JP7061412B1 - Dielectric particle estimation device and dielectric particle type estimation system - Google Patents

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Abstract

【課題】検査対象の細菌の種類を推定できる誘電体粒子種類推定装置を提供する。【解決手段】誘電体粒子推定装置7は、試料液に含まれる誘電体粒子について誘電泳動を起させて捕獲した誘電体粒子を撮像した画像を取得し、誘電体粒子の種類を推定する誘電体粒子推定部し、撮像された画像についてノイズを除去するための画像処理を行う画像処理部60と、画像処理が行われた画像に含まれる誘電体粒子の形状に基づいて、第1カテゴリに分類する形状分類部62と、生育環境に基づいて、誘電体粒子を第2カテゴリに分類する生育環境分析部64と、第2カテゴリ内における略同一形状の誘電体粒子の画像解析を行って特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて第3カテゴリに分類する同形状内分類部66と、同形状内分類部66で分類されたデータに基づいて、誘電体粒子の種類を推定する推定部70と、を備える。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dielectric particle type estimation device capable of estimating the type of a bacterium to be inspected. SOLUTION: A dielectric particle estimation device 7 acquires an image of captured dielectric particles by causing dielectric migration of the dielectric particles contained in a sample solution, and estimates the type of the dielectric particles. The particle estimation unit is classified into the first category based on the image processing unit 60 that performs image processing for removing noise from the captured image and the shape of the dielectric particles contained in the image that has undergone image processing. The shape classification unit 62, the growth environment analysis unit 64 that classifies the dielectric particles into the second category based on the growth environment, and the image analysis of the dielectric particles having substantially the same shape in the second category are performed. The estimation unit that estimates the type of dielectric particles based on the data classified by the same-shape in-shape classification unit 66 and the same-shape in-shape classification unit 66 that extracts the differences in the above and classifies them into the third category based on the differences. 70 and. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、誘電体粒子推定装置及び誘電体粒子種類推定システムに関する。 The present invention relates to a dielectric particle estimation device and a dielectric particle type estimation system.

従来、試料液中に含まれる細菌や細胞等の誘電体粒子に対して誘電泳動を利用して検査する検査方法が知られている。 Conventionally, an inspection method for inspecting dielectric particles such as bacteria and cells contained in a sample liquid by using dielectrophoresis has been known.

本発明に関連する技術として、例えば、試料液中に含まれる誘電体粒子を検査する検査装置であって、少なくとも一対の電極と、一対の電極上に所定方向に延在する流路と、一対の電極の間で所定方向に並びつつ互いに分離している複数のスリット領域とを有する誘電体捕集部と、流路を所定方向に進むように、試料液を送液するポンプ部と、送液される試料液中の誘電体粒子が誘電泳動を起すように、所定周波数の交流電圧を一対の電極に供給する交流電圧供給部とを備える検査装置が開示されている。 As a technique related to the present invention, for example, an inspection device for inspecting dielectric particles contained in a sample liquid, a pair of at least a pair of electrodes and a pair of flow paths extending in a predetermined direction on the pair of electrodes. A dielectric collecting section having a plurality of slit regions separated from each other while arranging in a predetermined direction between the electrodes of the above, a pump section for feeding the sample liquid so as to proceed in the predetermined direction through the flow path, and a feeding section. An inspection device including an AC voltage supply unit that supplies an AC voltage of a predetermined frequency to a pair of electrodes so that the dielectric particles in the sample liquid to be liquid cause dielectrophoresis is disclosed.

国際公開2017/061496号公報International Publication No. 2017/061496

誘電泳動を利用した検査装置などを用いて細菌を検査する際に検査対象の細菌の種類を推定できることが望ましい。 When inspecting bacteria using an inspection device using dielectrophoresis, it is desirable to be able to estimate the type of bacteria to be inspected.

本発明の目的は、検査対象の細菌の種類を推定できる誘電体粒子推定装置及び誘電体粒子種類推定システムを提供することである。 An object of the present invention is to provide a dielectric particle estimation device and a dielectric particle type estimation system capable of estimating the type of bacteria to be inspected.

本発明に係る誘電体粒子推定装置は、試料液に含まれる誘電体粒子について誘電泳動を起させて捕獲した前記誘電体粒子を撮像した画像を取得し、前記誘電体粒子の種類を推定する誘電体粒子推定部を有する誘電体粒子推定装置であって、前記誘電体粒子推定部は、 前記撮像部によって撮像された画像についてノイズを除去し、誘電体粒子該当部を認識・抽出する画像処理を行う画像処理部と、前記画像処理が行われた前記画像に含まれる前記誘電体粒子の形状に基づいて、前記誘電体粒子を大別する第1カテゴリに分類する形状分類部と、前記形状分類部で分類された後、生育環境に基づいて、前記誘電体粒子を前記第1カテゴリの下位概念である第2カテゴリに分類する生育環境分析部と、前記生育環境分析部で分類された後、前記第2カテゴリ内における略同一形状の前記誘電体粒子の画像解析を行って特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて前記第2カテゴリの下位概念の第3カテゴリに分類する同形状内分類部と、前記同形状内分類部で分類されたデータに基づいて、前記誘電体粒子の種類を推定する推定部と、を備えることを特徴とする。 The dielectric particle estimation device according to the present invention acquires an image of the dielectric particles captured by causing dielectric migration of the dielectric particles contained in the sample liquid, and estimates the type of the dielectric particles. It is a dielectric particle estimation device having a body particle estimation unit, and the dielectric particle estimation unit performs image processing for removing noise from an image captured by the image pickup unit and recognizing / extracting the dielectric particle corresponding portion. An image processing unit to be performed, a shape classification unit that classifies the dielectric particles into a first category that is roughly classified based on the shape of the dielectric particles contained in the image on which the image processing is performed, and the shape classification. After being classified by the growth environment analysis unit, the dielectric particles are classified into the second category, which is a subordinate concept of the first category, based on the growth environment, and after being classified by the growth environment analysis unit. Image analysis of the dielectric particles having substantially the same shape in the second category is performed to extract differences in feature amounts, and based on the differences, the dielectric particles are classified into the third category of the subordinate concept of the second category. It is characterized by including a classification unit and an estimation unit for estimating the type of the dielectric particles based on the data classified by the classification unit in the same shape.

また、本発明に係る誘電体粒子推定装置において、前記第3カテゴリ内に分類されたデータに基づいて、前記推定部が推定できない場合に、前記第3カテゴリ内において類似する菌種のみを画像解析して特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて前記第3カテゴリの下位概念の第4カテゴリに分類する特殊分類部を備え、前記推定部は、前記特殊分類部で分類されたデータに基づいて、前記誘電体粒子の種類を推定することが好ましい。 Further, in the dielectric particle estimation device according to the present invention, when the estimation unit cannot be estimated based on the data classified in the third category, only similar bacterial species in the third category are image-analyzed. It is provided with a special classification unit that extracts the difference in the feature amount and classifies it into the fourth category of the subordinate concept of the third category based on the difference, and the estimation unit is based on the data classified by the special classification unit. It is preferable to estimate the type of the dielectric particles based on the above.

また、本発明に係る誘電体粒子推定装置において、少なくとも一対の電極と、該一対の電極上に所定方向に延在する流路と、前記一対の電極の間で前記所定方向に並びつつ互いに分離している複数のスリット領域とを有する誘電体捕集部と、前記流路を前記所定方向に進むように、前記試料液を送液するポンプ部と、前記送液される前記試料液中の前記誘電体粒子が誘電泳動を起すように、所定周波数の交流電圧を前記一対の電極に供給する交流電圧供給部と、前記誘電体捕集部において、前記複数のスリット領域が並んだ所定領域を撮像する撮像部と、を備えることが好ましい。 Further, in the dielectric particle estimation device according to the present invention, at least a pair of electrodes, a flow path extending in a predetermined direction on the pair of electrodes, and the pair of electrodes are separated from each other while being arranged in the predetermined direction. A dielectric collecting portion having a plurality of slit regions, a pump portion for feeding the sample liquid so as to proceed in the predetermined direction in the flow path, and the sample liquid to be fed. An AC voltage supply unit that supplies an AC voltage of a predetermined frequency to the pair of electrodes so that the dielectric particles cause dielectrophoresis, and a predetermined region in which the plurality of slit regions are arranged in the dielectric collection unit. It is preferable to include an imaging unit for imaging.

また、本発明に係る誘電体粒子推定装置において、前記撮像部は、前記複数のスリット領域に設けられる前記誘電体粒子に向けて照明光を出力する光源部と、前記光源部から出力された前記照明光をリング状の前記照明光にするためのリングスリット部と、前記リングスリット部により形成された前記リング状の前記照明光を集光させるための集光筒部と、前記集光筒部により集光された前記直進光と前記回折光とを集約し、前記誘電体粒子を含んで構成されるレンズ体部と、前記レンズ体部により集約された前記直進光と前記回折光とを通過させて像を形成するための対物レンズ部と、を有することが好ましい。 Further, in the dielectric particle estimation device according to the present invention, the imaging unit includes a light source unit that outputs illumination light toward the dielectric particles provided in the plurality of slit regions, and the light source unit that outputs the illumination light. A ring slit portion for converting the illumination light into the ring-shaped illumination light, a condensing cylinder portion for condensing the ring-shaped illumination light formed by the ring slit portion, and the condensing cylinder portion. The straight-ahead light and the diffracted light collected by the lens body are aggregated and pass through the lens body portion including the dielectric particles, and the straight-ahead light and the diffracted light aggregated by the lens body portion. It is preferable to have an objective lens portion for forming an image.

また、本発明に係る誘電体粒子推定装置において、前記一対の電極の間で前記複数のスリット領域を連結する領域は、前記流路の外部に配置されていることが好ましい。 Further, in the dielectric particle estimation device according to the present invention, it is preferable that the region connecting the plurality of slit regions between the pair of electrodes is arranged outside the flow path.

また、本発明に係る誘電体粒子推定装置において、前記誘電体粒子は、細菌、細胞、微生物、真菌、芽胞、及びウイルスの内の少なくとも一つを含むことが好ましい。 Further, in the dielectric particle estimation device according to the present invention, the dielectric particles preferably contain at least one of bacteria, cells, microorganisms, fungi, spores, and viruses.

本発明に係る誘電体粒子推定システムは、前記複数の誘電体粒子推定装置は、複数のクライアント側の誘電体粒子推定装置と、該複数のクライアント側の誘電体粒子推定装置とネットワークを介して接続されるサーバ側の誘電体粒子推定装置とを含み、前記サーバ側の誘電体粒子推定装置は、前記画像処理部によって画像処理が行われた画像から前記誘電体粒子の特徴量を抽出する前記誘電体粒子推定部に基づいて抽出された複数の前記誘電体粒子の特徴量に基づいて深層学習を行う学習部を有し、前記各クライアント側の誘電体粒子推定装置は、予め特定された菌種の中から誘電体粒子の種類を推定し、前記サーバ側の誘電体粒子推定装置は、前記特定された菌種以外の菌種を含めた中から誘電体粒子の種類を推定することを特徴とする。 In the dielectric particle estimation system according to the present invention, the plurality of dielectric particle estimation devices are connected to a plurality of client-side dielectric particle estimation devices and the plurality of client-side dielectric particle estimation devices via a network. The dielectric particle estimation device on the server side includes the dielectric particle estimation device on the server side, and the dielectric particle estimation device extracts the feature amount of the dielectric particles from the image processed by the image processing unit. The dielectric particle estimation device on each client side has a learning unit that performs deep-layer learning based on the feature amounts of the plurality of dielectric particles extracted based on the body particle estimation unit, and the dielectric particle estimation device on each client side is a previously specified bacterial species. The dielectric particle estimation device on the server side estimates the type of the dielectric particle from the inside, and the dielectric particle estimation device on the server side estimates the type of the dielectric particle from the inside including the bacterial species other than the specified bacterial species. do.

本発明によれば、検査対象の細菌の種類を推定することが出来る。 According to the present invention, the type of bacteria to be inspected can be estimated.

本発明に係る実施形態の誘電体粒子推定装置を有する誘電体粒子種類推定システムを示す図である。It is a figure which shows the dielectric particle type estimation system which has the dielectric particle estimation apparatus of embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態の誘電体粒子種類推定システムの検査装置を示す図である。It is a figure which shows the inspection apparatus of the dielectric particle type estimation system of embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、誘電体粒子種類推定システムの検査装置の撮像部を示す図である。It is a figure which shows the image pickup part of the inspection apparatus of the dielectric particle type estimation system in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、捕集ユニットを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the collection unit in embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、図4(e)の電極フィルムにおける配線領域の拡大図である。In the embodiment of the present invention, it is an enlarged view of the wiring area in the electrode film of FIG. 4 (e). 本発明に係る実施形態において、流路の端部近傍の領域におけるマイクロ電極部の拡大図である。In the embodiment of the present invention, it is an enlarged view of the microelectrode part in the region near the end part of a flow path. 本発明に係る実施形態において、検査方法の原理を示す図である。It is a figure which shows the principle of the inspection method in embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、画像処理部によりノイズを除去している様子を示す図である。It is a figure which shows the state which the noise is removed by the image processing part in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、特徴量抽出部により特徴量を抽出している様子を示す図である。It is a figure which shows the state which the feature amount is extracted by the feature amount extraction part in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、誘電体粒子推定装置を用いて推定する手順を示す図である。It is a figure which shows the procedure of estimation using the dielectric particle estimation apparatus in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、誘電体粒子推定装置の特殊分類部により分類している様子を示す図である。It is a figure which shows the state of classifying by the special classification part of the dielectric particle estimation apparatus in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、誘電体粒子推定装置の簡易テストによりテストしている様子を示す図である。It is a figure which shows the state of the test by the simple test of the dielectric particle estimation apparatus in the embodiment which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態において、誘電体粒子推定装置の簡易テストによりテストしている様子を示す図である。It is a figure which shows the state of the test by the simple test of the dielectric particle estimation apparatus in the embodiment which concerns on this invention.

以下に、本発明に係る実施の形態について添付図面を参照しながら詳細に説明する。以下では、全ての図面において同様の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、本文中の説明においては、必要に応じそれ以前に述べた符号を用いるものとする。 Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following, similar elements are designated by the same reference numerals in all drawings, and duplicate description will be omitted. In addition, in the explanation in the text, the reference numerals described earlier shall be used as necessary.

図1は、本発明に係る実施形態の誘電体粒子種類推定システム1を示す図である。図2は、本発明に係る実施形態の誘電体粒子種類推定システム1の検査装置2を示す図である。図3は、本発明に係る実施形態において、誘電体粒子種類推定システム1の検査装置2の撮像部12を示す図である。 FIG. 1 is a diagram showing a dielectric particle type estimation system 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an inspection device 2 of the dielectric particle type estimation system 1 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram showing an image pickup unit 12 of the inspection device 2 of the dielectric particle type estimation system 1 in the embodiment according to the present invention.

誘電体粒子種類推定システム1は、複数のクライアント側の誘電体粒子推定装置7と、各クライアント側の誘電体粒子推定装置7とネットワーク9を介して接続されるサーバ側の誘電体粒子推定装置8とを備えた複数の誘電体粒子推定部を含んで構成されている。各クライアント側の誘電体粒子推定装置7は、検査装置2に接続されている。各検査装置2は、検査部2a、制御装置4、情報処理装置5及び廃液チャンバ6を備えている。 The dielectric particle type estimation system 1 includes a plurality of client-side dielectric particle estimation devices 7, each client-side dielectric particle estimation device 7, and a server-side dielectric particle estimation device 8 connected via a network 9. It is configured to include a plurality of dielectric particle estimation units including. The dielectric particle estimation device 7 on each client side is connected to the inspection device 2. Each inspection device 2 includes an inspection unit 2a, a control device 4, an information processing device 5, and a waste liquid chamber 6.

誘電体粒子種類推定システム1は、試料液(サンプル)中の細菌や細胞の誘電泳動を利用して細菌等の検査を行う各検査装置2で得られた細菌等の誘電体粒子についての画像を蓄積して学習することで、検査装置2で撮影された細菌等の種類を推定する機能を有する。 The dielectric particle type estimation system 1 captures images of dielectric particles such as bacteria obtained by each inspection device 2 that inspects bacteria and the like by utilizing the dielectrophoresis of bacteria and cells in the sample solution (sample). By accumulating and learning, it has a function of estimating the type of bacteria or the like photographed by the inspection device 2.

各検査部2aは、制御装置4で制御され、細菌等の検査対象が捕集された状態は情報処理装置5において表示される。 Each inspection unit 2a is controlled by the control device 4, and the state in which the inspection target such as bacteria is collected is displayed on the information processing apparatus 5.

検査部2aは、ポンプ部10と、交流電圧供給部11と、撮像部12と、捕集ユニット3とを備える。 The inspection unit 2a includes a pump unit 10, an AC voltage supply unit 11, an image pickup unit 12, and a collection unit 3.

ポンプ部10は、例えば、シリンジポンプで構成され、駆動部10aと、サンプルシリンジ10bとを備える。駆動部10aは、モータなどを備えて構成され、制御装置4により駆動制御される。 The pump unit 10 is composed of, for example, a syringe pump, and includes a drive unit 10a and a sample syringe 10b. The drive unit 10a is configured to include a motor or the like, and is driven and controlled by the control device 4.

サンプルシリンジ10bは、試料液を保持するシリンジである。サンプルシリンジ10bにおける送液部分には、捕集ユニット3が接続されている。ポンプ部10では、駆動部10aの駆動制御によってサンプルシリンジ10bから試料液が、流速や流量を適宜設定されて、捕集ユニット3に送液される。なお、ここでは、シリンジ側から廃液側にむけてサンプルを流すものとして説明したが、例えば、サンプルを廃液側にセットしてシリンジを吸い上げる方向で動作させてサンプルを廃液側からシリンジの向きで流し、目的とする誘電体粒子を捕捉してもよい。 The sample syringe 10b is a syringe that holds the sample liquid. A collection unit 3 is connected to the liquid feeding portion of the sample syringe 10b. In the pump unit 10, the sample liquid is appropriately set from the sample syringe 10b by the drive control of the drive unit 10a, and the flow velocity and the flow rate are appropriately set, and the liquid is sent to the collection unit 3. Although the sample is described here as flowing from the syringe side to the waste liquid side, for example, the sample is set on the waste liquid side and operated in the direction of sucking up the syringe to flow the sample from the waste liquid side toward the syringe. , The desired dielectric particles may be captured.

図4は、本発明に係る実施形態において、捕集ユニット3を説明するための図である。捕集ユニット3は、試料液が所定方向(液流方向)に流れる流路13と、流路13中に設けられたマイクロ電極部30とを有する。ポンプ部10から送液された試料液は、捕集ユニット3内の流路13を貫流して、廃液チャンバ6に廃液される。マイクロ電極部30は、マイクロオーダで形成された電極群で構成される。 FIG. 4 is a diagram for explaining the collection unit 3 in the embodiment according to the present invention. The collection unit 3 has a flow path 13 through which the sample liquid flows in a predetermined direction (liquid flow direction), and a microelectrode portion 30 provided in the flow path 13. The sample liquid sent from the pump unit 10 passes through the flow path 13 in the collection unit 3 and is discharged into the waste liquid chamber 6. The micro electrode portion 30 is composed of a group of electrodes formed on a micro order.

捕集ユニット3では、流路13中のマイクロ電極部30上に試料液が流れている際に、交流電圧供給部11からマイクロ電極部30に所定の交流電圧が供給される。これにより、試料液中における検査対象の細菌などが、誘電泳動を起こしてマイクロ電極部30に捕集される。捕集ユニット3は、マイクロ電極部30において細菌等の誘電体粒子を捕集する誘電体捕集部の一例である。捕集ユニット3の構成の詳細については後述する。 In the collection unit 3, when the sample liquid is flowing on the microelectrode section 30 in the flow path 13, a predetermined AC voltage is supplied from the AC voltage supply section 11 to the microelectrode section 30. As a result, bacteria and the like to be inspected in the sample liquid undergo dielectrophoresis and are collected by the microelectrode unit 30. The collection unit 3 is an example of a dielectric collection unit that collects dielectric particles such as bacteria in the microelectrode unit 30. The details of the configuration of the collection unit 3 will be described later.

交流電圧供給部11は、例えば、ファンクションジェネレータで構成される。交流電圧供給部11は、制御装置4の制御により、所望の周波数及び電圧振幅を有する交流電圧を発生して、捕集ユニット3のマイクロ電極部30に供給する。 The AC voltage supply unit 11 is composed of, for example, a function generator. The AC voltage supply unit 11 generates an AC voltage having a desired frequency and voltage amplitude under the control of the control device 4, and supplies the AC voltage to the microelectrode unit 30 of the collection unit 3.

撮像部12は、CCDイメージセンサやCMOSイメージセンサなどの撮像素子を備える。撮像部12を用いた観察法は、ここでは、「レンズ体集光観察法」と呼ぶ。 The image pickup unit 12 includes an image pickup element such as a CCD image sensor or a CMOS image sensor. The observation method using the image pickup unit 12 is referred to here as a “lens body focusing observation method”.

撮像部12は、図3に示されるように、光源部50と、リングスリット部52と、集光筒部54と、レンズ体部56と、対物レンズ部58とを備えている。 As shown in FIG. 3, the image pickup unit 12 includes a light source unit 50, a ring slit unit 52, a condensing cylinder unit 54, a lens body unit 56, and an objective lens unit 58.

光源部50は、後述するスリット領域Rsの誘電体粒子に向けて照明光を放つ。 The light source unit 50 emits illumination light toward the dielectric particles in the slit region Rs, which will be described later.

リングスリット部52は、光源部50と、スリット領域Rsの誘電体粒子との間に設けられ、照明光をリング状の照明光にする。 The ring slit portion 52 is provided between the light source portion 50 and the dielectric particles in the slit region Rs, and makes the illumination light into a ring-shaped illumination light.

集光筒部54は、リングスリット部52とスリット領域Rsの誘電体粒子との間に設けられ、リング状の照明光を集光させてレンズ体部56に照明光を放つ。 The condensing tube portion 54 is provided between the ring slit portion 52 and the dielectric particles in the slit region Rs, collects the ring-shaped illumination light, and emits the illumination light to the lens body portion 56.

レンズ体部56は、捕集ユニット3のスリット領域Rsの誘電体粒子であり、直進光と回折光とを集約する。レンズ体部56は、詳細については後述する。 The lens body portion 56 is a dielectric particle of the slit region Rs of the collection unit 3, and aggregates the straight light and the diffracted light. The details of the lens body portion 56 will be described later.

対物レンズ部58は、レンズ体部56からの直進光と回折光とを通過させて像59を形成する。 The objective lens unit 58 passes the straight light and the diffracted light from the lens body portion 56 to form the image 59.

ここで、「レンズ体集光観察法」を説明するために比較例として、「変調コントラスト観察法」を説明する。変調コントラスト観察法は、無色透明な培養細胞をコントラスト良く観察するのに適した観察方法である。変調コントラスト観察法は、スリットを通過した斜めの照明光が標本を照射し、屈折率勾配の光線を結像側に設けた「変調板」を通過させることで、像にコントラストを付ける手法である。位相差物体であれば、標本がレンズ体でなくても像にコントラストが付くため観察が可能となる。 Here, in order to explain the "lens body focusing observation method", the "modulated contrast observation method" will be described as a comparative example. The modulated contrast observation method is an observation method suitable for observing colorless and transparent cultured cells with good contrast. The modulated contrast observation method is a method of adding contrast to an image by illuminating a sample with oblique illumination light that has passed through a slit and passing a light beam having a refractive index gradient through a "modulation plate" provided on the image forming side. .. If it is a retardation object, it is possible to observe it because the image has contrast even if the specimen is not a lens body.

これに対し、「レンズ体集光観察法」は、変調板を使用しない。ここでは、レンズ体部56は、位相物体の中でもレンズのように光を屈折させるような立体的な球状のものを指している。例えば、微生物や細胞、血小板等がそれにあたり、スリット領域Rsの誘電体粒子がレンズ体部56として機能する。 On the other hand, the "lens body focusing observation method" does not use a modulation plate. Here, the lens body portion 56 refers to a three-dimensional spherical object that refracts light like a lens among phase objects. For example, microorganisms, cells, platelets and the like correspond to it, and the dielectric particles in the slit region Rs function as the lens body portion 56.

図3に示されるように、リングスリット部52を通過した斜めの照明光(回折光)は集光筒部54により増幅される。集光筒部54により集約された回折光は様々な角度から標本を通過するが、標本がレンズ体部56ではない位相物体の場合は、明視野観察時のように透き通るだけで可視化しない。 As shown in FIG. 3, the oblique illumination light (diffracted light) that has passed through the ring slit portion 52 is amplified by the condensing tube portion 54. The diffracted light collected by the condensing tube portion 54 passes through the sample from various angles, but when the sample is a phase object other than the lens body portion 56, it is only transparent and not visualized as in the case of bright field observation.

また、位相物体でない場合は光が通過しないため、像としては黒く映る。位相物体がレンズ体部56であるときのみ、集約された回折光は、そのレンズ体部56を通過する際に集光され、周辺よりも明るくなるため像としては白く映る。 Also, if it is not a phase object, light does not pass through it, so it looks black as an image. Only when the phase object is the lens body 56, the aggregated diffracted light is condensed as it passes through the lens body 56 and becomes brighter than the periphery, so that the image appears white.

レンズは、その中心に最も光が集まるため、例えば、微生物の場合は単一細胞の中心が周囲よりも明るくなり、外側の細胞壁付近は周囲よりも暗くなる。これにより、微生物のようなレンズ体部56に特化した位相物体の可視化が可能となる。 Since the light is most concentrated in the center of the lens, for example, in the case of a microorganism, the center of a single cell is brighter than the surroundings, and the vicinity of the outer cell wall is darker than the surroundings. This makes it possible to visualize a phase object specialized for the lens body 56 such as a microorganism.

このように、撮像部12によれば、直接光と回折光がレンズ体部56により集約され強められることで、位相物体の中でもレンズ体部56であるサンプルが背景よりも特に明るくなる。また、その周囲は特に暗く見えるため、微生物等の単細胞を観察するのに適しており、さらには、画像処理部60によりノイズが処理され、学習部72等により特徴量を抽出学習させるのに適している。 As described above, according to the image pickup unit 12, the direct light and the diffracted light are aggregated and strengthened by the lens body portion 56, so that the sample which is the lens body portion 56 among the phase objects becomes particularly brighter than the background. Further, since the surroundings look particularly dark, it is suitable for observing single cells such as microorganisms, and further, it is suitable for noise processing by the image processing unit 60 and extraction and learning of feature quantities by the learning unit 72 and the like. ing.

撮像部12は、捕集ユニット3におけるマイクロ電極部30中の所定の領域を撮像し、撮像画像を情報処理装置5に出力する。撮像部12の撮像動作は、制御装置4によって制御されてもよいし、情報処理装置5によって制御されてもよい。 The image pickup unit 12 takes an image of a predetermined region in the microelectrode unit 30 of the collection unit 3 and outputs the captured image to the information processing apparatus 5. The image pickup operation of the image pickup unit 12 may be controlled by the control device 4 or may be controlled by the information processing device 5.

制御装置4は、ポンプ部10による試料液の送液や交流電圧供給部11による交流電圧の供給などの検査部2aの動作を制御する。制御装置4は、フラッシュメモリなどの内部メモリを備え、内部メモリに格納されたプログラムに基づいて種々のデータ等を利用して演算処理を行うことにより、各種の機能を実現する。 The control device 4 controls the operation of the inspection unit 2a, such as feeding the sample liquid by the pump unit 10 and supplying the AC voltage by the AC voltage supply unit 11. The control device 4 includes an internal memory such as a flash memory, and realizes various functions by performing arithmetic processing using various data and the like based on a program stored in the internal memory.

制御装置4は、専用に設計された電子回路や再構成可能な電子回路などのハードウェア回路(ASIC,FPGA等)で構成されてもよい。制御装置4の機能は、ハードウェアとソフトウェアとの協働で実現されてもよいし、ハードウェア(電子回路)のみで実現されてもよい。 The control device 4 may be configured by a hardware circuit (ASIC, FPGA, etc.) such as an electronic circuit specially designed or a reconfigurable electronic circuit. The function of the control device 4 may be realized by the cooperation of the hardware and the software, or may be realized only by the hardware (electronic circuit).

情報処理装置5は、例えば、パーソナルコンピュータで構成される。情報処理装置5は、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイ(表示部)を備え、撮像部12の撮像画像を表示する。 The information processing device 5 is composed of, for example, a personal computer. The information processing device 5 includes a liquid crystal display and an organic EL display (display unit), and displays an image captured by the image pickup unit 12.

情報処理装置5は、フラッシュメモリなどの内部メモリを備え、内部メモリに格納されたプログラムに基づいて、各種の機能を実現する。例えば、情報処理装置5は、撮像部12の撮像画像の画像解析を行い、撮像画像中で所定の条件に該当する領域(スリット)の対象物数を計測等の機能を有する。 The information processing apparatus 5 includes an internal memory such as a flash memory, and realizes various functions based on a program stored in the internal memory. For example, the information processing apparatus 5 has a function of performing image analysis of the captured image of the imaging unit 12 and measuring the number of objects in a region (slit) corresponding to a predetermined condition in the captured image.

情報処理装置5は、撮像部12の撮像動作を制御してもよい。また、情報処理装置5と制御装置4とは、情報処理装置5において、制御装置4の各種機能を実現することで、一体的に構成されてもよい。情報処理装置5は、本実施形態における表示部の一例であり、且つ、撮像部12の撮像結果を解析する画像解析部の一例である。 The information processing device 5 may control the imaging operation of the imaging unit 12. Further, the information processing device 5 and the control device 4 may be integrally configured by realizing various functions of the control device 4 in the information processing device 5. The information processing apparatus 5 is an example of the display unit in the present embodiment, and is also an example of the image analysis unit that analyzes the image pickup result of the image pickup unit 12.

廃液チャンバ6は、検査部2aの捕集ユニット3を貫流した試料液を溜めるチャンバである。廃液チャンバ6は、検査装置2aの内部に組み込まれてもよい。 The waste liquid chamber 6 is a chamber for storing the sample liquid that has passed through the collection unit 3 of the inspection unit 2a. The waste liquid chamber 6 may be incorporated inside the inspection device 2a.

捕集ユニット3の構成について、図4~6を参照して説明する。図4(a)は、本発明に係る実施形態において、捕集ユニット3の平面図を示す。図4(b)は、図4(a)に示す捕集ユニット3のA-A線断面図を示す。捕集ユニット3は、図4(a)に示すように略矩形の平板形状を有する。 The configuration of the collection unit 3 will be described with reference to FIGS. 4 to 6. FIG. 4A shows a plan view of the collection unit 3 in the embodiment of the present invention. FIG. 4B shows a sectional view taken along line AA of the collection unit 3 shown in FIG. 4A. As shown in FIG. 4A, the collection unit 3 has a substantially rectangular flat plate shape.

また、図4(b)に示すように、捕集ユニット3は、カバー板31と、スペーサ32と、電極フィルム33とを備え、これらが厚み方向に順次、重ね合わせられた構造である。 Further, as shown in FIG. 4B, the collection unit 3 includes a cover plate 31, a spacer 32, and an electrode film 33, which are sequentially superposed in the thickness direction.

図4(c)は、捕集ユニット3におけるカバー板31の平面図を示す。図4(d)は、スペーサ32の平面図を示す。図4(e)は、電極フィルム33の平面図を示す。 FIG. 4C shows a plan view of the cover plate 31 in the collection unit 3. FIG. 4D shows a plan view of the spacer 32. FIG. 4 (e) shows a plan view of the electrode film 33.

カバー板31は、例えば、透明のアクリル板などで形成される平板状の部材である。図4(c)に示すように、カバー板31には、2つの挿通孔31a,31b及び切り欠き部31cが設けられている。 The cover plate 31 is a flat plate-shaped member formed of, for example, a transparent acrylic plate. As shown in FIG. 4C, the cover plate 31 is provided with two insertion holes 31a and 31b and a notch 31c.

各挿通孔31a,31bは、それぞれ捕集ユニット3内の流路13の始点及び終点に対応している(図4(a)参照)。切り欠き部31cは、カバー板31において、電極フィルム33上の電極パッド33aに対応した位置に形成される。 The insertion holes 31a and 31b correspond to the start point and the end point of the flow path 13 in the collection unit 3, respectively (see FIG. 4A). The cutout portion 31c is formed in the cover plate 31 at a position corresponding to the electrode pad 33a on the electrode film 33.

スペーサ32は、例えば、透明のPET(ポリエステル)テープで形成される部材である。スペーサ32には、流路13に対応する矩形穴32aと、カバー板31の切り欠き部31cと同形状の切り欠き部32bとが形成されている。 The spacer 32 is, for example, a member made of transparent PET (polyester) tape. The spacer 32 is formed with a rectangular hole 32a corresponding to the flow path 13 and a notch portion 32b having the same shape as the notch portion 31c of the cover plate 31.

スペーサ32は、3M(登録商標)9969等の粘着剤により、各主面においてそれぞれカバー板31と電極フィルム33とに接着し、カバー板31と電極フィルム33との間隔(すなわち流路13の高さ)を所定幅(例えば0.1mm)に固定する。 The spacer 32 is adhered to the cover plate 31 and the electrode film 33 on each main surface by an adhesive such as 3M (registered trademark) 9996, and the distance between the cover plate 31 and the electrode film 33 (that is, the height of the flow path 13) is high. Is fixed to a predetermined width (for example, 0.1 mm).

電極フィルム33は、PEN(ポリエチレンナフタレート)フィルムなどの透明のフィルム基材に、マイクロ電極部30が設けられた部材である。マイクロ電極部30は、電極フィルム33の主面上の配線領域において、電極パッド33aに電気的に連結している。マイクロ電極部30や電極パッド33aは、例えば、蒸着法やスパッタリング法によってクロム等の金属材料で形成される。 The electrode film 33 is a member provided with a microelectrode portion 30 on a transparent film base material such as a PEN (polyethylene naphthalate) film. The micro electrode portion 30 is electrically connected to the electrode pad 33a in the wiring region on the main surface of the electrode film 33. The micro electrode portion 30 and the electrode pad 33a are formed of a metal material such as chromium by, for example, a vapor deposition method or a sputtering method.

捕集ユニット3は、電極パッド33aにおいて、交流電圧供給部11に電気接続する(図2参照)。図4(a)に示すように、電極パッド33aは、カバー板31とスペーサ32と電極フィルム33とが重ね合わさった状態において、切り欠き部31c,32bによって露出する。このため、捕集ユニット3は、簡単に交流電圧供給部11に電気接続させることができる。 The collection unit 3 is electrically connected to the AC voltage supply unit 11 in the electrode pad 33a (see FIG. 2). As shown in FIG. 4A, the electrode pad 33a is exposed by the cutout portions 31c and 32b in a state where the cover plate 31, the spacer 32 and the electrode film 33 are overlapped with each other. Therefore, the collection unit 3 can be easily electrically connected to the AC voltage supply unit 11.

また、捕集ユニット3の流路13は、矩形穴32aの周囲においてスペーサ32がカバー板31と電極フィルム33とを所定間隔で密着させることにより形成される。流路13の両端に位置する2つの挿通孔31a,31bに、それぞれサンプルシリンジ10b及び廃液チャンバ6を挿抜可能に連結させることで、試料液を流路13に簡単に貫流させることができる。以上のように、捕集ユニット3は、電機接続や流路の接続が簡単に行え、検査部2aにおいて細菌などの捕集後、使い捨てしたり、使い回ししたりすることが容易に行える。 Further, the flow path 13 of the collection unit 3 is formed by the spacer 32 in close contact between the cover plate 31 and the electrode film 33 at predetermined intervals around the rectangular hole 32a. By connecting the sample syringe 10b and the waste liquid chamber 6 to the two insertion holes 31a and 31b located at both ends of the flow path 13 so as to be removable, the sample liquid can be easily passed through the flow path 13. As described above, the collection unit 3 can be easily connected to an electric machine or a flow path, and can be easily thrown away or reused after collecting bacteria and the like in the inspection unit 2a.

図5は、本発明に係る実施形態において、図4(e)の電極フィルム33における配線領域の拡大図である。本実施形態において、電極フィルム33におけるマイクロ電極部30は、二組の電極対CH1,CH2を有する。交流電圧供給部11からの交流電圧は、第1及び第2の電極対CH1,CH2の電極毎に、電極パッド33aを介して供給される。第1及び第2の電極対CH1,CH2は、中央線L1において線対称に形成されている。以下、第1の電極対CH1について説明する。 FIG. 5 is an enlarged view of a wiring region in the electrode film 33 of FIG. 4 (e) in the embodiment of the present invention. In the present embodiment, the microelectrode portion 30 in the electrode film 33 has two sets of electrode pairs CH1 and CH2. The AC voltage from the AC voltage supply unit 11 is supplied to each of the first and second electrode pairs CH1 and CH2 via the electrode pad 33a. The first and second electrode pairs CH1 and CH2 are formed line-symmetrically at the center line L1. Hereinafter, the first electrode pair CH1 will be described.

第1の電極対CH1は、2つの電極41,42からなる。電極41,42は、それぞれ等間隔に並んだ櫛歯形状を有する。2つの電極41,42の櫛歯形状における複数の凸部は、流路13の液流方向において、交互に所定間隔をあけて配列される。電極41,42の各凸部は、液流方向と交差(直交)する方向に延在している。第2の電極対CH2の電極41,42についても、同様の配置である。 The first electrode pair CH1 consists of two electrodes 41 and 42. The electrodes 41 and 42 each have a comb tooth shape arranged at equal intervals. The plurality of protrusions in the comb-teeth shape of the two electrodes 41 and 42 are arranged alternately at predetermined intervals in the liquid flow direction of the flow path 13. Each of the convex portions of the electrodes 41 and 42 extends in a direction intersecting (orthogonal) with the liquid flow direction. The arrangement is the same for the electrodes 41 and 42 of the second electrode pair CH2.

図6は、本発明に係る実施形態において、流路13の端部近傍の領域Riにおけるマイクロ電極部30の拡大図である。マイクロ電極部30では、流路13上で電極41,42の各凸部の間のスリットにより、所定幅W2を有するスリット状の領域Rsが形成される。 FIG. 6 is an enlarged view of the microelectrode portion 30 in the region Ri near the end of the flow path 13 in the embodiment of the present invention. In the micro electrode portion 30, slit-shaped regions Rs having a predetermined width W2 are formed by slits between the convex portions of the electrodes 41 and 42 on the flow path 13.

複数のスリット領域Rsは、図6に示すように、一対の電極41,42の間で液流方向に並んでいる。各スリット領域Rsの幅W2は、例えば10μm~20μmにおける所定値に設定される。これに対して、電極41,42の凸部の幅W1は、例えば、100μmである。スリット領域Rsの幅W2は、0.1μm~100μmの範囲内で設定されてもよい。 As shown in FIG. 6, the plurality of slit regions Rs are arranged in the liquid flow direction between the pair of electrodes 41 and 42. The width W2 of each slit region Rs is set to a predetermined value in, for example, 10 μm to 20 μm. On the other hand, the width W1 of the convex portion of the electrodes 41 and 42 is, for example, 100 μm. The width W2 of the slit region Rs may be set within the range of 0.1 μm to 100 μm.

また、本実施形態において、マイクロ電極部30と流路13とは、電極41,42の各凸部がそれぞれ所定の長さΔdだけ流路13からはみ出すように設定されている。換言すると、電極フィルム33上で一対の電極41,42の間で複数のスリット領域Rsを連結する領域は、流路13の外部に配置されている。 Further, in the present embodiment, the micro electrode portion 30 and the flow path 13 are set so that the convex portions of the electrodes 41 and 42 protrude from the flow path 13 by a predetermined length Δd, respectively. In other words, the region connecting the plurality of slit regions Rs between the pair of electrodes 41 and 42 on the electrode film 33 is arranged outside the flow path 13.

これにより、流路13が延在する所定方向(液流方向)に並んだ複数のスリット領域Rsは、流路13中においては連結せずに、互いに分離する。例えば、流路13の幅W3(図5参照)が3mmに対して、電極41,42の両端がはみ出す長さΔdは、0.3mmに設定される。また、各電極41,42の凸部の厚みは、例えば、100nm程度である。 As a result, the plurality of slit regions Rs arranged in a predetermined direction (liquid flow direction) in which the flow path 13 extends are separated from each other without being connected in the flow path 13. For example, the width W3 (see FIG. 5) of the flow path 13 is 3 mm, and the length Δd protruding from both ends of the electrodes 41 and 42 is set to 0.3 mm. The thickness of the convex portions of the electrodes 41 and 42 is, for example, about 100 nm.

また、検査部2aにおいて細菌などの誘電泳動を行う際、図5に示すように、マイクロ電極部30内で電極41,42の凸部が流路13の上流から順次並んだ領域Rcを、撮像部12により撮像する。 Further, when performing dielectrophoresis of bacteria or the like in the inspection unit 2a, as shown in FIG. 5, an image is taken of a region Rc in which the convex portions of the electrodes 41 and 42 are sequentially arranged from the upstream of the flow path 13 in the micro electrode unit 30. Image is taken by the unit 12.

ここで、スリット領域Rs同士が流路13中で連結している場合、例えば、上流側のスリット領域Rsにおいて捕集された細菌等が、電極41,42間の誘電泳動力を維持しながら下流側のスリット領域Rsに移動するような事態が想定される。これに対して、上記のように流路13中で各スリットRs領域を分離させることにより、複数のスリット領域Rs間で捕集済みの細菌等が移動することを抑制できる。 Here, when the slit regions Rs are connected to each other in the flow path 13, for example, bacteria collected in the slit region Rs on the upstream side are downstream while maintaining the dielectrophoretic force between the electrodes 41 and 42. A situation is assumed in which the slit region Rs on the side is moved. On the other hand, by separating each slit Rs region in the flow path 13 as described above, it is possible to suppress the movement of collected bacteria or the like between the plurality of slit regions Rs.

図7は、本発明に係る実施形態において、検査方法の原理を示す図である。検査部2aでは、誘電泳動を利用して、試料液に含まれる検査対象の細菌等を捕集する。図7(a)に示すように、電極41,42間に周波数ωの交流電圧を供給した場合に、流路13を流れる試料液中の生菌や死菌などの細菌に作用する誘電泳動力FDEPは、次式で表される。
DEP=2πrεRe[K(ω)]∇E …(1)
FIG. 7 is a diagram showing the principle of the inspection method in the embodiment of the present invention. The inspection unit 2a uses dielectrophoresis to collect bacteria and the like to be inspected contained in the sample solution. As shown in FIG. 7A, when an AC voltage having a frequency ω is supplied between the electrodes 41 and 42, the dielectrophoretic force acting on bacteria such as live bacteria and dead bacteria in the sample liquid flowing through the flow path 13. F DEP is expressed by the following equation.
F DEP = 2πr 3 ε m Re [K (ω)] ∇E 2 … (1)

上式(1)において、rは検査対象の生菌や死菌などの誘電体粒子の半径であり、εは試料液の媒質の誘電率であり、Eは電場の強度である。また、Re[X]は複素数Xの実部を表す。K(ω)は、Clausius-Mossotti因子であり、次式で表される。
K(ω)=(ε -ε )/(ε +2ε ) …(2)
In the above equation (1), r is the radius of the dielectric particles such as live and dead bacteria to be inspected, ε m is the permittivity of the medium of the sample liquid, and E is the strength of the electric field. Re [X] represents the real part of the complex number X. K (ω) is a Clausius-Mossotti factor and is expressed by the following equation.
K (ω) = (ε p *m * ) / (ε p * + 2ε m * )… (2)

上式(2)において、ε (=ε+ρ/(jω))は、誘電体粒子の複素誘電率である(εは誘電体粒子の誘電率で、ρはその導電率)。また、ε (=ε+ρ/(jω))は、媒質の複素誘電率である(ρは媒質の導電率)。 In the above equation (2), ε p * (= ε p + ρ p / (jω)) is the complex permittivity of the dielectric particles (ε p is the permittivity of the dielectric particles, and ρ p is its conductivity. ). Further, ε m * (= ε m + ρ m / (jω)) is the complex permittivity of the medium (ρ m is the conductivity of the medium).

上式(1)において、Re[K(ω)]>0であるとき、電極41,42の設置方向に対して正の誘電泳動力FDEPが誘電体粒子に作用し、誘電体粒子は電極41,42近傍に引きつけられてスリットRsに吸着される。 In the above equation (1), when Re [K (ω)]> 0, a positive dielectrophoretic force FDEP acts on the dielectric particles with respect to the installation direction of the electrodes 41 and 42, and the dielectric particles are the electrodes. It is attracted to the vicinity of 41 and 42 and is attracted to the slits Rs.

一方、Re[K(ω)]<0であるとき、負の誘電泳動力FDEPが誘電体粒子に作用し、誘電体粒子は電極41,42に対して反発する。このため、周波数ωを適宜、設定することにより、検査対象外の夾雑物等を排除しながら、検査対象を選択的にスリット領域Rsに吸着させることができる。 On the other hand, when Re [K (ω)] <0, a negative dielectrophoretic force FDEP acts on the dielectric particles, and the dielectric particles repel the electrodes 41 and 42. Therefore, by appropriately setting the frequency ω, it is possible to selectively adsorb the inspection target to the slit region Rs while eliminating impurities and the like that are not the inspection target.

次に、複数の検査装置2と接続されるクライアント側の誘電体粒子推定装置7について説明する。クライアント側の誘電体粒子推定装置7は、画像処理部60と、形状分類部62と、生育環境分析部64と、同形状内分類部66と、特殊分類部68と、推定部70とを備える。 Next, the client-side dielectric particle estimation device 7 connected to the plurality of inspection devices 2 will be described. The client-side dielectric particle estimation device 7 includes an image processing unit 60, a shape classification unit 62, a growth environment analysis unit 64, an in-shape classification unit 66, a special classification unit 68, and an estimation unit 70. ..

画像処理部60は、撮像部12によって撮像された画像についてノイズを除去するための画像処理を行う機能を有する。画像処理部60は、電極41,42により捕集された誘電体粒子を含む画像のうち、様々な要因で発生する大量のノイズを画像処理によって除去し、より正確な抽出(単体抽出)を可能とする。 The image processing unit 60 has a function of performing image processing for removing noise from the image captured by the image pickup unit 12. The image processing unit 60 removes a large amount of noise generated by various factors from the image containing the dielectric particles collected by the electrodes 41 and 42 by image processing, and enables more accurate extraction (single extraction). And.

ノイズであるか否かを判断するパラメータとして、例えば、輝度で判断することができ、図8の左図に示された画像にノイズが除去された画像(図8の右図)が形成される。 As a parameter for determining whether or not noise is present, for example, it can be determined by luminance, and an image in which noise is removed (right figure in FIG. 8) is formed in the image shown in the left figure of FIG. ..

形状分類部62は、画像処理部60により画像処理が行われた画像に含まれる誘電体粒子の形状に基づいて、誘電体粒子を大まかな菌の種類に分けられた第1カテゴリに分類し、1つの種類に絞り込む。大まかな菌の種類である第1カテゴリは、短桿菌形、長桿菌形、真菌形、小球菌形の4つの種類で構成されている。例えば、図10に示される例では、A~Fの菌からAの菌種を特定する手順を示しており、最初に、A,B,Cを含む短桿菌形に絞り込まれる。 The shape classification unit 62 classifies the dielectric particles into the first category roughly classified into the types of bacteria based on the shape of the dielectric particles contained in the image processed by the image processing unit 60. Narrow down to one type. The first category, which is a rough type of fungus, is composed of four types: short bacillus type, long bacillus type, fungal type, and small cocci type. For example, the example shown in FIG. 10 shows a procedure for identifying the bacterial species A from the bacteria A to F, and is first narrowed down to a short bacillus form including A, B, and C.

生育環境分析部64は、形状分類部62で分類された後、生育環境に基づいて、誘電体粒子を第1カテゴリの下位概念である第2カテゴリに分類して、さらに、詳細に絞り込む。生育環境で分けられる第2カテゴリは、好気性、微好気性、通性嫌気性、嫌気性、偏嫌気性で構成される。例えば、図10に示される例では、A~Cの短桿菌形のうち、好気性の生育環境であるA,Bに絞り込まれる。 After being classified by the shape classification unit 62, the growth environment analysis unit 64 classifies the dielectric particles into the second category, which is a subordinate concept of the first category, based on the growth environment, and further narrows down the particles. The second category, which is divided by habitat, is composed of aerobic, microaerophile, facultative anaerobic, anaerobic, and obligate anaerobic. For example, in the example shown in FIG. 10, among the short bacillus forms A to C, they are narrowed down to A and B, which are aerobic growth environments.

同形状内分類部66は、生育環境分析部64で分類された後、第2カテゴリ内における略同一形状の誘電体粒子の画像解析を行って特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて第2カテゴリの下位概念の第3カテゴリに分類し、さらに、詳細に絞り込む。例えば、図10に示される例では、好気性の短桿菌形(A,B)のうち、判別結果として、Aが90%で、Bが20%のようにAである確率が高い場合には、このままAに絞り込んだ結果を出力する。 After being classified by the growth environment analysis unit 64, the classification unit 66 in the same shape performs image analysis of dielectric particles having substantially the same shape in the second category to extract a difference in the feature amount, and based on the difference. It is classified into the third category of the subordinate concept of the second category, and further narrowed down in detail. For example, in the example shown in FIG. 10, among the aerobic short rod bacilli (A, B), when the probability that A is 90% and B is 20% as a discrimination result is high, it is high. , The result of narrowing down to A is output as it is.

特殊分類部68は、第3カテゴリ内に分類されたデータに基づいて、推定部70が推定できない場合に、第3カテゴリ内において類似する菌種のみを画像解析して特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて第3カテゴリの下位概念の第4カテゴリに分類する。例えば、図10に示される例では、同形状内分類部66における比較結果が、例えば、Aが50%で、Bが50%と区別がつきにくい場合に、特殊分類部68が実行される。例えば、図11に示されるように、付着パターンによる分類や連鎖ケースによる分類などを行うことで判別することができる。 When the estimation unit 70 cannot be estimated based on the data classified in the third category, the special classification unit 68 analyzes only similar bacterial species in the third category and extracts the difference in the feature amount. , Classify into the 4th category of the subordinate concept of the 3rd category based on the difference. For example, in the example shown in FIG. 10, when the comparison result in the classification unit 66 in the same shape is, for example, 50% for A and 50% for B, the special classification unit 68 is executed. For example, as shown in FIG. 11, it can be discriminated by performing classification by adhesion pattern, classification by chain case, and the like.

推定部70は、同形状内分類部66又は特殊分類部68で分類されて比較された結果に基づいて、誘電体粒子の種類を推定する。推定部70は、予め特定された誘電体粒子群の中から菌種を推定する。 The estimation unit 70 estimates the type of dielectric particles based on the results of classification and comparison by the classification unit 66 in the same shape or the special classification unit 68. The estimation unit 70 estimates a bacterial species from a group of dielectric particles specified in advance.

サーバ側の誘電体粒子推定装置8は、画像処理部60と、形状分類部62と、生育環境分析部64と、同形状内分類部66と、特殊分類部68と、推定部71と、学習部72と、簡易テスト部74とを備える。ここで、画像処理部60、形状分類部62、生育環境分析部64、同形状内分類部66、及び特殊分類部68は、クライアント側の誘電体粒子推定装置7と同じであるため、詳細な説明は省略する。 The dielectric particle estimation device 8 on the server side includes an image processing unit 60, a shape classification unit 62, a growth environment analysis unit 64, an in-shape classification unit 66, a special classification unit 68, and an estimation unit 71. A unit 72 and a simple test unit 74 are provided. Here, since the image processing unit 60, the shape classification unit 62, the growth environment analysis unit 64, the in-shape classification unit 66, and the special classification unit 68 are the same as the dielectric particle estimation device 7 on the client side, they are detailed. The explanation is omitted.

学習部72は、複数の検査装置2から取得した誘電体粒子の画像を学習し、細菌の種類の推定精度を向上させる機能を有している。 The learning unit 72 has a function of learning images of dielectric particles acquired from a plurality of inspection devices 2 and improving the estimation accuracy of the type of bacteria.

学習部72は、画像処理部60によって画像処理が行われた画像から誘電体粒子の特徴量を抽出する。菌特徴量として「面積」「平均輝度」「長軸/短軸」「真円度」等の必要な情報を出力し、特徴量の統計・傾向を計測可能とする。例えば、図9の左図に示された画像についての特徴量を抽出して、図9の右図に示された統計を求めることが出来る。 The learning unit 72 extracts the feature amount of the dielectric particles from the image processed by the image processing unit 60. It outputs necessary information such as "area", "average brightness", "major axis / minor axis", and "roundness" as the bacterial feature amount, and makes it possible to measure the statistics and trends of the feature amount. For example, it is possible to extract the feature amount of the image shown in the left figure of FIG. 9 and obtain the statistics shown in the right figure of FIG.

学習部72は、複数の誘電体粒子の特徴量に基づいて深層学習を行う。具体的には、画像処理部72で撮影された大量の画像についてノイズ処理をするとともに、特徴量が抽出された大量の情報を用いて、学習・解析を行うことで判別対象の菌の種類を推定できるようになる。 The learning unit 72 performs deep learning based on the features of the plurality of dielectric particles. Specifically, the type of bacteria to be discriminated can be determined by performing noise processing on a large amount of images taken by the image processing unit 72 and learning / analyzing using a large amount of information from which the feature amount has been extracted. You will be able to estimate.

推定部71は、同形状内分類部66又は特殊分類部68で分類されて比較された結果に基づいて、誘電体粒子の種類を推定する。推定部71は、クライアント側の誘電体粒子推装置7の推定部70とは異なり、不特定の誘電体粒子群の中から菌種を推定する。すなわち、学習部72により、深層学習が行われた最新のデータの中から推定を行う。 The estimation unit 71 estimates the type of dielectric particles based on the results of classification and comparison by the classification unit 66 in the same shape or the special classification unit 68. Unlike the estimation unit 70 of the dielectric swarming device 7 on the client side, the estimation unit 71 estimates the bacterial species from an unspecified dielectric particle group. That is, the learning unit 72 estimates from the latest data in which deep learning has been performed.

ここで、学習部72は、人工知能(AI)のCNN(Convolutional Neral Network)を用いて実現することができ、例えば、畳み込みとプーリングにより、入力画像に対してそれぞれの位置情報や位置関係を失うことなく特徴量を抽出し、データ化して分類して出力する。 Here, the learning unit 72 can be realized by using CNN (Convolutional Neural Network) of artificial intelligence (AI), and loses the respective positional information and positional relationship with respect to the input image by, for example, convolution and pooling. The feature amount is extracted without any problem, converted into data, classified and output.

ここで、「畳み込み」とは、フィルタ(カーネルフィルタ)を使い、位置情報を損なうことなく画像データを特徴マップに変換することを意味する。「プーリング」とは、特徴量を粗く整理することを意味する。すなわち、CNNを用いることで入力された画像について、畳み込みにより特徴を見つけ、プーリングによって特徴を粗く整理し、蜜結合によって特徴をまとめて評価する。 Here, "convolution" means using a filter (kernel filter) to convert image data into a feature map without damaging the position information. "Pooling" means to roughly organize the features. That is, in the image input by using CNN, the features are found by convolution, the features are roughly arranged by pooling, and the features are collectively evaluated by honey binding.

上記のように、人工知能(AI)を用いて、検査した菌の画像と、検査したサンプルの特徴(対象物(例えば、うどん、レトルトカレー、化粧水など)、pH(例えば、6~7,3~4など)、水分活性値(例えば、80%以上、40%未満など)、保管温度(例えば、10℃以下、35℃前後、50℃前後))とに基づいて解析を行いつつ学習することで、より正確な菌の推定を実現する。 As described above, using artificial intelligence (AI), the image of the bacteria tested, the characteristics of the sample tested (objects (eg udon, retort curry, lotion, etc.)), pH (eg 6-7, 3-4, etc.), water activity value (for example, 80% or more, less than 40%, etc.), storage temperature (for example, 10 ° C or less, around 35 ° C, around 50 ° C), and learning while performing analysis. This makes it possible to estimate the bacteria more accurately.

簡易テスト部74は、クライアント側の誘電体粒子推定装置7及びサーバ側の誘電体粒子推定装置8の誘電体粒子の推定機能をテストする。例えば、図12(a)のように、学習用画像とテスト用画像を同条件にて撮影して採取する。 The simple test unit 74 tests the dielectric particle estimation function of the dielectric particle estimation device 7 on the client side and the dielectric particle estimation device 8 on the server side. For example, as shown in FIG. 12A, a learning image and a test image are photographed and collected under the same conditions.

図12(b)のように、学習用画像をバッチサイズ及びエポック数を調整して学習モデルを生成し、ここで作成された学習モデルをそれぞれのテスト用画像で適合率を図13(a)に示されるようにテストする。上記適合率テストによって自他判別ができているかどうか、テスト画像ごとに何%と算出される。この自他判別の結果が図13(b)のような明確に差異が出ているものが合格となるようなテストを実施している。 As shown in FIG. 12 (b), a learning model is generated by adjusting the batch size and the number of epochs of the training image, and the learning model created here is used in each test image to determine the conformance rate in FIG. 13 (a). Test as shown in. Whether or not self-other discrimination is possible by the above conformance rate test is calculated as what percentage for each test image. A test is carried out so that the result of the self-other discrimination shows a clear difference as shown in FIG. 13 (b) and is passed.

続いて、上記構成の誘電体粒子種類推定システム1の作用について説明する。最初に、クライアント側の誘電体粒子推定装置7とネットワーク9を介して接続される各検査装置2の動作について説明し、その後にクライアント側の誘電体粒子推定装置7を含む誘電体粒子種類推定システム1について説明する。 Subsequently, the operation of the dielectric particle type estimation system 1 having the above configuration will be described. First, the operation of each inspection device 2 connected to the client-side dielectric particle estimation device 7 via the network 9 will be described, and then the dielectric particle type estimation system including the client-side dielectric particle estimation device 7 will be described. 1 will be described.

各検査装置2では、検査部2aが制御装置4によって制御され、ポンプ部10から試料液を捕集ユニット3の流路13に流しながら、交流電圧供給部11から流路13中のマイクロ電極部30に所定周波数の交流電圧を供給し、検査対象に正の誘電泳動力を作用させる。 In each inspection device 2, the inspection section 2a is controlled by the control device 4, and the microelectrode section in the flow path 13 from the AC voltage supply section 11 while flowing the sample liquid from the pump section 10 to the flow path 13 of the collection unit 3. An AC voltage having a predetermined frequency is supplied to 30, and a positive dielectrophoretic force is applied to the inspection target.

次に、マイクロ電極部30においてスリット領域Rsが並んだ領域Rcを撮像する。この際、検査対象に応じて、正の誘電泳動力が作用するように交流電圧の周波数ωを設定し、交流電圧の電圧振幅や流路13中の流速も適宜、制御する。これにより、種々の検査対象を選択的に捕集することもできる。 Next, the region Rc in which the slit regions Rs are lined up is imaged in the microelectrode unit 30. At this time, the frequency ω of the AC voltage is set so that the positive dielectrophoretic force acts according to the inspection target, and the voltage amplitude of the AC voltage and the flow velocity in the flow path 13 are appropriately controlled. This makes it possible to selectively collect various inspection targets.

例えば、周波数制御により、細菌における生菌(活性菌)と死菌(損傷菌)を区別するか否かを切り替えることができる。図7(a)は、生菌と死菌とを共に捕集する場合の例を示す。例えば、周波数ω=100MHzで電極41,42に交流電圧を供給することにより、生菌と死菌との双方に正の誘電泳動力を作用させて、生菌と死菌との双方を他のものと区別して捕集することができる。 For example, by frequency control, it is possible to switch whether or not to distinguish between live bacteria (active bacteria) and dead bacteria (damaged bacteria) in bacteria. FIG. 7A shows an example in which both live and dead bacteria are collected. For example, by supplying an AC voltage to the electrodes 41 and 42 at a frequency of ω = 100 MHz, a positive dielectrophoretic force is applied to both live and dead bacteria, and both live and dead bacteria are subjected to other. It can be collected separately from the ones.

図7(b)は、生菌を選択的に捕集する場合の例を示す。図7(b)に示す例では、図7(a)に示すように周波数ω=100MHzでの動作後、周波数ωを3MHzにまで上げている。すると、生菌には正の誘電泳動力が作用する一方、死菌には作用しなくなる。これにより、死菌を除いた生菌のみをスリット領域Rsに吸着させることができる。 FIG. 7B shows an example in which live bacteria are selectively collected. In the example shown in FIG. 7 (b), as shown in FIG. 7 (a), the frequency ω is increased to 3 MHz after the operation at the frequency ω = 100 MHz. Then, while the positive dielectrophoretic force acts on the live bacteria, it does not act on the dead bacteria. As a result, only live bacteria excluding dead bacteria can be adsorbed on the slit region Rs.

検査装置2では、一般的な手法である位相差観察法とは異なり、「レンズ体集光観察法」を用いている。レンズ体集光観察法は、コンデンサレンズを無くし、位相物体がレンズ体である場合にのみ照明光の「回折光」と「直進光」が集約され、背景よりも明るく見えることを利用し、位相物体の中でもレンズ体部56のみ明暗のコントラストをつけて観察する方法である。 The inspection device 2 uses a "lens body focusing observation method", which is different from the phase difference observation method which is a general method. The lens body condensing observation method utilizes the fact that the condenser lens is eliminated and the "diffracted light" and "straight light" of the illumination light are aggregated and appear brighter than the background only when the phase object is the lens body. This is a method of observing only the lens body 56 of an object with a contrast of light and dark.

また、検査装置2では、集光筒部54と光源部50との間にリングスリット部52があり、照明光をリング状にした光をサンプルに当てている。直進光と回折光がレンズ体部56により集約され強められることで、位相物体の中でもレンズ体部56であるサンプルが背景よりも特に明るくなる。また、その周囲は特に暗く見えるため、微生物などの単細胞の観察に適しており、大量の画像を蓄積して学習させるのに好適である。 Further, in the inspection device 2, there is a ring slit portion 52 between the condensing cylinder portion 54 and the light source portion 50, and the light in which the illumination light is formed into a ring is applied to the sample. Since the straight light and the diffracted light are aggregated and strengthened by the lens body 56, the sample which is the lens body 56 among the phase objects becomes particularly brighter than the background. In addition, since the surrounding area looks particularly dark, it is suitable for observing single cells such as microorganisms, and is suitable for accumulating and learning a large amount of images.

クライアント側の誘電体粒子推定装置7は、画像処理部60で撮影された大量の画像について画像処理を行って判別対象の菌が判別できるようになる。これにより、より高い精度で菌の推定を行うことができるという顕著な効果を奏する。また、クライアント側の誘電体粒子推定装置7では、予め特定された菌種の中から推測するというように限定されているが、サーバ側の誘電体粒子推定装置8も用いることで、より広い範囲で菌種の推定を行うことができるという顕著な効果を奏する。 The dielectric particle estimation device 7 on the client side can perform image processing on a large amount of images taken by the image processing unit 60 to discriminate the bacteria to be discriminated. This has a remarkable effect that the bacteria can be estimated with higher accuracy. Further, the dielectric particle estimation device 7 on the client side is limited to estimating from the bacterial species specified in advance, but a wider range can be obtained by using the dielectric particle estimation device 8 on the server side as well. It has a remarkable effect that the bacterial species can be estimated in.

1 誘電体粒子種類推定システム、2 検査装置、2a 検査部、3 捕集ユニット、4 制御装置、5 情報処理装置、6 廃液チャンバ、7 クライアント側の誘電体粒子推定装置、8 サーバ側の誘電体粒子推定装置、9 ネットワーク、10 ポンプ部、10a 駆動部、10b サンプルシリンジ、11 交流電圧供給部、12 撮像部、13 流路、30 マイクロ電極部、31 カバー板、31a,31b 挿通孔、31c 切り欠き部、32 スペーサ、32a 矩形穴、32b 切り欠き部、33 電極フィルム、33a 電極パッド、41,42 電極、50 光源部、52 リングスリット部、54 集光筒部、56 レンズ体部、58 対物レンズ部、59 像、60 画像処理部、62 形状分類部、64 生育環境分析部、66 同形状内分類部、66 誘電体粒子推定部、68 特殊分類部、70 推定部、71 推定部、72 学習部、74 簡易テスト部。

1 Dielectric particle type estimation system, 2 Inspection device, 2a Inspection unit, 3 Collection unit, 4 Control device, 5 Information processing device, 6 Waste liquid chamber, 7 Client side dielectric particle estimation device, 8 Server side dielectric Particle estimation device, 9 network, 10 pump section, 10a drive section, 10b sample syringe, 11 AC voltage supply section, 12 imaging section, 13 flow path, 30 microelectrode section, 31 cover plate, 31a, 31b insertion hole, 31c cut Notch, 32 spacer, 32a rectangular hole, 32b notch, 33 electrode film, 33a electrode pad, 41, 42 electrodes, 50 light source, 52 ring slit, 54 condenser tube, 56 lens body, 58 objectives Lens unit, 59 images, 60 image processing unit, 62 shape classification unit, 64 growth environment analysis unit, 66 same shape classification unit, 66 dielectric particle estimation unit, 68 special classification unit, 70 estimation unit, 71 estimation unit, 72 Learning department, 74 simple test department.

Claims (7)

試料液に含まれる誘電体粒子について誘電泳動を起こさせて捕獲した前記誘電体粒子を撮像した画像を取得し、前記誘電体粒子の種類を推定する誘電体粒子推定部を有する誘電体粒子推定装置であって、
前記誘電体粒子推定部は、
像部によって撮像された画像についてノイズを除去し、誘電体粒子該当部を認識・抽出する画像処理を行う画像処理部と、
前記画像処理が行われた前記画像に含まれる前記誘電体粒子の形状に基づいて、前記誘電体粒子を大別する第1カテゴリに分類する形状分類部と、
前記形状分類部で分類された後、生育環境に基づいて、前記誘電体粒子をさらに第2カテゴリに分類する生育環境分析部と、
前記生育環境分析部で分類された後、前記第2カテゴリ内における略同一形状の前記誘電体粒子の画像解析を行って特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて前記第2カテゴリの下位概念の第3カテゴリに分類する同形状内分類部と、
前記同形状内分類部で分類されたデータに基づいて、前記誘電体粒子の種類を推定する推定部と、
を備えることを特徴とする誘電体粒子推定装置。
A dielectric particle estimation device having a dielectric particle estimation unit that acquires an image of the dielectric particles captured by causing dielectric migration of the dielectric particles contained in the sample liquid and estimates the type of the dielectric particles. And,
The dielectric particle estimation unit is
An image processing unit that removes noise from the image captured by the image pickup unit and performs image processing to recognize and extract the corresponding portion of the dielectric particles.
A shape classification unit that classifies the dielectric particles into a first category that is roughly classified based on the shape of the dielectric particles contained in the image that has been subjected to the image processing.
After being classified by the shape classification unit, the growth environment analysis unit further classifies the dielectric particles into the second category based on the growth environment.
After being classified by the growth environment analysis unit, the image analysis of the dielectric particles having substantially the same shape in the second category is performed to extract the difference in the feature amount, and based on the difference, the subordinate of the second category. A classification unit within the same shape that classifies into the third category of the concept,
An estimation unit that estimates the type of the dielectric particles based on the data classified by the classification unit within the same shape, and an estimation unit.
A dielectric particle estimator comprising.
請求項1に記載の誘電体粒子推定装置において、
前記第3カテゴリ内に分類されたデータに基づいて、前記推定部が推定できない場合に、前記第3カテゴリ内において類似する菌種のみを画像解析して特徴量の差異を抽出し、該差異に基づいて前記第3カテゴリの下位概念の第4カテゴリに分類する特殊分類部を備え、
前記推定部は、前記特殊分類部で分類されたデータに基づいて、前記誘電体粒子の種類を推定することを特徴とする誘電体粒子推定装置。
In the dielectric particle estimation device according to claim 1,
When the estimation unit cannot be estimated based on the data classified in the third category, only similar bacterial species in the third category are image-analyzed to extract the difference in the feature amount, and the difference is determined. It is equipped with a special classification unit that classifies into the fourth category of the subordinate concept of the third category based on the above.
The estimation unit is a dielectric particle estimation device characterized by estimating the type of the dielectric particles based on the data classified by the special classification unit.
請求項1または請求項2に記載の誘電体粒子推定装置において、
少なくとも一対の電極と、該一対の電極上に所定方向に延在する流路と、前記一対の電極の間で前記所定方向に並びつつ互いに分離している複数のスリット領域とを有する誘電体捕集部と、
前記流路を前記所定方向に進むように、前記試料液を送液するポンプ部と、
前記送液される前記試料液中の前記誘電体粒子が誘電泳動を起こすように、所定周波数の交流電圧を前記一対の電極に供給する交流電圧供給部と、
前記誘電体捕集部において、前記複数のスリット領域が並んだ所定領域を撮像する撮像部と、
を備えることを特徴とする誘電体粒子推定装置。
In the dielectric particle estimation device according to claim 1 or 2.
Dielectric trapping having at least a pair of electrodes, a flow path extending in a predetermined direction on the pair of electrodes, and a plurality of slit regions between the pair of electrodes that are aligned in the predetermined direction and separated from each other. Shubu and
A pump unit that feeds the sample liquid so as to travel in the predetermined direction in the flow path, and a pump unit.
An AC voltage supply unit that supplies an AC voltage of a predetermined frequency to the pair of electrodes so that the dielectric particles in the sample liquid to be sent cause dielectrophoresis.
In the dielectric collecting unit, an image pickup unit that images a predetermined region in which the plurality of slit regions are lined up, and an image pickup unit.
A dielectric particle estimator comprising.
請求項3に記載の誘電体粒子推定装置において、
前記撮像部は、
前記複数のスリット領域に設けられる前記誘電体粒子に向けて照明光を出力する光源部と、
前記光源部から出力された前記照明光をリング状の前記照明光にするためのリングスリット部と、
前記リングスリット部により形成された前記リング状の前記照明光を集光させるための集光筒部と、
前記集光筒部により集光された直進光と回折光とを集約し、前記誘電体粒子を含んで構成されるレンズ体部と、
前記レンズ体部により集約された前記直進光と前記回折光とを通過させて像を形成するための対物レンズ部と、
を有することを特徴とする誘電体粒子推定装置。
In the dielectric particle estimation device according to claim 3,
The image pickup unit is
A light source unit that outputs illumination light toward the dielectric particles provided in the plurality of slit regions, and a light source unit.
A ring slit portion for converting the illumination light output from the light source portion into a ring-shaped illumination light, and a ring slit portion.
A condensing tube portion for condensing the ring-shaped illumination light formed by the ring slit portion, and a condensing tube portion.
A lens body portion formed by aggregating the straight light and diffracted light collected by the condensing cylinder portion and including the dielectric particles, and a lens body portion.
An objective lens unit for forming an image by passing the straight light and the diffracted light aggregated by the lens body unit.
A dielectric particle estimator characterized by having.
請求項3または請求項4に記載の誘電体粒子推定装置において、
前記一対の電極の間で前記複数のスリット領域を連結する領域は、前記流路の外部に配置されていることを特徴とする誘電体粒子推定装置。
In the dielectric particle estimation device according to claim 3 or 4.
A dielectric particle estimation device characterized in that a region connecting the plurality of slit regions between the pair of electrodes is arranged outside the flow path.
請求項3から請求項5のいずれか1項に記載の誘電体粒子推定装置において、
前記誘電体粒子は、細菌、細胞、微生物、真菌、芽胞、及びウイルスの内の少なくとも一つを含むことを特徴とする誘電体粒子推定装置。
The dielectric particle estimation device according to any one of claims 3 to 5.
The dielectric particle estimator comprising at least one of a bacterium, a cell, a microorganism, a fungus, a spore, and a virus.
請求項3から請求項6のいずれか1項の複数の誘電体粒子推定装置を備え、
前記複数の誘電体粒子推定装置は、複数のクライアント側の誘電体粒子推定装置と、該複数のクライアント側の誘電体粒子推定装置とネットワークを介して接続されるサーバ側の誘電体粒子推定装置とを含み、
前記サーバ側の誘電体粒子推定装置は、
前記画像処理部によって画像処理が行われた画像から前記誘電体粒子の特徴量を抽出する前記誘電体粒子推定部に基づいて抽出された複数の前記誘電体粒子の特徴量に基づいて深層学習を行う学習部を有し、
前記各クライアント側の誘電体粒子推定装置は、予め特定された菌種の中から誘電体粒子の種類を推定し、
前記サーバ側の誘電体粒子推定装置は、前記特定された菌種以外の菌種を含めた中から誘電体粒子の種類を推定することを特徴とする誘電体粒子推定システム。
A plurality of dielectric particle estimation devices according to any one of claims 3 to 6 are provided.
The plurality of dielectric particle estimators include a plurality of client-side dielectric particle estimators, a server-side dielectric particle estimator connected to the plurality of client-side dielectric particle estimators via a network, and the like. Including
The server-side dielectric particle estimator is
Deep learning is performed based on the feature amounts of a plurality of the dielectric particles extracted based on the dielectric particle estimation unit that extracts the feature amount of the dielectric particles from the image processed by the image processing unit. Has a learning department to do
The dielectric particle estimation device on each client side estimates the type of dielectric particles from the bacterial species specified in advance, and determines the type of dielectric particles.
The server-side dielectric particle estimation device is a dielectric particle estimation system characterized in that it estimates the type of dielectric particles from among bacterial species other than the specified bacterial species.
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