JP6673154B2 - Self-diagnosis circuit of open collector type rotation sensor - Google Patents

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本発明は、オープンコレクタ方式の回転センサを診断する自己診断回路に関する。   The present invention relates to a self-diagnosis circuit for diagnosing an open collector type rotation sensor.

オープンコレクタ方式の回転センサを用いて回転数と回転方向を求める場合、例えば、回転センサに設けられるＡ相用のトランジスタのコレクタ端子から出力されるＡ相信号（パルス信号）と、Ｂ相用のトランジスタのコレクタ端子から出力されるＡ相信号に対して９０度の位相差を有するＢ相信号（パルス信号）とを用いて、回転数と回転方向を求めている。ところが、Ａ相用のトランジスタのコレクタ端子とＢ相用のトランジスタのコレクタ端子が短絡して短絡異常となると、回転数と回転方向を正確に求めることができなくなる。そこで、従来は複数の回転センサを用意し、一つの回転センサが短絡異常となっても、他の正常に動作している回転センサが正確に回転数と回転方向を求めている。   When the number of rotations and the direction of rotation are determined using an open collector type rotation sensor, for example, an A-phase signal (pulse signal) output from a collector terminal of an A-phase transistor provided in the rotation sensor and a B-phase signal are output. The number of rotations and the direction of rotation are determined using a B-phase signal (pulse signal) having a phase difference of 90 degrees with respect to the A-phase signal output from the collector terminal of the transistor. However, when the collector terminal of the A-phase transistor and the collector terminal of the B-phase transistor are short-circuited and a short circuit occurs, the rotation speed and the rotation direction cannot be accurately obtained. Therefore, conventionally, a plurality of rotation sensors are prepared, and even if one of the rotation sensors has a short circuit abnormality, the other normally operating rotation sensors accurately determine the rotation speed and the rotation direction.

なお、短絡を検出する技術として特許文献１などが知られている。   In addition, as a technique for detecting a short circuit, Patent Document 1 and the like are known.

特開２０１５−１７９０２５号公報JP-A-2005-179025

しかしながら、複数の回転センサを用いたとしても、回転センサが短絡異常であることを検出できなければ、正確に回転数と回転方向を求めている回転センサが分からないため、回転センサが短絡しているか否かを診断して短絡異常が発生した回転センサを検出しなければならない。また、回転センサが取り付けられている装置において、回転センサの短絡異常が検出できないと、正確でない回転数と回転方向を用いて装置が運用された場合、回転センサの短絡異常が原因で装置が故障に至ったにも係らず、短絡異常と別の異常が検出されて装置が故障したと診断される。そうすると装置を修理する際、異常の原因を特定するときに、原因の特定に時間を要することになるので、異常の原因を速やかに特定するためにも、短絡異常が発生した回転センサを検出し、装置の利用者や装置を修理する作業者に回転センサに短絡異常が発生したことを通知することが望まれる。   However, even if a plurality of rotation sensors are used, if the rotation sensor cannot detect that a short-circuit abnormality has occurred, the rotation sensor for which the number of rotations and the rotation direction are accurately determined cannot be determined. It is necessary to diagnose whether or not the rotation sensor has a short-circuit abnormality. In addition, if a short-circuit abnormality of the rotation sensor cannot be detected in the device to which the rotation sensor is attached, if the device is operated using an incorrect rotation speed and rotation direction, the device may fail due to the short-circuit abnormality of the rotation sensor. Despite that, the short-circuit abnormality and another abnormality are detected, and it is diagnosed that the device has failed. Then, when repairing the device, it takes time to identify the cause of the abnormality when identifying the cause of the abnormality.In order to quickly identify the cause of the abnormality, it is necessary to detect the short-circuit abnormality rotation sensor. It is desired to notify a user of the apparatus or a worker who repairs the apparatus that a short circuit has occurred in the rotation sensor.

本発明の一側面に係る目的は、回転センサの短絡異常を検出できるオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路を提供することである。   An object according to one aspect of the present invention is to provide a self-diagnosis circuit of an open collector type rotation sensor that can detect a short circuit abnormality of the rotation sensor.

本発明に係る一つの形態である、第一のスイッチ素子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子を電源端子と接続し、第一のスイッチ素子と第二のスイッチ素子のエミッタ端子をグランド端子と接続して用いるオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路は、検出回路とスイッチ回路と制御回路を有する。   In one mode according to the present invention, collector terminals of a first switch element and a second switch element are connected to a power supply terminal, and emitter terminals of the first switch element and the second switch element are connected to a ground terminal. The self-diagnosis circuit of an open collector type rotation sensor used as a self-diagnosis device has a detection circuit, a switch circuit, and a control circuit.

検出回路は、第一のスイッチ素子のコレクタ端子及び第二のスイッチ素子のコレクタ端子と接続され、第一のスイッチ素子のコレクタ端子から出力される第一の信号と、第二のスイッチ素子のコレクタ端子から出力される第一の信号に対して９０度の位相差を有する第二の信号とを検出する。   The detection circuit is connected to a collector terminal of the first switch element and a collector terminal of the second switch element, and outputs a first signal output from the collector terminal of the first switch element and a collector of the second switch element. A first signal output from the terminal and a second signal having a phase difference of 90 degrees are detected.

スイッチ回路は、第一のスイッチ素子のコレクタ端子又は第二のスイッチ素子のコレクタ端子のいずれか一方と接続する端子と、グランド端子に接続する端子と、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡しているか否かを診断するための短絡検出信号を入力する制御端子とを有する。   The switch circuit includes a terminal connected to one of the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element, a terminal connected to the ground terminal, a collector terminal of the first switch element, and a second terminal. And a control terminal for inputting a short-circuit detection signal for diagnosing whether the collector terminal of the switch element is short-circuited.

制御回路は、予め設定した短絡検出開始時刻になると、第一の信号又は第二の信号の一周期以上の短絡検出時間、短絡検出信号をハイレベルにして制御端子に出力し、短絡検出時間、第一の信号と第二の信号がローレベルであるとき、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する。   The control circuit, when the preset short-circuit detection start time, the short-circuit detection time of one cycle or more of the first signal or the second signal, the short-circuit detection signal to a high level and output to the control terminal, short-circuit detection time, When the first signal and the second signal are at a low level, it is diagnosed that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited.

また、制御回路は、第一の信号のデューティと第二の信号のデューティがともに、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していることを示す所定デューティ以下になると、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する。   Further, the control circuit may determine that both the duty of the first signal and the duty of the second signal are equal to or less than a predetermined duty indicating that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited. Then, it is diagnosed that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited.

また、制御回路は、第一の信号を移動平均した電圧レベルと第二の信号を移動平均した電圧レベルがともに、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していることを示す所定電圧以下になると、第一のスイッチ素子のコレクタ端子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する。   Further, the control circuit is configured such that both the voltage level obtained by moving-averaging the first signal and the voltage level obtained by moving-averaging the second signal short-circuit the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element. When the voltage becomes equal to or lower than the predetermined voltage, it is diagnosed that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited.

回転センサの短絡異常を検出できる。   A short-circuit abnormality of the rotation sensor can be detected.

オープンコレクタ方式の回転センサと自己診断回路の一実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an embodiment of an open collector type rotation sensor and a self-diagnosis circuit. 回転センサに短絡異常が発生していない場合のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal when a short-circuit abnormality has not occurred in the rotation sensor. 回転センサに短絡異常が発生した場合のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal when a short-circuit abnormality occurs in the rotation sensor. 変形例１のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal according to a first modification. 変形例２のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal according to a second modification.

以下図面に基づいて実施形態について詳細を説明する。
図１は、オープンコレクタ方式の回転センサ１と自己診断回路の一実施例を示す図である。回転センサ１は、センサ回路２とスイッチ素子Ｑ１（第一のスイッチ素子）とスイッチ素子Ｑ２（第二のスイッチ素子）とを有する。また、回転センサ１は、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子を抵抗Ｒ１を介して電源端子ＶＤＤと接続し、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子を抵抗Ｒ２を介して電源端子ＶＤＤと接続し、スイッチ素子Ｑ１とスイッチ素子Ｑ２のエミッタ端子をグランド端子ＧＮＤと接続して用いる。また、回転センサ１は、センサ回路２に設けられるＡ相用センサが計測したＡ相信号（第一の信号：パルス信号）をスイッチ素子Ｑ１を介して出力し、センサ回路２に設けられるＢ相用センサが計測したＢ相信号（第二の信号：パルス信号）をスイッチ素子Ｑ２を介して出力する。なお、スイッチ素子Ｑ１、Ｑ２はトランジスタである。また、Ｂ相信号はＡ相信号に対して９０度の位相差を有する。 Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an open collector type rotation sensor 1 and a self-diagnosis circuit. The rotation sensor 1 has a sensor circuit 2, a switch element Q1 (first switch element), and a switch element Q2 (second switch element). In the rotation sensor 1, the collector terminal of the switch element Q1 is connected to the power supply terminal VDD via the resistor R1, the collector terminal of the switch element Q2 is connected to the power supply terminal VDD via the resistor R2, and the switch element Q1 and the switch The emitter terminal of the element Q2 is used by connecting it to the ground terminal GND. The rotation sensor 1 outputs an A-phase signal (first signal: pulse signal) measured by the A-phase sensor provided in the sensor circuit 2 via the switch element Q1, and outputs the B-phase signal provided in the sensor circuit 2. A B-phase signal (second signal: pulse signal) measured by the sensor for use is output via the switch element Q2. Note that the switch elements Q1 and Q2 are transistors. The B-phase signal has a phase difference of 90 degrees from the A-phase signal.

自己診断回路は、検出回路３とスイッチ素子Ｑ３（スイッチ回路）と制御回路４と抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２を有する。また、自己診断回路は、オープンコレクタ方式の回転センサ１のスイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子との短絡を診断する回路である。   The self-diagnosis circuit has a detection circuit 3, a switch element Q3 (switch circuit), a control circuit 4, resistors R1 and R2. The self-diagnosis circuit is a circuit for diagnosing a short circuit between the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2 of the open collector type rotation sensor 1.

検出回路３は、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子及びスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子と接続され、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子から出力されるＡ相信号と、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子から出力されるＢ相信号とを検出する。   The detection circuit 3 is connected to the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2, and outputs an A-phase signal output from the collector terminal of the switch element Q1 and a B-phase signal output from the collector terminal of the switch element Q2. And detect.

スイッチ素子Ｑ３（スイッチ回路）は、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子又はスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子のいずれか一方と接続するコレクタ端子と、グランド端子に接続するエミッタ端子と、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡しているか否かを診断するための短絡検出信号を入力するゲート端子（制御端子）とを有する。なお、図１ではスイッチ素子Ｑ３のコレクタ端子はスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子に接続している。また、図１ではスイッチ回路としてスイッチ素子Ｑ３を用いたが、スイッチ回路はトランジスタに限定されるものではなく、例えば開閉を制御可能なスイッチやリレーなどを用いてもよい。   The switch element Q3 (switch circuit) includes a collector terminal connected to one of the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2, an emitter terminal connected to the ground terminal, a collector terminal of the switch element Q1, and a switch. A gate terminal (control terminal) for inputting a short-circuit detection signal for diagnosing whether or not the collector terminal of the element Q2 is short-circuited. In FIG. 1, the collector terminal of the switching element Q3 is connected to the collector terminal of the switching element Q2. Although the switching element Q3 is used as the switch circuit in FIG. 1, the switch circuit is not limited to a transistor, and for example, a switch or a relay capable of controlling opening and closing may be used.

制御回路４は、予め設定した短絡検出開始時刻になると、Ａ相信号又はＢ相信号の一周期以上の短絡検出時間、短絡検出信号をハイレベルにしてスイッチ素子Ｑ３のゲート端子に出力し、短絡検出時間においてＡ相信号とＢ相信号がローレベルであるとき、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。   At a preset short circuit detection start time, the control circuit 4 sets the short circuit detection signal to a high level for a short circuit detection time of one cycle or more of the A-phase signal or the B-phase signal and outputs the high-level signal to the gate terminal of the switch element Q3. When the A-phase signal and the B-phase signal are at the low level during the detection time, it is diagnosed that the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q2 are short-circuited.

予め設定した短絡検出開始時刻及び短絡検出時間は、回転数と回転方向を求める処理、及び、回転数と回転方向を求める処理以外の制御に支障がでないような時間に設定する。短絡検出開始時刻は、例えば、一定周期（Ａ相信号又はＢ相信号の一周期より長い周期）を設定することが考えられる。また、短絡検出時間は、例えば、Ａ相信号又はＢ相信号の一周期以上の時間に設定すればよい。   The preset short-circuit detection start time and short-circuit detection time are set to times that do not hinder control other than the processing for obtaining the number of rotations and the rotation direction and the processing for obtaining the number of rotations and the rotation direction. For example, the short-circuit detection start time may be set to a fixed period (a period longer than one period of the A-phase signal or the B-phase signal). The short-circuit detection time may be set to, for example, a time equal to or longer than one cycle of the A-phase signal or the B-phase signal.

なお、制御回路４は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、マルチコアＣＰＵ、プログラマブルなデバイス（ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＰＬＤ（Programmable Logic Device）など）を用いた回路が考えられる。また、制御回路４は、内部又は外部に備えられている記憶部を備え、記憶部に記憶されている自己診断回路又は自己診断回路を搭載した装置の各部を制御するプログラムを読み出して実行する。なお、制御回路４が車両に搭載されている場合には、例えば、車両に搭載されている一つ以上のＥＣＵ（Electronic Control Unit）としてもよい。   The control circuit 4 may be, for example, a circuit using a CPU (Central Processing Unit), a multi-core CPU, or a programmable device (FPGA (Field Programmable Logic Device) or PLD (Programmable Logic Device)). Further, the control circuit 4 includes a storage unit provided inside or outside, and reads and executes a program for controlling each unit of the self-diagnosis circuit or the device equipped with the self-diagnosis circuit stored in the storage unit. When the control circuit 4 is mounted on a vehicle, for example, one or more ECUs (Electronic Control Units) mounted on the vehicle may be used.

オープンコレクタ方式の回転センサ１と自己診断回路の動作について説明する。
［１］回転センサ１に短絡異常が発生していない場合
図２は、回転センサ１に短絡異常が発生していない場合のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。図２のＡは、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子から出力されているＡ相信号の信号波形を示している。図２のＢは、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子から出力されているＢ相信号の信号波形を示している。図２のＣは、短絡検出時間（短絡検出開始時刻ｔ０から短絡検出終了時刻ｔ１）において、制御回路４から出力される短絡検出信号（ハイレベルの信号）の信号波形を示している。図２のＤは、短絡異常がない場合で、かつ短絡検出信号がハイレベルのときにおいて、検出回路３でＢ相信号を検出したときの信号波形を示している。また、時間Ｔ１は、図２のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにローレベルになる時間を示し、時間Ｔ２は、図２のＡ、ＢにおいてＡ相信号がハイレベルでＢ相信号がローレベルになる時間を示し、時間Ｔ３は、図２のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにハイレベルになる時間を示し、時間Ｔ４は、図２のＡ、ＢにおいてＡ相信号がローレベルでＢ相信号がハイレベルになる時間を示している。 The operation of the open collector type rotation sensor 1 and the self-diagnosis circuit will be described.
[1] When Short-Circuit Abnormality Does Not Occur in Rotation Sensor 1 FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of the A-phase signal, the B-phase signal, and the short-circuit detection signal when the short-circuit abnormality does not occur in the rotation sensor 1 is there. A in FIG. 2 shows a signal waveform of the A-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q1. FIG. 2B shows the signal waveform of the B-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q2. FIG. 2C shows the signal waveform of the short-circuit detection signal (high-level signal) output from the control circuit 4 during the short-circuit detection time (short-circuit detection start time t0 to short-circuit detection end time t1). D in FIG. 2 shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects the B-phase signal when there is no short-circuit abnormality and the short-circuit detection signal is at a high level. The time T1 indicates the time when both the A-phase signal and the B-phase signal are at the low level in FIGS. 2A and 2B. The time T2 is the time when the A-phase signal is at the high level and the B-phase The signal T indicates a time when the signal becomes low level, time T3 indicates a time when both the A-phase signal and the B-phase signal become high level in FIGS. 2A and 2B, and time T4 indicates A time in A and B in FIG. The time when the phase signal is low level and the B-phase signal is high level is shown.

図２の短絡検出開始時刻ｔ０になると、制御回路４は、短絡検出信号の電圧レベルをローレベルからハイレベルにする。また、図１において、スイッチ素子Ｑ３のコレクタ端子はスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子に接続されているので、スイッチ素子Ｑ３のゲート端子にハイレベルの短絡検出信号が入力されるとスイッチ素子Ｑ３が導通し、短絡検出時間においてスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子の電圧レベルはローレベル（ＧＮＤ端子の電圧レベル）に固定される。すなわち、Ｂ相信号は、図２のＤに示すように短絡検出時間においてローレベルとなり検出回路３に検出される。また、図１においてスイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ３のコレクタ端子とは接続されていないので、スイッチ素子Ｑ３が導通しても、短絡検出時間においてＡ相信号には何ら影響がないため、図２のＡに示すＡ相信号が検出回路３で検出される。   At the short-circuit detection start time t0 in FIG. 2, the control circuit 4 changes the voltage level of the short-circuit detection signal from a low level to a high level. In FIG. 1, since the collector terminal of the switch element Q3 is connected to the collector terminal of the switch element Q2, when a high-level short-circuit detection signal is input to the gate terminal of the switch element Q3, the switch element Q3 becomes conductive. During the short-circuit detection time, the voltage level of the collector terminal of the switching element Q2 is fixed to the low level (the voltage level of the GND terminal). That is, the B-phase signal becomes low level during the short-circuit detection time as shown in D of FIG. In FIG. 1, since the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q3 are not connected, even if the switching element Q3 becomes conductive, the A-phase signal is not affected at all during the short-circuit detection time. The A-phase signal indicated by A in FIG.

また、制御回路４は、短絡検出時間において、検出回路３からＡ相信号が図２のＡに示すようなパルス信号であることを取得し、かつ検出回路３から図２のＤに示すようにローレベルのＢ相信号を取得した場合、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していないと診断する。すなわち、回転センサ１は正常であると診断する。
［２］回転センサ１に短絡異常が発生した場合
図３は、回転センサ１に短絡異常が発生した場合のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。図３のＡは、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子から出力されているＡ相信号の信号波形を示している。図３のＢは、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子から出力されているＢ相信号の信号波形を示している。図３のＣは、短絡異常がある場合で、かつ短絡検出信号がローレベルのときにおいて、検出回路３でＡ相信号を検出したときの信号波形を示している。図３のＤは、短絡異常がある場合で、かつ短絡検出信号がローレベルのときにおいて、検出回路３でＢ相信号を検出したときの信号波形を示している。図３のＥは、短絡検出時間（短絡検出開始時刻ｔ０から短絡検出終了時刻ｔ１）において、制御回路４から出力される短絡検出信号（ハイレベルの信号）の信号波形を示している。図３のＦは、短絡異常がある場合で、かつ短絡検出信号がハイレベルのときにおいて、検出回路３でＡ相信号を検出したときの信号波形を示している。図３のＧは、短絡異常がある場合で、かつ短絡検出信号がハイレベルのときにおいて、検出回路３でＢ相信号を検出したときの信号波形を示している。また、時間Ｔ１は、図３のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにローレベルになる時間を示し、時間Ｔ２は、図３のＡ、ＢにおいてＡ相信号がハイレベルでＢ相信号がローレベルになる時間を示し、時間Ｔ３は、図３のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにハイレベルになる時間を示し、時間Ｔ４は、図３のＡ、ＢにおいてＡ相信号がローレベルでＢ相信号がハイレベルになる時間を示している。 In addition, the control circuit 4 obtains that the A-phase signal is a pulse signal as shown in FIG. 2A from the detection circuit 3 during the short-circuit detection time, and outputs from the detection circuit 3 as shown in FIG. 2D. When the low-level B-phase signal is obtained, it is diagnosed that the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q2 are not short-circuited. That is, the rotation sensor 1 is diagnosed as normal.
[2] When Short-Circuit Abnormality Occurs in Rotation Sensor 1 FIG. 3 is a diagram illustrating signal waveforms of the A-phase signal, the B-phase signal, and the short-circuit detection signal when a short-circuit abnormality occurs in the rotation sensor 1. A in FIG. 3 shows a signal waveform of the A-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q1. FIG. 3B shows the signal waveform of the B-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q2. FIG. 3C shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects the A-phase signal when there is a short-circuit abnormality and the short-circuit detection signal is at a low level. D in FIG. 3 shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects a B-phase signal when there is a short-circuit abnormality and the short-circuit detection signal is at a low level. FIG. 3E shows a signal waveform of the short-circuit detection signal (high-level signal) output from the control circuit 4 during the short-circuit detection time (short-circuit detection start time t0 to short-circuit detection end time t1). FIG. 3F shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects the A-phase signal when there is a short-circuit abnormality and the short-circuit detection signal is at a high level. G in FIG. 3 shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects a B-phase signal when there is a short-circuit abnormality and the short-circuit detection signal is at a high level. The time T1 indicates the time when both the A-phase signal and the B-phase signal are at the low level in FIGS. 3A and 3B. The time T2 is the time when the A-phase signal is at the high level and the B-phase The signal indicates the time when the signal goes low, the time T3 indicates the time when both the A-phase signal and the B-phase signal go high in FIGS. 3A and 3B, and the time T4 indicates the time A in FIGS. The time when the phase signal is low level and the B-phase signal is high level is shown.

図３の短絡検出開始時刻ｔ０になると、制御回路４は、スイッチ素子Ｑ３のゲート端子にハイレベルの短絡検出信号を入力してスイッチ素子Ｑ３を導通させ、短絡検出信号の電圧レベルをローレベルからハイレベルにする。また、図１において、スイッチ素子Ｑ３のコレクタ端子はスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子に接続されているので、スイッチ素子Ｑ３のゲート端子にハイレベルの短絡検出信号が入力されるとスイッチ素子Ｑ３が導通し、短絡検出時間においてスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子の電圧レベルはローレベル（ＧＮＤ端子の電圧レベル）に固定される。   At the short-circuit detection start time t0 in FIG. 3, the control circuit 4 inputs a high-level short-circuit detection signal to the gate terminal of the switch element Q3 to make the switch element Q3 conductive, and changes the voltage level of the short-circuit detection signal from the low level. Set to high level. In FIG. 1, since the collector terminal of the switch element Q3 is connected to the collector terminal of the switch element Q2, when a high-level short-circuit detection signal is input to the gate terminal of the switch element Q3, the switch element Q3 becomes conductive. During the short-circuit detection time, the voltage level of the collector terminal of the switching element Q2 is fixed to the low level (the voltage level of the GND terminal).

図３の例では短絡異常が発生しているので、時間Ｔ１では、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子とが短絡しているため、制御回路４は検出回路３からＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルをローレベルで取得する。   In the example of FIG. 3, since the short-circuit abnormality has occurred, at time T1, the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q2 are short-circuited. And the voltage level of the B-phase signal at a low level.

図３の時間Ｔ２では、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子からハイレベルのＡ相信号が出力され、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子からローレベルのＢ相信号が出力されるが、短絡異常が発生しているので、制御回路４は検出回路３からＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルをローレベルで取得する。   At time T2 in FIG. 3, a high-level A-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q1, and a low-level B-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q2. Therefore, the control circuit 4 acquires the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal from the detection circuit 3 at a low level.

図３の時間Ｔ３では、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子からハイレベルのＡ相信号が出力され、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子からもハイレベルのＢ相信号が出力されるが、短絡異常が発生しているので、制御回路４は検出回路３からＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルをローレベルで取得する。   At time T3 in FIG. 3, a high-level A-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q1, and a high-level B-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q2. Therefore, the control circuit 4 acquires the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal from the detection circuit 3 at a low level.

図３の時間Ｔ４では、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子からローレベルのＡ相信号が出力され、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子からハイレベルのＢ相信号が出力されるが、短絡異常が発生しているので、制御回路４は検出回路３からＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルをローレベルで取得する。   At time T4 in FIG. 3, a low-level A-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q1, and a high-level B-phase signal is output from the collector terminal of the switching element Q2. Therefore, the control circuit 4 acquires the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal from the detection circuit 3 at a low level.

このように、制御回路４は、短絡検出時間において短絡検出信号の電圧レベルをハイレベルにし、短絡検出時間において取得したＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルが図３のＦ、Ｇに示すように継続してローレベルである場合、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。すなわち、回転センサ１が短絡異常であると診断することができる。   As described above, the control circuit 4 sets the voltage level of the short-circuit detection signal to the high level during the short-circuit detection time, and sets the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal acquired during the short-circuit detection time to F and G in FIG. If the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2 are short-circuited, the diagnosis is performed. That is, it can be diagnosed that the rotation sensor 1 has a short-circuit abnormality.

また、回転センサ１が短絡しているか否かを診断して短絡異常が発生した回転センサ１を検出できるので、短絡異常が発生していない回転センサ１の出力するＡ相信号とＢ相信号を用いて、正確な回転数と回転方向を求めることができる。   Further, since it is possible to detect whether or not the rotation sensor 1 is short-circuited and to detect the rotation sensor 1 in which the short-circuit abnormality has occurred, the A-phase signal and the B-phase signal output from the rotation sensor 1 in which the short-circuit abnormality has not occurred are determined. By using this, an accurate rotation speed and rotation direction can be obtained.

また、回転センサ１の短絡異常を特定し、装置の利用者や装置を修理する作業者に回転センサに短絡異常が発生したことを通知できるので、装置を修理する際に要する時間を短縮することができる。   In addition, the short-circuit abnormality of the rotation sensor 1 can be specified, and the user of the apparatus or a worker who repairs the apparatus can be notified that the short-circuit abnormality has occurred in the rotation sensor, so that the time required for repairing the apparatus can be reduced. Can be.

変形例１について説明する。
変形例１では、上記説明したオープンコレクタ方式の回転センサ１の自己診断回路に、短絡検出時間以外においてＡ相信号とＢ相信号を監視する回路を追加し、短絡異常の検出精度を向上させる。 Modification 1 will be described.
In the first modification, a circuit for monitoring the A-phase signal and the B-phase signal other than the short-circuit detection time is added to the above-described self-diagnosis circuit of the open-collector-type rotation sensor 1 to improve the short-circuit abnormality detection accuracy.

変形例１の制御回路４は、Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティがともに、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していることを示す所定デューティ以下になると、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティは、例えば、制御回路４にカウンタなどを設けて計測する。   The control circuit 4 according to the first modification, when both the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal become equal to or less than a predetermined duty indicating that the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q2 are short-circuited, It is diagnosed that the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2 are short-circuited. The duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are measured, for example, by providing a counter or the like in the control circuit 4.

図４は、変形例１のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。図４の例では、回転センサ１が短絡異常でない場合、Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティはともに５０［％］になる。また、回転センサ１が短絡異常である場合、Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティはともに２５［％］となる。その理由は、短絡検出時間以外において、回転センサ１が短絡異常である場合、スイッチ素子Ｑ１、Ｑ２のコレクタ端子から出力されるＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルがともにハイレベル（１／４周期ハイレベル）であるときのみ、検出回路３はＡ相信号とＢ相信号をともにハイレベル（１／４周期ハイレベル）で検出できるためである。   FIG. 4 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal according to the first modification. In the example of FIG. 4, when the rotation sensor 1 is not in a short circuit abnormality, both the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are 50 [%]. When the rotation sensor 1 has a short circuit abnormality, the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are both 25%. The reason is that when the rotation sensor 1 has a short-circuit abnormality other than the short-circuit detection time, the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal output from the collector terminals of the switching elements Q1 and Q2 are both high (1/4). This is because the detection circuit 3 can detect both the A-phase signal and the B-phase signal at the high level (1/4 cycle high level) only when the signal is at the high level (period high level).

従って、所定デューティは、例えば、短絡異常でない回転センサ１のＡ相信号とＢ相信号のデューティがともに５０［％］である場合、２５［％］に設定し、記憶部に記憶する。   Therefore, for example, when both the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal of the rotation sensor 1 with no short-circuit abnormality are 50 [%], the predetermined duty is set to 25 [%] and stored in the storage unit.

図４のＡは、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子から出力されているＡ相信号の信号波形を示している。図４のＢは、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子から出力されているＢ相信号の信号波形を示している。図４のＣは、短絡異常があるときに、検出回路３でＡ相信号を検出したときの信号波形を示している。図４のＤは、短絡異常があるときに、検出回路３でＢ相信号を検出した場合の信号波形を示している。   A in FIG. 4 shows a signal waveform of the A-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q1. FIG. 4B shows the signal waveform of the B-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q2. FIG. 4C shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects the A-phase signal when there is a short circuit abnormality. D in FIG. 4 shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects a B-phase signal when there is a short circuit abnormality.

また、図４の時間Ｔ１は、図４のＡ、ＢにおいてＡ相信号がハイレベルでＢ相信号がローレベルになる時間を示し、図４の時間Ｔ２は、図４のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにハイレベルになる時間を示し、図４の時間Ｔ３は、図４のＡ、ＢにおいてＡ相信号がローレベルでＢ相信号がハイレベルになる時間を示し、図４の時間Ｔ４は、図４のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにローレベルになる時間を示している。   4 indicates the time when the A-phase signal is at the high level and the B-phase signal is at the low level in FIGS. 4A and 4B, and the time T2 in FIG. The time T3 in FIG. 4 indicates the time when the A-phase signal is low and the B-phase signal is high in FIGS. 4A and 4B. A time T4 of 4 indicates a time when both the A-phase signal and the B-phase signal are at the low level in A and B in FIG.

制御回路４は、図４のＣ、Ｄに示すように、Ａ相信号とＢ相信号のデューティがともに所定デューティ以下になると、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。   When both the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are equal to or less than the predetermined duty, the control circuit 4 short-circuits the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2, as shown in C and D of FIG. Diagnose that there is.

このように、短絡検出時間以外においても回転センサ１の短絡異常を検出できるので、更に短絡異常の検出精度を向上させることができる。
変形例２について説明する。 As described above, since the short-circuit abnormality of the rotation sensor 1 can be detected even during times other than the short-circuit detection time, the detection accuracy of the short-circuit abnormality can be further improved.
Modification 2 will be described.

変形例２では、上記説明したオープンコレクタ方式の回転センサ１に自己診断回路に、短絡検出時間以外においてＡ相信号とＢ相信号を監視する回路を追加し、短絡異常の検出精度を向上させる。   In the second modification, a circuit for monitoring the A-phase signal and the B-phase signal other than the short-circuit detection time is added to the self-diagnosis circuit in the above-described open-collector-type rotation sensor 1 to improve the short-circuit abnormality detection accuracy.

変形例２の制御回路４は、Ａ相信号を移動平均した電圧レベルとＢ相信号を移動平均した電圧レベルがともに、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していることを示す所定電圧以下になると、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。   In the control circuit 4 of the second modification, the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2 are both short-circuited at both the voltage level obtained by moving the A-phase signal and the voltage level obtained by moving the B-phase signal. Is determined to be equal to or lower than the predetermined voltage, it is diagnosed that the collector terminal of the switching element Q1 and the collector terminal of the switching element Q2 are short-circuited.

Ａ相信号を移動平均した電圧レベルとＢ相信号を移動平均した電圧レベルは、例えば、制御回路４にディジタルフィルタなどを設けて計測する。又は、アナログフィルタを検出回路３と制御回路４との間に接続し、Ａ相信号及びＢ相信号それぞれを移動平均し、Ａ相信号及びＢ相信号の電圧レベルを計測してもよい。   The voltage level obtained by moving and averaging the A-phase signal and the voltage level obtained by moving and averaging the B-phase signal are measured, for example, by providing a digital filter or the like in the control circuit 4. Alternatively, an analog filter may be connected between the detection circuit 3 and the control circuit 4 to perform a moving average of each of the A-phase signal and the B-phase signal to measure the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal.

変形例１で説明したように、回転センサ１が短絡異常でない場合、Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティはともに５０［％］になる。また、回転センサ１が短絡異常である場合、Ａ相信号のデューティとＢ相信号のデューティはともに２５［％］となる。従って、Ａ相信号とＢ相信号のハイレベルにおける電圧レベルがともに５［Ｖ］で、かつデューティが５０［％］である場合、制御回路４を用いてＡ相信号とＢ相信号に対して、Ａ相信号又はＢ相信号の一周期において移動平均を行うと、Ａ相信号とＢ相信号の電圧レベルはともに２．５［Ｖ］となる。また、Ａ相信号とＢ相信号のハイレベルにおける電圧レベルがともに５［Ｖ］で、かつデューティが２５［％］である場合、制御回路４を用いてＡ相信号とＢ相信号に対して、Ａ相信号又はＢ相信号の一周期において移動平均を行うと、Ａ相信号とＢ相信号の電圧レベルはともに電圧レベルが１．２５［Ｖ］となる。   As described in the first modification, when the rotation sensor 1 is not abnormally short-circuited, the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are both 50%. When the rotation sensor 1 has a short circuit abnormality, the duty of the A-phase signal and the duty of the B-phase signal are both 25%. Therefore, when the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal at the high level are both 5 [V] and the duty is 50 [%], the control circuit 4 is used to control the A-phase signal and the B-phase signal. When the moving average is performed in one cycle of the A-phase signal or the B-phase signal, the voltage levels of both the A-phase signal and the B-phase signal become 2.5 [V]. When both the high-level voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal are 5 [V] and the duty is 25 [%], the control circuit 4 is used to control the A-phase signal and the B-phase signal. When the moving average is performed in one cycle of the A-phase signal or the B-phase signal, the voltage level of both the A-phase signal and the B-phase signal becomes 1.25 [V].

所定電圧は、例えば、回転センサ１がＡ相信号とＢ相信号の電圧レベルが５［Ｖ］でデューティが５０［％］である場合、１．２５［Ｖ］に設定し、記憶部に記憶する。
図５は、変形例２のＡ相信号、Ｂ相信号、短絡検出信号の信号波形を示す図である。図５のＡは、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子から出力されているＡ相信号の信号波形を示している。図５のＢは、スイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子から出力されているＢ相信号の信号波形を示している。図５のＣは、短絡異常がないときに、制御回路４でＡ相信号を移動平均した信号波形を示している。図５のＤは、短絡異常がないときに、制御回路４でＢ相信号を移動平均した信号波形を示している。図５のＥは、短絡異常があるときに、検出回路３でＡ相信号を検出した場合の信号波形を示している。図５のＦは、短絡異常があるときに、検出回路３でＢ相信号を検出した場合の信号波形を示している。図５のＧは、短絡異常があるときに、制御回路４でＡ相信号を移動平均した場合の信号波形を示している。図５のＨは、短絡異常があるときに、制御回路４でＢ相信号を移動平均した場合の信号波形を示している。 The predetermined voltage is set to 1.25 [V] when the voltage level of the A-phase signal and the B-phase signal is 5 [V] and the duty is 50 [%], for example, and stored in the storage unit. I do.
FIG. 5 is a diagram illustrating signal waveforms of an A-phase signal, a B-phase signal, and a short-circuit detection signal according to the second modification. A of FIG. 5 shows a signal waveform of the A-phase signal output from the collector terminal of the switch element Q1. FIG. 5B illustrates a signal waveform of the B-phase signal output from the collector terminal of the switching element Q2. FIG. 5C shows a signal waveform obtained by moving-averaging the A-phase signal by the control circuit 4 when there is no short-circuit abnormality. D in FIG. 5 shows a signal waveform obtained by moving-averaging the B-phase signal by the control circuit 4 when there is no short-circuit abnormality. FIG. 5E shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects the A-phase signal when there is a short-circuit abnormality. FIG. 5F shows a signal waveform when the detection circuit 3 detects a B-phase signal when there is a short circuit abnormality. G of FIG. 5 shows a signal waveform when the control circuit 4 performs a moving average of the A-phase signal when there is a short circuit abnormality. H in FIG. 5 shows a signal waveform when the control circuit 4 performs a moving average of the B-phase signal when there is a short-circuit abnormality.

また、図５の時間Ｔ１は、図５のＡ、ＢにおいてＡ相信号がハイレベルでＢ相信号がローレベルになる時間を示し、図５の時間Ｔ２は、図５のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにハイレベルになる時間を示し、図５時間Ｔ３は、図５のＡ、ＢにおいてＡ相信号がローレベルでＢ相信号がハイレベルになる時間を示し、図５の時間Ｔ４は、図５のＡ、ＢにおいてＡ相信号とＢ相信号がともにローレベルになる時間を示している。   The time T1 in FIG. 5 indicates the time when the A-phase signal is at the high level and the B-phase signal is at the low level in A and B in FIG. 5, and the time T2 in FIG. 5 shows the time when both the phase signal and the B-phase signal are at the high level. Time T3 in FIG. 5 shows the time when the A-phase signal is at the low level and the B-phase signal is at the high level in FIGS. A time T4 indicates a time when both the A-phase signal and the B-phase signal are at the low level in A and B in FIG.

制御回路４は、図５のＧ、Ｈに示すように、Ａ相信号とＢ相信号の電圧レベルがともに所定電圧以下になると、スイッチ素子Ｑ１のコレクタ端子とスイッチ素子Ｑ２のコレクタ端子が短絡していると診断する。   When the voltage levels of the A-phase signal and the B-phase signal both become equal to or lower than a predetermined voltage, the control circuit 4 short-circuits the collector terminal of the switch element Q1 and the collector terminal of the switch element Q2, as shown by G and H in FIG. Diagnose that

このように、短絡検出時間以外においても回転センサ１の短絡異常を検出できるので、更に短絡異常の検出精度を向上させることができる。
また、本発明は、以上の実施の形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変更が可能である。 As described above, since the short-circuit abnormality of the rotation sensor 1 can be detected even during times other than the short-circuit detection time, the detection accuracy of the short-circuit abnormality can be further improved.
Further, the present invention is not limited to the above embodiments, and various improvements and modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

１ 回転センサ、
２ センサ回路、
３ 検出回路、
４ 制御回路、
Ｑ１ スイッチ素子、
Ｑ２ スイッチ素子、
Ｑ３ スイッチ素子（スイッチ回路）、
Ｒ１、Ｒ２ 抵抗
1 rotation sensor,
2 sensor circuit,
3 detection circuit,
4 control circuits,
Q1 switch element,
Q2 switch element,
Q3 switch element (switch circuit),
R1, R2 resistance

Claims (3)

第一のスイッチ素子と第二のスイッチ素子のコレクタ端子を電源端子と接続し、前記第一のスイッチ素子と前記第二のスイッチ素子のエミッタ端子をグランド端子と接続して用いるオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路であって、
前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子及び前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子と接続され、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子から出力される第一の信号と、前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子から出力される前記第一の信号に対して９０度の位相差を有する第二の信号とを検出する検出回路と、
前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子又は前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子のいずれか一方と接続する端子と、前記グランド端子に接続する端子と、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡しているか否かを診断するための短絡検出信号を入力する制御端子とを有するスイッチ回路と、
予め設定した短絡検出開始時刻になると、前記第一の信号又は前記第二の信号の一周期以上の短絡検出時間、前記短絡検出信号をハイレベルにして前記制御端子に出力し、前記短絡検出時間、前記第一の信号と前記第二の信号がローレベルであるとき、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する制御回路と、
を備えることを特徴とするオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路。 An open collector type of rotation in which the collector terminals of the first switch element and the second switch element are connected to a power supply terminal, and the emitter terminals of the first switch element and the second switch element are connected to a ground terminal. A sensor self-diagnosis circuit,
A first signal output from the collector terminal of the first switch element, connected to a collector terminal of the first switch element and a collector terminal of the second switch element, and a collector of the second switch element A detection circuit for detecting a second signal having a phase difference of 90 degrees with respect to the first signal output from the terminal,
A terminal connected to one of the collector terminal of the first switch element or the collector terminal of the second switch element, a terminal connected to the ground terminal, a collector terminal of the first switch element, and a A switch circuit having a control terminal for inputting a short-circuit detection signal for diagnosing whether the collector terminal of the second switch element is short-circuited,
When a preset short-circuit detection start time comes, a short-circuit detection time of one cycle or more of the first signal or the second signal, the short-circuit detection signal is set to a high level and output to the control terminal, and the short-circuit detection time When the first signal and the second signal are at a low level, a control circuit that diagnoses that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited,
A self-diagnosis circuit for an open collector type rotation sensor, comprising: 請求項１に記載の自己診断回路であって、
前記制御回路は、前記第一の信号のデューティと前記第二の信号のデューティがともに、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していることを示す所定デューティ以下になると、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する、
ことを特徴とするオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路。 The self-diagnosis circuit according to claim 1,
The control circuit indicates that the duty of the first signal and the duty of the second signal are both short-circuited between the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element. When the duty is equal to or less than the predetermined duty, it is diagnosed that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited,
A self-diagnosis circuit for an open collector type rotation sensor. 請求項１に記載の自己診断回路であって、
前記制御回路は、前記第一の信号を移動平均した電圧レベルと前記第二の信号を移動平均した電圧レベルがともに、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していることを示す所定電圧以下になると、前記第一のスイッチ素子のコレクタ端子と前記第二のスイッチ素子のコレクタ端子が短絡していると診断する、
ことを特徴とするオープンコレクタ方式の回転センサの自己診断回路。
The self-diagnosis circuit according to claim 1,
The control circuit is configured such that a voltage level obtained by moving average of the first signal and a voltage level obtained by moving average of the second signal are both a collector terminal of the first switch element and a collector terminal of the second switch element. When the voltage is equal to or less than a predetermined voltage indicating that the collector is short-circuited, it is diagnosed that the collector terminal of the first switch element and the collector terminal of the second switch element are short-circuited,
A self-diagnosis circuit for an open collector type rotation sensor.
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