JP7006025B2 - Solar cell module diagnostic system and solar cell module diagnostic method - Google Patents

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Description

本発明は、太陽光発電システムで使用される太陽電池モジュールの異常を診断する太陽電池モジュール診断システム及び太陽電池モジュール診断方法に関する。 The present invention relates to a solar cell module diagnostic system for diagnosing an abnormality in a solar cell module used in a photovoltaic power generation system and a solar cell module diagnostic method.

近年、エネルギーの買い取り価格(タリフ)を法律により定めるフィードインタリフの導入が世界的に進んでいる。これに伴い、企業のみならず一般家庭でも太陽光発電システムが導入され始めている。特に、広大な敷地に多数の太陽電池モジュールを敷き詰めたメガソーラーシステムが普及し始めている。このメガソーラーシステムでは、補助的な役割であった太陽光発電システムが基幹発電の一役を担い、地域の電力を賄うことが期待されている。 In recent years, the introduction of feed interriffs, which set the purchase price (tariff) of energy by law, is progressing worldwide. Along with this, photovoltaic power generation systems have begun to be introduced not only in companies but also in ordinary households. In particular, mega solar systems with a large number of solar cell modules spread over a vast site are beginning to spread. In this mega solar system, it is expected that the photovoltaic power generation system, which was an auxiliary role, will play a role in the core power generation and supply the electricity in the region.

太陽光発電システムを構成する太陽電池モジュールにおいては、鳥類の糞などによってモジュール表面が汚染し、或いは、飛来物の衝突などによってモジュール表面が破損すると、その発電出力が低下する。このような太陽電池モジュールの異常を検出する方法として、例えば、目視による検査、サーモメーターによる発熱の検査、テスターによる電気的特性の検査などが行われている。 In a solar cell module constituting a photovoltaic power generation system, if the module surface is contaminated by bird dung or the like, or if the module surface is damaged by a collision of flying objects or the like, the power generation output is reduced. As a method for detecting such an abnormality of the solar cell module, for example, a visual inspection, an inspection of heat generation by a thermometer, an inspection of electrical characteristics by a tester, and the like are performed.

一方、太陽電池モジュールは、太陽電池セルの直列回路で構成されている。また、モジュール内の部分的な陰や不具合の影響を抑制することを目的として複数のブロックに分割されている。そして、これらのブロック毎に電流の遮断を防止するためにバイパスダイオードが組み込まれている。このバイパスダイオードの作用により、太陽電池モジュールの部分的な不具合等の影響が吸収される。この結果、太陽電池モジュールから安定した発電出力の供給が確保される。 On the other hand, the solar cell module is composed of a series circuit of solar cell cells. In addition, it is divided into a plurality of blocks for the purpose of suppressing the influence of partial shadows and defects in the module. A bypass diode is incorporated in each of these blocks to prevent current interruption. By the action of this bypass diode, the influence of a partial failure of the solar cell module or the like is absorbed. As a result, a stable power generation output is ensured from the solar cell module.

しかしながら、太陽電池モジュールの一部に汚染や破損などの不具合が生じている場合においては、陰や木々の飛散などの出力低下要因が重複すると、複数のバイパスダイオードが作動することにより急激に発電出力が低下する事態が発生し得る。このような事態の発生を未然に防止するためには、部分的に不具合を有する太陽電池モジュールを早期に検出し、メンテナンスを実施することが好ましい。 However, when a part of the solar cell module is contaminated or damaged, if the output reduction factors such as shadows and scattering of trees overlap, multiple bypass diodes operate and the power generation output suddenly occurs. May occur. In order to prevent the occurrence of such a situation, it is preferable to detect the partially defective solar cell module at an early stage and perform maintenance.

本出願人は、このような実情に鑑み、太陽電池モジュールのサブストリング単位で入射光を遮光する遮光機構を備え、遮光前後のストリング電流変化の測定結果に基づいて太陽電池モジュールの異常を判定する太陽電池モジュール診断システムを提案している(例えば、特許文献1参照)。この太陽モジュール診断システムでは、サブストリング単位で太陽電池モジュールの異常を判定でき、セル単位で太陽電池モジュールの異常を判定する場合と比べて診断作業に要する労力及びコストを低減できる。また、サブストリング単位での入射光の調整の前後におけるストリング電流の変化を測定することから、バイパスダイオードを外すことなく、実際の利用環境にて部分的な不具合を有する太陽電池モジュールを検出できる。 In view of such circumstances, the applicant is provided with a light-shielding mechanism that blocks incident light in units of substrings of the solar cell module, and determines an abnormality in the solar cell module based on the measurement result of the string current change before and after the light-shielding. A solar cell module diagnostic system has been proposed (see, for example, Patent Document 1). In this solar module diagnostic system, the abnormality of the solar cell module can be determined in the substring unit, and the labor and cost required for the diagnostic work can be reduced as compared with the case of determining the abnormality of the solar cell module in the cell unit. Further, since the change in the string current before and after the adjustment of the incident light in the substring unit is measured, it is possible to detect the solar cell module having a partial defect in the actual usage environment without removing the bypass diode.

特開2016-220491号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-20491

ところで、上述したような太陽電池モジュール診断システムにおいては、更に診断作業に要する労力及びコストを低減することが要請されている。このように太陽電池モジュールの異常を低労力及び低コストで実現することは、メガソーラーシステムを含む太陽光発電システムを健全に運営する上で重要な技術課題となっている。 By the way, in the solar cell module diagnostic system as described above, it is required to further reduce the labor and cost required for the diagnostic work. Realizing such abnormalities in the solar cell module with low labor and low cost is an important technical issue for the sound operation of the photovoltaic power generation system including the mega solar system.

本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、作業に要する労力及びコストの増大を抑制しつつ、部分的に不具合を有する太陽電池モジュールを容易に検出することができる太陽電池モジュール診断システム及び太陽電池モジュール診断方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and is a solar cell module capable of easily detecting a partially defective solar cell module while suppressing an increase in labor and cost required for work. It is an object of the present invention to provide a diagnostic system and a method for diagnosing a solar cell module.

本発明に係る太陽電池モジュール診断システムは、太陽電池モジュールに対する入射光を前記太陽電池モジュールに含まれるサブストリング単位で遮光可能な遮光部材を、複数の前記サブストリング単位の配列方向に前記太陽電池モジュールに沿って駆動する遮光手段と、前記遮光部材の駆動に伴って変化するストリング電流の波形パターンを検出する検出手段と、前記検出手段による検出結果に含まれる前記ストリング電流の波形パターンと、予め保持された標準ストリング電流波形パターンと、の比較により得られた前記標準ストリング電流波形パターンとの不一致の箇所に応じて前記太陽電池モジュールに含まれる特定のサブストリング単位の異常を判定する判定手段と、を具備し、前記標準ストリング電流波形パターンは、櫛歯状であることを特徴とする。 In the solar cell module diagnostic system according to the present invention, the solar cell module has a light-shielding member capable of blocking light incident on the solar cell module in units of substrings included in the solar cell module in the arrangement direction of a plurality of units of the substrings. The light-shielding means driven along the line, the detection means for detecting the waveform pattern of the string current that changes with the driving of the light-shielding member, and the waveform pattern of the string current included in the detection result by the detection means are held in advance. A determination means for determining an abnormality in a specific substring unit included in the solar cell module according to a location of a mismatch between the standard string current waveform pattern obtained and the standard string current waveform pattern obtained by comparison. The standard string current waveform pattern is characterized by being comb-shaped .

本発明に係る太陽電池モジュール診断方法は、太陽電池モジュールに対する入射光を前記太陽電池モジュールに含まれるサブストリング単位で遮光する遮光部材を、複数の前記サブストリング単位の配列方向に前記太陽電池モジュールに沿って駆動する遮光ステップと、前記遮光部材の駆動に伴って変化するストリング電流の波形パターンを検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された検出結果に含まれる前記ストリング電流の波形パターンと、予め保持された標準ストリング電流波形パターンと、の比較により得られた前記標準ストリング電流波形パターンとの不一致の箇所に応じて前記太陽電池モジュールに含まれる特定のサブストリング単位の異常を判定する判定ステップと、を具備し、前記標準ストリング電流波形パターンは、櫛歯状であることを特徴とする。 In the method for diagnosing a solar cell module according to the present invention, a light-shielding member that shields light incident on the solar cell module in units of substrings contained in the solar cell module is attached to the solar cell module in the arrangement direction of a plurality of units of the substrings. A light-shielding step driven along the line, a detection step for detecting a waveform pattern of a string current that changes with the driving of the light-shielding member, and a waveform pattern of the string current included in the detection result detected in the detection step. A determination step for determining an abnormality in a specific substring unit included in the solar cell module according to the location of a mismatch between the standard string current waveform pattern held in advance and the standard string current waveform pattern obtained by comparison. The standard string current waveform pattern is characterized by being comb-shaped .

本発明によれば、作業に要する労力及びコストの増大を抑制しつつ、部分的に不具合を有する太陽電池モジュールを容易に検出することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to easily detect a partially defective solar cell module while suppressing an increase in labor and cost required for the work.

本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムに適用される太陽電池モジュールの拡大図である。It is an enlarged view of the solar cell module applied to the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムで利用される遮光機構の説明図である。It is explanatory drawing of the light shielding mechanism used in the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムが有する遮光機構による遮光位置を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the light-shielding position by the light-shielding mechanism which the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment has. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムが有する遮光板の駆動に伴って検出されるストリング電流の波形パターンの説明図である。It is explanatory drawing of the waveform pattern of the string current detected by driving the shading plate which the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment has. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムにおける太陽電池モジュールの診断方法について説明するためのフロー図である。It is a flow diagram for demonstrating the diagnosis method of the solar cell module in the solar cell module diagnosis system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムにおいて検出される、不具合を有する太陽電池モジュールのストリング電流の波形パターンの一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the waveform pattern of the string current of the solar cell module which has a defect detected in the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムにおいて検出される、不具合を有する太陽電池モジュールのストリング電流の波形パターンの一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the waveform pattern of the string current of the solar cell module which has a defect detected in the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment. 本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システムにおいて検出される、不具合を有する太陽電池モジュールのストリング電流の波形パターンの一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the waveform pattern of the string current of the solar cell module which has a defect detected in the solar cell module diagnostic system which concerns on this embodiment.

以下、本発明の一実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システム(以下、適宜「診断システム」という)は、例えば、メガソーラーシステムにおける太陽電池モジュールの診断に好適に利用される。以下においては、本実施の形態に係る診断システムがメガソーラーシステムに適用される場合を例として説明する。しかしながら、本実施の形態に係る診断システムが適用される対象はメガソーラーシステムに限定されるものではなく、より小規模な太陽光発電システムに適用することができる。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The solar cell module diagnostic system according to the present embodiment (hereinafter, appropriately referred to as “diagnosis system”) is suitably used for diagnosing a solar cell module in a mega solar system, for example. In the following, a case where the diagnostic system according to the present embodiment is applied to a mega solar system will be described as an example. However, the target to which the diagnostic system according to the present embodiment is applied is not limited to the mega solar system, but can be applied to a smaller-scale photovoltaic power generation system.

図1は、本実施の形態に係る太陽電池モジュール診断システム(診断システム)10の構成を示すブロック図である。なお、図1においては、メガソーラーシステムを構成する多数の太陽電池アレイのうち、説明の便宜上、3個の太陽電池アレイ11~13のみを示している。 FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a solar cell module diagnostic system (diagnosis system) 10 according to the present embodiment. Note that FIG. 1 shows only three solar cell arrays 11 to 13 out of a large number of solar cell arrays constituting the mega solar system for convenience of explanation.

図1に示すように、本実施の形態に係る診断システム10は、複数の太陽電池アレイ11~13、パワーコンディショナ14、ストリング電気特性測定装置(測定装置)15、ストリング電気特性受信サーバ(受信サーバ)16、診断装置17及び監視装置18を含んで構成される。診断システム10では、敷地内に設置された太陽電池アレイ11~13におけるストリング電流の波形パターンを検出し、その検出結果に基づいて太陽電池アレイ11~13を構成する太陽電池モジュール20の異常を診断するものである。 As shown in FIG. 1, the diagnostic system 10 according to the present embodiment includes a plurality of solar cell arrays 11 to 13, a power conditioner 14, a string electrical characteristic measuring device (measuring device) 15, and a string electrical characteristic receiving server (reception). A server) 16, a diagnostic device 17, and a monitoring device 18 are included. The diagnostic system 10 detects the waveform pattern of the string current in the solar cell arrays 11 to 13 installed on the site, and diagnoses the abnormality of the solar cell modules 20 constituting the solar cell arrays 11 to 13 based on the detection result. It is something to do.

それぞれの太陽電池アレイ11~13は、例えば、最大出力250Wの太陽電池モジュール20が直列に9枚接続されることにより最大出力2250Wの太陽電池アレイとして構成される。太陽電池モジュール20は、太陽光を表面(モジュール表面)に受光し、太陽光エネルギーを電気エネルギー(直流)に変換する。なお、これらの太陽電池モジュール20は、太陽電池パネルと呼ぶこともできる。 Each of the solar cell arrays 11 to 13 is configured as a solar cell array having a maximum output of 2250 W by connecting nine solar cell modules 20 having a maximum output of 250 W in series. The solar cell module 20 receives sunlight on the surface (module surface) and converts solar energy into electrical energy (DC). In addition, these solar cell modules 20 can also be called a solar cell panel.

太陽電池アレイ11~13は、診断システム10が設けられる敷地内に整列して配置されている。それぞれの太陽電池アレイ11~13においては、太陽電池モジュール20が整列して配置されている。図1では、同図に示す上下方向に一定間隔で配置された3枚の太陽電池モジュール20が同図に示す左右方向に3列配置された場合について示している。それぞれの太陽電池アレイ11~13における太陽電池モジュール20の位置は、互いに一致した状態となっている。太陽電池アレイ11~13は、それぞれ逆流防止ダイオード(ブロッキングダイオード)21~23を介してパワーコンディショナ14に接続されている。 The solar cell arrays 11 to 13 are arranged side by side in the site where the diagnostic system 10 is provided. In each of the solar cell arrays 11 to 13, the solar cell modules 20 are arranged side by side. FIG. 1 shows a case where three solar cell modules 20 arranged at regular intervals in the vertical direction shown in the figure are arranged in three rows in the left-right direction shown in the figure. The positions of the solar cell modules 20 in the respective solar cell arrays 11 to 13 are in the same state as each other. The solar cell arrays 11 to 13 are connected to the power conditioner 14 via backflow prevention diodes (blocking diodes) 21 to 23, respectively.

図2は、本実施の形態に係る診断システム10に適用される太陽電池モジュール20の拡大図である。図2に示すように、太陽電池モジュール20は、複数の太陽電池セル201を含んでいる。太陽電池モジュール20内の太陽電池セル201は、インターコネクタのはんだ接続によって全て直列に配線された電気回路となっている。太陽電池モジュール20は、太陽電池モジュール20内の部分的な陰や故障・不具合の影響を抑えることを目的として複数の並列回路に分割されている。これらの並列回路には、電流の逆流を防ぐためのバイパスダイオード202が組み込まれている。なお、これらのバイパスダイオード202で分割された部分的な太陽電池セル群は、サブストリングやクラスタと呼ばれることがある。本明細書においては、これらの太陽電池セル群をサブストリング203と呼ぶものとする。 FIG. 2 is an enlarged view of the solar cell module 20 applied to the diagnostic system 10 according to the present embodiment. As shown in FIG. 2, the solar cell module 20 includes a plurality of solar cell 201. The solar cell 201 in the solar cell module 20 is an electric circuit all connected in series by soldering an interconnector. The solar cell module 20 is divided into a plurality of parallel circuits for the purpose of suppressing the influence of partial shadows and failures / malfunctions in the solar cell module 20. A bypass diode 202 is incorporated in these parallel circuits to prevent backflow of current. The partial solar cell group divided by these bypass diodes 202 may be referred to as a substring or a cluster. In the present specification, these solar cell groups are referred to as substring 203.

パワーコンディショナ14は、太陽電池アレイ11~13の挙動を制御する。また、パワーコンディショナ14は、太陽電池アレイ11~13によって生成された直流電力を交流電力に変換する。例えば、パワーコンディショナ14は、図示しない商用電源や負荷に接続される。このような場合、太陽電池アレイ11~13で発電された電力は、負荷で消費され、或いは、商用電源に売電される。 The power conditioner 14 controls the behavior of the solar cell arrays 11 to 13. Further, the power conditioner 14 converts the DC power generated by the solar cell arrays 11 to 13 into AC power. For example, the power conditioner 14 is connected to a commercial power source or load (not shown). In such a case, the electric power generated by the solar cell arrays 11 to 13 is consumed by the load or sold to a commercial power source.

また、パワーコンディショナ14は、メガソーラーシステム(太陽光発電システム)における発電量を最大化する制御を行う。例えば、パワーコンディショナ14は、太陽電池アレイ11~13(太陽電池モジュール20)の特性に合わせ、発電できる電力を最大化する最大電力点追従(MPPT:Maximum Power Point Tracking)制御を行う。MPPT制御では、太陽電池モジュール20の出力を常に最大化できるように、太陽電池モジュール20から最大の電力を引き出せる電圧(最大電力点)を求め、その電圧で太陽電池モジュール20を発電させる。 Further, the power conditioner 14 controls to maximize the amount of power generation in the mega solar system (solar power generation system). For example, the power conditioner 14 performs maximum power point tracking (MPPT) control that maximizes the power that can be generated according to the characteristics of the solar cell arrays 11 to 13 (solar cell module 20). In MPPT control, a voltage (maximum power point) at which the maximum power can be drawn from the solar cell module 20 is obtained so that the output of the solar cell module 20 can always be maximized, and the solar cell module 20 is generated with that voltage.

メガソーラーシステムでは、一般にMPPT制御として山登り法が適用されている。山登り法では、一定の更新間隔で電圧(ストリング電圧)を一定量だけ変化(増加又は減少)させると共に、変化後の電力を求める。そして、変化後の電力と、電圧を変化させる前の電力とを比較し、電力が大きい電圧を選択する。このようなMPPT制御(山登り法)により、メガソーラーシステムでは、気象条件等の変化で常に変動する最大電力点に追従しながら最大の発電量を確保することができる。 In mega solar systems, the mountain climbing method is generally applied as MPPT control. In the hill climbing method, the voltage (string voltage) is changed (increased or decreased) by a certain amount at a fixed update interval, and the electric power after the change is obtained. Then, the power after the change is compared with the power before the voltage is changed, and the voltage having the larger power is selected. By such MPPT control (hill climbing method), the mega solar system can secure the maximum power generation amount while following the maximum power point that constantly fluctuates due to changes in weather conditions and the like.

ストリング電気特性測定装置(以下、適宜「測定装置」という)15は、メガソーラーシステムの太陽電池アレイ11~13におけるストリング単位での電気特性を測定する。ここでいう電気特性とは、ストリング単位での発電電圧や発電電流である。また、測定装置15は、測定したストリング単位での発電電流の波形パターンを検出する。すなわち、測定装置15は、検出手段の一例を機能するものであり、太陽電池アレイ11~13におけるストリング電流の波形パターンを検出する。なお、ここでは、測定装置15を独立した構成として説明しているが、測定装置15を後述する診断装置17のアナログ入力部として構成してもよい。 The string electrical characteristic measuring device (hereinafter, appropriately referred to as “measuring device”) 15 measures the electrical characteristics of the solar cell arrays 11 to 13 of the mega solar system in string units. The electrical characteristics referred to here are the generated voltage and generated current in string units. Further, the measuring device 15 detects the waveform pattern of the generated current in the measured string unit. That is, the measuring device 15 functions as an example of the detecting means, and detects the waveform pattern of the string current in the solar cell arrays 11 to 13. Although the measuring device 15 is described here as an independent configuration, the measuring device 15 may be configured as an analog input unit of the diagnostic device 17 described later.

より具体的にいうと、測定装置15は、後述する診断装置17の遮光制御部171による入射光の遮光制御時に変化するストリング電流の波形パターンを検出する。測定装置15は、太陽電池モジュール20に接続されるパワーコンディショナ14によるMPPT制御の電圧更新時に変化するストリング電流の値に応じてストリング電流の波形パターンを検出する。このストリング電流の波形パターンの詳細については後述する。なお、測定装置15は、ストリング監視ユニットと呼ばれることもある。 More specifically, the measuring device 15 detects the waveform pattern of the string current that changes during the shading control of the incident light by the shading control unit 171 of the diagnostic device 17, which will be described later. The measuring device 15 detects the waveform pattern of the string current according to the value of the string current that changes when the voltage of the MPPT control by the power conditioner 14 connected to the solar cell module 20 is updated. The details of the waveform pattern of this string current will be described later. The measuring device 15 may also be called a string monitoring unit.

ストリング電気特性受信サーバ(以下、適宜「受信サーバ」という)16は、測定装置15に接続される。受信サーバ16は、測定装置15で測定されたストリング単位での電気特性データや、測定装置15で検出されたストリング電流の波形パターンを保存する。例えば、受信サーバ16は、ストリング単位の電流値や電圧値、ストリング電流の波形パターンをデータとして保存する。また、上記以外のデータとして、受信サーバ16は、後述する診断装置17の判定部173による太陽電池モジュール20の判定結果(正常/異常の判定結果)を保存する。受信サーバ16は、これらのストリング単位の電流や電圧の測定値等のデータを、一定期間(例えば、1か月)保存することができる。 The string electrical characteristic receiving server (hereinafter, appropriately referred to as “receiving server”) 16 is connected to the measuring device 15. The receiving server 16 stores the electrical characteristic data for each string measured by the measuring device 15 and the waveform pattern of the string current detected by the measuring device 15. For example, the receiving server 16 stores the current value, the voltage value, and the waveform pattern of the string current in string units as data. Further, as data other than the above, the receiving server 16 stores the determination result (normal / abnormal determination result) of the solar cell module 20 by the determination unit 173 of the diagnostic device 17 described later. The receiving server 16 can store data such as current and voltage measured values in string units for a certain period (for example, one month).

診断装置17は、例えば、遮光制御部171、記憶部172、判定部173、表示部174及び通信部175を含んで構成される。遮光制御部171は、遮光手段の一部を構成するものであり、後述する遮光機構40を制御することで、太陽電池モジュール20に対する入射光を、太陽電池モジュール20に含まれるサブストリング203単位で遮光可能に構成される。なお、この遮光機構40の詳細な構成については後述する。 The diagnostic device 17 includes, for example, a shading control unit 171, a storage unit 172, a determination unit 173, a display unit 174, and a communication unit 175. The light-shielding control unit 171 constitutes a part of the light-shielding means, and by controlling the light-shielding mechanism 40 described later, the incident light to the solar cell module 20 is emitted by the substring 203 unit included in the solar cell module 20. It is configured to be able to block light. The detailed configuration of the light-shielding mechanism 40 will be described later.

記憶部172は、太陽電池モジュール20の正常/異常の判定に必要となる各種の情報を記憶する。例えば、記憶部172は、標準ストリング電流波形パターン(以下、適宜「標準波形パターン」という)を記憶する。標準波形パターンは、測定装置15で検出されたストリング電流の波形パターン(以下、適宜「検出波形パターン」という)と比較されるものである。例えば、標準波形パターンには、太陽電池モジュール20が正常な状態において、想定される日射量毎に太陽電池モジュール20のモジュール表面の一定領域を遮光しながらスライドさせた場合のストリング電流の波形パターンが設定される。 The storage unit 172 stores various information necessary for determining normality / abnormality of the solar cell module 20. For example, the storage unit 172 stores a standard string current waveform pattern (hereinafter, appropriately referred to as “standard waveform pattern”). The standard waveform pattern is compared with the waveform pattern of the string current detected by the measuring device 15 (hereinafter, appropriately referred to as “detection waveform pattern”). For example, the standard waveform pattern includes a waveform pattern of string current when the solar cell module 20 is slid while blocking a certain area on the module surface of the solar cell module 20 for each expected amount of solar radiation in a normal state. Set.

また、記憶部172は、これらの標準波形パターンとの比較により、太陽電池モジュール20が、どんな要因により異常であるかを判定するための複数の異常ストリング電流波形パターン(以下、適宜「異常波形パターン」という)を記憶することができる。これらの異常波形パターンには、太陽電池モジュール20に含まれる特定のサブストリングの異常を判定するための波形パターンや、特定のバイパスダイオード202の異常を判定するための波形パターンが設定される。さらに、記憶部172は、判定部173による太陽電池モジュール20の判定結果を記憶する。 Further, the storage unit 172 has a plurality of abnormal string current waveform patterns for determining by what factor the solar cell module 20 is abnormal by comparison with these standard waveform patterns (hereinafter, “abnormal waveform pattern” as appropriate). ") Can be memorized. In these abnormal waveform patterns, a waveform pattern for determining an abnormality of a specific substring included in the solar cell module 20 and a waveform pattern for determining an abnormality of a specific bypass diode 202 are set. Further, the storage unit 172 stores the determination result of the solar cell module 20 by the determination unit 173.

判定部173は、判定手段の一例を構成するものであり、測定装置15によるストリング電流の波形パターンの検出結果に基づいて太陽電池モジュール20の正常/異常を判定する。例えば、判定部173は、測定装置15で検出された検出波形パターンと、記憶部172内の標準波形パターンとの比較結果に基づいて太陽電池モジュール20の正常/異常を判定する。より具体的には、判定部173は、両者が一致するか否かによって太陽電池モジュール20の正常/異常を判定する。また、判定部173は、検出波形パターンと標準波形パターンとの不一致の状態に応じて、特定のサブストリングやバイパスダイオードの異常を判定することができる。判定部173は、太陽電池モジュール20の正常/異常を示す画像データ(モジュール状態診断画像データ)を生成することができる。 The determination unit 173 constitutes an example of the determination means, and determines whether the solar cell module 20 is normal or abnormal based on the detection result of the waveform pattern of the string current by the measuring device 15. For example, the determination unit 173 determines the normality / abnormality of the solar cell module 20 based on the comparison result between the detection waveform pattern detected by the measuring device 15 and the standard waveform pattern in the storage unit 172. More specifically, the determination unit 173 determines the normality / abnormality of the solar cell module 20 depending on whether or not they match. Further, the determination unit 173 can determine an abnormality of a specific substring or a bypass diode according to a state of disagreement between the detected waveform pattern and the standard waveform pattern. The determination unit 173 can generate image data (module state diagnosis image data) indicating normality / abnormality of the solar cell module 20.

表示部174は、液晶ディスプレイなどの出力手段で構成され、判定部173による判定結果を表示する。例えば、表示部174は、判定部173により生成されたモジュール状態診断画像データを表示する。このモジュール状態診断画像データには、太陽電池アレイ11~13における正常/異常と判定された太陽電池モジュール20の位置を特定する情報が含まれることが好ましい。例えば、太陽電池アレイ11~13に含まれる全ての太陽電池モジュール20の位置を示すと共に、正常又は異常と判定された太陽電池モジュール20をそれぞれ異なる色で表示することは実施の形態として好ましい。 The display unit 174 is composed of an output means such as a liquid crystal display, and displays the determination result by the determination unit 173. For example, the display unit 174 displays the module state diagnosis image data generated by the determination unit 173. It is preferable that the module state diagnosis image data includes information for specifying the position of the solar cell module 20 determined to be normal / abnormal in the solar cell arrays 11 to 13. For example, it is preferable as an embodiment to show the positions of all the solar cell modules 20 included in the solar cell arrays 11 to 13 and to display the solar cell modules 20 determined to be normal or abnormal in different colors.

通信部175は、有線又は無線により接続された監視装置18との間で通信を行う。例えば、通信部175は、判定部173による判定結果(太陽電池モジュール20の正常/異常の診断結果)を監視装置18に送信する。監視装置18では、通信部175から受け取った判定結果を管理する。例えば、監視装置18は、この判定結果を太陽電池モジュール20又は太陽電池アレイ11~13の経年劣化の診断に利用することができる。 The communication unit 175 communicates with the monitoring device 18 connected by wire or wirelessly. For example, the communication unit 175 transmits the determination result (normal / abnormal diagnosis result of the solar cell module 20) by the determination unit 173 to the monitoring device 18. The monitoring device 18 manages the determination result received from the communication unit 175. For example, the monitoring device 18 can use this determination result for diagnosing the aged deterioration of the solar cell module 20 or the solar cell arrays 11 to 13.

ここで、このような診断システム10で利用される遮光機構の構成について、図3を参照して説明する。図3は、本実施の形態に係る診断システム10で利用される遮光機構40の説明図である。図3においては、太陽電池アレイ11を斜め前方側から見た場合について示している。なお、太陽電池アレイ12、13における遮光機構の構成については、太陽電池アレイ11における遮光機構40と共通するため、その説明を省略する。 Here, the configuration of the shading mechanism used in such a diagnostic system 10 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram of a light shielding mechanism 40 used in the diagnostic system 10 according to the present embodiment. FIG. 3 shows a case where the solar cell array 11 is viewed from the diagonally front side. Since the configuration of the light-shielding mechanism in the solar cell arrays 12 and 13 is common to the light-shielding mechanism 40 in the solar cell array 11, the description thereof will be omitted.

図3に示すように、太陽電池アレイ11は、例えば、水平面から10~20度傾斜した状態の架台30の上面に設置される。この場合において、太陽電池アレイ11を構成する太陽電池モジュール20は、日光の差し込む方向に受光部(モジュール表面)を向けて架台30に設置されている。 As shown in FIG. 3, the solar cell array 11 is installed, for example, on the upper surface of the gantry 30 in a state of being inclined by 10 to 20 degrees from the horizontal plane. In this case, the solar cell module 20 constituting the solar cell array 11 is installed on the gantry 30 with the light receiving portion (module surface) facing in the direction of sunlight.

遮光機構40は、太陽電池モジュール20の受光部に対向して配置される。遮光機構40は、遮光手段の一部を構成するものであり、太陽電池モジュール20の受光部に対する太陽光(自然光)を遮光(遮蔽)する役割を果たす。例えば、遮光機構40は、架台30の外側に配置されたガイド枠50に支持された状態で配置される。ガイド枠50は、架台30の一部(図3においては、架台30に配置された一列の太陽電池モジュール20a、20b、20c)に対応する位置に設置されている。ガイド枠50は、遮光機構40が有する遮光板41を太陽電池モジュール20の表面に沿って移動可能にガイドする役割を果たす。なお、ガイド枠50は、図示しない移動機構により架台30(太陽電池モジュール20)の表面に沿って移動可能に構成することができる。 The light shielding mechanism 40 is arranged so as to face the light receiving portion of the solar cell module 20. The light-shielding mechanism 40 constitutes a part of the light-shielding means, and plays a role of light-shielding (shielding) sunlight (natural light) to the light-receiving portion of the solar cell module 20. For example, the light-shielding mechanism 40 is arranged in a state of being supported by a guide frame 50 arranged outside the gantry 30. The guide frame 50 is installed at a position corresponding to a part of the gantry 30 (in FIG. 3, a row of solar cell modules 20a, 20b, 20c arranged on the gantry 30). The guide frame 50 serves to movably guide the light-shielding plate 41 of the light-shielding mechanism 40 along the surface of the solar cell module 20. The guide frame 50 can be configured to be movable along the surface of the gantry 30 (solar cell module 20) by a moving mechanism (not shown).

ガイド枠50は、長手方向に延びる一対の枠体部51と、これらの枠体部51と直交して短手方向に延びる一対の枠体部52と、枠体部51と枠体部52との交差部から下方側に延びる4本の脚部53とを有する。ガイド枠50は、架台30の傾斜に合わせた形状を有しており、枠体部51と枠体部52とを含む平面が、架台30(より具体的には、太陽電池モジュール20が設置される設置面)と平行になるように構成されている。 The guide frame 50 includes a pair of frame body portions 51 extending in the longitudinal direction, a pair of frame body portions 52 extending in the lateral direction orthogonal to these frame body portions 51, and a frame body portion 51 and a frame body portion 52. It has four legs 53 extending downward from the intersection of the above. The guide frame 50 has a shape that matches the inclination of the gantry 30, and the flat surface including the frame body portion 51 and the frame body portion 52 is provided with the gantry 30 (more specifically, the solar cell module 20). It is configured to be parallel to the installation surface).

遮光機構40は、平板形状を有する遮光板41と、この遮光板41を上下方向に駆動する駆動部42と、駆動部42を制御する駆動制御部43とを含んで構成される。遮光板41は、遮光部材の一例を構成するものであり、例えば、木材や樹脂材料等で構成される。遮光板41は、例えば、太陽電池モジュール20との対向面が、概して長方形状を有し、太陽電池モジュール20に含まれる単一のサブストリング203を遮蔽する寸法に構成されている(図4参照)。すなわち、遮光板41は、太陽電池モジュール20に含まれるサブストリング203単位で遮光可能な構成を有する。遮光板41の下面には、図示しない複数の車輪が設けられる。これらの車輪は、枠体部51に沿って回転し、遮光板41の円滑な上下移動に寄与する。 The light-shielding mechanism 40 includes a light-shielding plate 41 having a flat plate shape, a drive unit 42 that drives the light-shielding plate 41 in the vertical direction, and a drive control unit 43 that controls the drive unit 42. The light-shielding plate 41 constitutes an example of a light-shielding member, and is made of, for example, wood, a resin material, or the like. The light-shielding plate 41 has, for example, a surface facing the solar cell module 20 having a generally rectangular shape, and is configured to shield a single substring 203 included in the solar cell module 20 (see FIG. 4). ). That is, the light-shielding plate 41 has a configuration capable of light-shielding in units of the substring 203 included in the solar cell module 20. A plurality of wheels (not shown) are provided on the lower surface of the light-shielding plate 41. These wheels rotate along the frame body portion 51 and contribute to the smooth vertical movement of the light-shielding plate 41.

駆動部42は、複数のサブストリング203の配列方向に太陽電池モジュール20に沿って遮光板41を駆動する。例えば、駆動部42は、ステッピングモータ、減速機、プーリ及びロープを含んで構成される。ロープの一端が遮光板41に接続される一方、ロープの他端がステッピングモータ及び減速機に接続されたプーリに接続される。駆動部42は、駆動制御部43の制御の下、ステッピングモータを駆動し、プーリでロープを巻き取り、或いは、引き出すことにより遮光板41を太陽電池モジュール20に沿って移動させる。なお、駆動部42は、遮光板41の自重を利用し、架台30に沿って遮光板41を下方移動させる構成とすることもできる。 The drive unit 42 drives the light-shielding plate 41 along the solar cell module 20 in the arrangement direction of the plurality of substrings 203. For example, the drive unit 42 includes a stepping motor, a speed reducer, a pulley, and a rope. One end of the rope is connected to the shading plate 41, while the other end of the rope is connected to a pulley connected to the stepping motor and reducer. The drive unit 42 drives the stepping motor under the control of the drive control unit 43, and moves the light-shielding plate 41 along the solar cell module 20 by winding or pulling out the rope with a pulley. The drive unit 42 may be configured to move the light-shielding plate 41 downward along the gantry 30 by utilizing the weight of the light-shielding plate 41.

駆動制御部43は、診断装置17の遮光制御部171からの指示に従い、駆動部42を制御する。例えば、駆動制御部43は、遮光制御部171からの診断開始の指示に従って、ガイド枠50の上端部近傍に設けられた初期位置から遮光板41を下降させる一方、ガイド枠50の下端部近傍から遮光板41を上昇させ、初期位置に復帰させる。例えば、駆動制御部43は、1m/1~10秒の速度で遮光板41を移動させる。 The drive control unit 43 controls the drive unit 42 according to an instruction from the light-shielding control unit 171 of the diagnostic device 17. For example, the drive control unit 43 lowers the light-shielding plate 41 from the initial position provided near the upper end portion of the guide frame 50 in accordance with the instruction from the light-shielding control unit 171 to start the diagnosis, while the drive control unit 43 lowers the light-shielding plate 41 from the vicinity of the lower end portion of the guide frame 50. The shading plate 41 is raised and returned to the initial position. For example, the drive control unit 43 moves the light-shielding plate 41 at a speed of 1 m / 1 to 10 seconds.

なお、ここでは診断装置17の遮光制御部171からの指示に応じて遮光板41を駆動する場合について説明している。しかしながら、遮光板41の駆動については、これに限定されるものではなく適宜変更が可能である。例えば、遮光機構40に作業者からの指示を受け付ける操作部を備え、この操作部に入力された指示内容に応じて遮光板41を駆動する構成としてもよい。この場合には、太陽電池モジュール20を目視しながら遮光板41の移動状態を操作することができる。 Here, a case where the light-shielding plate 41 is driven in response to an instruction from the light-shielding control unit 171 of the diagnostic apparatus 17 will be described. However, the drive of the light-shielding plate 41 is not limited to this, and can be changed as appropriate. For example, the light-shielding mechanism 40 may be provided with an operation unit that receives an instruction from an operator, and the light-shielding plate 41 may be driven according to the content of the instruction input to the operation unit. In this case, the moving state of the light-shielding plate 41 can be operated while visually observing the solar cell module 20.

ここで、本実施の形態に係る遮光機構40による太陽電池モジュール20の遮光位置について、図4を参照して説明する。図4は、本実施の形態に係る診断システム10が有する遮光機構40による遮光位置を説明するための模式図である。なお、図4では、説明の便宜上、太陽電池アレイ11を構成する9つの太陽電池モジュール20に符号20a~20iを付している。また、図4では、太陽電池モジュール20a~20cにガイド枠50を配置した場合について示している。さらに、図4では、説明の便宜上、太陽電池モジュール20cにのみ、サブストリング203を示している。 Here, the light-shielding position of the solar cell module 20 by the light-shielding mechanism 40 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a light-shielding position by the light-shielding mechanism 40 of the diagnostic system 10 according to the present embodiment. In FIG. 4, for convenience of explanation, the nine solar cell modules 20 constituting the solar cell array 11 are designated by reference numerals 20a to 20i. Further, FIG. 4 shows a case where the guide frame 50 is arranged in the solar cell modules 20a to 20c. Further, in FIG. 4, for convenience of explanation, the substring 203 is shown only in the solar cell module 20c.

初期状態において、遮光板41は、ガイド枠50の上端部であって太陽電池モジュール20a~20cから退避した初期位置に配置される(図4に示す状態)。この場合、遮光板41は、駆動部42を構成するステッピングモータでロープをプーリに巻き取ることで初期位置に配置された状態となっている。初期状態では、このように遮光板41が太陽電池モジュール20a~20cから退避しているため、遮光機構40により入射光が遮光されることはない。 In the initial state, the light-shielding plate 41 is arranged at the upper end of the guide frame 50 at the initial position retracted from the solar cell modules 20a to 20c (state shown in FIG. 4). In this case, the light-shielding plate 41 is in a state of being arranged at the initial position by winding the rope around the pulley by the stepping motor constituting the drive unit 42. In the initial state, since the light-shielding plate 41 is retracted from the solar cell modules 20a to 20c in this way, the incident light is not shielded by the light-shielding mechanism 40.

詳細について後述するように、診断装置17から太陽電池モジュール20a~20cの異常の診断指示が入ると、遮光制御部171の制御の下、遮光機構40は、遮光板41をガイド枠50(より具体的には、枠体部51)に沿って初期位置から下降させる(図3参照)。そして、ガイド枠50の下端部に設けられた退避位置で一旦停止した後、ガイド枠50に沿って退避位置から上昇させて初期位置に戻す。図4においては、説明の便宜上、太陽電池モジュール20bの中央のサブストリング203を遮蔽した状態の遮光板41と、退避位置で停止した状態の遮光板41とを破線で示している。 As will be described in detail later, when a diagnostic instruction for an abnormality in the solar cell modules 20a to 20c is received from the diagnostic apparatus 17, the light-shielding mechanism 40 uses the light-shielding plate 41 as a guide frame 50 (more specifically) under the control of the light-shielding control unit 171. Specifically, it is lowered from the initial position along the frame body portion 51) (see FIG. 3). Then, after temporarily stopping at the retracted position provided at the lower end of the guide frame 50, the guide frame 50 is raised from the retracted position along the guide frame 50 and returned to the initial position. In FIG. 4, for convenience of explanation, the light-shielding plate 41 in a state where the substring 203 in the center of the solar cell module 20b is shielded and the light-shielding plate 41 in a state where the substring 203 is stopped at the retracted position are shown by broken lines.

このように太陽電池モジュール20a~20cに沿って上下方向に移動させることにより、遮光板41は、太陽電池モジュール20a~20cに含まれるサブストリング203をそれぞれ遮蔽しながら移動する。なお、隣り合うサブストリング203間を移動する場合には、遮光板41は、上方側のサブストリング203の一部と、下方側のサブストリング203の一部とを遮蔽した状態となる。 By moving in the vertical direction along the solar cell modules 20a to 20c in this way, the light-shielding plate 41 moves while shielding the substrings 203 included in the solar cell modules 20a to 20c, respectively. When moving between adjacent substrings 203, the shading plate 41 is in a state of shielding a part of the upper substring 203 and a part of the lower substring 203.

なお、太陽電池モジュール20d~20f、並びに、太陽電池モジュール20g~20iに対する異常診断を行う場合には、作業者によりガイド枠50が対応する位置に移動される。そして、上述したように、ガイド枠50に沿って遮光板41を初期位置から下降させた後、退避位置を経由して再び初期位置まで上昇させる。 When performing an abnormality diagnosis on the solar cell modules 20d to 20f and the solar cell modules 20g to 20i, the guide frame 50 is moved to the corresponding position by the operator. Then, as described above, the light-shielding plate 41 is lowered from the initial position along the guide frame 50, and then raised again to the initial position via the retracted position.

次に、このような板遮光板41の駆動に伴って検出されるストリング電流の波形パターンについて、図5を参照して説明する。図5は、本実施の形態に係る診断システム10が有する遮光板41の駆動に伴って検出されるストリング電流の波形パターンの説明図である。図5においては、鳥類の糞などによってモジュール表面が汚染し、或いは、飛来物の衝突などによってモジュール表面が破損していない状態(正常状態)におけるストリング電流の波形パターンについて示している。図5に示すストリング電流の波形パターンは、標準波形パターンに相当する。 Next, the waveform pattern of the string current detected by driving the plate shading plate 41 will be described with reference to FIG. FIG. 5 is an explanatory diagram of a waveform pattern of a string current detected by driving a light-shielding plate 41 included in the diagnostic system 10 according to the present embodiment. FIG. 5 shows a waveform pattern of a string current in a state where the module surface is not contaminated by bird droppings or the like, or the module surface is not damaged by a collision of flying objects (normal state). The waveform pattern of the string current shown in FIG. 5 corresponds to a standard waveform pattern.

なお、説明の便宜上、図5においては、遮光板41が2枚の太陽電池モジュール20a、20b上を移動する場合について説明するものとする。また、図5においては、太陽電池モジュール20aに含まれるサブストリング203をA1~A3と示し、太陽電池モジュール20bに含まれるサブストリング203をB1~B3と示している。さらに、図5においては、図4に示す太陽電池モジュール20の配置を上下反転して示している。 For convenience of explanation, in FIG. 5, a case where the light-shielding plate 41 moves on the two solar cell modules 20a and 20b will be described. Further, in FIG. 5, the substrings 203 included in the solar cell module 20a are shown as A1 to A3, and the substrings 203 included in the solar cell module 20b are shown as B1 to B3. Further, in FIG. 5, the arrangement of the solar cell module 20 shown in FIG. 4 is shown upside down.

初期位置に配置された状態(図5に示す状態)の遮光板41は、診断指示に応じて太陽電池モジュール20aのサブストリングA1、A2、A3上を移動した後、太陽電池モジュール20bのサブストリングB1、B2、B3上を移動する(下方移動)。その後、遮光板41は、太陽電池モジュール20bのサブストリングB3、B2、B1上を移動した後、太陽電池モジュール20aのサブストリングA3、A2、A1上を移動する(上方移動)。 The light-shielding plate 41 arranged in the initial position (the state shown in FIG. 5) moves on the substrings A1, A2, and A3 of the solar cell module 20a according to the diagnostic instruction, and then the substring of the solar cell module 20b. Move on B1, B2, B3 (downward movement). After that, the light-shielding plate 41 moves on the substrings B3, B2, and B1 of the solar cell module 20b, and then moves on the substrings A3, A2, and A1 of the solar cell module 20a (upward movement).

図5の右方には、このように初期位置から上下移動する過程における遮光板41の位置を示している。すなわち、初期状態において、遮光板41は、初期位置P0に配置される。下方移動に伴い、遮光板41は、位置P1から位置P2、位置P3、…の順に位置P12に進む。その後、遮光板41は、上方移動に伴い、位置P12から位置P11、位置P10、…の順に初期位置P0に進む。 On the right side of FIG. 5, the position of the light-shielding plate 41 in the process of moving up and down from the initial position is shown. That is, in the initial state, the shading plate 41 is arranged at the initial position P0. With the downward movement, the shading plate 41 advances from the position P1 to the position P2, the position P3, and so on to the position P12. After that, the light-shielding plate 41 advances from the position P12 to the initial position P0 in the order of the position P11, the position P10, ... As the light-shielding plate 41 moves upward.

上述したように、初期位置P0において、遮光板41は、太陽電池モジュール20a(より具体的には、サブストリングA1)から退避した状態である。位置P1において、遮光板41は、サブストリングA1の一部を遮蔽した状態である。位置P2において、遮光板41は、サブストリングA1のみを遮蔽した状態である。位置P3において、遮光板41は、サブストリングA1、A2の双方の一部を遮蔽した状態である。位置P4において、遮光板41は、サブストリングA2のみを遮蔽した状態である。位置P5において、遮光板41は、サブストリングA2、A3の双方の一部を遮蔽した状態である。位置P6において、遮光板41は、サブストリングA3のみを遮蔽した状態である。 As described above, at the initial position P0, the light-shielding plate 41 is in a state of being retracted from the solar cell module 20a (more specifically, the substring A1). At the position P1, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of the substring A1. At the position P2, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring A1. At the position P3, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of both the substrings A1 and A2. At the position P4, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring A2. At the position P5, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of both the substrings A2 and A3. At the position P6, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring A3.

位置P7において、遮光板41は、サブストリングA3、B1の双方の一部を遮蔽した状態である。位置P8において、遮光板41は、サブストリングB1のみを遮蔽した状態である。位置P9において、遮光板41は、サブストリングB1、B2の双方の一部を遮蔽した状態である。位置P10において、遮光板41は、サブストリングB2のみを遮蔽した状態である。位置P11において、遮光板41は、サブストリングB2、B3の双方の一部を遮蔽した状態である。位置P12において、遮光板41は、サブストリングB3のみを遮蔽した状態である。 At the position P7, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of both the substrings A3 and B1. At the position P8, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring B1. At position P9, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of both substrings B1 and B2. At the position P10, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring B2. At the position P11, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding a part of both the substrings B2 and B3. At the position P12, the light-shielding plate 41 is in a state of shielding only the substring B3.

なお、ここでは、説明の便宜上、特定のサブストリングを遮蔽する位置(例えば、位置P2)、並びに、隣り合うサブストリング(例えば、サブストリングA1、A2)の中間位置(例えば、位置P3)のみを示している。遮光板41の実際の移動時には、これら以外の位置に配置され、隣り合うサブストリングの双方の一部を遮蔽する状態が存在するが、それらの位置については省略している。 Here, for convenience of explanation, only a position (for example, position P2) that shields a specific substring and an intermediate position (for example, position P3) between adjacent substrings (for example, substrings A1 and A2) are used. Shows. At the time of actual movement of the shading plate 41, there is a state in which it is arranged at a position other than these and shields a part of both of the adjacent substrings, but those positions are omitted.

このような遮光板41の上下移動に伴って発生するストリング電流の波形パターンについて説明する。初期位置P0では、太陽電池モジュール20a、20bに含まれる全てのサブストリングA1~A3、B1~B3が遮蔽されていない。このため、ストリング電流は、太陽電池モジュール20a、20bが適切に発電した場合の基準値(基準電流値)Xを示す。 The waveform pattern of the string current generated by the vertical movement of the light-shielding plate 41 will be described. At the initial position P0, all the substrings A1 to A3 and B1 to B3 included in the solar cell modules 20a and 20b are not shielded. Therefore, the string current indicates a reference value (reference current value) X when the solar cell modules 20a and 20b appropriately generate power.

位置P1では、サブストリングA1の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1(基準値Xから検査波形の1単位分を引いた値)を示す。位置P2では、サブストリングA1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P3では、サブストリングA1、A2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1、A2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2(基準値Xから検査波形の2単位分を引いた値)を示す。 Since a part of the substring A1 is shielded at the position P1, the substring A1 is separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-1 (from the reference value X to the inspection waveform) as a detection value. The value obtained by subtracting one unit) is shown. At position P2, since the entire substring A1 is shielded, the substring A1 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P3, since a part of both substrings A1 and A2 is shielded, the substrings A1 and A2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-2 (reference value) as a detected value. A value obtained by subtracting 2 units of the inspection waveform from the value X) is shown.

上述したように、ストリング電流の波形パターンは、パワーコンディショナ14によるMPPT制御の電圧更新時に変化するストリング電流の値に応じて検出される。MPPT制御の電圧更新時において、いずれか1つのサブストリング203に異常が発生すると、ストリング電流値は僅かに変化する。例えば、0.4A~0.7Aの電流値の低下が検出される。測定装置15では、このような範囲における電流値の低下を検査波形の一単位として検出する。この場合、測定装置15は、ストリング電流値の検出値として、基準値X-1を検出する。同様に、いずれか2つのサブストリング203に異常が発生すると、測定装置15は、例えば、0.8A~1.4Aのストリング電流値の低下を検出する。この場合、測定装置15は、ストリング電流の検出値として基準値X-2を検出する。本実施の形態に係る診断システム10では、このようなストリング電流の変化を、遮光板41の移動に伴って仮想的に作り出し、その波形パターンから太陽電池モジュール20の異常を判定する。 As described above, the waveform pattern of the string current is detected according to the value of the string current that changes when the voltage of the MPPT control by the power conditioner 14 is updated. If an abnormality occurs in any one of the substrings 203 during the voltage update of the MPPT control, the string current value changes slightly. For example, a decrease in the current value of 0.4A to 0.7A is detected. The measuring device 15 detects a decrease in the current value in such a range as a unit of the inspection waveform. In this case, the measuring device 15 detects the reference value X-1 as the detected value of the string current value. Similarly, when an abnormality occurs in any two substrings 203, the measuring device 15 detects a decrease in the string current value of, for example, 0.8A to 1.4A. In this case, the measuring device 15 detects the reference value X-2 as the detected value of the string current. In the diagnostic system 10 according to the present embodiment, such a change in the string current is virtually created with the movement of the light-shielding plate 41, and the abnormality of the solar cell module 20 is determined from the waveform pattern thereof.

位置P4では、サブストリングA2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P5では、サブストリングA2、A3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P6では、サブストリングA3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。 At the position P4, since the entire substring A2 is shielded, the substring A2 is separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P5, since a part of both substrings A2 and A3 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P6, since the entire substring A3 is shielded, the substring A3 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value.

位置P7では、サブストリングA3、B1の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA3、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P8では、サブストリングB1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P9では、サブストリングB1、B2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB1、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。 At position P7, since a part of both substrings A3 and B1 is shielded, the substrings A3 and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P8, since the entire substring B1 is shielded, the substring B1 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P9, since a part of both substrings B1 and B2 are shielded, the substrings B1 and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. ..

位置P10では、サブストリングB2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P11では、サブストリングB2、B3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB2、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P12では、サブストリングB3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。以上は、遮光板41の下方移動に伴うストリング電流値を示している。遮光板41の上方移動においては、これらの逆の順番にストリング電流値が推移する。 At position P10, since the entire substring B2 is shielded, the substring B2 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P11, since a part of both substrings B2 and B3 are shielded, the substrings B2 and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P12, since the entire substring B3 is shielded, the substring B3 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. The above shows the string current value accompanying the downward movement of the light-shielding plate 41. In the upward movement of the light-shielding plate 41, the string current value changes in the reverse order of these.

このように遮光板41の移動に伴い、ストリング電流は、位置P1に配置される場合を除き、検出値として基準値X-1と基準値X-2とを交互に繰り返す。すなわち、遮光板41の駆動に伴って発生するストリング電流の波形パターンは、位置P2以降の一定区間において、検出値として基準値X-1と基準値X-2とを交互に繰り返す波形パターンとなる。言い換えると、ストリング電流の波形パターンは、位置P2~P12において、櫛歯状の波形パターンを構成する。この波形パターンは、標準波形パターンを構成する。診断装置17の記憶部172は、このような標準波形パターンを記憶する。 As the light-shielding plate 41 moves in this way, the string current alternately repeats the reference value X-1 and the reference value X-2 as detection values, except when the string current is arranged at the position P1. That is, the waveform pattern of the string current generated by driving the light-shielding plate 41 is a waveform pattern in which the reference value X-1 and the reference value X-2 are alternately repeated as detection values in a certain section after the position P2. .. In other words, the waveform pattern of the string current constitutes a comb-shaped waveform pattern at positions P2 to P12. This waveform pattern constitutes a standard waveform pattern. The storage unit 172 of the diagnostic apparatus 17 stores such a standard waveform pattern.

次に、本実施の形態に係る診断システム10における太陽電池モジュール20の診断方法について、図6を参照して説明する。図6は、本実施の形態に係る診断システム10における太陽電池モジュール20の診断方法について説明するためのフロー図である。 Next, a method of diagnosing the solar cell module 20 in the diagnostic system 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flow chart for explaining a diagnostic method of the solar cell module 20 in the diagnostic system 10 according to the present embodiment.

図6に示すように、太陽電池モジュール20の正常/異常を診断する場合、まず、診断対象となる太陽電池モジュール20が特定される(ステップ(以下、「ST」という)601)。診断対象となる太陽電池モジュール20は、例えば、定期的なメンテナンススケジュール等に応じて特定することができる。なお、測定装置15によるストリング電流の測定結果と、測定状況下の日射量から換算されるストリング電流との乖離から診断対象となる太陽電池モジュール20を特定してもよい。 As shown in FIG. 6, when diagnosing the normality / abnormality of the solar cell module 20, first, the solar cell module 20 to be diagnosed is specified (step (hereinafter referred to as “ST”) 601). The solar cell module 20 to be diagnosed can be specified according to, for example, a periodic maintenance schedule or the like. The solar cell module 20 to be diagnosed may be specified from the difference between the measurement result of the string current by the measuring device 15 and the string current converted from the amount of solar radiation under the measurement condition.

診断対象となる太陽電池モジュール20を特定する際には、作業者等により当該太陽電池モジュール20に対応する位置にガイド枠50が配置される(図3参照)。遮光機構40の遮光板41は、このガイド枠50の初期位置に配置されている。診断対象となる太陽電池モジュール20が特定されると、判定部173は、遮光制御部171に対して診断開始を指示する(ST602)。 When the solar cell module 20 to be diagnosed is specified, the guide frame 50 is arranged at a position corresponding to the solar cell module 20 by an operator or the like (see FIG. 3). The light-shielding plate 41 of the light-shielding mechanism 40 is arranged at the initial position of the guide frame 50. When the solar cell module 20 to be diagnosed is specified, the determination unit 173 instructs the light-shielding control unit 171 to start the diagnosis (ST602).

診断開始の指示を受けると、遮光制御部171は、遮光機構40の駆動制御部43を介して遮光板41の駆動制御を実行する(ST603)。駆動部42は、駆動制御部43の制御の下、サブストリング203の配列方向に太陽電池モジュール20に沿って遮光板41を駆動する。これにより、遮光板41は、図4に示した要領で診断対象となる太陽電池モジュール20上をスライドしながら遮光する。言い換えると、遮光板41は、サブストリング203に相当する遮光領域を変更しながら太陽電池モジュール20に沿って移動する。 Upon receiving the instruction to start the diagnosis, the light-shielding control unit 171 executes the drive control of the light-shielding plate 41 via the drive control unit 43 of the light-shielding mechanism 40 (ST603). The drive unit 42 drives the light-shielding plate 41 along the solar cell module 20 in the arrangement direction of the substring 203 under the control of the drive control unit 43. As a result, the light-shielding plate 41 slides on the solar cell module 20 to be diagnosed and shields light as shown in FIG. In other words, the shading plate 41 moves along the solar cell module 20 while changing the shading region corresponding to the substring 203.

遮光板41が駆動されている間、測定装置15は、診断対象となる太陽電池モジュール20におけるストリング電流を測定する。また、測定装置15は、測定されたストリング電流に応じて、ストリング電流の波形パターンを検出する。測定装置15が測定したストリング電流、並びに、測定装置15が検出したストリング電流の波形パターン(検出波形パターン)は、受信サーバ16に出力されて保存される。 While the light-shielding plate 41 is being driven, the measuring device 15 measures the string current in the solar cell module 20 to be diagnosed. Further, the measuring device 15 detects the waveform pattern of the string current according to the measured string current. The string current measured by the measuring device 15 and the waveform pattern (detected waveform pattern) of the string current detected by the measuring device 15 are output to the receiving server 16 and stored.

遮光制御を実行した後、判定部173は、遮光板41の駆動制御が終了したか判定する(ST604)。判定部173は、遮光制御部171から遮光板41の駆動を終了した旨の通知の有無により遮光板41の駆動制御の終了を判定する。遮光板41の駆動終了の通知が受けるまでは(ST604:No)、遮光制御部171による遮光板41の駆動制御が継続される。 After executing the light-shielding control, the determination unit 173 determines whether the drive control of the light-shielding plate 41 is completed (ST604). The determination unit 173 determines the end of the drive control of the light-shielding plate 41 based on the presence or absence of a notification from the light-shielding control unit 171 that the drive of the light-shielding plate 41 has been completed. Until the notification of the end of driving of the light-shielding plate 41 is received (ST604: No), the drive control of the light-shielding plate 41 by the light-shielding control unit 171 is continued.

遮光板41の駆動制御が終了すると(ST604:Yes)、判定部173は、受信サーバ16から、診断対象となる太陽電池モジュール20のストリング電流の波形パターン(検出波形パターン)を取得する(ST605)。受信サーバ16には、遮光板41の駆動に伴って検出された検出波形パターンが保存されている。そして、判定部173は、記憶部172から標準波形パターン(図5参照)を取り込む(ST606)。上述したように、標準波形パターンは、予め記憶部172に保存されている。 When the drive control of the light-shielding plate 41 is completed (ST604: Yes), the determination unit 173 acquires the waveform pattern (detection waveform pattern) of the string current of the solar cell module 20 to be diagnosed from the receiving server 16 (ST605). .. The receiving server 16 stores the detected waveform pattern detected by driving the shading plate 41. Then, the determination unit 173 captures the standard waveform pattern (see FIG. 5) from the storage unit 172 (ST606). As described above, the standard waveform pattern is stored in the storage unit 172 in advance.

標準波形パターンを取り込んだ後、判定部173は、ST605で取得した検出波形パターンと標準波形パターンとが一致するかを判定する(ST607)。この判定処理により、診断対象とされる太陽電池モジュール20の正常/異常が特定される。 After capturing the standard waveform pattern, the determination unit 173 determines whether the detected waveform pattern acquired by ST605 and the standard waveform pattern match (ST607). By this determination process, the normality / abnormality of the solar cell module 20 to be diagnosed is specified.

検出波形パターンと標準波形パターンとが一致する場合(ST607:Yes)、判定部173は、診断対象とされる太陽電池モジュール20が正常である(異常なし)と判定する(ST608)。そして、判定部173は、表示部174に対して判定結果の出力を指示する。これに応じて、表示部174は、判定結果を出力する(ST609)。その後、判定部173は、通信部175に対して、監視装置18に対する判定結果の送信を指示する。これに応じて、通信部175は、判定結果を監視装置18に送信する(ST610)。 When the detected waveform pattern and the standard waveform pattern match (ST607: Yes), the determination unit 173 determines that the solar cell module 20 to be diagnosed is normal (no abnormality) (ST608). Then, the determination unit 173 instructs the display unit 174 to output the determination result. In response to this, the display unit 174 outputs the determination result (ST609). After that, the determination unit 173 instructs the communication unit 175 to transmit the determination result to the monitoring device 18. In response to this, the communication unit 175 transmits the determination result to the monitoring device 18 (ST610).

一方、検出波形パターンと標準波形パターンとが一致しない場合(ST607:No)、判定部173は、診断対象とされる太陽電池モジュール20が異常であると判定する。この場合、判定部173は、異常ありと診断された場合の統計を取るために、今回の診断における測定時間及び判定結果を受信サーバ16に保存する(ST611、ST612)。その後、太陽電池モジュール20を正常と判定した場合と同様に、判定部173は、表示部174に判定結果を出力させると共に(ST609)、通信部175から判定結果を監視装置18に送信する(ST610)。 On the other hand, when the detected waveform pattern and the standard waveform pattern do not match (ST607: No), the determination unit 173 determines that the solar cell module 20 to be diagnosed is abnormal. In this case, the determination unit 173 saves the measurement time and the determination result in this diagnosis in the receiving server 16 (ST611, ST612) in order to obtain statistics when it is diagnosed that there is an abnormality. After that, as in the case where the solar cell module 20 is determined to be normal, the determination unit 173 causes the display unit 174 to output the determination result (ST609), and the communication unit 175 transmits the determination result to the monitoring device 18 (ST610). ).

ここで、図6に示すST607で異常ありと判定される検出波形パターンの一例について、図7~図9を参照して説明する。図7~図9は、本実施の形態に係る診断システム10において検出される、不具合を有する太陽電池モジュール20のストリング電流の波形パターンの一例の説明図である。なお、図7~図9において、図5と共通の構成については、同一の符号を付与してその説明を省略する。 Here, an example of the detected waveform pattern determined to have an abnormality in ST607 shown in FIG. 6 will be described with reference to FIGS. 7 to 9. 7 to 9 are explanatory views of an example of the waveform pattern of the string current of the solar cell module 20 having a defect detected in the diagnostic system 10 according to the present embodiment. In FIGS. 7 to 9, the same reference numerals are given to the configurations common to those in FIGS. 5, and the description thereof will be omitted.

図7においては、太陽電池モジュール20aに含まれるサブストリングA2に不具合が発生した場合について示している。サブストリングA2に不具合が発生すると、遮光板41が初期位置P0に配置された場合であっても、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。これは、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2が切り離されるためである。 FIG. 7 shows a case where a defect occurs in the substring A2 included in the solar cell module 20a. When a defect occurs in the substring A2, the string current shows a reference value X-1 as a detection value even when the light-shielding plate 41 is arranged at the initial position P0. This is because the substring A2 is separated by the action of the bypass diode 202.

位置P1では、サブストリングA1の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1、A2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P2では、サブストリングA1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1、A2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。 Since a part of the substring A1 is shielded at the position P1, the substrings A1 and A2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. At the position P2, since the entire substring A1 is shielded, the substrings A1 and A2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value.

位置P3では、サブストリングA1、A2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1、A2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。サブストリングA2は、不具合に応じて切り離されている。このため、位置P3におけるストリング電流は、遮光板41による遮蔽の有無に関わらず、位置P2におけるストリング電流と不変である。 At position P3, since a part of both substrings A1 and A2 is shielded, the substrings A1 and A2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. The substring A2 is separated according to the defect. Therefore, the string current at the position P3 is invariant to the string current at the position P2 regardless of the presence or absence of shielding by the light-shielding plate 41.

位置P4では、サブストリングA2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。不具合のあるサブストリングA2のみが遮光板41によって遮蔽されることにより、位置P3に配置される場合と比べ、ストリング電流値が上昇している。 At the position P4, since the entire substring A2 is shielded, the substring A2 is separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. Since only the defective substring A2 is shielded by the light-shielding plate 41, the string current value is higher than that in the case where it is arranged at the position P3.

位置P5では、サブストリングA2、A3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P6では、サブストリングA3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。 At position P5, since a part of both substrings A2 and A3 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P6, since the entire substring A3 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value.

位置P7では、サブストリングA3、B1の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P8では、サブストリングB1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P9では、サブストリングB1、B2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、B1、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。 At position P7, since a part of both substrings A3 and B1 is shielded, the substrings A2, A3, and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-3 as a detected value. Is shown. At position P8, since the entire substring B1 is shielded, the substrings A2 and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. At position P9, since a part of both substrings B1 and B2 are shielded, the substrings A2, B1 and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-3 as a detected value. Is shown.

位置P10では、サブストリングB2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P11では、サブストリングB2、B3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、B2、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P12では、サブストリングB3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。以上は、遮光板41の下方移動に伴うストリング電流値を示している。遮光板41の上方移動においては、これらの逆の順番にストリング電流値が推移する。 At the position P10, since the entire substring B2 is shielded, the substrings A2 and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. At position P11, since a part of both substrings B2 and B3 is shielded, the substrings A2, B2, and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-3 as a detected value. Is shown. At position P12, since the entire substring B3 is shielded, the substrings A2 and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. The above shows the string current value accompanying the downward movement of the light-shielding plate 41. In the upward movement of the light-shielding plate 41, the string current value changes in the reverse order of these.

太陽電池モジュール20aに含まれるサブストリングA2に不具合が発生している場合、検出波形パターンは、図7に示すように、位置P1~P5において標準波形パターンと異なっている。言い換えると、位置P1~P5において、検出波形パターンは、櫛歯状の波形パターンとなっていない。このため、図6に示すST607では、検出波形パターンと標準波形パターン(図5参照)とが一致していないと判定され、診断対象とされた太陽電池モジュール20a、20bに異常が発生したことが特定される。 When the substring A2 included in the solar cell module 20a has a defect, the detected waveform pattern is different from the standard waveform pattern at positions P1 to P5 as shown in FIG. 7. In other words, at positions P1 to P5, the detected waveform pattern is not a comb-shaped waveform pattern. Therefore, in ST607 shown in FIG. 6, it is determined that the detected waveform pattern and the standard waveform pattern (see FIG. 5) do not match, and an abnormality has occurred in the solar cell modules 20a and 20b to be diagnosed. Be identified.

図8においては、太陽電池モジュール20aに含まれるサブストリングA2、A3に不具合が発生した場合について示している。サブストリングA2、A3に不具合が発生すると、遮光板41が初期位置P0に配置された場合であっても、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。これは、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離されるためである。 FIG. 8 shows a case where a defect occurs in the substrings A2 and A3 included in the solar cell module 20a. When a problem occurs in the substrings A2 and A3, the string current shows a reference value X-2 as a detected value even when the light-shielding plate 41 is arranged at the initial position P0. This is because the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202.

位置P1では、サブストリングA1の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1~A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P2では、サブストリングA1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1~A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P3では、サブストリングA1、A2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1~A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。 At the position P1, since a part of the substring A1 is shielded, the substrings A1 to A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. At the position P2, since the entire substring A1 is shielded, the substrings A1 to A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. At position P3, since a part of both substrings A1 and A2 is shielded, the substrings A1 to A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. ..

位置P4では、サブストリングA2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。不具合のあるサブストリングA2のみが遮光板41によって遮蔽されることにより、位置P3に配置される場合と比べ、ストリング電流値が上昇している。位置P5では、サブストリングA2、A3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P6では、サブストリングA3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。 At the position P4, since the entire substring A2 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. Since only the defective substring A2 is shielded by the light-shielding plate 41, the string current value is higher than that in the case where it is arranged at the position P3. At position P5, since a part of both substrings A2 and A3 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P6, since the entire substring A3 is shielded, the substrings A2 and A3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value.

位置P7では、サブストリングA3、B1の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P8では、サブストリングB1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P9では、サブストリングB1、B2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B1、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-4を示す。 At position P7, since a part of both substrings A3 and B1 is shielded, the substrings A2, A3, and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X-3 as a detected value. Is shown. At position P8, since the entire substring B1 is shielded, the substrings A2, A3, and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. At position P9, since a part of both substrings B1 and B2 are shielded, the substrings A2, A3, B1 and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X as a detected value. -4 is shown.

位置P10では、サブストリングB2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。位置P11では、サブストリングB2、B3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B2、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-4を示す。位置P12では、サブストリングB3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA2、A3、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-3を示す。以上は、遮光板41の下方移動に伴うストリング電流値を示している。遮光板41の上方移動においては、これらの逆の順番にストリング電流値が推移する。 At position P10, since the entire substring B2 is shielded, the substrings A2, A3, and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. At position P11, since a part of both substrings B2 and B3 are shielded, the substrings A2, A3, B2, and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current is the reference value X as a detected value. -4 is shown. At position P12, since the entire substring B3 is shielded, the substrings A2, A3, and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-3 as a detected value. The above shows the string current value accompanying the downward movement of the light-shielding plate 41. In the upward movement of the light-shielding plate 41, the string current value changes in the reverse order of these.

太陽電池モジュール20aに含まれるサブストリングA2、A3に不具合が発生している場合、検出波形パターンは、図8に示すように、位置P1~P8において標準波形パターンと異なっている。言い換えると、位置P1~P8において、検出波形パターンは、櫛歯状の波形パターンとなっていない。このため、図6に示すST607では、検出波形パターンと標準波形パターン(図5参照)とが一致していないと判定され、診断対象とされた太陽電池モジュール20a、20bに異常が発生したことが特定される。 When the substrings A2 and A3 included in the solar cell module 20a have a problem, the detected waveform pattern is different from the standard waveform pattern at the positions P1 to P8 as shown in FIG. In other words, at positions P1 to P8, the detected waveform pattern is not a comb-shaped waveform pattern. Therefore, in ST607 shown in FIG. 6, it is determined that the detected waveform pattern and the standard waveform pattern (see FIG. 5) do not match, and an abnormality has occurred in the solar cell modules 20a and 20b to be diagnosed. Be identified.

図9においては、太陽電池モジュール20aに含まれる、サブストリングA2バイパスするバイパスダイオード202Aに不具合が発生した場合について示している。なお、図9においては、バイパスダイオード202Aの不具合として、バイパスダイオード202Aにおけるオープン故障時における異常診断の例を示している。図9に示すように、バイパスダイオード202Aに不具合が発生している場合であっても、遮光板41が初期位置P0に配置されていると、ストリング電流に影響はなく、検出値として基準値Xを示す。これは、サブストリングA2に不具合がなく、バイパスダイオード202Aが作用していないためである。 FIG. 9 shows a case where a problem occurs in the bypass diode 202A that bypasses the substring A2 included in the solar cell module 20a. Note that FIG. 9 shows an example of abnormality diagnosis at the time of an open failure in the bypass diode 202A as a defect of the bypass diode 202A. As shown in FIG. 9, even when the bypass diode 202A has a problem, if the light-shielding plate 41 is arranged at the initial position P0, the string current is not affected and the reference value X is used as the detected value. Is shown. This is because the substring A2 has no problem and the bypass diode 202A is not working.

位置P1では、サブストリングA1の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P2では、サブストリングA1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。 At the position P1, since a part of the substring A1 is shielded, the substring A1 is separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P2, since the entire substring A1 is shielded, the substring A1 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value.

位置P3では、サブストリングA1、A2の双方の一部が遮蔽される。このとき、サブストリングA2をバイパスするバイパスダイオード202Aに不具合が発生していることから、太陽電池モジュール20aのストリング電流は0となる。同様に、位置P4、P5でも、サブストリングA2の全部又は一部が遮蔽されることから、太陽電池モジュール20aのストリング電流は0となる。 At position P3, parts of both substrings A1 and A2 are shielded. At this time, since the bypass diode 202A that bypasses the substring A2 has a problem, the string current of the solar cell module 20a becomes 0. Similarly, at positions P4 and P5, the string current of the solar cell module 20a becomes 0 because all or part of the substring A2 is shielded.

位置P6では、サブストリングA2を越え、サブストリングA3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P7では、サブストリングA3、B1の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングA3、B1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P8では、サブストリングB1の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB1が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P9では、サブストリングB1、B2の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB1、B2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。 At the position P6, since the substring A2 is exceeded and the entire substring A3 is shielded, the substring A3 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P7, since a part of both substrings A3 and B1 is shielded, the substrings A3 and B1 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P8, since the entire substring B1 is shielded, the substring B1 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P9, since a part of both substrings B1 and B2 are shielded, the substrings B1 and B2 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. ..

位置P10では、サブストリングB2の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB2が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。位置P11では、サブストリングB2、B3の双方の一部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB2、B3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-2を示す。位置P12では、サブストリングB3の全部が遮蔽されることから、バイパスダイオード202の作用によりサブストリングB3が切り離され、ストリング電流は、検出値として基準値X-1を示す。以上は、遮光板41の下方移動に伴うストリング電流値を示している。遮光板41の上方移動においては、これらの逆の順番にストリング電流値が推移する。 At position P10, since the entire substring B2 is shielded, the substring B2 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. At position P11, since a part of both substrings B2 and B3 are shielded, the substrings B2 and B3 are separated by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-2 as a detected value. .. At position P12, since the entire substring B3 is shielded, the substring B3 is disconnected by the action of the bypass diode 202, and the string current shows a reference value X-1 as a detected value. The above shows the string current value accompanying the downward movement of the light-shielding plate 41. In the upward movement of the light-shielding plate 41, the string current value changes in the reverse order of these.

太陽電池モジュール20aに含まれる、サブストリングA2、A3を接続するバイパスダイオード202Aに不具合が発生している場合、検出波形パターンは、図9に示すように、位置P3~P5において標準波形パターンと異なっている。言い換えると、位置P3~P5において、検出波形パターンは、櫛歯状の波形パターンとなっていない。このため、図6に示すST607では、検出波形パターンと標準波形パターン(図5参照)とが一致していないと判定され、診断対象とされた太陽電池モジュール20a、20bに異常が発生したことが特定される。 When the bypass diode 202A connecting the substrings A2 and A3 included in the solar cell module 20a has a problem, the detected waveform pattern differs from the standard waveform pattern at positions P3 to P5 as shown in FIG. ing. In other words, at positions P3 to P5, the detected waveform pattern is not a comb-shaped waveform pattern. Therefore, in ST607 shown in FIG. 6, it is determined that the detected waveform pattern and the standard waveform pattern (see FIG. 5) do not match, and an abnormality has occurred in the solar cell modules 20a and 20b to be diagnosed. Be identified.

なお、図9に示すバイパスダイオード202Aの不具合は、上述したように、バイパスダイオード202Aにおけるオープン故障時における異常診断の例を示している。診断システム10は、このようなオープン故障のみならず、バイパスダイオード202Aの短絡故障時における異常診断を特定することも可能である。バイパスダイオード202Aの短絡故障時には、遮光板41による遮光制御の有無に関わらず、ストリング電流の波形パターンは変化しない。判定部173は、このように遮光制御の有無に関わらず変化しないストリング電流の波形パターンの検出に基づいて、バイパスダイオード202Aの短絡故障時における異常を判定することができる。 As described above, the defect of the bypass diode 202A shown in FIG. 9 shows an example of abnormality diagnosis at the time of an open failure in the bypass diode 202A. The diagnostic system 10 can specify not only such an open failure but also an abnormality diagnosis at the time of a short circuit failure of the bypass diode 202A. At the time of a short-circuit failure of the bypass diode 202A, the waveform pattern of the string current does not change regardless of the presence or absence of light-shielding control by the light-shielding plate 41. The determination unit 173 can determine an abnormality at the time of a short-circuit failure of the bypass diode 202A based on the detection of the waveform pattern of the string current that does not change regardless of the presence or absence of the light shielding control.

以上説明したように、本実施の形態に係る診断システム10においては、測定装置15によりサブストリング203単位で遮光可能な遮光板41の駆動に伴ってストリング電流の波形パターンが検出され、診断装置17(判定部173)によりその検出結果に基づいて太陽電池モジュール20の異常が判定される。このため、ストリング電流の波形パターンに基づいて太陽電池モジュール20単位で異常判定が行われることから、サブストリング203単位で遮光部材を停止させ、再び駆動させるような作業が不要となる。これにより、太陽電池モジュール20の異常判定に要する労力を低減すると共に、異常判定に要する時間を短縮することができる。この結果、作業に要する労力及びコストの増大を抑制しつつ、部分的に不具合を有する太陽電池モジュール20を容易に検出することが可能となる。 As described above, in the diagnostic system 10 according to the present embodiment, the waveform pattern of the string current is detected by the measuring device 15 as the light-shielding plate 41 capable of blocking light is driven in units of the substring 203, and the diagnostic device 17 is used. (Determining unit 173) determines an abnormality in the solar cell module 20 based on the detection result. Therefore, since the abnormality determination is performed in the solar cell module 20 units based on the waveform pattern of the string current, it is not necessary to stop the light-shielding member in the substring 203 units and drive it again. As a result, the labor required for determining the abnormality of the solar cell module 20 can be reduced, and the time required for determining the abnormality can be shortened. As a result, it becomes possible to easily detect the partially defective solar cell module 20 while suppressing an increase in labor and cost required for the work.

特に、判定部173は、記憶部172に予め保持された標準波形パターン(図5参照)と検出波形パターンの比較により太陽電池モジュール20の異常を判定する。これにより、太陽電池モジュール20に含まれる太陽電池セル201の不具合等に伴う微小なストリング電流の変化を有ノイズ環境下でも検出することができる。この結果、検査測定期間中の日射変動等測定環境に制約されることなく、あるいは日射変動対策のための複雑な処理を要することなく部分的に不具合を有する太陽電池モジュール20を精度良く検出することが可能となる。 In particular, the determination unit 173 determines an abnormality in the solar cell module 20 by comparing the standard waveform pattern (see FIG. 5) previously held in the storage unit 172 with the detected waveform pattern. As a result, it is possible to detect minute changes in the string current due to a malfunction of the solar cell 201 included in the solar cell module 20 even in a noisy environment. As a result, it is possible to accurately detect the partially defective solar cell module 20 without being restricted by the measurement environment such as solar radiation fluctuation during the inspection and measurement period, or without requiring complicated processing for countermeasures against solar radiation fluctuation. Is possible.

また、判定部173は、検出波形パターンにおける標準波形パターンとの不一致箇所に応じて太陽電池モジュール20に含まれる特定のサブストリング203の異常を判定することができる。例えば、図7に示すストリング電流の波形パターンが検出波形パターンとして検出された場合、判定部173は、位置P1~P5の波形パターンを解析することにより、サブストリングA2の異常を特定することができる。また、図8に示すストリング電流の波形パターンが検出波形パターンとして検出された場合、判定部173は、位置P1~P8の波形パターンを解析することにより、サブストリングA2、A3の異常を特定することができる。このように、判定部173は、検出波形パターンにおける標準波形パターンとの不一致の箇所に応じて特定のサブストリング203の異常を判定できることから、太陽電池モジュール20の不具合を分析するための作業に要する労力及びコストを低減することができる。 Further, the determination unit 173 can determine an abnormality of a specific substring 203 included in the solar cell module 20 according to a portion of the detected waveform pattern that does not match the standard waveform pattern. For example, when the waveform pattern of the string current shown in FIG. 7 is detected as the detected waveform pattern, the determination unit 173 can identify the abnormality of the substring A2 by analyzing the waveform patterns of the positions P1 to P5. .. Further, when the waveform pattern of the string current shown in FIG. 8 is detected as the detected waveform pattern, the determination unit 173 identifies the abnormality of the substrings A2 and A3 by analyzing the waveform patterns of the positions P1 to P8. Can be done. As described above, since the determination unit 173 can determine the abnormality of the specific substring 203 according to the portion of the detected waveform pattern that does not match the standard waveform pattern, it is necessary for the work to analyze the defect of the solar cell module 20. Labor and cost can be reduced.

さらに、図9に示すストリング電流の波形パターンが検出波形パターンとして検出された場合、判定部173は、位置P3~P5の波形パターンを解析することにより、バイパスダイオード202Aの異常を特定することができる。このように、判定部173は、検出波形パターンにおける標準波形パターンとの不一致の箇所に応じて特定のバイパスダイオード202の異常を判定できることから、太陽電池モジュール20の不具合を分析するための作業に要する労力及びコストを低減することができる。 Further, when the waveform pattern of the string current shown in FIG. 9 is detected as the detected waveform pattern, the determination unit 173 can identify the abnormality of the bypass diode 202A by analyzing the waveform patterns of the positions P3 to P5. .. As described above, since the determination unit 173 can determine the abnormality of the specific bypass diode 202 according to the portion of the detected waveform pattern that does not match the standard waveform pattern, it is necessary for the work to analyze the defect of the solar cell module 20. Labor and cost can be reduced.

なお、予め不具合の種別に応じた異常波形パターンを記憶部172に記憶しておき、検出波形パターンと比較することにより、太陽電池モジュール20の不具合の種別を特定するようにしてもよい。例えば、異常波形パターンとして、図7に示すストリング電流の波形パターンを記憶部172に記憶する場合、判定部173は、図7に示す検出波形パターンと、記憶部172に記憶された異常波形パターンとの一致を判定することにより、サブストリングA2に不具合が発生していることを容易に特定することができる。 It should be noted that the abnormal waveform pattern corresponding to the type of defect may be stored in the storage unit 172 in advance and compared with the detected waveform pattern to specify the type of defect of the solar cell module 20. For example, when the waveform pattern of the string current shown in FIG. 7 is stored in the storage unit 172 as the abnormal waveform pattern, the determination unit 173 includes the detection waveform pattern shown in FIG. 7 and the abnormal waveform pattern stored in the storage unit 172. By determining the coincidence between the two, it is possible to easily identify that the substring A2 has a problem.

また、測定装置15は、太陽電池モジュール20に接続されるパワーコンディショナ14によるMPPT制御の電圧更新時に変化するストリング電流の値に応じてストリング電流の波形パターンを検出している。このようにMPPT制御の電圧更新時に変化するストリング電流の値に応じてストリング電流の波形パターンが検出されることから、一定間隔で形成されるストリング電流の波形パターンを確実に検出することができる。 Further, the measuring device 15 detects the waveform pattern of the string current according to the value of the string current that changes when the voltage of the MPPT control by the power conditioner 14 connected to the solar cell module 20 is updated. Since the waveform pattern of the string current is detected according to the value of the string current that changes when the voltage of the MPPT control is updated in this way, the waveform pattern of the string current formed at regular intervals can be reliably detected.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、さまざまに変更して実施可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更が可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施可能である。 The present invention is not limited to the above embodiment, and can be modified in various ways. In the above embodiment, the size, shape, and the like shown in the accompanying drawings are not limited to this, and can be appropriately changed within the range in which the effects of the present invention are exhibited. In addition, it can be appropriately modified and implemented as long as it does not deviate from the scope of the object of the present invention.

例えば、上記実施の形態においては、測定装置15で検出された検出波形パターンと、記憶部172に記憶された標準波形パターンとの比較結果に応じて部分的な不具合を有する太陽電池モジュール20を判定する場合について説明している。しかしながら、太陽電池モジュール20の異常の判定手法については、これに限定されるものではなく適宜変更が可能である。診断システム10は、検出波形パターンに基づいて太陽電池モジュール20の異常を判定することを前提として任意の判定手法を適用することができる。例えば、
上述の波形形成は遮光/露光タイミングで一単位が形成されることから、検出値を基準値で0.1に変換し、シフトレジスタ機能を使って積算の上、標準積算値との比較で異常/正常をデジタル的に判定するようにしてもよい。
For example, in the above embodiment, the solar cell module 20 having a partial defect is determined according to the comparison result between the detected waveform pattern detected by the measuring device 15 and the standard waveform pattern stored in the storage unit 172. Explains the case of doing. However, the method for determining the abnormality of the solar cell module 20 is not limited to this, and can be appropriately changed. The diagnostic system 10 can apply an arbitrary determination method on the premise that the abnormality of the solar cell module 20 is determined based on the detected waveform pattern. for example,
Since one unit is formed at the light-shielding / exposure timing in the above-mentioned waveform formation, the detected value is converted to 0.1 as the reference value, integrated using the shift register function, and then compared with the standard integrated value. / Normality may be judged digitally.

以上説明したように、本発明は、作業に要する労力及びコストの増大を抑制しつつ、部分的に不具合を有する太陽電池モジュールを容易に検出することができるという効果を有し、特に、メガソーラーシステムなどの大規模な太陽光発電システムにおける太陽電池モジュールの異常診断に有用である。 As described above, the present invention has an effect that a partially defective solar cell module can be easily detected while suppressing an increase in labor and cost required for the work, and in particular, a mega solar. It is useful for diagnosing abnormalities in solar cell modules in large-scale photovoltaic power generation systems such as systems.

10 太陽電池モジュール診断システム(診断システム)
11~13 太陽電池アレイ
14 パワーコンディショナ
15 ストリング電気特性測定装置(測定装置)
16 ストリング電気特性受信サーバ(受信サーバ)
17 診断装置
171 遮光制御部
172 記憶部
173 判定部
174 表示部
175 通信部
18 監視装置
20、20a~20i 太陽電池モジュール
201 太陽電池セル
202 バイパスダイオード
203 サブストリング
21~23 逆流防止ダイオード(ブロッキングダイオード)
30 架台
40 遮光機構
41 遮光板
42 駆動部
43 駆動制御部
50 ガイド枠
51、52 枠体部
53 脚部
10 Solar cell module diagnostic system (diagnosis system)
11-13 Solar cell array 14 Power conditioner 15 String electrical characteristic measuring device (measuring device)
16 string electrical characteristics reception server (reception server)
17 Diagnostic device 171 Light-shielding control unit 172 Storage unit 173 Judgment unit 174 Display unit 175 Communication unit 18 Monitoring device 20, 20a to 20i Solar cell module 201 Solar cell 202 Bypass diode 203 Substring 21 to 23 Backflow prevention diode (blocking diode)
30 Stand 40 Light-shielding mechanism 41 Light-shielding plate 42 Drive unit 43 Drive control unit 50 Guide frame 51, 52 Frame body part 53 Legs

Claims (4)

太陽電池モジュールに対する入射光を前記太陽電池モジュールに含まれるサブストリング単位で遮光可能な遮光部材を、複数の前記サブストリング単位の配列方向に前記太陽電池モジュールに沿って駆動する遮光手段と、
前記遮光部材の駆動に伴って変化するストリング電流の波形パターンを検出する検出手段と、
前記検出手段による検出結果に含まれる前記ストリング電流の波形パターンと、予め保持された標準ストリング電流波形パターンと、の比較により得られた前記標準ストリング電流波形パターンとの不一致の箇所に応じて前記太陽電池モジュールに含まれる特定のサブストリング単位の異常を判定する判定手段と、を具備し、
前記標準ストリング電流波形パターンは、櫛歯状であることを特徴とする太陽電池モジュール診断システム。
A light-shielding means for driving a light-shielding member included in the solar cell module, which can block light incident on the solar cell module, in the arrangement direction of a plurality of the substring units along the solar cell module.
A detection means for detecting a waveform pattern of a string current that changes with the drive of the light-shielding member, and
The sun depends on the location of the discrepancy between the standard string current waveform pattern obtained by comparing the waveform pattern of the string current included in the detection result by the detection means and the standard string current waveform pattern held in advance. It is provided with a determination means for determining an abnormality in a specific substring unit included in the battery module.
The standard string current waveform pattern is a solar cell module diagnostic system characterized by having a comb-like shape .
前記判定手段は、前記標準ストリング電流波形パターンとの不一致の箇所に応じて前記太陽電池モジュールに含まれる特定のバイパスダイオードの異常を判定することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池モジュール診断システム。 The solar cell module diagnosis according to claim 1, wherein the determination means determines an abnormality of a specific bypass diode included in the solar cell module according to a portion of mismatch with the standard string current waveform pattern. system. 前記検出手段は、前記太陽電池モジュールに接続されるパワーコンディショナによるMPPT(Maximum Power Point Tracking)制御の電圧更新時に変化する前記ストリング電流の値に応じて前記ストリング電流の波形パターンを検出することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池モジュール診断システム。 The detection means detects the waveform pattern of the string current according to the value of the string current that changes when the voltage of MPPT (Maximum Power Point Tracking) control by the power conditioner connected to the solar cell module is updated. The solar cell module diagnostic system according to claim 1. 太陽電池モジュールに対する入射光を前記太陽電池モジュールに含まれるサブストリング単位で遮光する遮光部材を、複数の前記サブストリング単位の配列方向に前記太陽電池モジュールに沿って駆動する遮光ステップと、
前記遮光部材の駆動に伴って変化するストリング電流の波形パターンを検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された検出結果に含まれる前記ストリング電流の波形パターンと、予め保持された標準ストリング電流波形パターンと、の比較により得られた前記標準ストリング電流波形パターンとの不一致の箇所に応じて前記太陽電池モジュールに含まれる特定のサブストリング単位の異常を判定する判定ステップと、を具備し、
前記標準ストリング電流波形パターンは、櫛歯状であることを特徴とする太陽電池モジュール診断方法。
A light-shielding step for driving a light-shielding member that shields light incident on the solar cell module in units of substrings included in the solar cell module along the solar cell module in an arrangement direction of a plurality of the substring units.
A detection step for detecting a waveform pattern of a string current that changes with the drive of the light-shielding member, and a detection step.
Depending on the location of the discrepancy between the standard string current waveform pattern obtained by comparing the waveform pattern of the string current included in the detection result detected in the detection step and the standard string current waveform pattern held in advance. A determination step for determining an abnormality in a specific substring unit included in the solar cell module is provided .
The solar cell module diagnostic method , wherein the standard string current waveform pattern is comb-shaped .
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