JP6805200B2 - Movement control device, movement control method and movement control program - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 89
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 51
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 29
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 61
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 29
- 230000006870 function Effects 0.000 description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 27
- 230000008569 process Effects 0.000 description 23
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 15
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
本発明は、対象物を平面的に移動させる平面移動機構を制御する移動制御装置、移動制御方法および移動制御プログラムに関する。 The present invention relates to a movement control device, a movement control method, and a movement control program that control a plane movement mechanism for moving an object in a plane.
CT撮影等において移動対象を平面的に移動させる平面移動機構が広く利用されている。多くの平面移動機構は直交するX軸およびY軸のそれぞれに平行な方向にXテーブル、Yテーブルを移動させることによって移動対象を平面的に移動させる。このような平面移動機構においては、X方向とY方向とのそれぞれにおいてXテーブル、Yテーブルを往復させることができ、一般的には、モータ等の駆動力を直線方向への力に変換して往復動作を行わせる。 A plane moving mechanism for moving a moving object in a plane is widely used in CT imaging and the like. Many plane moving mechanisms move the moving object in a plane by moving the X table and the Y table in the directions parallel to the orthogonal X-axis and Y-axis, respectively. In such a plane moving mechanism, the X table and the Y table can be reciprocated in each of the X direction and the Y direction, and in general, the driving force of the motor or the like is converted into a force in the linear direction. Make a reciprocating operation.
そして、駆動力を作用させる際にはギア、ボール等の機構が利用され、当該機構においては部品同士がスムーズに動作するために機構を構成するギア、ボール等の部品間にバックラッシュ(隙間)が設けられている。当該バックラッシュは、複数の部品によって可動部を構成するために必要であるものの、往復動作のそれぞれでバックラッシュによる影響が異なる場合が多く、バックラッシュの影響により平面移動機構による位置決め精度が悪くなる。 When a driving force is applied, a mechanism such as a gear or a ball is used. In the mechanism, a backlash (gap) is provided between parts such as a gear or a ball that constitute the mechanism so that the parts can operate smoothly. Is provided. Although the backlash is necessary to form a movable part by a plurality of parts, the influence of the backlash is often different for each of the reciprocating movements, and the positioning accuracy by the plane moving mechanism deteriorates due to the influence of the backlash. ..
また、X方向、Y方向に移動するテーブルを備える平面移動機構の一辺に力を作用させ、当該一辺に平行な他の辺に力を作用させない場合、これらの辺に平行な方向の歪みが生じる。このような歪みが生じると、平面移動機構による位置決め精度が悪くなる。そこで、位置決め精度を向上させるための各種の技術が開発されており、例えば、特許文献1においては、位置検出センサによる検出位置情報に基づいて基準からの誤差を測定し、当該誤差を考慮して断層像を作成する構成が開示されている。 Further, when a force is applied to one side of a plane moving mechanism provided with a table that moves in the X direction and the Y direction and no force is applied to the other side parallel to the one side, distortion in the direction parallel to these sides occurs. .. When such distortion occurs, the positioning accuracy by the plane moving mechanism deteriorates. Therefore, various techniques for improving positioning accuracy have been developed. For example, in Patent Document 1, an error from a reference is measured based on the position information detected by the position detection sensor, and the error is taken into consideration. The configuration for creating a tomographic image is disclosed.
位置決め精度を向上させるためには、各種の手法が考えられるが、平面移動機構による移動が行われるたびに誤差の量が変化すると、誤差に対する対策が煩雑になる。すなわち、平面移動機構による移動が行われるたびに不定の誤差が発生することを許容すると、例えば、上述の特許文献1のように位置検出センサを利用して誤差を測定するなどの対策を行う必要がある。また、平面移動機構による移動が行われるたびに発生する異なる値の誤差に基づいて誤差による影響の除去(例えば、画像の補正や平面移動機構による位置補正等)を行う必要がある。
本発明は、前記課題に鑑みてなされたもので、誤差の再現性を高める技術の提供を目的とする。
Various methods can be considered to improve the positioning accuracy, but if the amount of error changes each time the plane moving mechanism moves, countermeasures against the error become complicated. That is, if an indefinite error is allowed to occur each time the plane movement mechanism moves, it is necessary to take measures such as measuring the error using a position detection sensor as in Patent Document 1 described above. There is. Further, it is necessary to remove the influence of the error (for example, image correction, position correction by the plane moving mechanism, etc.) based on the error of different values generated each time the movement is performed by the plane moving mechanism.
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a technique for improving the reproducibility of errors.
前記目的を達成するため、移動対象をX軸に平行なX方向とX軸に垂直なY方向とに移動させる平面移動機構を制御する移動制御装置であって、中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおける前記X方向および前記Y方向の成分が非0であるように設定された前記中継座標に前記移動対象を移動させる第1移動制御部と、移動対象を中継座標から目標座標までベクトルに沿って移動させる第2移動制御部と、を備える移動制御装置を構成する。 A movement control device that controls a plane movement mechanism that moves a movement target in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis in order to achieve the above object, and is a vector extending from relay coordinates to target coordinates. The first movement control unit that moves the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X direction and the Y direction are non-zero, and the movement target is moved along the vector from the relay coordinates to the target coordinates. A movement control device including a second movement control unit to be moved is configured.
すなわち、中継座標から目標座標までの移動方向を示すベクトルはX方向およびY方向のそれぞれについて非0の成分を有している。そして、移動制御装置においては、平面移動機構によって移動対象を目標座標に移動させる前に中継座標まで移動させ、当該中継座標から目標座標に移動させるように構成されている。このため、目標座標がどのような位置であっても、当該目標座標に移動するために行われたX方向への動作とY方向の動作は同じ動作になる。 That is, the vector indicating the moving direction from the relay coordinates to the target coordinates has a non-zero component in each of the X direction and the Y direction. The movement control device is configured to move the movement target to the relay coordinates before moving the movement target to the target coordinates by the plane movement mechanism, and move the movement target from the relay coordinates to the target coordinates. Therefore, regardless of the position of the target coordinates, the operation in the X direction and the operation in the Y direction performed to move to the target coordinates are the same.
平面移動機構においては、X方向への移動機構と、Y方向への移動機構とのそれぞれにおいて、部品同士をスムーズに動作させるなどのために部品間にバックラッシュが設けられている。従って、移動対象が目標座標まで移動する過程においてX方向、Y方向のそれぞれにおける移動方向と移動距離によって生じるバックラッシュによる影響が不定であると、移動対象を目標座標に移動させた状態で生じる誤差(以下、「位置のばらつき」又は単に「ばらつき」と呼ぶ。)が不定になる。 In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts in each of the moving mechanism in the X direction and the moving mechanism in the Y direction in order to allow the parts to operate smoothly. Therefore, if the effect of backlash caused by the movement direction and movement distance in each of the X and Y directions in the process of moving the movement target to the target coordinates is undefined, an error that occurs when the movement target is moved to the target coordinates. (Hereinafter, it is referred to as "variation in position" or simply "variation") becomes indefinite.
しかし、移動制御装置においては、目標座標がどのような位置であっても、中継座標から目標座標に移動するために行うX方向への動作とY方向の動作は同じ動作である。従って、移動対象が目標座標に移動する直前に行われる動作は常に同じ動作である。このため、バックラッシュによる位置のばらつきに対する影響が小さい。従って、簡易な構成や簡易な処理によって、再現性が無い位置のばらつきを全体として統一のとれた繰返し再現性のある位置のばらつきに変換することが可能である。 However, in the movement control device, the operation in the X direction and the operation in the Y direction for moving from the relay coordinates to the target coordinates are the same regardless of the position of the target coordinates. Therefore, the operation performed immediately before the movement target moves to the target coordinates is always the same operation. Therefore, the influence on the position variation due to backlash is small. Therefore, it is possible to convert the non-reproducible position variation into a unified reproducible position variation as a whole by a simple configuration and a simple process.
また、移動対象をX方向、Y方向に移動させる平面移動機構は、一般的にXテーブルとYテーブルとを備えている。各テーブルが移動される際には各テーブルにモータ等の駆動力が作用するが、力が作用している部位と力が作用していない部位とでは移動量が異なる。従って、移動に伴ってXテーブルやYテーブルに歪みが生じる。 Further, the plane moving mechanism for moving the moving target in the X direction and the Y direction generally includes an X table and a Y table. When each table is moved, a driving force such as a motor acts on each table, but the amount of movement differs between the part where the force is applied and the part where the force is not applied. Therefore, the X table and the Y table are distorted as they move.
そして、移動対象が目標座標まで移動する過程においてX方向、Y方向のそれぞれにおける移動方向と移動距離が不定であると、移動対象を目標座標に移動させた状態で生じる歪みが不定になり、この結果位置のばらつきも不定になる。 Then, if the moving direction and the moving distance in each of the X direction and the Y direction are undefined in the process of moving the moving target to the target coordinates, the distortion generated when the moving target is moved to the target coordinates becomes undefined. The variation in the resulting position is also indefinite.
しかし、移動制御装置においては、目標座標がどのような位置であっても、中継座標から目標座標に移動するために行うX方向への動作とY方向の動作は同じ動作である。従って、移動対象が目標座標に移動する直前に行われる動作は常に同じ動作である。このため、歪みによる位置のばらつきに対する影響が小さい。従って、簡易な構成や簡易な処理によって、再現性の無い位置のばらつきを全体として統一のとれた繰返し再現性のある位置のばらつきに変換することが可能である。 However, in the movement control device, the operation in the X direction and the operation in the Y direction for moving from the relay coordinates to the target coordinates are the same regardless of the position of the target coordinates. Therefore, the operation performed immediately before the movement target moves to the target coordinates is always the same operation. Therefore, the influence on the position variation due to the distortion is small. Therefore, it is possible to convert the non-reproducible position variation into a unified and repeatable position variation as a whole by a simple configuration and simple processing.
ここでは、下記の順序に従って本発明の実施の形態を、放射線にX線を用いた場合について説明する。
(1)移動制御装置の構成:
(2)X線検査処理:
(3)他の実施形態:
Here, an embodiment of the present invention will be described in accordance with the following order when X-rays are used for radiation.
(1) Configuration of movement control device:
(2) X-ray inspection processing:
(3) Other embodiments:
(1)移動制御装置の構成:
図1は本発明の一実施形態にかかる移動制御装置を含む検査装置の概略ブロック図である。検査装置は、X線撮影機構部10と制御部20とを備えている。X線撮影機構部10は、X線発生器11とX線検出器12と平面移動機構13とを備えている。X線撮影機構部10は、平面移動機構13上の基板PとX線発生器11とX線検出器12とが所定の相対位置関係となった状態で、X線発生器11によって基板PにX線を照射させる。
(1) Configuration of movement control device:
FIG. 1 is a schematic block diagram of an inspection device including a movement control device according to an embodiment of the present invention. The inspection device includes an X-ray imaging mechanism unit 10 and a control unit 20. The X-ray imaging mechanism unit 10 includes an X-ray generator 11, an X-ray detector 12, and a plane moving mechanism 13. The X-ray imaging mechanism unit 10 is attached to the substrate P by the X-ray generator 11 in a state where the substrate P on the plane moving mechanism 13, the X-ray generator 11 and the X-ray detector 12 have a predetermined relative positional relationship. Irradiate with X-rays.
X線発生器11は、X線を出力するX線出力部11aを備えており、所定の強度でX線を基板Pに照射することができる。X線検出器12は、X線の強度を検出する検出面12aを備えており、基板Pを透過したX線の透過量を反映したX線画像を撮影することができる。撮影されたX線画像はX線画像データ26bとしてメモリ26に記録される。 The X-ray generator 11 includes an X-ray output unit 11a that outputs X-rays, and can irradiate the substrate P with X-rays at a predetermined intensity. The X-ray detector 12 includes a detection surface 12a for detecting the intensity of X-rays, and can take an X-ray image reflecting the amount of X-rays transmitted through the substrate P. The captured X-ray image is recorded in the memory 26 as X-ray image data 26b.
本実施形態において基板PはX線検査の対象となる半田バンプを含んでいる。すなわち、基板Pは複数の半田バンプによって実装されたプロセッサーを備えており、本実施形態においては、当該半田バンプが検査対象となる。当該半田バンプは平面移動機構13によって基板Pが移動されることによって、X線の照射領域内で平面的に移動される。従って、本実施形態において半田バンプは移動対象でもある。 In this embodiment, the substrate P contains solder bumps to be inspected by X-rays. That is, the substrate P includes a processor mounted by a plurality of solder bumps, and in the present embodiment, the solder bumps are to be inspected. The solder bump is moved in a plane in the X-ray irradiation region by moving the substrate P by the plane moving mechanism 13. Therefore, in this embodiment, the solder bump is also a moving target.
平面移動機構13は、所定の平面(X−Y平面と呼ぶ。X軸とY軸とはX−Y平面内で互いに垂直である。)に沿って2次元的に移動対象を移動させることが可能な装置であり、本実施形態においては、基板PをX−Y平面に沿って移動させる。図2Aは、本実施形態にかかる平面移動機構13の構成を模式的に示す図である。本実施形態において、平面移動機構13は、X方向に移動するXテーブルTxを備えている。すなわち、Xテーブルは、上面(Z軸正方向側の面)に基板Pを固定可能な部材であり、Xテーブルの移動方向をX軸に平行なX方向に制限するリニアレールRx1,Rx2に取り付けられている。なお、リニアレールRx1,Rx2はYテーブル上に固定されている。 The plane moving mechanism 13 can move the moving object two-dimensionally along a predetermined plane (referred to as an XY plane. The X-axis and the Y-axis are perpendicular to each other in the XY plane). It is a possible device, and in this embodiment, the substrate P is moved along the XY plane. FIG. 2A is a diagram schematically showing the configuration of the plane moving mechanism 13 according to the present embodiment. In the present embodiment, the plane moving mechanism 13 includes an X table Tx that moves in the X direction. That is, the X table is a member capable of fixing the substrate P on the upper surface (the surface on the positive direction side of the Z axis), and is attached to the linear rails Rx1 and Rx2 that limit the moving direction of the X table to the X direction parallel to the X axis. Has been done. The linear rails Rx1 and Rx2 are fixed on the Y table.
また、平面移動機構13は、モータMx、ネジ軸Bx、結合部Jxを含むX方向駆動部を備えている。モータMxはYテーブル上に固定されており、ネジ軸BxはモータMxの駆動力によって回転駆動される。結合部Jxにはナットが形成されており、ネジ軸Bxがナットに挿通されている。ナットとネジ軸Bxとの間にはボールが備えられており、ネジ軸Bxと結合部Jxとによってボールネジが形成されている。なお、本実施形態においては、ネジ軸Bxとナットとボールとが組み合わさってスムーズに駆動されるように、これらの間にバックラッシュ(隙間)が設けられている。 Further, the plane moving mechanism 13 includes an X-direction drive unit including a motor Mx, a screw shaft Bx, and a coupling portion Jx. The motor Mx is fixed on the Y table, and the screw shaft Bx is rotationally driven by the driving force of the motor Mx. A nut is formed in the joint portion Jx, and the screw shaft Bx is inserted through the nut. A ball is provided between the nut and the screw shaft Bx, and a ball screw is formed by the screw shaft Bx and the joint portion Jx. In this embodiment, a backlash (gap) is provided between the screw shaft Bx, the nut, and the ball so that they can be smoothly driven in combination.
結合部Jxは、XテーブルTxにおいてY方向の端面を構成する一辺(X方向に平行な辺Vx)に取り付けられており、Y方向の他方の端面にはボールネジが取り付けられていない。従って、本実施形態においてX方向駆動部は、XテーブルTxの一辺に対してX方向に向けた力を作用させ、他方の端部に対して力を作用させない状態でXテーブルをX方向に移動させる。 The connecting portion Jx is attached to one side (side Vx parallel to the X direction) constituting the end face in the Y direction in the X table Tx, and the ball screw is not attached to the other end face in the Y direction. Therefore, in the present embodiment, the X-direction drive unit moves the X-table in the X-direction in a state where a force is applied to one side of the X-table Tx in the X-direction and no force is applied to the other end. Let me.
さらに、本実施形態にかかるXテーブルTxにおいては、結合部Jxの付近にリニアスケールLxおよびリニアスケールLxを読み取るセンサSxが取り付けられている。すなわち、モータMxの駆動に伴ってXテーブルTxがX方向に移動すると、センサSxによってリニアスケールLxが読み取られることにより、その移動方向および移動量が検出される。なお、リニアスケールLxは、結合部Jxの付近に取り付けられるため、本実施形態においては、リニアスケールLxが結合部Jxから離れた位置(例えば、辺Vxと逆側の辺)に取り付けられる場合と比較して、精度良く位置を測定することができる。 Further, in the X table Tx according to the present embodiment, a sensor Sx for reading the linear scale Lx and the linear scale Lx is attached in the vicinity of the coupling portion Jx. That is, when the X table Tx moves in the X direction as the motor Mx is driven, the movement direction and the movement amount are detected by reading the linear scale Lx by the sensor Sx. Since the linear scale Lx is attached near the coupling portion Jx, in the present embodiment, the linear scale Lx may be attached at a position away from the coupling portion Jx (for example, the side opposite to the side Vx). By comparison, the position can be measured with high accuracy.
また、平面移動機構13は、Y方向に移動するYテーブルTyを備えている。すなわち、Yテーブルは、上面にリニアレールRx1,Rx2およびモータMxが固定される部材であり、Yテーブルの移動方向をY軸に平行なY方向に制限するリニアレールRy1,Ry2に取り付けられている。なお、モータMy、リニアレールRy1,Ry2は検査装置の図示しない筐体等に固定される。 Further, the plane moving mechanism 13 includes a Y table Ty that moves in the Y direction. That is, the Y table is a member to which the linear rails Rx1 and Rx2 and the motor Mx are fixed on the upper surface, and is attached to the linear rails Ry1 and Ry2 that limit the moving direction of the Y table to the Y direction parallel to the Y axis. .. The motor My and the linear rails Ry1 and Ry2 are fixed to a housing or the like (not shown) of the inspection device.
また、平面移動機構13は、モータMy、ネジ軸By、結合部Jyを含むY方向駆動部を備えている。ネジ軸ByはモータMyの駆動力によって回転駆動される。結合部Jyにはナットが形成されており、ネジ軸Byがナットに挿通されている。ナットとネジ軸Byとの間にはボールが備えられており、ネジ軸Byと結合部Jyとによってボールネジが形成されている。なお、本実施形態においては、ネジ軸Byとナットとボールとが組み合わさってスムーズに駆動されるように、これらの間にバックラッシュ(隙間)が設けられている。 Further, the plane moving mechanism 13 includes a Y-direction drive unit including a motor My, a screw shaft By, and a coupling portion Jy. The screw shaft By is rotationally driven by the driving force of the motor My. A nut is formed in the joint Jy, and the screw shaft By is inserted through the nut. A ball is provided between the nut and the screw shaft By, and a ball screw is formed by the screw shaft By and the joint portion Jy. In this embodiment, a backlash (gap) is provided between the screw shaft By, the nut, and the ball so that they can be smoothly driven in combination.
結合部Jyは、YテーブルTyにおいてX方向の端面を構成する一辺(Y方向に平行な辺Vy)に取り付けられており、Y方向の他方の端面にはボールネジが取り付けられていない。従って、本実施形態においてY方向駆動部は、YテーブルTyの一辺に対してY方向に向けた力を作用させ、他方の端部に対して力を作用させない状態でYテーブルをY方向に移動させる。 The connecting portion Jy is attached to one side (side Vy parallel to the Y direction) constituting the end face in the X direction in the Y table Ty, and the ball screw is not attached to the other end face in the Y direction. Therefore, in the present embodiment, the Y-direction drive unit moves the Y-table in the Y-direction in a state in which a force is applied to one side of the Y-table Ty in the Y-direction and no force is applied to the other end. Let me.
さらに、本実施形態にかかるYテーブルTyにおいては、結合部Jyの付近にリニアスケールLyおよびリニアスケールLyを読み取るセンサSyが取り付けられている。すなわち、モータMyの駆動に伴ってYテーブルTyがY方向に移動すると、センサSyによってリニアスケールLyが読み取られることにより、その移動方向および移動量が検出される。なお、リニアスケールLyは、結合部Jyの付近に取り付けられるため、本実施形態においては、リニアスケールLyが結合部Jyから離れた位置(例えば、辺Vyと逆側の辺)に取り付けられる場合と比較して、精度良く位置を測定することができる。 Further, in the Y table Ty according to the present embodiment, a sensor Sy for reading the linear scale Ly and the linear scale Ly is attached in the vicinity of the coupling portion Jy. That is, when the Y table Ty moves in the Y direction as the motor My is driven, the movement direction and the movement amount are detected by reading the linear scale Ly by the sensor Sy. Since the linear scale Ly is attached near the coupling portion Jy, in the present embodiment, the linear scale Ly is attached at a position away from the coupling portion Jy (for example, the side opposite to the side Vy). By comparison, the position can be measured with high accuracy.
図2Bは、X線が基板Pに照射される様子を示す模式図であり、同図においては、横方向がX−Y平面に平行な方向であり、上下方向がX−Y平面に垂直なZ方向である。同図2Bにおいては、基板P上の半田バンプS、X−Y平面Sf、X線発生器11のX線出力部11aおよびX線検出器12の検出面12aを模式的に示している。本実施形態において、X線出力部11aはZ軸に平行であり、X線出力部11aの焦点を通るA軸を含む所定の立体角の範囲にX線を出力する。A軸はX線出力部11aからX線の出力範囲のほぼ中央においてZ軸方向に平行に延びる軸であり、当該A軸を回転中心としてX線検出器12の検出面12aが回転する。当該回転においては、X線出力部11aと検出面12aの中央とを結ぶ直線Lと検出面12aとが常に垂直な状態となるように検出面12aの向きが変化しながら回転移動が行われるように設計されている(A軸と直線Lとの角度はα)。 FIG. 2B is a schematic view showing how the substrate P is irradiated with X-rays. In the figure, the horizontal direction is parallel to the XY plane and the vertical direction is perpendicular to the XY plane. It is in the Z direction. In FIG. 2B, the solder bump S on the substrate P, the XY plane Sf, the X-ray output unit 11a of the X-ray generator 11, and the detection surface 12a of the X-ray detector 12 are schematically shown. In the present embodiment, the X-ray output unit 11a is parallel to the Z-axis and outputs X-rays in a range of a predetermined solid angle including the A-axis passing through the focal point of the X-ray output unit 11a. The A-axis is an axis extending parallel to the Z-axis direction in substantially the center of the X-ray output range from the X-ray output unit 11a, and the detection surface 12a of the X-ray detector 12 rotates around the A-axis. In the rotation, the rotation movement is performed while changing the direction of the detection surface 12a so that the straight line L connecting the X-ray output unit 11a and the center of the detection surface 12a and the detection surface 12a are always in a vertical state. (The angle between the A axis and the straight line L is α).
また、平面移動機構13は、検出面12aの回転移動に同期させ、X線出力部11aと検出面12aの中央とを結ぶ直線L上に半田バンプSが配置されるように基板PをX−Y平面内で移動させる。すなわち、撮影が行われる際には、検出面12aおよび半田バンプSが図2Bに示す破線の矢印に沿って回転するように検出面12aの回転と平面移動機構13による基板Pの移動が行われる。本実施形態においては、A軸周りの回転角が異なる複数の撮影位置で半田バンプSが撮影されることにより、複数の方向から撮影されたX線画像が取得される。なお、本実施形態においては基板PをX−Y平面内で回転軌跡に沿って移動させる構成を提案するが、回転軌跡に沿って移動させるための構成は一例であり、基板Pを固定し、X線出力部11aおよび検出面12aが回転移動される構成等であっても良い。 Further, the plane moving mechanism 13 synchronizes the rotational movement of the detection surface 12a with the substrate P so that the solder bump S is arranged on the straight line L connecting the X-ray output unit 11a and the center of the detection surface 12a. Move in the Y plane. That is, when photographing is performed, the detection surface 12a is rotated and the substrate P is moved by the plane moving mechanism 13 so that the detection surface 12a and the solder bump S rotate along the broken line arrow shown in FIG. 2B. .. In the present embodiment, the solder bumps S are photographed at a plurality of imaging positions having different rotation angles around the A-axis, so that X-ray images captured from a plurality of directions are acquired. In the present embodiment, a configuration is proposed in which the substrate P is moved along the rotation locus in the XY plane, but the configuration for moving the substrate P along the rotation locus is an example, and the substrate P is fixed. The X-ray output unit 11a and the detection surface 12a may be rotationally moved.
次に制御部20について説明する。制御部20は、発生器制御部21と撮影画像取得部22と撮影機構制御部23と入力部24と出力部25とメモリ26とCPU27とを備えている。メモリ26はデータを記憶可能な記憶媒体であり、プログラムデータ26aとX線画像データ26bと再構成画像データ26cと目標座標データ26dと中継座標データ26eとが記憶される。CPU27は、プログラムデータ26aを読み出して実行することにより、後述する各種処理のための演算を実行する。なお、メモリ26はデータを記憶することができればよく、RAMやEEPROM,HDD等種々の記憶媒体を採用可能である。 Next, the control unit 20 will be described. The control unit 20 includes a generator control unit 21, a captured image acquisition unit 22, a photographing mechanism control unit 23, an input unit 24, an output unit 25, a memory 26, and a CPU 27. The memory 26 is a storage medium capable of storing data, and stores program data 26a, X-ray image data 26b, reconstructed image data 26c, target coordinate data 26d, and relay coordinate data 26e. The CPU 27 reads and executes the program data 26a to execute operations for various processes described later. The memory 26 only needs to be able to store data, and various storage media such as RAM, EEPROM, and HDD can be adopted.
撮影機構制御部23はX線発生器11,X線検出器12および平面移動機構13を制御し、基板PのX線画像を撮影する撮影位置および倍率となるように平面移動機構13の位置と検出面12aの位置およびX線出力部11aの高さを調整する。なお、平面移動機構13は、リニアスケールLx,Lyの出力に基づいて基板Pの任意の位置をX−Y平面内の任意の座標に配置することができる。すなわち、平面移動機構13においては初期位置が予め決められており、撮影機構制御部23は、リニアスケールLx,Lyの出力に基づいてXテーブルTxおよびYテーブルTyを初期位置に配置することができる。本実施形態において、撮影機構制御部23は、後述するCPU27から移動対象(半田バンプS)と座標を指示されると、リニアスケールLx,Lyの出力に基づいて移動対象をX−Y平面内の指示された座標に移動させることができる。 The imaging mechanism control unit 23 controls the X-ray generator 11, the X-ray detector 12, and the plane moving mechanism 13, and determines the position of the plane moving mechanism 13 so as to obtain the imaging position and magnification for photographing the X-ray image of the substrate P. The position of the detection surface 12a and the height of the X-ray output unit 11a are adjusted. The plane moving mechanism 13 can arrange an arbitrary position of the substrate P at an arbitrary coordinate in the XY plane based on the outputs of the linear scales Lx and Ly. That is, the initial position of the plane moving mechanism 13 is predetermined, and the photographing mechanism control unit 23 can arrange the X table Tx and the Y table Ty at the initial position based on the outputs of the linear scales Lx and Ly. .. In the present embodiment, when the imaging mechanism control unit 23 is instructed by the CPU 27, which will be described later, to move the target (solder bump S) and the coordinates, the moving target is moved in the XY plane based on the outputs of the linear scales Lx and Ly. It can be moved to the specified coordinates.
発生器制御部21は、X線発生器11を制御し、X線発生器11から基板Pに対してX線を照射させる。撮影画像取得部22は、X線検出器12が検出したX線の強度、すなわち透過量の画像を示すX線画像データ26bを取得する。X線画像データ26bは複数の画素の階調値によって構成される画像データであり、各画素の階調値はX線検出器12が検出したX線の強度を示す。再構成画像データ26cは、X線画像データ26bに基づいて再構成処理が行われることによって生成される検査対象(本実施形態では半田バンプS)の3次元像を示すデータである。 The generator control unit 21 controls the X-ray generator 11 to irradiate the substrate P with X-rays from the X-ray generator 11. The captured image acquisition unit 22 acquires X-ray image data 26b indicating an image of the intensity of X-rays detected by the X-ray detector 12, that is, the transmission amount. The X-ray image data 26b is image data composed of gradation values of a plurality of pixels, and the gradation value of each pixel indicates the intensity of X-rays detected by the X-ray detector 12. The reconstructed image data 26c is data showing a three-dimensional image of an inspection target (solder bump S in this embodiment) generated by performing a reconstructed process based on the X-ray image data 26b.
目標座標データ26dは、移動対象を撮影する際に当該移動対象を配置すべき位置を、X−Y平面内の座標によって示した情報である。本実施形態において、移動対象はX線による検査対象である半田バンプSであり、目標座標データ26dは、移動対象の基板P上の位置を示す情報に対して、撮影時に移動対象の半田バンプSが配置されるべきX座標およびY座標が対応づけられている。 The target coordinate data 26d is information indicating the position where the moving target should be placed when the moving target is photographed by the coordinates in the XY plane. In the present embodiment, the moving target is the solder bump S which is the inspection target by X-rays, and the target coordinate data 26d is the solder bump S which is the moving target at the time of shooting with respect to the information indicating the position on the substrate P of the moving target. The X-coordinate and the Y-coordinate to which the is to be placed are associated.
なお、本実施形態において、検出面12aは、A軸周りの回転角が異なる複数の撮影位置に配置され、各撮影位置で半田バンプSが撮影される。従って、目標座標データ26dにおいては、各撮影位置で半田バンプSが撮影される際の位置を示す複数の座標が含まれている。本実施形態においては、これらの座標を目標座標と呼ぶ。図3は、X−Y平面内の目標座標を示す図である。図3においては、検出面12aがA軸周りに回転して8カ所の撮影位置に配置される例が想定されている。このため図3に示す例においては、合計8個の目標座標D1〜D8が設定されている。このように、本実施形態においては、X−Y平面の原点を中心とした半径一定の円の周上に目標座標が配置される。 In the present embodiment, the detection surface 12a is arranged at a plurality of photographing positions having different rotation angles around the A axis, and the solder bump S is photographed at each photographing position. Therefore, the target coordinate data 26d includes a plurality of coordinates indicating the position when the solder bump S is photographed at each photographing position. In this embodiment, these coordinates are referred to as target coordinates. FIG. 3 is a diagram showing target coordinates in the XY plane. In FIG. 3, it is assumed that the detection surface 12a rotates around the A axis and is arranged at eight imaging positions. Therefore, in the example shown in FIG. 3, a total of eight target coordinates D 1 to D 8 are set. As described above, in the present embodiment, the target coordinates are arranged on the circumference of a circle having a constant radius centered on the origin of the XY plane.
中継座標データ26eは、目標座標データ26dが示す複数の座標のそれぞれと一定の相対位置関係にある座標を示す情報である。本実施形態においては、当該座標を中継座標と呼ぶ。本実施形態において、中継座標から見た目標座標の方向は、全ての中継座標および目標座標において一定である。また、中継座標と目標座標との距離は、全ての中継座標および目標座標において一定である。従って、中継座標から目標座標まで延びるベクトルの方向は、複数の目標座標の全てにおいて同一である。中継座標から目標座標まで延びるベクトルの長さは、複数の目標座標の全てにおいて同一である。 The relay coordinate data 26e is information indicating coordinates having a constant relative positional relationship with each of the plurality of coordinates indicated by the target coordinate data 26d. In the present embodiment, the coordinates are referred to as relay coordinates. In the present embodiment, the direction of the target coordinates as seen from the relay coordinates is constant in all the relay coordinates and the target coordinates. Further, the distance between the relay coordinates and the target coordinates is constant in all the relay coordinates and the target coordinates. Therefore, the direction of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates is the same for all of the plurality of target coordinates. The length of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates is the same for all of the plurality of target coordinates.
本実施形態にかかる平面移動機構13においては、ネジ軸Bxとナットとボールとの間にバックラッシュが設けられ、ネジ軸Byとナットとボールとの間にバックラッシュが設けられている。従って、ネジ軸Bxとナットとボールとの関係や、ネジ軸Byとナットとボールとの関係が不定であると、モータMx,Myの駆動力がテーブルTx,Tyに作用してから実際にテーブルTx,Tyが移動を始めるまでタイムラグが不定になる。 In the plane moving mechanism 13 according to the present embodiment, a backlash is provided between the screw shaft Bx, the nut, and the ball, and a backlash is provided between the screw shaft By, the nut, and the ball. Therefore, if the relationship between the screw shaft Bx and the nut and the ball or the relationship between the screw shaft By and the nut and the ball is undefined, the driving force of the motors Mx and My acts on the tables Tx and Ty before the table is actually used. The time lag becomes indefinite until Tx and Ty start moving.
このように、移動開始初期のバックラッシュは移動完了後の位置のばらつきの要因となる。このため、複数の目標座標に移動対象を移動させる直前におけるネジ軸Bxとナットとボールとの関係やネジ軸Byとナットとボールとの関係が不定であると、移動対象の移動が完了した位置において生じるばらつきに再現性が無くなる。しかし、常に特定の方向に移動を行えば、位置のばらつきが小さくなり全体として統一の取れた繰返し再現性のあるばらつきになる。そこで、本実施形態においては、目標座標がどのような位置であっても、中継座標から目標座標に延びるベクトルが一定のベクトルになるように中継座標データ26eが設定される。図3においては、当該ベクトルを実線の矢印によって示している。 In this way, the backlash at the initial stage of the start of movement causes a variation in the position after the completion of the movement. Therefore, if the relationship between the screw shaft Bx and the nut and the ball or the relationship between the screw shaft By and the nut and the ball is undefined immediately before moving the movement target to a plurality of target coordinates, the position where the movement of the movement target is completed. There is no reproducibility in the variation that occurs in. However, if the movement is always performed in a specific direction, the variation in position becomes small, and the variation becomes unified and reproducible as a whole. Therefore, in the present embodiment, the relay coordinate data 26e is set so that the vector extending from the relay coordinate to the target coordinate becomes a constant vector regardless of the position of the target coordinate. In FIG. 3, the vector is indicated by a solid arrow.
さらに、本実施形態にかかる平面移動機構13において、XテーブルTx、YテーブルTyのそれぞれは剛体であるが、移動に伴って歪みが生じ得る。すなわち、本実施形態においてXテーブルTxには、Y方向の端面を構成する一辺Vxに取り付けられた結合部JxによってモータMxの駆動力が作用する。一方、辺Vx以外の辺にはモータMxの駆動力が作用しない。従って、XテーブルTxが移動する際には、辺Vx側に存在するリニアレールRx1付近の部位が先に移動する一方、辺Vxと逆側に存在するリニアレールRx2付近の部位は若干遅れて移動する。このため、XテーブルTxが移動されると、XテーブルTxにおいてX方向の歪みが生じる。YテーブルTyも同様の構成であるため、YテーブルTyが移動されると、YテーブルTyにおいてY方向の歪みが生じる。 Further, in the plane moving mechanism 13 according to the present embodiment, although each of the X table Tx and the Y table Ty is a rigid body, distortion may occur with the movement. That is, in the present embodiment, the driving force of the motor Mx acts on the X table Tx by the coupling portion Jx attached to one side Vx forming the end face in the Y direction. On the other hand, the driving force of the motor Mx does not act on the sides other than the side Vx. Therefore, when the X table Tx moves, the portion near the linear rail Rx1 existing on the side Vx side moves first, while the portion near the linear rail Rx2 existing on the opposite side of the side Vx moves with a slight delay. To do. Therefore, when the X table Tx is moved, distortion occurs in the X direction in the X table Tx. Since the Y table Ty has the same configuration, when the Y table Ty is moved, distortion occurs in the Y table Ty in the Y direction.
そして、移動対象が目標座標まで移動する過程においてX方向、Y方向のそれぞれにおける移動方向と移動距離が不定であると、移動対象を目標座標に移動させた状態で生じる歪みが不定になり、この結果位置のばらつきも不定になる。そこで、本実施形態においては、目標座標がどのような位置であっても、中継座標から目標座標に延びるベクトルが一定のベクトルになるように中継座標データ26eが設定される。 Then, if the moving direction and the moving distance in each of the X direction and the Y direction are undefined in the process of moving the moving target to the target coordinates, the distortion generated when the moving target is moved to the target coordinates becomes undefined. The variation in the resulting position is also indefinite. Therefore, in the present embodiment, the relay coordinate data 26e is set so that the vector extending from the relay coordinate to the target coordinate becomes a constant vector regardless of the position of the target coordinate.
なお、当該ベクトルにおいては、X方向およびY方向の成分が0ではない。従って、X方向およびY方向の双方に移動した後に目標座標に到達するように中継座標が設定される。本実施形態においては、モータMx、ネジ軸Bx、結合部Jxで構成されるボールネジによる移動速度とモータMy、ネジ軸By、結合部Jyで構成されるボールネジによる移動速度とが同一である。そこで、本実施形態においては、X方向およびY方向の双方に同量の移動を行って目標座標に到達するように、X方向およびY方向の双方に対して45°傾斜したベクトルが採用されている(図3参照の中継座標R1参照)。すなわち、中継座標から目標座標に延びるベクトルのX方向の成分と、Y方向の成分とは同一である。 In the vector, the components in the X direction and the Y direction are not 0. Therefore, the relay coordinates are set so as to reach the target coordinates after moving in both the X direction and the Y direction. In the present embodiment, the moving speed of the ball screw composed of the motor Mx, the screw shaft Bx, and the connecting portion Jx is the same as the moving speed of the ball screw composed of the motor My, the screw shaft By, and the connecting portion Jy. Therefore, in the present embodiment, a vector inclined by 45 ° with respect to both the X direction and the Y direction is adopted so that the same amount of movement is performed in both the X direction and the Y direction to reach the target coordinates. (See relay coordinates R 1 with reference to FIG. 3). That is, the component in the X direction and the component in the Y direction of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are the same.
また、ベクトルの長さ、すなわち中継座標と目標座標との距離は、X方向およびY方向のそれぞれにおいて、バックラッシュが充分に解消されるように設定される。例えば、X方向のバックラッシュの量と、少なくとも桁が違うような長さに設定される。本実施形態においては、バックラッシュが数十μm程度であり、ベクトルの長さが0.5mm程度(従って、X方向およびY方向の移動量は0.5/21/2mm程度)である。 Further, the length of the vector, that is, the distance between the relay coordinates and the target coordinates is set so that the backlash is sufficiently eliminated in each of the X direction and the Y direction. For example, the length is set so that at least an order of magnitude is different from the amount of backlash in the X direction. In the present embodiment, the backlash is about several tens of μm, and the length of the vector is about 0.5 mm (therefore, the amount of movement in the X and Y directions is about 0.5 / 2 1/2 mm). ..
出力部25は基板Pの検査結果等を表示するディスプレイであり、入力部24は利用者の入力を受け付ける操作入力機器である。CPU27は、プログラムデータ26aが示すプログラムを実行することにより、検査対象のX線画像データ26bを撮影するための制御と、検査対象の良否判定とを行う。良否判定は、半田バンプが不良であるか否かを個別に判定する処理であり、詳細は後述する。 The output unit 25 is a display for displaying the inspection result of the substrate P and the like, and the input unit 24 is an operation input device that accepts the input of the user. By executing the program indicated by the program data 26a, the CPU 27 controls for photographing the X-ray image data 26b to be inspected and determines the quality of the inspection target. The quality determination is a process for individually determining whether or not the solder bump is defective, and the details will be described later.
CPU27が、検査対象のX線画像データ26bを撮影するための制御プログラムを実行すると、CPU27は、第1移動制御部27a、第2移動制御部27b、3次元像取得部27cとして機能する。また、CPU27が、良否判定を行うためのプログラムを実行すると、CPU27は、良否判定部27dとして機能する。 When the CPU 27 executes a control program for photographing the X-ray image data 26b to be inspected, the CPU 27 functions as a first movement control unit 27a, a second movement control unit 27b, and a three-dimensional image acquisition unit 27c. Further, when the CPU 27 executes a program for determining the quality, the CPU 27 functions as the quality determination unit 27d.
第1移動制御部27aは、中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおけるX方向およびY方向の成分が非0の既定値であるように設定された中継座標に移動対象を移動させる機能をCPU27に実行させる。すなわち、CPU27は、移動対象を複数の目標座標のそれぞれに移動させてX線による撮影を行う過程において、移動対象を各目標座標に移動させる前に中継座標に移動させる。 The first movement control unit 27a executes a function of moving the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X and Y directions in the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero default values. Let me. That is, in the process of moving the moving target to each of the plurality of target coordinates and performing X-ray photography, the CPU 27 moves the moving target to the relay coordinates before moving the moving target to each target coordinate.
このため、CPU27は、目標座標データ26dに基づいて中継座標データ26eを生成する。すなわち、CPU27は、第1移動制御部27aの機能により、目標座標データ26dに基づいて複数の目標座標を取得し、各目標座標に対応した中継座標から各目標座標まで延びるベクトルの方向および距離が一定になるように中継座標を設定する。以上のような処理によれば、例えば、図3に示す例であれば目標座標D1〜D8のそれぞれに対応した中継座標R1〜R8が設定される。 Therefore, the CPU 27 generates the relay coordinate data 26e based on the target coordinate data 26d. That is, the CPU 27 acquires a plurality of target coordinates based on the target coordinate data 26d by the function of the first movement control unit 27a, and the direction and distance of the vector extending from the relay coordinates corresponding to each target coordinate to each target coordinate are determined. Set the relay coordinates so that they are constant. According to the above process, for example, relay the coordinates R 1 to R 8 corresponding to the respective target coordinate D 1 to D 8 are set in the example illustrated in FIG.
そこで、CPU27は、移動対象を目標座標Dnに移動させる前に、目標座標Dnに対応した中継座標Rnに移動対象を移動させる(nは1〜最大撮影回数の整数値)。このため、移動対象を中継座標Rnに移動させる際、CPU27は、移動対象である半田バンプSの基板P上の位置とともに中継座標Rnを撮影機構制御部23に出力する。この結果、撮影機構制御部23は、平面移動機構13を制御して当該移動対象を中継座標Rnに移動させる。 Therefore, the CPU 27 moves the moving target to the relay coordinate R n corresponding to the target coordinate D n before moving the moving target to the target coordinate D n (n is an integer value of 1 to the maximum number of times of shooting). Therefore, when the moving target is moved to the relay coordinates R n , the CPU 27 outputs the relay coordinates R n to the photographing mechanism control unit 23 together with the position of the solder bump S which is the moving target on the substrate P. As a result, the photographing mechanism control unit 23 controls the plane moving mechanism 13 to move the moving target to the relay coordinates R n .
第2移動制御部27bは、移動対象を中継座標から目標座標まで移動させる機能をCPU27に実行させる。すなわち、CPU27は、移動対象である半田バンプSの基板P上の位置とともに目標座標Dnを撮影機構制御部23に出力する。この結果、撮影機構制御部23は、平面移動機構13を制御して当該移動対象を目標座標Dnに移動させる。 The second movement control unit 27b causes the CPU 27 to execute a function of moving the movement target from the relay coordinates to the target coordinates. That is, the CPU 27 outputs the target coordinates D n to the imaging mechanism control unit 23 together with the position of the solder bump S to be moved on the substrate P. As a result, the photographing mechanism control unit 23 controls the plane moving mechanism 13 to move the moving target to the target coordinates D n .
3次元像取得部27cは、撮影位置に移動された移動対象(半田バンプS)にX線を照射して当該移動対象の3次元像を取得する機能である。すなわち、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、各撮影位置において発生器制御部21に既定の強度のX線の発生を指示する。発生器制御部21は、当該指示に基づいてX線発生器11を制御し、X線発生器11から半田バンプSに対してX線を照射させる。 The three-dimensional image acquisition unit 27c is a function of irradiating the moving object (solder bump S) moved to the photographing position with X-rays to acquire the three-dimensional image of the moving object. That is, the CPU 27 instructs the generator control unit 21 to generate X-rays having a predetermined intensity at each imaging position by the function of the three-dimensional image acquisition unit 27c. The generator control unit 21 controls the X-ray generator 11 based on the instruction, and causes the X-ray generator 11 to irradiate the solder bump S with X-rays.
この状態でCPU27は、撮影画像取得部22にX線画像の撮影を指示する。撮影画像取得部22は、当該指示に基づいてX線検出器12が出力するX線画像データを取得し、メモリ26にX線画像データ26bとして記録する。複数の撮影位置の全てにおいてX線画像データ26bが取得されると、CPU27は、各X線画像データ26bを参照し、半田バンプの3次元像を生成する。具体的には、CPU27は、各半田バンプを複数の位置から撮影して得られたX線画像データ26bに基づいて再構成演算を実行して3次元像を生成する。生成された3次元像を示す情報は再構成画像データ26cとしてメモリ26に記録される。 In this state, the CPU 27 instructs the captured image acquisition unit 22 to capture an X-ray image. The captured image acquisition unit 22 acquires the X-ray image data output by the X-ray detector 12 based on the instruction, and records it in the memory 26 as the X-ray image data 26b. When the X-ray image data 26b is acquired at all of the plurality of imaging positions, the CPU 27 refers to each X-ray image data 26b and generates a three-dimensional image of the solder bump. Specifically, the CPU 27 executes a reconstruction operation based on the X-ray image data 26b obtained by photographing each solder bump from a plurality of positions to generate a three-dimensional image. The information indicating the generated three-dimensional image is recorded in the memory 26 as the reconstructed image data 26c.
良否判定部27dは、再構成画像データ26cに基づいて、検査対象である半田バンプSの良否を判定する機能である。すなわち、CPU27は、良否判定部27dの処理により、再構成画像データ26cが示す再構成情報を参照し、当該再構成情報に基づいて、半田バンプSをZ軸に垂直な方向に切断した切断面の断層像を取得する。そして、CPU27は、断層像と所定の判定条件(例えば、ボイドの有無やボイドの大きさ、形状、位置等による良否の基準を示す条件)とを比較し、判定条件に基づいて良否を判定する。 The quality determination unit 27d is a function of determining the quality of the solder bump S to be inspected based on the reconstructed image data 26c. That is, the CPU 27 refers to the reconstruction information indicated by the reconstruction image data 26c by the processing of the pass / fail determination unit 27d, and based on the reconstruction information, the solder bump S is cut in the direction perpendicular to the Z axis. Obtain a tomographic image of. Then, the CPU 27 compares the tomographic image with a predetermined determination condition (for example, a condition indicating a quality criterion based on the presence / absence of a void, the size, shape, position, etc. of the void), and determines the quality based on the determination condition. ..
以上の構成によれば、移動対象を複数の目標座標のそれぞれに移動させてX線による撮影を行う過程において、移動対象を各目標座標に移動させる前に必ず中継座標を経由させ、全ての目標座標に向けて同一の方向に同一距離だけ移動した上で移動対象を目標座標に配置することができる。従って、移動対象が目標座標に移動する直前に行われる動作は常に同じ動作であり、バックラッシュに起因する位置のばらつきやXテーブルTxおよびYテーブルTyの歪みによる位置のばらつきが生じたとしても、目標座標に対するそのばらつきが小さく繰返し再現性を備えたばらつきとなる。このため、恒常的に発生する方向と距離が一定の位置ずれに対し、簡易な構成や簡易な処理によって平面移動機構の位置を補正することが可能である。 According to the above configuration, in the process of moving the moving target to each of the plurality of target coordinates and taking an X-ray image, the moving target must be passed through the relay coordinates before being moved to each target coordinate, and all the targets. The moving target can be placed at the target coordinates after moving toward the coordinates in the same direction and by the same distance. Therefore, the operation performed immediately before the movement target moves to the target coordinates is always the same operation, and even if the position variation due to backlash or the position variation due to the distortion of the X table Tx and the Y table Ty occurs, the position variation occurs. The variation with respect to the target coordinates is small, and the variation has repeatability. Therefore, it is possible to correct the position of the plane moving mechanism by a simple configuration or a simple process for a positional deviation in which the direction and the distance that constantly occur are constant.
(2)X線検査処理:
図4は、X線検査処理を示すフローチャートである。検査装置は、半田バンプSの検査を行うために図4に示すX線検査処理を実行する。X線検査処理が開始されると、CPU27は、第1移動制御部27aの機能により、ベクトルの成分を取得する(ステップS100)。すなわち、中継座標から見た目標座標に延びるベクトルのX方向およびY方向の成分ΔXおよびΔYは既定値であり、メモリ26等に記録されている。CPU27は、メモリ26等を参照して当該ベクトルの成分ΔXおよびΔYを取得する。なお、図3に示す例であれば、ΔXおよびΔYは負の同一値である。
(2) X-ray inspection processing:
FIG. 4 is a flowchart showing an X-ray inspection process. The inspection device executes the X-ray inspection process shown in FIG. 4 in order to inspect the solder bump S. When the X-ray inspection process is started, the CPU 27 acquires a vector component by the function of the first movement control unit 27a (step S100). That is, the components ΔX and ΔY in the X and Y directions of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are default values and are recorded in the memory 26 or the like. The CPU 27 acquires the components ΔX and ΔY of the vector with reference to the memory 26 and the like. In the example shown in FIG. 3, ΔX and ΔY have the same negative values.
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、目標座標を取得するための処理を行う。具体的には、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、X線の焦点と移動対象の重心との垂直距離FODを取得する(ステップS105)。本実施形態において、平面移動機構13の高さ(Z方向の位置)は固定されており、X線出力部11aの高さが調整可能である。そこで、CPU27は、X線出力部11aの高さに基づいて、当該X線出力部11aにおけるX線の焦点と平面移動機構13に固定される基板PとのZ方向の距離を取得し、垂直距離FODとみなす(図2B参照)。なお、当該垂直距離FODは、センサ等によって計測されても良いし、X線出力部11aの高さを指示するための指示値等によって特定されても良く、種々の手法で算出されて良い。 Next, the CPU 27 performs a process for acquiring the target coordinates by the function of the second movement control unit 27b. Specifically, the CPU 27 acquires the vertical distance FOD between the focal point of the X-ray and the center of gravity of the moving target by the function of the second movement control unit 27b (step S105). In the present embodiment, the height (position in the Z direction) of the plane moving mechanism 13 is fixed, and the height of the X-ray output unit 11a can be adjusted. Therefore, the CPU 27 acquires the distance in the Z direction between the focus of the X-ray in the X-ray output unit 11a and the substrate P fixed to the plane moving mechanism 13 based on the height of the X-ray output unit 11a, and is vertical. Considered as a distance FOD (see FIG. 2B). The vertical distance FOD may be measured by a sensor or the like, or may be specified by an indicated value or the like for instructing the height of the X-ray output unit 11a, and may be calculated by various methods.
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、撮影時の傾斜角度αに基づいてX線の焦点と移動対象の重心との距離FODαを取得する(ステップS110)。すなわち、CPU27は、X線の焦点と検出面12aの中央とを結ぶ直線LとA軸との角度αを取得する。ここでも、角度αは、センサによって測定される構成や、X線出力部11aの高さを指示するための指示値および平面移動機構13の設計値等によって特定される構成など、種々の構成が採用されてよい。角度αが取得されると、CPU27は、FOD/cosαを演算して距離FODαとみなす(図2B参照)。 Next, the CPU 27 acquires the distance FOD α between the focal point of the X-ray and the center of gravity of the moving target based on the tilt angle α at the time of shooting by the function of the second movement control unit 27b (step S110). That is, the CPU 27 acquires the angle α between the straight line L connecting the focal point of the X-ray and the center of the detection surface 12a and the A axis. Here, too, the angle α has various configurations such as a configuration measured by a sensor, a configuration specified by an indicated value for instructing the height of the X-ray output unit 11a, a design value of the plane moving mechanism 13, and the like. May be adopted. When the angle α is acquired, the CPU 27 calculates FOD / cos α and considers it as the distance FOD α (see FIG. 2B).
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、撮影回数Nに基づいて1回の撮影毎の角度変化Δθを取得する(ステップS115)。すなわち、本実施形態においては撮影回数Nが予め決まっており、CPU27は、360/Nを1回あたりの検出面12aの角度変化Δθとして取得する。なお、図3に示す例であればN=8であるため角度変化Δθは、45°である。 Next, the CPU 27 acquires the angle change Δθ for each shooting based on the number of shootings N by the function of the second movement control unit 27b (step S115). That is, in the present embodiment, the number of times of shooting N is predetermined, and the CPU 27 acquires 360 / N as the angle change Δθ of the detection surface 12a per one time. In the example shown in FIG. 3, since N = 8, the angle change Δθ is 45 °.
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、k番目の撮影における回転角度θkを取得する(ステップS120)。すなわち、CPU27は、k=1〜Nとした場合におけるkのそれぞれにおいて、検出面12aの回転角度θkを取得する。具体的には、CPU27は、検出面12aの回転角度の初期値をθ0とした場合に、θ0+Δθ(k−1)をθkとして取得する。なお、角度の基準は予め決められていればよく、図3においては、X軸に平行な方向が基準であり0°である。また、図3においては、θ0が45°の場合を例示している。この例において、角度変化Δθも45°であるため、1番目の撮影における回転角度θ1はX軸から90°反時計回りに回転した角度であり、2番目の撮影における回転角度θ2はX軸から135°反時計回りに回転した角度である。 Next, the CPU 27 acquires the rotation angle θ k in the kth shooting by the function of the second movement control unit 27b (step S120). That is, the CPU 27 acquires the rotation angle θ k of the detection surface 12a at each of k when k = 1 to N. Specifically, the CPU 27 acquires θ 0 + Δθ (k-1) as θ k when the initial value of the rotation angle of the detection surface 12a is θ 0 . The reference of the angle may be determined in advance, and in FIG. 3, the direction parallel to the X axis is the reference and is 0 °. Further, in FIG. 3, a case where θ 0 is 45 ° is illustrated. In this example, since the angle change Δθ is also 45 °, the rotation angle θ 1 in the first shooting is the angle rotated 90 ° counterclockwise from the X axis, and the rotation angle θ 2 in the second shooting is X. It is the angle rotated 135 ° counterclockwise from the axis.
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、回転角度θkにおける目標座標Dk(Xk,Yk)を取得する(ステップS125)。本実施形態において移動対象は、X−Y平面において円の周上を移動する。当該円の半径は、X線の焦点と移動対象の重心との距離FODα×sinαである。また、X−Y平面上での移動対象のA軸に対する回転角度と検出面12aの回転角度θkとは同一である、そこで、CPU27は、k=1〜Nとした場合におけるkのそれぞれにおいて
Xk=FODα×sinα×cosθk
Yk=FODα×sinα×sinθk
とし、目標座標Dk(Xk,Yk)を取得する。
Next, the CPU 27 acquires the target coordinates D k (X k , Y k ) at the rotation angle θ k by the function of the second movement control unit 27b (step S125). In the present embodiment, the moving object moves on the circumference of the circle in the XY plane. The radius of the circle is the distance FOD α × sin α between the focal point of the X-ray and the center of gravity of the moving object. Further, the rotation angle with respect to the A axis of the movement target on the XY plane and the rotation angle θ k of the detection surface 12a are the same, so that the CPU 27 sets each of k when k = 1 to N. X k = FOD α × sin α × cos θ k
Y k = FOD α × sin α × sin θ k
Then, the target coordinates D k (X k , Y k ) are acquired.
次に、回転角度θkにおける中継座標Rk(X'k,Y'k)を取得する(ステップS130)。すなわち、CPU27は、ステップS125で取得された各目標座標Dk(Xk,Yk)に対してステップS100で取得したベクトルの逆ベクトルを加えることで中継座標Rk(X'k,Y'k)を取得する。具体的には、CPU27は、k=1〜Nとした場合におけるkのそれぞれにおいて
X'k=Xk−ΔX
Y'k=Yk−ΔY
とし、中継座標Rk(X'k,Y'k)を取得する。
The relay coordinates R k (X 'k, Y ' k) in the rotation angle theta k to get (step S130). That is, the CPU 27 adds the inverse vector of the vector acquired in step S100 to each target coordinate D k (X k , Y k ) acquired in step S125, so that the relay coordinates R k ( X'k , Y'). get k ). Specifically, CPU 27 is, X in each of the k in the case where a k = 1~N 'k = X k -ΔX
Y 'k = Y k -ΔY
Then, the relay coordinates R k ( X'k , Y'k ) are acquired.
次に、CPU27は、第1移動制御部27a、第2移動制御部27b、3次元像取得部27cの機能により、半田バンプSの撮影を行う。具体的には、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、撮影回数をカウントする変数であるkを1に初期化し、移動対象を図3の原点0に移動する(ステップS135)。また、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、回転角度をθkにセットする(ステップS140)。すなわち、CPU27は、撮影機構制御部23に回転角度θkを指示する。この結果、撮影機構制御部23は、X線検出器12を制御し、検出面12aを回転角度θkに変化させる。この結果、検出面12aの回転角度はk−1番目の撮影における回転角度θk-1からk番目の撮影における回転角度θkに変化する。なお、kが1の場合、回転角度はθ0であり、検出面12aの回転角度の初期値である。 Next, the CPU 27 photographs the solder bump S by the functions of the first movement control unit 27a, the second movement control unit 27b, and the three-dimensional image acquisition unit 27c. Specifically, the CPU 27 initializes k, which is a variable for counting the number of times of shooting, to 1 by the function of the three-dimensional image acquisition unit 27c, and moves the movement target to the origin 0 in FIG. 3 (step S135). Further, the CPU 27 sets the rotation angle to θ k by the function of the three-dimensional image acquisition unit 27c (step S140). That is, the CPU 27 instructs the photographing mechanism control unit 23 to rotate the rotation angle θ k . As a result, the imaging mechanism control unit 23 controls the X-ray detector 12 and changes the detection surface 12a to the rotation angle θ k . As a result, the rotation angle of the detection surface 12a changes from the rotation angle θ k-1 in the k-1st imaging to the rotation angle θ k in the kth imaging. When k is 1, the rotation angle is θ 0, which is an initial value of the rotation angle of the detection surface 12a.
例えば、図3に示す例においてkが1の場合、ステップS140により、回転角度θ0から回転角度θ1に変化する。このため、検出面12aは目標座標D1を撮影するための撮影位置にセットされる。図3に示す例においてkが2の場合、ステップS140により、回転角度θ1から回転角度θ2に変化する。このため、検出面12aは目標座標D2を撮影するための撮影位置にセットされる。 For example, when k is 1 in the example shown in FIG. 3, the rotation angle θ 0 changes to the rotation angle θ 1 in step S140. Therefore, the detection surface 12a is set at a shooting position for shooting the target coordinate D 1 . When k is 2 in the example shown in FIG. 3, the rotation angle θ 1 is changed to the rotation angle θ 2 by step S140. Therefore, the detection surface 12a is set at a shooting position for shooting the target coordinate D 2 .
次に、CPU27は、第1移動制御部27aの機能により、移動対象を中継座標Rkに移動させる(ステップS145)。すなわち、CPU27は、半田バンプSの基板P上の位置とともにステップS130で取得した中継座標Rkを撮影機構制御部23に出力する。この結果、撮影機構制御部23は、平面移動機構13を制御して当該移動対象を中継座標Rkに移動させる。例えば、図3に示す例においてkが1の場合、半田バンプSは図3の実線L1で示すように、原点0の座標から中継座標R1に移動し、kが2の場合、半田バンプSは図3の実線L2で示すように、目標座標D1から中継座標R2に移動する。なお、図3に示す目標座標Dk-1から中継座標Rkへの移動を示す実線は中継座標R2までしか示していないが、kが3〜8の場合も同様の動作を繰り返す。 Next, the CPU 27 moves the movement target to the relay coordinates R k by the function of the first movement control unit 27a (step S145). That is, the CPU 27 outputs the relay coordinates R k acquired in step S130 together with the position of the solder bump S on the substrate P to the imaging mechanism control unit 23. As a result, the photographing mechanism control unit 23 controls the plane moving mechanism 13 to move the moving target to the relay coordinate R k . For example, in the example shown in FIG. 3, when k is 1, the solder bump S moves from the coordinates of the origin 0 to the relay coordinate R 1 as shown by the solid line L 1 in FIG. 3, and when k is 2, the solder bump S moves. As shown by the solid line L 2 in FIG. 3, S moves from the target coordinate D 1 to the relay coordinate R 2 . The solid line showing the movement from the target coordinate D k-1 to the relay coordinate R k shown in FIG. 3 shows only the relay coordinate R 2 , but the same operation is repeated when k is 3 to 8.
次に、CPU27は、第2移動制御部27bの機能により、移動対象を目標座標Dkに移動させる(ステップS150)。すなわち、CPU27は、半田バンプSの基板P上の位置とともにステップS125で取得した目標座標Dkを撮影機構制御部23に出力する。この結果、撮影機構制御部23は、平面移動機構13を制御して当該移動対象を目標座標Dkに移動させる。例えば、図3に示す例においてkが1の場合、半田バンプSは図3の実線の矢印で示すように、中継座標R1から目標座標D1に延びるベクトルに沿って移動し、kが2の場合、中継座標R2から目標座標D2延びるベクトルに沿って移動する。 Next, the CPU 27 moves the movement target to the target coordinate D k by the function of the second movement control unit 27b (step S150). That is, the CPU 27 outputs the target coordinates D k acquired in step S125 together with the position of the solder bump S on the substrate P to the imaging mechanism control unit 23. As a result, the photographing mechanism control unit 23 controls the plane moving mechanism 13 to move the moving target to the target coordinate D k . For example, when k is 1 in the example shown in FIG. 3, the solder bump S moves along a vector extending from the relay coordinate R 1 to the target coordinate D 1 as shown by the solid arrow in FIG. 3, and k is 2. In the case of, it moves along a vector extending from the relay coordinate R 2 to the target coordinate D 2 .
次に、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、k番目の撮影画像データIkを取得する(ステップS155)。すなわち、CPU27は、撮影画像取得部22にX線画像の撮影を指示する。撮影画像取得部22は、当該指示に基づいてX線検出器12が出力するX線画像データを取得し、撮影回数を示すkを対応づけてメモリ26にX線画像データ26bとして記録する。 Then, CPU 27 by the function of the three-dimensional image obtaining unit 27c, obtains the k-th captured image data I k (step S155). That is, the CPU 27 instructs the captured image acquisition unit 22 to capture an X-ray image. The captured image acquisition unit 22 acquires the X-ray image data output by the X-ray detector 12 based on the instruction, associates k indicating the number of times of imaging, and records it in the memory 26 as the X-ray image data 26b.
次に、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、kをインクリメントし(ステップS160)、kが撮影回数N以下であるか否かを判定する(ステップS165)。ステップS165において、kが撮影回数N以下であると判定されない場合、CPU27は、ステップS140以降の処理を繰り返す。 Next, the CPU 27 increments k (step S160) by the function of the three-dimensional image acquisition unit 27c, and determines whether or not k is the number of times of shooting N or less (step S165). If it is not determined in step S165 that k is not less than or equal to the number of times of shooting N, the CPU 27 repeats the processes after step S140.
ステップS165において、kが撮影回数N以下であると判定された場合、CPU27は、3次元像取得部27cの機能により、再構成演算処理を実行する(ステップS170)。再構成演算は、半田バンプSの3次元構造を再構成することができれば良く、種々の処理を採用可能である。例えば、フィルタ補正逆投影法を採用可能である。この処理においてCPU27は、まず、複数のX線画像のいずれかに対してフーリエ変換を実施し、フーリエ変換で得られた結果に対して周波数空間でフィルタ補正関数を乗じる。さらに、この結果に対して逆フーリエ変換を実施することで、フィルタ補正を行った画像を取得する。尚、このフィルタ補正関数は、画像のエッジを強調するための関数等を採用可能である。 When it is determined in step S165 that k is the number of times of shooting N or less, the CPU 27 executes the reconstruction calculation process by the function of the three-dimensional image acquisition unit 27c (step S170). As for the reconstruction operation, it is sufficient that the three-dimensional structure of the solder bump S can be reconstructed, and various processes can be adopted. For example, the filter correction back projection method can be adopted. In this process, the CPU 27 first performs a Fourier transform on any of the plurality of X-ray images, and multiplies the result obtained by the Fourier transform by a filter correction function in the frequency space. Further, by performing an inverse Fourier transform on this result, a filter-corrected image is acquired. As this filter correction function, a function or the like for emphasizing the edge of the image can be adopted.
続いて、フィルタ補正後の画像を、それが投影された軌跡に沿って3次元空間へ逆投影する。すなわち、X線検出器12の検出面12aにおけるある位置の像に対応する軌跡は、X線発生器11の焦点とこの位置とを結ぶ直線であるので、この直線上に画像を逆投影する。以上の逆投影を複数のX線画像のすべてについて行うと、3次元空間上で基準のサンプルが存在する部分のX線吸収係数分布が強調され、基準のサンプルの3次元形状を示す再構成情報が得られる。生成された再構成情報は再構成画像データ26cとしてメモリ26に記録される。 Subsequently, the filter-corrected image is back-projected into the three-dimensional space along the trajectory on which it is projected. That is, since the locus corresponding to the image of a certain position on the detection surface 12a of the X-ray detector 12 is a straight line connecting the focal point of the X-ray generator 11 and this position, the image is back-projected on this straight line. When the above back projection is performed on all of a plurality of X-ray images, the X-ray absorption coefficient distribution of the portion where the reference sample exists in the three-dimensional space is emphasized, and the reconstruction information indicating the three-dimensional shape of the reference sample is shown. Is obtained. The generated reconstruction information is recorded in the memory 26 as the reconstruction image data 26c.
次に、CPU27は、良否判定部27dの機能により、良否判定処理を実行する(ステップS175)。すなわち、本実施形態においては、半田バンプSの良否を判断するための特徴量が予め定義されており、CPU27は、ステップS170で生成された再構成画像データ26cに基づいて半田バンプSの特徴量を取得する。特徴量としては、種々の量を採用可能であり、例えば、半田バンプの中のボイドの大きさや形状等が挙げられる。当該特徴量には予め良否を判定するための閾値が設定されており、CPU27は、特徴量と当該閾値を比較することによって半田バンプの良否を検査する。また、CPU27は、半田バンプSの良否判定結果を出力部25に出力させる。 Next, the CPU 27 executes the pass / fail determination process by the function of the pass / fail determination unit 27d (step S175). That is, in the present embodiment, the feature amount for determining the quality of the solder bump S is defined in advance, and the CPU 27 has the feature amount of the solder bump S based on the reconstructed image data 26c generated in step S170. To get. As the feature amount, various amounts can be adopted, and examples thereof include the size and shape of voids in the solder bumps. A threshold value for determining the quality of the feature amount is set in advance, and the CPU 27 inspects the quality of the solder bump by comparing the feature amount with the threshold value. Further, the CPU 27 causes the output unit 25 to output the quality determination result of the solder bump S.
本実施形態においては、半田バンプSを各目標座標に移動させる前に必ず中継座標を経由させ、同一の方向に同一距離だけ移動させて半田バンプSを目標座標まで移動させる処理を全ての目標座標について実行する。この結果、バックラッシュやXテーブルTxおよびYテーブルTyの移動に伴う歪みによるばらつきが繰返し再現性のある位置のばらつきとなる。 In the present embodiment, before moving the solder bump S to each target coordinate, the process of moving the solder bump S to the target coordinate by always passing through the relay coordinate and moving the solder bump S by the same distance in the same direction to the target coordinate is performed. To run about. As a result, the variation due to the backlash and the distortion caused by the movement of the X table Tx and the Y table Ty becomes the variation of the position having reproducibility repeatedly.
図5は、半田バンプの重心の軌跡を示す図である。図5においては、検出面12aにおいて撮影された半田バンプの重心の軌跡を図3に示すX−Y平面の座標に置き換えた軌跡によって示している。ただし、図3は本発明に対する理解を容易とするために撮影回数Nを8として説明したが、図5では従来技術によるバックラッシュの影響を受ける場合の軌跡と本発明の軌跡との差異を明確に示すために撮影回数Nを実際の撮影回数の32を使って表現した。 FIG. 5 is a diagram showing a locus of the center of gravity of the solder bump. In FIG. 5, the locus of the center of gravity of the solder bump photographed on the detection surface 12a is shown by the locus replaced with the coordinates of the XY plane shown in FIG. However, although FIG. 3 has been described with the number of times of imaging N being 8 in order to facilitate understanding of the present invention, FIG. 5 clarifies the difference between the locus when affected by backlash by the prior art and the locus of the present invention. The number of shots N was expressed using 32, which is the actual number of shots.
図5は、本実施形態のように中継座標Rkから目標座標Dkまで半田バンプSを移動させた場合の半田バンプの目標座標Dkにおける重心の座標をδr、目標座標Dkの間を中継座標Rkを介さないで半田バンプSを直接に移動させた場合の従来技術による半田バンプの重心の座標をδdとして示している。さらに、半田バンプの重心の座標δr、δdに付された数字1〜32は撮影回数に対する半田バンプの重心の各座標を示している。図5に示すように、重心の座標δr1〜δr32、δd1〜δd32は、撮影回数1〜32において半田バンプSがX−Y平面内で円周上を移動することに応じて環状に変化する。 In FIG. 5, the coordinates of the center of gravity at the target coordinate D k of the solder bump when the solder bump S is moved from the relay coordinate R k to the target coordinate D k as in the present embodiment are between δ r and the target coordinate D k . The coordinates of the center of gravity of the solder bumps according to the prior art when the solder bumps S are directly moved without passing through the relay coordinates R k are shown as δ d . Further, the coordinates δ r and δ d of the center of gravity of the solder bump indicate the coordinates of the center of gravity of the solder bump with respect to the number of times of shooting. As shown in FIG. 5, the center of gravity of the coordinate δ r1 ~δ r32, δ d1 ~δ d32 , in response to the number of shots 1-32 solder bumps S is moved on the circumference in the X-Y plane annular Changes to.
図5においては、中継座標Rkから目標座標Dkまで半田バンプSを移動させた場合の本発明の半田バンプの重心の座標δr1〜δr32の軌跡を実線で示し、中継座標Rkを介さないで目標座標Dkに半田バンプSを直接移動させた場合の従来技術による半田バンプの重心の座標δd1〜δd32の軌跡を破線で示している。また、図5の各軌跡により得られた半田バンプの水平方向にスライスされた再構成画像を図6Aと図6Bにそれぞれ示す。図6Aは従来技術による半田バンプの水平方向にスライスされた再構成画像を示しており、図6Bは本発明による半田バンプの水平方向にスライスされた再構成画像を示している。図5から明らかなように、中継座標を介して目標座標に移動させた場合の半田バンプの重心の座標δrは、円に近い軌跡となっていると共に、図6Bのようにはっきりとしたバンプの画像が得られる。一方、中継座標Rkを介さないで目標座標Dkに半田バンプSを移動させた場合の半田バンプの重心の座標δdは、非常に異なった軌跡になっており、図6Aのように不安定な形状のバンプの画像が得られる。以上のように、中継座標Rkから目標座標Dkまで移動させることで検査対象の鮮明な画像が生成される。 In FIG 5, the coordinates [delta] r1 locus of ~Deruta r32 of the center of gravity of the solder bumps of the present invention when moving the solder bumps S from the relay coordinates R k to the target coordinates D k by the solid line, the relay coordinates R k shows the locus of the coordinate δ d1 ~δ d32 of the center of gravity of the solder bumps according to the prior art when moving the solder bumps S to the target coordinates D k without resort directly by a broken line. Further, horizontally sliced reconstructed images of the solder bumps obtained by the respective loci of FIG. 5 are shown in FIGS. 6A and 6B, respectively. FIG. 6A shows a horizontally sliced reconstruction image of the solder bumps according to the prior art, and FIG. 6B shows a horizontally sliced reconstruction image of the solder bumps according to the present invention. As is clear from FIG. 5, the coordinate δ r of the center of gravity of the solder bump when it is moved to the target coordinate via the relay coordinate has a trajectory close to a circle and is a clear bump as shown in FIG. 6B. Image is obtained. On the other hand, when the solder bump S is moved to the target coordinate D k without going through the relay coordinate R k , the coordinate δ d of the center of gravity of the solder bump has a very different trajectory, which is not shown in FIG. 6A. An image of bumps with a stable shape can be obtained. As described above, by moving from the relay coordinate R k to the target coordinate D k, a clear image of the inspection target is generated.
なお、実施形態は、取得したX線画像データから直接に再構成演算を実行することを説明したが、目標座標のばらつき自体が未定の場合、例えば、"検査装置の導入時"や"定期保守時"においては目標座標のばらつきを補正する処理を先に実行してもよい。具体的には、図4のステップS165の後で、図5に示した目標座標のばらつき(円周上の各目標座標に対する位置ずれ)を計測判定し、全体若しくは特定の目標座標のばらつきが大きいと判定された場合には、特定の方向と距離に対する位置ずれを目標座標の軌跡が原点を中心とする半径一定の円周上の座標に近づくように目標座標の値を補正し、補正した新たな目標座標で撮影した画像により再構成演算を実行すればよい。 In the embodiment, it has been explained that the reconstruction operation is executed directly from the acquired X-ray image data, but when the variation itself of the target coordinates is undecided, for example, "at the time of introduction of the inspection device" or "regular maintenance". At "time", the process of correcting the variation in the target coordinates may be executed first. Specifically, after step S165 in FIG. 4, the variation in the target coordinates shown in FIG. 5 (positional deviation with respect to each target coordinate on the circumference) is measured and determined, and the variation in the overall or specific target coordinates is large. If it is determined that, the position deviation with respect to a specific direction and distance is corrected by correcting the value of the target coordinates so that the trajectory of the target coordinates approaches the coordinates on the circumference with a constant radius centered on the origin. The reconstruction operation may be executed based on the images taken at the target coordinates.
(3)他の実施形態:
以上の実施形態は本発明を実施するための一例であり、移動対象を中継座標に移動させた後に目標座標に移動させる限りにおいて、他にも種々の実施形態を採用可能である。例えば、移動制御装置は、図1に示すX線検査装置以外の装置に備えられていても良い。移動制御装置は、移動対象をX軸に平行なX方向とX軸に垂直なY方向とに移動させる平面移動機構を制御することができればよい。従って、上述の実施形態のように、平面移動機構に対して撮影機構制御部を介して間接的に接続されたCPU等によって構成されても良いし、平面移動機構に直接的に接続されたコントローラー等によって構成されても良く、種々の構成を採用可能である。
(3) Other embodiments:
The above embodiment is an example for carrying out the present invention, and various other embodiments can be adopted as long as the moving object is moved to the relay coordinates and then to the target coordinates. For example, the movement control device may be provided in a device other than the X-ray inspection device shown in FIG. The movement control device only needs to be able to control a plane movement mechanism that moves the movement target in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis. Therefore, as in the above-described embodiment, it may be configured by a CPU or the like indirectly connected to the plane moving mechanism via the imaging mechanism control unit, or a controller directly connected to the plane moving mechanism. It may be configured by the above, and various configurations can be adopted.
平面移動機構は、移動対象をX軸に平行なX方向とX軸に垂直なY方向とに移動させることができればよい。従って、Xテーブル上に移動対象が配置されて移動される構成以外にも種々の構成が採用されてよい。例えば、XテーブルやYテーブルと同程度の高さの位置に固定された移動対象が平面移動する構成であっても良いし、XテーブルやYテーブルの下方に固定された移動対象が平面移動する構成であっても良い。 The plane moving mechanism may move the moving object in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis. Therefore, various configurations may be adopted in addition to the configuration in which the moving target is arranged and moved on the X table. For example, the moving object fixed at a position at the same height as the X table or the Y table may move in a plane, or the moving object fixed below the X table or the Y table moves in a plane. It may be configured.
また、平面移動機構は、移動対象をX軸に平行なX方向とX軸に垂直なY方向とに移動させることができる。すなわち、移動対象は、X方向およびY方向のそれぞれについて独立に移動させることが可能である。移動対象をX方向およびY方向のそれぞれについて移動させるための構成は、上述のようにモータの駆動力をボールネジによって直線方向への力に変換する構成に限定されない。従って、各種のギア等によって力が平面移動機構に伝達される構成であっても良く、種々の構成を採用可能である。 Further, the plane moving mechanism can move the moving object in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis. That is, the moving target can be moved independently in each of the X direction and the Y direction. The configuration for moving the moving target in each of the X direction and the Y direction is not limited to the configuration in which the driving force of the motor is converted into a force in the linear direction by the ball screw as described above. Therefore, a configuration in which the force is transmitted to the plane moving mechanism by various gears or the like may be used, and various configurations can be adopted.
移動対象は、少なくとも平面的に移動可能であれば良く、他の方向への移動(例えば、平面に対する垂直方向や平面内での回転方向)が可能であっても良い。また、X軸、Y軸は、移動対象が移動する平面内で垂直であれば良い。移動対象は、平面的に移動させる対象であれば良く、上述のように3次元再構成演算による検査が行われる検査対象に限定されない。例えば、検査装置において検出器を平面的に移動させる際に当該検出器が移動対象となっても良い。 The moving object may be movable in at least a plane, and may be moved in another direction (for example, a direction perpendicular to the plane or a direction of rotation in the plane). Further, the X-axis and the Y-axis may be vertical in the plane in which the moving object moves. The moving target may be any target that is moved in a plane, and is not limited to the inspection target that is inspected by the three-dimensional reconstruction operation as described above. For example, when the detector is moved in a plane in the inspection device, the detector may be the target of movement.
第1移動制御部は、中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおけるX方向およびY方向の成分が非0の既定値であるように設定された中継座標に移動対象を移動させることができればよい。すなわち、移動対象を目標座標に移動させる際には、移動対象を目標座標に対して直接的に移動させるのではなく、目標座標に対して特定の位置関係にある中継座標に移動させてから目標座標に移動させるように構成されていれば良い。 The first movement control unit may move the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X direction and the Y direction in the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero default values. That is, when moving the moving target to the target coordinates, the moving target is not moved directly with respect to the target coordinates, but is moved to the relay coordinates having a specific positional relationship with respect to the target coordinates before the target. It suffices if it is configured to move to the coordinates.
中継座標は、中継座標から目標座標まで延びるベクトルのX方向およびY方向の成分が非0の既定値であればよい。すなわち、中継座標から目標座標まで移動対象を移動させる際に、X方向とY方向の双方に移動させるように構成されていれば良い。X方向およびY方向の成分、すなわち、X方向およびY方向への移動距離は、予め決められた固定値であれば良く、X方向とY方向とで同一であっても良いし、異なっていてもよい。 The relay coordinates may be any default value in which the components in the X and Y directions of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero. That is, when moving the movement target from the relay coordinates to the target coordinates, it may be configured to move in both the X direction and the Y direction. The components in the X and Y directions, that is, the moving distances in the X and Y directions may be fixed values that are predetermined, and may be the same or different in the X and Y directions. May be good.
既定値は、予め決められていれば良いが、ベクトルが当該既定値の成分を有していることにより、X方向およびY方向への移動後の誤差がばらつかないように構成されていることが好ましい。従って、バックラッシュや歪みの大きさよりも大きい値であることが好ましい。例えば、バックラッシュや歪みの大きさよりも一桁以上大きい量の移動が行われるように既定値が決定されていることが好ましい。 The default value may be predetermined, but since the vector has the component of the default value, it is configured so that the error after moving in the X direction and the Y direction does not vary. Is preferable. Therefore, it is preferable that the value is larger than the magnitude of backlash and strain. For example, it is preferable that the default value is determined so that the movement is performed by an amount of an order of magnitude or more larger than the magnitude of backlash or distortion.
第2移動制御部は、移動対象を中継座標から目標座標までベクトルに沿って移動させることができればよい。すなわち、移動対象を中継座標から目標座標まで直線移動させることができればよい。このために、第2移動制御部は、移動対象をX方向とY方向とに向けて同時に移動させることができればよい。例えば、中継座標から目標座標まで延びるベクトルのX方向の成分である既定値と、Y方向の成分である既定値とが同一の場合、第2移動制御部は、X方向およびY方向に同一の速度で移動させることによってベクトルに沿った移動を行う。X方向の成分である既定値と、Y方向の成分である既定値とが異なる場合、例えば、X方向の成分である既定値と、Y方向の成分である既定値との比と等しい速度比でX方向およびY方向に移動させれば良い。 The second movement control unit only needs to be able to move the movement target from the relay coordinates to the target coordinates along the vector. That is, it suffices if the movement target can be linearly moved from the relay coordinates to the target coordinates. For this purpose, the second movement control unit only needs to be able to move the moving target in the X direction and the Y direction at the same time. For example, when the default value which is the component in the X direction of the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates and the default value which is the component in the Y direction are the same, the second movement control unit is the same in the X direction and the Y direction. It moves along a vector by moving at a speed. When the default value that is the component in the X direction and the default value that is the component in the Y direction are different, for example, the velocity ratio equal to the ratio of the default value that is the component in the X direction and the default value that is the component in the Y direction. It may be moved in the X direction and the Y direction.
本発明の適用対象は装置に限定されず、方法やプログラムとして実現されることも想定される。また、本発明の一実施形態としての移動制御装置は単独で実現される場合もあるし、ある方法に適用され、あるいは同方法が他の機器に組み込まれた状態で利用されることもあるなど、発明の思想としてはこれに限らず、各種の態様を含むものである。むろん、発明の実施態様がソフトウェアであったりハードウェアであったりするなど、適宜、変更可能である。また、ソフトウェアの記録媒体は、磁気記録媒体であってもよいし半導体メモリであってもよいし、今後開発されるいかなる記録媒体においても全く同様に考えることができる。一次複製品、二次複製品などの複製段階についても同等である。さらに、一部がソフトウェアであって、一部がハードウェアで実現されている場合においても発明の思想において全く異なるものではなく、一部を記録媒体上に記憶しておいて必要に応じて適宜読み込まれるような形態であってもよい。 The application target of the present invention is not limited to the device, and it is assumed that it will be realized as a method or a program. Further, the movement control device as an embodiment of the present invention may be realized independently, may be applied to a certain method, or the same method may be used in a state of being incorporated in another device. The idea of the invention is not limited to this, and includes various aspects. Of course, the embodiment of the invention may be software or hardware, and can be changed as appropriate. Further, the recording medium of the software may be a magnetic recording medium or a semiconductor memory, and any recording medium to be developed in the future can be considered in exactly the same manner. The same applies to the duplication stage of the primary replica and the secondary replica. Further, even if a part is software and a part is realized by hardware, it is not completely different in the idea of the invention, and a part is stored on a recording medium and appropriately as needed. It may be in a form that is read.
10…X線撮影機構部、11…X線発生器、11a…X線出力部、12…X線検出器、12a…検出面、13…平面移動機構、20…制御部、21…発生器制御部、22…撮影画像取得部、23…撮影機構制御部、24…入力部、25…出力部、26…メモリ、26a…プログラムデータ、26b…X線画像データ、26c…再構成画像データ、26d…目標座標データ、26e…中継座標データ、27…CPU、27a…第1移動制御部、27b…第2移動制御部、27c…3次元像取得部、27d…良否判定部 10 ... X-ray imaging mechanism, 11 ... X-ray generator, 11a ... X-ray output, 12 ... X-ray detector, 12a ... Detection surface, 13 ... Plane movement mechanism, 20 ... Control unit, 21 ... Generator control Unit, 22 ... Photographed image acquisition unit, 23 ... Photographing mechanism control unit, 24 ... Input unit, 25 ... Output unit, 26 ... Memory, 26a ... Program data, 26b ... X-ray image data, 26c ... Reconstructed image data, 26d ... Target coordinate data, 26e ... Relay coordinate data, 27 ... CPU, 27a ... First movement control unit, 27b ... Second movement control unit, 27c ... Three-dimensional image acquisition unit, 27d ... Good / bad judgment unit
Claims (4)
中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおける前記X方向および前記Y方向の成分が非0の既定値であるように設定された前記中継座標に前記移動対象を移動させる第1移動制御部と、
前記移動対象を前記中継座標から前記目標座標まで前記ベクトルに沿って移動させる第2移動制御部と、を備え、
前記目標座標は同一の前記検査対象を複数の撮影位置のそれぞれで撮影する際に前記検査対象が配置される複数個の座標であり、複数の前記目標座標のそれぞれに対応する前記中継座標が存在し、
複数の前記目標座標の全てにおいて前記ベクトルが同一であり、かつ、全ての前記ベクトルにおいて前記X方向の成分が同一であり、全ての前記ベクトルにおいて前記Y方向の成分が同一であり、
前記平面移動機構において、前記X方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記X方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きく、
前記平面移動機構において、前記Y方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記Y方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きい、
移動制御装置。 A movement control device that controls a plane movement mechanism that sets an inspection target based on a reconstructed image of an X-ray image as a movement target and moves the movement target in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis. hand,
A first movement control unit that moves the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X direction and the Y direction in the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero default values.
A second movement control unit that moves the movement target from the relay coordinates to the target coordinates along the vector is provided.
The target coordinates are a plurality of coordinates in which the inspection target is arranged when the same inspection target is photographed at each of a plurality of imaging positions, and the relay coordinates corresponding to each of the plurality of target coordinates exist. And
The vectors in all of the plurality of the target coordinates are the same, and a said X-direction component in all of the vectors identical, Ri the Y direction component identical der in all of the vector,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the X direction, and the default value which is a component in the X direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the Y direction, and the default value which is a component in the Y direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
Movement control device.
前記X方向に移動するXテーブルと、
前記Xテーブルにおける前記Y方向の一方の端部に対して前記X方向に向けた力を作用させ、他方の端部に対して力を作用させない状態で前記Xテーブルを前記X方向に移動させるX方向駆動部と、
前記Y方向に移動するYテーブルと、
前記Yテーブルにおける前記X方向の一方の端部に対して前記Y方向に向けた力を作用させ、他方の端部に対して力を作用させない状態で前記Yテーブルを前記Y方向に移動させるY方向駆動部と、を備える、
請求項1に記載の移動制御装置。 The plane moving mechanism is
The X table that moves in the X direction and
X that moves the X table in the X direction in a state where a force in the X direction is applied to one end of the X table in the Y direction and no force is applied to the other end. Directional drive and
The Y table that moves in the Y direction and
Y that moves the Y table in the Y direction in a state where a force in the Y direction is applied to one end of the Y table in the X direction and no force is applied to the other end. With a directional drive unit,
The movement control device according to claim 1.
中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおける前記X方向および前記Y方向の成分が非0の既定値であるように設定された前記中継座標に前記移動対象を移動させる第1移動制御工程と、
前記移動対象を前記中継座標から前記目標座標まで前記ベクトルに沿って移動させる第2移動制御工程と、を含み、
前記目標座標は同一の前記検査対象を複数の撮影位置のそれぞれで撮影する際に前記検査対象が配置される複数個の座標であり、複数の前記目標座標のそれぞれに対応する前記中継座標が存在し、
複数の前記目標座標の全てにおいて前記ベクトルが同一であり、かつ、全ての前記ベクトルにおいて前記X方向の成分が同一であり、全ての前記ベクトルにおいて前記Y方向の成分が同一であり、
前記平面移動機構において、前記X方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記X方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きく、
前記平面移動機構において、前記Y方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記Y方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きい、
移動制御方法。 It is a movement control method that controls a plane movement mechanism that moves an inspection target based on a reconstructed image of an X-ray image as a movement target and moves the movement target in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis. hand,
A first movement control step of moving the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X direction and the Y direction in the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero default values.
A second movement control step of moving the movement target from the relay coordinates to the target coordinates along the vector is included.
The target coordinates are a plurality of coordinates in which the inspection target is arranged when the same inspection target is photographed at each of a plurality of imaging positions, and the relay coordinates corresponding to each of the plurality of target coordinates exist. And
The vectors in all of the plurality of the target coordinates are the same, and a said X-direction component in all of the vectors identical, Ri the Y direction component identical der in all of the vector,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the X direction, and the default value which is a component in the X direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the Y direction, and the default value which is a component in the Y direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
Movement control method.
中継座標から目標座標まで延びるベクトルにおける前記X方向および前記Y方向の成分が非0の既定値であるように設定された前記中継座標に前記移動対象を移動させる第1移動制御部、
前記移動対象を前記中継座標から前記目標座標まで前記ベクトルに沿って移動させる第2移動制御部、として機能させ、
前記目標座標は同一の前記検査対象を複数の撮影位置のそれぞれで撮影する際に前記検査対象が配置される複数個の座標であり、複数の前記目標座標のそれぞれに対応する前記中継座標が存在し、
複数の前記目標座標の全てにおいて前記ベクトルが同一であり、かつ、全ての前記ベクトルにおいて前記X方向の成分が同一であり、全ての前記ベクトルにおいて前記Y方向の成分が同一であり、
前記平面移動機構において、前記X方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記X方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きく、
前記平面移動機構において、前記Y方向への移動機構の部品間にはバックラッシュが設けられており、前記ベクトルにおける前記Y方向の成分である既定値は、バックラッシュの量よりも一桁以上大きい、
移動制御プログラム。 A computer that controls a plane moving mechanism that sets an inspection target based on a reconstructed image of an X-ray image as a moving target and moves the moving target in the X direction parallel to the X axis and the Y direction perpendicular to the X axis.
A first movement control unit that moves the movement target to the relay coordinates set so that the components in the X direction and the Y direction in the vector extending from the relay coordinates to the target coordinates are non-zero default values.
The movement target is made to function as a second movement control unit that moves the movement target from the relay coordinates to the target coordinates along the vector.
The target coordinates are a plurality of coordinates in which the inspection target is arranged when the same inspection target is photographed at each of a plurality of imaging positions, and the relay coordinates corresponding to each of the plurality of target coordinates exist. And
The vectors in all of the plurality of the target coordinates are the same, and a said X-direction component in all of the vectors identical, Ri the Y direction component identical der in all of the vector,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the X direction, and the default value which is a component in the X direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
In the plane moving mechanism, backlash is provided between the parts of the moving mechanism in the Y direction, and the default value which is a component in the Y direction in the vector is one digit or more larger than the amount of backlash. ,
Movement control program.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018081097A JP6805200B2 (en) | 2018-04-20 | 2018-04-20 | Movement control device, movement control method and movement control program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018081097A JP6805200B2 (en) | 2018-04-20 | 2018-04-20 | Movement control device, movement control method and movement control program |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019191721A JP2019191721A (en) | 2019-10-31 |
JP6805200B2 true JP6805200B2 (en) | 2020-12-23 |
Family
ID=68390273
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018081097A Active JP6805200B2 (en) | 2018-04-20 | 2018-04-20 | Movement control device, movement control method and movement control program |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6805200B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116883625B (en) * | 2023-06-09 | 2024-03-22 | 江苏泽景汽车电子股份有限公司 | Image display method and device, electronic equipment and storage medium |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4116397Y1 (en) * | 1964-04-23 | 1966-07-29 | ||
JPH06222837A (en) * | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Fujitsu Ltd | Stage positioning control method and stage positioning device |
JP4198334B2 (en) * | 2001-06-01 | 2008-12-17 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | Processing method and apparatus using XY stage |
-
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019191721A (en) | 2019-10-31 |
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