JP6731603B1 - 検査システム - Google Patents
検査システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6731603B1 JP6731603B1 JP2019535411A JP2019535411A JP6731603B1 JP 6731603 B1 JP6731603 B1 JP 6731603B1 JP 2019535411 A JP2019535411 A JP 2019535411A JP 2019535411 A JP2019535411 A JP 2019535411A JP 6731603 B1 JP6731603 B1 JP 6731603B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- determination
- defective product
- machine learning
- characteristic data
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 85
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 claims abstract description 123
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 127
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 17
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 16
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 20
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 16
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000013527 convolutional neural network Methods 0.000 description 4
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 4
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32193—Ann, neural base quality management
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32368—Quality control
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/04—Architecture, e.g. interconnection topology
- G06N3/045—Combinations of networks
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
Description
Claims (16)
- 複数の実施用対象物のそれぞれの特徴データに基づいて、当該複数の実施用対象物のそれぞれが所定の品質を有することを表す良品であるか該品質を有さないことを表す不良品であるか第1判定を行う機械学習器と、
前記第1判定により前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物に対して選択的に、前記機械学習器によらず前記良品であるか前記不良品であるか第2判定が行われた結果、前記複数の実施用対象物の中から、前記第1判定では不良品と判定され、前記第2判定では良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを取得する特徴データ取得部と、
前記特徴データ取得部により取得される前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新するパラメータ更新部と、
を含み、
前記第1判定を行う前の前記機械学習器は、予め前記良品であるか前記不良品であるか判明している試験用対象物に対して判定を行った場合に、前記不良品である前記試験用対象物が前記良品であると判定される確率が0%または許容される誤差以下となるように学習が実行済である検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、前記学習パラメータを更新する際に、前記第1判定では良品と判定され、前記第2判定では不良品であるとの判定結果が得られる前記実施用対象物の前記特徴データを用いない、
請求項1に記載の検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、更に、前記第1判定により前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物のうち、前記第2判定により前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項1に記載の検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、前記第2判定において前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データの数が、前記第2判定において前記良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データの数と実質的に同程度となるように抽出された前記特徴データを含む教師データに基づいて、前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項3に記載の検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、前記第2判定において前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物のうち、該実施用対象物が前記良品である度合いに基づいて選択された前記実施用対象物の前記特徴データを含む教師データに基づいて、前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項3または4に記載の検査システム。 - 前記機械学習器は、基本教師データに基づいて予め学習されており、
前記パラメータ更新部は、更に、前記基本教師データの少なくとも一部に基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項1に記載の検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、更に、前記第1判定において前記良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項1に記載の検査システム。 - 前記第1判定において前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物のうち、前記第2判定において前記良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物について、該判定結果を判定者が入力する端末装置を更に含む、
請求項1〜7のいずれか1項に記載の検査システム。 - 前記端末装置は、前記第1判定において前記不良品であると判定された前記実施用対象
物の前記特徴データを選択的に表示する表示部を含む、
請求項8に記載の検査システム。 - 前記実施用対象物を搬送する搬送装置を更に含み、
前記表示部は、搬送される前記実施用対象物のうち、前記判定者に最も近接した1の前記実施用対象物の特徴データを表示する、
請求項9に記載の検査システム。 - 前記搬送される実施用対象物に処理を施す処理部と、前記処理の結果に基づいて前記特徴データを取得する特徴データ取得部と、を有するロボットと、
前記特徴データ取得部が取得した前記特徴データを記憶する特徴データ記憶部と、を更に含む、
請求項10に記載の検査システム。 - 前記機械学習器は、前記良品である度合いを表すスコアを前記実施用対象物ごとに算出し、前記スコアが所定の第1閾値より大きいか否かに基づいて、前記良品であるか前記不良品であるかを判定する、
請求項1〜11のいずれか1項に記載の検査システム。 - 前記パラメータ更新部は、前記第2判定において前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物のうち、前記スコアと所定の第2閾値とを比較して選択された前記実施用対象物の前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する、
請求項12に記載の検査システム。 - 複数の実施用対象物のそれぞれの特徴データに基づいて、当該複数の実施用対象物のそれぞれが所定の品質を有することを表す良品であるか該品質を有さないことを表す不良品であるか第1判定を行う機械学習器を含む検査装置において、前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを選択的に表示する表示部と、
前記検査装置において前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物について、前記表示部により表示される前記特徴データに基づく、前記良品であるか前記不良品であるかの判定者による第2判定の判定結果を入力する入力部と、
入力される前記判定結果を前記検査装置に送信する通信部と、
を含み、
前記第1判定を行う前の前記機械学習器は、予め前記良品であるか前記不良品であるか判明している試験用対象物に対して判定を行った場合に、前記不良品である前記試験用対象物が前記良品であると判定される確率が0%または許容される誤差以下となるように学習が実行済である端末装置。 - 複数の実施用対象物のそれぞれの特徴データに基づいて、機械学習器により、当該複数の実施用対象物のそれぞれが所定の品質を有することを表す良品であるか該品質を有さないことを表す不良品であるか第1判定を行う工程と、
前記第1判定により前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物に対して選択的に、前記機械学習器によらず前記良品であるか前記不良品であるか第2判定を行う工程と、
前記複数の実施用対象物の中から、前記第1判定では不良品と判定され、前記第2判定では良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを取得する工程と、
取得される前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する工程と、
を含み、
前記第1判定を行う前の前記機械学習器は、予め前記良品であるか前記不良品であるか判明している試験用対象物に対して判定を行った場合に、前記不良品である前記試験用対象物が前記良品であると判定される確率が0%または許容される誤差以下となるように学習が実行済である検査方法。 - 複数の実施用対象物のそれぞれの特徴データに基づいて、機械学習器により、当該複数の実施用対象物のそれぞれが所定の品質を有することを表す良品であるか該品質を有さないことを表す不良品であるか第1判定を行う判定ステップと、
前記第1判定により前記不良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物に対して選択的に、前記機械学習器によらず前記良品であるか前記不良品であるか第2判定を行う判定ステップと、
前記複数の実施用対象物の中から、前記第1判定では不良品と判定され、前記第2判定では良品であるとの判定結果が得られた前記実施用対象物の前記特徴データを取得する取得ステップと、
取得される前記特徴データを含む教師データに基づいて前記機械学習器の学習パラメータを更新する更新ステップと、
をコンピュータに実行させ、
前記第1判定を行う前の前記機械学習器は、予め前記良品であるか前記不良品であるか判明している試験用対象物に対して判定を行った場合に、前記不良品である前記試験用対象物が前記良品であると判定される確率が0%または許容される誤差以下となるように学習が実行済であるプログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2019/008172 WO2020178913A1 (ja) | 2019-03-01 | 2019-03-01 | 検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6731603B1 true JP6731603B1 (ja) | 2020-07-29 |
JPWO2020178913A1 JPWO2020178913A1 (ja) | 2021-03-11 |
Family
ID=71738571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019535411A Active JP6731603B1 (ja) | 2019-03-01 | 2019-03-01 | 検査システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US12111643B2 (ja) |
JP (1) | JP6731603B1 (ja) |
CN (1) | CN113366528B (ja) |
WO (1) | WO2020178913A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7517432B2 (ja) | 2020-08-20 | 2024-07-17 | 日本電気株式会社 | 学習装置、学習済みモデル生成方法、及びプログラム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016084336A1 (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | 日本電気株式会社 | 追学習装置、追学習方法、および、記憶媒体 |
WO2018038123A1 (ja) * | 2016-08-22 | 2018-03-01 | キユーピー株式会社 | 食品検査装置、食品検査方法及び食品検査装置の識別手段の学習方法 |
WO2018154562A1 (en) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | D.I.R. Technologies (Detection Ir) Ltd. | A system and method for the inspection and detection of coating defects |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006098152A (ja) * | 2004-09-29 | 2006-04-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 欠陥検出装置および欠陥検出方法 |
JP5441728B2 (ja) * | 2010-01-15 | 2014-03-12 | パナソニック株式会社 | 官能検査装置及び官能検査方法 |
JP6951659B2 (ja) | 2017-05-09 | 2021-10-20 | オムロン株式会社 | タスク実行システム、タスク実行方法、並びにその学習装置及び学習方法 |
CN107607554A (zh) * | 2017-09-26 | 2018-01-19 | 天津工业大学 | 一种基于全卷积神经网络的镀锌冲压件的瑕疵检测与分类方法 |
JP6979900B2 (ja) * | 2018-02-13 | 2021-12-15 | 株式会社荏原製作所 | 基板保持部材、基板処理装置、基板処理装置の制御方法、プログラムを格納した記憶媒体 |
CN108682003B (zh) * | 2018-04-04 | 2021-10-08 | 睿视智觉(厦门)科技有限公司 | 一种产品质量检测方法 |
-
2019
- 2019-03-01 JP JP2019535411A patent/JP6731603B1/ja active Active
- 2019-03-01 CN CN201980090799.9A patent/CN113366528B/zh active Active
- 2019-03-01 WO PCT/JP2019/008172 patent/WO2020178913A1/ja active Application Filing
-
2021
- 2021-08-23 US US17/408,487 patent/US12111643B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016084336A1 (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | 日本電気株式会社 | 追学習装置、追学習方法、および、記憶媒体 |
WO2018038123A1 (ja) * | 2016-08-22 | 2018-03-01 | キユーピー株式会社 | 食品検査装置、食品検査方法及び食品検査装置の識別手段の学習方法 |
WO2018154562A1 (en) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | D.I.R. Technologies (Detection Ir) Ltd. | A system and method for the inspection and detection of coating defects |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7517432B2 (ja) | 2020-08-20 | 2024-07-17 | 日本電気株式会社 | 学習装置、学習済みモデル生成方法、及びプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2020178913A1 (ja) | 2021-03-11 |
CN113366528B (zh) | 2024-06-21 |
WO2020178913A1 (ja) | 2020-09-10 |
US20210382467A1 (en) | 2021-12-09 |
US12111643B2 (en) | 2024-10-08 |
CN113366528A (zh) | 2021-09-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107263464B (zh) | 机器学习装置、机械系统、制造系统以及机器学习方法 | |
JP6031202B1 (ja) | 製造機械の異常の原因を発見するセル制御装置 | |
CN109816624B (zh) | 外观检查装置 | |
EP3733355A1 (en) | Robot motion optimization system and method | |
TWI760916B (zh) | 用於工廠自動化生產線之製造系統 | |
US20180275631A1 (en) | Control system, control device, and control method | |
CN114355953B (zh) | 一种基于机器视觉的多轴伺服系统的高精度控制方法及系统 | |
CN107553496B (zh) | 机械臂逆运动学求解方法误差的确定及校正方法和装置 | |
JP2020024484A (ja) | 制御システムおよび制御装置 | |
US20220291670A1 (en) | Control data extraction and evaluation of production system | |
CN109877828B (zh) | 机器点位调试方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
JP6731603B1 (ja) | 検査システム | |
CN110340884B (zh) | 测定动作参数调整装置、机器学习装置以及系统 | |
CN114131149B (zh) | 一种基于CenterNet的激光视觉焊缝跟踪系统、设备及存储介质 | |
CN114407012B (zh) | 机器人运动校准方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
US20200202178A1 (en) | Automatic visual data generation for object training and evaluation | |
JP2022002043A (ja) | 設備監視システム | |
JP7492080B2 (ja) | 加工条件推定装置 | |
CN116197918B (zh) | 基于动作记录分析的机械手控制系统 | |
CN113902910B (zh) | 一种视觉测量方法及系统 | |
US20190287189A1 (en) | Part supply amount estimating device and machine learning device | |
JP2004326732A (ja) | シミュレーション用ロボットの誤差パラメータ同定方法 | |
Fortuny Cuartielles | Study of the Optimal and Stable Robotic Grasping Using Visual-Tactile Fusion and Machine Learning | |
CN118342514A (zh) | 目标识别与定位方法、装置及介质 | |
Tilloo et al. | Give Me a Wrench!: Finding Tools for Human Partners in Human-Robot Collaborative Manufacturing Contexts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190717 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20190717 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20190807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190910 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200302 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200407 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200507 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200602 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200615 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6731603 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |