JP7130406B2 - Image processing device, X-ray diagnostic device and image processing program - Google Patents

Image processing device, X-ray diagnostic device and image processing program Download PDF

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Description

本発明の実施形態は、画像処理装置、X線診断装置及び画像処理プログラムに関する。 TECHNICAL FIELD Embodiments of the present invention relate to an image processing apparatus, an X-ray diagnostic apparatus, and an image processing program.

従来、X線診断装置を用いた検査では、被検体の広い領域を俯瞰的に観察しつつ、関心部位を高解像度で観察する場合がある。近年、このような検査に用いられるX線診断装置として、例えば、大視野部を持つ第1の検出器と、第1の検出器より小視野で且つ高解像度である(ピクセルピッチが細かい)第2の検出器とを併せ持つX線検出器を備えたX線診断装置が知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in an examination using an X-ray diagnostic apparatus, there are cases where a region of interest is observed with high resolution while observing a wide area of a subject from a bird's-eye view. In recent years, as an X-ray diagnostic apparatus used for such examination, for example, a first detector having a large field of view and a smaller field of view and higher resolution than the first detector (fine pixel pitch) An X-ray diagnostic apparatus is known that has an X-ray detector that also has two detectors.

このようなX線診断装置においては、例えば、用途に応じて第1の検出器と第2の検出器とを切り替えて使用し、第1の検出器により出力された信号に基づくX線画像と、第2の検出器により出力された信号に基づくX線画像のうち一方を表示させる。また、このようなX線診断装置においては、各X線画像をオーバーラップして表示させることもできる。このような画像表示によって、ステント留置やコイル塞栓などの難しい手技の精度向上が期待される。 In such an X-ray diagnostic apparatus, for example, the first detector and the second detector are switched and used depending on the application, and the X-ray image based on the signal output by the first detector and the , to display one of the X-ray images based on the signals output by the second detector. Moreover, in such an X-ray diagnostic apparatus, each X-ray image can be displayed in an overlapping manner. Such image display is expected to improve the accuracy of difficult procedures such as stent placement and coil embolization.

特開2016-097296号公報JP 2016-097296 A

本発明が解決しようとする課題は、高精細な画像を表示させつつ、被曝量の増大を抑止することである。 A problem to be solved by the present invention is to suppress an increase in exposure dose while displaying a high-definition image.

実施形態の画像処理装置は、取得部と、生成部と、処理部とを備える。取得部は、被検体がX線により撮像された第1のX線画像を順次取得する。生成部は、前記第1のX線画像よりも前の時点において前記第1のX線画像よりも高いX線量により撮像された第2のX線画像と、前記第1のX線画像とを合成した合成画像を、前記第1のX線画像の取得と並行して生成する。処理部は、前記第1のX線画像の時間変化に基づいて、前記合成画像における、少なくとも前記第2のX線画像に対応する画素の位置に前記第1のX線画像に基づく画素値の情報を反映させる。 An image processing apparatus according to an embodiment includes an acquisition unit, a generation unit, and a processing unit. The acquisition unit sequentially acquires first X-ray images obtained by imaging a subject using X-rays. The generation unit generates a second X-ray image captured with a higher X-ray dose than the first X-ray image at a time before the first X-ray image, and the first X-ray image. A combined composite image is generated in parallel with the acquisition of the first X-ray image. The processing unit adds pixel values based on the first X-ray image to positions of pixels corresponding to at least the second X-ray image in the combined image, based on temporal changes in the first X-ray image. Reflect information.

図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置の構成の一例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of an X-ray diagnostic apparatus according to the first embodiment. 図2Aは、第1の実施形態に係るX線検出器の構成の一例を示す図である。2A is a diagram illustrating an example of the configuration of an X-ray detector according to the first embodiment; FIG. 図2Bは、第1の実施形態に係るX線検出器の構成の一例を示す図である。2B is a diagram illustrating an example of the configuration of the X-ray detector according to the first embodiment; FIG. 図3は、第1の実施形態に係る生成機能による処理の一例を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining an example of processing by a generation function according to the first embodiment; 図4は、第1の実施形態に係る生成機能による処理の一例を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining an example of processing by a generation function according to the first embodiment; 図5は、第1の実施形態に係る画像処理機能による処理の一例を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining an example of processing by the image processing function according to the first embodiment; 図6は、第1の実施形態に係るX線診断装置の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flow chart showing the processing procedure of the X-ray diagnostic apparatus according to the first embodiment. 図7は、第2の実施形態に係る処理回路の処理の一例を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining an example of processing by a processing circuit according to the second embodiment; 図8は、第2の実施形態に係るX線診断装置の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flow chart showing the processing procedure of the X-ray diagnostic apparatus according to the second embodiment. 図9は、第2の実施形態に係るX線診断装置の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flow chart showing the processing procedure of the X-ray diagnostic apparatus according to the second embodiment. 図10は、第3の実施形態に係る合成画像の一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an example of a synthesized image according to the third embodiment. 図11は、第3の実施形態に係るX線検出器の構成の一例を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the configuration of an X-ray detector according to the third embodiment; 図12は、第3の実施形態に係る画像処理装置の構成の一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating an example configuration of an image processing apparatus according to the third embodiment.

以下、添付図面を参照して、画像処理装置、X線診断装置及び画像処理プログラムの実施形態を詳細に説明する。なお、本願に係る画像処理装置、X線診断装置及び画像処理プログラムは、以下に示す実施形態に限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of an image processing apparatus, an X-ray diagnostic apparatus, and an image processing program will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the image processing apparatus, X-ray diagnostic apparatus, and image processing program according to the present application are not limited to the embodiments described below.

(第1の実施形態)
まず、第1の実施形態に係るX線診断装置の全体構成について説明する。図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置100の構成の一例を示す図である。図1に示すように、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、X線高電圧装置11と、X線管12と、X線絞り13と、天板14と、Cアーム15と、X線検出器16と、Cアーム回転・移動機構17と、天板移動機構18と、Cアーム・天板機構制御回路19と、絞り制御回路20と、処理回路21と、入力インターフェース22と、ディスプレイ23と、画像データ生成回路24と、記憶回路25とを有する。
(First embodiment)
First, the overall configuration of the X-ray diagnostic apparatus according to the first embodiment will be described. FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of an X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, an X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment includes an X-ray high voltage device 11, an X-ray tube 12, an X-ray diaphragm 13, a top plate 14, and a C-arm 15. , an X-ray detector 16, a C-arm rotation/movement mechanism 17, a top plate movement mechanism 18, a C-arm/top plate mechanism control circuit 19, an aperture control circuit 20, a processing circuit 21, and an input interface 22. , a display 23 , an image data generation circuit 24 and a storage circuit 25 .

図1に示すX線診断装置100においては、各処理機能がコンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路25へ記憶されている。Cアーム・天板機構制御回路19、絞り制御回路20、処理回路21、及び、画像データ生成回路24は、記憶回路25からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の各回路は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。 In the X-ray diagnostic apparatus 100 shown in FIG. 1, each processing function is stored in the storage circuit 25 in the form of a computer-executable program. The C-arm/top plate mechanism control circuit 19, the diaphragm control circuit 20, the processing circuit 21, and the image data generation circuit 24 are processors that implement functions corresponding to each program by reading and executing programs from the storage circuit 25. is. In other words, each circuit with each program read has a function corresponding to the read program.

X線高電圧装置11は、処理回路21による制御の下、高電圧を発生し、発生した高電圧をX線管12に供給する高電圧電源である。X線管12は、X線高電圧装置11から供給される高電圧を用いて、X線を発生する。 The X-ray high-voltage device 11 is a high-voltage power supply that generates a high voltage under the control of the processing circuit 21 and supplies the generated high voltage to the X-ray tube 12 . The X-ray tube 12 uses a high voltage supplied from the X-ray high voltage device 11 to generate X-rays.

X線絞り13は、絞り制御回路20による制御の下、X線管12が発生したX線を、被検体Pの関心領域に対して選択的に照射されるように絞り込む。例えば、X線絞り13は、スライド可能な4枚の絞り羽根を有する。X線絞り13は、絞り制御回路20による制御の下、これらの絞り羽根をスライドさせることで、開口の形状、サイズ、位置を任意に変化させる。このように、X線絞り13によって開口のサイズ及び位置が調整されることで、X線検出器16の検出面へのX線照射領域のサイズ及び位置が調整される。すなわち、X線管12が発生したX線が、X線絞り13の開口によって絞り込まれ、被検体Pに照射される。なお、X線絞り13の絞り羽根は、例えば、操作者によって設定されたROIのみにX線が照射されるようにスライド移動される。また、X線絞り13は、線質を調整するための付加フィルタを備えることができる。付加フィルタは、例えば、検査に応じて設定される。 The X-ray diaphragm 13 narrows down the X-rays generated by the X-ray tube 12 so that the region of interest of the subject P is selectively irradiated under the control of the diaphragm control circuit 20 . For example, the X-ray diaphragm 13 has four slidable diaphragm blades. The X-ray diaphragm 13 arbitrarily changes the shape, size, and position of the aperture by sliding these diaphragm blades under the control of the diaphragm control circuit 20 . By adjusting the size and position of the aperture with the X-ray diaphragm 13 in this manner, the size and position of the X-ray irradiation area on the detection surface of the X-ray detector 16 are adjusted. That is, the X-rays generated by the X-ray tube 12 are focused by the opening of the X-ray diaphragm 13 and irradiated to the subject P. FIG. The diaphragm blades of the X-ray diaphragm 13 are slid so that, for example, only the ROI set by the operator is irradiated with X-rays. Also, the X-ray diaphragm 13 can be provided with additional filters for adjusting the radiation quality. Additional filters are set, for example, depending on the inspection.

天板14は、被検体Pを載せるベッドであり、図示しない寝台装置の上に配置される。なお、被検体Pは、X線診断装置100に含まれない。 The top plate 14 is a bed on which the subject P is placed, and is placed on a bed device (not shown). Note that the subject P is not included in the X-ray diagnostic apparatus 100 .

X線検出器16は、被検体Pを透過したX線を検出する。例えば、X線検出器16は、マトリックス状に配列された検出素子を有する。各検出素子は、被検体Pを透過したX線を電気信号に変換して蓄積し、蓄積した電気信号を画像データ生成回路24に送信する。ここで、本実施形態に係るX線検出器16は、画素ピッチの異なる2つの検出器を有する。図2A及び図2Bは、第1の実施形態に係るX線検出器16の構成の一例を示す図である。ここで、図2Aは、X線検出器16の縦断面図を示す。また、図2Bは、X線検出器16の上面図を示す。 The X-ray detector 16 detects X-rays that have passed through the subject P. FIG. For example, the X-ray detector 16 has detection elements arranged in a matrix. Each detection element converts the X-rays that have passed through the subject P into an electric signal, accumulates the electric signal, and transmits the accumulated electric signal to the image data generation circuit 24 . Here, the X-ray detector 16 according to this embodiment has two detectors with different pixel pitches. 2A and 2B are diagrams showing an example of the configuration of the X-ray detector 16 according to the first embodiment. Here, FIG. 2A shows a longitudinal sectional view of the X-ray detector 16. FIG. 2B also shows a top view of the X-ray detector 16. FIG.

例えば、X線検出器16は、図2Aに示すように、第1の光検出器16aと、第2の光検出器16bと、シンチレータ16cとを有する。第1の光検出器16aとシンチレータ16cとにより第1の検出器が構成され、第2の光検出器16bとシンチレータ16cとにより第2の検出器が構成される。 For example, the X-ray detector 16 has a first photodetector 16a, a second photodetector 16b, and a scintillator 16c, as shown in FIG. 2A. A first detector is composed of the first photodetector 16a and the scintillator 16c, and a second detector is composed of the second photodetector 16b and the scintillator 16c.

シンチレータ16cは、X線管12から照射されたX線を光に変換する。第1の光検出器16aは、例えば、アモルファスシリコンにより形成されたTFT(Thin Film Transistor)アレイを採用した2次元のイメージセンサを備え、シンチレータ16cによって変換された光を検出して電気信号を出力する。第2の光検出器16bは、例えば、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)トランジスタを採用した2次元のイメージセンサを備え、シンチレータ16cによって変換された光を検出して電気信号を出力する。なお、以下では、第1の光検出器16aによって出力される電気信号を第1の電気信号と呼び、第2の光検出器16bによって出力される電気信号を第2の電気信号と呼ぶ。 The scintillator 16c converts the X-rays emitted from the X-ray tube 12 into light. The first photodetector 16a includes, for example, a two-dimensional image sensor employing a TFT (Thin Film Transistor) array made of amorphous silicon, detects light converted by the scintillator 16c, and outputs an electrical signal. do. The second photodetector 16b includes, for example, a two-dimensional image sensor employing a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) transistor, detects light converted by the scintillator 16c, and outputs an electrical signal. The electrical signal output by the first photodetector 16a is hereinafter referred to as the first electrical signal, and the electrical signal output by the second photodetector 16b is referred to as the second electrical signal.

このように、シンチレータ16cは、第1の光検出器16aと第2の光検出器16bとで共有される。言い換えると、X線検出器16は、X線管12から照射されたX線を光に変換するシンチレータ16cと、シンチレータ16cを共有し、シンチレータ16cによって変換された光を検出して電気信号を出力する第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bとを有する。そして、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bは、シンチレータ16cで変換された光を同時に検出した電気信号をそれぞれ出力する。なお、X線診断装置100においては、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bのうち、どちらか一方からのみ電気信号を出力するように制御することもできる。 Thus, the scintillator 16c is shared by the first photodetector 16a and the second photodetector 16b. In other words, the X-ray detector 16 shares the scintillator 16c that converts the X-rays emitted from the X-ray tube 12 into light, and detects the light converted by the scintillator 16c to output an electrical signal. It has a first photodetector 16a and a second photodetector 16b. Then, the first photodetector 16a and the second photodetector 16b output electric signals simultaneously detecting the light converted by the scintillator 16c. Note that the X-ray diagnostic apparatus 100 can also be controlled to output electrical signals from only one of the first photodetector 16a and the second photodetector 16b.

また、図2Aに示すように、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bは、画素の構成単位となる素子を複数有する。この素子それぞれは、X線入射によって得られた蛍光像を電気信号に変換してフォトダイオード(PD:Photo Diode)に蓄積する。図2Aの例では、第1の光検出器16aが1列に8つの素子を有し、第2の光検出器16bが1列に8つの素子を有する場合を図示している。 Also, as shown in FIG. 2A, the first photodetector 16a and the second photodetector 16b each have a plurality of elements that constitute a pixel unit. Each of these elements converts a fluorescent image obtained by incident X-rays into an electrical signal and accumulates it in a photodiode (PD). The example of FIG. 2A illustrates the case where the first photodetector 16a has eight elements in one row and the second photodetector 16b has eight elements in one row.

ここで、第2の光検出器16bの各素子の画素ピッチは、第1の光検出器16aの各素子の画素ピッチよりも細かい。図2Aに示す例では、第1の光検出器16aの各素子の画素ピッチは、第2の光検出器16bの素子2つ分の画素ピッチに相当する。すなわち、X線検出器16のXY平面においては、第1の光検出器16aの1つの素子が、第2の光検出器16bの4つの素子に相当する。したがって、第2の光検出器16bは、第1の光検出器16aと比較して、解像度が高い。 Here, the pixel pitch of each element of the second photodetector 16b is finer than the pixel pitch of each element of the first photodetector 16a. In the example shown in FIG. 2A, the pixel pitch of each element of the first photodetector 16a corresponds to the pixel pitch of two elements of the second photodetector 16b. That is, in the XY plane of the X-ray detector 16, one element of the first photodetector 16a corresponds to four elements of the second photodetector 16b. Therefore, the second photodetector 16b has higher resolution than the first photodetector 16a.

また、図2Bに示すように、第1の光検出器16aは、第2の光検出器16bよりも視野サイズが広い。すなわち、図2Bに示すように、第2の光検出器16bは、第1の光検出器16aにおける一部の検出領域と重複するサイズである。したがって、第2の光検出器16bは、第1の光検出器16aと重複する領域における高解像度のX線画像データを収集する。ここで、X線診断装置100においては、X線絞り13が4枚の絞り羽根を有し、絞り制御回路20による制御の下、これらの絞り羽根をスライド可能に構成することもできる。かかる場合には、例えば、X線診断装置100は、図2Bに示すように、X線絞り13が絞り羽根13a~13dを有する。 Also, as shown in FIG. 2B, the first photodetector 16a has a wider field of view than the second photodetector 16b. That is, as shown in FIG. 2B, the second photodetector 16b has a size that partially overlaps the detection area of the first photodetector 16a. Accordingly, the second photodetector 16b collects high-resolution X-ray image data in the overlapping region with the first photodetector 16a. Here, in the X-ray diagnostic apparatus 100, the X-ray diaphragm 13 has four diaphragm blades, and under the control of the diaphragm control circuit 20, these diaphragm blades can be configured to be slidable. In such a case, for example, in the X-ray diagnostic apparatus 100, the X-ray diaphragm 13 has diaphragm blades 13a to 13d, as shown in FIG. 2B.

絞り羽根13aは、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bの1辺に平行に配置され、両矢印51の方向にスライドされることにより、X線の照射領域を調整する。また、絞り羽根13bは、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bの1辺に平行、かつ、絞り羽根13aと平行に配置され、両矢印52の方向にスライドされることにより、X線の照射領域を調整する。また、絞り羽根13cは、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bの1辺に平行、かつ、絞り羽根13a及び絞り羽根13bと直交する方向に配置され、両矢印53の方向にスライドされることにより、X線の照射領域を調整する。また、絞り羽根13dは、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bの1辺に平行、かつ、絞り羽根13cと平行に配置され、両矢印54の方向にスライドされることにより、X線の照射領域を調整する。 The aperture blade 13a is arranged parallel to one side of the first photodetector 16a and the second photodetector 16b, and is slid in the direction of the double arrow 51 to adjust the X-ray irradiation area. Further, the aperture blade 13b is arranged parallel to one side of the first photodetector 16a and the second photodetector 16b and parallel to the aperture blade 13a, and is slid in the direction of the double arrow 52. , to adjust the X-ray irradiation area. In addition, the aperture blade 13c is arranged in a direction parallel to one side of the first photodetector 16a and the second photodetector 16b and perpendicular to the aperture blade 13a and the aperture blade 13b. is slid to adjust the X-ray irradiation area. Further, the aperture blade 13d is arranged parallel to one side of the first photodetector 16a and the second photodetector 16b and parallel to the aperture blade 13c, and is slid in the direction of the double arrow 54. , to adjust the X-ray irradiation area.

図1に戻って、Cアーム15は、X線管12、X線絞り13及びX線検出器16を保持する。Cアーム15は、支持器に設けられたモータなどのアクチュエータにより、複数の軸で個別に回転する。 Returning to FIG. 1 , C-arm 15 holds X-ray tube 12 , X-ray diaphragm 13 and X-ray detector 16 . The C-arms 15 are individually rotated on a plurality of axes by actuators such as motors provided on the supports.

Cアーム回転・移動機構17は、支持器に設けられたモータなどを駆動することによって、Cアーム15を回転及び移動させるための機構である。天板移動機構18は、天板14を移動させるための機構である。例えば、天板移動機構18は、アクチュエータが発生させた動力を用いて、天板14を移動させる。 The C-arm rotating/moving mechanism 17 is a mechanism for rotating and moving the C-arm 15 by driving a motor or the like provided on the support. The top plate moving mechanism 18 is a mechanism for moving the top plate 14 . For example, the tabletop moving mechanism 18 moves the tabletop 14 using power generated by an actuator.

Cアーム・天板機構制御回路19は、処理回路21による制御の下、Cアーム回転・移動機構17及び天板移動機構18を制御することで、Cアーム15の回転や移動、天板14の移動を調整する。絞り制御回路20は、処理回路21による制御の下、X線絞り13が有する絞り羽根の開度を調整することで開口の形状、サイズ、位置を変化させ、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。 The C-arm/top plate mechanism control circuit 19 controls the C-arm rotating/moving mechanism 17 and the top plate moving mechanism 18 under the control of the processing circuit 21, thereby rotating and moving the C-arm 15 and moving the top plate 14. Adjust movement. Under the control of the processing circuit 21, the aperture control circuit 20 adjusts the opening degree of the aperture blades of the X-ray aperture 13 to change the shape, size, and position of the aperture, and irradiate the subject P. Controls the irradiation range of X-rays.

画像データ生成回路24は、X線検出器16によってX線から変換された電気信号を用いて投影データを生成し、生成した投影データを記憶回路25に格納する。具体的には、画像データ生成回路24は、第1の光検出器16aによって出力された第1の電気信号から第1の投影データを生成し、第2の光検出器16bによって出力された第2の電気信号から第2の投影データを生成し、生成した各投影データを記憶回路25に格納する。例えば、画像データ生成回路24は、X線検出器16から受信した第1の電気信号及び第2の電気信号に対して、電流・電圧変換やA(Analog)/D(Digital)変換、パラレル・シリアル変換をそれぞれ行い、第1の電気信号に基づく第1の投影データと第2の電気信号に基づく第2の投影データをそれぞれ生成する。そして、画像データ生成回路24は、生成した第1の投影データ及び第2の投影データを記憶回路25に格納する。 The image data generation circuit 24 generates projection data using the electrical signals converted from the X-rays by the X-ray detector 16 and stores the generated projection data in the storage circuit 25 . Specifically, the image data generation circuit 24 generates the first projection data from the first electrical signal output by the first photodetector 16a, and the second projection data output by the second photodetector 16b. Second projection data is generated from the two electric signals, and each generated projection data is stored in the storage circuit 25 . For example, the image data generation circuit 24 converts the first electric signal and the second electric signal received from the X-ray detector 16 into current/voltage conversion, A (Analog)/D (Digital) conversion, parallel/ A serial conversion is respectively performed to generate first projection data based on the first electrical signal and second projection data based on the second electrical signal, respectively. The image data generation circuit 24 then stores the generated first projection data and second projection data in the storage circuit 25 .

記憶回路25は、画像データ生成回路24によって生成された投影データを受け付けて記憶する。例えば、記憶回路25は、第1の電気信号に基づく第1の投影データと第2の電気信号に基づく第2の投影データをそれぞれ記憶する。また、記憶回路25は、処理回路21によって生成されたX線画像や、ボリュームデータ、合成画像を記憶する。なお、合成画像の詳細については後述する。 The storage circuit 25 receives and stores the projection data generated by the image data generation circuit 24 . For example, the storage circuit 25 stores first projection data based on the first electrical signal and second projection data based on the second electrical signal. The storage circuit 25 also stores the X-ray image generated by the processing circuit 21, the volume data, and the synthesized image. Details of the composite image will be described later.

また、記憶回路25は、図1に示す各回路によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。一例を挙げると、記憶回路25は、処理回路21によって読み出されて実行される制御機能211に対応するプログラム、生成機能212に対応するプログラム及び画像処理機能213に対応するプログラムを記憶する。なお、図1においては単一の記憶回路25が各処理機能に対応するプログラムを記憶するものとして説明したが、複数の記憶回路が分散して配置され、処理回路21などの各種回路が個別の記憶回路から対応するプログラムを読み出す構成としても構わない。 The storage circuit 25 also stores programs corresponding to various functions read and executed by each circuit shown in FIG. For example, the storage circuit 25 stores a program corresponding to the control function 211, a program corresponding to the generation function 212, and a program corresponding to the image processing function 213, which are read and executed by the processing circuit 21. FIG. In FIG. 1, the single storage circuit 25 stores the programs corresponding to each processing function, but a plurality of storage circuits are distributed and various circuits such as the processing circuit 21 are individually stored. A configuration in which the corresponding program is read from the storage circuit may be used.

入力インターフェース22は、所定の領域(例えば、部分透視におけるROI)などの設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、及び音声入力回路等や、X線の照射などを行うためのフットスイッチ等によって実現される。 The input interface 22 includes a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, a touch pad for performing input operations by touching the operation surface, and a display screen for setting a predetermined area (for example, ROI in partial perspective). It is realized by a touch screen integrated with a touch pad, a non-contact input circuit using an optical sensor, an audio input circuit, a foot switch for X-ray irradiation, and the like.

入力インターフェース22は、処理回路21に接続されており、操作者から受け付けた入力操作を電気信号へ変換し処理回路21へと出力する。なお、本明細書において入力インターフェース22は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路へ出力する処理回路も入力インターフェースの例に含まれる。 The input interface 22 is connected to the processing circuit 21 , converts an input operation received from an operator into an electric signal, and outputs the electric signal to the processing circuit 21 . In this specification, the input interface 22 is not limited to having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an example of an input interface includes a processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the device and outputs this electrical signal to a control circuit.

ディスプレイ23は、操作者の指示を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)や、処理回路21によって生成された種々の画像を表示する。また、ディスプレイ23は、処理回路21による種々の処理結果を表示する。 The display 23 displays a GUI (Graphical User Interface) for receiving instructions from the operator and various images generated by the processing circuit 21 . Also, the display 23 displays various processing results by the processing circuit 21 .

処理回路21は、制御機能211、生成機能212及び画像処理機能213を実行することで、X線診断装置100全体の動作を制御する。具体的には、処理回路21は、装置全体を制御するための制御機能211に対応するプログラムを記憶回路25から読み出して実行することにより、種々の処理を実行する。例えば、制御機能211は、入力インターフェース22から転送された操作者の指示に従ってX線高電圧装置11を制御し、X線管12に供給する電圧を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線量やON/OFFを制御する。また、例えば、制御機能211は、操作者の指示に従ってCアーム・天板機構制御回路19を制御し、Cアーム15の回転や移動、天板14の移動を調整する。 The processing circuit 21 controls the overall operation of the X-ray diagnostic apparatus 100 by executing a control function 211 , a generation function 212 and an image processing function 213 . Specifically, the processing circuit 21 performs various processes by reading out from the storage circuit 25 and executing a program corresponding to the control function 211 for controlling the entire apparatus. For example, the control function 211 controls the X-ray high-voltage device 11 according to an operator's instruction transferred from the input interface 22, adjusts the voltage supplied to the X-ray tube 12, and irradiates the subject P. control the amount of X-rays applied and ON/OFF. Further, for example, the control function 211 controls the C-arm/top plate mechanism control circuit 19 according to the operator's instructions, and adjusts the rotation and movement of the C-arm 15 and the movement of the top plate 14 .

また、例えば、制御機能211は、操作者の指示に従って絞り制御回路20を制御し、X線絞り13が有する絞り羽根13a~13dの開度を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。 Further, for example, the control function 211 controls the diaphragm control circuit 20 according to an operator's instruction, and adjusts the opening degrees of the diaphragm blades 13a to 13d of the X-ray diaphragm 13, thereby irradiating the subject P. Controls the irradiation range of X-rays.

また、制御機能211は、操作者の指示に従って、画像データ生成回路24による投影データ生成処理を制御する。また、制御機能211は、投影データに対する画像処理や、解析処理などを制御する。例えば、制御機能211は、記憶回路25が記憶する投影データ(第1の投影データ及び第2の投影データ)に対して各種画像処理を行うことでX線画像を生成する。或いは、制御機能211は、画像データ生成回路24から直接投影データ(第1の投影データ及び第2の投影データ)を取得し、取得した投影データ(第1の投影データ及び第2の投影データ)に対して各種画像処理を行うことでX線画像を生成する。 Further, the control function 211 controls projection data generation processing by the image data generation circuit 24 in accordance with an operator's instruction. The control function 211 also controls image processing, analysis processing, and the like for projection data. For example, the control function 211 generates an X-ray image by performing various image processing on projection data (first projection data and second projection data) stored in the storage circuit 25 . Alternatively, the control function 211 directly acquires the projection data (the first projection data and the second projection data) from the image data generation circuit 24, and the acquired projection data (the first projection data and the second projection data). An X-ray image is generated by performing various image processing on the .

なお、制御機能211は、画像処理後のX線画像を、記憶回路25に格納することも可能である。例えば、制御機能211は、移動平均(平滑化)フィルタ、ガウシアンフィルタ、メディアンフィルタ、リカーシブフィルタ、バンドパスフィルタなどの画像処理フィルタによる各種処理を実行することが可能である。 Note that the control function 211 can also store the processed X-ray image in the storage circuit 25 . For example, the control function 211 can perform various processes using image processing filters such as moving average (smoothing) filters, Gaussian filters, median filters, recursive filters, and bandpass filters.

また、制御機能211は、回転撮影によって収集された投影データ(第1の投影データ及び第2の投影データ)を用いて再構成データ(ボリュームデータ)を再構成して、再構成したボリュームデータを記憶回路25に格納することもできる。さらに、画像処理回路26は、ボリュームデータから3次元画像を生成することも可能である。 In addition, the control function 211 reconstructs reconstruction data (volume data) using the projection data (first projection data and second projection data) acquired by rotational imaging, and generates the reconstructed volume data. It can also be stored in the memory circuit 25 . Furthermore, the image processing circuit 26 can also generate a three-dimensional image from the volume data.

また、制御機能211は、操作者の指示を受け付けるためのGUIや記憶回路25が記憶する画像、処理回路21による処理結果などを、ディスプレイ23に表示するように制御する。 The control function 211 also controls the display 23 to display a GUI for receiving an operator's instruction, an image stored in the storage circuit 25, a processing result by the processing circuit 21, and the like.

生成機能212は、合成画像を生成する。また、画像処理機能213は、合成画像に対する画像処理を実行する。なお、生成機能212及び画像処理機能213については、後に詳述する。ここで、制御機能211は、特許請求の範囲における撮像部の一例である。また、生成機能212は、特許請求の範囲における生成部の一例である。また、画像処理機能213は、特許請求の範囲における処理部の一例である。 A generation function 212 generates a composite image. Also, the image processing function 213 executes image processing on the synthesized image. Note that the generation function 212 and the image processing function 213 will be detailed later. Here, the control function 211 is an example of an imaging unit in the claims. Also, the generation function 212 is an example of a generation unit in the scope of claims. Also, the image processing function 213 is an example of a processing unit in the claims.

以上、X線診断装置100の全体構成について説明した。かかる構成のもと、本実施形態に係るX線診断装置100は、高精細な画像を表示させつつ、被曝量の増大を抑止する。上述したように、X線診断装置100は、高解像度の第2の光検出器16bを備え、より高精細なX線画像を表示することができる。しかしながら、第2の光検出器16bは視野が狭いため、第2の光検出器16bによって検出された第2の投影データに基づくX線画像をディスプレイ上で大きく表示させる場合には、より高い線量で収集されたX線画像が求められることとなる。その結果、高解像度のX線画像を観察しながら手技を行おうとした場合、被検体の被曝量が増大することとなる。 The overall configuration of the X-ray diagnostic apparatus 100 has been described above. With such a configuration, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the present embodiment suppresses an increase in exposure dose while displaying high-definition images. As described above, the X-ray diagnostic apparatus 100 includes the high-resolution second photodetector 16b and can display a higher-definition X-ray image. However, since the second photodetector 16b has a narrow field of view, when the X-ray image based on the second projection data detected by the second photodetector 16b is displayed on a large display, a higher dose is required. X-ray images acquired at are obtained. As a result, when performing a procedure while observing a high-resolution X-ray image, the exposure dose of the subject increases.

そこで、第1の実施形態に係るX線診断装置100では、通常の線量で収集された第1のX線画像と、第1のX線画像よりも高い線量で収集された第2のX線画像とを合成した合成画像に対して画像処理を施すことで、高精細な画像を表示させつつ、被曝量の増大を抑止する。例えば、X線診断装置100においてステント留置やコイル塞栓などの手技が行われる際の画像表示に上記した合成画像を用いることで、高精細な画像を観察しながら手技を行うことができ、かつ、被曝量の増大を抑止することができる。ここで、本実施形態における第1のX線画像とは、手技を実施する際の通常の線量で収集された画像であり、例えば、第1の光検出器16aによって収集される透視画像等である。また、本実施形態における第2のX線画像とは、第1のX線画像よりも高い線量で収集された画像であり、例えば、第2の光検出器16bによって収集されるX線画像や、第1の光検出器16aによって収集される撮影画像等である。なお、以下では、第2のX線画像を参照画像とも記載する。 Therefore, in the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment, a first X-ray image acquired with a normal dose and a second X-ray image acquired with a dose higher than that of the first X-ray image By applying image processing to a synthesized image obtained by synthesizing an image, an increase in exposure dose is suppressed while a high-definition image is displayed. For example, by using the above-described composite image for image display when a procedure such as stent placement or coil embolization is performed in the X-ray diagnostic apparatus 100, the procedure can be performed while observing a high-definition image, and An increase in exposure dose can be suppressed. Here, the first X-ray image in this embodiment is an image acquired with a normal dose when performing a procedure, for example, a fluoroscopic image acquired by the first photodetector 16a. be. Further, the second X-ray image in the present embodiment is an image acquired with a higher dose than the first X-ray image, for example, an X-ray image acquired by the second photodetector 16b, , captured images collected by the first photodetector 16a, and the like. In addition, below, a 2nd X-ray image is also described as a reference image.

以下、X線診断装置100における詳細について説明する。X線診断装置100における制御機能211は、被検体をX線により撮像して第1のX線画像を順次収集する。また、制御機能211は、第1のX線画像よりも前の時点において第1のX線画像よりも高いX線量により被検体を撮像して第2のX線画像を収集する。例えば、制御機能211は、操作者による操作に応じて、第2のX線画像の収集と、その後の第1のX線画像の収集とを制御する。ここで、本実施形態では、第1のX線画像が第1の光検出器16aによって収集される透視画像であり、第2のX線画像が第2の光検出器16bによって収集されるX線画像である場合を例に挙げて説明する。 Details of the X-ray diagnostic apparatus 100 will be described below. The control function 211 in the X-ray diagnostic apparatus 100 captures the subject with X-rays and sequentially acquires first X-ray images. Further, the control function 211 acquires a second X-ray image by imaging the subject with an X-ray dose higher than that of the first X-ray image at a time before the first X-ray image. For example, the control function 211 controls the acquisition of the second X-ray image and the subsequent acquisition of the first X-ray image according to the operation by the operator. Here, in this embodiment, the first X-ray image is a fluoroscopic image collected by the first photodetector 16a, and the second X-ray image is an X-ray image collected by the second photodetector 16b. A line image will be described as an example.

かかる場合には、制御機能211は、操作者による操作に応じて、まず、X線高電圧装置11、絞り制御回路20、Cアーム・天板機構制御回路19及び画像データ生成回路24を制御して、第2の光検出器16bから第2のX線画像を収集する。その後、制御機能211は、X線高電圧装置11、絞り制御回路20、Cアーム・天板機構制御回路19及び画像データ生成回路24を制御して、第1の光検出器16aから第1のX線画像(透視画像)を順次収集する。 In such a case, the control function 211 first controls the X-ray high-voltage device 11, the diaphragm control circuit 20, the C-arm/top plate mechanism control circuit 19, and the image data generation circuit 24 according to the operation by the operator. to acquire a second X-ray image from the second photodetector 16b. After that, the control function 211 controls the X-ray high-voltage device 11, the aperture control circuit 20, the C-arm/top plate mechanism control circuit 19, and the image data generation circuit 24 so that the first photodetector 16a to the first X-ray images (fluoroscopic images) are acquired sequentially.

生成機能212は、第1のX線画像よりも前の時点において第1のX線画像よりも高いX線量により撮像された第2のX線画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を、第1のX線画像の取得と並行して生成する。具体的には、生成機能212は、制御機能211の制御によって収集された第2のX線画像を、順次収集される複数の第1のX線画像(透視画像)とそれぞれ合成することで、複数の合成画像を生成する。ここで、生成機能212は、例えば、第1のX線画像の順次取得に応じて、合成画像を順次生成する。以下、生成機能212による処理の一例を、図3及び図4を用いて説明する。図3及び図4は、第1の実施形態に係る生成機能212による処理の一例を説明するための図である。 The generation function 212 combined the first X-ray image with a second X-ray image captured at a time earlier than the first X-ray image with a higher X-ray dose than the first X-ray image. A composite image is generated in parallel with the acquisition of the first X-ray image. Specifically, the generation function 212 synthesizes the second X-ray images acquired under the control of the control function 211 with the plurality of first X-ray images (fluoroscopic images) that are sequentially acquired. Generate multiple composite images. Here, the generation function 212 sequentially generates composite images in accordance with, for example, the sequential acquisition of the first X-ray images. An example of processing by the generation function 212 will be described below with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 and 4 are diagrams for explaining an example of processing by the generation function 212 according to the first embodiment.

例えば、生成機能212は、第1のX線画像が収集されるごとに、図3に示す合成画像を生成する。一例を挙げると、生成機能212は、図3に示すような、第1のX線画像I1と第2のX線画像I2とを合成した合成画像を生成する。すなわち、生成機能212は、予め収集されている第2のX線画像I2を、順次生成される第1のX線画像にそれぞれ合成した合成画像を生成する。例えば、生成機能212は、図4に示すように、第1のX線画像I11と第2のX線画像I2とを合成した合成画像を生成する。その後、生成機能212は、第1のX線画像I11の後に収集された第1のX線画像I12と、第2のX線画像I2とを合成した合成画像を生成する。このように、生成機能212は、順次収集された第1のX線画像と、第1のX線画像よりも前に収集された第2のX線画像とを順次合成することで、複数の合成画像を順次生成する。 For example, generation function 212 generates the composite image shown in FIG. 3 each time a first x-ray image is acquired. For example, the generating function 212 generates a composite image by combining the first X-ray image I1 and the second X-ray image I2 as shown in FIG. That is, the generation function 212 generates a composite image by combining the second X-ray image I2 acquired in advance with the first X-ray image that is sequentially generated. For example, the generating function 212 generates a composite image by combining the first X-ray image I11 and the second X-ray image I2, as shown in FIG. The generation function 212 then generates a composite image by combining the first X-ray image I12 acquired after the first X-ray image I11 and the second X-ray image I2. In this way, the generation function 212 sequentially synthesizes the sequentially acquired first X-ray image and the second X-ray image acquired before the first X-ray image, thereby producing a plurality of Synthetic images are generated sequentially.

すなわち、生成機能212は、1枚の高精細なX線画像に対して、通常のX線画像を順次合成した複数の合成画像を生成する。ここで、生成機能212によって生成される合成画像は、第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域を第2のX線画像で置換した画像であってもよく、或いは、第1のX線画像上に第2のX線画像を重畳させた画像であってもよい。例えば、生成機能212は、第1のX線画像I11において第2のX線画像I2に対応する領域を、第2のX線画像I2に置換した合成画像を生成する。或いは、生成機能212は、第1のX線画像I11において第2のX線画像I2に対応する領域に第2のX線画像I2に重畳した合成画像を生成する。 That is, the generation function 212 generates a plurality of synthesized images by sequentially synthesizing normal X-ray images with one high-definition X-ray image. Here, the composite image generated by the generating function 212 may be an image obtained by replacing a region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image with the second X-ray image, or It may be an image in which the second X-ray image is superimposed on the first X-ray image. For example, the generation function 212 generates a composite image by replacing the region corresponding to the second X-ray image I2 in the first X-ray image I11 with the second X-ray image I2. Alternatively, the generation function 212 generates a composite image superimposed on the second X-ray image I2 in the region corresponding to the second X-ray image I2 in the first X-ray image I11.

ここで、生成機能212は、合成画像の生成に先立ち、第1のX線画像と第2のX線画像との位置合わせを行う。例えば、生成機能212は、まず、画像内の解剖学的な特徴点等に基づいて、第1のX線画像と第2のX線画像との間に位置ずれが生じているか否かを判定し、位置ずれが生じている場合には画像間の位置合わせを実行する。そして、生成機能212は、経時的に収集される複数の第1のX線画像について、時系列で前後する画像間で位置ずれを判定し、判定結果に応じて位置合わせを実行する。 Here, the generating function 212 aligns the first X-ray image and the second X-ray image prior to generating the composite image. For example, the generation function 212 first determines whether there is a positional shift between the first X-ray image and the second X-ray image based on anatomical feature points in the images. However, if there is a positional deviation, alignment between the images is executed. Then, the generation function 212 determines the positional deviation between the successive images in chronological order for the plurality of first X-ray images acquired over time, and performs alignment according to the determination result.

例えば、生成機能212は、時系列で前後する第1のX線画像において、対応する位置(同一位置)の画素の画素値の変化(例えば、画素値の差分)と閾値とを比較して、画素値の変化が閾値を超えた画素の数に基づいて、時系列で前後する第1のX線画像間で位置ずれが生じているか否かを判定する。例えば、被検体の体動により位置ずれが生じた場合、時系列で前後する第1のX線画像間での多数の画素に画素値の変化が生じることとなる。そこで、生成機能212は、画素値の変化が閾値を超えた画素の数が閾値を超えた場合に、位置ずれが生じていると判定する。そして、生成機能212は、位置ずれが生じている場合には第1のX線画像の位置合わせを実行した後に、位置合わせ後の第1のX線画像と第2のX線画像とを合成する。換言すると、生成機能212は、順次取得される第1のX線画像において、画素値が変化した画素の数が閾値を超えた場合に、第1のX線画像と第2のX線画像との位置合わせ処理を実行した後に合成画像を生成する。生成機能212は、生成した合成画像を記憶回路25に格納する。 For example, the generation function 212 compares changes in pixel values (e.g., differences in pixel values) of pixels at corresponding positions (same positions) in the first X-ray images that occur in chronological order with a threshold, Based on the number of pixels whose change in pixel value exceeds the threshold, it is determined whether or not there is a positional shift between the first X-ray images successive in time series. For example, when a position shift occurs due to body movement of the subject, a change in pixel value occurs in a large number of pixels between the first X-ray images that precede and follow each other in time series. Therefore, the generation function 212 determines that a positional shift has occurred when the number of pixels whose change in pixel value exceeds the threshold exceeds the threshold. Then, the generating function 212 synthesizes the first X-ray image after alignment and the second X-ray image after performing the alignment of the first X-ray image when there is a positional deviation. do. In other words, the generating function 212 generates the first X-ray image and the second X-ray image when the number of pixels whose pixel values have changed exceeds the threshold in the first X-ray images that are sequentially acquired. A composite image is generated after executing the alignment process of . The generation function 212 stores the generated synthetic image in the storage circuit 25 .

制御機能211は、生成機能212によって生成された合成画像をディスプレイ23に表示させる。例えば、制御機能211は、生成機能212から合成画像を受け付けて、受け付けた合成画像をディスプレイ23に表示させる。或いは、制御機能211は、記憶回路25に記憶された合成画像を読み出してディスプレイ23に表示させる。 The control function 211 causes the display 23 to display the synthesized image generated by the generation function 212 . For example, the control function 211 receives a composite image from the generation function 212 and causes the display 23 to display the received composite image. Alternatively, the control function 211 reads the composite image stored in the storage circuit 25 and causes the display 23 to display it.

画像処理機能213は、第1のX線画像の時間変化に基づいて、合成画像における、少なくとも第2のX線画像に対応する画素の位置に第1のX線画像に基づく画素値の情報を反映させる。具体的には、画像処理機能213は、第2のX線画像に対応する第1のX線画像の領域に含まれる画素の画素値の変化に応じて、第1のX線画像の変化後の画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置に反映させる。例えば、画像処理機能213は、第2のX線画像の対応する位置の画素の画素値を、第1のX線画像の変化後の画素値に置換する。 The image processing function 213 adds pixel value information based on the first X-ray image to positions of pixels corresponding to at least the second X-ray image in the combined image based on temporal changes in the first X-ray image. To reflect. Specifically, the image processing function 213 changes the pixel values of the pixels included in the region of the first X-ray image corresponding to the second X-ray image after the change of the first X-ray image. is reflected in the corresponding position of the second X-ray image. For example, the image processing function 213 replaces the pixel value of the pixel at the corresponding position in the second X-ray image with the changed pixel value in the first X-ray image.

上述したように、X線診断装置100においては、ステント留置やコイル塞栓などの手技が行われる際の画像表示に合成画像を用いることで、高精細な画像を観察しながら手技を行うことができ、かつ、被曝量の増大を抑止することを可能にする。すなわち、X線診断装置100においては、ステントの留置位置や、動脈瘤の位置などの関心領域を高精細な画像(第2のX線画像)で収集しておき、より広い視野を通常の透視画像(第1のX線画像)で収集しながら、合成画像を生成して表示する。そして、X線診断装置100では、第2のX線画像の領域(関心領域)における画素値の変化を第2のX線画像上に反映することで、高精細な画像上で関心領域内の変化(例えば、関心領域内へのデバイスの侵入等)を観察することを可能にする。ここで、観察中の収集画像は、通常の透視画像であることから、被曝量の増大も抑止することが可能となる。 As described above, in the X-ray diagnostic apparatus 100, a composite image is used for image display when a procedure such as stent placement or coil embolization is performed, so that the procedure can be performed while observing a high-definition image. and to prevent an increase in exposure dose. That is, in the X-ray diagnostic apparatus 100, a high-definition image (second X-ray image) is acquired of a region of interest such as a stent placement position or an aneurysm position, and a wider field of view is acquired by normal fluoroscopy. While acquiring images (first X-ray images), a composite image is generated and displayed. Then, in the X-ray diagnostic apparatus 100, changes in pixel values in a region (region of interest) of the second X-ray image are reflected on the second X-ray image, so that a high-definition image of the region of interest can be obtained. Allows observation of changes (eg device intrusion into the region of interest, etc.). Here, since the acquired image during observation is a normal fluoroscopic image, it is possible to suppress an increase in exposure dose.

例えば、画像処理機能213は、制御機能211によって生成される第1のX線画像の画素値の変化を検出し、検出結果に応じて、第2のX線画像に画素値の情報を反映させる。一例を挙げると、画像処理機能213は、第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域内に画素値の変化が生じたか否かを検出する。ここで、画像処理機能213は、生成機能212による位置合わせの情報に基づいて、第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域を識別する。 For example, the image processing function 213 detects changes in pixel values of the first X-ray image generated by the control function 211, and reflects pixel value information in the second X-ray image according to the detection result. . As an example, the image processing function 213 detects whether or not a pixel value change has occurred in a region of the first X-ray image corresponding to the second X-ray image. Here, the image processing function 213 identifies a region in the first X-ray image corresponding to the second X-ray image based on the registration information from the generation function 212 .

以下、図5を用いて、画像処理機能213の処理の一例を説明する。図5は、第1の実施形態に係る画像処理機能213による処理の一例を説明するための図である。ここで、図5においては、経時的に収集される第1のX線画像「I11、I12、I13、・・・」に対して第2のX線画像I2を合成する合成画像が生成される場合について示す。例えば、画像処理機能213は、順次収集される第1のX線画像において時系列で前後する画像間を差分し、差分後の値が閾値を超えた画素を、画素値に変化が生じた画素と判定する。画像処理機能213は、第1のX線画像が生成されるごとに上記した判定を行い、第2のX線画像I2に対応する領域に画素値の変化が生じたか否かをさらに判定する。 An example of the processing of the image processing function 213 will be described below with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram for explaining an example of processing by the image processing function 213 according to the first embodiment. Here, in FIG. 5, a synthesized image is generated by synthesizing the second X-ray image I2 with the first X-ray images “I11, I12, I13, . . . ” acquired over time. case. For example, the image processing function 213 performs subtraction between successively acquired first X-ray images in chronological order, and detects pixels whose values after subtraction exceed a threshold value as pixels whose pixel values have changed. I judge. The image processing function 213 performs the above determination each time the first X-ray image is generated, and further determines whether or not the pixel value has changed in the region corresponding to the second X-ray image I2.

ここで、例えば、図5の左図の下段に示すように、第1のX線画像I13において第2のX線画像I2に対応する領域にデバイスD1が侵入すると、画像処理機能213は、第2のX線画像I2に対応する領域に画素値の変化が生じたことを検出する。そして、画像処理機能213は、図5の右図の下段に示すように、検出したデバイスD1に対応する画素値を第2のX線画像の対応する位置に反映させる。例えば、画像処理機能213は、第2のX線画像I2においてデバイスD1に対応する位置の画素値を、第1のX線画像I13におけるデバイスD1に対応する画素値に置換する。 Here, for example, as shown in the lower part of the left diagram of FIG. It is detected that the pixel value has changed in the region corresponding to the X-ray image I2 of No. 2. Then, the image processing function 213 reflects the pixel values corresponding to the detected device D1 in the corresponding positions of the second X-ray image, as shown in the lower part of the right diagram of FIG. For example, the image processing function 213 replaces the pixel values at the positions corresponding to the device D1 in the second X-ray image I2 with the pixel values corresponding to the device D1 in the first X-ray image I13.

これにより、ディスプレイ23によって表示される合成画像は、図5の右図の上段に示すように、第2のX線画像I2上にデバイスD1が示された画像となる。なお、画素値が反映される前の合成画像は、図5の左図の上段に示すように、第2のX線画像I2上にデバイスD1が示されていない画像である。 As a result, the synthesized image displayed by the display 23 is an image in which the device D1 is shown on the second X-ray image I2, as shown in the upper right part of FIG. Note that the synthesized image before the pixel values are reflected is an image in which the device D1 is not shown on the second X-ray image I2, as shown in the upper left part of FIG.

このように、画像処理機能213は、第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域の画素値に変化を検出して、変化した画素値の情報を第2のX線画像の対応する位置に反映させる。例えば、第2のX線画像I2に対応する領域においてデバイスD1が移動すると、画像処理機能213は、デバイスD1の移動に伴う画素値の変化を、経時的に収集された第1のX線画像からそれぞれ検出し、各合成画像における第2のX線画像I2の対応する位置に画素値の情報を反映させる。これにより、操作者は、高精細な第2のX線画像I2においてデバイスD1の動きを観察することができる。 In this way, the image processing function 213 detects a change in the pixel value of the region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image, and outputs the changed pixel value information to the second X-ray image. is reflected in the corresponding position of For example, when the device D1 moves in the region corresponding to the second X-ray image I2, the image processing function 213 detects changes in pixel values due to movement of the device D1 in the first X-ray image collected over time. , and the pixel value information is reflected in the corresponding position of the second X-ray image I2 in each synthesized image. This allows the operator to observe the motion of the device D1 in the high-definition second X-ray image I2.

ここで、上記した例では、第2のX線画像の画素値を、第1のX線画像の画素値に置換する例について説明した。かかる方法は、第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域を第2のX線画像で置換した合成画像、及び、第1のX線画像上に第2のX線画像を重畳させた合成画像のいずれの場合でも適用することができる。なお、第1のX線画像上に第2のX線画像を重畳させた合成画像の場合、画素値の置換以外にも第2のX線画像の不透過度(opacity)を変化させることで、第1のX線画像の画素値の情報を第2のX線画像の対応する位置に反映させることができる。 Here, in the above example, the example of replacing the pixel values of the second X-ray image with the pixel values of the first X-ray image has been described. The method includes a composite image in which a region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image is replaced with the second X-ray image, and a second X-ray image on the first X-ray image. can be applied in any case of a composite image on which is superimposed. In addition, in the case of a composite image obtained by superimposing the second X-ray image on the first X-ray image, by changing the opacity of the second X-ray image in addition to replacing the pixel values, , the pixel value information of the first X-ray image can be reflected in the corresponding position of the second X-ray image.

かかる場合には、生成機能212は、第1のX線画像に第2のX線画像を重畳させることで合成画像を生成する。画像処理機能213は、第2のX線画像の不透過度を低下させることで、前記第1のX線画像の変化後の画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置に反映させる。例えば、画像処理機能213は、第1のX線画像I13における第2のX線画像に対応する領域の画素値に変化を検出した場合に、第2のX線画像I2全体の不透過度を低下させることで、第1のX線画像I13の画素値を第2のX線画像I2上に反映させる。一例を挙げると、画像処理機能213は、異なるレイヤーにて表示されている第1のX線画像と第2のX線画像のうち、第2のX線画像を表示させているレイヤーの不透過度を低下させることで、第2のX線画像I2全体の不透過度を低下させる。 In such a case, the generation function 212 generates a composite image by superimposing the second X-ray image on the first X-ray image. The image processing function 213 reduces the opacity of the second X-ray image so that the pixel value information after the change of the first X-ray image is transferred to the corresponding position of the second X-ray image. To reflect. For example, when the image processing function 213 detects a change in the pixel value of the region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image I13, the opacity of the entire second X-ray image I2 is By decreasing, the pixel values of the first X-ray image I13 are reflected on the second X-ray image I2. To give an example, the image processing function 213, of the first X-ray image and the second X-ray image displayed in different layers, opacifies the layer displaying the second X-ray image. Decreasing the intensity reduces the overall opacity of the second X-ray image I2.

或いは、画像処理機能213は、第1のX線画像I13における第2のX線画像に対応する領域の画素値に変化を検出した場合に、第2のX線画像I2における対応する位置の画素の不透過度を低下させることで、第1のX線画像I13の画素値を第2のX線画像I2上に反映させる。例えば、画像処理機能213は、第1のX線画像において画素値に変化が生じた位置に対応する第2のX線画像I2上の位置の不透過度を低下させるレイヤーマスクを用いることで、第2のX線画像I2における対応する位置の画素の不透過度を低下させる。 Alternatively, when the image processing function 213 detects a change in the pixel value of the region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image I13, the pixel at the corresponding position in the second X-ray image I2 By lowering the opacity of , the pixel values of the first X-ray image I13 are reflected on the second X-ray image I2. For example, the image processing function 213 uses a layer mask that reduces the opacity of positions on the second X-ray image I2 that correspond to positions where pixel values have changed in the first X-ray image. The pixels at the corresponding locations in the second X-ray image I2 are made less opaque.

上述したように、X線診断装置100においては、広い視野で第1のX線画像(透視画像)を収集しながら、第1のX線画像と予め収集した高精細な第2のX線画像とを合成した合成画像を表示させ、順次収集している第1のX線画像において第2のX線画像に対応する位置に画素値の変化が生じた場合に、変化した画素値の情報を第2のX線画像上に反映させる。すなわち、広い視野の第1のX線画像における第2のX線画像に対応する領域以外は、リアルタイムに画像が更新され、画素値の変化に応じて第2のX線画像上の画素値が更新されることとなる。 As described above, in the X-ray diagnostic apparatus 100, while acquiring the first X-ray image (perspective image) in a wide field of view, the first X-ray image and the previously acquired high-definition second X-ray image are acquired. When a pixel value change occurs in a position corresponding to the second X-ray image in the sequentially acquired first X-ray image, information on the changed pixel value is displayed. Reflected on the second X-ray image. That is, except for the region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image with a wide field of view, the image is updated in real time, and the pixel values on the second X-ray image are changed according to the changes in the pixel values. It will be updated.

次に、図6を用いて、第1の実施形態に係るX線診断装置100の処理について説明する。図6は、第1の実施形態に係るX線診断装置100の処理手順を示すフローチャートである。図6に示すステップS101~103、106、107は、処理回路21が記憶回路25から制御機能211に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップS103~105、109は、処理回路21が記憶回路25から生成機能212に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップS104、108は、処理回路21が記憶回路25から画像処理機能213に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。 Next, processing of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment will be described using FIG. FIG. 6 is a flow chart showing the processing procedure of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment. Steps S101 to S103, 106, and 107 shown in FIG. 6 are steps in which the processing circuit 21 reads a program corresponding to the control function 211 from the storage circuit 25 and executes it. Steps S103 to S105 and S109 are steps in which the processing circuit 21 reads out a program corresponding to the generation function 212 from the storage circuit 25 and executes it. Steps S104 and S108 are steps in which the processing circuit 21 reads out a program corresponding to the image processing function 213 from the storage circuit 25 and executes it.

例えば、図6に示すように、処理回路21は、参照画像を収集して(ステップS101)、その後、透視画像を経時的に収集する(ステップS102)。次に、処理回路21は、透視画像を収集しながら、順次合成画像を生成して表示する(ステップS103)。ここで、処理回路21は、参照画像と透視画像との位置合わせを適宜行う。 For example, as shown in FIG. 6, processing circuitry 21 acquires a reference image (step S101) and then acquires fluoroscopic images over time (step S102). Next, the processing circuit 21 sequentially generates and displays synthesized images while acquiring fluoroscopic images (step S103). Here, the processing circuit 21 appropriately aligns the reference image and the fluoroscopic image.

そして、処理回路21は、経時的に収集する透視画像において、参照画像に対応する領域の画素値が変化したか否かを判定する(ステップS104)。ここで、画素値が変化していない場合には(ステップS104否定)、処理回路21は、透視画像の収集及び合成画像の生成・表示を継続する。 Then, the processing circuit 21 determines whether or not the pixel values of the region corresponding to the reference image have changed in the fluoroscopic images acquired over time (step S104). Here, if the pixel value has not changed (No at step S104), the processing circuit 21 continues acquisition of fluoroscopic images and generation/display of composite images.

一方、画素値が変化した場合には(ステップS104肯定)、処理回路21は、さらに、変化した画素数が閾値を超えたか否かを判定する(ステップS105)。ここで、変化した画素数が閾値を超えていない場合には(ステップS105否定)、処理回路21は、透視中か否かを判定する(ステップS106)。 On the other hand, if the pixel value has changed (Yes at step S104), the processing circuit 21 further determines whether the number of changed pixels exceeds the threshold (step S105). Here, if the number of changed pixels does not exceed the threshold (No at step S105), the processing circuit 21 determines whether or not fluoroscopy is in progress (step S106).

ステップS106において、透視中ではない場合(ステップS106否定)、処理回路21は、透視に変更して(ステップS107)、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。なお、ステップS106において、透視中の場合(ステップS106肯定)、処理回路21は、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。 In step S106, if fluoroscopy is not in progress (step S106 negative), the processing circuit 21 changes to fluoroscopy (step S107), and converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108). ). In step S106, if fluoroscopy is in progress (Yes in step S106), the processing circuit 21 converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108).

ステップS105において、変化した画素数が閾値を超えた場合には(ステップS105肯定)、処理回路21は、位置合わせを実行する(ステップS109)。ステップS108及びステップS109の後、処理回路21は、撮像を終了するか否かを判定する(ステップS110)。ここで、終了する場合には(ステップS110肯定)、処理回路21は、処理を終了する。一方、終了しない場合には(ステップS110否定)、処理回路21は、ステップS104に戻って、処理を継続する。 In step S105, if the number of changed pixels exceeds the threshold (Yes in step S105), the processing circuitry 21 performs alignment (step S109). After steps S108 and S109, the processing circuit 21 determines whether or not to end the imaging (step S110). Here, if it is to end (Yes at step S110), the processing circuit 21 ends the process. On the other hand, if the process is not finished (No at step S110), the processing circuit 21 returns to step S104 and continues the process.

上述したように、第1の実施形態によれば、制御機能211は、被検体をX線により撮像して第1のX線画像を順次収集する。生成機能212は、第1のX線画像よりも前の時点において第1のX線画像よりも高いX線量により撮像した第2のX線画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を、第1のX線画像の収集と並行して生成する。画像処理機能213は、第1のX線画像の時間変化に基づいて、合成画像における、少なくとも第2のX線画像に対応する画素の位置に第1のX線画像に基づく画素値の情報を反映させる。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、通常の線量で第1のX線画像(透視画像)を収集しながら、高精細な第2のX線画像(参照画像)上に画素値の変化を反映させることでき、高精細な画像を表示させつつ、被曝量の増大を抑止することを可能にする。 As described above, according to the first embodiment, the control function 211 captures the subject with X-rays and sequentially acquires the first X-ray images. The generation function 212 synthesizes a second X-ray image captured with a higher X-ray dose than the first X-ray image at a time before the first X-ray image and the first X-ray image. An image is generated in parallel with the acquisition of the first X-ray image. The image processing function 213 adds pixel value information based on the first X-ray image to positions of pixels corresponding to at least the second X-ray image in the combined image based on temporal changes in the first X-ray image. To reflect. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment collects a first X-ray image (fluoroscopic image) with a normal dose, and acquires a high-definition second X-ray image (reference image). A change in pixel value can be reflected, and an increase in exposure dose can be suppressed while a high-definition image is displayed.

また、第1の実施形態によれば、画像処理機能213は、第2のX線画像に対応する第1のX線画像の領域に含まれる画素の画素値の変化に応じて、第1のX線画像の変化後の画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置に反映させる。また、画像処理機能213は、第2のX線画像の対応する位置の画素の画素値を、第1のX線画像の変化後の画素値に置換する。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、第2のX線画像上の正確な位置で画素値の変化を表示させることができ、手技の精度を向上させることを可能にする。 Further, according to the first embodiment, the image processing function 213 performs the first The information of the pixel values after the change of the X-ray image is reflected in the corresponding position of the second X-ray image. The image processing function 213 also replaces the pixel values of the pixels at the corresponding positions in the second X-ray image with the changed pixel values in the first X-ray image. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment can display changes in pixel values at accurate positions on the second X-ray image, thereby improving the precision of the procedure. .

また、第1の実施形態によれば、生成機能212は、第1のX線画像に第2のX線画像を重畳させることで合成画像を生成する。画像処理機能213は、第2のX線画像の不透過度を低下させることで、第1のX線画像の変化後の画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置に反映させる。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、第1のX線画像と第2のX線画像とを重畳した合成画像を生成する際に、第2のX線画像上に画素値の変化を容易に反映させることを可能にする。 Further, according to the first embodiment, the generation function 212 generates a composite image by superimposing the second X-ray image on the first X-ray image. By reducing the opacity of the second X-ray image, the image processing function 213 reflects the information of the pixel value after the change of the first X-ray image to the corresponding position of the second X-ray image. Let Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment generates a composite image in which the first X-ray image and the second X-ray image are superimposed. It makes it possible to easily reflect changes in values.

また、第1の実施形態によれば、制御機能211は、第2のX線画像として、第1のX線画像を収集した検出器よりも高い解像度を有する検出器によって第1のX線画像よりも高いX線量で収集されたX線画像を取得する。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、高精細な参照画像により合成画像を表示させることを可能にする。 Also, according to the first embodiment, the control function 211 captures the first X-ray image as the second X-ray image by a detector having a higher resolution than the detector that acquired the first X-ray image. Acquire an X-ray image acquired at a higher X-ray dose. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment makes it possible to display a synthesized image using a high-definition reference image.

また、第1の実施形態によれば、生成機能212は、順次取得される第1のX線画像において、画素値が変化した画素の数が閾値を超えた場合に、第1のX線画像と第2のX線画像との位置合わせ処理を実行した後に合成画像を生成する。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置100は、手技中の被検体の体動などにも対応することを可能にする。 Further, according to the first embodiment, the generation function 212 generates the first X-ray image when the number of pixels whose pixel values have changed exceeds the threshold in the sequentially acquired first X-ray images. and the second X-ray image to generate a composite image. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the first embodiment can cope with body movements of the subject during the procedure.

(第2の実施形態)
上述した第1の実施形態では、第1のX線画像(透視画像)を収集しながら合成画像を生成する場合について説明した。第2の実施形態では、第2のX線画像を収集しながら合成画像を生成する場合について説明する。なお、以下、第1の実施形態と同様の構成については、同一の符号を付し、説明を省略する場合がある。
(Second embodiment)
In the first embodiment described above, a case has been described in which a composite image is generated while acquiring a first X-ray image (perspective image). In the second embodiment, a case of generating a composite image while acquiring a second X-ray image will be described. In addition, hereinafter, the same reference numerals may be given to the same configurations as in the first embodiment, and the description thereof may be omitted.

第2の実施形態に係る制御機能211は、第2のX線画像の領域について、第2のX線画像よりも低いX線量により撮像された第3のX線画像を順次取得する。例えば、制御機能211は、X線高電圧装置11を制御して、第2のX線画像よりも低い線量でX線を照射させ、第2の光検出器16bから経時的に複数の第3のX線画像を収集する。 The control function 211 according to the second embodiment sequentially acquires a third X-ray image captured with an X-ray dose lower than that of the second X-ray image for the area of the second X-ray image. For example, the control function 211 controls the X-ray high voltage device 11 to emit X-rays at a dose lower than that of the second X-ray image to generate a plurality of third X-rays over time from the second photodetector 16b. Acquire X-ray images of

そして、第2の実施形態に係る生成機能212は、複数の第3のX線画像を加算平均した加算平均画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を、第3のX線画像の取得と並行して生成する。ここで、生成機能212は、例えば、第3のX線画像の順次取得に応じて、合成画像を順次生成する。例えば、生成機能212は、第2の光検出器16bによって収集された複数の第3のX線画像(例えば、予め決められた枚数の第3のX線画像)に対してそれぞれ重み付けを行って加算することで、加算平均画像を生成する。ここで、加算平均における重み付けは、例えば、時系列的に最新の画像に対する重みを最大にし、時系列的に前の画像になるにつれて重みが小さくなるように設定される。 Then, the generation function 212 according to the second embodiment generates a composite image obtained by combining an average image obtained by averaging a plurality of third X-ray images and the first X-ray image as a third X-ray image. Generate in parallel with image acquisition. Here, the generation function 212 sequentially generates composite images in accordance with, for example, the sequential acquisition of the third X-ray images. For example, the generating function 212 weights each of the plurality of third X-ray images (eg, a predetermined number of third X-ray images) collected by the second photodetector 16b. By adding, an addition average image is generated. Here, the weighting in the averaging is set, for example, so that the weight for the latest image in chronological order is maximized and the weight decreases as the image becomes earlier in chronological order.

そして、生成機能212は、生成した加算平均画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を生成する。具体的には、生成機能212は、第3のX線画像が収集されるごとに、収集された第3のX線画像を最新の画像として加算平均処理を行い、加算平均画像を順次生成する。そして、生成機能212は、順次生成した加算平均画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を生成する。ここで、第1のX線画像は、第3のX線画像よりも前に低い線量で収集された画像であり、例えば、第1の光検出器16aによって収集した透視画像である。 Then, the generating function 212 generates a composite image by combining the generated averaged image and the first X-ray image. Specifically, every time a third X-ray image is acquired, the generating function 212 performs averaging processing using the acquired third X-ray image as the latest image, and sequentially generates an averaging image. . Then, the generation function 212 generates a composite image by combining the sequentially generated addition average image and the first X-ray image. Here, the first X-ray image is an image acquired at a lower dose prior to the third X-ray image, for example a fluoroscopic image acquired by the first photodetector 16a.

第2の実施形態に係る画像処理機能213は、第3のX線画像における画素値の変化を契機として順次収集された第1のX線画像に基づく画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置又は加算平均画像の対応する位置に反映させる。すなわち、画像処理機能213は、第3のX線画像を用いた合成画像を表示している際に、第2のX線画像に対応する領域内(すなわち、第3のX線画像内)で画素値が変化した場合に、画素値の変化を第2のX線画像に反映させる第1の実施形態の処理を実行する。換言すると、第2の実施形態では、画素値の変化が生じるまで、第3のX線画像の収集と合成画像の生成・表示を継続して行う。そして、第3のX線画像の領域で画素値の変化が生じた場合に、制御機能211は、第1のX線画像を収集するように切り替え、生成機能212は、収集された第1のX線画像を用いた合成画像を生成する。ここで、第2の実施形態では、第1のX線画像との合成画像に用いられるX線画像は、加算平均画像であってもよく、或いは、第2の光検出器16bによってより高い線量で収集されたX線画像(第1の実施形態における第2のX線画像)であってもよい。 The image processing function 213 according to the second embodiment converts pixel value information based on the first X-ray image sequentially acquired with the change in pixel value in the third X-ray image as a trigger to the second X-ray image. It is reflected in the corresponding position of the image or the corresponding position of the averaged image. That is, the image processing function 213, while displaying a composite image using the third X-ray image, performs When the pixel value changes, the process of the first embodiment is executed to reflect the change in pixel value in the second X-ray image. In other words, in the second embodiment, acquisition of the third X-ray image and generation and display of the composite image are continued until the pixel value changes. Then, when a pixel value change occurs in a region of the third X-ray image, the control function 211 switches to acquire the first X-ray image, and the generation function 212 switches to the acquired first X-ray image. Generate a composite image using the X-ray image. Here, in the second embodiment, the X-ray image used for the composite image with the first X-ray image may be an arithmetic mean image, or a higher dose may be detected by the second photodetector 16b. (the second X-ray image in the first embodiment) acquired in .

画像処理機能213は、第3のX線画像の領域で画素値の変化が生じることで収集が開始された第1のX線画像における画素値の情報を、加算平均画像或いは第2の光検出器16bによってより高い線量で収集されたX線画像に反映させる。 The image processing function 213 converts pixel value information in the first X-ray image, whose acquisition is started due to a change in pixel value in the region of the third X-ray image, into an arithmetic average image or a second photodetection image. This is reflected in the X-ray image acquired at the higher dose by the device 16b.

上述したように、第2の実施形態に係るX線診断装置100は、画素値の変化が生じるまで加算平均画像を用いた合成画像を生成して表示する。ここで、X線診断装置100は、画素値の変化がない場合に、自動的に加算平均画像を用いた合成画像を生成して表示するように制御することもできる。例えば、X線診断装置100は、第1の実施形態で説明した合成画像を生成して表示している間、一定の時間画素値の変化がない場合に、加算平均画像を用いた合成画像を生成して表示するように制御することもできる。この場合の例について、図7を用いて説明する。図7は、第2の実施形態に係る処理回路21の処理の一例を説明するための図である。なお、以下では、第1の実施形態で説明した合成画像を生成して表示するモードを精細画像参照モード、加算平均画像を用いた合成画像を生成して表示するモードを加算平均モードと記載する。 As described above, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment generates and displays a composite image using an addition average image until a pixel value change occurs. Here, the X-ray diagnostic apparatus 100 can be controlled to automatically generate and display a composite image using an averaged image when there is no change in pixel values. For example, while the X-ray diagnostic apparatus 100 generates and displays the synthesized image described in the first embodiment, if there is no change in pixel values for a certain period of time, the synthesized image using the averaged image is generated. It can also be controlled to be generated and displayed. An example of this case will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a diagram for explaining an example of processing of the processing circuit 21 according to the second embodiment. In the following description, the mode for generating and displaying a synthesized image described in the first embodiment is referred to as a fine image reference mode, and the mode for generating and displaying a synthesized image using an averaged image is referred to as an averaged mode. .

図7に示すように、X線診断装置100においては、まず、精細画像参照モードで合成画像を生成して表示する。すなわち、制御機能211が、第2の光検出器16bによって高精細な第2のX線画像I4を収集する。その後、制御機能211は、検出器を切り替えて、第1の光検出器16aによる第1のX線画像I3(透視画像)の経時的な収集を行う。生成機能212は、第1のX線画像I3が収集されるごとに合成画像を順次生成し、制御機能211は、順次生成される合成画像をディスプレイ23に表示させる。 As shown in FIG. 7, the X-ray diagnostic apparatus 100 first generates and displays a synthesized image in the fine image reference mode. That is, the control function 211 acquires a high-definition second X-ray image I4 with the second photodetector 16b. After that, the control function 211 switches the detectors and performs temporal acquisition of the first X-ray image I3 (perspective image) by the first photodetector 16a. The generating function 212 sequentially generates composite images each time the first X-ray image I3 is acquired, and the control function 211 causes the display 23 to display the sequentially generated composite images.

ここで、デバイスD2が第2のX線画像I4の領域に侵入した場合には、画像処理機能213が、図7の上段の図に示すように、第2のX線画像I4にデバイスD2の画素値を反映させる。一方、精細画像参照モードでの合成画像の表示を開始してから一定時間画素値の変化がない場合、或いは、第2のX線画像I4の領域内でのデバイスD2の移動が停止して一定時間移動しない場合、X線診断装置100は、図7の中段の図に示すように、加算平均モードに移行する。 Here, when the device D2 has entered the region of the second X-ray image I4, the image processing function 213, as shown in the upper diagram of FIG. Reflect the pixel value. On the other hand, if there is no change in the pixel value for a certain period of time after the display of the synthesized image in the fine image reference mode is started, or if the movement of the device D2 within the area of the second X-ray image I4 stops and remains constant. When there is no time shift, the X-ray diagnostic apparatus 100 shifts to the averaging mode as shown in the middle diagram of FIG.

すなわち、制御機能211は、第1のX線画像の第2のX線画像に対応する領域における画素値の変化が閾値未満であることを条件に、第3のX線画像の順次取得を開始する。例えば、制御機能211は、検出器を切り替えて、第2の光検出器16bによる第3のX線画像の経時的な収集を行う。生成機能212は、時系列の複数の第3のX線画像が収集されると、n枚のフレーム(Frame 1~Frame n)を用いた加算平均処理により、加算平均画像I41を生成する。そして、生成機能212は、精細画像参照モードで収集した第1のX線画像I3と、加算平均画像I41とを合成した合成画像を生成する。生成機能212は、第3のX線画像が収集されるごとに、新たな加算平均画像を生成して、生成した新たな加算平均画像を用いて合成画像を生成する。制御機能211は、順次生成される合成画像をディスプレイ23にて表示させる。 That is, the control function 211 starts sequential acquisition of the third X-ray image on the condition that the change in pixel value in the region of the first X-ray image corresponding to the second X-ray image is less than the threshold. do. For example, the control function 211 switches the detectors to acquire a third x-ray image over time by the second photodetector 16b. When a plurality of time-series third X-ray images are acquired, the generating function 212 generates an averaged image I41 by performing averaging processing using n frames (Frame 1 to Frame n). The generation function 212 then generates a composite image by combining the first X-ray image I3 acquired in the fine image reference mode and the averaged image I41. The generation function 212 generates a new averaged image each time a third X-ray image is acquired, and uses the generated new averaged image to generate a composite image. The control function 211 causes the display 23 to display the synthesized images that are sequentially generated.

なお、加算平均モードにおいて、第1の光検出器16a及び第2の光検出器16bからの電気信号をそれぞれ用いるように制御する(各検出器で同時にX線画像を収集する)ことで、第1のX線画像の領域についてもリアルタイムに更新することができる。すなわち、X線の照射範囲を第1のX線画像の領域まで広げてX線を照射することで、第1のX線画像と第3のX線画像とを同時に収集し、それぞれの画像を用いて合成画像を生成することもできる。 In addition, in the averaging mode, by controlling to use the electrical signals from the first photodetector 16a and the second photodetector 16b (collecting X-ray images simultaneously with each detector), the Regions of one X-ray image can also be updated in real time. That is, by expanding the irradiation range of X-rays to the region of the first X-ray image and irradiating X-rays, the first X-ray image and the third X-ray image are acquired simultaneously, and each image is obtained. can also be used to generate composite images.

上記した加算平均モードは、画素値の変化が検出されるまで継続される。そして、画素値の変化が検出されると、X線診断装置100は、図7の下段の図に示すように、再度、精細画像参照モードに移行する。例えば、生成機能212は、順次収集される第3のX線画像内で画素値の変化が生じたか否かを判定する。ここで、画素値の変化が生じた場合(例えば、デバイスD2が移動した場合)、制御機能211は、検出器を切り替えて、第1の光検出器16aによる第1のX線画像の経時的な収集を行う。そして、生成機能212は、第1のX線画像が収集されるごとに、合成画像を生成する。 The averaging mode described above continues until a change in pixel value is detected. Then, when a change in pixel value is detected, the X-ray diagnostic apparatus 100 shifts to the fine image reference mode again, as shown in the lower diagram of FIG. For example, generation function 212 determines whether a change in pixel value has occurred in the third sequentially acquired x-ray image. Here, when a change in pixel value occurs (for example, when the device D2 moves), the control function 211 switches the detectors to obtain the first X-ray image over time by the first photodetector 16a. collection. The generation function 212 then generates a composite image each time the first X-ray image is acquired.

ここで、生成機能212は、収集済みの第2のX線画像I4又は加算平均画像I41を合成画像の生成に用いることができる。例えば、生成機能212は、新たに生成された第1のX線画像I31と第2のX線画像I4とを合成した合成画像、或いは、第1のX線画像I31と加算平均画像I41とを合成した合成画像を生成することができる。 Here, the generation function 212 can use the acquired second X-ray image I4 or the averaged image I41 to generate the composite image. For example, the generation function 212 generates a composite image obtained by synthesizing the newly generated first X-ray image I31 and the second X-ray image I4, or generates the first X-ray image I31 and the addition average image I41. A synthesized composite image can be generated.

画像処理機能213は、生成機能212によって生成された合成画像における第2のX線画像I4又は加算平均画像I41に、第1のX線画像において変化した画素値の情報を反映させる。例えば、画像処理機能213は、第1のX線画像I31において変化した画素値の情報を、第2のX線画像I4の対応する位置に反映させる。或いは、画像処理機能213は、第1のX線画像I31において変化した画素値の情報を、加算平均画像I41の対応する位置に反映させる。 The image processing function 213 reflects the information of the pixel values changed in the first X-ray image in the second X-ray image I4 or the addition average image I41 in the composite image generated by the generation function 212 . For example, the image processing function 213 reflects information on pixel values that have changed in the first X-ray image I31 to corresponding positions in the second X-ray image I4. Alternatively, the image processing function 213 reflects the information of the pixel value changed in the first X-ray image I31 to the corresponding position of the addition average image I41.

次に、図8、図9を用いて、第2の実施形態に係るX線診断装置100の処理について説明する。図8、図9は、第2の実施形態に係るX線診断装置100の処理手順を示すフローチャートである。なお、図8は、一定の時間画素値の変化がない場合に、加算平均画像を用いた合成画像を生成して表示する処理について示す。また、図9は、処理開始から加算平均処理を行う処理について示す。また、なお、図8においては、第1の実施形態での処理(図6に示す処理)と同一の処理に同一の符号を付している。また、図9においては、図6及び図8と同一の処理に同一の符号を付している。 Next, processing of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 8 and 9. FIG. 8 and 9 are flowcharts showing processing procedures of the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment. Note that FIG. 8 shows processing for generating and displaying a composite image using an addition average image when there is no change in pixel values for a certain period of time. Further, FIG. 9 shows processing for performing averaging processing from the start of processing. Further, in FIG. 8, the same reference numerals are given to the same processes as the processes in the first embodiment (the processes shown in FIG. 6). In addition, in FIG. 9, the same reference numerals are assigned to the same processes as in FIGS.

図8に示すステップS201、202は、処理回路21が記憶回路25から制御機能211に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップS203は、処理回路21が記憶回路25から生成機能212に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。 Steps S201 and S202 shown in FIG. 8 are steps in which the processing circuit 21 reads a program corresponding to the control function 211 from the storage circuit 25 and executes it. Step S203 is a step in which the processing circuit 21 reads out a program corresponding to the generation function 212 from the storage circuit 25 and executes it.

例えば、図8に示すように、処理回路21は、参照画像を収集して(ステップS101)、その後、透視画像を経時的に収集する(ステップS102)。次に、処理回路21は、透視画像を収集しながら、順次合成画像を生成して表示する(ステップS103)。ここで、処理回路21は、参照画像と透視画像との位置合わせを適宜行う。 For example, as shown in FIG. 8, processing circuitry 21 acquires a reference image (step S101) and then acquires fluoroscopic images over time (step S102). Next, the processing circuit 21 sequentially generates and displays synthesized images while acquiring fluoroscopic images (step S103). Here, the processing circuit 21 appropriately aligns the reference image and the fluoroscopic image.

そして、処理回路21は、経時的に収集する透視画像において、参照画像に対応する領域の画素値が変化したか否かを判定する(ステップS104)。ここで、画素値が変化していない場合には(ステップS104否定)、処理回路21は、さらに、透視中か否かを判定する(ステップS201)。ここで、透視中の場合(ステップS201肯定)、処理回路21は、参照画像を収集対象に変更する(ステップS202)。例えば、処理回路21は、検出器を第2の光検出器16bに切り替え、ステップS101にて収集した参照画像よりも低い線量での経時的なX線画像の収集を開始する。 Then, the processing circuit 21 determines whether or not the pixel values of the region corresponding to the reference image have changed in the fluoroscopic images acquired over time (step S104). Here, if the pixel value has not changed (No at step S104), the processing circuit 21 further determines whether or not fluoroscopy is in progress (step S201). Here, if fluoroscopy is in progress (Yes at step S201), the processing circuit 21 changes the reference image to the collection target (step S202). For example, the processing circuitry 21 switches the detector to the second photodetector 16b and begins acquiring time-lapse X-ray images at lower doses than the reference image acquired in step S101.

そして、処理回路21は、収集した複数のX線画像に対して加算平均処理を実行して(ステップS203)、加算平均処理により生成した参照画像を用いた合成画像を生成し、生成した合成画像をディスプレイ23に表示する。その後、処理回路21は、ステップS110の判定処理を行う。なお、ステップS201において透視中ではない場合(ステップS201否定)、処理回路21は、ステップS203に進み、加算平均処理を実行する。 Then, the processing circuit 21 performs averaging processing on a plurality of acquired X-ray images (step S203), generates a composite image using the reference image generated by the averaging processing, and generates a composite image. is displayed on the display 23. Thereafter, the processing circuit 21 performs determination processing in step S110. Note that if fluoroscopy is not being performed at step S201 (No at step S201), the processing circuit 21 proceeds to step S203 and executes the averaging process.

一方、ステップS104の判定において、画素値が変化した場合には(ステップS104肯定)、処理回路21は、さらに、変化した画素数が閾値を超えたか否かを判定する(ステップS105)。ここで、変化した画素数が閾値を超えていない場合には(ステップS105否定)、処理回路21は、透視中か否かを判定する(ステップS106)。 On the other hand, if the pixel value has changed in the determination of step S104 (Yes in step S104), the processing circuit 21 further determines whether or not the number of changed pixels exceeds the threshold (step S105). Here, if the number of changed pixels does not exceed the threshold (No at step S105), the processing circuit 21 determines whether or not fluoroscopy is in progress (step S106).

ステップS106において、透視中ではない場合(ステップS106否定)、処理回路21は、透視に変更して(ステップS107)、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。なお、ステップS106において、透視中の場合(ステップS106肯定)、処理回路21は、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。 In step S106, if fluoroscopy is not in progress (step S106 negative), the processing circuit 21 changes to fluoroscopy (step S107), and converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108). ). In step S106, if fluoroscopy is in progress (Yes in step S106), the processing circuit 21 converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108).

ステップS105において、変化した画素数が閾値を超えた場合には(ステップS105肯定)、処理回路21は、位置合わせを実行する(ステップS109)。ステップS108、ステップS109及びステップS203の後、処理回路21は、撮像を終了するか否かを判定する(ステップS110)。ここで、終了する場合には(ステップS110肯定)、処理回路21は、処理を終了する。一方、終了しない場合には(ステップS110否定)、処理回路21は、ステップS104に戻って、処理を継続する。 In step S105, if the number of changed pixels exceeds the threshold (Yes in step S105), the processing circuitry 21 performs alignment (step S109). After steps S108, S109, and S203, the processing circuit 21 determines whether or not to end the imaging (step S110). Here, if it is to end (Yes at step S110), the processing circuit 21 ends the process. On the other hand, if the process is not finished (No at step S110), the processing circuit 21 returns to step S104 and continues the process.

図9に示すステップS301~303は、処理回路21が記憶回路25から制御機能211に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。また、ステップS303は、さらに、処理回路21が記憶回路25から生成機能212に対応するプログラムを読み出して実行するステップである。 Steps S301 to S303 shown in FIG. 9 are steps in which the processing circuit 21 reads out a program corresponding to the control function 211 from the storage circuit 25 and executes it. Further, step S303 is a step in which the processing circuit 21 reads out a program corresponding to the generation function 212 from the storage circuit 25 and executes it.

例えば、図9に示すように、処理回路21は、透視画像を収集して(ステップS301)、その後、参照画像を経時的に収集する(ステップS302)。次に、処理回路21は、経時的に収集したX線画像を加算平均した参照画像を順次生成しながら、順次合成画像を生成して表示する(ステップS303)。ここで、処理回路21は、参照画像と透視画像との位置合わせを適宜行う。 For example, as shown in FIG. 9, processing circuitry 21 acquires fluoroscopic images (step S301) and then acquires reference images over time (step S302). Next, the processing circuit 21 sequentially generates and displays synthesized images while sequentially generating reference images obtained by averaging the X-ray images acquired over time (step S303). Here, the processing circuit 21 appropriately aligns the reference image and the fluoroscopic image.

そして、処理回路21は、経時的に収集する透視画像において、参照画像に対応する領域の画素値が変化したか否かを判定する(ステップS104)。ここで、画素値が変化していない場合には(ステップS104否定)、処理回路21は、さらに、透視中か否かを判定する(ステップS201)。ここで、透視中の場合(ステップS201肯定)、処理回路21は、参照画像を収集対象に変更する(ステップS202)。 Then, the processing circuit 21 determines whether or not the pixel values of the region corresponding to the reference image have changed in the fluoroscopic images acquired over time (step S104). Here, if the pixel value has not changed (No at step S104), the processing circuit 21 further determines whether or not fluoroscopy is in progress (step S201). Here, if fluoroscopy is in progress (Yes at step S201), the processing circuit 21 changes the reference image to the collection target (step S202).

そして、処理回路21は、収集した複数のX線画像に対して加算平均処理を実行して(ステップS203)、加算平均処理により生成した参照画像を用いた合成画像を生成し、生成した合成画像をディスプレイ23に表示する。その後、処理回路21は、ステップS110の判定処理を行う。なお、ステップS201において透視中ではない場合(ステップS201否定)、処理回路21は、ステップS203に進み、加算平均処理を実行する。 Then, the processing circuit 21 performs averaging processing on a plurality of acquired X-ray images (step S203), generates a composite image using the reference image generated by the averaging processing, and generates a composite image. is displayed on the display 23. Thereafter, the processing circuit 21 performs determination processing in step S110. Note that if fluoroscopy is not being performed at step S201 (No at step S201), the processing circuit 21 proceeds to step S203 and executes the averaging process.

一方、ステップS104の判定において、画素値が変化した場合には(ステップS104肯定)、処理回路21は、さらに、変化した画素数が閾値を超えたか否かを判定する(ステップS105)。ここで、変化した画素数が閾値を超えていない場合には(ステップS105否定)、処理回路21は、透視中か否かを判定する(ステップS106)。 On the other hand, if the pixel value has changed in the determination of step S104 (Yes in step S104), the processing circuit 21 further determines whether or not the number of changed pixels exceeds the threshold (step S105). Here, if the number of changed pixels does not exceed the threshold (No at step S105), the processing circuit 21 determines whether or not fluoroscopy is in progress (step S106).

ステップS106において、透視中ではない場合(ステップS106否定)、処理回路21は、透視に変更して(ステップS107)、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。なお、ステップS106において、透視中の場合(ステップS106肯定)、処理回路21は、参照画像における対象画素の画素値を透視画像の画素値に変換する(ステップS108)。 In step S106, if fluoroscopy is not in progress (step S106 negative), the processing circuit 21 changes to fluoroscopy (step S107), and converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108). ). In step S106, if fluoroscopy is in progress (Yes in step S106), the processing circuit 21 converts the pixel value of the target pixel in the reference image into the pixel value of the fluoroscopic image (step S108).

ステップS105において、変化した画素数が閾値を超えた場合には(ステップS105肯定)、処理回路21は、位置合わせを実行する(ステップS109)。ステップS108、ステップS109及びステップS203の後、処理回路21は、撮像を終了するか否かを判定する(ステップS110)。ここで、終了する場合には(ステップS110肯定)、処理回路21は、処理を終了する。一方、終了しない場合には(ステップS110否定)、処理回路21は、ステップS104に戻って、処理を継続する。 In step S105, if the number of changed pixels exceeds the threshold (Yes in step S105), the processing circuitry 21 performs alignment (step S109). After steps S108, S109, and S203, the processing circuit 21 determines whether or not to end the imaging (step S110). Here, if it is to end (Yes at step S110), the processing circuit 21 ends the process. On the other hand, if the process is not finished (No at step S110), the processing circuit 21 returns to step S104 and continues the process.

上述したように、第2の実施形態によれば、制御機能211は、第2のX線画像の領域について、第2のX線画像よりも低いX線量により撮像された第3のX線画像を順次取得する。生成機能212は、複数の第3のX線画像を加算平均した加算平均画像と、第1のX線画像とを合成した合成画像を、第3のX線画像の順次取得に応じて順次生成する。画像処理機能213は、第3のX線画像における画素値の変化を契機として順次収集された第1のX線画像に基づく画素値の情報を、第2のX線画像の対応する位置又は前記加算平均画像の対応する位置に反映させる。従って、第2の実施形態に係るX線診断装置100は、被曝量の増大を抑止しつつ、リアルタイムの参照画像の観察を可能にする。 As described above, according to the second embodiment, the control function 211 controls the area of the second X-ray image to obtain a third X-ray image captured with an X-ray dose lower than that of the second X-ray image. are obtained sequentially. The generation function 212 sequentially generates a composite image obtained by synthesizing an arithmetic average image obtained by averaging a plurality of third X-ray images and the first X-ray image in accordance with the sequential acquisition of the third X-ray images. do. The image processing function 213 converts pixel value information based on the first X-ray image sequentially acquired with a change in pixel value in the third X-ray image to the corresponding position of the second X-ray image or the above-mentioned It is reflected in the corresponding position of the averaged image. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment enables real-time observation of reference images while suppressing an increase in exposure dose.

また、第2の実施形態によれば、制御機能211は、第1のX線画像の第2のX線画像に対応する領域における画素値の変化が閾値未満であることを条件に、第3のX線画像の順次取得を開始する。従って、第2の実施形態に係るX線診断装置100は、画素値に変化がない場合のX線画像について画質を向上させることを可能にする。 Further, according to the second embodiment, the control function 211 performs the third sequential acquisition of X-ray images is started. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment makes it possible to improve the image quality of X-ray images when there is no change in pixel values.

また、第2の実施形態によれば、制御機能211は、第2のX線画像として、第1のX線画像を収集した検出器によって第1のX線画像よりも高いX線量で収集されたX線画像、又は、当該X線画像を複数用いて加算平均した加算平均画像を取得する。従って、第2の実施形態に係るX線診断装置100は、種々の画像を用いて合成画像を生成することを可能にする。 Also, according to the second embodiment, the control function 211 provides that the second X-ray image is acquired at a higher X-ray dose than the first X-ray image by the detector that acquired the first X-ray image. An averaged X-ray image obtained by averaging a plurality of X-ray images is acquired. Therefore, the X-ray diagnostic apparatus 100 according to the second embodiment makes it possible to generate composite images using various images.

(第3の実施形態)
さて、これまで第1及び第2の実施形態について説明したが、上述した第1及び第2の実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。
(Third embodiment)
Now, although the first and second embodiments have been described so far, various different modes other than the above-described first and second embodiments may be implemented.

上述した第1及び第2の実施形態では、第2のX線画像として、第2の光検出器16bによって収集されたX線画像を用いる場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、第1の光検出器16aによって収集されたX線画像を用いる場合であってもよい。 In the first and second embodiments described above, the case of using the X-ray image collected by the second photodetector 16b as the second X-ray image has been described. However, the embodiment is not limited to this, and may be, for example, the case of using an X-ray image collected by the first photodetector 16a.

図10は、第3の実施形態に係る合成画像の一例を示す図である。例えば、第3の実施形態に係る生成機能212は、図10に示すように、第1の光検出器16aによって収集した透視画像と、第1の光検出器16aによって収集した撮影画像、或いは、複数の撮影画像を用いて加算平均処理を実行した加算平均画像とを合成した合成画像を生成する。かかる場合には、例えば、制御機能211は、まず、絞り制御回路20を制御して、X線の照射範囲を設定し、撮影画像の収集条件でX線を照射することで、第1の光検出器16aから第2のX線画像の領域の撮影画像を収集する。 FIG. 10 is a diagram showing an example of a synthesized image according to the third embodiment. For example, as shown in FIG. 10, the generating function 212 according to the third embodiment generates a perspective image collected by the first photodetector 16a, a photographed image collected by the first photodetector 16a, or A composite image is generated by synthesizing a plurality of captured images with an averaged image obtained by subjecting the averaged image to an averaged image. In such a case, for example, the control function 211 first controls the aperture control circuit 20 to set the irradiation range of X-rays, and irradiates the X-rays under the acquisition conditions of the photographed image to obtain the first light. A radiographic image of the region of the second X-ray image is acquired from the detector 16a.

その後、制御機能211は、絞り制御回路20を制御して、X線の照射範囲を広げ、透視画像の収集条件でX線を照射することで、第1の光検出器16aから第1のX線画像の領域の透視画像を収集する。生成機能212は、最初に収集された撮影画像と、順次収集される透視画像とから合成画像を順次生成する。なお、加算平均画像を収集する場合には、制御機能211が複数枚の撮影画像を収集して、生成機能212が、複数の撮影画像を用いて加算平均画像を生成する。なお、加算平均画像を用いる場合には、撮影画像よりも低い線量で収集したX線画像を用いる場合であってもよい。また、上述した撮影画像を用いて合成画像を生成するモード(通常画像参照モード)は、第1の実施形態及び第2の実施形態における精細画像参照モードの代わりに適宜適用することができる。 After that, the control function 211 controls the diaphragm control circuit 20 to widen the irradiation range of X-rays and irradiate the X-rays under the acquisition condition of the fluoroscopic image, thereby obtaining the first X-ray from the first photodetector 16a. Acquire a fluoroscopic image of the area of the line image. The generation function 212 sequentially generates composite images from the captured image that is acquired first and the fluoroscopic images that are acquired sequentially. Note that when collecting an averaged image, the control function 211 collects a plurality of captured images, and the generation function 212 uses the plurality of captured images to generate an averaged image. Note that when using an averaged image, an X-ray image acquired with a dose lower than that of a photographed image may be used. In addition, the above-described mode for generating a composite image using captured images (normal image reference mode) can be appropriately applied instead of the fine image reference mode in the first and second embodiments.

また、上述した実施形態では、シンチレータ16cが、第1の光検出器16aと第2の光検出器16bとで共有されるX線検出器16を用いる場合を例に挙げて説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、X線検出器16は、それぞれシンチレータと光検出器を備えた複数の検出器によって構成される場合であってもよい。図11は、第3の実施形態に係るX線検出器16の構成の一例を示す図である。 Further, in the above-described embodiment, the case where the X-ray detector 16 shared by the first photodetector 16a and the second photodetector 16b is used as the scintillator 16c has been described as an example. However, the embodiment is not limited to this, and the X-ray detector 16 may be composed of a plurality of detectors each having a scintillator and a photodetector. FIG. 11 is a diagram showing an example of the configuration of the X-ray detector 16 according to the third embodiment.

図11に示すように、第3の実施形態に係るX線検出器16は、第1の光検出器16d及び第1のシンチレータ16eを有する第1の検出器と、第2の光検出器16f及び第2のシンチレータ16gを有する第2の検出器とから構成される。第1の光検出器16dは、第1の光検出器aと同様の解像度を有する。また、第2の光検出器16fは、第2の光検出器16bと同様の解像度を有する。ここで、第2の検出器は、図11に示すように、回転機構40を備える支持器によって支持され、収集に用いる検出器に応じて位置が変更される。 As shown in FIG. 11, the X-ray detector 16 according to the third embodiment includes a first detector having a first photodetector 16d and a first scintillator 16e, and a second photodetector 16f. and a second detector having a second scintillator 16g. The first photodetector 16d has the same resolution as the first photodetector a. Also, the second photodetector 16f has the same resolution as the second photodetector 16b. Here, the second detector is supported by a support with a rotating mechanism 40, as shown in FIG. 11, and its position is changed according to the detector used for collection.

例えば、第1の検出器によってX線画像を収集する場合、第2の検出器は、回転機構40を支点に回転することで、第1の検出器の視野外の位置に移動される。一方、第2の検出器によってX線画像を収集する場合、第2の検出器は、回転機構40を支点に回転することで、X線管12と対峙する位置に移動される。第3の実施形態に係るX線検出器16は、上述した第1及び第2の実施形態におけるX線検出器として適用することができる。かかる場合には、検出器の切り替えのタイミングで、第2の検出器に対して回転機構40を支点にした回転移動が行われることとなる。 For example, when acquiring an X-ray image with the first detector, the second detector is rotated about the rotation mechanism 40 to move it out of the field of view of the first detector. On the other hand, when the X-ray image is acquired by the second detector, the second detector is moved to a position facing the X-ray tube 12 by rotating around the rotating mechanism 40 as a fulcrum. The X-ray detector 16 according to the third embodiment can be applied as the X-ray detector in the first and second embodiments described above. In such a case, the rotation mechanism 40 is used as a fulcrum to rotate the second detector at the switching timing of the detector.

また、上述した実施形態では、収集した第2のX線画像の全体を用いて合成画像を生成する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、第2のX線画像における一部を用いて合成画像を生成する場合であってもよい。かかる場合には、生成機能212は、第2のX線画像において合成画像に用いる領域を特定する。さらに、生成機能212は、特定した領域に対応する第1のX線画像における領域を特定する。そして、生成機能212は、第1のX線画像において特定した領域に対して、第2のX線画像において特定した領域を合成した合成画像を生成する。例えば、生成機能212は、特定の血管領域、或いは、血管内に留置されたデバイス(例えば、ステント等)の領域のみを合成した合成画像を生成する。 Further, in the above-described embodiment, a case has been described in which the synthesized image is generated using the entire acquired second X-ray image. However, the embodiments are not limited to this, and for example, a case where a part of the second X-ray image is used to generate a composite image may be used. In such a case, the generation function 212 identifies regions in the second X-ray image to be used for the composite image. Further, the generation function 212 identifies regions in the first X-ray image that correspond to the identified regions. Then, the generation function 212 generates a composite image by combining the region identified in the second X-ray image with the region identified in the first X-ray image. For example, the generation function 212 generates a composite image in which only a specific vascular region or a region of a device (eg, stent, etc.) placed in the blood vessel is composited.

また、上述した実施形態では、血管に挿入中のデバイスの動きに対応する画素値を反映させる場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、収集中のX線画像内で生じた画素値の変化であれば、どのような変化を反映させる場合であってもよい。例えば、カテーテル操作中に留置済みのステントの形状が変化した場合、第2のX線画像に描写されたステントに対して、変化後の形状を反映させてもよい。 Also, in the above-described embodiment, a case has been described in which pixel values corresponding to movement of a device being inserted into a blood vessel are reflected. However, the embodiment is not limited to this, and any change in pixel value that occurs within an X-ray image being acquired may be reflected. For example, if the shape of an indwelling stent changes during catheter manipulation, the changed shape may be reflected in the stent depicted in the second X-ray image.

また、画素値の変化は、デバイスの動きに起因するものだけではなく、例えば、造影剤の流入・流出に起因するものであってもよい。かかる場合には、生成機能212は、造影剤の流入によって変化した画素値を第2のX線画像に反映させるとともに、造影剤の流出によって変化した画素値を第2のX線画像に反映させる。この結果、高精細な画像上で造影剤の流れを観察することができる。また、例えば、造影剤の流出によって変化した画素値を第2のX線画像に反映させないように制御することで、血管像を取得することもできる。 Further, the change in pixel value may be caused not only by movement of the device but also by inflow/outflow of a contrast medium, for example. In such a case, the generation function 212 reflects the pixel values changed by the inflow of the contrast agent in the second X-ray image, and reflects the pixel values changed by the outflow of the contrast agent in the second X-ray image. . As a result, the flow of the contrast medium can be observed on a high-definition image. In addition, for example, a blood vessel image can be obtained by performing control so that the pixel values that have changed due to the outflow of the contrast agent are not reflected in the second X-ray image.

上述した実施形態では、X線診断装置100が各処理を実行する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、画像処理装置が、X線診断装置100からX線画像を取得して上述した処理を実行する場合であってもよい。図12は、第3の実施形態に係る画像処理装置300の構成の一例を示す図である。図12に示すように、画像処理装置300は、通信インターフェース31と、記憶回路32と、入力インターフェース33と、ディスプレイ34と、処理回路35とを有する。 In the above-described embodiment, the case where the X-ray diagnostic apparatus 100 executes each process has been described. However, the embodiments are not limited to this, and for example, the image processing apparatus may acquire an X-ray image from the X-ray diagnostic apparatus 100 and execute the above-described processing. FIG. 12 is a diagram showing an example configuration of an image processing apparatus 300 according to the third embodiment. As shown in FIG. 12, the image processing apparatus 300 has a communication interface 31, a memory circuit 32, an input interface 33, a display 34, and a processing circuit 35.

通信インターフェース31は、処理回路35に接続され、ネットワークを介して接続されたX線診断装置100との間で行われる各種データの伝送及び通信を制御する。例えば、通信インターフェース31は、ネットワークカードやネットワークアダプタ、NIC(Network Interface Controller)等によって実現される。本実施形態では、通信インターフェース31は、X線診断装置100からX線画像を受信し、受信したX線画像を処理回路35に出力する。ここで、通信インターフェース31は、X線診断装置100によって収集されたリアルタイムのX線画像を受信して、処理回路35に出力することができる。 The communication interface 31 is connected to the processing circuit 35 and controls transmission and communication of various data with the X-ray diagnostic apparatus 100 connected via the network. For example, the communication interface 31 is implemented by a network card, network adapter, NIC (Network Interface Controller), or the like. In this embodiment, the communication interface 31 receives an X-ray image from the X-ray diagnostic apparatus 100 and outputs the received X-ray image to the processing circuit 35 . Here, the communication interface 31 can receive real-time X-ray images acquired by the X-ray diagnostic apparatus 100 and output them to the processing circuitry 35 .

記憶回路32は、処理回路35に接続され、各種データを記憶する。例えば、記憶回路32は、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子や、ハードディスク、光ディスク等によって実現される。本実施形態では、記憶回路32は、X線診断装置100から受信したX線画像を記憶する。例えば、記憶回路32は、X線診断装置によって収集された第1の光検出器16a、16dによって収集された透視画像及び撮影画像、第2の光検出器16b、16fによって収集された高解像度のX線画像等を記憶する。 The storage circuit 32 is connected to the processing circuit 35 and stores various data. For example, the storage circuit 32 is implemented by a semiconductor memory device such as a RAM (Random Access Memory) or flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like. In this embodiment, the storage circuit 32 stores X-ray images received from the X-ray diagnostic apparatus 100 . For example, the storage circuit 32 stores fluoroscopic and radiographic images collected by the first photodetectors 16a, 16d collected by the X-ray diagnostic apparatus, high-resolution images collected by the second photodetectors 16b, 16f. Stores X-ray images and the like.

また、記憶回路32は、処理回路35の処理に用いられる種々の情報や、処理回路35による処理結果等を記憶する。例えば、記憶回路32は、処理回路35によって生成された加算平均画像や、合成画像などを記憶する。 The storage circuit 32 also stores various information used in the processing of the processing circuit 35, processing results of the processing circuit 35, and the like. For example, the storage circuit 32 stores an average image generated by the processing circuit 35, a synthesized image, and the like.

入力インターフェース33は、種々の設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、及び音声入力回路等によって実現される。 The input interface 33 includes a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, a touch pad for performing input operations by touching the operation surface, a touch screen in which the display screen and the touch pad are integrated, It is realized by a non-contact input circuit using an optical sensor, an audio input circuit, and the like.

入力インターフェース33は、処理回路35に接続されており、操作者から受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路35に出力する。なお、本明細書において入力インターフェース33は、マウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路へ出力する処理回路も入力インターフェースの例に含まれる。 The input interface 33 is connected to the processing circuit 35 , converts an input operation received from an operator into an electric signal, and outputs the electric signal to the processing circuit 35 . It should be noted that the input interface 33 in this specification is not limited to having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an example of an input interface includes a processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the device and outputs this electrical signal to a control circuit.

ディスプレイ34は、処理回路35に接続され、処理回路35から出力される各種情報及び各種画像を表示する。例えば、ディスプレイ34は、液晶モニタやCRT(Cathode Ray Tube)モニタ、タッチパネル等によって実現される。例えば、ディスプレイ34は、操作者の指示を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)や、種々の画像、処理回路35による種々の処理結果を表示する。 The display 34 is connected to the processing circuit 35 and displays various information and various images output from the processing circuit 35 . For example, the display 34 is realized by a liquid crystal monitor, a CRT (Cathode Ray Tube) monitor, a touch panel, or the like. For example, the display 34 displays a GUI (Graphical User Interface) for receiving instructions from the operator, various images, and various processing results by the processing circuit 35 .

処理回路35は、入力インターフェース33を介して操作者から受け付けた入力操作に応じて、画像処理装置300が有する各構成要素を制御する。例えば、処理回路35は、プロセッサによって実現される。本実施形態では、処理回路35は、通信インターフェース31から出力されるX線画像を記憶回路32に記憶させる。また、処理回路35は、記憶回路32からX線画像を読み出し、読み出したX線画像から生成した合成画像をディスプレイ34に表示させる。 The processing circuit 35 controls each component of the image processing apparatus 300 according to an input operation received from an operator via the input interface 33 . For example, processing circuitry 35 is implemented by a processor. In this embodiment, the processing circuit 35 causes the storage circuit 32 to store the X-ray image output from the communication interface 31 . The processing circuit 35 also reads out the X-ray image from the storage circuit 32 and causes the display 34 to display a composite image generated from the read X-ray image.

処理回路35は、図12に示すように、例えば、制御機能351、生成機能352及び画像処理機能353を実行する。ここで、例えば、図12に示す処理回路35の構成要素である制御機能351、生成機能352及び画像処理機能353が実行する各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路32内に記録されている。処理回路35は、例えば、プロセッサであり、記憶回路32から各プログラムを読み出し、実行することで読み出した各プログラムに対応する機能を実現する。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路35は、図12の処理回路35内に示された各機能を有することとなる。 The processing circuitry 35 executes, for example, a control function 351, a generation function 352, and an image processing function 353, as shown in FIG. Here, for example, each processing function executed by the control function 351, the generation function 352, and the image processing function 353, which are components of the processing circuit 35 shown in FIG. recorded in The processing circuit 35 is, for example, a processor, and reads each program from the storage circuit 32 and executes the read program to implement the function corresponding to the read program. In other words, the processing circuit 35 with each program read has each function shown in the processing circuit 35 of FIG.

制御機能351は、画像処理装置300の全体を制御する。また、制御機能351は、X線診断装置100からX線画像を取得し、上述した制御機能211と同様の処理を実行する。生成機能352は、上述した生成機能212と同様の処理を実行する。画像処理機能353は、上述した画像処理機能213と同様の処理を実行する。 The control function 351 controls the entire image processing apparatus 300 . Also, the control function 351 acquires an X-ray image from the X-ray diagnostic apparatus 100 and executes the same processing as the control function 211 described above. The generation function 352 performs processing similar to that of the generation function 212 described above. The image processing function 353 executes processing similar to that of the image processing function 213 described above.

上述した実施形態では、単一の処理回路(処理回路21及び処理回路35)によって各処理機能が実現される場合の例を説明したが、実施形態はこれに限られない。例えば、処理回路21(及び処理回路35)は、複数の独立したプロセッサを組み合わせて構成され、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路21(及び処理回路35)が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。 In the above-described embodiment, an example in which each processing function is realized by a single processing circuit (processing circuit 21 and processing circuit 35) has been described, but the embodiment is not limited to this. For example, the processing circuit 21 (and the processing circuit 35) may be configured by combining a plurality of independent processors, and each processor may implement each processing function by executing each program. Further, each processing function of the processing circuit 21 (and the processing circuit 35) may be appropriately distributed or integrated in a single or a plurality of processing circuits and implemented.

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路25(或いは、記憶回路32)に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路25(或いは、記憶回路32)にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。 In addition, the term "processor" used in the above description includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device ( For example, it means circuits such as Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA). The processor implements its functions by reading and executing a program stored in the memory circuit 25 (or memory circuit 32). Note that instead of storing the program in the memory circuit 25 (or the memory circuit 32), the program may be configured to be directly embedded in the circuit of the processor. In this case, the processor implements its functions by reading and executing the program embedded in the circuit. Note that each processor of the present embodiment is not limited to being configured as a single circuit for each processor, and may be configured as one processor by combining a plurality of independent circuits to realize its function. good.

ここで、プロセッサによって実行される画像処理プログラムは、ROM(Read Only Memory)や記憶部等に予め組み込まれて提供される。なお、この画像処理プログラムは、これらの装置にインストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD(Compact Disk)-ROM、FD(Flexible Disk)、CD-R(Recordable)、DVD(Digital Versatile Disk)等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供されてもよい。また、この画像処理プログラムは、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納され、ネットワーク経由でダウンロードされることにより提供又は配布されてもよい。例えば、この画像処理プログラムは、後述する各機能部を含むモジュールで構成される。実際のハードウェアとしては、CPUが、ROM等の記憶媒体からプログラムを読み出して実行することにより、各モジュールが主記憶装置上にロードされて、主記憶装置上に生成される。 Here, the image processing program executed by the processor is preinstalled in a ROM (Read Only Memory), storage unit, or the like and provided. This image processing program is a file in a format that can be installed in these devices or in a format that can be executed on CD (Compact Disk)-ROM, FD (Flexible Disk), CD-R (Recordable), DVD (Digital Versatile Disk). ) or other computer-readable storage medium. Also, this image processing program may be stored on a computer connected to a network such as the Internet, and may be provided or distributed by being downloaded via the network. For example, this image processing program is composed of modules including each functional unit described later. As actual hardware, the CPU reads out a program from a storage medium such as a ROM and executes it, so that each module is loaded onto the main storage device and generated on the main storage device.

また、上述した実施形態で図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行われる各処理機能は、その全部または任意の一部が、CPUおよび当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、或いは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。 Also, each component of each device illustrated in the above-described embodiment is functionally conceptual, and does not necessarily need to be physically configured as illustrated. In other words, the specific form of distribution and integration of each device is not limited to the one shown in the figure, and all or part of them can be functionally or physically distributed and integrated in arbitrary units according to various loads and usage conditions. Can be integrated and configured. Furthermore, all or any part of each processing function performed by each device can be implemented by a CPU and a program analyzed and executed by the CPU, or implemented as hardware based on wired logic.

以上説明したとおり、少なくとも1つの実施形態によれば、高精細な画像を表示させつつ、被曝量の増大を抑止することを可能にする。 As described above, according to at least one embodiment, it is possible to suppress an increase in exposure dose while displaying a high-definition image.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention, as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.

21、35 処理回路
100 X線診断装置
211、351 制御機能
212、352 生成機能
213、353 画像処理機能
300 画像処理装置
21, 35 processing circuit 100 X-ray diagnostic apparatus 211, 351 control function 212, 352 generation function 213, 353 image processing function 300 image processing apparatus

Claims (11)

被検体がX線により撮像された第1のX線画像を順次取得する取得部と、
前記第1のX線画像の一部を、前記第1のX線画像よりも前の時点において前記第1のX線画像よりも高いX線量により撮像された第2のX線画像で示した合成画像を、前記第1のX線画像の取得と並行して生成する生成部と、
前記第1のX線画像における前記第2のX線画像に対応する領域の画素値の変化を検出し、変化した画素値の情報を前記第2のX線画像における対応する位置の画素に反映させる処理部と、
を備える、画像処理装置。
an acquisition unit that sequentially acquires first X-ray images obtained by imaging a subject using X-rays;
A portion of the first X-ray image was shown in a second X-ray image taken at an earlier time than the first X-ray image with a higher X-ray dose than the first X-ray image. a generation unit that generates a composite image in parallel with acquisition of the first X-ray image;
detecting a change in pixel value in a region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image, and transmitting information of the changed pixel value to a corresponding position in the second X-ray image; a processing unit for reflecting on pixels ;
An image processing device comprising:
前記処理部は、前記第2のX線画像の対応する位置の画素の画素値を、前記第1のX線画像の変化後の画素値に置換する、請求項に記載の画像処理装置。 The image processing apparatus according to claim 1 , wherein the processing unit replaces pixel values of pixels at corresponding positions in the second X-ray image with pixel values after the change in the first X-ray image. 前記生成部は、前記第1のX線画像に前記第2のX線画像を重畳させることで前記合成画像を生成し、
前記処理部は、前記第2のX線画像の不透過度を低下させることで、前記第1のX線画像の変化後の画素値の情報を、前記第2のX線画像の対応する位置に反映させる、請求項に記載の画像処理装置。
The generation unit generates the composite image by superimposing the second X-ray image on the first X-ray image,
The processing unit reduces the opacity of the second X-ray image so that the pixel value information after the change of the first X-ray image is transferred to the corresponding position of the second X-ray image. 2. The image processing apparatus according to claim 1 , wherein the image is reflected in the image.
前記取得部は、前記第2のX線画像の領域について、前記第2のX線画像よりも低いX線量により撮像された第3のX線画像を順次取得し、
前記生成部は、複数の前記第3のX線画像を加算平均した加算平均画像と、前記第1のX線画像とを合成した合成画像を、前記第3のX線画像の取得と並行して生成し、
前記処理部は、前記第3のX線画像における画素値の変化を契機として順次収集された前記第1のX線画像に基づく画素値の情報を、前記第2のX線画像の対応する位置又は前記加算平均画像の対応する位置に反映させる、請求項1~のいずれか1つに記載の画像処理装置。
The acquisition unit sequentially acquires a third X-ray image captured with an X-ray dose lower than that of the second X-ray image for the region of the second X-ray image,
The generation unit generates a composite image obtained by synthesizing an average image obtained by averaging the plurality of third X-ray images and the first X-ray image in parallel with acquisition of the third X-ray image. and generate
The processing unit stores pixel value information based on the first X-ray image sequentially acquired with a change in the pixel value in the third X-ray image as a trigger for transferring the pixel value information to the corresponding position of the second X-ray image. 4. The image processing device according to any one of claims 1 to 3 , wherein the image is reflected in the corresponding position of the addition average image.
前記取得部は、前記第1のX線画像の前記第2のX線画像に対応する領域における画素値の変化が閾値未満であることを条件に、前記第3のX線画像の順次取得を開始する、請求項に記載の画像処理装置。 The acquisition unit sequentially acquires the third X-ray image on condition that a change in pixel value in a region of the first X-ray image corresponding to the second X-ray image is less than a threshold. 5. The image processing apparatus of claim 4 , starting. 前記取得部は、前記第2のX線画像として、前記第1のX線画像を収集した検出器よりも高い解像度を有する検出器によって前記第1のX線画像よりも高いX線量で収集されたX線画像を取得する、請求項1~のいずれか1つに記載の画像処理装置。 The acquisition unit acquires the second X-ray image at a higher X-ray dose than the first X-ray image by a detector having a higher resolution than the detector that acquired the first X-ray image. 6. The image processing apparatus according to any one of claims 1 to 5 , which acquires an X-ray image obtained by 前記取得部は、前記第2のX線画像として、前記第1のX線画像を収集した検出器によって前記第1のX線画像よりも高いX線量で収集されたX線画像、又は、当該X線画像を複数用いて加算平均した加算平均画像を取得する、請求項1~のいずれか1つに記載の画像処理装置。 The acquisition unit uses, as the second X-ray image, an X-ray image acquired with a higher X-ray dose than the first X-ray image by the detector that acquired the first X-ray image, or The image processing apparatus according to any one of claims 1 to 5 , wherein a plurality of X-ray images are used and averaged to obtain an averaged image. 前記生成部は、順次取得される前記第1のX線画像において、画素値が変化した画素の数が閾値を超えた場合に、前記第1のX線画像と前記第2のX線画像との位置合わせ処理を実行した後に前記合成画像を生成する、請求項1~のいずれか1つに記載の画像処理装置。 The generator generates the first X-ray image and the second X-ray image when the number of pixels whose pixel values have changed exceeds a threshold in the first X-ray images that are sequentially acquired. 8. The image processing apparatus according to any one of claims 1 to 7 , wherein the synthesized image is generated after executing the registration process of . 前記生成部は、前記取得部によるX線画像の順次取得に応じて、前記合成画像を順次生成する、請求項1~のいずれか1つに記載の画像処理装置。 The image processing apparatus according to any one of claims 1 to 8 , wherein said generation unit sequentially generates said composite image in accordance with sequential acquisition of X-ray images by said acquisition unit. 被検体をX線により撮像して第1のX線画像を順次収集する撮像部と、
前記第1のX線画像の一部を、前記第1のX線画像よりも前の時点において前記第1のX線画像よりも高いX線量により撮像した第2のX線画像で示した合成した合成画像を、前記第1のX線画像の収集と並行して生成する生成部と、
前記第1のX線画像における前記第2のX線画像に対応する領域の画素値の変化を検出し、変化した画素値の情報を前記第2のX線画像における対応する位置の画素に反映させる処理部と、
を備える、X線診断装置。
an imaging unit for imaging a subject with X-rays and sequentially acquiring first X-ray images;
A composite showing a portion of the first X-ray image with a second X-ray image taken at an earlier time than the first X-ray image with a higher X-ray dose than the first X-ray image. a generating unit that generates a combined image obtained by the above in parallel with acquisition of the first X-ray image;
detecting a change in pixel value in a region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image, and transmitting information of the changed pixel value to a corresponding position in the second X-ray image; a processing unit for reflecting on pixels ;
An X-ray diagnostic apparatus comprising:
被検体がX線により撮像された第1のX線画像を順次取得し、
前記第1のX線画像の一部を、前記第1のX線画像よりも前の時点において前記第1のX線画像よりも高いX線量により撮像された第2のX線画像で示した合成画像を、前記第1のX線画像の取得と並行して生成し、
前記第1のX線画像における前記第2のX線画像に対応する領域の画素値の変化を検出し、変化した画素値の情報を前記第2のX線画像における対応する位置の画素に反映させる、
各処理をコンピュータに実行させる、画像処理プログラム。
Sequentially acquiring first X-ray images in which the subject is imaged by X-rays,
A portion of the first X-ray image was shown in a second X-ray image taken at an earlier time than the first X-ray image with a higher X-ray dose than the first X-ray image. generating a composite image in parallel with acquiring the first X-ray image;
detecting a change in pixel value in a region corresponding to the second X-ray image in the first X-ray image, and transmitting information of the changed pixel value to a corresponding position in the second X-ray image; reflected in pixels ,
An image processing program that causes a computer to execute each process.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011200573A (en) 2010-03-26 2011-10-13 Toshiba Corp Radiography equipment
JP2017159180A (en) 2017-06-27 2017-09-14 東芝メディカルシステムズ株式会社 X-ray ct apparatus and image display method
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Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011200573A (en) 2010-03-26 2011-10-13 Toshiba Corp Radiography equipment
US20110235889A1 (en) 2010-03-29 2011-09-29 Martin Spahn Method for enhanced visualization of objects in interventional angiographic examinations and device for performing the method
JP2017164573A (en) 2011-10-05 2017-09-21 ニューヴェイジヴ,インコーポレイテッド Generation method of image display
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