JP7116889B2 - Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll - Google Patents

Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll Download PDF

Info

Publication number
JP7116889B2
JP7116889B2 JP2018153944A JP2018153944A JP7116889B2 JP 7116889 B2 JP7116889 B2 JP 7116889B2 JP 2018153944 A JP2018153944 A JP 2018153944A JP 2018153944 A JP2018153944 A JP 2018153944A JP 7116889 B2 JP7116889 B2 JP 7116889B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polymer film
heat
resistant polymer
film
bis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018153944A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020029475A (en
Inventor
美唯妃 林
哲雄 奥山
全広 山下
俊介 市村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyobo Co Ltd
Original Assignee
Toyobo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyobo Co Ltd filed Critical Toyobo Co Ltd
Priority to JP2018153944A priority Critical patent/JP7116889B2/en
Publication of JP2020029475A publication Critical patent/JP2020029475A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7116889B2 publication Critical patent/JP7116889B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、耐熱高分子フィルム、表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法、及び、耐熱高分子フィルムロールに関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a heat-resistant polymer film, a method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film, and a heat-resistant polymer film roll.

近年、半導体素子、MEMS素子、ディスプレイ素子など機能素子の軽量化、小型・薄型化、フレキシビリティ化を目的として、高分子フィルム上にこれらの素子を形成する技術開発が活発に行われている。すなわち、情報通信機器(放送機器、移動体無線、携帯通信機器等)、レーダーや高速情報処理装置などといった電子部品の基材の材料としては、従来、耐熱性を有し且つ情報通信機器の信号帯域の高周波数化(GHz帯に達する)にも対応し得るセラミックが用いられていたが、セラミックはフレキシブルではなく薄型化もしにくいので、適用可能な分野が限定されるという欠点があったため、最近は高分子フィルムが基板として用いられている。 In recent years, for the purpose of reducing the weight, size, thickness, and flexibility of functional elements such as semiconductor elements, MEMS elements, and display elements, the development of techniques for forming these elements on polymer films has been actively carried out. That is, conventionally, as a material for the base material of electronic parts such as information communication equipment (broadcasting equipment, mobile radio, portable communication equipment, etc.), radar, high-speed information processing equipment, etc., it has heat resistance and the signal of information communication equipment Ceramics have been used to support higher frequencies (up to the GHz band), but ceramics are not flexible and are difficult to thin. uses a polymer film as the substrate.

半導体素子、MEMS素子、ディスプレイ素子などの機能素子を高分子フィルム表面に形成するにあたっては、高分子フィルムの特性であるフレキシビリティを利用した、いわゆるロール・ツー・ロールプロセスにて加工することが理想とされている。しかしながら、半導体産業、MEMS産業、ディスプレイ産業等の業界では、これまでウエハベースまたはガラス基板ベース等のリジッドな平面基板を対象としたプロセス技術が構築されてきた。そこで、既存インフラを利用して機能素子を高分子フィルム上に形成するために、高分子フィルムを、例えばガラス板、セラミック板、シリコンウエハ、金属板などの無機物からなるリジッドな支持体に貼り合わせ、その上に所望の素子を形成した後に支持体から剥離するというプロセスが用いられている。 When forming functional elements such as semiconductor elements, MEMS elements, and display elements on the surface of a polymer film, it is ideal to use the so-called roll-to-roll process, which takes advantage of the flexibility that characterizes polymer films. It is said that However, in industries such as the semiconductor industry, the MEMS industry, the display industry, and the like, so far, process technologies have been established for rigid planar substrates such as wafer bases or glass substrate bases. Therefore, in order to form a functional element on a polymer film using the existing infrastructure, the polymer film is attached to a rigid support made of an inorganic material such as a glass plate, a ceramic plate, a silicon wafer, or a metal plate. , forming desired elements thereon, and then separating from the support.

ところで、高分子フィルムと無機物からなる支持体とを貼り合わせた積層体に所望の機能素子を形成するプロセスにおいては、該積層体は高温に曝されることが多い。例えば、ポリシリコンや酸化物半導体などの機能素子の形成においては200℃~600℃程度の温度域での工程が必要である。また、水素化アモルファスシリコン薄膜の作製においては200~300℃程度の温度がフィルムに加わる場合あり、さらにアモルファスシリコンを加熱、脱水素化して低温ポリシリコンとするためには450℃~600℃程度の加熱が必要になる場合がある。したがって、積層体を構成する高分子フィルムには耐熱性が求められるが、現実問題としてかかる高温域にて実用に耐える高分子フィルムは限られている。また、支持体への高分子フィルムの貼り合わせには一般に粘着剤や接着剤を用いることが考えられるが、その際の高分子フィルムと支持体との接合面(すなわち貼り合せ用の接着剤や粘着剤)にも耐熱性が求められる。しかし、通常の貼り合せ用の接着剤や粘着剤は十分な耐熱性を有していないため、機能素子の形成温度が高い場合には接着剤や粘着剤による貼り合わせは適用できない。 By the way, in the process of forming a desired functional element in a laminate obtained by laminating a polymer film and an inorganic support, the laminate is often exposed to high temperatures. For example, formation of functional elements such as polysilicon and oxide semiconductors requires a process in a temperature range of about 200.degree. C. to 600.degree. In the production of a hydrogenated amorphous silicon thin film, a temperature of about 200 to 300° C. may be applied to the film. Heating may be required. Therefore, the polymer films constituting the laminate are required to have heat resistance, but as a matter of fact, only a limited number of polymer films can be put to practical use in such a high temperature range. In general, it is conceivable to use a pressure-sensitive adhesive or an adhesive for laminating a polymer film to a support. Adhesives) are also required to have heat resistance. However, since ordinary bonding adhesives and pressure-sensitive adhesives do not have sufficient heat resistance, bonding using adhesives or pressure-sensitive adhesives cannot be applied when the forming temperature of the functional element is high.

充分な耐熱性を有する粘着剤や接着剤が存在しないと考えられていため、従来、上述した用途においては、高分子溶液または高分子の前駆体溶液を無機基板上に塗布して無機基板上で乾燥・硬化させてフィルム化し、当該用途に使用する技術が採用されていた。しかしながら、かかる手段により得られる高分子フィルムは、脆く裂けやすいため、高分子フィルム表面に形成された機能素子は無機基板から剥離する際に破壊してしまう場合が多い。特に無機基板から大面積のフィルムを剥離するのは極めて難しく、およそ工業的に成り立つ歩留まりを得ることはできない。
このような事情に鑑み、機能素子を形成するための高分子フィルムと無機基板との積層体として、耐熱性に優れ強靭で薄膜化が可能なポリイミドフィルムを、シランカップリング剤を介して無機基板に貼り合わせた積層体が提案されている(例えば、特許文献1~3参照)。
Since it is believed that there are no pressure-sensitive adhesives or adhesives with sufficient heat resistance, conventionally, in the above-mentioned applications, a polymer solution or a polymer precursor solution is coated on an inorganic substrate, and then the inorganic substrate is coated. A technique of drying and curing to form a film and using it for the application has been adopted. However, since the polymer film obtained by such means is fragile and easily torn, the functional element formed on the surface of the polymer film is often broken when peeled off from the inorganic substrate. In particular, it is extremely difficult to peel a large-area film from an inorganic substrate, and it is almost impossible to obtain an industrially viable yield.
In view of this situation, as a laminate of a polymer film and an inorganic substrate for forming a functional element, a polyimide film that has excellent heat resistance and is tough and can be thinned is applied to the inorganic substrate via a silane coupling agent. Laminates bonded to each other have been proposed (see, for example, Patent Documents 1 to 3).

特許第5152104号公報Japanese Patent No. 5152104 特許第5304490号公報Japanese Patent No. 5304490 特許第5531781号公報Japanese Patent No. 5531781

本発明者らは、ポリイミドフィルム等の耐熱高分子フィルムについてさらに鋭意研究を行った。その結果、多価アミン化合物で耐熱高分子フィルムを表面処理すると、驚くべきことに、シランカップリング剤を用いる場合と同等、又は、それ以上に充分な耐熱性を有し、且つ、無機基板との接着力が良好となることを見出し、本発明を完成するに至った。また、本発明者らは、多価アミン化合物を用いた耐熱高分子フィルムの表面処理は、シランカップリング剤を用いる場合と比較して、容易に耐熱高分子フィルムの表面処理を行うことが可能であることも見出した。 The present inventors further conducted extensive research on heat-resistant polymer films such as polyimide films. As a result, when a heat-resistant polymer film is surface-treated with a polyvalent amine compound, it surprisingly has sufficient heat resistance equal to or higher than that obtained when a silane coupling agent is used, and the inorganic substrate and The inventors have found that the adhesive strength of the adhesive becomes good, and have completed the present invention. In addition, the present inventors have found that surface treatment of heat-resistant polymer films using polyvalent amine compounds can be performed more easily than in the case of using silane coupling agents. It was also found that

すなわち、本発明に係る耐熱高分子フィルムは、
表面処理された第1面を有する耐熱高分子フィルムであって、
前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多いことを特徴とする。
That is, the heat-resistant polymer film according to the present invention is
A heat-resistant polymer film having a surface-treated first surface,
The nitrogen content of the first surface is 0.45 atom % or more higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film.

前記構成によれば、前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多いため、前記第1面は、多価アミン化合物で表面処理されているといえる。このような耐熱高分子フィルムは、充分な耐熱性を有し、且つ、無機基板との接着力が良好となる。このことは、実施例の記載からも明らかである。
また、前記耐熱高分子フィルムは、多価アミン化合物で表面処理すれば得られるため、生産性により優れる。
According to the above configuration, the nitrogen content of the first surface is 0.45 atomic % or more higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film. It can be said that the surface is treated with a compound. Such a heat-resistant polymer film has sufficient heat resistance and good adhesion to an inorganic substrate. This is also clear from the description of the examples.
Moreover, since the heat-resistant polymer film can be obtained by surface treatment with a polyvalent amine compound, it is excellent in productivity.

また、本発明に係る表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法は、
耐熱高分子フィルムに、多価アミン化合物を塗布する工程Aと、
前記工程Aの後、前記耐熱高分子フィルムを、0℃以上60℃未満の範囲内で保持する工程Bと、
前記工程Bの後、前記耐熱高分子フィルムを、60℃以上250℃以下の範囲内で保持する工程Cと
を有することを特徴とする。
In addition, the method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to the present invention comprises:
A step A of applying a polyvalent amine compound to a heat-resistant polymer film;
After the step A, a step B of maintaining the heat-resistant polymer film within a range of 0° C. or more and less than 60° C.;
After the step B, a step C of maintaining the heat-resistant polymer film within a range of 60° C. or higher and 250° C. or lower is provided.

前記構成によれば、耐熱高分子フィルムに多価アミン化合物を塗布した後、0℃以上60℃未満の範囲内で保持し、次に、前記耐熱高分子フィルムを、60℃以上250℃以下の範囲内で保持すれば、表面処理された耐熱高分子フィルムを得ることができる。従って、生産性により優れる。また、このようにして得られた表面処理された耐熱高分子フィルムは、充分な耐熱性を有し、且つ、無機基板との接着力が良好となる。このことは、実施例の記載からも明らかである。
本発明者らは、前記工程Bにおいて、多価アミン化合物による耐熱高分子フィルムの部分分解が行われ、前記工程Cにおいて、部分分解によって生じた耐熱高分子フィルム表面の官能基と多価アミン化合物とが反応し、これにより、本発明の表面処理された耐熱高分子フィルムが得られていると推察している。つまり、工程Bを行わず、工程Cを行うと、急激に高い温度に晒されることになるため、耐熱高分子フィルムの部分分解が行われる前に多価アミン化合物が揮発してしまい、適切な表面処理が行われないことになると推察している。
According to the above configuration, after the polyamine compound is applied to the heat-resistant polymer film, it is held at a temperature in the range of 0° C. or higher and lower than 60° C., and then the heat-resistant polymer film is heated at a temperature of 60° C. or higher and 250° C. or lower. A surface-treated heat-resistant polymer film can be obtained by keeping it within the range. Therefore, it is superior in productivity. In addition, the surface-treated heat-resistant polymer film obtained in this way has sufficient heat resistance and good adhesion to an inorganic substrate. This is also clear from the description of the examples.
The present inventors found that in step B, the heat-resistant polymer film was partially decomposed by a polyvalent amine compound, and in step C, the functional groups on the surface of the heat-resistant polymer film generated by the partial decomposition and the polyvalent amine compound It is surmised that the surface-treated heat-resistant polymer film of the present invention is obtained. In other words, if step C is performed without step B, the heat-resistant polymer film will be exposed to a sudden high temperature, and the polyvalent amine compound will volatilize before the heat-resistant polymer film is partially decomposed. It is speculated that surface treatment will not be performed.

前記構成においては、前記多価アミン化合物の分子量が300以下であることが好ましい。 In the above configuration, the polyvalent amine compound preferably has a molecular weight of 300 or less.

前記多価アミン化合物の分子量が300以下であると、常温で液体状態の化合物が多く、気相塗布法で簡便に用いることが可能である。 When the molecular weight of the polyvalent amine compound is 300 or less, many of the compounds are in a liquid state at room temperature, and can be easily used in a vapor phase coating method.

前記構成においては、前記多価アミン化合物の沸点が50℃以上250℃以下であることが好ましい。 In the above configuration, the boiling point of the polyvalent amine compound is preferably 50°C or higher and 250°C or lower.

前記多価アミン化合物の沸点が50℃以上であると、前記工程Bの間に前記多価アミン化合物が揮発してしまうことを抑制できる。また、前記多価アミン化合物の沸点が250℃以下であると、前記工程Cにおいて余剰の多価アミン化合物を好適に揮発させることができる。
なお、本明細書において、沸点とは、常圧(1atm)での沸点をいう。
When the boiling point of the polyvalent amine compound is 50° C. or higher, volatilization of the polyvalent amine compound during the step B can be suppressed. Further, when the boiling point of the polyvalent amine compound is 250° C. or lower, the excessive polyvalent amine compound can be suitably volatilized in the step C.
In addition, in this specification, the boiling point means the boiling point at normal pressure (1 atm).

前記構成において、前記多価アミン化合物がジアミン化合物であることが好ましい。 In the above configuration, the polyvalent amine compound is preferably a diamine compound.

前記多価アミン化合物がジアミン化合物であると、無機基板との接着力(剥離強度)がより良好となる。また、無機基板に貼り合わせた後の積層体を高温(例えば、500℃で1時間)にさらしたとしても、剥離強度の上昇をより抑制することが可能である。本発明者らは、その理由として、ジアミンが無機基板とフィルム両方と作用する物質であり、価数が上がるほど、接着力は上昇する傾向があり、ジアミン化合物を用いることで、良好な接着力を得ることができる。また、高温にさらした後にはフィルムをやや劣化させ、易剥離が可能な層を形成しているためと推察している。 When the polyvalent amine compound is a diamine compound, the adhesive strength (peel strength) to an inorganic substrate becomes better. Moreover, even if the laminate after being bonded to the inorganic substrate is exposed to a high temperature (for example, 500° C. for 1 hour), it is possible to further suppress an increase in the peel strength. The present inventors have found that the reason for this is that diamine is a substance that acts on both the inorganic substrate and the film, and the higher the valence, the higher the adhesive force tends to be. can be obtained. Also, it is speculated that the film is slightly deteriorated after being exposed to high temperatures, forming a layer that can be easily peeled off.

前記構成において、前記多価アミン化合物が分岐脂肪族多価アミン化合物であることが好ましい。 In the above configuration, the polyvalent amine compound is preferably a branched aliphatic polyvalent amine compound.

前記多価アミン化合物が分岐脂肪族多価アミン化合物であると、炭素数が同じ化合物であっても直鎖脂肪族多価アミン化合物よりも一般的に沸点が低く、気相塗布法等によるフィルム処理をより簡便に行うことができる。 When the polyvalent amine compound is a branched aliphatic polyvalent amine compound, even if the compound has the same number of carbon atoms, it generally has a lower boiling point than the straight-chain aliphatic polyvalent amine compound, and can be applied to a film by a vapor phase coating method or the like. Processing can be performed more easily.

また、本発明に係る耐熱高分子フィルムロールは、
前記耐熱高分子フィルムがロール状に巻かれていることを特徴とする。
Further, the heat-resistant polymer film roll according to the present invention is
The heat-resistant polymer film is wound into a roll.

前記構成によれば、前記耐熱高分子フィルムがロール状に巻かれているので、表面処理された耐熱高分子フィルムという形態での輸送が容易である。 According to the above configuration, since the heat-resistant polymer film is wound in a roll shape, it can be easily transported in the form of a surface-treated heat-resistant polymer film.

また、本発明に係る積層体は、
前記耐熱高分子フィルムと、
無機基板と
を有し、
前記耐熱高分子フィルムの前記第1面が、前記無機基板と対向するように積層されていることを特徴とする。
Further, the laminate according to the present invention is
the heat-resistant polymer film;
an inorganic substrate;
The first surface of the heat-resistant polymer film is laminated so as to face the inorganic substrate.

また、本発明に係る積層体の製造方法は、
前記耐熱高分子フィルムの前記第1面と前記無機基板とを対向させて重ねる工程Xと、
前記工程Xの後、前記耐熱高分子フィルムと前記無機基板とを加圧して密着体を得る工程Yと、
前記工程Yの後、前記密着体を熱処理する工程Zと
を有することを特徴とする。
Further, the method for manufacturing a laminate according to the present invention includes:
a step X of placing the first surface of the heat-resistant polymer film and the inorganic substrate so as to face each other;
After the step X, a step Y of pressurizing the heat-resistant polymer film and the inorganic substrate to obtain a contact body;
After the step Y, the method further includes a step Z of heat-treating the adhered body.

前記積層体においては、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した後の無機基板と耐熱高分子フィルムとの間の90°剥離強度Aが0.05N/cm以上であることが好ましい。 In the laminate, the 90° peel strength A between the inorganic substrate and the heat-resistant polymer film after heat treatment at 200° C. for 1 hour in an air atmosphere is preferably 0.05 N/cm or more.

前記積層体においては、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した後、さらに、窒素雰囲気下で500℃1時間加熱した後の無機基板と耐熱高分子フィルムとの間の90°剥離強度Bが0.50N/cm以下であることが好ましい。 In the laminate, the 90° peel strength B between the inorganic substrate and the heat-resistant polymer film after heat treatment at 200°C for 1 hour in an air atmosphere and then heating at 500°C for 1 hour in a nitrogen atmosphere is 0. It is preferably 0.50 N/cm or less.

また、本発明に係るフレキシブル電子デバイスの製造方法は、
前記積層体の耐熱高分子フィルム面上に電子デバイスを形成する工程と、
前記電子デバイスを前記耐熱高分子フィルムごと前記無機基板から剥離する工程とを少なくとも含むことを特徴とする。
Further, the method for manufacturing a flexible electronic device according to the present invention includes:
forming an electronic device on the heat-resistant polymer film surface of the laminate;
and peeling the electronic device together with the heat-resistant polymer film from the inorganic substrate.

本発明によれば、充分な耐熱性を有し、且つ、無機基板との接着力が良好となる耐熱高分子フィルムを提供することができる。また、表面処理された当該耐熱高分子フィルムの製造方法を提供することができる。また、表面処理された当該耐熱高分子フィルムがロール状に巻かれた耐熱高分子フィルムロールを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a heat-resistant polymer film that has sufficient heat resistance and good adhesion to an inorganic substrate. Also, a method for producing the surface-treated heat-resistant polymer film can be provided. Also, a heat-resistant polymer film roll can be provided in which the surface-treated heat-resistant polymer film is wound into a roll.

以下、本発明の実施形態について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below.

<耐熱高分子フィルム>
本実施形態に係る耐熱高分子フィルムは、
表面処理された第1面を有し、
前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多い。
<Heat-resistant polymer film>
The heat-resistant polymer film according to this embodiment is
having a surface-treated first surface;
The nitrogen content of the first surface is higher by 0.45 atom % or more than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film.

上述した通り、前記耐熱高分子フィルムは、前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多い。前記第1面の窒素含有率は、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも1原子%以上多いことが好ましく、2原子%以上多いことがより好ましい。窒素含有率の測定方法は、実施例に記載の方法による。 As described above, in the heat-resistant polymer film, the nitrogen content of the first surface is higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film by 0.45 atomic % or more. The nitrogen content of the first surface is preferably 1 atomic % or more, more preferably 2 atomic % or more, than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film. The method for measuring the nitrogen content is according to the method described in Examples.

前記耐熱高分子フィルムによれば、前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多いため、前記第1面は、多価アミン化合物で表面処理されているといえる。このような耐熱高分子フィルムは、充分な耐熱性を有し、且つ、無機基板との接着力が良好となる。このことは、実施例の記載からも明らかである。
また、前記耐熱高分子フィルムは、多価アミン化合物で表面処理すれば得られるため、生産性により優れる。
According to the heat-resistant polymer film, the nitrogen content of the first surface is higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film by 0.45 atomic % or more. It can be said that the surface is treated with a polyvalent amine compound. Such a heat-resistant polymer film has sufficient heat resistance and good adhesion to an inorganic substrate. This is also clear from the description of the examples.
Moreover, since the heat-resistant polymer film can be obtained by surface treatment with a polyvalent amine compound, it is excellent in productivity.

本明細書において、耐熱高分子とは、融点が400℃以上、好ましくは500℃以上であり、ガラス転移温度が250℃以上、好ましくは320℃以上、さらに好ましくは380℃以上の高分子である。以下、煩雑さを避けるために単に高分子とも称する。本明細書において、融点、及び、ガラス転移温度は、示差熱分析(DSC)により求めるものである。なお、融点が500℃を越える場合には、該当温度にて加熱した際の熱変形挙動を目し観察することで融点に達しているか否かを判断して良い。 As used herein, the heat-resistant polymer is a polymer having a melting point of 400° C. or higher, preferably 500° C. or higher, and a glass transition temperature of 250° C. or higher, preferably 320° C. or higher, more preferably 380° C. or higher. . In the following, to avoid complication, it is simply referred to as a polymer. As used herein, the melting point and glass transition temperature are determined by differential thermal analysis (DSC). If the melting point exceeds 500° C., it may be determined whether or not the melting point has been reached by observing the thermal deformation behavior when heated at the relevant temperature.

前記耐熱高分子フィルム(以下、単に高分子フィルムとも称する)としては、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、フッ素化ポリイミドといったポリイミド系樹脂(例えば、芳香族ポリイミド樹脂、脂環族ポリイミド樹脂);ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレン-2,6-ナフタレートといった共重合ポリエステル(例えば、全芳香族ポリエステル、半芳香族ポリエステル);ポリメチルメタクリレートに代表される共重合(メタ)アクリレート;ポリカーボネート;ポリアミド;ポリスルフォン;ポリエーテルスルフォン;ポリエーテルケトン;酢酸セルロース;硝酸セルロース;芳香族ポリアミド;ポリ塩化ビニル;ポリフェノール;ポリアリレート;ポリフェニレンスルフィド;ポリフェニレンオキシド;ポリスチレン等のフィルムを例示できる。
ただし、前記高分子フィルムは、450℃以上の熱処理を伴うプロセスに用いられることが前提であるため、例示された高分子フィルムの中から実際に適用できる物は限られる。前記高分子フィルムのなかでも好ましくは、所謂スーパーエンジニアリングプラスチックを用いたフィルムであり、より具体的には、芳香族ポリイミドフィルム、芳香族アミドフィルム、芳香族アミドイミドフィルム、芳香族ベンゾオキサゾールフィルム、芳香族ベンゾチアゾールフィルム、芳香族ベンゾイミダゾールフィルム等が挙げられる。
Examples of the heat-resistant polymer film (hereinafter also simply referred to as a polymer film) include polyimide resins such as polyimide, polyamideimide, polyetherimide, and fluorinated polyimide (eg, aromatic polyimide resin, alicyclic polyimide resin); polyethylene , polypropylene, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene-2,6-naphthalate (for example, wholly aromatic polyester, semi-aromatic polyester); copolymerized (meth)acrylates represented by polymethyl methacrylate; polycarbonates cellulose acetate; cellulose nitrate; aromatic polyamide; polyvinyl chloride; polyphenol; polyarylate; polyphenylene sulfide;
However, since the polymer film is assumed to be used in a process involving heat treatment at 450° C. or higher, the polymer films exemplified are limited in practical application. Among the polymer films, preferred are films using so-called super engineering plastics, and more specifically, aromatic polyimide films, aromatic amide films, aromatic amide imide films, aromatic benzoxazole films, aromatic group benzothiazole films, aromatic benzimidazole films, and the like.

以下に前記高分子フィルムの一例であるポリイミド系樹脂フィルム(ポリイミドフィルムと称する場合もある)についての詳細を説明する。一般にポリイミド系樹脂フィルムは、溶媒中でジアミン類とテトラカルボン酸類とを反応させて得られるポリアミド酸(ポリイミド前駆体)溶液を、ポリイミドフィルム作製用支持体に塗布、乾燥してグリーンフィルム(以下では「ポリアミド酸フィルム」ともいう)とし、さらにポリイミドフィルム作製用支持体上で、あるいは該支持体から剥がした状態でグリーンフィルムを高温熱処理して脱水閉環反応を行わせることによって得られる。 The details of a polyimide resin film (also referred to as a polyimide film), which is an example of the polymer film, will be described below. In general, a polyimide resin film is prepared by applying a polyamic acid (polyimide precursor) solution obtained by reacting diamines and tetracarboxylic acids in a solvent to a support for producing a polyimide film and drying it to form a green film (hereinafter referred to as (also referred to as "polyamic acid film"), and further subjecting the green film to a high-temperature heat treatment on a polyimide film-producing support or in a state in which the green film is peeled off from the support to cause a dehydration ring-closing reaction.

ポリアミド酸(ポリイミド前駆体)溶液の塗布は、例えば、スピンコート、ドクターブレード、アプリケーター、コンマコーター、スクリーン印刷法、スリットコート、リバースコート、ディップコート、カーテンコート、スリットダイコート等従来公知の溶液の塗布手段を適宜用いることができる。 Application of the polyamic acid (polyimide precursor) solution is, for example, spin coating, doctor blade, applicator, comma coater, screen printing method, slit coating, reverse coating, dip coating, curtain coating, slit die coating, etc. Application of conventionally known solutions means can be used as appropriate.

ポリアミド酸を構成するジアミン類としては、特に制限はなく、ポリイミド合成に通常用いられる芳香族ジアミン類、脂肪族ジアミン類、脂環式ジアミン類等を用いることができる。耐熱性の観点からは、芳香族ジアミン類が好ましく、芳香族ジアミン類の中では、ベンゾオキサゾール構造を有する芳香族ジアミン類がより好ましい。ベンゾオキサゾール構造を有する芳香族ジアミン類を用いると、高い耐熱性とともに、高弾性率、低熱収縮性、低線膨張係数を発現させることが可能になる。ジアミン類は、単独で用いてもよいし二種以上を併用してもよい。 The diamines constituting the polyamic acid are not particularly limited, and aromatic diamines, aliphatic diamines, alicyclic diamines and the like which are commonly used in polyimide synthesis can be used. From the viewpoint of heat resistance, aromatic diamines are preferred, and among aromatic diamines, aromatic diamines having a benzoxazole structure are more preferred. The use of aromatic diamines having a benzoxazole structure makes it possible to exhibit high heat resistance, high elastic modulus, low thermal shrinkage, and low coefficient of linear expansion. Diamines may be used alone or in combination of two or more.

ベンゾオキサゾール構造を有する芳香族ジアミン類としては、特に限定はなく、例えば、5-アミノ-2-(p-アミノフェニル)ベンゾオキサゾール、6-アミノ-2-(p-アミノフェニル)ベンゾオキサゾール、5-アミノ-2-(m-アミノフェニル)ベンゾオキサゾール、6-アミノ-2-(m-アミノフェニル)ベンゾオキサゾール、2,2’-p-フェニレンビス(5-アミノベンゾオキサゾール)、2,2’-p-フェニレンビス(6-アミノベンゾオキサゾール)、1-(5-アミノベンゾオキサゾロ)-4-(6-アミノベンゾオキサゾロ)ベンゼン、2,6-(4,4’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:5,4-d’]ビスオキサゾール、2,6-(4,4’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:4,5-d’]ビスオキサゾール、2,6-(3,4’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:5,4-d’]ビスオキサゾール、2,6-(3,4’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:4,5-d’]ビスオキサゾール、2,6-(3,3’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:5,4-d’]ビスオキサゾール、2,6-(3,3’-ジアミノジフェニル)ベンゾ[1,2-d:4,5-d’]ビスオキサゾール等が挙げられる。 Aromatic diamines having a benzoxazole structure are not particularly limited, and examples include 5-amino-2-(p-aminophenyl)benzoxazole, 6-amino-2-(p-aminophenyl)benzoxazole, 5 -amino-2-(m-aminophenyl)benzoxazole, 6-amino-2-(m-aminophenyl)benzoxazole, 2,2'-p-phenylenebis(5-aminobenzoxazole), 2,2' -p-phenylenebis(6-aminobenzoxazole), 1-(5-aminobenzoxazolo)-4-(6-aminobenzoxazolo)benzene, 2,6-(4,4'-diaminodiphenyl)benzo [1,2-d:5,4-d′]bisoxazole, 2,6-(4,4′-diaminodiphenyl)benzo[1,2-d:4,5-d′]bisoxazole, 2, 6-(3,4′-diaminodiphenyl)benzo[1,2-d:5,4-d′]bisoxazole, 2,6-(3,4′-diaminodiphenyl)benzo[1,2-d: 4,5-d']bisoxazole, 2,6-(3,3'-diaminodiphenyl)benzo[1,2-d:5,4-d']bisoxazole, 2,6-(3,3' -diaminodiphenyl)benzo[1,2-d:4,5-d']bisoxazole and the like.

上述したベンゾオキサゾール構造を有する芳香族ジアミン類以外の芳香族ジアミン類としては、例えば、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、1,4-ビス[2-(4-アミノフェニル)-2-プロピル]ベンゼン(ビスアニリン)、1,4-ビス(4-アミノ-2-トリフルオロメチルフェノキシ)ベンゼン、2,2’-ジトリフルオロメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4’-ビス(3-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]ケトン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、m-フェニレンジアミン、o-フェニレンジアミン、p-フェニレンジアミン、m-アミノベンジルアミン、p-アミノベンジルアミン、3,3’-ジアミノジフェニルエーテル、3,4’-ジアミノジフェニルエーテル、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,3’-ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’-ジアミノジフェニルスルホキシド、3,4’-ジアミノジフェニルスルホキシド、4,4’-ジアミノジフェニルスルホキシド、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン、3,4’-ジアミノジフェニルスルホン、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノベンゾフェノン、3,4’-ジアミノベンゾフェノン、4,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,3’-ジアミノジフェニルメタン、3,4’-ジアミノジフェニルメタン、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]メタン、1,1-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,1-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,3-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,1-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、1,3-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、1,4-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,3-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2-[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]-2-[4-(4-アミノフェノキシ)-3-メチルフェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)-3-メチルフェニル]プロパン、2-[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]-2-[4-(4-アミノフェノキシ)-3,5-ジメチルフェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)-3,5-ジメチルフェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、1,4-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]ケトン、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]スルフィド、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]スルホキシド、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]エーテル、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]エーテル、1,3-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、1,4-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、4,4’-ビス[(3-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ベンゼン、1,1-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,3-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、3,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、2,2-ビス[3-(3-アミノフェノキシ)フェニル]-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]メタン、1,1-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]エタン、1,2-ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]エタン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]スルホキシド、4,4’-ビス[3-(4-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ジフェニルエーテル、4,4’-ビス[3-(3-アミノフェノキシ)ベンゾイル]ジフェニルエーテル、4,4’-ビス[4-(4-アミノ-α,α-ジメチルベンジル)フェノキシ]ベンゾフェノン、4,4’-ビス[4-(4-アミノ-α,α-ジメチルベンジル)フェノキシ]ジフェニルスルホン、ビス[4-{4-(4-アミノフェノキシ)フェノキシ}フェニル]スルホン、1,4-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェノキシ-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェノキシ-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(4-アミノ-6-トリフルオロメチルフェノキシ)-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(4-アミノ-6-フルオロフェノキシ)-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(4-アミノ-6-メチルフェノキシ)-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、1,3-ビス[4-(4-アミノ-6-シアノフェノキシ)-α,α-ジメチルベンジル]ベンゼン、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジフェノキシベンゾフェノン、4,4’-ジアミノ-5,5’-ジフェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-4,5’-ジフェノキシベンゾフェノン、3,3’-ジアミノ-4-フェノキシベンゾフェノン、4,4’-ジアミノ-5-フェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-4-フェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-5’-フェノキシベンゾフェノン、3,3’-ジアミノ-4,4’-ジビフェノキシベンゾフェノン、4,4’-ジアミノ-5,5’-ジビフェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-4,5’-ジビフェノキシベンゾフェノン、3,3’-ジアミノ-4-ビフェノキシベンゾフェノン、4,4’-ジアミノ-5-ビフェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-4-ビフェノキシベンゾフェノン、3,4’-ジアミノ-5’-ビフェノキシベンゾフェノン、1,3-ビス(3-アミノ-4-フェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,4-ビス(3-アミノ-4-フェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノ-5-フェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノ-5-フェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,3-ビス(3-アミノ-4-ビフェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,4-ビス(3-アミノ-4-ビフェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノ-5-ビフェノキシベンゾイル)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノ-5-ビフェノキシベンゾイル)ベンゼン、2,6-ビス[4-(4-アミノ-α,α-ジメチルベンジル)フェノキシ]ベンゾニトリル、および前記芳香族ジアミンの芳香環上の水素原子の一部もしくは全てが、ハロゲン原子、炭素数1~3のアルキル基またはアルコキシル基、シアノ基、またはアルキル基またはアルコキシル基の水素原子の一部もしくは全部がハロゲン原子で置換された炭素数1~3のハロゲン化アルキル基またはアルコキシル基で置換された芳香族ジアミン等が挙げられる。 Examples of aromatic diamines other than the above aromatic diamines having a benzoxazole structure include 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl, 1,4-bis[2-(4-aminophenyl )-2-propyl]benzene (bisaniline), 1,4-bis(4-amino-2-trifluoromethylphenoxy)benzene, 2,2′-ditrifluoromethyl-4,4′-diaminobiphenyl, 4,4 '-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, 4,4'-bis(3-aminophenoxy)biphenyl, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ketone, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl ] sulfide, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]sulfone, 2,2-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]propane, 2,2-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl ]-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, m-phenylenediamine, o-phenylenediamine, p-phenylenediamine, m-aminobenzylamine, p-aminobenzylamine, 3,3′- Diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminodiphenyl sulfoxide, 3,4'-diaminodiphenyl sulfoxide, 4,4' -diaminodiphenyl sulfoxide, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 3,4'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'-diaminobenzophenone, 3,4'-diaminobenzophenone, 4, 4'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]methane, 1,1-bis[ 4-(4-aminophenoxy)phenyl]ethane, 1,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]ethane, 1,1-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane, 1, 2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane, 1,3-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl] Propane, 1,1-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]butane, 1,3- bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]butane, 1,4-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]butane, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]butane, 2,3-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]butane, 2-[4-(4-aminophenoxy)phenyl]-2-[4-(4-aminophenoxy)-3-methylphenyl]propane , 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)-3-methylphenyl]propane, 2-[4-(4-aminophenoxy)phenyl]-2-[4-(4-aminophenoxy)-3 ,5-dimethylphenyl]propane, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)-3,5-dimethylphenyl]propane, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]-1 , 1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 1,4-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,4-bis(4-amino phenoxy)benzene, 4,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]ketone, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]sulfide, bis[4- (4-aminophenoxy)phenyl]sulfoxide, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]sulfone, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ether, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl] ether, 1,3-bis[4-(4-aminophenoxy)benzoyl]benzene, 1,3-bis[4-(3-aminophenoxy)benzoyl]benzene, 1,4-bis[4-(3-amino phenoxy)benzoyl]benzene, 4,4'-bis[(3-aminophenoxy)benzoyl]benzene, 1,1-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]propane, 1,3-bis[4-( 3-aminophenoxy)phenyl]propane, 3,4′-diaminodiphenyl sulfide, 2,2-bis[3-(3-aminophenoxy)phenyl]-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane , bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]methane, 1,1-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ethane, 1,2-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ethane , bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]sulfoxide, 4,4′-bis[ 3-(4-aminophenoxy)benzoyl]diphenyl ether, 4,4'-bis[3-(3-aminophenoxy)benzoyl]diphenyl ether, 4,4'-bis[4-(4-amino-α,α-dimethyl benzyl)phenoxy]benzophenone, 4,4′-bis[4-(4-amino-α,α-dimethylbenzyl)phenoxy]diphenylsulfone, bis[4-{4-(4-aminophenoxy)phenoxy}phenyl]sulfone , 1,4-bis[4-(4-aminophenoxy)phenoxy-α,α-dimethylbenzyl]benzene, 1,3-bis[4-(4-aminophenoxy)phenoxy-α,α-dimethylbenzyl]benzene , 1,3-bis[4-(4-amino-6-trifluoromethylphenoxy)-α,α-dimethylbenzyl]benzene, 1,3-bis[4-(4-amino-6-fluorophenoxy)- α,α-dimethylbenzyl]benzene, 1,3-bis[4-(4-amino-6-methylphenoxy)-α,α-dimethylbenzyl]benzene, 1,3-bis[4-(4-amino- 6-cyanophenoxy)-α,α-dimethylbenzyl]benzene, 3,3′-diamino-4,4′-diphenoxybenzophenone, 4,4′-diamino-5,5′-diphenoxybenzophenone, 3,4 '-diamino-4,5'-diphenoxybenzophenone, 3,3'-diamino-4-phenoxybenzophenone, 4,4'-diamino-5-phenoxybenzophenone, 3,4'-diamino-4-phenoxybenzophenone, 3 ,4'-diamino-5'-phenoxybenzophenone, 3,3'-diamino-4,4'-dibiphenoxybenzophenone, 4,4'-diamino-5,5'-dibiphenoxybenzophenone, 3,4'-diamino -4,5'-dibiphenoxybenzophenone, 3,3'-diamino-4-biphenoxybenzophenone, 4,4'-diamino-5-biphenoxybenzophenone, 3,4'-diamino-4-biphenoxybenzophenone, 3 ,4'-diamino-5'-biphenoxybenzophenone, 1,3-bis(3-amino-4-phenoxybenzoyl)benzene, 1,4-bis(3-amino-4-phenoxybenzoyl)benzene, 1,3 -bis(4-amino-5-phenoxybenzoyl)benzene, 1,4-bis(4-amino-5-phenoxybenzoyl)benzene, 1,3-bis(3-amino-4-biphenyl noxybenzoyl)benzene, 1,4-bis(3-amino-4-biphenoxybenzoyl)benzene, 1,3-bis(4-amino-5-biphenoxybenzoyl)benzene, 1,4-bis(4- amino-5-biphenoxybenzoyl)benzene, 2,6-bis[4-(4-amino-α,α-dimethylbenzyl)phenoxy]benzonitrile, and some of the hydrogen atoms on the aromatic rings of said aromatic diamines or all of which are halogen atoms, alkyl or alkoxyl groups having 1 to 3 carbon atoms, cyano groups, or halogen atoms having 1 to 3 carbon atoms in which some or all of the hydrogen atoms of an alkyl or alkoxyl group are substituted with halogen atoms and aromatic diamines substituted with alkyl groups or alkoxyl groups.

前記脂肪族ジアミン類としては、例えば、1,2-ジアミノエタン、1,4-ジアミノブタン、1,5-ジアミノペンタン、1,6-ジアミノヘキサン、1,8-ジアミノオタン等が挙げられる。
前記脂環式ジアミン類としては、例えば、1,4-ジアミノシクロヘキサン、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルシクロヘキシルアミン)等が挙げられる。
芳香族ジアミン類以外のジアミン(脂肪族ジアミン類および脂環式ジアミン類)の合計量は、全ジアミン類の20質量%以下が好ましく、より好ましくは10質量%以下、さらに好ましくは5質量%以下である。換言すれば、芳香族ジアミン類は全ジアミン類の80質量%以上が好ましく、より好ましくは90質量%以上、さらに好ましくは95質量%以上である。
Examples of the aliphatic diamines include 1,2-diaminoethane, 1,4-diaminobutane, 1,5-diaminopentane, 1,6-diaminohexane, 1,8-diaminooctane and the like.
Examples of the alicyclic diamines include 1,4-diaminocyclohexane and 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylcyclohexylamine).
The total amount of diamines other than aromatic diamines (aliphatic diamines and alicyclic diamines) is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, and still more preferably 5% by mass or less of all diamines. is. In other words, aromatic diamines are preferably 80% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, and still more preferably 95% by mass or more of all diamines.

ポリアミド酸を構成するテトラカルボン酸類としては、ポリイミド合成に通常用いられる芳香族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)、脂肪族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)、脂環族テトラカルボン酸類(その酸無水物を含む)を用いることができる。中でも、芳香族テトラカルボン酸無水物類、脂環族テトラカルボン酸無水物類が好ましく、耐熱性の観点からは芳香族テトラカルボン酸無水物類がより好ましく、光透過性の観点からは脂環族テトラカルボン酸類がより好ましい。これらが酸無水物である場合、分子内に無水物構造は1個であってもよいし2個であってもよいが、好ましくは2個の無水物構造を有するもの(二無水物)がよい。テトラカルボン酸類は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。 Tetracarboxylic acids constituting polyamic acid include aromatic tetracarboxylic acids (including their acid anhydrides), aliphatic tetracarboxylic acids (including their acid anhydrides), and alicyclic tetracarboxylic acids, which are commonly used in polyimide synthesis. Acids (including anhydrides thereof) can be used. Among them, aromatic tetracarboxylic anhydrides and alicyclic tetracarboxylic anhydrides are preferable, aromatic tetracarboxylic anhydrides are more preferable from the viewpoint of heat resistance, and alicyclic anhydrides are preferable from the viewpoint of light transmittance. Group tetracarboxylic acids are more preferred. When these are acid anhydrides, one or two anhydride structures may be present in the molecule, but preferably those having two anhydride structures (dianhydrides) are good. Tetracarboxylic acids may be used alone, or two or more of them may be used in combination.

脂環族テトラカルボン酸類としては、例えば、シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’-ビシクロヘキシルテトラカルボン酸等の脂環族テトラカルボン酸、およびこれらの酸無水物が挙げられる。これらの中でも、2個の無水物構造を有する二無水物(例えば、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’-ビシクロヘキシルテトラカルボン酸二無水物等)が好適である。なお、脂環族テトラカルボン酸類は単独で用いてもよいし、二種以上を併用してもよい。
脂環式テトラカルボン酸類は、透明性を重視する場合には、例えば、全テトラカルボン酸類の80質量%以上が好ましく、より好ましくは90質量%以上、さらに好ましくは95質量%以上である。
Examples of alicyclic tetracarboxylic acids include alicyclic tetracarboxylic acids such as cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, and 3,3′,4,4′-bicyclohexyltetracarboxylic acid. Carboxylic acids, and their acid anhydrides. Among these, dianhydrides having two anhydride structures (for example, cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 3,3′,4,4 '-bicyclohexyltetracarboxylic dianhydride) are preferred. The alicyclic tetracarboxylic acids may be used alone, or two or more of them may be used in combination.
The alicyclic tetracarboxylic acid is, for example, preferably 80% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, and still more preferably 95% by mass or more of the total tetracarboxylic acids when transparency is important.

芳香族テトラカルボン酸類としては、特に限定されないが、ピロメリット酸残基(すなわちピロメリット酸由来の構造を有するもの)であることが好ましく、その酸無水物であることがより好ましい。このような芳香族テトラカルボン酸類としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3',4,4'-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、4,4'-オキシジフタル酸二無水物、3,3',4,4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3',4,4'-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、2,2-ビス[4-(3,4-ジカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン酸無水物等が挙げられる。
芳香族テトラカルボン酸類は、耐熱性を重視する場合には、例えば、全テトラカルボン酸類の80質量%以上が好ましく、より好ましくは90質量%以上、さらに好ましくは95質量%以上である。
The aromatic tetracarboxylic acid is not particularly limited, but is preferably a pyromellitic acid residue (that is, having a structure derived from pyromellitic acid), more preferably an acid anhydride thereof. Examples of such aromatic tetracarboxylic acids include pyromellitic dianhydride, 3,3′,4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, 3 ,3′,4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3′,4,4′-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis[4-(3,4-di carboxyphenoxy)phenyl]propanoic anhydride and the like.
The aromatic tetracarboxylic acid is, for example, preferably 80% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, and still more preferably 95% by mass or more of the total tetracarboxylic acids when heat resistance is important.

前記高分子フィルムの厚さは3μm以上が好ましく、より好ましくは11μm以上であり、さらに好ましくは24μm以上であり、より一層好ましくは45μm以上である。前記高分子フィルムの厚さの上限は特に制限されないが、フレキシブル電子デバイスとして用いるためには250μm以下であることが好ましく、より好ましくは150μm以下であり、さらに好ましくは90μm以下である。 The thickness of the polymer film is preferably 3 μm or more, more preferably 11 μm or more, still more preferably 24 μm or more, and still more preferably 45 μm or more. Although the upper limit of the thickness of the polymer film is not particularly limited, it is preferably 250 μm or less, more preferably 150 μm or less, and still more preferably 90 μm or less for use as a flexible electronic device.

前記高分子フィルムの30℃から500℃の間の平均のCTEは、好ましくは、-5ppm/℃~+20ppm/℃であり、より好ましくは-5ppm/℃~+15ppm/℃であり、さらに好ましくは1ppm/℃~+10ppm/℃である。CTEが前記範囲であると、一般的な支持体(無機基板)との線膨張係数の差を小さく保つことができ、熱を加えるプロセスに供しても高分子フィルムと無機基板とが剥がれることを回避できる。ここにCTEとは温度に対して可逆的な伸縮を表すファクターである。 The average CTE between 30° C. and 500° C. of said polymer film is preferably between −5 ppm/° C. and +20 ppm/° C., more preferably between −5 ppm/° C. and +15 ppm/° C., more preferably 1 ppm. /°C to +10 ppm/°C. When the CTE is within the above range, the difference in coefficient of linear expansion with a general support (inorganic substrate) can be kept small, and peeling of the polymer film and the inorganic substrate can be prevented even when subjected to a process of applying heat. can be avoided. Here, CTE is a factor representing reversible expansion and contraction with respect to temperature.

前記高分子フィルムの30℃から500℃の間の熱収縮率は、±0.9%であることが好ましく、さらに好ましくは±0.6%である。熱収縮率は温度に対して非可逆的な伸縮を表すファクターである。 The heat shrinkage of the polymer film between 30° C. and 500° C. is preferably ±0.9%, more preferably ±0.6%. Thermal shrinkage is a factor representing irreversible expansion and contraction with respect to temperature.

前記高分子フィルムの引張破断強度は、60MPa以上が好ましく、より好ましくは120MP以上であり、さらに好ましくは240MPa以上である。引張破断強度の上限は特に制限されないが、事実上1000MPa程度未満である。なお、前記高分子フィルムの引張破断強度とは、高分子フィルムの流れ方向(MD方向)の引張破断強度及び幅方向(TD方向)の引張破断強度の平均値を指す。 The tensile strength at break of the polymer film is preferably 60 MPa or more, more preferably 120 MPa or more, and still more preferably 240 MPa or more. Although the upper limit of the tensile strength at break is not particularly limited, it is practically less than about 1000 MPa. The tensile strength at break of the polymer film refers to the average value of the tensile strength at break in the machine direction (MD direction) and the tensile strength at break in the width direction (TD direction) of the polymer film.

前記高分子フィルムの厚さ斑は、20%以下であることが好ましく、より好ましくは12%以下、さらに好ましくは7%以下、特に好ましくは4%以下である。厚さ斑が20%を超えると、狭小部へ適用し難くなる傾向がある。なお、フィルムの厚さ斑は、例えば接触式の膜厚計にて被測定フィルムから無作為に10点程度の位置を抽出してフィルム厚を測定し、下記式に基づき求めることができる。
フィルムの厚さ斑(%)
=100×(最大フィルム厚-最小フィルム厚)÷平均フィルム厚
The thickness unevenness of the polymer film is preferably 20% or less, more preferably 12% or less, still more preferably 7% or less, and particularly preferably 4% or less. If the thickness unevenness exceeds 20%, it tends to be difficult to apply to narrow areas. The uneven thickness of the film can be obtained by measuring the thickness of the film by randomly extracting about 10 positions from the film to be measured using, for example, a contact-type film thickness meter, and calculating the thickness according to the following formula.
Film thickness unevenness (%)
= 100 x (maximum film thickness - minimum film thickness) / average film thickness

前記高分子フィルムは、その製造時において幅が300mm以上、長さが10m以上の長尺高分子フィルムとして巻き取られた形態で得られるものが好ましく、巻取りコアに巻き取られたロール状高分子フィルムの形態のものがより好ましい。前記高分子フィルムがロール状に巻かれていると、表面処理された耐熱高分子フィルムという形態での輸送が容易となる。 The polymer film is preferably obtained in the form of being wound up as a long polymer film with a width of 300 mm or more and a length of 10 m or more at the time of production. More preferred are those in the form of molecular films. When the polymer film is wound into a roll, it can be easily transported in the form of a surface-treated heat-resistant polymer film.

前記高分子フィルムにおいては、ハンドリング性および生産性を確保する為、高分子フィルム中に粒子径が10~1000nm程度の滑材(粒子)を、0.03~3質量%程度、添加・含有させて、高分子フィルム表面に微細な凹凸を付与して滑り性を確保することが好ましい。 In the polymer film, in order to ensure handleability and productivity, a lubricant (particles) having a particle diameter of about 10 to 1000 nm is added or contained in the polymer film in an amount of about 0.03 to 3% by mass. Therefore, it is preferable to provide the surface of the polymer film with fine irregularities to ensure the slipperiness.

前記高分子フィルムは、多価アミン化合物で表面処理される前に表面活性化処理されていてもよい。本明細書において表面活性化処理とは、乾式又は湿式の表面処理である。乾式の表面処理としては、例えば、真空プラズマ処理、常圧プラズマ処理、紫外線・電子線・X線などの活性エネルギー線を表面に照射する処理、コロナ処理、火炎処理、イトロ処理等を挙げることができる。湿式の表面処理としては、例えば、高分子フィルム表面を酸ないしアルカリ溶液に接触させる処理を挙げることができる。 The polymer film may be surface-activated before being surface-treated with the polyvalent amine compound. As used herein, surface activation treatment refers to dry or wet surface treatment. Examples of dry surface treatment include vacuum plasma treatment, normal pressure plasma treatment, treatment of irradiating the surface with active energy rays such as ultraviolet rays, electron beams, and X-rays, corona treatment, flame treatment, Itro treatment, and the like. can. Wet surface treatments include, for example, a treatment in which the polymer film surface is brought into contact with an acid or alkaline solution.

前記表面活性化処理は、複数を組み合わせて行っても良い。かかる表面活性化処理は高分子フィルム表面を清浄化し、さらに活性な官能基を生成する。生成された官能基は、多価アミン化合物と水素結合や化学反応などにより結びつき、高分子フィルムと多価アミン化合物とを強固に接着することが可能となる。 A plurality of the surface activation treatments may be performed in combination. Such surface activation treatment cleans the polymer film surface and creates more active functional groups. The generated functional group binds to the polyvalent amine compound through hydrogen bonding, chemical reaction, or the like, making it possible to firmly bond the polymer film and the polyvalent amine compound.

前記高分子フィルムは、一方の面、又は、両面に保護フィルムが積層されていてもよい。前記保護フィルムは、前記高分子フィルムを使用するまでの間、前記高分子フィルムを保護するために前記高分子フィルムに貼り付けられるフィルムであり、前記高分子フィルムの使用時に、前記高分子フィルムから剥離される。 A protective film may be laminated on one side or both sides of the polymer film. The protective film is a film attached to the polymer film in order to protect the polymer film until the polymer film is used. peeled off.

前記高分子フィルムは、前記第1面の窒素含有率が、前記高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多い構成であれば、その製造方法は特に限定されないが、例えば、下記の「表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法」により好適に製造することができる。 The production method of the polymer film is not particularly limited as long as the nitrogen content of the first surface is higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the polymer film by 0.45 atomic % or more. However, it can be suitably produced by, for example, the following "method for producing surface-treated heat-resistant polymer film".

<表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法>
本実施形態に係る表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法は、
耐熱高分子フィルムに、多価アミン化合物を塗布する工程Aと、
前記工程Aの後、前記耐熱高分子フィルムを、0℃以上60℃未満の範囲内で保持する工程Bと、
前記工程Bの後、前記耐熱高分子フィルムを、60℃以上250℃以下の範囲内で保持する工程Cと
を少なくとも有する。
<Method for producing surface-treated heat-resistant polymer film>
The method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to the present embodiment includes:
A step A of applying a polyvalent amine compound to a heat-resistant polymer film;
After the step A, a step B of maintaining the heat-resistant polymer film within a range of 0° C. or more and less than 60° C.;
After the step B, at least a step C of maintaining the heat-resistant polymer film within the range of 60° C. or higher and 250° C. or lower.

<工程A>
工程Aにおいては、多価アミン化合物による表面処理が施される前の耐熱高分子フィルムに、多価アミン化合物を塗布する。
<Step A>
In step A, a polyamine compound is applied to the heat-resistant polymer film before surface treatment with the polyamine compound.

<多価アミン化合物>
前記多価アミン化合物は、2以上のアミンを有する化合物であれば特に限定されない。なお、本明細書において、前記アミンは、第一級アミンをいう。つまり、本明細書において、多価アミン化合物が有するアミンの数を数える場合、第一級アミンの数を数える。例えば、トリエチレンテトラミンは、2つの第一級アミンと、2つの第二級アミンとを有するが、第一級アミンが2つであるので、テトラミンではなく、ジアミンに分類される。
<Polyvalent amine compound>
The polyvalent amine compound is not particularly limited as long as it is a compound having two or more amines. In addition, in this specification, the said amine means a primary amine. That is, in this specification, when counting the number of amines possessed by the polyvalent amine compound, the number of primary amines is counted. For example, triethylenetetramine has two primary amines and two secondary amines, but because it has two primary amines, it is classified as a diamine rather than a tetramine.

前記多価アミン化合物の具体例としては、1,2-エタンジアミン(エチレンジアミン)、1,3-プロパンジアミン、2-メチルー2-プロピルー1,3-プロパンジアミン、1,2-プロパンジアミン、2-メチル-1,3-プロパンジアミン、1,4-ブタンジアミン(プトレシン)、2,3-ジメチルー1,4-ブタンジアミン、1,3-ブタンジアミン、1,2-ブタンジアミン、2-エチル-1,4-ブタンジアミン、2-メチルー1,4-ブタンジアミン、1,5-ペンタンジアミン、2-メチルー1,5-ペンタンジアミン(2-メチル1,5-ジアミノペンタン)、3-メチルー1,5-ペンタンジアミン、3,3-ジメチルー1,5-ペンタンジアミン、1,4-ペンタンジアミン、2-メチル-1,4-ペンタンジアミン、3-メチル-1,4-ペンタンジアミン、1,3-ペンタンジアミン、4,4-ジメチルー1,3-ペンタンジアミン、2,2,4-トリメチルー1,3-ペンタンジアミン、1,2-ペンタンジアミン、4-メチル-1,2-ペンタンジアミン、4-エチル-1,2-ペンタンジアミン、3-メチルー1,2-ペンタンジアミン、3-エチル-1,2-ペンタンジアミン、2-メチルー1,3-ペンタンジアミン、4-メチルー1,3-ペンタンジアミン、1,6-ヘキサンジアミン(ヘキサメチレンジアミン)、3-メチルー1,6-ヘキサンジアミン、3,3-ジメチルー1,6-ヘキサンジアミン、3-エチルー1,6-ヘキサンジアミン、1,5-ヘキサンジアミン、1,4-ヘキサンジアミン、1,3-ヘキサンジアミン、1,2-ヘキサンジアミン、2,5-ヘキサンジアミン、2,5-ジメチルー2,5-ヘキサンジアミン、2,4-ヘキサンジアミン、2-メチルー2,4-ヘキサンジアミン、2,3-ヘキサンジアミン、5-メチルー2,3-ヘキサンジアミン、3,4-ヘキサンジアミン、1,7-ヘプタンジアミン、2-メチルー1,7-ヘプタンジアミン、1,6-ヘプタンジアミン、1,5-ヘプタンジアミン、1,4-ヘプタンジアミン、1,3-ヘプタンジアミン、1,2-ヘプタンジアミン、2,6-ヘプタンジアミン、2,5-ヘプタンジアミン、2,4-ヘプタンジアミン、2,3-ヘプタンジアミン、3,5-ヘプタンジアミン、3,4-ヘプタンジアミン、1,8-オクタンジアミン、1,7-オクタンジアミン、1,6-オクタンジアミン、1,5-オクタンジアミン、1,4-オクタンジアミン、1,3-オクタンジアミン、1,2-オクタンジアミン、2,7-オクタンジアミン、2,7-ジメチルー2,7-オクタンジアミン、2,6-オクタンジアミン、2,5-オクタンジアミン、2,4-オクタンジアミン、2,3-オクタンジアミン、3,6-オクタンジアミン、3,5-オクタンジアミン、3,4-オクタンジアミン、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、1,4,8-トリアザオクタンなどの炭化水素系のジアミン;1,3,5-ペンタントリアミン、1,4,7-へプタントリアミンなどの炭化水素系のトリアミンが挙げられる。 Specific examples of the polyvalent amine compound include 1,2-ethanediamine (ethylenediamine), 1,3-propanediamine, 2-methyl-2-propyl-1,3-propanediamine, 1,2-propanediamine, 2- Methyl-1,3-propanediamine, 1,4-butanediamine (putrescine), 2,3-dimethyl-1,4-butanediamine, 1,3-butanediamine, 1,2-butanediamine, 2-ethyl-1 ,4-butanediamine, 2-methyl-1,4-butanediamine, 1,5-pentanediamine, 2-methyl-1,5-pentanediamine (2-methyl-1,5-diaminopentane), 3-methyl-1,5 -pentanediamine, 3,3-dimethyl-1,5-pentanediamine, 1,4-pentanediamine, 2-methyl-1,4-pentanediamine, 3-methyl-1,4-pentanediamine, 1,3-pentane Diamine, 4,4-dimethyl-1,3-pentanediamine, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediamine, 1,2-pentanediamine, 4-methyl-1,2-pentanediamine, 4-ethyl- 1,2-pentanediamine, 3-methyl-1,2-pentanediamine, 3-ethyl-1,2-pentanediamine, 2-methyl-1,3-pentanediamine, 4-methyl-1,3-pentanediamine, 1, 6-hexanediamine (hexamethylenediamine), 3-methyl-1,6-hexanediamine, 3,3-dimethyl-1,6-hexanediamine, 3-ethyl-1,6-hexanediamine, 1,5-hexanediamine, 1 ,4-hexanediamine, 1,3-hexanediamine, 1,2-hexanediamine, 2,5-hexanediamine, 2,5-dimethyl-2,5-hexanediamine, 2,4-hexanediamine, 2-methyl-2 ,4-hexanediamine, 2,3-hexanediamine, 5-methyl-2,3-hexanediamine, 3,4-hexanediamine, 1,7-heptanediamine, 2-methyl-1,7-heptanediamine, 1,6 -heptanediamine, 1,5-heptanediamine, 1,4-heptanediamine, 1,3-heptanediamine, 1,2-heptanediamine, 2,6-heptanediamine, 2,5-heptanediamine, 2,4- Heptanediamine, 2,3-heptanediamine, 3,5-heptanediamine, 3,4-heptanediamine, 1,8-octanediamine, 1,7-octanediamine, 1,6-octanediamine diamine, 1,5-octanediamine, 1,4-octanediamine, 1,3-octanediamine, 1,2-octanediamine, 2,7-octanediamine, 2,7-dimethyl-2,7-octanediamine, 2 ,6-octanediamine, 2,5-octanediamine, 2,4-octanediamine, 2,3-octanediamine, 3,6-octanediamine, 3,5-octanediamine, 3,4-octanediamine, diethylenetriamine, hydrocarbon-based diamines such as triethylenetetramine and 1,4,8-triazaoctane; and hydrocarbon-based triamines such as 1,3,5-pentanetriamine and 1,4,7-heptanetriamine.

前記多価アミン化合物の他の具体例としては、芳香族ジアミン、脂環式ジアミン等が挙げられる。その一例としては、ピリジン-2,4-ジアミン、N2,N6-ジメチル-2,6ピリジンジアミン、2-ピリジンアミン、2,3-ピリジンジアミン、4,6-ピリミジンジアミン、2,4,6-ピリミジントリアミン、2-アミノー4-ピリジンメタンアミン、2,3-ピラジンジアミン、2,5-ピリジンジアミン1,2-シクロヘキサンジアミン、1-メチル-1,2-シクロヘキサンジアミン、3-メチル-1,2-シクロヘキサンジアミン、4-メチル-1,2-シクロヘキサンジアミン、1,2-ジアミノー4-シクロヘキセン、1,3-シクロヘキサンジアミン、2-メチル-1,3-シクロヘキサンジアミン、1,4-シクロヘキサンジアミン、1,2,3-シクロヘキサントリアミン、1,2-シクロペンタンジアミン、1,3-シクロペンタンジアミン、4,4’-メチレンビス(シクロヘキシルアミン)、4,5,6-ピリミジントリアミン、2,4,6-トリアミノピリミジン、3,3’-ジアミノベンジジンなどが挙げられる。 Other specific examples of the polyvalent amine compound include aromatic diamines and alicyclic diamines. Examples thereof include pyridine-2,4-diamine, N2,N6-dimethyl-2,6-pyridinediamine, 2-pyridineamine, 2,3-pyridinediamine, 4,6-pyrimidinediamine, 2,4,6- pyrimidinetriamine, 2-amino-4-pyridinemethanamine, 2,3-pyrazinediamine, 2,5-pyridinediamine 1,2-cyclohexanediamine, 1-methyl-1,2-cyclohexanediamine, 3-methyl-1,2 -cyclohexanediamine, 4-methyl-1,2-cyclohexanediamine, 1,2-diamino-4-cyclohexene, 1,3-cyclohexanediamine, 2-methyl-1,3-cyclohexanediamine, 1,4-cyclohexanediamine, 1 , 2,3-cyclohexanetriamine, 1,2-cyclopentanediamine, 1,3-cyclopentanediamine, 4,4′-methylenebis(cyclohexylamine), 4,5,6-pyrimidinetriamine, 2,4,6- triaminopyrimidine, 3,3'-diaminobenzidine and the like.

前記多価アミン化合物のなかでも、分子量が300以下のものが好ましく、250以下のものがより好ましく、200以下のものがより好ましい。前記多価アミン化合物の分子量が300以下であると、常温で液体状態の化合物が多く、気相塗布法で簡便に用いることが可能である。 Among the polyvalent amine compounds, those having a molecular weight of 300 or less are preferable, those of 250 or less are more preferable, and those of 200 or less are more preferable. When the molecular weight of the polyvalent amine compound is 300 or less, many of the compounds are in a liquid state at room temperature, and can be easily used in a vapor phase coating method.

前記多価アミン化合物のなかでも、沸点が50℃以上250℃以下のものが好ましく、70℃以上250℃以下のものがより好ましく、90℃以上250℃以下のものがさらに好ましい。前記多価アミン化合物の沸点が50℃以上であると、後述する工程Bの間に前記多価アミン化合物が揮発してしまうことを抑制できる。また、前記多価アミン化合物の沸点が250℃以下であると、後述する工程Cにおいて余剰の多価アミン化合物を好適に揮発させることができる。 Among the above polyvalent amine compounds, those having a boiling point of 50° C. to 250° C. are preferable, those having a boiling point of 70° C. to 250° C. are more preferable, and those having a boiling point of 90° C. to 250° C. are even more preferable. When the boiling point of the polyvalent amine compound is 50° C. or higher, volatilization of the polyvalent amine compound during step B described below can be suppressed. Moreover, when the boiling point of the polyvalent amine compound is 250° C. or lower, the excess polyvalent amine compound can be suitably volatilized in step C described later.

前記多価アミン化合物のなかでも、ジアミン化合物が好ましい。前記多価アミン化合物がジアミン化合物であると、無機基板との接着力(剥離強度)がより良好となる。また、無機基板に貼り合わせた後の積層体を高温(例えば、500℃で1時間)にさらしたとしても、剥離強度の上昇をより抑制することが可能である。 Among the above polyvalent amine compounds, diamine compounds are preferred. When the polyvalent amine compound is a diamine compound, the adhesive strength (peel strength) to an inorganic substrate becomes better. Moreover, even if the laminate after being bonded to the inorganic substrate is exposed to a high temperature (for example, 500° C. for 1 hour), it is possible to further suppress an increase in the peel strength.

前記多価アミン化合物のなかでも、分岐脂肪族多価アミン化合物であることが好ましい。前記多価アミン化合物が分岐脂肪族多価アミン化合物であると、炭素数が同じ化合物であっても直鎖脂肪族多価アミン化合物よりも一般的に沸点が低く、気相塗布法等によるフィルム処理をより簡便に行うことができる。 Among the polyvalent amine compounds, branched aliphatic polyvalent amine compounds are preferred. When the polyvalent amine compound is a branched aliphatic polyvalent amine compound, even if the compound has the same number of carbon atoms, it generally has a lower boiling point than the straight-chain aliphatic polyvalent amine compound, and can be applied to a film by a vapor phase coating method or the like. Processing can be performed more easily.

多価アミン化合物の塗布方法としては、多価アミン化合物溶液を前記高分子フィルムに塗布する方法や気相塗布法などを用いることができる。多価アミン化合物の塗布は高分子フィルムのいずれの表面に行っても良く、両方の表面に行ってもよい。
多価アミン化合物溶液を塗布する方法としては、多価アミン化合物をアルコールなどの溶媒で希釈した溶液を用いて、スピンコート法、カーテンコート法、ディップコート法、スリットダイコート法、グラビアコート法、バーコート法、コンマコート法、アプリケーター法、スクリーン印刷法、スプレーコート法等の従来公知の溶液の塗布手段を適宜用いることができる。
As a method for applying the polyvalent amine compound, a method of applying a solution of the polyvalent amine compound to the polymer film, a vapor phase coating method, or the like can be used. Either surface of the polymer film or both surfaces may be coated with the polyvalent amine compound.
Methods for applying the polyamine compound solution include spin coating, curtain coating, dip coating, slit die coating, gravure coating, bar Conventionally known means for applying a solution such as a coating method, a comma coating method, an applicator method, a screen printing method, and a spray coating method can be appropriately used.

また、多価アミン化合物を気相塗布法によって塗布することもでき、具体的には、前記高分子フィルムを多価アミン化合物の蒸気、すなわち実質的に気体状態の多価アミン化合物に暴露して形成する。多価アミン化合物の蒸気は、液体状態の多価アミン化合物を室温(25℃)~多価アミン化合物の沸点程度までの温度に加温することによって得ることができる。
多価アミン化合物を加温する環境は、加圧下、常圧下、減圧下のいずれでも構わないが、多価アミン化合物の気化を促進する場合には常圧下ないし減圧下が好ましい。
前記高分子フィルムを多価アミン化合物に暴露する時間は特に制限されないが、20時間以内が好ましく、より好ましくは60分以内、さらに好ましくは15分以内、最も好ましくは1分以内である。
前記高分子フィルムを多価アミン化合物に暴露する間の前記高分子フィルムの温度は、多価アミン化合物の種類と、求める表面処理の度合いにより-50℃から200℃の間の適正な温度に制御することが好ましい。
The polyamine compound can also be applied by a gas phase coating method. Specifically, the polymer film is exposed to the vapor of the polyamine compound, that is, the polyamine compound in a substantially gaseous state. Form. The vapor of the polyamine compound can be obtained by heating the polyamine compound in a liquid state to a temperature from room temperature (25° C.) to about the boiling point of the polyamine compound.
The environment in which the polyvalent amine compound is heated may be under pressure, normal pressure or reduced pressure, but is preferably under normal pressure or under reduced pressure in order to promote vaporization of the polyvalent amine compound.
The exposure time of the polymer film to the polyvalent amine compound is not particularly limited, but is preferably 20 hours or less, more preferably 60 minutes or less, still more preferably 15 minutes or less, and most preferably 1 minute or less.
The temperature of the polymer film during exposure to the polyamine compound is controlled to an appropriate temperature between -50°C and 200°C depending on the type of the polyamine compound and the desired degree of surface treatment. preferably.

<工程B>
工程Bにおいては、多価アミン化合物塗布後の耐熱高分子フィルムを、0℃以上60℃未満の範囲内で保持する。工程Bにおける保持温度は、10℃以上55℃未満であることがより好ましく、20℃以上50℃未満であることがさらに好ましい。
また、工程Bにおける保持時間は、30分~180分が好ましく、45分~150分がより好ましく、60分~120分がさらに好ましい。
<Process B>
In step B, the heat-resistant polymer film coated with the polyvalent amine compound is kept within the range of 0°C or higher and lower than 60°C. The holding temperature in step B is more preferably 10°C or higher and lower than 55°C, and further preferably 20°C or higher and lower than 50°C.
The retention time in step B is preferably 30 minutes to 180 minutes, more preferably 45 minutes to 150 minutes, even more preferably 60 minutes to 120 minutes.

<工程C>
工程Cにおいては、前記工程Bの後の前記高分子フィルムを、60℃以上250℃以下の範囲内で保持する。工程Cにおける保持温度は、70℃以上220℃未満であることがより好ましく、90℃以上200℃未満であることがさらに好ましい。
また、工程Cにおける保持時間は、10秒~5分が好ましく、10秒~2分がより好ましく、30秒~1分がさらに好ましい。
<Process C>
In step C, the polymer film after step B is held within a range of 60° C. or higher and 250° C. or lower. The holding temperature in step C is more preferably 70°C or higher and lower than 220°C, and more preferably 90°C or higher and lower than 200°C.
The retention time in step C is preferably 10 seconds to 5 minutes, more preferably 10 seconds to 2 minutes, and even more preferably 30 seconds to 1 minute.

前記工程B、及び、前記工程Cを行うことにより、多価アミン化合物により好適に表面処理された高分子フィルムが得られる。 By performing the step B and the step C, a polymer film suitably surface-treated with a polyvalent amine compound can be obtained.

<無機基板と高分子フィルムとが貼り合わされた積層体の製造方法>
次に、前記高分子フィルムを用いた、無機基板と高分子フィルムとが貼り合わされた積層体の製造方法について説明する。
<Method for producing a laminate in which an inorganic substrate and a polymer film are bonded together>
Next, a method for manufacturing a laminate in which an inorganic substrate and a polymer film are bonded using the polymer film will be described.

まず、支持体としての無機基板と前記高分子フィルムとを準備する。 First, an inorganic substrate as a support and the polymer film are prepared.

<無機基板>
前記無機基板としては無機物からなる基板として用いることのできる板状のものであればよく、例えば、ガラス板、セラミック板、半導体ウエハ、金属等を主体としているもの、および、これらガラス板、セラミック板、半導体ウエハ、金属の複合体として、これらを積層したもの、これらが分散されているもの、これらの繊維が含有されているものなどが挙げられる。
<Inorganic substrate>
The inorganic substrate may be a plate-shaped substrate that can be used as a substrate made of an inorganic substance. , semiconductor wafers, and metal composites include laminates of these, those in which these are dispersed, and those in which these fibers are contained.

前記ガラス板としては、石英ガラス、高ケイ酸ガラス(96%シリカ)、ソーダ石灰ガラス、鉛ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス(パイレックス(登録商標))、ホウケイ酸ガラス(無アルカリ)、ホウケイ酸ガラス(マイクロシート)、アルミノケイ酸塩ガラス等が含まれる。これらの中でも、線膨張係数が5ppm/K以下のものが望ましく、市販品であれば、液晶用ガラスであるコーニング社製の「コーニング(登録商標)7059」や「コーニング(登録商標)1737」、「EAGLE」、旭硝子社製の「AN100」、日本電気硝子社製の「OA10」、SCHOTT社製の「AF32」などが望ましい。 Examples of the glass plate include quartz glass, high silicate glass (96% silica), soda lime glass, lead glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass (Pyrex (registered trademark)), borosilicate glass (no alkali), Borosilicate glass (microsheet), aluminosilicate glass, etc. are included. Among these, those having a coefficient of linear expansion of 5 ppm/K or less are desirable. "EAGLE", "AN100" manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., "OA10" manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd., "AF32" manufactured by SCHOTT Co., Ltd., and the like are preferable.

前記半導体ウエハとしては、特に限定されないが、シリコンウエハ、ゲルマニウム、シリコン-ゲルマニウム、ガリウム-ヒ素、アルミニウム-ガリウム-インジウム、窒素-リン-ヒ素-アンチモン、SiC、InP(インジウム燐)、InGaAs、GaInNAs、LT、LN、ZnO(酸化亜鉛)やCdTe(カドミウムテルル)、ZnSe(セレン化亜鉛)などのウエハが挙げられる。なかでも、好ましく用いられるウエハはシリコンウエハであり、特に好ましくは8インチ以上のサイズの鏡面研磨シリコンウエハである。 Examples of the semiconductor wafer include, but are not limited to, silicon wafer, germanium, silicon-germanium, gallium-arsenide, aluminum-gallium-indium, nitrogen-phosphorus-arsenic-antimony, SiC, InP (indium phosphide), InGaAs, GaInNAs, Wafers of LT, LN, ZnO (zinc oxide), CdTe (cadmium telluride), ZnSe (zinc selenide), and the like can be mentioned. Among them, the wafer preferably used is a silicon wafer, and particularly preferably a mirror-polished silicon wafer having a size of 8 inches or more.

前記金属としては、W、Mo、Pt、Fe、Ni、Auといった単一元素金属や、インコネル、モネル、ニモニック、炭素銅、Fe-Ni系インバー合金、スーパーインバー合金、といった合金等が含まれる。また、これら金属に、他の金属層、セラミック層を付加してなる多層金属板も含まれる。この場合、付加層との全体の線膨張係数(CTE)が低ければ、主金属層にCu、Alなども用いられる。付加金属層として使用される金属としては、高分子フィルムとの密着性を強固にするもの、拡散がないこと、耐薬品性や耐熱性が良いこと等の特性を有するものであれば限定されるものではないが、Cr、Ni、TiN、Mo含有Cuなどが好適な例として挙げられる。 The metals include single element metals such as W, Mo, Pt, Fe, Ni, and Au, and alloys such as Inconel, Monel, Nimonic, carbon copper, Fe—Ni system Invar alloys, and Super Invar alloys. In addition to these metals, multi-layer metal plates obtained by adding other metal layers and ceramic layers are also included. In this case, if the overall coefficient of linear expansion (CTE) with the additional layer is low, Cu, Al, etc. may also be used for the main metal layer. The metal used for the additional metal layer is limited as long as it has properties such as strong adhesion to the polymer film, no diffusion, good chemical resistance and heat resistance. Suitable examples include Cr, Ni, TiN, Mo-containing Cu, etc., although they are not specific.

前記無機基板の平面部分は、充分に平坦である事が望ましい。具体的には、表面粗さのP-V値が50nm以下、より好ましくは20nm以下、さらに好ましくは5nm以下である。これより粗いと、高分子フィルム層と無機基板との剥離強度が不充分となる場合がある。
前記無機基板の厚さは特に制限されないが、取り扱い性の観点より10mm以下の厚さが好ましく、3mm以下がより好ましく、1.3mm以下がさらに好ましい。厚さの下限については特に制限されないが、好ましくは0.07mm以上、より好ましくは0.15mm以上、さらに好ましくは0.3mm以上である。
It is desirable that the planar portion of the inorganic substrate be sufficiently flat. Specifically, the PV value of surface roughness is 50 nm or less, more preferably 20 nm or less, still more preferably 5 nm or less. If it is coarser than this, the peel strength between the polymer film layer and the inorganic substrate may be insufficient.
Although the thickness of the inorganic substrate is not particularly limited, the thickness is preferably 10 mm or less, more preferably 3 mm or less, and even more preferably 1.3 mm or less from the viewpoint of handleability. Although the lower limit of the thickness is not particularly limited, it is preferably 0.07 mm or more, more preferably 0.15 mm or more, and still more preferably 0.3 mm or more.

なお、前記無機基板上にも前記多価アミン化合物を塗布、乾燥させて多価アミン化合物層を形成してもよい。無機基板上への記多価アミン化合物の塗布方法は、前記工程Aと同様にすることができる。ただし、高分子フィルムを多価アミン化合物により表面処理する場合と異なり、前記工程B、前記工程Cのように、所定の温度内で保持する工程は必要なく、従来公知の方法で、乾燥させればよい。無機基板と多価アミン化合物との間では、基本的には化学反応は生じないからである。 The polyamine compound layer may be formed also on the inorganic substrate by applying and drying the polyamine compound. The method of applying the polyvalent amine compound onto the inorganic substrate can be the same as in step A above. However, unlike the case of surface-treating a polymer film with a polyvalent amine compound, there is no need for the step of holding the film at a predetermined temperature as in the steps B and C, and drying is performed by a conventionally known method. Just do it. This is because basically no chemical reaction occurs between the inorganic substrate and the polyvalent amine compound.

次に、前記高分子フィルムの表面と、前記無機基板とを加圧加熱して、貼り合わせる。これにより、積層体が得られる。 Next, the surface of the polymer film and the inorganic substrate are pressed and heated to bond them together. A laminate is thus obtained.

加圧加熱処理は、例えば、大気圧雰囲気下あるいは真空中で、プレス、ラミネート、ロールラミネート等を、加熱しながら行えばよい。またフレキシブルなバッグに入れた状態で加圧加熱する方法も応用できる。生産性の向上や、高い生産性によりもたらされる低加工コスト化の観点からは、大気雰囲気下でのプレスまたはロールラミネートが好ましく、特にロールを用いて行う方法(ロールラミネート等)が好ましい。 The pressurized heat treatment may be performed, for example, under atmospheric pressure or in a vacuum by pressing, laminating, roll laminating, or the like while heating. A method of pressurizing and heating in a flexible bag can also be applied. From the viewpoint of improving productivity and reducing processing costs brought about by high productivity, press or roll lamination in an air atmosphere is preferred, and a method using rolls (roll lamination, etc.) is particularly preferred.

加圧加熱処理の際の圧力としては、1MPa~20MPaが好ましく、さらに好ましくは3MPa~10MPaである。20MPa以下であると、無機基板を破損することを抑制できる。また、1MPa以上であると、密着しない部分が生じることや、接着が不充分になることを防止できる。加圧加熱処理の際の温度としては、好ましくは150℃~400℃、より好ましくは250℃~350℃である。高分子フィルムがポリイミドフィルムである場合には、温度が高すぎると、ポリイミドフィルムにダメージを与える虞があり、温度が低すぎると、密着力が弱くなる傾向がある。
また加圧加熱処理は、上述のように大気圧雰囲気中で行うこともできるが、全面の安定した剥離強度を得る為には、真空下で行うことが好ましい。このとき真空度は、通常の油回転ポンプによる真空度で充分であり、10Torr以下程度あれば充分である。
加圧加熱処理に使用することができる装置としては、真空中でのプレスを行うには、例えば井元製作所製の「11FD」等を使用でき、真空中でのロール式のフィルムラミネーターあるいは真空にした後に薄いゴム膜によりガラス全面に一度に圧力を加えるフィルムラミネーター等の真空ラミネートを行うには、例えば名機製作所製の「MVLP」等を使用できる。
The pressure during the pressurized heat treatment is preferably 1 MPa to 20 MPa, more preferably 3 MPa to 10 MPa. When the pressure is 20 MPa or less, damage to the inorganic substrate can be suppressed. Further, when the pressure is 1 MPa or more, it is possible to prevent the occurrence of non-adhesive portions and insufficient adhesion. The temperature for the pressurized heat treatment is preferably 150°C to 400°C, more preferably 250°C to 350°C. When the polymer film is a polyimide film, if the temperature is too high, the polyimide film may be damaged, and if the temperature is too low, the adhesion tends to be weak.
The pressurized heat treatment can be performed in an atmosphere of atmospheric pressure as described above, but is preferably performed in a vacuum in order to obtain a stable peel strength over the entire surface. At this time, the degree of vacuum obtained by a normal oil rotary pump is sufficient, and a degree of vacuum of about 10 Torr or less is sufficient.
As an apparatus that can be used for pressure heating treatment, for example, "11FD" manufactured by Imoto Seisakusho Co., Ltd. can be used for pressing in a vacuum, and a roll type film laminator in a vacuum or a vacuum is used. For vacuum lamination using a film laminator or the like that applies pressure to the entire glass surface at once with a thin rubber film, for example, "MVLP" manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd. can be used.

前記加圧加熱処理は加圧プロセスと加熱プロセスとに分離して行うことが可能である。この場合、まず、比較的低温(例えば120℃未満、より好ましくは95℃以下の温度)で高分子フィルムと無機基板とを加圧(好ましくは0.2~50MPa程度)して両者の密着確保し、その後、低圧(好ましくは0.2MPa未満、より好ましくは0.1MPa以下)もしくは常圧にて比較的高温(例えば120℃以上、より好ましくは120~250℃、さらに好ましくは150~230℃)で加熱することにより、密着界面の化学反応が促進されて高分子フィルムと無機基板とを積層できる。 The pressurization and heat treatment can be performed separately into a pressurization process and a heating process. In this case, first, the polymer film and the inorganic substrate are pressurized (preferably about 0.2 to 50 MPa) at a relatively low temperature (for example, less than 120°C, more preferably 95°C or less) to ensure close contact between the two. Then, at low pressure (preferably less than 0.2 MPa, more preferably 0.1 MPa or less) or normal pressure at relatively high temperature (for example, 120 ° C. or higher, more preferably 120 to 250 ° C., more preferably 150 to 230 ° C. ), the chemical reaction at the adhesion interface is promoted, and the polymer film and the inorganic substrate can be laminated.

以上により、無機基板と高分子フィルムとが貼り合わされた積層体を得ることができる。 As described above, a laminate in which the inorganic substrate and the polymer film are bonded together can be obtained.

前記積層体は、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した後の無機基板と高分子フィルムとの間の90°剥離強度Aが0.05N/cm以上であることが好ましく、0.1N/cm以上であることがより好ましい。また、前記90°剥離強度Aは、0.25N/cm以下であることが好ましく、0.2N/cm以下であることがより好ましい。前記90°剥離強度Aが0.05N/cm以上であると、デバイス形成前や形成中に高分子フィルムが無機基板から剥がれてしまうことを防止することができる。また、前記90°剥離強度Aが0.25N/cm以下であると、デバイス形成後、無機基板と高分子フィルムとを剥離しやすい。つまり、前記90°剥離強度Aが0.25N/cm以下であると、デバイス形成中に、無機基板と高分子フィルムとの間の剥離強度が多少上昇したとしても、両者を容易に剥離しやすい。 The laminate preferably has a 90° peel strength A between the inorganic substrate and the polymer film of 0.05 N/cm or more, more preferably 0.1 N/cm It is more preferable to be above. The 90° peel strength A is preferably 0.25 N/cm or less, more preferably 0.2 N/cm or less. When the 90° peel strength A is 0.05 N/cm or more, it is possible to prevent the polymer film from peeling off from the inorganic substrate before or during device formation. Further, when the 90° peel strength A is 0.25 N/cm or less, the inorganic substrate and the polymer film are easily peeled off after device formation. That is, when the 90° peel strength A is 0.25 N/cm or less, even if the peel strength between the inorganic substrate and the polymer film slightly increases during device formation, the two can be easily peeled off. .

前記90°剥離強度Aの測定条件は、下記の通りである。
無機基板に対してポリイミドフィルムを90°の角度で引き剥がす。
5回測定を行い、平均値を測定値とする。
測定温度 ; 室温(25℃)
剥離速度 ; 100mm/min
雰囲気 ; 大気
測定サンプル幅 ; 1cm
より詳細には、実施例に記載の方法による。
The measurement conditions for the 90° peel strength A are as follows.
The polyimide film is peeled off from the inorganic substrate at an angle of 90°.
Measurement is performed 5 times, and the average value is taken as the measured value.
Measurement temperature; room temperature (25°C)
Peeling speed; 100mm/min
Atmosphere; Atmospheric measurement sample width; 1 cm
More specifically, according to the method described in Examples.

前記積層体は、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した後、さらに、窒素雰囲気下で500℃1時間加熱した後の無機基板と高分子フィルムとの間の90°剥離強度Bが0.5N/cm以下が好ましく、より好ましくは0.3N/cm以下、さらに好ましくは0.2N/cm以下である。
また、前記90°剥離強度Bは、0.05N/cm以上であることが好ましく、0.1N/cm以上であることがより好ましい。前記90°剥離強度Bが0.5N/cm以下であると、デバイス形成後に、無機基板と高分子フィルムとを剥離しやすい。また、前記90°剥離強度Bが0.05N/cm以上であると、デバイス形成中の途中等、意図していない段階での無機基板と高分子フィルムとの剥離を防止することができる。
After the laminate was heat-treated at 200° C. for 1 hour in an air atmosphere and further heated at 500° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere, the 90° peel strength B between the inorganic substrate and the polymer film was 0.5 N. /cm or less, more preferably 0.3 N/cm or less, and even more preferably 0.2 N/cm or less.
The 90° peel strength B is preferably 0.05 N/cm or more, more preferably 0.1 N/cm or more. When the 90° peel strength B is 0.5 N/cm or less, the inorganic substrate and the polymer film are easily peeled off after device formation. Further, when the 90° peel strength B is 0.05 N/cm or more, it is possible to prevent peeling between the inorganic substrate and the polymer film at an unintended stage such as during device formation.

前記90°剥離強度Bの測定条件は、前記90°剥離強度Aの測定条件と同様である。 The conditions for measuring the 90° peel strength B are the same as the conditions for measuring the 90° peel strength A.

<フレキシブル電子デバイスの製造方法>
前記積層体を用いると、既存の電子デバイス製造用の設備、プロセスを用いて積層体の高分子フィルム上に電子デバイスを形成し、積層体から高分子フィルムごと剥離することで、フレキシブルな電子デバイスを作製することができる。
本明細書において電子デバイスとは、電気配線を担う片面、両面、あるいは多層構造を有する配線基板、トランジスタ、ダイオードなどの能動素子や、抵抗、キャパシタ、インダクタなどの受動デバイスを含む電子回路、他、圧力、温度、光、湿度などをセンシングするセンサー素子、バイオセンサー素子、発光素子、液晶表示、電気泳動表示、自発光表示などの画像表示素子、無線、有線による通信素子、演算素子、記憶素子、MEMS素子、太陽電池、薄膜トランジスタなどをいう。
<Method for manufacturing flexible electronic device>
When the laminate is used, an electronic device is formed on the polymer film of the laminate using existing equipment and processes for manufacturing electronic devices, and the polymer film is peeled off from the laminate to form a flexible electronic device. can be made.
In this specification, the electronic device means an electronic circuit including a wiring board having a single-sided, double-sided, or multilayer structure responsible for electrical wiring, active elements such as transistors and diodes, and passive devices such as resistors, capacitors, inductors, etc. Sensor elements that sense pressure, temperature, light, humidity, etc., biosensor elements, light emitting elements, liquid crystal displays, electrophoretic displays, image display elements such as self-luminous displays, wireless and wired communication elements, computing elements, memory elements, Refers to MEMS elements, solar cells, thin film transistors, and the like.

本明細書におけるデバイス構造体の製造方法では、上述した方法で作製された積層体の高分子フィルム上にデバイスを形成した後、該高分子フィルムを前記無機基板から剥離する。 In the device structure manufacturing method of the present specification, after forming a device on the polymer film of the laminate produced by the method described above, the polymer film is peeled off from the inorganic substrate.

デバイス付きの高分子フィルムを無機基板から剥離する方法としては、特に制限されないが、ピンセットなどで端から捲る方法、高分子フィルムに切り込みを入れ、切り込み部分の1辺に粘着テープを貼着させた後にそのテープ部分から捲る方法、高分子フィルムの切り込み部分の1辺を真空吸着した後にその部分から捲る方法等が採用できる。なお、剥離の際に、高分子フィルムの切り込み部分に曲率が小さい曲がりが生じると、その部分のデバイスに応力が加わることになりデバイスを破壊するおそれがあるため、極力曲率の大きな状態で剥がすことが望ましい。例えば、曲率の大きなロールに巻き取りながら捲るか、あるいは曲率の大きなロールが剥離部分に位置するような構成の機械を使って捲ることが望ましい。
前記高分子フィルムに切り込みを入れる方法としては、刃物などの切削具によって高分子フィルムを切断する方法や、レーザーと積層体を相対的にスキャンさせることにより高分子フィルムを切断する方法、ウォータージェットと積層体を相対的にスキャンさせることにより高分子フィルムを切断する方法、半導体チップのダイシング装置により若干ガラス層まで切り込みつつ高分子フィルムを切断する方法などがあるが、特に方法は限定されるものではない。例えば、上述した方法を採用するにあたり、切削具に超音波を重畳させたり、往復動作や上下動作などを付け加えて切削性能を向上させる等の手法を適宜採用することもできる。
また、剥離する部分に予め別の補強基材を貼りつけて、補強基材ごと剥離する方法も有用である。剥離するフレキシブル電子デバイスが、表示デバイスのバックプレーンである場合、あらかじめ表示デバイスのフロントプレーンを貼りつけて、無機基板上で一体化した後に両者を同時に剥がし、フレキシブルな表示デバイスを得ることも可能である。
The method of peeling the polymer film with the device from the inorganic substrate is not particularly limited, but a method of rolling it up from the edge with tweezers or the like, making a cut in the polymer film, and attaching an adhesive tape to one side of the cut portion. A method of rolling up from the tape portion later, a method of vacuum-sucking one side of the notched portion of the polymer film and then rolling up from that portion, and the like can be employed. When peeling, if the cut portion of the polymer film bends with a small curvature, stress is applied to the device at that portion, which may destroy the device. is desirable. For example, it is desirable to wind the film while winding it on a roll having a large curvature, or to roll it using a machine configured so that the roll having a large curvature is positioned at the peeling portion.
The method of cutting the polymer film includes a method of cutting the polymer film with a cutting tool such as a knife, a method of cutting the polymer film by relatively scanning a laser and a laminate, and a method of cutting the polymer film with a water jet. There are a method of cutting the polymer film by relatively scanning the laminate, a method of cutting the polymer film while slightly cutting into the glass layer with a semiconductor chip dicing device, and the like, but the method is not particularly limited. do not have. For example, in adopting the above-described method, it is also possible to appropriately adopt techniques such as superimposing ultrasonic waves on the cutting tool or adding reciprocating motion or vertical motion to improve cutting performance.
It is also useful to attach another reinforcing base material in advance to the part to be peeled off, and peel off the entire reinforcing base material. If the flexible electronic device to be peeled is the backplane of the display device, it is also possible to obtain a flexible display device by first attaching the frontplane of the display device, integrating them on the inorganic substrate, and then peeling them off at the same time. be.

以下、本発明に関し実施例を用いて詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in detail using examples, but the present invention is not limited to the following examples as long as the gist thereof is not exceeded.

〔製造例1(ポリアミド酸溶液の製造)〕
窒素導入管、温度計、攪拌棒を備えた反応容器内を窒素置換した後、前記反応容器内に5-アミノ-2-(p-アミノフェニル)ベンゾオキサゾール(DAMBO)223質量部と、N,N-ジメチルアセトアミド4416質量部とを加えて完全に溶解させた。次に、ピロメリット酸二無水物(PMDA)217質量部とともに、コロイダルシリカ分散体(日産化学社製、製品名:DMAc-ST-ZL)を、シリカ(滑材)がポリアミド酸溶液中のポリマー固形分総量に対して0.12質量%になるように加え、25℃の反応温度で24時間攪拌して、粘調なポリアミド酸溶液V1を得た。
[Production Example 1 (production of polyamic acid solution)]
After purging the interior of a reaction vessel equipped with a nitrogen introduction tube, a thermometer, and a stirring bar, 223 parts by mass of 5-amino-2-(p-aminophenyl)benzoxazole (DAMBO), N, 4416 parts by mass of N-dimethylacetamide was added and dissolved completely. Next, along with 217 parts by mass of pyromellitic dianhydride (PMDA), a colloidal silica dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., product name: DMAc-ST-ZL), silica (lubricant) is a polymer in the polyamic acid solution. It was added so as to be 0.12% by mass with respect to the total solid content, and stirred at a reaction temperature of 25° C. for 24 hours to obtain a viscous polyamic acid solution V1.

〔製造例2(ポリアミド酸溶液の製造)〕
製造例1において、前記コロイダルシリカ分散体を添加しなかった以外は同様に操作し、ポリアミド酸溶液V2を得た。
[Production Example 2 (production of polyamic acid solution)]
Polyamic acid solution V2 was obtained in the same manner as in Production Example 1, except that the colloidal silica dispersion was not added.

〔製造例3(ポリイミドフィルムの作製)〕
前記で得られたポリアミド酸溶液V2をコンマコーターを用いて幅1050mmの長尺ポリエステルフィルム(東洋紡株式会社製「A-4100」)の平滑面(無滑材面)上に、最終膜厚(イミド化後の膜厚)が約5μmとなるように塗布し、次いでポリアミド酸溶液V1をスリットダイを用いて、最終膜厚が38μm(ポリアミド酸溶液V2による厚さ部分を含む)となるように塗布し、105℃にて25分間乾燥した後、ポリエステルフィルムから剥離して、幅920mmの自己支持性のポリアミド酸フィルムを得た。
次に、得られた自己支持性ポリアミド酸フィルムをピンテンターによって、180℃~495℃の温度領域で段階的に昇温させることにより熱処理を施してイミド化させた。具体的には、1段目180℃で5分間、2段目220℃で5分間、3段目495℃で10分間として熱処理を施した。次に、両端のピン把持部分をスリットにて落とし、幅850mmの長尺ポリイミドフィルム(1000m巻き)を得た。実際に得られたポリイミドフィルムの厚みは36μmであった。
[Production Example 3 (Preparation of polyimide film)]
The polyamic acid solution V2 obtained above was coated on the smooth surface (non-slip material surface) of a long polyester film ("A-4100" manufactured by Toyobo Co., Ltd.) with a width of 1050 mm using a comma coater, and the final film thickness (imide The film thickness after curing) is about 5 μm, and then the polyamic acid solution V1 is applied using a slit die so that the final film thickness is 38 μm (including the thickness of the polyamic acid solution V2). After drying at 105° C. for 25 minutes, it was peeled off from the polyester film to obtain a self-supporting polyamic acid film with a width of 920 mm.
Next, the resulting self-supporting polyamic acid film was imidized by heat treatment by stepwise heating in a temperature range of 180° C. to 495° C. using a pin tenter. Specifically, heat treatment was performed at 180° C. for 5 minutes in the first stage, 220° C. for 5 minutes in the second stage, and 495° C. for 10 minutes in the third stage. Next, the portions held by the pins at both ends were cut off with a slit to obtain a long polyimide film (1000 m roll) with a width of 850 mm. The thickness of the actually obtained polyimide film was 36 μm.

(実施例1)
アミン化合物としての2-メチル1,5-ジアミノペンタン(東京化成工業社製、分子量:116.21、沸点:78℃/11mmHg(常圧での沸点:193.0℃(推定値)))を1質量%含むようにイソプロパノールで希釈したアミン希釈液を調製した。製造例3で製造したポリイミドフィルムをスピンコーター(ジャパンクリエイト社製、MSC-500S)に設置して、回転数を2000rpmまで上げて10秒間回転させ、前記アミン希釈液を塗布した。その後、40℃の雰囲気に60分間放置した。なお、この40℃の雰囲気に60分間放置する工程は、本発明の工程Bに相当する。次に、100℃に加熱したホットプレートに、前記ポリイミドフィルムを、アミン化合物塗布面が上になるように載せ、1分間加熱して、実施例1に係るフィルムを得た。なお、この100℃で1分間加熱する工程は、本発明の工程Cに相当する。
(Example 1)
2-methyl 1,5-diaminopentane (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., molecular weight: 116.21, boiling point: 78° C./11 mmHg (boiling point at normal pressure: 193.0° C. (estimated value))) as an amine compound An amine dilution was prepared in isopropanol to contain 1% by weight. The polyimide film produced in Production Example 3 was placed on a spin coater (MSC-500S, manufactured by Japan Create Co., Ltd.), and the number of revolutions was raised to 2000 rpm for 10 seconds to apply the amine diluted solution. After that, it was left in an atmosphere of 40° C. for 60 minutes. The step of leaving in the atmosphere of 40° C. for 60 minutes corresponds to the step B of the present invention. Next, the polyimide film was placed on a hot plate heated to 100° C. with the amine compound coated surface facing upward, and heated for 1 minute to obtain a film according to Example 1. The step of heating at 100° C. for 1 minute corresponds to step C of the present invention.

(実施例2)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、ヘキサメチレンジアミン(HMDA)に変更したこと以外は実施例1と同様にして実施例2に係るフィルムを得た。
(Example 2)
A film according to Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to hexamethylenediamine (HMDA).

(実施例3)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、エチレンジアミンに変更したこと以外は実施例1と同様にして実施例3に係るフィルムを得た。
(Example 3)
A film according to Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to ethylenediamine.

(実施例4)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、プトレスシンに変更したこと以外は実施例1と同様にして実施例4に係るフィルムを得た。
(Example 4)
A film according to Example 4 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to putrescine.

(実施例5)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、トリエチレンテトラミンに変更したこと以外は実施例1と同様にして実施例5に係るフィルムを得た。
(Example 5)
A film according to Example 5 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to triethylenetetramine.

(実施例6)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、1,3,5-ペンタントリアミンに変更したこと以外は実施例1と同様にして実施例6に係るフィルムを得た。
(Example 6)
A film according to Example 6 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to 1,3,5-pentanetriamine.

(実施例7)
アミン化合物としての2-メチル1,5-ジアミノペンタン100質量部を、チャンバーに接続した吸引瓶に満たし、40℃の水浴上に静置した。吸引瓶の上方から計装エアーを導入できる状態にして密閉することで、25℃のチャンバー内にアミン化合物の蒸気を導入できる状態にした。次いで、製造例3で製造したポリイミドフィルムをチャンバー内に水平に保持し、チャンバーを閉じた。次いで計装エアーを25L/minで導入し、チャンバー内(25℃)をアミン化合物蒸気で満たした状態で120分間保持してポリイミドフィルムをアミン化合物蒸気へ暴露した。なお、この2アミン化合物蒸気下、25℃で120分間保持する工程は、本発明の工程Bに相当する。
(Example 7)
A suction bottle connected to the chamber was filled with 100 parts by mass of 2-methyl-1,5-diaminopentane as an amine compound, and left standing on a water bath at 40°C. By closing the suction bottle in such a state that instrumentation air can be introduced from above, a state was created in which the vapor of the amine compound can be introduced into the chamber at 25°C. Then, the polyimide film produced in Production Example 3 was held horizontally in the chamber, and the chamber was closed. Instrumentation air was then introduced at 25 L/min, and the chamber (25° C.) filled with amine compound vapor was held for 120 minutes to expose the polyimide film to the amine compound vapor. The step of holding at 25° C. for 120 minutes under the vapor of the diamine compound corresponds to step B of the present invention.

次に、フィルムを取り出して、120℃で30秒間加熱して、実施例6に係るフィルムを得た。なお、この120℃で30秒間加熱する工程は、本発明の工程Cに相当する。 Next, the film was taken out and heated at 120° C. for 30 seconds to obtain a film according to Example 6. The step of heating at 120° C. for 30 seconds corresponds to step C of the present invention.

(実施例8)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、ヘキサメチレンジアミン(HMDA)に変更したこと以外は実施例7と同様にして実施例7に係るフィルムを得た。
(Example 8)
A film according to Example 7 was obtained in the same manner as in Example 7, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to hexamethylenediamine (HMDA).

(実施例9)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、エチレンジアミンに変更したこと以外は実施例7と同様にして実施例8に係るフィルムを得た。
(Example 9)
A film according to Example 8 was obtained in the same manner as in Example 7, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to ethylenediamine.

(実施例10)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、プトレスシンに変更したこと以外は実施例7と同様にして実施例9に係るフィルムを得た。
(Example 10)
A film according to Example 9 was obtained in the same manner as in Example 7, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to putrescine.

(実施例11)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、トリエチレンテトラミンに変更したこと以外は実施例7と同様にして実施例10に係るフィルムを得た。
(Example 11)
A film according to Example 10 was obtained in the same manner as in Example 7, except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to triethylenetetramine.

(実施例12)
アミン希釈液に含まれるアミン化合物を、1,3,5-ペンタントリアミンに変更したこと以外は実施例7と同様にして実施例12に係るフィルムを得た。
(Example 12)
A film according to Example 12 was obtained in the same manner as in Example 7 except that the amine compound contained in the amine diluent was changed to 1,3,5-pentanetriamine.

(比較例1)
製造例3で製造したポリイミドフィルムを比較例1に係るフィルムとした。つまり、比較例1に係るフィルムは、アミン希釈液の塗布を行っていないフィルムである。
(Comparative example 1)
The polyimide film produced in Production Example 3 was used as the film according to Comparative Example 1. That is, the film according to Comparative Example 1 is a film to which no amine diluent is applied.

(比較例2)
アミン希釈液の代わりに、シランカップリング剤(信越化学工業社製、製品名:KBM-903)を塗布したこと以外は、実施例1と同様にして比較例2に係るフィルムを得た。
(Comparative example 2)
A film according to Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 except that a silane coupling agent (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KBM-903) was applied instead of the amine diluent.

<窒素含有率の測定>
X線光電子分光装置(ESCA、Thermo Fisher Scientific社製、製品名:K-Alpha)を用いた。まず、実施例、比較例で作成したフィルムの表面の窒素含有率Aを計測した。次に、フィルムの厚み方向中央部分までアルゴンエッチングを行った後、その部分の窒素含有率Bを計測した。また、窒素含有率Bと窒素含有率Aとの差(窒素含有率差)を、「(窒素含有率A)-(窒素含有率B)」により算出した。結果を表1に示す。
なお、ESCAによる元素分析方法の詳細は、下記の通りとした。
<測定条件>
励起X線:モノクロ化Al Kα線
X線出力:12kV、6mA
光電子脱出角度:90°
スポットサイズ:400μmφ
パスエネルギー:50eV(ナロースキャン)、200eV(全元素スキャン)
ステップ:0.1eV(ナロースキャン)、1eV(全元素スキャン)
<Measurement of nitrogen content>
An X-ray photoelectron spectrometer (ESCA, manufactured by Thermo Fisher Scientific, product name: K-Alpha + ) was used. First, the nitrogen content A of the surface of the films produced in Examples and Comparative Examples was measured. Next, after performing argon etching up to the central portion in the thickness direction of the film, the nitrogen content B of that portion was measured. Further, the difference between nitrogen content B and nitrogen content A (nitrogen content difference) was calculated by "(nitrogen content A) - (nitrogen content B)". Table 1 shows the results.
The details of the elemental analysis method by ESCA are as follows.
<Measurement conditions>
Excitation X-ray: Monochrome Al Kα ray X-ray output: 12 kV, 6 mA
Photoelectron escape angle: 90°
Spot size: 400 μmφ
Pass energy: 50 eV (narrow scan), 200 eV (all element scan)
Step: 0.1 eV (narrow scan), 1 eV (all element scan)

<積層体の作製>
実施例、比較例のフィルムと、ガラス基板とを貼り合わせ積層体を得た。貼り合わせには、MCK社製ラミネーターを用い、貼合条件は、圧力:0.8MPa、温度:25℃とした。なお、実施例1~10のフィルムについては、フィルムのアミン処理面がガラス基板に対向するようにして貼り合わせた。比較例2のフィルムについては、フィルムのシランカップリング剤処理面がガラス基板に対向するようにして貼り合わせた。
<Production of laminate>
A laminate was obtained by laminating the films of Examples and Comparative Examples and a glass substrate. A laminator manufactured by MCK was used for the lamination, and the lamination conditions were a pressure of 0.8 MPa and a temperature of 25°C. The films of Examples 1 to 10 were laminated so that the amine-treated surface of the film faced the glass substrate. The film of Comparative Example 2 was laminated so that the silane coupling agent-treated surface of the film faced the glass substrate.

<200℃1時間熱処理した後の90°剥離強度Aの測定>
上記積層体の作製で得られた積層体を、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した。その後、ガラス基板とフィルムとの間の90°剥離強度Aを測定した。結果を表1に示す。
90°剥離強度Aの測定条件は、下記の通りである。
ガラス基板に対してフィルムを90°の角度で引き剥がす。
5回測定を行い、平均値を測定値とする。
測定装置 ; 剥離試験機(日本計測システム社、JSV-H1000)
測定温度 ; 室温(25℃)
剥離速度 ; 100mm/min
雰囲気 ; 大気
測定サンプル幅 ; 1cm
<Measurement of 90° peel strength A after heat treatment at 200°C for 1 hour>
The layered product obtained in the production of the layered product was heat-treated at 200° C. for 1 hour in an air atmosphere. After that, the 90° peel strength A between the glass substrate and the film was measured. Table 1 shows the results.
The measurement conditions for the 90° peel strength A are as follows.
The film is peeled off at an angle of 90° to the glass substrate.
Measurement is performed 5 times, and the average value is taken as the measured value.
Measuring device; Peel tester (Japan Keisoku System Co., Ltd., JSV-H1000)
Measurement temperature; room temperature (25°C)
Peeling speed; 100mm/min
Atmosphere; Atmospheric measurement sample width; 1 cm

<200℃1時間熱処理した後、さらに、500℃1時間加熱した後の90°剥離強度Bの測定>
上記積層体の作製で得られた積層体を、大気雰囲気下、200℃1時間熱処理した。さらに、窒素雰囲気下で500℃1時間加熱した。その後、ガラス基板とフィルムとの間の90°剥離強度B測定した。結果を表1に示す。
90°剥離強度Bの測定条件は、90°剥離強度Aと同様とした。
<Measurement of 90° peel strength B after heat treatment at 200°C for 1 hour and further heating at 500°C for 1 hour>
The layered product obtained in the production of the layered product was heat-treated at 200° C. for 1 hour in an air atmosphere. Furthermore, it was heated at 500° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere. After that, the 90° peel strength B between the glass substrate and the film was measured. Table 1 shows the results.
The measurement conditions for the 90° peel strength B were the same as those for the 90° peel strength A.

Figure 0007116889000001
Figure 0007116889000001

Claims (7)

表面処理された第1面を有する耐熱高分子フィルムであって、
多価アミン化合物と耐熱高分子フィルムの反応物を含有する層を有し、
前記耐熱高分子フィルムは、ポリイミドフィルムであり、
前記第1面の窒素含有率が、前記耐熱高分子フィルムの厚み方向中央部分の窒素含有率よりも0.45原子%以上多いことを特徴とする耐熱高分子フィルム。
A heat-resistant polymer film having a surface-treated first surface,
Having a layer containing a reaction product of a polyvalent amine compound and a heat-resistant polymer film,
The heat-resistant polymer film is a polyimide film,
A heat-resistant polymer film, wherein the nitrogen content of the first surface is 0.45 atom % or more higher than the nitrogen content of the central portion in the thickness direction of the heat-resistant polymer film.
請求項1に記載の耐熱高分子フィルムの製造方法であって、
耐熱高分子フィルムであるポリイミドフィルムに、多価アミン化合物を塗布する工程Aと、
前記工程Aの後、前記耐熱高分子フィルムを、0℃以上60℃未満の範囲内で保持する工程Bと、
前記工程Bの後、前記耐熱高分子フィルムを、60℃以上250℃以下の範囲内で保持する工程Cと
を有 し、
前記工程Bにおける保持時間は、30分~180分であり、前記工程Cにおける保持時間は、10秒~5分であ ることを特徴とする、表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法。
A method for producing a heat-resistant polymer film according to claim 1,
A step A of applying a polyvalent amine compound to a polyimide film, which is a heat-resistant polymer film;
After the step A, a step B of maintaining the heat-resistant polymer film within a range of 0° C. or more and less than 60° C.;
After the step B, a step C of holding the heat-resistant polymer film within a range of 60° C. or higher and 250° C. or lower;
have death,
The holding time in the step B is 30 minutes to 180 minutes, and the holding time in the step C is 10 seconds to 5 minutes. A method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film, characterized in that:
前記多価アミン化合物の分子量が300以下であることを特徴とする請求項2に記載の表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法。 3. The method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to claim 2, wherein the polyvalent amine compound has a molecular weight of 300 or less. 前記多価アミン化合物の沸点が50℃以上250℃以下であることを特徴とする請求項2又は3に記載の表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法。 4. The method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to claim 2, wherein the polyamine compound has a boiling point of 50[deg.] C. or more and 250[deg.] C. or less. 前記多価アミン化合物がジアミン化合物であることを特徴とする請求項2~4のいずれか1に記載の表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法。 5. The method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to any one of claims 2 to 4, wherein the polyamine compound is a diamine compound. 前記多価アミン化合物が分岐脂肪族多価アミン化合物であることを特徴とする請求項2~5のいずれか1に記載の表面処理された耐熱高分子フィルムの製造方法。 6. The method for producing a surface-treated heat-resistant polymer film according to any one of claims 2 to 5, wherein the polyamine compound is a branched aliphatic polyamine compound. 請求項1に記載の耐熱高分子フィルムがロール状に巻かれていることを特徴とする耐熱高分子フィルムロール。 A heat-resistant polymer film roll comprising the heat-resistant polymer film according to claim 1 wound into a roll.
JP2018153944A 2018-08-20 2018-08-20 Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll Active JP7116889B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018153944A JP7116889B2 (en) 2018-08-20 2018-08-20 Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018153944A JP7116889B2 (en) 2018-08-20 2018-08-20 Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020029475A JP2020029475A (en) 2020-02-27
JP7116889B2 true JP7116889B2 (en) 2022-08-12

Family

ID=69623855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018153944A Active JP7116889B2 (en) 2018-08-20 2018-08-20 Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7116889B2 (en)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003221456A (en) 2002-01-29 2003-08-05 Japan Gore Tex Inc Highly adhesive liquid crystal polymer film
JP2004327931A (en) 2003-04-28 2004-11-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Metal coated polyimide substrate and its manufacturing method
JP2006037023A (en) 2004-07-29 2006-02-09 Toyobo Co Ltd Polyimide benzoxazole film, method for producing the same, and metallized film given by using the same
JP2006176671A (en) 2004-12-22 2006-07-06 Toyobo Co Ltd Polyimide bezoxazole film, its manufacturing method and metallized film using the same
JP2006312727A (en) 2005-04-08 2006-11-16 Mitsui Chemicals Inc Polyimide film, polyimide metal laminate using the same and method for manufacturing the same
WO2008004520A1 (en) 2006-07-04 2008-01-10 Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Method of modifying surface of polyimide resin layer and process for producing metal-clad laminate
WO2008018399A1 (en) 2006-08-10 2008-02-14 Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Process for surface modification of polyimide resin layers and process for production of metal-clad laminates
JP2008291063A (en) 2007-05-22 2008-12-04 Nippon Steel Chem Co Ltd Method for surface-treating polyimide resin, and method for producing metal cladding laminated material
WO2012117850A1 (en) 2011-03-01 2012-09-07 Jx日鉱日石金属株式会社 Liquid crystal polymer film based copper-clad laminate, and method for producing same
WO2014073591A1 (en) 2012-11-08 2014-05-15 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Substrate for flexible device, flexible device and method for producing same, laminate and method for producing same, and resin composition

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4981497A (en) * 1989-06-01 1991-01-01 E. I. Du Pont De Nemours And Company Amine-modified polyimide membranes
KR0126792B1 (en) * 1994-04-11 1998-04-01 김광호 Process for surface-treating polyimide

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003221456A (en) 2002-01-29 2003-08-05 Japan Gore Tex Inc Highly adhesive liquid crystal polymer film
JP2004327931A (en) 2003-04-28 2004-11-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Metal coated polyimide substrate and its manufacturing method
JP2006037023A (en) 2004-07-29 2006-02-09 Toyobo Co Ltd Polyimide benzoxazole film, method for producing the same, and metallized film given by using the same
JP2006176671A (en) 2004-12-22 2006-07-06 Toyobo Co Ltd Polyimide bezoxazole film, its manufacturing method and metallized film using the same
JP2006312727A (en) 2005-04-08 2006-11-16 Mitsui Chemicals Inc Polyimide film, polyimide metal laminate using the same and method for manufacturing the same
WO2008004520A1 (en) 2006-07-04 2008-01-10 Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Method of modifying surface of polyimide resin layer and process for producing metal-clad laminate
WO2008018399A1 (en) 2006-08-10 2008-02-14 Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Process for surface modification of polyimide resin layers and process for production of metal-clad laminates
JP2008291063A (en) 2007-05-22 2008-12-04 Nippon Steel Chem Co Ltd Method for surface-treating polyimide resin, and method for producing metal cladding laminated material
WO2012117850A1 (en) 2011-03-01 2012-09-07 Jx日鉱日石金属株式会社 Liquid crystal polymer film based copper-clad laminate, and method for producing same
WO2014073591A1 (en) 2012-11-08 2014-05-15 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Substrate for flexible device, flexible device and method for producing same, laminate and method for producing same, and resin composition

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020029475A (en) 2020-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7167693B2 (en) LAMINATED FILM, LAMINATE, AND LAMINATE MANUFACTURING METHOD
JP6210201B2 (en) Method for manufacturing flexible electronic device
JP6372352B2 (en) Method for manufacturing flexible electronic device
TWI778422B (en) Laminated body manufacturing apparatus, and laminated body manufacturing method
KR102234132B1 (en) Laminate of polyimide film and inorganic substrate
JP2020059169A (en) Laminate and method for manufacturing laminate
JP6638415B2 (en) Method for manufacturing flexible electronic device
TWI828937B (en) Edge cleaning device
JP2017124586A (en) Method for manufacturing flexible electronic device
JP7205687B2 (en) LAMINATED PRODUCT, LAMINATED PRODUCTION METHOD, AND HEAT-RESISTANT POLYMER FILM WITH METAL-CONTAINING LAYER
JP6878870B2 (en) Laminates, methods for manufacturing laminates and methods for manufacturing flexible devices
JP6955681B2 (en) Laminated body and method for manufacturing the laminated body
JP7116889B2 (en) Heat-resistant polymer film, method for producing surface-treated heat-resistant polymer film, and heat-resistant polymer film roll
JP2018099800A (en) Laminate, laminate production method, and flexible device production method
WO2022034809A1 (en) Laminate, method for manufacturing laminate, and method for manufacturing flexible electronic device
WO2022113415A1 (en) Laminate
US11833795B2 (en) Multilayer body and method for producing flexible device
JP2018099801A (en) Laminate, laminate production method, and flexible device production method
JP2018094790A (en) Laminate, production method of laminate, and production method of flexible device
US20220282052A1 (en) Laminate, method for manufacturing laminate, and method for manufacturing flexible electronic device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210204

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211126

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220408

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220506

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220608

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220630

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220713

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7116889

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151