JP7161948B2 - Machine learning device, machine learning method, machine learning program, and inspection device - Google Patents
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特許法第30条第2項適用 ▲1▼発行日 平成30年10月29日 ▲2▼刊行物「ディープラーニング活用の教科書」第3章 126~130頁 ▲3▼公開者 日経BP社Application of
本発明は、分類器に機械学習を行わせる機械学習装置、機械学習方法、及び機械学習プログラムに関する。また、本発明は、物品の検査を行う検査装置に関する。 The present invention relates to a machine learning device, a machine learning method, and a machine learning program that cause a classifier to perform machine learning. The present invention also relates to an inspection apparatus for inspecting articles.
物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する技術が広く用いられている。このような技術を、機械学習により構築された分類器を用いて実現する場合、長期に亘って分類精度を保つことが困難である。なぜなら、機械学習により構築された分類器の汎化能力が発揮されるのは、教師データとして用いられた画像に含まれる物品、或いは、その物品に類似する物品に対してであり、分類の対象となる物品そのものや、分類の対象となる物品を取り巻く環境などが変化すると、分類対象とする物品が分類器の汎化能力が発揮される範囲を超えてしまうからである。 A technique for classifying the state of an article by referring to an image containing the article as a subject is widely used. When implementing such a technique using a classifier constructed by machine learning, it is difficult to maintain classification accuracy over a long period of time. This is because the generalization ability of the classifier constructed by machine learning is demonstrated only for items included in the images used as training data, or items similar to those items, which are the targets of classification. This is because if the environment surrounding the article itself to be classified or the environment surrounding the article to be classified changes, the article to be classified will exceed the range in which the generalization ability of the classifier can be demonstrated.
このような問題の解決に資する可能性のある技術としては、例えば、特許文献1に記載の音源種別識別装置が挙げられる。この音源種別判別装置は、ニューラルネットワーク(本明細書における分類器に相当)を用いて音源種別の判定を行う装置であり、ニューラルネットワークの学習結果を審査する審査手段と、審査手段の審査結果に基づいてニューラルネットワークの再学習(本明細書における追加学習に相当)を行う再学習手段と、を備えている。 As a technique that may contribute to solving such problems, for example, a sound source type identification device described in Patent Document 1 can be cited. This sound source type determination device is a device that uses a neural network (corresponding to a classifier in this specification) to determine a sound source type. re-learning means for performing re-learning (corresponding to additional learning in this specification) of the neural network based on the re-learning means.
特許文献1に記載の音源種別判定手段のように、分類器の追加学習を行うことによって、分類の対象となる物品そのものや、分類の対象となる物品を取り巻く環境が変化しても、分類器の分類精度を長期に亘って保つことが可能になる。しかしながら、このような方法で追加学習を行う場合、物品の分類に用いる分類器の分類精度が低下する前に該分類器の追加学習を行うことができない。つまり、物品の分類に用いる分類器の一時的な分類精度の低下は避けられない。 As in the sound source type determination means described in Patent Document 1, by performing additional learning of the classifier, even if the article itself to be classified or the environment surrounding the article to be classified changes, the classifier classification accuracy can be maintained for a long period of time. However, when additional learning is performed by such a method, the additional learning of the classifier cannot be performed before the classification accuracy of the classifier used for classifying the articles decreases. In other words, a temporary drop in classification accuracy of the classifier used to classify the articles is unavoidable.
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、物品の分類に用いる分類器の分類精度が低下する前に該分類器の追加学習を行うことが可能な機械学習装置、機械学習方法、及び機械学習プログラムを実現することにある。また、このような機械学習装置を備えた検査装置を実現することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and is a machine learning apparatus and a machine learning method capable of performing additional learning of a classifier used for classifying articles before the classification accuracy of the classifier decreases. , and to realize a machine learning program. Another object of the present invention is to realize an inspection apparatus equipped with such a machine learning device.
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る機械学習装置は、複数のグループの各々に属する物品の状態を、該物品を被写体として含む画像を参照して分類する複数の分類器からなる分類器群に、機械学習を行わせる機械学習装置であって、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度をグループ毎に評価する評価部と、上記分類器群に含まれる少なくとも1つの分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記分類器群に含まれる、上記少なくとも1つの分類器以外の分類器に追加学習を行わせる学習制御部と、を備えている。 To solve the above problem, a machine learning device according to an aspect of the present invention includes a plurality of classifiers that classify states of articles belonging to each of a plurality of groups with reference to an image including the article as a subject. A machine learning device for performing machine learning on a classifier group consisting of: an evaluation unit for evaluating the classification accuracy of each classifier included in the classifier group for each group; If the classification accuracy of one classifier does not reach a predetermined standard, the at least one of the classifiers included in the classifier group before performing the classification process for the articles belonging to the next group. and a learning control unit that causes a classifier other than the classifier to perform additional learning.
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る機械学習方法は、複数のグループの各々に属する物品の状態を、該物品を被写体として含む画像を参照して分類する複数の分類器からなる分類器群に、機械学習を行わせる機械学習方法であって、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度をグループ毎に評価する評価ステップと、上記分類器群に含まれる少なくとも1つの分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記分類器群に含まれる、上記少なくとも1つの分類器以外の分類器に追加学習を行わせる学習制御ステップと、を含んでいる。 To solve the above problems, a machine learning method according to an aspect of the present invention includes a plurality of classifiers that classify states of articles belonging to each of a plurality of groups with reference to an image including the article as a subject. A machine learning method for performing machine learning on a classifier group consisting of: an evaluation step of evaluating the classification accuracy of each classifier included in the classifier group for each group; If the classification accuracy of one classifier does not reach a predetermined standard, the at least one of the classifiers included in the classifier group before performing the classification process for the articles belonging to the next group. and a learning control step of causing a classifier other than the classifier to perform additional learning.
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る機械学習プログラムは、コンピュータを上述の機械学習装置として動作させる機械学習プログラムであって、上記コンピュータを上記機械学習装置の各部として機能させる。 In order to solve the above problems, a machine learning program according to one aspect of the present invention is a machine learning program that causes a computer to operate as the machine learning device described above, and causes the computer to function as each part of the machine learning device. .
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る検査装置は、上述の機械学習装置と上記分類器群とを備え、上記分類器群を用いてロットに分けられた複数の物品の検査を行う。なお、各ロットに含まれる物品の個数は、一律であってもよいし、一律でなくてもよい。 In order to solve the above problems, an inspection device according to an aspect of the present invention includes the machine learning device described above and the classifier group, and uses the classifier group to inspect a plurality of articles divided into lots. conduct an inspection. The number of articles included in each lot may or may not be uniform.
これらの構成によれば、ある分類器の分類精度が低下したことをトリガーとして、その分類器以外の分類器の追加学習を行うことができる。すなわち、物品の分類に用いる分類器(その分類器以外の分類器)の分類精度が低下する前に、物品の分類に用いる分類器(その分類器以外の分類器)の追加学習を行うことができる。 According to these configurations, it is possible to perform additional learning of classifiers other than the classifier, triggered by a decrease in the classification accuracy of a certain classifier. In other words, it is possible to perform additional learning of the classifier used to classify the goods (classifier other than the classifier) before the classification accuracy of the classifier used to classify the goods (the classifier other than the classifier) decreases. can.
本発明の一態様に係る機械学習装置において、上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、人が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価する、ことが好ましい。 In the machine learning device according to an aspect of the present invention, the evaluation unit determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group, and the classification result obtained by the classifier classifying the state of each article. and a classification result obtained by a person classifying the state of each article.
上記の構成によれば、各分類器の分類精度が、人が物品の状態を分類した結果に基づいて評価される。このため、主分類器の汎化能力に依らずに、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができる。 According to the above configuration, the classification accuracy of each classifier is evaluated based on the result of classification of the state of the article by a person. Therefore, the timing for performing additional learning can be appropriately specified without depending on the generalization ability of the main classifier.
本発明の一態様に係る機械学習装置において、上記複数の分類器のうち、初期学習フェーズにおいて達成された分類精度が最も高い分類器を主分類器として、上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、上記主分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価する、ことが好ましい。 In the machine learning device according to an aspect of the present invention, among the plurality of classifiers, the classifier having the highest classification accuracy achieved in the initial learning phase is set as the main classifier, and the evaluation unit selects the classifier group as the main classifier. The classification accuracy of each classifier included is the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier and the classification result obtained by classifying the state of each article by the main classifier. is preferably evaluated by comparing .
上記の構成によれば、各分類器の分類精度が、主分類器が物品の状態を分類した結果に基づいて評価される。このため、人が物品の状態を分類する作業を行うことなく、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができる。 According to the above configuration, the classification accuracy of each classifier is evaluated based on the result of classifying the state of the article by the main classifier. Therefore, it is possible to appropriately identify the timing at which additional learning should be performed without the need for a person to classify the state of the article.
本発明の一態様に係る機械学習装置において、上記複数の分類器のうち、初期学習フェーズにおいて達成された分類精度が最も高い分類器を主分類器として、第1の追加学習フェーズにおいて、上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、人が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価し、上記第1の追加学習フェーズに後続する第2の追加学習フェーズにおいて、上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、上記主分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価する、ことが好ましい。 In the machine learning device according to an aspect of the present invention, among the plurality of classifiers, the classifier with the highest classification accuracy achieved in the initial learning phase is used as the main classifier, and in the first additional learning phase, the evaluation The department determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group by combining the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier and the classification result obtained by classifying the state of each article by a person. and a second additional learning phase following the first additional learning phase, the evaluation unit evaluates the classification accuracy of each classifier included in the classifier group. is evaluated by comparing the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier and the classification result obtained by classifying the state of each article by the main classifier. , is preferred.
上記の構成によれば、第1の追加学習フェーズにおいては、主分類器の汎化能力に依らずに、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができ、第2の追加学習フェーズにおいては、人が物品の状態を分類する作業を行うことなく、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができる。 According to the above configuration, in the first additional learning phase, it is possible to appropriately identify the timing at which additional learning should be performed without depending on the generalization ability of the main classifier, and the second additional learning phase , it is possible to appropriately identify the timing at which additional learning should be performed without the need for a person to classify the state of an article.
本発明の一態様に係る機械学習装置において、上記学習制御部は、上記分類器に含まれる上記主分類器以外の分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記主分類器に追加学習を行わせる、ことが好ましい。 In the machine learning device according to an aspect of the present invention, the learning control unit, when the classification accuracy of classifiers other than the main classifier included in the classifier does not reach a predetermined standard, determines that the classifier group It is preferable to cause the main classifier to perform additional learning before performing the classification process for items belonging to the next group.
上記の構成によれば、主分類器以外の分類器の分類精度が低下したことをトリガーとして、主分類器の追加学習を行うことができる。すなわち、物品の分類に用いる主分類器の分類精度が低下する前に、主分類器の追加学習を行うことができる。 According to the above configuration, it is possible to perform additional learning of the main classifier, triggered by a decrease in the classification accuracy of the classifiers other than the main classifier. In other words, additional learning of the main classifier can be performed before the classification accuracy of the main classifier used for classifying the articles deteriorates.
本発明の一態様に係る機械学習装置において、上記学習制御部は、上記分類器群に含まれる少なくとも1つの分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記分類器群に含まれる全ての分類器に追加学習を行わせる、ことが好ましい。 In the machine learning device according to an aspect of the present invention, the learning control unit determines that, when the classification accuracy of at least one classifier included in the classifier group does not reach a predetermined standard, the classifier group It is preferable to cause all the classifiers included in the classifier group to perform additional learning before executing the classification process for the articles belonging to the group.
上記の構成によれば、物品の分類に用いる分類器の分類精度の低下の予兆を検知する、その分類器以外の分類器の検知精度を、維持することができる。 According to the above configuration, it is possible to maintain the detection accuracy of classifiers other than the classifier that detects a sign of deterioration in the classification accuracy of the classifier used for classifying articles.
本発明の一態様によれば、物品の分類に用いる分類器の分類精度が低下する前に該分類器の追加学習を行うことが可能な機械学習装置、機械学習方法、及び機械学習プログラムを実現することができる。また、本発明の一態様によれば、このような機械学習装置を備えた検査装置を実現することができる。 According to one aspect of the present invention, a machine learning device, a machine learning method, and a machine learning program capable of performing additional learning of a classifier used for classifying articles before the classification accuracy of the classifier decreases are realized. can do. Further, according to one aspect of the present invention, it is possible to realize an inspection device including such a machine learning device.
〔第1の実施形態〕
(機械学習装置の物理的構成)
本発明の第1の実施形態に係る機械学習装置1の物理的構成について、図1を参照して説明する。図1は、機械学習装置1の物理的構成を示すブロック図である。
[First embodiment]
(Physical configuration of machine learning device)
A physical configuration of the machine learning device 1 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the physical configuration of the machine learning device 1. As shown in FIG.
機械学習装置1は、図1に示すように、バス10と、主メモリ11と、プロセッサ12と、補助メモリ13と、入出力インターフェース14と、を備えたコンピュータである。主メモリ11、プロセッサ12、補助メモリ13、及び入出力インターフェース14は、バス10を介して互いに接続されている。主メモリ11としては、例えば、単一又は複数の半導体RAM(random access memory)が用いられる。プロセッサ12としては、例えば、単一又は複数のマイクロプロセッサ、単一又は複数のデジタルシグナルプロセッサ、単一又は複数のマイクロコントローラ、又はこれらの組み合わせが用いられる。補助メモリ13としては、例えば、単一又は複数のHDD(Hard Disk Drive)、単一又は複数のSSD(Solid State Drive)、又はこれらの組み合わせが用いられる。また、補助メモリ13の一部又は全部は、通信インタフェース(図示せず)を介して接続されたネットワーク上のストレージであってもよい。入出力インターフェース14としては、例えば、USB(Universal Serial Bus)インターフェース、赤外線やBluetooth(登録商標)等の近距離通信インターフェース、又はこれらの組み合わせが用いられる。
The machine learning device 1 is a computer including a
入出力インターフェース14には、例えば、入力装置20及び出力装置30が接続される。入力装置20としては、例えば、キーボード、マウス、タッチパッド、マイク、又はこれらの組み合わせ等が用いられる。出力装置30としては、例えば、ディスプレイ、プリンタ、スピーカ、又はこれらの組み合わせが用いられる。なお、機械学習装置1は、ノート型コンピュータのように、入力装置20として機能するキーボート及びタッチパッド、並びに、出力装置30として機能するディスプレイを内蔵していてもよい。また、機械学習装置1は、スマートフォン又はタブレット型コンピュータのように、入力装置20及び出力装置30として機能するタッチパネルを内蔵していてもよい。
For example, an
補助メモリ13には、後述する機械学習方法S1をプロセッサ12に実行させるためのプログラムPが格納されている。プロセッサ12は、補助メモリ13に格納されたプログラムPを主メモリ11上に展開し、主メモリ11上に展開されたプログラムPに含まれる各命令を実行することによって、後述する機械学習方法S1に含まれる各ステップを実行する。また、補助メモリ13には、後述する機械学習方法S1を実行するためにプロセッサ12が参照する各種データが格納されている。
The
なお、ここでは、内部記憶媒体である補助メモリ13に格納されているプログラムPに従ってプロセッサ12が後述する機械学習方法S1を実行する形態について説明したが、これに限定されない。すなわち、外部記録媒体に格納されているプログラムPに従ってプロセッサ12が後述する機械学習方法S1を実行する形態を採用してもよい。この場合、外部記録媒体としては、コンピュータが読み取り可能な「一時的でない有形の媒体」、例えば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、又はプログラマブル論理回路などを用いることができる。あるいは、通信インタフェース(図示せず)を介して接続されるネットワーク上から取得したプログラムPに従ってプロセッサ12が後述する機械学習方法S1を実施する形態を採用してもよい。この場合、ネットワークとしては、例えば、インターネット、有線LAN(Local Area Network)、無線LAN、又はこれらの少なくとも一部の組み合わせ等などを用いることができる。
Here, a mode in which the
また、ここでは、単一のコンピュータを用いて機械学習装置1を実現する形態について説明したが、これに限定されない。すなわち、互いに通信可能に構成された複数のコンピュータを用いて機械学習装置1を実現する形態を採用してもよい。この場合、後述する機械学習方法S1を構成する各ステップを、これらのコンピュータにより並列的に実行することが可能になる。 Also, here, a mode of realizing the machine learning device 1 using a single computer has been described, but the present invention is not limited to this. That is, a form in which the machine learning device 1 is realized using a plurality of computers configured to be able to communicate with each other may be adopted. In this case, each step constituting the machine learning method S1, which will be described later, can be executed in parallel by these computers.
(機械学習装置の機能的構成)
機械学習装置1の機能的構成について、図2を参照して説明する。図2は、機械学習装置1の機能的構成を示すブロック図である。
(Functional configuration of machine learning device)
A functional configuration of the machine learning device 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a block diagram showing the functional configuration of the machine learning device 1. As shown in FIG.
機械学習装置1は、図2に示すように、分類器群101と、評価部102と、学習制御部103と、を備えている。これらのブロックは、上述したプロセッサ12が上述したプログラムPの命令を実行することにより実現される機能ブロックである。
The machine learning device 1 includes a
分類器群101は、複数の分類器C1,C2,…,Cnの集合である。ここで、nは、分類器C1,C2,…,Cnの個数を表す任意の自然数である。各分類器Ci(i=1,2,…,n)は、物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する分類処理を、機械学習により定められたアルゴリズム(以下、「モデル」と記載する)を用いて実行する。分類処理に利用可能なモデルとしては、例えば、物品を被写体として含む画像を入力とし、該物品の状態を出力とするニューラルネットワークが挙げられる。本実施形態においては、第1コンボリューション層(例えば、conv32 3*3)、第1ポーリング層(例えば、MaxPooling(2,2))、第2コンボリューション層(例えば、conv32 3*3)、第2ポーリング層(例えば、MaxPooling(2,2))、…、第6ポーリング層(例えば、MaxPooling(2,2))、第6コンボリューション層(例えば、conv32 3*3)、第7ポーリング層(例えば、MaxPooling(2,2))、第7コンボリューション層(例えば、GlobalAveragePooling)、及び、ソフトマックス層(例えば、softmax)をこの順に連結したCNN(Convolutional Nural Network)を分類処理に用いる。
A
各分類器Ciが用いるモデルは、分類器群101の運用を開始する前に実施される初期学習フェーズにおいて構築され、分類器群101の運用を開始した後に実施される追加学習フェーズにおいて最適化される。初期学習フェーズにおいては、(1)モデルの選択、(2)モデルの調整(ネットワーク構造及びハイパーパラメータの調整)、及び、(3)モデルの機械学習(以下、「初期学習」と記載する)が行われる。追加学習フェーズにおいては、(1)モデルの機械学習(以下、「追加学習」と記載する)が行われる。本実施形態においては、モデルとしてCNNを用いているため、初期学習フェーズ及び追加学習フェーズにおけるモデルの機械学習は、深層学習により実現される。
The model used by each classifier Ci is constructed in the initial learning phase before the
なお、本実施形態において、各分類器Ciが用いるモデルの構造は、共通である。また、本実施形態において、各分類器Ciが用いるモデルの教師用データは、共通である。この場合でも、各分類器Ciが用いるモデルは、重み係数の異なる互いに独立なモデルとなる。なぜなら、各分類器Ciが用いるモデルの学習には、乱数が用いられるからである。このため、各分類器Ciの汎化能力は、互いに異なり得る。以下、分類器群101に含まれる分類器C1,C2,…,Cnのうち、初期学習フェーズ終了時において分類精度が最も高い(汎化能力が最も高い)分類器を「主分類器」と記載する。また、分類器群101に含まれる分類器C1,C2,…,Cnのうち、主分類器以外の分類器を「副分類器」と記載する。ここでは、説明の便宜上、分類器C1が主分類器であり、分類器C2,C3,…,Cnが副分類器であると仮定する。分類器群101の運用時においては、主分類器C1による分類結果が、分類器群101による分類結果として参照される。分類器C2,C3,…,Cnによる分類結果は、追加学習フェーズにおいて学習制御のため(特に、追加学習を実施するタイミングを特定するため)に参照される。
In this embodiment, the structure of the model used by each classifier Ci is common. In addition, in this embodiment, the training data of the model used by each classifier Ci is common. Even in this case, the models used by each classifier Ci are mutually independent models with different weighting factors. This is because random numbers are used for learning the model used by each classifier Ci. Therefore, the generalization ability of each classifier Ci may differ from each other. Hereinafter, among the classifiers C1, C2, . do. Further, among the classifiers C1, C2, . Here, for convenience of explanation, it is assumed that classifier C1 is the primary classifier and classifiers C2, C3, . . . , Cn are secondary classifiers. During operation of the
なお、分類の対象となる物品は、予め複数のグループに分けられている。分類器群101は、物品の状態を分類する分類処理をグループ毎に実行する。すなわち、分類器群101は、例えば、第1のグループに属する各物品に対する分類処理を終えてから、第2のグループに属する各物品に対する分類処理を始め、第2のグループに属する各物品に対する分類処理を終えてから、第3のグループに属する物品の分類処理を始める。
Note that articles to be classified are divided into a plurality of groups in advance. The
評価部102は、分類器群101に含まれる各分類器Ciの分類精度を評価する評価処理をグループ毎に実行するブロックである。本実施形態において、評価部102は、追加学習フェーズの前半(以下、「第1の追加学習フェーズ」と記載する)においては、第1の評価方法に従って評価処理を実行し、追加学習フェーズの後半(以下、「第2の追加学習フェーズ」と記載する)においては、第2の評価方法に従って評価処理を実行する。なお、第1の追加学習フェーズの終了タイミング(第2の追加学習フェーズの開始タイミング)及び第2の追加学習フェーズの終了タイミングは、任意である。第2の追加学習フェーズは、分類器群101の運用終了時まで継続しても構わない。
The
第1の評価方法は、各分類器Ciの分類精度を、グループから選択された各物品について、該分類器Ciが該物品の状態を分類した結果と、人が該物品の状態を分類した結果とを比較する方法である。ここで、グループから選択される物品は、グループに属する物品の全部であってもよいし、一部であってもよい。この場合、例えば、グループから選択された物品のうち、分類器Ciが状態を分類した結果と人が状態を分類した結果とが一致する物品の個数を、グループから選択された物品の個数で除した商(人が状態を分類した結果を正解としたときの分類器Ciの正解率)が、分類器Ciの分類精度となる。 The first evaluation method is to evaluate the classification accuracy of each classifier Ci, for each item selected from the group, the result of classifying the state of the item by the classifier Ci and the result of classifying the state of the item by a person. It is a method of comparing with Here, the items selected from the group may be all or part of the items belonging to the group. In this case, for example, among the items selected from the group, the number of items whose state classification result by the classifier Ci matches the state classification result by the person is divided by the number of items selected from the group. The quotient (correct answer rate of the classifier Ci when the result of classification of the state by a person is regarded as correct) is the classification accuracy of the classifier Ci.
第2の評価方法は、各分類器Ciの分類精度を、グループから選択された各物品について、該分類器Ciが該物品の状態を分類した結果と、主分類器C1が該物品の状態を分類した結果とを比較する方法である。ここで、グループから選択される物品は、グループに属する物品の全部であってもよいし、一部であってもよい。この場合、例えば、グループから選択された物品のうち、分類器Ciが状態を分類した結果と主分類器C1が状態を分類した結果とが一致する物品の個数を、グループから選択された物品の個数で除した商(主分類器C1が分類した結果を正解としたときの分類器Ciの正解率)が、分類器Ciの分類精度となる。 The second evaluation method is based on the classification accuracy of each classifier Ci, for each item selected from the group, the result of classifying the state of the item by the classifier Ci, and the state of the item by the main classifier C1. This is a method of comparing the results of classification. Here, the items selected from the group may be all or part of the items belonging to the group. In this case, for example, among the items selected from the group, the number of items for which the result of classifying the state by the classifier Ci and the result of classifying the state by the main classifier C1 are the same as the number of items selected from the group The quotient obtained by dividing by the number (correct answer rate of the classifier Ci when the result of classification by the main classifier C1 is regarded as correct) is the classification accuracy of the classifier Ci.
学習制御部103は、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が予め定められた基準に達しない場合、分類器群101が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、分類機群101に含まれる分類器Ci以外の少なくとも1つの分類器Cj(j≠i)に追加学習を行わせる学習制御処理を実行するブロックである。本実施形態において、学習制御部103は、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が予め定められた基準に達しない場合、分類器群101が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、分類機群101に含まれる全ての分類器C1,C2,…,Cnに追加学習を行わせる。各分類器Ciの分類精度が予め定められた基準に達しているか否かの判定は、例えば、評価部102にて評価された分類器Ciの分類精度を予め定められた閾値と比較することによって実現される。
When the classification accuracy of at least one classifier Ci included in the
ここで、分類器Ciに追加学習を行わせるとは、分類器Ciが分類処理に用いるモデルの重み係数を、教師データ(物品を被写体として含む画像と該物品の状態を人が分類した結果とのペアの集合)を用いて最適化することを指す。なお、分類器Ciが状態Aと分類するべき物品を状態Bと分類する誤分類を行った場合、追加学習に用いる教師データは、状態Aと分類するべき物品を被写体として含む画像と該物品の状態を人が分類した結果(状態A)とのペア、及び、状態Bと分類するべき物品を被写体として含む画像と該物品の状態を人が分類した結果(状態B)とのペアの少なくとも一方(好ましくは両方)を含むことが望ましい。これにより、分類器Ciの汎化能力を効率的に向上させることが可能になるからである。 Here, making the classifier Ci perform additional learning means that the weight coefficients of the model used by the classifier Ci for classification processing are combined with teacher data (an image containing an article as a subject and the result of human classification of the state of the article). A set of pairs of ) to optimize using. Note that when the classifier Ci misclassifies an article that should be classified as state A as state B, the training data used in the additional learning consists of an image containing the article that should be classified as state A as a subject and the image of the article. At least one of a pair of a result of human classification of the state (state A) and a pair of an image including an article to be classified as state B as a subject and a result of human classification of the state of the article (state B). (preferably both). This is because it is possible to efficiently improve the generalization ability of the classifier Ci.
(機械学習装置の効果)
物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する技術を、機械学習により構築された分類器を用いて実現する場合、長期に亘って分類精度を保つことが困難である。なぜなら、機械学習により構築された分類器の汎化能力が発揮されるのは、教師データとして用いられた画像に含まれる物品、或いは、その物品に類似する物品に対してであり、分類の対象となる物品そのものや、分類の対象となる物品を取り巻く環境などが変化すると、分類対象とする物品が分類器の汎化能力が発揮される範囲を超えてしまうからである。一例として、製造現場において利用される分類器、例えば、製造物を被写体として含む画像を参照して該製造物の状態を分類する分類器では、製造条件(人、機械、原材料、製造方法等)に変更が生じることがあるので、このような問題が頻繁に生じ得る。
(Effect of machine learning device)
When implementing a technique for classifying the state of an article by referring to an image containing the article as a subject using a classifier constructed by machine learning, it is difficult to maintain classification accuracy over a long period of time. This is because the generalization ability of the classifier constructed by machine learning is demonstrated only for items included in the images used as training data, or items similar to those items, which are the targets of classification. This is because if the environment surrounding the article itself to be classified or the environment surrounding the article to be classified changes, the article to be classified will exceed the range in which the generalization ability of the classifier can be demonstrated. As an example, a classifier used at a manufacturing site, for example, a classifier that refers to an image containing a product as a subject and classifies the state of the product, may include manufacturing conditions (persons, machines, raw materials, manufacturing methods, etc.) Such problems can arise frequently, as changes may occur in
これに対して、機械学習装置1においては、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が閾値を下回ったことを、製造条件の変化に起因して主分類器C1の分類精度の低下が生じる「予兆」として捉え、主分類器C1を含む全ての分類器C1,C2,…,Cnの追加学習を実施する。このため、主分類器C1の分類精度の低下が生じる前に主分類器C1に追加学習を行わせることができ、主分類器C1の分類精度を高く維持することが可能になる。なお、主分類器C1に追加学習を行わせる際に、副分類器C2,C3,…,Cnにも追加学習を行わせる構成を採用しているのは、副分類器C2,C3,…,Cnが上述した「予兆」を検知する検知精度を維持するためである。
On the other hand, in the machine learning device 1, when the classification accuracy of at least one classifier Ci included in the
(第1の追加学習フェーズにおける機械学習方法)
第1の追加学習フェーズにおいて実施される機械学習方法S1の流れについて、図3の(a)を参照して説明する。図3の(a)は、第1の追加学習フェーズにおいて機械学習方法S1の流れを示すフローチャートである。
(Machine learning method in the first additional learning phase)
The flow of the machine learning method S1 performed in the first additional learning phase will be described with reference to FIG. 3(a). FIG. 3(a) is a flow chart showing the flow of the machine learning method S1 in the first additional learning phase.
機械学習方法S1は、物品の状態を分類し終えたグループを対象グループとして、対象グループの次のグループに属する物品の分類を開始する前に実施される処理であり、図3の(a)に示すように、評価ステップS101と、判定ステップS102と、追加学習ステップS103と、を含む。 The machine learning method S1 is a process performed before starting classification of articles belonging to the group next to the target group, with a group whose state of articles has been classified as a target group. As shown, it includes an evaluation step S101, a determination step S102, and an additional learning step S103.
評価ステップS101は、分類器群101に含まれる各分類器Ciの分類精度を第1の評価方法に従って評価する評価処理を評価部102が実行するステップである。ここで、第1の評価方法とは、上述したように、各分類器Ciの分類精度を、対象グループから選択された各物品について、該分類器Ciが該物品の状態を分類した結果と、人が該物品の状態を分類した結果とを比較する方法である。評価ステップS101においては、例えば、対象グループから選択された物品のうち、分類器Ciが状態を分類した結果と人が状態を分類した結果とが一致する物品の個数を、対象グループから選択された物品の個数で除した商(人が状態を分類した結果を正解としたときの分類器Ciの正解率)が、分類器Ciの分類精度として算出される。
Evaluation step S101 is a step in which the
判定ステップS102は、評価ステップS101にて評価された分類精度が予め定められた閾値を下回る分類器Ciが存在するか否かを判定するステップである。分類精度が閾値を下回る分類器Ciが存在する場合には、後述する追加学習ステップS103が実行される。逆に、分類精度が閾値を下回る分類器Ciが存在しない場合には、後述する追加学習ステップS103がされない。 The determination step S102 is a step of determining whether or not there is a classifier Ci whose classification accuracy evaluated in the evaluation step S101 is below a predetermined threshold value. If there is a classifier Ci whose classification accuracy is below the threshold, an additional learning step S103, which will be described later, is executed. Conversely, if there is no classifier Ci whose classification accuracy is below the threshold, the additional learning step S103, which will be described later, is not performed.
追加学習ステップS103は、分類機群101に含まれる全ての分類器C1,C2,…,Cnに学習制御部103が追加学習を行わせるステップである。追加学習ステップS103においては、各分類器Ciが分類処理に用いるモデルの重み係数が、教師データを用いて最適化される。
Additional learning step S103 is a step in which the
以上のように、第1の追加学習フェーズにおいては、各分類器Ciの分類精度が、人が物品の状態を分類した結果に基づいて評価される。このため、主分類器C1の汎化能力に依らずに、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができる。 As described above, in the first additional learning phase, the classification accuracy of each classifier Ci is evaluated based on the result of human classification of the state of the article. Therefore, the timing at which additional learning should be performed can be appropriately specified without depending on the generalization ability of the main classifier C1.
(第2の追加学習フェーズにおける機械学習方法)
第2の追加学習フェーズにおいて実施される機械学習方法S2の流れについて、図3の(b)を参照して説明する。図3の(b)は、第2の追加学習フェーズにおいて実施される機械学習方法S2の流れを示すフローチャートである。
(Machine learning method in the second additional learning phase)
The flow of the machine learning method S2 performed in the second additional learning phase will be described with reference to FIG. 3(b). (b) of FIG. 3 is a flow chart showing the flow of the machine learning method S2 performed in the second additional learning phase.
機械学習方法S2は、物品の状態を分類し終えたグループを対象グループとして、対象グループの次のグループに属する物品の分類を開始する前に実施される処理であり、図3の(b)に示すように、評価ステップS201と、判定ステップS202と、追加学習ステップS203と、を含む。 The machine learning method S2 is a process performed before starting classification of articles belonging to the group next to the target group, with the group in which the state of the articles has been classified as the target group. As shown, it includes an evaluation step S201, a determination step S202, and an additional learning step S203.
評価ステップS201は、分類器群101に含まれる各分類器Ciの分類精度を第2の評価方法に従って評価する評価処理を評価部102が実行するステップである。ここで、第2の評価方法とは、上述したように、各分類器Ciの分類精度を、対象グループから選択された各物品について、該分類器Ciが該物品の状態を分類した結果と、主分類器C1が該物品の状態を分類した結果とを比較する方法である。評価ステップS201においては、例えば、対象グループから選択された物品のうち、分類器Ciが状態を分類した結果と主分類器C1が状態を分類した結果とが一致する物品の個数を、対象グループから選択された物品の個数で除した商(主分類器C1が分類した結果を正解としたときの分類器Ciの正解率)が、分類器Ciの分類精度として算出される。
Evaluation step S201 is a step in which the
判定ステップS202は、評価ステップS201にて評価された分類精度が予め定められた閾値を下回る分類器Ciが存在するか否かを判定するステップである。分類精度が閾値を下回る分類器Ciが存在する場合には、後述する追加学習ステップS203が実行される。逆に、分類精度が閾値を下回る分類器Ciが存在しない場合には、後述する追加学習ステップS203が実行されない。 The determination step S202 is a step of determining whether or not there is a classifier Ci for which the classification accuracy evaluated in the evaluation step S201 is below a predetermined threshold value. If there is a classifier Ci whose classification accuracy is below the threshold, an additional learning step S203, which will be described later, is performed. Conversely, if there is no classifier Ci whose classification accuracy is below the threshold, the additional learning step S203, which will be described later, is not executed.
追加学習ステップS203は、分類機群101に含まれる全ての分類器C1,C2,…,Cnに学習制御部103が追加学習を行わせるステップである。追加学習ステップS203においては、各分類器Ciが分類処理に用いるモデルの重み係数が、教師データを用いて最適化される。
Additional learning step S203 is a step in which the
以上のように、第2の追加学習フェーズにおいては、各分類器Ciの分類精度が、主分類器C1が物品の状態を分類した結果に基づいて評価される。このため、人が物品の状態を分類する作業を行うことなく、追加学習を実施するべきタイミングを適切に特定することができる。 As described above, in the second additional learning phase, the classification accuracy of each classifier Ci is evaluated based on the result of classification of the article state by the main classifier C1. Therefore, it is possible to appropriately identify the timing at which additional learning should be performed without the need for a person to classify the state of the article.
(変形例)
本実施形態においては、分類器群101の運用を開始した後に第1の追加学習フェーズ(各分類器Ciの分類精度を、該分類器Ciが物品の状態を分類した結果と人が該物品の状態を分類した結果とを比較することによって評価する)と第2の追加学習フェーズ(各分類器Ciの分類精度を、該分類器Ciが物品の状態を分類した結果と主分類器C1が該物品の状態を分類した結果とを比較することによって評価する)とを実施する構成を採用しているが、本発明は、これに限定されない。例えば、分類器群101の運用を開始した後に第1の追加学習フェーズのみを実施する構成を採用してもよいし、分類器群101の運用を開始した後に第2の追加学習フェーズのみを実施する構成を採用してもよい。
(Modification)
In this embodiment, after starting the operation of the
(変形例2)
本実施形態においては、分類器群101が機械学習装置1の内部に含まれている(機械学習装置1と同じコンピュータで実行されている)構成を採用しているが、本発明は、これに限定されない。例えば、分類器群101が機械学習装置1の内部に含まれていない(機械学習装置1と異なるコンピュータで実行される)構成を採用しても構わない。すなわち、分類器群101は、機械学習装置1の必須の構成要素ではない。
(Modification 2)
In this embodiment, the
〔第2の実施形態〕
(検査装置2の機能的構成)
本発明の第2の実施形態に係る検査装置2の機能的構成について、図4を参照して説明する。図4は、検査装置2の機能的構成を示すブロック図である。なお、検査装置2の物理的構成は、図1に示す機械学習装置1の物理的構成と同様である。このため、検査装置2の物理的構成については、詳細な説明を省略する。
[Second embodiment]
(Functional configuration of inspection device 2)
A functional configuration of an
検査装置2は、グループ(例えばロット)に分けられた複数の物品の検査を行うための装置であり、図4に示すように、機械学習装置1を含む。すなわち、検査装置2は、分類器群101と、評価部102と、学習制御部103と、を備えている。なお、検査対象とする複数の物品は、予めグループに分けされていてもよいし、予め定められた複数の時間帯の各々において検査した物品をそれぞれひとつのグループとしてもよい(例えば、第1の時間帯において検査した物品を第1のグループとし、第1の時間帯に続く第2の時間帯において検査した物品を第2のグループとするなど)。
The
分類器群101は、各物品を被写体として含む画像を参照して該物品の状態を分類する分類処理を、学習により定められたアルゴリズムに従い実行する複数の分類器C1,C2,…,Cnからなる。評価部102は、分類器群101に含まれる各分類器Ciの分類精度をグループ毎に評価する評価処理を実行する。学習制御部103は、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が予め定められた基準に達しない場合、次のグループに属する物品の検査を行う前に、分類器群101に含まれる、上記少なくとも1つの分類器Ci以外の分類器Cjに追加学習(又は再学習)を行わせる。例えば、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が予め定められた基準に達しない場合、次のロットに属する物品の検査を行う前に、分類器群101に含まれる全ての分類器C1,C2,…,Cnに追加学習(又は再学習)を行わせる。なお、分類器群101、評価部102、及び学習制御部103の機能の詳細は、第1の実施形態において説明した通りである。なお、検査装置2における機械学習方法の流れは、図3を参照して説明した機械学習装置1における機械学習方法S1,S2の流れと同様である。
The
(実施例1)
検査装置2の実施例について、図5及び図6を参照して説明する。
(Example 1)
An embodiment of the
図5は、半導体レーザの製造プロセスの流れを示す模式図である。 FIG. 5 is a schematic diagram showing the flow of the manufacturing process of the semiconductor laser.
半導体レーザの製造プロセスは、図5の上段に示すように、結晶成長プロセス、電極プロセス、素子化プロセスにより構成される。半導体レーザの製造プロセスにおいては、結晶成長プロセスにおいて形成されたウエハの外観検査が行われる。 As shown in the upper part of FIG. 5, the manufacturing process of a semiconductor laser consists of a crystal growth process, an electrode process, and a device forming process. In a semiconductor laser manufacturing process, a wafer formed in a crystal growth process is visually inspected.
ウエハの外観検査は、図5の下段に示すように、(1)ウエハの一部を撮像する撮像工程と、(2)撮像工程にて得られた画像から各LDチップに対応する部分画像を切り出す切出工程と、(3)切出工程にて得られた部分画像(LDチップを被写体として含む画像)に基づいてLDチップの状態を分類する分類工程と、を含んでいる。 As shown in the lower part of FIG. 5, the appearance inspection of the wafer consists of (1) an imaging process for imaging a part of the wafer, and (2) a partial image corresponding to each LD chip from the image obtained in the imaging process. and (3) a classification step of classifying the state of the LD chip based on the partial image (image including the LD chip as an object) obtained in the cutting step.
本実施例に係る検査装置2は、3つの分類器C1,C2,C3からなる分類器群101を用いてこの分類工程を実施する。各分類器Ciは、LDチップを被写体として含む部分画像に基づいて、該LDチップの状態を下記の7状態の何れかに分類する。状態が状態1~3の何れかに分類されたLDチップは、良品と見做され、状態が状態4~7の何れかに分類されたLDチップは、不良品と見做さる。
The
状態1:欠陥なし、
状態2:チップ上に形成されたストライプの内部に薄い点欠陥がある、
状態3:上記ストライプ上に欠陥がある、
状態4:上記ストライプの内部に濃い点欠陥がある、
状態5:上記ストライプの内部に点欠陥以外の欠陥がある、
状態6:上記ストライプの外部に何らかの欠陥がある、
状態7:チップ上に粒子状異物が存在する。
State 1: no defects,
Condition 2: There is a thin point defect inside the stripes formed on the chip.
State 3: there is a defect on the stripe,
State 4: There is a dark point defect inside the stripe,
State 5: there is a defect other than a point defect inside the stripe,
State 6: there is some defect outside the stripe,
State 7: Particulate foreign matter is present on the chip.
図6は、分類器群101に含まれる各分類器Ciの分類精度をグループ毎に示した箱髭図である。本実施例においては、グループ5に対する検査において、分類器C2の分類精度が閾値98%を下回り、グループ9に対する検査において、分類器C3の分類精度が閾値98%を下回っている。このため、本実施例では、グループ6及びグループ10に対する検査を開始する前に、3つの分類器C1,C2,C3の追加学習が実施される。なお、図6においては、分類器群101に含まれる少なくとも1つの分類器Ciの分類精度が閾値を下回ることを、「予兆」と表現している。また、図6においては、分類器群101に含まれる3つの分類器C1,C2,C3の追加学習を実施することを、「打ち手」と表現している。
FIG. 6 is a box and whisker diagram showing the classification accuracy of each classifier Ci included in the
〔付記事項〕
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
[Additional notes]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be modified in various ways within the scope of the claims, and can be obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. is also included in the technical scope of the present invention.
1 機械学習装置
2 検査装置
10 バス
11 主メモリ
12 プロセッサ
13 補助メモリ
14 入出力インターフェース
20 入力装置
30 出力装置
101 分類器群
102 評価部
103 学習制御部
C1、C2、C3、Ci、Cj 分類器
1
Claims (9)
上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度をグループ毎に評価する評価部と、
上記分類器群に含まれる少なくとも1つの分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記分類器群に含まれる、上記少なくとも1つの分類器以外の分類器に追加学習を行わせる学習制御部と、を備えている、
ことを特徴とする機械学習装置。 A machine learning device for performing machine learning on a classifier group consisting of a plurality of classifiers for classifying the state of an article belonging to each of a plurality of groups with reference to an image containing the article as a subject,
an evaluation unit that evaluates the classification accuracy of each classifier included in the classifier group for each group;
If the classification accuracy of at least one classifier included in the classifier group does not reach a predetermined standard, before the classifier group performs classification processing for articles belonging to the next group, the classifier group a learning control unit that causes a classifier other than the at least one classifier to perform additional learning,
A machine learning device characterized by:
ことを特徴とする請求項1に記載の機械学習装置。 The evaluation unit determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group, the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier, and the classification accuracy of each classifier included in the classifier group. evaluated by comparing the classification results obtained by
2. The machine learning device according to claim 1, wherein:
上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、上記主分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価する、
ことを特徴とする請求項1に記載の機械学習装置。 Among the plurality of classifiers, the classifier with the highest classification accuracy achieved in the initial learning phase is used as the main classifier,
The evaluation unit determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group, the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier, and the classification result obtained by classifying the state of each article by the main classifier. Evaluate by comparing the classification result obtained by classifying,
2. The machine learning device according to claim 1, wherein:
第1の追加学習フェーズにおいて、
上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、人が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価し、
上記第1の追加学習フェーズに後続する第2の追加学習フェーズにおいて、
上記評価部は、上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度を、該分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、上記主分類器が各物品の状態を分類することにより得られた分類結果と、を比較することによって評価する、
ことを特徴とする請求項1に記載の機械学習装置。 Among the plurality of classifiers, the classifier with the highest classification accuracy achieved in the initial learning phase is used as the main classifier,
In the first additional learning phase,
The evaluation unit determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group, the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier, and the classification accuracy of each classifier included in the classifier group. evaluated by comparing the classification results obtained by
In a second additional learning phase following the first additional learning phase,
The evaluation unit determines the classification accuracy of each classifier included in the classifier group, the classification result obtained by classifying the state of each article by the classifier, and the classification result obtained by classifying the state of each article by the main classifier. Evaluate by comparing the classification result obtained by classifying,
2. The machine learning device according to claim 1, wherein:
ことを特徴とする請求項3又は4に記載の機械学習装置。 When the classification accuracy of classifiers other than the main classifier included in the classifier does not reach a predetermined standard, the learning control unit performs classification processing for articles belonging to the next group of the classifier group. before performing additional learning on the main classifier,
5. The machine learning device according to claim 3, wherein:
ことを特徴とする請求項1~5の何れか1項に記載の機械学習装置。 When the classification accuracy of at least one classifier included in the classifier group does not reach a predetermined standard, the learning control unit performs classification processing on articles belonging to the next group of the classifier group. , causes all classifiers included in the classifier group to perform additional learning,
6. The machine learning device according to any one of claims 1 to 5, characterized by:
上記分類器群に含まれる各分類器の分類精度をグループ毎に評価する評価ステップと、
上記分類器群に含まれる少なくとも1つの分類器の分類精度が予め定められた基準に達しない場合、上記分類器群が次のグループに属する物品に対する分類処理を実行する前に、上記分類器群に含まれる、上記少なくとも1つの分類器以外の分類器に追加学習を行わせる学習制御ステップと、を含んでいる、
ことを特徴とする機械学習方法。 A machine learning method for performing machine learning on a classifier group consisting of a plurality of classifiers for classifying the state of an article belonging to each of a plurality of groups with reference to an image containing the article as a subject, the method comprising:
an evaluation step of evaluating the classification accuracy of each classifier included in the classifier group for each group;
If the classification accuracy of at least one classifier included in the classifier group does not reach a predetermined standard, before the classifier group performs classification processing for articles belonging to the next group, the classifier group and a learning control step of causing a classifier other than the at least one classifier to perform additional learning,
A machine learning method characterized by:
ことを特徴とする検査装置。 Equipped with the machine learning device according to any one of claims 1 to 6 and the classifier group, and inspecting a plurality of items divided into lots using the classifier group,
An inspection device characterized by:
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020183876A (en) * | 2019-04-26 | 2020-11-12 | 株式会社前川製作所 | Feature point recognition system and workpiece processing system |
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WO2022185432A1 (en) * | 2021-03-03 | 2022-09-09 | Heroz株式会社 | Image recognition learning system, image recognition learning method, image recognition learning program, image recognition machine learning unit, and image recognition system |
JP7453931B2 (en) | 2021-03-12 | 2024-03-21 | 株式会社豊田中央研究所 | Learning data generation device, anomaly detection device, anomaly detection system, and anomaly detection program |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170024641A1 (en) | 2015-07-22 | 2017-01-26 | Qualcomm Incorporated | Transfer learning in neural networks |
JP2017054331A (en) | 2015-09-10 | 2017-03-16 | 株式会社Screenホールディングス | Image sorting method, method for configuring sorter, and image sorting device |
JP2017062677A (en) | 2015-09-25 | 2017-03-30 | 株式会社Screenホールディングス | Sorter construction method, image sorting method, sorter construction device and image sorting device |
JP2017111733A (en) | 2015-12-18 | 2017-06-22 | ヤフー株式会社 | Learning device, learning method, and learning program |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ATE450834T1 (en) | 2001-01-23 | 2009-12-15 | Health Discovery Corp | COMPUTER-ASSISTED IMAGE ANALYSIS |
JP4553300B2 (en) | 2004-09-30 | 2010-09-29 | Kddi株式会社 | Content identification device |
JP4849596B2 (en) | 2005-12-08 | 2012-01-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | Question answering apparatus, question answering method, and question answering program |
JP5075083B2 (en) | 2008-10-08 | 2012-11-14 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Teacher data creation support method, image classification method, and image classification apparatus |
JP5660273B2 (en) | 2010-01-04 | 2015-01-28 | 日本電気株式会社 | Image diagnosis method, image diagnosis apparatus, and image diagnosis program |
JP5715873B2 (en) | 2011-04-20 | 2015-05-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Defect classification method and defect classification system |
JP6277818B2 (en) | 2014-03-26 | 2018-02-14 | 日本電気株式会社 | Machine learning apparatus, machine learning method, and program |
JP6401648B2 (en) | 2015-03-31 | 2018-10-10 | 株式会社Screenホールディングス | Defect classification apparatus and defect classification method |
JP6531036B2 (en) | 2015-12-08 | 2019-06-12 | 株式会社Screenホールディングス | Teacher data creation support method, image classification method, teacher data creation support device and image classification device |
JP6333871B2 (en) | 2016-02-25 | 2018-05-30 | ファナック株式会社 | Image processing apparatus for displaying an object detected from an input image |
US11580398B2 (en) | 2016-10-14 | 2023-02-14 | KLA-Tenor Corp. | Diagnostic systems and methods for deep learning models configured for semiconductor applications |
JP6832155B2 (en) | 2016-12-28 | 2021-02-24 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | Image processing equipment, image processing method, and image processing system |
JP6387477B1 (en) | 2017-06-23 | 2018-09-05 | 株式会社Rist | Inspection device, inspection method, and inspection program |
JP7036401B2 (en) | 2018-04-27 | 2022-03-15 | Awl株式会社 | Learning server, image collection support system for insufficient learning, and image estimation program for insufficient learning |
-
2019
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170024641A1 (en) | 2015-07-22 | 2017-01-26 | Qualcomm Incorporated | Transfer learning in neural networks |
JP2017054331A (en) | 2015-09-10 | 2017-03-16 | 株式会社Screenホールディングス | Image sorting method, method for configuring sorter, and image sorting device |
JP2017062677A (en) | 2015-09-25 | 2017-03-30 | 株式会社Screenホールディングス | Sorter construction method, image sorting method, sorter construction device and image sorting device |
JP2017111733A (en) | 2015-12-18 | 2017-06-22 | ヤフー株式会社 | Learning device, learning method, and learning program |
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