JP6650800B2 - Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method - Google Patents
Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method Download PDFInfo
- Publication number
- JP6650800B2 JP6650800B2 JP2016051531A JP2016051531A JP6650800B2 JP 6650800 B2 JP6650800 B2 JP 6650800B2 JP 2016051531 A JP2016051531 A JP 2016051531A JP 2016051531 A JP2016051531 A JP 2016051531A JP 6650800 B2 JP6650800 B2 JP 6650800B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- bias
- voltage
- output stage
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
Images
Landscapes
- Amplifiers (AREA)
Description
本発明は、バイアス回路、AB級アンプ及びバイアス電圧生成方法に関し、AB級アンプの出力段回路の電流値のバラツキを抑制する技術に関する。 The present invention relates to a bias circuit, a class AB amplifier, and a bias voltage generation method, and relates to a technique for suppressing a variation in a current value of an output stage circuit of a class AB amplifier.
AB級アンプは電力効率のよいアンプとして広く使われている。しかし、AB級アンプの出力段回路はA級アンプのようにカレントミラーでバイアス電圧を生成するのではなく、AB級アンプの出力段トランジスタをレプリカトランジスタとしてバイアス回路に配置し、レプリカトランジスタに規定の電流を供給してバイアス電圧を生成している。このため、AB級アンプの出力段回路の電流値はプロセス、温度、電源電圧等の変動によってばらついてしまうという課題があった。 Class AB amplifiers are widely used as power efficient amplifiers. However, the output stage circuit of the class AB amplifier does not generate a bias voltage with a current mirror unlike the class A amplifier, but arranges the output stage transistor of the class AB amplifier as a replica transistor in the bias circuit, and specifies the specified replica transistor. Current is supplied to generate a bias voltage. For this reason, there has been a problem that the current value of the output stage circuit of the class AB amplifier varies due to variations in process, temperature, power supply voltage, and the like.
そのため、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧をAB級アンプの出力段トランジスタと等しくするバイアス回路が提案されている(例えば特許文献1)。特許文献1に示されるバイアス回路ではアンプ素子を用いてフィードバックをかけることにより、レプリカトランジスタのドレイン電圧がAB級アンプの出力段トランジスタのドレイン電圧と等しくなるようにし、AB級アンプの出力段回路の電流値のバラツキを抑制する。
Therefore, a bias circuit has been proposed in which the drain voltage of the
しかしながら、特許文献1の回路構成では、アンプ素子を用いているため、面積と消費電力が増加してしまうという課題があった。また、アンプ素子の有限ゲインやオフセットによってAB級アンプの出力段回路の電流値がばらついてしまうという課題もあった。 However, the circuit configuration of Patent Literature 1 has a problem that the area and power consumption increase because an amplifier element is used. Another problem is that the current value of the output stage circuit of the class AB amplifier varies due to the finite gain and offset of the amplifier element.
本発明は、例えば、AB級アンプの出力段回路の電流値のバラツキを抑制するバイアス回路を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a bias circuit that suppresses a variation in current value of an output stage circuit of a class AB amplifier, for example.
本発明のバイアス回路は、
出力段トランジスタのレプリカトランジスタと、
前記レプリカトランジスタのドレイン端子に接続された抵抗と
を備え、
前記抵抗は、前記レプリカトランジスタのドレイン電圧を前記出力段トランジスタのドレイン電圧と等しくする電圧降下を発生させる抵抗である。
The bias circuit of the present invention includes:
A replica transistor of the output stage transistor,
A resistor connected to a drain terminal of the replica transistor,
The resistor is a resistor that generates a voltage drop that makes the drain voltage of the replica transistor equal to the drain voltage of the output stage transistor.
本発明によれば、レプリカトランジスタのドレイン端子に接続された抵抗によってレプリカトランジスタのドレイン電圧を制御するため、電流値のバラツキを抑制することが可能である。 According to the present invention, since the drain voltage of the replica transistor is controlled by the resistance connected to the drain terminal of the replica transistor, it is possible to suppress variations in the current value.
実施の形態1.
***構成の説明***
図1は、実施の形態1におけるAB級アンプ200のバイアス電圧生成回路を説明するブロック図である。
図1により、AB級アンプ200の出力段回路120の出力段トランジスタ11のバイアス回路について説明するが、出力段トランジスタ21についても同様である。
実施の形態1ではレプリカトランジスタのドレイン電圧を制御するための抵抗18を備える点が特徴である。抵抗18は、電圧降下を発生させる電圧降下素子の一例である。
Embodiment 1 FIG.
*** Configuration description ***
FIG. 1 is a block diagram illustrating a bias voltage generation circuit of class AB amplifier 200 according to the first embodiment.
Although the bias circuit of the output stage transistor 11 of the output stage circuit 120 of the class AB amplifier 200 will be described with reference to FIG. 1, the same applies to the
The first embodiment is characterized in that a
図1に示すAB級アンプ200は、バイアス回路100と負荷段回路110と出力段回路120を有している。
AB級アンプ200のバイアス回路100は、出力段トランジスタ11のレプリカトランジスタ12、バイアストランジスタ13、電流源15、電流源16、電流源17、抵抗18を備えている。電流源16はダイオード接続されたトランジスタでもよい。レプリカトランジスタ12、バイアストランジスタ13はn型MOSトランジスタである。
The class AB amplifier 200 shown in FIG. 1 includes a bias circuit 100, a load stage circuit 110, and an output stage circuit 120.
The bias circuit 100 of the class AB amplifier 200 includes a
負荷段回路110は、バイアストランジスタ14、バイアストランジスタ24、電流源26、電流源27を備えている。
The load stage circuit 110 includes a
出力段回路120は、出力段トランジスタ11と出力段トランジスタ21を有している。出力段トランジスタ11はn型MOSトランジスタであり、出力段トランジスタ21はp型MOSトランジスタである。
出力段トランジスタ11と出力段トランジスタ21との間に出力端子OUTがある。
The output stage circuit 120 has an output stage transistor 11 and an
An output terminal OUT is provided between the output transistor 11 and the
<<<出力段トランジスタ11のバイアス回路の説明>>>
バイアス回路100のバイアストランジスタ13の接続関係は以下のとおりである。
バイアストランジスタ13のドレイン端子と電流源16
バイアストランジスタ13のソース端子と電流源17とレプリカトランジスタ12のゲート端子
バイアストランジスタ13のゲート端子と電流源15とバイアストランジスタ14のゲート端子と抵抗18の一端
バイアス回路100のレプリカトランジスタ12の接続関係は以下のとおりである。
レプリカトランジスタ12のドレイン端子と抵抗18の他端
レプリカトランジスタ12のゲート端子と電流源17とバイアストランジスタ13のソース端子
レプリカトランジスタ12のソース端子とグランド
<<<< Description of bias circuit of output stage transistor 11 >>>>
The connection relation of the
The drain terminal of the
The connection relationship between the source terminal of the
Drain terminal of
負荷段回路110のバイアストランジスタ14の接続関係は以下のとおりである。
バイアストランジスタ14のドレイン端子と電流源26
バイアストランジスタ14のソース端子と電流源27と出力段トランジスタ11のゲート端子
バイアストランジスタ14のゲート端子と電流源15とバイアストランジスタ13のゲート端子と抵抗18の一端
The connection relation of the
Drain terminal of
The source terminal of the
出力段回路120の出力段トランジスタ11の接続関係は以下のとおりである。
出力段トランジスタ11のドレイン端子と出力段トランジスタ21のドレイン端子と出力端子OUT
出力段トランジスタ11のソース端子とグランド
出力段トランジスタ11のゲート端子と電流源27とバイアストランジスタ14のソース端子
The connection relationship between the output stage transistors 11 of the output stage circuit 120 is as follows.
Drain terminal of output stage transistor 11, drain terminal of
Source terminal of output stage transistor 11 and ground Gate terminal of output stage transistor 11,
***動作の説明***
以下に、バイアス電圧生成方法について説明する。
実施の形態1におけるバイアス電圧とは、バイアス回路100が負荷段回路110に出力する電圧である。
バイアス回路100において、出力段トランジスタ11と同じの特性(利得,しきい値電圧Vth,温度特性等)を有するレプリカトランジスタ12を選択して使用する。この構成では、製造プロセスのバラツキ等の要因でレプリカトランジスタ12の利得やしきい値電圧Vth等が変化しても、特性同一により出力段トランジスタ11の利得やしきい値電圧Vth等も同様に変化する。これは、温度変動に対しても同様である。
同様に、バイアス回路100において、負荷段回路110のバイアストランジスタ14と同じの特性(利得,しきい値電圧Vth,温度特性等)を有するバイアストランジスタ13を選択して使用する。この構成では、製造プロセスのバラツキ等の要因でバイアストランジスタ13の利得やしきい値電圧Vth等が変化しても、特性同一によりバイアストランジスタ14の利得やしきい値電圧Vth等も同様に変化する。これは、温度変動に対しても同様である。
*** Explanation of operation ***
Hereinafter, a method of generating a bias voltage will be described.
The bias voltage in the first embodiment is a voltage output from the bias circuit 100 to the load stage circuit 110.
In the bias circuit 100, a
Similarly, in the bias circuit 100, a
バイアストランジスタ13は電流源15から供給される電流と同じ電流がレプリカトランジスタ12を流れるようにレプリカトランジスタ12のゲート電圧を生成する。
前述したとおり、出力段トランジスタ11とレプリカトランジスタ12とは同一特性のトランジスタであり、バイアストランジスタ13とバイアストランジスタ14とは同一特性のトランジスタである。バイアストランジスタ13のゲート端子はバイアストランジスタ14のゲート端子と接続されているため、出力段トランジスタ11にはバイアストランジスタ14によってレプリカトランジスタ12と同じ電流が流れる。
The
As described above, the output stage transistor 11 and the
出力段トランジスタ11のドレイン端子は出力段回路120の出力段トランジスタ21に接続されており、システム要求から出力段トランジスタ11のドレイン電圧が決まる。
一方、レプリカトランジスタ12のドレイン端子は抵抗18を介して電流源15とバイアストランジスタ13のゲート端子に接続されており、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧はバイアストランジスタ13のゲート電圧と抵抗18の電圧降下とから決まる。
The drain terminal of the output stage transistor 11 is connected to the
On the other hand, the drain terminal of the
以下の式は、「飽和領域」におけるドレイン電流Idと、ゲート端子とソース端子の間に生じるゲート−ソース間電圧Vgsと、ドレイン端子とソース端子との間に生じるドレイン−ソース間電圧Vdsの関係を示している。「飽和領域」は、トランジスタのドレイン−ソース間電圧Vdsが変化してもドレイン電流Idの電流値が変わらない領域をいう。 The following equation shows the relationship between the drain current Id in the “saturation region”, the gate-source voltage Vgs generated between the gate terminal and the source terminal, and the drain-source voltage Vds generated between the drain terminal and the source terminal. Is shown. The “saturation region” refers to a region where the current value of the drain current Id does not change even when the drain-source voltage Vds of the transistor changes.
Id=(1/2)(W/L)μCox(Vgs−Vth)2(1+λVds)
Vth:しきい値電圧
Cox:単位面積あたりのゲート酸化膜容量
μ:n型MOSの場合、電子の移動度、n型MOSの場合、正孔の移動度
λ:チャネル変調効果係数
W/L:MOSFETの構造で決まる係数
Id = (1/2) (W / L) μCox (Vgs−Vth) 2 (1 + λVds)
Vth: threshold voltage Cox: gate oxide film capacity per unit area μ: electron mobility for n-type MOS, hole mobility for n-type MOS λ: channel modulation effect coefficient W / L: Coefficient determined by MOSFET structure
上式で示されるように、トランジスタのゲート端子に接続されるゲート電圧Vgsが同一であったとしても、ドレイン電圧Vdsが異なるとトランジスタを流れる電流値は異なってしまうため、ドレイン電圧が変動すると出力段回路の電流値が変動してしまう。
出力段トランジスタ11のドレイン端子は、出力段トランジスタ21に接続されている。一方、レプリカトランジスタ12のドレイン端子は、抵抗18がなければ、電流源15に接続されることになり、出力段トランジスタ11のドレイン電圧とレプリカトランジスタ12のドレイン電圧とは同じとは限らない。
As shown in the above equation, even if the gate voltage Vgs connected to the gate terminal of the transistor is the same, the current flowing through the transistor is different if the drain voltage Vds is different. The current value of the stage circuit fluctuates.
The drain terminal of the output stage transistor 11 is connected to the
通常、バイアストランジスタ13のゲート電圧は出力段トランジスタ11のドレイン電圧よりも高い。このため、抵抗18がなければ、出力段トランジスタ11のドレイン電圧よりも高い電圧がレプリカトランジスタ12のドレイン端子にかかることになる。
そこで、電流源15から供給される電流とレプリカトランジスタ12のドレイン端子に接続された抵抗18の抵抗値によって決まる電圧だけ電圧降下させることによって、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧を制御する。
Usually, the gate voltage of the
Therefore, the drain voltage of the
電流源15の電流値はプロセス、温度、電源電圧等でばらつかないように設計されており、抵抗18の抵抗値を適切に設定することでレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくする。
その際に、抵抗18として、プロセス、温度、電源電圧等におけるバラツキに対して、レプリカトランジスタ12の特性と逆方向に動くような抵抗18を選択する。
The current value of the
At this time, as the
以上のように、実施の形態1のバイアス回路100は、レプリカトランジスタ12のドレイン端子に抵抗18を備え、抵抗18による電圧降下によりレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくなるように制御することを特徴とする。
As described above, the bias circuit 100 according to the first embodiment includes the
***実施の形態1の効果の説明***
実施の形態1によれば、抵抗18により、出力段回路の電流値のバラツキを抑制することができる。
*** Explanation of effects of Embodiment 1 ***
According to the first embodiment, the variation in the current value of the output stage circuit can be suppressed by the
また、プロセス、温度、電源電圧等によってレプリカトランジスタ12の特性が変動したとしてもレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくすることができる。
Further, even if the characteristics of the
また、レプリカトランジスタのドレイン端子に接続された抵抗によってレプリカトランジスタのドレイン電圧を制御するため、アンプ素子を追加する必要がなく面積増加を抑制しつつ消費電力の増加なしにバラツキを抑制することができる。 Further, since the drain voltage of the replica transistor is controlled by the resistance connected to the drain terminal of the replica transistor, it is not necessary to add an amplifier element, and it is possible to suppress the variation without increasing the power consumption while suppressing the area increase. .
***他の構成***
1個の抵抗ではレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくすることができない場合は、抵抗18を特性の異なる複数の抵抗を組み合わせとすることで、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくする。例えば、抵抗18は温度係数の異なる抵抗の組み合わせで構成する。
*** Other configuration ***
If the drain voltage of the
実施の形態2.
***構成の説明***
図2は、本発明の実施の形態2におけるバイアス電圧生成を説明するブロック図である。以下、AB級アンプ200の出力段回路120の出力段トランジスタ11のバイアス回路について説明するが、出力段トランジスタ21についても同様である。
主として、図1との違いについて説明する。
図2に示すバイアス回路は、抵抗18の代わりにトランジスタ29を有している点が特徴である。
Embodiment 2 FIG.
*** Configuration description ***
FIG. 2 is a block diagram illustrating generation of a bias voltage according to the second embodiment of the present invention. Hereinafter, the bias circuit of the output stage transistor 11 of the output stage circuit 120 of the class AB amplifier 200 will be described. The same applies to the
Mainly, differences from FIG. 1 will be described.
The bias circuit shown in FIG. 2 is characterized in that a
***動作の説明***
通常、バイアストランジスタ13のゲート電圧は出力段トランジスタ11のドレイン電圧よりも高い。このため、レプリカトランジスタ12のドレイン端子にトランジスタ29を接続し、電流源15から供給される電流とトランジスタ29のドレイン−ソース間の抵抗値とによって決まる電圧だけ電圧降下させて、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧を制御する。トランジスタ29は抵抗の一例である。
*** Explanation of operation ***
Usually, the gate voltage of the
電流源15の電流値はプロセス、温度、電源電圧等でばらつかないように設計されており、トランジスタ29のゲート長、ゲート幅、ゲート電圧を適切に設定することでレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくすることができる。こうして、出力段回路120の電流値のバラツキを抑制することができる。
The current value of the
プロセス、温度、電源電圧等におけるバラツキに対して、トランジスタ29のドレイン−ソース間電圧はレプリカトランジスタ12のゲート−ソース間電圧と逆方向に動く。トランジスタ29のゲート長、ゲート幅、ゲート電圧をレプリカトランジスタ12のゲート−ソース間電圧と逆方向に動くように設定しておけば、プロセス、温度、電源電圧等によってレプリカトランジスタ12の特性が変動したとしても、レプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくすることができる。
以上のように、実施の形態2のバイアス回路は、抵抗がトランジスタ29で実現されていることを特徴とする。また、トランジスタ29のゲート電圧を制御することによりレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を制御することを特徴とする。
The voltage between the drain and the source of the
As described above, the bias circuit according to the second embodiment is characterized in that the resistor is realized by the
***実施の形態2の効果の説明***
実施の形態2によれば、トランジスタ29により、プロセス、温度、電源電圧等によってレプリカトランジスタ12の特性が変動したとしてもレプリカトランジスタ12のドレイン電圧を出力段トランジスタ11のドレイン電圧と等しくすることができる。
また、トランジスタ29を使用してフィードバックをかけることによっても、出力段回路の電流値のバラツキを抑制することができる。
*** Effect of Embodiment 2 ***
According to the second embodiment, the
Also, by applying feedback using the
***他の構成***
トランジスタ29と抵抗18を組み合わせて、抵抗としてもよい。
*** Other configuration ***
The
上記実施の形態1、2においては、AB級アンプについて説明したが、この発明はこれに限定されるものではなく、この発明の趣旨を逸脱しない範囲において、これらの構成を適宜組み合わせたり、その構成に一部変形を加えたり、構成を一部省略することが可能である。
たとえば、AB級アンプに限らず、他のアンプに用いてもよい。また、アンプに限らず、トランジスタのバイアス電圧を生成する場合に用いてもよい。
In the first and second embodiments, the class AB amplifier has been described. However, the present invention is not limited to this, and these configurations may be appropriately combined or may be used without departing from the spirit of the present invention. Can be partially modified or the configuration can be partially omitted.
For example, the present invention is not limited to the class AB amplifier and may be used for other amplifiers. The present invention is not limited to the amplifier, and may be used for generating a bias voltage of a transistor.
11 出力段トランジスタ、12 レプリカトランジスタ、13 バイアストランジスタ、14 バイアストランジスタ、21 出力段トランジスタ、24 バイアストランジスタ、29 トランジスタ、15 電流源、16 電流源、17 電流源、26 電流源、18 抵抗、100 バイアス回路、110 負荷段回路、120 出力段回路、200 AB級アンプ。 11 output stage transistor, 12 replica transistor, 13 bias transistor, 14 bias transistor, 21 output stage transistor, 24 bias transistor, 29 transistor, 15 current source, 16 current source, 17 current source, 26 current source, 18 resistance, 100 bias Circuit, 110 load stage circuit, 120 output stage circuit, 200 AB class amplifier.
Claims (6)
ソース端子がグランドと接続され、前記出力段回路の前記出力段トランジスタと同一特性のレプリカトランジスタと、
前記負荷段回路の前記バイアストランジスタと同一特性のバイアストランジスタであって、ゲート端子が前記負荷段回路の前記バイアストランジスタのゲート端子に接続され、ソース端子が電流源と前記レプリカトランジスタのゲート端子に接続されたバイアストランジスタと、
前記レプリカトランジスタのドレイン端子に接続された抵抗と
を備え、
前記抵抗は、電流源から供給される電流と前記抵抗の抵抗値とによって決まる電圧だけ電圧降下させることによって、前記レプリカトランジスタのドレイン電圧を前記出力段トランジスタのドレイン電圧と等しくする電圧降下を発生させる抵抗であるバイアス回路。 In a bias circuit connected to a load stage circuit having a bias transistor having a source terminal connected to a gate terminal and a current source of an output stage transistor of an output stage circuit,
The source terminal connected to ground, and the replica transistor of the output stage transistor and the same characteristics of the output stage circuit,
A bias transistor having the same characteristics as the bias transistor of the load stage circuit , wherein a gate terminal is connected to a gate terminal of the bias transistor of the load stage circuit , and a source terminal is connected to a current source and a gate terminal of the replica transistor. Bias transistor,
A resistor connected to a drain terminal of the replica transistor,
The resistor generates a voltage drop that causes the drain voltage of the replica transistor to be equal to the drain voltage of the output stage transistor by dropping a voltage determined by a current supplied from a current source and a resistance value of the resistor. A bias circuit that is a resistor.
前記抵抗により電流源から供給される電流と前記抵抗の抵抗値とによって決まる電圧だけ電圧降下させることにより、前記レプリカトランジスタのドレイン電圧を前記出力段トランジスタのドレイン電圧と等しくするバイアス電圧生成方法。 A bias circuit connected to a load stage circuit having a bias transistor having a source terminal connected to a gate terminal and a current source of an output stage transistor of an output stage circuit, wherein the source terminal is connected to ground, wherein the replica transistor of the output stage transistor and the same characteristics of a bias transistor of said bias transistor of the same characteristics of the load stage circuit, a gate terminal connected to the gate terminal of the bias transistor of said load stage circuit, the source In a bias voltage generating method of a bias circuit including a bias transistor having a terminal connected to a current source and a gate terminal of the replica transistor, and a resistor connected to a drain terminal of the replica transistor,
A bias voltage generating method for making a drain voltage of the replica transistor equal to a drain voltage of the output stage transistor by dropping a voltage determined by a current supplied from a current source by the resistor and a resistance value of the resistor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016051531A JP6650800B2 (en) | 2016-03-15 | 2016-03-15 | Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016051531A JP6650800B2 (en) | 2016-03-15 | 2016-03-15 | Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017168996A JP2017168996A (en) | 2017-09-21 |
JP6650800B2 true JP6650800B2 (en) | 2020-02-19 |
Family
ID=59909183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016051531A Active JP6650800B2 (en) | 2016-03-15 | 2016-03-15 | Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6650800B2 (en) |
-
2016
- 2016-03-15 JP JP2016051531A patent/JP6650800B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017168996A (en) | 2017-09-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI390829B (en) | Cascode circuit and semiconductor device | |
JP6204772B2 (en) | Cascode amplifier | |
JP5097664B2 (en) | Constant voltage power circuit | |
KR101451468B1 (en) | Constant current circuit and reference voltage circuit | |
JP4716887B2 (en) | Constant current circuit | |
US20100201406A1 (en) | Temperature and Supply Independent CMOS Current Source | |
JP2007049233A (en) | Constant current circuit | |
JP2006190946A (en) | Mos transistor having saturated current insensible to temperature and constant-voltage generator using the same | |
JP4582705B2 (en) | Voltage regulator circuit | |
TWI629581B (en) | Voltage regulator | |
JP4745023B2 (en) | Ripple filter circuit | |
JP4477373B2 (en) | Constant current circuit | |
US9785179B2 (en) | Generating a current with inverse supply voltage proportionality | |
JP4694942B2 (en) | Constant current circuit | |
JP2008152632A (en) | Reference voltage generation circuit | |
JP2000114891A (en) | Current source circuit | |
JP6912350B2 (en) | Voltage regulator | |
TWI698731B (en) | Voltage Regulator | |
JP6549008B2 (en) | Voltage regulator | |
JP6650800B2 (en) | Bias circuit, class AB amplifier, and bias voltage generation method | |
JP2013054535A (en) | Constant voltage generation circuit | |
JP4878164B2 (en) | Constant current circuit | |
JP2005234890A (en) | Constant current circuit | |
JP6246482B2 (en) | Bias circuit, amplifier | |
US10355648B2 (en) | Regulator amplifier circuit for outputting a fixed output voltage independent of a load current |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180822 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190423 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190521 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190620 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190702 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190726 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200121 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6650800 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |