JP6744749B2 - Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, radiation imaging method, and program - Google Patents

Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, radiation imaging method, and program Download PDF

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Description

本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus, a radiation imaging system, a radiation imaging method, and a program.

1970年代に開発されたX線CT装置は、その後、普及と進歩を遂げてきた。X線CT装置では、X線源(放射線発生部)と、被検体を挟んでX線源に対向配置される検出部とを備え、被検体を中心にX線源及び検出部が回転しながらX線を測定することで、被検体を透過したX線を様々な角度で測定する。そして、測定の結果から得られた情報を基に、Filtered Back Projection(FBP)法などの方法を用いて、被検体の画像を再構成することで、被検体の線減弱係数の空間分布を得ることができる。 The X-ray CT apparatus developed in the 1970's has since become popular and advanced. The X-ray CT apparatus includes an X-ray source (radiation generation unit) and a detection unit that is arranged to face the X-ray source with the subject interposed therebetween, and the X-ray source and the detection unit rotate about the subject. By measuring the X-ray, the X-ray transmitted through the subject is measured at various angles. Then, based on the information obtained from the measurement result, a spatial distribution of the linear attenuation coefficient of the subject is obtained by reconstructing the image of the subject using a method such as the Filtered Back Projection (FBP) method. be able to.

CT装置では、放射線源(放射線発生部)から照射された放射線が、被検体内を直進する間にどの程度減弱したかを測定することで、被検体の線減弱係数の空間分布を得る。この場合、被検体で散乱した放射線が混入した状態で測定されるため、線減弱係数の空間分布の再構成について精度が低下する。そこで、混入する散乱線を推定し、測定量から取り除く必要がある。 In the CT device, the spatial distribution of the linear attenuation coefficient of the subject is obtained by measuring how much the radiation emitted from the radiation source (radiation generation unit) is attenuated while traveling straight in the subject. In this case, since the radiation scattered by the subject is mixed and measured, the accuracy of the reconstruction of the spatial distribution of the linear attenuation coefficient decreases. Therefore, it is necessary to estimate the scattered rays to be mixed and remove them from the measured amount.

例えば、特許文献1には、隣接するn個の投影方向について、共通する散乱線分布を用いることにより、散乱線推定を高速化する手法が開示されている(特許文献1参照)。 For example, Patent Document 1 discloses a method of speeding up scattered ray estimation by using a common scattered ray distribution for n adjacent projection directions (see Patent Document 1).

特許第4357612号公報Japanese Patent No. 4357612

しかしながら、特許文献1で開示されている方法では、散乱線の遮蔽手段が必要であるという課題があった。 However, the method disclosed in Patent Document 1 has a problem that a means for shielding scattered rays is required.

本発明に係る放射線撮影装置の一形態は、被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段とを備え
前記第1の推定手段は、前記第2の検出データが前記第1の検出データより大きい範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定する。
One form of radiation imaging apparatus according to the present invention was irradiated in a state of arranging a first measuring means for measuring a first detection data of the radiation emitted in a state that does not place a subject, the subject Second measurement means for measuring the second detection data of the radiation, and the first scattering of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data. A first estimating means for estimating the line distribution ,
It said first estimation means, the second detection data is greater extent than the first detection data, you defined as a range other than the projection range.

本発明の放射線撮影装置によれば、散乱線の遮蔽手段がない場合でも散乱線を推定することができる。 According to the radiation imaging apparatus of the present invention, it is possible to estimate scattered radiation even when there is no means for shielding scattered radiation.

第1の実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the radiography system which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る放射線撮影システムの処理フローの一例を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows an example of a processing flow of a radiography system concerning a 1st embodiment. 検出部が検出した検出データの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the detection data which the detection part detected. 第1の散乱線分布の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of 1st scattered radiation distribution. 第2の実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the radiography system which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係る放射線撮影システムの処理フローの一例を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows an example of a processing flow of a radiography system concerning a 2nd embodiment. 第2の実施形態に係る第2の散乱線分布の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the 2nd scattered ray distribution which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of the radiography system which concerns on 3rd Embodiment. 第3の実施形態に係る放射線撮影システムの処理フローの一例を示すフローチャートである。It is a flow chart which shows an example of a processing flow of a radiography system concerning a 3rd embodiment. 全領域の複数の散乱線分布の一例を示す図である。It is a figure showing an example of a plurality of scattered radiation distributions of the whole field.

(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態を説明し、散乱線の遮蔽手段がない場合でも散乱線を推定することができる実施形態について説明する。本発明の第1の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
(First embodiment)
The first embodiment of the present invention will be described, and an embodiment that can estimate scattered rays even when there is no means for shielding scattered rays will be described. A first embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

図1は、本実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。図2は、本実施形態に係る放射線撮影システムの処理フローの一例を示すフローチャートである。 FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a radiation imaging system according to this embodiment. FIG. 2 is a flowchart showing an example of the processing flow of the radiation imaging system according to this embodiment.

放射線撮影システムは、放射線発生部101、検出部104、第1の測定部105、第2の測定部106、推定部(第1の推定部)107、及び表示部110を備える。放射線発生部101は放射線発生源を含む。なお、本実施形態では、放射線はX線とするが、α線、β線、重粒子線、又はγ線であってもよい。 The radiation imaging system includes a radiation generation unit 101, a detection unit 104, a first measurement unit 105, a second measurement unit 106, an estimation unit (first estimation unit) 107, and a display unit 110. The radiation generation unit 101 includes a radiation generation source. In this embodiment, the radiation is X-rays, but it may be α rays, β rays, heavy particle rays, or γ rays.

放射線発生部101は、被検体102に放射線103を照射する。本実施形態では、被検体102は生体であるが、工業製品などの生体以外を被検体としてもよい。検出部104は、被検体102を挟んで放射線発生部101と対向配置され、放射線発生部101からの放射線103を検出する。 The radiation generation unit 101 irradiates the subject 102 with radiation 103. In the present embodiment, the subject 102 is a living body, but a subject other than a living body such as an industrial product may be the subject. The detection unit 104 is arranged to face the radiation generation unit 101 with the subject 102 interposed therebetween, and detects the radiation 103 from the radiation generation unit 101.

本実施形態では、検出部104は、半導体材料によって形成され、多くの検出素子が格子状に並んだ平面検出器(Flat Panel Detector(FPD))を用いるが、ラインセンサなどを用いてもよい。 In the present embodiment, the detection unit 104 uses a flat panel detector (Flat Panel Detector (FPD)) formed of a semiconductor material and in which many detection elements are arranged in a lattice, but a line sensor or the like may be used.

第1の測定部105は、被検体102を配置しない状態で照射された放射線103の第1の検出データを測定する。第2の測定部106は、被検体102を配置した状態で照射された放射線103の第2の検出データを測定する。 The first measurement unit 105 measures the first detection data of the radiation 103 applied without the subject 102 being placed. The second measurement unit 106 measures the second detection data of the radiation 103 applied with the subject 102 placed.

なお、図1では、説明の便宜のため、第1の測定部105及び第2の測定部106は、異なる装置として記載されているが、第1の測定部105及び第2の測定部106は、同一の装置で実現される方が好ましい。なぜなら、第1の測定部105及び第2の測定部106の測定条件のうち、被検体の有無だけが異なり、その他は同じ測定条件であることが好ましいからである。 In FIG. 1, the first measuring unit 105 and the second measuring unit 106 are illustrated as different devices for convenience of description, but the first measuring unit 105 and the second measuring unit 106 are not illustrated. It is preferable that they are realized by the same device. This is because it is preferable that among the measurement conditions of the first measurement unit 105 and the second measurement unit 106, only the presence or absence of the subject is different, and the other measurement conditions are the same.

検出部104で測定された情報は、推定部107に送られ、処理される。推定部(第1の推定部)107は、第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、被写体102の投影範囲以外の範囲(非投影範囲)における放射線103の第1の散乱線分布を推定する。推定部(第1の推定部)107は、第1の検出データ及び第2の検出データの差により、第1の散乱線分布を推定する。例えば、推定部(第1の推定部)107は、第1の検出データを第2の検出データから減算することにより、第1の散乱線分布を推定する。 The information measured by the detection unit 104 is sent to the estimation unit 107 and processed. The estimation unit (first estimation unit) 107, based on the first detection data and the second detection data, the first scattered radiation distribution of the radiation 103 in a range (non-projection range) other than the projection range of the subject 102. To estimate. The estimation unit (first estimation unit) 107 estimates the first scattered radiation distribution from the difference between the first detection data and the second detection data. For example, the estimation unit (first estimation unit) 107 estimates the first scattered radiation distribution by subtracting the first detection data from the second detection data.

本実施形態では、推定部107は、コンピュータで実行されるプログラムの例を示す。同様の機能を果たすのであれば、推定部107は、集積回路でもよく、形態に捉われない。 In the present embodiment, the estimation unit 107 shows an example of a program executed by a computer. The estimating unit 107 may be an integrated circuit as long as the same function is achieved, and the estimating unit 107 is not limited to the form.

表示部110は、本実施形態によって得られた結果を表示する。例えば、表示部110は、液晶ディスプレイやCRTなどである。その他、表示部110は、人間が視認できるものであればよい。 The display unit 110 displays the result obtained by this embodiment. For example, the display unit 110 is a liquid crystal display, a CRT, or the like. In addition, the display unit 110 may be one that can be visually recognized by humans.

次に、図2のフローチャートを用いて、図1の構成がどのような動作を行い、散乱線を推定するかを説明する。 Next, the operation of the configuration of FIG. 1 and the estimation of scattered radiation will be described using the flowchart of FIG.

まず、ステップS205において、第1の検出データ測定工程が実行される。この工程では、被検体102が配置されていない状態で放射線103を曝射及び測定し、第1の測定部105によって測定情報A(第1の検出データ)が得られる。 First, in step S205, the first detection data measuring step is executed. In this step, the radiation 103 is emitted and measured in a state where the subject 102 is not placed, and the measurement information A (first detection data) is obtained by the first measurement unit 105.

図3は、検出部104が検出した検出データの一例を、被検体102の有無及び配置に対応させて示す図である。横軸は検出位置であり、縦軸は測定値である。測定情報Aの一例は、第1の検出データ305として示される。本実施形態では、第1の検出データ305は、検出位置にかかわらず、同じ測定値となっている。 FIG. 3 is a diagram showing an example of the detection data detected by the detection unit 104 in association with the presence or absence and the arrangement of the subject 102. The horizontal axis is the detection position, and the vertical axis is the measured value. An example of the measurement information A is shown as the first detection data 305. In this embodiment, the first detection data 305 has the same measurement value regardless of the detection position.

次に、ステップS206において、第2の検出データ定工程が実行される。この工程では、被検体102が配置されている状態で放射線103を曝射及び測定し、第2の測定部106によって測定情報B(第2の検出データ)が得られる。測定情報Bの一例は、第2の検出データ306として示される。図3では、被検体102が球形である。放射線発生部101から曝射された放射線103は被検体102で減弱されるため、第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも小さい値を示す検出位置がある。 Next, in step S206, the second detection data determination step is executed. In this step, the radiation 103 is emitted and measured while the subject 102 is placed, and the measurement information B (second detection data) is obtained by the second measurement unit 106. An example of the measurement information B is shown as the second detection data 306. In FIG. 3, the subject 102 is spherical. Since the radiation 103 emitted from the radiation generation unit 101 is attenuated by the subject 102, there is a detection position where the second detection data 306 shows a smaller value than the first detection data 305.

次に、ステップS207において、非投影範囲の散乱線分布推定工程が実行される。この工程では、推定部107によって、被検体102の影にならない領域(被写体102の非投影範囲)の散乱線分布C(第1の散乱線分布)を推定する。 Next, in step S207, the scattered radiation distribution estimation process of a non-projection range is performed. In this step, the estimation unit 107 estimates the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution) in a region (non-projection range of the subject 102) that does not shade the subject 102.

例えば、非投影範囲Rは測定情報Aの値(第1の検出データ)よりも測定情報Bの値(第2の検出データ)の方が大きい検出位置であると規定し、非投影範囲Rにおいて、測定情報Bの値から測定情報Aの値を減算したものを散乱線分布Cの値として推定する。推定部(第1の推定部)107は、第1の検出データを第2の検出データから減算することにより、散乱線分布C(第1の散乱線分布)を推定する。 For example, in the non-projection range R, the non-projection range R is defined as a detection position in which the value of the measurement information B (second detection data) is larger than the value of the measurement information A (first detection data). A value obtained by subtracting the value of the measurement information A from the value of the measurement information B is estimated as the value of the scattered radiation distribution C. The estimation unit (first estimation unit) 107 estimates the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution) by subtracting the first detection data from the second detection data.

図3を用いて詳述する。図3において、測定情報Aは第1の検出データ305であり、測定情報Bは第2の検出データ306である。放射線103が被検体102で減弱される検出位置では、第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも小さな値となるが、その周辺では、第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも大きな値となる検出位置がある。 This will be described in detail with reference to FIG. In FIG. 3, the measurement information A is the first detection data 305, and the measurement information B is the second detection data 306. At the detection position where the radiation 103 is attenuated by the subject 102, the second detection data 306 has a smaller value than the first detection data 305, but in the surroundings, the second detection data 306 is the first detection data 306. There is a detection position that has a larger value than the data 305.

推定部107は、第2の検出データ306が第1の検出データ305より大きい範囲を、投影範囲以外の範囲(非投影範囲)Rとして規定する。 The estimation unit 107 defines a range in which the second detection data 306 is larger than the first detection data 305 as a range (non-projection range) R other than the projection range.

第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも大きな値となる1つの理由は、被検体102で散乱されたX線(放射線)103が被検体102の周辺で検出されるからである。つまり、第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも大きな値となる増加分は、散乱線量を示している。したがって、非投影範囲Rにおいて、第1の検出データを第2の検出データから減算することにより、散乱線分布C(第1の散乱線分布)を推定することができる。 One reason that the second detection data 306 has a larger value than the first detection data 305 is that the X-rays (radiation) 103 scattered by the subject 102 are detected in the vicinity of the subject 102. .. That is, the increment by which the second detection data 306 has a larger value than the first detection data 305 indicates the scattered dose. Therefore, in the non-projection range R, the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution) can be estimated by subtracting the first detection data from the second detection data.

図4は、散乱線分布Cの一例を示す図である。横軸は図3に対応した検出位置であり、縦軸は散乱線量である。第1の散乱線分布407は、非投影範囲Rにおいて、第1の検出データ305を第2の検出データ306から減算することにより算出される。 FIG. 4 is a diagram showing an example of the scattered radiation distribution C. The horizontal axis is the detection position corresponding to FIG. 3, and the vertical axis is the scattered dose. The first scattered radiation distribution 407 is calculated by subtracting the first detection data 305 from the second detection data 306 in the non-projection range R.

第2の検出データ306が第1の検出データ305よりも大きな値となる1つの理由は、散乱線であると述べた。しかし、一般には他のノイズの混入もこの理由となり得るので、ノイズに相当する測定値の閾値(ノイズデータ)を予め規定してもよい。 It was stated that one reason that the second detection data 306 has a larger value than the first detection data 305 is scattered radiation. However, in general, the mixing of other noises may be the reason for this, and therefore the threshold value (noise data) of the measurement value corresponding to noise may be defined in advance.

この場合、推定部107は、第1の検出データ305を第2の検出データ306から減算した値が所定の閾値(ノイズデータ)を超えた検出位置を非投影範囲Rとして規定してもよい。推定部(第1の推定部)107は、非投影範囲Rにおいて、第1の検出データ305を第2の検出データ306から減算することにより、散乱線分布C(第1の散乱線分布)を推定する。 In this case, the estimation unit 107 may define the detection position where the value obtained by subtracting the first detection data 305 from the second detection data 306 exceeds a predetermined threshold value (noise data) as the non-projection range R. The estimation unit (first estimation unit) 107 subtracts the first detection data 305 from the second detection data 306 in the non-projection range R to obtain the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution). presume.

このように、非投影範囲Rの規定及び散乱線分布Cの算出には種々のバリエーションが考えられる。 As described above, various variations can be considered in the definition of the non-projection range R and the calculation of the scattered radiation distribution C.

また、必要に応じて、表示部110は、第1の検出データ、第2の検出データ、第1の散乱線分布、及び所定の閾値(ノイズデータ)を表示する。これにより、オペレータが、処理結果を確認したり評価したりすることができる。 In addition, the display unit 110 displays the first detection data, the second detection data, the first scattered radiation distribution, and a predetermined threshold value (noise data) as necessary. This allows the operator to confirm and evaluate the processing result.

本実施形態によれば、散乱線の遮蔽手段がない場合でも、投影範囲以外の範囲(非投影範囲)において散乱線を推定することができる。 According to this embodiment, it is possible to estimate scattered rays in a range other than the projection range (non-projection range) even if there is no means for shielding scattered rays.

(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態を説明し、非投影範囲において推定された散乱線分布を利用して、全領域(投影範囲及び非投影範囲)の散乱線分布を補正する実施形態について説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。本発明の第2の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
(Second embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described, and an embodiment in which the scattered radiation distribution estimated in the non-projection range is used to correct the scattered radiation distribution in the entire region (projection range and non-projection range) explain. Note that description of the same configurations, functions, and operations as those of the above-described embodiment will be omitted, and differences from the present embodiment will be mainly described. A second embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

図5は、本実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。図6は、本実施形態に係る放射線撮影システムの追加処理フローの一例を示すフローチャートである。 FIG. 5: is a figure which shows an example of a structure of the radiography system which concerns on this embodiment. FIG. 6 is a flowchart showing an example of the additional processing flow of the radiation imaging system according to this embodiment.

本実施形態は、第1の実施形態における構成及び処理フローに、構成及び処理フローを追加した例となっている。図5を参照しながら、追加の構成を説明する。追加の構成は、推定部(第2の推定部)508及び補正部509である。本実施形態では、推定部508及び補正部509は、コンピュータで実行されるプログラムの例を示す。同様の機能を果たすのであれば、集積回路でもよく、形態に捉われない。 The present embodiment is an example in which the configuration and the processing flow are added to the configuration and the processing flow in the first embodiment. The additional configuration will be described with reference to FIG. The additional components are an estimation unit (second estimation unit) 508 and a correction unit 509. In the present embodiment, the estimation unit 508 and the correction unit 509 are examples of programs executed by a computer. It may be an integrated circuit as long as it has a similar function, and is not limited to the form.

次に、図2及び図6のフローチャートを参照しながら、図5の構成がどのような動作を行い、散乱線を推定するかを説明する。 Next, the operation of the configuration of FIG. 5 and the estimation of scattered radiation will be described with reference to the flowcharts of FIGS.

まず、本実施形態では、第1の実施形態と同様に、図2のフローチャートを実行し、被検体102の影にならない領域(非投影範囲)の散乱線分布Cが推定される。 First, in the present embodiment, as in the first embodiment, the flowchart of FIG. 2 is executed to estimate the scattered radiation distribution C in the region (non-projection range) that does not become the shadow of the subject 102.

次に、図6のステップS608において、全領域の散乱線分布推定工程が、推定部(第2の推定部)508によって実行される。本工程では、被検体の影になる領域(投影範囲)及び被検体の影にならない領域(非投影範囲)の散乱線分布D(第2の散乱線分布)が1つ推定される。ここで、投影範囲は非投影範囲の補集合である。したがって、全領域は、投影範囲及び非投影範囲を含む。本工程では、投影範囲及び非投影範囲の散乱線分布Dが推定される。 Next, in step S608 of FIG. 6, the estimation unit (second estimation unit) 508 executes the scattered radiation distribution estimation process for the entire region. In this step, one scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution) is estimated for a region (projection range) where the subject is shaded and a region (non-projection range) where the subject is not shaded (non-projection range). Here, the projection range is a complement of the non-projection range. Therefore, the entire area includes the projection range and the non-projection range. In this step, the scattered radiation distribution D in the projected range and the non-projected range is estimated.

推定部(第2の推定部)508は、被検体102を配置した状態で照射された放射線103の検出データ(第2の検出データ)に基づいて、投影範囲及び非投影範囲における放射線103の散乱線分布D(第2の散乱線分布)を推定する。 The estimation unit (second estimation unit) 508 scatters the radiation 103 in the projection range and the non-projection range based on the detection data (second detection data) of the radiation 103 irradiated with the subject 102 placed. Estimate the line distribution D (second scattered ray distribution).

全領域の散乱線分布Dを推定する方法としては、公知の技術が適用可能である。例えば、CT装置の場合ならば特許第5052281号公報に示されるように、散乱線が被検体102を透過するパス長と、被検体102の吸収係数と、被検体102の散乱確率とを用いて、散乱線分布D(第2の散乱線分布)が求められる。 A known technique can be applied as a method of estimating the scattered radiation distribution D in the entire region. For example, in the case of a CT apparatus, as shown in Japanese Patent No. 5052281, using the path length of scattered rays passing through the subject 102, the absorption coefficient of the subject 102, and the scattering probability of the subject 102. , The scattered ray distribution D (second scattered ray distribution) is obtained.

図7は、散乱線分布Dの一例を示す図である。横軸は図3及び図4に対応した検出位置であり、縦軸は散乱線量である。散乱線分布D(第2の散乱線分布)708は、投影範囲Q及び非投影範囲Rにおいて、推定部(第2の推定部)508によって推定される。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the scattered radiation distribution D. The horizontal axis is the detection position corresponding to FIGS. 3 and 4, and the vertical axis is the scattered dose. The scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution) 708 is estimated by the estimation unit (second estimation unit) 508 in the projection range Q and the non-projection range R.

次に、図6のステップS609において、全領域の散乱線分布生成工程が、補正部509によって実行される。補正部509は、散乱線分布D(第2の散乱線分布)を散乱線分布C(第1の散乱線分布)に近似させることにより、散乱線分布Dを補正し、全領域の散乱線分布Eを生成する。非投影範囲Rにおける散乱線分布Dの補正を全領域に及ぼすことにより、散乱線分布Eが生成される。 Next, in step S609 of FIG. 6, the correction unit 509 executes the scattered radiation distribution generation process for the entire region. The correction unit 509 corrects the scattered radiation distribution D by approximating the scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution) to the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution), and the scattered radiation distribution of the entire region. Generate E. By applying the correction of the scattered radiation distribution D in the non-projection range R to the entire region, the scattered radiation distribution E is generated.

本工程では、非投影範囲Rにおいて散乱線分布Dを定数倍することで、散乱線分布Dを散乱分布Cに近似させ、投影範囲Qの散乱線分布Dを同様に定数倍することにより、散乱線分布Dが修正され、散乱線分布Eが生成される。補正部509は、非投影範囲Rにおける散乱線分布D(第2の散乱線分布)が散乱線分布C(第1の散乱線分布)に近似するように、投影範囲Q及び非投影範囲Rにおける散乱線分布Dの値を定数倍することにより、散乱線分布Dを補正する。 In this step, the scattered radiation distribution D is approximated to the scattered distribution C by multiplying the scattered radiation distribution D in the non-projection range R by a constant, and the scattered radiation distribution D in the projection range Q is similarly multiplied by a constant to obtain scattering. The line distribution D is modified to produce a scattered line distribution E. The correction unit 509 adjusts the scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution) in the non-projection area R so as to approximate the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution) in the projection area Q and the non-projection area R. The scattered radiation distribution D is corrected by multiplying the value of the scattered radiation distribution D by a constant.

つまり、この定数倍の係数は、非投影範囲Rの散乱線分布Cを用いて定められ、例えば、非投影範囲Rについて、最小二乗法により散乱線分布D(第2の散乱線分布)を散乱線分布C(第1の散乱線分布)に近似させることで、定数倍の係数が定められる。 That is, the coefficient multiplied by the constant is determined by using the scattered ray distribution C in the non-projection range R. For example, the scattered ray distribution D (second scattered ray distribution) is scattered in the non-projection range R by the least square method. By approximating to the line distribution C (first scattered ray distribution), the coefficient of a constant multiple is determined.

本実施形態では、補正後の散乱線分布Eは、式(1)により規定され、式(2)のgを最小とする係数αにより求められる。ここで、fは散乱線分布Eを示し、fは散乱線分布Dを示し、fは散乱線分布Cを示し、ξは検出部104の画素番号を示し、Ωは非投影範囲Rの画素番号の集合を示す。したがって、式(2)のΣは、非投影範囲Rの画素について和を算出することを示している。 In the present embodiment, the corrected scattered radiation distribution E is defined by the equation (1) and is obtained by the coefficient α that minimizes g in the equation (2). Here, f E represents the scattered radiation distribution E, f D represents the scattered radiation distribution D, f C represents the scattered radiation distribution C, ξ represents the pixel number of the detection unit 104, and Ω represents the non-projection range R. Shows a set of pixel numbers of. Therefore, Σ in equation (2) indicates that the sum is calculated for the pixels in the non-projection range R.

また、必要に応じて、表示部110は、散乱線分布C(第1の散乱線分布)、散乱線分布D(第2の散乱線分布)、散乱線分布E、及び定数倍の係数αを表示する。これにより、オペレータが、処理結果を確認したり評価したりすることができる。 In addition, the display unit 110 displays the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution), the scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution), the scattered radiation distribution E, and a constant multiple coefficient α as necessary. indicate. This allows the operator to confirm and evaluate the processing result.

本実施形態によれば、散乱線分布C(第1の散乱線分布)に合致するように、散乱線分布D(第2の散乱線分布)を調整することで、精度の高い全領域の散乱線を推定することができる。 According to the present embodiment, by adjusting the scattered radiation distribution D (second scattered radiation distribution) so as to match the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution), it is possible to accurately scatter the entire region. The line can be estimated.

(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態を説明し、非投影範囲において推定された散乱線分布を利用して、全領域(投影範囲及び非投影範囲)の散乱線分布を補正する実施形態について説明する。なお、上記の実施形態と同様の構成、機能、及び動作についての説明は省略し、主に本実施形態との差異について説明する。本発明の第3の実施形態について、図面を参照して具体的に説明する。
(Third Embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described, and an embodiment in which the scattered radiation distribution estimated in the non-projection range is used to correct the scattered radiation distribution in the entire region (projection range and non-projection range) explain. Note that description of the same configurations, functions, and operations as those of the above-described embodiment will be omitted, and differences from the present embodiment will be mainly described. A third embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

図8は、本実施形態に係る放射線撮影システムの構成の一例を示す図である。図9は、本実施形態に係る放射線撮影システムの追加処理フローの一例を示すフローチャートである。 FIG. 8: is a figure which shows an example of a structure of the radiography system which concerns on this embodiment. FIG. 9 is a flowchart showing an example of the additional processing flow of the radiation imaging system according to this embodiment.

本実施形態は、第1の実施形態における構成及び処理フローに、構成及び処理フローを追加した例となっている。図8を参照しながら、追加の構成を説明する。追加の構成は、推定部(第2の推定部)808及び補正部809である。本実施形態では、推定部808及び補正部809は、コンピュータで実行されるプログラムの例を示す。同様の機能を果たすのであれば、集積回路でもよく、形態に捉われない。 The present embodiment is an example in which the configuration and the processing flow are added to the configuration and the processing flow in the first embodiment. The additional configuration will be described with reference to FIG. The additional configuration is an estimation unit (second estimation unit) 808 and a correction unit 809. In the present embodiment, the estimation unit 808 and the correction unit 809 are examples of programs executed by a computer. It may be an integrated circuit as long as it has a similar function, and is not limited to the form.

次に、図2及び図9のフローチャートを参照しながら、図8の構成がどのような動作を行い、散乱線を推定するかを説明する。 Next, the operation of the configuration of FIG. 8 and the estimation of scattered radiation will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 2 and 9.

まず、本実施形態では、第1の実施形態と同様に、図2のフローチャートを実行し、被検体102の影にならない領域(非投影範囲)の散乱線分布Cが推定される。 First, in the present embodiment, as in the first embodiment, the flowchart of FIG. 2 is executed to estimate the scattered radiation distribution C in the region (non-projection range) that does not become the shadow of the subject 102.

次に、図9のステップS908において、複数の散乱線分布推定工程が、推定部(第2の推定部)808によって実行される。本工程では、被検体の影になる領域(投影範囲)及び被検体の影にならない領域(非投影範囲)の複数の散乱線分布が推定される。ここで、第2の実施形態と同様、投影範囲は非投影範囲の補集合である。したがって、全領域は、投影範囲及び非投影範囲を含む。本工程では、投影範囲及び非投影範囲の散乱線分布が複数推定される。 Next, in step S908 of FIG. 9, a plurality of scattered radiation distribution estimation steps are executed by the estimation unit (second estimation unit) 808. In this step, a plurality of scattered radiation distributions of a region that is a shadow of the subject (projection range) and a region that is not a shadow of the subject (non-projection range) are estimated. Here, as in the second embodiment, the projection range is a complement of the non-projection range. Therefore, the entire area includes the projection range and the non-projection range. In this step, a plurality of scattered radiation distributions in the projected range and the non-projected range are estimated.

全領域の散乱線分布Dを推定する方法としては、公知の技術が適用可能である。例えば、CT装置の場合ならば特許第5052281号公報に示されるように、散乱線が被検体102を透過するパス長と、被検体102の吸収係数と、被検体102の散乱確率とを用いて、複数の散乱線分布が求められる。 A known technique can be applied as a method of estimating the scattered radiation distribution D in the entire region. For example, in the case of a CT apparatus, as shown in Japanese Patent No. 5052281, using the path length of scattered rays passing through the subject 102, the absorption coefficient of the subject 102, and the scattering probability of the subject 102. , A plurality of scattered ray distributions are obtained.

本実施形態では、コンプトン散乱及びレイリー散乱の散乱確率を用いて、コンプトン散乱の散乱線分布F(全領域)とレイリー散乱の散乱線分布F(全領域)とが推定される。 In the present embodiment, the scattered ray distribution F 1 of Compton scattering (all regions) and the scattered ray distribution F 2 of Rayleigh scattering (all regions) are estimated using the scattering probabilities of Compton scattering and Rayleigh scattering.

図10は、コンプトン散乱及びレイリー散乱による全領域の散乱線分布の一例を示す図である。コンプトン散乱による散乱線分布Fは散乱線分布1008で示され、レイリー散乱による散乱線分布Fは散乱線分布1009により示されている。一般に、レイリー散乱の方が前方散乱の割合が多いため、両者の散乱線分布1008,1009の形状は図10のように異なる。 FIG. 10: is a figure which shows an example of the scattered radiation distribution of the whole area by Compton scattering and Rayleigh scattering. The scattered ray distribution F 1 by Compton scattering is shown by a scattered ray distribution 1008, and the scattered ray distribution F 2 by Rayleigh scattering is shown by a scattered ray distribution 1009. In general, since Rayleigh scattering has a higher proportion of forward scattering, the shapes of the scattered ray distributions 1008 and 1009 of both are different as shown in FIG.

次に、図9のステップS909において、複合散乱線分布作成工程が、補正部809によって実行される。本工程では、ステップS908において推定された複数の散乱線分布の線形加重和(線形和を含む)が複合散乱線分布Gとして規定され、その線形加重和の係数を非投影範囲Rの散乱線分布Cを用いて定める。 Next, in step S909 of FIG. 9, the composite scattered radiation distribution creating process is executed by the correction unit 809. In this step, the linear weighted sum (including the linear sum) of the plurality of scattered ray distributions estimated in step S908 is defined as the composite scattered ray distribution G, and the coefficient of the linear weighted sum is the scattered ray distribution in the non-projection range R. Determined using C.

推定部(第2の推定部)808は、複数の散乱線分布の加重和(例えば、線形加重和)を、複合散乱線分布G(第2の散乱線分布)として推定する。 The estimation unit (second estimation unit) 808 estimates a weighted sum (for example, a linear weighted sum) of a plurality of scattered ray distributions as a composite scattered ray distribution G (second scattered ray distribution).

補正部809は、複合散乱線分布G(第2の散乱線分布)が散乱線分布C(第1の散乱線分布)に近似するように、線形加重和の重み係数を決定することにより、複合散乱線分布Gを補正する。 The correction unit 809 determines the weighting coefficient of the linear weighted sum so that the composite scattered radiation distribution G (second scattered radiation distribution) approximates the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution), and The scattered radiation distribution G is corrected.

例えば、非投影範囲Rについて、最小二乗法により複合散乱線分布G(第2の散乱線分布)を散乱線分布C(第1の散乱線分布)に近似させることで、重み係数が定められる。 For example, with respect to the non-projection range R, the weight coefficient is determined by approximating the composite scattered ray distribution G (second scattered ray distribution) to the scattered ray distribution C (first scattered ray distribution) by the least squares method.

本実施形態では、複合散乱線分布Gは、式(3)により規定され、式(4)のgを最小とする重み係数αにより求められる。ここで、iは、全領域の複数の散乱線分布のそれぞれを区別するために付された添え字である。また、fFiは全領域の複数の散乱線分布のうちのi番目の散乱線分布を示し、fは複合散乱線分布Gを示し、fは散乱線分布Cを示し、ξは検出部104の画素番号を示し、Ωは非投影範囲Rの画素番号の集合を示す。したがって式(4)のΣは、非投影範囲Rの画素について和を算出することを示している。 In the present embodiment, the composite scattered radiation distribution G is defined by the equation (3) and is obtained by the weighting coefficient α i that minimizes g in the equation (4). Here, i is a subscript added to distinguish each of the plurality of scattered radiation distributions in the entire region. Further, f Fi represents an i-th scattered ray distribution of a plurality of scattered ray distributions in the entire region, f G represents a composite scattered ray distribution G, f C represents a scattered ray distribution C, and ξ represents a detection unit. A pixel number of 104 is shown, and Ω is a set of pixel numbers of the non-projection range R. Therefore, Σ in Expression (4) indicates that the sum is calculated for the pixels in the non-projection range R.

例えば、上述の例では、全領域の複数の散乱線分布として、2つの散乱線分布F,Fにより複合散乱線分布G(第2の散乱線分布)が規定される。この場合の式(3)は式(5)のようになり、式(4)のgを最小とするような重み係数α,αにより、複合散乱線分布Gが求められる。 For example, in the above example, the composite scattered radiation distribution G (second scattered radiation distribution) is defined by the two scattered radiation distributions F 1 and F 2 as the plurality of scattered radiation distributions in the entire region. The formula (3) in this case becomes like the formula (5), and the composite scattered radiation distribution G is obtained by the weighting factors α 1 and α 2 that minimize g in the formula (4).

なお、本実施形態では、全領域の複数の散乱線分布として、コンプトン散乱とレイリー散乱の2つの散乱線分布を利用する例を示したが、本実施形態はこれに限られない。全領域の散乱線分布は、空間で一様な関数であってもよいし、空間に対して線形に変化する関数でもよい。本実施形態では、1次(線形)の加重和を用いたが、n次の加重和に拡張してもよい。また、ガウス分布が全領域の散乱線分布として利用されてもよい。また、複数の散乱回数を想定した散乱線分布が推定され、全領域の散乱線分布として利用してもよい。 In the present embodiment, an example in which two scattered ray distributions of Compton scattering and Rayleigh scattering are used as the plurality of scattered ray distributions in the entire area has been shown, but the present embodiment is not limited to this. The scattered radiation distribution in the entire region may be a function that is uniform in space or a function that changes linearly with respect to space. In the present embodiment, the first-order (linear) weighted sum is used, but the weighted sum may be extended to the n-th order. Further, a Gaussian distribution may be used as the scattered ray distribution in the entire area. Further, a scattered radiation distribution assuming a plurality of scattering times may be estimated and used as the scattered radiation distribution in the entire region.

また、必要に応じて、表示部110は、散乱線分布C(第1の散乱線分布)、複合散乱線分布G(第2の散乱線分布)、散乱線分布F、及び重み係数αを表示する。これにより、オペレータが、処理結果を確認したり評価したりすることができる。 Further, the display unit 110 may display the scattered radiation distribution C (first scattered radiation distribution), the composite scattered radiation distribution G (second scattered radiation distribution), the scattered radiation distribution F i , and the weighting factor α i as necessary. Is displayed. This allows the operator to confirm and evaluate the processing result.

本実施形態によれば、散乱線分布C(第1の散乱線分布)に合致するように、複数の散乱線分布の加重和(第2の散乱線分布)を調整することで、精度の高い全領域の散乱線を推定することができる。 According to the present embodiment, the weighted sum (second scattered ray distribution) of a plurality of scattered ray distributions is adjusted so as to match the scattered ray distribution C (first scattered ray distribution), thereby achieving high accuracy. It is possible to estimate scattered rays in the entire area.

以上、特定の実施形態を説明したが、本発明はこれらの実施形態に限らず、特許請求の範囲を逸脱しない限りにおいて、種々の変形例及び応用例を包含する。 Although the specific embodiments have been described above, the present invention is not limited to these embodiments and includes various modifications and applications without departing from the scope of the claims.

本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ(CPUやMPUなど)がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。 The present invention supplies software (program) that realizes the functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or various storage media, and a computer (CPU, MPU, etc.) of the system or apparatus reads the program. It may be executed. The present invention can also be realized by a process in which one or more processors in a computer of a system or an apparatus read and execute a program, and can also be realized by a circuit (for example, ASIC) that realizes one or more functions.

101 放射線発生部
104 検出部
105 第1の測定部
106 第2の測定部
107 第1の推定部
110 表示部
508,808 第2の推定部
509,809 補正部

101 Radiation generation unit 104 Detection unit 105 First measurement unit 106 Second measurement unit 107 First estimation unit 110 Display units 508 and 808 Second estimation units 509 and 809 Correction unit

Claims (12)

被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段と
を備え
前記第1の推定手段は、前記第2の検出データが前記第1の検出データより大きい範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする放射線撮影装置。
First measuring means for measuring the first detection data of the radiation emitted without placing the subject ,
Second measuring means for measuring second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
A first estimation means for estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data ,
It said first estimation means, the second detection data is greater extent than the first detection data, radiographic apparatus, characterized that you defined as a range other than the projection range.
被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段と
を備え、
前記推定手段は、前記第1の検出データ及び前記第2の検出データの差により、前記第1の散乱線分布を推定することを特徴とする放射線撮影装置。
First measuring means for measuring the first detection data of the radiation emitted without placing the subject,
Second measuring means for measuring second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
First estimating means for estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data.
Equipped with
It said estimating means, wherein the first detection data and the difference between the second detection data, the first scatter distribution release you and estimates ray imaging apparatus.
前記第1の推定手段は、前記第2の検出データが前記第1の検出データより大きい範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする請求項2に記載の放射線撮影装置。 The radiation imaging apparatus according to claim 2 , wherein the first estimating unit defines a range in which the second detection data is larger than the first detection data as a range other than the projection range. 前記第1の推定手段は、前記第1の検出データを前記第2の検出データから減算した値が所定の閾値を超える範囲を、前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮影装置。 The first estimating means defines a range in which a value obtained by subtracting the first detection data from the second detection data exceeds a predetermined threshold as a range other than the projection range. The radiation imaging apparatus according to any one of 1 to 3. 前記第2の検出データに基づいて、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記放射線の第2の散乱線分布を推定する第2の推定手段と、
前記第2の散乱線分布を前記第1の散乱線分布に近似させることにより、前記第2の散乱線分布を補正する補正手段と
を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
Second estimating means for estimating a second scattered radiation distribution of the radiation in the projection range and a range other than the projection range based on the second detection data;
5. A correction unit that corrects the second scattered radiation distribution by approximating the second scattered radiation distribution to the first scattered radiation distribution, according to any one of claims 1 to 4. The radiation imaging apparatus according to item.
被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する第1の測定手段と、 First measuring means for measuring the first detection data of the radiation emitted in a state where the subject is not placed,
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する第2の測定手段と、 Second measuring means for measuring second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する第1の推定手段と、 First estimating means for estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data,
前記第2の検出データに基づいて、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記放射線の第2の散乱線分布を推定する第2の推定手段と、 Second estimating means for estimating a second scattered radiation distribution of the radiation in the projection range and a range other than the projection range based on the second detection data;
前記第2の散乱線分布を前記第1の散乱線分布に近似させることにより、前記第2の散乱線分布を補正する補正手段と Correction means for correcting the second scattered radiation distribution by approximating the second scattered radiation distribution to the first scattered radiation distribution;
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。 A radiation imaging apparatus comprising:
前記補正手段は、前記投影範囲以外の範囲における前記第2の散乱線分布が前記第1の散乱線分布に近似するように、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記第2の散乱線分布の値を定数倍することにより、前記第2の散乱線分布を補正することを特徴とする請求項5又は6に記載の放射線撮影装置。 The correction means causes the second scattered radiation in the projection range and the range other than the projection range so that the second scattered radiation distribution in the range other than the projection range approximates to the first scattered radiation distribution. by constant multiple of the value of the distribution, the radiation imaging apparatus according to claim 5 or 6, characterized in that to correct the second scattered radiation distribution. 放射線を照射する放射線発生手段と、
請求項1乃至7のいずれか1項に記載の放射線撮影装置と、
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
Radiation generating means for irradiating radiation,
A radiation imaging apparatus according to claim 1;
A radiation imaging system comprising:
被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する工程と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する工程と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する工程と
を備え
前記推定する工程において、前記第2の検出データが前記第1の検出データより大きい範囲を前記投影範囲以外の範囲として規定することを特徴とする放射線撮影方法。
Measuring the first detection data of the radiation emitted without placing the subject ,
Measuring the second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
Estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data ,
Wherein in the step of estimating, radiographic wherein said second detection data and defining to said Rukoto greater extent than the first detection data as a range other than the projection range.
被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する工程と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する工程と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する工程と
を備え、
前記推定する工程において、前記第1の検出データ及び前記第2の検出データの差により、前記第1の散乱線分布を推定することを特徴とする放射線撮影方法。
Measuring the first detection data of the radiation emitted without placing the subject,
Measuring the second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
Estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data;
Equipped with
In the step of the estimating, the by the first detection data and the difference between the second detection data, radiographic wherein that you estimate the first scattered radiation distribution.
被検体を配置しない状態で照射された放射線の第1の検出データを測定する工程と、
前記被検体を配置した状態で照射された放射線の第2の検出データを測定する工程と、
前記第1の検出データ及び第2の検出データに基づいて、前記被検体の投影範囲以外の範囲における前記放射線の第1の散乱線分布を推定する工程と
前記第2の検出データに基づいて、前記投影範囲及び前記投影範囲以外の範囲における前記放射線の第2の散乱線分布を推定する工程と、
前記第2の散乱線分布を前記第1の散乱線分布に近似させることにより、前記第2の散乱線分布を補正する工程と、
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
Measuring the first detection data of the radiation emitted without placing the subject,
Measuring the second detection data of the radiation emitted in the state where the subject is arranged;
Estimating a first scattered radiation distribution of the radiation in a range other than the projection range of the subject based on the first detection data and the second detection data;
Estimating a second scattered radiation distribution of the radiation in the projection range and a range other than the projection range based on the second detection data;
Correcting the second scattered radiation distribution by approximating the second scattered radiation distribution to the first scattered radiation distribution,
Radiographic method comprising Rukoto equipped with.
コンピュータを請求項1乃至7の何れか1項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。 A program for causing a computer to function as each unit of the radiation imaging apparatus according to claim 1.
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