JP6848217B2 - Laser diode module - Google Patents
Laser diode module Download PDFInfo
- Publication number
- JP6848217B2 JP6848217B2 JP2016113519A JP2016113519A JP6848217B2 JP 6848217 B2 JP6848217 B2 JP 6848217B2 JP 2016113519 A JP2016113519 A JP 2016113519A JP 2016113519 A JP2016113519 A JP 2016113519A JP 6848217 B2 JP6848217 B2 JP 6848217B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- laser element
- temperature
- laser diode
- diode module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
本発明は、垂直共振器面発光レーザ(Vertical Cavity Surface Emitting LASER、略してVCSELと呼ぶ。)等のレーザダイオードを用いたレーザダイオードモジュールに関する。 The present invention relates to a laser diode module using a laser diode such as a vertical cavity surface emitting laser (Vertical Cavity Surface Emitting LASER, abbreviated as VCSEL).
近年、フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)の小型化及び低価格化に伴って、基準光源であるHeNeレーザの代替えとして、垂直共振器面発光レーザを使用したレーザダイオードモジュール(以下、LDモジュール)が採用されている。 In recent years, with the miniaturization and cost reduction of the Fourier transform infrared spectrophotometer (FTIR), a laser diode module (hereinafter, LD module) using a vertical resonator surface emitting laser as an alternative to the HeNe laser as a reference light source. ) Is adopted.
垂直共振器面発光レーザは、レーザダイオードからなり、半導体基板に対して垂直方向に反射鏡があり、この反射鏡に光が出射する。垂直共振器面発光レーザは、低価格で低消費電力であるため、用いられている。 The vertical resonator surface emitting laser is composed of a laser diode, has a reflecting mirror in the direction perpendicular to the semiconductor substrate, and emits light to the reflecting mirror. Vertical resonator surface emitting lasers are used because of their low cost and low power consumption.
しかし、垂直共振器面発光レーザは、温度に対する発振波長の変動量が大きく、この変動量は、フーリエ変換赤外分光光度計に設けられた赤外検出器で取得したスペクトルの横軸(波数)が変動することを意味する。このため、S(信号)/N(雑音)が劣化したり、スペクトルの定性分析が困難となる。その結果、装置内部の温度変動を抑制しあるいは垂直共振器面発光レーザの温度調整、波数校正を逐次行う等の対策が必要になる。 However, the vertical resonator surface emitting laser has a large fluctuation amount of the oscillation wavelength with respect to temperature, and this fluctuation amount is the horizontal axis (wave number) of the spectrum acquired by the infrared detector provided in the Fourier transform infrared spectrophotometer. Means that fluctuates. Therefore, S (signal) / N (noise) deteriorates, and qualitative analysis of the spectrum becomes difficult. As a result, it is necessary to take measures such as suppressing the temperature fluctuation inside the apparatus, adjusting the temperature of the vertical resonator surface emitting laser, and sequentially performing wave number calibration.
フーリエ変換赤外分光光度計においては、IR光源の光量を増加させ、信号Sを増大させることで、S/Nを向上させることができる。但し、IR光源自体が発熱するため、装置内部の温度が上昇する。すると、LDモジュールの垂直共振器面発光レーザチップの温度が周囲温度に振られて上昇し、発振波長が変動する。このため、発振波長を安定させるために、一般的には、LDモジュールをサーモモジュールで温度制御する。 In the Fourier transform infrared spectrophotometer, the S / N can be improved by increasing the amount of light of the IR light source and increasing the signal S. However, since the IR light source itself generates heat, the temperature inside the device rises. Then, the temperature of the vertical resonator surface emitting laser chip of the LD module is shaken by the ambient temperature and rises, and the oscillation wavelength fluctuates. Therefore, in order to stabilize the oscillation wavelength, the temperature of the LD module is generally controlled by the thermo module.
しかしながら、LDチップと温度センサ間の熱抵抗の影響により、LDチップの温度を正確にモニタできず、周囲温度の影響を受けていた。 However, due to the influence of the thermal resistance between the LD chip and the temperature sensor, the temperature of the LD chip could not be accurately monitored and was affected by the ambient temperature.
さらに、既知のサンプルのスペクトルを取得し、そのスペクトルピークの変動量をフィードバックしてレーザ光の波長を補正する方法が知られている(特許文献1)。しかし、ある時間間隔でレーザの波長を監視しなければならない。また、既知のサンプルを自動で切り替える機能も必要となり、装置が高価になっていた。 Further, there is known a method of acquiring the spectrum of a known sample and feeding back the fluctuation amount of the spectrum peak to correct the wavelength of the laser beam (Patent Document 1). However, the wavelength of the laser must be monitored at certain time intervals. In addition, a function for automatically switching known samples is also required, which makes the device expensive.
本発明の課題は、簡単な構造で、高いレベルの温度安定性を達成することができるレーザダイオードモジュールを提供することにある。 An object of the present invention is to provide a laser diode module capable of achieving a high level of temperature stability with a simple structure.
本発明に係るレーザダイオードモジュールは、上記課題を解決するために、フーリエ変換赤外分光光度計の基準光源であるレーザダイオードモジュールであって、台座と、内部にレーザダイオードチップを有するレーザ素子と、前記レーザ素子を組み込み且つ前記台座の外周部と接触し、前記台座が周囲環境に晒されるように開口部が形成されたレーザ素子ブロックと、前記レーザ素子ブロック内に設けられ、前記レーザ素子からの光をコリメートするコリメートレンズを接着したレンズホルダと、前記レーザ素子ブロックの温度を調整する温度調整素子と、前記レーザ素子ブロックに形成された穴部内に挿通され、一部が周囲環境に晒されるように配置され、前記レーザ素子ブロックの温度を検出する温度センサとを備え、周囲環境の温度変動に対する、前記レーザ素子の発振波長の変動量が、0.01nm以下であることを特徴とする。 The laser diode module according to the present invention is a laser diode module which is a reference light source of a Fourier transformed infrared spectrophotometer in order to solve the above problems, and includes a pedestal, a laser element having a laser diode chip inside, and a laser element. A laser element block in which the laser element is incorporated and an opening is formed so that the pedestal is exposed to the surrounding environment by contacting the outer peripheral portion of the pedestal, and a laser element block provided in the laser element block and from the laser element. A lens holder to which a collimating lens that collimates light is adhered, a temperature adjusting element that adjusts the temperature of the laser element block, and a hole formed in the laser element block are inserted, and a part of the laser element block is exposed to the surrounding environment. The laser element block is provided with a temperature sensor for detecting the temperature of the laser element block, and the fluctuation amount of the oscillation wavelength of the laser element with respect to the temperature fluctuation of the ambient environment is 0.01 nm or less .
本発明によれば、レーザ素子の台座の外周がレーザ素子ブロックに接触し、台座が周囲環境に晒されるように開口部を形成し、温度センサの一部が周囲環境に晒されるように構成し、温度センサが周囲環境の温度とレーザ素子ブロックの温度を検出し、レーザ素子と温度センサとがともに外部温度変動の影響を受けるので、その影響度合いを制御することができる。従って、簡単な構造で、高いレベルの温度安定性を達成することができる。 According to the present invention, the outer periphery of the pedestal of the laser element comes into contact with the laser element block, an opening is formed so that the pedestal is exposed to the ambient environment, and a part of the temperature sensor is exposed to the ambient environment. can temperature sensor detects the temperature of the laser element block of the surrounding environment, Runode the laser element and the temperature sensor are both affected by external temperature variations, controlling the degree of influence. Therefore, a high level of temperature stability can be achieved with a simple structure.
以下、本発明のレーザダイオードモジュールの実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the laser diode module of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(実施例1)
まず、垂直共振器面発光レーザで許容される発振波長の変動は、0.02nm以下であり、レーザダイオードチップの温度係数は、0.06nm/℃とすると、レーザダイオード温度は0.3℃程度の温度変動となる。IR光源の光量を上げて使用する場合、装置内部の温度は室温(約20℃)から最大で60℃程度まで上昇する。
(Example 1)
First, the fluctuation of the oscillation wavelength allowed by the vertical resonator surface emitting laser is 0.02 nm or less, and assuming that the temperature coefficient of the laser diode chip is 0.06 nm / ° C, the laser diode temperature is about 0.3 ° C. It becomes the temperature fluctuation of. When the IR light source is used with an increased amount of light, the temperature inside the device rises from room temperature (about 20 ° C.) to a maximum of about 60 ° C.
また、ポータブルFTIRの場合、室外環境を想定するため、使用温度範囲は0℃から40℃付近となる。以上のことから、周囲の温度変動が約40℃でレーザダイオード温度は0.3℃、即ち温度係数が0.75%以下の温度安定性が必要となる。この温度安定性を達成するための実施例の構成を以下に説明する。 Further, in the case of portable FTIR, the operating temperature range is around 0 ° C. to 40 ° C. in order to assume an outdoor environment. From the above, temperature stability is required in which the ambient temperature fluctuation is about 40 ° C. and the laser diode temperature is 0.3 ° C., that is, the temperature coefficient is 0.75% or less. The configuration of the embodiment for achieving this temperature stability will be described below.
図1は、レーザダイオードモジュールの断面図である。図1に示すレーザダイオードモジュールは、レーザ素子1、LDブロック2、リングネジ3、コリメートレンズ4、レンズホルダ5、サーモモジュール6、放熱板7、サーミスタ8、ネジ9,10を備えて構成されている。
FIG. 1 is a cross-sectional view of the laser diode module. The laser diode module shown in FIG. 1 includes a
レーザ素子1は、850nm縦型シングルモードのCANタイプのレーザダイオードからなる垂直共振器面発光レーザであり、基板に対して垂直方向に反射鏡があり、この反射鏡に光が出射する。レーザ素子1は、基台である台座1aと3つのピン1bとを有する。台座1aの外周は、本発明のレーザ素子ブロックに対応するLDブロック2に接触している。
The
LDブロック2には、台座1aの中央部が周囲環境に晒されるように開口部2bが形成されている。3つのピン1bは、正極用ピン、負極用ピン、グランド用ピンからなる。
The
LDブロック2には、開口部2bよりも大径の穴部2aが形成され、穴部2aの外周には、ネジ溝2cが形成されている。穴部2aには、レーザ素子1の本体が組み込まれ、レーザ素子1の3つのピン1bは、開口部2bを挿通して周囲環境に晒されている。
A hole 2a having a diameter larger than that of the opening 2b is formed in the
リングネジ3は、ネジ溝2cに螺合しており、リングネジ3をネジ溝2cに螺合させることで、レーザ素子1と台座1aとをLDブロック2に締結させることができる。
The
コリメートレンズ4は、穴部2aに設けられており、レーザ素子1からのレーザ光をコリメートする。レンズホルダ5は、コリメートレンズ4を接着し、図示しないネジ溝が形成され、このネジ溝がネジ溝2cに螺合している。ネジ溝2cを用いて、レーザ素子1との光軸を調整する。レーザ素子1とLDブロック2とレンズホルダ5とにより囲まれた空間Aが形成される。
The
サーモモジュール6は、本発明の温度調整素子に対応し、LDブロック2の下部に配置され、LDブロック2の温度を調整する。放熱板7は、サーモモジュール6の下部に配置され、サーモモジュール6の熱を外部に放熱する。
The
サーミスタ8は、LDブロック2に形成された穴部2a内に挿入され、ピンを含む一部が周囲環境に晒されている。サーミスタ8は、本発明の温度センサに対応し、LDブロック2の温度を検出する。
The
ネジ9は、LDブロック2に形成された穴部2aに挿通され、締めることで、レンズホルダ5を固定する。ネジ10は、LDブロック2に形成された穴部2aに挿通され、締めることで、リングネジ3を固定する。
The screw 9 is inserted into the hole 2a formed in the
このように実施例1のレーザダイオードモジュールによれば、レーザ素子1の台座1aの外周がLDブロック2に接触し、台座1aの中央部が周囲環境に晒されるように開口部2bを形成し、サーミスタ8の一部が周囲環境に晒されるように構成したので、レーザ素子1とサーミスタ8とが外部温度変動の影響を受け、その影響度合いを制御することができる。従って、簡単な構造で、高いレベルの温度安定性を達成することができる。
As described above, according to the laser diode module of the first embodiment, the outer periphery of the pedestal 1a of the
図2は、実施例1のレーザダイオードモジュールの温度変化に対する波長の安定性を示す図である。図2に示す例では、環境温度を5℃から60℃に変化させた際の発振波長の変動量を示している。 FIG. 2 is a diagram showing wavelength stability with respect to a temperature change of the laser diode module of the first embodiment. In the example shown in FIG. 2, the amount of fluctuation of the oscillation wavelength when the environmental temperature is changed from 5 ° C. to 60 ° C. is shown.
図2からもわかるように、発振波長の変動量は0.01nm以下となった。LDチップの温度係数は、0.06nm/℃であるため、LD温度に換算すると、0.16℃以下となり、温度係数が0.3%以下を達成することができた。 As can be seen from FIG. 2, the fluctuation amount of the oscillation wavelength was 0.01 nm or less. Since the temperature coefficient of the LD chip is 0.06 nm / ° C., when converted to the LD temperature, it is 0.16 ° C. or less, and the temperature coefficient of 0.3% or less can be achieved.
図3は、実施例1のレーザダイオードモジュールを備えたフーリエ変換赤外分光光度計の構成図である。フーリエ変換赤外分光光度計は、レーザ素子1、IR光源21、固定ミラー22、可動ミラー23、ビームスプリッタ24、サンプル25、検出器26、ミラー27,28、フォトダイオード29を備える。
FIG. 3 is a block diagram of a Fourier transform infrared spectrophotometer including the laser diode module of the first embodiment. The Fourier transform infrared spectrophotometer includes a
IR光源21はミラー27を介してビームスプリッタ24に導く。ビームスプリッタ24は、ミラー27からの光を一方の光と他方の光とに2分割する。一方の光は固定ミラー22で反射されてビームスプリッタ24に戻り、他方の光は、可動ミラー23で反射されてビームスプリッタ24に戻り、ビームスプリッタ24で合成されて第1干渉波を発生させる。
The IR
第1干渉波は、ミラー28とサンプル25を介して検出器26に送られる。検出器26は、第1干渉波に基づきフーリエ変換処理を行う。可動ミラー23の位置により、異なる干渉波が得られるので、検出器26は、フーリエ変換処理により、各位置の干渉波の信号強度から各波数成分の光の強度に分離する。
The first interference wave is sent to the
また、図3に示すレーザ素子1は、図1に示すレーザ素子1であり、フーリエ変換赤外分光光度計の基準光源である。レーザ素子1からのレーザ光は、ミラー27を介してビームスプリッタ24に導く。ビームスプリッタ24は、ミラー27からの光を一方の光と他方の光とに2分割する。一方の光は固定ミラー22で反射されてビームスプリッタ24に戻り、他方の光は、可動ミラー23で反射されてビームスプリッタ24に戻り、ビームスプリッタ24で合成されて第2干渉波を発生させる。
Further, the
第2干渉波は、ミラー28を介してフォトダイオード29で検出される。フォトダイオード29で検出された出力が検出器26で検出された第1干渉波の解析に用いられる。
The second interference wave is detected by the
このように実施例1のレーザダイオードモジュールのレーザ素子1をフーリエ変換赤外分光光度計に用いることができる。
As described above, the
なお、本発明は、レーザ素子1として、基板に対して垂直方向に反射鏡があり反射鏡に光が出射する垂直共振器面発光レーザを用いたが、これに代えて、半導体基板の端面に反射鏡があり基板に対して平行方向に光を出射するレーザダイオードからなる端面発光レーザを用いても良い。
In the present invention, as the
本発明に係るレーザダイオードモジュールは、フーリエ変換赤外分光光度計、ポータブルフーリエ変換赤外分光光度計に適用可能である。 The laser diode module according to the present invention can be applied to a Fourier transform infrared spectrophotometer and a portable Fourier transform infrared spectrophotometer.
1 レーザ素子
1b,8a ピン
2 LDブロック
2a 穴部
2b 開口部
2c ネジ溝
3 リングネジ
4 コリメートレンズ
5 レンズホルダ
6 サーモモジュール
7 放熱板
8 サーミスタ
9,10 ネジ
21 IR光源
22 固定ミラー
23 可動ミラー
24 ビームスプリッタ
25 サンプル
26 検出器
27,28 ミラー
29 フォトダイオード
1 Laser element 1b,
Claims (3)
台座と、内部にレーザダイオードチップを有するレーザ素子と、
前記レーザ素子を組み込み且つ前記台座の外周部と接触し、前記台座が周囲環境に晒されるように開口部が形成されたレーザ素子ブロックと、
前記レーザ素子ブロック内に設けられ、前記レーザ素子からの光をコリメートするコリメートレンズを接着したレンズホルダと、
前記レーザ素子ブロックの温度を調整する温度調整素子と、
前記レーザ素子ブロックに形成された穴部内に挿通され、一部が周囲環境に晒されるように配置され、前記レーザ素子ブロックの温度を検出する温度センサと、
を備え、
周囲環境の温度変動に対する、前記レーザ素子の発振波長の変動量が、0.01nm以下であることを特徴とするレーザダイオードモジュール。 A laser diode module that is a reference light source for a Fourier transform infrared spectrophotometer.
A pedestal, a laser element having a laser diode chip inside, and
A laser element block in which the laser element is incorporated and an opening is formed so as to come into contact with the outer peripheral portion of the pedestal and expose the pedestal to the surrounding environment.
A lens holder provided in the laser element block and adhered with a collimating lens that collimates the light from the laser element.
A temperature adjusting element that adjusts the temperature of the laser element block, and
A temperature sensor that is inserted into a hole formed in the laser element block, is arranged so that a part of the laser element block is exposed to the surrounding environment, and detects the temperature of the laser element block.
Equipped with a,
A laser diode module characterized in that the amount of fluctuation of the oscillation wavelength of the laser element with respect to the temperature fluctuation of the ambient environment is 0.01 nm or less.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016113519A JP6848217B2 (en) | 2016-06-07 | 2016-06-07 | Laser diode module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016113519A JP6848217B2 (en) | 2016-06-07 | 2016-06-07 | Laser diode module |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017220553A JP2017220553A (en) | 2017-12-14 |
JP6848217B2 true JP6848217B2 (en) | 2021-03-24 |
Family
ID=60658101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016113519A Active JP6848217B2 (en) | 2016-06-07 | 2016-06-07 | Laser diode module |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6848217B2 (en) |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63276288A (en) * | 1987-05-08 | 1988-11-14 | Nec Corp | Semiconductor laser optical device |
JPH0162529U (en) * | 1987-10-15 | 1989-04-21 | ||
JPH04144474A (en) * | 1990-10-05 | 1992-05-18 | Ricoh Co Ltd | Semiconductor laser collimeter device |
US5111476A (en) * | 1991-02-21 | 1992-05-05 | Applied Laser Systems | Method and apparatus for aligning a laser diode, and laser diode system produced thereby |
JPH0587979U (en) * | 1992-04-30 | 1993-11-26 | ホーヤ株式会社 | Semiconductor laser module |
JPH07273393A (en) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Olympus Optical Co Ltd | Wavelength stabilizer |
JP2006300674A (en) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Horiba Ltd | Spectrophotometer |
JP2011080854A (en) * | 2009-10-07 | 2011-04-21 | Konica Minolta Holdings Inc | Fourier transform spectroscope |
JP5515667B2 (en) * | 2009-11-19 | 2014-06-11 | 株式会社島津製作所 | Laser gas analyzer using semiconductor laser element |
WO2013084746A1 (en) * | 2011-12-06 | 2013-06-13 | コニカミノルタ株式会社 | Optical semiconductor package, michelson interferometer, and fourier transform spectroscopic analysis apparatus |
CN202930743U (en) * | 2012-02-02 | 2013-05-08 | 袁志雷 | Small constant-temperature laser module |
-
2016
- 2016-06-07 JP JP2016113519A patent/JP6848217B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017220553A (en) | 2017-12-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20100002235A1 (en) | Laser diode arrangements and method for gas detection | |
US7767947B2 (en) | Semiconductor light source with optical feedback | |
US9059555B2 (en) | Wavelength-stabilized diode laser | |
CN107528210B (en) | Laser adjustment method and laser source device | |
FR2828347A1 (en) | TUNABLE LASER SOURCE DEVICE | |
EP3841643B1 (en) | Grating stabilized diode laser | |
US11199398B2 (en) | Laser projection module, depth camera and electronic device | |
US11099061B2 (en) | Measurement device for light-emitting device and method for measuring light-emitting device | |
CN109936047B (en) | Grating external cavity feedback semiconductor laser and adjusting method thereof | |
TWI639821B (en) | Broadband spectrum optical measuring device and plasma processing device | |
JP2011165607A (en) | Light detection device, and light source device | |
JPH0329802A (en) | Interferometer | |
JP6848217B2 (en) | Laser diode module | |
TWI646314B (en) | Optical temperature sensor and optical temperature sensor control method | |
US10281335B2 (en) | Pulsed radiation sources for transmission pyrometry | |
KR20200027054A (en) | Laser noise elimination in transmission thermometry | |
CN114258619A (en) | External cavity laser device, corresponding system and method | |
CN104871057B (en) | Low wavefront distortion optics mounting base | |
Mikel et al. | Stabilization of VCSEL laser source for absolute laser interferometry | |
Sahm et al. | Miniaturized semiconductor MOPA laser source at 772 nm for the generation of UV laser light | |
US11874172B2 (en) | Fourier transform infrared spectrophotometer | |
CN109269639B (en) | Correction relation acquisition device, method and device for correcting light detection element | |
JP2014126518A (en) | Optical device, michelson interferometer, and fourier transformation spectroscopic analyzer | |
Sumpf et al. | Reliable Operation for 14500 h of a Wavelength-Stabilized Diode Laser System on a Microoptical Bench at 671 nm | |
US11815450B2 (en) | Active stabilization of parasitic fringes in optical spectrometers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181001 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190911 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191023 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20191223 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200106 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200616 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20200806 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200916 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210215 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6848217 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |