JP6749488B2 - Abnormality importance calculation system, abnormality importance calculation device, and abnormality importance calculation program - Google Patents
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Description
本発明は、異常重要度算出システム、異常重要度算出装置、及び異常重要度算出プログラムに関する。 The present invention relates to an abnormality importance degree calculation system, an abnormality importance degree calculation device, and an abnormality importance degree calculation program.
従来、ビルに設けられた設備あるいはプラント機器などを含む機器の異常を検出するために、当該機器にセンサ群が設けられる。センサ群のうちいずれかのセンサが異常値を検出した場合、当該機器に何らかの不具合が生じていることが疑われる。 2. Description of the Related Art Conventionally, in order to detect an abnormality of equipment including equipment installed in a building or plant equipment, a sensor group is provided in the equipment. If any of the sensors in the sensor group detects an abnormal value, it is suspected that the device has some trouble.
センサの検出値が異常値であるか否かを最も簡単に判定する方法は、センサに対して予め閾値を設けておき、センサの検出値と当該閾値の比較に基づいて判定する方法である。しかしながら、機器が正常稼働している場合であっても、センサの検出値は常に一定であるとは限らず、稼働状況、稼働環境、あるいは経年劣化などの影響によって変動し得ることから、適切な閾値を設定することは簡単ではない。 The simplest method for determining whether or not the detected value of the sensor is an abnormal value is to set a threshold value for the sensor in advance and make a determination based on a comparison between the detected value of the sensor and the threshold value. However, even when the device is operating normally, the detected value of the sensor is not always constant, and it may fluctuate depending on the operating conditions, operating environment, or deterioration over time. Setting a threshold is not easy.
このことに鑑み、従来、機器が正常稼働しているときに検出されたセンサの過去の検出値に基づいて予測モデルを構築し、当該予測モデルに基づいて、機器の正常稼働時におけるセンサの検出値を予測することが行われている。そして、検出予測値と検出値を比較(一般には検出予測値と検出値との差分)に基づいてセンサの検出値が異常値であるか否かが判定される。 In view of this, conventionally, a prediction model is constructed based on past detection values of the sensor detected when the device is normally operating, and based on the prediction model, detection of the sensor during normal operation of the device Values are being predicted. Then, it is determined whether or not the detected value of the sensor is an abnormal value based on the comparison between the detected predicted value and the detected value (generally, the difference between the detected predicted value and the detected value).
例えば、特許文献1には、機器に設けられた複数のセンサの過去の検出値に基づいて、各センサの検出値間の相関を示す多体相関モデルを取得し、各センサの検出値を多体相関モデルに適用したときに、当該多体相関モデルにモデル破壊が発生したか否かに基づいて、各センサの検出値の異常を検出することが開示されている。 For example, in Patent Document 1, a multi-body correlation model showing the correlation between the detection values of each sensor is acquired based on the past detection values of a plurality of sensors provided in the device, and the detection values of each sensor are It is disclosed that when applied to a body correlation model, an abnormality in the detection value of each sensor is detected based on whether model destruction has occurred in the multibody correlation model.
また、特許文献2には、機器が正常稼働しているときの複数のセンサの過去の検出値を学習することでモデルを構築し、当該モデルに複数のセンサ検出値を適用することで、各センサの検出値に対する異常を検出することが開示されている。 Further, in
また、特許文献3には、機器が正常稼働しているときの過去の運転データに基づいて正常運転パターンデータベースを構築し、検出手段により検出された運転データと正常運転パターンデータベースとの間の相関関係値を求め、当該相関関係値が閾値未満であった場合に異常を検出することが開示されている。 Further, in Patent Document 3, a normal operation pattern database is constructed based on past operation data when the device is normally operating, and the correlation between the operation data detected by the detection means and the normal operation pattern database is provided. It is disclosed that a relationship value is obtained and an abnormality is detected when the correlation value is less than a threshold value.
従来のように、予測モデルに基づく検出予測値とセンサの実際の検出値とに基づいて当該センサの検出値が異常値であるか否かを判定する場合、機器に不具合が発生していなかった場合であっても当該センサが異常値を検出した、と判定される場合がある。例えば、センサが温度センサである場合、ある日の気温が例年に比して極端に暑かった場合などは、機器が正常稼働していたとしても、当該温度センサの検出温度値が上昇し、異常値を検出する場合がある。このような場合、例えば、当該機器をメンテナンスする者(例えばサービスマンなど)は、本来正常である機器に対して無駄な確認作業を行わなければならなくなる。 As in the past, when determining whether or not the detection value of the sensor is an abnormal value based on the detection prediction value based on the prediction model and the actual detection value of the sensor, there is no malfunction in the device. Even in this case, it may be determined that the sensor has detected an abnormal value. For example, if the sensor is a temperature sensor, and if the temperature on one day is extremely hot compared to the average year, the detected temperature value of the temperature sensor will increase even if the device is operating normally, causing abnormalities. May detect a value. In such a case, for example, a person who maintains the device (for example, a service person) has to perform useless confirmation work on the originally normal device.
また、機器にセンサ群が設けられた場合、当該センサ群のうち複数のセンサが同じタイミングで異常値を検出する場合がある。この場合、当該機器をメンテナンスする者は、異常値を検出した複数のセンサのうち、どのセンサに対応する箇所を優先して確認すべきか把握できない場合がある。これにより、例えば、対応緊急性の高い箇所の確認が後回しになってしまって、機器に損害が生じる可能性がある。 Further, when a device is provided with a sensor group, a plurality of sensors in the sensor group may detect an abnormal value at the same timing. In this case, a person who maintains the device may not be able to know which sensor, out of the plurality of sensors that have detected an abnormal value, should be prioritized for confirmation. As a result, for example, there is a possibility that damage to the device may occur due to the fact that confirmation of a location with a high degree of urgency is delayed.
センサの検出値(異常値)について、それが機器における真の不具合によるものかどうか、又は、どのセンサに対応する箇所を優先してチェックすべきかを示す指標である異常重要度が算出されることで、上述の問題が解消され得る。すなわち、機器をメンテナンスする者は、例えば、センサの検出値に対する異常重要度が低ければ、機器の真の不具合に起因するものではない、と判断できるし、複数のセンサについて異常重要度が算出されることで、異常重要度の高いセンサに対応する箇所を優先して確認することができる。 Regarding the detection value (abnormal value) of the sensor, the abnormality importance, which is an index that indicates whether it is due to a true malfunction in the device or which sensor should be prioritized for checking, is calculated. Thus, the above problem can be solved. That is, a person who maintains the device can determine that, for example, if the abnormality importance level with respect to the sensor detection value is low, it is not due to a true malfunction of the device, and the abnormality importance levels are calculated for a plurality of sensors. By doing so, it is possible to prioritize and confirm the location corresponding to the sensor with high abnormality importance.
本発明の目的は、機器に設けられたセンサの検出値に対する異常重要度を算出することにある。 An object of the present invention is to calculate the degree of abnormality importance with respect to the detection value of the sensor provided in the device.
本発明は、機器に設けられたセンサ群と、前記センサ群が検出した検出値を受信するサーバと、を備える異常重要度算出システムであって、前記サーバは、前記センサ群に含まれる各センサについて、予測された検出予測値と実際の検出値との差異に基づいて、検出値に対する異常度を算出する異常度算出部と、前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、を有する、ことを特徴とする異常重要度算出システムである。 The present invention is an abnormality importance degree calculation system including a sensor group provided in a device and a server that receives a detection value detected by the sensor group, wherein the server includes each sensor included in the sensor group. Regarding, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, an abnormality degree calculation unit that calculates an abnormality degree for the detection value, and the abnormality degree for the detection value of the sensor of interest in the sensor group, Other than the attention sensor in the sensor group, and the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection when the abnormality sensor is equal to or more than a predetermined abnormality degree threshold for the attention sensor And an abnormality importance degree calculation unit that calculates an abnormality importance degree with respect to the detection value of the sensor of interest based on the abnormality degree with respect to the detection value of the sensor.
望ましくは、前記異常重要度算出部は、前記異常検出時における前記他のセンサの検出値に対する異常度が小さい程、前記注目センサの検出値に対する前記異常重要度を高くし、前記異常検出時における前記他のセンサの検出値に対する異常度が大きい程、前記注目センサの検出値に対する前記異常重要度を低くする、ことを特徴とする。 Desirably, the abnormality importance degree calculation unit increases the abnormality importance degree with respect to the detection value of the target sensor as the abnormality degree with respect to the detection value of the other sensor at the time of abnormality detection is smaller, and when the abnormality is detected. The abnormality degree with respect to the detection value of the target sensor is decreased as the degree of abnormality with respect to the detection value of the other sensor increases.
望ましくは、前記異常検出時は、前記注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になった時点から、当該異常度閾値未満になった時点までの期間を有し、前記異常重要度算出部は、前記異常検出時の複数の時点における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度の代表値、及び、前記他のセンサの検出値に対する前記異常度の代表値に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する、ことを特徴とする。 Desirably, at the time of the abnormality detection, the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor, from the time when it becomes equal to or more than a predetermined abnormality degree threshold value for the attention sensor, to the time when it becomes less than the abnormality degree threshold value. The abnormality importance degree calculation unit has a period, the representative value of the abnormality degree with respect to the detection value of the sensor of interest at a plurality of time points during the abnormality detection, and the abnormality degree with respect to the detection value of the other sensor. The abnormality importance level with respect to the detection value of the sensor of interest is calculated based on the representative value of.
望ましくは、前記センサ群に含まれる各センサは、ビル内のそれぞれ異なるポイントに設けられる、ことを特徴とする。 Preferably, each sensor included in the sensor group is provided at a different point in the building.
望ましくは、前記サーバは、前記注目センサの検出値が異常値となったこと、及び、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を示す異常情報を前記機器をメンテナンスする者に通知する異常通知部と、をさらに有することを特徴とする。 Desirably, the server notifies a person who maintains the device of abnormality information indicating that the detection value of the attention sensor has become an abnormal value and abnormality information indicating the degree of abnormality importance with respect to the detection value of the attention sensor. And are further included.
また、本発明は、機器に設けられたセンサ群に含まれる各センサについて、予測された検出予測値と実際の検出値との差異に基づいて、検出値に対する異常度を算出する異常度算出部と、前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、を備えることを特徴とする異常重要度算出装置である。 Further, the present invention, for each sensor included in the sensor group provided in the device, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, the abnormality degree calculation unit that calculates the abnormality degree for the detection value. And the abnormality with respect to the detection value of the sensor of interest in the sensor group, the abnormality with respect to the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection when the abnormality level threshold value is predetermined for the attention sensor And an abnormality importance degree calculation unit that calculates an abnormality importance degree with respect to a detection value of the attention sensor based on the abnormality degree with respect to a detection value of a sensor other than the attention sensor in the sensor group. And an abnormality importance degree calculating device.
また、本発明は、コンピュータを、機器に設けられたセンサ群に含まれる各センサについて、予測された検出予測値と実際の検出値との差異に基づいて、検出値に対する異常度を算出する異常度算出部と、前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、として機能させることを特徴とする異常重要度算出プログラムである。 In addition, the present invention provides a computer, for each sensor included in a sensor group provided in the device, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, the abnormality level for the detection value is calculated. Degree calculating unit, the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection when the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor of the sensor group is equal to or more than a predetermined abnormality degree threshold value for the attention sensor And an abnormality importance degree for calculating an abnormality importance degree with respect to a detection value of the attention sensor based on the abnormality degree with respect to a detection value of another sensor that is a sensor other than the attention sensor in the sensor group. An abnormality importance degree calculation program characterized by causing it to function as a calculation unit.
本発明によれば、機器に設けられたセンサの検出値に対する異常重要度を算出することができる。 According to the present invention, it is possible to calculate the degree of abnormality importance with respect to the detection value of the sensor provided in the device.
以下、本発明の実施形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
図1に、本実施形態に係る異常重要度算出システム10の構成概略図が示されている。異常重要度算出システム10は、複数のセンサからなるセンサ群12、異常重要度算出装置としてのサーバ14、及び、サービスマン端末16を含んで構成されている。 FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of an abnormality importance
本実施形態では、センサ群12は、ビル18内の各機器(設備)に設けられる。センサ群12に含まれるセンサは、ビル18内の機器に関する種々のパラメータ、特に、機器が正常稼働しているか否かを判定するためのパラメータを検出するセンサである。センサ群12に含まれる各センサとしては、例えば、温度センサ、湿度センサ、電圧センサ、電流センサ、圧力センサ、回転数センサ、加速度センサなど、様々な種類のセンサであってよい。 In the present embodiment, the
各センサは、ビル18内のそれぞれ異なるポイントに設けられる。本明細書において「ポイント」とは、場所(例えばビル18であればフロア又は部屋など)、あるいは系統(例えばビル18であればダクト系統又は配管系統など)を含む、一定の範囲を意味するものである。本明細書では、図1に示すように、センサAがビル18の1Fに、センサBがビル18の2Fに、センサCがビル18の3Fに設けられた例について説明する。もちろん、センサ群12はその他の各ポイントに設けられてもよい。また、1つのポイントに複数のセンサが設けられてもよい。 Each sensor is provided at a different point in the
センサ群12に含まれる各センサは、有線あるいは無線によってビル18の中央監視装置20に接続されており、各センサの検出値は逐次中央監視装置20に送られる。各センサは、検出値を検出した時刻を取得可能であり、各センサは、検出値と、検出時刻を示す検出時刻情報と、自センサを識別する情報(センサID)とを関連付けて中央監視装置20に送信する。以後、検出値と、検出時刻情報と、センサIDとが関連付けられた情報を検出値情報と記載する。このようにして、中央監視装置20には、ビル18に設けられたセンサ群12からの各検出値情報が集約される。なお、検出時刻は、中央監視装置20が取得するようにしてもよい。すなわち、中央監視装置20が各センサから検出値を受信した時刻を検出時刻として取得するようにしてもよい。 Each sensor included in the
中央監視装置20は、インターネットあるいはLAN(Local Area Network)などを含む通信回線22を介してサーバ14に通信可能に接続される。中央監視装置20に集約されたセンサ群12からの各検出値情報はサーバ14へ送られる。 The
なお、中央監視装置20はコンピュータであってよく、少なくとも、センサ群12から各検出値情報を受信する受信部と、各検出値情報を記憶する記憶部と、各検出値情報をサーバ14へ送信する送信部と、これらを制御する制御部とを備えていればよい。 The
サーバ14は、サーバとして機能し得る程度の性能を有したコンピュータである。サーバ14は、通信回線22を介して中央監視装置20及びサービスマン端末16と通信可能に接続される。サーバ14の詳細については後述する。 The
サービスマン端末16は、ビル18内の機器をメンテナンスする者であるサービスマンが利用する端末である。本実施形態においては、サービスマン端末16は、スマートフォンあるいはタブレット端末のような、サービスマンが携帯する携帯端末であるが、それには限られず、据え置き型のコンピュータであってもよい。サービスマン端末16は、ネットワークアダプタなどからなる通信部、液晶パネルなどからなる表示部、タッチパネルあるいはボタンなどからなる入力部、メモリなどからなる記憶部、及び、マイクロコンピュータなどからなる制御部を含んで構成される。サービスマンは、サービスマン端末16を用いてサーバ14にアクセスして各種情報を取得することができる。あるいは、サービスマン端末16は、サーバ14からプッシュ送信された情報を受信することができる。 The
図2に、サーバ14の構成概略図が示されている。 FIG. 2 shows a schematic configuration diagram of the
通信部30は、例えばネットワークアダプタなどから構成される。通信部30は、中央監視装置20及びサービスマン端末16と通信するためのものである。具体的には、通信部30は、中央監視装置20からセンサ群12に関する各検出値情報を受信する機能、サービスマン端末16からの接続要求を受信する機能、あるいは、各種情報をサービスマン端末16へ送信する機能を有する。 The
記憶部32は、例えば、ハードディスク、ROM(Read Only Memory)、あるいはRAM(Random Access Memory)などから構成される。記憶部32には、サーバ14の各部を動作させるための異常重要度算出プログラムが記憶される。あるいは、記憶部32には、各種制御データ、各種処理データが記憶される。さらに、図2に示されるように、記憶部32には、過去検出値情報DB(データベース)34が定義され、予測モデル36が記憶される。 The
過去検出値情報DB34には、センサ群12に関する過去の検出値情報群が蓄積記憶される。具体的には、中央監視装置20からセンサ群12に関する各検出値情報を受信する度に、後述の制御部38は、受信した検出値情報を過去検出値情報DB34に格納する。これにより、センサ群12に関する過去の検出値情報群が過去検出値情報DB34に蓄積記憶される。 In the past detected
予測モデル36は、機器が正常稼働しているならばセンサ群12に含まれる各センサが検出すると予測される検出予測値を算出するためのモデルである。予測モデル36は、過去検出値情報DB34に格納された過去の検出値情報群に基づいて、後述の予測値算出部40により構築される。本実施形態では、各センサに対応する複数の予測モデル36が構築される。予測モデル36の詳細については予測値算出部40と共に後述する。 The
制御部38は、例えばCPU(Central Processing Unit)などを含んで構成される。制御部38は、記憶部32に記憶された異常重要度算出プログラムに従ってサーバ14の各部の制御を行う。また、図2に示されるように、制御部38は、予測値算出部40、異常度算出部42、異常判定部44、異常重要度算出部46、及び、異常通知部48としても機能する。以下、制御部38が発揮するこれらの機能について説明する。 The
予測値算出部40は、過去検出値情報DB34に格納された検出値情報群のうち、ビル18内の各機器が正常稼働しているときにセンサ群12が取得した複数の検出値情報(以下「正常時検出値情報」と記載する)に基づいて、機器が正常稼働しているならばセンサ群12に含まれる各センサが検出するであろうと予測される検出予測値を算出する。過去検出値情報DB34に格納された検出値情報群から正常時検出値情報を識別する方法としては、例えば、制御部38が検出値情報を過去検出値情報DB34に格納する際に、異常が検出されていない場合に当該検出値情報にフラグを付して格納するようにしておき、予測値算出部40は、当該フラグの有無に基づいて、検出値情報群から正常時検出値情報を識別して抽出するようにしてもよい。あるいは、制御部38は、異常が検出された場合の検出値情報を最初から過去検出値情報DB34に格納しないようにしてもよい。このようにすれば、過去検出値情報DB34に格納される検出値情報群は、全て正常時検出値情報となる。 The predicted
まず、予測値算出部40は、正常時検出値情報に基づいて、予測モデル36を構築する。予測モデル36の構築方法としては、既知の機械学習の手法を用いることができる。例えば、正常時検出値情報が有する検出時刻と検出値とに基づいて、センサの過去の検出値の時間変化を時系列解析することで、当該センサの検出値を予測する時系列解析法を用いて予測モデル36を構築することができる。 First, the predicted
予測値算出部40は、センサ群12に含まれる各センサそれぞれについて予測モデル36を構築する。具体的には、予測値算出部40は、正常時検出値情報に含まれるセンサIDに基づいて、処理対象のセンサについての正常時検出値情報を特定し、特定した正常時検出値情報に基づいて、当該センサについての予測モデル36を構築する。これにより、記憶部32には、各センサにそれぞれ対応する複数の予測モデル36が記憶される。 The prediction
次いで、予測値算出部40は、各センサについて構築された複数の予測モデル36に基づいて、機器が正常稼働しているならば各センサの検出値が取るであろうと予測される検出予測値を算出する。例えば、予測値算出部40は、センサAについて構築された予測モデル36と、ある時点におけるセンサAの検出値に基づいて、当該時点におけるセンサAの検出予測値を算出する。このようにして、予測値算出部40は、各センサの検出予測値を逐次算出していく。 Next, the prediction
なお、予測値算出部40は、他の方法によって予測モデル36を構築するようにしてもよい。例えば、正常時検出値情報に基づいて、同じ時点における、特定のセンサ(例えばセンサA)の検出値と、その他のセンサ(たとえばセンサB)の検出値との相関関係を示す予測モデル36を構築してもよい。当該予測モデル36によれば、その他のセンサ(センサB)の検出値に基づいて、特定のセンサ(センサA)の検出予測値を予測することができる。 The predicted
異常度算出部42は、センサ群12に含まれる各センサについて、予測値算出部40が予測した検出予測値と、各センサの実際の検出値との差異に基づいて、各センサの検出値に対する異常度(以下、センサの検出値に対する異常度を単に「センサの異常度」と記載する)を算出する。異常度算出部42は、逐次算出される各センサの検出予測値と、センサ群12によって逐次検出され中央監視装置20から逐次送信されてくる各センサの実際の検出値とに基づいて、各センサの異常度を逐次算出していく。 For each sensor included in the
図3には、あるセンサの実際の検出値と検出予測値の時間変化が示されている。図3のグラフは、横軸が時刻を表し、縦軸がセンサの検出値又は検出予測値を表すものである。上述のように、中央監視装置20から逐次送信されてくる実際の検出値に基づいて検出値曲線50が得られ、予測値算出部40によって逐次算出される検出予測値に基づいて検出予測値曲線52が得られる。なお、図3においては、検出値及び検出予測値の時間変化が線で示されているが、検出値及び検出予測値は間欠的に取得され、複数の時点における検出値に対して補完処理が行われて検出値曲線50が生成され、複数の時点における検出予測値に対して補完処理が行われて検出予測値曲線52が生成される。また、検出値曲線50及び検出予測値曲線52は必ずしも生成される必要はなく、ある程度の期間に亘る複数の時点における検出値及び検出予測値のセットが取得されればよい。 FIG. 3 shows the time change of the actual detection value and the detection prediction value of a certain sensor. In the graph of FIG. 3, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the detection value or detection predicted value of the sensor. As described above, the
異常度算出部42は、検出予測値と検出値との差異(図3においてdで示す)に基づいて異常度を算出する。異常度の算出においては、検出予測値と検出値との間のユークリッド距離に基づいて算出されてよい。また、ある時点における検出予測値が分散した値を有している場合においては、当該分散を考慮した検出予測値と検出値との間の距離であるマハラノビス距離に基づいて算出されてもよい。 The abnormality
異常度算出部42によって異常度が逐次算出されることによって、図4に示すような、異常度の時間変化を示す異常度曲線54が得られる。図4のグラフは、横軸が時刻を表し、縦軸が異常度を表すものである。このようにして、異常度算出部42は、センサ群12に含まれる各センサの異常度の時間変化を算出する。なお、図4においては、異常度の時間変化が線で示されているが、異常度は間欠的に取得され、複数の時点における異常度に対して補完処理が行われて異常度曲線54が生成される。また、異常度についても、必ずしも異常度曲線54を生成する必要はなく、ある程度の期間に亘る複数の時点における異常度が算出されればよい。 By successively calculating the degree of abnormality by the degree-of-
異常判定部44は、異常度算出部42により算出された、センサ群12に含まれる各センサの異常度に基づいて、各センサの検出値が異常値であるか否かを判定する。具体的には、各センサについて予め異常度閾値が定められており、異常判定部44は、あるセンサの異常度が、当該センサの異常度閾値以上となった場合に、当該センサが異常値を検出した、と判定する。なお、各センサについての異常度閾値は記憶部32に記憶されていてよい。 The
図4のグラフにおいて、異常度閾値sが示されている。図4の例においては、異常度曲線54が示す異常度が、異常度閾値s以上となった期間、すなわち時刻t1から時刻t2までの間において、異常判定部44は、当該センサが異常値を検出した、と判定する。The graph of FIG. 4 shows the abnormality threshold value s. In the example of FIG. 4, during the period when the abnormality degree indicated by the
異常重要度算出部46は、あるセンサが異常値を検出したとき(以下「異常検出時」と記載する)の、当該センサの検出値についての異常重要度(以下単に「センサの異常重要度」と記載する)を算出する。異常重要度とは、当該センサが検出した異常値が、機器における真の不具合によるものかどうかを示す指標である。あるいは、異常重要度とは、複数のセンサが異常値を検出した場合に、当該複数のセンサのうち、サービスマンがどのセンサに対応する箇所を優先して確認すべきかを示す指標である。 The abnormality importance
異常重要度算出部46は、異常重要度の算出対象のセンサである注目センサの異常度のみならず、注目センサ以外のセンサである他のセンサの異常度にも基づいて、注目センサの異常重要度を算出する。ここで、他のセンサは1つのセンサであってもよいし、複数のセンサであってもよい。以下、注目センサがセンサAであり、他のセンサがセンサB及びセンサCである場合を例に、異常重要度算出部46の処理の詳細を説明する。 The abnormality importance
図5AにはセンサAの異常度の時間変化の例を示す異常度曲線が、図5BにはセンサBの異常度の時間変化の例を示す異常度曲線が、図5CにはセンサCの異常度の時間変化の例を示す異常度曲線が、それぞれ示されている。図5Aから図5Cに示された各グラフの縦軸は異常度を表し、横軸は時刻を表している。図5Aにおいて、一点鎖線で示された異常度は、センサAに対する異常度閾値sAを示している。図5Bについても同様に、センサBに対する異常度閾値sBが一点鎖線で示され、図5Cについても同様に、センサCに対する異常度閾値sCが一点鎖線で示されている。図5Aに示されている通り、センサAの異常度が異常度閾値sA以上となるのは、センサAの異常度が異常度閾値sA以上となった時点である時刻tAから、センサAの異常度が異常度閾値sA未満となった時点である時刻t’Aまでの間の期間である。すなわち、時刻tAから時刻t’Aまでの間の期間が、センサAについての異常検出時である。FIG. 5A is an abnormality degree curve showing an example of the time variation of the abnormality degree of the sensor A, FIG. 5B is an abnormality degree curve showing an example of the time variation of the abnormality degree of the sensor B, and FIG. 5C is an abnormality of the sensor C. Anomaly curve showing an example of the degree of time change is shown. The vertical axis of each graph shown in FIGS. 5A to 5C represents the degree of abnormality and the horizontal axis represents time. In FIG. 5A, the abnormality degree indicated by the one-dot chain line indicates the abnormality degree threshold value s A for the sensor A. Similarly, the Figure 5B, is shown in error probability threshold s B is one-dot chain line relative to the sensor B, the same applies to FIG. 5C, the degree of abnormality threshold s C is shown by the chain line relative to the sensor C. As shown in Figure 5A, the degree of abnormality of the sensor A is equal to or more than the abnormality threshold value of the degree of s A from the time t A is a time when the abnormality of the sensor A is equal to or greater than the abnormality threshold value of the degree of s A, sensor This is a period up to time t′ A when the abnormality degree of A becomes less than the abnormality threshold s A. That is, the period from the time t A to the time t′ A is the time when the abnormality of the sensor A is detected.
センサAの異常重要度は、異常検出時、つまり時刻tAから時刻t’Aまでの間の期間内の複数の時点における、センサA、センサB、及びセンサCの異常度の代表値に基づいて算出される。本実施形態では、代表値として平均値を用いるが、代表値としては、例えば中央値や最大値などであってもよい。図5Aにおいて異常検出時におけるセンサAの異常度の平均値mA(破線)が示され、図5Bにおいて異常検出時におけるセンサBの異常度の平均値mB(破線)が示され、図5Cにおいて異常検出時におけるセンサCの異常度の平均値mC(破線)が示されている。The abnormality importance level of the sensor A is based on the representative values of the abnormality levels of the sensor A, the sensor B, and the sensor C at the time of abnormality detection, that is, at a plurality of time points within the period from time t A to time t′ A. Calculated. In this embodiment, the average value is used as the representative value, but the representative value may be, for example, the median value or the maximum value. 5A shows the average value m A (broken line) of the abnormality degree of the sensor A at the time of abnormality detection, and FIG. 5B shows the average value m B (broken line) of the abnormality degree of the sensor B at the time of abnormality detection. Shows the average value m C (broken line) of the abnormality degree of the sensor C at the time of abnormality detection.
より詳しくは、異常重要度算出部46は、センサAの異常度の平均値が大きい程センサAの異常重要度を高くし、センサAの異常度の平均値が小さい程センサAの異常重要度を低くする。それと共に、異常重要度算出部46は、センサB及びセンサCの異常度の平均値が小さい程センサAの異常重要度を高くし、センサB及びセンサCの異常度の平均値が大きい程センサAの異常重要度を低くする。
More specifically, the
本実施形態では、センサAの異常重要度は、異常検出時における、異常度閾値sAに対するセンサAの異常度の平均値の割合、異常度閾値sBに対するセンサBの異常度の平均値の割合、及び、異常度閾値sCに対するセンサCの異常度の平均値の割合に基づいて算出される。具体的には、センサAの異常重要度は、以下の式で算出される。
式1の右辺の分子はsA(センサAの異常度閾値)に対するmA(異常検出時におけるセンサAの異常度の平均値)の割合を示している。したがって、mAが小さくなってsAに対するmAの割合が小さくなる程、分子が小さくなり、すなわちセンサAの異常重要度IAが小さくなる。逆に、mAが大きくなってsAに対するmAの割合が大きくなる程、分子が大きくなり、すなわちセンサAの異常重要度IAが大きくなる。 The numerator on the right side of Expression 1 indicates the ratio of m A (the average value of the abnormality degree of the sensor A at the time of abnormality detection) to s A (the abnormality degree threshold value of the sensor A). Therefore, as the ratio of m A for s A m A is smaller decreases, molecular decreases, i.e. abnormal importance I A sensor A is reduced. Conversely, as the ratio of m A is greater for s A and m A is increased, the molecular increases, i.e. abnormal importance I A sensor A becomes large.
式1の右辺の分母の第1項は、sB(センサBの異常度閾値)に対するmB(異常検出時におけるセンサBの異常度の平均値)の割合を示している。同様に、式1の右辺の分母の第2項は、sC(センサCの異常度閾値)に対するmC(異常検出時におけるセンサCの異常度の平均値)の割合を示している。したがって、mBが小さくなってsBに対するmBの割合が小さくなる程、あるいは、mCが小さくなってsCに対するmCの割合が小さくなる程、分母が小さくなり、すなわちセンサAの異常重要度IAが大きくなる。逆に、mBが大きくなってsBに対するmBの割合が大きくなる程、あるいは、mCが大きくなってsCに対するmCの割合が大きくなる程、分母が大きくなり、すなわちセンサAの異常重要度IAが小さくなる。 The first term of the denominator on the right side of Expression 1 indicates the ratio of m B (the average value of the abnormality degree of the sensor B at the time of abnormality detection) to s B (the abnormality degree threshold value of the sensor B). Similarly, the second term of the denominator on the right side of Expression 1 represents the ratio of m C (average value of abnormality degree of sensor C at the time of abnormality detection) to s C (threshold of abnormality degree of sensor C). Therefore, as m B becomes smaller and the ratio of m B to s B becomes smaller, or as m C becomes smaller and the ratio of m C to s C becomes smaller, the denominator becomes smaller, that is, the abnormality of the sensor A becomes smaller. The importance I A becomes large. Conversely, as m B increases and the ratio of m B to s B increases, or as m C increases and the ratio of m C to s C increases, the denominator increases, that is, the sensor A The anomaly importance I A becomes small.
なお、本実施形態では、センサAの異常検出時を時刻tAから時刻t’Aまでの間の期間としており、時刻tAから時刻t’Aまでの間の期間のセンサA、センサB、センサCの異常度の平均値に基づいてセンサAの異常重要度を算出している。つまり、異常重要度算出部46は、時刻t’A後にセンサAの異常重要度を算出しているが、異常重要度算出部46は、センサAが異常値を検出した時点(図5Aの例では時刻tA)において、センサAの異常重要度を算出するようにしてもよい。この場合、式1において、mAを時刻t A時点のセンサAの異常度、mBを時刻tA時点のセンサBの異常度、mCを時刻tA時点のセンサCの異常度と読み替えることでセンサAの異常重要度IAを算出することができる。これにより、より早期にセンサAの異常重要度を算出できる。 In the present embodiment, the time when the abnormality of the sensor A is detected is set to the time t.AFrom time t'AUp to the time tAFrom time t'AThe abnormality importance degree of the sensor A is calculated based on the average value of the abnormality degrees of the sensor A, the sensor B, and the sensor C in the period up to. That is, the abnormality importance
図5Bを見ると、センサAの異常検出時である時刻tAから時刻t’AにおけるセンサBの異常度の平均値mBは比較的高く、異常度閾値sBに近い値となっている。また、図5Cを見ると、時刻tAから時刻t’AにおけるセンサCの異常度の平均値mCはかなり高く、異常度閾値sCを大きく超える値となっている。したがって、図5Aから図5Cに示された例においては、センサAの異常度は異常度閾値sAを超えているものの、センサB及びセンサCの異常度が高いことから、センサAの異常重要度は比較的低くなる。As shown in FIG. 5B, the average value m B of the abnormality degree of the sensor B from the time t A to the time t′ A when the abnormality of the sensor A is detected is relatively high and is close to the abnormality threshold s B. .. Further, as shown in FIG. 5C, the average value m C of the abnormality degree of the sensor C from the time t A to the time t′ A is considerably high, and the value greatly exceeds the abnormality degree threshold value s C. Therefore, in the example shown in FIGS. 5A to 5C, although the abnormality degree of the sensor A exceeds the abnormality degree threshold value s A , the abnormality degree of the sensor B and the sensor C is high. The degree is relatively low.
図6Aには、図5Aと同じセンサAの異常度の時間変化を示す異常度曲線が、図6BにはセンサBの異常度の時間変化の他の例を示す異常度曲線が、図6CにはセンサCの異常度の時間変化の他の例を示す異常度曲線が、それぞれ示されている。図5Bと図6Bとを比較して分かるように、図6Bの例においては、センサAの異常検出時である時刻tAから時刻t’AにおけるセンサBの異常度の平均値mBは、図5Bの例よりもかなり小さくなっている。同様に、図5Cと図6Cとを比較して分かるように、図6Cの例においては、時刻tAから時刻t’AにおけるセンサCの異常度の平均値mCは、図5Cの例よりもかなり小さくなっている。したがって、図6Aから図6Cに示された例においては、センサAの異常重要度は、図5Aから図5Cに示された例よりも高くなる。FIG. 6A shows an abnormality degree curve showing the time variation of the abnormality degree of the sensor A, which is the same as FIG. 5A, FIG. 6B shows an abnormality degree curve showing another example of the time variation of the abnormality degree of the sensor B, and FIG. 6C. Shows an abnormality degree curve showing another example of the change over time of the abnormality degree of the sensor C, respectively. As can be seen by comparing FIGS. 5B and 6B, in the example of FIG. 6B, the average value m B of the abnormality degree of the sensor B from the time t A to the time t′ A when the abnormality of the sensor A is detected is It is much smaller than the example of FIG. 5B. Similarly, as can be seen by comparing FIGS. 5C and 6C, in the example of FIG. 6C, the average value m C of the abnormality degree of the sensor C from the time t A to the time t′ A is larger than that in the example of FIG. 5C. Is also quite small. Therefore, in the example shown in FIGS. 6A to 6C, the degree of abnormality importance of the sensor A is higher than that in the examples shown in FIGS. 5A to 5C.
このように、センサAの異常検出時におけるセンサAの異常度の平均値mAが同じであったとしても、センサB又はセンサCの異常度に応じて、センサAの異常重要度が変動し得る。Thus, the average value m A degree of abnormality of the sensor A at the time of abnormality detection of the sensors A even if the same, depending on the degree of abnormality of the sensor B or sensor C, abnormal importance of the sensor A is changed obtain.
これにより、センサAの異常重要度は、センサAが検出した異常値が、機器における真の不具合によるものかどうかを示す指標となり得る。例えば、センサA、センサB、センサCがいずれも温度センサである場合を考えると、センサAが異常値を検出した場合に、センサAのみならず、センサB及びセンサCの検出温度も上昇している場合は、センサAの異常重要度は比較的低い値が算出される。このような場合、センサA、すなわちビル18の1Fに設置された機器固有の不具合でなく、外気温の急上昇などの、センサA、センサB、センサCに共通して影響を与える外乱によってセンサA、センサB、及びセンサCの全ての検出温度が上昇した可能性が高い。したがって、センサAの異常重要度が低い程、センサAが検出した異常値は、機器の真の不具合による可能性が低いことを示すといえる。一方、センサAが異常値を検出した場合に、センサB及びセンサCの検出温度が上昇していないならば、センサAの異常重要度は比較的高い値が算出される。このような場合、センサAが検出した異常値は、センサA、センサB、センサCに共通して影響を与える外乱によるものではなく、センサAが設けられた機器固有の問題(すなわち当該機器における真の不具合)が生じた可能性が高い。したがって、センサAの異常重要度が高い程、センサAが検出した異常値は、機器の真の不具合による可能性が高いことを示すといえる。 Thereby, the abnormality importance level of the sensor A can be an index indicating whether or not the abnormal value detected by the sensor A is due to a true malfunction in the device. For example, considering the case where all of the sensors A, B, and C are temperature sensors, when the sensor A detects an abnormal value, not only the temperature detected by the sensor A but also the temperatures detected by the sensors B and C rise. If so, the value of the abnormality importance of the sensor A is calculated to be relatively low. In such a case, the sensor A, that is, not a failure peculiar to the device installed on the 1st floor of the
また、センサAの異常重要度は、複数のセンサが異常値を検出した場合に、当該複数のセンサのうち、サービスマンがどのセンサに対応する箇所を優先してチェックすべきかを示す指標となり得る。例えば、センサA、センサB、センサCが同時に異常値を検出した場合、異常重要度算出部46は、センサA、センサB、センサCについてそれぞれ異常重要度を算出する。各センサについての異常重要度をサービスマンに提示することで、サービスマンは、異常重要度のより高いセンサが設けられた機器に対して優先的に確認作業を行うことができる。 Further, the abnormality importance level of the sensor A can be an index indicating which sensor, of the plurality of sensors, the service person should preferentially check when the plurality of sensors detect an abnormal value. .. For example, when the sensor A, the sensor B, and the sensor C simultaneously detect an abnormal value, the abnormality importance
異常通知部48は、センサ群12に含まれるセンサのいずれかが異常値を検出したと異常判定部44が判定した場合に、異常値を検出したこと、及び、異常値を検出したセンサをサービスマンに通知する。さらに、異常通知部48は、異常重要度算出部46が算出した、異常値を検出したセンサの異常重要度をサービスマンに通知する。 When the
具体的には、異常通知部48は、センサ群12に含まれるセンサのいずれかが異常値を検出したと異常判定部44が判定したことをトリガとして、異常値を検出したこと、異常値を検出したセンサ、及び、当該センサの異常重要度を示す異常情報をサービスマン端末16にプッシュ送信する。これにより、サービスマン端末16の表示部に、異常情報に含まれる各情報が表示される。あるいは、異常通知部48は、サービスマン端末16からの要求を受けて、異常情報をサービスマン端末16に送信するようにしてもよい。 Specifically, the
図7に、サービスマン端末16の表示部における異常情報表示画面の例が示されている。図7には、センサA、センサD、センサFの3つのセンサが異常値を検出したことが示されている。図7の例においては、センサA、センサD、センサFのうち最も異常重要度が高いのがセンサAとなっているため、サービスマンに対してセンサAが設置された1Fの機器を優先的に確認することを促すメッセージが表示されている。すなわち、図7の例では、異常値を検出したセンサが複数ある場合、当該複数のセンサのうち最も異常重要度の高いセンサがサービスマンに提示されている。あるいは、各センサの異常重要度を数値などでサービスマンに通知するようにしてもよい。 FIG. 7 shows an example of an abnormal information display screen on the display unit of the
本実施形態に係る異常重要度算出システム10の構成概要は以上の通りである。以下、図8に示されるフローチャートに従って、サーバ14の処理の流れを説明する。 The configuration outline of the abnormality importance
ステップS10において、予測値算出部40は、過去検出値情報DB34に格納された正常時検出値情報に基づいて、各センサについての予測モデルを構築する。 In step S10, the prediction
ステップS12において、サーバ14は、センサ群12に含まれる各センサが検出した検出値を含む検出値情報群を中央監視装置20から受信する。 In step S<b>12, the
ステップS14において、予測値算出部40は、ステップS10で構築した各センサについての予測モデルと、ステップS12で受信した各センサの検出値とに基づいて、各センサの検出予測値を算出する。 In step S14, the prediction
ステップS16において、異常度算出部42は、ステップS12で受信した各センサの検出値と、ステップS14で算出された各センサの検出予測値との差異に基づいて、各センサの異常度を算出する。 In step S16, the abnormality
ステップS18において、異常判定部44は、センサ群12に含まれるセンサのうち、いずれかのセンサが異常値を検出したか否かを判定する。全てのセンサが異常値を検出していない場合、再度ステップS12に戻り、ステップS12以下ステップS18までの処理を繰り返す。すなわち、予測値算出部40は逐次各センサの検出予測値を算出し、異常度算出部42は逐次各センサの異常度を算出していく。いずれかのセンサが異常値を検出した場合、ステップS20に進む。 In step S18, the
ステップS20において、異常重要度算出部46は、異常値を検出したセンサの異常度のみならず、当該センサ以外の他のセンサの異常度にも基づいて、異常値を検出したセンサの異常重要度を算出する。
In step S20, the abnormality
ステップS22において、異常判定部44は、ステップS20で異常重要度が算出されたセンサ以外に、異常値を検出したセンサがあるか否かを判定する。ある場合は、再度ステップS20に戻り、ステップS20において、異常重要度算出部46は、異常値を検出した他のセンサについての異常重要度を算出する。異常値を検出したセンサの全てについて異常重要度が算出された場合はステップS24に進む。
In step S22, the
ステップS24において、異常通知部48は、異常値を検出したセンサ、及び、当該センサの異常重要度を示す異常情報をサービスマン端末16に送信する。これにより、サービスマン端末16の表示部に異常情報が表示される。 In step S24, the
以上、本発明に係る実施形態を説明したが、本発明は上記実施形態に限られるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。 Although the embodiment according to the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
10 異常重要度算出システム、12 センサ群、14 サーバ、16 サービスマン端末、18 ビル、20 中央監視装置、22 通信回線、30 通信部、32 記憶部、34 過去検出値情報DB、36 予測モデル、38 制御部、40 予測値算出部、42 異常度算出部、44 異常判定部、46 異常重要度算出部、48 異常通知部。 10 abnormality importance calculation system, 12 sensor group, 14 server, 16 serviceman terminal, 18 building, 20 central monitoring device, 22 communication line, 30 communication unit, 32 storage unit, 34 past detection value information DB, 36 prediction model, 38 control unit, 40 predicted value calculation unit, 42 abnormality degree calculation unit, 44 abnormality determination unit, 46 abnormality importance degree calculation unit, 48 abnormality notification unit.
Claims (7)
前記センサ群が検出した検出値を受信するサーバと、
を備える異常重要度算出システムであって、
前記サーバは、
前記センサ群に含まれる各センサについて、予測された検出予測値と実際の検出値との差異に基づいて、検出値に対する異常度を算出する異常度算出部と、
前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、
を有する、
ことを特徴とする異常重要度算出システム。A group of sensors provided in the device,
A server that receives a detection value detected by the sensor group,
An abnormality importance degree calculation system comprising:
The server is
For each sensor included in the sensor group, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, an abnormality degree calculation unit that calculates an abnormality degree for the detection value,
The abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor of the sensor group, the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection, which is when the predetermined abnormality degree threshold value for the attention sensor or more, And an abnormality importance degree calculating unit that calculates an abnormality importance degree with respect to a detection value of the attention sensor, based on the abnormality degree with respect to a detection value of another sensor that is a sensor other than the attention sensor in the sensor group,
Have
Anomalous importance calculation system characterized by the following.
ことを特徴とする請求項1に記載の異常重要度算出システム。The abnormality importance degree calculating unit increases the abnormality importance degree with respect to the detection value of the target sensor as the abnormality degree with respect to the detection value of the other sensor at the time of the abnormality detection is smaller, and the other abnormality degree at the time of the abnormality detection. The greater the degree of abnormality with respect to the detection value of the sensor, the lower the degree of abnormality importance with respect to the detection value of the sensor of interest,
The abnormality importance degree calculation system according to claim 1, wherein
前記異常重要度算出部は、前記異常検出時の複数の時点における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度の代表値、及び、前記他のセンサの検出値に対する前記異常度の代表値に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する、
ことを特徴とする請求項1に記載の異常重要度算出システム。When the abnormality is detected, there is a period from the time when the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor is equal to or higher than a predetermined abnormality degree threshold for the attention sensor to the time when the abnormality degree is less than the abnormality degree threshold. Then
The abnormality importance degree calculation unit, based on a representative value of the abnormality degree with respect to the detection value of the sensor of interest at a plurality of time points during the abnormality detection, and a representative value of the abnormality degree with respect to the detection value of the other sensor. Calculate the degree of abnormality importance for the detection value of the sensor of interest,
The abnormality importance degree calculation system according to claim 1, wherein
ことを特徴とする請求項1に記載の異常重要度算出システム。Each sensor included in the sensor group is provided at a different point in the building,
The abnormality importance degree calculation system according to claim 1, wherein
前記注目センサの検出値が異常値となったこと、及び、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を示す異常情報を前記機器をメンテナンスする者に通知する異常通知部と、
をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の異常重要度算出システム。The server is
An abnormality notifying unit for notifying a person maintaining the device of abnormality information indicating that the detection value of the attention sensor has become an abnormal value, and abnormality information indicating an abnormality importance with respect to the detection value of the attention sensor
The abnormal importance degree calculation system according to claim 1, further comprising:
前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、
を備えることを特徴とする異常重要度算出装置。For each sensor included in the sensor group provided in the device, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, an abnormality degree calculation unit that calculates an abnormality degree for the detection value,
The abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor of the sensor group, the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection, which is when the predetermined abnormality degree threshold value for the attention sensor or more, And an abnormality importance degree calculating unit that calculates an abnormality importance degree with respect to a detection value of the attention sensor, based on the abnormality degree with respect to a detection value of another sensor that is a sensor other than the attention sensor in the sensor group,
An abnormality importance degree calculating device comprising:
機器に設けられたセンサ群に含まれる各センサについて、予測された検出予測値と実際の検出値との差異に基づいて、検出値に対する異常度を算出する異常度算出部と、
前記センサ群のうち注目センサの検出値に対する前記異常度が、前記注目センサについて予め定められた異常度閾値以上になったときである異常検出時における、前記注目センサの検出値に対する前記異常度、及び、前記センサ群のうち前記注目センサ以外のセンサである他のセンサの検出値に対する前記異常度に基づいて、前記注目センサの検出値に対する異常重要度を算出する異常重要度算出部と、
として機能させることを特徴とする異常重要度算出プログラム。Computer,
For each sensor included in the sensor group provided in the device, based on the difference between the predicted detection predicted value and the actual detection value, an abnormality degree calculation unit that calculates an abnormality degree for the detection value,
The abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor of the sensor group, the abnormality degree with respect to the detection value of the attention sensor at the time of abnormality detection, which is when the predetermined abnormality degree threshold value for the attention sensor or more, And an abnormality importance degree calculating unit that calculates an abnormality importance degree with respect to a detection value of the attention sensor, based on the abnormality degree with respect to a detection value of another sensor that is a sensor other than the attention sensor in the sensor group,
Anomalous importance degree calculation program characterized by causing it to function as.
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---|---|---|---|---|
CN1328876C (en) * | 2004-06-24 | 2007-07-25 | 西安交通大学 | Method for self-adapting testing access of abnormal files |
JP5011141B2 (en) * | 2008-01-30 | 2012-08-29 | 日立建機株式会社 | Abnormal operation detection device |
JP5215099B2 (en) * | 2008-09-17 | 2013-06-19 | オリンパス株式会社 | Information processing system, digital photo frame, program, and information storage medium |
WO2012098805A1 (en) * | 2011-01-21 | 2012-07-26 | 株式会社ジェイテクト | Grinding abnormality monitoring method and grinding abnormality monitoring device |
JP5827892B2 (en) * | 2011-12-28 | 2015-12-02 | 株式会社日立製作所 | Structure crime prevention system and elevator equipped with the same |
CN102612065B (en) * | 2012-03-19 | 2014-05-28 | 中国地质大学(武汉) | Quick fault-tolerance detection method for monitoring abnormal event by wireless sensor network |
CN102932419B (en) * | 2012-09-25 | 2016-02-10 | 浙江图讯科技股份有限公司 | A kind of data-storage system for the safety production cloud service platform towards industrial and mining enterprises |
JP6076751B2 (en) * | 2013-01-22 | 2017-02-08 | 株式会社日立製作所 | Abnormality diagnosis method and apparatus |
JP6201529B2 (en) * | 2013-08-29 | 2017-09-27 | 株式会社ジェイテクト | Electric power steering device |
WO2015140841A1 (en) * | 2014-03-20 | 2015-09-24 | 日本電気株式会社 | Anomaly-detecting information processing device and anomaly detection method |
CN104240499B (en) * | 2014-06-23 | 2016-08-24 | 银江股份有限公司 | A kind of abnormal congestion points method of discrimination based on microwave data |
JP6223936B2 (en) * | 2014-09-12 | 2017-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Abnormal trend detection method and system |
JP6672712B2 (en) * | 2015-11-04 | 2020-03-25 | 日本電気株式会社 | Abnormal work detection system and abnormal work detection method |
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