JP6640613B2 - Display device - Google Patents

Display device Download PDF

Info

Publication number
JP6640613B2
JP6640613B2 JP2016044631A JP2016044631A JP6640613B2 JP 6640613 B2 JP6640613 B2 JP 6640613B2 JP 2016044631 A JP2016044631 A JP 2016044631A JP 2016044631 A JP2016044631 A JP 2016044631A JP 6640613 B2 JP6640613 B2 JP 6640613B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
display device
signal
wirings
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016044631A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2017027576A (en
Inventor
野口 幸治
幸治 野口
一行 小林
一行 小林
康幸 寺西
康幸 寺西
元 小出
元 小出
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Original Assignee
Japan Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Display Inc filed Critical Japan Display Inc
Priority to US15/191,018 priority Critical patent/US10496228B2/en
Priority to CN201610577191.7A priority patent/CN106371656B/en
Publication of JP2017027576A publication Critical patent/JP2017027576A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6640613B2 publication Critical patent/JP6640613B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、表示装置に関し、特に、圧力検出方式の入力装置を備える表示装置に適用して有効な技術に関する。   The present invention relates to a display device, and particularly to a technology that is effective when applied to a display device including a pressure detection type input device.

表示装置に対して外部から印加された圧力を検出し、その検出値を入力情報として利用する技術がある。   There is a technology that detects a pressure applied from the outside to a display device and uses the detected value as input information.

例えば、特開2000−66837号公報(特許文献1)には、液晶表示セルが押圧されて変形することによる容量変化に基づいて、液晶表示素子に対する圧力を検出する圧力検知機構が記載されている。   For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-66837 (Patent Document 1) describes a pressure detection mechanism that detects a pressure on a liquid crystal display element based on a change in capacitance caused by a liquid crystal display cell being pressed and deformed. .

特開2000−66837号公報JP 2000-66837 A

表示装置に印加された圧力を検出する場合、上記特許文献1のように、表示装置の構成部材の一部が圧力に応じて弾性変形し、この弾性変形を電気的に検出する必要がある。   When the pressure applied to the display device is detected, as in Patent Document 1, a part of the components of the display device elastically deforms according to the pressure, and it is necessary to electrically detect the elastic deformation.

ところが、表示装置に対する薄型化の要求に対応するため、表示装置の構成部材の厚さも薄くなっている。このため、表示装置に圧力が印加された時の弾性変形の程度が小さくなり、圧力検出の精度低下の原因になる。そこで、表示装置に対して外部から印加された圧力を検出し、その検出値を入力情報として利用するためには、圧力の検出信頼性を向上させる技術が必要である。   However, in order to meet the demand for a thinner display device, the thickness of the components of the display device has been reduced. For this reason, the degree of elastic deformation when pressure is applied to the display device is reduced, which causes a reduction in accuracy of pressure detection. Therefore, in order to detect the pressure applied from the outside to the display device and use the detected value as input information, a technique for improving the reliability of pressure detection is required.

本発明の目的は、表示装置の信頼性を向上させる技術を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a technique for improving the reliability of a display device.

本発明の一態様である表示装置は、第1面および前記第1面の反対側の第2面を備える第1基板と、前記第1基板の前記第1面側に設けられる表示機能層と、前記第1基板の前記第1面側に設けられ、画像を形成する信号が供給される複数の第1配線と、前記第1基板の前記第2面側に、前記第1基板と離間して設けられた第1導電膜と、前記複数の第1配線と前記第1導電膜との間の容量値の変化を検出する第1回路と、を有する。また、前記表示装置は、前記容量値の変化により外部物体の接触による圧力を算出する。   A display device according to one embodiment of the present invention includes a first substrate including a first surface and a second surface opposite to the first surface, and a display function layer provided on the first surface side of the first substrate. A plurality of first wirings provided on the first surface side of the first substrate and supplied with a signal for forming an image, and separated from the first substrate on the second surface side of the first substrate And a first circuit for detecting a change in capacitance between the plurality of first wirings and the first conductive film. Further, the display device calculates the pressure due to the contact of an external object based on the change in the capacitance value.

一実施の形態の表示装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an entire configuration of a display device according to an embodiment. 圧力センサに外部からの圧力が印加されていない状態を模式的に示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram schematically showing a state where no external pressure is applied to the pressure sensor. 圧力センサに外部からの圧力が印加された状態を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the state in which the pressure from the outside was applied to the pressure sensor. 圧力が印加された場合および圧力が印加されていない場合の検出信号の波形の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a waveform of a detection signal when pressure is applied and when pressure is not applied. 図1に示す表示装置の一例を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating an example of the display device illustrated in FIG. 1. 図5に示す表示装置が備える液晶層の周辺構造を拡大して示す拡大断面図である。FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view illustrating a peripheral structure of a liquid crystal layer included in the display device illustrated in FIG. 5 in an enlarged manner. 図5に示すアレイ基板の構成例を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view illustrating a configuration example of an array substrate illustrated in FIG. 5. 図7に示すアレイ基板に設けられた複数のTFT素子の配列の例を示す説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of an arrangement of a plurality of TFT elements provided on the array substrate shown in FIG. 7. 図1に示す圧力検出部が備える構成の例を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of a configuration included in a pressure detection unit illustrated in FIG. 1. 図1に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of timing at which a display operation and a pressure detection operation of the display device illustrated in FIG. 1 are performed. 図9に対する変形例の圧力センサを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the pressure sensor of a modification with respect to FIG. 図11に対する変形例の圧力センサを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the pressure sensor of a modification with respect to FIG. 図12に示す自己容量方式の圧力センサの検出原理を模式的に示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram schematically showing a detection principle of the self-capacitance type pressure sensor shown in FIG. 12. 図12に示す自己容量方式の圧力センサの検出原理を模式的に示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram schematically showing a detection principle of the self-capacitance type pressure sensor shown in FIG. 12. 圧力が印加された場合、および圧力が印加されていない場合における自己容量方式の圧力センサの場合の検出信号の波形の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the waveform of the detection signal in the case of the pressure sensor of a self-capacitance type when pressure is applied and when pressure is not applied. 図12に示す圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram illustrating a connection example between a signal line and a scanning line constituting a detection electrode of the pressure sensor illustrated in FIG. 図16に対する変形例である圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram showing an example of connection between signal lines and scanning lines constituting a detection electrode of a pressure sensor, which is a modification example of FIG. 16, and a voltage detector. 図16に対する他の変形例である圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram showing a connection example between a signal line and a scanning line constituting a detection electrode of a pressure sensor which is another modification example of FIG. 16 and a voltage detector. 図5に対する変形例である表示装置の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the display apparatus which is a modified example with respect to FIG. 図19に対する変形例である表示装置の一例を示す断面図である。FIG. 20 is a cross-sectional view illustrating an example of a display device that is a modification example of FIG. 19. 図1に対する変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating an overall configuration of a display device that is a modification example of FIG. 1. タッチセンサと指が離れた状態を模式的に示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram schematically showing a state in which a touch sensor and a finger are separated. タッチセンサに指が接触した状態を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the state which the finger | toe touched the touch sensor. 図21に示す表示装置の一例を示す断面図である。FIG. 22 is a sectional view illustrating an example of the display device illustrated in FIG. 21. 図24に示す表示装置が備えるタッチセンサの構成の例を示す説明図である。25 is an explanatory diagram illustrating an example of a configuration of a touch sensor included in the display device illustrated in FIG. 24. FIG. 図21に対する変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 22 is a block diagram illustrating an overall configuration of a display device that is a modification example of FIG. 21. 図21に対する他の変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 22 is a block diagram showing an overall configuration of a display device which is another modification example of FIG. 21. 図16〜図18に示す圧力センサのうちのいずれかを備える表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram schematically illustrating a configuration example of a display device including any of the pressure sensors illustrated in FIGS. 16 to 18. 図16〜図18に示す圧力センサのうちのいずれかを備える表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram schematically illustrating a configuration example of a display device including any of the pressure sensors illustrated in FIGS. 16 to 18. 図28および図29に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。FIG. 30 is an explanatory diagram illustrating an example of timings at which a display operation and a pressure detection operation of the display device illustrated in FIGS. 図29に対する変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。30 is an explanatory diagram schematically showing a configuration example of a display device which is a modification example of FIG. 29. FIG. 図31に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。FIG. 33 is an explanatory diagram illustrating an example of timings at which a display operation and a pressure detection operation of the display device illustrated in FIG. 31 are performed. 図28に対する変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。FIG. 29 is an explanatory diagram schematically illustrating a configuration example of a display device that is a modification example of FIG. 28. 図29に対する他の変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。30 is an explanatory diagram schematically showing a configuration example of a display device which is another modification example of FIG. 29. FIG. 図33および図34に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。FIG. 35 is an explanatory diagram illustrating an example of timings at which a display operation and a pressure detection operation of the display device illustrated in FIGS. 表示装置の表示動作、タッチ検出動作、および圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating an example of timings at which a display operation, a touch detection operation, and a pressure detection operation of the display device are performed.

以下に、本発明の各実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書の各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一または関連する符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. It should be noted that the disclosure is merely an example, and those skilled in the art can easily conceive of appropriate changes while maintaining the gist of the invention, which are naturally included in the scope of the present invention. In addition, in order to make the description clearer, the width, thickness, shape, and the like of each part may be schematically illustrated as compared with actual embodiments, but this is merely an example, and the interpretation of the present invention is not limited thereto. It is not limited. In addition, in each drawing of this specification, the same elements as those described above regarding the already described drawings are denoted by the same or related reference numerals, and detailed description may be appropriately omitted.

また、以下の実施の形態で説明する技術は、表示機能層が設けられた表示領域の複数の表示画素に、表示領域の周囲から信号を供給する機構を備える表示装置に広く適用可能である。上記のような表示装置には、例えば、液晶表示装置、有機EL(Electro-Luminescence)表示装置など、種々の表示装置が例示できる。以下の実施の形態では、表示装置の代表例として、液晶表示装置を取り上げて説明する。   Further, the technology described in the following embodiments can be widely applied to a display device including a mechanism for supplying a signal to a plurality of display pixels in a display region provided with a display function layer from the periphery of the display region. Examples of the display device as described above include various display devices such as a liquid crystal display device and an organic EL (Electro-Luminescence) display device. In the following embodiments, a liquid crystal display device will be described as a typical example of a display device.

また、液晶表示装置は、表示機能層である液晶層の液晶分子の配向を変化させるための電界の印加方向により、大きくは以下の2通りに分類される。すなわち、第1の分類として、表示装置の厚さ方向(あるいは面外方向)に電界が印加される、所謂、縦電界モードがある。縦電界モードには、例えばTN(Twisted Nematic)モードや、VA(Vertical Alignment)モードなどがある。また、第2の分類として、表示装置の平面方向(あるいは面内方向)に電界が印加される、所謂、横電界モードがある。横電界モードには、例えばIPS(In-Plane Switching)モードや、IPSモードの一つであるFFS(Fringe Field Switching)モードなどがある。以下で説明する技術は、縦電界モードおよび横電界モードのいずれにも適用できるが、以下で説明する実施の形態では、一例として、横電界モードの表示装置を取り上げて説明する。   Liquid crystal display devices are roughly classified into the following two types according to the direction of application of an electric field for changing the orientation of liquid crystal molecules in a liquid crystal layer serving as a display function layer. That is, the first category is a so-called vertical electric field mode in which an electric field is applied in the thickness direction (or out-of-plane direction) of the display device. The vertical electric field mode includes, for example, a TN (Twisted Nematic) mode and a VA (Vertical Alignment) mode. Further, as a second classification, there is a so-called lateral electric field mode in which an electric field is applied in a plane direction (or an in-plane direction) of the display device. The lateral electric field mode includes, for example, an IPS (In-Plane Switching) mode and an FFS (Fringe Field Switching) mode which is one of the IPS modes. The technology described below can be applied to both the vertical electric field mode and the horizontal electric field mode. However, in the embodiment described below, a display device in the horizontal electric field mode will be described as an example.

また、本願明細書でいう「入力装置」とは、表示装置の外部から表示装置が備える回路に対して、命令などの情報をインプットする装置である。表示装置は、入力装置により入力された情報を演算処理回路や制御回路などで処理して、処理結果を出力する。本願明細書では、入力装置が備える情報の入力方式として、二種類の方式について説明する。   In addition, the “input device” in the specification of the present application is a device that inputs information such as a command to a circuit included in the display device from outside the display device. The display device processes information input by the input device with an arithmetic processing circuit, a control circuit, or the like, and outputs a processing result. In the specification of the present application, two types of information input methods provided in the input device will be described.

一つ目の入力方式は、圧力センサ(Force Sensing)を利用した入力方式である。圧力センサを利用した入力方式では、外部から圧力が印加されたこと、またその圧力の強さを圧力センサにより検出して情報を入力する。以下の実施形態では、圧力センサの一例として、圧力センサの一部分が弾性変形することにより、圧力センサの電極間の距離が変化し、静電容量が変化することを利用して弾性変形の有無を検出する、静電容量検出方式の圧力センサについて説明する。   The first input method is an input method using a pressure sensor (Force Sensing). In the input method using a pressure sensor, information is inputted by detecting that a pressure is applied from the outside and the intensity of the pressure by the pressure sensor. In the following embodiments, as an example of a pressure sensor, a part of the pressure sensor is elastically deformed, the distance between the electrodes of the pressure sensor is changed, and the presence or absence of elastic deformation is determined by using the change in capacitance. A capacitance detection type pressure sensor to be detected will be described.

また、二つ目の入力方式は、タッチセンサ(Touch Sensing)を利用する入力方式である。タッチセンサを利用した入力方式では、人間の指やタッチペンなどの入力具が入力装置に近づいたこと、またその近づいた位置を検出して情報を入力する。後述する実施の形態2では、タッチセンサの一例として、誘電体である入力具をタッチセンサの電極に近づけるとタッチセンサの静電容量が変化することを利用して入力具の有無を検出する、静電容量検出方式のタッチセンサについて説明する。   The second input method is an input method using a touch sensor (Touch Sensing). In an input method using a touch sensor, information is input by detecting that an input tool such as a human finger or a touch pen has approached an input device and detecting the approach position. In a second embodiment described later, as an example of a touch sensor, the presence or absence of an input tool is detected by using the fact that the capacitance of the touch sensor changes when the input tool, which is a dielectric, is brought close to an electrode of the touch sensor. The touch sensor of the capacitance detection type will be described.

また、以下の実施の形態では、圧力センサの構成部品、あるいは圧力センサおよびタッチセンサの構成部品の一部と、表示装置の構成部品とを兼用化する、所謂、インセルタイプの入力装置付きの表示装置の例を取り上げて説明する。上記の表示装置は、詳しくは、圧力センサ付き表示装置、あるいは圧力センサおよびタッチセンサ付き表示装置であるが、本願明細書では、「表示装置」には、入力装置が付与されていない表示装置の他、圧力センサ付き表示装置、および圧力センサおよびタッチセンサ付き表示装置が含まれる。   Further, in the following embodiment, a so-called in-cell type display with an input device is used in which the components of the pressure sensor or a part of the components of the pressure sensor and the touch sensor are also used as the components of the display device. An example of the apparatus will be described. The display device described above is, in detail, a display device with a pressure sensor, or a display device with a pressure sensor and a touch sensor, but in the present specification, the “display device” is a display device without an input device. Other examples include a display device with a pressure sensor, and a display device with a pressure sensor and a touch sensor.

(実施の形態1)
<表示装置の全体構成>
まず、実施の形態1の表示装置の基本構成について説明する。図1は、実施の形態1の表示装置の全体構成を示すブロック図である。
(Embodiment 1)
<Overall configuration of display device>
First, a basic configuration of the display device according to the first embodiment will be described. FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of the display device according to the first embodiment.

表示装置DP1は、圧力検出機能および表示機能を備えた本体部10と、制御部11と、ゲートドライバ12と、ソースドライバ13と、駆動ドライバ14と、検出回路部40とを備えている。   The display device DP1 includes a main body unit 10 having a pressure detection function and a display function, a control unit 11, a gate driver 12, a source driver 13, a drive driver 14, and a detection circuit unit 40.

本体部10は、画像や映像を出力する表示装置である表示部20と、圧力センサである圧力検出部30とを有する。上記したように本実施の形態では、表示部20は、表示機能層として液晶層を用いた表示装置とする。圧力検出部30は、静電容量検出方式の圧力検出部である。そのため、表示装置DP1は、圧力検出機能を有する入力装置を備えた表示装置である。また、本体部10は、表示部20と、圧力検出部30とを一体化した表示装置であり、圧力検出機能を内蔵した表示装置、すなわちインセルタイプの圧力検出機能付き表示装置である。   The main body unit 10 includes a display unit 20 that is a display device that outputs images and videos, and a pressure detection unit 30 that is a pressure sensor. As described above, in the present embodiment, the display unit 20 is a display device using a liquid crystal layer as a display function layer. The pressure detection unit 30 is a pressure detection unit of a capacitance detection type. Therefore, the display device DP1 is a display device including an input device having a pressure detection function. The main body 10 is a display device in which the display unit 20 and the pressure detection unit 30 are integrated, and is a display device with a built-in pressure detection function, that is, an in-cell type display device with a pressure detection function.

表示部20は、ゲートドライバ12から供給される走査信号Vscanに従って、表示領域において、1水平ラインずつ順次走査を行うことにより表示を行う。圧力検出部30は、後述するように、電気電極間の距離の変化による静電容量の変化を利用した圧力検出の原理に基づいて動作し、検出信号Vdetを出力する。   The display unit 20 performs display by sequentially scanning one horizontal line at a time in the display area in accordance with the scanning signal Vscan supplied from the gate driver 12. The pressure detector 30 operates based on the principle of pressure detection using a change in capacitance due to a change in the distance between the electric electrodes, as described later, and outputs a detection signal Vdet.

制御部11は、外部より供給された映像信号Vdispに基づいて、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、駆動ドライバ14および検出回路部40に対してそれぞれ制御信号を供給し、これらが互いに同期して動作するように制御する回路である。   The control unit 11 supplies control signals to the gate driver 12, the source driver 13, the drive driver 14, and the detection circuit unit 40 based on the video signal Vdisp supplied from the outside, and these operate in synchronization with each other. Circuit.

ゲートドライバ12は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、本体部10の表示駆動の対象となる水平ラインを順次選択する機能を有する。また、ソースドライバ13は、制御部11から供給される画像信号Vsigの制御信号に基づいて、表示部20が備える複数の副画素のそれぞれに、画素信号Vpixを供給する回路である。表示部20では、ゲートドライバ12から供給される水平ラインの選択信号、およびソースドライバ13から供給される画素信号Vpixに基づいて表示画像を形成する。   The gate driver 12 has a function of sequentially selecting horizontal lines to be driven for display of the main unit 10 based on a control signal supplied from the control unit 11. The source driver 13 is a circuit that supplies a pixel signal Vpix to each of a plurality of sub-pixels included in the display unit 20 based on a control signal of the image signal Vsig supplied from the control unit 11. The display unit 20 forms a display image based on a horizontal line selection signal supplied from the gate driver 12 and a pixel signal Vpix supplied from the source driver 13.

駆動ドライバ14は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、本体部10に含まれた駆動電極COML(後述する図6および図7を参照)に、駆動信号Vfsを供給する回路である。   The drive driver 14 is a circuit that supplies a drive signal Vfs to a drive electrode COML (see FIGS. 6 and 7 described later) included in the main body 10 based on a control signal supplied from the control unit 11. .

また、検出回路部40は、制御部11から供給される制御信号と、本体部10の圧力検出部30から供給された検出信号Vdetに基づいて、圧力検出部30に対する圧力印加の有無を検出する回路である。そして、検出回路部40は、本体部の圧力検出部30の圧力検出領域に対する圧力の印加の有無を電気的に判定し、得られた情報を出力する回路である。検出回路部40は、例えば、図1に示す例では、検出信号増幅部42と、A/D(Analog/Digital)変換部43と、信号処理部44と、座標抽出部45と、検出制御部46とを備えている。   Further, the detection circuit unit 40 detects the presence or absence of pressure application to the pressure detection unit 30 based on the control signal supplied from the control unit 11 and the detection signal Vdet supplied from the pressure detection unit 30 of the main unit 10. Circuit. The detection circuit section 40 is a circuit that electrically determines whether or not pressure is applied to the pressure detection area of the pressure detection section 30 of the main body, and outputs the obtained information. For example, in the example illustrated in FIG. 1, the detection circuit unit 40 includes a detection signal amplification unit 42, an A / D (Analog / Digital) conversion unit 43, a signal processing unit 44, a coordinate extraction unit 45, and a detection control unit. 46.

検出信号増幅部42は、圧力検出部30から供給される検出信号Vdetを増幅する。検出信号増幅部42は、検出信号Vdetに含まれる高い周波数成分、すなわちノイズ成分を除去し、検出対象の圧力成分を取り出してそれぞれ出力する低域通過アナログフィルタを備えていてもよい。   The detection signal amplifier 42 amplifies the detection signal Vdet supplied from the pressure detector 30. The detection signal amplifying unit 42 may include a low-pass analog filter that removes a high frequency component, that is, a noise component included in the detection signal Vdet, extracts a pressure component to be detected, and outputs the extracted pressure component.

<静電容量の変化を利用した圧力検出の原理>
次に、図1〜図4を参照し、本実施の形態の表示装置DP1における圧力検出の原理について説明する。図2は、圧力センサに外部からの圧力が印加されていない状態を模式的に示す説明図である。また、図3は、圧力センサに外部からの圧力が印加された状態を模式的に示す説明図である。また、図4は、圧力が印加された場合および圧力が印加されていない場合の検出信号の波形の一例を示す図である。
<Principle of pressure detection using change in capacitance>
Next, the principle of pressure detection in the display device DP1 of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an explanatory diagram schematically showing a state where no external pressure is applied to the pressure sensor. FIG. 3 is an explanatory view schematically showing a state where an external pressure is applied to the pressure sensor. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the waveform of the detection signal when the pressure is applied and when the pressure is not applied.

図2に示すように、静電容量型の圧力センサは、離間して対向配置される電極E1および電極E2を有する。電極E1と電極E2の間には容量素子C1が形成されている。この容量素子C1の一端は、駆動信号源である交流信号源Sに接続され、容量素子C1の他端は、圧力検出回路である電圧検出器DETに接続される。電圧検出器DETは、例えば図1に示す検出信号増幅部42に含まれる積分回路からなる。図2に示すように電圧検出器DETは積分器を備え、積分器の一つの入力端は電極E2に接続される。また、積分器の他の入力端には、参照電位Vrefが入力される。   As shown in FIG. 2, the capacitance-type pressure sensor has an electrode E1 and an electrode E2 which are spaced apart and opposed to each other. The capacitor C1 is formed between the electrode E1 and the electrode E2. One end of the capacitance element C1 is connected to an AC signal source S as a drive signal source, and the other end of the capacitance element C1 is connected to a voltage detector DET as a pressure detection circuit. The voltage detector DET includes, for example, an integration circuit included in the detection signal amplifier 42 shown in FIG. As shown in FIG. 2, the voltage detector DET includes an integrator, and one input terminal of the integrator is connected to the electrode E2. The reference potential Vref is input to another input terminal of the integrator.

交流信号源Sから容量素子C1の一端、例えば電極E1に、例えば数kHz〜数百kHz程度の周波数を有する交流矩形波Sgが印加されると、容量素子C1の他端、例えば電極E2側に接続された電圧検出器DETを介して、出力波形である検出信号Vdetが発生する。なお、この交流矩形波Sgは、例えば、図4に示す駆動信号Vfsに相当するものである。   When an AC rectangular wave Sg having a frequency of, for example, about several kHz to several hundred kHz is applied to one end of the capacitive element C1, for example, the electrode E1, from the AC signal source S, the other end of the capacitive element C1, for example, the electrode E2 side. A detection signal Vdet, which is an output waveform, is generated via the connected voltage detector DET. The AC rectangular wave Sg corresponds to, for example, the drive signal Vfs shown in FIG.

圧力センサに圧力が印加されていない状態では、図2に示すように、容量素子C1に対する充放電に伴って、容量素子C1の容量値に応じた電流が流れる。電圧検出器DETは、交流矩形波Sgに応じた電流の変動を、電圧の変動に変換する。この電圧の変動は、図4において、実線の波形V0で示されている。   In the state where no pressure is applied to the pressure sensor, as shown in FIG. 2, a current corresponding to the capacitance value of the capacitance element C1 flows with charging and discharging of the capacitance element C1. The voltage detector DET converts a change in current according to the AC rectangular wave Sg into a change in voltage. This voltage variation is shown by a solid waveform V0 in FIG.

一方、図3に示すように、例えば指などの外部物体が接触することにより、圧力センサに圧力が印加された状態では、圧力センサの一部が変形することにより、電極E1と電極E2との離間距離D2が図2に示す離間距離D1よりも小さくなる。これにより、容量素子C1の容量値が大きくなる。そのため、図3に示す容量素子C1に流れる電流が変動する。電圧検出器DETは、交流矩形波Sgに応じた電流の変動を電圧の変動に変換する。この電圧の変動は、図4において、破線の波形V1で示されている。この場合、波形V1は、上述した波形V0と比べて振幅が大きくなる。これにより、波形V0と波形V1との電圧差分の絶対値|ΔV|は、圧力センサの変形の影響に応じて変化することになる。   On the other hand, as shown in FIG. 3, when pressure is applied to the pressure sensor by contact with an external object such as a finger, for example, a part of the pressure sensor is deformed, so that the electrodes E1 and E2 The separation distance D2 is smaller than the separation distance D1 shown in FIG. Thereby, the capacitance value of the capacitance element C1 increases. Therefore, the current flowing through the capacitor C1 shown in FIG. 3 varies. The voltage detector DET converts a change in current according to the AC rectangular wave Sg into a change in voltage. This voltage fluctuation is shown by a broken line waveform V1 in FIG. In this case, the waveform V1 has a larger amplitude than the waveform V0 described above. Thus, the absolute value | ΔV | of the voltage difference between waveform V0 and waveform V1 changes according to the influence of the deformation of the pressure sensor.

図1に示す例では、圧力検出部30は、駆動ドライバ14から供給される駆動信号Vfsに従って、1つまたは複数の駆動電極に対応した1つの検出ブロックごとに圧力検出を行う。すなわち、圧力検出部30は、1つまたは複数の駆動電極COMLの各々に対応した1つの検出ブロックごとに、図2および図3に示す電圧検出器DETを介して、検出信号Vdetを出力し、出力した検出信号Vdetを、検出回路部40の検出信号増幅部42に供給する。   In the example illustrated in FIG. 1, the pressure detection unit 30 performs pressure detection for each detection block corresponding to one or a plurality of drive electrodes according to the drive signal Vfs supplied from the drive driver 14. That is, the pressure detection unit 30 outputs the detection signal Vdet via the voltage detector DET shown in FIGS. 2 and 3 for each detection block corresponding to one or a plurality of drive electrodes COML, The output detection signal Vdet is supplied to the detection signal amplification unit 42 of the detection circuit unit 40.

A/D変換部43は、駆動信号Vfsに同期したタイミングで、検出信号増幅部42から出力されるアナログ信号をそれぞれサンプリングしてデジタル信号に変換する回路である。   The A / D converter 43 is a circuit that samples each analog signal output from the detection signal amplifier 42 and converts it into a digital signal at a timing synchronized with the drive signal Vfs.

信号処理部44は、A/D変換部43の出力信号に含まれる、駆動信号Vfsをサンプリングした周波数以外の周波数成分、すなわちノイズ成分を低減するデジタルフィルタを備えている。信号処理部44は、A/D変換部43の出力信号に基づいて、圧力検出部30に対する圧力印加の有無を算出する論理回路である。信号処理部44は、圧力印加の有無による差分の電圧のみを取り出す処理を行う。この差分の電圧は、上述した波形V0と波形V1との差分の絶対値|ΔV|である。信号処理部44は、1つの検出ブロック当たりの絶対値|ΔV|を平均化する演算を行い、絶対値|ΔV|の平均値を求めてもよい。これにより、信号処理部44は、ノイズによる影響を低減できる。信号処理部44は、検出した差分の電圧を所定のしきい値電圧と比較し、このしきい値電圧以上であれば、圧力が印加されている状態と判断し、しきい値電圧未満であれば、圧力が印加されていない状態と判断する。このようにして、検出回路部40による圧力検出が行われる。   The signal processing unit 44 includes a digital filter that reduces frequency components other than the frequency at which the drive signal Vfs is sampled, that is, noise components, included in the output signal of the A / D conversion unit 43. The signal processing unit 44 is a logic circuit that calculates the presence or absence of pressure application to the pressure detection unit 30 based on the output signal of the A / D conversion unit 43. The signal processing unit 44 performs a process of extracting only a difference voltage depending on whether or not pressure is applied. The voltage of this difference is the absolute value | ΔV | of the difference between the waveform V0 and the waveform V1 described above. The signal processing unit 44 may perform an operation for averaging the absolute value | ΔV | per one detection block, and obtain the average value of the absolute values | ΔV |. Thereby, the signal processing unit 44 can reduce the influence of noise. The signal processing unit 44 compares the voltage of the detected difference with a predetermined threshold voltage. If the voltage is equal to or higher than the threshold voltage, it is determined that pressure is being applied. For example, it is determined that no pressure is applied. Thus, the pressure detection by the detection circuit unit 40 is performed.

座標抽出部45は、信号処理部44において圧力印加が検出されたときに、圧力印加が検出された位置の座標、すなわち入力装置における入力位置を算出する論理回路である。検出制御部46は、A/D変換部43と、信号処理部44と、座標抽出部45とが同期して動作するように制御する。座標抽出部45は、圧力センサの座標を出力信号Voutとして出力する。   The coordinate extraction unit 45 is a logic circuit that, when the signal processing unit 44 detects the pressure application, calculates the coordinates of the position where the pressure application is detected, that is, the input position in the input device. The detection control unit 46 controls the A / D conversion unit 43, the signal processing unit 44, and the coordinate extraction unit 45 to operate in synchronization. The coordinate extracting unit 45 outputs the coordinates of the pressure sensor as an output signal Vout.

<表示部の詳細>
次に、図5〜図8を参照し、図1に示す表示部20の構成例を詳細に説明する。図5は、図1に示す表示装置の一例を示す断面図である。また、図6は、図5に示す表示装置が備える液晶層の周辺構造を拡大して示す拡大断面図である。また、図7は、図5に示すアレイ基板の構成例を示す平面図である。また、図8は、図7に示すアレイ基板に設けられた複数のTFT素子の配列の例を示す説明図である。
<Details of display unit>
Next, a configuration example of the display unit 20 illustrated in FIG. 1 will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 5 is a sectional view showing an example of the display device shown in FIG. FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view showing a peripheral structure of a liquid crystal layer included in the display device shown in FIG. FIG. 7 is a plan view showing a configuration example of the array substrate shown in FIG. FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of the arrangement of a plurality of TFT elements provided on the array substrate shown in FIG.

なお、図5では、表示装置DP1に含まれる静電容量型の圧力センサの容量素子C1を模式的に示している。また、図5および図6は断面図であるが、構成部材の見易さのために一部の部材のハッチングは省略している。図6では、画素電極22、駆動電極COML、走査線GCLおよび信号線SGLのそれぞれにハッチングを付している。また、図5は、図7に示すY方向に沿った断面図、図6は図7に示すX方向に沿った断面図になっている。また、図7は平面図であるが、駆動電極COMLと信号線SGLとを識別し易くするため、駆動電極COMLに模様を付して示している。また、本セクションでは、後述する図10に示すように単位フレームFL1が表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとに時分割されている場合において、表示動作期間FLdpにおける各部の動作について主に説明する。   FIG. 5 schematically illustrates the capacitance element C1 of the capacitance-type pressure sensor included in the display device DP1. Although FIGS. 5 and 6 are cross-sectional views, hatching of some members is omitted for easy viewing of the constituent members. In FIG. 6, each of the pixel electrode 22, the drive electrode COML, the scanning line GCL, and the signal line SGL is hatched. FIG. 5 is a cross-sectional view along the Y direction shown in FIG. 7, and FIG. 6 is a cross-sectional view along the X direction shown in FIG. Although FIG. 7 is a plan view, the drive electrode COML is shown with a pattern in order to easily distinguish the drive electrode COML from the signal line SGL. In addition, in this section, when the unit frame FL1 is time-divided into a display operation period FLdp and a pressure detection operation period FLfs as shown in FIG. 10 described later, an operation of each unit in the display operation period FLdp will be mainly described. I do.

図5に示すように、表示装置DP1の本体部10は、アレイ基板2と、対向基板3と、液晶層4(図6参照)と、偏光板5と、偏光板6と、導光板7と、導体パターン8と、を有する。アレイ基板2は、アレイ基板2の主面としての上面2tと、上面2tの反対側に位置する下面2bと、を有する。また、対向基板3は、対向基板3の主面としての下面3bと、下面3bの反対側に位置する上面3tと、を有する。アレイ基板2と対向基板3とは、アレイ基板2の上面2tと対向基板3の下面3bとが互いに対向するように設けられている。表示部20(図1参照)の表示機能層である液晶層4は、アレイ基板2と対向基板3との間に設けられている。アレイ基板2と対向基板3との間において液晶層4の周囲は封止されており、液晶層4は封止された空間内に封入されている。   As shown in FIG. 5, the main body 10 of the display device DP1 includes an array substrate 2, a counter substrate 3, a liquid crystal layer 4 (see FIG. 6), a polarizing plate 5, a polarizing plate 6, a light guide plate 7, , A conductor pattern 8. The array substrate 2 has an upper surface 2t as a main surface of the array substrate 2 and a lower surface 2b located on the opposite side of the upper surface 2t. The opposing substrate 3 has a lower surface 3b as a main surface of the opposing substrate 3 and an upper surface 3t located on the opposite side of the lower surface 3b. The array substrate 2 and the opposing substrate 3 are provided such that the upper surface 2t of the array substrate 2 and the lower surface 3b of the opposing substrate 3 face each other. The liquid crystal layer 4 as a display function layer of the display unit 20 (see FIG. 1) is provided between the array substrate 2 and the counter substrate 3. The periphery of the liquid crystal layer 4 is sealed between the array substrate 2 and the opposing substrate 3, and the liquid crystal layer 4 is sealed in a sealed space.

また、図6に示すように、アレイ基板2は、基板21を有する。基板21は一方の主面としての上面21tおよび上面21tの反対側に位置する下面を有する。基板21の下面は、図5に示すアレイ基板2の下面2bと同じ面である。また、対向基板3は、基板31を有する。基板31は一方の主面としての下面31bおよび下面31bの反対側に位置する上面を有する。基板31の上面は、図5に示す対向基板3の上面3tと同じ面である。   As shown in FIG. 6, the array substrate 2 has a substrate 21. The substrate 21 has an upper surface 21t as one main surface and a lower surface located on the opposite side of the upper surface 21t. The lower surface of the substrate 21 is the same surface as the lower surface 2b of the array substrate 2 shown in FIG. The counter substrate 3 has a substrate 31. The substrate 31 has a lower surface 31b as one main surface and an upper surface located on the opposite side of the lower surface 31b. The upper surface of the substrate 31 is the same surface as the upper surface 3t of the counter substrate 3 shown in FIG.

なお、基板21および基板31として、例えばガラス基板、または、例えば樹脂からなるフィルムなど、各種の透明な基板を用いることができる。また、本願明細書では、透明な基板における「透明」とは、可視光に対する透過率が例えば80%以上であることを意味する。   Note that as the substrate 21 and the substrate 31, various transparent substrates such as a glass substrate or a film made of a resin, for example, can be used. Further, in the present specification, “transparent” on a transparent substrate means that the transmittance for visible light is, for example, 80% or more.

図5および図7に示すように、アレイ基板の上面2tは、表示領域Adと、表示領域Adよりもアレイ基板2の外周側に位置する領域である周辺領域Asとを含む。言い換えれば、周辺領域Asは、表示領域Adよりもアレイ基板2の外周側に位置する領域である。なお、本願明細書では、「平面視において」とは、基板21の上面21tまたは対向基板である基板31(図6参照)の下面31b(図6参照)に対して垂直な方向から視た場合を意味する。   As shown in FIGS. 5 and 7, the upper surface 2t of the array substrate includes a display region Ad and a peripheral region As that is a region located on the outer peripheral side of the array substrate 2 with respect to the display region Ad. In other words, the peripheral area As is an area located on the outer peripheral side of the array substrate 2 with respect to the display area Ad. In the specification of the present application, “in a plan view” means when viewed from a direction perpendicular to the upper surface 21t of the substrate 21 or the lower surface 31b (see FIG. 6) of the substrate 31 (see FIG. 6) which is the opposite substrate. Means

また、図6に示すように、アレイ基板2の上面2t側には、複数のTFT素子Tr(図8参照)がマトリクス状に設けられたTFT層25、駆動電極COML、絶縁膜24、および複数の画素電極22が順に積層されている。   As shown in FIG. 6, on the upper surface 2t side of the array substrate 2, a TFT layer 25 provided with a plurality of TFT elements Tr (see FIG. 8) in a matrix, a drive electrode COML, an insulating film 24, and Pixel electrodes 22 are sequentially stacked.

TFT層25には、表示機能層である液晶層4が備える複数の液晶素子LC(図8参照)を駆動する薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;TFT)である複数のTFT素子Tr(図8参照)がマトリクス状に設けられている。   The TFT layer 25 includes a plurality of TFT elements Tr (see FIG. 8) which are thin film transistors (TFTs) for driving a plurality of liquid crystal elements LC (see FIG. 8) included in the liquid crystal layer 4 which is a display function layer. They are provided in a matrix.

図8に示すように、基板21の表示領域Adには、複数の走査線GCL、複数の信号線SGL、および、複数のTFT素子Trが形成されている。なお、走査線GCLは、TFT素子Trのゲート電極に接続されるゲート配線を意味し、信号線SGLは、TFT素子Trのソース電極またはドレイン電極に接続されるソース配線またはドレイン配線を意味する。また、表示装置DP1において、画像を形成する表示動作期間FLdp(後述する図10参照)において、走査線GCLには走査信号Vscan(図1参照)が入力され、信号線SGLには映像信号(例えば図1に示す画素信号Vpix)が入力される。したがって、走査線GCLおよび信号線SGLは、いずれも画像を形成する信号が供給される配線である。図7では、基板21の上面21t上に設けられた複数の信号線SGLの配列の例を示している。   As shown in FIG. 8, a plurality of scanning lines GCL, a plurality of signal lines SGL, and a plurality of TFT elements Tr are formed in a display area Ad of the substrate 21. Note that the scanning line GCL means a gate wiring connected to the gate electrode of the TFT element Tr, and the signal line SGL means a source wiring or a drain wiring connected to the source electrode or the drain electrode of the TFT element Tr. In the display device DP1, in a display operation period FLdp (see FIG. 10 described later) for forming an image, a scanning signal Vscan (see FIG. 1) is input to the scanning line GCL, and a video signal (for example, The pixel signal Vpix) shown in FIG. 1 is input. Therefore, each of the scanning line GCL and the signal line SGL is a wiring to which a signal for forming an image is supplied. FIG. 7 shows an example of an arrangement of a plurality of signal lines SGL provided on the upper surface 21t of the substrate 21.

詳細は後述するが、本実施の形態では、後述する図10に示す圧力検出動作期間FLfsにおいて、複数の信号線SGLのそれぞれは、図2および図3を用いて説明した圧力検出部30用の電極E2として利用される。   Although details will be described later, in the present embodiment, in a pressure detection operation period FLfs shown in FIG. 10 described later, each of the plurality of signal lines SGL is used for the pressure detection unit 30 described with reference to FIGS. 2 and 3. Used as the electrode E2.

図8に示すように、走査線GCLは、表示領域Adで、X方向に延在し、かつ、Y方向に沿って複数の走査線GCLが配列されている。複数の信号線SGLは、表示領域Adで、Y方向に延在し、かつ、X方向に沿って複数の信号線SGLが配列されている。したがって、複数の信号線SGLの各々は、平面視において、複数の走査線GCLと交差する。このように、平面視において、互いに交差する複数の走査線GCLと複数の信号線SGLとの交点に、副画素SPixが配置され、複数の異なる色の副画素SPixにより1つの画素Pixが形成される。すなわち、基板21(図7参照)に設けられた複数の副画素SPixは、平面視において、表示領域Ad内に配置され、かつ、X軸方向およびY軸方向にマトリクス状に配列されている。   As shown in FIG. 8, the scanning line GCL extends in the X direction in the display area Ad, and a plurality of scanning lines GCL are arranged along the Y direction. The plurality of signal lines SGL extend in the Y direction in the display area Ad, and the plurality of signal lines SGL are arranged along the X direction. Therefore, each of the plurality of signal lines SGL intersects with the plurality of scanning lines GCL in plan view. As described above, in a plan view, the sub-pixel SPix is disposed at the intersection of the plurality of scanning lines GCL and the plurality of signal lines SGL that intersect each other, and one pixel Pix is formed by the plurality of sub-pixels SPix of different colors. You. That is, the plurality of sub-pixels SPix provided on the substrate 21 (see FIG. 7) are arranged in the display area Ad in a plan view, and are arranged in a matrix in the X-axis direction and the Y-axis direction.

平面視において、複数の走査線GCLの各々と複数の信号線SGLの各々とが交差する交差部には、TFT素子Trが形成されている。したがって、表示領域Adで、基板21(図7参照)上には、複数のTFT素子Trが形成されており、これらの複数のTFT素子Trは、X軸方向およびY軸方向にマトリクス状に配列されている。すなわち、複数の副画素SPixの各々には、TFT素子Trが設けられている。また、複数の副画素SPixの各々には、TFT素子Trに加え、液晶素子LCが設けられている。   In a plan view, a TFT element Tr is formed at an intersection where each of the plurality of scanning lines GCL and each of the plurality of signal lines SGL intersect. Accordingly, in the display area Ad, a plurality of TFT elements Tr are formed on the substrate 21 (see FIG. 7), and the plurality of TFT elements Tr are arranged in a matrix in the X-axis direction and the Y-axis direction. Have been. That is, each of the plurality of sub-pixels SPix is provided with the TFT element Tr. Further, each of the plurality of sub-pixels SPix is provided with a liquid crystal element LC in addition to the TFT element Tr.

TFT素子Trは、例えばnチャネル型のMOS(Metal Oxide Semiconductor)としての薄膜トランジスタからなる。TFT素子Trのゲート電極は、走査線GCLに接続されている。TFT素子Trのソース電極またはドレイン電極の一方は、信号線SGLに接続されている。TFT素子Trのソース電極またはドレイン電極の他方は、液晶素子LCの一端に接続されている。液晶素子LCは、例えば、一端がTFT素子Trのソース電極またはドレイン電極に接続され、他端が駆動電極COMLに接続されている。   The TFT element Tr includes, for example, a thin film transistor as an n-channel MOS (Metal Oxide Semiconductor). The gate electrode of the TFT element Tr is connected to the scanning line GCL. One of a source electrode and a drain electrode of the TFT element Tr is connected to the signal line SGL. The other of the source electrode and the drain electrode of the TFT element Tr is connected to one end of the liquid crystal element LC. The liquid crystal element LC has, for example, one end connected to the source electrode or the drain electrode of the TFT element Tr, and the other end connected to the drive electrode COML.

図8に示すように、X方向に沿って配列された複数の副画素SPix、すなわち液晶表示装置の同一の行に属する複数の副画素SPixは、走査線GCLにより互いに接続されている。走査線GCLは、ゲートドライバ12(図1参照)と接続され、ゲートドライバ12により走査信号Vscan(図1参照)が供給される。また、Y軸方向に配列された複数の副画素SPix、すなわち表示部20(図1参照)の同一の列に属する複数の副画素SPixは、信号線SGLにより互いに接続されている。信号線SGLは、ソースドライバ13(図1参照)と接続され、ソースドライバ13により画素信号Vpix(図1参照)が供給される。   As shown in FIG. 8, a plurality of sub-pixels SPix arranged along the X direction, that is, a plurality of sub-pixels SPix belonging to the same row of the liquid crystal display device are connected to each other by a scanning line GCL. The scanning line GCL is connected to a gate driver 12 (see FIG. 1), and a scanning signal Vscan (see FIG. 1) is supplied by the gate driver 12. The plurality of sub-pixels SPix arranged in the Y-axis direction, that is, the plurality of sub-pixels SPix belonging to the same column of the display unit 20 (see FIG. 1) are connected to each other by a signal line SGL. The signal line SGL is connected to the source driver 13 (see FIG. 1), and the source driver 13 supplies the pixel signal Vpix (see FIG. 1).

また、図6に示すようにTFT層25上には、駆動電極COMLが形成されている。図6に示す例では、駆動電極COMLは絶縁膜24に覆われ、絶縁膜24上に複数の画素電極22が形成されている。言い換えれば、図6に示す例では、駆動電極COMLは、基板21と画素電極22との間に形成されている。また、アレイ基板2の厚さ方向、すなわち、図5に示す上面2tおよび下面2bのうち、一方から他方に向かう方向において、駆動電極COMLは複数の画素電極22と重なるように設けられている。   In addition, as shown in FIG. 6, a drive electrode COML is formed on the TFT layer 25. In the example shown in FIG. 6, the drive electrode COML is covered with an insulating film 24, and a plurality of pixel electrodes 22 are formed on the insulating film 24. In other words, in the example shown in FIG. 6, the drive electrode COML is formed between the substrate 21 and the pixel electrode 22. The drive electrodes COML are provided so as to overlap the plurality of pixel electrodes 22 in the thickness direction of the array substrate 2, that is, in the direction from one of the upper surface 2t and the lower surface 2b shown in FIG.

また、図7に示すように本実施の形態ではアレイ基板2は、X方向に沿って延びる複数の駆動電極COMLを有している。駆動電極COMLは、パターニングされた導電膜(導体膜、あるいは導体パターンとも呼ぶ)であって、例えば酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide;ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide;IZO)または酸化スズ(SnO)等の透明導電材料から成る。本実施の形態のように複数の駆動電極COMLが設けられている場合、複数の駆動電極COMLの各々が図6に示す基板21と画素電極22との間に形成されている。また、複数の駆動電極COMLの各々が、複数の画素電極22とアレイ基板2の厚さ方向において重なるように設けられている。   Further, as shown in FIG. 7, in the present embodiment, the array substrate 2 has a plurality of drive electrodes COML extending along the X direction. The drive electrode COML is a patterned conductive film (also referred to as a conductive film or a conductive pattern), for example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (Indium Zinc Oxide; IZO), or tin oxide ( It is made of a transparent conductive material such as SnO). When a plurality of drive electrodes COML are provided as in the present embodiment, each of the plurality of drive electrodes COML is formed between the substrate 21 and the pixel electrode 22 shown in FIG. Further, each of the plurality of drive electrodes COML is provided so as to overlap the plurality of pixel electrodes 22 in the thickness direction of the array substrate 2.

また、図8に示す駆動電極COMLは、駆動ドライバ14(図1参照)と接続され、駆動ドライバ14により駆動信号Vcom(図1参照)が供給される。つまり、図8に示す例では、同一の列に属する複数の副画素SPixが1つの駆動電極COMLを共有するようになっている。複数の駆動電極COMLは、表示領域Adで、Y方向にそれぞれ延在し、かつ、X方向に沿って配列されている。前述したように、複数の信号線SGLは、表示領域Adで、Y方向にそれぞれ延在し、かつ、X方向に沿って配列されているため、複数の駆動電極COMLの各々が延在する方向は、複数の信号線SGLの各々が延在する方向と平行である。   The drive electrode COML shown in FIG. 8 is connected to the drive driver 14 (see FIG. 1), and the drive driver 14 supplies the drive signal Vcom (see FIG. 1). That is, in the example shown in FIG. 8, a plurality of sub-pixels SPix belonging to the same column share one drive electrode COML. The plurality of drive electrodes COML extend in the Y direction in the display area Ad, and are arranged along the X direction. As described above, the plurality of signal lines SGL extend in the Y direction in the display area Ad and are arranged along the X direction, and therefore, the direction in which each of the plurality of drive electrodes COML extends. Is parallel to the direction in which each of the plurality of signal lines SGL extends.

また、図6に示す複数の画素電極22は、図8に模式的に示すように、平面視において、表示領域Ad内のX方向およびY方向にマトリクス状に配列された複数の副画素SPixの各々にそれぞれ形成されている。したがって、図7では図示を省略したが、複数の画素電極22は、X方向およびY方向にマトリクス状に配列されている。   The plurality of pixel electrodes 22 illustrated in FIG. 6 are, as schematically illustrated in FIG. 8, the plurality of sub-pixels SPix arranged in a matrix in the X direction and the Y direction in the display area Ad in plan view. Each is formed respectively. Accordingly, although not shown in FIG. 7, the plurality of pixel electrodes 22 are arranged in a matrix in the X direction and the Y direction.

また、図7に示すように、複数の駆動電極COMLは、平面視において、表示領域Adの周囲の周辺領域Asに設けられた、引き回し配線WRCと電気的に接続されている。複数の駆動電極COMLは、図7に示すように、平面視において、表示領域Adの内部で、基板21の一方の主面としての上面21t側に設けられている。引き回し配線WRCは、駆動電極COMLと半導体チップ19(図5参照)とを電気的に接続する配線であり、平面視において、周辺領域As内の基板21の上面21t上に形成されている。複数の駆動電極COMLの各々の表面および、複数の引き回し配線WRCの各々の表面を含めて基板21の上面21t上には、絶縁膜24(図6参照)が形成されている。表示領域Adで、絶縁膜24上には、複数の画素電極22が形成されている。したがって、絶縁膜24は、駆動電極COMLと画素電極22とを、電気的に絶縁する。   Further, as shown in FIG. 7, the plurality of drive electrodes COML are electrically connected to the routing wiring WRC provided in the peripheral area As around the display area Ad in plan view. As shown in FIG. 7, the plurality of drive electrodes COML are provided on the upper surface 21t side as one main surface of the substrate 21 inside the display area Ad in plan view. The routing wiring WRC is a wiring that electrically connects the drive electrode COML and the semiconductor chip 19 (see FIG. 5), and is formed on the upper surface 21t of the substrate 21 in the peripheral region As in plan view. An insulating film 24 (see FIG. 6) is formed on the upper surface 21t of the substrate 21 including the respective surfaces of the plurality of drive electrodes COML and the respective surfaces of the plurality of routing wirings WRC. In the display region Ad, a plurality of pixel electrodes 22 are formed on the insulating film 24. Therefore, the insulating film 24 electrically insulates the drive electrode COML from the pixel electrode 22.

なお、図7に示す引き回し配線WRCは、平面視において、Y方向に延在するため、平面視において、周辺領域Asに配置された引き回し配線WRCは、図7の平面図では示されているが、図6の断面図では示されていない。   Note that the routing wiring WRC illustrated in FIG. 7 extends in the Y direction in plan view, and thus the routing wiring WRC arranged in the peripheral region As is illustrated in the plan view of FIG. 6 are not shown in the cross-sectional view of FIG.

なお、図6に示す例では、駆動電極COMLと画素電極22との配置が、横電界モードとしてのFFSモードにおける配置となっている。しかし、駆動電極COMLと画素電極22との配置は、駆動電極COMLと画素電極22とが平面視で重ならない、横電界モードとしてのIPSモードにおける配置でもよい。あるいは、駆動電極COMLと画素電極22との配置は、縦電界モードとしてのTNモードまたはVAモードにおける配置でもよい。   In the example shown in FIG. 6, the arrangement of the drive electrodes COML and the pixel electrodes 22 is the arrangement in the FFS mode as the horizontal electric field mode. However, the arrangement of the drive electrode COML and the pixel electrode 22 may be an arrangement in the IPS mode as a lateral electric field mode in which the drive electrode COML and the pixel electrode 22 do not overlap in a plan view. Alternatively, the arrangement of the drive electrodes COML and the pixel electrodes 22 may be an arrangement in a TN mode or a VA mode as a vertical electric field mode.

また、複数の駆動電極COMLの各々が延在する方向は限定されず、例えば、複数の駆動電極COMLの各々が延在する方向は、複数の走査線GCLの各々が延在する方向と平行な方向であってもよい。   The direction in which each of the plurality of drive electrodes COML extends is not limited. For example, the direction in which each of the plurality of drive electrodes COML extends is parallel to the direction in which each of the plurality of scan lines GCL extends. It may be a direction.

また、図6に示すように、アレイ基板2と対向基板3との間には液晶層4が設けられている。液晶層4は、電界の状態に応じてそこを通過する光を変調するものであり、例えば、前述のFFSモード、または、IPSモード等の横電界モードに対応した液晶層が用いられる。すなわち、液晶表示装置として、FFSモードまたはIPSモード等の横電界モードによる液晶表示装置が用いられる。あるいは、前述したように、TNモードまたはVAモード等の縦電界モードによる液晶表示装置が用いられてもよい。なお、図6に示す液晶層4とアレイ基板2との間、および、液晶層4と対向基板3との間には、それぞれ配向膜が設けられていてもよい。   Further, as shown in FIG. 6, a liquid crystal layer 4 is provided between the array substrate 2 and the counter substrate 3. The liquid crystal layer 4 modulates light passing therethrough according to the state of the electric field. For example, a liquid crystal layer corresponding to the above-described FFS mode or the lateral electric field mode such as the IPS mode is used. That is, a liquid crystal display device using a lateral electric field mode such as an FFS mode or an IPS mode is used as the liquid crystal display device. Alternatively, as described above, a liquid crystal display device in a vertical electric field mode such as a TN mode or a VA mode may be used. Note that an alignment film may be provided between the liquid crystal layer 4 and the array substrate 2 and between the liquid crystal layer 4 and the counter substrate 3 shown in FIG.

また、図6に示すように、対向基板3は、基板31と、カラーフィルタ層32と、を有する。基板31は、上面と、上面と反対側の下面31bとを有している。カラーフィルタ層32は、基板31の下面31bに設けられている。   In addition, as shown in FIG. 6, the counter substrate 3 includes a substrate 31 and a color filter layer 32. The substrate 31 has an upper surface and a lower surface 31b opposite to the upper surface. The color filter layer 32 is provided on the lower surface 31 b of the substrate 31.

カラーフィルタ層32として、例えば赤(R)、緑(G)および青(B)の3色に着色されたカラーフィルタがX軸方向に配列される。これにより、図6に示すように、R、GおよびBの3色の色領域32R、32Gおよび32Bの各々にそれぞれ対応した複数の副画素SPixが形成され、1組の色領域32R、32Gおよび32Bの各々にそれぞれ対応した複数の副画素SPixにより1つの画素Pixが形成される。画素Pixは、走査線GCLが延在する方向(X軸方向)、および、信号線SGLが延在する方向(Y軸方向)に沿って、マトリクス状に配列されている。また、画素Pixがマトリクス状に配列された領域が、例えば前述した表示領域Adである。なお、表示領域Adの周辺に、ダミー画素が設けられたダミー領域が設けられていてもよい。   As the color filter layer 32, for example, color filters colored in three colors of red (R), green (G), and blue (B) are arranged in the X-axis direction. Thereby, as shown in FIG. 6, a plurality of sub-pixels SPix respectively corresponding to the three color regions 32R, 32G and 32B of R, G and B are formed, and one set of color regions 32R, 32G and One pixel Pix is formed by a plurality of sub-pixels SPix corresponding to each of the pixels 32B. The pixels Pix are arranged in a matrix along the direction in which the scanning lines GCL extend (X-axis direction) and the direction in which the signal lines SGL extend (Y-axis direction). The area where the pixels Pix are arranged in a matrix is, for example, the above-described display area Ad. Note that a dummy area provided with dummy pixels may be provided around the display area Ad.

カラーフィルタ層32の色の組み合わせとして、R、GおよびB以外の他の色を含む複数の色の組み合わせでもよい。また、カラーフィルタ層32は、設けられていなくてもよい。あるいは、1つの画素Pixが、カラーフィルタ層32が設けられていない副画素SPix、すなわち白色の副画素SPixを含んでもよい。また、COA(Color filter On Array)技術により、カラーフィルタがアレイ基板2に設けられていてもよい。   The combination of colors of the color filter layer 32 may be a combination of a plurality of colors including colors other than R, G, and B. Further, the color filter layer 32 may not be provided. Alternatively, one pixel Pix may include a sub-pixel SPix in which the color filter layer 32 is not provided, that is, a white sub-pixel SPix. Further, a color filter may be provided on the array substrate 2 by a COA (Color filter On Array) technique.

また、図5に示すように、本体部10は、半導体チップ19を有する。半導体チップ19は、図7に示すように基板21に実装されたチップであり、図1に示した制御部11、ゲートドライバ12、ソースドライバ13など、表示動作に必要な各回路を内蔵したものである。また、半導体チップ19は、駆動ドライバ14を内蔵してもよい。半導体チップ19と複数の駆動電極COMLの各々との間は、図7に示すように引き回し配線WRCにより電気的に接続されている。   Further, as shown in FIG. 5, the main body 10 has a semiconductor chip 19. The semiconductor chip 19 is a chip mounted on the substrate 21 as shown in FIG. 7, and includes various circuits necessary for a display operation, such as the control unit 11, the gate driver 12, and the source driver 13 shown in FIG. It is. Further, the semiconductor chip 19 may include the drive driver 14 therein. As shown in FIG. 7, the semiconductor chip 19 and each of the plurality of drive electrodes COML are electrically connected by the routing wiring WRC.

表示装置DP1で画像を形成する場合、図1に示すゲートドライバ12は、走査信号Vscanを、図8に示す走査線GCLを介して、各副画素SPixのTFT素子Trのゲート電極に印加する。これにより、表示部20においてマトリクス状に形成された副画素SPixのうちの1行、すなわち1水平ラインを表示駆動の対象として順次選択する。図1に示すソースドライバ13は、画素信号Vpixを、図7および図8に示す信号線SGLを介して、ゲートドライバ12により順次選択される1水平ラインを構成する複数の副画素SPixにそれぞれ供給する。そして、1水平ラインを構成する複数の副画素SPixにおいて、供給される画素信号Vpixに応じた表示が行われる。   When an image is formed by the display device DP1, the gate driver 12 shown in FIG. 1 applies the scanning signal Vscan to the gate electrode of the TFT element Tr of each sub-pixel SPix via the scanning line GCL shown in FIG. As a result, one row, that is, one horizontal line, of the sub-pixels SPix formed in a matrix on the display unit 20 is sequentially selected as a display drive target. The source driver 13 shown in FIG. 1 supplies the pixel signal Vpix to a plurality of sub-pixels SPix constituting one horizontal line sequentially selected by the gate driver 12 via the signal line SGL shown in FIGS. I do. Then, in the plurality of sub-pixels SPix forming one horizontal line, display according to the supplied pixel signal Vpix is performed.

駆動ドライバ14は、駆動信号Vcomを印加し、1つまたは複数の駆動電極COML(図6〜図8参照)に対応した1つの駆動ブロックごとに駆動電極COMLを駆動する。また、液晶表示装置においては、ゲートドライバ12が走査線GCL(図8参照)を時分割的に順次走査するように駆動することにより、副画素SPix(図8参照)が、1水平ラインずつ順次選択される。また、表示部20においては、1水平ラインに属する副画素SPixに対して、ソースドライバ13が画素信号Vpix(図1参照)を供給することにより、1水平ラインずつ表示が行われる。この表示動作を行う際、駆動ドライバ14は、その1水平ラインに対応した駆動電極COMLを含む駆動ブロックに対して、駆動信号Vcomを印加する。   The drive driver 14 applies the drive signal Vcom, and drives the drive electrode COML for each drive block corresponding to one or a plurality of drive electrodes COML (see FIGS. 6 to 8). In the liquid crystal display device, the gate driver 12 drives the scanning lines GCL (see FIG. 8) so as to sequentially scan the scanning lines in a time-division manner, so that the sub-pixels SPix (see FIG. 8) are sequentially shifted by one horizontal line. Selected. In the display unit 20, the source driver 13 supplies the pixel signal Vpix (see FIG. 1) to the sub-pixels SPix belonging to one horizontal line, so that the display is performed one horizontal line at a time. When performing this display operation, the drive driver 14 applies the drive signal Vcom to a drive block including the drive electrodes COML corresponding to the one horizontal line.

そして、図8に示す複数の画素電極22の各々と駆動電極COMLの各々との間に電圧が印加され、複数の副画素SPixの各々に設けられた液晶素子LCに電界が形成されることにより、表示領域Adに画像が表示される。この際に駆動電極COMLと画素電極22との間には図8に示す容量Capが形成され、容量Capは保持容量として機能する。   Then, a voltage is applied between each of the plurality of pixel electrodes 22 and each of the drive electrodes COML shown in FIG. 8, and an electric field is formed in the liquid crystal element LC provided in each of the plurality of sub-pixels SPix. , An image is displayed in the display area Ad. At this time, a capacitor Cap shown in FIG. 8 is formed between the drive electrode COML and the pixel electrode 22, and the capacitor Cap functions as a storage capacitor.

このように、本体部10が液晶表示装置である表示部20を含む場合には、液晶素子LCと、複数の画素電極22と、駆動電極COMLと、複数の走査線GCLと、複数の信号線SGLとにより、画像の表示を制御する表示制御部が形成される。表示制御部は、アレイ基板2と対向基板3との間に設けられている。なお、図1に示す本体部10は、表示装置としての液晶表示装置に代え、有機EL表示装置など各種の表示装置を含んでもよい。 As described above, when the main body unit 10 includes the display unit 20 which is a liquid crystal display device, the liquid crystal element LC, the plurality of pixel electrodes 22, the driving electrodes COML, the plurality of scanning lines GCL, and the plurality of signal lines The SGL forms a display control unit that controls the display of an image. The display control unit is provided between the array substrate 2 and the opposing substrate 3. Incidentally, the main body portion 10 shown in Figure 1, instead of the liquid crystal display device as Viewing apparatus may include various display devices such as an organic EL display device.

有機EL表示装置などのデバイスを用いる場合には、図5に示す偏光板5や、偏光板6、あるいは、導光板7が設けられていなくても良い。   When a device such as an organic EL display device is used, the polarizing plate 5, the polarizing plate 6, or the light guide plate 7 shown in FIG. 5 may not be provided.

<圧力検出部の詳細>
次に、図1に示す圧力検出部30の構成について説明する。図9は、図1に示す圧力検出部が備える構成の例を示す説明図である。また、図10は、図1に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。本セクションでは、図10に示すように単位フレームFL1が表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとに時分割されている場合において、圧力検出動作期間FLfsにおける各部の動作について主に説明する。
<Details of pressure detector>
Next, the configuration of the pressure detection unit 30 shown in FIG. 1 will be described. FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating an example of a configuration included in the pressure detection unit illustrated in FIG. 1. FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of timing for performing the display operation and the pressure detection operation of the display device shown in FIG. In this section, when the unit frame FL1 is time-divided into the display operation period FLdp and the pressure detection operation period FLfs as shown in FIG. 10, the operation of each unit during the pressure detection operation period FLfs will be mainly described.

図1に示す本実施の形態の表示装置DP1が備える複数の信号線SGL(図6および図7参照)は、表示機能層である液晶層4(図6参照)が備える液晶素子LC(図8参照)を駆動する信号が入力される配線として動作し、かつ、圧力検出部30の検出電極として動作する。   The plurality of signal lines SGL (see FIGS. 6 and 7) included in the display device DP1 according to the present embodiment illustrated in FIG. 1 include liquid crystal elements LC (see FIG. 8) included in a liquid crystal layer 4 (see FIG. 6) that is a display function layer. ) Operates as a wiring to which a signal for driving the pressure detector 30 is input, and also operates as a detection electrode of the pressure detection unit 30.

図9に示すように、圧力検出部30は、アレイ基板2に設けられ、圧力検出用の検出電極として動作する複数の信号線SGLと、アレイ基板2と離間して設けられ、圧力検出用の駆動電極として動作する導体パターン8と、を有する。図9に示す例では、アレイ基板2と離間して複数の導体パターン8が設けられている。   As shown in FIG. 9, the pressure detection unit 30 is provided on the array substrate 2, and is provided with a plurality of signal lines SGL that operate as detection electrodes for pressure detection, and is provided separately from the array substrate 2. And a conductor pattern 8 operating as a drive electrode. In the example shown in FIG. 9, a plurality of conductor patterns 8 are provided separately from the array substrate 2.

導体パターン8は、パターニングされた導電膜(導体膜とも呼ぶ)であって、複数の導体パターン8は、平面視において、複数の信号線SGLの各々が延在する方向と交差する方向にそれぞれ延在する。言い換えれば、複数の導体パターン8は、平面視において複数の信号線SGLとそれぞれ交差するように、互いに間隔を空けて配列されている。そして、複数の導体パターン8の各々は、アレイ基板2に含まれる基板21の上面21t(図6および図7参照)に垂直な方向において、信号線SGL(図6参照)と対向している。なお、図9に示す例では、導体パターン8は導電性材料からなるフィルムが帯状にパターニングされた導電膜である。ただし、本願明細書では、パターニングされているか否かを問わず、導体パターン、または導電膜、若しくは導体膜と呼ぶ。例えば、後述する図11に示す導体パターン8Aのように、一枚の導電性材料からなる膜が一様に広がっている構成の場合、導電膜のパターニング処理を実施しない場合もある。このようにパターニング処理を実施されていない導電膜の場合であっても、導体パターン、または導電膜、若しくは導体膜と呼ぶ。   The conductor pattern 8 is a patterned conductive film (also referred to as a conductor film), and the plurality of conductor patterns 8 extend in a direction intersecting with a direction in which each of the plurality of signal lines SGL extends in a plan view. Exist. In other words, the plurality of conductor patterns 8 are arranged at intervals so as to intersect with the plurality of signal lines SGL in plan view. Each of the plurality of conductor patterns 8 faces the signal line SGL (see FIG. 6) in a direction perpendicular to the upper surface 21t (see FIGS. 6 and 7) of the substrate 21 included in the array substrate 2. In the example shown in FIG. 9, the conductor pattern 8 is a conductive film in which a film made of a conductive material is patterned in a belt shape. However, in the present specification, it is referred to as a conductor pattern, a conductive film, or a conductor film regardless of whether or not it is patterned. For example, in the case of a configuration in which a film made of one conductive material is uniformly spread, as in a conductive pattern 8A shown in FIG. 11 described later, the conductive film may not be patterned. Even a conductive film that has not been subjected to the patterning process as described above is referred to as a conductive pattern, a conductive film, or a conductive film.

また、検出回路部40は、例えば図5に示す半導体チップ19に形成され、図9に示す複数の信号線SGLは、検出回路部40の検出信号増幅部42(図1参照)にそれぞれ接続されている。   In addition, the detection circuit unit 40 is formed on, for example, the semiconductor chip 19 illustrated in FIG. 5, and the plurality of signal lines SGL illustrated in FIG. 9 are respectively connected to the detection signal amplification units 42 (see FIG. 1) of the detection circuit unit 40. ing.

また、圧力検出動作期間FLfs(図10参照)において駆動信号Vfsを出力する駆動ドライバ14は、図5に示す半導体チップ19に形成され、図9に示す複数の導体パターン8は、配線WFSを介して半導体チップ19の駆動ドライバ14と電気的に接続されている。   The drive driver 14 that outputs the drive signal Vfs during the pressure detection operation period FLfs (see FIG. 10) is formed on the semiconductor chip 19 shown in FIG. 5, and the plurality of conductor patterns 8 shown in FIG. And is electrically connected to the drive driver 14 of the semiconductor chip 19.

また、図9に示す複数の信号線SGLの各々と複数の導体パターン8の各々との平面視における交差部には、静電容量が発生する。すなわち、図2に示す容量素子C1が形成される。そして、複数の信号線SGLの各々と複数の導体パターン8の各々との間の静電容量に応じた検出信号が発生し、発生した検出信号が、信号線SGLに接続される配線を通して図1に示す検出回路部40に伝送される。さらに、検出回路部40で検出信号に対する処理が施され、外部から入力された命令信号として、出力信号Voutが出力される。すなわち、導体パターン8が形成された基板31(図6参照)のような電極基板と、信号線SGLとにより、外部からの命令を検出する検出部、すなわち入力装置が形成される。   Further, a capacitance is generated at the intersection of each of the plurality of signal lines SGL and each of the plurality of conductor patterns 8 shown in FIG. 9 in plan view. That is, the capacitance element C1 shown in FIG. 2 is formed. Then, a detection signal corresponding to the capacitance between each of the plurality of signal lines SGL and each of the plurality of conductor patterns 8 is generated, and the generated detection signal is transmitted through the wiring connected to the signal line SGL in FIG. Are transmitted to the detection circuit section 40 shown in FIG. Further, the detection circuit 40 performs processing on the detection signal, and outputs an output signal Vout as a command signal input from the outside. That is, a detection unit that detects an external command, that is, an input device, is formed by the electrode substrate such as the substrate 31 (see FIG. 6) on which the conductor pattern 8 is formed and the signal line SGL.

導体パターン8の材料として、金属を含む金属材料を用いてもよく、例えば酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide;ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide;IZO)または酸化スズ(SnO)等の透明導電材料を用いてもよい。また、導体パターン8は、例えば樹脂フィルムなどの基材に、導体材料を堆積させた導体フィルムであっても良く、あるいは、導光板7などの部材に導体材料を膜状に堆積させたものであっても良い。また、図5に示す例では、導体パターン8とアレイ基板2との間に導光板7が設けられているが、導光板7とアレイ基板2との間に導体パターン8が設けられていても良い。   As the material of the conductor pattern 8, a metal material containing a metal may be used, for example, a transparent conductive material such as indium tin oxide (Indium Tin Oxide; ITO), indium zinc oxide (Indium Zinc Oxide; IZO), or tin oxide (SnO). Materials may be used. Further, the conductor pattern 8 may be a conductor film in which a conductor material is deposited on a base material such as a resin film, or a film in which the conductor material is deposited on a member such as the light guide plate 7. There may be. Further, in the example shown in FIG. 5, the light guide plate 7 is provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2, but the conductor pattern 8 may be provided between the light guide plate 7 and the array substrate 2. good.

圧力検出部30では、圧力検出動作を行う際、駆動ドライバ14(図1参照)によって、スキャン方向SC1に沿って1つまたは複数の導体パターン8に対応した1つの検出ブロックが順次選択される。そして、選択された検出ブロックにおいて、導体パターン8には、信号線SGLと導体パターン8との間の静電容量を測定するための駆動信号Vfsが入力され、信号線SGLから、入力位置を検出するための検出信号Vdetが出力される。このように圧力検出部30では、1検出ブロックごとに圧力検出が行われるようになっている。つまり、1つの検出ブロックは、前述した圧力検出の原理における電極E2に対応し、導体パターン8は、電極E1に対応している。   In the pressure detection unit 30, when performing the pressure detection operation, one detection block corresponding to one or a plurality of conductor patterns 8 is sequentially selected along the scan direction SC1 by the drive driver 14 (see FIG. 1). In the selected detection block, the drive signal Vfs for measuring the capacitance between the signal line SGL and the conductor pattern 8 is input to the conductor pattern 8, and the input position is detected from the signal line SGL. The detection signal Vdet is output. As described above, the pressure detection section 30 performs the pressure detection for each detection block. That is, one detection block corresponds to the electrode E2 in the above-described principle of pressure detection, and the conductor pattern 8 corresponds to the electrode E1.

なお、表示動作の際の駆動ブロックの範囲と、圧力検出動作の際の検出ブロックの範囲とは、共通であってもよく、異なっていてもよい。   Note that the range of the drive blocks during the display operation and the range of the detection blocks during the pressure detection operation may be common or different.

図9に示すように、平面視において、互いに交差した複数の信号線SGLと複数の導体パターン8は、マトリクス状に配列された静電容量式圧力センサを構成する。よって、圧力検出部30の圧力検出面全体を走査することにより、外部からの圧力が印加された場所を検出することが可能である。   As shown in FIG. 9, in a plan view, a plurality of signal lines SGL and a plurality of conductor patterns 8 intersecting with each other constitute a capacitance type pressure sensor arranged in a matrix. Therefore, by scanning the entire pressure detection surface of the pressure detection unit 30, it is possible to detect the location where external pressure is applied.

ところで、上記したように、圧力検出部30では、図3に示すように圧力センサの一部が変形することにより、電極E1と電極E2との離間距離D2が図2に示す離間距離D1よりも小さくなることを利用して容量素子C1の容量値の変化を電圧の信号として検出する。このため、外部から印加された圧力以外の要因で容量素子C1の容量値が変化すると、圧力検出の精度低下の原因になる。このため、外部から印加された圧力に起因して変化する容量素子C1の容量値の変化量は、他のノイズ成分と比較して十分に大きいことが好ましい。   By the way, as described above, in the pressure detection unit 30, the distance D2 between the electrode E1 and the electrode E2 is larger than the distance D1 shown in FIG. 2 by partially deforming the pressure sensor as shown in FIG. The change in the capacitance value of the capacitance element C1 is detected as a voltage signal by utilizing the fact that the capacitance becomes smaller. For this reason, if the capacitance value of the capacitance element C1 changes due to a factor other than the pressure applied from the outside, the accuracy of the pressure detection may be reduced. For this reason, it is preferable that the amount of change in the capacitance value of the capacitance element C1 that changes due to the pressure applied from the outside is sufficiently large as compared with other noise components.

例えば、外部から圧力が印加されることにより、図2に示す離間距離D1と図3に示す離間距離D2との差が大きければ、容量素子C1の容量値の変化量が大きくなり、ノイズ成分の影響を低減することができる。 For example, if the difference between the separation distance D1 shown in FIG. 2 and the separation distance D2 shown in FIG. 3 is large due to the application of pressure from the outside, the amount of change in the capacitance value of the capacitance element C1 increases, and the noise component The effect can be reduced.

しかし、表示装置に対する薄型化の要求に対応するため、表示装置の構成部材の厚さも薄くなっている。例えば、外部から圧力が印加されたことにより、変形するような柔らかい部材として、図6に示す液晶層4が考えられる。しかし、液晶層4の厚さは基板21や基板31の厚さと比較して極端に薄い。例えば、液晶層4の厚さは、基板21や基板31の厚さと比較すると、0.1%〜10%程度の厚さである。図6に示す例では、液晶層4の厚さは、例えば3μm〜4μm程度である。このため、図3に示す電極E1と電極E2との間に液晶層4(図6参照)のみを介在させる程度では、圧力に起因する変形量が小さく、十分な容量変化が得られない。   However, in order to respond to the demand for a thin display device, the thickness of the components of the display device has also been reduced. For example, the liquid crystal layer 4 shown in FIG. 6 can be considered as a soft member that is deformed when pressure is applied from the outside. However, the thickness of the liquid crystal layer 4 is extremely thin as compared with the thicknesses of the substrates 21 and 31. For example, the thickness of the liquid crystal layer 4 is about 0.1% to 10% as compared with the thickness of the substrate 21 or the substrate 31. In the example shown in FIG. 6, the thickness of the liquid crystal layer 4 is, for example, about 3 μm to 4 μm. Therefore, if only the liquid crystal layer 4 (see FIG. 6) is interposed between the electrode E1 and the electrode E2 shown in FIG. 3, the amount of deformation due to pressure is small, and a sufficient capacitance change cannot be obtained.

そこで、本実施の形態では、圧力センサを構成する一対の電極のうちの一方は、図5に示すアレイ基板2の上面2t側に設けられ、他方の電極は、図5に示すように、アレイ基板2の下面2b側に、アレイ基板2と離間するように設けられている。すなわち、図9に示すように、圧力センサの検出電極としての複数の信号線SGLはアレイ基板2に設けられ、圧力センサの駆動電極としての導体パターン8は、アレイ基板2から離れた位置に設けられている。   Therefore, in the present embodiment, one of the pair of electrodes constituting the pressure sensor is provided on the upper surface 2t side of the array substrate 2 shown in FIG. 5, and the other electrode is provided in the array as shown in FIG. It is provided on the lower surface 2 b side of the substrate 2 so as to be separated from the array substrate 2. That is, as shown in FIG. 9, a plurality of signal lines SGL as detection electrodes of the pressure sensor are provided on the array substrate 2, and a conductor pattern 8 as a drive electrode of the pressure sensor is provided at a position distant from the array substrate 2. Have been.

アレイ基板2の下面2b(図5参照)側の部分では、アレイ基板2と対向基板3の間の部分と比較して、スペースを確保し易い。例えば、図5に示す例では、導体パターン8とアレイ基板2との間には、偏光板5、導光板7、および中空空間9が設けられている。中空空間9は、表示装置DP1に対して外部から圧力が印加された時に、圧力に応じて局所的に弾性変形する弾性変形層である。言い換えれば、中空空間9は、アレイ基板2と導体パターン8との間に設けられ、アレイ基板2よりも弾性変形し易い、すなわち、アレイ基板2よりも低弾性の材料から弾性変形層である。   The space on the lower surface 2b (see FIG. 5) side of the array substrate 2 is easier to secure than the space between the array substrate 2 and the opposing substrate 3. For example, in the example shown in FIG. 5, a polarizing plate 5, a light guide plate 7, and a hollow space 9 are provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. The hollow space 9 is an elastically deformable layer that locally elastically deforms according to the pressure when a pressure is externally applied to the display device DP1. In other words, the hollow space 9 is provided between the array substrate 2 and the conductor pattern 8 and is more easily elastically deformed than the array substrate 2, that is, an elastically deformable layer made of a material having lower elasticity than the array substrate 2.

また、中空空間9の厚さ、すなわち、アレイ基板2の下面2bに対して垂直な方向の長さは、図6に示す液晶層4の厚さと比較して大きい。図5に示す例では、導体パターン8とアレイ基板2の間の2か所に中空空間9が設けられた例を示しており、複数層の中空空間9の厚さの総和は、アレイ基板2の厚さ以上である。このように、複数層の中空空間9が設けられている場合、中空空間9の厚さの総和が大きいほど、図3に示す容量素子C1の容量値の変化量を大きくすることができるので、検出感度を向上させることができる。また、中空空間9に何らかの物質(例えば空気)を配置する場合には、配置される物質の誘電率が低いほど、図3に示す容量素子C1の容量値の変化量を大きくすることができるので、検出感度を向上させることができる。つまり、本実施の形態によれば、外部から印加した圧力に起因して変化する容量値の変化を大きくすることができるので、ノイズ成分の影響を低減することができる。これにより、圧力センサの検出精度を向上させることができる。   Further, the thickness of the hollow space 9, that is, the length in the direction perpendicular to the lower surface 2b of the array substrate 2 is larger than the thickness of the liquid crystal layer 4 shown in FIG. The example shown in FIG. 5 shows an example in which the hollow spaces 9 are provided at two places between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. Not less than the thickness. As described above, when the hollow space 9 having a plurality of layers is provided, the amount of change in the capacitance value of the capacitive element C1 shown in FIG. 3 can be increased as the total thickness of the hollow space 9 increases. Detection sensitivity can be improved. In the case where some substance (for example, air) is disposed in the hollow space 9, the lower the dielectric constant of the substance to be disposed, the larger the amount of change in the capacitance value of the capacitance element C1 shown in FIG. , The detection sensitivity can be improved. That is, according to the present embodiment, since the change in the capacitance value that changes due to the pressure applied from the outside can be increased, the effect of the noise component can be reduced. Thereby, the detection accuracy of the pressure sensor can be improved.

なお、上記したように導体パターン8とアレイ基板2の間に複数の中空空間9が設けられている場合、「中空空間の厚さ」とは、複数の中空空間9の厚さの総和を意味する。また、詳細は後述するが、本実施の形態に対する変形例として、中空空間9に空気以外の物質(例えば後述する図19に示す弾性体9A)を配置しても良い。この場合、上記した「中空空間の厚さ」は、「弾性変形層の厚さ」、あるいは「弾性体の厚さ」と読み替えることができる。   When a plurality of hollow spaces 9 are provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2 as described above, the “thickness of the hollow space” means the total thickness of the plurality of hollow spaces 9. I do. Although details will be described later, as a modified example of the present embodiment, a substance other than air (for example, an elastic body 9A shown in FIG. 19 described later) may be arranged in the hollow space 9. In this case, the “thickness of the hollow space” can be read as “the thickness of the elastically deformable layer” or “the thickness of the elastic body”.

また、図3に模式的に示すように、圧力センサに指で外力を加える場合、指と圧力センサの距離が近いと、指の静電容量が容量素子C1の値に影響を与えるので、圧力検出においてはノイズ源になる。したがって、圧力センサの検出精度を向上させる観点からは、ノイズ源となる指などの誘電体による容量素子C1に対するノイズ影響を低減させることが好ましい。   In addition, as schematically shown in FIG. 3, when an external force is applied to the pressure sensor by a finger, if the distance between the finger and the pressure sensor is short, the capacitance of the finger affects the value of the capacitive element C1. It becomes a noise source in detection. Therefore, from the viewpoint of improving the detection accuracy of the pressure sensor, it is preferable to reduce the noise effect on the capacitive element C1 due to a dielectric such as a finger that is a noise source.

一般に、指などで表示装置の一部を押圧して命令を入力する場合、観察者に対向する表示面側、すなわち図5に示す例では、対向基板3の上面3t側から押圧する場合が多い。本実施の形態では、圧力センサを構成する電極が、アレイ基板2、およびアレイ基板2の下面2b側、すなわち、表示面の反対側の基板に設けられている。この場合、圧力センサを構成する電極の一部が、対向基板3側(言い換えれば表示面側に配置される基板)に設けられている場合と比較して、指との距離を離すことができる。   In general, when a command is input by pressing a part of the display device with a finger or the like, in many cases, the command is pressed from the display surface side facing the observer, that is, in the example shown in FIG. . In the present embodiment, the electrodes constituting the pressure sensor are provided on the array substrate 2 and the lower surface 2b side of the array substrate 2, that is, the substrate on the opposite side of the display surface. In this case, the distance from the finger can be increased as compared with the case where a part of the electrode constituting the pressure sensor is provided on the counter substrate 3 side (in other words, the substrate disposed on the display surface side). .

また、本実施の形態では、図6に示すように、複数の信号線SGLよりも表示面側に、複数の信号線SGLを覆う駆動電極COMLが設けられている。言い換えれば、本実施の形態では、図6に示すように駆動電極COMLは、複数の信号線SGLと表示機能層である液晶層4との間に設けられている。平面視において、駆動電極COMLは複数の信号線SGLと重なるように設けられている。このように圧力センサの検出電極として機能する複数の信号線SGLと表示面との間に複数の信号線SGLを覆う導体パターンを設けることにより、導体パターンをシールド層として用いることができる。   In the present embodiment, as shown in FIG. 6, a drive electrode COML that covers the plurality of signal lines SGL is provided closer to the display surface than the plurality of signal lines SGL. In other words, in the present embodiment, as shown in FIG. 6, the drive electrode COML is provided between the plurality of signal lines SGL and the liquid crystal layer 4 that is a display function layer. In a plan view, the drive electrode COML is provided so as to overlap the plurality of signal lines SGL. By providing a conductor pattern covering the plurality of signal lines SGL between the plurality of signal lines SGL functioning as detection electrodes of the pressure sensor and the display surface, the conductor pattern can be used as a shield layer.

詳しくは、図6に示す表示装置の表示面側に指が接触している場合、指と複数の信号線SGLとの離間距離によっては、指の静電容量の影響が圧力センサに及ぶ場合がある。しかし、表示装置DP1の場合、複数の信号線SGLと表示面との間に、複数の信号線SGLを覆う導体パターンである駆動電極COMLが設けられているので、駆動電極COMLにより、指の静電容量の影響を低減することができる。   Specifically, when the finger is in contact with the display surface side of the display device illustrated in FIG. 6, depending on the distance between the finger and the plurality of signal lines SGL, the influence of the capacitance of the finger may affect the pressure sensor. is there. However, in the case of the display device DP1, the drive electrode COML, which is a conductor pattern covering the plurality of signal lines SGL, is provided between the plurality of signal lines SGL and the display surface. The effect of the capacitance can be reduced.

特に、圧力検出動作を行う際に、駆動電極COMLに対して固定電位、あるいはパルス電位を供給した場合、駆動電極COMLはシールド層として機能し、指の静電容量の影響を大幅に低減することができる。この結果、圧力センサの検出精度を向上させることができる。   In particular, when a fixed potential or a pulse potential is supplied to the drive electrode COML when performing the pressure detection operation, the drive electrode COML functions as a shield layer and greatly reduces the influence of the capacitance of the finger. Can be. As a result, the detection accuracy of the pressure sensor can be improved.

駆動電極COMLをシールド層として機能させる場合に、駆動電極COMLに供給される電位は、例えば、接地電位でも良いし、接地電位とは異なる電位でも良い。また、駆動電極COMLに供給される電位は、固定電位でも良いし、パルス電位であっても良い。   When the drive electrode COML functions as a shield layer, the potential supplied to the drive electrode COML may be, for example, a ground potential or a potential different from the ground potential. Further, the potential supplied to the drive electrode COML may be a fixed potential or a pulse potential.

表示動作時に駆動電極COMLに供給される電位と、圧力検出時に駆動電極COMLに供給される電位とが異なる場合、図10に示すように単位フレームFL1を表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとに時分割することが好ましい。言い換えれば、表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとは、互いに異なるタイミングで実施されることが好ましい。この場合、駆動電極COML(図6参照)に対して表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとで互いに異なる電位を供給できるので、各動作時における駆動電極COMLの機能に応じて好適な電位を供給できる。また、単位フレームFL1を表示動作期間FLdpと圧力検出動作期間FLfsとに時分割すれば、図6に示す複数の信号線SGLを圧力センサの検出電極として利用する際に、表示動作時に流れる電流の影響を抑制することができる。これにより、図1に示す圧力検出部30の圧力検出精度を向上させることができる。   When the potential supplied to the drive electrode COML during the display operation is different from the potential supplied to the drive electrode COML during the pressure detection, the unit frame FL1 is divided into the display operation period FLdp and the pressure detection operation period FLfs as shown in FIG. It is preferable to perform time division. In other words, the display operation period FLdp and the pressure detection operation period FLfs are preferably performed at different timings. In this case, different potentials can be supplied to the drive electrode COML (see FIG. 6) in the display operation period FLdp and the pressure detection operation period FLfs, so that a suitable potential is set according to the function of the drive electrode COML in each operation. Can supply. Further, if the unit frame FL1 is time-divided into the display operation period FLdp and the pressure detection operation period FLfs, when the plurality of signal lines SGL shown in FIG. 6 are used as the detection electrodes of the pressure sensor, the current flowing during the display operation is reduced. The influence can be suppressed. Thereby, the pressure detection accuracy of the pressure detection unit 30 shown in FIG. 1 can be improved.

ところで、図9に示す例では、平面視において、圧力センサの検出電極としての複数の信号線SGLと、圧力センサの駆動電極としての複数の導体パターン8とが互いに交差するように配列され、スキャン方向SC1に沿って1つまたは複数の導体パターン8に対応した1つの検出ブロック毎に順次、駆動信号Vfsを印加する方法を説明した。しかし、圧力センサの容量素子の容量値の変化を利用して圧力を検出する方法、すなわち、静電容量型の圧力センサには、種々の変形例がある。   By the way, in the example shown in FIG. 9, a plurality of signal lines SGL as detection electrodes of the pressure sensor and a plurality of conductor patterns 8 as drive electrodes of the pressure sensor are arranged so as to intersect with each other in a plan view. The method has been described in which the drive signal Vfs is sequentially applied to one detection block corresponding to one or a plurality of conductor patterns 8 along the direction SC1. However, there are various modified examples of a method of detecting pressure using a change in the capacitance value of a capacitance element of a pressure sensor, that is, a capacitance type pressure sensor.

例えば、図11に示す圧力検出部30Aは、複数の信号線SGLに加えて、複数の走査線GCLを圧力センサの検出電極として利用する点で、図9に示す圧力検出部30と相違する。図11は、図9に対する変形例の圧力センサを示す説明図である。なお、図11では、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとの区別を見やすくするため、信号線SGLに模様を付して示している。   For example, the pressure detection unit 30A illustrated in FIG. 11 differs from the pressure detection unit 30 illustrated in FIG. 9 in that a plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes of a pressure sensor in addition to a plurality of signal lines SGL. FIG. 11 is an explanatory diagram illustrating a pressure sensor according to a modification example of FIG. 9. Note that, in FIG. 11, the signal lines SGL are shown with patterns to make it easier to distinguish between the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL.

図11に示す圧力検出部30Aは、圧力センサの検出電極として、Y方向に延在する複数の信号線SGLと、Y方向と交差するX方向に延在する複数の走査線GCLとを有する。平面視において、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとは互いに交差している。圧力検出部30Aを用いた圧力検出動作では、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのそれぞれから検出信号Vdetが出力される。詳しくは、複数の信号線SGLからは検出信号Vdet1が出力され、複数の走査線GCLからは検出信号Vdet2が出力される。   The pressure detection unit 30A illustrated in FIG. 11 includes, as detection electrodes of the pressure sensor, a plurality of signal lines SGL extending in the Y direction and a plurality of scanning lines GCL extending in the X direction intersecting the Y direction. In a plan view, the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL cross each other. In the pressure detection operation using the pressure detection unit 30A, the detection signal Vdet is output from each of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL. Specifically, the detection signal Vdet1 is output from the plurality of signal lines SGL, and the detection signal Vdet2 is output from the plurality of scanning lines GCL.

上記構成の圧力検出部30Aの場合、検出回路部40の座標抽出部45(図1参照)において、検出信号Vdet1と検出信号Vdet2を組み合わせて、圧力が印加された平面位置の座標を算出することができる。このため、図9に示す圧力検出部30のように、複数の導体パターン8を設け、順次、駆動信号Vfsを印加する必要がない。このため、図11に示すように、平面視において、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのそれぞれと重なる位置に一枚の導電膜(導体膜とも呼ぶ)である導体パターン8Aが設けられている。   In the case of the pressure detection unit 30A having the above configuration, the coordinate extraction unit 45 (see FIG. 1) of the detection circuit unit 40 combines the detection signal Vdet1 and the detection signal Vdet2 to calculate the coordinates of the plane position to which the pressure is applied. Can be. For this reason, it is not necessary to provide a plurality of conductor patterns 8 and sequentially apply the drive signal Vfs, as in the pressure detector 30 shown in FIG. For this reason, as shown in FIG. 11, a conductor pattern 8A, which is one conductive film (also referred to as a conductor film), is provided at a position overlapping each of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL in plan view. ing.

圧力検出部30Aを用いた圧力検出動作では、導体パターン8Aに対して、駆動信号Vfsが印加される。そして、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとから一括して検出信号Vdetを出力させる。言い換えれば、複数の信号線SGLからの検出信号Vdet1と、複数の走査線GCLからの検出信号Vdet2が並行して出力される。この場合、図9に示す圧力検出部30を用いた圧力検出動作と比較して、動作時間を短縮できる。   In the pressure detection operation using the pressure detection unit 30A, the drive signal Vfs is applied to the conductor pattern 8A. Then, the detection signal Vdet is output collectively from the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL. In other words, the detection signal Vdet1 from the plurality of signal lines SGL and the detection signal Vdet2 from the plurality of scanning lines GCL are output in parallel. In this case, the operation time can be reduced as compared with the pressure detection operation using the pressure detection unit 30 shown in FIG.

なお、圧力検出部30Aを用いた圧力検出動作において、複数の信号線SGL、または複数の走査線GCLを複数の検出ブロックに分割し、検出ブロック毎に検出信号Vdetを出力させることもできる。圧力センサの複数箇所に同時に圧力が印加される場合がある。この時、上記複数箇所の座標の検出精度を向上させる観点からは、上記したように検出ブロック毎に検出信号Vdetを出力させることが好ましい。   In the pressure detection operation using the pressure detection unit 30A, the plurality of signal lines SGL or the plurality of scanning lines GCL may be divided into a plurality of detection blocks, and the detection signal Vdet may be output for each detection block. Pressure may be applied to a plurality of locations of the pressure sensor at the same time. At this time, it is preferable to output the detection signal Vdet for each detection block as described above from the viewpoint of improving the detection accuracy of the coordinates of the plurality of locations.

また、図示は省略するが、図9に示す圧力検出部30に対する変形例として、以下の圧力センサを用いても良い。すなわち、圧力センサの検出電極として、複数の信号線SGLに代えて、複数の走査線GCL(図11および図8参照)を用いても良い。この場合、図9に示す複数の導体パターン8は、平面視において、複数の走査線GCLのそれぞれと交差するように設けられる。これにより、複数の走査線GCLと導体パターン8との間に形成される容量素子の容量値の変化を検出し、圧力が印加された位置を検出することができる。   Although not shown, the following pressure sensor may be used as a modified example of the pressure detection unit 30 shown in FIG. That is, a plurality of scanning lines GCL (see FIGS. 11 and 8) may be used instead of the plurality of signal lines SGL as the detection electrodes of the pressure sensor. In this case, the plurality of conductor patterns 8 shown in FIG. 9 are provided so as to cross each of the plurality of scanning lines GCL in a plan view. Accordingly, it is possible to detect a change in the capacitance value of the capacitance element formed between the plurality of scanning lines GCL and the conductor pattern 8, and detect the position where the pressure is applied.

なお、複数の信号線SGL、複数の走査線GCL、あるいは複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLの両方が、圧力検出電極として使用される圧力検出動作期間中は、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLは、図1に示すソースドライバ13やゲートドライバ12と切り離されていても良い。言い換えれば、圧力検出動作期間中は、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLは、図1に示すソースドライバ13やゲートドライバ12と電気的に分離されていても良い。図11に示す圧力検出部30Aや、以下で説明する圧力検出部30Bのように、複数の信号線SGLや複数の走査線GCLが圧力検出用の検出電極として利用される場合に、複数の信号線SGLや複数の走査線GCLに接続される回路には種々の実施態様がある。複数の信号線SGLや複数の走査線GCLに接続される回路の種々の実施態様については、後述する。   During the pressure detection operation period in which the plurality of signal lines SGL, the plurality of scanning lines GCL, or both the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL are used as pressure detection electrodes, the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL are used. The plurality of scanning lines GCL may be separated from the source driver 13 and the gate driver 12 shown in FIG. In other words, during the pressure detection operation period, the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL may be electrically separated from the source driver 13 and the gate driver 12 shown in FIG. When a plurality of signal lines SGL and a plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes for pressure detection as in a pressure detection unit 30A illustrated in FIG. 11 and a pressure detection unit 30B described below, a plurality of signals are detected. There are various embodiments of the circuit connected to the line SGL and the plurality of scanning lines GCL. Various embodiments of a circuit connected to the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL will be described later.

また、別の変形例として、複数の信号線および複数の走査線の両方、あるいは、複数の信号線および複数の走査線のうちのいずれか一方を自己容量方式の圧力センサとすることもできる。例えば、図12に示す圧力検出部30Bの場合、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLの両方、あるいは、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのうちのいずれか一方に駆動信号Vfsが供給される。また、導体パターン8Aには、例えば接地電位GNDなどの固定電位が供給される。図12は、図11に対する変形例の圧力センサを示す説明図である。また、図13および図14は、図12に示す自己容量方式の圧力センサの検出原理を模式的に示す説明図である。また、図15は、圧力が印加された場合、および圧力が印加されていない場合における自己容量方式の圧力センサの場合の検出信号の波形の一例を示す図である。   Further, as another modified example, both the plurality of signal lines and the plurality of scanning lines, or one of the plurality of signal lines and the plurality of scanning lines may be a self-capacitance type pressure sensor. For example, in the case of the pressure detection unit 30B illustrated in FIG. 12, the drive signal Vfs is applied to both the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL, or to any one of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL. Is supplied. Further, a fixed potential such as a ground potential GND is supplied to the conductor pattern 8A. FIG. 12 is an explanatory diagram illustrating a pressure sensor according to a modification example of FIG. FIGS. 13 and 14 are explanatory views schematically showing the detection principle of the self-capacitance type pressure sensor shown in FIG. FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a waveform of a detection signal in the case of a self-capacitance type pressure sensor when pressure is applied and when pressure is not applied.

図9に示す圧力検出部30や図11に示す圧力検出部30Aのように、導体パターン8や導体パターン8Aを駆動電極として駆動信号Vfsを印加し、信号線SGLや走査線GCLを検出電極として駆動電極と検出電極の間のエアーギャップの変化すなわち電極間距離の変化による圧力を静電容量方式で検出する方式は相互容量方式と呼ばれる。   Like the pressure detection unit 30 shown in FIG. 9 and the pressure detection unit 30A shown in FIG. 11, the drive signal Vfs is applied using the conductor pattern 8 or the conductor pattern 8A as a drive electrode, and the signal line SGL or the scan line GCL is used as a detection electrode. A method of detecting a pressure due to a change in the air gap between the drive electrode and the detection electrode, that is, a change in the distance between the electrodes by a capacitance method is called a mutual capacitance method.

一方、図12〜図14に示す圧力検出部30Bのように、導体パターン8Aに接地電位GND等の固定電位を供給し、信号線SGLや走査線GCLに供給された駆動信号Vfsを検出し、信号線SGLや走査線GCLと導体パターン8Aとの間のエアーギャップの変化すなわち電極間距離の変化による圧力を静電容量方式で検出する方式は自己容量方式と呼ばれる。   On the other hand, like the pressure detection unit 30B shown in FIGS. 12 to 14, a fixed potential such as the ground potential GND is supplied to the conductor pattern 8A, and the drive signal Vfs supplied to the signal line SGL and the scanning line GCL is detected. A method of detecting a pressure due to a change in the air gap between the signal line SGL or the scanning line GCL and the conductor pattern 8A, that is, a change in the distance between the electrodes, is called a self-capacitance method.

自己容量方式の圧力検出動作では、図13および図14に示すように、電極E2と駆動信号Vfs(図12参照)を供給する電源VDDとの間、および電極E2と電圧検出器DETとの間には、スイッチSWCが設けられている。自己容量方式の圧力検出動作では、スイッチSWCを切り替えることにより、電源VDDと電極E2、あるいは電圧検出器DETと電極E2を、スイッチSWCを介して交互に電気的に接続する。図13および図14に示すように、電極E2が電源VDDに電気的に接続されている間は、容量素子C2には、電荷が蓄積される。そして、電極E2が電源VDDと切断され、電圧検出器DETと接続された時、容量素子C2に蓄電された電荷が放電される。   In the self-capacitance type pressure detection operation, as shown in FIGS. 13 and 14, between the electrode E2 and the power supply VDD for supplying the drive signal Vfs (see FIG. 12), and between the electrode E2 and the voltage detector DET. Is provided with a switch SWC. In the pressure detection operation of the self-capacitance method, the power supply VDD and the electrode E2 or the voltage detector DET and the electrode E2 are alternately electrically connected via the switch SWC by switching the switch SWC. As shown in FIGS. 13 and 14, while the electrode E2 is electrically connected to the power supply VDD, electric charge is accumulated in the capacitor C2. Then, when the electrode E2 is disconnected from the power supply VDD and connected to the voltage detector DET, the charge stored in the capacitor C2 is discharged.

ここで、図13と図14を比較して判るように、圧力センサである圧力検出部30Bに圧力が印加されている場合と圧力が印加されていない場合とでは容量素子C2の容量値が異なる。つまり、圧力検出部30Bに圧力が印加されている場合と圧力が印加されていない場合とでは、容量素子C2に蓄えられる電荷の量が異なる。この結果、圧力検出部30Bに圧力が印加されている場合には、圧力が印加されていない場合と比較して、電圧検出器DETに流れる電流が大きくなる。   Here, as can be seen by comparing FIG. 13 and FIG. 14, the capacitance value of the capacitive element C2 differs between when the pressure is applied to the pressure detection unit 30B, which is a pressure sensor, and when no pressure is applied. . That is, the amount of charge stored in the capacitance element C2 differs between when the pressure is applied to the pressure detection unit 30B and when the pressure is not applied. As a result, the current flowing through the voltage detector DET becomes larger when the pressure is applied to the pressure detector 30B than when no pressure is applied.

自己容量方式の圧力センサの場合、図13および図14に示すスイッチSWCを交互に切り替えることにより、図15に示す検出信号Vdetの波形が得られる。言い換えれば自己容量方式の場合、充電により、図15に示す交流矩形波Sgに相当する電位が電極E2に印加され、放電により、印加された電位に基づく検出信号Vdetが出力される。すなわち、圧力センサに圧力が印加されていない状態では、図13に示すスイッチSWCの切り替え動作による容量素子C2に対する充放電に伴って、スイッチSWCを介して電極E2と電圧検出器DETとを接続すると、容量素子C2の容量値に応じた電流が流れる。電圧検出器DETは、電流の変動を、電圧の変動に変換する。この電圧の変動は、図15において、実線の波形V2で示されている。   In the case of the self-capacitance type pressure sensor, the waveform of the detection signal Vdet shown in FIG. 15 is obtained by alternately switching the switches SWC shown in FIGS. In other words, in the case of the self-capacitance method, a potential corresponding to the AC rectangular wave Sg shown in FIG. 15 is applied to the electrode E2 by charging, and a detection signal Vdet based on the applied potential is output by discharging. That is, in a state where no pressure is applied to the pressure sensor, the electrode E2 and the voltage detector DET are connected via the switch SWC with the charging and discharging of the capacitance element C2 by the switching operation of the switch SWC shown in FIG. , A current flows according to the capacitance value of the capacitive element C2. The voltage detector DET converts a current fluctuation into a voltage fluctuation. This voltage variation is shown by a solid waveform V2 in FIG.

一方、圧力センサに圧力が印加された状態では、図14に示すように、圧力センサの一部が変形することにより、電極E1と電極E2との離間距離D2が図13に示す離間距離D1よりも小さくなる。これにより、容量素子C2の容量値が大きくなる。そのため、図14に示す容量素子C2に流れる電流が変動する。電圧検出器DETは、電流の変動を、電圧の変動に変換する。この電圧の変動は、図15において、破線の波形V3で示されている。この場合、波形V3の振幅は、上述した波形V2の振幅と比べて大きくなる。これにより、波形V2と波形V3との電圧差分の絶対値|ΔV|は、圧力センサの変形の影響に応じて変化することになる。このため、外部からの圧力印加の有無に起因する容量素子C2の容量値の変化を電圧の変化として検出することができる。   On the other hand, in a state where pressure is applied to the pressure sensor, as shown in FIG. 14, a part of the pressure sensor is deformed, so that the separation distance D2 between the electrode E1 and the electrode E2 is smaller than the separation distance D1 shown in FIG. Is also smaller. Thereby, the capacitance value of the capacitance element C2 increases. Therefore, the current flowing through the capacitor C2 illustrated in FIG. 14 varies. The voltage detector DET converts a current fluctuation into a voltage fluctuation. This voltage fluctuation is shown by a broken line waveform V3 in FIG. In this case, the amplitude of the waveform V3 is larger than the amplitude of the waveform V2 described above. Accordingly, the absolute value | ΔV | of the voltage difference between waveform V2 and waveform V3 changes according to the influence of the deformation of the pressure sensor. Therefore, it is possible to detect a change in the capacitance value of the capacitive element C2 due to the presence or absence of an external pressure application as a change in the voltage.

上記のように自己容量方式の圧力検出部30Bを利用することは、相互容量方式と比較して以下の点で好ましい。すなわち、図12に示すように、導体パターン8Aは、接地電位GNDなどの固定電位に接続されていれば良いので、導体パターン8Aと半導体チップ19とが接続されていなくても良い。言い換えれば、導体パターン8Aは、半導体チップ19と電気的に分離されていても良い。例えば、接地電位GNDに接続する場合、図1に示す表示装置DP1が組み込まれたモジュールの構成部品のうち、例えば図示しない筐体などの任意の部材と接続すれば良い。言い換えれば、本変形例によれば、図5、図9、あるいは図11に示す配線WFSを省略することができる。このため、図9および図11に示す相互容量方式の圧力検出部30または圧力検出部30Aと比較して、配線レイアウトを単純化することができる。   The use of the self-capacitance type pressure detector 30B as described above is preferable in the following points as compared with the mutual capacitance type. That is, as shown in FIG. 12, since the conductor pattern 8A only needs to be connected to a fixed potential such as the ground potential GND, the conductor pattern 8A and the semiconductor chip 19 need not be connected. In other words, the conductor pattern 8A may be electrically separated from the semiconductor chip 19. For example, in the case of connection to the ground potential GND, it may be connected to an arbitrary member such as a casing (not shown) among the components of the module in which the display device DP1 shown in FIG. 1 is incorporated. In other words, according to this modification, the wiring WFS shown in FIG. 5, FIG. 9, or FIG. 11 can be omitted. For this reason, the wiring layout can be simplified as compared with the mutual capacitance type pressure detection unit 30 or the pressure detection unit 30A shown in FIGS. 9 and 11.

なお、自己容量方式を採用する場合、図12におけるX−Y平面の位置座標を特定するためには、図12に示すように、X方向に沿って延びる複数の信号線SGLと、Y方向に沿って延びる複数の走査線GCLの両方を検出電極として用いる。しかし、変形例として、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのうちのいずれか一方を用いても良い。この場合、図12に示すX方向およびY方向のうちのいずれか一方向の座標位置は検出されない。しかし、印加された圧力の強さや圧力が印加されている時間などの情報は取得することができる。   When the self-capacitance method is adopted, in order to specify the position coordinates on the XY plane in FIG. 12, a plurality of signal lines SGL extending along the X direction and Both of the plurality of scanning lines GCL extending along are used as detection electrodes. However, as a modification, any one of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL may be used. In this case, the coordinate position in any one of the X direction and the Y direction shown in FIG. 12 is not detected. However, information such as the strength of the applied pressure and the time during which the pressure is applied can be obtained.

また、複数の信号線SGL、複数の走査線GCL、あるいは複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLの両方が、自己容量方式の圧力検出電極として使用される圧力検出動作期間中は、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLは、図1に示す駆動ドライバ14に接続されても良い。この場合、駆動ドライバ14は、図13および図14に示す容量素子C2を充電する電源VDDとして利用可能である。ただし、圧力検出動作期間中に、図13および図14に示す容量素子C2を充電する電源VDDとして、図1に示す駆動ドライバ14とは別の駆動回路が接続されても良い。   Also, during the pressure detection operation period in which the plurality of signal lines SGL, the plurality of scanning lines GCL, or both the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL are used as the self-capacitance type pressure detection electrodes, a plurality of The signal line SGL and the plurality of scanning lines GCL may be connected to the drive driver 14 shown in FIG. In this case, the drive driver 14 can be used as the power supply VDD for charging the capacitive element C2 shown in FIGS. However, a drive circuit different from the drive driver 14 shown in FIG. 1 may be connected as the power supply VDD for charging the capacitive element C2 shown in FIGS. 13 and 14 during the pressure detection operation period.

また、上記した変形例と同様に、圧力検出部30Bを用いた圧力検出動作において、複数の信号線SGL、または複数の走査線GCLを複数の検出ブロックに分割し、検出ブロック毎に検出信号Vdetを出力させることもできる。圧力センサの複数箇所に同時に圧力が印加される場合がある。この時、上記複数箇所の座標の検出精度を向上させる観点からは、上記したように検出ブロック毎に検出信号Vdetを出力させることが好ましい。   Further, similarly to the above-described modification, in the pressure detection operation using the pressure detection unit 30B, the plurality of signal lines SGL or the plurality of scanning lines GCL are divided into a plurality of detection blocks, and the detection signal Vdet is output for each detection block. Can also be output. Pressure may be applied to a plurality of locations of the pressure sensor at the same time. At this time, it is preferable to output the detection signal Vdet for each detection block as described above from the viewpoint of improving the detection accuracy of the coordinates of the plurality of locations.

一方、図10に示す圧力検出動作期間FLfsを短縮する観点からは、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとから一括して検出信号Vdetを出力させることが好ましい。   On the other hand, from the viewpoint of shortening the pressure detection operation period FLfs shown in FIG. 10, it is preferable to output the detection signal Vdet from the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL at once.

また、自己容量方式の圧力センサの場合、相互容量方式の圧力センサと比較して、検出電極の周辺にもうけられた導体パターンとの間に生じる寄生容量の影響が大きい。そこで自己容量方式の圧力センサの検出精度を向上させる観点からは、以下の構成が好ましい。   Further, in the case of the self-capacitance type pressure sensor, the influence of the parasitic capacitance generated between the self-capacitance type pressure sensor and the conductor pattern provided around the detection electrode is greater than that of the mutual capacitance type pressure sensor. Therefore, the following configuration is preferable from the viewpoint of improving the detection accuracy of the self-capacitance type pressure sensor.

すなわち、図15に示す駆動信号Vfsと同じ信号波形を、検出対象になっている電極E2(図12参照)の周囲の導体パターンに印加する。また、駆動信号Vfsと同じ波形を印加するタイミングは、検出対象になっている電極E2に駆動信号Vfsを印加するタイミングと同期している事が好ましい。これにより、検出電極と、周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を大幅に低減することができる。   That is, the same signal waveform as the drive signal Vfs shown in FIG. 15 is applied to the conductor pattern around the detection target electrode E2 (see FIG. 12). Further, it is preferable that the timing of applying the same waveform as the drive signal Vfs is synchronized with the timing of applying the drive signal Vfs to the electrode E2 to be detected. Thereby, the influence of the parasitic capacitance formed between the detection electrode and the surrounding conductor pattern can be significantly reduced.

以下、本願明細書において、検出電極の周囲の導体パターンに対して、駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位を、検出電極に駆動信号Vfsが印加されるタイミングと同期させて印加する方法を、アクティブシールド方式と呼ぶ。また、例えば、第1の導体パターンに対して、駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位を検出電極に駆動信号Vfsが印加されるタイミングと同期させて印加することを、第1の導体パターンに対してアクティブシールド方式を適用する、と記載する。   Hereinafter, in this specification, a method of applying a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs to the conductor pattern around the detection electrode in synchronization with the timing at which the drive signal Vfs is applied to the detection electrode will be referred to as an active method. Called the shield system. Further, for example, the application of a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs to the first conductor pattern in synchronization with the timing at which the drive signal Vfs is applied to the detection electrode is performed on the first conductor pattern. To apply the active shield method.

導体パターン間に形成される寄生容量は、導体パターンの平面積が大きくなる程、寄生容量値が大きくなる。また、導体パターン間に形成される寄生容量は、導体パターン間の距離が小さくなる程、寄生容量値が大きくなる。したがって、図6に示す駆動電極COMLに対して、アクティブシールド方式を適用することが好ましい。また、自己容量方式の圧力検出動作において、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとから一括して検出信号Vdetを出力させる場合には、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLはすべてが検出電極として動作するので、アクティブシールド方式は適用できない。   The parasitic capacitance formed between the conductor patterns increases as the plane area of the conductor pattern increases. In addition, the parasitic capacitance formed between the conductor patterns increases as the distance between the conductor patterns decreases. Therefore, it is preferable to apply the active shield method to the drive electrode COML shown in FIG. In the pressure detection operation of the self-capacitance method, when the detection signal Vdet is output collectively from the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL, all of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL are output. Operate as a detection electrode, the active shield method cannot be applied.

しかし、変形例として説明したように、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのうちのいずれか一方が検出電極として利用される場合、検出電極として利用されていない導体パターンに対しては、アクティブシールド方式を適用することが好ましい。   However, as described as a modification, when any one of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL is used as a detection electrode, for a conductor pattern not used as a detection electrode, It is preferable to apply the active shield method.

また、別の変形例として説明したように、複数の信号線SGL、または複数の走査線GCLを複数の検出ブロックに分割し、検出ブロック毎に検出信号Vdetを出力させる場合がある。この場合、検出ブロックとして検出信号Vdetが出力されていない導体パターン(例えば、信号線SGL、または走査線GCL)に対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。   Further, as described as another modified example, a plurality of signal lines SGL or a plurality of scanning lines GCL may be divided into a plurality of detection blocks, and a detection signal Vdet may be output for each detection block. In this case, it is preferable to apply the active shield method to a conductor pattern (for example, the signal line SGL or the scanning line GCL) to which the detection signal Vdet is not output as the detection block.

また、図8に示すように、複数の信号線SGLは、副画素SPixの列、すなわち、図8に示すY方向に沿った副画素SPixの垂直ライン毎に設けられている。また、複数の走査線GCLは、副画素SPixの行、すなわち、図8に示すX方向に沿った副画素SPixの水平ライン毎に設けられている。このため、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのそれぞれに、図13に示す電圧検出器DETを接続した場合には、電圧検出器DETが数多く必要になる。この場合、複数の電圧検出器DETを備える部品の大きさが大きくなる。   As shown in FIG. 8, the plurality of signal lines SGL are provided for each column of the sub-pixels SPix, that is, for each vertical line of the sub-pixels SPix along the Y direction shown in FIG. The plurality of scanning lines GCL are provided for each row of the sub-pixels SPix, that is, for each horizontal line of the sub-pixels SPix along the X direction shown in FIG. Therefore, when the voltage detector DET shown in FIG. 13 is connected to each of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL, many voltage detectors DET are required. In this case, the size of the component including the plurality of voltage detectors DET increases.

例えば、本実施の形態の例では、図5に示す半導体チップ19に複数の電圧検出器DETが形成されている。この場合、半導体チップ19の平面積を小型化する観点から、電圧検出器DETの数は少ない方が好ましい。そこで、本願発明者は、同じタイミングで使用される電圧検出器DETの数を低減する技術について検討を行い、以下の変形例を見出した。   For example, in the example of the present embodiment, a plurality of voltage detectors DET are formed on the semiconductor chip 19 shown in FIG. In this case, from the viewpoint of reducing the plane area of the semiconductor chip 19, it is preferable that the number of the voltage detectors DET is small. Then, the inventor of the present application examined a technique for reducing the number of voltage detectors DET used at the same timing, and found the following modified examples.

図16は、図12に示す圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。なお、図16では、図12に示す圧力検出部30Bの結線例として示しているが、図11に示す圧力検出部30Aの結線例としても適用できる。   FIG. 16 is an explanatory diagram showing an example of connection between signal lines and scanning lines constituting a detection electrode of the pressure sensor shown in FIG. 12 and a voltage detector. Although FIG. 16 shows an example of the connection of the pressure detection unit 30B shown in FIG. 12, it can be applied as an example of the connection of the pressure detection unit 30A shown in FIG.

図16に示す圧力検出部30Bの検出電極を構成する複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLは、以下のように電圧検出器DETと電気的に接続されている。すなわち、複数の信号線SGLは、隣り合って並ぶ複数本ずつの信号線SGLが電気的に接続されて、複数の検出ブロックDUaを構成する。また、複数の走査線GCLは、隣り合って並ぶ複数本ずつの走査線GCLが電気的に接続されて、複数の検出ブロックDUbを構成する。また、圧力検出動作期間には、複数の検出ブロックDUaおよび複数の検出ブロックDUbのそれぞれが複数の電圧検出器DETに接続されている。   A plurality of signal lines SGL and a plurality of scanning lines GCL that constitute detection electrodes of the pressure detection unit 30B illustrated in FIG. 16 are electrically connected to the voltage detector DET as described below. That is, the plurality of signal lines SGL are electrically connected to a plurality of adjacent signal lines SGL to form a plurality of detection blocks DUa. The plurality of scanning lines GCL are electrically connected to a plurality of adjacent scanning lines GCL to form a plurality of detection blocks DUb. Further, during the pressure detection operation period, each of the plurality of detection blocks DUa and the plurality of detection blocks DUb is connected to the plurality of voltage detectors DET.

言い換えれば、圧力検出部30Bの検出電極を構成する複数の信号線SGLは、互いに隣り合う複数本の信号線SGLが並列接続され、一つの電圧検出器DETに接続されている。また、圧力検出部30Bの検出電極を構成する複数の走査線GCLは、互いに隣り合う複数本の信号線SGLが並列接続され、一つの電圧検出器DETに接続されている。   In other words, a plurality of signal lines SGL constituting a detection electrode of the pressure detection unit 30B are connected in parallel with a plurality of signal lines SGL adjacent to each other and are connected to one voltage detector DET. In addition, a plurality of scanning lines GCL forming detection electrodes of the pressure detection unit 30B are configured such that a plurality of signal lines SGL adjacent to each other are connected in parallel, and are connected to one voltage detector DET.

上記したように、図8に示す複数の信号線SGLは、副画素SPixの列毎に設けられている。また、複数の走査線GCLは、副画素SPixの行毎に設けられている。副画素SPixのサイズは、表示部20(図1参照)の解像度に影響を与えるため、表示画像の品質を向上させる観点から平面サイズは非常に小さい。一方、圧力検出の座標位置を検出する場合、表示部20に要求される解像度よりも低い解像度で良い。   As described above, the plurality of signal lines SGL illustrated in FIG. 8 are provided for each column of the sub-pixels SPix. Further, the plurality of scanning lines GCL are provided for each row of the sub-pixels SPix. Since the size of the sub-pixel SPix affects the resolution of the display unit 20 (see FIG. 1), the planar size is very small from the viewpoint of improving the quality of the displayed image. On the other hand, when detecting the coordinate position of the pressure detection, the resolution may be lower than the resolution required for the display unit 20.

そこで、図16に示す例では、複数本の信号線SGLを並列接続し、一つの電圧検出器DETに接続している。また、複数本の走査線GCLを並列接続し、一つの電圧検出器DETに接続している。これにより、例えば、複数の信号線SGLと複数の走査線GCLとから一括して検出信号Vdet(図12参照)を出力させる場合であっても、電圧検出器DETの数を低減させることができる。   Thus, in the example shown in FIG. 16, a plurality of signal lines SGL are connected in parallel and connected to one voltage detector DET. Further, a plurality of scanning lines GCL are connected in parallel and connected to one voltage detector DET. Thus, for example, even when the detection signal Vdet (see FIG. 12) is output from the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL collectively, the number of voltage detectors DET can be reduced. .

なお、図16に示す例では、4本の信号線SGLおよび4本の走査線GCLがそれぞれ並列接続されている。ただし、並列接続される信号線SGLまたは走査線GCLの数は、要求される解像度に応じて、4本以外の数であっても良い。並列接続される信号線SGLまたは走査線GCLの数が少なくなれば、圧力検出の座標の解像度が向上する。一方、並列接続される信号線SGLまたは走査線GCLの数が多くなれば、解像度は低下するが、電圧検出器DETの数は低減することができる。   In the example shown in FIG. 16, four signal lines SGL and four scanning lines GCL are respectively connected in parallel. However, the number of signal lines SGL or scanning lines GCL connected in parallel may be a number other than four depending on the required resolution. If the number of signal lines SGL or scanning lines GCL connected in parallel is reduced, the resolution of pressure detection coordinates is improved. On the other hand, if the number of signal lines SGL or scanning lines GCL connected in parallel increases, the resolution decreases, but the number of voltage detectors DET can be reduced.

また、図9に示す圧力検出部30や、その変形例として説明したように、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのうちのいずれか一方のみを検出電極として使用する場合、さらに電圧検出器の数を低減することができる。この場合、検出電極として使用していない配線に、図15に示す波形V2の検出波形を印加することにより、検出精度を向上させられることは既に述べた通りである。   When only one of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL is used as a detection electrode as described in the pressure detection unit 30 shown in FIG. The number of vessels can be reduced. In this case, as described above, the detection accuracy can be improved by applying the detection waveform of the waveform V2 shown in FIG. 15 to the wiring not used as the detection electrode.

また、図16に対する変形例として、図17に示す圧力検出部30Cのような結線にしても良い。図17は、図16に対する変形例である圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。   Further, as a modification example of FIG. 16, a connection such as the pressure detection unit 30C shown in FIG. 17 may be employed. FIG. 17 is an explanatory diagram showing a connection example between a signal line and a scanning line constituting a detection electrode of a pressure sensor which is a modification example of FIG. 16 and a voltage detector.

図17に示す圧力検出部30Cの検出電極を構成する複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLは、以下のように電圧検出器DETと電気的に接続されている。すなわち、複数の信号線SGLのうち、互いに隣り合う複数の信号線SGLのうちの一部が電圧検出器DETに接続され、他の一部は電圧検出器DETと電気的に分離されている。また、複数の走査線GCLのうち、互いに隣り合う複数の走査線GCLのうちの一部が電圧検出器DETに接続され、他の一部は電圧検出器DETと電気的に分離されている。   The plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL forming the detection electrodes of the pressure detection unit 30C illustrated in FIG. 17 are electrically connected to the voltage detector DET as described below. That is, a part of the plurality of signal lines SGL adjacent to each other among the plurality of signal lines SGL is connected to the voltage detector DET, and the other part is electrically separated from the voltage detector DET. Further, a part of the plurality of scanning lines GCL adjacent to each other among the plurality of scanning lines GCL is connected to the voltage detector DET, and the other part is electrically separated from the voltage detector DET.

圧力検出部30Cのように、複数の信号線SGLまたは複数の走査線GCLのうちの一部を電圧検出器DETに接続しない構成の場合、図16に示す圧力検出部30Bと同様に電圧検出器DETの数を低減できる。ただし、図13および図14に示す容量素子C2の容量値は、検出電極の平面積が大きい程、大きくなる。したがって、容量素子C2の容量を大きくして検出精度を向上させる観点からは、図16に示す圧力検出部30Bの方が好ましい。   In the case of a configuration in which some of the plurality of signal lines SGL or the plurality of scanning lines GCL are not connected to the voltage detector DET as in the pressure detection unit 30C, the voltage detector is similar to the pressure detection unit 30B shown in FIG. The number of DETs can be reduced. However, the capacitance value of the capacitance element C2 shown in FIGS. 13 and 14 increases as the plane area of the detection electrode increases. Therefore, from the viewpoint of improving the detection accuracy by increasing the capacitance of the capacitive element C2, the pressure detector 30B shown in FIG. 16 is more preferable.

また、図17に示す圧力検出部30Cの場合、圧力検出動作期間中に、電圧検出器DETに接続されていない信号線SGLまたは走査線GCLが他の回路に接続されている場合、上記接続されていない信号線SGLまたは走査線GCLには、図15に示す波形V2の検出波形を印加して、アクティブシールド方式を適用することが好ましい。これにより、電圧検出器DETに接続されている信号線SGLまたは走査線GCLとの間で、寄生容量が形成されることを抑制できる。あるいは、図17に示すように、圧力検出動作中は、上記接続されていない信号線SGLまたは走査線GCLは他の回路と電気的に分離することが好ましい。他の回路に接続されていないフローティングの導体パターンには寄生容量が形成され難い。   In the case of the pressure detecting unit 30C shown in FIG. 17, when the signal line SGL or the scanning line GCL not connected to the voltage detector DET is connected to another circuit during the pressure detecting operation period, the above connection is made. It is preferable to apply the active shield method by applying the detection waveform of the waveform V2 shown in FIG. 15 to the signal line SGL or the scanning line GCL which is not provided. Thereby, formation of a parasitic capacitance with the signal line SGL or the scanning line GCL connected to the voltage detector DET can be suppressed. Alternatively, as shown in FIG. 17, it is preferable that the unconnected signal line SGL or scanning line GCL be electrically separated from other circuits during the pressure detection operation. Parasitic capacitance is unlikely to be formed in a floating conductor pattern that is not connected to other circuits.

また、図16に対する他の変形例として、図18に示す圧力検出部30Dのような結線にしても良い。図18は、図16に対する他の変形例である圧力センサの検出電極を構成する信号線および走査線と電圧検出器との結線例を示す説明図である。   Further, as another modification example of FIG. 16, a connection such as the pressure detection unit 30D shown in FIG. 18 may be employed. FIG. 18 is an explanatory diagram showing an example of connection between signal lines and scanning lines constituting a detection electrode of a pressure sensor, which is another modification example of FIG. 16, and a voltage detector.

図18に示す圧力検出部30Dの検出電極は、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLにより構成されている。この点は図16に示す圧力検出部30Bと同様である。ただし、圧力検出部30Dの場合、複数の信号線SGLから検出信号Vdet1(図12参照)を出力させるタイミングと、複数の走査線GCLから検出信号Vdet2(図12参照)を出力させるタイミングと、を時間的に分割している。言い換えれば、圧力検出部30Dを用いた圧力検出方法では、複数の信号線SGLから検出信号Vdet1を出力させる検出動作期間と、複数の走査線GCLから検出信号Vdet2を出力させる検出動作期間とが、時分割で行われる。更に言い換えれば、圧力検出部30Dは、複数の信号線SGLおよび複数の走査線GCLのうちのいずれか一方から検出信号Vdetを出力させた後、他方から検出信号Vdetを出力させる。   The detection electrodes of the pressure detection unit 30D illustrated in FIG. 18 include a plurality of signal lines SGL and a plurality of scanning lines GCL. This is the same as the pressure detector 30B shown in FIG. However, in the case of the pressure detection unit 30D, the timing at which the detection signal Vdet1 (see FIG. 12) is output from the plurality of signal lines SGL and the timing at which the detection signal Vdet2 (see FIG. 12) is output from the plurality of scanning lines GCL are determined. It is divided in time. In other words, in the pressure detection method using the pressure detection unit 30D, the detection operation period during which the detection signal Vdet1 is output from the plurality of signal lines SGL and the detection operation period during which the detection signal Vdet2 is output from the plurality of scanning lines GCL include: It is performed in a time sharing manner. In other words, the pressure detection unit 30D outputs the detection signal Vdet from one of the plurality of signal lines SGL and the plurality of scanning lines GCL, and then outputs the detection signal Vdet from the other.

例えば、図18に示す例では、複数の信号線SGLは、検出ブロックDUa1、検出ブロックDUa2、・・・、検出ブロックDUanから成るn個の検出単位に分割されている。また、複数の走査線GCLは、検出ブロックDUb1、検出ブロックDUb2、・・・、検出ブロックDUbmから成るm個の検出単位に分割されている。一方、検出回路部40は、電圧検出器DET1、電圧検出器DET2、・・・、電圧検出器DETsから成るs個の電圧検出器DETを備えている。   For example, in the example illustrated in FIG. 18, the plurality of signal lines SGL are divided into n detection units including a detection block DUa1, a detection block DUa2,..., A detection block DUan. The plurality of scanning lines GCL are divided into m detection units including a detection block DUb1, a detection block DUb2,..., A detection block DUbm. On the other hand, the detection circuit unit 40 includes s voltage detectors DET including voltage detectors DET1, voltage detectors DET2,..., Voltage detectors DETs.

ここで、複数の信号線SGLから検出信号Vdet1(図12参照)を出力させる期間では、検出ブロックDUa1と電圧検出器DET1、検出ブロックDUa2と電圧検出器DET2、・・・の順で、複数の信号線SGLと複数の電圧検出器DETとがそれぞれ電気的に接続される。この時、複数の走査線GCLのそれぞれは、電圧検出器DETと電気的に分離されている。これにより、複数の信号線SGLから出力される検出信号Vdet1は選択的に検出される。   Here, during a period in which the detection signal Vdet1 (see FIG. 12) is output from the plurality of signal lines SGL, the detection block DUa1 and the voltage detector DET1, the detection block DUa2 and the voltage detector DET2,. The signal line SGL is electrically connected to the plurality of voltage detectors DET. At this time, each of the plurality of scanning lines GCL is electrically separated from the voltage detector DET. Thus, the detection signals Vdet1 output from the plurality of signal lines SGL are selectively detected.

一方、複数の走査線GCLから検出信号Vdet2(図12参照)を出力させる期間では、検出ブロックDUb1と電圧検出器DET1、検出ブロックDUb2と電圧検出器DET2、・・・の順で、複数の走査線GCLと複数の電圧検出器DETとがそれぞれ電気的に接続される。この時、複数の信号線SGLのそれぞれは、電圧検出器DETと電気的に分離されている。これにより、複数の走査線GCLから出力される検出信号Vdet2は選択的に検出される。   On the other hand, during a period in which the detection signal Vdet2 (see FIG. 12) is output from the plurality of scanning lines GCL, the plurality of scans are performed in the order of the detection block DUb1 and the voltage detector DET1, the detection block DUb2 and the voltage detector DET2,. The line GCL is electrically connected to the plurality of voltage detectors DET. At this time, each of the plurality of signal lines SGL is electrically separated from the voltage detector DET. Thereby, the detection signals Vdet2 output from the plurality of scanning lines GCL are selectively detected.

複数の信号線SGLから検出信号Vdet1(図12参照)を出力させる期間と、複数の走査線GCLから検出信号Vdet2(図12参照)を出力させる期間の間での結線の切り替えは、図示しないスイッチを用いて行うことができる。   The connection is switched between a period in which the detection signal Vdet1 (see FIG. 12) is output from the plurality of signal lines SGL and a period in which the detection signal Vdet2 (see FIG. 12) is output from the plurality of scanning lines GCL. Can be performed.

図18に示す圧力センサの場合、電圧検出器DETの数は、上記したn個およびm個のうち、いずれか大きい方の値であれば良い。このため、図16や図17に示す例と比較して、電圧検出器DETの数を大幅に低減できる。   In the case of the pressure sensor shown in FIG. 18, the number of the voltage detectors DET may be the larger one of the above n and m. Therefore, the number of voltage detectors DET can be significantly reduced as compared with the examples shown in FIGS.

また、圧力検出部30Dを用いて圧力検出を行う場合、上記したように、圧力検出動作時に、電圧検出器DETに接続されない配線が存在することになる。したがって、上記したように、寄生容量を低減して、圧力検出の検出精度を向上させる観点から、圧力検出動作時に、電圧検出器DETと電気的に分離された複数の配線に波形V2を供給することで、アクティブシールド方式を適用することが好ましい。   Further, when pressure detection is performed using the pressure detection unit 30D, as described above, there are wires that are not connected to the voltage detector DET during the pressure detection operation. Therefore, as described above, from the viewpoint of reducing the parasitic capacitance and improving the detection accuracy of pressure detection, the waveform V2 is supplied to a plurality of wirings electrically separated from the voltage detector DET during the pressure detection operation. Therefore, it is preferable to apply the active shield method.

また、図5に示す例では、導体パターン8とアレイ基板2の間に中空空間9を設けた表示装置DP1の例について説明した。しかし、図19に示す表示装置DP2のように、導体パターン8とアレイ基板2との間に、アレイ基板2よりも弾性変形し易いすなわち、弾性体9Aを設けても良い。図19は、図5に対する変形例である表示装置の一例を示す断面図である。   Further, in the example shown in FIG. 5, the example of the display device DP1 in which the hollow space 9 is provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2 has been described. However, as in the display device DP2 shown in FIG. 19, an elastic body 9A that is more easily elastically deformed than the array substrate 2 may be provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating an example of a display device that is a modification example of FIG.

図19に示す表示装置DP2は、導体パターン8とアレイ基板2の間に設けられた弾性体9Aを有する。弾性体9Aは、アレイ基板2、および図6に示す基板21よりも弾性変形し易い部材である。言い換えれば、アレイ基板2、および図6に示す基板21よりも弾性が低い部材である。図19に示す例では、導体パターン8とアレイ基板2の間には、複数の弾性体9Aが設けられている。そして、複数の弾性体9Aの厚さ、すなわち、アレイ基板2の下面2bに対して垂直な方向の長さの総和は、図6に示す液晶層4の厚さと比較して大きい。   The display device DP2 shown in FIG. 19 has an elastic body 9A provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. The elastic body 9A is a member that is more easily elastically deformed than the array substrate 2 and the substrate 21 shown in FIG. In other words, it is a member having lower elasticity than the array substrate 2 and the substrate 21 shown in FIG. In the example shown in FIG. 19, a plurality of elastic bodies 9A are provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. The thickness of the plurality of elastic bodies 9A, that is, the total length in the direction perpendicular to the lower surface 2b of the array substrate 2 is larger than the thickness of the liquid crystal layer 4 shown in FIG.

表示装置DP2のように、複数層の弾性体9Aが設けられている場合、中空空間9の厚さの総和が大きいほど、図13および図14に示す容量素子C2の容量値の変化量を大きくすることができる。つまり、本変形例によれば、外部から印加した圧力に起因して変化する容量値の変化を大きくすることができるので、ノイズ成分の影響を低減することができる。これにより、圧力センサの検出精度を向上させることができる。   In the case where a plurality of layers of the elastic body 9A are provided as in the display device DP2, the larger the total thickness of the hollow space 9 is, the larger the amount of change in the capacitance value of the capacitive element C2 shown in FIGS. can do. That is, according to the present modification, the change in the capacitance value that changes due to the pressure applied from the outside can be increased, so that the influence of the noise component can be reduced. Thereby, the detection accuracy of the pressure sensor can be improved.

なお、図19に対する変形例として、一層の弾性体9Aが設けられていても良い。この場合、一層の弾性体9Aの厚さを少なくとも図6に示す液晶層4よりも厚くすることで、図13および図14に示す容量素子C2の容量値の変化量を大きくすることができる。また、一層の弾性体9Aの厚さは、アレイ基板2の厚さ以上であることが好ましい。   Note that, as a modification example of FIG. 19, one elastic body 9A may be provided. In this case, by making the thickness of one elastic body 9A at least thicker than the liquid crystal layer 4 shown in FIG. 6, the amount of change in the capacitance value of the capacitive element C2 shown in FIGS. 13 and 14 can be increased. Further, the thickness of one elastic body 9A is preferably equal to or greater than the thickness of the array substrate 2.

なお、上記したように導体パターン8とアレイ基板2の間に複数の弾性体9Aが設けられている場合、「弾性体の厚さ」とは、複数の弾性体9Aの厚さの総和を意味する。   When a plurality of elastic bodies 9A are provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2 as described above, "thickness of the elastic body" means the total thickness of the plurality of elastic bodies 9A. I do.

また、圧力センサの局所的な弾性変形を促進させる弾性変形層として、図5では中空空間9を設ける例、図19では、弾性体9Aを設ける例について説明した。しかし、図5に示す例と図19に示す例を組み合わせて適用することもできる。例えば、図示は省略するが、導体パターン8とアレイ基板2との間の複数箇所に隙間が設けられている場合、一部の隙間に中空空間9を設け、他の一部の隙間に弾性体9Aを設けても良い。   In addition, FIG. 5 illustrates an example in which the hollow space 9 is provided as an elastic deformation layer that promotes local elastic deformation of the pressure sensor, and FIG. 19 illustrates an example in which the elastic body 9A is provided. However, the example shown in FIG. 5 and the example shown in FIG. 19 can be combined and applied. For example, although illustration is omitted, when gaps are provided at a plurality of places between the conductor pattern 8 and the array substrate 2, a hollow space 9 is provided in some of the gaps, and an elastic body is provided in the other of the gaps. 9A may be provided.

また、図19では、自己容量方式の圧力センサを使用する例を示している。このため、図5に示す配線WFSが図19には設けられていない。ただし、図5に示すように相互容量方式の圧力センサにおいて、図19に示す弾性体9Aを設けても良い。また、図19に示す自己容量方式の圧力センサにおいて、図5に示す中空空間9を設けても良い。   FIG. 19 shows an example in which a self-capacitance type pressure sensor is used. Therefore, the wiring WFS shown in FIG. 5 is not provided in FIG. However, the elastic body 9A shown in FIG. 19 may be provided in the mutual capacitance type pressure sensor as shown in FIG. In the self-capacitance pressure sensor shown in FIG. 19, the hollow space 9 shown in FIG. 5 may be provided.

また、図5および図19では、導体パターン8とアレイ基板2との離間距離を大きくするため、アレイ基板2の下面2b側に設けられる導光板7よりもさらに下方に導体パターン8が設けられている。言い換えれば、表示装置DP1および表示装置DP2では、導体パターン8とアレイ基板2の間に偏光板5や導光板7が設けられている。   5 and 19, the conductor pattern 8 is provided further below the light guide plate 7 provided on the lower surface 2b side of the array substrate 2 in order to increase the separation distance between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. I have. In other words, in the display devices DP1 and DP2, the polarizing plate 5 and the light guide plate 7 are provided between the conductor pattern 8 and the array substrate 2.

しかし、圧力センサの検出精度が必要十分に向上できれば、導体パターン8とアレイ基板2の間に他の部材が配置されていなくても良い。例えば、表示機能層として有機ELを用いる場合には、偏光板5や導光板7などの光学機能膜は設けない場合もある。   However, if the detection accuracy of the pressure sensor can be sufficiently improved, other members do not have to be arranged between the conductor pattern 8 and the array substrate 2. For example, when an organic EL is used as the display function layer, an optical function film such as the polarizing plate 5 or the light guide plate 7 may not be provided.

図20は、図19に対する変形例である表示装置の一例を示す断面図である。なお、図20では、導体パターン8の位置を見やすくするため、導体パターン8に模様を付している。外部から印加された圧力に応じて、圧力センサが安定的に変形すれば、圧力の検出精度を向上させることができるので、導体パターン8とアレイ基板2の間に偏光板5や導光板7以外の部材が設けられていても良い。例えば、表示機能層として液晶層4(図6参照)を用いる液晶表示装置の場合、導光板7と偏光板5との間に、プリズムシートPF1(図20参照)や光拡散シートPF2(図20参照)など、複数枚の光学機能膜を設ける場合がある。また、図20に示す表示装置DP3のように、導光板7と偏光板5との間に光学機能膜であるプリズムシートPF1や光拡散シートPF2のような光学機能膜が設けられている場合には、光学機能膜の一方の主面に、導体パターン8を堆積させても良い。この場合、導体パターン8には、光透過性が要求されるので、例えば酸化インジウムスズ(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)または酸化スズ(SnO)等の透明導電材料により形成されることが好ましい。   FIG. 20 is a cross-sectional view illustrating an example of a display device that is a modification example of FIG. In FIG. 20, the conductor pattern 8 is provided with a pattern to make the position of the conductor pattern 8 easier to see. If the pressure sensor is stably deformed according to the pressure applied from the outside, the accuracy of detecting the pressure can be improved, and therefore, other than the polarizing plate 5 and the light guide plate 7 between the conductor pattern 8 and the array substrate 2 May be provided. For example, in the case of a liquid crystal display device using the liquid crystal layer 4 (see FIG. 6) as the display function layer, a prism sheet PF1 (see FIG. 20) and a light diffusion sheet PF2 (see FIG. 20) are provided between the light guide plate 7 and the polarizing plate 5. See, for example, a plurality of optical functional films may be provided. Further, in the case where an optical function film such as a prism sheet PF1 or a light diffusion sheet PF2, which is an optical function film, is provided between the light guide plate 7 and the polarizing plate 5, as in the display device DP3 shown in FIG. The conductive pattern 8 may be deposited on one main surface of the optical function film. In this case, since the conductor pattern 8 is required to have optical transparency, it is preferably formed of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or tin oxide (SnO). .

(実施の形態2)
上記実施の形態1では、入力装置として圧力センサを備える表示装置を取り上げて説明した。本実施の形態では、入力装置として、圧力センサおよびタッチセンサを備える表示装置について説明する。図21は、図1に対する変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, the display device including the pressure sensor has been described as the input device. In this embodiment, a display device including a pressure sensor and a touch sensor as input devices will be described. FIG. 21 is a block diagram showing an overall configuration of a display device which is a modification example of FIG.

なお、本実施の形態の表示装置は、入力装置としてタッチセンサを更に有している点で上記実施の形態1と相違する。しかし、圧力センサの部分、および表示部の部分は、上記実施の形態と同様なので、重複する説明は省略し、上記実施の形態1との相違点を中心に説明する。   Note that the display device according to the present embodiment is different from the above-described first embodiment in further including a touch sensor as an input device. However, the portion of the pressure sensor and the portion of the display unit are the same as those in the above-described embodiment, and thus the description thereof will not be repeated, and only the differences from the above-described first embodiment will be mainly described.

図21に示す表示装置DP3が備える本体部10は、圧力検出機能、タッチ検出機能、および表示機能を備えている。つまり、本体部10は、画像や映像を出力する表示装置である表示部20と、圧力センサである圧力検出部30と、タッチセンサであるタッチ検出部50と、を有する。また、表示装置DP3は、上記実施の形態1で圧力検出用の回路部として説明した検出回路部40に加え、タッチ検出用の回路部である検出回路部60を備えている点で、上記実施の形態1と相違する。   The main body 10 included in the display device DP3 illustrated in FIG. 21 has a pressure detection function, a touch detection function, and a display function. That is, the main body unit 10 includes the display unit 20 that is a display device that outputs an image or a video, the pressure detection unit 30 that is a pressure sensor, and the touch detection unit 50 that is a touch sensor. Further, the display device DP3 includes a detection circuit unit 60 which is a circuit unit for touch detection in addition to the detection circuit unit 40 described as the circuit unit for pressure detection in the first embodiment, and Embodiment 1 is different from Embodiment 1.

また、本体部10は、表示部20、圧力検出部30、およびタッチ検出部50を一体化した表示装置であり、圧力検出機能およびタッチ検出機能を内蔵した表示装置、すなわちインセルタイプのタッチ検出機能および圧力検出機能付き表示装置である。   The main body unit 10 is a display device in which the display unit 20, the pressure detection unit 30, and the touch detection unit 50 are integrated, and has a built-in pressure detection function and a touch detection function, that is, an in-cell type touch detection function. And a display device with a pressure detection function.

タッチ検出部50は、後述する指などの誘電体が近接することによる静電容量の変化を利用したタッチ検出の原理に基づいて動作し、検出信号VTdetを出力する。   The touch detection unit 50 operates based on the principle of touch detection using a change in capacitance due to proximity of a dielectric such as a finger, which will be described later, and outputs a detection signal VTdet.

制御部11は、外部より供給された映像信号Vdispに基づいて、ゲートドライバ12、ソースドライバ13、駆動ドライバ14、検出回路部40、および検出回路部60に対してそれぞれ制御信号を供給し、これらが互いに同期して動作するように制御する回路である。   The control unit 11 supplies control signals to the gate driver 12, the source driver 13, the drive driver 14, the detection circuit unit 40, and the detection circuit unit 60 based on the video signal Vdisp supplied from the outside. Are circuits that perform control so as to operate in synchronization with each other.

駆動ドライバ14は、制御部11から供給される制御信号に基づいて、本体部10に含まれた駆動電極COML(後述する図24および図25を参照)に、駆動信号Vcomを供給する回路である。なお、図21では見易さのため、タッチ検出部50用に用いられる駆動信号Vts、表示部20用に用いられる駆動信号Vcomおよび圧力センサ用に印加される駆動信号Vfsを、それぞれ1本ずつ示している。   The drive driver 14 is a circuit that supplies a drive signal Vcom to a drive electrode COML (see FIGS. 24 and 25 described later) included in the main body 10 based on a control signal supplied from the control unit 11. . In FIG. 21, for the sake of clarity, one drive signal Vts used for the touch detection unit 50, one drive signal Vcom used for the display unit 20, and one drive signal Vfs applied for the pressure sensor are used. Is shown.

また、検出回路部60は、制御部11から供給される制御信号と、本体部10のタッチ検出部50から供給された検出信号VTdetに基づいて、タッチ検出部50に対する指や入力治具の近接の有無を検出する回路である。そして、検出回路部60は、本体部のタッチ検出部50のタッチ検出領域に対する指や入力治具の近接の有無を電気的に判定し、得られた情報を出力する回路である。検出回路部60は、例えば、図21に示す例では、検出信号増幅部62と、A/D(Analog/Digital)変換部63と、信号処理部64と、座標抽出部65と、検出制御部66とを備えている。   In addition, the detection circuit unit 60 determines whether or not a finger or an input jig approaches the touch detection unit 50 based on the control signal supplied from the control unit 11 and the detection signal VTdet supplied from the touch detection unit 50 of the main body unit 10. This is a circuit for detecting the presence / absence. The detection circuit section 60 is a circuit that electrically determines whether or not a finger or an input jig approaches the touch detection area of the touch detection section 50 of the main body section, and outputs obtained information. For example, in the example shown in FIG. 21, the detection circuit unit 60 includes a detection signal amplification unit 62, an A / D (Analog / Digital) conversion unit 63, a signal processing unit 64, a coordinate extraction unit 65, and a detection control unit. 66.

なお、図21に示す検出回路部60の各部分が備える機能は、上記実施の形態1で説明した検出回路部40の各部分が備える機能に対応しているので、重複する説明は省略する。   Note that the functions provided in each part of the detection circuit unit 60 shown in FIG. 21 correspond to the functions provided in each part of the detection circuit unit 40 described in the first embodiment, and thus redundant description will be omitted.

<静電容量の変化を利用したタッチ検出の原理>
次に、図21〜図23を参照し、本実施の形態の表示装置DP3におけるタッチ検出の原理について説明する。図22は、タッチセンサと指が離れた状態を模式的に示す説明図である。また、図23は、タッチセンサに指が接触した状態を模式的に示す説明図である。
<Principle of touch detection using change in capacitance>
Next, the principle of touch detection in the display device DP3 of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 22 is an explanatory diagram schematically illustrating a state where the finger is separated from the touch sensor. FIG. 23 is an explanatory diagram schematically illustrating a state in which a finger is in contact with the touch sensor.

なお、上記実施の形態1で説明した圧力センサと本実施の形態のタッチセンサとは、容量素子の静電容量の変化を電気的に検出し、電圧信号に変換して出力する点では、同様である。したがって、本セクションでは、上記実施の形態1で説明した圧力センサと共通する部分は、説明を省略する。   Note that the pressure sensor described in the first embodiment and the touch sensor of the present embodiment are similar in that a change in the capacitance of the capacitance element is electrically detected, converted into a voltage signal, and output. It is. Therefore, in this section, description of portions common to the pressure sensor described in Embodiment 1 will be omitted.

図22および図23に示すように、静電容量型のタッチセンサは、誘電体Dを介して対向配置される電極E3および電極E4を有する。電極E3と電極E4の間には容量素子C3が形成されている。この容量素子C3の一端は、駆動信号源である交流信号源Sに接続され、容量素子C3の他端は、タッチ検出回路である電圧検出器DETに接続される。電圧検出器DETは、例えば図21に示す検出信号増幅部62に含まれる積分回路からなる。電圧検出器DETの構造は、上記実施の形態1と同様である。   As shown in FIGS. 22 and 23, the capacitance type touch sensor has electrodes E3 and E4 which are arranged to face each other with a dielectric D interposed therebetween. The capacitor C3 is formed between the electrode E3 and the electrode E4. One end of the capacitive element C3 is connected to an AC signal source S that is a drive signal source, and the other end of the capacitive element C3 is connected to a voltage detector DET that is a touch detection circuit. The voltage detector DET includes, for example, an integration circuit included in the detection signal amplifier 62 shown in FIG. The structure of the voltage detector DET is the same as in the first embodiment.

交流信号源Sから容量素子C3の一端、例えば電極E3に、例えば数kHz〜数百kHz程度の周波数を有する交流矩形波Sgが印加されると、容量素子C3の他端、例えば電極E4側に接続された電圧検出器DETを介して、出力波形である検出信号VTdetが発生する。なお、この交流矩形波Sgは、例えば図4に示す駆動信号Vfsに相当するものである。   When an AC rectangular wave Sg having a frequency of, for example, about several kHz to several hundreds kHz is applied to one end of the capacitive element C3, for example, the electrode E3 from the AC signal source S, the other end of the capacitive element C3, for example, the electrode E4 side A detection signal VTdet, which is an output waveform, is generated via the connected voltage detector DET. The AC rectangular wave Sg corresponds to, for example, the drive signal Vfs shown in FIG.

指が接触および近接していない状態、すなわち非接触状態では、図22に示すように、容量素子C3に対する充放電に伴って、容量素子C3の容量値に応じた電流が流れる。   In a state where the finger is not in contact with or in proximity to the finger, that is, in a non-contact state, as shown in FIG. 22, a current corresponding to the capacitance value of the capacitive element C3 flows as the capacitive element C3 is charged and discharged.

一方、図23に示すように指が接触または近接した状態、すなわち接触状態では、指によって形成される静電容量C4の影響を受け、電極E3および電極E4により形成される容量素子C3の容量値が小さくなる。そのため、図23に示す容量素子C3に流れる電流が変動する。   On the other hand, when the finger is in contact with or in proximity to the finger as shown in FIG. 23, that is, in the contact state, the capacitance of the capacitor E4 is affected by the capacitance C4 formed by the finger, and the capacitance of the capacitor C3 formed by the electrode E3 and the electrode E4. Becomes smaller. Therefore, the current flowing through the capacitor C3 illustrated in FIG. 23 varies.

そして、電圧検出器DETでは、容量素子C3に流れる電流の変動を電圧の変動に変換し、検出信号VTdetとして出力する。電圧検出器DETの動作は、上記実施の形態1と同様である。   Then, the voltage detector DET converts the fluctuation of the current flowing through the capacitive element C3 into the fluctuation of the voltage and outputs it as the detection signal VTdet. The operation of the voltage detector DET is the same as in the first embodiment.

上記の後、図21に示す検出回路部60が有する検出信号増幅部62、A/D変換部63、信号処理部64、座標抽出部65、および検出制御部66のそれぞれでは、上記実施の形態1で説明した検出回路部40が備える各部分と同様の動作をして、タッチパネル座標を出力信号VToutとして出力する。   After the above, each of the detection signal amplification unit 62, A / D conversion unit 63, signal processing unit 64, coordinate extraction unit 65, and detection control unit 66 included in the detection circuit unit 60 illustrated in FIG. The same operation as that of each unit included in the detection circuit unit 40 described in 1 is performed, and the touch panel coordinates are output as the output signal VTout.

<タッチ検出部を備える表示装置の構成例>
次に、タッチセンサを備える表示装置の構成例について説明する。図24は、図21に示す表示装置の一例を示す断面図である。また、図25は、図24に示す表示装置が備えるタッチセンサの構成の例を示す説明図である。
<Example of configuration of display device including touch detection unit>
Next, a configuration example of a display device including a touch sensor will be described. FIG. 24 is a sectional view showing an example of the display device shown in FIG. FIG. 25 is an explanatory diagram illustrating an example of a configuration of a touch sensor included in the display device illustrated in FIG.

なお、図24では、アレイ基板2と対向基板3の間に設けられた液晶層4やTFT層25などを一図で見やすくするため、TFT層25とカラーフィルタ層32との間を局所的に拡大して示している。また、図24では、電極や導体パターンを識別し易くするため、画素電極22、駆動電極COML、走査線GCLおよび信号線SGLにハッチングを付し、タッチセンサの検出電極TDLおよび圧力センサの導体パターン8にドットパターンを付している。また、図24に示す圧力センサは、図12〜図14を用いて説明した、自己容量方式の圧力センサの例で示している。このため、図24に示す表示装置DP3の導体パターン8には、図5に示す配線WFSが接続されていない。   In FIG. 24, the liquid crystal layer 4 and the TFT layer 25 provided between the array substrate 2 and the counter substrate 3 are locally shown between the TFT layer 25 and the color filter layer 32 in order to make it easier to see. It is shown enlarged. In FIG. 24, the pixel electrode 22, the drive electrode COML, the scanning line GCL, and the signal line SGL are hatched to facilitate identification of the electrode and the conductor pattern, and the detection electrode TDL of the touch sensor and the conductor pattern of the pressure sensor are provided. 8 is provided with a dot pattern. The pressure sensor shown in FIG. 24 is an example of the self-capacitance type pressure sensor described with reference to FIGS. Therefore, the wiring WFS shown in FIG. 5 is not connected to the conductor pattern 8 of the display device DP3 shown in FIG.

また、図25では、相互容量方式のタッチセンサの構成例として、駆動電極COMLを、タッチセンサ用の駆動電極として利用する実施態様を示している。   FIG. 25 shows an embodiment in which the drive electrode COML is used as a drive electrode for a touch sensor as a configuration example of a mutual capacitance type touch sensor.

図25に示すように、タッチ検出部50は、対向基板3の上面3t上に設けられ、タッチ検出用の検出電極として動作する複数の検出電極TDLと、アレイ基板2に設けられ、タッチ検出用の駆動電極として動作する複数の駆動電極COMLと、を有する。   As shown in FIG. 25, the touch detection unit 50 is provided on the upper surface 3t of the counter substrate 3, and is provided on the array substrate 2 with a plurality of detection electrodes TDL operating as detection electrodes for touch detection. And a plurality of drive electrodes COML that operate as the drive electrodes.

複数の駆動電極COMLは、平面視において、複数の検出電極TDLの各々が延在する方向と交差する方向にそれぞれ延在する。言い換えれば、複数の駆動電極COMLは、平面視において複数の検出電極TDLとそれぞれ交差するように、互いに間隔を空けて配列されている。そして、複数の駆動電極COMLの各々は、アレイ基板2に含まれる基板21の上面21t(図24参照)に垂直な方向において、検出電極TDLと対向している。   The plurality of drive electrodes COML each extend in a direction intersecting the direction in which each of the plurality of detection electrodes TDL extends in plan view. In other words, the plurality of drive electrodes COML are arranged at intervals from each other so as to intersect with the plurality of detection electrodes TDL in plan view. Each of the plurality of drive electrodes COML faces the detection electrode TDL in a direction perpendicular to the upper surface 21t of the substrate 21 included in the array substrate 2 (see FIG. 24).

また、検出回路部60は、例えば図24に示すタッチ検出用の半導体チップ51に形成され、図25に示す複数の検出電極TDLは、検出回路部60の検出信号増幅部62(図21参照)にそれぞれ接続されている。   The detection circuit section 60 is formed on, for example, the semiconductor chip 51 for touch detection shown in FIG. 24, and the plurality of detection electrodes TDL shown in FIG. 25 are formed by the detection signal amplification section 62 of the detection circuit section 60 (see FIG. 21). Connected to each other.

また、タッチ検出動作において駆動信号Vtsを出力する駆動ドライバ14は、図24に示す半導体チップ19に形成され、複数の駆動電極COMLは、半導体チップ19の駆動ドライバ14と電気的に接続されている。また、タッチ検出用の半導体チップ51は、配線WTSを介して半導体チップ19と電気的に接続されている。   In addition, the drive driver 14 that outputs the drive signal Vts in the touch detection operation is formed on the semiconductor chip 19 illustrated in FIG. 24, and the plurality of drive electrodes COML are electrically connected to the drive driver 14 of the semiconductor chip 19. . In addition, the semiconductor chip 51 for touch detection is electrically connected to the semiconductor chip 19 via the wiring WTS.

本実施の形態の場合、図25に示す複数の検出電極TDLから出力された検出信号VTdetは、半導体チップ51に形成されたタッチ検出用の検出回路部60に出力される。半導体チップ51は、図24に示すように、例えば対向基板3の上面3t上に搭載されている。   In the case of the present embodiment, the detection signals VTdet output from the plurality of detection electrodes TDL illustrated in FIG. 25 are output to the detection circuit unit 60 for touch detection formed on the semiconductor chip 51. The semiconductor chip 51 is mounted on, for example, the upper surface 3t of the counter substrate 3, as shown in FIG.

なお、タッチ検出動作時の検出回路部60の各部分の動作は、図9を用いて説明した圧力検出動作と同様なので、重複する説明は省略する。   The operation of each part of the detection circuit unit 60 at the time of the touch detection operation is the same as that of the pressure detection operation described with reference to FIG.

なお、図22および図23は、静電容量方式のタッチセンサの基本的な検出原理を示したものであり、種々の変形例がある。例えば、図22〜図25では、相互容量方式のタッチセンサの例を取り上げて説明したが、上記実施の形態1で図12〜図14を用いて説明したように、自己容量方式のタッチセンサを利用しても良い。   FIGS. 22 and 23 show the basic detection principle of the capacitive touch sensor, and there are various modifications. For example, in FIGS. 22 to 25, an example of a mutual capacitance type touch sensor has been described. However, as described with reference to FIGS. You may use it.

また、図24および図25では、表示部20(図21参照)が有する駆動電極COMLを、タッチ検出用の駆動電極として利用する、インセルタイプのタッチセンサについて説明した。しかし、タッチ検出用の電極が表示装置用の電極や配線とは別に形成された、オンセルタイプのタッチセンサを利用しても良い。   24 and 25 illustrate the in-cell type touch sensor in which the drive electrode COML included in the display unit 20 (see FIG. 21) is used as a drive electrode for touch detection. However, an on-cell type touch sensor in which an electrode for touch detection is formed separately from an electrode or wiring for a display device may be used.

<圧力検出部およびタッチ検出部を備える表示装置の好ましい態様>
図22および図23を用いて説明したように、タッチセンサの場合、指や入力治具などの誘電体を容量素子C3に近づけることにより、容量素子C3に流れる電流が変動することを利用して、タッチの有無を検出する。したがって、電極E3と電極E4の離間距離は変化しない方が好ましい点で圧力センサとは相違する。
<Preferred embodiment of display device including pressure detection unit and touch detection unit>
As described with reference to FIGS. 22 and 23, in the case of a touch sensor, the fact that a dielectric such as a finger or an input jig is brought close to the capacitive element C <b> 3 makes use of the fact that the current flowing through the capacitive element C <b> 3 fluctuates. , To detect the presence or absence of a touch. Therefore, the pressure sensor is different from the pressure sensor in that it is preferable that the distance between the electrode E3 and the electrode E4 does not change.

また、タッチセンサの場合、指などの誘電体を近づける、あるいは接触させることが検出動作の前提になっている。このため、本実施の形態のように、タッチセンサおよび圧力センサの両方を備えている表示装置の場合、指が近づいたことによる圧力センサへのノイズの影響を低減することが特に好ましい。   In the case of a touch sensor, it is a premise of the detection operation that a dielectric such as a finger is brought close to or in contact with the dielectric. For this reason, in the case of a display device including both a touch sensor and a pressure sensor as in the present embodiment, it is particularly preferable to reduce the influence of noise on the pressure sensor due to the approach of a finger.

上記実施の形態1で説明したように、液晶層4(図6参照)と複数の信号線SGLとの間に駆動電極COMLが設けられている。また、平面視において、駆動電極COMLは複数の信号線SGLと重なるように設けられている。これにより、表示面側に指が近づいたことによる圧力センサへのノイズ影響を低減することで、圧力センサの検出精度を向上させることができる。   As described in the first embodiment, the drive electrode COML is provided between the liquid crystal layer 4 (see FIG. 6) and the plurality of signal lines SGL. In a plan view, the drive electrode COML is provided so as to overlap the plurality of signal lines SGL. This reduces the influence of noise on the pressure sensor due to the finger approaching the display surface, thereby improving the detection accuracy of the pressure sensor.

また、圧力検出動作期間FLfs(図10参照)に、駆動電極COMLに固定電位またはパルス電位を供給することで、駆動電極COMLによるシールド効果が大幅に向上するので、表示面側に指が近づいたことによる圧力センサへのノイズ影響をさらに低減することができる。   Further, by supplying a fixed potential or a pulse potential to the drive electrode COML during the pressure detection operation period FLfs (see FIG. 10), the shielding effect of the drive electrode COML is greatly improved, and the finger approaches the display surface side. This can further reduce the noise effect on the pressure sensor.

また、上記したように、静電容量方式の圧力センサの場合、容量素子を構成する電極間の距離に応じた容量変化に基づいて圧力印加の有無を判定する。この場合、圧力センサの検出環境の状態、例えば環境温度、振動の有無、あるいは周辺のノイズ源の有無の状況が変化すると、検出信号の波形が変化し易い。特に、図12〜図14を用いて説明した自己容量方式の圧力センサの場合、環境の状態変化に応じて波形が変化し易い。   Further, as described above, in the case of a capacitance type pressure sensor, the presence or absence of pressure application is determined based on a capacitance change according to a distance between electrodes forming a capacitance element. In this case, when the state of the detection environment of the pressure sensor, for example, the environment temperature, the presence or absence of vibration, or the presence or absence of a peripheral noise source changes, the waveform of the detection signal easily changes. In particular, in the case of the self-capacitance type pressure sensor described with reference to FIGS.

そこで、圧力センサの検出信号の波形V0(図4参照)について、キャリブレーションを行って、環境変化の要因による検出誤差を低減することが好ましい。これにより、圧力センサの検出感度を向上させることができる。   Therefore, it is preferable to calibrate the waveform V0 (see FIG. 4) of the detection signal of the pressure sensor to reduce a detection error due to an environmental change factor. Thereby, the detection sensitivity of the pressure sensor can be improved.

ここで、本実施の形態のように、タッチセンサおよび圧力センサを有する表示装置の場合、キャリブレーションを行う際に、表示装置に指が接触している場合がある。上記したように、液晶層4(図6参照)と複数の信号線SGLとの間に駆動電極COMLを設けることで、圧力センサに対するノイズ影響を低減できることはできる。しかし、指が接触している時に生じるノイズ影響を完全に排除することは難しい。このため、キャリブレーションを行う場合、指によるノイズ影響が小さい時のキャリブレーションデータを優先的に利用することが好ましい。   Here, in the case of a display device having a touch sensor and a pressure sensor as in this embodiment, a finger may touch the display device when performing calibration. As described above, by providing the drive electrode COML between the liquid crystal layer 4 (see FIG. 6) and the plurality of signal lines SGL, it is possible to reduce the influence of noise on the pressure sensor. However, it is difficult to completely eliminate the noise effect that occurs when a finger is in contact. For this reason, when performing calibration, it is preferable to preferentially use the calibration data when the effect of noise from the finger is small.

そこで、キャリブレーションを実施する際に指の影響を考慮する観点から、図21に示すようにタッチセンサ用の検出回路部60から出力された出力信号VToutを圧力検出用の検出回路部40に入力することが好ましい。例えば、図21に示す例では、出力信号VToutは、検出回路部40の検出制御部46に入力される。   Therefore, from the viewpoint of considering the influence of a finger when performing calibration, the output signal VTout output from the detection circuit unit 60 for the touch sensor is input to the detection circuit unit 40 for pressure detection as shown in FIG. Is preferred. For example, in the example shown in FIG. 21, the output signal VTout is input to the detection control unit 46 of the detection circuit unit 40.

検出制御部46では、例えば、キャリブレーションを行った時の指の座標位置の情報を取得すると、指の座標位置の周辺の検出信号のデータを除外することができる。また、例えば、キャリブレーションを行った時のタッチの有無の情報を取得すれば、これに基づいて再度キャリブレーションを行うことができる。   For example, when the information on the coordinate position of the finger at the time of performing the calibration is acquired, the detection control unit 46 can exclude the data of the detection signal around the coordinate position of the finger. Further, for example, if information on the presence or absence of a touch at the time of performing calibration is obtained, calibration can be performed again based on the information.

このように、タッチセンサ用の検出回路部60から出力された出力信号VToutを圧力検出用の検出回路部40に入力するためには、検出回路部40と検出回路部60とを電気的に接続する必要がある。図24および図25に示す例では、検出回路部60が形成された半導体チップ51と検出回路部40が形成された半導体チップ19とを配線WTSを介して電気的に接続している。これにより、検出回路部40と検出回路部60とを電気的に接続することができる。   As described above, in order to input the output signal VTout output from the detection circuit unit 60 for the touch sensor to the detection circuit unit 40 for pressure detection, the detection circuit unit 40 and the detection circuit unit 60 are electrically connected. There is a need to. In the example shown in FIGS. 24 and 25, the semiconductor chip 51 on which the detection circuit unit 60 is formed and the semiconductor chip 19 on which the detection circuit unit 40 is formed are electrically connected via the wiring WTS. Thereby, the detection circuit unit 40 and the detection circuit unit 60 can be electrically connected.

また、タッチセンサ用の検出回路部60から出力された出力信号VToutを圧力検出用の検出回路部40に入力する処理を高速化する観点からは、検出回路部40と検出回路部60とが同じデバイスに形成されていることが好ましい。図26は、図21に対する変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。また、図27は、図21に対する他の変形例である表示装置の全体構成を示すブロック図である。   Further, from the viewpoint of speeding up the process of inputting the output signal VTout output from the detection circuit unit 60 for the touch sensor to the detection circuit unit 40 for pressure detection, the detection circuit unit 40 and the detection circuit unit 60 are the same. Preferably, it is formed on the device. FIG. 26 is a block diagram showing an overall configuration of a display device which is a modification example of FIG. FIG. 27 is a block diagram showing an overall configuration of a display device which is another modification example of FIG.

図26に示す表示装置DP4の場合、検出回路部40と検出回路部60とが、半導体チップ51に形成されている。言い換えれば、図26に示す表示装置DP4は、圧力検出動作を行う検出回路部40と、タッチ検出動作を行う検出回路部60と、が形成された半導体チップ51を有する。半導体チップ51は、例えば、図24に示す表示装置DP3と同様に、対向基板3が有する基板31の上面31tに搭載されるデバイスである。このように、検出回路部40と検出回路部60とが、同一のデバイスに形成され、互いに電気的に接続されていれば、タッチセンサ用の検出回路部60から出力された出力信号VToutを圧力検出用の検出回路部40に入力する処理を高速化することができる。   In the case of the display device DP4 illustrated in FIG. 26, the detection circuit unit 40 and the detection circuit unit 60 are formed on the semiconductor chip 51. In other words, the display device DP4 illustrated in FIG. 26 includes the semiconductor chip 51 in which the detection circuit unit 40 that performs the pressure detection operation and the detection circuit unit 60 that performs the touch detection operation are formed. The semiconductor chip 51 is, for example, a device mounted on the upper surface 31t of the substrate 31 included in the counter substrate 3, similarly to the display device DP3 illustrated in FIG. As described above, if the detection circuit unit 40 and the detection circuit unit 60 are formed in the same device and are electrically connected to each other, the output signal VTout output from the detection circuit unit 60 for the touch sensor is converted into a pressure signal. It is possible to speed up the process of inputting to the detection circuit unit 40 for detection.

また、図27に示す表示装置DP5の場合、上記した圧力検出動作およびタッチ検出動作を行う検出回路部70を備えている。上記したように、実施の形態1で説明した圧力センサと本実施の形態で説明したタッチセンサとは、容量素子の容量値の変化を検出信号として検出回路部に伝送し、検出回路部で圧力印加の有無、あるいはタッチの有無を判定し、結果を出力する点で共通する。   The display device DP5 shown in FIG. 27 includes the detection circuit unit 70 that performs the above-described pressure detection operation and touch detection operation. As described above, the pressure sensor described in Embodiment 1 and the touch sensor described in this embodiment transmit the change in the capacitance value of the capacitor as a detection signal to the detection circuit portion, and the detection circuit portion detects the pressure change. This is common in that the presence or absence of application or the presence or absence of touch is determined and the result is output.

このため、検出信号に対する電気的な処理は同様であり、図27に示すように一つの検出回路部70を使用して圧力検出動作とタッチ検出動作とを順次行うことができる。検出回路部70は、本体部の圧力検出部30の圧力検出領域に対する圧力の印加の有無を電気的に判定し、得られた情報を出力する回路である。また、検出回路部70は、本体部のタッチ検出部50のタッチ検出領域に対するタッチの有無を電気的に判定し、得られた情報を出力する回路でもある。   Therefore, the electrical processing for the detection signal is the same, and the pressure detection operation and the touch detection operation can be sequentially performed using one detection circuit unit 70 as shown in FIG. The detection circuit unit 70 is a circuit that electrically determines whether or not pressure is applied to a pressure detection region of the pressure detection unit 30 of the main body unit, and outputs obtained information. The detection circuit unit 70 is also a circuit that electrically determines the presence or absence of a touch on the touch detection area of the touch detection unit 50 of the main unit and outputs the obtained information.

検出回路部70は、例えば、図27に示す例では、検出信号増幅部72と、A/D(Analog/Digital)変換部73と、信号処理部74と、座標抽出部75と、検出制御部76とを備えている。検出信号増幅部72は、図21に示す検出信号増幅部42の機能および検出信号増幅部62の機能を有する。また、図27に示すA/D変換部73は、図21に示すA/D変換部43の機能およびA/D変換部63の機能を有する。また、図27に示す信号処理部74は、図21に示す信号処理部44の機能および信号処理部64の機能を有する。また、図27に示す座標抽出部75は、図21に示す座標抽出部45の機能および座標抽出部65の機能を有する。また、図27に示す検出制御部76は、図21に示す検出制御部46の機能および検出制御部66の機能を有する。   For example, in the example shown in FIG. 27, the detection circuit unit 70 includes a detection signal amplification unit 72, an A / D (Analog / Digital) conversion unit 73, a signal processing unit 74, a coordinate extraction unit 75, and a detection control unit. 76. The detection signal amplifier 72 has the function of the detection signal amplifier 42 and the function of the detection signal amplifier 62 shown in FIG. The A / D converter 73 shown in FIG. 27 has the function of the A / D converter 43 and the function of the A / D converter 63 shown in FIG. The signal processing unit 74 illustrated in FIG. 27 has the function of the signal processing unit 44 and the function of the signal processing unit 64 illustrated in FIG. 27 has the function of the coordinate extracting unit 45 and the function of the coordinate extracting unit 65 shown in FIG. 27 has the function of the detection control unit 46 and the function of the detection control unit 66 shown in FIG.

また図27に示す例では、スイッチSW1およびスイッチSW2を用いて、検出回路部70に入力される検出信号の種類、および制御信号の種類を切り替える。これにより、検出回路部70では、圧力検出動作とタッチ検出動作を順次切り替えて行うことができる。   In the example shown in FIG. 27, the type of the detection signal input to the detection circuit unit 70 and the type of the control signal are switched using the switches SW1 and SW2. Thereby, the detection circuit unit 70 can sequentially switch between the pressure detection operation and the touch detection operation.

表示装置DP5のように、検出回路部70を圧力検出用とタッチ検出用とで兼用することにより、回路の数を低減することができる。この結果、検出回路部70が形成される半導体チップ51の面積を低減することができる。   As in the display device DP5, the number of circuits can be reduced by using the detection circuit unit 70 for both pressure detection and touch detection. As a result, the area of the semiconductor chip 51 on which the detection circuit section 70 is formed can be reduced.

また、表示装置DP5の場合、検出回路部70内の配線で検出制御部76に出力信号VToutを伝送することができる。言い換えれば、圧力検出動作とタッチ検出動作とは、同一の制御回路である検出制御部76により制御される。これにより、タッチセンサ用の検出回路部60から出力された出力信号VToutを圧力検出用の検出回路部40に入力する処理を高速化することができる。   Further, in the case of the display device DP5, the output signal VTout can be transmitted to the detection control unit 76 by the wiring in the detection circuit unit 70. In other words, the pressure detection operation and the touch detection operation are controlled by the detection control unit 76, which is the same control circuit. This makes it possible to speed up the process of inputting the output signal VTout output from the touch sensor detection circuit unit 60 to the pressure detection detection circuit unit 40.

(実施の形態3)
上記実施の形態1では、図12〜図20を用いて、自己容量方式の圧力センサの実施態様について説明した。本実施の形態では、自己容量方式の圧力センサに接続される周辺回路の好ましい実施態様について説明する。図28および図29は、図16〜図18に示す圧力センサのうちのいずれかを備える表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。また、図30は、図28および図29に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。図28および図29では、見易さのため、走査線GCLの数、信号線SGLの数、および駆動電極COMLの数が少ない状態で示している。また、図28は、図30に示す検出動作期間FLfsxにおける複数のスイッチのオンオフ状態を示しており、図29は、図30に示す検出動作期間FLfsyにおける複数のスイッチのオンオフ状態を示している。
(Embodiment 3)
In the first embodiment, the embodiment of the self-capacitance type pressure sensor has been described with reference to FIGS. In the present embodiment, a preferred embodiment of a peripheral circuit connected to a self-capacitance type pressure sensor will be described. FIGS. 28 and 29 are explanatory diagrams schematically showing a configuration example of a display device including any one of the pressure sensors shown in FIGS. 16 to 18. FIG. 30 is an explanatory diagram showing an example of the timing at which the display operation and the pressure detection operation of the display device shown in FIGS. 28 and 29 are performed. 28 and 29, the number of the scanning lines GCL, the number of the signal lines SGL, and the number of the driving electrodes COML are shown in a small state for easy viewing. FIG. 28 shows the on / off state of a plurality of switches in the detection operation period FLfsx shown in FIG. 30, and FIG. 29 shows the on / off state of the plurality of switches in the detection operation period FLfsy shown in FIG.

本実施の形態3では、後述する変形例を含めて、複数種類の表示装置について説明する。本実施の形態3で説明する複数の表示装置のそれぞれは、上記実施の形態1で説明した表示装置のうち、自己容量方式を利用した圧力センサを備えた表示装置である。そして、本実施の形態3では、自己容量方式の圧力センサに接続された回路の構成について、上記実施の形態1で既に説明した内容を補足的に説明する実施態様である。したがって、本実施の形態3では、上記実施の形態1で既に説明した部分と重複する部分の説明は省略し、上記実施の形態1との相違点を中心に説明する。また、本実施の形態3で説明する技術を上記実施の形態2で説明した技術と組み合わせて適用することもできる。   In the third embodiment, a plurality of types of display devices will be described, including a modified example described later. Each of the plurality of display devices described in Embodiment 3 is a display device including a pressure sensor using a self-capacitance method, among the display devices described in Embodiment 1. In the third embodiment, the configuration of the circuit connected to the self-capacitance type pressure sensor will be supplementarily described with respect to the contents already described in the first embodiment. Therefore, in the third embodiment, the description of the portions already described in the first embodiment will be omitted, and the description will be focused on the differences from the first embodiment. Further, the technology described in the third embodiment can be applied in combination with the technology described in the second embodiment.

上記実施の形態1で説明した図8に示す表示装置の回路構成例では、複数の走査線GCLおよび複数の駆動電極COMLのそれぞれがX方向に沿って延び、かつ、複数の信号線SGLがX方向に交差する(例えば直交する)Y方向に沿って延びている。表示動作期間FLdp(図10参照)において、複数の画素Pix(図8参照)に対して共通の電位が供給される駆動電極COMLがX方向に沿って延びる構造は、横コム構造と呼ばれる。一方、図28に示す例では、複数の走査線GCLがX方向に沿って延び、かつ、複数の信号線SGLおよび複数の駆動電極COMLがX方向に交差する(例えば直交する)Y方向に沿って延びている。図28に示す表示装置DP6のように、駆動電極COMLがY方向に沿って延びる構造は、縦コム構造と呼ばれる。本実施の形態3では、まず、縦コム構造の表示装置を例示的に取り上げて説明した後、横コム構造に適用した場合についても説明する。   In the circuit configuration example of the display device illustrated in FIG. 8 described in the first embodiment, each of the plurality of scan lines GCL and the plurality of drive electrodes COML extends along the X direction, and the plurality of signal lines SGL It extends along a Y direction intersecting (for example, orthogonally) to the direction. In the display operation period FLdp (see FIG. 10), a structure in which the drive electrode COML to which a common potential is supplied to a plurality of pixels Pix (see FIG. 8) extends along the X direction is called a horizontal comb structure. On the other hand, in the example shown in FIG. 28, the plurality of scanning lines GCL extend along the X direction, and the plurality of signal lines SGL and the plurality of drive electrodes COML intersect (for example, orthogonally) the Y direction in the X direction. Extending. A structure in which the drive electrode COML extends along the Y direction as in the display device DP6 shown in FIG. 28 is called a vertical comb structure. In the third embodiment, first, a display device having a vertical comb structure will be described as an example, and then a case where the display device is applied to a horizontal comb structure will also be described.

図28および図29に示す表示装置DP6は、図12を用いて説明した圧力検出部30Bと同様に、複数の走査線GCLおよび複数の信号線SGLのそれぞれが、自己容量方式で圧力を検出する検出電極である電極E2(図12参照)として利用される。言い換えれば、表示装置DP6の構成は、以下のように表現できる。すなわち、基板21の上面21tに沿った平面視において、上面21t側には、X方向に沿って延びる複数の走査線GCLと、X方向と交差するY方向に沿って延びる複数の信号線SGLとが設けられている。複数の走査線GCLのそれぞれは、複数の走査線GCLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する、検出回路部40Xと電気的に接続されている。図30に示すように、複数の走査線GCLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsxには、複数の走査線GCLに対してパルス電位である駆動信号Vfsが供給される。また、図28に示す検出回路部40Xには、複数の走査線GCLを介して駆動信号Vfsに基づく検出信号Vdet2(図12参照)が出力される。また、図29に示すように、複数の信号線SGLのそれぞれは、複数の信号線SGLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する、検出回路部40Yと電気的に接続されている。図30に示すように、複数の信号線SGLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsyには、複数の信号線SGLに対してパルス電位である駆動信号Vfsが供給される。また、検出回路部40Y(図29参照)には、複数の信号線SGLを介して駆動信号Vfsに基づく検出信号Vdet1(図12参照)が出力される。   In the display device DP6 illustrated in FIGS. 28 and 29, similarly to the pressure detection unit 30B described with reference to FIG. 12, each of the plurality of scanning lines GCL and the plurality of signal lines SGL detects pressure by a self-capacitance method. It is used as an electrode E2 (see FIG. 12) which is a detection electrode. In other words, the configuration of the display device DP6 can be expressed as follows. That is, in a plan view along the upper surface 21t of the substrate 21, on the upper surface 21t side, there are a plurality of scanning lines GCL extending along the X direction and a plurality of signal lines SGL extending along the Y direction intersecting the X direction. Is provided. Each of the plurality of scanning lines GCL is electrically connected to a detection circuit unit 40X that detects a pressure due to contact with an external object by a change in a capacitance value between the plurality of scanning lines GCL and the conductor pattern 8A (see FIG. 12). It is connected. As shown in FIG. 30, in the detection operation period FLfsx for detecting a change in the capacitance value between the plurality of scanning lines GCL and the conductor pattern 8A (see FIG. 12), a pulse potential is applied to the plurality of scanning lines GCL. A certain drive signal Vfs is supplied. Further, a detection signal Vdet2 (see FIG. 12) based on the drive signal Vfs is output to the detection circuit unit 40X illustrated in FIG. 28 via the plurality of scanning lines GCL. Further, as shown in FIG. 29, each of the plurality of signal lines SGL detects a pressure due to a contact of an external object by a change in a capacitance value between the plurality of signal lines SGL and the conductor pattern 8A. Is electrically connected to As shown in FIG. 30, in a detection operation period FLfsy for detecting a change in capacitance value between the plurality of signal lines SGL and the conductor pattern 8A, the drive signal Vfs which is a pulse potential with respect to the plurality of signal lines SGL is provided. Supplied. Further, a detection signal Vdet1 (see FIG. 12) based on the drive signal Vfs is output to the detection circuit unit 40Y (see FIG. 29) via a plurality of signal lines SGL.

なお、図28および図29に示す例では、X方向に沿って延びる検出電極(すなわち、走査線GCL)からの出力信号を検出する検出回路部40Xと、Y方向に沿って延びる検出電極(すなわち、信号線SGL)からの出力信号を検出する検出回路部40Yと、が互いに独立して設けられている。しかし、検出回路部40Xと検出回路部40Yとが互いに独立していなくても良い。例えば、半導体チップ19Sが、一つの検出回路部40を有し、X方向に沿ってのびる検出電極およびY方向に沿って延びる検出電極のそれぞれが、一つの検出回路部40に対して検出信号Vdet1および検出信号Vdet2が出力されても良い。 In the examples shown in FIGS. 28 and 29, the detection circuit unit 40X that detects an output signal from the detection electrode (that is, the scanning line GCL) extending along the X direction and the detection electrode that extends along the Y direction (that is, , And a detection circuit section 40Y for detecting an output signal from the signal line SGL) are provided independently of each other. However, the detection circuit unit 40X and the detection circuit unit 40Y may not be independent of each other. For example, the semiconductor chip 19S has one detection circuit unit 40, and each of the detection electrodes extending along the X direction and the detection electrodes extending along the Y direction sends a detection signal Vdet1 to the one detection circuit unit 40. And the detection signal Vdet2 may be output.

また、図28および図29に示す例では、駆動ドライバ14Sが検出回路部40と独立して設けられている。駆動ドライバ14Sは、図30に示す検出動作期間FLfsxおよび検出動作期間FLfsyにおいて、図30に示す駆動信号Vfsまたはガード信号Vgdを出力する、検出動作用の駆動回路である。したがって、駆動ドライバ14Sが検出回路部40の一部分を構成していても良い。   In the examples shown in FIGS. 28 and 29, the drive driver 14S is provided independently of the detection circuit unit 40. The drive driver 14S is a drive circuit for a detection operation that outputs the drive signal Vfs or the guard signal Vgd shown in FIG. 30 during the detection operation period FLfsx and the detection operation period FLfsy shown in FIG. Therefore, the drive driver 14S may form a part of the detection circuit unit 40.

図30に示す例では、単位フレームFL1が、複数の表示動作期間FLdp、検出動作期間FLfsx、および検出動作期間FLfsyに時分割され、表示動作期間FLdpと検出動作期間(検出動作期間FLfsxまたは検出動作期間FLfsy)が交互に実施される。図30に示すように、表示動作期間FLdpおいて、駆動ドライバ14(図28参照)は、駆動電極COMLに駆動信号Vcomを供給する。図28に示す例では、表示装置DP6は、主に表示部20(図1参照)の動作を制御する回路が形成された表示制御チップである半導体チップ19D、および主に圧力検出部30(図1参照)の動作を制御する回路が形成された検出動作制御チップである半導体チップ19Sを有している。図30に示す駆動信号Vcomは、図28に示す駆動ドライバ14のうち、半導体チップ19Dに形成された駆動ドライバ14Dから駆動電極COMLに供給される。駆動ドライバ14Dは、表示動作用の駆動回路である。   In the example illustrated in FIG. 30, the unit frame FL1 is time-divided into a plurality of display operation periods FLdp, a detection operation period FLfsx, and a detection operation period FLfsy, and the display operation period FLdp and the detection operation period (the detection operation period FLfsx or the detection operation period). The period FLfsy) is performed alternately. As shown in FIG. 30, during the display operation period FLdp, the drive driver 14 (see FIG. 28) supplies the drive signal Vcom to the drive electrode COML. In the example shown in FIG. 28, the display device DP6 includes a semiconductor chip 19D, which is a display control chip on which a circuit that mainly controls the operation of the display unit 20 (see FIG. 1) is formed, and a pressure detection unit 30 (see FIG. 1) is provided with a semiconductor chip 19S which is a detection operation control chip on which a circuit for controlling the operation is formed. The drive signal Vcom shown in FIG. 30 is supplied to the drive electrodes COML from the drive driver 14D formed on the semiconductor chip 19D among the drive drivers 14 shown in FIG. The drive driver 14D is a drive circuit for a display operation.

また、図30に示す表示動作期間FLdpにおいて、ゲートドライバ12(図28参照)は、走査線GCLに対して走査信号Vscanを印加する。走査信号Vscanは、図8に示すTFT素子trのオンオフ動作を制御する信号であって、駆動信号Vfsとは異なる波形を持つ。図30に示す例では、走査信号Vscanは、駆動信号Vfsよりも電位の絶対値が大きい矩形波である。図30に示すように、基準電位よりも高い電位を持つ走査信号VscanがTFT素子Trに入力されると、TFT素子Trはオン状態になり、図30に破線で示すように、基準電位より低い電位の走査信号VscanがTFT素子Trに入力されると、TFT素子Trはオフ状態になる。図28に示す例では、走査線GCLに接続される配線経路のうち、相対的に高い電位の供給経路である配線経路VGHは、スイッチSWgHを介して走査線GCLと電気的に接続されている。また、走査線GCLに接続される配線経路のうち、相対的に低い電位の供給経路である配線経路VGLは、スイッチSWgLを介して走査線GCLと電気的に接続されている。スイッチSWgHをオンにして、スイッチSWgLをオフにした場合、走査線GCLには相対的に高い電位が供給される。これにより、TFT素子Tr(図8参照)が例えばオン状態になる。反対に、スイッチSWgLをオンにして、スイッチSWgHをオフにした場合、走査線GCLには相対的に低い電位が供給される。これにより、TFT素子Trが例えばオフ状態になる。そして、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのオンオフ動作を制御することにより、図30に例示する波形が形成される。   In the display operation period FLdp shown in FIG. 30, the gate driver 12 (see FIG. 28) applies the scanning signal Vscan to the scanning line GCL. The scanning signal Vscan is a signal for controlling the on / off operation of the TFT element tr shown in FIG. 8, and has a waveform different from the driving signal Vfs. In the example shown in FIG. 30, the scanning signal Vscan is a rectangular wave having an absolute value of the potential larger than that of the driving signal Vfs. As shown in FIG. 30, when a scanning signal Vscan having a higher potential than the reference potential is input to the TFT element Tr, the TFT element Tr is turned on, and as shown by a broken line in FIG. When the potential scanning signal Vscan is input to the TFT element Tr, the TFT element Tr is turned off. In the example illustrated in FIG. 28, among the wiring paths connected to the scanning line GCL, a wiring path VGH that is a supply path of a relatively high potential is electrically connected to the scanning line GCL via the switch SWgH. . Further, among the wiring paths connected to the scanning line GCL, a wiring path VGL, which is a supply path of a relatively low potential, is electrically connected to the scanning line GCL via the switch SWgL. When the switch SWgH is turned on and the switch SWgL is turned off, a relatively high potential is supplied to the scanning line GCL. Thereby, the TFT element Tr (see FIG. 8) is turned on, for example. Conversely, when the switch SWgL is turned on and the switch SWgH is turned off, a relatively low potential is supplied to the scanning line GCL. Thereby, the TFT element Tr is turned off, for example. Then, by controlling the on / off operation of the switches SWgH and SWgL, the waveform illustrated in FIG. 30 is formed.

上記実施の形態1で説明したように、ゲートドライバ12は、制御部11(図1参照)から供給される制御信号に基づいて、表示部20(図1参照)の表示駆動の対象となる水平ラインを順次選択する機能、すなわち、図8に示すTFT素子Trのオンオフ動作を制御する機能を備えている。走査信号Vscanによる選択動作で誤動作が発生した場合、表示不良の原因になる。選択動作のスイッチとして用いられるTFT素子Trは、他のスイッチと比較して、相対的に高い電圧でオンオフ制御される。このため、高い電圧でオンオフ制御されるTFT素子Trに供給される走査信号Vscanは、他の駆動信号と比較して高電位になる。例えば、図30に示す圧力検出用の駆動信号Vfsは、1.5V±1V(ボルト)程度の電位で動作する。一方、TFT素子Trは例えば±4.0V程度の電位でオンオフ制御され、TFT素子Trをオフ状態にするときの走査信号Vscanの電位は、−6V±1V(ボルト)程度である。   As described in the first embodiment, the gate driver 12 controls the horizontal driving of the display unit 20 (see FIG. 1) based on the control signal supplied from the control unit 11 (see FIG. 1). It has a function of sequentially selecting lines, that is, a function of controlling the on / off operation of the TFT element Tr shown in FIG. If a malfunction occurs in the selection operation by the scanning signal Vscan, it causes display failure. The on / off control of the TFT element Tr used as a switch for the selection operation is performed at a relatively high voltage as compared with other switches. Therefore, the scanning signal Vscan supplied to the TFT element Tr that is turned on and off at a high voltage has a higher potential than other driving signals. For example, the drive signal Vfs for pressure detection shown in FIG. 30 operates at a potential of about 1.5 V ± 1 V (volt). On the other hand, the TFT element Tr is on / off controlled at a potential of about ± 4.0 V, for example, and the potential of the scanning signal Vscan when the TFT element Tr is turned off is about −6 V ± 1 V (volt).

また、図30に示す表示動作期間FLdpにおいて、ソースドライバ13(図1参照)は、信号線SGLに対して画素信号Vpixを供給する画素信号Vpixは、表示機能層である液晶層の液晶分子の配向を変化させるための電界を発生させる映像信号であって、駆動信号Vfsとは異なる波形を有する。ただし、画素信号Vpixは、TFT素子Tr(図8参照)をオンオフ制御する信号ではないので、走査信号Vscanと比較すると、相対的に絶対値が小さい電位で制御される。   In the display operation period FLdp shown in FIG. 30, the source driver 13 (see FIG. 1) supplies the pixel signal Vpix to the signal line SGL with the pixel signal Vpix of the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer serving as the display function layer. This is a video signal for generating an electric field for changing the orientation, and has a waveform different from that of the drive signal Vfs. However, since the pixel signal Vpix is not a signal for turning on and off the TFT element Tr (see FIG. 8), the pixel signal Vpix is controlled at a potential whose absolute value is relatively small as compared with the scanning signal Vscan.

次に、複数の走査線GCLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、走査線GCLに対して駆動信号Vfsを供給する。検出動作期間FLfsxでは、図28に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれに接続されるスイッチSWgs1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWgs1を介して走査線GCLに駆動信号Vfsを供給する。また、複数の走査線GCLのそれぞれと、ゲートドライバ12との間に接続されているスイッチSWgHおよびスイッチSWgLは、それぞれオフになっている。図28に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Xを介してスイッチSWgs1と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Xを介して走査線GCLに駆動信号Vfsを供給する。   Next, in a detection operation period FLfsx for detecting a change in capacitance between the plurality of scanning lines GCL and the conductor pattern 8A (see FIG. 12), the driving driver 14S supplies the driving signal Vfs to the scanning lines GCL. I do. In the detection operation period FLfsx, as shown in FIG. 28, the switch SWgs1 connected to each of the plurality of scanning lines GCL is on. In other words, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the scanning line GCL via the switch SWgs1. Further, the switches SWgH and SWgL connected between each of the plurality of scanning lines GCL and the gate driver 12 are turned off. In the example illustrated in FIG. 28, the drive driver 14S is electrically connected to the switch SWgs1 via the detection circuit unit 40X. That is, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the scanning line GCL via the detection circuit unit 40X.

また、図30に示す例では、信号線SGLおよび駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する。すなわち、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、信号線SGLおよび駆動電極COMLに駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位であるガード信号Vgdを供給する。検出動作期間FLfsxでは、図28に示すように、複数の信号線SGLのそれぞれと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWss1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWss1を介して信号線SGLにガード信号Vgdを供給する。また、検出動作期間FLfsxでは、駆動電極COMLと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWcs1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWcs1を介して駆動電極COMLにガード信号Vgdを供給する。図28に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介してスイッチSWss1およびスイッチSWcs1と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介して信号線SGLおよび駆動電極COMLにガード信号Vgdを供給する。図示は省略するが、図28に対する変形例として、すなわち、駆動ドライバ14Sが、検出回路部40Yを介さずに信号線SGLおよび駆動電極COMLと電気的に接続されていても良い。この場合、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介さずに信号線SGLおよび駆動電極COMLにガード信号Vgdを供給する。 In the example shown in FIG. 30, the active shield method is applied to the signal line SGL and the drive electrode COML. That is, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the signal line SGL and the drive electrode COML with the guard signal Vgd, which is a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs. In the detection operation period FLfsx, as shown in FIG. 28, the switch SWss1 connected between each of the plurality of signal lines SGL and the drive driver 14S is on. In other words, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the signal line SGL via the switch SWss1. In the detection operation period FLfsx, the switch SWcs1 connected between the drive electrode COML and the drive driver 14S is turned on. In other words, during the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the drive electrode COML via the switch SWcs1. In the example shown in FIG. 28, the driving driver 14S is connected switches SWss1 and the switch SW cs1 and electrically via the detection circuit unit 40Y. That is, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the signal line SGL and the drive electrode COML via the detection circuit unit 40Y. Although illustration is omitted, as a modification to FIG. 28, that is, the drive driver 14S may be electrically connected to the signal line SGL and the drive electrode COML without passing through the detection circuit unit 40Y. In this case, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the signal line SGL and the drive electrode COML without passing through the detection circuit unit 40Y.

図28では、複数の走査線GCLのそれぞれに同じタイミングで駆動信号Vfs(図30参照)を印加する例を示している。ただし、変形例として、複数の走査線GCLのうち検出ブロック毎に、駆動信号Vfsが順次印加されても良い。この場合、複数の走査線GCLのそれぞれに接続されるスイッチSWgs1のうちの一部はオンになり、他の一部はオフになっている。また、この場合、複数の走査線GCLのうち、選択されていない走査線GCLに対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。選択されていない走査線GCLに対してアクティブシールド方式を適用する場合には、選択されていない走査線GCLに接続されているスイッチSWgs1はオフになり、選択されていない走査線GCLに接続されるスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方がオンになっている。これにより、検出動作期間FLfsxにおいて圧力検出用の電極として動作する走査線GCLと走査線GCLの周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を低減することができる。   FIG. 28 illustrates an example in which the drive signal Vfs (see FIG. 30) is applied to each of the plurality of scanning lines GCL at the same timing. However, as a modification, the drive signal Vfs may be sequentially applied to each detection block among the plurality of scanning lines GCL. In this case, a part of the switches SWgs1 connected to each of the plurality of scanning lines GCL is turned on, and the other part is turned off. Further, in this case, it is preferable to apply the active shield method to an unselected scanning line GCL among the plurality of scanning lines GCL. When the active shield method is applied to an unselected scanning line GCL, the switch SWgs1 connected to the unselected scanning line GCL is turned off and connected to the unselected scanning line GCL. At least one of the switch SWgH and the switch SWgL is on. This can reduce the influence of the parasitic capacitance formed between the scanning line GCL that operates as an electrode for pressure detection and the conductor pattern around the scanning line GCL in the detection operation period FLfsx.

また、図30に示す例では、複数の走査線GCLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsxと、複数の信号線SGLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsyとの間に、表示動作期間FLdpがある。検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図29参照)は、信号線SGLに対して駆動信号Vfsを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図29に示すように、複数の信号線SGLのそれぞれに接続されるスイッチSWss1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWss1を介して信号線SGLに駆動信号Vfs(図30参照)を供給する。図29に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介してスイッチSWss1と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介して信号線SGLに駆動信号Vfsを供給する。また、複数の信号線SGLのそれぞれと、駆動電極COMLとの間に接続されているスイッチSWss2はオフになっている。また、検出動作期間FLfsyにおいて、検出回路部40Xと複数の走査線GCLとのそれぞれを接続する複数のスイッチSWgs1のそれぞれはオフになっている。   Further, in the example shown in FIG. 30, the detection operation period FLfsx for detecting a change in the capacitance value between the plurality of scanning lines GCL and the conductor pattern 8A (see FIG. 12), the plurality of signal lines SGL and the conductor pattern 8A, The display operation period FLdp is between the detection operation period FLfsy for detecting a change in the capacitance value during the period. In the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 29) supplies the drive signal Vfs to the signal line SGL. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 29, the switch SWss1 connected to each of the plurality of signal lines SGL is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs (see FIG. 30) to the signal line SGL via the switch SWss1. In the example illustrated in FIG. 29, the drive driver 14S is electrically connected to the switch SWss1 via the detection circuit unit 40Y. That is, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the signal line SGL via the detection circuit unit 40Y. The switch SWss2 connected between each of the plurality of signal lines SGL and the drive electrode COML is off. In the detection operation period FLfsy, each of the plurality of switches SWgs1 that connects each of the detection circuit unit 40X and each of the plurality of scanning lines GCL is off.

また、図30に示す例では、走査線GCLおよび駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する。すなわち、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図29参照)は、走査線GCLおよび駆動電極COMLに駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位であるガード信号Vgdを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図29に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方を介して走査線GCLにガード信号Vgdを供給する。「スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方」とは以下の意味である。すなわち、図29に示す例では、スイッチSWgLがオンになっており、スイッチSWgHがオフになっている。ただし、変形例としては、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLの両方がオンになっていても良い。あるいは、スイッチSWgHがオンになっており、スイッチSWgLがオフになっていても良い。   In the example shown in FIG. 30, the active shield method is applied to the scanning lines GCL and the driving electrodes COML. That is, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 29) supplies the scan line GCL and the drive electrode COML with the guard signal Vgd, which is a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 29, at least one of the switch SWgH and the switch SWgL connected between each of the plurality of scanning lines GCL and the drive driver 14S is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the scanning line GCL via at least one of the switch SWgH and the switch SWgL. “At least one of the switch SWgH and the switch SWgL” has the following meaning. That is, in the example shown in FIG. 29, the switch SWgL is on and the switch SWgH is off. However, as a modification, both the switch SWgH and the switch SWgL may be turned on. Alternatively, the switch SWgH may be on and the switch SWgL may be off.

また、検出動作期間FLfsyでは、駆動電極COMLと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWcs1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWcs1を介して駆動電極COMLにガード信号Vgdを供給する。   In the detection operation period FLfsy, the switch SWcs1 connected between the drive electrode COML and the drive driver 14S is turned on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the drive electrode COML via the switch SWcs1.

また、図29では、複数の信号線SGLのそれぞれに同じタイミングで駆動信号Vfs(図30参照)を印加する例を示している。ただし、変形例として、複数の信号線SGLのうち検出ブロック毎に、駆動信号Vfsが順次印加されても良い。この場合、複数の信号線SGLのそれぞれに接続されるスイッチSWss1のうちの一部はオンになり、他の一部はオフになっている。また、この場合、複数の信号線SGLのうち、選択されていない信号線SGLに対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。選択されていない信号線SGLに対してアクティブシールド方式を適用する場合には、選択されていない信号線SGLに接続されるスイッチSWss2がオンになっている。これにより、検出動作期間FLfsyにおいて圧力検出用の電極として動作する信号線SGLと信号線SGLの周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を低減することができる。   FIG. 29 illustrates an example in which the drive signal Vfs (see FIG. 30) is applied to each of the plurality of signal lines SGL at the same timing. However, as a modification, the drive signal Vfs may be sequentially applied to each of the detection blocks in the plurality of signal lines SGL. In this case, part of the switch SWss1 connected to each of the plurality of signal lines SGL is turned on, and the other part is turned off. In this case, it is preferable to apply the active shield method to the unselected signal lines SGL among the plurality of signal lines SGL. When the active shield method is applied to an unselected signal line SGL, the switch SWss2 connected to the unselected signal line SGL is turned on. Accordingly, it is possible to reduce the influence of the parasitic capacitance formed between the signal line SGL operating as the electrode for pressure detection and the conductor pattern around the signal line SGL in the detection operation period FLfsy.

本実施の形態3のように、複数の走査線GCLおよび複数の信号線SGLのそれぞれが、自己容量方式で圧力を検出する検出電極である電極E2(図12参照)として利用される場合、自己容量方式であっても、圧力が印加された平面位置の座標を判定することができる。   As in the third embodiment, when each of the plurality of scanning lines GCL and the plurality of signal lines SGL is used as an electrode E2 (see FIG. 12) which is a detection electrode for detecting pressure by a self-capacitance method, Even in the case of the capacitance method, the coordinates of the plane position to which the pressure is applied can be determined.

<走査線に駆動信号を供給する場合の好ましい態様>
ところで、上記したように、図30に示す走査信号Vscanの電位の絶対値は、他の駆動信号の電位の絶対値と比較して高電位になる。例えば、図30に示す圧力検出用の駆動信号Vfsや、図28に示す検出回路部40は、1.5V±1V(ボルト)程度の電位で動作する。一方、TFT素子Tr(図8参照)は例えば±4.0V程度の電位でオンオフ制御され、TFT素子Trをオフ状態にするときの走査信号Vscanの電位は、−6V±1V(ボルト)程度である。
<Preferred mode when supplying drive signal to scanning line>
By the way, as described above, the absolute value of the potential of the scanning signal Vscan shown in FIG. 30 is higher than the absolute values of the potentials of the other drive signals. For example, the drive signal Vfs for pressure detection shown in FIG. 30 and the detection circuit unit 40 shown in FIG. 28 operate at a potential of about 1.5 V ± 1 V (volt). On the other hand, the TFT element Tr (see FIG. 8) is turned on / off at a potential of, for example, about ± 4.0 V, and the potential of the scanning signal Vscan when the TFT element Tr is turned off is about −6 V ± 1 V (volt). is there.

ここで、図28に示すように、複数の走査線GCLを圧力検出用の検出電極として用いる場合、圧力検出用の駆動信号Vfsをそのまま走査線GCLに供給すると、駆動信号VfsによりTFT素子Tr(図8参照)が動作する場合がある。例えば、TFT素子Trに−6V(ボルト)の電位が供給されてオフ状態になっている時に、+1.5Vの圧力検出用の駆動信号Vfsが供給されると、TFT素子Trがオンになる可能性がある。この場合、TFT素子Trがオンになった画素では、オン状態の時に信号線SGLに供給されている電位に基づいて画像が誤表示されてしまう。   Here, as shown in FIG. 28, when a plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes for pressure detection, when the drive signal Vfs for pressure detection is supplied to the scanning lines GCL as it is, the TFT element Tr ( 8) may operate. For example, when a drive signal Vfs for detecting pressure of +1.5 V is supplied while a potential of −6 V (volt) is supplied to the TFT element Tr and the TFT element Tr is turned off, the TFT element Tr may be turned on. There is. In this case, in a pixel in which the TFT element Tr is turned on, an image is erroneously displayed based on the potential supplied to the signal line SGL in the on state.

そこで、複数の走査線GCLを圧力検出用の検出電極として用いる場合、図28に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと、検出回路部40とは、容量素子Cdcを介して電気的に接続されていることが好ましい。容量素子Cdcは、容量素子Cdcを介して直列接続され、互いに異なる交流電圧で動作する二つの回路をカップリングする、ACカップリング素子として機能する。言い換えれば、第1の電圧を持つ交流信号が容量素子Cdcを通過すると、第2の電圧にオフセットされる。   Therefore, when the plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes for pressure detection, as illustrated in FIG. 28, each of the plurality of scanning lines GCL and the detection circuit unit 40 are electrically connected to each other via the capacitive element Cdc. Preferably they are connected. The capacitive element Cdc is connected in series via the capacitive element Cdc, and functions as an AC coupling element that couples two circuits that operate at mutually different AC voltages. In other words, when an AC signal having the first voltage passes through the capacitive element Cdc, it is offset to the second voltage.

例えば、図28に示す例では、駆動ドライバ14Sから検出回路部40Xを介して1.5V±1Vの電圧で、交流信号である駆動信号Vfs(図30参照)が出力される。そして、駆動信号Vfsが容量素子Cdcを通過すると、−6V±1Vの電圧にオフセットされる。このため、複数の走査線GCLのそれぞれには、−6V±1Vの範囲での電位が供給されるので、TFT素子Tr(図8参照)がオンになることを防止できる。   For example, in the example shown in FIG. 28, a drive signal Vfs (see FIG. 30) which is an AC signal is output from the drive driver 14S at a voltage of 1.5V ± 1V via the detection circuit unit 40X. When the drive signal Vfs passes through the capacitive element Cdc, the drive signal Vfs is offset to a voltage of -6V ± 1V. Therefore, a potential in the range of −6 V ± 1 V is supplied to each of the plurality of scanning lines GCL, so that the TFT element Tr (see FIG. 8) can be prevented from being turned on.

また、検出信号Vdet2(図12参照)として、−6V±1V程度の電圧が走査線GCLから出力された場合、検出信号Vdet2が容量素子Cdcを通過すると、1.5V±1Vの電圧にオフセットされる。このため、検出回路部40には、1.5V±1Vの電圧が入力されるので、正しく動作させることができる。   When a voltage of about −6 V ± 1 V is output from the scanning line GCL as the detection signal Vdet2 (see FIG. 12), when the detection signal Vdet2 passes through the capacitive element Cdc, the detection signal Vdet2 is offset to a voltage of 1.5V ± 1V. You. Therefore, a voltage of 1.5 V ± 1 V is input to the detection circuit unit 40, so that the detection circuit unit 40 can operate correctly.

なお、図30に示す圧力検出用の駆動信号Vfsや、図28に示す検出回路部40が、−6V±1V(ボルト)程度の電位で動作する場合には、図28および図29に示す容量素子Cdcが無くても、TFT素子Tr(図8参照)がオンになることを防止できる。したがって、図28や図29に示す例の変形例としては、図28および図29に示す容量素子Cdcが無くても良い。   When the drive signal Vfs for pressure detection shown in FIG. 30 and the detection circuit unit 40 shown in FIG. 28 operate at a potential of about −6 V ± 1 V (volt), the capacitance shown in FIGS. Even without the element Cdc, it is possible to prevent the TFT element Tr (see FIG. 8) from being turned on. Therefore, as a modification of the example shown in FIGS. 28 and 29, the capacitive element Cdc shown in FIGS. 28 and 29 may not be provided.

しかし、上記の場合、圧力検出用の駆動信号Vfsや、図28に示す検出回路部40が高い電圧で動作することになるので、消費電力が大きくなる。言い換えれば、図28や図29に示す例のように、複数の走査線GCLのそれぞれと、検出回路部40とは、容量素子Cdcを介して電気的に接続されていれば、TFT素子Tr(図8参照)の誤作動に伴う誤表示を防止でき、かつ、圧力センサの消費電力を低減できる。   However, in the above case, since the drive signal Vfs for pressure detection and the detection circuit unit 40 shown in FIG. 28 operate at a high voltage, power consumption increases. In other words, as in the examples shown in FIGS. 28 and 29, if each of the plurality of scanning lines GCL and the detection circuit unit 40 are electrically connected via the capacitor Cdc, the TFT element Tr ( This can prevent erroneous display due to erroneous operation of FIG. 8) and reduce power consumption of the pressure sensor.

また、図28および図29に示す例では、駆動ドライバ14SはスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのそれぞれに接続されており、スイッチSWgHまたはスイッチSWgLを介して走査線GCLにガード信号Vgd(図30参照)を供給可能になっている。ガード信号Vgdは駆動信号Vfs(図30参照)と同じ波形なので、ガード信号Vgdの電位によっては、走査線GCLが誤作動する場合がある。そこで、図28および図29に示すように、表示装置DP6は、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのそれぞれと、駆動ドライバ14Sとの間に直列接続される容量素子Cdcを有している。   In the examples shown in FIGS. 28 and 29, the drive driver 14S is connected to each of the switches SWgH and SWgL, and applies the guard signal Vgd (see FIG. 30) to the scanning line GCL via the switch SWgH or the switch SWgL. It can be supplied. Since the guard signal Vgd has the same waveform as the drive signal Vfs (see FIG. 30), the scanning line GCL may malfunction depending on the potential of the guard signal Vgd. Therefore, as shown in FIGS. 28 and 29, the display device DP6 has a capacitive element Cdc connected in series between each of the switches SWgH and SWgL and the drive driver 14S.

上記したように、複数の走査線GCLを圧力検出用の検出電極として用いる場合、図28に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと、検出回路部40とは、容量素子Cdcを介して電気的に接続されていることが好ましい。しかし、信号線SGLを圧力検出用の検出電極として用いる場合には、状況が異なる。すなわち、図30に示すように、信号線SGLは、表示動作期間FLdpにおいて画素信号Vpixが供給される配線である。画素信号Vpixは、駆動信号Vfsとは異なる波形の信号である。しかし、仮に、検出動作期間FLfsxあるいは、検出動作期間FLfsyにおいて、信号線SGLに駆動信号Vfsやガード信号Vgdが供給された場合でも、TFT素子Tr(図8参照)がオンになっていれば、誤表示の原因にはならない。このため、図28および図29に示す例では、複数の信号線SGLのそれぞれと、検出回路部40とは、容量素子Cdcを介さずに接続されている。   As described above, when the plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes for pressure detection, as illustrated in FIG. 28, each of the plurality of scanning lines GCL and the detection circuit unit 40 are connected via the capacitive element Cdc. Preferably, they are electrically connected. However, the situation is different when the signal line SGL is used as a detection electrode for pressure detection. That is, as shown in FIG. 30, the signal line SGL is a wiring to which the pixel signal Vpix is supplied in the display operation period FLdp. The pixel signal Vpix is a signal having a waveform different from that of the drive signal Vfs. However, even if the driving signal Vfs or the guard signal Vgd is supplied to the signal line SGL in the detection operation period FLfsx or the detection operation period FLfsy, if the TFT element Tr (see FIG. 8) is on, It does not cause erroneous display. For this reason, in the examples shown in FIGS. 28 and 29, each of the plurality of signal lines SGL and the detection circuit unit 40 are connected without passing through the capacitive element Cdc.

<実施の形態3の変形例>
次に、図28〜図30を用いて説明した表示装置DP6に対する変形例を説明する。図31は、図29に対する変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。また、図32は、図31に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。図31では、見易さのため、図29に示す複数の信号線SGLおよび複数の信号線SGLおよび複数の駆動電極COMLにガード信号Vgd(図32参照)を供給する配線経路は図示を省略している。複数の信号線SGLおよび複数の駆動電極COMLにガード信号Vgd(図32参照)を供給する配線経路の構成は、図29と同様なので、本変形例では、必要に応じて図29を参照して説明する。
<Modification of Third Embodiment>
Next, a modified example of the display device DP6 described with reference to FIGS. FIG. 31 is an explanatory diagram schematically showing a configuration example of a display device which is a modification example of FIG. FIG. 32 is an explanatory diagram illustrating an example of timing at which the display operation and the pressure detection operation of the display device illustrated in FIG. 31 are performed. In FIG. 31, for the sake of clarity, a wiring path for supplying the guard signal Vgd (see FIG. 32) to the plurality of signal lines SGL and the plurality of signal lines SGL and the plurality of drive electrodes COML shown in FIG. 29 is omitted. ing. The configuration of the wiring path for supplying the guard signal Vgd (see FIG. 32) to the plurality of signal lines SGL and the plurality of drive electrodes COML is the same as that in FIG. 29, and therefore, in this modified example, FIG. explain.

図28および図29では、自己容量方式の圧力センサにおいて、平面位置の座標を判定できる構成として、複数の走査線GCLと複数の信号線SGLのそれぞれを検出電極として利用する実施態様について説明したが、複数の走査線GCLや複数の信号線SGL以外の配線や電極を圧力センサの検出電極として利用しても良い。例えば、図31に示す表示装置DP7は、複数の走査線GCLおよび複数の駆動電極COMLのそれぞれが、自己容量方式で圧力を検出する検出電極である電極E2として利用される点で図28に示す表示装置DP6と相違する。   In FIGS. 28 and 29, in the self-capacitance type pressure sensor, an embodiment in which each of the plurality of scanning lines GCL and the plurality of signal lines SGL is used as a detection electrode has been described as a configuration capable of determining the coordinates of the planar position. Alternatively, wires and electrodes other than the plurality of scanning lines GCL and the plurality of signal lines SGL may be used as detection electrodes of the pressure sensor. For example, the display device DP7 illustrated in FIG. 31 is illustrated in FIG. 28 in that each of the plurality of scanning lines GCL and the plurality of drive electrodes COML is used as an electrode E2 that is a detection electrode that detects pressure by a self-capacitance method. This is different from the display device DP6.

表示装置DP7の構成は、以下のように表現できる。すなわち、基板21の上面21tに沿った平面視において、上面21t側には、X方向に沿って延びる複数の走査線GCLと、X方向と交差するY方向に沿って延びる複数の駆動電極COMLとが設けられている。複数の駆動電極COMLのそれぞれは、複数の駆動電極COMLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する、検出回路部40Yと電気的に接続されている。図32に示すように、複数の駆動電極COMLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsyには、複数の駆動電極COMLに対してパルス電位である駆動信号Vfsが供給される。また、図31に示す検出回路部40Yには、複数の駆動電極COMLを介して駆動信号Vfsに基づく検出信号Vdet1(図12参照)が出力される。   The configuration of the display device DP7 can be expressed as follows. That is, in a plan view along the upper surface 21t of the substrate 21, on the upper surface 21t side, a plurality of scanning lines GCL extending in the X direction and a plurality of drive electrodes COML extending in the Y direction intersecting the X direction are provided. Is provided. Each of the plurality of drive electrodes COML is electrically connected to a detection circuit unit 40Y that detects a pressure due to contact of an external object based on a change in a capacitance value between the plurality of drive electrodes COML and the conductor pattern 8A. As shown in FIG. 32, in the detection operation period FLfsy for detecting a change in the capacitance value between the plurality of drive electrodes COML and the conductor pattern 8A, the drive signal Vfs which is a pulse potential with respect to the plurality of drive electrodes COML is provided. Supplied. Further, a detection signal Vdet1 (see FIG. 12) based on the drive signal Vfs is output to the detection circuit unit 40Y shown in FIG. 31 via the plurality of drive electrodes COML.

図32に示す表示装置DP7(図31参照)の場合も表示動作期間FLdpおよび検出動作期間FLfsxを備えている。ただし、表示動作期間FLdpにおける各部の動作は、図28および図30を用いて説明した表示装置DP6(図28参照)の場合と同様である。また、表示装置DP7は複数の走査線GCLを検出電極として用いるので、検出動作期間FLfsxにおける各部の動作は、図28および図30を用いて説明した表示装置DP6の場合と同様である。したがって、重複する説明は省略する。   The display device DP7 (see FIG. 31) shown in FIG. 32 also includes a display operation period FLdp and a detection operation period FLfsx. However, the operation of each unit during the display operation period FLdp is the same as that of the display device DP6 (see FIG. 28) described with reference to FIGS. Further, since the display device DP7 uses the plurality of scanning lines GCL as detection electrodes, the operation of each unit in the detection operation period FLfsx is the same as that of the display device DP6 described with reference to FIGS. Therefore, duplicate description will be omitted.

図32に示す変形例では、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図31参照)は、駆動電極COMLに対して駆動信号Vfsを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図31に示すように、複数の駆動電極COMLのそれぞれに接続されるスイッチSWcs2はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWcs2を介して駆動電極COMLに駆動信号Vfs(図32参照)を供給する。図31に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介してスイッチSWcs2と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介して駆動電極COMLに駆動信号Vfsを供給する。また、図31では図示を省略したが、複数の信号線SGL(図29参照)のそれぞれと、駆動電極COMLとの間に接続されているスイッチSWss2(図29参照)はオフになっている。また、検出動作期間FLfsyにおいて、検出回路部40Xと複数の走査線GCLとのそれぞれを接続する複数のスイッチSWgs1のそれぞれはオフになっている。   In the modification shown in FIG. 32, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 31) supplies the drive signal Vfs to the drive electrode COML. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 31, the switch SWcs2 connected to each of the plurality of drive electrodes COML is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs (see FIG. 32) to the drive electrode COML via the switch SWcs2. In the example illustrated in FIG. 31, the drive driver 14S is electrically connected to the switch SWcs2 via the detection circuit unit 40Y. That is, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the drive electrode COML via the detection circuit unit 40Y. Although not shown in FIG. 31, the switch SWss2 (see FIG. 29) connected between each of the plurality of signal lines SGL (see FIG. 29) and the drive electrode COML is off. In the detection operation period FLfsy, each of the plurality of switches SWgs1 that connects each of the detection circuit unit 40X and each of the plurality of scanning lines GCL is off.

また、図32に示す例では、走査線GCLおよび駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する。すなわち、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図31参照)は、走査線GCLおよび信号線SGLに駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位であるガード信号Vgdを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図31に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方を介して走査線GCLにガード信号Vgdを供給する。また、検出動作期間FLfsyでは、信号線SGL(図29参照)と駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチ(例えば図29参照に示すスイッチSWss1およびスイッチSWss2)はオンになっている。   In the example shown in FIG. 32, the active shield method is applied to the scanning lines GCL and the driving electrodes COML. That is, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 31) supplies a guard signal Vgd, which is a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs, to the scanning line GCL and the signal line SGL. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 31, at least one of the switch SWgH and the switch SWgL connected between each of the plurality of scanning lines GCL and the drive driver 14S is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the scanning line GCL via at least one of the switch SWgH and the switch SWgL. In the detection operation period FLfsy, switches (for example, switches SWss1 and SWss2 shown in FIG. 29) connected between the signal line SGL (see FIG. 29) and the drive driver 14S are on.

図31では、複数の駆動電極COMLのそれぞれに同じタイミングで駆動信号Vfs(図32参照)を印加する例を示している。ただし、変形例として、複数の駆動電極COMLのうち検出ブロック毎に、駆動信号Vfsが順次印加されても良い。この場合、複数の駆動電極COMLのそれぞれに接続されるスイッチSWcs2のうちの一部はオンになり、他の一部はオフになっている。また、この場合、複数の駆動電極COMLのうち、選択されていない駆動電極COMLに対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。選択されていない駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する場合には、選択されていない駆動電極COMLに接続されているスイッチSWcs2はオフになり、選択されていない駆動電極COMLに接続されるスイッチSWcs1(図29参照)がオンになっている。これにより、検出動作期間FLfsyにおいて圧力検出用の電極として動作する駆動電極COMLと駆動電極COMLの周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を低減することができる。   FIG. 31 shows an example in which the drive signal Vfs (see FIG. 32) is applied to each of the plurality of drive electrodes COML at the same timing. However, as a modification, the drive signal Vfs may be sequentially applied to each detection block among the plurality of drive electrodes COML. In this case, part of the switch SWcs2 connected to each of the plurality of drive electrodes COML is turned on, and the other part is turned off. In this case, it is preferable to apply the active shield method to the unselected driving electrodes COML among the plurality of driving electrodes COML. When the active shield method is applied to the unselected drive electrode COML, the switch SWcs2 connected to the unselected drive electrode COML is turned off and connected to the unselected drive electrode COML. The switch SWcs1 (see FIG. 29) is on. This can reduce the influence of the parasitic capacitance formed between the drive electrode COML operating as the pressure detection electrode and the conductor pattern around the drive electrode COML during the detection operation period FLfsy.

また、上記の通り、複数の走査線GCLを圧力検出用の検出電極として用いる場合、図28に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと、検出回路部40Xとは、容量素子Cdcを介して電気的に接続されていることが好ましい。しかし、駆動電極COMLを圧力検出用の検出電極として用いる場合には、状況が異なる。すなわち、図32に示すように、駆動電極COMLは、表示動作期間FLdpにおいて駆動信号Vcomが供給される配線である。駆動信号Vcomは、駆動信号Vfsとは異なる波形の信号である。しかし、仮に、検出動作期間FLfsxあるいは、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動電極COMLに駆動信号Vfsやガード信号Vgdが供給された場合でも、TFT素子Tr(図8参照)がオンになっていれば、誤表示の原因にはならない。このため、図31に示す例では、複数の駆動電極COMLのそれぞれと、検出回路部40Yとは、容量素子Cdcを介さずに接続されている。   In addition, as described above, when the plurality of scanning lines GCL are used as detection electrodes for pressure detection, as illustrated in FIG. 28, each of the plurality of scanning lines GCL and the detection circuit unit 40X are connected via the capacitive element Cdc. It is preferable that they are electrically connected. However, the situation is different when the drive electrode COML is used as a detection electrode for pressure detection. That is, as shown in FIG. 32, the drive electrode COML is a wiring to which the drive signal Vcom is supplied in the display operation period FLdp. The drive signal Vcom is a signal having a waveform different from the drive signal Vfs. However, even if the driving signal Vfs or the guard signal Vgd is supplied to the driving electrode COML in the detection operation period FLfsx or the detection operation period FLfsy, if the TFT element Tr (see FIG. 8) is turned on, It does not cause erroneous display. For this reason, in the example shown in FIG. 31, each of the plurality of drive electrodes COML and the detection circuit unit 40Y are connected without interposing the capacitive element Cdc.

また、図28〜図32では、複数の駆動電極COMLのそれぞれがY方向に沿って延びる、縦コム構造の表示装置を例示的に取り上げて説明した。しかし、図33に示すように、複数の駆動電極COMLのそれぞれがX方向に沿って延びる、横コム構造の表示装置に上記した技術を適用することもできる。図33は、図28に対する変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。また、図34は、図29に対する他の変形例である表示装置の構成例を模式的に示す説明図である。また、図35は、図33および図34に示す表示装置の表示動作と圧力検出動作を行うタイミングの一例を示す説明図である。   In addition, FIGS. 28 to 32 have exemplified the display device having the vertical comb structure in which each of the plurality of drive electrodes COML extends along the Y direction. However, as shown in FIG. 33, the above-described technique can be applied to a display device having a horizontal comb structure in which each of the plurality of drive electrodes COML extends along the X direction. FIG. 33 is an explanatory diagram schematically showing a configuration example of a display device which is a modification example of FIG. FIG. 34 is an explanatory diagram schematically showing a configuration example of a display device which is another modification example of FIG. FIG. 35 is an explanatory diagram showing an example of the timing at which the display operation and the pressure detection operation of the display device shown in FIGS. 33 and 34 are performed.

図33および図34に示す表示装置DP8は、複数の駆動電極COMLのそれぞれがY方向に沿って延びている点で図28および図29に示す表示装置DP6と相違する。また、表示装置DP8は、複数の信号線SGLおよび複数の駆動電極COMLのそれぞれが、自己容量方式で圧力を検出する検出電極である電極E2として利用される点で図28に示す表示装置DP6と相違する。   The display device DP8 shown in FIGS. 33 and 34 differs from the display device DP6 shown in FIGS. 28 and 29 in that each of the plurality of drive electrodes COML extends along the Y direction. Further, the display device DP8 is different from the display device DP6 shown in FIG. 28 in that each of the plurality of signal lines SGL and the plurality of drive electrodes COML is used as an electrode E2 which is a detection electrode for detecting pressure by a self-capacitance method. Different.

表示装置DP8の構成は、以下のように表現できる。すなわち、基板21の上面21tに沿った平面視において、上面21t側には、X方向に沿って延びる複数の駆動電極COMLと、X方向と交差するY方向に沿って延びる複数の信号線SGLとが設けられている。複数の駆動電極COMLのそれぞれは、駆動電極COMLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する、検出回路部40Xと電気的に接続されている。図33に示すように、複数の駆動電極COMLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsxには、複数の駆動電極COMLに対してパルス電位である駆動信号Vfsが供給される。また、図28に示す検出回路部40Xには、複数の駆動電極COMLを介して駆動信号Vfsに基づく検出信号Vdet2(図12参照)が出力される。また、図34に示すように、複数の信号線SGLのそれぞれは、複数の信号線SGLと導体パターン8Aとの間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する、検出回路部40Yと電気的に接続されている。図30に示すように、複数の信号線SGLと導体パターン8A(図12参照)との間の容量値の変化を検出する検出動作期間FLfsyには、複数の信号線SGLに対してパルス電位である駆動信号Vfsが供給される。また、図34に示す検出回路部40Yには、複数の信号線SGLを介して駆動信号Vfsに基づく検出信号Vdet1(図12参照)が出力される。   The configuration of the display device DP8 can be expressed as follows. That is, in a plan view along the upper surface 21t of the substrate 21, on the upper surface 21t side, there are a plurality of drive electrodes COML extending along the X direction and a plurality of signal lines SGL extending along the Y direction intersecting the X direction. Is provided. Each of the plurality of drive electrodes COML is electrically connected to a detection circuit unit 40X that detects a pressure due to contact with an external object based on a change in a capacitance value between the drive electrode COML and the conductor pattern 8A. As shown in FIG. 33, in the detection operation period FLfsx for detecting a change in the capacitance value between the plurality of drive electrodes COML and the conductor pattern 8A (see FIG. 12), a pulse potential is applied to the plurality of drive electrodes COML. A certain drive signal Vfs is supplied. Further, a detection signal Vdet2 (see FIG. 12) based on the drive signal Vfs is output to the detection circuit unit 40X illustrated in FIG. 28 via the plurality of drive electrodes COML. Further, as shown in FIG. 34, each of the plurality of signal lines SGL detects a pressure due to a contact of an external object by a change in a capacitance value between the plurality of signal lines SGL and the conductor pattern 8A. Is electrically connected to As shown in FIG. 30, in a detection operation period FLfsy for detecting a change in capacitance value between the plurality of signal lines SGL and the conductor pattern 8A (see FIG. 12), a pulse potential is applied to the plurality of signal lines SGL. A certain drive signal Vfs is supplied. In addition, a detection signal Vdet1 (see FIG. 12) based on the drive signal Vfs is output to the detection circuit unit 40Y illustrated in FIG. 34 via a plurality of signal lines SGL.

図35に示す表示装置DP8(図33参照)の場合も表示動作期間FLdpを備えている。ただし、表示動作期間FLdpにおける各部の動作は、図30を用いて説明した表示装置DP6(図29参照)の場合と同様である。したがって、重複する説明は省略する。   The display device DP8 (see FIG. 33) shown in FIG. 35 also has a display operation period FLdp. However, the operation of each unit during the display operation period FLdp is the same as that of the display device DP6 described with reference to FIG. 30 (see FIG. 29). Therefore, duplicate description will be omitted.

図35に示す変形例では、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14S(図33参照)は、駆動電極COMLに対して駆動信号Vfsを供給する。検出動作期間FLfsxでは、図33に示すように、複数の駆動電極COMLのそれぞれに接続されるスイッチSWcs2はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWcs2を介して駆動電極COMLに駆動信号Vfs(図35参照)を供給する。図33に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Xを介してスイッチSWcs2と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Xを介して駆動電極COMLに駆動信号Vfsを供給する。また、複数の信号線SGLのそれぞれと、検出回路部40Yとの間に接続されているスイッチSWss1はオフになっている。   In the modification shown in FIG. 35, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S (see FIG. 33) supplies the drive signal Vfs to the drive electrode COML. In the detection operation period FLfsx, as shown in FIG. 33, the switch SWcs2 connected to each of the plurality of drive electrodes COML is on. In other words, during the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs (see FIG. 35) to the drive electrode COML via the switch SWcs2. In the example illustrated in FIG. 33, the drive driver 14S is electrically connected to the switch SWcs2 via the detection circuit unit 40X. That is, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the drive electrode COML via the detection circuit unit 40X. The switch SWss1 connected between each of the plurality of signal lines SGL and the detection circuit unit 40Y is off.

また、図35に示す例では、走査線GCLおよび駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する。すなわち、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14S(図33参照)は、走査線GCLおよび信号線SGLに駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位であるガード信号Vgdを供給する。検出動作期間FLfsxでは、図35に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方を介して走査線GCLにガード信号Vgdを供給する。また、検出動作期間FLfsxでは、信号線SGLと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWss2(図33参照)はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWss2を介して信号線SGLにガード信号Vgdを供給する。   In the example shown in FIG. 35, the active shield method is applied to the scanning lines GCL and the driving electrodes COML. That is, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S (see FIG. 33) supplies a guard signal Vgd, which is a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs, to the scanning line GCL and the signal line SGL. In the detection operation period FLfsx, as shown in FIG. 35, at least one of the switches SWgH and SWgL connected between each of the plurality of scanning lines GCL and the drive driver 14S is on. In other words, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the scanning line GCL via at least one of the switch SWgH and the switch SWgL. In the detection operation period FLfsx, the switch SWss2 (see FIG. 33) connected between the signal line SGL and the driver 14S is turned on. In other words, in the detection operation period FLfsx, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the signal line SGL via the switch SWss2.

また、図33では、複数の駆動電極COMLのそれぞれに同じタイミングで駆動信号Vfs(図35参照)を印加する例を示している。ただし、変形例として、複数の駆動電極COMLのうち検出ブロック毎に、駆動信号Vfsが順次印加されても良い。この場合、複数の駆動電極COMLのそれぞれに接続されるスイッチSWcs2のうちの一部はオンになり、他の一部はオフになっている。また、この場合、複数の駆動電極COMLのうち、選択されていない駆動電極COMLに対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。選択されていない駆動電極COMLに対してアクティブシールド方式を適用する場合には、選択されていない駆動電極COMLに接続されているスイッチSWcs2はオフになり、選択されていない駆動電極COMLに接続されるスイッチSWcs1がオンになっている。これにより、検出動作期間FLfsxにおいて圧力検出用の電極として動作する駆動電極COMLと駆動電極COMLの周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を低減することができる。   FIG. 33 shows an example in which the drive signal Vfs (see FIG. 35) is applied to each of the plurality of drive electrodes COML at the same timing. However, as a modification, the drive signal Vfs may be sequentially applied to each detection block among the plurality of drive electrodes COML. In this case, part of the switch SWcs2 connected to each of the plurality of drive electrodes COML is turned on, and the other part is turned off. In this case, it is preferable to apply the active shield method to the unselected driving electrodes COML among the plurality of driving electrodes COML. When the active shield method is applied to the unselected drive electrode COML, the switch SWcs2 connected to the unselected drive electrode COML is turned off and connected to the unselected drive electrode COML. The switch SWcs1 is on. Thus, it is possible to reduce the influence of the parasitic capacitance formed between the drive electrode COML that operates as an electrode for pressure detection and the conductor pattern around the drive electrode COML in the detection operation period FLfsx.

また、図35に示す変形例では、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図34参照)は、信号線SGLに対して駆動信号Vfsを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図34に示すように、複数の信号線SGLのそれぞれに接続されるスイッチSWss1はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWss1を介して信号線SGLに駆動信号Vfs(図35参照)を供給する。図34に示す例では、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介してスイッチSWss1と電気的に接続されている。すなわち、駆動ドライバ14Sは、検出回路部40Yを介して信号線SGLに駆動信号Vfsを供給する。また、図34に示すように、複数の信号線SGL(図34参照)のそれぞれと、駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWss2(図34参照)はオフになっている。また、検出動作期間FLfsyにおいて、検出回路部40Xと複数の駆動電極COMLとのそれぞれを接続する複数のスイッチSWcs2のそれぞれはオフになっている。   In the modification shown in FIG. 35, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 34) supplies the drive signal Vfs to the signal line SGL. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 34, the switch SWss1 connected to each of the plurality of signal lines SGL is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs (see FIG. 35) to the signal line SGL via the switch SWss1. In the example illustrated in FIG. 34, the drive driver 14S is electrically connected to the switch SWss1 via the detection circuit unit 40Y. That is, the drive driver 14S supplies the drive signal Vfs to the signal line SGL via the detection circuit unit 40Y. As shown in FIG. 34, the switch SWss2 (see FIG. 34) connected between each of the plurality of signal lines SGL (see FIG. 34) and the drive driver 14S is off. In addition, in the detection operation period FLfsy, each of the plurality of switches SWcs2 that connects each of the detection circuit unit 40X and each of the plurality of drive electrodes COML is off.

また、図35に示す例では、走査線GCLおよび信号線SGLに対してアクティブシールド方式を適用する。すなわち、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14S(図34参照)は、走査線GCLおよび駆動電極COMLに駆動信号Vfsと同じ波形のパルス電位であるガード信号Vgdを供給する。検出動作期間FLfsyでは、図34に示すように、複数の走査線GCLのそれぞれと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方はオンになっている。言い換えれば、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWgHおよびスイッチSWgLのうちの少なくとも一方を介して走査線GCLにガード信号Vgdを供給する。また、検出動作期間FLfsyでは、駆動電極COMLと駆動ドライバ14Sとの間に接続されているスイッチSWcs1(図34参照)はオンになっている。また、検出動作期間FLfsyにおいて、駆動ドライバ14Sは、スイッチSWcs1を介して駆動電極COMLにガード信号Vgdを供給する。   In the example shown in FIG. 35, the active shield method is applied to the scanning lines GCL and the signal lines SGL. That is, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S (see FIG. 34) supplies a guard signal Vgd, which is a pulse potential having the same waveform as the drive signal Vfs, to the scanning line GCL and the drive electrode COML. In the detection operation period FLfsy, as shown in FIG. 34, at least one of the switch SWgH and the switch SWgL connected between each of the plurality of scanning lines GCL and the drive driver 14S is on. In other words, in the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the scanning line GCL via at least one of the switch SWgH and the switch SWgL. Further, in the detection operation period FLfsy, the switch SWcs1 (see FIG. 34) connected between the drive electrode COML and the drive driver 14S is on. In the detection operation period FLfsy, the drive driver 14S supplies the guard signal Vgd to the drive electrode COML via the switch SWcs1.

図34では、複数の信号線SGLのそれぞれに同じタイミングで駆動信号Vfs(図35参照)を印加する例を示している。ただし、変形例として、複数の信号線SGLのうち検出ブロック毎に、駆動信号Vfsが順次印加されても良い。この場合、複数の信号線SGLのそれぞれに接続されるスイッチSWss1のうちの一部はオンになり、他の一部はオフになっている。また、この場合、複数の信号線SGLのうち、選択されていない信号線SGLに対してはアクティブシールド方式を適用することが好ましい。選択されていない信号線SGLに対してアクティブシールド方式を適用する場合には、選択されていない信号線SGLに接続されているスイッチSWss1はオフになり、選択されていない信号線SGLに接続されるスイッチSWss2(図34参照)がオンになっている。これにより、検出動作期間FLfsyにおいて圧力検出用の電極として動作する信号線SGLと信号線SGLの周囲の導体パターンとの間に形成される寄生容量の影響を低減することができる。   FIG. 34 shows an example in which the drive signal Vfs (see FIG. 35) is applied to each of the plurality of signal lines SGL at the same timing. However, as a modification, the drive signal Vfs may be sequentially applied to each of the detection blocks in the plurality of signal lines SGL. In this case, part of the switch SWss1 connected to each of the plurality of signal lines SGL is turned on, and the other part is turned off. In this case, it is preferable to apply the active shield method to the unselected signal lines SGL among the plurality of signal lines SGL. When the active shield method is applied to an unselected signal line SGL, the switch SWss1 connected to the unselected signal line SGL is turned off and connected to the unselected signal line SGL. The switch SWss2 (see FIG. 34) is on. Accordingly, it is possible to reduce the influence of the parasitic capacitance formed between the signal line SGL operating as the electrode for pressure detection and the conductor pattern around the signal line SGL in the detection operation period FLfsy.

また、上記の通り、図35に示すように、本変形例では、走査線GCLは、圧力検出用の検出電極としては利用されず、駆動電極COMLが圧力検出用の検出電極として利用される。駆動電極COMLは、表示動作期間FLdpにおいて駆動信号Vcomが供給される配線である。駆動信号Vcomは、駆動信号Vfsとは異なる波形の信号である。しかし、仮に、検出動作期間FLfsxあるいは、検出動作期間FLfsxにおいて、駆動電極COMLに駆動信号Vfsやガード信号Vgdが供給された場合でも、TFT素子Tr(図8参照)がオンになっていれば、誤表示の原因にはならない。このため、図33に示す例では、複数の駆動電極COMLのそれぞれと、検出回路部40とは、容量素子Cdcを介さずに接続されている。   As described above, as shown in FIG. 35, in this modification, the scanning line GCL is not used as a detection electrode for pressure detection, and the drive electrode COML is used as a detection electrode for pressure detection. The drive electrode COML is a wiring to which the drive signal Vcom is supplied during the display operation period FLdp. The drive signal Vcom is a signal having a waveform different from the drive signal Vfs. However, even if the drive signal Vfs or the guard signal Vgd is supplied to the drive electrode COML in the detection operation period FLfsx or the detection operation period FLfsx, if the TFT element Tr (see FIG. 8) is turned on, It does not cause erroneous display. For this reason, in the example shown in FIG. 33, each of the plurality of drive electrodes COML and the detection circuit unit 40 are connected without interposing the capacitive element Cdc.

また、本実施の形態3では、上記実施の形態1に対する変形例として説明したが、上記実施の形態2で説明したように、圧力センサおよびタッチセンサを備える表示装置に適用することもできる。この場合、図36に示すように、単位フレームFL1には、複数の表示動作期間FLdpと、タッチ検出を行うタッチ検出動作期間FLtsと、検出動作期間FLfsxと、検出動作期間FLfsyと、を含んでいることが好ましい。タッチ検出動作期間FLtsでは、例えば上記実施の形態2で説明したように、相互容量方式のタッチセンサを用いてタッチ検出動作を実施できる。あるいは変形例として、自己容量方式のタッチセンサを用いてタッチ検出動作を実施しても良い。さらに、相互容量方式と自己容量方式とを併用しても良い。   Although the third embodiment has been described as a modification of the first embodiment, as described in the second embodiment, the present invention can be applied to a display device including a pressure sensor and a touch sensor. In this case, as shown in FIG. 36, the unit frame FL1 includes a plurality of display operation periods FLdp, a touch detection operation period FLts for performing touch detection, a detection operation period FLfsx, and a detection operation period FLfsy. Is preferred. In the touch detection operation period FLts, the touch detection operation can be performed using the mutual capacitance type touch sensor, for example, as described in the second embodiment. Alternatively, as a modification, the touch detection operation may be performed using a self-capacitance touch sensor. Further, the mutual capacitance method and the self capacitance method may be used in combination.

また、図36に示す例では、単位フレームFL1に、一回のタッチ検出動作期間FLtsが含まれた例を示している。しかし、変形例として、単位フレームFL1に時分割された複数回のタッチ検出動作期間FLtsが含まれていても良い。この場合、タッチ検出動作期間FLtsと表示動作期間FLdpとが交互に実施される。 In the example illustrated in FIG. 36, an example is shown in which the unit frame FL1 includes one touch detection operation period FLts. However, as a modification, the unit frame FL1 may include a plurality of touch detection operation periods FLts time-divided. In this case, the touch detection operation period FLts and the display operation period FLdp are performed alternately.

以上、本願発明者によってなされた発明を実施の形態および代表的な変形例に基づき具体的に説明したが、種々の変形例がある。例えば、上述の実施の形態では、表示機能層として液晶層を用いる表示装置を開示しているがこれに限ったものではない。例えば、表示機能層として有機化合物から成る発光素子を用いる、所謂、有機ELタイプの表示装置の引出配線部に上記した技術を適用することもできる。また例えば、上記した種々の変形例同士を組み合わせて適用することもできる。   As described above, the invention made by the inventor of the present application has been specifically described based on the embodiment and the typical modifications, but there are various modifications. For example, in the above embodiment, the display device using the liquid crystal layer as the display function layer is disclosed, but the present invention is not limited to this. For example, the above-described technique can be applied to a lead wiring portion of a so-called organic EL type display device using a light-emitting element made of an organic compound as a display function layer. Also, for example, the above-described various modifications can be applied in combination.

本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。例えば、前述の各実施形態に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除若しくは設計変更を行ったもの、または、工程の追加、省略若しくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。   Within the scope of the idea of the present invention, those skilled in the art can conceive various changes and modifications, and it is understood that these changes and modifications also belong to the scope of the present invention. For example, those skilled in the art may appropriately add, delete, or change the design of the above-described embodiments, or may add, omit, or change the conditions of the process. As long as it is provided, it is included in the scope of the present invention.

本発明は、表示装置や表示装置が組み込まれた電子機器に利用可能である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is applicable to a display device and an electronic device in which the display device is incorporated.

2 アレイ基板
2b 下面
2t 上面
8 導体パターン
40 検出回路部
2 Array substrate 2b Lower surface 2t Upper surface 8 Conductive pattern 40 Detection circuit unit

Claims (22)

第1面および前記第1面の反対側の第2面を備える第1基板と、
前記第1基板の前記第1面側に設けられる表示機能層と、
前記第1基板の前記第1面側に設けられ、画像を形成する信号が供給される複数の第1配線と、
前記第1基板の前記第2面側に、前記第1基板と離間して設けられた第1導電膜と、
前記複数の第1配線と前記第1導電膜との間の容量値の変化を検出する第1回路と、
前記第1基板と前記第1導電膜との間に設けられる第1層と、
を有し、
前記第1層の厚さは、前記表示機能層の厚さよりも厚く、
前記複数の第1配線と前記第1導電膜との間の前記容量値の変化を検出する第1検出動作期間には、前記複数の第1配線に前記画像を形成する信号とは異なる第1パルス電位が供給され、かつ、前記第1回路には、前記複数の第1配線を介して前記第1パルス電位に基づく検出信号が出力され、
前記第1導電膜には、接地電位が供給され、
前記容量値の変化により外部物体の接触による圧力を算出する、表示装置。
A first substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
A display function layer provided on the first surface side of the first substrate;
A plurality of first wirings provided on the first surface side of the first substrate and supplied with a signal for forming an image;
A first conductive film provided on the second surface side of the first substrate so as to be separated from the first substrate;
A first circuit for detecting a change in a capacitance value between the plurality of first wirings and the first conductive film;
A first layer provided between the first substrate and the first conductive film;
Has,
The thickness of the first layer is larger than the thickness of the display function layer,
In a first detection operation period for detecting a change in the capacitance value between the plurality of first wirings and the first conductive film, a first signal different from a signal for forming the image on the plurality of first wirings is provided. A pulse potential is supplied, and a detection signal based on the first pulse potential is output to the first circuit via the plurality of first wirings.
A ground potential is supplied to the first conductive film,
A display device that calculates a pressure due to contact of an external object based on a change in the capacitance value.
請求項に記載の表示装置であって、
前記第1層は、中空空間、または、前記第1基板よりも弾性が低い弾性体である、表示装置。
The display device according to claim 1 ,
The display device, wherein the first layer is a hollow space or an elastic body having lower elasticity than the first substrate.
請求項またはに記載の表示装置であって、
前記複数の第1配線と前記表示機能層との間には、平面視において、前記複数の第1配線と重なる第2導電膜が設けられている、表示装置。
The display device according to claim 1 or 2,
A display device, wherein a second conductive film overlapping with the plurality of first wirings is provided between the plurality of first wirings and the display function layer in plan view.
請求項に記載の表示装置であって、
前記第1回路が前記容量値の検出動作を行う前記第1検出動作期間には、前記第2導電膜には固定電位またはパルス電位が供給される、表示装置。
The display device according to claim 3 , wherein
Wherein the first detection operation period in which the first circuit performs the detection operation of the capacitance value, the the second conductive film fixed potential or pulse potential is supplied, the display apparatus.
請求項1または2に記載の表示装置であって、
前記第1導電膜と前記第1回路とは、電気的に分離されている、表示装置。
The display device according to claim 1 , wherein:
The display device, wherein the first conductive film and the first circuit are electrically separated.
請求項1または2に記載の表示装置であって、
前記複数の第1配線と前記表示機能層との間には、平面視において、前記複数の第1配線と重なる第2導電膜が設けられ、
前記第1検出動作期間には、前記第2導電膜には前記複数の第1配線に供給される前記第1パルス電位と同じ波形のパルス電位が供給される、表示装置。
The display device according to claim 1 , wherein:
A second conductive film is provided between the plurality of first wirings and the display function layer, the second conductive film overlapping the plurality of first wirings in a plan view,
The display device, wherein in the first detection operation period, a pulse potential having the same waveform as the first pulse potential supplied to the plurality of first wirings is supplied to the second conductive film.
請求項1または2に記載の表示装置であって、
前記複数の第1配線は、前記第1面に沿った平面視において、第1方向に沿って延びる複数の第1方向配線と、前記第1方向と交差する第2方向に沿って延びる複数の第2方向配線と、を有し、
平面視において、前記第1導電膜は、前記複数の第1方向配線および前記複数の第2方向配線のそれぞれと重なる位置に設けられている、表示装置。
The display device according to claim 1 , wherein:
The plurality of first wirings include a plurality of first direction wirings extending along a first direction and a plurality of first direction wirings extending along a second direction intersecting the first direction in a plan view along the first surface. And a second direction wiring,
The display device, wherein in plan view, the first conductive film is provided at a position overlapping each of the plurality of first direction wirings and the plurality of second direction wirings.
請求項に記載の表示装置であって、
前記第1回路は、前記複数の第1配線からの検出信号が伝送される複数の第1検出器を有し、
前記複数の第1方向配線は、隣り合って並ぶ複数本ずつの第1方向配線が電気的に接続されて複数の第1検出ブロックを構成し、
前記複数の第2方向配線は、隣り合って並ぶ複数本ずつの第2方向配線が電気的に接続されて複数の第2検出ブロックを構成し、
前記第1回路が前記容量値の検出動作を行う前記第1検出動作期間には、前記複数の第1検出ブロックおよび前記複数の第2検出ブロックのそれぞれが前記複数の第1検出器に接続される、表示装置。
The display device according to claim 7 , wherein:
The first circuit has a plurality of first detectors to which detection signals from the plurality of first wirings are transmitted,
The plurality of first direction wirings are electrically connected to a plurality of first direction wirings adjacent to each other to form a plurality of first detection blocks,
The plurality of second direction wirings are electrically connected to a plurality of adjacent second direction wirings to form a plurality of second detection blocks,
In the first detection operation period in which the first circuit performs the capacitance value detection operation, each of the plurality of first detection blocks and the plurality of second detection blocks is connected to the plurality of first detectors. Display device.
請求項に記載の表示装置であって、
前記第1回路は、前記複数の第1配線からの検出信号が伝送される複数の第1検出器を有し、
前記複数の第1検出器は、前記複数の第1方向配線からの検出信号を出力する第1方向検出器と、前記複数の第2方向配線からの検出信号を出力する第2方向検出器とを含み、
前記第1回路が前記容量値の検出動作を行う前記第1検出動作期間において、前記第1方向配線からの検出信号と、前記第2方向配線からの検出信号が並行して出力される、表示装置。
The display device according to claim 7 , wherein:
The first circuit has a plurality of first detectors to which detection signals from the plurality of first wirings are transmitted,
The plurality of first detectors include a first direction detector that outputs detection signals from the plurality of first direction wirings, and a second direction detector that outputs detection signals from the plurality of second direction wirings. Including
In the first detection operation period in which the first circuit performs the capacitance value detection operation, a detection signal from the first direction wiring and a detection signal from the second direction wiring are output in parallel. apparatus.
請求項に記載の表示装置であって、
前記第1回路は、前記複数の第1配線からの検出信号が伝送される複数の第1検出器を有し、
前記第1回路が前記容量値の検出動作を行う前記第1検出動作期間には、
前記複数の第1方向配線からの検出信号が前記複数の第1検出器に出力される、第1方向検出動作期間と、
前記第1方向検出動作期間と時分割され、かつ、前記複数の第2方向配線からの検出信号が前記複数の第1検出器に出力される、第2方向検出動作期間と、が含まれている、表示装置。
The display device according to claim 7 , wherein:
The first circuit has a plurality of first detectors to which detection signals from the plurality of first wirings are transmitted,
In the first detection operation period in which the first circuit performs the capacitance value detection operation,
A first direction detection operation period in which detection signals from the plurality of first direction wirings are output to the plurality of first detectors;
A second direction detection operation period in which the first direction detection operation period is time-divided and detection signals from the plurality of second direction wirings are output to the plurality of first detectors. Is a display device.
請求項10のいずれか1項に記載の表示装置であって、
前記第1方向配線からの検出信号、および前記第2方向配線からの検出信号に基づいて圧力が検出された位置の座標が算出される、表示装置。
The display device according to any one of claims 7 to 10 , wherein
A display device, wherein coordinates of a position where pressure is detected are calculated based on a detection signal from the first direction wiring and a detection signal from the second direction wiring.
請求項1または2に記載の表示装置であって、
前記第1基板の前記第1面に沿った平面視において前記第1面側には、
第1方向に沿って延びる前記複数の第1配線と、
前記第1方向と交差する第2方向に沿って延びる複数の第2配線と、
が設けられ、
前記複数の第2配線と前記第1導電膜との間の容量値の変化により外部物体の接触による圧力を検出する第2回路をさらに有し、
前記複数の第2配線と前記第1導電膜との間の前記容量値の変化を検出する第2検出動作期間には、前記複数の第2配線に前記第1パルス電位が供給され、かつ、前記第2回路には、前記複数の第1配線を介して前記第1パルス電位に基づく検出信号が出力される、表示装置。
The display device according to claim 1 , wherein:
On the first surface side in a plan view along the first surface of the first substrate,
The plurality of first wirings extending along a first direction;
A plurality of second wirings extending along a second direction intersecting the first direction;
Is provided,
A second circuit that detects a pressure due to a contact of an external object based on a change in a capacitance value between the plurality of second wirings and the first conductive film,
In a second detection operation period for detecting a change in the capacitance value between the plurality of second wirings and the first conductive film, the first pulse potential is supplied to the plurality of second wirings, and The display device, wherein a detection signal based on the first pulse potential is output to the second circuit via the plurality of first wirings.
請求項12に記載の表示装置であって、
前記複数の第1配線のそれぞれは、前記画像を表示する表示期間に前記第1パルス電位と異なる波形を持つ走査信号が供給される走査線であって、
前記複数の第1配線のそれぞれと前記第1回路とは、容量素子を介して電気的に接続されている、表示装置。
The display device according to claim 12 , wherein
Each of the plurality of first wirings is a scanning line to which a scanning signal having a waveform different from the first pulse potential is supplied during a display period for displaying the image,
The display device, wherein each of the plurality of first wirings and the first circuit are electrically connected via a capacitor.
請求項13に記載の表示装置であって、
前記複数の第2配線のそれぞれは、前記画像を表示する表示期間に前記第1パルス電位と異なる波形を持つ映像信号が供給される信号線であって、
前記複数の第2配線のそれぞれと前記第2回路とは、前記容量素子を介さずに接続されている、表示装置。
The display device according to claim 13 , wherein:
Each of the plurality of second wirings is a signal line to which a video signal having a waveform different from the first pulse potential is supplied during a display period for displaying the image,
The display device, wherein each of the plurality of second wirings and the second circuit are connected without interposing the capacitor.
請求項13に記載の表示装置であって、
前記複数の第2配線のそれぞれは、前記画像を表示する表示期間に前記第1パルス電位と異なる波形を持つ駆動信号が供給される第2導電膜であって、
前記複数の第2配線のそれぞれと前記第2回路とは、前記容量素子を介さずに接続されている、表示装置。
The display device according to claim 13 , wherein:
Each of the plurality of second wirings is a second conductive film to which a drive signal having a waveform different from the first pulse potential is supplied during a display period for displaying the image,
The display device, wherein each of the plurality of second wirings and the second circuit are connected without interposing the capacitor.
請求項またはに記載の表示装置であって、
前記第1基板の前記第1面と対向する第3面、および前記第3面の反対側の第4面を備える第2基板と、
前記第2基板の前記第3面または前記第4面に形成される複数の検出電極と、
前記複数の検出電極の容量値の変化を検出する第2回路と、
をさらに有する、表示装置。
The display device according to claim 1 or 2,
A second substrate having a third surface facing the first surface of the first substrate, and a fourth surface opposite to the third surface;
A plurality of detection electrodes formed on the third surface or the fourth surface of the second substrate;
A second circuit for detecting a change in the capacitance value of the plurality of detection electrodes;
The display device further comprising:
請求項16に記載の表示装置であって、
前記複数の第1配線と前記表示機能層との間には、前記複数の第1配線を覆う第2導電膜が設けられている、表示装置。
The display device according to claim 16 , wherein:
The display device, wherein a second conductive film that covers the plurality of first wirings is provided between the plurality of first wirings and the display function layer.
請求項17に記載の表示装置であって、
前記第1回路が前記容量値の検出動作を行う前記第1検出動作期間には、前記第2導電膜には固定電位またはパルス電位が供給される、表示装置。
The display device according to claim 17 , wherein
Wherein the first detection operation period in which the first circuit performs the detection operation of the capacitance value, the the second conductive film fixed potential or pulse potential is supplied, the display apparatus.
請求項16に記載の表示装置であって、
前記第1回路と前記第2回路とは、電気的に接続されている、表示装置。
The display device according to claim 16 , wherein:
The display device, wherein the first circuit and the second circuit are electrically connected.
請求項19に記載の表示装置であって、
前記第1回路および前記第2回路が形成された半導体チップをさらに有する、表示装置。
The display device according to claim 19 , wherein:
A display device further comprising a semiconductor chip on which the first circuit and the second circuit are formed.
第1面および前記第1面の反対側の第2面を備える第1基板と、
前記第1基板の前記第1面側に設けられる表示機能層と、
前記第1基板の前記第1面側に設けられ、画像を形成する信号が供給される複数の第1配線と、
前記第1基板の前記第2面側に、前記第1基板と離間して設けられた第1導電膜と、
前記複数の第1配線と前記第1導電膜との間の容量値の変化を検出する第1回路と、
前記第1基板と前記第1導電膜との間に設けられる第1層と、
を有し、
前記第1層の厚さは、前記表示機能層の厚さよりも厚く、
前記第1基板の前記第1面と対向する第3面、および前記第3面の反対側の第4面を備える第2基板と、
前記第2基板の前記第3面または前記第4面に形成される複数の検出電極と、
前記複数の第1配線と前記第1導電膜との間の容量値の変化を前記第1回路で検出する第1検出動作期間と、
前記複数の検出電極の容量値の変化を前記第1回路で検出する第2検出動作期間と、
をさらに有する、表示装置。
A first substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
A display function layer provided on the first surface side of the first substrate;
A plurality of first wirings provided on the first surface side of the first substrate and supplied with a signal for forming an image;
A first conductive film provided on the second surface side of the first substrate so as to be separated from the first substrate;
A first circuit for detecting a change in a capacitance value between the plurality of first wirings and the first conductive film;
A first layer provided between the first substrate and the first conductive film;
Has,
The thickness of the first layer is larger than the thickness of the display function layer,
A second substrate having a third surface facing the first surface of the first substrate, and a fourth surface opposite to the third surface;
A plurality of detection electrodes formed on the third surface or the fourth surface of the second substrate;
A first detection operation period in which the first circuit detects a change in a capacitance value between the plurality of first wirings and the first conductive film;
A second detection operation period in which a change in the capacitance value of the plurality of detection electrodes is detected by the first circuit;
The display device further comprising:
請求項1に記載の表示装置であって、The display device according to claim 1,
前記第1層は、中空空間、または、前記第1基板よりも弾性が低い弾性体である、表示装置。The display device, wherein the first layer is a hollow space or an elastic body having lower elasticity than the first substrate.
JP2016044631A 2015-07-24 2016-03-08 Display device Active JP6640613B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/191,018 US10496228B2 (en) 2015-07-24 2016-06-23 Display device
CN201610577191.7A CN106371656B (en) 2015-07-24 2016-07-20 Display device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015146350 2015-07-24
JP2015146350 2015-07-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017027576A JP2017027576A (en) 2017-02-02
JP6640613B2 true JP6640613B2 (en) 2020-02-05

Family

ID=57950587

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016044631A Active JP6640613B2 (en) 2015-07-24 2016-03-08 Display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6640613B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7415112B2 (en) 2021-08-19 2024-01-17 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 incell touch panel

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10802658B2 (en) * 2019-02-12 2020-10-13 Facebook Technologies, Llc Capacitive touch system
JP6756059B1 (en) * 2019-09-04 2020-09-16 三菱電機株式会社 Touch panel device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5224973B2 (en) * 2008-08-26 2013-07-03 株式会社ジャパンディスプレイウェスト Information input / output device and information input / output method
JP2012178050A (en) * 2011-02-25 2012-09-13 Japan Display Central Co Ltd Display device
JPWO2014156066A1 (en) * 2013-03-25 2017-02-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 Input device
JP6142745B2 (en) * 2013-09-10 2017-06-07 ソニー株式会社 Sensor device, input device and electronic apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7415112B2 (en) 2021-08-19 2024-01-17 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 incell touch panel

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017027576A (en) 2017-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111781760B (en) Sensor and display device with sensor
JP6606345B2 (en) Display device with touch detection function and electronic device
KR101628724B1 (en) Display device with integrated touch screen
US20200393714A1 (en) Display apparatus and input device
CN107544720B (en) Array substrate, display device and method for inspecting sensor electrode
US10496228B2 (en) Display device
JP5980157B2 (en) Display device with touch detection function and electronic device
US10078393B2 (en) Touch detection device, display device with touch detection function, and cover member
US11106301B2 (en) Display device
JP2017097794A (en) Touch detection device, display device with touch detection function, and cover member
US10386973B2 (en) Display device having a guard layer configured to prevent interference of signals between a touch screen and a signal line, and method of manufacturing the same
US10824263B2 (en) Detection device and display device
US10809846B2 (en) Display device
JP6637344B2 (en) Detection device, display device and electronic equipment
CN107765929B (en) Display device
US20220164054A1 (en) Display device and circuit board
JP2017174013A (en) Display device
JP2017134249A (en) Display device
US11669203B2 (en) Detection device
JP2018169680A (en) Display device
JP6640613B2 (en) Display device
JP2018032170A (en) Display
CN106997257B (en) Input device and display device
US10976861B2 (en) Detection device and display device
JP6713565B2 (en) Sensor and display device with sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190924

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191226

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6640613

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250