JP6899778B2 - 電子回路に固有の値を生成する方法、この値を生成する電子回路、及びこのような値を用いる方法 - Google Patents

Description

本明細書は、一例としてチップ又はチップセットなどの電子回路に固有の値を生成することを可能にする方法に関する。更に詳しくは、この方法は、物理的複製不能関数（physically unclonable functions）の使用、即ち、再現、複製を、クローニングをされることができない関数の使用を含む。本明細書は、また、この方法を実施するための電子回路及びこのような回路に固有の値を用いる方法に関する。

物理的複製不能関数（略してＰＵＦ）は、集積回路に対して組み込まれるか又は関連づけられる電子構成部品に対して物理的に接続される一意の識別子ソース（unique identifier sources）として学界及び工業界において現在研究されている。中心となるアイデアは、例えばチップ又はチップセットなどの電子回路をそれらの固有特性によって一意にする、これらの構成部品の製造プロセス変動を活用することを目的とする。

この技術は、電子構成部品のすべての製造プロセスが通例有する特殊性に基づく。このようなプロセスは、完璧にはなり得ないが、それらが、ある精度のマージンでの製造を保証するので、このマージンの範囲内では、それらプロセスは、それらが生産する構成部品間に僅かな相違を生じさせる。言いかえれば、これらの構成部品は、同一の生産ラインから生じ、同一の状況で生産されるが、但し、固有の方法で、これらの構成部品を不随意にカスタマイズする相違が存在する。そのトリックは、製造プロセスの許容範囲から起因するこれらの相違を攻撃に利用できる情報（exploitable information）に変換することである。生産ラインの終端において正確に同一の物理的特性を有する構成部品が備わっている２つの集積回路を得る可能性は極めて低いという事実を踏まえると、この情報は、殆ど一意のものと見なされる可能性がある。更に、この情報は、製造プロセスによって予測不可能で且つ再現不可能な特殊性を有する。従って、数ある中でも、構成部品又は１セットの電子構成部品を識別することが可能になる。

以後ＰＵＦ機能（PUF function）と呼ばれる物理的複製不能関数（physical unclonable function）は、正確な測定（exact measures）を介してこれらの電子構成部品の１つ以上の物理的パラメータを決定することによって、集積回路の構成部品に特有の不規則変動を利用する機能である。以後ＰＵＦ値と呼ばれる識別子又は特定値を得るためのこのようなＰＵＦ機能を生成するのは、従って、容易であるが、但し、この値を検索するためにこの機能を複製するのは、不可能でないにしても、非常に困難である。ＰＵＦ機能に基づいて電子構成部品をカスタマイズする小さな相違を制御することができないので、主に、このような機能からＰＵＦ値の予測及び／又は再現することが実際的見地から不可能であるためである。これらの小さな相違に由来する情報は、偽似乱数のビット系列によって表現されることができる。従って、この情報又は一意の値は、例えば、暗号の目的のために有利的に用いることもあり得る秘密の所期の特性をすべて有する。

これまで考慮された殆どのアプリケーションは、３つの主なカテゴリ、即ち、暗号鍵の生成と、このようなＰＵＦ機能によって定義された一意の識別子によって識別可能なチップの生成と、チャレンジ及び関連するレスポンスを含む（チャレンジ／レスポンスタイプの）プロセスを介してのチップ認証と、にグループ化することができる。現在、殆どのアプリケーションが、末尾のカテゴリを指し、セキュア化されたメッセージ交換においてＰＵＦ値が暗号鍵として用いられるソリューションをカバーすることを目的としている、ということは注目される。

これらのチップの短所は、それらが生成するＰＵＦ値が変動する可能性があるという事実にある。実際には、この値は電子構成部品に左右されるので、寄生ノイズの欠如に対応する理想的な理論上の状況において不変のものとしてのみ、それを定義することを可能にすることもあり得る。ここで、実際には、このＰＵＦ値は、使用条件に依存して僅かに変動する場合がある。これらの変動は、典型的には電子構成部品の動作温度の変動又は電源における僅かな変動を指すことができる。また、それらは、（例えば古い回路の場合には）回路自身によって、又はそれらが配置される環境によって、生成されたランダムノイズから起因する可能性がある。これらの不安定性は、誤ったレスポンス、即ち、ある使用条件において、例えば生産ラインの環境などの制御された環境において得られたものに、もはや相当しないレスポンスを含む。

このようなチップに由来する定数であるＰＵＦ値を得ることを可能にするために、いくつかの既知のソリューションがある。

第１のソリューションは、ＰＵＦ機能によって値を生成すること、及びチップのメモリ内にこのＰＵＦ値を格納することである。従って、このＰＵＦ値が例えば暗号鍵又は識別子として用いられなければならない時はいつでも、このメモリから回復可能になる。ここで、メモリ内で機密になりうる値を格納することは、悪意のある人によって読み取られるためにこれを妨げない。

第２のソリューションは、ＰＵＦ機能から生じる値の精度をチェックすること、又は、この値がエラーによって無効になるか否かを少なくとも検出することである。このために、ＰＵＦ値を基準値と比較することができる。この基準値は、殆どの場合、ＰＵＦ機能によって生成された値にすることができる。ここでは、この比較は、見てとれるように、十分にセキュア化されるとして考慮されることができるソリューションではない基準値のメモリ内への格納を含む。ＰＵＦ機能によって生成された値が尤である値であるか否かを検出するために、別のソリューションは、ＰＵＦ値を特徴づける相補的な指標（complementary indication）を用いることである。この指標は、概して、全体的に確実でない通信チャネルを介して、あるデータ伝送において用いられる。このような指標は、典型的には、パリティビットから構成され、ＰＵＦ値からのビットの総和が偶数の場合にゼロとし、それが奇数の場合に１とすることができる。このような指標の第１の短所は、ＰＵＦ値の精度を保証することが可能でないということであり、この値が正しいということの可能性のみの指標を供するということである。第２の短所は、ＰＵＦ機能の値に基づく計算からこのような指標が結果として生じ、従って、この値の情報を提供するということである。ここでは、この値のどのような情報も、ＰＵＦ機能の値を識別しようとする任意の悪意のある人にとって役に立つこともあり得る。この第１の短所を回避するために、エラーの存在を検出することができ、それを訂正することができるハミング符号などのエラー訂正コードの使用が知られている。但し、このようなコードは、また、ＰＵＦ値の情報を提供し、上記の第２の短所と同じ短所がある。更に、これらの訂正コードは、すべての種類のエラーを訂正することができない。例えば、これらのコードのいくつかは、簡単なビット反転によるエラーのみを訂正することができる。

第３のソリューションは、連続的なラウンドにおいて、このＰＵＦ値を連続的に数回生成することであり、我々は、この値を毎回取得する必要があり、そして、殆どの場合に示された値を最終的に返す前にこのように生成されたＰＵＦ値を比較する必要がある。但し、このプロセスは、実際のＰＵＦ値が各ラウンドの間にすべての計算値間で明確に識別されるように、エラー確率が低いということを必要とする。更に、些少でない数のラウンドの実行は、チップの計算資源を専有し、且つ特定のアプリケーションに対してＰＵＦ値を用いることを特に目的とする他のプロセスに後者（latter）がアクセスするのを防ぐ、重要な実行時間（important execution time）を必要とする。

第４のソリューションは、特許文献１に記述され、ＰＵＦ機能をホスティングする電子回路を更にカスタマイズすることを初期設定動作の間に可能にする、セットポイントデータによってＰＵＦ機能を設定することである。このカスタマイズは、例えば、この機能の基礎を形成する構成部品の選択によって得られる。言いかえれば、この設定値データは、ＰＵＦ機能に有用なチップの電子構成部品の中から、１又は複数の物理量の測定が実行される電子構成部品のサブセットを選択することを可能にする。この初期化動作は、典型的には、チップ製造の間、又はその後のチップ試験若しくは初期化フェーズの間に生じる可能性がある。このソリューションの短所は、試験又はパーソナル化フェーズなどのこの初期化の間に、チップがその物理的特性に対してアクセス権を与える「開状態」にあるという事実にあり、そのため、ＰＵＦ値に対してこの値を生成することになるか、又は少なくとも貴重な情報に対してこの値を識別することを可能にする。従って、チップのどのような「開状態」も、制限された環境においてでさえも、機密性問題を示す。

特許文献２は、ハッシュ関数から生じる鍵の強化された安定性及び機密性を提供するセキュリティ装置を記述する。この装置は、このようなハッシュ関数から生じる既定の鍵を生成するために物理的特性を用いることによって攻撃に対する耐性を提供するＰＵＦユニットを含む。それは、また、一部の誤り訂正情報を格納するユニットと、他のいくつかの訂正ユニットとともに、１個のＰＵＦ訂正情報を生成するＰＵＦ機能の訂正ユニットとを含む。

非特許文献１は、集積回路から集積回路に、異なるトランジスタに固有の遅延特性を活用するＰＵＦ機能に基づく設計を記述する。この文献は、ＰＵＦ機能が集積回路の低コスト認証をどのように可能にすることができるか、及び暗号演算のための揮発性の秘密キーをどのように生成することができるかを記述する。

欧州特許出願公開第２８１６７５７号明細書 欧州特許出願公開第２０８１１７０号明細書

文献ＸＰ０３１１８３２９４（Edward Suh G、他、表題「デバイス認証及び秘密鍵生成のための物理的複製不能関数（Physical Unclonable Functions for Device Authentication and Secret Key Generation）

本明細書の目的は、外部介入を伴わずに一定の値を生成する、物理的複製不能関数によって可能な電子回路を提案することによって、少なくとも部分的に上記の課題を解決することである。この値の使用の特定の方法だけでなく、このような回路においてこのような値を生成することを可能にする方法も、また、別の目的として提案される。

前述の電子回路は、任意の回路又は回線部を指す。特に、それは、チップ、チップセット、又はチップの一部の回路若しくは回線部とすることができる。

上記の形容詞「一定の（constant）」は、電子回路による発散（divergence）なしで、及び耐久性のある方式においてこの値を再現することができると意味する。この形容詞は、従って、生成された値の安定性及び信頼性を表現する。

ＰＵＦ機能の使用は、この値が、電子回路に対して密接に接続される、特に、この回路の構成部品に対して実質的に又は物理的に接続される、ということを規定することを目的とする。名称「ＰＵＦ値（PUF value）」は、この接続から由来する。先に述べたように、この値はその値が生じる電子回路の一意の構成部品に依存するので、それは、１部（one copy）のみにおいてその存在を限定する殆ど一意のキャラクタ（unique character）に有利的になるであろう。実際、同一の物理的特性を正確に有する構成部品が備わる２つの集積回路を得るための元々極めて少ないチャンスを、ＰＵＦ機能が備わる電子回路を知的な方法で設計することによって、些少な割合に低減させることができる。同一の電子回路バッチに対して比較されるＰＵＦ値の一意性は、考慮される電子回路の数だけでなく、ＰＵＦ値を構成するビットの数に加えて、ＰＵＦ値を計算するために用いられる構成部品の数などの異なるパラメータにも依存することになる。

その一般形態において、方法は、ＰＵＦ値、即ち物理量の測定を介して電子回路に固有の値を生成するように意図され、これらの測定は、この回路の構成部品上で実行される。この方法は、
− 各構成部品に対して、前記構成部品で実行された一連の測定から派生した少なくとも１つの値を計算し関連づけるステップと、
− 構成部品の不変のペアの集合（collection of invariable pairs of components）を形成するステップと、
− これらのペアの各々の構成部品に対して関連づけられた値が互いに間隔をおいて配置されるように、即ち、特に不変で且つ好ましくは事前に定義される少なくともセットポイント値により互いに分離又は除外されるように、前記集合からペアを選択するステップと、
− 各選択されたペアの構成部品に対して関連づけられた値の比較の結果及び／又は少なくとも１つがこれらの値から派生するデータの比較の結果を連結することによって電子回路に固有の前記値を生成するステップと
を含み、これを行うために、前記結果は、前記比較の間のこれらのペアに関する前記値又はデータと同様の、不変の、好ましくは事前に定義された、順序で、処理される。

好ましい実施形態において、一連の測定から派生した値の計算は、統計的計算である。更に好ましくは、この計算は、前記一連の測定から平均値を決定することを目的とする。一連の測定から派生した値は、決定された平均値になり得る。代替え的に、計算された不確実性の範囲（uncertainty range）として一連の測定から派生した値を定義する前に、各平均値に対して不確実性の範囲を計算することもあり得る。

好ましく言いかえれば、一連の測定から派生した値の計算は、例えば、
− 前記一連の測定から統計値を決定するステップと、
− 前記統計値又はこの統計値から計算された不確実性の範囲として一連の測定から派生した前記値を定義するステップと
を含むことになり、前記統計値は、一連の測定の平均値などの平均値である可能性が高い。

集合の中からのペアの選択の基準は、例えば、このペアの集合の構成部品に対して関連づけられた不確実性の範囲の欠如にオーバーラップする可能性がある。この基準の適用は、この選択の間に検討された各ペアに対して関連づけられた不確実性の範囲になされる。

電子回路に固有のＰＵＦ値は、例えば、先に選択された各ペアの構成部品に対して関連づけられた不確実性の範囲を比較することによって生成されることができる。従って、好ましくは、各選択されたペアから、ビットは、比較の結果として、値１又は０を有して取得されることができる。これらの比較が互いに十分に分離されるために選択された値上で行われるので、及び比較された値又はデータが不変の順序で得られるので、その結果、これらの比較の結果は、それらが何回繰り返されても、有利的に不変である。

更に、これらの比較の結果は、また、不変の順序で処理されるので、結果として生じるＰＵＦ値は、いかなる妨害に関わらず、一定の値である、即ち、長期にわたって安定している。実際は、この値は、有利的に、例えば、温度変動又は電源電圧により左右されるタイミングの悪い変動でなく、寄生ノイズ（parasite noises）によって引き起こされる不安定性による影響を受けない。結果として、このＰＵＦ値を生成するプロセスは、特に任意のアプリケーションにおいて用いられる電子回路がこの値を必要とするはいつでも、セッションから他のセッションまで有利的に繰り返すことができる。この機能は、この値が、このアプリケーションのさらなる使用ために、メモリ（例えば不揮発性メモリ）内に格納されることを回避する、ということを可能にする。更に、この値の再現性は、それを生成した電子回路に対するいかなる外部介入にも左右されない。

いかなる時でも、この回路は、有利的には、「閉状態（close state）」に維持されることができる。ＰＵＦ値を発見することができる指標を提供することを可能にする情報は、この電子回路から送出されず、又は、好ましくはその中に永続的に格納されない。従って、この回路は、それ自身の手段により、回路に特有で且つ発見され得ない秘密値を生成することができる。

他の効果及び実施形態は、以下の詳細な説明において示されることになる。

説明は、非限定的な例として与えられる添付の概略図によって、一層良く理解されることになる。

物理的複製不能関数（ＰＵＦ）を動作させる電子回路（典型的には集積回路）の概略図である。 電子回路の構成部品上で実行された測定から生ずる統計的データの例の図である。 第１の実施形態による方法のメインステップの図である。

図１を参照すると、図１は、典型的には、集積回路、１セットのチップ、電子チップ、チップの一部、又は電子回路若しくは回路部を集積化する他の素子になり得る、電子回路１０を表現する。この回路１０は、物理的複製不能関数、いわゆるＰＵＦ機能を生成する有用な測定を提供するソースエレメントとして用いられる複数の構成部品１１を含むいくつかの電子素子を含む。この図において概略的に表現されるように、これらの構成部品１１は、例えば、別個の発振器（特にリング発振器）から構成され、発振器の数は、典型的には、約数ダース（例えば、約６４個又は約１２８個）である。これらの発振器１１は、それぞれ、各発振器に特有の物理値を決定するための測定素子１２に対して好ましくは連結される。この場合、測定素子（単数又は複数）１２は、それらが専門である発振器の周期数ｆを正確に測定することができる。代替え的に、各発振器に特有の前記物理値を決定するために、いくつかの発振器によって、１つの又は制限された数の測定素子１２が共有されることもあり得る。以下において、我々は、発振器を構成部品１１の例と実質的に呼ぶが、この実施形態が全く限定されないことは明らかであり、電流、電圧、電力、抵抗、温度、時間、光度などの他の物理量を（測定素子（単数又は複数）１２により）測定することもあり得るその他の構成部品１１を用いることもあり得る。測定素子（単数又は複数）１２は、典型的には、１つ以上の物理量を測定するために結果的に装備された電子デバイスとすることになる。

第１のアプローチとして、電子回路１０を構成する発振器が、特にそれらが同一の生産ラインから生ずる場合に、回路１０間で等しく且つ相違しない、ということを考慮することができる。但し、第２のアプローチとして、各発振器がそれに特有の周波数を有しており、発振器の周期数は厳密には等しくないが、それらは発振器の間で僅かに変動する、ということを見てとれる。ディープサブミクロン技術において、例えば、小さな周波数変動は、１つ以上の等しい生産ライン上の同一の製造プロセスによって生成された同一のタイプの発振器内での、物理的複製不能関数を生成するのに十分である。従って、このＰＵＦ機能は、各発振器が、製造の間に送出された小さな変動の実質的に結果である固有の周波数を有するという事実を利用することになる。

方法は、添付の図を用いて、ここで記述されることになる。

この方法の目的の１つは、物理量（この場合、例えば周波数）の測定を介して、電子回路１０に固有の値１９を生成することである。図１及び図３に概略的に示すように、これらの測定は、この回路１０の構成部品１１上で実行される。より具体的には、一連の測定ｆ１、ｆ２、…ｆｉは、例えば、この目的のために電子回路１０に提供されたすべての構成部品１１上で実行されることになる。

各一連の測定に基づいて、我々は、この構成部品上で行われた測定から派生した少なくとも１つの統計値を、用いられる各構成部品１１に対して、計算することができることになる。例えば、及び図２に示すように、我々は、各一連の測定ｆ１、ｆ２、…ｆｉの平均値Ｖav（図２ではＶのオーバーラインで示す。以下、同じ。）を決定することになる。更に、各平均値の辺りの不確実性の範囲ｐを決定することもあり得る。この不確実性の範囲は、平均値エラーの推定に相当し、標準偏差又は不確実性を平均して計算するために用いられるものなどの統計的な式によって決定されることができる。実行される測定の数が多くなるほど、エラーが低減されるので平均の推定がより優れたものになる。但し、実行される測定の数が多ければ、これらの測定から統計値が派生するまでの時間が長くなるので、漏洩は発見されなければならないことになる。図２に示すように、異なる方法でも不確実性の範囲ｐを表現することができる、ということに注目することができる。それは、例えば、周波数ｆのスケールで２つの周期数により２つの極値ａ、ｂによって、例えば、決定することができる。別の例において、この範囲ｐを、平均値（例えばＶav₁±ｅ₁）の辺りのエラーｅの推定によって定義することもあり得る。

測定ｆ１、ｆ２、…ｆｉから派生する少なくとも１つの値Ｖ（例えば平均値Ｖav
及び／又は不確実性の範囲ｐ）は、構成部品から生じるこれらの測定に対して関連づけられることになる。この関連づけは、例えば、問題になっている構成部品１１の識別子に対するこの又はこれらの値（単数又は複数）Ｖを関連づける記録又はテーブルによって取得されることができる。このような関連づけは、識別子ＩＤ１、ＩＤ２、…ＩＤｎによって識別された構成部品をそれぞれ指す値Ｖ１、Ｖ２、…Ｖｎによって図１に示される。例えば、これらの値Ｖ１、Ｖ２、…Ｖｎの計算を行った後、マイクロプロセッサ又は１セットの電子構成部品などの計算ユニット１５は、このタスクを実行することもあり得る。

図３の左側上に示すこの第１のステップに続いて、好ましくは、統計値が以前に決定されたすべての構成部品から、構成部品１１の不変のペアの集合１３（即ちセット）を形成することを目的とした第２のメインステップがある。この集合１３は、図３の中央の左側上に示され、ここで、構成部品の不変のペアがブラケット（Ｖｘ−Ｖｙ）内の文字のペアによって示される。従って、すべての組み合わせ又はある数のこれらの組み合わせが決定されるまで、第１のこれらのペアをカップル（Ｖ１−Ｖ２）によって決定し、第２のペアをカップル（Ｖ１−Ｖ３）によって決定する、などをすることもあり得る。この例において、値Ｖの指標は、値Ｖが派生する構成部品の識別子ＩＤを指す。また、この例によって、これらの値を介して構成部品の各ペアを識別することができる、ということは理解されることができる。例えば計算ユニット１５によって、実行されたプログラミングステップによって、これらのペアの形成に対して結びつく順序を、例えば、ルーチン内で定義することもあり得る。一旦定義されたこの順序は、構成部品の不変のペアを得るために、従って、ＰＵＦ値１９の再現性に寄与するために、不変でなければならない、ということは重要である。

代替案として、事前に定義された構成部品のペアを定義するテーブル又は予め設定されたリストによって、集合１３の不変のペアを生成することもあり得る。このようなリスト又はテーブルは、対応する構成部品に対して関連づけられた値Ｖを連続的に一時的に格納することができる、参照位置（例えば、構成部品ＩＤ３に対して割り当てられた位置第３番）を含むこともあり得る。例えば、一旦それらが決定されたならば、及び、集合１３の中から構成部品１１のペアを選択するための以下のステップにおいて用いられるまで、これらの値を格納することもあり得る。

電子回路１０上で利用可能な構成部品１１をすべて考慮する代わりに、これらの構成部品のサブセットのみを、このサブセットは完全に定義され不変であるという条件で、考慮することもまた可能になり得る。

これらのペアの各々の構成部品に対して関連づけられた値Ｖが、少なくとも１つの選択基準１４を満たすように、ペア１６を、この集合１３内で、選択する第３のメインステップがその後に存在する。図３の右中央部に示すように、このステップにおいて適用される選択基準１４は、例えば、これらの値Ｖが、少なくとも１つのセットポイント値Ｖｃによって、互いに間隔をおいて配置されなければならない、ということ定義することができる。例えば、構成部品１１の各ペアに対して関連づけられた値Ｖが以前に計算された不確実性の範囲ｐであるということ我々が考慮すれば、この選択は、不確実性の範囲がオーバーラップしないペアの選択に存することもあり得る。このケースは、識別子ＩＤ１、ＩＤ２を指す、ペアの構成部品（１−２）から結果として生じる、範囲ｐ１、ｐ２の間の偏差Δによって図２内の例として示される。この場合、範囲の間の最小の距離を定量化するセットポイント値Ｖｃは、空値になるであろう。我々がセキュリティの程度を増加させ、且つ、２つの範囲のうちの最も近い極値（図２におけるｂ１及びａ２）でさえも混同されないということを保証したければ、それは０を超えることがあり得る。

セットポイント値Ｖｃは、到達すべき値（value to reach）又は到達すべき閾値（最小値）（threshold (minimal value) to reach）として見なすことができる。それは、所定値とすることができるし、又は実行された測定に左右され得る。すべてのケースにおいて、この値は、それが不変となるという点で、一定になる。これは、完璧な信頼性を保証するために同一の電子回路１０においてそれを生成するプロセスの終端においていつでも、常に等しくなければならない、ＰＵＦ値１９の再現可能なキャラクタに寄与することになる。

代替案として、及び、ペアの構成部品に対して関連づけられた平均値（例えばＶav₁、Ｖav₂）が互いに十分に間隔をおいて配置される場合にこれらの平均値がオーバーラップしない不確実性の範囲（ｐ１、ｐ２）を有する、ということを認識するように、それらの不確実性の範囲の代わりにこれらの平均値を考慮することもまた可能になるであろう。この場合、平均値（Ｖav₁、Ｖav₂）の間の最小の偏差を定量化するセットポイント値Ｖｃは、考慮される２つの範囲（ｐ１、ｐ２）の平均に対して少なくとも等しい値、好ましくは、決定されたすべての不確実性の範囲のうちの２つの最大範囲の平均に対して少なくとも等しい値、又は決定された最大の不確実性の範囲の広さｐに対して匹敵する値になるであろう。

図３に示すように、この選択動作を行うことは、選択されたペア１６と呼ばれるペアを取得することを可能にする。それらが選択されているので、選択されたペア１６を、ＰＵＦ値１９の生成ための用いられるまで、例えば、リスト又はテーブル内に一時的に格納することができる。これを行うために、それらは、例えば、選択に際してリストに連続的に配置されることができるか、又は、インデックス（例えば、不変の順序を定義する時系列の識別子）が割り当てられることができる。また、（非時系列の）インデックスによって参照された位置におけるリスト又はテーブル内に、それらを配置することもあり得る。

我々が理解したように、不変のペアの集合１３の確立は、特定の処理順序から結果として生じることができる。この処理順序も、また、不変になる。例えば、このような順序は、第１の構成部品１１及び他のすべての構成部品を連続的に考慮し、そして、少なくともｎ個の構成部品が処理されるまで、第２の構成部品、第３の構成部品、第４の構成部品などによりこのプロセスを連続的に繰り返す、ということを目的としてすることもあり得る。このような処理順序におけるペアがその選択基準１４を満たすか否かを認識するために当該ペアをテストすること、及び（適切であれば）一旦それらがこの選択基準１４を満たすことが確証されればリスト内に選択されたペア１６を連続的に配置することは、選択されたペア１６の順序づけを自動的に取得することを可能にする、ということが注目されることになる。更に、この順序づけは、選択されているとテストされたペアに従って不変の処理順序に左右されるので、不変である。

従って、選択されたペア１６は、それらを形成するために連続的に後続する与えられた処理順序を通じて間接的に、又は、インデックスによって若しくは何らかの参照手段によって直接的に、のうちのいずれかによって順序づけられることができる。

それは好ましい実施形態の一部になることもあり得るが、この選択ステップの間に、すべてのペアの集合１３を検査することが必要ではない、ということもまた注目されることになる。我々は、実際には、ある数の選択されたペア１６に達するまで、この個別のペアの集合を検査することもあり得る。但し、この場合、ペアの集合１３は、前述の不変の処理順序などの不変の順序で検査されなければならないことになり、その一方で、この選択ステップの間に、すべてのペアの集合１３又はこの集合のすべてのペアの不変のサブセットが検査される場合、このような順序の不変のキャラクタは必要ではない。再び、重要なことは、これらのペアに対する値又はデータに関する比較からの結果が、次のステップの間に不変の順序で処理され得るように、我々が、各選択されたペア１６を（直接的又は間接的に）識別するか又は順序付けることができる、ということである。この選択ステップを遂行することを可能にする実施形態は、すべて、計算ユニット１５によって又は他の電子ユニット（プロセッサ、チップセットなど）によって、例えば、このユニット内に典型的にプリプログラムされることができるルーチンを読み取って実行することによって、有利的に実施されることができる。このルーチンの実行は、もちろん、例えば、一時的メモリ、計算記録などの他の記憶装置を利用することができる。

一旦選択ステップが遂行されたならば、各選択されたペア１６の構成部品１１に対して関連づけられた値Ｖの比較の結果から、第４のメインステップにおいて電子回路に固有の値１９を生成することが可能になる。以降で更に詳細に記述するように、これらの比較も、また、これらの値Ｖから派生するこれらのデータの少なくとも１つをデータに対して関連づけることもあり得る。

図３の右側部分を参照すると、この比較ステップは、表現テスト「Ｖｘ＞Ｖｙ？」によって表わされる。各選択されたペア１６の値又はデータは、ブラケット内に入れられたペアの数字によって示され、ここで、各数字は（例えばその識別子に対する）構成部品を記号的に指し、この構成部品に対して関連づけられる値又はこのような値から派生するデータを含有する。従って、図３の例において、第１の選択されたペア１６は、カップル（１−３）であり、第２の選択されたペア１６は、カップル（２−４）であり、第３の選択されたペア１６は、カップル（３−ｎ）であり、その他同様である。これらのペアの値又はデータは、比較器１７によって、又は図１に図式化されるような複数の比較器１７によって、比較されるべきである。各比較器１７は、それが受信する２つの値Ｖのうちの一方又はカップルのデータのどれが、例えば（他の比較演算子「以上（greater or equal（但し原文ではgrater or equal））」又は「以下（smaller or equal）」を排除することなく）最大又は最小であるのかを決定することを目的とする。それに応じて、比較器１７は、その出力における要素２値（elementary binary value）１８を生成することになる。即ち、ペア（Ｘ−Ｙ）の場合、値Ｖｘが値Ｖｙより大きければ、例えばビット１であり、反対のケースではビット０である。ペアのデータ又は値Ｖｘ、Ｖｙは、一定（即ち、不変）の順序で処理され、これらの比較の間に好ましくは事前に定義されることになる、ということは注目に値することになる。この比較において用いられる演算子が例えば「より大きい（greater than）」であれば、表現Ｖｘ＞Ｖｙの結果は、逆の表現Ｖｙ＞Ｖｘから生じる結果とはもちろん相違する、という事実からこれは得られる。

比較することができる値又はデータに関しては、以下の仮想のケースを考慮することもあり得る。

第１のケースにおいて、比較される値は、特に、図２に示すように、各範囲ｐ１及びｐ２が２つの極値ａ１、ｂ１及びａ２、ｂ２によってそれぞれ定義される場合、不確実性の範囲になり得る。同一のペアの２つの範囲がオーバーラップしない、ということを検証するために、例えば、第１の範囲ｐ１の２つの極値ａ１、ｂ１の各々が第２の範囲ｐ２の他の２つの極値ａ２、ｂ２よりも大きいか又は小さい、ということを制御することは容易に可能である。

第２のケースにおいて、これらの平均値の辺りの不確実性の範囲がオーバーラップしないか又はオーバーラップすることがあり得ない、ということが既に（ペア１６の選択を目的とした第３のメインステップの間に）決定されたので、この比較は、既に述べたように、ペアの構成部品に対して関連づけられた平均値の比較に関係していてもよい。

第３のケースにおいて、この比較は、これらの範囲の中心にある、不確実性の範囲及び平均値に、同時に、関係することもあり得る。これは、問題になっている範囲がどのように表現されるのかに、事実上左右される。この仮想のケースにおいて、範囲は、平均値Ｖav（図２）の辺りのエラーｅの推定によって表現されるであろう。

第４のケースにおいて、この比較は、その少なくとも１つが構成部品のペアに対して関連づけられた値Ｖから派生することになるデータに関係することもあり得る。例えば、我々は、問題になっているペアの２つの範囲（例えばｐ１、ｐ２）を分離する範囲、即ち、距離Δの間のギャップを考慮することもあり得る（図２を参照）。このギャップΔ（又は範囲間距離）は、ペアの構成部品に対して関連づけられた値（不確実性の範囲）から派生したデータに対応する。そして、このギャップを、第２のセットポイント値（例えば最小のギャップ（Δｍｉｎ）を定義する値）になり得る基準値などの別のデータと比較することもあり得る。この第２のセットポイント値の代替案として、我々は、セットポイント範囲を考慮することもあり得る。例えば、我々は、平均値ＶavｘとＶavｙとの間のギャップが、到達すべき最小範囲（minimal range to reach）などのセットポイント範囲を決定する２つの値の間でペアであるか否かを、確認することもあり得る。

選択された仮想のケースに関わらず、各比較の結果は、常に、図１及び図３の要素２値１８によって示されるような２値応答（binary response）に結びつく。これらの比較の結果に基づいて、即ち、これらの要素２値１８に基づいて、ＰＵＦ値１９は、最終ステップにて決定されることになる。このＰＵＦ値の再現性に寄与するために、これらの結果も、また、不変の順序で処理される、ということは重要である。この不変の順序は、例えば、時系列の順序を考慮することによって、又は結果の各自を配置する（spotting）ことによって、取得することができる。この配置は、例えば、これらの結果によって時系列リスト内を占めた位置又はポジションによって、取得することができ、それはこれらのポジションを識別するインデックスによって（特にこのリストが時系列でない場合に）取得することができるし、又は、最終的に、それは二次元テーブル（又はグリッド）内の結果を配置する座標のカップルを介して取得することができる。この不変の順序によれば、要素２値１８（比較の結果）は、図１及び図３などに図示されたように、ＰＵＦ値１９を形成するように互いの後に連続的に配置されることになる。先行するステップを参照して先に記述したように、ＰＵＦ値１９の生成を目的とするこの第４のメインステップは、例えば、計算ユニット１５によって、又はプロセッサ、チップセット、メモリ、計算レジスタなどの他の電子ユニットによって行うことができる。

先に記述したメインステップの個別の実施形態は、既に時々述べたように考慮することができる。

好ましい実施形態によれば、及び図２に与えられた図示を参照すると、問題となっている各構成部品に対して実行された一連の測定（ｆ１、ｆ２、…ｆｉ）から派生した少なくとも１つの値（統計値Ｖ）を計算するプロセスは、
− この一連の測定から平均値Ｖavを決定するステップと、
− 各平均値Ｖavに対して不確実性の範囲ｐを計算するステップと、
− 計算された不確実性の範囲ｐ又は決定された平均値Ｖav
として一連の測定から派生した値Ｖを定義するステップと、
を含むことになる。

決定された値Ｖが平均値Ｖavとして定義された場合、各平均値Ｖav
に対して不確実性の範囲ｐを計算するための前述のステップがオプションのステップになる、ということは注目されるべきである。

特に、集合１３の中からのペアの選択は、ペアの構成部品に関連づけられた不確実性の範囲ｐを比較することによって、そして、オーバーラップしない不確実性の範囲ｐを有する構成部品のペアを選択することによって、ペア毎に、行われることになる。言いかえれば、図２を参照すると、後半のステップは、ペアの不確実性の範囲ｐ１、ｐ２の間のギャップΔを決定し、もし２つの範囲のオーバーラップが０未満のギャップΔをもたらすならば、このギャップΔがゼロより大きいか又はゼロに等しいかのいずれかであることを検証する。

１つの実施形態によれば、各平均値Ｖavの不確実性の範囲ｐは、一定値の計算（calculation constant）として与えられる信頼区間（confidence interval）に基づいて計算される。この信頼区間は、例えば、約６８％又は約９５％である。統計学において、このような区間（interval）は、平均値Ｖavの正確度を定量化することを可能にする。

図１及び図３に図示されるように、ＰＵＦ値１９は、要素２値１８の順序づけられたシーケンスから作成される。既に述べたように、これらの値は、選択されたペア１６の構成部品に対して関連づけられた値（又はデータ）の比較の結果に対応する。これらの結果は、ＰＵＦ値のビットの一連の順序づけを取得するために不変の順序で処理される。強力なＰＵＦ値（即ちセキュアな値）を取得するために、この値が例えば１及び０の有限数の可能な組み合わせのすべてをテストすることによって推測されないように、含有するビットの数が十分に大きい、ということが重要である。

但し、極めて大きい数のビットが備わるＰＵＦ値は、特にそれを対象とする後続のアプリケーションにおいて、操作するのが厄介である。この理由のために、実施形態は、ＰＵＦ値が中間値に対して適用されたハッシュ関数の結果であることを示唆され、この中間値は、前述の結果の順序付けられた処理によって決定される。言いかえれば、図１及び図３に示すように結果（要素２値１８）を順序付けた直後にＰＵＦ値を取得する代わりに、この順序付けは、中間値を取得することに結びつく。そして、有利的に中間値よりも長さが短くなるＰＵＦ値１９を取得するために、（不変の）ハッシュ関数がこの中間値に対して適用される。このＰＵＦ値１９の長さは、例えばハッシュ関数によって定義することができる。

本明細書の目的は、また、この回路に固有の値１９（ＰＵＦ値）を生成するように構成された電子回路１０（図１）に関する。後者（latter）は、各々の又は一部の少なくとも１つの物理量が測定されることができる複数の構成部品１１を含む。この物理量は、少なくとも１つの測定素子１２によって測定される。測定素子１２の数が構成部品１１の数と等しければ、各構成部品は、その測定素子１２を有することになる。測定素子１２の数が構成部品１１の数よりも小さければ、測定素子１２は、いくつかの構成部品１１によって共有されることになる。すべてのケースにおいて、各構成部品１１から、問題になっている物理量から一連の測定（ｆ１、ｆ２、…ｆｉ）が得られることになる。この量は、主に構成部品１１のタイプに左右されることになる。好ましくは、これらの構成部品は、発振器（特にリング発振器）になる。この電子回路１０は、２つの値を比較するように構成された少なくとも１つの比較器１７と、好ましくは、電子回路１０の外部環境と情報を交換することを可能にする１つのインタフェース２０とを更に含む。

この電子回路１０は、上記方法のステップ、特にこの方法のあらゆる実施形態のステップを実行するように構成された計算ユニット１５を含む。

その基本バージョンにおいて、そうすると、この計算ユニット１５は、
− 各構成部品１１に対して、この構成部品１１上で実行された一連の測定ｆ１、ｆ２…ｆｉから派生した少なくとも１つの値Ｖを計算して関連づけ、
− 構成部品１１の不変のペアの集合１３を形成し、
− ペア１６の各々の構成部品１１に対して関連づけられた値Ｖが少なくともセットポイント値Ｖｃによって間隔をおいて配置されるように、この集合１３内で、ペア１６を選択し、
− その１つが少なくともこれらの値Ｖから派生する、各ペアの構成部品１１に対して関連づけられた値Ｖの比較の結果及び／又はデータの比較の結果に基づいて、電子回路１０に固有の値１９（ＰＵＦ値）を生成する
ように構成されることになり、
これらの結果は、前記比較の間に、まさにこれらのペアに関する前記値Ｖ又はデータと同様の不変の順序で処理される。

好ましくは、一連の測定から派生する値Ｖの計算は、例えば、
− 前記一連の測定から統計値を決定し、
− 前記統計値又はこの統計値から計算された不確実性の範囲として一連の測定から派生する前記値を定義する
ことを目的とすることになり、
前記統計値は、一連の測定の平均値などの平均値である可能性が高い。

方法の説明において既に述べたように、測定ｆ１、ｆ２、…ｆｉ及び他の計算データの一時記憶は、場合によって計算ユニット１５内に典型的には集積化されるか、又は計算ユニット１５に接続された、例えば揮発性のタイプの１つ又はいくつかのメモリによって作成されることができる。好ましくは収集されたデータ又は計算されたデータのストレージが過去のものとなると直ちに、この計算ユニットは、これらのメモリを消去するように構成されることができる。例えば、これらのデータが使い古され、従って、それらを格納することがもはや必要でないならば直ちに、これらのデータの消去をプログラミングし実行することもあり得る。

また、方法の説明の間に述べたように、不変のペアの集合１３の形成は、例えば中央ユニット１５内に事前にプログラミングされたルーチンから結果として生じることもあり得る。

方法の実施は、上記の実施形態のいずれかによれば、例えば計算ユニット１５内に実施されるアルゴリズムによって行うことができる。この実施は、典型的には電子回路１０の製造の間に行うことができる。

方法のステップのいずれかのうちの少なくとも１つを実施するために必要なアルゴリズム及び／又はルーチンのセットは、上記の実施形態のいずれかによれば、計算ユニット１５内の参照符号１５’によって図１に図式化される。

図１に示すように、この計算ユニットの拡張機能を図式化する破線によって表現されるように、比較器１７は、計算ユニット１５の外部に配置されることができるし、又は計算ユニット１５の一部になり得る。

好ましくは、必要なすべての不変数（即ち不変のデータ）とともにアルゴリズム又はアルゴリズムのセット１５’が電子回路１０内に一旦実装されれば、この回路は、自律的であり、且つ攻撃に利用できる初期化のステップ又はパーソナル化のステップを用いる必要はない、という長所を有する。従って、この回路１０は、それが生成するＰＵＦ値１９の１つの情報を提供できるあらゆる情報にアクセスする可能性を伴うことなく、完全に閉じたように見える。その結果、完全な自律性においてこのＰＵＦ値１９を生成することができる。更に有利的には、ＰＵＦ値１９が、又はこの値のいずれかの情報を与えることがあり得る何らかの情報が、（例えばインタフェース２０を通じて）この回路の外部に送信されないように、好ましくは、それが永続的にその内部に格納されないように、この電子回路１０は、構成される。これは、計算データ及び測定値を一時的に格納するように構成されたメモリ、レジスタ、テーブル、又は別の手段などの資源は、遅くとも、電子回路１０に固有の前記ＰＵＦ値１９が初めて用いられると直ちに、それらの内容を好ましくは無効にする、ということを意味する。従って、これらの格納手段内の記憶データ及び値を一時的に消去することは、この回路内に実装されたアプリケーションによるこの値の各々の使用の後にＰＵＦ値を再計算するように、電子回路１０に強制する。

言いかえれば、電子回路１０は、他の装置若しくは回路又は誰もが知ることができないＰＵＦ値１９を生成することが独力で可能である。このＰＵＦ値を生成する回路１０のみが、それを知ることができる。

更に有利的には、この電子回路１０は、好ましくはこのＰＵＦ値を永続的に格納することを可能にするメモリ又は手段を有しないので、従って、そのアプリケーションの１つによってこの値を用いなければならない時はいつでも、それを再計算することを強制される。これは、より多くの時間及び計算資源を必要とするが、この制約は、セキュリティの保証である。実際には、このＰＵＦ値が計算される瞬間は別として、この秘密の値を取得するためにそれをハッキングしようとする人なら誰に対しても、電子回路１０は、有利的に不活発で且つ無用であるように見える。

電子回路１０の外部にＰＵＦ値をエクスポートすることができないので、好ましくは、後者（latter）は、また、特定の目的のためにＰＵＦ値１９を用いることを目的とした少なくとも１つのアプリケーションを収容することができるアプリケーションユニット２５を含むことになる。この場合の用語アプリケーション（application）が、ＰＵＦ値１９を含むタスク又は１セットのタスクを実行するために電子回路１０によって（特にアプリケーションユニット２５によって）直接用いられるプログラム（又は１セットのソフトウェア）を意味する、ということが理解されることになる。

アプリケーションユニット２５は、非対称の暗号手法システムにおいて秘密鍵として用いられるＰＵＦ値から暗号化公開鍵を生成することができる暗号ユニットから構成されることがあり得る。有利的に、電子回路１０内に閉じ込められ、外部介入を伴わずに後者（latter）によってのみ生成されることができるので、このようなアプリケーションが備わるこのような回路１０は、秘密鍵の機密を完全に保証することを可能にする。他方、インタフェース２０を通じて公開鍵を送信することもあり得る。このような暗号ユニットは、また、公開鍵によって符号化されることがあり得るメッセージを復号するために用いられることもあり得る。これらのメッセージは、場合によって、例えばインタフェース２０を通じて受信される。秘密の値の生成及び使用を必要とする他のアプリケーションは、電子回路１０の製造の間にアプリケーションユニット２５内に当然実装されることがあり得る。

好ましくは、電子回路１０は、回路を破壊しないでその構成部品を分離することが不可能であるように、モノリシック形式で構成されてもよい。

本明細書は、また、電子回路１０に固有の値１９を用いる方法に関する。この使用方法は、それが用いられるためのこのＰＵＦ値１９を生成する時はいつでも必要とする特定の機能を有する。従って、この方法は、電子回路１０に固有のこの値１９を用いるために、この目的のために先に記載の方法によって、及び特にこの方法の何らかの実施形態によって、ＰＵＦ値１９を生成することを強制する。

更に特有の実施形態において、値１９が、それを生成する電子回路１０によって排他的に用いられる、ということは注目されることになる。とりわけ、この値は、例えば、この電子回路１０のアプリケーションユニット２５内に実装されたアプリケーションによって、用いられることになる。

更に、この電子回路１０に実装されたアプリケーションが、この値１９の使用を必要とする時に、この電子回路１０に固有の値１９が好ましくは生成される。言いかえれば、このＰＵＦ値は、この値を実際に用いることを必要とすることなく、予め、生成されず、そして格納されない、ということを意味する。

発明の主題の概要が具体例の実施形態に関して記載されたが、本発明の実施形態のより広範囲の精神及び範囲から逸脱せずに、様々な修正及び変更が、これらの実施形態に対してなされてもよい。例えば、様々な実施形態又はその機能は、当業者によって、結合され調和されても、又は随意になされてもよい。発明の主題のこのような実施形態は、実際上１つ以上が開示されるいかなる単一の発明若しくは発明の概念に、この出願の範囲を自発的に限定する意図を伴わずに、単に利便性のために用語「発明」によって、本明細書において、個々に若しくは総体として参照されてもよい。

本明細書に示される実施形態は、開示された教示を当業者が実施することを可能にするのに十分に詳細な記述で記載されているものと確信する。他の実施形態が、この開示の範囲から逸脱せずに構造及び論理的な置換及び変更がなされてもよいように、そこから用いられ導き出されてもよい。詳細な説明は、従って、限定的な意味にとることはできないし、様々な実施形態の範囲は、添付された特許請求の範囲が権利をもつすべての範囲の等価物に加えて、添付の特許請求の範囲によってのみ規定される。

Claims (15)

1. 電子回路(10)の構成部品(11)上で実行される物理量の測定によってこの電子回路(10)に固有の値(19)を生成する方法であって、
   − 各構成部品(11)に対して前記構成部品(11)上で実行された一連の測定(f１、f２、…fｉ)から派生した少なくとも１つの値(V)を計算し関連づけるステップであって、前記値(V)の計算は、
   − 前記一連の測定(f１、f２、…fｉ)から統計値を決定するステップと、
   − 前記統計値又はこの統計値から計算された不確実性の範囲として一連の測定から派生した前記値(V)を定義するステップと
   を備えるステップと、
   − 前記構成部品(11)の不変のペアの集合(13)を形成するステップと、
   − これらのペア(16)の各自の構成部品(11)に対して関連づけられた前記値(V)が少なくともセットポイント値(Vc)によって互いに間隔をおいて配置されるように、前記集合(13)内で、ペア(16)を選択するステップと、
   − 以下の列挙、即ち、
   − 各選択されたペア(16)の前記構成部品(11)に対して関連づけられた値(V)と、
   − 少なくとも１つがこれらの値(V)から派生したデータと、
   のうちの少なくとも１つに基づく比較の結果を連結することによって、前記電子回路(10)に固有の前記値(19)を生成するステップと、
   を含み、
   これらの結果は、前記比較の間に、まさにこれらのペア(16)に関する前記値(V)又はデータと同様の不変の順序で処理される
   ことを特徴とする方法。
2. 前記統計値は、平均値であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 前記集合(13)の中からの前記ペア(16)の選択は、前記ペアの前記構成部品に対して関連づけられた前記不確実性の範囲を比較することによって、そして、前記構成部品にオーバーラップしない不確実性の範囲を有する前記ペア(16)を選択することによって、ペア毎に、行われることを特徴とする請求項１又は２に記載の方法。
4. 前記セットポイント値(Vc)は、実行された測定に左右されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
5. 前記不確実性の範囲は、前記不確実性の範囲の境界を定める２つの極値又は前記平均値の辺りのエラーを推定することによって決定されることを特徴とする請求項２〜４のいずれか１項に記載の方法。
6. 前記電子回路(10)に固有の前記値(19)を生成するために比較された前記データは、少なくとも、基準値と、及び前記選択されたペア(16)の前記構成部品に対して関連づけられた範囲間の区間を定量化する値とであることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
7. 前記不確実性の範囲は、所定の信頼区間に基づいて計算されることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
8. 前記電子回路(10)に固有の前記値(19)は、前記結果の順序付けられた処理によって決定された中間値に対して適用されたハッシュ関数から派生されることを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
9. 電子回路に固有の値(19)を生成するように構成された電子回路(10)であって、前記電子回路は、
   − 各々の少なくとも１つの物理量が測定されることができる構成部品(11)と、
   − この物理量の測定(f１、f２、…fｉ)を実行することを可能にする少なくとも１つの測定素子(12)と、
   − ２つの値を比較するように構成された少なくとも１つの比較器(17)と、
   − 前記電子回路(10)の外部環境と情報を交換することを可能にするインタフェース(20)と、
   を備え、
   前記電子回路は、
   − 請求項１〜８に記載のいずれかのステップを行うように構成された計算ユニット(15)と、
   − 前記電子回路(10)に固有の前記値(19)を用いるように意図された少なくとも１つのアプリケーションを収容することができるアプリケーションユニット(25)と、
   を更に含むことを特徴とする電子回路。
10. この電子回路(10)に固有の前記値(19)の、前記インタフェース(20)を通じた、いかなる伝送も防ぐようにも構成されることを特徴とする請求項９に記載の電子回路(10)。
11. 計算データ及び測定値を一時的に記憶するように構成された手段を含み、遅くとも、前記電子回路(10)に固有の前記値(19)が初めて用いられると直ちに、前記格納手段からこれらのデータ及びこれらの値を消去するように構成されることを特徴とする請求項９又は１０に記載の電子回路(10)。
12. 前記アプリケーションユニット(25)は、前記電子回路(10)に固有の前記値(19)から公開鍵を生成するように構成された暗号ユニットであり、この値(19)は、非対称の暗号手法システムにおいて前記公開鍵に対して関連づけられた秘密鍵として用いられ、この暗号ユニットは、前記公開鍵によって符号化されたメッセージを復号するように更に構成されることを特徴とする請求項９〜１１のいずれか１項に記載の電子回路(10)。
13. この値(19)は、用いられるために、請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法によって、いつでも生成されることを特徴とする電子回路(10)に固有の値(19)を生成する方法。
    
14. 前記値(19)は、前記電子回路(10)によって排他的に用いられることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
15. この電子回路(10)内に実装されたアプリケーションがこの値(19)の使用を必要とするときに前記値(19)が生成されることを特徴とする請求項１３又は１４に記載の方法。

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