JP6679164B2 - Label manufacturing equipment - Google Patents

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Description

本発明は、連続基材上に順次形成されるラベルの良品、不良品を判別し、不良品を排除して良品を補充するラベル製造装置に関する。   The present invention relates to a label manufacturing apparatus that discriminates a good product and a bad product of a label sequentially formed on a continuous base material, eliminates the defective product, and replenishes the good product.

近年、大量の製品にラベル貼付する場合に、連続台紙上にラベルを形成していき、良品のラベルのみを順次製品に貼付することが行われている。そして、連続台紙上に形成されたラベルを良品のみとする場合に、形成されたラベルを全品検査し、判別した不良品のラベルを容易かつ確実に排除し、排除した位置に良品のラベルを補充する必要がある。   In recent years, when a large number of products are to be labeled, labels are formed on a continuous mount and only non-defective labels are sequentially attached to the products. Then, when only non-defective products are used as the labels formed on the continuous mount, all the formed labels are inspected, and the judged defective products are easily and surely eliminated, and the non-defective products are replenished at the excluded positions. There is a need to.

従来、ラベル製造において不良品ラベルを排除するものとして、種々の技術が提案されている。例えば、特許文献1には、連続状のラベル用紙に連続して形成されたRFIDラベルとの通信状態により良否を判定し、剥離ローラを回転させ、又は、テンション調整機構及び剥離機構により不良と判定したRFIDラベルを台紙から剥離してトレイに回収するRFIDラベル検品装置が提案されている。   Conventionally, various techniques have been proposed to eliminate defective labels in label manufacturing. For example, in Patent Document 1, the quality is determined by the communication state with the RFID label continuously formed on the continuous label paper, the peeling roller is rotated, or the tension adjustment mechanism and the peeling mechanism determine the defect. There is proposed an RFID label inspection device that peels the RFID label from the mount and collects it on a tray.

また、特許文献1のテンション調整機構を用いずに、すなわち連続状のラベルに対してテンションを与えずに不良品ラベル排除する技術として、例えば特許文献2には、リーダ/ライタにおいて、剥離紙に貼付されたICラベルの良品/不良品を検査し、その後、不良ラベル回収ローラによって、不良品であるとされたICラベルを剥離紙から剥離して回収し、また、不良ラベル回収ローラにて回収されたICラベルを、不良ラベル回収紙によって不良ラベル回収ローラから剥離して回収するラベル貼付装置が提案されている。   Further, as a technique of eliminating defective labels without using the tension adjusting mechanism of Patent Document 1, that is, without applying tension to continuous labels, for example, in Patent Document 2, in a reader / writer, peeling paper is used. Inspect good / defective IC labels that have been pasted, then collect defective IC labels by separating them from the release paper with the defective label collection roller, and collect with the defective label collection roller. There has been proposed a label sticking apparatus that peels the collected IC label from the defective label collecting roller with a defective label collecting paper and collects it.

特開2006−163838号公報JP, 2006-163838, A 特開2008−114904号公報JP 2008-114904 A

しかしながら、特許文献1では、不良のRFIDラベルを台紙から剥離してトレイに回収するにあたり、剥離されたRFIDラベルの粘着層で当該トレイに移行されず確実な受け渡しが行われない場合があるという問題がある。また、特許文献2で提案されているラベル貼付装置は特許文献1のようなテンション調整機構を必要としないが、不良ラベル回収ローラは、搬送されてきた良品/不良品のラベルに対して回転、非回転としなければならず、回転制御が複雑になるという問題があると共に、不良ラベル回収ローラには不良ラベルが全面で接着されており、当該不良ラベルの不良ラベル回収ローラより不良ラベル回収紙への受け渡しができない場合が生じるという問題がある。   However, in Patent Document 1, when the defective RFID label is peeled from the mount and collected in the tray, the adhesive layer of the peeled RFID label may not be transferred to the tray and reliable delivery may not be performed. There is. Further, the label sticking device proposed in Patent Document 2 does not require the tension adjusting mechanism as in Patent Document 1, but the defective label collecting roller rotates with respect to the conveyed non-defective / defective label, Since it has to be non-rotating, there is a problem that the rotation control becomes complicated, and the defective label is adhered on the entire surface to the defective label collecting roller. There is a problem that it may not be possible to deliver.

そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたもので、不良ラベルを確実に受け渡して回収させるラベル製造装置を提供することを目的とする。   Then, this invention is made | formed in view of the said subject, and an object of this invention is to provide the label manufacturing apparatus which delivers and collects a defective label reliably.

上記課題を解決するために、請求項1の発明では、少なくとも連続状の剥離体上に剥離自在にラベル粘着層を介して型抜きされたラベル所定間隔で形成され、当該各ラベルが良品か否かが検査されて不良品と判別されている不良ラベルを不良ラベル除去手段により除去するラベル製造装置であって、前記不良ラベル除去手段は、軸方向上の周面に所定数の第1粘着部及び所定数の第1非粘着部が隣接されて形成され、前記不良ラベルの搬送方向に対する幅方向の一部のラベル粘着層の反対側を当該第1粘着部で接着保持して前記剥離体より剥離させる不良ラベル取得ローラと、周面の軸方向上の全部又は一部に、少なくとも前記不良ラベル取得ローラの第1非粘着部に対応する位置に第2粘着部が形成され、当該不良ラベル取得ローラで接着保持された前記不良ラベルのラベル粘着層側を当該第2粘着部で接着保持して回収する不良ラベル回収ローラと、を有する構成とする。
In order to solve the above problems, the invention of claim 1, label stamped through a universal labeled adhesive layer peeling on at least a continuous form of the release member is formed at predetermined intervals, abut respective label A label manufacturing apparatus that removes a defective label, which has been inspected as a non-defective product and is determined to be a defective product, by a defective label removing unit, wherein the defective label removing unit includes a predetermined number of One adhesive portion and a predetermined number of first non-adhesive portions are formed adjacent to each other, and the opposite side of a part of the label adhesive layer in the width direction with respect to the conveyance direction of the defective label is adhesively held by the first adhesive portion. A defective label acquisition roller to be peeled from the peeling body, and a second adhesive portion is formed on at least a position corresponding to the first non-adhesive portion of the defective label acquisition roller on all or a part of the circumferential surface in the axial direction. Contact with defective label acquisition roller Label adhesive layer side of the held the defective label configured to have a, a defective label recovery roller for recovering adhering held in the second adhesive portion.

本発明によれば、ラベル製造における工程中の不良ラベル除去手段に、不良ラベル取得ローラ及び不良ラベル回収ローラを備えさせ、不良ラベル取得ローラに、軸方向上の周面に所定数の第1粘着部及び所定数の第1非粘着部を隣接させて形成させて不良ラベルの搬送方向に対する幅方向の一部のラベル粘着層層の反対側を当該第1粘着部で接着保持して剥離体より剥離させ、不良ラベル回収ローラに、周面の軸方向上の全部又は一部に、少なくとも上記第1非粘着部に対応する位置に第2粘着部を形成させて不良ラベル取得ローラで接着保持された不良ラベルのラベル粘着層側を当該第2粘着部で接着保持して回収する構成とすることにより、テンション調整機構を設けることなく、かつ不良ラベル取得ロール及び不良ラベル回収ロールを複雑な回転制御をさせることなく、不良ラベル取得ロールで確実に不良ラベルを接着保持させ、不良ラベル回収ロールに確実に受け渡すことができるものである。
According to the present invention, the defective label removing means in the process of manufacturing the label is provided with the defective label acquisition roller and the defective label collecting roller, and the defective label acquisition roller has a predetermined number of first adhesives on the circumferential surface in the axial direction. Part and a predetermined number of first non-adhesive portions are formed adjacent to each other, and the opposite side of a part of the label adhesive layer layer in the width direction with respect to the conveyance direction of the defective label is adhered and held by the first adhesive portion and separated from the peeling body. The defective label collecting roller is peeled off, and a second adhesive portion is formed on all or a part of the circumferential surface in the axial direction at least at a position corresponding to the first non-adhesive portion, and is adhered and held by the defective label acquisition roller. By adopting a configuration in which the label adhesive layer side of the defective label is adhered and held by the second adhesive portion and collected, a defective label acquisition roll and a defective label collection roll can be provided without providing a tension adjusting mechanism. Without a miscellaneous rotation control, reliably defective labels defective label obtaining rolls adhered held, in which can be passed reliably received bad label recovery roll.

本発明に係るラベル製造装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the label manufacturing apparatus which concerns on this invention. 図1の不良ラベル除去手段の説明図である。It is explanatory drawing of the defective label removal means of FIG. 図1の連続ラベルの説明図である。It is explanatory drawing of the continuous label of FIG. 図1及び図2の不良ラベル除去の動作説明図(1)である。It is operation | movement explanatory drawing (1) of defective label removal of FIG.1 and FIG.2. 図1及び図2の不良ラベル除去の動作説明図(2)である。FIG. 3 is an explanatory diagram (2) of the operation of removing the defective label of FIGS. 1 and 2. 図2の不良ラベル除去手段の他の構成の説明図(1)である。It is explanatory drawing (1) of another structure of the defective label removal means of FIG. 図2の不良ラベル除去手段の他の構成の説明図(2)である。It is explanatory drawing (2) of another structure of the defective label removal means of FIG. 図2の不良ラベル除去手段の他の構成の説明図(3)である。It is explanatory drawing (3) of another structure of the defective label removal means of FIG.

以下、本発明の実施形態を図により説明する。本実施形態では、ラベルについて、RFIDラベルのように通信機能を備えるICラベルとして説明するが、例えば所定の情報が印刷された印刷ラベルについても適用することができるものである。また、本実施形態では、剥離体上にICラベル(ICモジュール)を一列で形成される場合を示したが、多列に形成させる場合に対して当該一列に対する構成部分を列ごとに配置することにより適用することができるものである。なお、「ICラベル」の用語は、型抜き後のものとして使用すると共に、型抜きされる以前もの、すなわちICラベルの主要素であるICモジュールを含む領域のものとしても使用する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, the label will be described as an IC label having a communication function such as an RFID label, but the present invention can also be applied to a print label on which predetermined information is printed, for example. Further, in the present embodiment, the case where the IC labels (IC modules) are formed on the peeling body in a single row has been described, but in the case where the IC labels (IC modules) are formed in multiple rows, the components for the single row should be arranged in each row. It can be applied by. The term "IC label" is used not only after being die-cut, but also before being die-cut, that is, as a region including an IC module which is a main element of the IC label.

図1に本発明に係るラベル製造装置の概略構成図を示すと共に、図2に図1の不良ラベル除去手段の説明図を示し、図3に図1の連続ラベルの説明図を示す。図1において、ラベル製造装置11は、装置全体を制御する制御手段は図示しないが、連続ラベル供給部12より図3で説明する連続ラベル31が供給されるもので、搬送方向上にラベル検査部13、型抜き手段及び搬送ローラ16(16A,16B)が配置される。上記ラベル検査部13は、連続ラベル31上に形成されたICラベル36の主要素であるICモジュール35と通信を行い、良品か否かを判別する。なお、連続ラベル供給部12より供給される連続ラベル31が、ラベル製造工程中の前段階の工程で良否が事前検査され、当該検査結果を用いる場合には上記ラベル検査部13は不要となる。   FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of the label manufacturing apparatus according to the present invention, FIG. 2 shows an explanatory view of the defective label removing means of FIG. 1, and FIG. 3 shows an explanatory view of the continuous label of FIG. In FIG. 1, the label manufacturing apparatus 11 does not show a control means for controlling the entire apparatus, but the continuous label supply unit 12 supplies the continuous label 31 described in FIG. 13, a die-cutting means and a conveying roller 16 (16A, 16B) are arranged. The label inspection unit 13 communicates with the IC module 35, which is the main element of the IC label 36 formed on the continuous label 31, to determine whether it is a non-defective product. The quality of the continuous label 31 supplied from the continuous label supply unit 12 is preliminarily inspected in a previous step in the label manufacturing process, and when the inspection result is used, the label inspection unit 13 is not necessary.

上記型抜き手段は、型抜き刃14及び連続ラベル31を挟んで設けられる受け胴15で構成される。型抜きは剥離体32ではハーフカット状態で行われる。上記搬送ローラ16A,16Bからは、分かれて良品及び不良品の総てのICラベルが型抜きされた後のカスと称されるラベル表面体34の不要体が不要体巻取部17で巻き取られる一方、剥離体(32)上で型抜きされた良品及び不良品の総てのICラベルが接着されて搬送される。   The die-cutting means is composed of a receiving cylinder 15 provided with the die-cutting blade 14 and the continuous label 31 sandwiched therebetween. Die cutting is performed in the peeling body 32 in a half-cut state. An unnecessary body of the label surface body 34 called a scrap after all the good and defective IC labels are separated from the transport rollers 16A and 16B and is taken up by the unnecessary body winding unit 17. On the other hand, all the good and defective IC labels die-cut on the peeling body (32) are adhered and conveyed.

上記剥離体32の搬送方向上に、後述する不良ラベル除去手段、ラベル検知部18、良品ラベル補充部19が配置される。当該ラベル検知部18は、不良ラベルが除去された後の当該ラベルが存在していた空白領域の位置を検知するもので、検知精度は別として、例えば良品として搬送されてきたICラベル(36)の先端を検知し、次のICラベルの先端を検知したときの時間で空白領域か否かを判別させ、空白領域の場合に次工程の良品ラベル補充部19に対して当該先のICラベルの先端検知から所定時間後に良品のICラベルを補充させるように制御することにより実現することができる。また、良品ラベル補充部19は、ラベル検知部18で検知された位置に良品のICラベルを貼付して補充するものであり、従前より知られているインレット貼付機構等を適用することができ、ここでは説明を省略する。そして、上記良品ラベル補充部19で良品のICラベルが補充された上記剥離体32を巻き取る剥離体巻取部20が配置されるものである。   A defective label removing unit, a label detecting unit 18, and a non-defective label replenishing unit 19, which will be described later, are arranged in the conveying direction of the peeling body 32. The label detection unit 18 detects the position of the blank area where the label was present after the defective label was removed. Aside from the detection accuracy, for example, an IC label (36) that has been conveyed as a good product. Of the IC label is detected, and whether the area is a blank area or not is determined by the time when the edge of the next IC label is detected. This can be achieved by controlling so that the good quality IC label is replenished after a predetermined time from the detection of the leading edge. The non-defective item label replenishing unit 19 is for replenishing and replenishing non-defective IC labels at the positions detected by the label detecting unit 18, and an inlet pasting mechanism or the like which has been conventionally known can be applied. The description is omitted here. Then, a peeling body winding section 20 for winding the peeling body 32 having the good quality IC label replenished by the good quality label replenishing section 19 is arranged.

ところで、図1の構成中、ラベル検知部18及び良品ラベル補充部19を設けずに、不良品のICラベル36Aが除去された状態のラベルロールとしてもよい。この場合、良品ラベル補充は、別装置にてエンコード、補充、検査の工程で総て良品のICラベル36のラベルロールが作製されるものである。   By the way, in the configuration of FIG. 1, the label detecting unit 18 and the non-defective label replenishing unit 19 may be omitted and the label roll may be in a state in which the defective IC label 36A is removed. In this case, the non-defective label replenishment is to produce a label roll of the non-defective IC label 36 in the steps of encoding, replenishment, and inspection in another device.

なお、上記良品ラベル補充部19で良品のICラベルが補充された上記剥離体32に対し、斜め下方に搬送させるローラを介して鋭角に搬送方向を変えるラベル剥離部を配置し、その搬送方向上に剥離体巻取部20を配置し、一方、台紙供給部より剥離剤が形成されている台紙をラベル剥離部に近接させて搬送させて巻き取らせる台紙巻取部を配置する構成を加えてもよく、当該台紙上にラベル剥離部より剥離された良品のICラベルを転着させることとしてもよい。   A label peeling unit that changes the conveying direction to an acute angle via a roller that conveys obliquely downward is arranged with respect to the peeling body 32 that has been filled with a non-defective product IC label by the non-defective label replenishing unit 19 and is located above the conveying direction. The peeling body winding section 20 is arranged on the other hand, and on the other hand, a mount winding section for arranging the mount on which the peeling agent is formed from the mount supply section to be conveyed close to the label peeling section and to be wound up is added. Alternatively, a non-defective IC label peeled off from the label peeling unit may be transferred onto the mount.

上記不良ラベル除去手段は、連続ラベル(31)の搬送速度と同じ速度で回転される不良ラベル取得ローラ26及び不良ラベル回収ローラ27により構成され、適宜送りローラ28を備える。図2において、不良ラベル取得ローラ26は、連続ラベル31側と不良ラベル回収ローラ27側との間で移動自在であり、軸方向上の周面に、例えば例えば軸方向の中央領域を含む部分の位置に単一の第1粘着部26Cが形成されて、その両端に隣接して第1非粘着部26A,26Bが形成される。当該不良ラベル取得ローラ26は、連続ラベル側に移動して不良ICラベル(36A)をその搬送方向に対する幅方向の一部のラベル本体側となるラベル表面体(34)側を当該第1粘着部26Cで接着保持して剥離体(32)より剥離させ、不良ラベル回収ローラ27側に移動する(駆動系は省略する)。なお、不良ラベル取得ローラ26及び不良ラベル回収ローラ27を、不良ICラベルの取得、受け渡し(回収)のときに随時回転させてもよい。   The defective label removing means is composed of a defective label acquisition roller 26 and a defective label collecting roller 27 which are rotated at the same speed as the conveying speed of the continuous label (31), and is appropriately provided with a feed roller 28. In FIG. 2, the defective label acquisition roller 26 is movable between the continuous label 31 side and the defective label collecting roller 27 side, and, for example, on a peripheral surface in the axial direction, for example, a portion including a central region in the axial direction. A single first adhesive portion 26C is formed at the position, and first non-adhesive portions 26A and 26B are formed adjacent to both ends thereof. The defective label acquisition roller 26 moves to the continuous label side and moves the defective IC label (36A) to the label surface body (34) side which is a part of the label body side in the width direction with respect to the transport direction of the first adhesive portion. It is adhered and held at 26C, peeled off from the peeling body (32), and moved to the defective label collecting roller 27 side (driving system is omitted). The defective label acquisition roller 26 and the defective label collection roller 27 may be rotated at any time during acquisition and delivery (collection) of the defective IC label.

上記不良ラベル回収ローラ27は、周面の軸方向上に一部、すなわち軸方向の両端側を含む領域の位置であって、不良ラベル取得ローラ26の第1非粘着部26A,26Bに対応する位置に第2粘着部27A,27Bが形成され、中央領域を含む部分を第2非粘着部27Cとしている。当該不良ラベル回収ローラ27は、当該第2粘着部27A,27Bで移動されてきた不良ラベル取得ローラ26に接着保持された不良ICラベル(36A)をそのラベル粘着層33側で接着保持してより回収する。これらの動作形態は、図4及び図5で説明する。   The defective label collecting roller 27 is a part of the circumferential surface in the axial direction, that is, a position of an area including both ends in the axial direction, and corresponds to the first non-adhesive portions 26A and 26B of the defective label acquisition roller 26. The second adhesive portions 27A and 27B are formed at the positions, and the portion including the central region is the second non-adhesive portion 27C. The defective label collecting roller 27 bonds and holds the defective IC label (36A) adhered and held by the defective label acquisition roller 26 moved by the second adhesive portions 27A and 27B on the label adhesive layer 33 side. to recover. These operation modes will be described with reference to FIGS. 4 and 5.

ここで、上記連続ラベル31は、図3(A)、(B)に示すように、剥離基体32Aに剥離剤32Aが形成されている連続状の剥離体32(剥離剤32B)上にラベル粘着層33を介してラベル本体となるICチップ及びアンテナで構成されるICモジュール35(後にこれが含まれた領域で型抜きされてICラベル36となる)が所定間隔で連続状に形成されたものである。当該ICモジュール35は、設定された距離で配置された上記ラベル検査部13と通信を行い、良品であるか否かが判別される。そして、ICモジュール35上にラベル基体34A及び粘着層34Bで構成されるラベル表面体34が接着されたものである。なお、連続ラベル31として、ラベル表面体34のラベル基体34Aを、ICモジュール35を形成する単位のラベル基材としてもよく、当該ラベル基材にエッチングアンテナを形成させる場合には上記粘着層34を必要とし、印刷アンテナを形成させる場合には当該粘着層34は不要となる。上記ICモジュール35が良品であるか不良品であるかを問わず、型抜き刃14により周囲に型抜き線41が形成されて型抜きされる。 Here, as shown in FIGS. 3A and 3B, the continuous label 31 is label-adhered on a continuous peeling body 32 (peeling agent 32B) in which a peeling agent 32A is formed on a peeling base 32A. An IC module 35, which is composed of an IC chip and an antenna serving as a label body, which is later die-cut into an IC label 36 through a layer 33, is formed in a continuous manner at predetermined intervals. is there. The IC module 35 communicates with the label inspection unit 13 arranged at the set distance, and determines whether it is a non-defective product. The label surface body 34 composed of the label base 34A and the adhesive layer 34B is adhered onto the IC module 35. Incidentally, as a continuous label 31, the label substrate 34A of the label surface 34, may be a label base of the units forming the IC module 35, the adhesive layer 34 B in the case of forming the etched antenna to the label base Is required, and the adhesive layer 34 B becomes unnecessary when forming a printed antenna. Regardless of whether the IC module 35 is a good product or a defective product, a die-cutting blade 41 is formed around the die-cutting blade 14 to perform die-cutting.

そこで、図4及び図5に、図1及び図2の不良ラベル除去の動作説明図を示す。まず、不良ラベル取得ローラ26、不良ラベル回収ローラ27及び送りローラ28は、連続ラベル(連続状の剥離体32)の搬送速度と同じ速度で回転されるものであり、図上の左から右方向を搬送方向として送りローラ28は時計方向に回転され、不良ラベル取得ローラ26は搬送方向と順方向となる反時計方向に回転され、不良ラベル回収ローラ27は時計方向に回転される。なお、搬送方向を右から左方向とした場合には、回転方向は逆となる。   Therefore, FIGS. 4 and 5 are explanatory views of the operation of removing the defective label in FIGS. 1 and 2. First, the defective label acquisition roller 26, the defective label collection roller 27, and the feed roller 28 are rotated at the same speed as the conveying speed of the continuous label (continuous peeling body 32). The feed roller 28 is rotated in the clockwise direction, the defective label acquisition roller 26 is rotated in the counterclockwise direction which is the forward direction with respect to the conveyance direction, and the defective label collecting roller 27 is rotated in the clockwise direction. Note that when the transport direction is from right to left, the rotation direction is opposite.

搬送される剥離体32上のICラベルがラベル検査部13で良品と判別され、当該良品のICラベル36の通過時には不良ラベル取得ローラ26は不良ラベル回収ローラ27側に移動しており、当該不良ラベル回収ローラ27と接触状態とされる(図4(A))。不良ICラベル36Aの通過時には(図4(B))、図4(C)に示すように、不良ラベル取得ローラ26が連続ラベル(連続状の剥離体32)側に移動され、当該不良ICラベル36Aのラベル本体側となるラベル表面体34側の先端部分であり、不良ICラベル36Aの搬送方向に対する幅方向の一部に対応する中央領域部分の位置を当該不良ラベル取得ローラ26の第1粘着部26Cにより接着する。この場合、不良ラベル取得ローラ26の第1非粘着部26A,26Bでは接着部分がなく、当該不良ICラベル36A(ラベル表面体34)とは非接着状態となる。   The conveyed IC label on the peeling body 32 is determined to be a non-defective product by the label inspection unit 13, and the defective label acquisition roller 26 has moved to the defective label collection roller 27 side when the IC label 36 of the non-defective product passes, and the defective product concerned is defective. The label collecting roller 27 is brought into contact with the label collecting roller 27 (FIG. 4A). When passing the defective IC label 36A (FIG. 4B), the defective label acquisition roller 26 is moved to the continuous label (continuous peeling body 32) side as shown in FIG. The position of the central area portion corresponding to a part in the width direction with respect to the conveying direction of the defective IC label 36A, which is the front end portion of the label surface body 34 side which is the label main body side of 36A, is set to the first adhesive of the defective label acquisition roller 26. Bonded by the portion 26C. In this case, the first non-adhesive portions 26A and 26B of the defective label acquisition roller 26 have no adhesive portion and are in a non-adhesive state with the defective IC label 36A (label surface body 34).

上記第1粘着部26Cとラベル表面体34との粘着力は、不良ICラベル36Aのラベル粘着層33と剥離体32との粘着力より強いために、図4(D)に示すように、不良ラベル回収ローラ27の回転により当該不良ICラベル36Aは剥離体32より剥離されていき、全部の剥離後では、図4(E)に示すように、不良ICラベル36Aの長さ方向(搬送方向)で当該第1粘着部26Cと接着状態となって回転される。   Since the adhesive force between the first adhesive portion 26C and the label surface body 34 is stronger than the adhesive force between the label adhesive layer 33 of the defective IC label 36A and the peeling body 32, as shown in FIG. The defective IC label 36A is peeled off from the peeling body 32 by the rotation of the label collecting roller 27, and after the entire peeling, as shown in FIG. 4E, the defective IC label 36A is in the length direction (conveying direction). Then, the first adhesive portion 26C is rotated in an adhesive state.

不良ラベル取得ローラ26の回転で接着状態となった不良ICラベル36Aの回転方向の先端が上側(不良ラベル回収ローラ27側)となるタイミングで当該不良ラベル回収ローラ27が、図5(A)に示すように、不良ラベル回収ローラ27側に移動され、当該不良ICラベル36Aの先端が不良ラベル回収ローラ27に接触することで、不良ラベル36Aのラベル粘着層33と当該不良ラベル回収ローラ27の第2粘着部27A,27Bとが接着する。この場合、不良ラベル回収ローラ27の第2非粘着部27Cでは接着部分がなく、当該不良ICラベル36A(ラベル粘着層33)とは非接着状態となる。   At the timing when the tip of the defective IC label 36A, which has been adhered by the rotation of the defective label acquisition roller 26, becomes the upper side (the defective label collecting roller 27 side), the defective label collecting roller 27 is changed to the one shown in FIG. As shown in the figure, the label is moved to the defective label collecting roller 27 side, and the leading end of the defective IC label 36A comes into contact with the defective label collecting roller 27, so that the label adhesive layer 33 of the defective label 36A and the defective label collecting roller 27 are moved. 2 Adhesive parts 27A and 27B adhere. In this case, the second non-adhesive portion 27C of the defective label collecting roller 27 has no adhesive portion, and is in a non-adhesive state with the defective IC label 36A (label adhesive layer 33).

上記第2粘着部27A,27Bとラベル粘着層33との粘着力は、第1粘着部26Cとラベル表面体34との粘着力より強く、また、第2粘着部27A,27Bが不良ICラベル36Aの幅方向の両端で安定して接着されるために、図5(B)に示すように、不良ラベル取得ローラ26及び不良ラベル回収ローラ27の回転により当該不良ICラベル36Aは不良ラベル取得ローラ26より剥離されていき、全部の剥離によって、図5(C)に示すように、不良ICラベル36Aが当該不良ラベル回収ローラ27に回収されるものである。   The adhesive force between the second adhesive portions 27A and 27B and the label adhesive layer 33 is stronger than the adhesive force between the first adhesive portion 26C and the label surface body 34, and the second adhesive portions 27A and 27B are defective IC labels 36A. 5B, the defective IC label 36A is rotated by the defective label acquisition roller 26 and the defective label collecting roller 27, so that the defective IC label 36A can be adhered to the defective label acquisition roller 26 as shown in FIG. 5B. The defective IC label 36A is further peeled off, and the defective IC label 36A is collected by the defective label collecting roller 27 as shown in FIG. 5C.

このように、特許文献1のようなテンション調整機構を設けることなく、かつ不良ラベル取得ロール26及び不良ラベル回収ロール27を特許文献2のように複雑な回転制御をさせることなく、不良ラベル取得ロール26で確実に不良ICラベル36Aを接着保持させ、不良ラベル回収ロール27に確実に受け渡すことでできるものである。   Thus, without providing the tension adjusting mechanism as in Patent Document 1, and without performing complicated rotation control of the defective label acquisition roll 26 and the defective label collection roll 27 as in Patent Document 2, the defective label acquisition roll The defective IC label 36 </ b> A can be securely adhered and held at 26 and can be reliably delivered to the defective label collecting roll 27.

次に、図6〜図8に、図2の不良ラベル除去手段の他の構成の説明図を示す。図6は、図2に対応して粘着部の位置を逆としたものであって、不良ラベル取得ローラ26では、周面上における不良ICラベル36Aの幅方向の一部に対応する位置に、すなわち軸方向の両端側を含む領域の位置に、当該不良ICラベル36Aをそのラベル表面体34側で接着する第1粘着部26C−1,26C−2を形成し、中央領域を含む部分を第2非粘着部26Aとしている。   Next, FIGS. 6 to 8 show explanatory views of other configurations of the defective label removing means of FIG. In FIG. 6, the position of the adhesive portion is reversed corresponding to FIG. 2, and in the defective label acquisition roller 26, a position corresponding to a part in the width direction of the defective IC label 36A on the peripheral surface is provided. That is, the first adhesive portions 26C-1 and 26C-2 for adhering the defective IC label 36A on the label surface body 34 side are formed at the position of the area including both ends in the axial direction, and the portion including the central area is divided into the first adhesive portion 26C-1 and 26C-2. 2 Non-adhesive portion 26A.

また、不良ラベル回収ローラ27では、周面上における不良ICラベル36Aの搬送方向に対する幅方向の一部に対応する位置に、例えば軸方向の中央領域を含む部分のみの位置であって、不良ラベル取得ローラ26の第1非粘着部26Aに対応する位置に当該不良ICラベル36Aをそのラベル粘着層33側で接着する第2粘着部27Aが形成され、その両端側を第2非粘着部27C−1,27C−2としている。   In the defective label collecting roller 27, for example, only the portion including the central region in the axial direction is located at a position corresponding to a part of the peripheral surface of the defective IC label 36A in the width direction with respect to the transport direction. A second adhesive portion 27A for adhering the defective IC label 36A on the label adhesive layer 33 side is formed at a position corresponding to the first non-adhesive portion 26A of the acquisition roller 26, and both end sides of the second adhesive portion 27C- are attached to the second non-adhesive portion 27C-. 1,27C-2.

上記のように構成することによっても、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26C−1,26C−2と不良ICラベル36Aのラベル本体側となるラベル表面体34との粘着力が、不良ICラベル36Aのラベル粘着層33と剥離体32との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを剥離体32より剥離させることができ、また、不良ラベル回収ローラ27における第2粘着部27Aと不良ICラベル36Aのラベル粘着層33との粘着力が、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26C−1,26C−2と当該ラベル表面体34との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを不良ラベル取得ローラ26より剥離させて不良ラベル回収ローラ27により回収させることができるものである。   Even with the above-described configuration, the adhesive force between the first adhesive portions 26C-1 and 26C-2 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34 on the label body side of the defective IC label 36A is the defective IC. Since the adhesive force between the label adhesive layer 33 of the label 36A and the peeling body 32 is stronger, the defective IC label 36A can be peeled from the peeling body 32, and the second adhesive portion 27A of the defective label collecting roller 27 can be removed. Since the adhesive force between the defective IC label 36A and the label adhesive layer 33 is stronger than the adhesive force between the first adhesive portions 26C-1 and 26C-2 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34, the defective IC label 36A is defective. The label 36A can be peeled off from the defective label acquisition roller 26 and collected by the defective label collecting roller 27.

続いて、図7(A)は、不良ラベル取得ローラ26では、周面上における不良ICラベル36Aの幅方向の一部に対応する位置に、すなわち軸方向の一端側を含む領域の位置に、当該不良ICラベル36Aをそのラベル表面体34側で接着する第1粘着部26Dを形成し、他の部分を第1非粘着部26Eとしている。なお、第1粘着部26Dと第1非粘着部26Eとに段差を設けずに不良ICラベル36Aとの接触を全面で行うものとして構成したが、図2のように段差を設けてもよい。このことは後述の図8の場合も同様である。   7A, in the defective label acquisition roller 26, at a position corresponding to a part of the defective IC label 36A in the width direction on the circumferential surface, that is, at a position of an area including one end side in the axial direction. A first adhesive portion 26D for adhering the defective IC label 36A on the label surface body 34 side is formed, and the other portion is used as a first non-adhesive portion 26E. Although the first adhesive portion 26D and the first non-adhesive portion 26E are configured to contact the defective IC label 36A over the entire surface without providing a step, a step may be provided as shown in FIG. This also applies to the case of FIG. 8 described later.

また、不良ラベル回収ローラ27では、周面上における不良ICラベル36Aの搬送方向に対する幅方向の全部に対応する位置に当該不良ICラベル36Aをそのラベル粘着層33側で接着する第2粘着部27Dを形成し、非粘着部を設けないものとしている。   In the defective label collecting roller 27, the second adhesive portion 27D that adheres the defective IC label 36A on the peripheral surface to the position corresponding to the entire width direction of the defective IC label 36A with respect to the transport direction on the label adhesive layer 33 side. Is formed and no non-adhesive portion is provided.

すなわち、図7(B)に示す不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26Dと不良ICラベル36Aのラベル本体側となるラベル表面体34との粘着力が、不良ICラベル36Aのラベル粘着層33と剥離体32との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを剥離体32より剥離させることができ、また、図7(C)に示す不良ラベル回収ローラ27における第2粘着部27Dと不良ICラベル36Aのラベル粘着層33との粘着力が、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26Dと当該ラベル表面体34との粘着力より強いために、第1粘着部26Dと第2粘着部27Dの粘着力に大きな差がなくとも当該不良ICラベル36Aを不良ラベル取得ローラ26より剥離させて不良ラベル回収ローラ27により回収させることができるものである。   That is, the adhesive force between the first adhesive portion 26D of the defective label acquisition roller 26 shown in FIG. 7B and the label surface body 34 on the label body side of the defective IC label 36A is the label adhesive layer 33 of the defective IC label 36A. Since the adhesive strength between the defective IC label 36A and the peeling body 32 is stronger than the peeling body 32, the defective IC label 36A can be peeled from the peeling body 32, and the second adhesive portion 27D of the defective label collecting roller 27 shown in FIG. Since the adhesive force of the defective IC label 36A with the label adhesive layer 33 is stronger than the adhesive force between the first adhesive portion 26D of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34, the first adhesive portion 26D and the second adhesive portion Even if there is no great difference in the adhesive force of the portion 27D, the defective IC label 36A is peeled from the defective label acquisition roller 26 and collected by the defective label collecting roller 27. It is those that can Rukoto.

続いて、図8(A)は、不良ラベル取得ローラ26では、周面上における不良ICラベル36Aの幅方向の一部に対応する位置に、すなわち軸方向の両端側を含む領域の位置に、当該不良ICラベル36Aをそのラベル表面体34側で接着する第1粘着部26D−1,26D−2を形成し、中央領域を含む部分を第2非粘着部26Eとしている。   8A, in the defective label acquisition roller 26, at a position corresponding to a part of the defective IC label 36A in the width direction on the circumferential surface, that is, at a position of a region including both end sides in the axial direction. First adhesive portions 26D-1 and 26D-2 for adhering the defective IC label 36A on the label surface body 34 side are formed, and a portion including the central region is used as a second non-adhesive portion 26E.

また、不良ラベル回収ローラ27では、周面上における不良ICラベル36Aの搬送方向に対する幅方向の全部に対応する位置に当該不良ICラベル36Aをそのラベル粘着層33側で接着する第2粘着部27Dを形成し、非粘着部を設けないものとしている。   In the defective label collecting roller 27, the second adhesive portion 27D that adheres the defective IC label 36A on the peripheral surface to the position corresponding to the entire width direction of the defective IC label 36A with respect to the transport direction on the label adhesive layer 33 side. Is formed and no non-adhesive portion is provided.

すなわち、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26D−1,26D−2と不良ICラベル36Aのラベル本体側となるラベル表面体34との粘着力が、不良ICラベル36Aのラベル粘着層33と剥離体32との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを剥離体32より剥離させることができ、また、不良ラベル回収ローラ27における第2粘着部27Dと不良ICラベル36Aのラベル粘着層33との粘着力が、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26D−1,26D−2と当該ラベル表面体34との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを不良ラベル取得ローラ26より剥離させて不良ラベル回収ローラ27により回収させることができるものである。   That is, the adhesive force between the first adhesive portions 26D-1 and 26D-2 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34 on the label body side of the defective IC label 36A is the same as that of the label adhesive layer 33 of the defective IC label 36A. Since the adhesive strength with the peeling body 32 is stronger, the defective IC label 36A can be peeled from the peeling body 32, and the second adhesive portion 27D of the defective label collecting roller 27 and the label adhesive layer of the defective IC label 36A. Since the adhesive force with 33 is stronger than the adhesive force between the first adhesive portions 26D-1 and 26D-2 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34, the defective IC label 36A is changed to the defective label acquisition roller 26. The defective label can be further separated and collected by the defective label collecting roller 27.

また、図8(B)は、不良ラベル取得ローラ26では、周面上における不良ICラベル36Aの幅方向の一部に対応する位置に、すなわち軸方向の両端側を含む領域の位置及び中央領域を含む位置に、当該不良ICラベル36Aをそのラベル表面体34側で接着する第1粘着部26D−1,26D−2,26D−3を形成し、その間の部分を第2非粘着部26E−1,26E−2として、第1粘着部26D−1,26D−2,26D−3を縞状としている。   8B shows, in the defective label acquisition roller 26, a position corresponding to a part in the width direction of the defective IC label 36A on the peripheral surface, that is, a position of the region including both end sides in the axial direction and a central region. The first adhesive portions 26D-1, 26D-2, 26D-3 for adhering the defective IC label 36A on the label surface body 34 side are formed at positions including the second non-adhesive portion 26E-. As 1 and 26E-2, the first adhesive portions 26D-1, 26D-2, and 26D-3 are striped.

また、不良ラベル回収ローラ27では、周面上における不良ICラベル36Aの搬送方向に対する幅方向の全部に対応する位置に当該不良ICラベル36Aをそのラベル粘着層33側で接着する第2粘着部27Dを形成し、非粘着部を設けないものとしている。   In the defective label collecting roller 27, the second adhesive portion 27D that adheres the defective IC label 36A on the peripheral surface to the position corresponding to the entire width direction of the defective IC label 36A with respect to the transport direction on the label adhesive layer 33 side. Is formed and no non-adhesive portion is provided.

すなわち、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26D−1,26D−2,26D−3と不良ICラベル36Aのラベル本体側となるラベル表面体34との粘着力が、不良ICラベル36Aのラベル粘着層33と剥離体32との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを剥離体32より剥離させることができ、また、不良ラベル回収ローラ27における第2粘着部27Dと不良ICラベル36Aのラベル粘着層33との粘着力が、不良ラベル取得ローラ26における第1粘着部26D−1,26D−2,26D−3と当該ラベル表面体34との粘着力より強いために、当該不良ICラベル36Aを不良ラベル取得ローラ26より剥離させて不良ラベル回収ローラ27により回収させることができるものである。   That is, the adhesive force between the first adhesive portions 26D-1, 26D-2, 26D-3 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34 on the label body side of the defective IC label 36A is the label of the defective IC label 36A. Since the adhesive force between the adhesive layer 33 and the peeling body 32 is stronger, the defective IC label 36A can be peeled from the peeling body 32, and the second adhesive portion 27D and the defective IC label 36A in the defective label collecting roller 27 can be peeled off. Has a stronger adhesive force with the label adhesive layer 33 than the adhesive force between the first adhesive portions 26D-1, 26D-2, 26D-3 of the defective label acquisition roller 26 and the label surface body 34, the defective IC concerned. The label 36A can be peeled off from the defective label acquisition roller 26 and collected by the defective label collecting roller 27.

ところで、上記実施形態では、不良ラベル取得ローラ26を移動自在としたが、別の実施形態として、不良ラベル取得ローラ26と不良ラベル回収ローラ27とを接触状態とすると共に、送りローラ28上で搬送される連続ラベル側を不良ラベル取得ローラ26側に移動自在することとしてもよい。すなわち、良品のICラベル36の通過時には当該連続ラベルを不良ラベル取得ローラ26と非接触状態の位置とし、不良ICラベル26Aの通過時に当該連続ラベルを移動させて不良ラベル取得ローラ26に接触させることで不良ICラベル36Aを当該不良ラベル取得ローラ26に取得させるものである。当該連続ラベルを移動させる手段としては、例えば、送りローラ28の上流側及び下流側で、かつ、ICラベル36側にそれぞれガイドローラを配置させ、当該送りローラ28及び各ガイドローラを移動駆動することにより実現することができる。   By the way, in the above-described embodiment, the defective label acquisition roller 26 is movable. However, as another embodiment, the defective label acquisition roller 26 and the defective label collection roller 27 are brought into contact with each other and are conveyed on the feed roller 28. It is also possible to move the continuous label side to the defective label acquisition roller 26 side. That is, when the non-defective IC label 36 is passed, the continuous label is placed in a non-contact position with the defective label acquisition roller 26, and when the defective IC label 26A is passed, the continuous label is moved and brought into contact with the defective label acquisition roller 26. Then, the defective IC label 36A is acquired by the defective label acquisition roller 26. As a means for moving the continuous label, for example, guide rollers are arranged on the upstream side and the downstream side of the feed roller 28 and on the IC label 36 side, and the feed roller 28 and each guide roller are driven to move. Can be realized by

本発明のラベル製造装置は、通常ラベル、ICラベルを連続的に形成する装置の製造、販売、使用等の産業に利用可能である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The label manufacturing apparatus of the present invention can be used in industries such as manufacture, sale, and use of apparatuses for continuously forming normal labels and IC labels.

11 ラベル製造装置
12 連続ラベル供給部
13 ラベル検査部
14 型抜き手段
15 受け胴
16 搬送ローラ
17 不要体巻取部
18 ラベル検知部
19 良品ラベル補充部
20 剥離体巻取部
26 不良ラベル取得ローラ
26A,26B 第1非粘着部
26C,26D 第1粘着部
26E 第1非粘着部
27 不良ラベル回収ローラ
27A,27B 第2粘着部
27C 第2非粘着部
27D 第2粘着部
28 送りローラ
31 連続ラベル
32 剥離体
33 ラベル粘着層
34 ラベル表面体
35 ICモジュール
35A 不良品ICラモジュール
36 ICラベル
36A 不良ICラベル
41 型抜き線
11 Label Manufacturing Equipment 12 Continuous Label Supplying Section 13 Label Inspecting Section 14 Die-Cutting Means 15 Receiving Cylinder 16 Conveying Roller 17 Unwanted Body Winding Section 18 Label Detecting Section 19 Good Label Replenishing Section 20 Peeling Body Winding Section 26 Bad Label Acquiring Roller 26A , 26B First non-adhesive portion 26C, 26D First adhesive portion 26E First non-adhesive portion 27 Bad label collecting roller 27A, 27B Second adhesive portion 27C Second non-adhesive portion 27D Second adhesive portion 28 Feed roller 31 Continuous label 32 Peeling body 33 Label adhesive layer 34 Label surface body 35 IC module 35A Defective IC la module 36 IC label 36A Defective IC label 41 Die-cut line

Claims (1)

少なくとも連続状の剥離体上に剥離自在にラベル粘着層を介して型抜きされたラベル所定間隔で形成され、当該各ラベルが良品か否かが検査されて不良品と判別されている不良ラベルを不良ラベル除去手段により除去するラベル製造装置であって、
前記不良ラベル除去手段は、
軸方向上の周面に所定数の第1粘着部及び所定数の第1非粘着部が隣接されて形成され、前記不良ラベルの搬送方向に対する幅方向の一部のラベル粘着層の反対側を当該第1粘着部で接着保持して前記剥離体より剥離させる不良ラベル取得ローラと、
周面の軸方向上の全部又は一部に、少なくとも前記不良ラベル取得ローラの第1非粘着部に対応する位置に第2粘着部が形成され、当該不良ラベル取得ローラで接着保持された前記不良ラベルのラベル粘着層側を当該第2粘着部で接着保持して回収する不良ラベル回収ローラと、
を有することを特徴とするラベル製造装置。
At least label stamped with freely through the label adhesive layer peeling on the continuous form of the release member is formed at a predetermined interval, those respective labels are determined to be good or whether the defective is inspected A label manufacturing apparatus for removing a defective label by a defective label removing unit,
The defective label removing means is
A predetermined number of first adhesive portions and a predetermined number of first non-adhesive portions are formed adjacent to each other on the circumferential surface on the axial direction, and the opposite side of a part of the label adhesive layer in the width direction with respect to the conveying direction of the defective label is formed. A defective label acquisition roller that is adhered and held by the first adhesive portion and is peeled off from the peeling body;
A second adhesive portion is formed at least in a position corresponding to the first non-adhesive portion of the defective label acquisition roller on all or part of the circumferential surface in the axial direction, and the defect is adhesively held by the defective label acquisition roller. A defective label collecting roller for collecting and holding the label adhesive layer side of the label with the second adhesive portion.
A label manufacturing apparatus comprising:
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