JP6579418B2 - Code pattern authentication method and authentication apparatus - Google Patents

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本発明は、積層体や箱に取り付けられたコードパターンを認証するための認証方法および認証装置に関する。   The present invention relates to an authentication method and an authentication apparatus for authenticating a code pattern attached to a laminate or a box.

近年、収容体の中に収容された対象物を非接触かつ非開封で判別する技術がいくつか提案されている。例えば特許文献1においては、収容体の内部に所定の画像を形成しておき、この画像に向けて収容体の外部から赤外線を照射することにより、非開封で画像を読み取り、この情報に基づいて対象物を判別することが提案されている。   In recent years, several techniques for discriminating an object accommodated in a container in a non-contact and non-opening manner have been proposed. For example, in Patent Document 1, a predetermined image is formed inside the container, and the image is read unopened by irradiating infrared rays toward the image from the outside of the container. It has been proposed to discriminate objects.

しかしながら、赤外線は段ボール等の厚い紙又は樹脂を透過しないため、厚い紙又は樹脂で形成された封筒等の収容体の内部に画像を設けた場合、赤外線を用いてこの画像を読み取ることはできない。このような課題を考慮し、例えば特許文献2,3においては、テラヘルツ波を利用することが提案されている。テラヘルツ波は、紙や樹脂などの多くの包装用材料を透過することができるという特性を有している。従って、テラヘルツ波を利用すれば、紙や樹脂からなる収容体の中に収容された対象物に関する情報を、非接触かつ非開封で得ることができる。   However, since infrared rays do not transmit thick paper such as cardboard or resin, when an image is provided inside a container such as an envelope made of thick paper or resin, the image cannot be read using infrared rays. In consideration of such problems, for example, Patent Documents 2 and 3 propose using terahertz waves. Terahertz waves have the property that they can penetrate many packaging materials such as paper and resin. Therefore, if terahertz waves are used, information about the object stored in the container made of paper or resin can be obtained in a non-contact and non-opening manner.

特開2001−96889号公報JP 2001-96889 A 特開2013−178212号公報JP 2013-178212 A 特開2010−145391号公報JP 2010-145391 A

上述の特許文献2,3においては、対象物を透過または反射したテラヘルツ波に基づいて、対象物の判別が行われている。具体的には、対象物を透過または反射したテラヘルツ波に現れる、対象物に固有のスペクトル情報に基づいて、対象物が判別される。しかしながら、対象物によっては、テラヘルツ波の周波数範囲内において特徴的な周波数依存性が現れない場合がある。また、対象物が野菜などの、大きな個体差が存在する物である場合、同種の対象物であってもそのスペクトル情報が大きくばらつくことが考えらえる。従って、対象物に固有のスペクトル情報によっては、対象物を高い精度で判別することができないと考えられる。   In the above-described Patent Documents 2 and 3, the object is determined based on the terahertz wave transmitted or reflected by the object. Specifically, the target is discriminated based on spectral information unique to the target that appears in the terahertz wave transmitted or reflected by the target. However, depending on the object, characteristic frequency dependence may not appear within the frequency range of the terahertz wave. In addition, when the object is an object such as a vegetable having a large individual difference, it can be considered that the spectrum information varies greatly even if the object is the same kind. Therefore, it is considered that the object cannot be determined with high accuracy depending on the spectrum information unique to the object.

また、対象物に固有のスペクトル情報に基づいて対象物を判別する場合、取得されたスペクトル情報と、予め記録されている、様々な対象物の特徴的なスペクトル情報とを照合する工程が実施される。この場合、膨大なデータ量を有する多数のスペクトル情報を予め準備しておく必要があり、かつ、照合に要する工数も大きくなる。   Further, when discriminating an object based on spectrum information unique to the object, a step of collating the acquired spectrum information with characteristic spectrum information of various objects recorded in advance is performed. The In this case, it is necessary to prepare in advance a lot of spectrum information having an enormous amount of data, and the number of man-hours required for collation increases.

また特許文献2においては、収容体の表面に情報コードを設けておき、テラヘルツ波を利用してこの情報コードを読み取ることによって、対象物に関するさらなる情報を得ることが提案されている。具体的には、所定の文字列で構成された情報コードの形状を、テラヘルツ波を利用して読み取ることにより、文字情報を得ることが提案されている。しかしながら、文字の形状は複雑であり、かつ文字の種類は膨大である。従って、情報コードの形状に基づいて情報を得る方法においては、ノイズが存在する場合に容易に誤認識が生じ得ると考えられる。また、文字の形状に関する膨大なデータ量の情報を予め準備しておく必要があり、かつ、照合に要する工数も大きくなる。   Further, Patent Document 2 proposes that an information code is provided on the surface of the container, and further information regarding the object is obtained by reading this information code using terahertz waves. Specifically, it has been proposed to obtain character information by reading the shape of an information code composed of a predetermined character string using terahertz waves. However, the shape of characters is complicated and the types of characters are enormous. Therefore, in the method of obtaining information based on the shape of the information code, it is considered that erroneous recognition can easily occur when noise exists. In addition, it is necessary to prepare in advance information on a huge amount of data related to the character shape, and the number of man-hours required for collation increases.

本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、容易に解析可能なコードパターンを利用した認証方法および認証装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of such points, and an object thereof is to provide an authentication method and an authentication apparatus using a code pattern that can be easily analyzed.

本発明は、規則的に配置された複数の第1要素を含む第1領域を少なくとも含むコードパターンに電磁波を照射する照射工程と、前記コードパターンを透過した前記電磁波、または前記コードパターンによって反射された前記電磁波の周波数スペクトルを測定する測定工程と、前記測定工程の結果に基づいて、前記コードパターンを解析する解析工程と、を備え、各第1要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、前記周波数スペクトルは、前記第1領域を透過した前記電磁波、または前記第1領域によって反射された前記電磁波の第1周波数スペクトルを含み、前記解析工程において、前記コードパターンは、前記第1周波数スペクトルまたは前記第1周波数スペクトルの一次微分に特徴点が現れる周波数に基づいて解析される、コードパターンの認証方法である。   The present invention provides an irradiation step of irradiating an electromagnetic wave to a code pattern including at least a first region including a plurality of first elements arranged regularly, and the electromagnetic wave transmitted through the code pattern or reflected by the code pattern. A measurement step of measuring the frequency spectrum of the electromagnetic wave, and an analysis step of analyzing the code pattern based on a result of the measurement step, wherein each first element is configured as a conductive pattern having conductivity. Or an opening pattern formed in a conductive layer having conductivity, and the width of each first element in the first region or the interval between the first elements is at least partially, The frequency spectrum is smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the frequency spectrum is transmitted through the first region or before being reflected by the first region. Code pattern authentication, including a first frequency spectrum of electromagnetic waves, wherein in the analyzing step, the code pattern is analyzed based on a frequency at which a feature point appears in the first frequency spectrum or a first derivative of the first frequency spectrum Is the method.

本発明によるコードパターンの認証方法において、前記コードパターンは、規則的に配置された複数の第2要素を含む第2領域をさらに含んでいてもよい。この場合、各第2要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、前記第2領域の各第2要素の幅または各第2要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、かつ、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔と異なり、前記周波数スペクトルは、前記第2領域を透過した前記電磁波、または前記第2領域によって反射された前記電磁波の第2周波数スペクトルをさらに含み、前記解析工程において、前記コードパターンは、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分に特徴点が現れる周波数に基づいて解析される。   In the code pattern authentication method according to the present invention, the code pattern may further include a second region including a plurality of second elements regularly arranged. In this case, each 2nd element is comprised as an electroconductive pattern which has electroconductivity, or is comprised as an opening pattern formed in the electroconductive layer which has electroconductivity, Each 2nd element of the said 2nd area | region Or the spacing between the second elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave and is different from the width of the first elements in the first region or the spacing between the first elements, The frequency spectrum further includes a second frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the second region or the electromagnetic wave reflected by the second region, and in the analyzing step, the code pattern includes each frequency spectrum or each frequency. Analysis is based on the frequency at which feature points appear in the first derivative of the spectrum.

本発明によるコードパターンの認証方法の前記照射工程において、前記電磁波として、100μm〜3mmの波長範囲内の電磁波が用いられ、前記コードパターンは、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層によって外部から遮蔽された場所に設けられていてもよい。この場合、前記照射工程において、前記電磁波は、前記不透明層を透過して前記コードパターンに到達する。   In the irradiation step of the code pattern authentication method according to the present invention, an electromagnetic wave within a wavelength range of 100 μm to 3 mm is used as the electromagnetic wave, and the code pattern is shielded from the outside by an opaque layer made of paper or an opaque resin. It may be provided in a different place. In this case, in the irradiation step, the electromagnetic wave passes through the opaque layer and reaches the code pattern.

本発明によるコードパターンの認証方法において、前記コードパターンは、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層を含む収容体のうち、前記収容体の外面以外の場所に設けられていてもよい。また、前記収容体には対象物が収容されていてもよい。この場合、前記コードパターンの解析結果に基づいて、前記対象物が判別されてもよい。   In the code pattern authentication method according to the present invention, the code pattern may be provided in a place other than the outer surface of the container in the container including an opaque layer made of paper or opaque resin. Moreover, the target object may be accommodated in the said accommodating body. In this case, the object may be determined based on the analysis result of the code pattern.

本発明によるコードパターンの認証方法の前記照射工程において、前記電磁波として、非線形光学結晶に対してレーザー光を照射することによって生じる非線形光学効果を利用して生成された電磁波が用いられてもよい。   In the irradiation step of the code pattern authentication method according to the present invention, an electromagnetic wave generated by utilizing a nonlinear optical effect generated by irradiating a nonlinear optical crystal with laser light may be used as the electromagnetic wave.

本発明によるコードパターンの認証方法の前記照射工程において、前記コードパターンのうち前記電磁波が照射されるスポットは、前記第1領域と前記第2領域とが並ぶ方向に沿ってスキャンされ、この結果、前記第1周波数スペクトルと前記第2周波数スペクトルとが順次測定されてもよい。   In the irradiation step of the code pattern authentication method according to the present invention, the spot irradiated with the electromagnetic wave in the code pattern is scanned along the direction in which the first region and the second region are arranged, The first frequency spectrum and the second frequency spectrum may be measured sequentially.

本発明によるコードパターンの認証方法の前記照射工程において、前記コードパターンのうち前記電磁波が照射されるスポットは、前記第1領域および前記第2領域の両方を少なくとも部分的に含んでいてもよい。この場合、前記測定工程においては、前記第1周波数スペクトルおよび前記第2周波数スペクトルの両方が同時に測定される。   In the irradiation step of the code pattern authentication method according to the present invention, the spot irradiated with the electromagnetic wave in the code pattern may at least partially include both the first region and the second region. In this case, in the measurement step, both the first frequency spectrum and the second frequency spectrum are measured simultaneously.

本発明は、規則的に配置されるとともに導電性を有する複数の第1要素を含む第1領域を少なくとも含むコードパターン電磁波を照射する照射部と、前記コードパターンを透過した前記電磁波、または前記コードパターンによって反射された前記電磁波の周波数スペクトルを測定する測定部と、前記測定部における測定結果に基づいて、前記コードパターンを解析する解析部と、を備え、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、前記周波数スペクトルは、前記第1領域を透過した前記電磁波、または前記第1領域によって反射された前記電磁波の第1周波数スペクトルを含み、前記解析部において、前記コードパターンは、前記第1周波数スペクトルまたは前記第1周波数スペクトルの一次微分に特徴点が現れる周波数に基づいて解析される、コードパターンの認証装置である。   The present invention includes an irradiation unit that irradiates a code pattern electromagnetic wave including at least a first region that is regularly arranged and includes a plurality of first elements having conductivity, and the electromagnetic wave that transmits the code pattern, or the code A measurement unit that measures a frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the pattern, and an analysis unit that analyzes the code pattern based on a measurement result in the measurement unit, and each of the first elements of the first region The width or spacing between each first element is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the frequency spectrum is transmitted through the first region, or the electromagnetic wave reflected by the first region. In the analysis unit, the code pattern includes the first frequency spectrum or the first frequency spectrum. Are analyzed based on the frequency characteristic point appears on first-order derivative of the frequency spectrum, the authentication apparatus of the code pattern.

本発明において、コードパターンは、規則的に配置された複数の第1要素を含む第1領域を少なくとも含んでいる。第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔は、コードパターンに照射される電磁波の波長よりも小さくなっている。このため、第1領域を透過した電磁波、または第1領域によって反射された電磁波の第1周波数スペクトルには、第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔に基づいて、第1の特徴点が現れる。従って、第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔を適切に設定することにより、コードパターンに、所望の情報を付与することができる。また、コードパターンを構成する第1領域の第1周波数スペクトルを解析することによって、コードパターンに含まれる情報を容易に得ることができる。   In the present invention, the code pattern includes at least a first region including a plurality of regularly arranged first elements. The width of each first element in the first region or the interval between the first elements is smaller than the wavelength of the electromagnetic wave applied to the code pattern. Therefore, the first frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the first region or the electromagnetic wave reflected by the first region is based on the width of each first element in the first region or the interval between the first elements. A first feature point appears. Therefore, desired information can be given to the code pattern by appropriately setting the width of each first element in the first region or the interval between the first elements. Further, by analyzing the first frequency spectrum of the first region constituting the code pattern, the information included in the code pattern can be easily obtained.

本発明の実施形態に係る収容体の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the container which concerns on embodiment of this invention. 図1の収容体のA−A断面の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the AA cross section of the container of FIG. コードパターンの各領域を拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows each area | region of a code pattern. 本発明の実施形態に係る認証装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the authentication apparatus which concerns on embodiment of this invention. コードパターンに電磁波を照射する照射工程を示す図である。It is a figure which shows the irradiation process which irradiates electromagnetic waves to a code | cord pattern. コードパターンから反射された電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves reflected from the code pattern. コードパターンから反射された電磁波の周波数スペクトルの一次微分の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the first derivative of the frequency spectrum of the electromagnetic waves reflected from the code pattern. 本発明の実施形態の変形例に係る認証装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the authentication apparatus which concerns on the modification of embodiment of this invention. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図9Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 9A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図10Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 10A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図11Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 11A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図12Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 12A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図13Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 13A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図14Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 14A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 図15Aのコードパターンを透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency spectrum of the electromagnetic waves which permeate | transmitted the code pattern of FIG. 15A. コードパターンの一変形例を示す平面図である。It is a top view which shows one modification of a code pattern. 収容体の構成の一変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of a structure of a container. コードパターンが積層体に設けられる例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the example in which a code pattern is provided in a laminated body. 実施例によるコードパターンから反射された電磁波の周波数スペクトルを示す図である。It is a figure which shows the frequency spectrum of the electromagnetic waves reflected from the code pattern by an Example. 実施例によるコードパターンから反射された電磁波の周波数スペクトルの特徴点を、コードパターンの各領域の要素の幅および各要素間の間隔の合計値に対してプロットした結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having plotted the feature point of the frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected from the code pattern by an Example with respect to the total value of the width | variety of the element of each area | region of a code pattern, and each element.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。なお、本件明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺および縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the drawings attached to the present specification, for the sake of illustration and ease of understanding, the scale, the vertical / horizontal dimension ratio, and the like are appropriately changed and exaggerated from those of the actual product.

本実施の形態においては、対象物が収容体に収容されており、かつ収容体に、対象物に関する情報が記録されたコードパターンが設けられている例について説明する。図1は、収容体100の構成を示す平面図である。図2は、図1の収容体100のA−A断面の構成を示す断面図である。   In the present embodiment, an example will be described in which an object is accommodated in a container and a code pattern in which information about the object is recorded is provided in the container. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the container 100. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the AA cross section of the container 100 of FIG.

収容部
図1に示すように、収容体100は、対象物を収容する収容体本体10と、コードパターン20と、を備える。収容体本体10は、紙や不透明な樹脂からなる不透明層を含んでいる。このため、可視光や赤外線は、収容体本体10によって反射または吸収される。すなわち、可視光や赤外線は収容体本体10を透過することができない。従って、収容体本体10の外部からは対象物を視認することができない。なお「赤外線を反射もしくは吸収する」とは、収容体本体10に赤外線を照射した際に、赤外線が収容体本体10を全く透過しないこと、及び、赤外線が収容体本体10を透過しても、透過した赤外線をセンサによって検知できない程度の微小な透過量であることを意味する。
Storage Unit As shown in FIG. 1, the storage body 100 includes a storage body main body 10 that stores an object and a cord pattern 20. The container body 10 includes an opaque layer made of paper or opaque resin. For this reason, visible light and infrared rays are reflected or absorbed by the container body 10. That is, visible light and infrared rays cannot pass through the container body 10. Therefore, the object cannot be visually recognized from the outside of the container body 10. Note that “reflect or absorb infrared rays” means that when the container body 10 is irradiated with infrared rays, the infrared rays do not pass through the container body 10 at all, and even if infrared rays pass through the container body 10, This means that the amount of transmitted light is so small that the transmitted infrared light cannot be detected by the sensor.

収容体本体10を構成する紙としては、例えば段ボールが用いられる。また収容体100は、段ボール封筒と称されるものであってもよい。この場合、収容体本体10は封筒状であり、封筒部11と、封筒部11の開口部に設けられたフラップ部(糊しろ)12と、を有している。フラップ部12は、180°折り返されて封筒部11の接着領域11aに接着され、これにより段ボール封筒である収容体100が封緘される。図1は、フラップ部12が折り返される前の収容体100を示している。   As the paper constituting the container body 10, for example, cardboard is used. The container 100 may be a cardboard envelope. In this case, the container body 10 has an envelope shape, and includes an envelope portion 11 and a flap portion (margin) 12 provided at an opening of the envelope portion 11. The flap part 12 is folded back 180 ° and adhered to the adhesive region 11a of the envelope part 11, whereby the container 100, which is a cardboard envelope, is sealed. FIG. 1 shows the container 100 before the flap 12 is folded back.

図2に示すように、収容体本体10は、段ボールである第1層13と、第1層13に積層された、段ボールである第2層14及び第3層15と、を有している。封筒状に形成された第1層13の外方を向く2つの面のうち、一方の面に第2層14が積層されると共に接着され、他方の面に第3層15が積層されると共に接着されている。   As shown in FIG. 2, the container body 10 includes a first layer 13 that is a cardboard, and a second layer 14 and a third layer 15 that are stacked on the first layer 13. . Of the two surfaces facing outward of the first layer 13 formed in an envelope shape, the second layer 14 is laminated and bonded to one surface, and the third layer 15 is laminated to the other surface. It is glued.

コードパターン20は、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層によって外部から遮蔽された場所に設けられている。コードパターン20が収容体100に設けられる場合、コードパターン20は、収容体100のうち、収容体本体10の外面10x以外の場所に設けられる。図2に示す例において、コードパターン20は、第1層13と第2層14との間に設けられている。なお外面10xとは、収容体本体10が封緘された時に収容体本体10の外方を向いている面、即ち肉眼で視認され得る面である。   The code pattern 20 is provided at a location shielded from the outside by an opaque layer made of paper or opaque resin. When the code pattern 20 is provided in the container 100, the code pattern 20 is provided in a place other than the outer surface 10 x of the container body 10 in the container 100. In the example shown in FIG. 2, the code pattern 20 is provided between the first layer 13 and the second layer 14. The outer surface 10x is a surface that faces the outer side of the container body 10 when the container body 10 is sealed, that is, a surface that can be visually recognized by the naked eye.

コードパターン
以下、コードパターン20についてより詳細に説明する。コードパターン20は、所定の情報が記録された複数の領域を含んでいる。例えば図1に示すように、コードパターン20は、第1情報を含む第1領域21と、第2情報を含む第2領域22と、第3情報を含む第3領域23と、を含んでいる。各情報は、後述する測定工程および解析工程を経ることによって導かれる。各領域21,22,23に含まれる情報の種類が特に限られることはない。例えば、第1情報、第2情報および第3情報はそれぞれ、「1」、「2」および「3」という数字情報であってもよい。この場合、各領域21,22,23の配列に応じて、コードパターン20が所定の数字列を表現することができる。例えば図1においては、左から順に第1領域21、第2領域22、第3領域23および第2領域22が並べられているので、コードパターン20は、「1232」という数字列を表現することができる。
Code pattern will be described below code pattern 20 in more detail. The code pattern 20 includes a plurality of areas in which predetermined information is recorded. For example, as shown in FIG. 1, the code pattern 20 includes a first region 21 including first information, a second region 22 including second information, and a third region 23 including third information. . Each information is derived through a measurement process and an analysis process described later. The type of information included in each of the areas 21, 22, and 23 is not particularly limited. For example, the first information, the second information, and the third information may be numeric information “1”, “2”, and “3”, respectively. In this case, the code pattern 20 can express a predetermined numeric string according to the arrangement of the areas 21, 22, and 23. For example, in FIG. 1, the first area 21, the second area 22, the third area 23, and the second area 22 are arranged in order from the left, so that the code pattern 20 represents a number string “1232”. Can do.

(コードパターンの断面構造)
次に図2を参照して、コードパターン20の断面構造について説明する。なおコードパターン20の各領域21,22,23においては、後述する要素の幅および要素間の間隔が異なるのみであり、各領域21,22,23の断面構造は同一である。図2においては、各領域21,22,23に共通する断面構造が示されている。
(Cross-sectional structure of code pattern)
Next, the cross-sectional structure of the code pattern 20 will be described with reference to FIG. In each of the areas 21, 22, and 23 of the code pattern 20, only the widths of elements and intervals between elements described later are different, and the cross-sectional structures of the areas 21, 22, and 23 are the same. In FIG. 2, a cross-sectional structure common to the regions 21, 22, and 23 is shown.

本実施の形態においては、後述するように、コードパターン20の認証工程において、0.1THz〜3THzの周波数範囲の電磁波が利用される。以下の説明において、0.1THz〜3THzの周波数範囲の電磁波のことを、テラヘルツ波とも称する。電磁波の速さが30万キロメートル毎秒であるとして、テラヘルツ波をその波長範囲で表現すると、テラヘルツ波は、100μm〜3mmの波長範囲内の電磁波であると言える。コードパターン20は、このテラヘルツ波を反射または吸収することができる材料によって形成されている。例えば図2に示すように、コードパターン20は、導電性を有する導電層25をパターニングすることによって形成されている。図2においては、導電層25をパターニングすることによって形成される導電パターンが符号26で表されている。また、導電層25に形成された開口パターンが符号27で表されている。「開口パターン27」とは、導電層25に形成された開口部のパターンのことである。言い換えると、「開口パターン27」は、導電パターン26によって挟まれた領域のパターンのことである。   In the present embodiment, as will be described later, an electromagnetic wave having a frequency range of 0.1 THz to 3 THz is used in the authentication process of the code pattern 20. In the following description, an electromagnetic wave having a frequency range of 0.1 THz to 3 THz is also referred to as a terahertz wave. If the terahertz wave is expressed in the wavelength range assuming that the speed of the electromagnetic wave is 300,000 kilometers per second, it can be said that the terahertz wave is an electromagnetic wave in a wavelength range of 100 μm to 3 mm. The code pattern 20 is formed of a material that can reflect or absorb the terahertz wave. For example, as shown in FIG. 2, the code pattern 20 is formed by patterning a conductive layer 25 having conductivity. In FIG. 2, a conductive pattern formed by patterning the conductive layer 25 is denoted by reference numeral 26. An opening pattern formed in the conductive layer 25 is represented by reference numeral 27. The “opening pattern 27” is a pattern of openings formed in the conductive layer 25. In other words, the “opening pattern 27” is a pattern of a region sandwiched between the conductive patterns 26.

導電性を有し、これによってテラヘルツ波を反射または吸収することができる限りにおいて、導電層25を構成する材料が特に限られることはない。例えば、各種金属材料やカーボン等の導電性を有する材料や、導電性を有する材料を2種以上複合した複合材料等を、導電層25を構成する材料として用いることができる。具体的な例としては、クロム薄膜を用いて導電層25を構成することができる。導電層25の厚みは例えば50nm〜5μmの範囲内に設定される。   The material constituting the conductive layer 25 is not particularly limited as long as it has conductivity and can reflect or absorb terahertz waves. For example, various metal materials, conductive materials such as carbon, composite materials obtained by combining two or more conductive materials, and the like can be used as the material constituting the conductive layer 25. As a specific example, the conductive layer 25 can be formed using a chromium thin film. The thickness of the conductive layer 25 is set within a range of 50 nm to 5 μm, for example.

後述するように、導電パターン26または開口パターン27によって構成される各領域21,22,23の要素の幅または要素間の間隔は、少なくとも部分的に、コードパターン20の認証方法において用いられるテラヘルツ波の波長よりも小さくなるよう設定されている。このような条件を実現することができる限りにおいて、導電パターン26および開口パターン27の形成方法が特に限られることはない。
例えば、はじめにクロムなどの導電性を有する材料を含む導電層25を、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法、CVD法、塗工法や印刷法等を利用して連続的に設ける。次に、導電パターン26と同一のパターンを有するレジストパターンを導電層25上に形成し、その後、導電層25をエッチングする。これによって、導電パターン26および開口パターン27を作製することができる。すなわち、いわゆるフォトリソグラフィー法を用いて導電層25をパターニングすることにより、導電パターン26および開口パターン27を得ることができる。フォトリソグラフィー法によれば、マイクロメートルの精度でパターンを形成することができるので、テラヘルツ波の波長よりも小さい幅を有する導電パターン26や開口パターン27を容易に精度良く得ることができる。
若しくは、導電パターン26と同一のパターンで形成された開口部を有するマスクプレートを介して、導電層25を構成する材料を、スパッタリング法、真空蒸着法やイオンプレーティング法等を利用して成膜する。これによって、導電パターン26および開口パターン27を作製することもできる。
As will be described later, the width of the elements of each region 21, 22, 23 formed by the conductive pattern 26 or the opening pattern 27 or the spacing between the elements is at least partly a terahertz wave used in the authentication method of the code pattern 20. It is set to be smaller than the wavelength. As long as such conditions can be realized, the method for forming the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 is not particularly limited.
For example, first, the conductive layer 25 containing a conductive material such as chromium is continuously provided by using a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method, a CVD method, a coating method, a printing method, or the like. Next, a resist pattern having the same pattern as the conductive pattern 26 is formed on the conductive layer 25, and then the conductive layer 25 is etched. Thereby, the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 can be produced. That is, the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 can be obtained by patterning the conductive layer 25 using a so-called photolithography method. According to the photolithography method, a pattern can be formed with micrometer accuracy, and therefore the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 having a width smaller than the wavelength of the terahertz wave can be easily obtained with high accuracy.
Alternatively, the material constituting the conductive layer 25 is formed using a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method, or the like through a mask plate having an opening formed in the same pattern as the conductive pattern 26. To do. Thereby, the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 can also be produced.

なお図2に示す例においては、コードパターン20が収容体100の第1層13上に直接形成されているが、これに限られることはない。例えば、はじめに、適切な基材上に導電層25を形成し、次に、フォトリソグラフィー法を用いて導電層25をパターニングしてコードパターン20を作製し、その後、コードパターン20が形成された基材を接着剤などを用いて収容体100に取り付けることにより、収容体100にコードパターン20を設けてもよい。   In the example shown in FIG. 2, the code pattern 20 is directly formed on the first layer 13 of the container 100, but is not limited thereto. For example, first, the conductive layer 25 is formed on a suitable base material, and then the conductive layer 25 is patterned using a photolithography method to produce the code pattern 20, and then the base on which the code pattern 20 is formed. The cord pattern 20 may be provided on the container 100 by attaching the material to the container 100 using an adhesive or the like.

なお、導電パターン26や開口パターン27の幅をテラヘルツ波の波長よりも小さくすることができる限りにおいて、その他のパターニング方法が採用されてもよい。例えば、粒状のカーボンブラックや粒状の金属などを含む導電性インクを、インクジェット法を用いて所定のパターンで塗布することにより、導電パターン26および開口パターン27を作製してもよい。   Other patterning methods may be employed as long as the width of the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 can be made smaller than the wavelength of the terahertz wave. For example, the conductive pattern 26 and the opening pattern 27 may be produced by applying a conductive ink containing granular carbon black or granular metal in a predetermined pattern using an inkjet method.

(コードパターンのパターン形状)
次に図3(a)〜(c)を参照して、コードパターン20のパターン形状について説明する。図3(a)、図3(b)および図3(c)はそれぞれ、第1領域21、第2領域22および第3領域23を拡大して示す平面図である。
(Code pattern pattern shape)
Next, a pattern shape of the code pattern 20 will be described with reference to FIGS. 3 (a), 3 (b) and 3 (c) are enlarged plan views showing the first region 21, the second region 22, and the third region 23, respectively.

図3(a)に示すように、第1領域21は、規則的に配置された複数の第1要素21aを含んでいる。第1要素21aは、四角形の形状を有しており、また各第1要素21aは、四角格子状に配置されている。図3(a)において、第1要素21aの幅が符号W1で表されており、各第1要素21a間の間隔が符号G1で表されている。   As shown in FIG. 3A, the first region 21 includes a plurality of first elements 21a arranged regularly. The first elements 21a have a quadrangular shape, and the first elements 21a are arranged in a square lattice pattern. In FIG. 3A, the width of the first element 21a is represented by the symbol W1, and the interval between the first elements 21a is represented by the symbol G1.

また図3(b)および図3(c)に示すように、第2領域22は、規則的に配置された複数の第2要素22aを含んでおり、第3領域23は、規則的に配置された複数の第3要素23aを含んでいる。第2要素22aおよび第3要素23aの形状および配置は、具体的な幅や間隔が異なる点を除いて、第1要素21aの形状および配置と同一である。図3(b)および図3(c)において、第2要素22aおよび第3要素23aの幅が符号W2およびW3で表されており、各第2要素22a間の間隔および各第3要素23a間の間隔が符号G2およびG3で表されている。   3B and 3C, the second region 22 includes a plurality of second elements 22a that are regularly arranged, and the third region 23 is regularly arranged. The plurality of third elements 23a are included. The shape and arrangement of the second element 22a and the third element 23a are the same as the shape and arrangement of the first element 21a except that the specific width and interval are different. In FIG. 3B and FIG. 3C, the widths of the second element 22a and the third element 23a are represented by symbols W2 and W3, and the interval between the second elements 22a and the distance between the third elements 23a. Are represented by reference numerals G2 and G3.

次に、各要素21a,22a,23aの幅および間隔について説明する。本実施の形態において、各領域21,22,23は、各領域21,22,23の各要素21a,22a,23aの幅W1〜W3または各要素21a,22a,23a間の間隔G1〜G3のうちの少なくともいずれか一方が、少なくとも部分的に、後述するコードパターン20の認証方法において用いられるテラヘルツ波の波長よりも小さくなるよう、構成されている。この場合、テラヘルツ波に対する各領域21,22,23の誘電率および透磁率は負の値になる。すなわち、各領域21,22,23は、いわゆるメタマテリアルとして機能する。メタマテリアルについては、例えば特開2013−5044において説明されているので、ここでは詳細な説明を省略する。   Next, the width and interval of each element 21a, 22a, 23a will be described. In the present embodiment, each of the regions 21, 22, and 23 has a width W1 to W3 of each element 21a, 22a, and 23a of each region 21, 22, and 23 or a gap G1 to G3 between each element 21a, 22a, and 23a. At least one of them is configured to be at least partially smaller than the wavelength of the terahertz wave used in the code pattern 20 authentication method described later. In this case, the dielectric constants and magnetic permeability of the regions 21, 22, and 23 with respect to the terahertz wave are negative values. That is, each area | region 21, 22, 23 functions as what is called a metamaterial. Since the metamaterial is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-5044, detailed description thereof is omitted here.

次に、各要素21a,22a,23aの幅および間隔の関係について説明する。本実施の形態において、各領域21,22,23は、各要素21a,22a,23aの幅W1〜W3または各要素21a,22a,23a間の間隔G1〜G3のうちの少なくともいずれか一方が互いに異なるよう、構成されている。例えば図3(a)〜(c)に示す例において、各第3要素23a間の間隔G3は、各第1要素21a間の間隔G1よりも小さくなっている。また、各第2要素22aの幅W2は、第1要素21aの幅W1および第3要素23aの幅W3よりも小さくなっており、かつ、各第2要素22a間の間隔G2は、各第1要素21a間の間隔G1および各第3要素23a間の間隔G3よりも小さくなっている。この場合、各領域21,22,23は、メタマテリアルの特性に基づいて、テラヘルツ波に対して、互いに異なる周波数応答性を示すようになる。例えば、各領域21,22,23を透過したテラヘルツ波、または各領域21,22,23によって反射されたテラヘルツ波の各周波数スペクトルには、ピークや減衰の開始などを示す特徴点が、互いに異なる周波数で現れることになる。従って、コードパターン20にテラヘルツ波を照射することによって得られる周波数スペクトルを解析して、特徴点が現れる周波数を算出することにより、コードパターン20に含まれる各領域21,22,23の種類や配列を導き出すことができる。従って、コードパターン20に記録されている情報を得ることができる。   Next, the relationship between the width and spacing of each element 21a, 22a, 23a will be described. In the present embodiment, each of the regions 21, 22, and 23 includes at least one of the widths W1 to W3 of the elements 21a, 22a, and 23a or the intervals G1 to G3 between the elements 21a, 22a, and 23a. It is configured to be different. For example, in the example shown in FIGS. 3A to 3C, the gap G3 between the third elements 23a is smaller than the gap G1 between the first elements 21a. In addition, the width W2 of each second element 22a is smaller than the width W1 of the first element 21a and the width W3 of the third element 23a, and the interval G2 between the second elements 22a is the first width of each first element 21a. It is smaller than the gap G1 between the elements 21a and the gap G3 between the third elements 23a. In this case, each of the regions 21, 22, and 23 exhibits different frequency responsiveness to the terahertz wave based on the characteristics of the metamaterial. For example, the terahertz waves transmitted through the regions 21, 22, and 23, or the frequency spectra of the terahertz waves reflected by the regions 21, 22, and 23 have different feature points indicating the start of peak and attenuation. Will appear in frequency. Therefore, by analyzing the frequency spectrum obtained by irradiating the terahertz wave to the code pattern 20 and calculating the frequency at which the feature points appear, the types and arrangement of the regions 21, 22, and 23 included in the code pattern 20 are calculated. Can be derived. Accordingly, information recorded in the code pattern 20 can be obtained.

なお図3(a)〜(c)においては、各要素21a,22a,23aが、導電性を有する導電パターン26として構成されている例を示した。しかしながら、幅や間隔に応じて異なる周波数応答性を示すことができる限りにおいて、各要素21a,22a,23aの具体的な構成が特に限られることはない。例えば、各要素21a,22a,23aは、導電性を有する導電層25に形成された開口部からなる開口パターンとして構成されていてもよい。   3A to 3C show examples in which each element 21a, 22a, 23a is configured as a conductive pattern 26 having conductivity. However, the specific configurations of the elements 21a, 22a, and 23a are not particularly limited as long as different frequency responsiveness can be exhibited depending on the width and interval. For example, each element 21a, 22a, 23a may be configured as an opening pattern including openings formed in the conductive layer 25 having conductivity.

次に、このような構成からなる本実施の形態の作用および効果について説明する。ここでは、上述の収容体100に設けられたコードパターン20を認証して、収容体100に収容されている対象物を判別するための方法について説明する。   Next, the operation and effect of the present embodiment having such a configuration will be described. Here, a method for authenticating the code pattern 20 provided in the container 100 and discriminating an object stored in the container 100 will be described.

認証装置
はじめに、コードパターン20を認証する認証方法を実施するための認証装置50について、図4を参照して説明する。図4に示すように、認証装置50は、コードパターン20にテラヘルツ波L1を照射する照射部51と、コードパターン20によって反射されたテラヘルツ波L2の周波数スペクトルを測定する測定部52と、測定部52における測定結果に基づいて、コードパターン20を解析する解析部53と、を備えている。なお照射部51、測定部52および解析部53は、一体的に構成されたものであってもよく、個別に構成されたものであってもよい。
Authentication Device First, an authentication device 50 for implementing an authentication method for authenticating the code pattern 20 will be described with reference to FIG. As illustrated in FIG. 4, the authentication device 50 includes an irradiation unit 51 that irradiates the terahertz wave L1 on the code pattern 20, a measurement unit 52 that measures the frequency spectrum of the terahertz wave L2 reflected by the code pattern 20, and a measurement unit. And an analysis unit 53 that analyzes the code pattern 20 based on the measurement result in 52. In addition, the irradiation part 51, the measurement part 52, and the analysis part 53 may be comprised integrally, and may be comprised separately.

照射部51において、テラヘルツ波からなる電磁波の発生系としては、光伝導アンテナや半導体を用いた発生系を用いることができる。また発生系として、非線形光学結晶に対してレーザー光を照射することによって生じる光パラメトリックや差周波混合等の非線形光学効果を利用して電磁波を生成する発生系を用いることもできる。その他にも、発生系として、量子カスケードレーザー(QCL:Quantum Cascade Laser)、共鳴トンネルダイオード(RTD:Resonant Tunnel Diode)、ジャイロトロン、自由電子レーザー(FEL:Free Electron Laser)等を挙げることができる。   In the irradiation unit 51, a generation system using a photoconductive antenna or a semiconductor can be used as a generation system of electromagnetic waves composed of terahertz waves. In addition, as a generation system, a generation system that generates an electromagnetic wave using a nonlinear optical effect such as optical parametric or difference frequency mixing generated by irradiating a nonlinear optical crystal with laser light can be used. In addition, examples of the generation system include a quantum cascade laser (QCL), a resonant tunnel diode (RTD), a gyrotron, and a free electron laser (FEL).

このうち、光パラメトリックや差周波混合等の非線形光学効果を利用してテラヘルツ波からなる電磁波を生成する発生系によれば、高い強度を有するテラヘルツ波を生成することができる。例えば、300mW以上の強度や、1W以上の強度を有するテラヘルツ波を生成することができる。このため、収容体100の不透明層として大きな厚みを有するものが用いられる場合であっても、収容体100から戻ってくる電磁波を十分な精度で検出することができる。例えば、光パラメトリックや差周波混合等の非線形光学効果を利用して電磁波を生成する発生系が用いられる場合、不透明層を構成する紙として、100μm〜1cmの範囲内の厚みのものを用いることができる。この結果、認証装置50によって実施される認証方法を、より広い分野にわたって利用することができるようになる。
なお非線形光学結晶とは、レーザー光などの強い光が入射した場合に、非線形の、すなわち光の電磁場に比例しない応答をする結晶のことである。また非線形光学効果とは、非線形の、すなわち光の電磁場に比例しない応答のことである。上述の光パラメトリックや差周波混合は、非線形光学効果の一種である。
Among these, a generation system that generates electromagnetic waves composed of terahertz waves using nonlinear optical effects such as optical parametric and difference frequency mixing can generate terahertz waves having high intensity. For example, a terahertz wave having an intensity of 300 mW or more or an intensity of 1 W or more can be generated. For this reason, even when a layer having a large thickness is used as the opaque layer of the container 100, the electromagnetic wave returning from the container 100 can be detected with sufficient accuracy. For example, when a generation system that generates electromagnetic waves using nonlinear optical effects such as optical parametric and difference frequency mixing is used, paper having a thickness in the range of 100 μm to 1 cm may be used as the paper constituting the opaque layer. it can. As a result, the authentication method implemented by the authentication device 50 can be used over a wider field.
The nonlinear optical crystal is a crystal that responds nonlinearly, that is, not proportional to the electromagnetic field of light when intense light such as laser light is incident. The nonlinear optical effect is a nonlinear response, that is, a response that is not proportional to the electromagnetic field of light. The optical parametric and difference frequency mixing described above are a kind of nonlinear optical effect.

測定部52としては、コードパターン20によって反射されたテラヘルツ波の強度を周波数ごとに測定して周波数スペクトルを得ることができるものが用いられる。例えば測定部52として、スペクトルアナライザが用いられる。   As the measurement unit 52, a unit that can measure the intensity of the terahertz wave reflected by the code pattern 20 for each frequency to obtain a frequency spectrum is used. For example, a spectrum analyzer is used as the measurement unit 52.

認証方法
次に、認証装置50を用いてコードパターン20を認証する認証方法について説明する。
Authentication Method Next, an authentication method for authenticating the code pattern 20 using the authentication device 50 will be described.

(照射工程)
はじめに、照射部51を用いて、収容体100の外部からコードパターン20に電磁波を照射する照射工程を実施する。上述のように、電磁波として0.1THz〜3THzの周波数範囲のテラヘルツ波が用いられるので、電磁波は、収容体本体10を透過してコードパターン20に到達することができる。なお、透過性をさらに高めるため、1THz〜2THzの電磁波が用いられてもよい。
(Irradiation process)
First, an irradiation step of irradiating the code pattern 20 with electromagnetic waves from the outside of the container 100 is performed using the irradiation unit 51. As described above, since terahertz waves having a frequency range of 0.1 THz to 3 THz are used as electromagnetic waves, the electromagnetic waves can pass through the container body 10 and reach the code pattern 20. In order to further increase the transparency, an electromagnetic wave of 1 THz to 2 THz may be used.

図5は、コードパターン20に電磁波が照射されている様子を示す図である。図5において、第1領域21に照射されている電磁波のスポットが符号54で表されている。図5に示すように、電磁波は、スポット54が複数の第1要素21aに跨るように調整されている。なお本実施の形態によれば、電磁波として、高い指向性を有するテラヘルツ波を用いているので、スポット54の大きさを高い精度で調整することができる。   FIG. 5 is a diagram illustrating a state where the code pattern 20 is irradiated with electromagnetic waves. In FIG. 5, the spot of the electromagnetic wave applied to the first region 21 is represented by reference numeral 54. As shown in FIG. 5, the electromagnetic wave is adjusted so that the spot 54 straddles the plurality of first elements 21a. According to the present embodiment, since the terahertz wave having high directivity is used as the electromagnetic wave, the size of the spot 54 can be adjusted with high accuracy.

電磁波は、第1領域21に照射された後、図5において矢印で示されているように、各領域21,22,23が並ぶ方向に沿ってスキャンされる。これによって、コードパターン20に含まれる各領域21,22,23に電磁波を順次照射することができる。電磁波をスキャンする方法が特に限られることはない。例えば、照射部51を移動させることによって各領域21,22,23を電磁波でスキャンしてもよい。若しくは、図4に示されているように、移動する搬送部55上に収容体100を載置することにより、照射部51に対して収容体100を移動させ、これによって各領域21,22,23を電磁波でスキャンしてもよい。なお、各領域21,22,23間の間隔は、スポット54が2つの複数の領域に跨り、この結果、1つの領域に基づく測定結果およびその他の領域に基づく測定結果が同時に得られてしまうことを抑制するよう、適切に設定される。   The electromagnetic wave is irradiated onto the first region 21 and then scanned along the direction in which the regions 21, 22 and 23 are arranged, as indicated by arrows in FIG. 5. As a result, it is possible to sequentially irradiate the areas 21, 22, and 23 included in the code pattern 20 with electromagnetic waves. The method for scanning electromagnetic waves is not particularly limited. For example, the regions 21, 22, and 23 may be scanned with electromagnetic waves by moving the irradiation unit 51. Alternatively, as shown in FIG. 4, the container 100 is moved with respect to the irradiation unit 51 by placing the container 100 on the moving conveyance unit 55, and thereby each region 21, 22, 22. 23 may be scanned with electromagnetic waves. In addition, as for the space | interval between each area | region 21, 22, 23, the spot 54 straddles two several area | regions, As a result, the measurement result based on one area | region and the measurement result based on another area | region will be obtained simultaneously. It is set appropriately to suppress this.

(測定工程)
次に、測定部52を用いて、コードパターン20によって反射された電磁波の周波数スペクトルを測定する測定工程を実施する。上述のように各領域21,22,23が電磁波によって順次スキャンされる場合、各領域21,22,23によって反射された電磁波の周波数スペクトルを順次得ることができる。以下の説明において、第1領域21、第2領域22および第3領域23によって反射された電磁波の周波数スペクトルを、それぞれ第1周波数スペクトルS1、第2周波数スペクトルS2および第3周波数スペクトルS3と称する。
(Measurement process)
Next, the measurement process of measuring the frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the code pattern 20 using the measurement unit 52 is performed. As described above, when the regions 21, 22 and 23 are sequentially scanned by the electromagnetic waves, the frequency spectrum of the electromagnetic waves reflected by the regions 21, 22 and 23 can be obtained sequentially. In the following description, the frequency spectra of the electromagnetic waves reflected by the first region 21, the second region 22, and the third region 23 are referred to as a first frequency spectrum S1, a second frequency spectrum S2, and a third frequency spectrum S3, respectively.

図6は、各周波数スペクトルS1,S2,S3の一例を示す図である。図6に示すように、各周波数スペクトルS1,S2,S3は、所定の周波数範囲においては、周波数が大きくなるにつれて反射率が所定の比率で減少し、また、所定の周波数範囲の前後においては、反射率がほぼ一定である、という特徴を有している。図6において、各周波数スペクトルS1,S2,S3の反射率が減少し始める点がそれぞれ特徴点として符号P1,P2,P3で示されている。また、各特徴点P1,P2,P3が現れる周波数が、符号f1,f2,f3で表されている。   FIG. 6 is a diagram illustrating an example of each frequency spectrum S1, S2, S3. As shown in FIG. 6, in each frequency spectrum S1, S2, S3, the reflectance decreases at a predetermined ratio as the frequency increases in a predetermined frequency range, and before and after the predetermined frequency range, The reflectance is almost constant. In FIG. 6, points at which the reflectances of the frequency spectra S1, S2, and S3 start to decrease are indicated by reference characters P1, P2, and P3 as feature points, respectively. The frequencies at which the feature points P1, P2, and P3 appear are represented by symbols f1, f2, and f3.

図6に示すように、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴点P1,P2,P3が現れる周波数f1,f2,f3は、互いに異なっている。この相違は、各領域21,22,23の各要素21a,22a,23aの幅や各要素21a,22a,23a間の間隔が異なることに基づいている。   As shown in FIG. 6, the frequencies f1, f2, and f3 at which the characteristic points P1, P2, and P3 of the frequency spectra S1, S2, and S3 appear are different from each other. This difference is based on the width of each element 21a, 22a, 23a of each area | region 21, 22, 23, and the space | interval between each element 21a, 22a, 23a differing.

図6に示す例においては、各特徴点P1,P2,P3として、反射率が減少する周波数範囲の下限が認定されている。しかしながら、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴が反映される限りにおいて、各特徴点P1,P2,P3として認定される点が特に限られることはない。例えば、各特徴点P1,P2,P3として、反射率が減少する周波数範囲の上限を認定してもよい。若しくは、反射率が減少する周波数範囲内の点、例えば周波数範囲の中間点を、各特徴点P1,P2,P3として認定してもよい。   In the example shown in FIG. 6, the lower limit of the frequency range in which the reflectance decreases is recognized as each feature point P1, P2, P3. However, as long as the characteristics of the frequency spectra S1, S2, and S3 are reflected, the points that are recognized as the characteristic points P1, P2, and P3 are not particularly limited. For example, as the feature points P1, P2, and P3, the upper limit of the frequency range in which the reflectance decreases may be recognized. Alternatively, a point in the frequency range where the reflectance decreases, for example, an intermediate point in the frequency range may be recognized as the feature points P1, P2, and P3.

なお、各周波数スペクトルS1,S2,S3の形状によっては、特徴点P1,P2,P3の認定が困難なことがある。例えば、反射率の減少または増加の傾きが緩やかであったり、傾きが一定ではなかったりすることにより、反射率が減少または増加する周波数範囲の上限または下限が曖昧になっていることがある。一方、各周波数スペクトルS1,S2,S3の形状によっては、特徴的な周波数の値が、周波数スペクトルS1,S2,S3を一次微分することにより得られるスペクトルに顕著に現れることがある。図7は、各周波数スペクトルS1,S2,S3における反射率の減少の傾きが一定でないと仮定した場合の、各周波数スペクトルS1,S2,S3の一次微分S1’,S2’,S3’を示す図である。この場合、図7に示すように、各周波数スペクトルS1,S2,S3の一次微分S1’,S2’,S3’にはそれぞれピークが現れる。従って、ピークの極値をとる点を、各周波数スペクトルS1,S2,S3の一次微分S1’,S2’,S3’の特徴点P1’,P2’,P3’として認定し、かつ、特徴点P1’,P2’,P3’が現れる周波数f1’,f2’,f3’を算出することにより、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴をより容易かつ正確に把握することができる。
なお図示はしないが、周波数スペクトルS1,S2,S3のさらに高次の微分に基づいて、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴を把握してもよい。
Depending on the shape of each frequency spectrum S1, S2, S3, it may be difficult to identify the feature points P1, P2, P3. For example, the upper or lower limit of the frequency range in which the reflectance decreases or increases may become ambiguous due to the gradual slope of the decrease or increase in reflectance or the fact that the slope is not constant. On the other hand, depending on the shape of each frequency spectrum S1, S2, S3, a characteristic frequency value may appear prominently in the spectrum obtained by first-order differentiation of the frequency spectra S1, S2, S3. FIG. 7 is a diagram illustrating the first derivatives S1 ′, S2 ′, and S3 ′ of the frequency spectra S1, S2, and S3 when it is assumed that the slope of the decrease in reflectance in the frequency spectra S1, S2, and S3 is not constant. It is. In this case, as shown in FIG. 7, peaks appear in the first derivatives S1 ′, S2 ′, S3 ′ of the frequency spectra S1, S2, S3, respectively. Therefore, the points taking the extreme values of the peaks are recognized as the characteristic points P1 ′, P2 ′, P3 ′ of the first derivatives S1 ′, S2 ′, S3 ′ of the frequency spectra S1, S2, S3, and the characteristic point P1 By calculating the frequencies f1 ', f2', and f3 'at which', P2 ', and P3' appear, the characteristics of the frequency spectra S1, S2, and S3 can be grasped more easily and accurately.
Although not shown, the characteristics of the frequency spectra S1, S2, and S3 may be grasped based on higher-order differentiation of the frequency spectra S1, S2, and S3.

(解析工程)
次に、測定工程の結果に基づいてコードパターン20を解析する解析工程を実施する。具体的には、各周波数スペクトルS1,S2,S3に基づいて得られた上述の周波数f1,f2,f3に基づいて、コードパターン20を解析する。なお、上述の周波数f1’,f2’,f3’に基づいて、下記のコードパターン20の解析が実施されてもよい。
(Analysis process)
Next, an analysis process for analyzing the code pattern 20 based on the result of the measurement process is performed. Specifically, the code pattern 20 is analyzed based on the above-described frequencies f1, f2, and f3 obtained based on the frequency spectra S1, S2, and S3. Note that the following analysis of the code pattern 20 may be performed based on the above-described frequencies f1 ′, f2 ′, and f3 ′.

図5から明らかなように、測定部52においては、周波数f1に特徴点P1を有する第1周波数スペクトルS1、周波数f2に特徴点P2を有する第2周波数スペクトルS2、周波数f3に特徴点を有する第3周波数スペクトルS3、および、周波数f2に特徴点を有する第2周波数スペクトルS2が順次得られる。また解析部53には、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴点P1,P2,P3が現れる周波数がそれぞれ周波数f1,f2,f3になる、という情報が予め記録されている。従って解析部53は、測定部52における測定結果に基づいて、コードパターン20が、電磁波のスキャン方向の上流側から順に並べられた第1領域21、第2領域22、第3領域23および第2領域22を含んでいる、ということを導き出すことができる。   As is apparent from FIG. 5, in the measurement unit 52, the first frequency spectrum S1 having the feature point P1 at the frequency f1, the second frequency spectrum S2 having the feature point P2 at the frequency f2, and the first feature point having the feature point at the frequency f3. A three-frequency spectrum S3 and a second frequency spectrum S2 having feature points at the frequency f2 are obtained in sequence. The analysis unit 53 records in advance information that the frequencies at which the characteristic points P1, P2, and P3 of the frequency spectra S1, S2, and S3 appear are frequencies f1, f2, and f3, respectively. Therefore, the analysis unit 53 includes the first region 21, the second region 22, the third region 23, and the second region in which the code patterns 20 are sequentially arranged from the upstream side in the scan direction of the electromagnetic wave based on the measurement result in the measurement unit 52. It can be derived that the region 22 is included.

また、上述のように各領域21,22,23にそれぞれ「1」、「2」および「3」という数字情報が割り当てられている場合、解析部53は、コードパターン20が「1232」という数字列であることを認証することができる。また、このようにして得られる数字列などに基づいて、収容体100や収容体100に収容されている対象物の様々な判別を行うことができる。例えば、対象物が適切な収容体100に収容されているかどうかの判別や、収容体100の真偽判別などを行うことができる。   Further, as described above, when the pieces of numerical information “1”, “2”, and “3” are assigned to the areas 21, 22, and 23, the analysis unit 53 indicates that the code pattern 20 has the numerical value “1232”. It can be authenticated that it is a column. Moreover, various discrimination | determination of the target object accommodated in the container 100 or the container 100 can be performed based on the numerical string etc. which are obtained in this way. For example, it is possible to determine whether or not the object is stored in an appropriate container 100, whether the container 100 is authentic, or the like.

ここで本実施の形態によれば、上述のように、コードパターン20の各領域21,22,23に含まれる情報を、各領域21,22,23によって反射された周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴点P1,P2,P3に基づいて得ることができる。特徴点P1,P2,P3としては、上述のように、周波数スペクトルの減少や増加が開始したり終了したりする点や、周波数スペクトルのピークが現れる点が認定される。従って、目視や簡易なデータ処理に基づいて容易に特徴点P1,P2,P3を算出することができる。また、特徴点P1,P2,P3に対して所定の数字や文字を割り当てておくことにより、文字列や数字列などの情報を容易に認証することができる。このため本実施の形態によれば、予め記録された情報との精密な照合を必要とする上述の特許文献2,3の場合に比べて、コードパターン20に付与された情報を、少ない工数で容易に得ることができる。   Here, according to the present embodiment, as described above, the frequency spectrums S1, S2, S3 reflected by the areas 21, 22, 23 on the information included in the areas 21, 22, 23 of the code pattern 20 are reflected. Can be obtained based on the feature points P1, P2, and P3. As described above, the feature points P1, P2, and P3 are identified as points at which the decrease or increase in the frequency spectrum starts or ends and points at which the frequency spectrum peaks appear. Therefore, the feature points P1, P2, and P3 can be easily calculated based on visual observation or simple data processing. In addition, by assigning predetermined numbers and characters to the feature points P1, P2, and P3, information such as character strings and number strings can be easily authenticated. For this reason, according to the present embodiment, the information given to the code pattern 20 can be reduced with less man-hours than in the case of the above-mentioned Patent Documents 2 and 3 that require precise collation with information recorded in advance. Can be easily obtained.

また本実施の形態によれば、各周波数スペクトルS1,S2,S3の特徴点P1,P2、P3が現れる周波数が、各領域21,22,23の各要素21a,22a,23aの幅や各要素21a,22a,23a間の間隔に基づいて定められる。このため、幅や間隔の差を適切に設定することにより、解析工程の際に、所定の特徴点を有する周波数スペクトルが、その他の特徴点を有する周波数スペクトルであるとして誤って認定されてしまうことを防ぐことができる。従って、コードパターン20の認証の精度を、要求に応じて任意に調整することができる。これに対して、上述の特許文献2,3の場合は、対象物に固有のスペクトル情報に基づいて情報を得るため、本実施の形態のような調整を実施することができない。このように本実施の形態は、柔軟性の点においても、従来技術に対する優位性を有している。   Further, according to the present embodiment, the frequency at which the characteristic points P1, P2, and P3 of each frequency spectrum S1, S2, and S3 appear is the width of each element 21a, 22a, and 23a of each region 21, 22, and 23 and each element. It is determined based on the interval between 21a, 22a and 23a. For this reason, by appropriately setting the difference in width and interval, a frequency spectrum having a predetermined feature point is erroneously recognized as a frequency spectrum having other feature points in the analysis process. Can be prevented. Therefore, the accuracy of authentication of the code pattern 20 can be arbitrarily adjusted according to the request. On the other hand, in the case of the above-mentioned Patent Documents 2 and 3, since information is obtained based on spectrum information unique to the object, adjustment as in the present embodiment cannot be performed. Thus, the present embodiment has an advantage over the prior art in terms of flexibility.

また本実施の形態によれば、上述のように、コードパターン20に照射する電磁波としてテラヘルツ波を利用している。このため、可視光や赤外線を利用する場合に比べて、メタマテリアルを構成するために要求される、コードパターン20を構成する各領域21,22,23の要素の幅や間隔の値が大きくなる。例えば、コードパターン20を構成する各領域21,22,23の要素の幅や間隔がマイクロメートルのオーダーの場合であっても、メタマテリアルとして領域21,22,23を構成することができる。このため、一般的なフォトリソグラフィー法などを用いて、メタマテリアルとして構成された領域21,22,23を含むコードパターン20を容易に作製することができる。また、テラヘルツ波を利用するので、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層によって外部から遮蔽された場所にコードパターン20が設けられている場合であっても、コードパターン20を認証することができる。   Further, according to the present embodiment, as described above, the terahertz wave is used as the electromagnetic wave applied to the code pattern 20. For this reason, compared with the case where visible light and infrared rays are used, the value of the width | variety and space | interval of the element of each area | region 21,22,23 which comprise the code pattern 20 required in order to comprise a metamaterial becomes large. . For example, even if the widths and intervals of the elements of the areas 21, 22 and 23 constituting the code pattern 20 are on the order of micrometers, the areas 21, 22 and 23 can be formed as metamaterials. For this reason, the code pattern 20 including the regions 21, 22, and 23 configured as a metamaterial can be easily manufactured by using a general photolithography method or the like. Further, since the terahertz wave is used, the code pattern 20 can be authenticated even when the code pattern 20 is provided at a place shielded from the outside by an opaque layer made of paper or an opaque resin.

また本実施の形態によれば、コードパターン20自体の形状ではなくコードパターン20の周波数特性に基づいて、コードパターン20に含まれる情報が認証される。従って、ノイズが存在する場合であっても、コードパターン20の誤認証が発生することを抑制することができる。また、コードパターン20に含まれる情報に依らず、様々な形状をコードパターン20に付与することができる。このため、コードパターン20の意匠性を向上させることができる。   Further, according to the present embodiment, information included in the code pattern 20 is authenticated based on the frequency characteristics of the code pattern 20 instead of the shape of the code pattern 20 itself. Therefore, even if noise exists, it is possible to suppress the erroneous authentication of the code pattern 20 from occurring. Further, various shapes can be given to the code pattern 20 regardless of the information included in the code pattern 20. For this reason, the designability of the code pattern 20 can be improved.

なお、上述した実施の形態に対して様々な変更を加えることが可能である。以下、図面を参照しながら、変形例について説明する。以下の説明および以下の説明で用いる図面では、上述した実施の形態と同様に構成され得る部分について、上述の実施の形態における対応する部分に対して用いた符号と同一の符号を用いることとし、重複する説明を省略する。また、上述した実施の形態において得られる作用効果が変形例においても得られることが明らかである場合、その説明を省略することもある。   Note that various modifications can be made to the above-described embodiment. Hereinafter, modified examples will be described with reference to the drawings. In the following description and the drawings used in the following description, the same reference numerals as those used for the corresponding parts in the above embodiment are used for the parts that can be configured in the same manner as in the above embodiment. A duplicate description is omitted. In addition, when it is clear that the operational effects obtained in the above-described embodiment can be obtained in the modified example, the description thereof may be omitted.

(透過電磁波が用いられる例)
上述の本実施の形態においては、測定部52を用いた測定工程において、コードパターン20の各領域21,22,23によって反射された電磁波の周波数スペクトルが測定される例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、測定工程において、コードパターン20の各領域21,22,23を透過した電磁波の周波数スペクトルを測定してもよい。この場合、図8に示すように、測定部52は、コードパターン20が設けられた収容体100を透過した電磁波L2を検出することができるよう配置される。また解析工程においては、コードパターン20の各領域21,22,23を透過した電磁波の周波数スペクトルに現れる特徴点に基づいて、コードパターン20を認証する。
(Examples where transmitted electromagnetic waves are used)
In the above-described embodiment, the example in which the frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by each of the regions 21, 22 and 23 of the code pattern 20 is measured in the measurement process using the measurement unit 52 has been described. However, the present invention is not limited to this, and the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through each of the regions 21, 22 and 23 of the code pattern 20 may be measured in the measurement process. In this case, as shown in FIG. 8, the measurement unit 52 is arranged so as to detect the electromagnetic wave L <b> 2 that has passed through the container 100 provided with the code pattern 20. Further, in the analysis step, the code pattern 20 is authenticated based on the feature points appearing in the frequency spectrum of the electromagnetic waves that have passed through the areas 21, 22, and 23 of the code pattern 20.

(コードパターンの変形例)
また上述の本実施の形態においては、コードパターン20の各領域21,22,23の各要素21a,22a,23aが、導電性を有する四角形状の導電パターン26として構成される例を示したが、これに限られることはない。各周波数スペクトルS1,S2,S3に、各要素21a,22a,23aの幅や間隔に依存した特徴点が現れる限りにおいて、以下に図9A乃至図16を参照して説明するように、各領域21,22,23に関して様々なパターン形状を採用することができる。
(Modified code pattern)
Further, in the above-described embodiment, the example in which the elements 21a, 22a, and 23a of the regions 21, 22, and 23 of the code pattern 20 are configured as the rectangular conductive pattern 26 having conductivity is shown. However, it is not limited to this. As long as feature points depending on the widths and intervals of the elements 21a, 22a, and 23a appear in the frequency spectra S1, S2, and S3, as described below with reference to FIGS. , 22, 23 can employ various pattern shapes.

なお、各領域21,22,23においては原則として、同一のタイプのパターン形状が採用される。例えば図9Aに示すようにワイヤーグリッドタイプのパターンが採用される場合、各領域21,22,23の各要素21a,22a,23aはいずれもワイヤーグリッド形状を有している。この場合、各領域21,22,23においては、要素の幅および要素間の間隔が異なるのみである。従って、以下の説明においては、第1領域21のパターン形状についてのみ説明し、第2領域22および第3領域23のパターン形状に関する説明を省略する。   In principle, the same type of pattern shape is employed in each of the regions 21, 22, and 23. For example, when a wire grid type pattern is employed as shown in FIG. 9A, each of the elements 21a, 22a, 23a of the regions 21, 22, 23 has a wire grid shape. In this case, in each of the regions 21, 22, and 23, only the element width and the interval between the elements are different. Therefore, in the following description, only the pattern shape of the first region 21 will be described, and description regarding the pattern shape of the second region 22 and the third region 23 will be omitted.

また、各領域21,22,23を透過した電磁波の周波数スペクトルと、各領域21,22,23によって反射された電磁波の周波数スペクトルとは、各領域21,22,23における吸収を無視すれば、互いに反転関係にある。従って、以下の説明においては、周波数スペクトルとして、第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルのみ示し、第1領域21によって反射された電磁波の周波数スペクトルの呈示を省略する。   Further, if the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through each of the regions 21, 22 and 23 and the frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by each of the regions 21, 22 and 23 are ignored by absorption in each of the regions 21, 22 and 23, They are in an inverted relationship. Therefore, in the following description, only the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the first region 21 is shown as the frequency spectrum, and the presentation of the frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the first region 21 is omitted.

〔第1の変形例〕
図9Aは、ワイヤーグリッドタイプの第1領域21を示す平面図であり、図9Bは、図9Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図9Aに示すように、第1領域21は、線状に延びる複数の第1要素21aを含んでいる。各第1要素21aは、各々が延びる方向とは直交する方向に沿って並べられている。また第1要素21aは、導電性を有する導電パターン26として構成されている。
[First Modification]
FIG. 9A is a plan view showing a first region 21 of a wire grid type, and FIG. 9B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 9A. As shown in FIG. 9A, the first region 21 includes a plurality of first elements 21a extending linearly. The first elements 21a are arranged along a direction orthogonal to the extending direction. The first element 21a is configured as a conductive pattern 26 having conductivity.

本変形例においては、図9Bに示すように、周波数スペクトルとして、図9Aに示す電場Eおよび磁場Hを有する偏光Aに関する周波数スペクトルS1Aと、偏光Bに関する周波数スペクトルS1Bとが測定される。偏光Aは、各第1要素21aが延びる方向に平行な電場Eと、各第1要素21aが延びる方向に直交する磁場Hと、を有している。一方、偏光Bは、各第1要素21aが延びる方向に平行な磁場Hと、各第1要素21aが延びる方向に直交する電場Eと、を有している。   In this modification, as shown in FIG. 9B, the frequency spectrum S1A related to the polarization A having the electric field E and the magnetic field H shown in FIG. 9A and the frequency spectrum S1B related to the polarization B are measured as the frequency spectrum. The polarized light A has an electric field E parallel to the direction in which each first element 21a extends, and a magnetic field H orthogonal to the direction in which each first element 21a extends. On the other hand, the polarized light B has a magnetic field H parallel to the direction in which each first element 21a extends, and an electric field E orthogonal to the direction in which each first element 21a extends.

周波数スペクトルS1AおよびS1Bにおいて、透過率は、所定の周波数以上になると増加および減少し始める。従って、透過率が増加および減少し始める点を、特徴点P1AおよびP1Bとして認定することができる。また、特徴点P1AおよびP1Bが現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   In the frequency spectra S1A and S1B, the transmittance starts to increase and decrease when the frequency becomes equal to or higher than a predetermined frequency. Therefore, the points where the transmittance starts to increase and decrease can be identified as the feature points P1A and P1B. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature points P1A and P1B appear.

〔第2の変形例〕
図10Aは、メッシュタイプの第1領域21を示す平面図であり、図10Bは、図10Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図10Aに示すように、第1領域21は、メッシュ状のパターンを形成するよう配置された複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電層25に形成された開口パターン27として構成されている。
[Second Modification]
FIG. 10A is a plan view showing a mesh-type first region 21, and FIG. 10B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 10A. As shown to FIG. 10A, the 1st area | region 21 contains the some 1st element 21a arrange | positioned so that a mesh-shaped pattern may be formed. The first element 21 a is configured as an opening pattern 27 formed in the conductive layer 25.

図10Bに示すように、周波数スペクトルS1において、透過率は、所定の周波数以上になると減少し始める。従って、透過率が減少し始める点を、特徴点P1として認定することができる。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 10B, in the frequency spectrum S1, the transmittance starts to decrease when the frequency becomes a predetermined frequency or higher. Therefore, the point where the transmittance starts to decrease can be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第3の変形例〕
図11Aは、メッシュタイプの第1領域21を示す平面図であり、図11Bは、図11Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図11Aに示すように、第1領域21は、メッシュ状のパターンを形成するよう配置された複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電性を有する導電パターン26として構成されている。
[Third Modification]
FIG. 11A is a plan view showing a mesh-type first region 21, and FIG. 11B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 11A. As shown to FIG. 11A, the 1st area | region 21 contains the some 1st element 21a arrange | positioned so that a mesh-shaped pattern may be formed. The first element 21a is configured as a conductive pattern 26 having conductivity.

図11Bに示すように、周波数スペクトルS1において、透過率は、所定の周波数以下になると減少し始める。従って、透過率が減少し始める点を、特徴点P1として認定することができる。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 11B, in the frequency spectrum S1, the transmittance starts to decrease when the frequency becomes equal to or lower than a predetermined frequency. Therefore, the point where the transmittance starts to decrease can be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第4の変形例〕
図12Aは、三角格子タイプの第1領域21を示す平面図であり、図12Bは、図12Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図12Aに示すように、第1領域21は、三角格子状に配置された円形状の複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電性を有する導電パターン26として構成されている。
[Fourth Modification]
12A is a plan view showing a triangular lattice type first region 21, and FIG. 12B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 12A. As shown in FIG. 12A, the first region 21 includes a plurality of circular first elements 21a arranged in a triangular lattice pattern. The first element 21a is configured as a conductive pattern 26 having conductivity.

図12Bに示すように、周波数スペクトルS1は、負のピークを有している。従って、ピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定することができる。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 12B, the frequency spectrum S1 has a negative peak. Therefore, the point where the peak takes the extreme value can be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第5の変形例〕
図13Aは、三角格子タイプの第1領域21を示す平面図であり、図13Bは、図13Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図13Aに示すように、第1領域21は、三角格子状に配置された円形状の複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電層25に形成された開口パターン27として構成されている。
[Fifth Modification]
FIG. 13A is a plan view showing a triangular lattice type first region 21, and FIG. 13B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 13A. As shown in FIG. 13A, the first region 21 includes a plurality of circular first elements 21a arranged in a triangular lattice pattern. The first element 21 a is configured as an opening pattern 27 formed in the conductive layer 25.

図13Bに示すように、周波数スペクトルS1は、正のピークを有している。従って、ピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定することができる。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 13B, the frequency spectrum S1 has a positive peak. Therefore, the point where the peak takes the extreme value can be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第6の変形例〕
図14Aは、分割リングタイプの第1領域21を示す平面図であり、図14Bは、図14Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図14Aに示すように、第1領域21は、リングを一部分で分割することによって得られる形状を有する、規則的に配置された複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電性を有する導電パターン26として構成されている。
[Sixth Modification]
FIG. 14A is a plan view showing a split ring type first region 21, and FIG. 14B is a diagram showing an example of a frequency spectrum of an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 14A. As shown in FIG. 14A, the first region 21 includes a plurality of regularly arranged first elements 21a having a shape obtained by dividing a ring in part. The first element 21a is configured as a conductive pattern 26 having conductivity.

図14Bに示すように、周波数スペクトルS1は、第1の負のピークと、第1の負のピークよりも高周波数側に現れる第2の負のピークと、を有している。第1のピークは、第2のピークよりも大きくなっている。この場合、第1のピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定することができる。若しくは、第2のピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定してもよい。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 14B, the frequency spectrum S1 has a first negative peak and a second negative peak appearing on a higher frequency side than the first negative peak. The first peak is larger than the second peak. In this case, the point at which the first peak takes an extreme value can be recognized as the feature point P1. Alternatively, the point where the second peak takes an extreme value may be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第7の変形例〕
図15Aは、分割リングタイプの第1領域21を示す平面図であり、図15Bは、図15Aに示す第1領域21を透過した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図15Aに示すように、第1領域21は、リングを一部分で分割することによって得られる形状を有する、規則的に配置された複数の第1要素21aを含んでいる。また第1要素21aは、導電層25に形成された開口パターン27として構成されている。
[Seventh Modification]
FIG. 15A is a plan view showing the first region 21 of the split ring type, and FIG. 15B is a diagram showing an example of the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the first region 21 shown in FIG. 15A. As shown in FIG. 15A, the first region 21 includes a plurality of regularly arranged first elements 21a having a shape obtained by dividing a ring in part. The first element 21 a is configured as an opening pattern 27 formed in the conductive layer 25.

図15Bに示すように、周波数スペクトルS1は、第1の正のピークと、第1の正のピークよりも高周波数側に現れる第2の正のピークと、を有している。第1のピークは、第2のピークよりも大きくなっている。この場合、第1のピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定することができる。若しくは、第2のピークが極値をとる点を、特徴点P1として認定してもよい。また、特徴点P1が現れる周波数f1に基づいて、コードパターン20を認証することができる。   As shown in FIG. 15B, the frequency spectrum S1 has a first positive peak and a second positive peak that appears on a higher frequency side than the first positive peak. The first peak is larger than the second peak. In this case, the point at which the first peak takes an extreme value can be recognized as the feature point P1. Alternatively, the point where the second peak takes an extreme value may be recognized as the feature point P1. Further, the code pattern 20 can be authenticated based on the frequency f1 at which the feature point P1 appears.

〔第8の変形例〕
図16に示すように、第1領域21の第1要素21aは、第1リング28aと、第1リング28aの内側に配置された第2リング28bと、第1リング28aと第2リング28bとの間を接続する接続部28cと、を含んでいてもよい。図16に示す例においては、90度の角度を成すよう配置された2つの接続部28cが設けられている。しかしながら、接続部28cの数や配置が特に限られることはない。例えば、1つの接続部28cのみが設けられていてもよい。その他にも、180度の角度を成すよう配置された2つの接続部28cが設けられていてもよい。
[Eighth Modification]
As shown in FIG. 16, the first element 21a of the first region 21 includes a first ring 28a, a second ring 28b disposed inside the first ring 28a, a first ring 28a and a second ring 28b. And a connection portion 28c for connecting the two. In the example shown in FIG. 16, two connecting portions 28 c arranged to form an angle of 90 degrees are provided. However, the number and arrangement of the connection portions 28c are not particularly limited. For example, only one connection portion 28c may be provided. In addition, two connection portions 28c arranged to form an angle of 180 degrees may be provided.

本変形例によれば、図示はしないが、第1領域21を透過した電磁波または第1領域21によって反射された電磁波の周波数スペクトルは、複数の正のピークや負のピークを有することができる。このため、周波数スペクトルの特徴点をピークに基づいて認定することができる。また、接続部28cの数や配置を変化させることによって、ピークの数や位置を変化させることができる。このため、周波数スペクトルの特徴点を任意により容易に設定することができる。   According to this modification, although not shown, the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the first region 21 or the electromagnetic wave reflected by the first region 21 can have a plurality of positive peaks and negative peaks. For this reason, the feature point of a frequency spectrum can be recognized based on a peak. In addition, the number and position of the peaks can be changed by changing the number and arrangement of the connecting portions 28c. For this reason, the characteristic points of the frequency spectrum can be set arbitrarily and easily.

なお図16に示す例においては、第1リング28a、第2リング28bおよび接続部28cが導電パターン26として構成される例を示したが、これに限られることはない。上述のいくつかの変形例の場合と同様に、第1リング28a、第2リング28bおよび接続部28cを、導電層25に形成された開口パターン27として構成してもよい。   In the example illustrated in FIG. 16, the first ring 28 a, the second ring 28 b, and the connection portion 28 c are configured as the conductive pattern 26, but the present invention is not limited to this. As in the case of the several modifications described above, the first ring 28 a, the second ring 28 b, and the connection portion 28 c may be configured as the opening pattern 27 formed in the conductive layer 25.

また第1要素21aは、第2リング28bの内側に設けられた円形状のパターンをさらに含んでいてもよい。この場合、接続部28cは、第1リング28aと第2リング28bとの間を接続するよう延びていてもよく、若しくは、円形状のパターンと第2リング28bとの間を接続するよう延びていてもよい。また接続部28cは、第1リング28aと円形状のパターンとの間を接続するよう、第2リング28bを貫通して延びていてもよい。   The first element 21a may further include a circular pattern provided inside the second ring 28b. In this case, the connection portion 28c may extend so as to connect between the first ring 28a and the second ring 28b, or extend so as to connect between the circular pattern and the second ring 28b. May be. Further, the connecting portion 28c may extend through the second ring 28b so as to connect the first ring 28a and the circular pattern.

(コードパターンが設けられる場所の変形例)
また上述の本実施の形態においては、収容体100を構成する積層体の内部にコードパターン20が設けられる例を示したが、しかしながら、コードパターン20が設けられる場所が特に限られることはない。
(Variation of the place where the code pattern is provided)
In the above-described embodiment, the example in which the code pattern 20 is provided in the laminated body constituting the container 100 has been described. However, the place where the code pattern 20 is provided is not particularly limited.

例えば図17に示すように、コードパターン20は、収容体本体10の内面10yに設けられていてもよい。この場合、収容体100は、第1層13および第2層14を含む紙や樹脂の積層体ではなく、単層の紙や樹脂で構成されていてもよい。   For example, as shown in FIG. 17, the code pattern 20 may be provided on the inner surface 10 y of the container body 10. In this case, the container 100 may be composed of a single layer of paper or resin instead of a paper or resin laminate including the first layer 13 and the second layer 14.

また図18に示すように、コードパターン20は、紙又は不透明な樹脂で構成された第1層61及び第2層62を含む積層体600の内部に設けられていてもよい。積層体600は、例えば本のハードカバーなどとして用いられ得る。この場合、コードパターン20は、本に関する情報を含んでいてもよい。   As shown in FIG. 18, the code pattern 20 may be provided inside a stacked body 600 including a first layer 61 and a second layer 62 made of paper or opaque resin. The laminated body 600 can be used as a hard cover of a book, for example. In this case, the code pattern 20 may include information related to the book.

また上述の本実施の形態および各変形例においては、コードパターン20が、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層によって外部から遮蔽された場所に設けられる例を示したが、これに限られることはない。例えばコードパターン20は、外部から視認され得る場所に設けられていてもよい。上述のように、コードパターン20に含まれる情報は、コードパターン20自体の形状ではなくコードパターン20の周波数特性に基づいて認証される。このため、コードパターン20に含まれる情報に依らず、様々な形状をコードパターン20に付与することができる。従って、高い意匠性を有するコードパターン20を、外部から視認され得る場所に設けることができる。また、コードパターン20自体の形状には情報が含まれていないため、外部から視認され得る場所にコードパターン20が設けられている場合であっても、コードパターン20に含まれる情報は、関係者以外には容易には認証されない。   Further, in the above-described embodiment and each modification, the code pattern 20 is shown in an example where the code pattern 20 is provided at a location shielded from the outside by an opaque layer made of paper or opaque resin. However, the present invention is not limited to this. Absent. For example, the code pattern 20 may be provided in a place where it can be visually recognized from the outside. As described above, the information included in the code pattern 20 is authenticated based on the frequency characteristics of the code pattern 20 instead of the shape of the code pattern 20 itself. For this reason, various shapes can be given to the code pattern 20 regardless of the information included in the code pattern 20. Therefore, the code pattern 20 having high design properties can be provided in a place where it can be visually recognized from the outside. Further, since the shape of the code pattern 20 itself does not include information, even if the code pattern 20 is provided in a place where it can be visually recognized from the outside, the information included in the code pattern 20 It is not easily authenticated other than.

(照射工程および測定工程の変形例)
また上述の本実施の形態においては、照射工程において、電磁波が、各領域21,22,23が並ぶ方向に沿ってスキャンされる例を示したが、これに限られることはない。例えば、測定工程において、コードパターン20のうち電磁波が照射されるスポット54は、各領域21,22,23のうち少なくとも2つの領域に跨っていてもよい。例えば、スポット54は、第1領域21および第2領域22の両方を少なくとも部分的に含んでいてもよい。この場合、第1領域21を透過した電磁波または第1領域21によって反射された電磁波と、第2領域22を透過した電磁波または第2領域22によって反射された電磁波と、が同時に発生する。これら電磁波を同時に測定することにより、第1領域21に基づく第1周波数スペクトルS1と第2領域22に基づく第2周波数スペクトルS2とを同時に得てもよい。この場合、測定部52として、コードパターン20の複数の領域からの電磁波を、複数の受信素子をアレイ状に配列した受信システムで面状に検出する装置が用いられてもよい。例えば、測定部52として、測定対象となる領域を細かく区画した各単位領域における周波数スペクトルをそれぞれ得ることができるハイパースペクトルカメラを用いることができる。これによって、コードパターン20に含まれる各領域の配列をより迅速に認識することができ、従って、コードパターン20をより迅速に認証することができる。
(Modification of irradiation process and measurement process)
In the above-described embodiment, the example in which the electromagnetic wave is scanned along the direction in which the regions 21, 22, and 23 are arranged in the irradiation process is described, but the present invention is not limited to this. For example, in the measurement process, the spot 54 irradiated with the electromagnetic wave in the code pattern 20 may straddle at least two regions of the regions 21, 22, and 23. For example, the spot 54 may at least partially include both the first region 21 and the second region 22. In this case, an electromagnetic wave transmitted through the first region 21 or an electromagnetic wave reflected by the first region 21 and an electromagnetic wave transmitted through the second region 22 or an electromagnetic wave reflected by the second region 22 are generated simultaneously. By measuring these electromagnetic waves simultaneously, the first frequency spectrum S1 based on the first region 21 and the second frequency spectrum S2 based on the second region 22 may be obtained simultaneously. In this case, as the measurement unit 52, a device that detects electromagnetic waves from a plurality of regions of the code pattern 20 in a planar shape with a reception system in which a plurality of receiving elements are arranged in an array may be used. For example, as the measurement unit 52, a hyperspectral camera that can obtain a frequency spectrum in each unit region obtained by finely dividing a region to be measured can be used. Thereby, the arrangement of each region included in the code pattern 20 can be recognized more quickly, and therefore the code pattern 20 can be authenticated more quickly.

(その他の変形例)
また上述の本実施の形態および各変形例においては、コードパターン20が、第1領域21、第2領域22および第3領域23という3種類の領域を含む例を示したが、しかしながら、コードパターン20に含まれる領域の種類の数が特に限られることはない。例えばコードパターン20は、第1情報を含む第1領域21と、第2情報を含む第2領域22と、から構成されていてもよい。若しくは、コードパターン20は、上述の領域21,22,23に加えて、第4情報を含む第4領域またはさらなる領域を含んでいてもよい。
若しくは、コードパターン20は、一種類の情報のみを含んでいてもよい。例えば、第1の箱に取り付けられるコードパターン20は、第1情報を含む第1領域21のみを含み、第2の箱に取り付けられるコードパターン20は、第2情報を含む第2領域22のみを含んでいてもよい。この場合であっても、各箱にテラヘルツ波を照射した場合に得られる周波数スペクトルに基づいて、第1情報を含むコードパターン20が付された第1の箱と、第2情報を含むコードパターンが付された第2の箱とを容易に判別することができる。
(Other variations)
In the above-described embodiment and each modification, the code pattern 20 includes an example including three types of areas, that is, the first area 21, the second area 22, and the third area 23. However, the code pattern 20 The number of types of areas included in 20 is not particularly limited. For example, the code pattern 20 may be composed of a first area 21 including first information and a second area 22 including second information. Alternatively, the code pattern 20 may include a fourth region including the fourth information or a further region in addition to the regions 21, 22, and 23 described above.
Alternatively, the code pattern 20 may include only one type of information. For example, the code pattern 20 attached to the first box includes only the first area 21 including the first information, and the code pattern 20 attached to the second box includes only the second area 22 including the second information. May be included. Even in this case, based on the frequency spectrum obtained when each box is irradiated with terahertz waves, the first box with the code pattern 20 including the first information and the code pattern including the second information It is possible to easily discriminate between the second box marked with.

なお、上述した実施の形態に対するいくつかの変形例を説明してきたが、当然に、複数の変形例を適宜組み合わせて適用することも可能である。   In addition, although some modified examples with respect to the above-described embodiment have been described, naturally, a plurality of modified examples can be applied in combination as appropriate.

次に、本発明を実施例により更に具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例の記載に限定されるものではない。   EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further more concretely, this invention is not limited to description of a following example, unless the summary is exceeded.

はじめに、厚さ50μmのPETフィルムを準備し、次に、PETフィルムの両面にハードコート層を設けた。ハードコート層は、PETフィルムの表面を保護すること、および、印刷への耐性を高めることなどを目的として設けられる、樹脂製のものである。ハードコート層の形成方法は特には限られないが、ここでは塗工法を採用した。その後、PETフィルムの両面に設けられたハードコート層のうちの一方のハードコート層の表面に、粘着層および剥離層を、塗工法によって形成した。   First, a PET film having a thickness of 50 μm was prepared, and then a hard coat layer was provided on both sides of the PET film. The hard coat layer is made of resin and is provided for the purpose of protecting the surface of the PET film and increasing the resistance to printing. The method for forming the hard coat layer is not particularly limited, but a coating method is employed here. Thereafter, an adhesive layer and a release layer were formed on the surface of one of the hard coat layers provided on both sides of the PET film by a coating method.

次に、PETフィルムの両面に設けられたハードコート層のうちの他方のハードコート層の表面に、四角格子状の金属メッシュパターンをマスクプレートとして用いて、真空蒸着法により、クロムを製膜した。これによって、四角格子状に配置された四角形状の複数の要素21a,22a,23aを有する領域21,22,23を含む、厚み0.1μmのクロム製のコードパターン20を得た。すなわち、表面にクロムのコードパターン20を有するコードラベルを作製した。この際、第1要素21aの幅W1および各第1要素21a間の間隔G1を、185μmおよび75μmに設定した。また、第2要素22aの幅W2および各第2要素22a間の間隔G2を、50μmおよび20μmに設定した。また、第3要素23aの幅W3および各第3要素23a間の間隔G3を、185μmおよび35μmに設定した。   Next, on the surface of the other hard coat layer provided on both sides of the PET film, chromium was formed by vacuum deposition using a square mesh metal mesh pattern as a mask plate. . Thus, a chromium code pattern 20 having a thickness of 0.1 μm including the regions 21, 22, and 23 having a plurality of quadrangular elements 21 a, 22 a, and 23 a arranged in a square lattice pattern was obtained. That is, a code label having a chromium code pattern 20 on the surface was produced. At this time, the width W1 of the first element 21a and the gap G1 between the first elements 21a were set to 185 μm and 75 μm. Further, the width W2 of the second element 22a and the gap G2 between the second elements 22a were set to 50 μm and 20 μm. The width W3 of the third element 23a and the gap G3 between the third elements 23a were set to 185 μm and 35 μm.

次に、厚さ50mmの段ボール製の箱の内側に、剥離層を剥いだコードラベルを貼付した。また、コードラベルが外部から視認できないように段ボール箱を封緘した。   Next, a code label from which the release layer was peeled was attached to the inside of a cardboard box having a thickness of 50 mm. The cardboard box was sealed so that the code label could not be visually recognized from the outside.

その後、段ボール箱の外側から、コードラベルが貼付された位置に向けてテラヘルツ波を照射した。テラヘルツ波の光源としては、非線形光学結晶LiNbOに対しYAGレーザーのレーザー光を照射することによって生じる非線形光学効果を利用してテラヘルツ波を生成する、光注入型テラヘルツパラメトリック光源を使用した。テラヘルツ波の周波数は0.1〜1THzとした。テラヘルツ波は、段ボール箱を透過してコードラベルに到達した。コードラベルのコードパターン20の各領域21,22,23によって反射されたテラヘルツ波は、段ボール箱を再び透過して、段ボール箱の外に設置したテラヘルツ波用パイロ検出器に到達した。図19に、テラヘルツ波用パイロ検出器によって測定されたテラヘルツ波の周波数スペクトルS1,S2,S3を示す。 Then, terahertz waves were irradiated from the outside of the cardboard box toward the position where the code label was affixed. As the light source of the terahertz wave, a light injection type terahertz parametric light source that generates a terahertz wave using a nonlinear optical effect generated by irradiating the nonlinear optical crystal LiNbO 3 with a YAG laser beam was used. The frequency of the terahertz wave was 0.1 to 1 THz. The terahertz wave passed through the cardboard box and reached the code label. The terahertz waves reflected by the areas 21, 22, and 23 of the code pattern 20 of the code label are transmitted again through the cardboard box and reach the terahertz wave pyro detector installed outside the cardboard box. FIG. 19 shows frequency spectra S1, S2, and S3 of the terahertz wave measured by the terahertz wave pyro detector.

各周波数スペクトルS1,S2,S3において、反射率が低下し始める点を特徴点P1,P2,P3として認定した。特徴点P1,P2,P3が現れる周波数f1,f2,f3は、それぞれ540GHz,670GHz,430GHzであった。各周波数f1,f2,f3は十分に離れており、従って、各周波数スペクトルS1,S2,S3を容易に判別することが可能である。   In each frequency spectrum S1, S2, S3, the points where the reflectance starts to decrease were identified as the feature points P1, P2, P3. The frequencies f1, f2, and f3 at which the feature points P1, P2, and P3 appear were 540 GHz, 670 GHz, and 430 GHz, respectively. The frequencies f1, f2, and f3 are sufficiently separated from each other, so that the frequency spectra S1, S2, and S3 can be easily distinguished.

図19に示す特徴点P1,P2,P3が現れる周波数f1,f2,f3を、コードパターン20の各領域21,22,23の要素21a,22a,23aの幅および要素21a,22a,23a間の間隔の合計値に対してプロットした結果を、図20に示す。図20に示すように、特徴点が現れる周波数と、要素の幅および間隔の合計値とは、互いにほぼ比例関係にあることが確認された。   The frequencies f1, f2, and f3 at which the characteristic points P1, P2, and P3 shown in FIG. 19 appear are defined as the widths of the elements 21a, 22a, and 23a in the areas 21, 22, and 23 of the code pattern 20 and the elements 21a, 22a, and 23a. The results plotted against the total value of the intervals are shown in FIG. As shown in FIG. 20, it was confirmed that the frequency at which the feature point appears and the total value of the element width and the interval are substantially proportional to each other.

10 収容体本体
10x 外面
10y 内面
11 封筒部
12 フラップ部
13,61 第1層
14,62 第2層
15 第3層
20 コードパターン
21 第1領域
21a 第1要素
22 第2領域
22a 第2要素
23 第3領域
23a 第3要素
25 導電層
26 導電パターン
27 開口パターン
28a 第1円周
28b 第2円周
28c 接続部
30 遮蔽物
31 紙
50 認証装置
51 照射部
52 測定部
53 スポット
55 搬送部
100 収容体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Container body 10x Outer surface 10y Inner surface 11 Envelope part 12 Flap part 13,61 1st layer 14,62 2nd layer 15 3rd layer 20 Code pattern 21 1st area | region 21a 1st element 22 2nd area | region 22a 2nd element 23 3rd area | region 23a 3rd element 25 Conductive layer 26 Conductive pattern 27 Opening pattern 28a 1st circumference 28b 2nd circumference 28c Connection part 30 Shielding object 31 Paper 50 Authentication apparatus 51 Irradiation part 52 Measurement part 53 Spot 55 Conveyance part 100 Accommodation body

Claims (7)

規則的に配置された複数の第1要素を含む第1領域規則的に配置された複数の第2要素を含む第2領域及び規則的に配置された複数の第3要素を含む第3領域を少なくとも含むコードパターンに電磁波を照射する照射工程と、
前記コードパターンを透過した前記電磁波、または前記コードパターンによって反射された前記電磁波の周波数スペクトルを測定する測定工程と、
前記測定工程の結果に基づいて、前記コードパターンを解析する解析工程と、を備え、
各第1要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、
前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、
各第2要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、
前記第2領域の各第2要素の幅または各第2要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、かつ、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔と異なり、
各第3要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、
前記第3領域の各第3要素の幅または各第3要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、かつ、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔並びに前記第2領域の各第2要素の幅または各第2要素間の間隔と異なり、
前記周波数スペクトルは、前記第1領域を透過した前記電磁波、または前記第1領域によって反射された前記電磁波の第1周波数スペクトルと、前記第2領域を透過した前記電磁波、または前記第2領域によって反射された前記電磁波の第2周波数スペクトルと、前記第3領域を透過した前記電磁波、または前記第3領域によって反射された前記電磁波の第3周波数スペクトルと、を含み、
前記解析工程において、前記コードパターンは、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分に特徴点が現れる周波数に基づいて解析され、
前記特徴点は、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分が減少または増加し始める点、若しくは、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分に現れるピークの極値をとる点であり、
前記特徴点が現れる周波数と、前記特徴点に対応する前記第1要素、前記第2要素及び前記第3要素の幅および間隔の合計値とは、一次関数の関係にある、コードパターンの認証方法。
Third region including regularly arranged a plurality of first region comprising a first element, regularly arranged a plurality of second regions and regularly arranged plurality of third element comprises a second element An irradiation step of irradiating an electromagnetic wave to a code pattern including at least,
A measurement step of measuring a frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the code pattern or the electromagnetic wave reflected by the code pattern;
An analysis step of analyzing the code pattern based on the result of the measurement step,
Each first element is configured as a conductive pattern having conductivity, or is configured as an opening pattern formed in a conductive layer having conductivity,
The width of each first element in the first region or the spacing between the first elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave,
Each second element is configured as a conductive pattern having conductivity, or is configured as an opening pattern formed in a conductive layer having conductivity,
The width of each second element in the second region or the interval between the second elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the width of each first element in the first region or each second element. Unlike the spacing between one element,
Each third element is configured as a conductive pattern having conductivity, or is configured as an opening pattern formed in a conductive layer having conductivity.
The width of each third element in the third region or the interval between the third elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the width of each first element in the first region or each first element. Unlike the spacing between one element and the width of each second element in the second region or the spacing between each second element,
The frequency spectrum is reflected by the electromagnetic wave transmitted through the first region or the first frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the first region and the electromagnetic wave transmitted through the second region or by the second region. The second frequency spectrum of the electromagnetic wave, and the electromagnetic wave transmitted through the third region, or the third frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the third region ,
In the analysis step, the code pattern is analyzed based on a frequency at which a feature point appears in each frequency spectrum or a first derivative of each frequency spectrum,
The feature point is a point at which each frequency spectrum or the first derivative of each frequency spectrum starts to decrease or increase, or a point that takes an extreme value of a peak appearing in each frequency spectrum or the first derivative of each frequency spectrum,
A code pattern authentication method in which a frequency at which the feature point appears and a total value of widths and intervals of the first element, the second element, and the third element corresponding to the feature point have a linear function relationship .
前記照射工程において、前記電磁波として、100μm〜3mmの波長範囲内の電磁波が用いられ、
前記コードパターンは、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層によって外部から遮蔽された場所に設けられており、
前記照射工程において、前記電磁波は、前記不透明層を透過して前記コードパターンに到達する、請求項1に記載のコードパターンの認証方法。
In the irradiation step, an electromagnetic wave within a wavelength range of 100 μm to 3 mm is used as the electromagnetic wave,
The code pattern is provided in a place shielded from the outside by an opaque layer made of paper or opaque resin,
The code pattern authentication method according to claim 1, wherein, in the irradiation step, the electromagnetic wave reaches the code pattern through the opaque layer.
前記コードパターンは、紙又は不透明な樹脂からなる不透明層を含む収容体のうち、前記収容体の外面以外の場所に設けられており、
前記収容体には対象物が収容されており、
前記コードパターンの解析結果に基づいて、前記対象物が判別される、請求項2に記載のコードパターンの認証方法。
The code pattern is provided in a place other than the outer surface of the container among the container including an opaque layer made of paper or opaque resin,
An object is accommodated in the container,
The code pattern authentication method according to claim 2, wherein the object is discriminated based on an analysis result of the code pattern.
前記照射工程において、前記電磁波として、非線形光学結晶に対してレーザー光を照射することによって生じる非線形光学効果を利用して生成された電磁波が用いられる、請求項1乃至3のいずれか一項に記載のコードパターンの認証方法。   In the said irradiation process, the electromagnetic wave produced | generated using the nonlinear optical effect produced by irradiating a laser beam with respect to a nonlinear optical crystal is used as the said electromagnetic wave. Code pattern authentication method. 前記照射工程において、前記コードパターンのうち前記電磁波が照射されるスポットは、前記第1領域と前記第2領域と前記第3領域とが並ぶ方向に沿ってスキャンされ、この結果、前記第1周波数スペクトルと前記第2周波数スペクトルと前記第3周波数スペクトルとが順次測定される、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のコードパターンの認証方法。 In the irradiation step, a spot irradiated with the electromagnetic wave in the code pattern is scanned along a direction in which the first region, the second region, and the third region are arranged, and as a result, the first frequency The code pattern authentication method according to any one of claims 1 to 4, wherein a spectrum, the second frequency spectrum, and the third frequency spectrum are sequentially measured. 前記照射工程において、前記コードパターンのうち前記電磁波が照射されるスポットは、前記第1領域および前記第2領域の両方を少なくとも部分的に含み、
前記測定工程においては、前記第1周波数スペクトルおよび前記第2周波数スペクトルの両方が同時に測定される、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のコードパターンの認証方法。
In the irradiation step, the spot irradiated with the electromagnetic wave in the code pattern includes at least part of both the first region and the second region,
5. The code pattern authentication method according to claim 1, wherein in the measurement step, both the first frequency spectrum and the second frequency spectrum are measured simultaneously.
規則的に配置されるとともに導電性を有する複数の第1要素を含む第1領域規則的に配置されるとともに導電性を有する複数の第2要素を含む第2領域及び規則的に配置されるとともに導電性を有する複数の第3要素を含む第3領域を少なくとも含むコードパターンに電磁波を照射する照射部と、
前記コードパターンを透過した前記電磁波、または前記コードパターンによって反射された前記電磁波の周波数スペクトルを測定する測定部と、
前記測定部における測定結果に基づいて、前記コードパターンを解析する解析部と、を備え、
前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、
前記第2領域の各第2要素の幅または各第2要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、かつ、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔と異なり、
各第3要素は、導電性を有する導電パターンとして構成されており、若しくは、導電性を有する導電層に形成された開口パターンとして構成されており、
前記第3領域の各第3要素の幅または各第3要素間の間隔は、少なくとも部分的に、前記電磁波の波長よりも小さく、かつ、前記第1領域の各第1要素の幅または各第1要素間の間隔並びに前記第2領域の各第2要素の幅または各第2要素間の間隔と異なり、
前記周波数スペクトルは、前記第1領域を透過した前記電磁波、または前記第1領域によって反射された前記電磁波の第1周波数スペクトルと、前記第2領域を透過した前記電磁波、または前記第2領域によって反射された前記電磁波の第2周波数スペクトルと、前記第3領域を透過した前記電磁波、または前記第3領域によって反射された前記電磁波の第3周波数スペクトルと、を含み、
前記解析部において、前記コードパターンは、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分に特徴点が現れる周波数に基づいて解析され、
前記特徴点は、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分が減少または増加し始める点、若しくは、各周波数スペクトルまたは各周波数スペクトルの一次微分に現れるピークの極値をとる点であり、
前記特徴点が現れる周波数と、前記特徴点に対応する前記第1要素、前記第2要素及び前記第3要素の幅および間隔の合計値とは、一次関数の関係にある、コードパターンの認証装置。
Is the second region and regularly arranged comprising a plurality of second element having a first region comprising a plurality of first element, a conductive while being regularly arranged with a conductivity while being regularly arranged And an irradiating unit for irradiating the electromagnetic wave to the code pattern including at least a third region including a plurality of third elements having conductivity ;
A measurement unit that measures the frequency spectrum of the electromagnetic wave transmitted through the code pattern or the electromagnetic wave reflected by the code pattern;
An analysis unit that analyzes the code pattern based on a measurement result in the measurement unit,
The width of each first element in the first region or the spacing between the first elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave,
The width of each second element in the second region or the interval between the second elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the width of each first element in the first region or each second element. Unlike the spacing between one element,
Each third element is configured as a conductive pattern having conductivity, or is configured as an opening pattern formed in a conductive layer having conductivity.
The width of each third element in the third region or the interval between the third elements is at least partially smaller than the wavelength of the electromagnetic wave, and the width of each first element in the first region or each first element. Unlike the spacing between one element and the width of each second element in the second region or the spacing between each second element,
The frequency spectrum is reflected by the electromagnetic wave transmitted through the first region or the first frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the first region and the electromagnetic wave transmitted through the second region or by the second region. The second frequency spectrum of the electromagnetic wave, and the electromagnetic wave transmitted through the third region, or the third frequency spectrum of the electromagnetic wave reflected by the third region ,
In the analysis unit, the code pattern is analyzed based on a frequency at which a feature point appears in each frequency spectrum or a first derivative of each frequency spectrum,
The feature point is a point at which each frequency spectrum or the first derivative of each frequency spectrum starts to decrease or increase, or a point that takes an extreme value of a peak appearing in each frequency spectrum or the first derivative of each frequency spectrum,
A code pattern authentication apparatus in which a frequency at which the feature point appears and a total value of widths and intervals of the first element, the second element, and the third element corresponding to the feature point have a linear function relationship .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6508564B2 (en) * 2014-11-13 2019-05-08 大日本印刷株式会社 Image authentication method and apparatus, and laminate for authentication
WO2019012775A1 (en) * 2017-07-12 2019-01-17 コニカミノルタ株式会社 Contactlessly-read tag, article fitted with contactlessly-read tag, contactlessly-read tag system, method for manufacture of contactlessly-read tag, and method for reading identification information
JP6957290B2 (en) * 2017-09-22 2021-11-02 グローリー株式会社 Anti-counterfeit structure and anti-counterfeit medium
WO2019064869A1 (en) * 2017-09-29 2019-04-04 コニカミノルタ株式会社 Contactlessly readable tag, method for manufacture of contactlessly readable tag, identification device, and method for reading identifying information

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0704642D0 (en) * 2007-03-09 2007-04-18 Strep Ltd Security mark
JP5110566B2 (en) * 2007-04-04 2012-12-26 凸版印刷株式会社 Anti-counterfeit structure and authenticity discrimination device
JP2011236271A (en) * 2010-05-06 2011-11-24 Nhk Spring Co Ltd Embrocation, system and method for determining attribute of article, and conductor strip
JP5820745B2 (en) * 2012-02-29 2015-11-24 株式会社Screenホールディングス Storage object inspection apparatus and storage object inspection method
PL2991839T3 (en) * 2013-06-26 2020-02-28 Fabrica Nacional De Moneda Y Timbre-Real Casa De La Moneda Method of providing a security document with a security feature, and security document

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