JP6672375B2 - Error rate measuring device and eye margin measuring method of the device - Google Patents
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Description
本発明は、既知パターンのテスト信号を被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test ）に送信し、テスト信号の送信に伴う被測定物からの出力を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法に関する。 The present invention relates to an error rate measuring apparatus that transmits a test signal of a known pattern to a device under test (DUT: Device Under Test), receives an output from the device under test accompanying the transmission of the test signal, and measures a bit error rate. And an eye margin measuring method of the apparatus.
各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、この種のディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとしてビット誤り率（以下、ＢＥＲと言う）がある。ＢＥＲは、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるものであり、例えば下記特許文献１に開示される誤り率測定装置にて測定される。
2. Description of the Related Art With the increase in the number of users and the spread of multimedia communication, various types of digital communication devices are required to have higher transmission capacity. A bit error rate (hereinafter, referred to as BER) is one of the indexes for evaluating the quality of a digital signal in this type of digital communication apparatus. The BER is defined as a comparison between the number of occurrences of code errors in the received data and the total number of received data, and is measured by, for example, an error rate measurement device disclosed in
従来、この種の誤り率測定装置は、送信側と受信側に分かれており、送信側から既知のパターン信号を被測定物（ＤＵＴ）に送信し、パターン信号の送信に伴う被測定物（ＤＵＴ）からの出力を受信側で受けることでＢＥＲを測定する。 Conventionally, this type of error rate measuring apparatus is divided into a transmitting side and a receiving side, transmits a known pattern signal from the transmitting side to a device under test (DUT), and transmits the pattern under test (DUT) with the transmission of the pattern signal. The BER is measured by receiving the output from the receiving side on the receiving side.
ところで、ＢＥＲを測定するためには、測定内容や測定条件などに応じて複数のパラメータを最適値に設定する必要がある。この設定が必要なパラメータとしては、例えば時間軸方向を決めるＤａｔａ Ｄｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、減衰した信号を読み込むためのＣＴＬＥ Ｇａｉｎなどがある。これらのパラメータは、複数のポイントで各パラメータをそれぞれ所定値毎に変更してＢＥＲを測定し、ＢＥＲが最小になるポイントの値が最適値として設定される。 Incidentally, in order to measure the BER, it is necessary to set a plurality of parameters to optimal values according to the measurement contents, measurement conditions, and the like. The parameters that need to be set include, for example, Data Delay that determines the time axis direction, Vth that is the reference voltage axis, and CTLE Gain for reading an attenuated signal. For these parameters, the BER is measured by changing each parameter at a plurality of points for each predetermined value, and the value of the point at which the BER is minimized is set as the optimum value.
しかしながら、従来の測定では、ポイント毎の限られた短い測定時間において、非常に低頻度に発生するエラーを正確に捉えることができなかった。そして、エラーを捉えることができないと、一定の区間においてエラーフリー状態となってしまい、ＢＥＲの最小点が特定できないという問題が生じる。 However, in the conventional measurement, an error that occurs very infrequently cannot be accurately captured in a limited short measurement time for each point. If an error cannot be detected, an error-free state occurs in a certain section, and a problem arises in that the minimum point of the BER cannot be specified.
一般的に、測定時間内にエラーが検出できずにエラーフリー状態になってしまった場合には、エラーフリー区間の幅を示すアイマージンの中心のポイントを各パラメータの最適値と見なしている。 In general, when an error is not detected within the measurement time and an error-free state occurs, a point at the center of an eye margin indicating a width of an error-free section is regarded as an optimum value of each parameter.
一方で、アイマージンによりパラメータの最適値を求める場合には、安定したアイマージンの測定結果が得られる必要がある。しかも、複数のパラメータを設定するためには、パラメータを変更してアイマージンを測定するシーケンスを繰り返すので、１回あたりの測定時間を短くする必要がある。 On the other hand, when obtaining the optimum value of the parameter from the eye margin, it is necessary to obtain a stable measurement result of the eye margin. In addition, in order to set a plurality of parameters, the sequence for changing the parameters and measuring the eye margin is repeated, so that it is necessary to shorten the measurement time per measurement.
しかしながら、１回あたりの測定時間を短くすると、低頻度のエラーをうまく処理することができず、同じパラメータであっても測定によって探索したエラーが入る点からエラーフリーとなる点のエラーフリー境界が測定する度に変化してしまい、アイマージンの測定結果が安定しないという課題があった。 However, if the measurement time per measurement is shortened, low-frequency errors cannot be processed well, and even if the same parameters are used, the error-free boundary between the point where the error searched for by the measurement enters and the point where the error becomes free is set. There has been a problem that the measurement result changes every time the measurement is performed, and the measurement result of the eye margin is unstable.
この問題を解決するため、１回あたりの測定時間を長くすると、測定に必要なパラメータが増えるほどパラメータの設定に要する全体時間が長くなるという問題が発生する。 In order to solve this problem, if the measurement time per measurement is lengthened, the problem arises that the total time required for parameter setting becomes longer as the number of parameters required for measurement increases.
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、短い測定時間で安定してアイマージンを測定することができる誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法を提供することを目的としている。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an error rate measurement device capable of stably measuring an eye margin in a short measurement time and an eye margin measurement method of the device. The purpose is.
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、テスト信号を被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴う前記被測定物からの出力を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定装置１において、
時間軸方向を決めるＤａｔａＤｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、フィルタの各パラメータの設定に要する測定時間に関し、
前記測定時間に対して信頼のできる前記ビット誤り率の下限値を算出するＢＥＲ下限値算出手段１１ａと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、位相を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記位相の左右のエラーフリー境界の差分を位相マージンとして測定する位相マージン測定手段１１ｂと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、閾値電圧を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記閾値電圧の上下のエラーフリー境界の差分を閾値電圧マージンとして測定する閾値電圧マージン測定手段１１ｃと、
前記位相マージンの値と前記閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出するアイマージン算出手段１１ｄとを備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an error rate measuring apparatus according to
Regarding DataDelay that determines the time axis direction, Vth that is the reference voltage axis, and the measurement time required to set each parameter of the filter,
A BER lower
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error free, and a binary search is performed between two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the bit error rate becomes error free by varying the phase in a predetermined step. Phase margin measuring means 11b for measuring the difference between the left and right error-free boundaries of the phase found as a phase margin,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error-free, and a threshold voltage is varied in a predetermined step to divide the bit error rate into two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the error is free. A threshold voltage margin measuring means 11c for measuring a difference between an error-free boundary above and below the threshold voltage found by searching as a threshold voltage margin,
Eye margin calculating means 11d for calculating a value obtained by multiplying the value of the phase margin and the value of the threshold voltage margin as an eye margin value.
請求項２に記載された誤り率測定装置のアイマージン測定方法は、テスト信号を被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴う前記被測定物からの出力を受信してビット誤り率を測定する誤り率測定装置１のアイマージン測定方法であって、
時間軸方向を決めるＤａｔａＤｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、フィルタの各パラメータの設定に要する測定時間に関し、
前記測定時間に対して信頼のできる前記ビット誤り率の下限値を算出するステップと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、位相を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記位相の左右のエラーフリー境界の差分を位相マージンとして測定するステップと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、閾値電圧を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記閾値電圧の上下のエラーフリー境界の差分を閾値電圧マージンとして測定するステップと、
前記位相マージンの値と前記閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出するステップとを含むことを特徴とする。
3. An eye margin measuring method for an error rate measuring apparatus according to
Regarding DataDelay that determines the time axis direction, Vth that is the reference voltage axis, and the measurement time required to set each parameter of the filter,
Calculating a reliable lower limit of the bit error rate for the measurement time,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error free, and a binary search is performed between two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the bit error rate becomes error free by varying the phase in a predetermined step. measuring the to difference between the left and right error-free boundary of the phase found as the phase margin,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error-free, and a threshold voltage is varied in a predetermined step to divide the bit error rate into two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the error is free. measuring the difference between the upper and lower error-free border of the search to the threshold voltage found as a threshold voltage margin,
Calculating a value obtained by multiplying the value of the phase margin by the value of the threshold voltage margin as the value of the eye margin.
本発明によれば、低頻度で発生するエラーによる影響を小さくすることができ、短い測定時間で安定して位相マージンおよび閾値電圧マージンを測定しつつ、安定した測定結果によるパラメータ探索が可能になる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the influence by the error which generate | occur | produces infrequently can be made small, and the parameter search based on a stable measurement result becomes possible, measuring a phase margin and a threshold voltage margin stably in a short measurement time. .
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、既知パターンのテスト信号を被測定物Ｗに送信し、テスト信号の送信に伴う被測定物Ｗからの出力を受信してＢＥＲ（ビット誤り率）を測定するものであり、パターン送信部２とパターン受信部３を備えて概略構成される。
As shown in FIG. 1, the error
また、本実施の形態の誤り率測定装置１は、被測定物ＷのＢＥＲの測定に必要な複数のパラメータから選択されるパラメータの最適値を探索して設定するオートサーチ機能を有する。
Further, the error
なお、オートサーチ機能により設定されるパラメータとしては、例えば時間軸方向を決めるＤａｔａ Ｄｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、減衰した信号を読み込むためのＣＴＬＥ Ｇａｉｎ、フィルタのパラメータなどがある。 The parameters set by the auto search function include, for example, Data Delay for determining the time axis direction, Vth as a reference voltage axis, CTLE Gain for reading an attenuated signal, and filter parameters.
パターン送信部２は、被測定物ＷのＢＥＲを測定するときに、被測定物Ｗに入力する既知のパターン信号（テスト信号）を発生して被測定物Ｗに送信する。
When measuring the BER of the device under test W, the
なお、特に図示はしないが、パターン送信部２は、例えばＰＲＢＳパターン発生部とプログラマブルパターン発生部を含んで構成される。ＰＲＢＳパターン発生部は、被測定物Ｗに入力する既知パターンのテスト信号として、ＰＲＢＳ（Pseudo-random bit sequence：擬似ランダム・ビット・シーケンス）パターンを発生する。また、プログラマブルパターン発生部は、被測定物Ｗに入力する既知パターンのテスト信号として、任意のパターンからなるプログラマブルパターンを発生する。
Although not particularly shown, the
パターン受信部３は、パターン送信部２から被測定物Ｗへのパターン信号の送信に伴う被測定物Ｗからの信号を受信するもので、パラメータ設定部１１、誤り率測定部１２、表示部１３を備える。
The pattern receiving unit 3 receives a signal from the device under test W accompanying the transmission of the pattern signal from the
パラメータ設定部１１は、パラメータの設定や変更を行うもので、誤り率測定部１２からＢＥＲを取得して動作し、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａ、位相マージン測定手段１１ｂ、閾値電圧マージン測定手段１１ｃ、アイマージン算出手段１１ｄを備える。
The
ＢＥＲ下限値算出手段１１ａは、例えば図２（ａ）に示すように、ＢＥＲの下限値ｂを算出する。このＢＥＲの下限値ｂは、測定時間に対して信頼のできる値であり、統計に基づく下記式（１）による計算式を用いて算出する。
The BER lower
ＢＥＲの下限値ｂの算出には、ｔ＝−ｌｎ（１−ｃ）／（ｂ＊ｒ）…式（１）が用いられる。式（１）において、ｔは各パラメータの設定に要する測定時間（実機に依存する時間）、ｃは信頼度（例えば０．９５）、ｂはＢＥＲの下限値、ｒは伝送速度（例えば２．４Ｇｂｐｓ〜３２Ｇｂｐｓ）である。 To calculate the lower limit b of the BER, t = −ln (1-c) / (b * r) Equation (1) is used. In the equation (1), t is a measurement time required for setting each parameter (a time depending on an actual device), c is reliability (for example, 0.95), b is a lower limit of BER, and r is a transmission speed (for example, 2. 4 Gbps to 32 Gbps).
ＢＥＲの下限値ｂは、１回あたりの測定時間ｔ、信頼度ｃ、伝送速度ｒが予め設定され、上記式（１）を変形したｂ＝−ｌｎ（１−ｃ）／（ｔ＊ｒ）…式（２）にて算出することができる。本実施の形態では、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａにて算出したＢＥＲの下限値ｂ未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーと見なしている。
As the lower limit value b of the BER, a measurement time t, reliability c, and transmission rate r per one time are set in advance, and b = −ln (1-c) / (t * r) obtained by modifying the above equation (1). ... It can be calculated by equation (2). In the present embodiment, a BER smaller than the BER lower limit b calculated by the BER
位相マージン測定手段１１ｂは、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａにて算出したＢＥＲの下限値ｂ未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーと見なし、位相を所定ステップで振って可変し、後述する図５のフローチャートの手順に従って位相マージンを測定する。 The phase margin measuring means 11b regards a BER calculated by the BER lower limit calculating means 11a that is less than the lower limit b of the BER as pseudo-error-free, changes the phase in predetermined steps, and varies the phase. The phase margin is measured according to the procedure described in.
閾値電圧マージン測定手段１１ｃは、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａにて算出したＢＥＲの下限値ｂ未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーと見なし、閾値電圧を所定ステップで振って可変し、後述する図６のフローチャートの手順に従って閾値電圧マージンを測定する。 The threshold voltage margin measuring means 11c regards the BER calculated by the BER lower limit value calculating means 11a that is less than the lower limit value b of the BER as pseudo error-free, varies the threshold voltage in predetermined steps, and varies the threshold voltage. The threshold voltage margin is measured according to the procedure of the flowchart of FIG.
アイマージン算出手段１１ｄは、位相マージン測定手段１１ｂおよび閾値電圧マージン測定手段１１ｃの測定結果、すなわち、測定した位相マージンの値と閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出する。
The eye
誤り率測定部１２は、ＢＥＲの測定に必要な各パラメータがパラメータ設定部１１にて設定された状態において、パターン送信部２から既知のパターン信号を被測定物Ｗに送信し、このパターン信号の送信に伴う被測定物Ｗからの出力を受信し、送信した既知のパターン信号と受信したパターン信号とをビット比較してＢＥＲを測定する。
The error
表示部１３は、例えば液晶表示器で構成され、ＢＥＲの測定に関わる各パラメータの設定画面の表示、誤り率測定部１２によるＢＥＲの測定結果の表示などを行う。
The
次に、上記のように構成される誤り率測定装置１のアイマージン測定方法について図４〜図６を参照しながら説明する。
Next, an eye margin measuring method of the error
アイマージンを測定するにあたっては、図４のフローチャートに示すように、まず、最初に測定時間に対して信頼のできるＢＥＲの下限値ｂを前述した式（２）を用いて算出する（ＳＴ１）。その際、測定時間は、実機に依存する時間に設定される。 When measuring the eye margin, first, as shown in the flowchart of FIG. 4, a lower limit value b of the BER that is reliable with respect to the measurement time is calculated using the above-described equation (2) (ST1). At that time, the measurement time is set to a time depending on the actual device.
次に、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａにて算出したＢＥＲの下限値ｂ未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーと見なし、図５のフローチャートに示す手順に従って位相マージンを測定する（ＳＴ２）。位相マージンを測定する場合には、図５に示すように、まず、粗いステップで位相を振って可変し、ＢＥＲ測定可能なポイントおよびエラーフリーとなるポイントを見つける（ＳＴ１１）。次に、ＳＴ１１で発見した２点の間を二分探索し、左側のエラーフリー境界（図２（ｂ）や図３のＰ１）を見つける（ＳＴ１２）。その後、再びエラーが発生するポイントまで位相を可変し（ＳＴ１３）、右側のエラーフリー境界（図２（ｂ）や図３のＰ２）を二分探索により見つける（ＳＴ１４）。そして、左側のエラーフリー境界と右側のエラーフリー境界の差分を位相マージンとする（ＳＴ１５）。 Next, the BER calculated by the BER lower limit calculating means 11a, which is less than the lower limit b of the BER, is regarded as pseudo error-free, and the phase margin is measured according to the procedure shown in the flowchart of FIG. 5 (ST2). When measuring the phase margin, as shown in FIG. 5, first, the phase is varied by changing the phase in coarse steps, and a point at which BER measurement is possible and an error-free point are found (ST11). Next, a binary search is performed between the two points found in ST11 to find an error-free boundary on the left side (P1 in FIG. 2B and FIG. 3) (ST12). Thereafter, the phase is changed again to the point where an error occurs (ST13), and the right error-free boundary (P2 in FIG. 2 (b) or FIG. 3) is found by binary search (ST14). Then, the difference between the left error-free boundary and the right error-free boundary is set as a phase margin (ST15).
次に、ＢＥＲ下限値算出手段１１ａにて算出したＢＥＲの下限値ｂ未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーと見なし、図６のフローチャートに示す手順に従って閾値電圧マージンを測定する（ＳＴ３）。閾値電圧マージンを測定する場合には、図６に示すように、まず、粗いステップで閾値電圧を振って可変し、ＢＥＲ測定可能なポイントおよびエラーフリーとなるポイントを見つける（ＳＴ２１）。次に、ＳＴ２１で発見した２点の間を二分探索し、下側のエラーフリー境界（図３のＰ３）を見つける（ＳＴ２２）。その後、再びエラーが発生するポイントまで閾値電圧を可変し（ＳＴ２３）、上側のエラーフリー境界（図３のＰ４）を二分探索により見つける（ＳＴ２４）。そして、下側のエラーフリー境界と上側のエラーフリー境界の差分を閾値電圧マージンとする（ＳＴ２５）。 Next, a BER calculated by the BER lower limit value calculating means 11a that is smaller than the lower limit value b of the BER is regarded as pseudo error-free, and a threshold voltage margin is measured according to the procedure shown in the flowchart of FIG. 6 (ST3). When the threshold voltage margin is measured, as shown in FIG. 6, first, the threshold voltage is varied in coarse steps to vary, and a point where BER measurement is possible and an error-free point are found (ST21). Next, a binary search is performed between the two points found in ST21 to find a lower error-free boundary (P3 in FIG. 3) (ST22). Thereafter, the threshold voltage is changed again to the point where an error occurs (ST23), and the upper error-free boundary (P4 in FIG. 3) is found by a binary search (ST24). Then, the difference between the lower error-free boundary and the upper error-free boundary is set as a threshold voltage margin (ST25).
なお、位相マージンのエラーフリー境界および閾値電圧マージンのエラーフリー境界は、式（２）で算出したＢＥＲの下限値ｂを探索し、このＢＥＲの下限値ｂとの境界ポイントを二分探索により見つける。 For the error-free boundary of the phase margin and the error-free boundary of the threshold voltage margin, the lower limit value b of the BER calculated by the equation (2) is searched, and a boundary point with the lower limit value b of the BER is found by a binary search.
そして、測定した位相マージンと閾値電圧マージンからアイマージンを算出する（ＳＴ４）。すなわち、測定した位相マージンの値と閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出する。 Then, an eye margin is calculated from the measured phase margin and threshold voltage margin (ST4). That is, a value obtained by multiplying the measured value of the phase margin by the value of the threshold voltage margin is calculated as the value of the eye margin.
このように、本実施の形態では、測定時間に対して信頼のできるＢＥＲの下限値を統計に基づいた式（２）で算出し、算出したＢＥＲの下限値未満のＢＥＲを擬似的にエラーフリーとして扱い、位相マージンおよび閾値電圧マージンを測定してパラメータの最適値の探索に必要なアイマージンを算出する。これにより、オートサーチ機能において、ノイズに強いアイマージン測定により、低頻度で発生するエラーによる影響を小さくすることができ、短い測定時間で安定して位相マージンおよび閾値電圧マージンを測定しつつ、安定したアイマージンの測定結果によりパラメータ探索が可能になる。 As described above, in the present embodiment, the lower limit of the BER that is reliable with respect to the measurement time is calculated by equation (2) based on statistics, and the BER that is less than the calculated lower limit of the BER is pseudo-error-free. , And measures a phase margin and a threshold voltage margin to calculate an eye margin necessary for searching for an optimum value of a parameter. This makes it possible to reduce the effect of infrequently occurring errors in the auto-search function by using a noise-resistant eye margin measurement, and to stably measure the phase margin and threshold voltage margin in a short measurement time, The parameter search becomes possible based on the measured result of the eye margin.
以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。 The best mode of the error rate measuring device and the error rate measuring method according to the present invention has been described above, but the present invention is not limited by the description and the drawings according to this mode. That is, it goes without saying that all other forms, examples, operation techniques, and the like made by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention.
１ 誤り率測定装置
２ パターン送信部
３ パターン受信部
１１ パラメータ設定部
１１ａ ＢＥＲ下限値算出手段
１１ｂ 位相マージン測定手段
１１ｃ 閾値電圧マージン測定手段
１１ｄ アイマージン算出手段
Ｗ 被測定物（ＤＵＴ）
ｂ ＢＥＲの下限値 Ｐ１〜Ｐ４ エラーフリー境界
DESCRIPTION OF
b Lower limit value of BER P1 to P4 Error free boundary
Claims (2)
時間軸方向を決めるＤａｔａＤｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、フィルタの各パラメータの設定に要する測定時間に関し、
前記測定時間に対して信頼のできる前記ビット誤り率の下限値を算出するＢＥＲ下限値算出手段（１１ａ）と、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、位相を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記位相の左右のエラーフリー境界の差分を位相マージンとして測定する位相マージン測定手段（１１ｂ）と、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、閾値電圧を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記閾値電圧の上下のエラーフリー境界の差分を閾値電圧マージンとして測定する閾値電圧マージン測定手段（１１ｃ）と、
前記位相マージンの値と前記閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出するアイマージン算出手段（１１ｄ）とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 An error rate measuring device (1) for transmitting a test signal to a device under test (W), receiving an output from the device under test accompanying the transmission of the test signal, and measuring a bit error rate,
Regarding DataDelay that determines the time axis direction, Vth that is the reference voltage axis, and the measurement time required to set each parameter of the filter,
BER lower limit value calculating means (11a) for calculating a lower limit value of the bit error rate that is reliable with respect to the measurement time;
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error free, and a binary search is performed between two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the bit error rate becomes error free by varying the phase in a predetermined step. Phase margin measuring means (11b) for measuring the difference between the right and left error-free boundaries of the phase found as a phase margin,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error-free, and a threshold voltage is varied in a predetermined step to divide the bit error rate into two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the error is free. A threshold voltage margin measuring means (11c) for measuring a difference between an error-free boundary above and below the threshold voltage found by the search as a threshold voltage margin;
An error rate measurement device, comprising: an eye margin calculating means (11d) for calculating a value obtained by multiplying the value of the phase margin and the value of the threshold voltage margin as an eye margin value.
時間軸方向を決めるＤａｔａＤｅｌａｙ、基準電圧軸であるＶｔｈ、フィルタの各パラメータの設定に要する測定時間に関し、
前記測定時間に対して信頼のできる前記ビット誤り率の下限値を算出するステップと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、位相を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記位相の左右のエラーフリー境界の差分を位相マージンとして測定するステップと、
前記ビット誤り率の下限値未満のビット誤り率をエラーフリーと見なし、閾値電圧を所定ステップで可変して前記ビット誤り率が測定可能なポイントおよび前記エラーフリーとなるポイントの２点の間を二分探索して見つけた前記閾値電圧の上下のエラーフリー境界の差分を閾値電圧マージンとして測定するステップと、
前記位相マージンの値と前記閾値電圧マージンの値とを乗算した値をアイマージンの値として算出するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定装置のアイマージン測定方法。 An eye margin measuring method of an error rate measuring device (1) for transmitting a test signal to a device under test (W), receiving an output from the device under test accompanying the transmission of the test signal, and measuring a bit error rate. So,
Regarding DataDelay that determines the time axis direction, Vth that is the reference voltage axis, and the measurement time required to set each parameter of the filter,
Calculating a reliable lower limit of the bit error rate for the measurement time,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error free, and a binary search is performed between two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the bit error rate becomes error free by varying the phase in a predetermined step. measuring the to difference between the left and right error-free boundary of the phase found as the phase margin,
A bit error rate that is less than the lower limit of the bit error rate is regarded as error-free, and a threshold voltage is varied in a predetermined step to divide the bit error rate into two points, a point at which the bit error rate can be measured and a point at which the error is free. measuring the difference between the upper and lower error-free border of the search to the threshold voltage found as a threshold voltage margin,
Calculating a value obtained by multiplying the value of the phase margin by the value of the threshold voltage margin as the value of the eye margin.
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| JP2010278720A (en) * | 2009-05-28 | 2010-12-09 | Renesas Electronics Corp | Signal processing apparatus, method and program |
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