アームをそれぞれ一括してONさせながら診断するので、三相インバータの場合、処理の手順は1/3に低減される。 Thus, in steps S107 to S115, it is diagnosed whether or not the switching element of the lower arm or the upper arm is short-circuited and fixed. In this regard, in the prior art of FIG. 10, it is necessary to turn ON one arm at a time (step S17, etc.) for diagnosis. Therefore, in the case of a three-phase inverter, the processing steps are reduced to 1/3.

次いで、図4を参照しつつ診断2について説明する。この診断は、主回路INVにおける上下アームの何れかのスイッチング素子の開放固着の有無を検出するものである。
まず、主回路INVの互いに異なる相の上アームスイッチング素子と下アームスイッチング素子とを組み合わせ、これらを同時に短時間だけONする。ここでは、一例として、U相の上アームスイッチング素子QとV相の下アームスイッチング素子Qとを同時にONする(S201)。
この状態で、直流中間電圧Vdcの変化量ΔVdcを規定値D(請求項における変化量規定値)と比較する(S202)。規定値Dは、コンデンサCの自然放電による電圧低下量よりやや大きめの値とする。
なお、図1のように各相の出力電流I,I,Iを測定している場合、ステップS202では、ΔVdcとDとの比較に代えて、I=0,I=-I>0であることを判断しても良い。
Next, diagnosis 2 will be described with reference to FIG. This diagnosis is to detect whether or not the switching element of one of the upper and lower arms in the main circuit INV is stuck open.
First, the upper arm switching element and the lower arm switching element of different phases of the main circuit INV are combined and turned ON simultaneously for a short period of time. Here, as an example, the U-phase upper arm switching element Qu and the V-phase lower arm switching element Qy are simultaneously turned on (S201).
In this state, the amount of change ΔV dc of the DC intermediate voltage V dc is compared with a specified value D (a specified value of change amount in claims) (S202). The specified value D is set to a value slightly larger than the amount of voltage drop due to natural discharge of the capacitor C1.
When the output currents Iu , Iv , and Iw of each phase are measured as shown in FIG. 1, in step S202 , instead of comparing ΔV dc and D, - It may be determined that I v >0.

仮に、スイッチング素子Q,Qが開放固着していなければ、これらのスイッチング素子Q,QとモータMの固定子巻線とを介して二相に通流するので、変化量ΔVdcはコンデンサCの自然放電による電圧低下量より大きい規定値D以上になる(S202 Yes)。
また、変化量ΔVdcが規定値D以上でなければ(S202 No)、スイッチング素子Q,Qのうち少なくとも1個が開放固着していると判断できるから、これらのスイッチング素子Q,Qについてのテスト(Q,Qテスト)が不合格であることを示す不合格データをメモリに保存する(S206)。
If the switching elements Q u and Q y were not stuck open, two phases would flow through these switching elements Q u and Q y and the stator winding of the motor M, so the amount of change ΔV dc is equal to or greater than the specified value D, which is larger than the amount of voltage drop due to natural discharge of the capacitor C1 (S202 Yes).
Further, if the amount of change ΔV dc is not equal to or greater than the specified value D (S202 No), it can be determined that at least one of the switching elements Q u and Q y is fixed open . Fail data indicating that the test for y (Q u , Q y test) has failed is stored in memory (S206).

変化量ΔVdcが規定値D以上である場合(S202 Yes)、スイッチング素子Q,Qが何れも開放固着しておらず、二相通流によりコンデンサCが放電して直流中間電圧Vdcが低下したと判断されるため、初期充電リレーSWを再びONしてコンデンサCを充電する(S203)。
その後、図3のステップS103,S106と同様に、直流中間電圧Vdcが規定値B(請求項における直流電圧規定値)以上になったら、初期充電リレーSWをOFFする(S204 Yes,S205)。
If the amount of change ΔV dc is equal to or greater than the specified value D (Yes in S202), neither of the switching elements Q u and Q y is fixed open, and the capacitor C 1 is discharged by the two-phase conduction to discharge the DC intermediate voltage V dc . is lowered, the initial charge relay SW1 is turned ON again to charge the capacitor C1 ( S203 ).
After that, similarly to steps S103 and S106 in FIG. 3, when the DC intermediate voltage Vdc becomes equal to or higher than the specified value B (the DC voltage specified value in claims), the initial charging relay SW1 is turned OFF (S204 Yes, S205). .

上記のQ,Qテスト(S207)と同様に、V相の上アームスイッチング素子Q及びW相の下アームスイッチング素子Qを組み合わせてQ,Qテスト(S217)を実施すると共に、W相の上アームスイッチング素子Q及びU相の下アームスイッチング素子Qを組み合わせてQ,Qテスト(S227)を実施することにより、主回路INVの全てのスイッチング素子を対象として開放固着の有無を診断する。
その後、各テストについて不合格データが無い場合には全てのスイッチング素子が開放固着しておらず、全アームがON/OFF可能であると判断して初期診断を終了する(S230 Yes,S231)。
また、不合格データがある場合には(S230 No)、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断し、当該スイッチング素子を特定するために診断3に移行する。
以上のように、診断2では、互いに異なる相の上下アームのスイッチング素子を短時間ONさせてテストを行うものであり、n相(nは3以上の整数)のインバータに対してはn回のテストによって開放固着の有無を検出することができる。
Similar to the Q u and Q y test (S207) described above, the V-phase upper arm switching element Q v and the W-phase lower arm switching element Q z are combined to perform the Q v and Q z test (S217). , W -phase upper arm switching element Qw and U-phase lower arm switching element Qx are combined to perform the Qw , Qx test (S227), thereby opening all the switching elements of the main circuit INV. Diagnose the presence or absence of sticking.
After that, if there is no failing data for each test, it is determined that all the switching elements are not stuck open and all the arms can be turned ON/OFF, and the initial diagnosis ends (S230 Yes, S231).
If there is unacceptable data (No at S230), it is determined that any switching element is stuck open, and the process proceeds to Diagnosis 3 to identify the switching element.
As described above, in diagnosis 2, the switching elements of the upper and lower arms of different phases are turned on for a short period of time to perform the test. A test can detect the presence or absence of an open stick.

次に、診断3について説明する。なお、図5には診断3の主要部を抽出して示してあり、その詳細は図6のフローチャートに示す通りである。
診断3では、互いに異なる相の上下アームのスイッチング素子の組み合わせを診断2とは異なるように生成し、その組み合わせを対象として診断2と同じ内容のテストを行う。
Next, diagnosis 3 will be described. FIG. 5 shows an extracted main part of Diagnosis 3, and the details are as shown in the flow chart of FIG.
In diagnosis 3, a combination of switching elements of the upper and lower arms of different phases is generated differently from diagnosis 2, and the same test as in diagnosis 2 is performed on that combination.

例えば、U相の上アームスイッチング素子QとW相の下アームスイッチング素子Qとを組み合わせてQ,Qテストを行い(後述する図6のステップS311,S322)、V相の上アームスイッチング素子QとU相の下アームスイッチング素子Qとを組み合わせてQ,Qテストを行い(S321,S332)、W相の上アームスイッチング素子QとV相の下アームスイッチング素子Qとを組み合わせてQ,Qテストを行う(S312,S331)。
各テストにおいては、診断2(図4)のステップS207と同様に、2個のスイッチング素子の同時ON→直流中間電圧の変化量ΔVdcと規定値Dとの比較(または、前述した各相の出力電流に関する監視)→初期充電リレーSWのON→直流中間電圧Vdcと規定値Bとの比較→初期充電リレーSWのOFF、及び不合格データの保存を行う。
For example, a U-phase upper arm switching element Q u and a W-phase lower arm switching element Q z are combined to perform a Q u and Q z test (steps S311 and S322 in FIG. 6 to be described later). The switching element Qv and the U-phase lower arm switching element Qx are combined to perform a Qv , Qx test (S321, S332), and the W -phase upper arm switching element Qw and the V -phase lower arm switching element Q are tested. y and Qw , Qy tests are performed (S312, S331).
In each test, as in step S207 of diagnosis 2 (FIG. 4), simultaneous ON of two switching elements → comparison of amount of change ΔV dc in DC intermediate voltage with specified value D (or (monitoring of output current)→ON of initial charging relay SW1 →Comparison between DC intermediate voltage Vdc and specified value B→OFF of initial charging relay SW1 and storage of failure data.

ここで、図5(a),(b)は、診断2の対象となる上下アームのスイッチング素子の組み合わせ(一点鎖線)の例と、診断3の対象となる上下アームのスイッチング素子の組み合わせ(破線)の例とを示している。本発明の故障診断技術はn相(nは3以上の整数)のインバータに適用可能であるため、図5(a),(b)では、各相の上アームのスイッチング素子をQH1~QHnとし、下アームのスイッチング素子をQL1~QLnとして示している。
図5(a),(b)の何れも、診断2の対象となる上下アームのスイッチング素子の組み合わせ(一点鎖線)は同じであり、図5(a)では、診断3の対象となる上下アームのスイッチング素子の組み合わせ(破線)を隣接する相のQH2,QL1やQH3,QL2……とし、図5(b)では、診断3の対象となる上下アームのスイッチング素子の組み合わせ(破線)を、一つの相を間に挟んだQH1,QL3やQH2,QL3……としている。
Here, FIGS. 5A and 5B show an example of a combination of upper and lower arm switching elements (dashed line) targeted for diagnosis 2 and a combination of upper and lower arm switching elements targeted for diagnosis 3 (dashed line). ) are shown. Since the fault diagnosis technique of the present invention can be applied to n-phase (n is an integer of 3 or more) inverters , in FIGS. Hn , and the lower arm switching elements are denoted by Q L1 to Q Ln .
In both FIGS. 5A and 5B, the combination (chain line) of the switching elements of the upper and lower arms targeted for diagnosis 2 is the same. are adjacent phases Q H2 , Q L1 and Q H3 , Q L2 . . . , and in FIG. ) are defined as Q H1 , Q L3 , Q H2 , Q L3 . . . with one phase in between.

何れにしても、診断3では、診断2と異なる上下アームのスイッチング素子の組み合わせを対象としてテストを行うので、図4から明らかなように、三相のインバータでは、診断2で3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)を行い、診断3では、最大で3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)を行う。これをn相のインバータに一般化すると、診断2,3の両方では、最大で2n回のテストを行えば良いことになる。
なお、図4では、診断3の3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)を直列的に表示してあるが、実際には、後述の図6によって説明するように、診断2の3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)のうち不合格とされたものについて、Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテストのうち二つのテスト、つまり2回のテストを実施することになる。従って、診断2,3により合計5回のテストを行えば、開放固着しているスイッチング素子を特定することができる。
In any case, diagnosis 3 tests a combination of upper and lower arm switching elements different from diagnosis 2, so as is clear from FIG. Q u , Q y test, Q v , Q z test, Q w , Q x test) are performed, and in diagnosis 3, a maximum of three tests (Q u , Q z test, Q v , Q x test, Q w , Q y test). If this is generalized to an n-phase inverter, both diagnostics 2 and 3 require a maximum of 2n tests.
In FIG. 4, three tests ( Qu , Qz test, Qv , Qx test, Qw , Qy test) of Diagnosis 3 are displayed in series. As illustrated by FIG. 6 of FIG . 6 , Q u , Qz test, Qv , Qx test, Qw , Qy test, ie, two tests. Therefore, if the tests 2 and 3 are performed five times in total, it is possible to identify the switching element stuck open.

図4において、診断3の全てのテストを終了したら、その結果を予め用意した故障マップ500とそれぞれ照合して運転の可否を判断する(S313,S323,S333)。
この判断の結果、1アームだけの開放固着のように縮退運転可能な軽故障であれば、開放固着しているスイッチング素子を特定して初期診断を終了する(S314,S315,S324,S325,S334,S335)。ここで、三相インバータでは、1アームのスイッチング素子が開放固着していても、他のスイッチング素子が健全であれば単相インバータとして縮退運転が可能である。
また、2アームが開放固着しているような重故障であれば、運転不可能と判断して初期診断を終了する(S316,S326,S336)。
In FIG. 4, when all the tests of Diagnosis 3 are completed, the results are compared with the failure map 500 prepared in advance to determine whether or not the vehicle can be operated (S313, S323, S333).
As a result of this determination, if the failure is such that only one arm is stuck open and can be degenerated, the switching element stuck open is identified and the initial diagnosis is completed (S314, S315, S324, S325, S334). , S335). Here, in the three-phase inverter, even if the switching element of one arm is stuck open, if the other switching elements are sound, the degeneracy operation as a single-phase inverter is possible.
Also, if the two arms are fixed open and there is a serious failure, it is determined that the vehicle cannot be operated, and the initial diagnosis is terminated (S316, S326, S336).

診断3の具体的な処理内容を、図6に基づいて詳細に説明する。
前述したごとく、診断2による3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)を行った結果、開放固着ありと診断された場合(S230 No)に、図6の診断3に移行する。
図6において、始めに、不合格となったテストが1つか否かを判断し、2つ以上である場合には、複数アームの開放固着による多重故障が発生したと判断して初期診断を終了する(S301 No,S303)。
Specific processing contents of diagnosis 3 will be described in detail based on FIG.
As described above, as a result of performing three tests ( Qu , Qy test, Qv, Qz test , Qw , Qx test) according to diagnosis 2, when it is diagnosed that there is open fixation (S230 No) Then, the process proceeds to Diagnosis 3 in FIG.
In FIG. 6, first, it is determined whether or not the number of failed tests is one, and if there are two or more, it is determined that multiple failures have occurred due to open fixation of multiple arms, and the initial diagnosis ends. (S301 No, S303).

不合格となったテストが1つの場合(S301 Yes)、そのテストは診断2の3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)のうちのどれであるかを判断する(S302)。その結果、不合格のテストがQ,Qテスト(S207)であればステップS311以降の処理を、同じくQ,Qテスト(S217)であればステップS321以降の処理を、同じくQ,Qテスト(S227)であればステップS331以降の処理を、それぞれ実行する。 If one test fails (S301 Yes), then the test is one of the three tests of diagnosis 2 ( Qu , Qy test, Qv, Qz test , Qw , Qx test). It is determined which one it is (S302). As a result, if the failed test is the Q u , Q y test ( S207 ), the processing after step S311 is performed . , Q x test (S227), the processing after step S331 is executed.

例えば、不合格のテストがQ,Qテスト(S207)である場合、開放固着しているスイッチング素子は、Qのみ、Qのみ、Q,Qの両方、というケースが考えられるが、ステップS311以降の処理によってどのケースであるかを判別する。
まず、U相の上アームスイッチング素子QとW相の下アームスイッチング素子Qとの組み合わせについて、ステップS207と同様に、2個のスイッチング素子の同時ON→直流中間電圧の変化量ΔVdcと規定値Dとの比較→初期充電リレーSWのON→直流中間電圧Vdcと規定値Bとの比較→初期充電リレーSWのOFF、及び不合格データの保存を行って、Q,Qテストを実行する(S311)。
同様に、W相の上アームスイッチング素子QとV相の下アームスイッチング素子Qとの組み合わせについて、Q,Qテストを実行する(S312)。
その後、各テストの結果を、予め用意しておいた故障マップ500と照合することにより、開放固着しているスイッチング素子の特定、及び運転可否を判断する(S313)。
For example, if the failed test is the Q u , Q y test (S207), the open-fixed switching elements may be only Q u , only Q y , or both Q u and Q y . However, it is determined in which case it is by the processing after step S311.
First, for the combination of the U-phase upper arm switching element Q u and the W-phase lower arm switching element Q z , the two switching elements are simultaneously turned ON to change the DC intermediate voltage ΔV dc in the same manner as in step S207. Comparison with the specified value D→ON of the initial charging relay SW1 →Comparison between the DC intermediate voltage Vdc and the specified value B→OFF of the initial charging relay SW1 , and saving the failure data, Q u , Q A z -test is executed (S311).
Similarly, a Qw , Qy test is performed for the combination of the W -phase upper arm switching element Qw and the V-phase lower arm switching element Qy (S312).
Thereafter, the results of each test are collated with the failure map 500 prepared in advance to identify the switching element stuck open and determine whether or not the operation is possible (S313).

図7は、故障マップ500の一例を示している。この故障マップ500は、三相インバータの全てのアーム(スイッチング素子Q,Q,Q,Q,Q,Q)における開放固着の有無(No.1~No.64までの64通り)と、これらの各ケースに応じた診断2,3による各テスト(診断2のQ,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト、及び、診断3のQ,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)の合否とを対応させて示したものである。また、図8は、図7の故障マップ500から、全てのアームが正常なケース(No.1)と1アームのスイッチング素子が開放故障している全てのケース(No.2~No.7)とを抜き出したものである。 FIG. 7 shows an example of a fault map 500. As shown in FIG. This fault map 500 shows the presence or absence of open fixation in all arms (switching elements Q u , Q v , Q w , Q x , Q y , Q z ) of the three-phase inverter (64 ) and each test by diagnosis 2 and 3 corresponding to each case (diagnosis 2 Q u , Q y test, Q v , Q z test, Q w , Q x test, and diagnosis 3 Q u , Qz test, Qv , Qx test, Qw , Qy test). 8 shows a case (No. 1) in which all arms are normal and all cases (No. 2 to No. 7) in which the switching element of one arm has an open failure from the failure map 500 in FIG. It is extracted from

例えば、図8のNo.2はスイッチング素子Qのみが開放固着しているケースであり、この場合には、診断2のQ,Qテスト(S217)と診断3のQ,Qテスト(S322)の結果が不合格(否)になる。また、図8のNo.3はスイッチング素子Qのみが開放固着しているケースであり、この場合には、診断2のQ,Qテスト(S207)と診断3のQ,Qテスト(S312)の結果が不合格(否)になる。
従って、1アームのスイッチング素子の開放固着に限って言えば、図8の故障マップ500における「診断2,3による合否」のパターン(○,×のパターン)に基づいて、開放固着しているアーム(スイッチング素子)を特定することが可能である。
For example, No. 2 in FIG. 8 is a case in which only the switching element Qz is stuck open . The result of the test (S322) is failed (no). No. 3 in FIG. 8 is a case in which only the switching element Qy is stuck open . The result of the test (S312) is failed (no).
Therefore, as far as the open fixation of the switching element of one arm is concerned, based on the "pass/fail by diagnosis 2 and 3" pattern (o, x pattern) in the fault map 500 of FIG. (switching elements) can be specified.

前述したステップS313に戻ると、このステップS313は、診断2のQ,Qテスト(S207)が不合格であったため、図8によればNo.3(Qが開放固着)またはNo.7(Qが開放固着)が該当する。そして、No.3のケースであれば、診断3のQ,Qテスト(S312)が不合格になり、No.7のケースであれば、診断3のQ,Qテスト(S311)が不合格になるはずである。
このため、図6に示すように、Q,Qテスト(S311)及びQ,Qテスト(S312)を行い、図4の診断2におけるQ,Qテスト(S207)を含めた3つのテストの結果を、図8の故障マップ500の「診断2,3による合否」欄と照合することにより、開放固着しているアームを特定する。
Returning to step S313, since the Q u and Q y test (S207) of diagnosis 2 failed, according to FIG . 7 (Q u stuck open) applies. In the case of No. 3, the Qw and Qy tests of diagnosis 3 (S312) fail, and in the case of No. 7, the Qu and Qz tests of diagnosis 3 (S311) are rejected. should fail.
Therefore, as shown in FIG. 6, the Q u , Q z test (S311) and the Q w , Q y test (S312) are performed, and the Q u , Q y test (S207) in the diagnosis 2 of FIG. By comparing the results of the three tests with the "pass/fail by diagnosis 2 and 3" column of the fault map 500 of FIG. 8, the arm that is stuck open is identified.

具体的には、Q,Qテスト(S312)が不合格であればNo.3によってQの開放固着と判断でき、Q,Qテスト(S311)が不合格であればNo.7によってQの開放固着と判断できる。また、これら2回のテストが何れも不合格である(No.3及びNo.7が同時に成立する)場合には、Q,Qの両方が開放固着していると判断することができる。
上記のように、図6のステップS313の処理により、QまたはQの1アーム開放固着(S314,S315)、あるいは、Q,Qの2アーム開放固着(S316)と判断して初期診断を終了する。なお、1アーム開放固着は軽故障、2アーム開放固着は重故障に相当する。
同様にして、診断2のQ,Qテスト(S217)が不合格である場合には、図6のステップS321~S326を実行して初期診断を終了し、また、診断2のQ,Qテスト(S227)が不合格である場合には、図6のステップS331~S336を実行して初期診断を終了する。
Specifically, if the Q w , Q y test (S312) fails, it can be determined that Q y is open and stuck according to No. 3, and if the Q u , Q z test (S311) fails, No. 7, it can be determined that Q u is open and fixed. Also, if both of these two tests fail (No. 3 and No. 7 are satisfied at the same time), it can be determined that both Q u and Q y are stuck open. .
As described above, by the processing of step S313 in FIG. 6, it is determined that one arm of Q u or Q y is stuck open (S314, S315), or two arms of Q u and Q y are stuck open (S316), and the initial End diagnostics. It should be noted that 1-arm open fixation corresponds to a minor failure, and 2-arm open fixation corresponds to a major failure.
Similarly, if the diagnostic 2 Q v , Q z test (S217) fails, steps S321 to S326 of FIG. If the Qx test (S227) fails, steps S331-S336 of FIG. 6 are executed to end the initial diagnosis.

図6から明らかなように、診断2による3回のテスト(Q,Qテスト、Q,Qテスト、Q,Qテスト)のうち不合格となったテストに応じて、診断3ではそれぞれ2回のテスト(S311,S312、または、S321,S322、または、S331,S332)を行うことで、開放固着しているスイッチング素子の特定が可能である。
つまり、三相インバータであれば、診断2,3による合計5回のテストを行えば良く、一般にn相インバータであれば、(n+2)回のテストを行えば良い。
As is clear from FIG . 6 , diagnosis 3, by performing two tests (S311, S312, or S321, S322, or S331, S332), it is possible to identify the switching element stuck open.
In other words, in the case of a three-phase inverter, tests 2 and 3 may be performed a total of five times, and in general, in the case of an n-phase inverter, tests may be performed (n+2) times.

なお、図7の故障マップ500におけるNo.63,No.64のケースのように、診断2,3による合否が全てのテストについて同じになる場合があり、Q以外のスイッチング素子が開放固着している(No.63)のか、全てのスイッチング素子が開放固着している(No.64)のか、判別できない場合も存在する。しかし、No.63やNo.64のような多重故障はレアケースであり、本実施形態によれば、少なくとも、図9(a)に破線で囲んだ1アームの開放固着や図9(b)に破線で囲んだ1レグ(同一相の上下アーム)の開放固着については検出可能であるため、本発明の有用性は大きいと言える。 As in the cases of No. 63 and No. 64 in the fault map 500 of FIG. 7, there are cases where the pass/fail results of the diagnostics 2 and 3 are the same for all tests, and the switching elements other than Qz are stuck open. (No. 63) or all the switching elements are stuck open (No. 64). However, multiple failures such as No. 63 and No. 64 are rare cases. Since it is possible to detect open fixation of one leg (upper and lower arms of the same phase) enclosed by a broken line in 2, it can be said that the usefulness of the present invention is great.

:直流電源
:コンデンサ
SW:初期充電リレー
SW:メインリレー
:抵抗
,Q,Q,Q,Q,Q,QH1~QHn,QL1~QLn:半導体スイッチング素子
INV:インバータ主回路
M:モータ
11:電流検出器
12:交流電流検出回路
13:電圧検出器
14:直流中間電圧検出回路
15:故障診断部
16:リレー駆動回路
17:ゲート駆動回路
500:故障マップ
E 1 : DC power supply C 1 : Capacitor
SW 1 : Initial charging relay SW 2 : Main relay
R 1 : Resistors Q u , Q v , Q w , Q x , Q y , Q z , Q H1 to Q Hn , Q L1 to Q Ln : Semiconductor switching elements INV: Inverter main circuit M: Motor 11: Current detector 12: AC current detection circuit 13: Voltage detector 14: DC intermediate voltage detection circuit 15: Fault diagnosis unit 16: Relay drive circuit 17: Gate drive circuit 500: Fault map

Claims (5)

直流電源から開閉手段を介して充電されるコンデンサと、このコンデンサの両端に接続され、かつ複数のスイッチング素子をブリッジ接続してなる主回路と、前記スイッチング素子をON,OFFするための駆動信号を生成する制御回路と、を備えた電力変換装置において、
前記制御回路は、
前記主回路における互いに異なる相の上アームのスイッチング素子と下アームのスイッチング素子とを組み合わせてこれら2個のスイッチング素子を同時にONするテストを行った時の前記コンデンサの両端電圧の変化量が変化量規定値を下回る時に、前記2個のスイッチング素子のうち少なくとも1個が開放固着していると判断して前記テストの不合格データを保存する処理を行い、
当該処理を前記主回路の全てのスイッチング素子について実行して得た前記不合格データに基づいて、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断すると共に、
前記不合格データが一つだけである時に、
前記不合格データを構成する上アームのスイッチング素子と他相の下アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行い、かつ、前記不合格データを構成する下アームのスイッチング素子と他相の上アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより、n+2個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とした電力変換装置。
A capacitor charged from a DC power supply through switching means, a main circuit connected to both ends of the capacitor and having a plurality of switching elements bridge-connected, and a drive signal for turning on and off the switching elements. In a power conversion device comprising a control circuit that generates
The control circuit is
The amount of change in the voltage across the capacitor when a test is conducted in which the upper arm switching element and the lower arm switching element of different phases in the main circuit are combined and these two switching elements are simultaneously turned on. performing a process of determining that at least one of the two switching elements is stuck open when the value is below a specified value and storing the test failure data;
Based on the failure data obtained by executing the processing for all the switching elements of the main circuit, it is determined that any switching element is stuck open,
When there is only one failed data,
The test and the failure data are stored by combining the switching element of the upper arm that constitutes the failure data and the switching element of the lower arm of the other phase, and the switching of the lower arm that constitutes the failure data. By combining the element and the switching element of the upper arm of the other phase, performing the test and storing the failure data, n+2 (n is the number of phases of the main circuit) pass/fail data are generated, and the pass/fail data with a failure map prepared in advance to identify a switching element stuck open .
直流電源から開閉手段を介して充電されるコンデンサと、このコンデンサの両端に接続され、かつ複数のスイッチング素子をブリッジ接続してなる主回路と、前記スイッチング素子をON,OFFするための駆動信号を生成する制御回路と、を備えた電力変換装置において、
前記制御回路は、
前記主回路における互いに異なる相の上アームのスイッチング素子と下アームのスイッチング素子とを組み合わせてこれら2個のスイッチング素子を同時にONするテストを行なって一相の出力電流が零になった時に、前記2個のスイッチング素子のうち少なくとも1個が開放固着していると判断して前記テストの不合格データを保存する処理を行い、
当該処理を前記主回路の全てのスイッチング素子について実行して得た前記不合格データに基づいて、何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断すると共に、
前記不合格データが一つだけである時に、
前記不合格データを構成する上アームのスイッチング素子と他相の下アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行い、かつ、前記不合格データを構成する下アームのスイッチング素子と他相の上アームのスイッチング素子とを組み合わせて前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより、n+2個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とした電力変換装置。
A capacitor charged from a DC power supply through switching means, a main circuit connected to both ends of the capacitor and having a plurality of switching elements bridge-connected, and a drive signal for turning on and off the switching elements. In a power conversion device comprising a control circuit that generates
The control circuit is
When the output current of one phase becomes zero in a test in which an upper arm switching element and a lower arm switching element of different phases in the main circuit are combined and these two switching elements are turned on simultaneously, the above-mentioned Determining that at least one of the two switching elements is stuck open and storing the test failure data,
Based on the failure data obtained by executing the processing for all the switching elements of the main circuit, it is determined that any switching element is stuck open ,
When there is only one failed data,
The test and the failure data are stored by combining the switching element of the upper arm that constitutes the failure data and the switching element of the lower arm of the other phase, and the switching of the lower arm that constitutes the failure data. By combining the element and the switching element of the upper arm of the other phase, performing the test and storing the failure data, n+2 (n is the number of phases of the main circuit) pass/fail data are generated, and the pass/fail data with a failure map prepared in advance to identify a switching element stuck open .
請求項1または2に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、
同時にONした2個のスイッチング素子が何れも開放固着していないと判断した場合に、前記コンデンサを充電してその両端電圧が直流電圧規定値以上になったら前記コンデンサの充電を停止することを特徴とする電力変換装置。
In the power converter according to claim 1 or 2 ,
The control circuit is
When it is determined that none of the two switching elements that are turned on at the same time are stuck open, the capacitor is charged and the charging of the capacitor is stopped when the voltage across the capacitor reaches a DC voltage specified value or more. and power conversion equipment.
請求項に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、
何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断した時に、
前記主回路の全てのスイッチング素子について、請求項1における2個のスイッチング素子の組み合わせとは異なる組み合わせによりそれぞれ選択した2個のスイッチング素子を対象として、前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより2n個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とした電力変換装置。
In the power converter according to claim 1 ,
The control circuit is
When it is determined that any switching element is stuck open,
For all the switching elements of the main circuit, performing the test and storing the failure data for two switching elements respectively selected by a combination different from the combination of the two switching elements in claim 1. 2n pieces (n is the number of phases of the main circuit) of pass/fail data are generated, and the pass/fail data is collated with a failure map prepared in advance to identify the switching element that is stuck open . conversion device.
請求項2に記載した電力変換装置において、
前記制御回路は、
何れかのスイッチング素子が開放固着していると判断した時に、
前記主回路の全てのスイッチング素子について、請求項2における2個のスイッチング素子の組み合わせとは異なる組み合わせによりそれぞれ選択した2個のスイッチング素子を対象として、前記テスト及び前記不合格データの保存を行うことにより2n個(nは前記主回路の相数)の合否データを生成し、当該合否データを予め用意した故障マップと照合することにより開放固着しているスイッチング素子を特定することを特徴とした電力変換装置。
In the power converter according to claim 2,
The control circuit is
When it is determined that any switching element is stuck open,
For all the switching elements of the main circuit, performing the test and storing the failure data for two switching elements respectively selected by a combination different from the combination of the two switching elements in claim 2. 2n pieces (n is the number of phases of the main circuit) of pass/fail data are generated, and the pass/fail data is collated with a failure map prepared in advance to identify the switching element that is stuck open. conversion device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114655019A (en) * 2022-05-10 2022-06-24 宁德时代新能源科技股份有限公司 Fault detection method, device and equipment for motor power device and storage medium

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004040921A (en) 2002-07-04 2004-02-05 Meidensha Corp Control method for electric vehicle
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Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3657657B2 (en) * 1995-03-09 2005-06-08 株式会社日立産機システム Abnormality judgment method for power converter

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004040921A (en) 2002-07-04 2004-02-05 Meidensha Corp Control method for electric vehicle
JP2017163714A (en) 2016-03-10 2017-09-14 富士電機株式会社 Power conversion device, short-circuit failure diagnosis method for switching element, and open failure diagnosis method for switching element

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