JP6897470B2 - Single plate magnetic property tester and single plate magnetic property test system - Google Patents
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Description
本発明は、単板磁気特性試験器および単板磁気特性試験システムに関し、特に、電磁鋼板等の軟磁性材料の磁気特性を測定するために用いて好適なものである。 The present invention relates to a veneer magnetic property tester and a veneer magnetic property test system, and is particularly suitable for use in measuring the magnetic properties of a soft magnetic material such as an electromagnetic steel plate.
電磁鋼板等の軟磁性材料の磁気特性を測定するために単板試験器が用いられる。単板試験器は、単板磁気特性試験器や、単板磁気試験器等とも称される。以下では、単板試験器を単板磁気特性試験器と称する。非特許文献1には、単板磁気特性試験器の巻枠として、形状が、長手方向において貫通する中空の直方体の形状であり、長さが、単板磁気特性試験器の大きさ等に応じて定められた長さである巻枠が記載されている。巻枠は、巻線枠等とも称される。以下の説明では、巻枠を巻線枠と称する。 A veneer tester is used to measure the magnetic properties of soft magnetic materials such as electrical steel sheets. The veneer tester is also referred to as a veneer magnetic property tester, a veneer magnetic tester, or the like. Hereinafter, the veneer tester will be referred to as a veneer magnetic property tester. In Non-Patent Document 1, the winding frame of the veneer magnetic property tester has a shape of a hollow rectangular parallelepiped penetrating in the longitudinal direction, and the length depends on the size of the veneer magnetic property tester and the like. The winding frame, which is the specified length, is described. The winding frame is also referred to as a winding frame or the like. In the following description, the winding frame will be referred to as a winding frame.
非特許文献1に記載の技術では、巻線枠には、一次コイルおよび二次コイルが巻き回される。一次コイルは、励磁コイル等とも称される。以下の説明では、一次コイルを励磁コイルと称する。二次コイルは、磁束密度検出コイルや、Bコイル等とも称される。以下の説明では、二次コイルを磁束密度検出コイルと称する。 In the technique described in Non-Patent Document 1, a primary coil and a secondary coil are wound around the winding frame. The primary coil is also referred to as an exciting coil or the like. In the following description, the primary coil will be referred to as an exciting coil. The secondary coil is also referred to as a magnetic flux density detection coil, a B coil, or the like. In the following description, the secondary coil will be referred to as a magnetic flux density detection coil.
単板磁気特性試験器では、巻線枠の中空部分に単板の試験片(1枚の軟磁性材料の板)を配置すると共に、試験片とヨークとで閉磁路が構成されるようにする。そして、励磁コイルに励磁電流を流して試験片を励磁することにより試験片に発生する磁束密度を、磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力に基づいて求める。尚、以下の説明では、軟磁性材料の板を、必要に応じて、軟磁性体板と称する。 In the single plate magnetic property tester, a single plate test piece (one plate of soft magnetic material) is placed in the hollow part of the winding frame, and a closed magnetic path is formed by the test piece and the yoke. .. Then, the magnetic flux density generated in the test piece by passing an exciting current through the exciting coil to excite the test piece is obtained based on the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil. In the following description, a plate made of a soft magnetic material will be referred to as a soft magnetic plate, if necessary.
ところで、巻鉄心にコイルを巻き回す巻線作業を行う際に、或る曲率で曲げられている軟磁性体板が強制的に平坦な状態にされる。また、積鉄心は、軟磁性体板を積み重ねることにより構成されるため、平坦でない軟磁性体板が強制的に平坦な状態にされる。このように平坦でない軟磁性体板を強制的に平坦な状態にした場合の軟磁性体板の磁気特性を測定することが求められる。軟磁性体板を強制的に平坦な状態にした場合には軟磁性体板に歪みが導入されるため、この歪みが磁気特性にどのように影響しているのかを評価することができるからである。 By the way, when the winding operation of winding the coil around the wound iron core is performed, the soft magnetic plate bent at a certain curvature is forcibly made flat. Further, since the stacked iron core is formed by stacking soft magnetic material plates, the non-flat soft magnetic material plates are forcibly made flat. It is required to measure the magnetic characteristics of the soft magnetic plate when the non-flat soft magnetic plate is forcibly made flat. When the soft magnetic plate is forcibly flattened, strain is introduced into the soft magnetic plate, and it is possible to evaluate how this strain affects the magnetic characteristics. is there.
この場合、単板磁気特性試験器では、平坦でない試験片を平坦な状態に矯正した状態で試験片の磁気特性を測定する必要がある。しかしながら、非特許文献1に記載の技術では、巻線枠の寸法が決められているため、平坦でない試験片を平坦な状態に矯正することが容易ではない。 In this case, in the single plate magnetic property tester, it is necessary to measure the magnetic property of the test piece in a state where the uneven test piece is corrected to a flat state. However, in the technique described in Non-Patent Document 1, since the dimensions of the winding frame are determined, it is not easy to correct an uneven test piece into a flat state.
例えば、巻線枠の中空部分(巻線枠の内壁面と試験片との間)に平板を挿入することにより試験片の形状を変形させることが考えられる。しかしながら、巻線枠の中空部分に平板を挿入するため、巻線枠に大きな応力がかかる。従って、この圧力に耐えられるように巻線枠を構成しなければならない。また、巻線枠の中空部分に挿入する平板の大きさや形状を、試験片を平坦にすることができるように定めることは容易ではない。従って、試験片全体に均一な圧力をかけることが容易ではない。 For example, it is conceivable to deform the shape of the test piece by inserting a flat plate into the hollow portion of the winding frame (between the inner wall surface of the winding frame and the test piece). However, since the flat plate is inserted into the hollow portion of the winding frame, a large stress is applied to the winding frame. Therefore, the winding frame must be configured to withstand this pressure. Further, it is not easy to determine the size and shape of the flat plate to be inserted into the hollow portion of the winding frame so that the test piece can be flattened. Therefore, it is not easy to apply uniform pressure to the entire test piece.
また、巻線枠の中空部分(巻線枠の内壁面と試験片との間)に袋を配置し、袋に空気を入れることにより試験片の形状を変形させることが考えられる。しかしながら、この場合にも、巻線枠に大きな応力がかかるため、この圧力に耐えられるように巻線枠を構成しなければならない。また、袋に空気を入れることにより試験片の圧力をかけるため、試験片全体に均一な圧力をかけることが容易ではない。
このように、非特許文献1に記載の技術では、平坦でない形状の試験片を平坦な状態にして当該試験片の磁気特性を測定することが容易ではないという問題点がある。
Further, it is conceivable that the shape of the test piece is deformed by arranging the bag in the hollow portion of the winding frame (between the inner wall surface of the winding frame and the test piece) and injecting air into the bag. However, even in this case, a large stress is applied to the winding frame, and the winding frame must be configured to withstand this pressure. Further, since the pressure of the test piece is applied by injecting air into the bag, it is not easy to apply a uniform pressure to the entire test piece.
As described above, the technique described in Non-Patent Document 1 has a problem that it is not easy to measure the magnetic characteristics of a test piece having an uneven shape in a flat state.
また、単板磁気特性試験器において、試験片に圧縮応力を付加した状態で前述したようにして試験片を励磁したときの磁気特性を測定することも行われる。特許文献1には、試験片における励磁方向を軸として試験片を湾曲形状にした状態で試験片に対して励磁方向の圧縮応力を付加する技術が記載されている。特許文献1では、このようにすることにより、試験片に対して励磁方向の圧縮応力を付加しても、試験片が座屈することを抑制することができるとされている。 Further, in the single plate magnetic property tester, the magnetic property when the test piece is excited as described above with the compressive stress applied to the test piece is also measured. Patent Document 1 describes a technique of applying compressive stress in the exciting direction to a test piece in a state where the test piece is curved around the exciting direction of the test piece. According to Patent Document 1, by doing so, it is possible to suppress buckling of the test piece even if a compressive stress in the excitation direction is applied to the test piece.
しかしながら、特許文献1に記載の技術では、試験片を湾曲させる。このため、試験片には、この湾曲による応力が導入される。従って、励磁方向に付加された圧縮応力以外の応力を排除した状態で、試験片の磁気特性を測定することができないという問題点がある。
以上のように従来の単板磁気特性試験器では、外力を付加した状態の試験片の磁気特性を正確に測定することができないという問題点がある。
However, in the technique described in Patent Document 1, the test piece is curved. Therefore, stress due to this curvature is introduced into the test piece. Therefore, there is a problem that the magnetic characteristics of the test piece cannot be measured in a state where stresses other than the compressive stress applied in the excitation direction are excluded.
As described above, the conventional single-plate magnetic property tester has a problem that the magnetic property of the test piece in a state where an external force is applied cannot be accurately measured.
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、外力を付加した状態の試験片の磁気特性を正確に測定することができる単板磁気特性試験器を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a single-plate magnetic property tester capable of accurately measuring the magnetic property of a test piece in a state where an external force is applied. And.
本発明の単板磁気特性試験器は、1枚の磁性体板を試験片として当該試験片の磁気特性を測定する単板磁気特性試験器であって、前記試験片を取り巻くように巻き回され、当該試験片を励磁するための励磁コイルと、前記試験片を取り巻くように巻き回され、前記励磁された当該試験片の内部の磁束密度を検出するための磁束密度検出コイルと、前記試験片の板面の一方と対向する位置に配置され、前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の一方側にある部分が配置される第1巻線枠と、前記試験片の板面の他方と対向する位置に配置され、前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の他方側にある部分が配置される第2巻線枠と、前記第1巻線枠と前記第2巻線枠の少なくとも何れか一方は、前記第1巻線枠および前記第2巻線枠が、前記試験片に直接または部材を介して接触した状態になるように、前記試験片の厚み方向に移動することを特徴とする。
本発明の単板磁気特性試験システムは、前記単板磁気特性試験器と、前記試験片に対し、前記試験片の励磁方向に応力を付加する応力付加手段と、を有し、前記応力付加手段により、前記試験片における励磁方向に応力が付加された状態で、前記単板磁気特性試験器により、前記試験片の磁気特性を測定することを特徴とする。
The single-plate magnetic property tester of the present invention is a single-plate magnetic property tester that measures the magnetic characteristics of the test piece using one magnetic material plate as a test piece, and is wound around the test piece. , An exciting coil for exciting the test piece, a magnetic flux density detection coil for detecting the magnetic flux density inside the excited test piece, which is wound around the test piece, and the test piece. The first winding frame, which is arranged at a position facing one of the plate surfaces of the test piece, and the portion of the exciting coil and the magnetic flux density detection coil on one side of the plate surface of the test piece is arranged, and the test. A second winding frame arranged at a position facing the other of one plate surface, and a portion of the excitation coil and the magnetic flux density detection coil on the other side of the plate surface of the test piece is arranged, and the said. At least one of the first winding frame and the second winding frame is in a state where the first winding frame and the second winding frame are in contact with the test piece directly or via a member. In addition, it is characterized in that it moves in the thickness direction of the test piece.
The single-plate magnetic property test system of the present invention includes the single-plate magnetic property tester and stress-applying means for applying stress to the test piece in the excitation direction of the test piece, and the stress-applying means. The magnetic characteristics of the test piece are measured by the single-plate magnetic property tester in a state where stress is applied in the excitation direction of the test piece.
本発明によれば、外力を付加した状態の試験片の磁気特性を正確に測定することができる単板磁気特性試験器を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a single-plate magnetic property tester capable of accurately measuring the magnetic property of a test piece in a state where an external force is applied.
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。尚、各図において、説明および表記の都合上、必要に応じて構成を簡略化したり省略したりしている。また、各図において、X軸、Y軸、Z軸は、各図の向きの関係を示すものであり、○の中に●を付しているものは、紙面の奥側から手前側に向かう方向を示し、○の中に×を付しているものは、紙面の手前側から奥側に向かう方向を示す。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In each figure, the configuration is simplified or omitted as necessary for the convenience of explanation and notation. Further, in each figure, the X-axis, Y-axis, and Z-axis indicate the relationship of the orientations of each figure, and those marked with ● in ○ are directed from the back side to the front side of the paper. The direction is indicated, and the one with a cross in the circle indicates the direction from the front side to the back side of the paper.
(第1の実施形態)
まず、第1の実施形態を説明する。
図1は、単板磁気特性試験器の概略構成の一例を示す斜視図である。図1(a)は、縦形単ヨークの単板磁気特性試験器の概略構成を示す図である。図1(b)は、縦形複ヨークの単板磁気特性試験器の概略構成を示す図である。図1(c)は、横形単ヨークの単板磁気特性試験器の概略構成を示す図である。図1(d)は、横形複ヨークの単板磁気特性試験器の概略構成を示す図である。
(First Embodiment)
First, the first embodiment will be described.
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a schematic configuration of a veneer magnetic property tester. FIG. 1A is a diagram showing a schematic configuration of a veneer magnetic property tester for a vertical single yoke. FIG. 1B is a diagram showing a schematic configuration of a vertical double yoke veneer magnetic property tester. FIG. 1 (c) is a diagram showing a schematic configuration of a single plate magnetic property tester of a horizontal single yoke. FIG. 1D is a diagram showing a schematic configuration of a single-plate magnetic property tester having a horizontal double yoke.
図1(a)〜図1(d)において、単板磁気特性試験器は、試験器本体100と、ヨークヨークY、Y1、Y2とを有する。図1(a)〜図1(d)に示すように、単板の試験片Sと、ヨークY、Y1、Y2により閉磁路が構成される。図1(a)〜図1(d)に示すように、本実施形態の試験器本体100は、図1(a)〜図1(d)に示す何れの単板磁気特性試験器にも適用することができ、どのような単板試験器にも適用することができる。試験片Sは、平面形状が長方形の単板(1枚の板)であり、方向性電磁鋼板や無方向性電磁鋼板等の軟磁性材料を用いて構成される。試験片Sは、その長手方向がX軸方向になり、その短手方向(幅方向)がY軸方向になり、その厚み方向がZ軸方向になるように配置されるものとする。
In FIGS. 1A to 1D, the veneer magnetic property tester has a tester
以下に、本実施形態の試験器本体100について説明する。本実施形態では、図1(b)に示す縦形複ヨークの単板磁気特性試験器を例に挙げて説明する。
図2は、図1(b)に示す縦形複ヨークの単板磁気特性試験器を、試験片Sの短手方向に沿って見た図(Y軸方向に沿って見た図)である。図3は、試験器本体100の長手方向(X軸方向)の中央において、試験器本体100の長手方向(X軸方向)に垂直な方向に切った場合の試験器本体100の断面の一例を示す図(図2のI−Iで示す部分で切った場合の断面図)である。図4は、試験器本体100の短手方向(Y軸方向)の中央において、試験器本体100の短手方向に垂直な方向に切った場合の試験器本体100の断面の一例を示す図(図3のII−IIで示す部分で切った場合の断面図)である。
The tester
FIG. 2 is a view (a view taken along the Y-axis direction) of the veneer magnetic property tester of the vertical double yoke shown in FIG. 1 (b) along the lateral direction of the test piece S. FIG. 3 shows an example of a cross section of the tester
図1〜図4において、試験器本体100は、上部アンビル111、下部アンビル112、締付部材121〜126、上部巻線枠131、下部巻線枠132、励磁コイル141、磁束密度検出コイル142、絶縁シート151、152、161、162を有する。
In FIGS. 1 to 4, the tester
上部アンビル111および下部アンビル112は、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)において間隔を有して配置される。上部アンビル111および下部アンビル112は、直方体形状を有する。上部アンビル111および下部アンビル112の長手方向はX軸方向であり、短手方向はY軸方向であり、高さ方向はZ軸方向である。
上部アンビル111および下部アンビル112は、非磁性を有する材料で構成される。また、上部アンビル111および下部アンビル112は、後述するように上部巻線枠131および下部巻線枠132を上下から押し付ける際に変形しない強度を有する。上部アンビル111および下部アンビル112は、例えば、オーステナイトステンレスやチタンを用いて構成される。
The
The
図3に示すように、上部アンビル111および下部アンビル112の短手方向(Y軸方向)の両側には、その短手方向の端から所定の距離だけ内側の位置に、その短手方向において相互に対向するように、その高さ方向(Z軸方向)において貫通する貫通穴がそれぞれ形成される。後述するように貫通穴には、締付部材121〜126の1つであるボルトが通される。図1に示すように本実施形態では、このような貫通穴に組が、上部アンビル111および下部アンビル112の長手方向(X軸方向)に沿って3か所形成される場合を例に挙げて示す(貫通穴の数は、上部アンビル111および下部アンビル112においてそれぞれ6個ずつである)。上部アンビル111に形成される貫通穴と、下部アンビル112に形成される貫通穴は、その高さ方向(Z軸方向)において相互に対向する位置に形成される。
As shown in FIG. 3, both sides of the
図1〜図3において、締付部材121〜126は、ボルトおよびナットを有する。ボルトは、上部アンビル111および下部アンビル112に形成された貫通穴であって、上部アンビル111および下部アンビル112の高さ方向(Z軸方向)において相互に対向する貫通穴に挿入される。貫通穴に挿入されたボルトの先端にナットが取り付けられる。本実施形態では、上部アンビル111および下部アンビル112の高さ方向(Z軸方向)において相互に対向する位置にある貫通穴の組は6組ある。これら貫通穴の組のそれぞれに対し、ボルトおよびナットが取り付けられる。
In FIGS. 1 to 3, the tightening
ボルトおよびナットの一方を固定し、他方を締めることにより、ボルトの頭部とナットとの間隔が狭まる。また、他方を緩めることにより、ボルトの頭部とナットとの間隔が広がる。このようにして上部アンビル111および下部アンビル112の高さ方向(Z軸方向)の間隔が調整される。尚、締付部材121〜126は、ボルトおよびナットの他、ワッシャやブッシュ等も有する。ブッシュは絶縁性を有し、締付部材121〜126のボルトと上部アンビル111との間を絶縁する。
By fixing one of the bolt and nut and tightening the other, the distance between the head of the bolt and the nut is narrowed. Also, by loosening the other, the distance between the head of the bolt and the nut is widened. In this way, the distance between the
図3および図4において、上部巻線枠131は、上部アンビル111の、下部アンビル112と対向する面に、絶縁シート161を間に挟んだ状態で取り付けられる。下部巻線枠132は、下部アンビル112の、上部アンビル111と対向する面に、絶縁シート162を間に挟んだ状態で取り付けられる。上部巻線枠131および下部巻線枠132は、直方体形状を有する。上部巻線枠131および下部巻線枠132の長手方向はX軸方向であり、短手方向はY軸方向であり、高さ方向はZ軸方向である。
In FIGS. 3 and 4, the upper winding
上部巻線枠131および下部巻線枠132は、非磁性且つ絶縁性を有する材料で構成される。また、上部巻線枠131および下部巻線枠132は、後述するように上部アンビル111、下部アンビル112、締付部材121〜126を用いて上下から押し付けられる際に変形しない強度を有する。上部巻線枠131および下部巻線枠132は、例えば、フェノール樹脂やガラスエポキシ樹脂を用いて構成される。
The upper winding
図4において、上部巻線枠131の、上部アンビル111と対向する面には、第1凹部が形成される。下部巻線枠132の、下部アンビル112と対向する面にも、第1凹部が形成される。第1凹部には、励磁コイル141が入れられる。図5に示すように励磁コイル141は、そのコイル軸(コイルがつくるループの中心を通る仮想線)が、試験片Sの長手方向(X軸方向)と平行になるように螺旋状に巻き回されて構成される。このような励磁コイル141の形状に合うように、上部巻線枠131および下部巻線枠132に形成される第1凹部の形状、大きさ、および位置が定められる。絶縁シート161、162は、励磁コイル141を保護すると共に、上部アンビル111と下部アンビル112との絶縁を確保するために、上部アンビル111と上部巻線枠131との間、下部アンビル112と下部巻線枠132との間にそれぞれ配置される。
In FIG. 4, a first recess is formed on the surface of the upper winding
上部巻線枠131の、下部巻線枠132(試験片S)と対向する面には、第2凹部が形成される。下部巻線枠132の、上部巻線枠131(試験片S)と対向する面にも、第2凹部が形成される。第2凹部には、磁束密度検出コイル142が入れられる。図5に示すように、磁束密度検出コイル142は、そのコイル軸が、試験片Sの長手方向(X軸方向)X軸方向と平行になるように螺旋状に巻き回されて構成される。このような磁束密度検出コイル142の形状に合うように、上部巻線枠131および下部巻線枠132に形成される第2凹部の形状、大きさ、および位置が定められる。絶縁シート151、152は、磁束密度検出コイル142を保護すると共に、試験片Sとの絶縁を確保するために、上部巻線枠131の、下部巻線枠132(試験片S)と対向する面、下部巻線枠132の、上部巻線枠131(試験片S)と対向する面にそれぞれ配置される。
A second recess is formed on the surface of the upper winding
励磁コイル141は、試験片Sを取り巻くように配置されるコイルであり、試験片Sを励磁するための励磁電流が流れるコイルである。磁束密度検出コイル142は、試験片Sを取り巻くように配置されるコイルであり、励磁された試験片Sの内部の磁束密度を検出するためのコイルである。磁束密度検出コイル142の両端に誘起される誘導起電力から、試験片Sの内部の磁束密度が求められる。図2〜図4に示すように、励磁コイル141は、磁束密度検出コイル142の外側に配置される。
The
励磁コイル141および磁束密度検出コイル142のコイル軸は、略同軸であるのが好ましく、同軸であるのがより好ましい。励磁コイル141から発生する磁束が大きく且つ均一な領域に磁束密度検出コイル142を配置することができるからである。また、励磁コイル141のコイル軸と、試験片Sの軸(試験片Sの中心を通り、その長手方向(X軸)に延びる仮想線)とが略一致するのが好ましく、一致するのがより好ましい。励磁コイル141から発生する磁束が大きく且つ均一な領域に試験片Sを配置することができるからである。
The coil shafts of the
また、本実施形態では、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を構成する電線として、撚線の電線を用いる。また、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142は、テフロン(登録商標)被覆電線等、可撓性を有する絶縁被覆が施されている撚線の電線とするのが好ましい。電線を保護することができると共に電線の絶縁をより確実に確保することができるからである。励磁コイル141および磁束密度検出コイル142として絶縁被覆が施されている撚線の電線を用いる場合、絶縁シート151、152、161、162を用いなくてもよい。この場合、例えば、絶縁被覆が施されている撚線の電線を第1凹部および第2凹部に接着剤等を用いて固定する。
Further, in the present embodiment, a stranded electric wire is used as the electric wire constituting the
次に、本実施形態の試験器本体100の使用方法の一例を説明する。図3(a)は、試験準備時の試験器本体100の状態を示す図である。図3(b)は、試験時の試験器本体100の状態を示す図である。
図3(a)に示すように、試験を開始する前に、締付部材121〜126のボルトを緩めて、上部巻線枠131と下部巻線枠132との間にできる空間に試験片Sを配置する。試験片Sが所定の位置に配置されると、締付部材121〜126のボルトを締めて、上部アンビル111および下部アンビル112により、上部巻線枠131と下部巻線枠132を上下から押し付ける。そして、上部巻線枠131(絶縁シート151)と下部巻線枠132(絶縁シート152)が、試験片Sに密着するまで、上部巻線枠131と下部巻線枠132との間の間隔を減少させる。例えば、上部巻線枠131(絶縁シート151)と下部巻線枠132(絶縁シート152)との間の間隔の長さが所定の長さになるまで、締付部材121〜126のボルトを締める。所定の長さは、試験片Sの板厚と、上部巻線枠131および下部巻線枠132の高さ(Z軸方向の長さ)と、絶縁シート151、152、161、162の厚みとの和に基づいて定めることができる。即ち、上部巻線枠131(絶縁シート151)と下部巻線枠132(絶縁シート152)との間の間隔の長さが、試験片Sが平坦な状態であると見なせる長さになるまで、締付部材121〜126のボルトを締める。このようにして上部巻線枠131(絶縁シート151)と下部巻線枠132(絶縁シート152)を試験片Sに接触(好ましくは密接)させた後、励磁コイル141に励磁電流を流して試験片Sの磁気特性を測定する。
Next, an example of how to use the tester
As shown in FIG. 3A, before starting the test, the bolts of the tightening
以上のようにして上部巻線枠131(絶縁シート151)と下部巻線枠132(絶縁シート152)との間の間隔が減少すると、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142は変形する。そこで、前述したように本実施形態では、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142が可撓性を有するように励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を撚線の電線を用いて構成する。また、図3(b)において、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142のうち、上部巻線枠131および下部巻線枠132に形成されている第1凹部および第2凹部に入れられていない部分が、相互に接近する場合がある。そうすると、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を構成する電線に絶縁処理が施されていない場合、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142の絶縁が保たれなくなる虞がある。また、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を構成する電線に絶縁処理が施されておらず、且つ、締付部材121〜126のボルトが絶縁ブッシュ等で絶縁されていない場合、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142と締付部材121〜126との絶縁が保たれなくなる虞がある。従って、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を、可撓性を有する絶縁被覆が施されている撚線の電線を用いて構成するのが好ましい。
When the distance between the upper winding frame 131 (insulating sheet 151) and the lower winding frame 132 (insulating sheet 152) is reduced as described above, the
尚、本実施形態では、以上の動作において、下部アンビル112および下部巻線枠132の高さ方向(Z軸方向)の位置は固定され、上部アンビル111および上部巻線枠131が、その高さ方向(Z軸方向)に動くものとする。ただし、これとは逆に、上部アンビル111および上部巻線枠131の高さ方向(Z軸方向)位置は固定され、下部アンビル112および下部巻線枠132が、その高さ方向(Z軸方向)に動くものとしてもよいし、上部アンビル111および上部巻線枠131と、下部アンビル112および下部巻線枠132との双方が、その高さ方向(Z軸方向)に動くものとしてもよい。また、締付部材121〜126のボルトを用いず、上部アンビル111と下部アンビル112を、電動機器、油圧機器あるいは空圧機器を用いて、その高さ方向(Z軸方向)に動くものとし、上部アンビル111、下部アンビル112により、上部巻線枠131および下部巻線枠132を上下から押し付けるようにしてもよい。
In the present embodiment, in the above operation, the positions of the
以上のように本実施形態では、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142が巻き回される上部巻線枠131および下部巻線枠132の少なくとも何れか一方を、その高さ方向(Z軸方向)に移動させ、上部巻線枠131および下部巻線枠132を試験片Sに接触(好ましくは密接)させる。従って、巻線枠の中空部分に平板や空気袋等を入れなくても、試験片S全体に可及的に均一な圧力をかけて試験片Sを平坦にすることができる。従って、本実施形態の単板磁気特性試験器を用いた磁気特性の測定の結果から、例えば、平坦でない試験片Sを平坦にすることが、磁気特性にどのように寄与しているのかを正確に把握することができる。
As described above, in the present embodiment, at least one of the upper winding
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態を説明する。単板磁気特性試験器では、磁束密度検出コイルに発生する誘導起電力から、磁束密度検出コイルが取り巻く空隙に発生する磁束に基づく誘導起電力を取り除くことが行われる(以下の説明では、このことを空隙補償と称する)。非特許文献1には、相互誘導器によって空隙補償を行うことが記載されているが、本実施形態では、磁束密度検出コイル自体が空隙補償の機能を有する場合について説明する。このように本実施形態と第1の実施形態とは、磁束密度検出コイルの構成が主として異なる。従って、本実施形態の説明において、第1の実施形態と同一の部分については、図1〜図5に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。
(Second embodiment)
Next, the second embodiment will be described. In the single plate magnetic property tester, the induced electromotive force based on the magnetic flux generated in the voids surrounding the magnetic flux density detection coil is removed from the induced electromotive force generated in the magnetic flux density detection coil (in the following description, this is the case). Is called void compensation). Non-Patent Document 1 describes that void compensation is performed by a mutual inducer, but in the present embodiment, a case where the magnetic flux density detection coil itself has a void compensation function will be described. As described above, the configuration of the magnetic flux density detection coil is mainly different between the present embodiment and the first embodiment. Therefore, in the description of the present embodiment, detailed description of the same parts as those of the first embodiment will be omitted by adding the same reference numerals as those given in FIGS. 1 to 5.
図6は、試験器本体600の長手方向(X軸方向)の中央において、試験器本体600の長手方向(X軸方向)に垂直な方向に切った場合の試験器本体600の断面の一例を示す図である。具体的に図6(a)は、試験準備時の試験器本体600の状態を示す図である。図6(b)は、試験時の試験器本体600の状態を示す図である。尚、図6は、図2のI−Iで示す部分で切った場合の断面図に対応する。
本実施形態の試験器本体600は、第1の実施形態の磁束密度検出コイル142に代えて図6に示す磁束密度検出コイル642を有する。
FIG. 6 shows an example of a cross section of the tester
The tester
本発明者らは、非特許文献1に記載の技術のように磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力から相互誘導器等に備わる空隙補償コイルに誘起される誘導起電力を差し引くのではなく、試験片Sがない状態で励磁コイルに励磁電流を流した際に、磁束密度検出コイルに誘導起電力が発生しないようにすればよいことを見出した。本発明者らは、そのためには、磁束密度検出コイルを形成するために銅線等の金属体を周期的に巻き回す際の各周期において複数のループを形成し、試験片がない場合には、当該複数のループに電流が流れることにより発生する磁束がキャンセルされるように当該複数のループを形成すればよいという知見を得た。このようにして形成した複数のループの何れか1つの内部に試験片を配置した状態で励磁コイルに励磁電流を流して試験片を励磁したときに磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力を測定すれば、その測定される誘導起電力は、空隙を流れる磁束によるものを含まずに、試験片を流れる磁束によるもののみとなるからである。 The present inventors do not subtract the induced electromotive force induced in the void compensation coil provided in the mutual inducer or the like from the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil as in the technique described in Non-Patent Document 1. , It has been found that when an exciting current is passed through the exciting coil without the test piece S, it is sufficient to prevent the induced electromotive force from being generated in the magnetic flux density detection coil. For that purpose, the present inventors form a plurality of loops in each cycle when a metal body such as a copper wire is periodically wound in order to form a magnetic flux density detection coil, and when there is no test piece, the present inventors form a plurality of loops. It was found that the plurality of loops should be formed so that the magnetic flux generated by the current flowing through the plurality of loops is canceled. The induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil when the test piece is excited by passing an exciting current through the exciting coil with the test piece arranged inside any one of the plurality of loops formed in this way. This is because, if measured, the measured induced electromotive force does not include the magnetic flux flowing through the voids, but only the magnetic flux flowing through the test piece.
磁束密度検出コイル642は、以上のような本発明者らの新たな知見に基づいて構成されるものである。図7は、磁束密度検出コイル642の巻き方の一例を説明する図である。
図7において、磁束密度検出コイル642は、それぞれ巻回数が「1」以上のループを有する複数の磁束密度検出用コイル部701a〜701cと、それぞれ巻回数が「1」以上のループを有する複数の空隙補償用コイル部702a〜702cとを有する。
The magnetic flux
In FIG. 7, the magnetic flux
尚、以下の説明では、複数の磁束密度検出用コイル部701a〜701cのそれぞれを、必要に応じて、磁束密度検出用コイル部701と称し、複数の空隙補償用コイル部702a〜702cのそれぞれを、必要に応じて、空隙補償用コイル部702と称する。また、以下の説明では、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702を構成するループの中心を通る仮想線を、必要に応じて、コイル部の軸と称する。図7において、磁束密度検出用コイル部701の軸は、軸711であり、空隙補償用コイル部702の軸は、それぞれ軸712a、712bである。
In the following description, each of the plurality of magnetic flux density
尚、表記および説明の都合上、図7では、空隙補償用コイル部702a〜702cを構成するループを、図6に示す空隙補償用コイル部702ものよりも大きく示している。また、図7では、表記および説明の都合上、磁束密度検出用コイル部701の数と空隙補償用コイル部702の数が、それぞれ3つである場合を例に挙げて示す。しかしながら、磁束密度検出用コイル部701の数と空隙補償用コイル部702の数は、「3」に限定されない。
For convenience of notation and description, FIG. 7 shows the loops constituting the void
図7において、磁束密度検出用コイル部701の第1端部721および空隙補償用コイル部702の第1端部731と、磁束密度検出用コイル部701の第2端部722および空隙補償用コイル部702の第2端部732とは、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が逆極性になるように相互に接続される。
In FIG. 7, the first end portion 721 of the magnetic flux density
また、磁束密度検出用コイル部701の第3端部723および空隙補償用コイル部702の第3端部733と、磁束密度検出用コイル部701の第4端部724および空隙補償用コイル部702の第4端部734とは、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が逆極性になるように相互に接続される。
Further, the third end portion 723 of the magnetic flux density
即ち、磁束密度検出コイル642に電流が流れた際に、磁束密度検出用コイル部701から発生する磁束の向きと、空隙補償用コイル部702から発生する磁束の向きとが相互に逆向きになる(即ち、これらの磁束が相互に弱め合う向きになる)ように、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が相互に接続される。図7に示す例において、磁束密度検出コイル642(磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702)の上に付している矢印(鏃)のように電流が流れる場合、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702の内部を貫くように付した矢印線の向きに磁束が流れる。
That is, when a current flows through the magnetic flux
以上のような磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702の組を一組として、複数の組が順極性となるように相互に直列に接続される。即ち、磁束密度検出コイル642に電流が流れた際に、各組の磁束密度検出用コイル部701から発生する磁束の向きが同じ向きになる(即ち、これらの磁束が相互に強め合う向きになる)と共に、各組の空隙補償用コイル部702から発生する磁束の向きが同じ向きになるように、各組が直列に接続される。
The set of the magnetic flux density
そして、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702の組を直列に接続する際に、各組において、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの巻回数を「1」とし、空隙補償用コイル部702を構成するループの巻回数を「2」とする。
Then, when connecting the sets of the magnetic flux density
また、磁束密度検出用コイル部701の軸711と、空隙補償用コイル部702の軸712a、712bは、試験片Sにおける励磁方向(試験片Sの短手方向(Y軸方向))において相互に離隔した位置で平行になるようにする。図7に示すように、磁束密度検出用コイル部701を構成するループと空隙補償用コイル部702を構成するループは、それらの軸711、712a、712bの方向(X軸方向)に沿って見た場合に(即ち、軸711、712a、712bに垂直な面(Y−Z平面)において)、少なくとも試験片Sが置かれている領域が重ならないようにし、全ての領域が重ならないようにするのが好ましい。
Further, the
ここで、図7を参照しながら、各組の接続の一例を説明する。図7に示す例では、磁束密度検出用コイル部701aおよび空隙補償用コイル部702aの組における空隙補償用コイル部702aの第5端部745から巻き始まる。そして、磁束密度検出用コイル部701aおよび空隙補償用コイル部702aの組における空隙補償用コイル部702aの第6端部746と、磁束密度検出用コイル部701bおよび空隙補償用コイル部702bの組における空隙補償用コイル部702bの第5端部755と、が相互に接続される。同様に、磁束密度検出用コイル部701bおよび空隙補償用コイル部702bの組における空隙補償用コイル部702bの第6端部756と、磁束密度検出用コイル部701cおよび空隙補償用コイル部702cの組における空隙補償用コイル部702cの第5端部765とが相互に接続される。そして、磁束密度検出用コイル部701cおよび空隙補償用コイル部702cの組における空隙補償用コイル部702cの第6端部766で巻き終わる。
Here, an example of each set of connections will be described with reference to FIG. 7. In the example shown in FIG. 7, the winding starts from the
尚、本実施形態では、磁束密度検出コイル642を構成する電線として、第1の実施形態の磁束密度検出コイル142と同様に、撚線の電線を用いる。また、磁束密度検出コイル642は、テフロン被覆電線等、可撓性を有する絶縁被覆が施されている撚線の電線とするのが好ましい。このように磁束密度検出コイル642は、一組の撚線の電線を用いて一体となるように構成される。従って、図7の説明において、相互に分離された磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が接続されるわけではない。また、図7では、表記の都合上、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が接続される部分(前述した第1端部〜第6端部)の一部を離隔した状態で示すが、この部分は繋がっている。また、前述したように、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702は、相互に逆向きの磁束を作るループを構成する。磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702が接続される部分(前述した第1端部〜第6端部)の位置は、当該ループの境界となり得る位置であればよく、必ずしも特定の一箇所の位置にはならない。
In the present embodiment, as the electric wire constituting the magnetic flux
ここで、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの面積に、空隙補償用コイル部702を構成する巻回数が2回のループ(磁束密度検出用コイル部701を構成するループの両隣にあるループ)の面積の和を近づけるのが好ましい。尚、ループの面積とは、いわゆるコイル面の面積であり、例えば、図6の磁束密度検出用コイル部701の輪郭を所定の形状(例えば、楕円や長方形)で近似した場合の当該形状の面積を、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの面積とすることができる。このことは、空隙補償用コイル部702について同じである。
Here, in the area of the loop forming the magnetic flux density
以上のようにして磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702を構成することで、試験片Sがない状態では、各組において、磁束密度検出用コイル部701および空隙補償用コイル部702に電流が流れることにより発生する磁束がキャンセルされ、磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力を「0(ゼロ)」に近づけることができる。従って、磁束密度検出用コイル部701の内部に試験片Sを配置した状態で磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力は、空隙補償された誘導起電力となり、試験片Sの内部の磁束密度の変化のみに基づく誘導起電力に近づけることができる。
By configuring the magnetic flux density
ここで、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの面積と、空隙補償用コイル部702を構成する巻回数が2回のループ(磁束密度検出用コイル部701を構成するループの両隣にあるループ)の面積の和とを等しくすることができれば、磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力を略「0(ゼロ)」(好ましくは「0(ゼロ)」)となる。従って、磁束密度検出用コイル部701の内部に試験片Sを配置した状態で磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力は、試験片Sの内部の磁束密度の変化に基づく誘導起電力のみになる。また、各組における空隙補償用コイル部702を構成するループの巻回数を増やすことにより、各組において、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの面積と、空隙補償用コイル部702を構成するループの面積の和とを等しくしても、磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力を略「0(ゼロ)」(好ましくは「0(ゼロ)」)とすることができる。
尚、非特許文献1と同様に、単板磁気特性試験器の磁束密度検出コイルとして機能する磁束密度検出用コイル部701を構成するループの総巻回数は、測定機器の特性に合わせて設定することができるが、例えば、20回以上にすることができる。また、同一の組において、磁束密度検出用コイル部701を構成するループの巻回数を、2以上にしてもよい。
Here, the area of the loop that constitutes the magnetic flux density
Similar to Non-Patent Document 1, the total number of turns of the loop constituting the magnetic flux density
非特許文献1に記載の技術のように相互誘導器を用いると、空隙補償を行うためのコイルを追加する必要がある。この追加のコイルのインダクタンスにより、磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力の位相に遅れが生じる場合がある。また、この追加のコイルからの磁束の漏れも、磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力の位相がずれる原因となる。更に、この追加のコイルと磁束密度検出コイルとの間に発生するキャパシタンスも、磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力の位相がずれる原因となる。場合によっては、このキャパシタンスにより、回路が共振する虞もある。更に、追加のコイルの存在によって、磁束密度検出コイルに誘起される誘導起電力の信号にノイズが重畳される虞もある。 When a mutual inducer is used as in the technique described in Non-Patent Document 1, it is necessary to add a coil for performing void compensation. Due to the inductance of this additional coil, the phase of the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil may be delayed. Leakage of magnetic flux from this additional coil also causes the phase of the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil to shift. Further, the capacitance generated between the additional coil and the magnetic flux density detection coil also causes the phase of the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil to shift. In some cases, this capacitance may cause the circuit to resonate. Further, due to the presence of the additional coil, noise may be superimposed on the signal of the induced electromotive force induced in the magnetic flux density detection coil.
これに対し本実施形態では、相互誘導器を用いなくても空隙補償ができるので、空隙補償を行うために磁束密度検出コイルとは別のコイルが不要になる。よって、磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力の位相にずれが生じたり、磁束密度検出コイル642に誘起される誘導起電力にノイズが重畳したり、磁束密度検出コイル642を含む回路が共振したりすることを抑制することができる。
On the other hand, in the present embodiment, since the void compensation can be performed without using the mutual inducer, a coil different from the magnetic flux density detection coil is not required to perform the void compensation. Therefore, the phase of the induced electromotive force induced in the magnetic flux
(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態を説明する。第1の実施形態および第2の実施形態では、励磁コイル141および磁束密度検出コイル142を構成する電線として撚線の電線を用いる場合を例に挙げて説明した。これに対して本実施形態では、励磁コイルおよび磁束密度検出コイルのそれぞれを上部巻線枠に配置される部分と下部巻線枠に配置される部分とで分離(切断)した(と仮定した)場合の分離部に電極を形成する。そして、試験器本体の使用時に、試験片Sが密着するまで上部巻線枠と下部巻線枠との間の間隔を狭めたときに、励磁コイルおよび磁束密度検出コイルが構成されるように、上部巻線枠に形成された電極と下部巻線枠に形成された電極とを電気的に接続させる。このように本実施形態と第1の実施形態および第2の実施形態とでは、励磁コイルおよび磁束密度検出コイルの構成が主として異なる。従って、本実施形態の説明において、第1の実施形態および第2の実施形態と同一の部分については、図1〜図7に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。尚、ここでは、励磁コイルおよび磁束密度検出コイルの巻き方が、第1の実施形態で説明した巻き方である場合を例に挙げて説明する。
(Third Embodiment)
Next, a third embodiment will be described. In the first embodiment and the second embodiment, a case where a stranded electric wire is used as an electric wire constituting the
図8は、試験器本体800の長手方向(X軸方向)の中央において、試験器本体800の長手方向(X軸方向)に垂直な方向に切った場合の試験器本体800の断面の一例を示す図である。具体的に図8(a)は、試験準備時の試験器本体800の状態を示す図である。図8(b)は、試験時の試験器本体800の状態を示す図である。尚、図8は、図3に対応する図である。尚、図8は、図2のI−Iで示す部分で切った場合の断面図に対応する。
FIG. 8 shows an example of a cross section of the tester
本実施形態の試験器本体800は、上部巻線枠131、下部巻線枠132、励磁コイル141、磁束密度検出コイル142、絶縁シート151、152に代えて、上部巻線枠831、下部巻線枠832、励磁コイル841、磁束密度検出コイル842、絶縁シート851、852を有する。また、本実施形態の試験器本体800は、上部巻線枠831と上部アンビル111との間に配置される絶縁シート161、162を有しない。尚、図8では、表記の都合上、締付部材121〜126を図示していないが、締付部材121〜126は、第1の実施形態で説明したものと同じである。また、上部アンビル111および下部アンビル112も、第1の実施形態で説明したものと同じである。
The tester
図8において、上部巻線枠831は、上部アンビル111の、下部アンビル112と対向する面に取り付けられる。下部巻線枠832は、下部アンビル112の、上部アンビル111と対向する面に取り付けられる。上部巻線枠831および下部巻線枠832は、直方体形状を有する。上部巻線枠831および下部巻線枠832の長手方向はX軸方向であり、短手方向はY軸方向であり、高さ方向はZ軸方向である。
In FIG. 8, the upper winding
上部巻線枠831および下部巻線枠832は、非磁性且つ絶縁性を有する材料で構成される。また、上部巻線枠831および下部巻線枠832は、上部アンビル111、下部アンビル112、締付部材121〜126を用いて上下から押し付けられる際に変形しない強度を有する。上部巻線枠831および下部巻線枠832は、例えば、フェノール樹脂やガラスエポキシ樹脂を用いて構成される。
The upper winding
図8において、上部巻線枠831の内部の領域であって、上部アンビル111側の領域には、試験片Sの板面(X−Y平面)と略平行な方向に穴部が形成される。また、この穴部から、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に、上部巻線枠831の、下部巻線枠832(試験片S)と対向する面まで到達する穴部が形成される。下部巻線枠832の内部の領域であって、下部アンビル112側の領域にも、試験片Sの板面(X−Y平面)と略平行な方向に穴部が形成される。また、この穴部から、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に、下部巻線枠832の、上部巻線枠831(試験片S)と対向する面まで到達する穴部が形成される。
In FIG. 8, a hole is formed in a region inside the upper winding
上部巻線枠831に形成される穴部には、上部励磁コイル841aが配置される。下部巻線枠832に形成される穴部には、下部励磁コイル841bが配置される。図9は、上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bを、試験片の厚み方向(Z軸方向)に沿って見た図である。図9では、下部励磁コイル841bを破線で示す。尚、図8は、図9のIII−IIIで示す部分で切った場合の断面図である。
The upper
コイル軸が試験片Sの長手方向(X軸方向)と略平行になるように試験片Sの周囲に螺旋状に巻き回される励磁コイル841を、そのコイル軸に沿って半分に分離(切断)したもののうちの一方が上部励磁コイル841aであり、他方が下部励磁コイル841bである。このような上部励磁コイル841a、下部励磁コイル841bの形状に合うように、上部巻線枠831、下部巻線枠832の穴部の形状、大きさおよび位置がそれぞれ定められる。
The
上部巻線枠831および下部巻線枠832において、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に形成される穴部は、上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bの領域であって、励磁コイル841の分離部(切断部)に対応する領域から、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に延設される。このように、上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bのうち、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に延設される部分が、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)と略平行な方向に形成される穴部に配置される。一方、上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bのそれ以外の部分は、上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bにおいて、試験片Sの板面(X−Y平面)と略平行な方向に形成される穴部に配置される。図9において、実線および破線で示す部分は、試験片Sの板面(X−Y平面)と略平行な方向に形成された穴部に配置される部分である。
In the upper winding
上部励磁コイル841aおよび下部励磁コイル841bの領域であって、励磁コイル841の分離部に対応する領域に電極861a、861b、862a、862bが配置される。
図8に示すように、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)において相互に対向する電極861a〜861bおよび862a〜862bが確実に電気的に接続されるように、電極861a、861bには突起部が形成される。突起部は、例えば、ばね状として伸縮するようにし、外力が付加されていない状態では、その高さが、試験片Sの厚みとして想定される厚みの最大値よりも高くなり、試験片Sの厚みとして想定される厚みの最小値よりも縮むようにするのが好ましい。
As shown in FIG. 8, protrusions on the
上部巻線枠831の、下部巻線枠832(試験片S)と対向する面には、凹部が形成される。下部巻線枠132の、上部巻線枠831(試験片S)と対向する面にも、凹部が形成される。上部巻線枠831に形成される凹部には、上部磁束密度検出コイル842aが配置される。下部巻線枠832にされる凹部には、下部磁束密度検出コイル842bが配置される。励磁コイル841よりも内側において、コイル軸が試験片Sの長手方向(X軸方向)と略平行になるように試験片Sの周囲に螺旋状に巻き回される磁束密度検出コイル842を、そのコイル軸に沿って半分に分離(切断)したもののうちの一方が上部磁束密度検出コイル842aであり、他方が下部磁束密度検出コイル842bである。このような上部磁束密度検出コイル842a、下部磁束密度検出コイル842bの形状に合うように、上部巻線枠831、下部巻線枠832の凹部の形状、大きさおよび位置がそれぞれ定められる。
A recess is formed on the surface of the upper winding
上部磁束密度検出コイル842aおよび下部磁束密度検出コイル842bの領域であって、磁束密度検出コイル842の分離部に対応する領域に電極863a、863b、864a、864bが配置される。図9に示すように、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)において相互に対向する電極863a〜863bおよび864a〜864bが確実に電気的に接続されるように、電極863a、863bには突起部が形成される。突起部は、例えば、ばね状として伸縮するようにし、外力が付加されていない状態では、その高さが、試験片Sの厚みとして想定される厚みの最大値よりも高くなり、試験片Sの厚みとして想定される厚みの最小値よりも縮むようにするのが好ましい。
尚、上部磁束密度検出コイル842aおよび下部磁束密度検出コイル842bを、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)に沿って見た図は、図9において、841a、841b、861a、861b、862a、862bを、それぞれ、842a、842b、863a、863b、864a、864bとしたものになる。
A view of the upper magnetic flux
第1の実施形態で説明したように、励磁コイル841および磁束密度検出コイル842のコイル軸は、略同軸であるのが好ましく、同軸であるのがより好ましい。また、励磁コイル841および磁束密度検出コイル842のコイル軸と、試験片Sの軸(試験片Sの中心を通り、その長手方向(X軸)に延びる仮想線)とが略一致するのが好ましく、一致するのがより好ましい。
As described in the first embodiment, the coil shafts of the
絶縁シート851、852は、それぞれ、上部磁束密度検出コイル842a、下部磁束密度検出コイル842bを保護すると共に、上部磁束密度検出コイル842a、下部磁束密度検出コイル842bと試験片Sとの絶縁を確保するためのものである。ただし、絶縁シート851、852は、電極863a、863b、864a、864bの領域には配置されない。即ち、絶縁シート851(852)は、少なくとも、上部磁束密度検出コイル842a(下部磁束密度検出コイル842b)の、下部巻線枠832(上部巻線枠831)と対向する面の領域のうち、電極863a、863b(864a、864b)を除く領域に配置される。
The insulating
本実施形態の試験器本体800の使用方法は、第1の実施形態の試験器本体100と同様である。
即ち、図8(a)に示すように、試験を開始する前は、締付部材121〜126のボルトを緩めて、上部巻線枠831と下部巻線枠832との間にできる空間に試験片Sを配置する。試験片Sが所定の位置に配置されると、締付部材121〜126のボルトを締めて、上部アンビル111および下部アンビル112により、上部巻線枠831と下部巻線枠832を上下から押し付ける。そして、上部巻線枠831(絶縁シート851)と下部巻線枠832(絶縁シート852)が、試験片Sに密着するまで、上部巻線枠831と下部巻線枠832との間の間隔を減少させる。例えば、上部巻線枠831(絶縁シート851)と下部巻線枠832(絶縁シート852)との間の間隔の長さが所定の長さになるまで、締付部材121〜126のボルトを締める。所定の長さは、試験片Sの板厚に基づいて定めることができる。即ち、上部巻線枠831(絶縁シート851)と下部巻線枠832(絶縁シート852)との間の間隔の長さが、試験片Sが平坦な状態であると見なせる長さになるまで、締付部材121〜126のボルトを締める。そうすると、試験片Sの厚み方向(Z軸方向)において相互に対向する電極861a〜861b、862a〜862b、863a〜863b、864a〜864bが電気的に接続されることにより、励磁コイル841および磁束密度検出コイル842が形成される。このようにして上部巻線枠831(絶縁シート851)と下部巻線枠832(絶縁シート852)を試験片Sに接触(好ましくは密接)させた後、励磁コイル841に励磁電流を流して試験片Sの磁気特性を測定する。
The method of using the tester
That is, as shown in FIG. 8A, before starting the test, the bolts of the tightening
第1の実施形態と異なり、本実施形態では、上部巻線枠831(絶縁シート851)と下部巻線枠832(絶縁シート852)との間の間隔が減少すると、励磁コイルおよび磁束密度検出コイル842は突起部を除いて変形しない。従って、本実施形態では、励磁コイルおよび磁束密度検出コイル842を、単線の電線で構成することができる(撚線の電線で構成してもよい)。
Unlike the first embodiment, in the present embodiment, when the distance between the upper winding frame 831 (insulating sheet 851) and the lower winding frame 832 (insulating sheet 852) decreases, the exciting coil and the magnetic flux
以上のように本実施形態では、励磁コイル841および磁束密度検出コイル842を、そのコイル軸に沿って半分に分離した場合の一方を上部巻線枠831に他方を下部巻線枠832に配置し、それらの分離部に対応する領域に電極861a、861b、862a、862b、863a、863b、864a、864bを設ける。そして、試験器本体800の使用時に、試験片Sが密着するまで上部巻線枠831と下部巻線枠832との間の間隔を狭めたときに、励磁コイル841および磁束密度検出コイル842が構成されるように、上部巻線枠831に配置される電極861a、861b、863a、863bと、下部巻線枠832に配置される部分の電極862a、862b、864a、864bとを電気的に接続する。従って、第1の実施形態で説明した効果に加えて、磁束密度検出コイル842が可撓性を有している必要がなくなるという効果が得られる。また、磁束密度検出コイル842を試験片Sに接近させることができるため、磁束密度検出コイル842が取り巻く空隙を小さくすることができるという効果も得られる。
As described above, in the present embodiment, one of the
本実施形態では、第1の実施形態の励磁コイル141および磁束密度検出コイル142の巻き方を例に挙げて説明したが、第2の実施形態の磁束密度検出コイル642の巻き方とした場合にも本実施形態の手法を適用するこができる。即ち、磁束密度検出コイル642の巻き方と同じ巻き方の磁束密度検出コイルを、図7において、磁束密度検出用コイル部701の第1端部721および空隙補償用コイル部702の第1端部731と、磁束密度検出用コイル部701の第2端部722および空隙補償用コイル部702の第2端部732の間と、磁束密度検出用コイル部701の第3端部723および空隙補償用コイル部702の第3端部733と、磁束密度検出用コイル部701の第4端部724および空隙補償用コイル部702の第4端部734の間と、空隙補償用コイル部702の第6端部746、756と、空隙補償用コイル部702の第5端部755、765の間と、空隙補償用コイル部702の第5端部755、765および第6端部746、756と反対側の折り返し部771〜773と、で分離(切断)した場合の一方を上部巻線枠に他方を下部巻線枠に配置し、それらの分離部に対応する領域に電極を設ける。そして、試験片Sが密着するまで上部巻線枠と下部巻線枠との間の間隔を狭めたときに、磁束密度検出コイルが構成されるように上部巻線枠に形成された電極と下部巻線枠に形成された電極とを電気的に接続する。
In the present embodiment, the winding method of the
(第4の実施形態)
次に、第4の実施形態を説明する。本実施形態では、試験片Sに対してその励磁方向(試験片Sの長手方向)に応力(圧縮応力や引張応力)を付加した状態で、第1〜第3の実施形態で説明した単板磁気特性試験器を用いて試験片Sの磁気特性を測定する場合について説明する。このように本実施形態は、第1〜第3の実施形態で説明した単板磁気特性試験器に対し、試験片Sに応力を付加するための構成が追加されたものとなる。従って、本実施形態の説明において、第1〜第3の実施形態と同一の構成については、図1〜図9に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。尚、ここでは、第1の実施形態で説明した単板磁気特性試験器を例に挙げて説明する。
(Fourth Embodiment)
Next, a fourth embodiment will be described. In the present embodiment, the single plate described in the first to third embodiments is described in a state where stress (compressive stress or tensile stress) is applied to the test piece S in the excitation direction (longitudinal direction of the test piece S). A case of measuring the magnetic characteristics of the test piece S using a magnetic characteristics tester will be described. As described above, in this embodiment, a configuration for applying stress to the test piece S is added to the single plate magnetic property tester described in the first to third embodiments. Therefore, in the description of the present embodiment, detailed description of the same configuration as that of the first to third embodiments will be omitted by adding the same reference numerals as those given in FIGS. 1 to 9. Here, the single-plate magnetic property tester described in the first embodiment will be described as an example.
図10は、単板磁気特性試験システムの構成の一例を示す図である。図10において、単板磁気特性試験器は、図1(b)に示す縦形複ヨークの単板磁気特性試験器を、試験片Sの短手方向に沿って見た様子(Y軸方向に沿って見た様子)を示すものである(図10は、図2に対応する図である)。図10において、単板磁気特性試験システムは、第1の実施形態で説明した単板磁気特性試験器と、応力付加装置1001、1002とを有する。
FIG. 10 is a diagram showing an example of the configuration of a single plate magnetic property test system. In FIG. 10, the veneer magnetic property tester is a state in which the veneer magnetic property tester of the vertical double yoke shown in FIG. 1B is viewed along the lateral direction of the test piece S (along the Y-axis direction). (FIG. 10 is a diagram corresponding to FIG. 2). In FIG. 10, the single-plate magnetic property test system includes the single-plate magnetic property tester described in the first embodiment and the
第1の実施形態では、試験片Sの長手方向(X軸方向)の長さは、ヨークY1、Y2の長手方向(X軸方向)の長さと略同じである。これに対し、第4の実施形態では、試験片Sの長手方向(X軸方向)の長さは、ヨークY1、Y2の長手方向(X軸方向)の長さよりも長くする。試験片Sの長手方向の一端は、応力付加装置1001にセットされ、他端は、応力付加装置1002にセットされる。
In the first embodiment, the length of the test piece S in the longitudinal direction (X-axis direction) is substantially the same as the length of the yokes Y1 and Y2 in the longitudinal direction (X-axis direction). On the other hand, in the fourth embodiment, the length of the test piece S in the longitudinal direction (X-axis direction) is longer than the length of the yokes Y1 and Y2 in the longitudinal direction (X-axis direction). One end of the test piece S in the longitudinal direction is set in the
応力付加装置1001、1002は、試験片Sにおける励磁方向(試験片Sの長手方向、X軸方向)の一端、他端を把持し、試験片Sに対してその励磁方向(試験片Sの長手方向、X軸方向)に応力を付加する装置である。応力は、圧縮応力でも引張応力でもよく、圧縮応力のみを付加しても、引張応力のみを付加しても、圧縮応力と引張応力とを連続して付加してもよい。また、応力の大きさは、一定であっても、時間の経過と共に変化してもよい。
The
以上のような応力付加装置1001、1002により試験片Sに対してその励磁方向に付加しているときに、単板磁気特性試験器で試験片Sの磁気特性を測定する。
例えば、モータ等の回転電機のステータコアは焼嵌め等により固定されるため、ステータコアを構成する電磁鋼板には、100MPa〜200MPa程度の圧縮応力が付加される。このような圧縮応力が付加された状態の電磁鋼板の磁気特性を測定することで、圧縮応力が付加されることによる電磁鋼板の磁気特性の劣化を把握することができる。
When the test piece S is applied in the exciting direction by the
For example, since the stator core of a rotary electric machine such as a motor is fixed by shrink fitting or the like, a compressive stress of about 100 MPa to 200 MPa is applied to the electromagnetic steel sheet constituting the stator core. By measuring the magnetic characteristics of the electromagnetic steel sheet to which such compressive stress is applied, it is possible to grasp the deterioration of the magnetic characteristics of the electromagnetic steel sheet due to the application of the compressive stress.
第1の実施形態の単板磁気特性試験器では、上部巻線枠131および下部巻線枠132により試験片Sの板面を上下から挟みこむので、応力付加装置1001により前述したような大きな応力が付加されても、試験片Sが座屈することを抑制することができる。また、特許文献1に記載の技術のように、試験片Sを湾曲させる必要がなくなるため、励磁方向に付加された圧縮応力以外の応力以外の応力を排除した状態で、試験片Sの磁気特性を測定することができる。従って、軟磁性体板が電気機器に適用した場合に軟磁性体板に付加されることが想定される応力による磁気特性の劣化を正確に把握することができる。
In the single plate magnetic property tester of the first embodiment, since the plate surface of the test piece S is sandwiched from above and below by the upper winding
本実施形態では、第1の実施形態の単板磁気特性試験器を例に挙げて説明したが、第2〜第4の実施形態の単板磁気特性試験器についても、応力付加装置1001、1002により、試験片Sに対してその励磁方向(長手方向、X軸方向)に応力を付加しながら、試験片Sの磁気特性を測定することができる。尚、応力付加装置1002を用いずに、試験片Sの長手方向(X軸方向)の他端を把持し、試験片Sを固定するようにしてもよい。
In the present embodiment, the single-plate magnetic property tester of the first embodiment has been described as an example, but the single-plate magnetic property tester of the second to fourth embodiments has also been described with respect to the
以上説明した本発明の実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。 The embodiments of the present invention described above are merely examples of embodiment of the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed in a limited manner by these. is there. That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or its main features.
(請求項との関係)
以下に、請求項の記載と実施形態の記載との関係の一例を説明する。尚、請求項の記載が実施形態の記載に限定されるものではないことは前述した通りである。
第1巻線枠は、例えば、上部巻線枠131、831を用いることにより実現される。
前記試験片の板面の一方は、例えば、試験片Sの板面のうち、Z軸の正の方向側の板面に対応する。
前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の一方側にある部分は、例えば、励磁コイル141のうち、上部巻線枠131の第1凹部に入れられる部分、励磁コイル841のうち、上部巻線枠831の穴部に入れられる部分、磁束密度検出コイル142、642のうち、上部巻線枠131の第2凹部に入れられる部分、磁束密度検出コイル842のうち、上部巻線枠831の凹部に入れられる部分に対応する。
第2巻線枠は、例えば、下部巻線枠132、832を用いることにより実現される。
前記試験片の板面の他方は、例えば、試験片Sの板面のうち、Z軸の負の方向側の板面に対応する。
前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の他方側にある部分は、例えば、励磁コイル141のうち、下部巻線枠132の第1凹部に入れられる部分、励磁コイル841のうち、下部巻線枠832の穴部に入れられる部分、磁束密度検出コイル142、642のうち、下部巻線枠132の第2凹部に入れられる部分、磁束密度検出コイル842のうち、下部巻線枠832の凹部に入れられる部分に対応する。
第1励磁コイル部は、例えば、上部励磁コイル841aを用いることにより実現される。
第2励磁コイル部は、例えば、下部励磁コイル841bを用いることにより実現される。
第1磁束密度検出コイル部は、例えば、上部磁束密度検出コイル842aを用いることにより実現される。
第2磁束密度検出コイル部は、例えば、下部磁束密度検出コイル842bを用いることにより実現される。
応力付加手段は、例えば、応力付加装置1001、1002を用いることにより実現される。
(Relationship with claims)
An example of the relationship between the description of the claim and the description of the embodiment will be described below. As described above, the description of the claims is not limited to the description of the embodiment.
The first winding frame is realized by using, for example, the upper winding
One of the plate surfaces of the test piece corresponds to, for example, the plate surface of the test piece S on the positive direction side of the Z axis.
The portion of the exciting coil and the magnetic flux density detection coil on one side of the plate surface of the test piece is, for example, the portion of the
The second winding frame is realized by using, for example, the lower winding
The other side of the plate surface of the test piece corresponds to, for example, the plate surface of the test piece S on the negative direction side of the Z axis.
The portion of the exciting coil and the magnetic flux density detection coil on the other side of the plate surface of the test piece is, for example, the portion of the
The first exciting coil portion is realized by using, for example, the upper
The second exciting coil portion is realized by using, for example, the lower
The first magnetic flux density detection coil unit is realized by using, for example, the upper magnetic flux
The second magnetic flux density detection coil unit is realized by using, for example, the lower magnetic flux
The stress applying means is realized by using, for example,
100、600、800:試験器本体、111:上部アンビル、112:下部アンビル、121〜126:締付部材、131、831:上部巻線枠、132、832:下部巻線枠、141、841:励磁コイル、142、642、842:磁束密度検出コイル、151、152、161、162、851、852:絶縁シート、701a〜701c:磁束密度検出用コイル部、702a〜702c:空隙補償用コイル部、841a:上部励磁コイル、841b:下部励磁コイル、842a:上部磁束密度検出コイル、842b:下部磁束密度検出コイル、861a、861b、862a、862b、863a、863b、864a、864b:電極、1001、1002:応力付加装置 100, 600, 800: Tester body, 111: Upper anvil, 112: Lower anvil, 121-126: Tightening member, 131, 831: Upper winding frame, 132, 832: Lower winding frame, 141, 841: Exciting coil, 142, 642, 842: Magnetic flux density detection coil, 151, 152, 161, 162, 851, 852: Insulation sheet, 701a to 701c: Magnetic flux density detection coil part, 702a to 702c: Void compensation coil part, 841a: Upper excitation coil, 841b: Lower excitation coil, 842a: Upper magnetic flux density detection coil, 842b: Lower magnetic flux density detection coil, 861a, 861b, 862a, 862b, 863a, 863b, 864a, 864b: Electrode, 1001, 1002: Stress application device
Claims (9)
前記試験片を取り巻くように巻き回され、当該試験片を励磁するための励磁コイルと、
前記試験片を取り巻くように巻き回され、前記励磁された当該試験片の内部の磁束密度を検出するための磁束密度検出コイルと、
前記試験片の板面の一方と対向する位置に配置され、前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の一方側にある部分が配置される第1巻線枠と、
前記試験片の板面の他方と対向する位置に配置され、前記励磁コイルおよび前記磁束密度検出コイルのうち、前記試験片の板面の他方側にある部分が配置される第2巻線枠と、
前記第1巻線枠と前記第2巻線枠の少なくとも何れか一方は、前記第1巻線枠および前記第2巻線枠が、前記試験片に直接または部材を介して接触した状態になるように、前記試験片の厚み方向に移動することを特徴とする単板磁気特性試験器。 A single-plate magnetic property tester that measures the magnetic characteristics of a single magnetic plate as a test piece.
An exciting coil that is wound around the test piece to excite the test piece, and
A magnetic flux density detection coil for detecting the magnetic flux density inside the test piece, which is wound around the test piece and excited.
A first winding frame arranged at a position facing one of the plate surfaces of the test piece, and a portion of the exciting coil and the magnetic flux density detection coil on one side of the plate surface of the test piece is arranged. ,
A second winding frame arranged at a position facing the other side of the plate surface of the test piece, and a portion of the exciting coil and the magnetic flux density detection coil on the other side of the plate surface of the test piece is arranged. ,
At least one of the first winding frame and the second winding frame is in a state where the first winding frame and the second winding frame are in contact with the test piece directly or via a member. As described above, a single-plate magnetic property tester characterized in that the test piece moves in the thickness direction of the test piece.
前記第1励磁コイル部は、前記第1巻線枠に取り付けられ、
前記第2励磁コイル部は、前記第2巻線枠に取り付けられ、
前記第1励磁コイル部の、前記励磁コイルの分離部に対応する領域に電極が形成され、
前記第2励磁コイル部の、前記励磁コイルの分離部に対応する領域に電極が形成され、
前記第1巻線枠および前記第2巻線枠が前記試験片に直接または部材を介して接触した状態になったときに前記励磁コイルが構成されるように、前記第1励磁コイル部に形成された電極と、前記第2励磁コイル部に形成された電極とが電気的に接続され、
前記磁束密度検出コイルは、そのコイル軸に沿って半分に分離した場合の一方の部分である第1磁束密度検出コイル部と他方の部分である第2磁束密度検出コイル部とを有し、
前記第1磁束密度検出コイル部は、前記第1巻線枠に取り付けられ、
前記第2磁束密度検出コイル部は、前記第2巻線枠に取り付けられ、
前記第1磁束密度検出コイル部の、前記磁束密度検出コイルの分離部に対応する領域に電極が形成され、
前記第2磁束密度検出コイル部の、前記磁束密度検出コイルの分離部に対応する領域に電極が形成され、
前記第1巻線枠および前記第2巻線枠が前記試験片に直接または部材を介して接触した状態になったときに前記磁束密度検出コイルが構成されるように、前記第1磁束密度検出コイル部に形成された電極と、前記第2磁束密度検出コイル部に形成された電極とが電気的に接続されることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の単板磁気特性試験器。 The exciting coil has a first exciting coil portion which is one portion and a second exciting coil portion which is the other portion when separated in half along the coil shaft.
The first exciting coil portion is attached to the first winding frame and is attached to the first winding frame.
The second exciting coil portion is attached to the second winding frame and is attached to the second winding frame.
An electrode is formed in a region of the first exciting coil portion corresponding to the separated portion of the exciting coil.
An electrode is formed in a region of the second exciting coil portion corresponding to the separated portion of the exciting coil.
The first exciting coil portion is formed so that the exciting coil is formed when the first winding frame and the second winding frame are in contact with the test piece directly or via a member. The electrode formed in the second exciting coil portion and the electrode formed in the second exciting coil portion are electrically connected to each other.
The magnetic flux density detection coil has a first magnetic flux density detection coil portion, which is one portion when separated in half along the coil axis, and a second magnetic flux density detection coil portion, which is the other portion.
The first magnetic flux density detection coil portion is attached to the first winding frame and is attached to the first winding frame.
The second magnetic flux density detection coil portion is attached to the second winding frame and is attached to the second winding frame.
An electrode is formed in a region of the first magnetic flux density detection coil portion corresponding to the separation portion of the magnetic flux density detection coil.
An electrode is formed in a region of the second magnetic flux density detection coil portion corresponding to the separation portion of the magnetic flux density detection coil.
The first magnetic flux density detection so that the magnetic flux density detection coil is configured when the first winding frame and the second winding frame are in contact with the test piece directly or via a member. The single plate according to any one of claims 1 to 3, wherein the electrode formed in the coil portion and the electrode formed in the second magnetic flux density detection coil portion are electrically connected. Magnetic property tester.
前記磁束密度検出用コイル部は、巻回数が1以上のループを有し、
前記空隙補償用コイル部は、巻回数が1以上のループを有し、
前記磁束密度検出用コイル部を構成する前記ループの内部に、前記試験片が置かれ、
同一の前記組における前記磁束密度検出用コイル部および前記空隙補償用コイル部は、前記磁束密度検出コイルに電流が流れた際に、当該磁束密度検出用コイル部から発生する磁束と、当該空隙補償用コイル部から発生する磁束とが相互に弱め合うように、相互に接続され、
前記複数の組は、前記磁束密度検出コイルに電流が流れた際に、全ての前記磁束密度検出用コイル部から発生する磁束が相互に強め合い、且つ、全ての前記空隙補償用コイル部から発生する磁束が相互に強め合うように、相互に接続され、
前記磁束密度検出用コイル部および前記空隙補償用コイル部を構成する前記ループの軸の方向に沿って見た場合に、前記空隙補償用コイル部を構成する前記ループは、前記磁束密度検出用コイル部を構成する前記ループの、少なくとも前記試験片が置かれている領域と重ならないことを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の単板磁気特性試験器。 The magnetic flux density detection coil has a plurality of such sets as a set of a magnetic flux density detection coil portion and a void compensation coil portion.
The magnetic flux density detection coil portion has a loop having one or more turns.
The void compensation coil portion has a loop having one or more turns.
The test piece is placed inside the loop constituting the magnetic flux density detection coil portion.
The magnetic flux density detection coil portion and the void compensation coil portion in the same set are the magnetic flux generated from the magnetic flux density detection coil portion and the void compensation when a current flows through the magnetic flux density detection coil. They are connected to each other so that the magnetic flux generated from the coil section weakens each other.
In the plurality of sets, when a current flows through the magnetic flux density detection coil, the magnetic fluxes generated from all the magnetic flux density detection coil portions mutually strengthen each other, and are generated from all the void compensation coil portions. They are connected to each other so that the magnetic fluxes that they make strengthen each other.
When viewed along the direction of the axis of the loop constituting the magnetic flux density detecting coil portion and the void compensating coil portion, the loop constituting the void compensating coil portion is the magnetic flux density detecting coil. The single-plate magnetic property tester according to any one of claims 1 to 4, wherein the loop constituting the part does not overlap with at least a region where the test piece is placed.
前記試験片に対し、前記試験片の励磁方向に応力を付加する応力付加手段と、を有し、
前記応力付加手段により、前記試験片における励磁方向に応力が付加された状態で、前記単板磁気特性試験器により、前記試験片の磁気特性を測定することを特徴とする単板磁気特性試験システム。 The veneer magnetic property tester according to any one of claims 1 to 8.
It has a stress applying means for applying stress to the test piece in the excitation direction of the test piece.
A single-plate magnetic property test system characterized in that the magnetic characteristics of the test piece are measured by the single-plate magnetic property tester in a state where stress is applied in the excitation direction of the test piece by the stress-applying means. ..
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