JP6932467B2 - State change detection device, state change detection system and state change detection program - Google Patents
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Description
この発明は、状態変動検出装置、状態変動検出システム及び状態変動検出用プログラムに関するものである。 The present invention relates to a state change detection device, a state change detection system, and a state change detection program.
例えば、機械の電流と電圧と振動とを測定して、異常等の状態変動を検出する場合に、一般的には、人による過去の経験等に基づき異常の判定を行う。即ち、状態変動の閾値は人が設定するものであり、異常データを持っていない機械が状態変動を行うことはほぼ不可能であった。 For example, when the current, voltage, and vibration of a machine are measured to detect a state change such as an abnormality, the abnormality is generally determined based on past experience by a person or the like. That is, the threshold value of the state change is set by a person, and it is almost impossible for a machine having no abnormal data to perform the state change.
特許文献1には、異常事態を検知する対象物や事象の種類・数、それらの対象物や事象を監視する空間(場所、時間帯等)に依存しない汎用性の高い異常検知装置が開示されている。
具体的には、対象の事象において異常が発生したことを検知する装置である。この装置では、事象に依存して変化するデータである入力パターンの時系列を取得し、取得された入力パターンの時系列における遷移についての特徴を解析し、解析された前記遷移についての特徴と予め決定されている基準値とを比較し、それらが一定範囲内で近似しているのでなければ、前記事象において異常が発生したと判断する。このようにして、上記比較の結果、異常が発生したと判断された場合に、その旨の出力動作を行う出力手段とを備えるものである。 Specifically, it is a device that detects that an abnormality has occurred in a target event. In this device, the time series of the input pattern, which is the data that changes depending on the event, is acquired, the characteristics of the transition of the acquired input pattern in the time series are analyzed, and the analyzed characteristics of the transition and the characteristics of the transition in advance are analyzed. It is compared with the determined reference values, and if they are not close to each other within a certain range, it is determined that an abnormality has occurred in the above-mentioned event. In this way, when it is determined that an abnormality has occurred as a result of the above comparison, an output means for performing an output operation to that effect is provided.
つまり、監視の対象となる人又は物の動き等の事象の変化に応じて変化するデータを入力パターンとする時系列を取得し、その時系列におけるパターンの遷移に着目し、遷移における特徴量を抽出し、正常なケースにおけるものと比較することで異常事態の発生を検知する。ここで、「事象」とは、機器センサ等からの信号、人からの報告(データ入力)等によってコンピュータ処理可能なデータとして表現し得る現象のことであり、また、宅内における「人の行動」にも適用可能である。 That is, an time series in which data that changes according to a change in an event such as the movement of a person or an object to be monitored is used as an input pattern is acquired, attention is paid to the transition of the pattern in the time series, and the feature amount in the transition is extracted. However, the occurrence of an abnormal situation is detected by comparing it with that in a normal case. Here, the "event" is a phenomenon that can be expressed as data that can be processed by a computer by a signal from a device sensor or the like, a report (data input) from a person, or the like, and "human behavior" in the house. It is also applicable to.
特許文献2には、高精度な予測を実現する予測モデルを用いて、しかも予測過程が理解できるようなデータ予測方法又はデータ予測システムが開示されている。
この特許文献2の発明は、過去の実績に基づいて将来を予測するデータ予測方法において、予測モデルは、予測対象日における少なくとも一つの特徴量について予測値を出力する第1の予測モデルと、この第1の予測モデルから出力される予測値を入力因子に含み、予測対象日の所定時間ごとの予測値を出力する第2の予測モデルと、から構成されるものである。
The invention of
そして、収集された至近実績データおよび過去実績データを用いて予測モデルを構築する予測モデル構築手段、構築された予測モデルに予測用入力データを入力して予測を実行し、予測値を得る予測実行手段、収集された至近実績データと予測値とから予測誤差またはモデル誤差を計算する予測誤差計算手段、予測誤差またはモデル誤差に基づいて前記予測値を補正する補正係数又は補正量を算出し、補正予測値を得る予測値補正手段により実現される。 Then, a prediction model construction means for constructing a prediction model using the collected nearest actual data and past actual data, and prediction execution for obtaining a predicted value by inputting input data for prediction into the constructed prediction model. Means, predictive error calculation means for calculating prediction error or model error from collected closest actual data and predicted value, calculation of correction coefficient or correction amount to correct the predicted value based on prediction error or model error, and correction It is realized by the predicted value correction means for obtaining the predicted value.
引用文献3には、下水処理場における雨水の流入量予測、流入水質予測、河川の水位予測、ダムの貯留量予測、水道、ガス、電力などの需要予測、自然現象や人工的な現象・事象のオンライン予測を行う際に用いられる予測モデルシステムが開示されている。この特許文献3には、予測モデルを用いる方法を大別すると、物理・化学法則に基づいた数式に基づく予測モデルを利用するホワイトボックス的アプローチと呼ばれる方法と、実際に入手可能なデータを用いて、これに統計的な処理や、(例えばニューラルネットワークなどの)学習、システム同定などを行うことにより実データから予測モデルを構築するブラックボックス的アプローチと呼ばれる方法に分けられる旨の記載がある。
この特許文献3の発明は、ブラックボックス的アプローチの典型的な方法である離散時間系のモデルを用いたシステム同定手法による予測において、ホワイトボックス的アプローチによる物理法則(保存則)を考慮して予測モデルを構築することができる予測モデルシステムを提供する。特許文献3の予測モデルシステムは複数のパラメータを含む予測モデルを含み予測対象を予測する予測モデル構造部、パラメータ値を保存するパラメータ値保存部、入力と出力の時系列データを保存する入出力データ保存手段を備える。定常な入力データと出力データとに基づいて、静的パラメータ同定手段において、パラメータに関する制約条件が決定される。この制約条件を満足するようなパラメータが入出力データ保存手段に保存された非定常な入力データと出力データとに基づいて、動的パラメータ同定手段において、決定され、パラメータ値保存部へ送られる。
The invention of
特許文献4には、電力需要・水需要・熱需要・ガス需要・蒸気需要その他の需要量、各種負荷量、各種販売量、若しくは、各種経済指標などを予測対象とし、過去の実績または関連情報を用いて、将来を予測するデータ予測方法及びデータ予測システムが開示されている。
特許文献4では、従来技術における以下の課題を解決する。過去の類似パターンを用いる第1の方法では、予測対象日の状況に応じた補正が必要であり、精度の良い補正を行うことは困難であることである。予測対象時間ごとに予測モデルを作成する第2の方法を採用すると、予測対象時間ごとにモデルを作成する必要がありモデル化作業が多大に必要となり、更に、時系列的なデータの推移傾向をモデル化できないため、予測精度が悪いことである。予測対象をニューラルネットワーク予測モデルによって一括して予測する第3の方法では、通常は、予測モデルとしてニューラルネットワークが用いられるが、ニューラルネットワークはその内部がブラックボックスとなっているため内部の解析が難しく、予測結果についての予測理由の説明が難しいという問題点がある。
以上に鑑み、特許文献4の発明は、予測モデル構築のための多大な作業量、作業時間を削減することを目的とし、また、1日のデータの時系列的な推移を考慮した高精度な予測方法を提供することを目的とする。
In view of the above, the invention of
特許文献4の発明は、過去の実績に基づいて将来を予測するデータ予測方法である。
用いる予測モデルは、予測対象日における少なくとも一つの特徴量について予測値を出力する第1の予測モデルと、この第1の予測モデルから出力される予測値を入力因子に含み、予測対象日の所定時間ごとの予測値を出力する第2の予測モデルとから構成される。特許文献4の発明は、収集された至近実績データおよび過去実績データを用いて予測モデルを構築する予測モデル構築手段、構築された予測モデルに予測用入力データを入力して予測を実行し、予測値を得る予測実行手段、収集された至近実績データと予測値とから予測誤差またはモデル誤差を計算する予測誤差計算手段、予測誤差またはモデル誤差に基づいて前記予測値を補正する補正係数又は補正量を算出し、補正予測値を得る予測値補正手段を具備することを特徴とする。
The invention of
The prediction model to be used includes a first prediction model that outputs a prediction value for at least one feature quantity on the prediction target date and a prediction value output from this first prediction model as input factors, and a predetermined prediction target date is used. It is composed of a second prediction model that outputs a prediction value for each time. The invention of
特許文献5には音声合成における合成目標の予測技術に関し、特に、音声合成中の合成目標の音響特徴量の予測モデルの作成方法が開示されている。特許文献5の本発明は、より効率的に音声合成の合成目標の音響特徴量の予測モデルが構築できる予測モデル作成方法を提供することを目的とする。 Patent Document 5 discloses a technique for predicting a synthesis target in speech synthesis, and in particular, a method for creating a prediction model for an acoustic feature amount of a synthesis target during speech synthesis. An object of the present invention of Patent Document 5 is to provide a method for creating a prediction model capable of constructing a prediction model of acoustic features of a synthesis target of speech synthesis more efficiently.
特許文献5の発明によれば、予測モデルの作成方法は、音声合成における所定の音声単位に関する音響特徴量の合成目標値の予測のための予測モデルの作成方法であって、予め定められた音韻・韻律情報と言語情報とが所定の音声単位ごとに付され、かつ所定の音響特徴量に関するラベルが付された、コンピュータ読取可能な学習データを準備するステップと、学習データを用いたGradient Boostingアルゴリズムにより、所定の予測モデルの学習を行なうステップとを含むものである。 According to the invention of Patent Document 5, the method of creating a prediction model is a method of creating a prediction model for predicting a synthesis target value of an acoustic feature amount for a predetermined voice unit in speech synthesis, and is a predetermined prosody. -A step of preparing computer-readable training data in which prosodic information and linguistic information are attached for each predetermined speech unit and a label for a predetermined acoustic feature amount is attached, and a gradient boosting algorithm using the training data. This includes a step of training a predetermined prediction model.
更に、特許文献6に記載の発明は、予測誤差評価装置及び予測誤差評価方法及び予測誤差評価プログラムに関するものである。特許文献6に記載の発明は、例えば、予測値と実測値との誤差が、観測対象となる現象の属性値の系列との関係で(例えば、時系列的に)どのように変化するかを考慮して、誤差を評価できるようにする。 Further, the invention described in Patent Document 6 relates to a prediction error evaluation device, a prediction error evaluation method, and a prediction error evaluation program. The invention described in Patent Document 6 describes, for example, how the error between the predicted value and the measured value changes (for example, in time series) in relation to the series of attribute values of the phenomenon to be observed. Take this into account so that the error can be evaluated.
特許文献6に記載の発明は、例えば、所定の現象の属性値ごとに前記現象を観測して得られると予測された予測値と、前記現象の属性値が変化する度に前記現象を観測して得られた実測値との誤差を示す誤差データを、前記現象の属性値と対応付けて予め記憶する記憶装置を具備する。特許文献6に記載の発明は統計処理部を有しており、前記記憶装置に記憶された属性値の系列にて、1つの部分系列と、当該部分系列の先頭と末尾との少なくともいずれかを所定の数ずつずらして得られる複数の部分系列とを処理対象系列とし、処理対象系列ごとに、処理対象系列に含まれる属性値に対応する誤差データを記憶装置から読み取り、読み取った誤差データに対して所定の統計処理を処理装置により実行する。また、前記統計処理部により実行された統計処理の結果を出力装置により出力する結果出力部を備える。 In the invention described in Patent Document 6, for example, a predicted value predicted to be obtained by observing the phenomenon for each attribute value of a predetermined phenomenon and the phenomenon observed each time the attribute value of the phenomenon changes. The present invention includes a storage device that stores in advance error data indicating an error from the actually measured value obtained in association with the attribute value of the phenomenon. The invention described in Patent Document 6 has a statistical processing unit, and in a series of attribute values stored in the storage device, one sub-series and at least one of the beginning and the end of the sub-series are used. A plurality of sub-series obtained by shifting by a predetermined number is set as a processing target series, and for each processing target series, error data corresponding to the attribute value included in the processing target series is read from the storage device, and the read error data is obtained. The predetermined statistical processing is executed by the processing device. Further, the output unit includes a result output unit that outputs the result of the statistical processing executed by the statistical processing unit by the output device.
しかしながら上記のように、従来の予測モデルは予測の精度や信頼性の向上更には効率化等を狙ったものであり、状態変動がないとき或いは状態変動が生じているのか不明であるデータのみから状態変動を的確に捕えることが可能な状態変動検出装置は知られていなかった。 However, as described above, the conventional prediction model aims to improve the accuracy and reliability of prediction and to improve efficiency, and only from the data when there is no state change or it is unknown whether the state change occurs. A state change detection device capable of accurately capturing state change has not been known.
本発明は、上記のような状態変動検出装置の現状に鑑みてなされたもので、その目的は、状態変動がないときのデータのみから状態変動ありを、或いは、状態変動が生じているデータのみから状態変動なしを、検出可能とする状態変動検出装置及び状態変動検出用プログラムを提供することにある。 The present invention has been made in view of the current state of the state change detection device as described above, and an object of the present invention is to obtain state change from only data when there is no state change, or only data in which state change occurs. It is an object of the present invention to provide a state change detection device and a state change detection program capable of detecting no state change.
本実施形態に係る状態変動検出装置は、複数のデータ取得源から取得したデータ中の特定の1のデータ取得源から得られるデータを目的変数とし、前記特定の1以外の複数のデータ取得源から得られるデータを説明変数とし、説明変数から目的変数を予測する予測モデルを作成するための教師データに含まれている説明変数単位毎に、その説明変数の値に対する出現頻度の分布図を作成する分布図作成手段と、テストデータの説明変数単位に説明変数の平均値を求める平均値算出手段と、求められた平均値が、前記教師データにおける対応する説明変数単位の分布図上におけるどの位置に位置するかを示す位置情報を求める位置情報算出手段と、説明変数単位毎の全位置情報を統計処理し、統計処理結果の位置情報の傾向を求め、この傾向に基づき状態変動を検出する状態変動検出手段とを具備したことを特徴とする。
The state change detection device according to the present embodiment uses data obtained from a specific 1 data acquisition source in the data acquired from a plurality of data acquisition sources as an objective variable, and is used from a plurality of data acquisition sources other than the specific 1 data acquisition source. Using the obtained data as an explanatory variable , create a distribution map of the frequency of appearance for the value of the explanatory variable for each explanatory variable unit included in the teacher data for creating a prediction model that predicts the objective variable from the explanatory variable. The distribution map creation means, the average value calculation means for obtaining the average value of the explanatory variables in the explanatory variable unit of the test data, and the position on the distribution map of the corresponding explanatory variable unit in the teacher data. A state change calculation means that obtains position information indicating whether or not it is located, statistically processes all position information for each explanatory variable unit, obtains a tendency of the position information of the statistical processing result, and detects a state change based on this tendency. It is characterized by having a detection means.
以下添付図面を参照して、本発明に係る状態変動検出装置、状態変動検出システム及び状態変動検出用プログラムの実施形態を説明する。各図において同一の構成要素には同一の符号を付して重複する説明を省略する。本発明の実施形態に係る状態変動検出装置は、例えば図1に示されるようなパーソナルコンピュータやワークステーション、その他のコンピュータシステムにより構成することができる。このコンピュータシステムは、CPU10が主メモリ11に記憶されている或いは主メモリ11に読み込んだプログラムやデータに基づき各部を制御し、必要な処理を実行することにより状態変動検出装置として動作を行うものである。
Hereinafter, embodiments of a state change detection device, a state change detection system, and a state change detection program according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In each figure, the same components are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted. The state change detection device according to the embodiment of the present invention can be configured by, for example, a personal computer, a workstation, or other computer system as shown in FIG. This computer system operates as a state change detection device by controlling each part based on a program or data stored in the main memory 11 or read into the main memory 11 by the
CPU10には、バス12を介して外部記憶インタフェース13、入力インタフェース14、表示インタフェース15、データ入力インタフェース16が接続されている。外部記憶インタフェース13には、状態変動検出用プログラム等のプログラムと必要なデータ等が記憶されている外部記憶装置23が接続されている。入力インタフェース14には、コマンドやデータを入力するための入力装置としてのキーボードなどの入力装置24とポインティングデバイスとしてのマウス22が接続されている。
An
表示インタフェース15には、LEDやLCDなどの表示画面を有する表示装置25が接続されている。データ入力インタフェース16には、測定データを得るためのセンサ26−1、26−2、・・・、26−mが接続されている。このコンピュータシステムには、他の構成が備えられていても良く、また、図1の構成は一例に過ぎない。
A
CPU10には、外部記憶装置23内の状態変動検出用プログラムによって図2に記載の各手段等が実現される。即ち、分布図作成手段51、平均算出手段52、位置情報算出手段53、状態変動検出手段54が実現される。また、外部記憶装置23内には、教師データTが記憶されている。
In the
分布図作成手段51は、説明変数から目的変数を予測する予測モデルを作成するための教師データTに含まれている説明変数単位毎に、その説明変数の値に対する出現頻度の分布図を作成するものである。教師データTは例えば図3に示されるように、センサAにより測定されたデータを目的変数とし、センサB、C、Dにより測定されたデータを説明変数としたものであるとする。図3の例では、各センサ毎に9個のデータを測定した例であるが、実際には9個より遥かに多数であるものとすることができる。 The distribution map creating means 51 creates a distribution map of the frequency of appearance with respect to the value of the explanatory variable for each explanatory variable unit included in the teacher data T for creating a prediction model for predicting the objective variable from the explanatory variable. It is a thing. As shown in FIG. 3, for example, it is assumed that the teacher data T uses the data measured by the sensor A as the objective variable and the data measured by the sensors B, C, and D as the explanatory variables. In the example of FIG. 3, nine data are measured for each sensor, but the actual number can be much larger than nine.
上記で「説明変数単位毎に」とは、センサB、C、Dのそれぞれを単位として、という意味である。したがって、本実施形態では図4に示すように、センサB、C、Dに対応して3つの分布図MAP1、MAP2、MAP3が作成される。 In the above, "for each explanatory variable unit" means that each of the sensors B, C, and D is used as a unit. Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 4, three distribution maps MAP1, MAP2, and MAP3 are created corresponding to the sensors B, C, and D.
平均算出手段52は、テストデータの説明変数単位に説明変数の平均値を求める。テストデータは、状態変動検出を行うために収集されたデータであり、説明変数単位であるセンサB、C、Dに対応して収集されたデータである。 The average calculation means 52 obtains the average value of the explanatory variables for each explanatory variable of the test data. The test data is data collected for detecting state fluctuations, and is data collected corresponding to sensors B, C, and D, which are explanatory variable units.
位置情報算出手段53は、平均算出手段52によって求められた平均値が、上記教師データにおける対応する説明変数単位の分布図上におけるどの位置に位置するかを示す位置情報を求めるものである。例えば、図5に示すような分布図MAPが得られているとき、菱形マークMで示す平均値が、上記部分布図MAPにおける説明変数のどの値の位置となるかである。この位置情報は、本実施形態では分布図MAPにおける平均値からどれだけ離れているかを示すσで表現し、このσは以下の(1)式により得ることができる。 The position information calculation means 53 obtains position information indicating at which position the average value obtained by the average calculation means 52 is located on the distribution map of the corresponding explanatory variable unit in the teacher data. For example, when the distribution map MAP as shown in FIG. 5 is obtained, the average value indicated by the diamond mark M is the position of the explanatory variable in the part distribution map MAP. In this embodiment, this position information is represented by σ indicating how far away from the average value in the distribution map MAP, and this σ can be obtained by the following equation (1).
ここで用いられている位置情報σは、平均値が個々の分布図において平均値からどれだけ偏っているかの程度を示すものであり、何についての偏りであるかについては異なるものの、後に偏差値σとして説明するものと技術的意味合いは同じものである。なお、上記σは偏差であり、偏差の二乗平均が「分散」であり、その正の平方根が「標準偏差」である。 The position information σ used here indicates the degree of deviation of the average value from the average value in each distribution map, and although it differs in what the deviation is, the deviation value will be described later. It has the same technical implications as what is explained as σ. The above σ is a deviation, the root mean square of the deviation is the “variance”, and its positive square root is the “standard deviation”.
状態変動検出手段54は、説明変数単位毎の全位置情報を統計処理し、統計処理結果の位置情報の傾向を求め、この傾向に基づき状態変動を検出するものである。つまり、本実施形態では、説明変数単位毎とは、センサB、C、D毎の位置情報σB、σC、σDを統計処理し、統計処理結果の位置情報の傾向を求めることになる。本実施形態では、説明変数単位が3つである場合を例にしているが、通常は説明変数単位がより多数である。このように多数である場合を考えると、位置情報σB、σC、σD、・・・は、通常は0(分布図の中心)に近いものであるから、すべての位置情報σB、σC、σD、・・・中の多くの(或いは殆どの)位置情報が通常時の位置から大きく外れる傾向が捕えられたときには、状態変動が生じていると推測できる、という理論に基づくものである。また、説明変数単位の数が多数でなくとも(本実施形態のように3つ程度であっても)、1つの説明変数単位に含まれる説明変数の数が多いときには、この理論が成り立つと考えられる。
The state
状態変動検出手段54は、統計処理として、所定の割合の位置情報が上記分布図の所定位置より大または小の領域に存在するかを検出する。つまり、位置情報σB、σC、σD、・・・中の所定の割合(8割或いは9割など)が分布図の右側(または、左側)のある位置より右側(左側)に寄っている場合には、状態変動が生じていると結論するのである。
As statistical processing, the state
本実施形態は、図6Aに示すフローチャートに対応するプログラムをコンピュータが実行することにより実現される。本実施形態では、説明変数から目的変数を予測する予測モデルを作成するための教師データTが用意されているものとする。この教師データTに含まれている説明変数単位毎に、その説明変数の値に対する出現頻度の分布図を作成する(S11)。この結果、説明変数単位を3つとして説明すると、図4に示すように、センサB、C、Dに対応して3つの分布図MAP1、MAP2、MAP3が作成される。 This embodiment is realized by a computer executing a program corresponding to the flowchart shown in FIG. 6A. In the present embodiment, it is assumed that the teacher data T for creating a prediction model for predicting the objective variable from the explanatory variables is prepared. For each explanatory variable unit included in the teacher data T, a distribution map of the frequency of appearance with respect to the value of the explanatory variable is created (S11). As a result, when the explanatory variable units are described as three, as shown in FIG. 4, three distribution maps MAP1, MAP2, and MAP3 are created corresponding to the sensors B, C, and D.
次に、テストデータの説明変数単位に説明変数の平均値を求める(S12)。上記で求められた平均値が、上記教師データにおける対応する説明変数単位の分布図でどの位置にあるかを示す位置情報σを求める(S13)。ここでは、図5に示すようにセンサB、C、Dに対応して3つのσが、σB=−2.5、σC=1、σD=3.5の如くに求まる。 Next, the average value of the explanatory variables is obtained for each explanatory variable of the test data (S12). The position information σ indicating the position of the average value obtained above in the distribution map of the corresponding explanatory variable unit in the teacher data is obtained (S13). Here, as shown in FIG. 5, three σ corresponding to the sensors B, C, and D are obtained as σB = −2.5, σC = 1, and σD = 3.5.
ステップS13に続いて所定値(ここでは、3)を超えている位置情報σの割合を求める(S14)。ここでは、図6Bの円グラフに示すように、「3」以上の位置情報σが10%であったとする。状態変動の有無の閾値を例えば45%とすると、この閾値TH−P=45と上記の求めた割合の比較を行い状態変動の有無を判定する(S15)。斯くして、所定の割合の位置情報が上記分布図の所定位置より大または小の領域に存在するかを検出する処理が行われ、状態変動したときの値を有していない場合にも適切に状態変動の有無を判定可能となる。 Following step S13, the ratio of the position information σ exceeding the predetermined value (here, 3) is obtained (S14). Here, as shown in the pie chart of FIG. 6B, it is assumed that the position information σ of “3” or more is 10%. Assuming that the threshold value for the presence or absence of state change is, for example, 45%, the presence or absence of state change is determined by comparing the threshold value TH-P = 45 with the ratio obtained above (S15). Thus, it is appropriate even when the process of detecting whether the position information of a predetermined ratio exists in a region larger or smaller than the predetermined position of the above distribution map is performed and the value does not have a value when the state changes. It is possible to determine the presence or absence of state fluctuations.
状態変動検出手段54が行う統計処理としては、説明変数単位毎の全位置情報について前回と今回の位置情報の差分値を求め、差分値が所定以上である説明変数単位の数に基づき状態変動を検出するようにしても良い。つまり、前回と今回の位置情報の差分値が所定以上となっている説明変数単位の数と、全ての説明変数単位の数との割合で求める。通常の状態では、前回と今回の位置情報の差分値が所定以上となっている説明変数単位の数がある値を採っているのに対し、状態変動が生じた場合には、前回と今回の位置情報の差分値が所定以上となっている説明変数単位の数が急に上昇するであろうとの推定に基づくものである。
As the statistical processing performed by the state
状態変動検出手段54が行う統計処理としては、位置情報が前記分布図の所定位置より大または小の領域に存在する位置情報単位が1つでも生じた場合に状態変動を検出するものであっても良い。この処理が有効である場合として、通常状態では、分布図の所定位置より大または小の領域には絶対に位置情報σが存在することはない場合である。従って、分布図の所定位置より大または小の領域に位置情報σが1つでも存在するようになった場合に状態変動が生じているものと推定するものである。この場合には、「1つでも」としたが、「所定数」となった場合としても成り立つものである。
The statistical processing performed by the state
次に、本発明に係る状態変動検出システムの実施形態を説明する。本実施形態に係る状態変動検出システムは、状態変動を検出すべき対象について収集したデータをテストデータとして、機械学習により作成した予測モデルに投入して状態変動を検出する第1の状態変動検出装置を備える。また、上記で説明した実施形態に係る状態変動検出装置を第2の状態変動検出装置として備える。即ち、予測モデルを用いた第1の状態変動検出装置と、上記実施形態に係る状態変動検出装置の双方を備える。第2の状態変動検出装置については、前述したので、ここでは、予測モデルを用いた第1の状態変動検出装置について説明を行う。 Next, an embodiment of the state change detection system according to the present invention will be described. The state change detection system according to the present embodiment is a first state change detection device that detects state change by inputting data collected about an object for which state change should be detected into a prediction model created by machine learning as test data. To be equipped. Further, the state change detection device according to the embodiment described above is provided as the second state change detection device. That is, both the first state change detection device using the prediction model and the state change detection device according to the above embodiment are provided. Since the second state change detection device has been described above, the first state change detection device using the prediction model will be described here.
図1に示されるCPU10は、外部記憶装置23内の状態変動検出用プログラムによって図7に記載の各手段等を実現し、第1の状態変動検出装置としても動作する。即ち、予測モデル作成手段31、予測モデル30、教師予測データ取得手段32、標準誤差取得手段33、測定予測データ取得手段34、誤差取得手段35、状態変動検出手段36が実現される。また、外部記憶装置23内には、教師データが記憶されている。予測モデル作成手段31は、教師データを用いて予測モデル30を作成するものである。予測モデル30は、機械学習により説明変数から目的変数を予測するものである。ここに、機械学習のアルゴリズムとしては、パターンマイ二ングのランダムフォレストを挙げることができるが、これ以外に、回帰分析や回帰木などのアリゴリズムを採用しても良い。
The
また、説明変数、目的変数予測モデルについては、yを目的変数、xiを説明変数、fを予測モデルとするとき、y=f(x1,x2,・・・,xi,・・・,xn)により表わすことができる。教師予測データ取得手段32は、定まった値の目的変数である教師目的変数と、定まった値の説明変数である教師説明変数とにより構成される教師データを用いて、上記教師説明変数を上記予測モデル30へ入力して教師予測データを得るものである。標準誤差取得手段33は、上記教師予測データと上記教師目的変数との差分である標準誤差を取得するものである。
Regarding the explanatory variable and objective variable prediction model, when y is the objective variable, xi is the explanatory variable, and f is the prediction model, y = f (x1, x2, ..., Xi, ..., Xn). Can be represented by. The teacher prediction data acquisition means 32 predicts the teacher explanatory variable by using the teacher data composed of the teacher objective variable which is the objective variable of the fixed value and the teacher explanatory variable which is the explanatory variable of the fixed value. It is input to the
測定予測データ取得手段34は、測定した目的変数である測定目的変数と、測定した説明変数である測定説明変数とにより構成される測定データを用いて、上記測定説明変数を上記予測モデル30へ入力して測定予測データを得るものである。測定データは、センサ26−1、26−2、・・・、26−mにより得られたデータとすることができる。誤差取得手段35は、上記測定予測データと上記測定目的変数との差分である誤差を取得するものである。
The measurement prediction data acquisition means 34 inputs the measurement explanatory variable into the
状態変動検出手段36は、上記標準誤差と上記誤差との解離度を求め、この解離度に基づき状態変動を検出するものである。
The state
以上のような手段等によって構成される状態変動検出装置は、図8に示すフローチャートによって処理動作を実行するので、このフローチャートを参照して動作説明を行う。最初に教師データを用いて予測モデル30を作成する(STEP1)。例えば、教師データは、図9により示すように、センサAにより得られるべき目的変数のデータと、センサBにより得られる1つ目の説明変数のデータと、センサCにより得られる2つ目の説明変数のデータとにより構成される。データの取得回数(図9の縦方向のデータの数)は任意である。ここに示す図9の教師データは、図3に示したものと同じものであるが、説明を簡略化するために説明変数を、センサBのものとセンサCのものからなる2つのセンサで収集した2つのデータとして示す。図10のように、図9に例示した如くの数値により構成される教師データTを用いて予測モデル作成手段31が予測モデル30を作成する。
Since the state change detection device configured by the above means and the like executes the processing operation according to the flowchart shown in FIG. 8, the operation will be described with reference to this flowchart. First, the
次に、図8のフローチャートと図11の動作シーケンス図に示すように、教師データTを用いて予測モデル30に説明変数(図9のセンサBのデータとセンサCのデータ)を入力し、予測データ(教師予測データTF(図11では、教師データ予測結果))を得て、この予測データ(教師予測データTF)と教師データTの目的変数との差である誤差(標準誤差)を求める(STEP2)。ここで、説明変数は、図9の教師データ中のセンサBとセンサCのデータである。図11に示すように、教師データTの目的変数をTTとし、この目的変数TTが例えば真円により表わされるとすれば、この目的変数TTに対し、教師予測データTFは歪(いびつ)であるから、真円から飛び出たり引っ込んだりした部分が誤差となる。実際には、図9の「教師データの予測値標準・誤差」の欄に示すように、予測データ(教師予測データ)と誤差(標準誤差STER)は、数値として得られる。これらは、データの取得回数と同じだけ計算して得られるから、取得回数と同じ数量が得られるので、これらの平均を計算して求め、これを平均標準誤差(AVSTER)として保持する。
Next, as shown in the flowchart of FIG. 8 and the operation sequence diagram of FIG. 11, explanatory variables (data of sensor B and data of sensor C of FIG. 9) are input to the
次に、図8のフローチャートに示すように、センサB、Cによる測定データMを用いて予測モデル30に説明変数M1、M2を入力し、予測データ(測定予測データ)を得て、この予測データ(測定予測データ)と測定データMの実測された目的変数との差である誤差を求める(STEP3)。
Next, as shown in the flowchart of FIG. 8, the explanatory variables M1 and M2 are input to the
ここでは、時刻を異ならせて、測定t1、t2、t3を行って、測定t1の説明変数t1M1、t1M2を得て、測定t2の説明変数t2M1、t2M2を得て、測定t3の説明変数t3M1、t3M2を得る(図12)。ここでは、図9に示す教師データにおいて説明変数を2つとしたために、収集した測定データ(テストデータ)についても2つの説明変数としているが、3つの説明変数或いは4つ以上の説明変数とすることもできる。図13に示すように、これらを同じ予測モデル30に入力して予測データ(測定予測データ)t1F、t2F、t3Fを得る(図12では、右欄)。図13においては、予測モデル30を3つ設けているように描いているが、予測モデル30を1つ用いて順次予測を行っても良い。勿論、予測モデル30を3つ設けても良い。図12、図13に示すように予測データ(測定予測データ)t1F、t2F、t3Fと測定データMの実測された目的変数t1MT、t2MT、t3MTとの差分を誤差(個別誤差)t1ER、t2ER、t3ERとして求める。誤差t1ER、t2ER、t3ERは、データの測定回数と同じだけ計算して得られるから、取得回数と同じ数量が得られるので、これらの平均値を求めて、これを測定t1、t2、t3毎に平均誤差(t1AVER、t2AVER、t3AVER)として保持する。
Here, the measurements t1, t2, and t3 are performed at different times to obtain the explanatory variables t1M1 and t1M2 of the measurement t1, the explanatory variables t2M1 and t2M2 of the measurement t2 are obtained, and the explanatory variables t3M1 and t3M1 of the measurement t3 are obtained. Obtain t3M2 (Fig. 12). Here, since the teacher data shown in FIG. 9 has two explanatory variables, the collected measurement data (test data) is also set to two explanatory variables, but three explanatory variables or four or more explanatory variables should be used. You can also. As shown in FIG. 13, these are input to the
次に、図8のSTEP4に示すように、各測定データから求めた誤差量が、教師データから求めた基準誤差と比較して何倍であるかを計算する。この倍率が大きいほど状態変動が生じていると結論する。図14には、比較主体として「測定t1の誤差(平均)(t1AVER)」、「測定t2の誤差(平均)(t2AVER)」、「測定t3の誤差(平均)(t3AVER)」に示すような円の面積に相当する値があり、比較対象として「標準誤差(平均)(AVSTER)」に示すような円の面積に相当する値があるとする。倍率が、1.2、2.3、3.8であるとすると、(測定t1の誤差)<(測定t2の誤差)<(測定t3の誤差)が成り立つから、測定3が最も状態変動が起こっていると結論でき、その次に測定2において状態変動が起こっていると結論でき、測定1は最も状態変動が起こっている確率が低いと結論できる。
Next, as shown in
或いは、標準誤差や誤差について平均を求めるのではなく、標準誤差の値の分布図グラフを作成し、誤差の値の分布図グラフを作成し、これらの分布図グラフを用いて状態変動を検出する。標準誤差の値の分布図グラフが図15(a)のようであり、測定t1の誤差の値の分布図グラフが図15(b)のようであり、測定t2の誤差の値の分布図グラフが図15(c)のようであり、測定t3の誤差の値の分布図グラフが図15(d)のようであるとする。 Alternatively, instead of finding the average for the standard error or error, create a distribution chart graph of the standard error value, create a distribution chart graph of the error value, and detect the state change using these distribution chart graphs. .. The distribution chart graph of the standard error value is as shown in FIG. 15 (a), the distribution chart graph of the error value of the measurement t1 is as shown in FIG. 15 (b), and the distribution chart graph of the error value of the measurement t2 is shown. Is as shown in FIG. 15 (c), and the distribution graph of the error value of the measurement t3 is as shown in FIG. 15 (d).
上記の場合においては、解離度として分布図グラフのピークの差を採用する。標準誤差の値の分布図グラフのピークと測定t1の誤差の値の分布図グラフのピークの差は、図15(b)に示すd1のようである。標準誤差の値の分布図グラフのピークと測定t2の誤差の値の分布図グラフのピークの差は、図15(c)に示すd2のようである。標準誤差の値の分布図グラフのピークと測定t3の誤差の値の分布図グラフのピークの差は、図15(d)に示すd3のようである。ピークの差は、d1<d2<d3であるから、状態変動の判定については、図14を用いて説明した通りとなる。 In the above case, the difference between the peaks of the distribution chart is used as the degree of dissociation. The difference between the peak of the standard error value distribution chart graph and the peak of the measurement t1 error value distribution chart graph is as shown in FIG. 15 (b). The difference between the peak of the standard error value distribution chart graph and the peak of the measurement t2 error value distribution chart graph is as shown in FIG. 15 (c). The difference between the peak of the standard error value distribution chart graph and the peak of the measurement t3 error value distribution chart graph is as shown in FIG. 15 (d). Since the difference between the peaks is d 1 <d 2 <d 3 , the determination of the state change is as described with reference to FIG.
また、図8のSTEP4に示すように、上記で求めた倍率に対し、または、上記測定回数毎の誤差を標準化した値σに対して異常判定の閾値を設定し、異常を検知するようにしても良い。例えば、図14の例において、閾値が「3.5」であれば、測定t3において異常であると判定することができる。
Further, as shown in
上記偏差値σを用いる場合の例を図16に示す。前述の誤差の分布図が図16のグラフに示すようであるとする。この誤差の平均値を求める(S21)。この平均値を用いて、偏差値σを求める(S22)。次に、上記で求めた偏差値σを用いて状態変化を検出する(S23)。例えば、標準誤差も測定回毎に得られるから、これらの分布図から標準誤差の偏差値σSTが得られる。一方、測定t1、t2、t3についても、偏差値σt1、σt2、σt3が得られる。偏差値σt1、σt2、σt3のうち、標準誤差の偏差値σSTとの差または比或いは倍率が大きいほど状態変化である確率が高いものとする。偏差値σt1、σt2、σt3に対する閾値σSHを設定し、これを越えた場合に状態変化(異常)ありとすることができる。 An example of using the deviation value σ is shown in FIG. It is assumed that the above-mentioned error distribution map is shown in the graph of FIG. The average value of this error is obtained (S21). Using this average value, the deviation value σ is obtained (S22). Next, the state change is detected using the deviation value σ obtained above (S23). For example, since the standard error is also obtained for each measurement, the deviation value σ ST of the standard error can be obtained from these distribution maps. On the other hand, the deviation values σ t1 , σ t2 , and σ t3 are also obtained for the measurements t1, t2, and t3. Of the deviation values σ t1 , σ t2 , and σ t3 , the larger the difference or ratio or magnification of the standard error deviation value σ ST , the higher the probability of a state change. The threshold value σ SH for the deviation values σ t1 , σ t2 , and σ t3 can be set, and if it exceeds this, it can be considered that there is a state change (abnormality).
なお、上記においては、2つの説明変数から1つの目的変数を得るものとしたが、1つ以上の説明変数から1つの目的変数を得る予測モデルについて適用可能である。また、状態変動は異常への変動に限定されず、過剰状態、不足状態、低い状態、高い状態など、各種の状態変動検出に適用可能である。 In the above, one objective variable is obtained from two explanatory variables, but it can be applied to a prediction model in which one objective variable is obtained from one or more explanatory variables. Further, the state change is not limited to the change to an abnormality, and can be applied to various state change detections such as an excess state, a shortage state, a low state, and a high state.
上記の実施形態では、センサA、B、Cによりデータの測定を行う場合において、目的変数をセンサAにより得られるデータとし、説明変数をセンサB、Cにより得られるデータとする、センサA予測モデルを1つの予測モデルのみを構成するようにした。しかしながら、このように、3系統以上のデータの測定を行うシステムでは、複数の予測システムを構築することができる。 In the above embodiment, when the data is measured by the sensors A, B, and C, the sensor A prediction model in which the objective variable is the data obtained by the sensor A and the explanatory variable is the data obtained by the sensors B and C. Was made to configure only one prediction model. However, in such a system that measures data of three or more systems, a plurality of prediction systems can be constructed.
例えば、センサA、B、Cによりデータの測定を行う場合においては、目的変数をセンサAにより測定されるデータとし、説明変数をセンサB、Cにより測定されるデータとする場合を、センサA予測モデルと称し、目的変数をセンサBにより測定されるデータとし、説明変数をセンサA、Cにより測定されるデータとする場合を、センサB予測モデルと称し、目的変数をセンサCにより測定されるデータとし、説明変数をセンサA、Bにより測定されるデータとする場合を、センサC予測モデルと称するとき、センサA予測モデル、センサB予測モデル、センサC予測モデルのように、3つの予測モデルを作成することができる。 For example, when data is measured by sensors A, B, and C, sensor A predicts that the objective variable is the data measured by sensor A and the explanatory variable is the data measured by sensors B and C. The case where the model is called a model, the objective variable is the data measured by the sensor B, and the explanatory variables are the data measured by the sensors A and C is called the sensor B prediction model, and the objective variable is the data measured by the sensor C. When the explanatory variables are the data measured by the sensors A and B and are referred to as the sensor C prediction model, three prediction models such as the sensor A prediction model, the sensor B prediction model, and the sensor C prediction model are used. Can be created.
仮にセンサA、B、Cのデータを測定した時系列の測定値が、t1、t2、t3であるとする。t1、t2、t3はいずれもセンサA、B、Cの3種のデータにより構成される。センサA予測モデルにおいては、センサB、Cの測定値t1、t2、t3を入力し、センサA予測モデルの3種の平均誤差、A_t1AVER、A_t2AVER、A_t3AVERを得ることができる。センサB予測モデルにおいては、センサA、Cの測定値t1、t2、t3を入力し、センサB予測モデルの3種の平均誤差、B_t1AVER、B_t2AVER、B_t3AVERを得ることができる。センサC予測モデルにおいては、センサA、Bの測定値t1、t2、t3を入力し、センサC予測モデルの3種の平均誤差、C_t1AVER、C_t2AVER、C_t3AVERを得ることができる。 It is assumed that the time-series measured values obtained by measuring the data of the sensors A, B, and C are t1, t2, and t3. All of t1, t2, and t3 are composed of three types of data, sensors A, B, and C. In the sensor A prediction model, the measured values t1, t2, and t3 of the sensors B and C can be input to obtain three types of average errors of the sensor A prediction model, A_t1AVER, A_t2AVER, and A_t3AVER. In the sensor B prediction model, the measured values t1, t2, and t3 of the sensors A and C can be input to obtain three types of average errors of the sensor B prediction model, B_t1AVER, B_t2AVER, and B_t3AVER. In the sensor C prediction model, the measured values t1, t2, and t3 of the sensors A and B can be input to obtain three types of average errors of the sensor C prediction model, C_t1AVER, C_t2AVER, and C_t3AVER.
教師データから求めた各モデルの基準誤差を、A_AVSTER、B_AVSTER、C_AVSTERとした場合には、基準誤差A_AVSTERを基準とした対A_t1AVER、A_t2AVER、A_t3AVERのそれぞれ倍率や誤差の分布図(偏差)を求めることができ、基準誤差B_AVSTERを基準とした対B_t1AVER、B_t2AVER、B_t3AVERのそれぞれ倍率や誤差の分布図(偏差)を求めることができ、基準誤差C_AVSTERを基準とした対C_t1AVER、C_t2AVER、C_t3AVERのそれぞれ倍率や誤差の分布図(偏差)も求めることができる。 When the reference error of each model obtained from the teacher data is A_AVSTER, B_AVSTER, C_AVSTER, the magnification and error distribution map (deviation) of A_t1AVER, A_t2AVER, and A_t3AVER based on the reference error A_AVSTER are obtained. It is possible to obtain the magnification and error distribution map (deviation) of B_t1AVER, B_t2AVER, and B_t3AVER based on the reference error B_AVERSER, and the magnification of C_t1AVER, C_t2AVER, and C_t3AVER based on the reference error C_AVERSER. The error distribution map (deviation) can also be obtained.
上記で、偏差を求めた場合には、例えば、センサA予測モデルにおける測定値t1の偏差値σA_t1、センサB予測モデルにおける測定値t1の偏差値σB_t1、センサC予測モデルにおける測定値t1の偏差値σC_t1の平均等を求めることによって、測定値t1の新たな特徴量を生成することができ、これに対して閾値を設けることで異常を検知することも可能である。上記は、測定値t1の例であるが、測定値t2、t3についても同様に扱うことが可能である。 When the deviation is obtained in the above, for example, the deviation value σA_t1 of the measured value t1 in the sensor A prediction model, the deviation value σB_t1 of the measured value t1 in the sensor B prediction model, and the deviation value t1 of the measured value t1 in the sensor C prediction model. By obtaining the average of σC_t1 and the like, a new feature amount of the measured value t1 can be generated, and by setting a threshold value for this, it is possible to detect an abnormality. The above is an example of the measured value t1, but the measured values t2 and t3 can be handled in the same manner.
本実施形態に係る状態変動検出システムは、上記の通りの構成を有し上記の通りの動作を行う第1の状態変動検出装置により得られた第1の検出結果と、先に構成と動作を説明した第2の状態変動検出装置により得られた第2の検出結果の双方を用いて状態変動検出を行う。以降は、この実施形態に係る状態変動検出システムの動作を図17のフローチャートに従って説明する。 The state change detection system according to the present embodiment has the above-mentioned configuration, and the first detection result obtained by the first state change detection device that performs the above-mentioned operation, and the configuration and operation are first described. The state change detection is performed using both of the second detection results obtained by the second state change detection device described. Hereinafter, the operation of the state change detection system according to this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
以上のように構成された第1の状態変動検出装置を用いて、状態変動検出の対象である測定データ(テストデータ)を投入して第1の予測結果(誤差量)を求める(S31)。また、上記第2の状態変動検出装置を用いて、状態変動検出の対象である測定データ(テストデータ)を投入して第2の予測結果(割合)を求める(S32)。 Using the first state change detection device configured as described above, the measurement data (test data) that is the target of the state change detection is input to obtain the first prediction result (error amount) (S31). Further, using the second state change detection device, the measurement data (test data) that is the target of the state change detection is input to obtain the second prediction result (ratio) (S32).
次に、ステップS33において、ステップS32において得られた予測結果(割合)についての閾値TH−Aと比較し、ステップS31において得られた予測結果(誤差量)についての閾値TH−Bと比較し(S33)、共に閾値を超えた場合を状態変動あり(異常)と判定する(S34)。 Next, in step S33, it is compared with the threshold value TH-A for the prediction result (ratio) obtained in step S32, and compared with the threshold value TH-B for the prediction result (error amount) obtained in step S31 ( S33), when both of them exceed the threshold value, it is determined that there is a state change (abnormality) (S34).
判定結果については、図18に示すように、予測結果(割合)のみが閾値TH−Aを越えた場合と予測結果(誤差量)のみが閾値TH−Bを超えた場合を「準異常」とし、予測結果(割合)が閾値TH−Aを越えており且つ予測結果(誤差量)も閾値TH−Bを超えた場合を「異常」とし、予測値(割合)が閾値TH−Aを下回っており且つ予測結果(誤差量)も閾値TH−Bを下回っている場合を「正常」とすることができる。 Regarding the determination result, as shown in FIG. 18, the case where only the prediction result (ratio) exceeds the threshold value TH-A and the case where only the prediction result (error amount) exceeds the threshold value TH-B are regarded as "quasi-abnormal". , When the prediction result (ratio) exceeds the threshold value TH-A and the prediction result (error amount) also exceeds the threshold value TH-B, it is regarded as "abnormal", and the predicted value (ratio) is lower than the threshold value TH-A. If the prediction result (error amount) is also below the threshold value TH-B, it can be regarded as "normal".
ここでは、第1の予測結果を誤差量としたが、先に説明した平均誤差値や偏差値σを用いても良い。この実施形態に係る状態変動検出装置によれば、状態変動がないとき或いは状態変動が生じているのか不明であるデータのみから状態変動を的確に捕えることが可能となる。 Here, the first prediction result is used as the error amount, but the average error value or the deviation value σ described above may be used. According to the state change detection device according to this embodiment, it is possible to accurately capture the state change only from the data when there is no state change or it is unknown whether the state change has occurred.
10 CPU 11 主メモリ
12 バス 13 外部記憶インタフェース
14 入力インタフェース 15 表示インタフェース
16 データ入力インタフェース 22 マウス
23 外部記憶装置 24 入力装置
25 表示装置 26 センサ
30 予測モデル 31 予測モデル作成手段
32 教師予測データ取得手段 33 標準誤差取得手段
34 測定予測データ取得手段 35 誤差取得手段
36 状態変動検出手段 51 分布図作成手段
52 平均算出手段 53 位置情報算出手段
54 状態変動検出手段
10 CPU 11 Main memory 12
Claims (12)
テストデータの説明変数単位に説明変数の平均値を求める平均値算出手段と、
求められた平均値が、前記教師データにおける対応する説明変数単位の分布図上におけるどの位置に位置するかを示す位置情報を求める位置情報算出手段と、
説明変数単位毎の全位置情報を統計処理し、統計処理結果の位置情報の傾向を求め、この傾向に基づき状態変動を検出する状態変動検出手段と
を具備したことを特徴とする状態変動検出装置。 The data obtained from a specific 1 data acquisition source in the data acquired from a plurality of data acquisition sources is used as the objective variable, and the data obtained from a plurality of data acquisition sources other than the specific 1 is used as the explanatory variable, and the explanatory variables are used. For each explanatory variable unit included in the teacher data for creating a prediction model for predicting the objective variable, a distribution map creation means for creating a distribution map of the frequency of appearance with respect to the value of the explanatory variable, and a distribution map creation means.
An average value calculation means for calculating the average value of the explanatory variables for each explanatory variable of the test data,
A position information calculation means for obtaining position information indicating the position of the obtained average value on the distribution map of the corresponding explanatory variable unit in the teacher data.
Explanatory variable A state change detection device provided with a state change detection means for statistically processing all position information for each variable unit, obtaining a tendency of the position information of the statistical processing result, and detecting a state change based on this tendency. ..
前記第1の状態変動検出装置により得られた第1の検出結果と、前記第2の状態変動検出装置により得られた第2の検出結果との双方を用いて状態変動検出を行うことを特徴とする状態変動検出システム。 The data obtained from one specific data acquisition source among the data acquired from a plurality of data acquisition sources is used as the objective variable, and the data obtained from a plurality of data acquisition sources other than the specific one is used as an explanatory variable to control the state change. The first state change detection device for detecting state change by inputting the data collected for the target to be detected into a prediction model created by machine learning as test data, and the first item according to any one of claims 1 to 5. In the state change detection system composed of the second state change detection device which is the state change detection device of
It is characterized in that state change detection is performed using both the first detection result obtained by the first state change detection device and the second detection result obtained by the second state change detection device. State fluctuation detection system.
複数のデータ取得源から取得したデータ中の特定の1のデータ取得源から得られるデータを目的変数とし、前記特定の1以外の複数のデータ取得源から得られるデータを説明変数とし、説明変数から目的変数を予測する予測モデルを作成するための教師データに含まれている説明変数単位毎に、その説明変数の値に対する出現頻度の分布図を作成する分布図作成手段、
テストデータの説明変数単位に説明変数の平均値を求める平均値算出手段、
求められた平均値が、前記教師データにおける対応する説明変数単位の分布図上におけるどの位置に位置するかを示す位置情報を求める位置情報算出手段、
説明変数単位毎の全位置情報を統計処理し、統計処理結果の位置情報の傾向を求め、この傾向に基づき状態変動を検出する状態変動検出手段
として機能させることを特徴とする状態変動検出用プログラム。 Computer,
The data obtained from a specific 1 data acquisition source in the data acquired from a plurality of data acquisition sources is used as the objective variable, and the data obtained from a plurality of data acquisition sources other than the specific 1 is used as the explanatory variable, and the explanatory variables are used. Distribution map creation means that creates a distribution map of the frequency of appearance for the value of the explanatory variable for each explanatory variable unit included in the teacher data for creating a prediction model that predicts the objective variable.
An average value calculation method for calculating the average value of explanatory variables in units of explanatory variables of test data,
A position information calculation means for obtaining position information indicating the position of the obtained average value on the distribution map of the corresponding explanatory variable unit in the teacher data.
Explanatory variable A state change detection program characterized in that all position information for each variable unit is statistically processed, the tendency of the position information of the statistical processing result is obtained, and the state change detection means is used to detect the state change based on this tendency. ..
複数のデータ取得源から取得したデータ中の特定の1のデータ取得源から得られるデータを目的変数とし、前記特定の1以外の複数のデータ取得源から得られるデータを説明変数とし、状態変動を検出すべき対象について収集したデータをテストデータとして、機械学習により作成した予測モデルに投入して状態変動を検出する第1の状態変動検出装置、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の状態変動検出装置である第2の状態変動検出装置として機能させると共に、
前記コンピュータが前記第1の状態変動検出装置として機能することにより得られた第1の検出結果と、前記コンピュータが前記第2の状態変動検出装置として機能することにより得られた第2の検出結果との双方を用いて状態変動検出を行うように機能させる
ことを特徴とする状態変動検出用プログラム。 Computer,
The data obtained from one specific data acquisition source among the data acquired from a plurality of data acquisition sources is used as the objective variable, and the data obtained from a plurality of data acquisition sources other than the specific one is used as an explanatory variable to control the state change. A first state change detection device that detects state change by inputting the data collected for the target to be detected as test data into a prediction model created by machine learning.
It functions as a second state change detection device, which is the state change detection device according to any one of claims 1 to 5, and also functions as a second state change detection device.
A first detection result obtained by the computer functioning as the first state change detection device, and a second detection result obtained by the computer functioning as the second state change detection device. A state change detection program characterized in that it functions to perform state change detection using both of the above.
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