JP6571388B2 - Magnetic resonance imaging system - Google Patents

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本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to a magnetic resonance imaging apparatus.

静磁場中に置かれた被検体の原子核スピンをラーモア周波数(Larmor frequency)のRF(Radio Frequency)パルスで磁気的に励起し、この励起に伴って発生するMR(Magnetic Resonance)信号から画像を再構成する磁気共鳴イメージング(MRI:Magnetic Resonance Imaging)装置がある。   The nuclear spin of a subject placed in a static magnetic field is magnetically excited with a RF frequency (Larmor frequency) RF (Radio Frequency) pulse. There is a magnetic resonance imaging (MRI) apparatus that is configured.

かかる磁気共鳴イメージング装置は、例えば、傾斜磁場コイル内に設けられた金属シムの温度を、プロトコルが実行される前に上昇させて、金属シムの温度の変動を抑制する。これにより、RFパルスの中心周波数の変動が抑制され、画像の画質の劣化が抑制される。   Such a magnetic resonance imaging apparatus, for example, raises the temperature of the metal shim provided in the gradient magnetic field coil before the protocol is executed, thereby suppressing fluctuations in the temperature of the metal shim. Thereby, the fluctuation | variation of the center frequency of RF pulse is suppressed and degradation of the image quality of an image is suppressed.

特開2010−269136号公報JP 2010-269136 A 特開2010−104696号公報JP 2010-104696 A 特開2008−114051号公報JP 2008-114051 A 特開2012−30051号公報JP 2012-30051 A

本発明が解決しようとする課題は、金属シムの温度の時間的な変化による撮像への影響を抑えることができる磁気共鳴イメージング装置を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide a magnetic resonance imaging apparatus capable of suppressing the influence on imaging due to the temporal change of the temperature of the metal shim.

実施形態の磁気共鳴イメージング装置は、傾斜磁場コイルと、導出部と、シーケンス制御部と、受付部とを備える。傾斜磁場コイルは、被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する。導出部は、傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する。シーケンス制御部は、前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行する。受付部は、画質に関する希望条件の入力を操作者から受け付ける。前記導出部は、前記希望条件に応じて、前記タイムスケジュールを導出する。
The magnetic resonance imaging apparatus of the embodiment includes a gradient magnetic field coil, a derivation unit, a sequence control unit, and a reception unit . The gradient magnetic field coil applies a gradient magnetic field in a static magnetic field where a subject is placed. The deriving unit derives a time schedule for one examination including a series of protocol groups, using a temperature change model indicating a temporal change in the temperature of the gradient coil. The sequence control unit sequentially executes the protocols included in the protocol group according to the time schedule. The accepting unit accepts input of desired conditions regarding image quality from the operator. The deriving unit derives the time schedule according to the desired condition.

図1は、実施形態に係るMRI装置の構成を示す機能ブロック図である。FIG. 1 is a functional block diagram showing the configuration of the MRI apparatus according to the embodiment. 図2は、傾斜磁場コイルの構造の一例を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an example of the structure of the gradient coil. 図3は、図2に示した傾斜磁場コイルの内部構造の一例を示す構造図である。FIG. 3 is a structural diagram showing an example of an internal structure of the gradient coil shown in FIG. 図4は、条件受付処理の流れの一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the flow of condition reception processing. 図5は、条件設定画面の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a condition setting screen. 図6Aは、撮像制御処理の流れの一例を示す図である。FIG. 6A is a diagram illustrating an example of the flow of imaging control processing. 図6Bは、撮像制御処理の流れの一例を示す図である。FIG. 6B is a diagram illustrating an example of the flow of imaging control processing. 図7は、実施形態における撮像条件設定画面の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of an imaging condition setting screen in the embodiment. 図8は、選択されたプロトコルが実行されることで傾斜磁場コイルを形成する3つのコイルのそれぞれに供給される電流の波形と、TRとの一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of TR and a waveform of current supplied to each of the three coils forming the gradient magnetic field coil by executing the selected protocol. 図9は、温度上昇モデルの一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a temperature rise model. 図10は、温度下降モデルの一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a temperature decrease model. 図11は、温度上昇係数の算出方法の一例を説明するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining an example of a method for calculating a temperature increase coefficient. 図12は、傾斜磁場コイルを形成する3つのコイルのそれぞれにプレヒート用の電流が供給された場合の鉄シムの温度の時間的な変化を示すプレヒート温度上昇モデルの一例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an example of a preheat temperature rise model showing temporal changes in the temperature of the iron shim when a preheating current is supplied to each of the three coils forming the gradient coil. 図13は、傾斜磁場コイルを形成する3つのコイルのそれぞれへの電流の供給が停止され、冷却システムにより傾斜磁場コイルに水が供給されて傾斜磁場コイルが冷却された場合の鉄シムの温度の時間的な変化を示す冷却温度下降モデルの一例を示す図である。FIG. 13 shows the temperature of the iron shim when the current supply to each of the three coils forming the gradient coil is stopped and the gradient coil is cooled by supplying water to the gradient coil by the cooling system. It is a figure which shows an example of the cooling temperature fall model which shows a time change. 図14は、図6AのステップS204〜S213を実行した結果の一例を示す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a result of executing steps S204 to S213 in FIG. 6A. 図15は、ステップS202で設定されたそのままの順番でプロトコルを実行した場合の結果と、ステップS215〜S220を実行して、実行するプロトコルの順番を並び替えた場合の結果の一例を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a result when the protocols are executed in the same order set in step S202 and a result when the order of the protocols to be executed is rearranged by executing steps S215 to S220. is there. 図16は、ステップS202で設定されたそのままの順番でプロトコルを実行した場合の結果と、ステップS221〜S226を実行して、実行するプロトコルの順番を並び替えた場合の結果の一例を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a result when the protocols are executed in the same order set in step S202 and a result when the order of the protocols to be executed is rearranged by executing steps S221 to S226. is there. 図17は、設定機能が行う他の処理について説明するための図である。FIG. 17 is a diagram for explaining another process performed by the setting function. 図18は、プレヒート判定処理の流れの一例を示す図である。FIG. 18 is a diagram illustrating an example of the flow of the preheat determination process. 図19は、設定機能が行う他の処理について説明するための図である。FIG. 19 is a diagram for explaining another process performed by the setting function. 図20は、表示制御機能によりディスプレイに表示される、プロトコルが実行されるタイミングを示す情報の一例を示す図である。FIG. 20 is a diagram illustrating an example of information that is displayed on the display by the display control function and that indicates the timing at which the protocol is executed.

以下、図面を参照しながら、実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置(以下、適宜「MRI装置」)を説明する。なお、実施形態は、以下の実施形態に限られるものではない。   Hereinafter, a magnetic resonance imaging apparatus (hereinafter referred to as “MRI apparatus” as appropriate) according to an embodiment will be described with reference to the drawings. Note that the embodiments are not limited to the following embodiments.

図1は、実施形態に係るMRI装置100の構成を示す機能ブロック図である。図1に示すように、MRI装置100は、静磁場磁石101と、静磁場電源102と、傾斜磁場コイル103と、傾斜磁場電源104と、寝台105と、寝台制御回路106と、送信コイル107と、送信回路108と、受信コイル109と、受信回路110と、シーケンス制御回路120と、計算機130と、温度センサ140とを備える。なお、MRI装置100に、図1に示す被検体P(例えば、人体)は含まれない。また、図1に示す構成は一例に過ぎない。   FIG. 1 is a functional block diagram showing a configuration of an MRI apparatus 100 according to the embodiment. As shown in FIG. 1, the MRI apparatus 100 includes a static magnetic field magnet 101, a static magnetic field power supply 102, a gradient magnetic field coil 103, a gradient magnetic field power supply 104, a bed 105, a bed control circuit 106, and a transmission coil 107. , A transmission circuit 108, a reception coil 109, a reception circuit 110, a sequence control circuit 120, a calculator 130, and a temperature sensor 140. The MRI apparatus 100 does not include the subject P (for example, a human body) shown in FIG. Moreover, the structure shown in FIG. 1 is only an example.

MRI装置100の傾斜磁場コイル103には、後述する冷却管103fを介して、冷却システム200が接続されている。   A cooling system 200 is connected to the gradient magnetic field coil 103 of the MRI apparatus 100 via a cooling pipe 103f described later.

静磁場磁石101は、中空の円筒形状(円筒の軸に直交する断面が楕円状となるものを含む)に形成された磁石であり、内部の空間に静磁場を発生する。例えば、静磁場磁石101は、静磁場電源102から電流の供給を受けると励磁して、静磁場を発生する。なお、静磁場磁石101は、永久磁石であってもよい。   The static magnetic field magnet 101 is a magnet formed in a hollow cylindrical shape (including a magnet whose cross section perpendicular to the axis of the cylinder is elliptical), and generates a static magnetic field in an internal space. For example, the static magnetic field magnet 101 is excited when a current is supplied from the static magnetic field power source 102 to generate a static magnetic field. The static magnetic field magnet 101 may be a permanent magnet.

静磁場電源102は、静磁場磁石101に電流を供給する。なお、静磁場磁石101が永久磁石である場合には、MRI装置100に、静磁場電源102を設けなくてもよい。   The static magnetic field power supply 102 supplies a current to the static magnetic field magnet 101. When the static magnetic field magnet 101 is a permanent magnet, the MRI apparatus 100 does not have to be provided with the static magnetic field power source 102.

傾斜磁場コイル103は、中空の円筒形状(円筒の軸に直交する断面が楕円状となるものを含む)に形成されたコイルであり、静磁場磁石101の内側に配置される。傾斜磁場コイル103は、互いに直交するX、Y、及びZの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成されており、これら3つのコイルは、傾斜磁場電源104から個別に電流の供給を受けて、X、Y、及びZの各軸に沿って磁場強度が変化する傾斜磁場を発生する。傾斜磁場コイル103によって発生するX、Y、及びZの各軸の傾斜磁場は、例えば、スライス用傾斜磁場GSS、位相エンコード用傾斜磁場GPE、及び読み出し用傾斜磁場GROである。すなわち、傾斜磁場コイル103は、被検体Pが置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する。 The gradient magnetic field coil 103 is a coil formed in a hollow cylindrical shape (including a coil whose cross section perpendicular to the axis of the cylinder is elliptical), and is disposed inside the static magnetic field magnet 101. The gradient coil 103 is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes orthogonal to each other, and these three coils individually supply current from the gradient magnetic field power supply 104. In response, a gradient magnetic field is generated in which the magnetic field strength varies along the X, Y, and Z axes. The gradient magnetic fields of the X, Y, and Z axes generated by the gradient coil 103 are, for example, a slice gradient magnetic field G SS , a phase encoding gradient magnetic field G PE , and a read gradient magnetic field G RO . That is, the gradient magnetic field coil 103 applies a gradient magnetic field in the static magnetic field where the subject P is placed.

傾斜磁場電源104は、傾斜磁場コイル103に電流を供給する。例えば、傾斜磁場電源104は、傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれに、個別に電流を供給する。   The gradient magnetic field power supply 104 supplies a current to the gradient magnetic field coil 103. For example, the gradient magnetic field power supply 104 individually supplies a current to each of three coils forming the gradient magnetic field coil 103.

寝台105は、被検体Pが載置される天板105aを備え、寝台制御回路106による制御の下、天板105aを、被検体Pが載置された状態で、傾斜磁場コイル103の空洞(撮像口)内へ挿入する。通常、寝台105は、長手方向が静磁場磁石101の中心軸と平行になるように設置される。   The couch 105 includes a couchtop 105a on which the subject P is placed. Under the control of the couch control circuit 106, the couchtop 105a is placed in the cavity (with the subject P placed) on the cavity ( Insert it into the imaging port. Usually, the bed 105 is installed so that the longitudinal direction is parallel to the central axis of the static magnetic field magnet 101.

寝台制御回路106は、計算機130による制御の下、寝台105を駆動して天板105aを長手方向及び上下方向へ移動するプロセッサである。   The couch control circuit 106 is a processor that drives the couch 105 and moves the couchtop 105a in the longitudinal and vertical directions under the control of the computer 130.

送信コイル107は、傾斜磁場コイル103の内側に配置され、送信回路108からRFパルスの供給を受けて、高周波磁場を発生する。   The transmission coil 107 is disposed inside the gradient magnetic field coil 103 and receives a supply of RF pulses from the transmission circuit 108 to generate a high-frequency magnetic field.

送信回路108は、対象とする原子の種類及び磁場強度で定まるラーモア周波数に対応するRFパルスを送信コイル107に供給するプロセッサである。   The transmission circuit 108 is a processor that supplies an RF pulse corresponding to a Larmor frequency determined by the type of target atom and the magnetic field strength to the transmission coil 107.

受信コイル109は、傾斜磁場コイル103の内側に配置され、高周波磁場の影響によって被検体Pから発せられる磁気共鳴信号(以下、適宜「MR信号」)を受信する。受信コイル109は、MR信号を受信すると、受信したMR信号を受信回路110へ出力する。   The reception coil 109 is disposed inside the gradient magnetic field coil 103 and receives a magnetic resonance signal (hereinafter referred to as “MR signal” as appropriate) emitted from the subject P due to the influence of the high-frequency magnetic field. When receiving the MR signal, the receiving coil 109 outputs the received MR signal to the receiving circuit 110.

なお、上述した送信コイル107及び受信コイル109は一例に過ぎない。送信機能のみを備えたコイル、受信機能のみを備えたコイル、若しくは送受信機能を備えたコイルのうち、1つ若しくは複数を組み合わせることによって構成されればよい。   Note that the transmission coil 107 and the reception coil 109 described above are merely examples. What is necessary is just to comprise by combining one or more among the coil provided only with the transmission function, the coil provided only with the reception function, or the coil provided with the transmission / reception function.

受信回路110は、受信コイル109から出力されるMR信号を検出し、検出したMR信号に基づいてMRデータを生成するプロセッサである。具体的には、受信回路110は、受信コイル109から出力されるMR信号をデジタル変換することによってMRデータを生成する。また、受信回路110は、生成したMRデータをシーケンス制御回路120へ送信する。なお、受信回路110は、静磁場磁石101や傾斜磁場コイル103等を備える架台装置側に備えられてもよい。   The receiving circuit 110 is a processor that detects the MR signal output from the receiving coil 109 and generates MR data based on the detected MR signal. Specifically, the receiving circuit 110 generates MR data by digitally converting the MR signal output from the receiving coil 109. The receiving circuit 110 transmits the generated MR data to the sequence control circuit 120. The receiving circuit 110 may be provided on the gantry device side including the static magnetic field magnet 101, the gradient magnetic field coil 103, and the like.

シーケンス制御回路120は、計算機130から送信されるシーケンス情報に基づいて、傾斜磁場電源104、送信回路108及び受信回路110を駆動することによって、被検体Pの撮像を行うプロセッサである。ここで、シーケンス情報は、撮像を行うための手順を定義した情報である。シーケンス情報には、傾斜磁場電源104が傾斜磁場コイル103に供給する電流の強さや電流を供給するタイミング、送信回路108が送信コイル107に供給するRFパルスの強さやRFパルスを印加するタイミング、受信回路110がMR信号を検出するタイミング等が定義される。シーケンス制御回路120は、特許請求の範囲に記載されたシーケンス制御部の一例である。   The sequence control circuit 120 is a processor that images the subject P by driving the gradient magnetic field power source 104, the transmission circuit 108, and the reception circuit 110 based on the sequence information transmitted from the computer 130. Here, the sequence information is information defining a procedure for performing imaging. The sequence information includes the strength of the current supplied from the gradient magnetic field power source 104 to the gradient magnetic field coil 103, the timing of supplying the current, the strength of the RF pulse supplied from the transmission circuit 108 to the transmission coil 107, the timing of applying the RF pulse, and reception. The timing at which the circuit 110 detects the MR signal is defined. The sequence control circuit 120 is an example of a sequence control unit described in the claims.

なお、シーケンス制御回路120は、傾斜磁場電源104、送信回路108及び受信回路110を駆動して被検体Pを撮像した結果、受信回路110からMRデータを受信すると、受信したMRデータを計算機130へ転送する。   The sequence control circuit 120 drives the gradient magnetic field power source 104, the transmission circuit 108, and the reception circuit 110 to image the subject P. As a result, when receiving MR data from the reception circuit 110, the sequence control circuit 120 sends the received MR data to the computer 130. Forward.

計算機130は、MRI装置100の全体制御や、画像の生成等を行う。計算機130は、インタフェース回路131と、記憶回路132と、処理回路133と、入力回路134と、ディスプレイ135と、画像生成回路136とを備える。   The computer 130 performs overall control of the MRI apparatus 100, image generation, and the like. The computer 130 includes an interface circuit 131, a storage circuit 132, a processing circuit 133, an input circuit 134, a display 135, and an image generation circuit 136.

インタフェース回路131は、プロセッサにより実現される。インタフェース回路131は、シーケンス情報をシーケンス制御回路120へ送信し、シーケンス制御回路120からMRデータを受信する。また、インタフェース回路131は、MRデータを受信すると、受信したMRデータを記憶回路132に格納する。記憶回路132に格納されたMRデータは、処理回路133によってk空間に配置される。この結果、記憶回路132は、k空間データを記憶する。   The interface circuit 131 is realized by a processor. The interface circuit 131 transmits sequence information to the sequence control circuit 120 and receives MR data from the sequence control circuit 120. Further, when receiving the MR data, the interface circuit 131 stores the received MR data in the storage circuit 132. The MR data stored in the storage circuit 132 is arranged in the k space by the processing circuit 133. As a result, the storage circuit 132 stores k-space data.

記憶回路132は、インタフェース回路131によって受信されたMRデータや、処理回路133によってk空間に配置されたk空間データ、画像生成回路136によって生成された画像データ等を記憶する。また、記憶回路132は、各種のプログラムを記憶する。また、記憶回路132は、後述する設定情報、撮像条件、対応表、プロトコル温度差情報、検査予約情報なども記憶する。記憶回路132は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。   The storage circuit 132 stores MR data received by the interface circuit 131, k-space data arranged in the k space by the processing circuit 133, image data generated by the image generation circuit 136, and the like. The storage circuit 132 stores various programs. The storage circuit 132 also stores setting information, imaging conditions, correspondence table, protocol temperature difference information, examination reservation information, and the like, which will be described later. The storage circuit 132 is realized by, for example, a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory element such as a flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like.

入力回路134は、医師や診療放射線技師等の操作者からの各種指示や情報入力を受け付ける。入力回路134は、例えば、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等によって実現される。入力回路134は、処理回路133に接続されており、操作者から受け取った入力操作を電気信号に変換して処理回路133へと出力する。   The input circuit 134 receives various instructions and information input from an operator such as a doctor or a medical radiographer. The input circuit 134 is realized by, for example, a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, and the like. The input circuit 134 is connected to the processing circuit 133, converts the input operation received from the operator into an electrical signal, and outputs it to the processing circuit 133.

ディスプレイ135は、処理回路133による制御の下、各種GUI(Graphical User Interface)や、画像生成回路136によって生成された画像等を表示する。   The display 135 displays various GUIs (Graphical User Interface), images generated by the image generation circuit 136, and the like under the control of the processing circuit 133.

画像生成回路136は、k空間データを記憶回路132から読み出し、読み出したk空間データにフーリエ変換等の再構成処理を施すことで、画像を生成するプロセッサである。   The image generation circuit 136 is a processor that reads k-space data from the storage circuit 132 and generates an image by performing reconstruction processing such as Fourier transform on the read k-space data.

処理回路133は、MRI装置100の全体制御を行い、撮像や画像の生成、画像の表示等を制御するプロセッサである。例えば、処理回路133は、撮像条件の入力をGUI上で受け付け、受け付けた撮像条件に従ってシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120へ送信する。また、処理回路133は、受付機能133a、設定機能133b及び表示制御機能133cを実行する。   The processing circuit 133 is a processor that performs overall control of the MRI apparatus 100 and controls imaging, image generation, image display, and the like. For example, the processing circuit 133 receives input of imaging conditions on the GUI, generates sequence information according to the received imaging conditions, and transmits the generated sequence information to the sequence control circuit 120. Further, the processing circuit 133 executes a reception function 133a, a setting function 133b, and a display control function 133c.

ここで、例えば、処理回路133の構成要素である受付機能133a、設定機能133b及び表示制御機能133cの各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路132に記憶されている。処理回路133は、各プログラムを記憶回路132から読み出し、読み出した各プログラムを実行することで、各プログラムに対応する機能を実現する。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路133は、図1の処理回路133内に示された各機能を有することとなる。なお、図1においては、単一の処理回路133にて、受付機能133a、設定機能133b及び表示制御機能133cの各処理機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路133を構成し、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。   Here, for example, the processing functions of the reception function 133a, the setting function 133b, and the display control function 133c that are components of the processing circuit 133 are stored in the storage circuit 132 in the form of a program that can be executed by a computer. The processing circuit 133 implements a function corresponding to each program by reading each program from the storage circuit 132 and executing each read program. In other words, the processing circuit 133 in a state where each program is read has the functions shown in the processing circuit 133 of FIG. In FIG. 1, it has been described that the processing functions of the reception function 133a, the setting function 133b, and the display control function 133c are realized by a single processing circuit 133, but a plurality of independent processors are combined. The processing circuit 133 may be configured and each processing function may be realized by each processor executing each program.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central preprocess unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC))、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。なお、記憶回路132にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。   The term “processor” used in the above description refers to, for example, a central preprocess unit (CPU), a graphics processing unit (GPU), or an application specific integrated circuit (ASIC), programmable logic device (for example, It means a circuit such as a simple programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (CPLD), and a field programmable gate array (FPGA). Instead of storing the program in the storage circuit 132, the program may be directly incorporated in the processor circuit. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program incorporated in the circuit.

温度センサ140は、傾斜磁場コイル103の近傍に設けられ、傾斜磁場コイル103の温度を検知し、検知した温度を示す信号をインタフェース回路131に出力する。なお、後述する鉄シム103eは、傾斜磁場コイル103の温度が上昇することで、温度が上昇し、傾斜磁場コイル103の温度が低下することで、温度が低下する。傾斜磁場コイル103の温度と、鉄シム103eの温度とは、略同一になる。したがって、計算機130は、温度センサ140が検知した傾斜磁場コイル103の温度を、鉄シム103eの温度として扱うことができる。   The temperature sensor 140 is provided in the vicinity of the gradient magnetic field coil 103, detects the temperature of the gradient magnetic field coil 103, and outputs a signal indicating the detected temperature to the interface circuit 131. In addition, the temperature of the iron shim 103e described later increases as the temperature of the gradient coil 103 increases, and decreases as the temperature of the gradient coil 103 decreases. The temperature of the gradient coil 103 and the temperature of the iron shim 103e are substantially the same. Therefore, the computer 130 can handle the temperature of the gradient coil 103 detected by the temperature sensor 140 as the temperature of the iron shim 103e.

冷却システム200は、例えば、傾斜磁場コイル103に向けて、所定の温度(例えば、20度)に調整された水を後述する冷却管103fに流すことで、傾斜磁場コイル103内に水を流す。また、冷却システム200は、冷却管103fを介して、傾斜磁場コイル103内を流れた水が戻ってくると、戻ってきた水を所定の温度に冷やした上で、傾斜磁場コイル103に向けて、再び冷却管103fに流す。このようにして、冷却システム200は、傾斜磁場コイル103との間で水を循環させることで、傾斜磁場コイル103に電流が供給されておらず傾斜磁場コイル103が発熱していない場合には、傾斜磁場コイル103内に設けられた後述する鉄シム103eの温度が水の温度と同程度になるように、鉄シム103eの温度を制御する。なお、冷却システム200は、常時、所定の温度に調整された水を傾斜磁場コイル103に供給する。   For example, the cooling system 200 causes water to flow into the gradient magnetic field coil 103 by flowing water adjusted to a predetermined temperature (for example, 20 degrees) toward the gradient magnetic field coil 103 through a cooling pipe 103f described later. In addition, when the water that has flowed through the gradient magnetic field coil 103 returns via the cooling pipe 103f, the cooling system 200 cools the returned water to a predetermined temperature and then directs the water toward the gradient magnetic field coil 103. Then, it flows again into the cooling pipe 103f. In this way, the cooling system 200 circulates water between the gradient magnetic field coil 103, and when no current is supplied to the gradient magnetic field coil 103 and the gradient magnetic field coil 103 is not generating heat, The temperature of the iron shim 103e is controlled so that the temperature of an iron shim 103e (described later) provided in the gradient magnetic field coil 103 is approximately the same as the temperature of water. In addition, the cooling system 200 always supplies water adjusted to a predetermined temperature to the gradient magnetic field coil 103.

ここで、所定の温度に調整された水を傾斜磁場コイル103内に供給した場合であっても、傾斜磁場コイル103に電流が供給されて傾斜磁場コイル103が発熱しているときには、鉄シム103eの温度は、傾斜磁場コイル103の発熱の影響を受けて、水の温度以上になる。   Here, even when water adjusted to a predetermined temperature is supplied into the gradient magnetic field coil 103, when the current is supplied to the gradient magnetic field coil 103 and the gradient magnetic field coil 103 is generating heat, the iron shim 103e. Is affected by the heat generated by the gradient coil 103 and becomes equal to or higher than the temperature of water.

以上、実施形態に係るMRI装置100の全体構成について説明した。ここで、MRI装置において、撮像用のプロトコルが実行される前に傾斜磁場コイル内に設けられた鉄シムの温度を上昇させるプレヒートが実行された場合には、プレヒートの実行時間が操作者にとって長いように感じられることがある。そのため、操作者にとって、検査の開始から、プロトコルが実行されることにより撮像が行われるまでの時間が長く感じられてしまうという問題がある。すなわち、鉄シムの温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響があるという問題がある。   The overall configuration of the MRI apparatus 100 according to the embodiment has been described above. Here, in the MRI apparatus, when preheating for increasing the temperature of the iron shim provided in the gradient magnetic field coil is executed before the imaging protocol is executed, the preheating execution time is long for the operator. May feel like this. For this reason, there is a problem that the operator feels a long time from the start of the examination until imaging is performed by executing the protocol. That is, there is a problem that there is a temporal influence on imaging due to a temporal change in the temperature of the iron shim.

また、MRI装置が、複数のプロトコルのそれぞれを実行する直前の鉄シムの温度がどのような値であっても、撮像条件において定められた順番で複数のプロトコルを実行する場合について説明する。例えば、各プロトコルが飽和温度の昇順で実行されることが撮像条件として定められており、MRI装置が1番目のプロトコルを実行する際に既に鉄シムの温度が高くなっている場合について説明する。なお、飽和温度とは、例えば、プロトコルを実行した場合の鉄シムの変動する温度の上限値を指し、この上限値は、プロトコルの種類に応じて一意に定まる。このような場合には、MRI装置において、撮像条件として定められた順番で複数のプロトコルが実行された場合に、最後のほうに実行されるプロトコルがそのまま実行されると、鉄シムや傾斜磁場コイルの温度がMRI装置の許容温度を超えてしまう。このため、MRI装置では、最後の方に実行されるプロトコルを実行する前に待ち時間が発生することがある。そのため、検査の開始から、プロトコルが実行されることにより撮像が行われるまでの時間が長くなってしまうという問題がある。すなわち、この場合においても、鉄シムの温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響があるという問題がある。   A case will be described in which the MRI apparatus executes a plurality of protocols in the order determined in the imaging conditions regardless of the value of the temperature of the iron shim immediately before the execution of each of the plurality of protocols. For example, a case will be described in which each protocol is executed in ascending order of the saturation temperature as an imaging condition, and the temperature of the iron shim is already high when the MRI apparatus executes the first protocol. Note that the saturation temperature refers to, for example, an upper limit value of the temperature at which the iron shim fluctuates when the protocol is executed, and this upper limit value is uniquely determined according to the type of protocol. In such a case, when a plurality of protocols are executed in the order determined as imaging conditions in the MRI apparatus, if the protocol executed last is executed as it is, an iron shim or a gradient coil Temperature exceeds the allowable temperature of the MRI apparatus. For this reason, in the MRI apparatus, a waiting time may occur before the protocol executed last is executed. Therefore, there is a problem that it takes a long time from the start of inspection until imaging is performed by executing the protocol. That is, even in this case, there is a problem that there is a temporal influence on imaging due to a temporal change in the temperature of the iron shim.

また、MRI装置の撮像条件として、各プロトコルが飽和温度の降順で実行されることが定められている場合について説明する。このような場合には、MRI装置において、撮像条件として定められた飽和温度の降順で複数のプロトコルが実行されると、1番目に実行されたプロトコルの実行開始時の鉄シムの温度と実行完了時の鉄シムの温度との差が大きい。このため、例えば、1回のプロトコルの実行で複数の撮像が行われる場合には、再構成される画像の画質が劣化してしまうという問題がある。すなわち、鉄シムの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響があるという問題がある。   Further, a case will be described in which each protocol is determined to be executed in descending order of the saturation temperature as an imaging condition of the MRI apparatus. In such a case, when a plurality of protocols are executed in descending order of the saturation temperature defined as the imaging condition in the MRI apparatus, the temperature of the iron shim at the start of execution of the first executed protocol and the execution completion The difference with the temperature of the iron shim at the time is large. For this reason, for example, when a plurality of images are taken by executing a single protocol, there is a problem that the image quality of the reconstructed image deteriorates. That is, there is a problem that there is an image quality influence on imaging due to temporal changes in the temperature of the iron shim.

そこで、上述した構成のもと、実施形態に係るMRI装置100は、詳細を以下に説明するように、鉄シムの温度の時間的な変化による撮像への各種の影響を抑えることができるように構成されている。   Therefore, based on the above-described configuration, the MRI apparatus 100 according to the embodiment can suppress various effects on imaging due to temporal changes in the temperature of the iron shim, as will be described in detail below. It is configured.

次に、図1に示す傾斜磁場コイル103の構造の一例について説明する。図2は、傾斜磁場コイル103の構造の一例を示す斜視図である。図2の例に示すように、傾斜磁場コイル103は、傾斜磁場電源104から供給される電流によりX軸、Y軸、Z軸の方向に傾斜磁場を印加するメインコイル103aと、メインコイル103aの漏洩磁場をキャンセルするシールドコイル103bとを有する。   Next, an example of the structure of the gradient magnetic field coil 103 shown in FIG. 1 will be described. FIG. 2 is a perspective view showing an example of the structure of the gradient coil 103. As shown in the example of FIG. 2, the gradient magnetic field coil 103 includes a main coil 103 a that applies a gradient magnetic field in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions by the current supplied from the gradient magnetic field power supply 104, and the main coil 103 a. A shield coil 103b for canceling the leakage magnetic field.

ここで、メインコイル103aとシールドコイル103bとの間には、複数のシムトレイ挿入ガイド103cが形成されている。シムトレイ挿入ガイド103cには、ボア内の静磁場の空間的な不均一を補正する鉄シム103eを収納したシムトレイ103dが挿入される。なお、鉄シム103eは、特許請求の範囲に記載された金属シムの一例である。   Here, a plurality of shim tray insertion guides 103c are formed between the main coil 103a and the shield coil 103b. A shim tray 103d containing an iron shim 103e that corrects spatial nonuniformity of the static magnetic field in the bore is inserted into the shim tray insertion guide 103c. The iron shim 103e is an example of a metal shim described in the claims.

各シムトレイ挿入ガイド103cは、傾斜磁場コイル103の両端面に開口を形成する貫通穴であり、傾斜磁場コイル103の長手方向に全長にわたって形成されている。各シムトレイ挿入ガイド103cは、メインコイル103aおよびシールドコイル103bに挟まれた領域に、互いに平行となるように円周方向に等間隔に形成されている。そして、各シムトレイ挿入ガイド103cには、シムトレイ103dが挿入されている。   Each shim tray insertion guide 103 c is a through hole that forms an opening on both end faces of the gradient magnetic field coil 103, and is formed over the entire length in the longitudinal direction of the gradient magnetic field coil 103. Each shim tray insertion guide 103c is formed at equal intervals in the circumferential direction so as to be parallel to each other in a region sandwiched between the main coil 103a and the shield coil 103b. A shim tray 103d is inserted into each shim tray insertion guide 103c.

シムトレイ103dは、非磁性かつ非電導性材料である樹脂にて作製され、概略棒状をなしている。シムトレイ103dには、所定の数の鉄シム103eが収納されている。そして、シムトレイ103dは、シムトレイ挿入ガイド103cに挿入されて、傾斜磁場コイル103の中央部に固定されている。   The shim tray 103d is made of a resin that is a nonmagnetic and nonconductive material, and has a substantially rod shape. A predetermined number of iron shims 103e are stored in the shim tray 103d. The shim tray 103 d is inserted into the shim tray insertion guide 103 c and fixed to the center of the gradient magnetic field coil 103.

また、図2では図示を省略しているが、傾斜磁場コイル103には、円筒形状に沿って、螺旋状に冷却管が埋設されている。図3は、図2に示した傾斜磁場コイル103の内部構造の一例を示す構造図である。なお、図3は、傾斜磁場コイル103の一部分を示しており、同図における上側が円筒形状の外側を示しており、下側が円筒形状の内側を示している。   Although not shown in FIG. 2, the gradient magnetic field coil 103 has a cooling pipe embedded in a spiral shape along a cylindrical shape. FIG. 3 is a structural diagram showing an example of the internal structure of the gradient coil 103 shown in FIG. 3 shows a part of the gradient magnetic field coil 103, in which the upper side shows the outer side of the cylindrical shape, and the lower side shows the inner side of the cylindrical shape.

図3の例に示すように、傾斜磁場コイル103には、シムトレイ挿入ガイド103cの内側および外側、すなわち、シムトレイ挿入ガイド103cとメインコイル103aとの間、および、シムトレイ挿入ガイド103cとシールドコイル103bとの間に、螺旋状に冷却管103fが埋設されている。冷却管103fには、冷却システム200から送られる水が流入し、流入した水は、冷却管103fを通って傾斜磁場コイル103の内部を循環したうえで傾斜磁場コイル103の外へ流出する。こうして、水が冷却管103fを通って傾斜磁場コイル103の内部を循環することによって、傾斜磁場コイル103及び傾斜磁場コイル103内に設けられた鉄シム103eが冷却される。   As shown in the example of FIG. 3, the gradient magnetic field coil 103 includes inner and outer sides of the shim tray insertion guide 103c, that is, between the shim tray insertion guide 103c and the main coil 103a, and between the shim tray insertion guide 103c and the shield coil 103b. In between, the cooling pipe 103f is embedded helically. The water sent from the cooling system 200 flows into the cooling pipe 103 f, and the inflowed water circulates inside the gradient magnetic field coil 103 through the cooling pipe 103 f and then flows out of the gradient magnetic field coil 103. Thus, the water circulates through the cooling pipe 103f and the inside of the gradient magnetic field coil 103, whereby the gradient magnetic field coil 103 and the iron shim 103e provided in the gradient magnetic field coil 103 are cooled.

次に、図1に示す処理回路133によって実行される受付機能133a、設定機能133b及び表示制御機能133cの各処理機能について説明する。   Next, each processing function of the reception function 133a, the setting function 133b, and the display control function 133c executed by the processing circuit 133 shown in FIG. 1 will be described.

受付機能133aは、プロトコルの実行の態様を設定する際の各種の条件を受け付けるための条件設定画面をディスプレイ135に表示させて、操作者から各種の条件を受け付ける。例えば、受付機能133aは、実行対象のプロトコルを実行する前に、何もせずに待って、常時稼働している冷却システム200による鉄シム103eや傾斜磁場コイル103の温度を低下させる制御(以下、「待ち制御」と称する場合がある)、及び、プレヒートの実行時間を受け付ける。受付機能133aは、特許請求の範囲に記載された受付部の一例である。なお、ここでいうプレヒートとは、例えば、実行対象のプロトコルを実行する前に、鉄シム103eの温度を上昇させることを指す。なお、本実施形態におけるプレヒートでは、傾斜磁場コイル103にプレヒート用の電流が供給されることで、傾斜磁場コイル103が発熱し、傾斜磁場コイル103の発熱の影響を受けて鉄シム103eの温度が上昇される。したがって、冷却システム200に頼らずに、プレヒートを実行することができる。   The reception function 133a displays a condition setting screen for receiving various conditions for setting the protocol execution mode on the display 135, and receives various conditions from the operator. For example, the reception function 133a waits without doing anything before executing the protocol to be executed, and controls to reduce the temperature of the iron shim 103e and the gradient coil 103 by the cooling system 200 that is always operating (hereinafter, In some cases, it is referred to as “waiting control”) and the preheat execution time is received. The reception function 133a is an example of a reception unit described in the claims. In addition, preheating here refers to raising the temperature of the iron shim 103e, for example, before performing the protocol of execution object. In the preheating in the present embodiment, when the preheating current is supplied to the gradient magnetic field coil 103, the gradient magnetic field coil 103 generates heat, and the temperature of the iron shim 103e is affected by the heat generated by the gradient magnetic field coil 103. Be raised. Therefore, preheating can be performed without relying on the cooling system 200.

本実施形態に係るMRI装置100が実行する、プロトコルの実行の態様を設定する際の各種の条件を受け付ける処理(条件受付処理)の流れについて説明する。図4は、条件受付処理の流れの一例を示す図である。図5は、条件設定画面の一例を示す図である。例えば、受付機能133aは、入力回路134を介して、操作者から各種の条件を設定する指示を受け付けた場合に、図4の例に示す条件受付処理を実行する。   A flow of processing (condition reception processing) for receiving various conditions when setting the protocol execution mode, which is executed by the MRI apparatus 100 according to the present embodiment, will be described. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the flow of condition reception processing. FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a condition setting screen. For example, when receiving an instruction to set various conditions from the operator via the input circuit 134, the reception function 133a executes a condition reception process illustrated in the example of FIG.

図4の例に示すように、受付機能133aは、図5の例に示す条件設定画面20をディスプレイ135に表示させる(ステップS101)。   As shown in the example of FIG. 4, the reception function 133a displays the condition setting screen 20 shown in the example of FIG. 5 on the display 135 (step S101).

条件設定画面20は、チェックボックス20a、テキストボックス20b、チェックボックス20c、ボタン20d、ボタン20eを有する。なお、チェックボックス20f及びチェックボックス20gは、チェックボックス20cがチェックされた場合のみ、チェックすることが可能な状態でディスプレイ135に表示される。   The condition setting screen 20 includes a check box 20a, a text box 20b, a check box 20c, a button 20d, and a button 20e. The check box 20f and the check box 20g are displayed on the display 135 in a state where the check box 20f and the check box 20g can be checked only when the check box 20c is checked.

チェックボックス20aは、ウェイクアップヒートモードを選択するためのものである。例えば、操作者が入力回路134を操作して、チェックボックス20aをチェックした場合には、ウェイクアップヒートモードが選択された状態となる。   The check box 20a is for selecting a wake-up heat mode. For example, when the operator operates the input circuit 134 and checks the check box 20a, the wake-up heat mode is selected.

ここで、ウェイクアップヒートモードとは、例えば、MRI装置100の電源スイッチがオンされてMRI装置100が起動した場合において、MRI装置100の起動時には鉄シム103eの温度が低いため、鉄シム103eの温度を上昇させるプレヒートを実行するモードを指す。例えば、ウェイクアップヒートモードでは、MRI装置100が起動してから、最初にプロトコルを実行するまでの時間が十分にある場合には、鉄シム103eの温度を実行対象のプロトコルの飽和温度まで上昇させることができる。   Here, the wake-up heat mode is, for example, when the power switch of the MRI apparatus 100 is turned on and the MRI apparatus 100 is activated, because the temperature of the iron shim 103e is low when the MRI apparatus 100 is activated. It refers to a mode in which preheating is performed to raise the temperature. For example, in the wake-up heat mode, when there is sufficient time until the protocol is first executed after the MRI apparatus 100 is activated, the temperature of the iron shim 103e is increased to the saturation temperature of the protocol to be executed. be able to.

テキストボックス20bには、プレヒート又は上述の待ち制御を行う場合において、プレヒート又は待ち制御を開始してから終了するまでの時間の上限値(最大ヒート時間又は最大冷却時間)が、入力回路134を介して操作者から入力される。ここで、プレヒート又は待ち制御を開始してから終了するまでの時間は、プレヒート又は待ち制御を開始してからプロトコルの実行を開始するまでの時間でもあるので、操作者にとっては、プロトコルが実行されるのを待つ時間ともいえる。そのため、プレヒート又は待ち制御を開始してから終了するまでの時間は、「待ち時間」とも称される。これに伴い、最大ヒート時間又は最大冷却時間は、待ち時間の上限値とも言える。また、待ち時間の上限値は、最大待ち時間とも称される。例えば、操作者が、プレヒート又は待ち制御の時間が60秒以下の時間であれば、プレヒート又は待ち制御を行ってもよいと考えた場合には、テキストボックス20bに、最大待ち時間として「60」を入力する。   In the text box 20b, when preheating or the above-described waiting control is performed, an upper limit value (maximum heat time or maximum cooling time) from the start to the end of the preheating or waiting control is input via the input circuit 134. Input from the operator. Here, the time from the start of preheat or wait control to the end is also the time from the start of preheat or wait control to the start of execution of the protocol. Therefore, for the operator, the protocol is executed. It can be said that it is time to wait. Therefore, the time from the start to the end of preheating or waiting control is also referred to as “waiting time”. Accordingly, it can be said that the maximum heat time or the maximum cooling time is an upper limit value of the waiting time. The upper limit value of the waiting time is also referred to as the maximum waiting time. For example, if the operator thinks that preheating or waiting control may be performed if the preheating or waiting control time is 60 seconds or less, “60” is set as the maximum waiting time in the text box 20b. Enter.

チェックボックス20cは、プロトコル順序自動変更モードを選択するためのものである。例えば、操作者が入力回路134を操作して、チェックボックス20cをチェックした場合には、プロトコル順序自動変更モードが選択された状態となる。   The check box 20c is for selecting the protocol order automatic change mode. For example, when the operator operates the input circuit 134 and checks the check box 20c, the protocol order automatic change mode is selected.

ここで、プロトコル順序自動変更モードとは、例えば、実施対象の検査において実行される複数のプロトコルの実行される順番を変更するモードである。   Here, the protocol order automatic change mode is a mode in which, for example, the order of execution of a plurality of protocols executed in the inspection to be performed is changed.

そして、チェックボックス20cがチェックされた場合には、図5の例に示すように、操作者によって、チェックボックス20f及びチェックボックス20gがチェックされることが可能となる。ここで、チェックボックス20fは、チェックボックス20gがチェックされた状態では、チェックできないようになっている。また、チェックボックス20gは、チェックボックス20fがチェックされた状態では、チェックできないようになっている。したがって、操作者は、入力回路134を介して、チェックボックス20f及びチェックボックス20gのうち、一方のみチェックすることができる。なお、図5の例では、チェックボックス20fがチェックされた場合が示されている。   When the check box 20c is checked, the check box 20f and the check box 20g can be checked by the operator as shown in the example of FIG. Here, the check box 20f cannot be checked when the check box 20g is checked. Also, the check box 20g cannot be checked when the check box 20f is checked. Therefore, the operator can check only one of the check box 20f and the check box 20g via the input circuit 134. In the example of FIG. 5, a case where the check box 20f is checked is shown.

チェックボックス20fは、再構成される画像の画質を優先させるモードを選択するためのものである。また、チェックボックス20gは、待ち時間の短縮を優先させるモードを選択するためのものである。   The check box 20f is for selecting a mode that prioritizes the image quality of the reconstructed image. The check box 20g is for selecting a mode in which priority is given to shortening the waiting time.

ボタン(設定ボタン)20dは、「設定」と表記されており、条件設定画面20に入力された各種の条件を、記憶回路132に記憶された設定情報に設定するためのボタンである。   The button (setting button) 20 d is written as “setting”, and is a button for setting various conditions input to the condition setting screen 20 to setting information stored in the storage circuit 132.

ボタン(キャンセルボタン)20eは、「キャンセル」と表記されており、条件設定画面20を閉じるためのボタンである。   The button (cancel button) 20 e is written as “cancel” and is a button for closing the condition setting screen 20.

受付機能133aは、入力回路134を介して操作者によりキャンセルボタン20eが押下されたか否かを判定する(ステップS102)。そして、キャンセルボタン20eが押下された場合(ステップS102;Yes)には、受付機能133aは、条件設定画面20を閉じて(ステップS105)、条件受付処理を終了する。   The reception function 133a determines whether or not the cancel button 20e is pressed by the operator via the input circuit 134 (step S102). When the cancel button 20e is pressed (step S102; Yes), the reception function 133a closes the condition setting screen 20 (step S105) and ends the condition reception process.

一方、キャンセルボタン20eが押下されていない場合(ステップS102;No)には、受付機能133aは、入力回路134を介して操作者により設定ボタン20dが押下されたか否かを判定する(ステップS103)。そして、設定ボタン20dが押下された場合(ステップS103;Yes)には、受付機能133aは、ウェイクアップヒートモードが選択されたか否かを示す情報、最大待ち時間、プロトコル順序自動変更モードが選択されたか否かを示す情報、プロトコル順序自動変更モードが選択された場合に画質を優先させるモード又は待ち時間の短縮を優先させるモードのうちいずれのモードが選択されたかを示す情報を設定情報として設定し(ステップS104)、ステップS105に進む。また、受付機能133aは、設定ボタン20dが押下されていない場合(ステップS103;No)には、ステップS102に戻る。以上、条件受付処理の流れについて説明した。   On the other hand, when the cancel button 20e is not pressed (step S102; No), the reception function 133a determines whether or not the setting button 20d is pressed by the operator via the input circuit 134 (step S103). . When the setting button 20d is pressed (step S103; Yes), the reception function 133a selects the information indicating whether or not the wake-up heat mode is selected, the maximum waiting time, and the protocol order automatic change mode. Information indicating whether or not, and information indicating which mode was selected from among the modes that prioritize the image quality when the protocol order automatic change mode is selected or the modes that prioritize the reduction of the waiting time is set as the setting information. (Step S104), the process proceeds to Step S105. Moreover, the reception function 133a returns to step S102, when the setting button 20d is not pressed (step S103; No). The flow of condition reception processing has been described above.

ステップS101〜105は、受付機能133aに対応するステップである。処理回路133が記憶回路132から受付機能133aに対応する所定のプログラムを読み出して実行することにより、受付機能133aが実現されるステップである。   Steps S101 to S105 are steps corresponding to the reception function 133a. This is a step in which the reception function 133a is realized by the processing circuit 133 reading and executing a predetermined program corresponding to the reception function 133a from the storage circuit 132.

また、受付機能133aは、操作者から、実施対象の検査において実行されるプロトコル群及びプロトコル群に含まれる各プロトコルのパラメータを撮像条件として受け付けて、受け付けた撮像条件を記憶回路132に格納することにより撮像条件を設定する。   Further, the reception function 133a receives, as an imaging condition, a protocol group to be executed in the examination to be performed and parameters of each protocol included in the protocol group from the operator, and stores the received imaging condition in the storage circuit 132. To set the imaging condition.

例えば、受付機能133aは、撮像条件を受け付けるための撮像条件設定画面をディスプレイ135に表示させて、操作者による撮像条件の入力を、入力回路134を介して受け付ける。そして、受付機能133aは、受け付けた撮像条件を記憶回路132に格納するとともに、受け付けた撮像条件に従ってシーケンス情報を生成する。すなわち、受付機能133aは、記憶回路132にプリセットされた複数のプロトコル群の中から選択されたプロトコル群を、実施対象の検査にて実行予定のプロトコル群として設定する。また、受付機能133aは、操作者により設定された実行時間などの各種のパラメータも撮像条件として設定する。   For example, the reception function 133a displays an imaging condition setting screen for receiving imaging conditions on the display 135, and receives input of imaging conditions by an operator via the input circuit 134. The reception function 133a stores the received imaging condition in the storage circuit 132 and generates sequence information according to the received imaging condition. That is, the reception function 133a sets a protocol group selected from a plurality of protocol groups preset in the storage circuit 132 as a protocol group scheduled to be executed in the examination to be performed. The reception function 133a also sets various parameters such as an execution time set by the operator as imaging conditions.

なお、本実施形態では、例えば、1つの検査を行う際に、1つ以上のプロトコルが設定される。また、1つのプロトコルでは、例えば、1つのパルスシーケンスに応じた撮像が行われる。   In the present embodiment, for example, one or more protocols are set when performing one inspection. Further, in one protocol, for example, imaging according to one pulse sequence is performed.

図6A及び図6Bを参照して、本実施形態に係るMRI装置100が実行する、撮像条件を受け付け、受け付けた撮像条件に基づいて撮像を行う処理(撮像制御処理)の流れについて説明する。図6A及び図6Bは、撮像制御処理の流れの一例を示す図である。図7は、実施形態における撮像条件設定画面の一例を示す図である。例えば、受付機能133aは、入力回路134を介して、操作者から検査を実施する指示を受け付けた場合に、図6A及び図6Bの例に示す撮像制御処理を実行する。   With reference to FIG. 6A and FIG. 6B, a flow of processing (imaging control processing) performed by the MRI apparatus 100 according to the present embodiment that receives imaging conditions and performs imaging based on the received imaging conditions will be described. 6A and 6B are diagrams illustrating an example of the flow of imaging control processing. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of an imaging condition setting screen in the embodiment. For example, when the reception function 133a receives an instruction to perform an inspection from the operator via the input circuit 134, the reception function 133a executes the imaging control process illustrated in the examples of FIGS. 6A and 6B.

例えば、図6A及び図6Bの例に示すように、受付機能133aは、図7の例に示す撮像条件設定画面30をディスプレイ135に表示させる(ステップS201)。撮像条件設定画面30は、左から順に、領域31、領域32、領域33を含む。領域31には、撮像部位毎の選択を受け付ける人体模型図が表示される。領域32には、領域31において選択された撮像部位に対して予め設定されている撮像用のプロトコルの集合(プロトコル群)の総称の一覧が表示される。領域33には、領域32において選択されたプロトコル群に含まれるプロトコルの一覧が、各プロトコルのパラメータとともに表示される。この表示画面30上で、操作者は、例えば、階層構造に従って、領域31、領域32、領域33の順に選択することで、実施対象の検査において実行すべき所望のプロトコルを設定する。   For example, as illustrated in the examples of FIGS. 6A and 6B, the reception function 133a displays the imaging condition setting screen 30 illustrated in the example of FIG. 7 on the display 135 (step S201). The imaging condition setting screen 30 includes an area 31, an area 32, and an area 33 in order from the left. In the region 31, a human body model diagram that accepts selection for each imaging region is displayed. In the area 32, a list of generic names of a set of imaging protocols (protocol group) set in advance for the imaging part selected in the area 31 is displayed. In the area 33, a list of protocols included in the protocol group selected in the area 32 is displayed together with parameters of each protocol. On the display screen 30, the operator selects a desired protocol to be executed in the examination to be performed by selecting, for example, the region 31, the region 32, and the region 33 in this order according to the hierarchical structure.

例えば、操作者が、領域31上で「胸部」に対応する矩形を選択すると、「胸部」に関連するプロトコル群の総称の一覧が領域32に表示される。続いて、操作者が、領域32上で、脂肪抑制を伴って胸部を画像化する目的のプロトコル群の総称である「Breast+Fatsat」を選択すると、このプロトコル群に含まれるプロトコルの一覧が、領域33に表示される。この一覧には、出力画像の画像データを収集するためのイメージングスキャンのプロトコルや、イメージングスキャンや画像生成の準備のために行われる準備スキャンのプロトコルが、それぞれ1つ又は複数含まれる。例えば、準備スキャンのプロトコルは、位置決め画像を収集するためのプロトコル、感度マップを収集するためのプロトコル、及び、シミングのためのプロトコル等が含まれる。また、各プロトコルに含まれる各パラメータには、初期値が設定されている。ここで、例えば、操作者が、領域33に表示された一覧の中から所望のプロトコルを選択すると、選択したプロトコルのパラメータを入力するためのウインドウが表示される。操作者は、入力回路134を介して、選択したプロトコルのパラメータとして実行時間などをウインドウに入力する。このように、プロトコル群は、プリセット情報として提供される。上述したような方法で、操作者は、検査ごとに撮像条件を入力する。   For example, when the operator selects a rectangle corresponding to “chest” on the area 31, a list of generic names of protocol groups related to “chest” is displayed in the area 32. Subsequently, when the operator selects “Breast + Fatsat”, which is a generic name of a protocol group for imaging the chest with fat suppression, in the area 32, a list of protocols included in the protocol group is displayed in the area 33. Is displayed. This list includes one or a plurality of imaging scan protocols for collecting image data of an output image and preparation scans performed for preparation of imaging scan and image generation. For example, the preparation scanning protocol includes a protocol for collecting a positioning image, a protocol for collecting a sensitivity map, a protocol for shimming, and the like. In addition, initial values are set for the parameters included in each protocol. Here, for example, when the operator selects a desired protocol from the list displayed in the area 33, a window for inputting parameters of the selected protocol is displayed. The operator inputs an execution time or the like as a parameter of the selected protocol into the window via the input circuit 134. Thus, the protocol group is provided as preset information. With the method described above, the operator inputs imaging conditions for each examination.

そして、受付機能133aは、操作者により入力された検査ごとの撮像条件を受け付け、受け付けた撮像条件を設定する(ステップS202)。ここで、設定された撮像条件に含まれるプロトコル群のそれぞれのプロトコルは、順番に取り出されて、取り出されたプロトコルに従った各種のデータ収集を行う撮像等が行われる。   And the reception function 133a receives the imaging condition for every test | inspection input by the operator, and sets the received imaging condition (step S202). Here, each protocol of the protocol group included in the set imaging condition is taken out in order, and imaging and the like for collecting various data according to the taken-out protocol are performed.

そして、設定機能133bは、プロトコルを実行した場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルに基づいて、プロトコルの実行の態様を設定する。なお、あるプロトコルを実行した場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化は、同一のプロトコルを実行した場合の傾斜磁場コイル103の温度の時間的な変化と略同一である。このため、MRI装置100は、あるプロトコルを実行した場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを、このプロトコルを実行した場合の傾斜磁場コイル103の温度の時間的な変化を示す温度変化モデルとして扱うことができる。また、設定機能133bは、特許請求の範囲に記載された設定部の一例である。   Then, the setting function 133b sets the execution mode of the protocol based on the temperature change model indicating the temporal change in the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed. The temporal change in the temperature of the iron shim 103e when a certain protocol is executed is substantially the same as the temporal change in the temperature of the gradient magnetic field coil 103 when the same protocol is executed. For this reason, the MRI apparatus 100 uses a temperature change model showing a temporal change in the temperature of the iron shim 103e when a certain protocol is executed as a temporal change in the temperature of the gradient magnetic field coil 103 when this protocol is executed. Can be treated as a temperature change model. The setting function 133b is an example of a setting unit described in the claims.

設定機能133bによるプロトコルの実行の態様の設定方法について、具体例を挙げて説明する。設定機能133bは、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、プロトコル順序自動変更モードが操作者により選択されたか否かを判定する(ステップS203)。   A method for setting the protocol execution mode by the setting function 133b will be described with a specific example. The setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132, and determines whether or not the protocol order automatic change mode has been selected by the operator (step S203).

プロトコル順序自動変更モードが操作者により選択されていない場合(ステップS203;No)には、受付機能133aは、温度センサ140が検知した現在の鉄シム103eの温度(現在温度)を示す信号をインタフェース回路131を介して取得し、取得した信号が示す鉄シム103eの現在温度を取得する(ステップS204)。   When the protocol order automatic change mode is not selected by the operator (step S203; No), the reception function 133a interfaces with a signal indicating the current temperature (current temperature) of the iron shim 103e detected by the temperature sensor 140. The current temperature of the iron shim 103e acquired by the circuit 131 and indicated by the acquired signal is acquired (step S204).

設定機能133bは、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる実行対象の未選択のプロトコルの中から、現在から最も早く実行されるプロトコルを1つ選択する(ステップS205)。   The setting function 133b selects one protocol to be executed earliest from the present among the unselected protocols to be executed included in the imaging conditions set in step S202 (step S205).

そして、設定機能133bは、選択したプロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度を予測する(ステップS206)。ここで、このような温度の予測の方法の一例について説明する。例えば、プロトコルの種類によって、プロトコルを実行した場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルが一意に定まる。この温度変化モデルには、温度上昇モデルと、温度下降モデルとが含まれる。例えば、温度上昇モデルは、鉄シム103eの温度が、プロトコルの飽和温度よりも低い場合に、このプロトコルを実行したときの鉄シム103eの温度が時間の経過とともに上昇する変化を示すモデルである。また、温度下降モデルは、鉄シム103eの温度が、プロトコルの飽和温度よりも高い場合に、このプロトコルを実行したときの鉄シム103eの温度が時間の経過とともに下降する変化を示すモデルである。   Then, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when the execution of the selected protocol is completed (step S206). Here, an example of such a temperature prediction method will be described. For example, a temperature change model indicating a temporal change in the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed is uniquely determined depending on the type of the protocol. The temperature change model includes a temperature increase model and a temperature decrease model. For example, when the temperature of the iron shim 103e is lower than the saturation temperature of the protocol, the temperature increase model is a model that shows a change in which the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed increases with time. The temperature decrease model is a model showing a change in which the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed decreases with time when the temperature of the iron shim 103e is higher than the saturation temperature of the protocol.

図8は、プロトコルが実行されることで傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれに電流が供給されたときのスライス用傾斜磁場GSS、位相エンコード用傾斜磁場GPE及び読み出し用傾斜磁場GROのそれぞれの磁場強度の時間的な変化の一例を示す図である。図9は、温度上昇モデルの一例を示す図である。図10は、温度下降モデルの一例を示す図である。 FIG. 8 shows a slice gradient magnetic field G SS , a phase encoding gradient magnetic field G PE and a read gradient magnetic field when current is supplied to each of the three coils forming the gradient magnetic field coil 103 by executing the protocol. It is a figure which shows an example of the time change of each magnetic field intensity of GRO . FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a temperature rise model. FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a temperature decrease model.

例えば、設定機能133bは、図8の例に示すように磁場強度が時間的に変化させるために傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれに供給される電流の波形と、TR(Repetition Time)とに基づいて、公知の方法で、図9の例に示すような、下記の式(1)が示す温度上昇モデルを導出する。
T=Tmax(1−exp(−t/τ)) (1)
For example, as shown in the example of FIG. 8, the setting function 133 b includes a waveform of current supplied to each of the three coils forming the gradient coil 103 in order to change the magnetic field strength with time, and TR (Repetition Time). ) And a temperature increase model represented by the following equation (1) as shown in the example of FIG. 9 is derived by a known method.
T = T max (1−exp (−t / τ)) (1)

ここで、Tmaxは飽和温度を示し、τは時定数を示し、tは時間を示し、Tは時間tにおける鉄シム103eの温度を示す。すなわち、設定機能133bは、3つのコイルGSS、GPE、GROのそれぞれに供給される電流の波形と、TRとに基づいて、Tmax及びτを算出することで、上述の式(1)が示す温度上昇モデルを導出する。 Here, T max represents a saturation temperature, τ represents a time constant, t represents time, and T represents the temperature of the iron shim 103e at time t. That is, the setting function 133b calculates T max and τ based on the waveforms of the currents supplied to the three coils G SS , G PE , and G RO and TR, thereby obtaining the above formula (1 ) Is derived.

また、設定機能133bは、公知の方法で、図10の例に示すような温度下降モデルを導出する。なお、図10の例におけるTminは、上述したTmaxと同程度の温度であり、温度下降モデルにおける鉄シム103eの温度の下限値である。 Further, the setting function 133b derives a temperature decrease model as shown in the example of FIG. 10 by a known method. In addition, Tmin in the example of FIG. 10 is a temperature comparable to Tmax mentioned above, and is a lower limit of the temperature of the iron shim 103e in a temperature fall model.

そして、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された撮像条件を参照し、選択したプロトコルの実行時間を取得する。そして、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度(Tmax)以下である場合には、上述の式(1)が示す温度上昇モデルにおいて、鉄シム103eの現在温度に対応する時間から、取得したプロトコルの実行時間だけ進めたときの温度Tを、プロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度として予測する。 Then, the setting function 133b refers to the imaging conditions stored in the storage circuit 132 and acquires the execution time of the selected protocol. Then, when the current temperature of the iron shim 103e is equal to or lower than the saturation temperature (T max ) in the selected protocol, the setting function 133b uses the current temperature of the iron shim 103e in the temperature increase model represented by the above equation (1). From the time corresponding to the temperature, the temperature T when the acquired protocol execution time is advanced is predicted as the temperature of the iron shim 103e when the execution of the protocol is completed.

また、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度より大きい場合には、導出した温度下降モデルにおいて、鉄シム103eの現在温度に対応する時間から、取得したプロトコルの実行時間だけ進めたときの温度Tを、プロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度として予測する。   In addition, when the current temperature of the iron shim 103e is higher than the saturation temperature in the selected protocol, the setting function 133b determines the protocol of the acquired protocol from the time corresponding to the current temperature of the iron shim 103e in the derived temperature decrease model. The temperature T when the execution time is advanced is predicted as the temperature of the iron shim 103e when the execution of the protocol is completed.

そして、設定機能133bは、予測した鉄シム103eの温度(予測温度)と、取得した鉄シム103eの現在温度との差の絶対値が、所定値α以下であるか否かを判定する(ステップS207)。このような所定値αとしては、例えば、実験的に求められた、再構成される画像の画質の劣化が許容できる範囲における予測温度と現在温度との差の絶対値の最大値が採用される。   Then, the setting function 133b determines whether or not the absolute value of the difference between the predicted temperature of the iron shim 103e (predicted temperature) and the acquired current temperature of the iron shim 103e is equal to or smaller than a predetermined value α (step). S207). As such a predetermined value α, for example, the maximum value of the absolute value of the difference between the predicted temperature and the current temperature within a range in which deterioration of the image quality of the reconstructed image can be allowed is employed. .

すなわち、予測温度と現在温度との差の絶対値が所定値α以下である場合には、再構成される画像の画質の劣化が許容できる範囲であるため、プレヒートによる鉄シム103eの温度を上昇させる制御や冷却システム200による鉄シム103eの温度を低下させる制御(上述の待ち制御)による待ち時間を待つことなく、選択されたプロトコルを実行することにより撮像を行うことができる。   That is, when the absolute value of the difference between the predicted temperature and the current temperature is less than or equal to the predetermined value α, the image quality of the reconstructed image is in an acceptable range, so the temperature of the iron shim 103e due to preheating is increased. The imaging can be performed by executing the selected protocol without waiting for the waiting time due to the control to reduce the temperature of the iron shim 103e by the cooling system 200 (the above-described waiting control).

予測温度と現在温度との差の絶対値が所定値α以下である場合(ステップS207;Yes)には、設定機能133bは、ステップS212に進む。一方、予測温度と現在温度との差の絶対値が所定値αよりも大きい場合(ステップS207;No)には、設定機能133bは、温度変化係数を算出する(ステップS208)。   If the absolute value of the difference between the predicted temperature and the current temperature is equal to or less than the predetermined value α (step S207; Yes), the setting function 133b proceeds to step S212. On the other hand, when the absolute value of the difference between the predicted temperature and the current temperature is greater than the predetermined value α (step S207; No), the setting function 133b calculates a temperature change coefficient (step S208).

ここで、温度変化係数の具体的な算出方法について説明する。温度変化係数には、温度上昇係数と温度下降係数とが含まれる。例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度以下である場合には、温度変化係数として温度上昇係数を算出する。図11は、温度上昇係数の算出方法の一例を説明するための図である。図11の例には、選択されたプロトコルの温度上昇モデルの一例が示されている。例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が選択したプロトコルにおける飽和温度以下であり、鉄シム103eの現在温度が22度である場合には、図11の例に示すように、温度上昇モデルにおいて、22度に対応する時間から3時相分だけ時間が進んだ場合の温度「40度」を特定する。なお、1時相は、画像が再構成されるタイミングに対応する。   Here, a specific method for calculating the temperature change coefficient will be described. The temperature change coefficient includes a temperature increase coefficient and a temperature decrease coefficient. For example, the setting function 133b calculates a temperature increase coefficient as a temperature change coefficient when the current temperature of the iron shim 103e is equal to or lower than the saturation temperature in the selected protocol. FIG. 11 is a diagram for explaining an example of a method for calculating a temperature increase coefficient. In the example of FIG. 11, an example of the temperature increase model of the selected protocol is shown. For example, when the current temperature of the iron shim 103e is equal to or lower than the saturation temperature in the selected protocol and the current temperature of the iron shim 103e is 22 degrees, the setting function 133b increases the temperature as shown in the example of FIG. In the model, the temperature “40 ° C.” is specified when the time advances by 3 time phases from the time corresponding to 22 ° C. One time phase corresponds to the timing at which an image is reconstructed.

そして、設定機能133bは、特定した温度「40度」から現在温度「22度」を減じて温度「18度」を算出する。そして、設定機能133bは、算出した「18度」を「3時相」で割って、1時相あたりの温度の変化「6度」を温度上昇係数として算出する。なお、設定機能133bが、温度上昇係数を算出する際に、現在温度から3時相分だけ時間が進んだ場合の温度を特定する例について説明したが、現在温度に対応する時間から3時相以外の所定数の時相分だけ時間が進んだ場合の温度を特定してもよい。   Then, the setting function 133b calculates the temperature “18 degrees” by subtracting the current temperature “22 degrees” from the specified temperature “40 degrees”. Then, the setting function 133b divides the calculated “18 degrees” by “3 time phases” and calculates a temperature change “6 degrees” per time phase as a temperature increase coefficient. In addition, although the example in which the setting function 133b specifies the temperature when the time has advanced by three time phases from the current temperature when calculating the temperature increase coefficient has been described, the three time phases from the time corresponding to the current temperature have been described. The temperature when the time has advanced by a predetermined number of time phases other than the above may be specified.

また、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、飽和温度より大きい場合には、温度変化係数として温度下降係数を算出する。例えば、設定機能133bは、温度下降モデルにおいて、現在温度に対応する時間から所定数の時相分だけ時間が進んだ場合の温度を特定する。そして、設定機能133bは、特定した温度から現在温度を減じて(特定した温度−現在温度)を算出する。そして、設定機能133bは、算出した(特定した温度−現在温度)を上述の所定数の時相で割って、1時相あたりの温度の変化を温度下降係数として算出する。   The setting function 133b calculates a temperature decrease coefficient as a temperature change coefficient when the current temperature of the iron shim 103e is higher than the saturation temperature. For example, the setting function 133b specifies the temperature when the time advances by a predetermined number of time phases from the time corresponding to the current temperature in the temperature decrease model. Then, the setting function 133b calculates (specified temperature−current temperature) by subtracting the current temperature from the specified temperature. Then, the setting function 133b divides the calculated (specified temperature−current temperature) by the predetermined number of time phases described above, and calculates a change in temperature per time phase as a temperature decrease coefficient.

次に、設定機能133bは、算出した温度変化係数の絶対値が所定値β以下であるか否かを判定する(ステップS209)。このような所定値βとしては、例えば、実験的に求められた、再構成される画像の画質の劣化が許容できる範囲における温度変化係数の絶対値の最大値が採用される。例えば、図11の例では、鉄シム103eの温度「62度」から、この温度「62度」に対応する時間から3時相分だけ前の時間に対応する温度「57度」を減じて温度「5度」を算出し、算出した温度「5度」を「3時相」で割った1時相あたりの温度の変化「1.67度」を所定値βとする場合が示されている。   Next, the setting function 133b determines whether or not the calculated absolute value of the temperature change coefficient is equal to or less than a predetermined value β (step S209). As such a predetermined value β, for example, the maximum value of the absolute value of the temperature change coefficient in the range in which the deterioration of the image quality of the reconstructed image can be allowed is employed. For example, in the example of FIG. 11, the temperature “57 degrees” of the iron shim 103 e is subtracted from the time corresponding to the temperature “62 degrees” by the temperature “57 degrees” corresponding to the time three hours earlier. The case where “5 degrees” is calculated, and the temperature change “1.67 degrees” per one time phase obtained by dividing the calculated temperature “5 degrees” by “3 time phases” is set as the predetermined value β is shown. .

すなわち、予測温度と現在温度との差の絶対値が所定値αより大きく、かつ、温度変化係数の絶対値が所定値βより大きい場合には、再構成される画像の画質の劣化が許容できる範囲でないため、プレヒートによる鉄シム103eの温度を上昇させる制御や、上述の待ち制御を行う必要があると考えられる。   That is, when the absolute value of the difference between the predicted temperature and the current temperature is larger than the predetermined value α and the absolute value of the temperature change coefficient is larger than the predetermined value β, the image quality of the reconstructed image can be allowed to deteriorate. Since it is not within the range, it is considered necessary to perform control for increasing the temperature of the iron shim 103e by preheating or the above-described waiting control.

温度変化係数の絶対値が所定値β以下である場合(ステップS209;Yes)には、設定機能133bは、ステップS212に進む。一方、温度変化係数の絶対値が所定値βより大きい場合(ステップS209;No)には、設定機能133bは、最適時間を算出する(ステップS210)。   When the absolute value of the temperature change coefficient is equal to or less than the predetermined value β (step S209; Yes), the setting function 133b proceeds to step S212. On the other hand, when the absolute value of the temperature change coefficient is larger than the predetermined value β (step S209; No), the setting function 133b calculates the optimum time (step S210).

ここで、最適時間の具体的な算出方法について説明する。最適時間には、最適プレヒート時間と、最適冷却時間とが含まれる。例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度以下である場合には、最適時間として最適プレヒート時間を算出する。図12は、傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれにプレヒート用の電流が供給された場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化を示すプレヒート温度上昇モデルの一例を示す。なお、プレヒート温度上昇モデルは、3つのコイルのそれぞれにプレヒート用の電流が供給された場合の傾斜磁場コイル103の温度の時間的な変化をも示す。プレヒート温度上昇モデルは、特許請求の範囲に記載された温度変化モデルの一例である。図12の例に示すように、プレヒート温度上昇モデルでは、時間が経過するにつれて、温度Tmax_heatに、鉄シム103eの温度が近づく。例えば、図12の例において、鉄シム103eの現在温度に対応する時間がt1であり、時間t2から時間t3までの間における1時相あたりの温度の変化が上述の所定値βである場合について説明する。なお、時間t3は、時間t2から3時相分だけ進んだ時間である。この場合には、設定機能133bは、時間t2と時間t1との間の時間theatを最適プレヒート時間の候補として予測する。すなわち、設定機能133bは、プレヒート温度上昇モデルに基づいて、最適プレヒート時間の候補を予測する。 Here, a specific calculation method of the optimum time will be described. The optimum time includes an optimum preheating time and an optimum cooling time. For example, when the current temperature of the iron shim 103e is equal to or lower than the saturation temperature in the selected protocol, the setting function 133b calculates an optimal preheat time as the optimal time. FIG. 12 shows an example of a preheat temperature rise model showing temporal changes in the temperature of the iron shim 103 e when a preheating current is supplied to each of the three coils forming the gradient magnetic field coil 103. Note that the preheat temperature increase model also shows temporal changes in the temperature of the gradient magnetic field coil 103 when a preheating current is supplied to each of the three coils. The preheat temperature rise model is an example of a temperature change model described in the claims. As shown in the example of FIG. 12, in the preheat temperature rise model, the temperature of the iron shim 103e approaches the temperature T max_heat as time elapses. For example, in the example of FIG. 12, the time corresponding to the current temperature of the iron shim 103e is t1, and the change in temperature per time phase from the time t2 to the time t3 is the predetermined value β described above. explain. The time t3 is a time advanced from the time t2 by three time phases. In this case, the setting function 133b predicts a time t heat between the time t2 and the time t1 as a candidate for the optimum preheat time. That is, the setting function 133b predicts a candidate for the optimal preheat time based on the preheat temperature rise model.

そして、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、最適プレヒート時間の候補である時間theatと、設定情報が示す最大ヒート時間とを比較する。そして、設定機能133bは、時間theatが、最大ヒート時間以上である場合には、最大ヒート時間を最適プレヒート時間とする。一方、設定機能133bは、時間theatが、最大ヒート時間未満である場合には、時間theatを最適プレヒート時間とする。このようにして、設定機能133bは、最適時間として最適プレヒート時間を算出する。 Then, the setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132, and compares the time t heat that is a candidate for the optimal preheat time with the maximum heat time indicated by the setting information. Then, the setting function 133b sets the maximum heat time as the optimum preheat time when the time t heat is equal to or longer than the maximum heat time. On the other hand, setting function 133b, the time t heat is the case is less than the maximum heat time, the optimum preheat time period t heat. In this way, the setting function 133b calculates the optimal preheat time as the optimal time.

すなわち、設定機能133bは、最適プレヒート時間として、操作者にとっての待ち時間の上限値である最大ヒート時間以下の時間を算出する。また、以上のことから、設定機能133bは、選択したプロトコルの温度上昇モデルに基づいて、受付機能133aにより受け付けられた最大ヒート時間以下の時間だけプレヒートが行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、設定機能133bは、予測した最適プレヒート時間の候補が示す時間が、受付機能133aにより受け付けられた最大ヒート時間以上である場合には、最大ヒート時間だけプレヒートが行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、設定機能133bは、予測した最適プレヒート時間の候補が、受付機能133aにより受け付けられた最大ヒート時間未満である場合には、予測した最適プレヒート時間の候補が示す時間だけプレヒートが行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。   That is, the setting function 133b calculates a time equal to or less than the maximum heat time that is the upper limit value of the waiting time for the operator as the optimum preheat time. In addition, based on the temperature increase model of the selected protocol, the setting function 133b sets the protocol execution mode so that preheating is performed for a time equal to or less than the maximum heat time accepted by the acceptance function 133a. To do. In addition, from the above, the setting function 133b seems to perform preheating only for the maximum heat time when the time indicated by the predicted optimum preheat time candidate is equal to or longer than the maximum heat time received by the reception function 133a. To set the protocol execution mode. In addition, from the above, the setting function 133b, when the predicted optimum preheat time candidate is less than the maximum heat time accepted by the acceptance function 133a, preheats only the time indicated by the predicted optimum preheat time candidate. The mode of protocol execution is set so that

また、例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度より大きい場合には、最適時間として最適冷却時間を算出する。図13は、傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれへの電流の供給が停止され、冷却システム200が傾斜磁場コイル103に常時供給している水により傾斜磁場コイル103が冷却された場合の鉄シム103eの温度の時間的な変化を示す冷却温度下降モデルの一例を示す。なお、冷却温度下降モデルは、傾斜磁場コイル103が冷却された場合の傾斜磁場コイル103の温度の時間的な変化をも示す。冷却温度下降モデルは、特許請求の範囲に記載された温度変化モデルの一例である。図13の例に示すように、冷却温度下降モデルでは、時間が経過するにつれて、温度Tmin_coolに、鉄シム103eの温度が近づく。例えば、図13の例において、鉄シム103eの現在温度に対応する時間がt4であり、時間t5から時間t6までの間における1時相あたりの温度の変化の絶対値が上述の所定値βである場合について説明する。なお、時間t6は、時間t5から3時相分だけ進んだ時間である。この場合は、設定機能133bは、時間t5と時間t4との間の時間tcoolを最適冷却時間の候補として予測する。すなわち、設定機能133bは、冷却温度下降モデルに基づいて、最適冷却時間の候補を予測する。 For example, the setting function 133b calculates the optimal cooling time as the optimal time when the current temperature of the iron shim 103e is higher than the saturation temperature in the selected protocol. FIG. 13 shows a case where the supply of current to each of the three coils forming the gradient magnetic field coil 103 is stopped and the gradient magnetic field coil 103 is cooled by the water that is constantly supplied to the gradient magnetic field coil 103 by the cooling system 200. An example of the cooling temperature fall model which shows the time change of the temperature of this iron shim 103e is shown. The cooling temperature decrease model also shows a temporal change in the temperature of the gradient coil 103 when the gradient coil 103 is cooled. The cooling temperature decrease model is an example of a temperature change model described in the claims. As shown in the example of FIG. 13, in the cooling temperature decrease model, the temperature of the iron shim 103e approaches the temperature Tmin_cool as time elapses. For example, in the example of FIG. 13, the time corresponding to the current temperature of the iron shim 103e is t4, and the absolute value of the change in temperature per time phase from the time t5 to the time t6 is the predetermined value β described above. A case will be described. The time t6 is a time advanced from the time t5 by three time phases. In this case, the setting function 133b predicts a time t cool between the time t5 and the time t4 as a candidate for the optimal cooling time. That is, the setting function 133b predicts a candidate for the optimal cooling time based on the cooling temperature decrease model.

そして、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、最適冷却時間の候補である時間tcoolと、設定情報が示す最大冷却時間とを比較する。そして、設定機能133bは、時間tcoolが、最大冷却時間以上である場合には、最大冷却時間を最適冷却時間とする。一方、設定機能133bは、時間tcoolが、最大冷却時間未満である場合には、時間tcoolを最適冷却時間とする。このようにして、設定機能133bは、最適時間として最適冷却時間を算出する。 Then, the setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132, and compares the time t cool that is a candidate for the optimum cooling time with the maximum cooling time indicated by the setting information. The setting function 133b sets the maximum cooling time as the optimal cooling time when the time t cool is equal to or longer than the maximum cooling time. On the other hand, when the time t cool is less than the maximum cooling time, the setting function 133b sets the time t cool as the optimal cooling time. In this way, the setting function 133b calculates the optimum cooling time as the optimum time.

すなわち、設定機能133bは、最適冷却時間として、操作者にとっての待ち時間の上限値である最大冷却時間以下の時間を算出する。また、以上のことから、設定機能133bは、冷却温度下降モデルに基づいて、受付機能133aにより受け付けられた最大冷却時間以下の時間だけ待ち制御が行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、設定機能133bは、予測した最適冷却時間の候補が、受付機能133aにより受け付けられた最大冷却時間以上である場合には、最大冷却時間だけ冷却が行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、設定機能133bは、予測した最適冷却時間の候補が示す時間が、受付機能133aにより受け付けられた最大冷却時間未満である場合には、予測した最適冷却時間の候補が示す時間だけ冷却が行われるようにプロトコルの実行の態様を設定する。   That is, the setting function 133b calculates a time equal to or less than the maximum cooling time that is the upper limit value of the waiting time for the operator as the optimum cooling time. In addition, from the above, the setting function 133b sets the protocol execution mode so that the waiting control is performed for a time equal to or shorter than the maximum cooling time accepted by the acceptance function 133a based on the cooling temperature decrease model. In addition, from the above, the setting function 133b allows the protocol so that cooling is performed only for the maximum cooling time when the predicted optimum cooling time candidate is equal to or greater than the maximum cooling time received by the reception function 133a. Set the execution mode. In addition, from the above, the setting function 133b indicates the predicted optimum cooling time candidate when the time indicated by the predicted optimum cooling time candidate is less than the maximum cooling time accepted by the acceptance function 133a. The mode of execution of the protocol is set so that cooling is performed only for the time.

そして、設定機能133bは、最適時間分だけプレヒートを行わせるようにシーケンス制御回路120を制御するか、または、最適時間分だけ何もせずに待って、常時稼働している冷却システム200による傾斜磁場コイル103の冷却だけを行わせるように制御する(ステップS211)。例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、選択したプロトコルにおける飽和温度以下である場合には、傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれにプレヒート用の電流が最適時間分だけ供給されるようなシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120に送信する。   Then, the setting function 133b controls the sequence control circuit 120 so as to perform preheating only for the optimum time, or waits without doing anything for the optimum time, and the gradient magnetic field generated by the cooling system 200 that is always operating. Control is performed so that only the coil 103 is cooled (step S211). For example, when the current temperature of the iron shim 103e is equal to or lower than the saturation temperature in the selected protocol, the setting function 133b has a preheating current corresponding to the optimum time for each of the three coils forming the gradient coil 103. The supplied sequence information is generated, and the generated sequence information is transmitted to the sequence control circuit 120.

また、例えば、設定機能133bは、鉄シム103eの現在温度が、Tmaxより大きい場合には、最適時間分だけ何もせずに待つ。ここで、冷却システム200は、MRI装置100の動作とは無関係に傾斜磁場コイル103の冷却を行っている。このため、最適時間分だけ何もせずに待っていても、冷却システム200による傾斜磁場コイル103の冷却が行われる。 For example, when the current temperature of the iron shim 103e is higher than Tmax , the setting function 133b waits without doing anything for the optimum time. Here, the cooling system 200 cools the gradient magnetic field coil 103 regardless of the operation of the MRI apparatus 100. For this reason, the gradient magnetic field coil 103 is cooled by the cooling system 200 even when waiting for the optimum time without doing anything.

そして、設定機能133bは、選択したプロトコルを実行するように、シーケンス制御回路120を制御する(ステップS212)。具体例を挙げて説明すると、設定機能133bは、選択したプロトコル及び選択したプロトコルのパラメータを用いてシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120に送信する。これにより、シーケンス制御回路120は、シーケンス情報に基づいて撮像を行う。すなわち、シーケンス制御回路120は、設定機能133bにより設定されたプロトコルの態様に従って、設定機能133bにより選択されたプロトコルを実行する。   Then, the setting function 133b controls the sequence control circuit 120 so as to execute the selected protocol (step S212). For example, the setting function 133b generates sequence information using the selected protocol and the parameters of the selected protocol, and transmits the generated sequence information to the sequence control circuit 120. Thereby, the sequence control circuit 120 performs imaging based on the sequence information. That is, the sequence control circuit 120 executes the protocol selected by the setting function 133b in accordance with the protocol mode set by the setting function 133b.

なお、設定機能133bは、シーケンス情報を生成する際に、鉄シム103eの温度とRFパルスの中心周波数の基準周波数からのずれとの対応表を参照し、ステップS206において予測したプロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度に対応する中心周波数の基準周波数からのずれを用いて、中心周波数を補正し、補正した中心周波数を用いてシーケンス情報を生成する。ここで、かかる対応表は、記憶回路132に予め記憶されている。   The setting function 133b refers to the correspondence table between the temperature of the iron shim 103e and the deviation of the center frequency of the RF pulse from the reference frequency when generating the sequence information, and the execution of the protocol predicted in step S206 is completed. The center frequency is corrected using the deviation from the reference frequency of the center frequency corresponding to the temperature of the iron shim 103e at the time, and sequence information is generated using the corrected center frequency. Here, the correspondence table is stored in the storage circuit 132 in advance.

そして、設定機能133bは、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる実行対象のプロトコルの中に、未選択のプロトコルがあるか否かを判定する(ステップS213)。未選択のプロトコルがない場合(ステップS213;No)には、設定機能133bは、撮像制御処理を終了する。   Then, the setting function 133b determines whether or not there is an unselected protocol among the execution target protocols included in the imaging condition set in step S202 (step S213). If there is no unselected protocol (step S213; No), the setting function 133b ends the imaging control process.

一方、未選択のプロトコルがある場合(ステップS213;Yes)には、設定機能133bは、ステップS204に戻って、次に実行するプロトコルに対して同様の処理を行う。そして、設定機能133bは、上述したような処理を全てのプロトコルに対して行う。これにより、全てのプロトコルに対して、実行前に、最適時間分だけプレヒートや待ち制御を行うか否かが判定され、判定結果に応じた制御が行われる。   On the other hand, when there is an unselected protocol (step S213; Yes), the setting function 133b returns to step S204 and performs the same process for the protocol to be executed next. Then, the setting function 133b performs the above-described processing for all protocols. As a result, before execution, it is determined whether or not to perform preheating or waiting control for the optimal time for all protocols, and control according to the determination result is performed.

図14は、図6AのステップS204〜S213を実行した結果の一例を示す図である。図14の例には、1つの検査において実行される3つのプロトコルと各プロトコルのパラメータとが撮像条件としてステップS202で設定されて、ステップS204〜S213が実行された結果の時間tと鉄シム103eの温度Tとの関係を示すグラフが示されている。   FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a result of executing steps S204 to S213 in FIG. 6A. In the example of FIG. 14, three protocols executed in one examination and parameters of each protocol are set as imaging conditions in step S202, and time t and iron shim 103e as a result of executing steps S204 to S213. The graph which shows the relationship with the temperature T of is shown.

図14のグラフが示すように、3つのプロトコルのうち、1番目に実行されるプロトコルが時間t8から時間t9まで実行されるが、このプロトコルが実行される前に、時間t7から時間t8までの時間t14分だけプレヒートが行われる。このようにプレヒートが行われるため、プレヒートを行わない場合よりも、1番目のプロトコルの実行の開始時点での鉄シム103eの温度と、1番目のプロトコルの実行の完了時点での鉄シム103eの温度との差が小さくなる。そのため、温度の変化に起因する鉄シム103eの透磁率の変化も小さくなり、RFパルスの中心周波数の変動が小さくなる。よって、脂肪抑止の妨げや画像中のアーチファクトの発生が抑えられる。したがって、画像の画質の劣化を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響を抑えることができる。   As shown in the graph of FIG. 14, the first protocol to be executed out of the three protocols is executed from time t8 to time t9, but before this protocol is executed, the time from time t7 to time t8 is executed. Preheating is performed for time t14 minutes. Since preheating is performed in this way, the temperature of the iron shim 103e at the start of execution of the first protocol and the iron shim 103e at the time of completion of execution of the first protocol are compared with the case where preheating is not performed. The difference with temperature becomes smaller. Therefore, the change in the magnetic permeability of the iron shim 103e due to the change in temperature is also reduced, and the fluctuation of the center frequency of the RF pulse is reduced. Therefore, obstruction of fat suppression and occurrence of artifacts in the image can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the image. That is, it is possible to suppress the image quality influence on the imaging due to the temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

そして、プレヒートが行われる時間t14は、操作者により設定された最大ヒート時間以下の時間である。すなわち、プレヒートが行われる時間は、長くとも、最大ヒート時間である。これにより、プレヒートの時間が増大するのを抑制することができる。そのため、操作者にとって、検査の開始から、プロトコルが実行されることにより撮像が行われるまでの時間が長く感じられてしまうような事態の発生を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響を抑えることができる。また、傾斜磁場コイル103の温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響を抑えることができる。   And time t14 when preheating is performed is time below the maximum heat time set by the operator. That is, the preheating time is at most the maximum heating time. Thereby, it can suppress that the time of preheating increases. For this reason, it is possible to suppress the occurrence of a situation in which the operator feels that the time from the start of the examination until the imaging is performed by executing the protocol is long. That is, the temporal influence on the imaging due to the temporal change of the temperature of the iron shim 103e can be suppressed. In addition, temporal influence on imaging due to temporal change in the temperature of the gradient magnetic field coil 103 can be suppressed.

また、図14のグラフが示すように、2番目に実行されるプロトコルが時間t10から時間t11まで実行され、3番目に実行されるプロトコルが時間t12から時間t13まで実行される。そして、2番目のプロトコルが実行される前に、時間t9から時間t10までの時間t15分だけプレヒートが行われる。また、3番目のプロトコルが実行される前に、時間t11から時間t12までの時間t16分だけプレヒートが行われる。そのため、この場合においても、画像の画質の劣化を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響を抑えることができる。   As shown in the graph of FIG. 14, the second protocol to be executed is executed from time t10 to time t11, and the third protocol to be executed is executed from time t12 to time t13. Then, before the second protocol is executed, preheating is performed for time t15 from time t9 to time t10. Further, before the third protocol is executed, preheating is performed for time t16 from time t11 to time t12. Therefore, also in this case, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the image. That is, it is possible to suppress the image quality influence on the imaging due to the temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

そして、プレヒートが行われる時間t15、t16は、操作者により設定された最大ヒート時間以下の時間である。そのため、この場合においても、プレヒートが行われる時間は、長くとも、最大ヒート時間である。これにより、この場合においても、プレヒートの時間が増大するのを抑制することができる。また、操作者にとって、検査の開始から、プロトコルが実行されることにより撮像が行われるまでの時間が長く感じられてしまうような事態の発生を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響を抑えることができる。   And time t15 and t16 when preheating is performed are time below the maximum heat time set by the operator. Therefore, also in this case, the time during which preheating is performed is the maximum heat time at the longest. Thereby, also in this case, it can suppress that the time of preheating increases. In addition, it is possible to suppress the occurrence of a situation in which the operator feels that the time from the start of the examination until the imaging is performed by executing the protocol is long. That is, the temporal influence on the imaging due to the temporal change of the temperature of the iron shim 103e can be suppressed.

図6Aの説明に戻り、プロトコル順序自動変更モードが操作者により選択された場合(ステップS203;Yes)には、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、画質を優先させるモード又は待ち時間の短縮を優先させるモードのうちいずれのモードが操作者により選択されたかを判定する(ステップS214)。   Returning to the description of FIG. 6A, when the protocol order automatic change mode is selected by the operator (step S203; Yes), the setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132 and prioritizes image quality. It is determined which mode has been selected by the operator from among the modes to be performed or the modes in which priority is given to shortening the waiting time (step S214).

画質を優先させるモードが操作者により選択された場合(ステップS214;画質)には、設定機能133bは、は、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる実行対象の未選択の検査の中から、現在から最も早く実施される検査を1つ選択する(ステップS215)。   When the operator has selected a mode that prioritizes image quality (step S214; image quality), the setting function 133b selects from the unselected examinations to be executed that are included in the imaging conditions set in step S202. Then, one test that is performed earliest from the present is selected (step S215).

そして、設定機能133bは、選択した検査において実行される複数のプロトコルを選択する(ステップS216)。   Then, the setting function 133b selects a plurality of protocols to be executed in the selected examination (Step S216).

次に、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、単独で実行された場合の鉄シム103eの温度を予測する(ステップS217)。例えば、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、鉄シム103eの温度が所定の基準温度(例えば、20度)である場合にプロトコルの実行が開始され、撮像条件が示す実行時間分だけプロトコルが実行され、プロトコルの実行が完了された時点での鉄シム103eの温度を予測する。   Next, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when executed independently for each of the selected protocols (step S217). For example, for each of a plurality of selected protocols, the setting function 133b starts execution of the protocol when the temperature of the iron shim 103e is a predetermined reference temperature (for example, 20 degrees), and the execution time indicated by the imaging condition. Only the protocol is executed, and the temperature of the iron shim 103e at the time when the execution of the protocol is completed is predicted.

ここで、このような温度の予測の方法の一例について説明する。例えば、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、上述した温度上昇モデルの導出方法と同様の方法で、温度上昇モデルを導出する。そして、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、温度上昇モデルにおいて、鉄シム103eの所定の基準温度に対応する時間から、撮像条件が示すプロトコルの実行時間だけ進めたときの温度Tを、プロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度として予測する。このようにして、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、単独で実行された場合の鉄シム103eの温度を予測する。   Here, an example of such a temperature prediction method will be described. For example, the setting function 133b derives the temperature rise model for each of the selected protocols by the same method as the temperature rise model derivation method described above. Then, for each of the plurality of selected protocols, the setting function 133b uses the temperature T when the temperature rise model advances from the time corresponding to the predetermined reference temperature of the iron shim 103e by the execution time of the protocol indicated by the imaging condition. Is estimated as the temperature of the iron shim 103e when the execution of the protocol is completed. In this way, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when executed independently for each of the selected protocols.

そして、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルを、予測した温度の昇順に並び替える(ステップS218)。そして、設定機能133bは、並び替えた順番でプロトコルを実行するように、シーケンス制御回路120を制御する(ステップS219)。具体例を挙げて説明すると、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、当該プロトコルと、当該プロトコルが実行される順番と、当該プロトコルのパラメータとを用いてシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120に送信する。これにより、シーケンス制御回路120は、シーケンス情報に基づいて撮像を行う。なお、設定機能133bは、シーケンス情報を生成する際に、各プロトコルの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度を予測し、上述した対応表を参照し、各プロトコルについて予測した温度に対応する中心周波数の基準周波数からのずれを用いて、中心周波数を補正し、補正した中心周波数を用いてシーケンス情報を生成する。   Then, the setting function 133b rearranges the selected plurality of protocols in the ascending order of the predicted temperature (step S218). Then, the setting function 133b controls the sequence control circuit 120 so that the protocols are executed in the rearranged order (step S219). For example, the setting function 133b generates sequence information for each of a plurality of selected protocols by using the protocol, the order in which the protocol is executed, and parameters of the protocol. The sequence information thus transmitted is transmitted to the sequence control circuit 120. Thereby, the sequence control circuit 120 performs imaging based on the sequence information. Note that when generating the sequence information, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when the execution of each protocol is completed, and corresponds to the temperature predicted for each protocol by referring to the correspondence table described above. The center frequency is corrected using the deviation of the center frequency from the reference frequency, and sequence information is generated using the corrected center frequency.

以上のことから、設定機能133bは、複数のプロトコルのそれぞれの温度上昇モデルに基づいて、複数のプロトコルが実行される順番を決定し、決定した順番で複数のプロトコルが実行されるように複数のプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、シーケンス制御回路120は、設定機能133bにより設定された複数のプロトコルの実行の態様に従って、複数のプロトコルを実行する。   From the above, the setting function 133b determines the order in which the plurality of protocols are executed based on the respective temperature increase models of the plurality of protocols, and sets the plurality of protocols so that the plurality of protocols are executed in the determined order. Sets the protocol execution mode. In addition, from the above, the sequence control circuit 120 executes a plurality of protocols according to the execution mode of the plurality of protocols set by the setting function 133b.

また、以上のことから、設定機能133bは、複数のプロトコルのそれぞれの温度上昇モデルに基づいて、複数のプロトコルのそれぞれについて当該プロトコルが実行された場合の鉄シム103eの温度を予測し、予測した温度が低いプロトコルから順に実行されるように複数のプロトコルの実行の態様を設定する。   In addition, from the above, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed for each of the plurality of protocols based on the temperature increase model of each of the plurality of protocols. The execution mode of a plurality of protocols is set so that the protocols are executed in order from the lowest temperature.

そして、設定機能133bは、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる検査の中に、未選択の検査があるか否かを判定する(ステップS220)。未選択の検査がある場合(ステップS220;Yes)には、設定機能133bは、ステップS215に戻る。一方、未選択の検査がない場合(ステップS220;No)には、設定機能133bは、撮像制御処理を終了する。   Then, the setting function 133b determines whether or not there is an unselected inspection among the inspections included in the imaging conditions set in Step S202 (Step S220). If there is an unselected examination (step S220; Yes), the setting function 133b returns to step S215. On the other hand, when there is no unselected examination (step S220; No), the setting function 133b ends the imaging control process.

図15は、ステップS202で撮影条件として設定されたそのままの順番でプロトコルを実行した場合の結果と、ステップS215〜S220を実行して、実行するプロトコルの順番を並び替えた場合の結果の一例を示す図である。   FIG. 15 shows an example of a result when the protocols are executed in the same order set as the photographing conditions in step S202 and a result when the order of the protocols to be executed is rearranged by executing steps S215 to S220. FIG.

図15の上側に示すグラフについて説明する。図15の上側に示すグラフは、ステップS202で撮像条件として設定されたプロトコルの順番を並び替えずに、撮像条件として設定された3つのプロトコルを実行した場合の時間tと鉄シム103eの温度Tとの関係の一例を示す。なお、ここでは、ステップS202において、1つの検査において実行される3つのプロトコルが単独で実行された場合に、実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が高い順に実行されるような順番が撮像条件として設定された場合を想定する。   The graph shown on the upper side of FIG. 15 will be described. The graph shown on the upper side of FIG. 15 shows the time t and the temperature T of the iron shim 103e when the three protocols set as the imaging conditions are executed without rearranging the order of the protocols set as the imaging conditions in step S202. An example of the relationship is shown. Here, in step S202, when the three protocols executed in one examination are executed independently, the order in which the iron shim 103e is executed in descending order when the execution is completed. Is set as the imaging condition.

図15の上側のグラフが示すように、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が最も高いプロトコルAが、時間t17から時間t18までの間実行される。また、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度がプロトコルAの次に高いプロトコルBが、時間t18から時間t19までの間実行される。そして、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が最も低いプロトコルCが、時間t19から時間t20までの間実行される。   As shown in the upper graph of FIG. 15, among the three protocols, the protocol A having the highest temperature of the iron shim 103 e at the time when the execution alone is completed is executed from the time t17 to the time t18. The Of the three protocols, the protocol B whose temperature of the iron shim 103e is the second highest after the protocol A at the time when the execution alone is completed is executed from the time t18 to the time t19. Then, among the three protocols, the protocol C having the lowest temperature of the iron shim 103e at the time when the execution alone is completed is executed from the time t19 to the time t20.

ここで、図15の上側のグラフから、プロトコルAの実行が開始された時間t17での鉄シム103eの温度と、プロトコルAの実行が完了した時間t18での鉄シム103eの温度との差が大きいことが分かる。したがって、プロトコルAが、実行中に多くの撮像を行うようなプロトコルである場合には、プロトコルの実行の開始間際の時点での撮像におけるRFパルスの中心周波数と、完了間際の時点でのRFパルスの中心周波数との差が大きくなり、再構成される画像の画質が劣化してしまう。例えば、プロトコルAが、飽和温度が55度程度であり、実行時間が20分程度であり、2秒おきに1枚の画像の撮像を行うfMRI(functional Magnetic resonance imaging)である場合には、画像の画質が劣化してしまう。   From the upper graph of FIG. 15, the difference between the temperature of the iron shim 103e at the time t17 when the execution of the protocol A is started and the temperature of the iron shim 103e at the time t18 when the execution of the protocol A is completed is You can see that it ’s big. Therefore, when the protocol A is a protocol that performs many imaging during the execution, the center frequency of the RF pulse in the imaging just before the start of the execution of the protocol and the RF pulse at the time just before the completion of the protocol execution. The difference between the center frequency and the image quality of the reconstructed image deteriorates. For example, when the protocol A is fMRI (functional magnetic resonance imaging) in which the saturation temperature is about 55 ° C., the execution time is about 20 minutes, and one image is taken every 2 seconds, the image The image quality will deteriorate.

そこで、本実施形態では、画質を優先させるモードが操作者により選択された場合には、画像の画質の劣化を抑制するために、複数のプロトコルを、予測した温度の昇順に並び替える。   Therefore, in the present embodiment, when a mode that prioritizes image quality is selected by the operator, a plurality of protocols are rearranged in the ascending order of predicted temperatures in order to suppress deterioration in image quality.

図15の下側には、プロトコルA、プロトコルB、プロトコルCの順番を並び替えて、プロトコルC、プロトコルB、プロトコルAの順番で実行した場合の時間tと鉄シム103eの温度Tとの関係を示すグラフが示されている。   The lower part of FIG. 15 shows the relationship between the time t and the temperature T of the iron shim 103e when the order of protocol A, protocol B, and protocol C is rearranged and executed in the order of protocol C, protocol B, and protocol A. The graph which shows is shown.

図15の下側のグラフが示すように、プロトコルCが、時間t17から時間t22までの間実行される。また、プロトコルBが、時間t22から時間t23までの間実行される。そして、プロトコルAが、時間t24から時間t25までの間実行される。   As shown in the lower graph of FIG. 15, protocol C is executed from time t17 to time t22. Protocol B is executed from time t22 to time t23. Then, protocol A is executed from time t24 to time t25.

ここで、プロトコルBの実行が完了した時点で、すぐにプロトコルAの実行が開始されずに、時間t23から時間t24までの時間t26だけ待って、プロトコルAの実行が開始されている。この理由について説明する。例えば、プロトコルBの実行が完了した時点で、鉄シム103eの温度が高くなっており、傾斜磁場コイル103の冷却期間を設けずに、すぐに、プロトコルAの実行時間分だけプロトコルAを実行してしまうと、MRI装置100の許容温度Tを超えてしまう可能性がある。 Here, when the execution of the protocol B is completed, the execution of the protocol A is not started immediately, but the execution of the protocol A is started after waiting for the time t26 from the time t23 to the time t24. The reason for this will be described. For example, when the execution of the protocol B is completed, the temperature of the iron shim 103e is high, and the protocol A is immediately executed for the execution time of the protocol A without providing the cooling period of the gradient coil 103. If this happens, the allowable temperature T t of the MRI apparatus 100 may be exceeded.

そこで、設定機能133bは、待ち時間である時間t26を算出し、プロトコルBの実行が完了してから時間t26分だけ何もせずに待って、常時稼働している冷却システム200による傾斜磁場コイル103の冷却だけを行わせるように制御する。すなわち、設定機能133bは、図15の下側のグラフに示すようなタイミングで各プロトコルを実行するようなシーケンス制御情報を生成し、生成したシーケンス制御情報をシーケンス制御回路120に送信する。これにより、待ち時間t26は発生するものの、MRI装置100の許容温度Tを超えずに、画像の画質の劣化を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響を抑えることができる。 Therefore, the setting function 133b calculates a time t26 which is a waiting time, waits for only the time t26 minutes after the execution of the protocol B is completed, and then the gradient coil 103 by the cooling system 200 that is always operating. Control is performed so that only cooling is performed. That is, the setting function 133b generates sequence control information for executing each protocol at the timing shown in the lower graph of FIG. 15 and transmits the generated sequence control information to the sequence control circuit 120. Thereby, although the waiting time t26 occurs, the deterioration of the image quality of the image can be suppressed without exceeding the allowable temperature T t of the MRI apparatus 100. That is, it is possible to suppress the image quality influence on the imaging due to the temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

ここで、待ち時間t26を算出する方法の一例について説明する。例えば、設定機能133bは、まず、鉄シム103e(傾斜磁場コイル103)の現在温度を取得する。そして、設定機能133bは、プロトコルAの温度上昇モデルにおいて、撮像条件が示すプロトコルAの実行時間だけ実行しても、許容温度Tを超えない場合のプロトコルAの実行開始時点の温度Tstartを特定する。そして、設定機能133bは、冷却温度下降モデルにおいて、傾斜磁場コイル103の現在温度に対応する時間から、温度Tstartに対応する時間までの時間を、待ち時間の候補として算出する。 Here, an example of a method for calculating the waiting time t26 will be described. For example, the setting function 133b first acquires the current temperature of the iron shim 103e (gradient magnetic field coil 103). Then, the setting function 133b sets the temperature T start at the start of execution of the protocol A when the allowable temperature T t is not exceeded even if it is executed for the execution time of the protocol A indicated by the imaging condition in the temperature rise model of the protocol A. Identify. Then, in the cooling temperature decrease model, the setting function 133b calculates a time from the time corresponding to the current temperature of the gradient magnetic field coil 103 to the time corresponding to the temperature T start as a waiting time candidate.

そして、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、待ち時間の候補と、設定情報が示す最大冷却時間とを比較する。そして、設定機能133bは、待ち時間の候補が、最大冷却時間以上である場合には、最大冷却時間を待ち時間t26とする。一方、設定機能133bは、待ち時間の候補が、最大冷却時間未満である場合には、待ち時間の候補を待ち時間t26とする。このようにして、設定機能133bは、冷却温度下降モデルに基づいて、待ち時間t26を算出し、時間t23から待ち時間t26だけ待ってプロトコルAを実行するというプロトコルの実行態様を設定する。すなわち、設定機能133bは、冷却温度下降モデルに基づいて、実行対象のプロトコルAを撮像条件が示す所定のプロトコルAの実行時間だけ実行させた場合に、傾斜磁場コイル103の温度が所定の許容温度Tを超えないときの待ち時間t26であって、受付機能133aにより受け付けられた傾斜磁場コイル103の温度を低下させる制御の実行時間以下の待ち時間だけ傾斜磁場コイル103の温度を低下させる制御が行われるようにプロトコルAの実行の態様を設定する。 Then, the setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132, and compares the waiting time candidate with the maximum cooling time indicated by the setting information. The setting function 133b sets the maximum cooling time as the waiting time t26 when the waiting time candidate is equal to or longer than the maximum cooling time. On the other hand, when the waiting time candidate is less than the maximum cooling time, the setting function 133b sets the waiting time candidate as the waiting time t26. In this way, the setting function 133b calculates the waiting time t26 based on the cooling temperature decrease model, and sets the protocol execution mode in which the protocol A is executed after waiting for the waiting time t26 from the time t23. In other words, the setting function 133b determines that the temperature of the gradient magnetic field coil 103 is the predetermined allowable temperature when the protocol A to be executed is executed for the execution time of the predetermined protocol A indicated by the imaging condition based on the cooling temperature decrease model. Control is performed to reduce the temperature of the gradient magnetic field coil 103 by a waiting time t26 when it does not exceed Tt, and for a waiting time equal to or shorter than the execution time of the control for reducing the temperature of the gradient magnetic field coil 103 received by the reception function 133a. Set the mode of execution of Protocol A to be performed.

図6Aの説明に戻り、待ち時間の短縮を優先させるモードが操作者により選択された場合(ステップS214;待ち時間)には、設定機能133bは、図6Bに示すように、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる実行対象の未選択の検査の中から、現在から最も早く実施される検査を1つ選択する(ステップS221)。   Returning to the description of FIG. 6A, when the mode in which priority is given to shortening the waiting time is selected by the operator (step S214; waiting time), the setting function 133b is set in step S202 as shown in FIG. 6B. From the unselected examinations to be executed included in the imaging conditions, one examination that is performed earliest from the present is selected (step S221).

そして、設定機能133bは、選択した検査において実行される複数のプロトコルを選択する(ステップS222)。   Then, the setting function 133b selects a plurality of protocols to be executed in the selected examination (Step S222).

次に、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルのそれぞれについて、ステップS217と同様に、単独で実行された場合の鉄シム103eの温度を予測する(ステップS223)。   Next, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when it is executed independently for each of the selected plurality of protocols, similarly to step S217 (step S223).

そして、設定機能133bは、選択した複数のプロトコルを、予測した温度の降順に並び替える(ステップS224)。そして、設定機能133bは、ステップS219と同様に、並び替えた順番でプロトコルを実行するようなシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120に送信してシーケンス制御回路120を制御する(ステップS225)。これにより、シーケンス制御回路120は、シーケンス情報に基づいて撮像を行う。なお、設定機能133bは、シーケンス情報を生成する際に、上述した方法と同様の方法で、中心周波数を補正し、補正した中心周波数を用いてシーケンス情報を生成する。   Then, the setting function 133b rearranges the selected protocols in descending order of the predicted temperature (step S224). Then, as in step S219, the setting function 133b generates sequence information that executes the protocols in the rearranged order, and transmits the generated sequence information to the sequence control circuit 120 to control the sequence control circuit 120. (Step S225). Thereby, the sequence control circuit 120 performs imaging based on the sequence information. The setting function 133b, when generating the sequence information, corrects the center frequency by the same method as described above, and generates the sequence information using the corrected center frequency.

以上のことから、設定機能133bは、複数のプロトコルのそれぞれの温度上昇モデルに基づいて、複数のプロトコルが実行される順番を決定し、決定した順番で複数のプロトコルが実行されるように複数のプロトコルの実行の態様を設定する。また、以上のことから、シーケンス制御回路120は、設定機能133bにより設定された複数のプロトコルの実行の態様に従って、複数のプロトコルを実行する。   From the above, the setting function 133b determines the order in which the plurality of protocols are executed based on the respective temperature increase models of the plurality of protocols, and sets the plurality of protocols so that the plurality of protocols are executed in the determined order. Sets the protocol execution mode. In addition, from the above, the sequence control circuit 120 executes a plurality of protocols according to the execution mode of the plurality of protocols set by the setting function 133b.

また、以上のことから、設定機能133bは、複数のプロトコルのそれぞれの温度上昇モデルに基づいて、複数のプロトコルのそれぞれについて当該プロトコルが実行された場合の鉄シム103eの温度を予測し、予測した温度が高いプロトコルから順に実行されるように複数のプロトコルの実行の態様を設定する。   In addition, from the above, the setting function 133b predicts the temperature of the iron shim 103e when the protocol is executed for each of the plurality of protocols based on the temperature increase model of each of the plurality of protocols. The execution mode of a plurality of protocols is set so that the protocols are executed in order from the protocol with the highest temperature.

そして、設定機能133bは、ステップS202で設定された撮像条件に含まれる検査の中に、未選択の検査があるか否かを判定する(ステップS226)。未選択の検査がある場合(ステップS226;Yes)には、設定機能133bは、ステップS221に戻る。一方、未選択の検査がない場合(ステップS226;No)には、設定機能133bは、撮像制御処理を終了する。以上、撮像条件を受け付けて、受け付けた撮像条件に基づいて撮像を行う撮像制御処理の流れについて説明した。   Then, the setting function 133b determines whether or not there is an unselected inspection among the inspections included in the imaging conditions set in Step S202 (Step S226). If there is an unselected examination (step S226; Yes), the setting function 133b returns to step S221. On the other hand, when there is no unselected examination (step S226; No), the setting function 133b ends the imaging control process. The flow of the imaging control process that receives the imaging conditions and performs imaging based on the received imaging conditions has been described above.

ステップS201〜202は、受付機能133aに対応するステップである。処理回路133が記憶回路132から受付機能133aに対応する所定のプログラムを読み出して実行することにより、受付機能133aが実現されるステップである。また、ステップS203〜226は、設定機能133bに対応するステップである。処理回路133が記憶回路132から設定機能133bに対応する所定のプログラムを読み出して実行することにより、設定機能133bが実現されるステップである。   Steps S201 to S202 are steps corresponding to the reception function 133a. This is a step in which the reception function 133a is realized by the processing circuit 133 reading and executing a predetermined program corresponding to the reception function 133a from the storage circuit 132. Steps S203 to S226 are steps corresponding to the setting function 133b. This is a step in which the setting function 133b is realized by the processing circuit 133 reading and executing a predetermined program corresponding to the setting function 133b from the storage circuit 132.

図16は、ステップS202で撮影条件として設定されたそのままの順番でプロトコルを実行した場合の結果と、ステップS221〜S226を実行して、実行するプロトコルの順番を並び替えた場合の結果の一例を示す図である。   FIG. 16 shows an example of a result when the protocols are executed in the same order set as the photographing conditions in step S202 and a result when the order of the protocols to be executed is rearranged by executing steps S221 to S226. FIG.

図16の上側に示すグラフについて説明する。図16の上側に示すグラフは、ステップS202で撮像条件として設定されたプロトコルの順番を並び替えずに、撮像条件として設定された3つのプロトコルを実行した場合の時間tと鉄シム103eの温度Tとの関係を示す。なお、ここでは、ステップS202において、1つの検査において実行される3つのプロトコルが単独で実行された場合に、実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が低い順に実行されるような順番が撮像条件として設定された場合を想定する。   The graph shown on the upper side of FIG. 16 will be described. The graph shown on the upper side of FIG. 16 shows the time t and the temperature T of the iron shim 103e when the three protocols set as the imaging conditions are executed without rearranging the order of the protocols set as the imaging conditions in step S202. The relationship is shown. Here, in step S202, when three protocols executed in one examination are executed independently, the order in which the iron shims 103e are executed in ascending order when the execution is completed. Is set as the imaging condition.

図16の上側のグラフが示すように、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が最も低いプロトコルDが、時間t27から時間t28までの間実行される。また、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度がプロトコルDの次に低いプロトコルEが、時間t28から時間t29までの間実行される。そして、3つのプロトコルのうち、単独での実行が完了された時点での鉄シム103eの温度が最も高いプロトコルFが、時間t30から時間t31までの間実行される。なお、図16の例では、図15の例で説明した待ち時間t26が発生する理由と同様の理由で待ち時間t32が発生する。   As shown in the upper graph of FIG. 16, among the three protocols, the protocol D having the lowest temperature of the iron shim 103e at the time when the execution alone is completed is executed from the time t27 to the time t28. The Further, among the three protocols, the protocol E in which the temperature of the iron shim 103e at the time when the execution alone is completed is the second lower than the protocol D is executed from the time t28 to the time t29. Of the three protocols, the protocol F having the highest temperature of the iron shim 103e at the time when the execution alone is completed is executed from the time t30 to the time t31. In the example of FIG. 16, the waiting time t32 occurs for the same reason as the waiting time t26 described in the example of FIG.

ここで、図16の上側のグラフから、プロトコルD、プロトコルE、プロトコルFを順に実行した場合には、待ち時間t32が発生するため、検査全体の時間が増大してしまうことが分かる。したがって、プロトコルFが、比較的大きな飽和温度を有し、短時間で飽和温度に達してしまうようなプロトコルである場合には、鉄シム103eの温度がMRI装置100の許容温度Tを超えないようにするために待ち時間が発生するため、検査全体の時間が増大してしまう。例えば、プロトコルFが、飽和温度が80度程度であり、実行時間が30秒程度であり、1回の実行で1枚の画像の撮像を行う水脂肪分離法のプロトコルである場合には、待ち時間が発生するため、検査全体の時間が増大してしまう。 Here, it can be seen from the upper graph in FIG. 16 that when the protocol D, the protocol E, and the protocol F are executed in order, a waiting time t32 occurs, so that the entire inspection time increases. Therefore, when the protocol F has a relatively large saturation temperature and reaches the saturation temperature in a short time, the temperature of the iron shim 103e does not exceed the allowable temperature T t of the MRI apparatus 100. As a result, a waiting time occurs, so that the entire inspection time increases. For example, if protocol F is a water-fat separation protocol in which the saturation temperature is about 80 degrees C, the execution time is about 30 seconds, and one image is captured in one execution, the protocol F Since time is generated, the time required for the entire inspection increases.

そこで、本実施形態では、待ち時間の短縮を優先させるモードが操作者により選択された場合には、検査全体の時間の増大を抑制するために、複数のプロトコルを、予測した温度の降順に並び替える。   Therefore, in this embodiment, when a mode in which priority is given to shortening the waiting time is selected by the operator, a plurality of protocols are arranged in descending order of the predicted temperature in order to suppress an increase in the time of the entire examination. Change.

図16の下側には、プロトコルD、プロトコルE、プロトコルFの順番を並び替えて、プロトコルF、プロトコルE、プロトコルDの順番で実行した場合の時間tと鉄シム103eの温度Tとの関係を示すグラフが示されている。   In the lower part of FIG. 16, the order of protocol D, protocol E, and protocol F is rearranged, and the relationship between time t and temperature T of iron shim 103e when executed in the order of protocol F, protocol E, and protocol D is shown. The graph which shows is shown.

図16の下側のグラフが示すように、プロトコルFが、時間t27から時間t33までの間実行される。また、プロトコルEが、時間t33から時間t34までの間実行される。そして、プロトコルDが、時間t34から時間t35までの間実行される。   As shown in the lower graph of FIG. 16, protocol F is executed from time t27 to time t33. Protocol E is executed from time t33 to time t34. Then, protocol D is executed from time t34 to time t35.

ここで、図16の下側のグラフから、プロトコルFの実行が開始された時間t27での鉄シム103eの温度と、プロトコルFの実行が完了した時間t33での鉄シム103eの温度との差が大きいことが分かる。したがって、プロトコルFが、実行中に多くの撮像を行うようなプロトコルである場合には、画像の画質が劣化してしまうが、一方、待ち時間の発生が抑制されるため、検査全体の時間の増大を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への時間的な影響を抑えることができる。   Here, from the lower graph of FIG. 16, the difference between the temperature of the iron shim 103e at the time t27 when the execution of the protocol F is started and the temperature of the iron shim 103e at the time t33 when the execution of the protocol F is completed. Can be seen to be large. Therefore, when the protocol F is a protocol that performs many imaging during execution, the image quality of the image is deteriorated. On the other hand, since the occurrence of the waiting time is suppressed, The increase can be suppressed. That is, the temporal influence on the imaging due to the temporal change of the temperature of the iron shim 103e can be suppressed.

また、プロトコルF、プロトコルE、プロトコルDの順番で実行する場合において、プロトコルFが、実行中に1回のみ撮像を行うようなプロトコルである場合には、そもそもRFパルスの中心周波数のずれが生じず、画像の画質が劣化しない。例えば、プロトコルFが、上述した水脂肪分離法のプロトコルである場合には、プロトコルF、プロトコルE、プロトコルDの順番で実行しても、画像の画質の劣化を抑制することができ、かつ、検査全体の時間の増大を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響及び時間的な影響を抑えることができる。   Further, when the protocol F, protocol E, and protocol D are executed in this order, if the protocol F is a protocol that performs imaging only once during execution, the center frequency of the RF pulse is shifted in the first place. Therefore, the image quality does not deteriorate. For example, when the protocol F is the above-described water fat separation method protocol, even when executed in the order of the protocol F, the protocol E, and the protocol D, deterioration in image quality of the image can be suppressed, and An increase in time of the entire inspection can be suppressed. That is, it is possible to suppress the influence on image quality and the influence on time due to the temporal change of the temperature of the iron shim 103e.

次に、設定機能133bが行う他の処理について説明する。図17は、設定機能133bが行う他の処理について説明するための図である。   Next, another process performed by the setting function 133b will be described. FIG. 17 is a diagram for explaining another process performed by the setting function 133b.

例えば、設定機能133bは、MRI装置100の電源スイッチがオンされてMRI装置100が起動すると、記憶回路132に記憶された設定情報を参照し、ウェイクアップモードが操作者により選択されたか否かを判定する。そして、設定機能133bは、ウェイクアップモードが操作者により選択されている場合には、MRI装置100の起動時には鉄シム103eの温度が低いため、鉄シム103eの温度を上昇させるプレヒートを実行するように制御する。   For example, when the power switch of the MRI apparatus 100 is turned on and the MRI apparatus 100 is activated, the setting function 133b refers to the setting information stored in the storage circuit 132 and determines whether or not the wakeup mode is selected by the operator. judge. When the wake-up mode is selected by the operator, the setting function 133b performs preheating to increase the temperature of the iron shim 103e because the temperature of the iron shim 103e is low when the MRI apparatus 100 is started. To control.

例えば、ウェイクアップモードが操作者により選択されており、図17の例の左側に示すように、午前8時にMRI装置100が起動した場合について説明する。この場合には、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された撮像条件を参照し、現在から最も早く実行されるプロトコル「fMRI」を特定する。そして、設定機能133bは、図17の例の右側に示すように、fMRIの実行が開始される午前9時までプレヒートを行うように制御する。これにより、fMRIの実行が開始されるときには、鉄シム103eの温度が上昇しているので、画像の画質の劣化を抑制することができる。すなわち、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への画質的な影響を抑えることができる。   For example, a case will be described in which the wake-up mode is selected by the operator and the MRI apparatus 100 is activated at 8 am as shown on the left side of the example of FIG. In this case, the setting function 133b refers to the imaging condition stored in the storage circuit 132 and specifies the protocol “fMRI” that is executed earliest from the present time. Then, as shown on the right side of the example of FIG. 17, the setting function 133b performs control so that preheating is performed until 9 am when fMRI execution is started. Thereby, when the execution of fMRI is started, the temperature of the iron shim 103e is increased, so that deterioration of the image quality of the image can be suppressed. That is, it is possible to suppress the image quality influence on the imaging due to the temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

また、設定機能133bは、実行対象のプロトコルが、プレヒートが必要なプロトコルであるか否かを判定し、判定結果に応じて、プレヒートを行うか否かを制御するプレヒート判定処理を行うこともできる。ここで、設定機能133bは、実行対象のプロトコルが、実行開始時における鉄シム103eの温度と、実行完了時における鉄シム103eの温度との差が所定値より大きいようなプロトコルであるか否かを判定することにより、プレヒートが必要なプロトコルであるか否かを判定することができる。図18は、プレヒート判定処理の流れの一例を示す図である。   Also, the setting function 133b can determine whether or not the protocol to be executed is a protocol that requires preheating, and can perform preheat determination processing for controlling whether or not to perform preheating according to the determination result. . Here, the setting function 133b determines whether or not the execution target protocol is a protocol in which the difference between the temperature of the iron shim 103e at the start of execution and the temperature of the iron shim 103e at the completion of execution is greater than a predetermined value. It is possible to determine whether or not the protocol requires preheating. FIG. 18 is a diagram illustrating an example of the flow of the preheat determination process.

ここで、記憶回路132には、予めプロトコル温度差情報が記憶されている。プロトコル温度差情報には、MRI装置100が備えられた病院内で実施された過去の検査において測定された実行開始時における鉄シム103eの温度と、実行完了時における鉄シム103eの温度との差が、プロトコルの種類ごとに登録されている。   Here, protocol temperature difference information is stored in the storage circuit 132 in advance. The protocol temperature difference information includes the difference between the temperature of the iron shim 103e at the start of execution and the temperature of the iron shim 103e at the completion of execution, measured in a past examination carried out in the hospital provided with the MRI apparatus 100. Are registered for each protocol type.

図18の例に示すように、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された撮像条件を参照し、現在から最も早く実行されるプロトコルを1つ選択する(ステップS301)。   As illustrated in the example of FIG. 18, the setting function 133b refers to the imaging condition stored in the storage circuit 132 and selects one protocol that is executed earliest from now (step S301).

そして、設定機能133bは、記憶回路132に記憶されたプロトコル温度差情報を参照し、選択したプロトコルの種類に対応する実行開始時における鉄シム103eの温度と実行完了時における鉄シム103eの温度との差を特定する(ステップS302)。   The setting function 133b refers to the protocol temperature difference information stored in the storage circuit 132, and the temperature of the iron shim 103e at the start of execution and the temperature of the iron shim 103e at the completion of execution corresponding to the selected protocol type. Is identified (step S302).

次に、設定機能133bは、特定した差が所定値γ以上であるか否かを判定する(ステップS303)。ここで、所定値γとして、例えば、実験的に求められた、プレヒートが必要になるときの、プロトコルの実行開始時における鉄シム103eの温度と実行完了時における鉄シム103eの温度との差の最小値が採用される。   Next, the setting function 133b determines whether or not the identified difference is greater than or equal to a predetermined value γ (step S303). Here, as the predetermined value γ, for example, an experimentally obtained difference between the temperature of the iron shim 103e at the start of execution of the protocol and the temperature of the iron shim 103e at the completion of execution when preheating is required The minimum value is adopted.

特定した差が所定値γ以上である場合(ステップS303;Yes)には、設定機能133bは、プレヒートを実行するように制御し(ステップS304)、プレヒート判定処理を終了する。例えば、設定機能133bは、傾斜磁場コイル103を形成する3つのコイルのそれぞれにプレヒート用の電流が供給されるようなシーケンス情報を生成し、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120に送信し、プレヒート判定処理を終了する。   If the identified difference is greater than or equal to the predetermined value γ (step S303; Yes), the setting function 133b performs control so as to execute preheating (step S304), and the preheat determination process is terminated. For example, the setting function 133b generates sequence information such that a current for preheating is supplied to each of three coils forming the gradient magnetic field coil 103, and transmits the generated sequence information to the sequence control circuit 120. The determination process ends.

また、特定した差が所定値γ未満である場合(ステップS303;No)も、設定機能133bは、プレヒート判定処理を終了する。   Moreover, also when the specified difference is less than predetermined value (gamma) (step S303; No), the setting function 133b complete | finishes a preheat determination process.

すなわち、設定機能133bは、プロトコルが実行された場合の実行開始時における鉄シム103eの温度と実行完了時における鉄シム103eの温度との差に基づいて、鉄シム103eの温度を上昇させるプレヒートが行われるか否かを示すプロトコルの実行の態様を設定する。   That is, the setting function 133b performs preheating to increase the temperature of the iron shim 103e based on the difference between the temperature of the iron shim 103e at the start of execution and the temperature of the iron shim 103e at the completion of execution when the protocol is executed. A protocol execution mode indicating whether or not to be performed is set.

以上、プレヒート判定処理の流れについて説明した。プレヒート判定処理を実行する設定機能133bによれば、実行対象のプロトコルの種類に応じて、プレヒートが必要な種類のプロトコルに対してプレヒートを行うように制御するので、プレヒートを適切に行うことができる。   The flow of the preheat determination process has been described above. According to the setting function 133b that executes preheat determination processing, control is performed so that preheating is performed for a protocol type that requires preheating according to the type of protocol to be executed, so that preheating can be appropriately performed. .

なお、ステップS301〜304は、設定機能133bに対応するステップである。処理回路133が記憶回路132から設定機能133bに対応する所定のプログラムを読み出して実行することにより、設定機能133bが実現されるステップである。   Note that steps S301 to S304 are steps corresponding to the setting function 133b. This is a step in which the setting function 133b is realized by the processing circuit 133 reading and executing a predetermined program corresponding to the setting function 133b from the storage circuit 132.

また、設定機能133bは、記憶回路132に記憶された検査予約情報を参照し、検査が行われていない時間を特定し、特定した時間にプレヒートを行うこともできる。なお、検査予約情報には、検査が実施される時間帯が、検査毎に登録されている。   The setting function 133b can also refer to the examination reservation information stored in the storage circuit 132, identify the time when the examination is not performed, and perform preheating at the identified time. In the examination reservation information, the time period during which the examination is performed is registered for each examination.

図19は、設定機能133bが行う他の処理について説明するための図である。図19の例の左側に示すように、設定機能133bは、検査予約情報を参照し、検査が行われていない午前12から午後1時(13時)までの休憩時間を特定する。そして、設定機能133bは、図19の例の左側に示すように、特定した休憩時間に、プレヒートを実行するように制御する。   FIG. 19 is a diagram for explaining another process performed by the setting function 133b. As shown on the left side of the example of FIG. 19, the setting function 133b refers to the examination reservation information, and specifies a break time from 12 am to 1 pm (13:00) when no examination is performed. Then, as shown on the left side of the example in FIG. 19, the setting function 133b performs control so that preheating is executed during the specified break time.

ここで、設定機能133bは、特定した時間にプレヒートを行うか否かについて、図18を用いて説明したプレヒート判定処理を行うことにより判定し、そして、設定機能133bは、判定結果に応じてプレヒートを実行するように制御してもよい。   Here, the setting function 133b determines whether or not to perform preheating at the specified time by performing the preheat determination process described with reference to FIG. 18, and the setting function 133b performs preheating according to the determination result. You may control to perform.

図1の説明に戻り、表示制御機能133cは、現在の鉄シム103eの温度と、現在から最も早く実行されるプロトコルと、このプロトコルの温度上昇モデルとに応じて、このプロトコルが実行されるタイミングを示す情報をディスプレイ135に表示させる。なお、表示制御機能133cは、特許請求の範囲に記載された表示制御部の一例である。   Returning to the description of FIG. 1, the display control function 133c determines the timing at which this protocol is executed according to the current temperature of the iron shim 103e, the protocol that is executed earliest from the present, and the temperature increase model of this protocol. Is displayed on the display 135. The display control function 133c is an example of a display control unit described in the claims.

図20は、表示制御機能133bによりディスプレイ135に表示される、プロトコルが実行されるタイミングを示す情報の一例を示す図である。図20の例では、プロトコルが実行されるタイミングを示す情報として、領域34、領域35及び領域36のそれぞれに青色の画像、黄色の画像、赤色の画像が表示される。   FIG. 20 is a diagram illustrating an example of information indicating the timing at which the protocol is executed, which is displayed on the display 135 by the display control function 133b. In the example of FIG. 20, a blue image, a yellow image, and a red image are displayed in each of the region 34, the region 35, and the region 36 as information indicating the timing at which the protocol is executed.

例えば、表示制御機能133cは、記憶回路132に記憶された撮像条件を参照し、現在から最も早く実行されるプロトコルを選択する。そして、表示制御機能133cは、最適プレヒート時間を算出する。なお、表示制御機能133cは、先の図6のステップS210において設定機能133bが最適プレヒート時間を算出した方法と同様の方法で、最適プレヒート時間を算出する。   For example, the display control function 133c refers to the imaging conditions stored in the storage circuit 132, and selects the protocol that is executed earliest from now. Then, the display control function 133c calculates an optimal preheat time. The display control function 133c calculates the optimum preheat time by the same method as the method in which the setting function 133b has calculated the optimum preheat time in step S210 of FIG.

そして、表示制御機能133cは、最適プレヒート時間が、第1の閾値以上である場合には、今すぐには撮像が行えないため、図20の例に示すように、領域34cに赤色の画像を表示させる。   Then, the display control function 133c cannot immediately capture an image when the optimal preheat time is equal to or greater than the first threshold value. Therefore, as shown in the example of FIG. 20, the display control function 133c displays a red image in the region 34c. Display.

また、表示制御機能133cは、最適プレヒート時間が、第1の閾値未満であり、第1の閾値よりも小さい第2の閾値以上である場合には、少し待てば撮像が行えるため、図20の例に示すように、領域34bに黄色の画像を表示させる。   In addition, the display control function 133c can perform imaging when the optimum preheat time is less than the first threshold and is greater than or equal to the second threshold smaller than the first threshold. As shown in the example, a yellow image is displayed in the region 34b.

また、表示制御機能133cは、最適プレヒート時間が、第2の閾値未満である場合には、すぐに撮像が行えるため、図20の例に示すように、領域34aに青色の画像を表示させる。   In addition, the display control function 133c displays a blue image in the region 34a as shown in the example of FIG. 20 because an image can be captured immediately when the optimal preheat time is less than the second threshold.

したがって、操作者は、領域34a〜34cに表示された画像の色を確認するだけで、容易にプロトコルの実行タイミングを把握することができる。   Therefore, the operator can easily grasp the execution timing of the protocol simply by confirming the colors of the images displayed in the areas 34a to 34c.

そして、表示制御機能133cは、上述した処理を所定時間(例えば、2秒)ごとに実行して、プロトコルが実行されるタイミングを示す情報をリアルタイムでディスプレイ135に表示させる。   The display control function 133c executes the above-described processing every predetermined time (for example, 2 seconds), and displays information indicating the timing at which the protocol is executed on the display 135 in real time.

以上、実施形態に係るMRI装置100について説明した。MRI装置100によれば、上述したように、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への影響を抑えることができる。   The MRI apparatus 100 according to the embodiment has been described above. According to the MRI apparatus 100, as described above, it is possible to suppress an influence on imaging due to a temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

なお、図15の下側のグラフが示す例において、設定機能133bが、冷却システム200による冷却だけを行わせる時間t26を算出する例について説明した。これは、プロトコルBの実行が完了した時点で、鉄シム103eの温度が高くなっており、傾斜磁場コイル103の冷却期間を設けずに、すぐに、プロトコルAの実行時間分だけプロトコルAを実行してしまうと、MRI装置100の許容温度Tを超えてしまう可能性があるからである。しかしながら、実施形態はこれに限られない。例えば、設定機能133bは、プロトコルBの実行が完了した時点で、プロトコルAの実行時間分だけプロトコルAを実行するのではなく、許容温度Tを超えない時間だけプロトコルAを実行してもよい。 In the example shown in the lower graph of FIG. 15, the example in which the setting function 133 b calculates the time t <b> 26 during which only cooling by the cooling system 200 is performed has been described. This is because when the execution of the protocol B is completed, the temperature of the iron shim 103e is high, and the protocol A is immediately executed for the execution time of the protocol A without providing a cooling period for the gradient coil 103. This is because there is a possibility that the allowable temperature T t of the MRI apparatus 100 may be exceeded. However, the embodiment is not limited to this. For example, when the execution of the protocol B is completed, the setting function 133b may not execute the protocol A for the execution time of the protocol A, but may execute the protocol A for a time not exceeding the allowable temperature T t. .

例えば、設定機能133bは、プロトコルAの温度上昇モデルにおいて、プロトコルBの実行が完了した時点での鉄シム103eの温度に対応する時間から、許容温度Tを超えない温度に対応する時間までの時間を、上述した許容温度Tを超えない時間として算出すればよい。そして、設定機能133bは、プロトコルBの実行が完了した時点から、算出した時間分だけプロトコルAを実行すればよい。このように、設定機能133bは、撮像条件として設定された実行時間分だけ実行した場合に許容温度Tを超えてしまうようなプロトコルであっても、実行する時間を調整することで、実行することができる。 For example, in the temperature increase model of protocol A, the setting function 133b is from a time corresponding to the temperature of the iron shim 103e at the time when execution of the protocol B is completed to a time corresponding to a temperature not exceeding the allowable temperature T t . What is necessary is just to calculate time as time which does not exceed the allowable temperature Tt mentioned above. Then, the setting function 133b may execute the protocol A for the calculated time from the time when the execution of the protocol B is completed. As described above, the setting function 133b is executed by adjusting the time to be executed even if the protocol exceeds the allowable temperature Tt when executed for the execution time set as the imaging condition. be able to.

以上述べた少なくとも1つの実施形態の磁気共鳴イメージング装置によれば、鉄シム103eの温度の時間的な変化による撮像への影響を抑えることができる。   According to the magnetic resonance imaging apparatus of at least one embodiment described above, it is possible to suppress an influence on imaging due to a temporal change in the temperature of the iron shim 103e.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

100 MRI装置
133a 受付機能
133b 設定機能
133c 表示制御機能
100 MRI apparatus 133a reception function 133b setting function 133c display control function

Claims (11)

被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
画質に関する希望条件の入力を操作者から受け付ける受付部と、
を備え、
前記導出部は、前記希望条件に応じて、前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A reception unit that receives input of desired conditions related to image quality from an operator;
Bei to give a,
The derivation unit is a magnetic resonance imaging apparatus that derives the time schedule according to the desired condition.
前記導出部は、プロトコルに設定された撮像条件を当該プロトコルに対応する温度変化モデルに当てはめることにより、当該プロトコルと、当該プロトコルよりも1つ前に実行されるプロトコルとの間の待機時間を最適化する、請求項1に記載の磁気共鳴イメージング装置。   The derivation unit optimizes the waiting time between the protocol and the protocol executed immediately before the protocol by applying the imaging condition set in the protocol to the temperature change model corresponding to the protocol. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1. 前記導出部は、前記プロトコル群に含まれるプロトコルのそれぞれの前記温度変化モデルに基づいて、前記プロトコルの実行順序を決定し、決定した実行順序で前記プロトコルが実行されるように前記タイムスケジュールを導出する、請求項1又は2に記載の磁気共鳴イメージング装置。 The derivation unit determines an execution order of the protocols based on the temperature change models of the protocols included in the protocol group, and derives the time schedule so that the protocols are executed in the determined execution order. The magnetic resonance imaging apparatus according to claim 1 or 2 . 被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
待機時間の上限値の入力を操作者から受け付ける受付部と、
を備え
前記導出部は、前記待機時間を前記上限値以下に抑えるよう、前記プロトコル群に含まれるプロトコルの実行順序を最適化する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A reception unit that receives an input of an upper limit value of the waiting time from the operator;
Equipped with a,
The deriving unit, to reduce the waiting time below the upper limit value, to optimize the execution order of the protocol contained in the protocol suite, magnetic resonance imaging device.
被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記傾斜磁場コイルに設けられ、前記静磁場の空間的な不均一を補正する金属シムと、
前記プロトコルの実行が開始される前に前記金属シムの温度を上昇させるプレヒートの実行時間の上限値を受け付ける受付部と、
を備え、
前記導出部は、前記温度変化モデルに基づいて、前記受付部により受け付けられたプレヒートの実行時間の上限値以下の時間だけ前記プレヒートが行われるように前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A metal shim provided in the gradient magnetic field coil to correct spatial non-uniformity of the static magnetic field;
A reception unit that receives an upper limit value of a preheating execution time for increasing the temperature of the metal shim before the execution of the protocol is started;
Bei to give a,
The deriving unit, on the basis of the temperature change model, wherein only the upper limit or less of the time of the execution time of preheating accepted by the accepting unit preheating deriving the time scheduled to occur, magnetic resonance imaging apparatus .
前記導出部は、前記温度変化モデルに基づいて、前記プレヒートの実行時間の候補を予測し、予測した前記プレヒートの実行時間の候補が示す時間が前記受付部により受け付けられたプレヒートの実行時間の上限値以上である場合には、前記受付部により受け付けられたプレヒートの実行時間だけ前記プレヒートが行われるように前記タイムスケジュールを導出し、予測した前記プレヒートの実行時間の候補が示す時間が前記受付部により受け付けられたプレヒートの実行時間の上限値未満である場合には、予測した前記プレヒートの実行時間の候補が示す時間だけ前記プレヒートが行われるように前記タイムスケジュールを導出する、請求項5に記載の磁気共鳴イメージング装置。   The derivation unit predicts a candidate for the preheat execution time based on the temperature change model, and an upper limit of the preheat execution time accepted by the accepting unit is indicated by the predicted preheat execution time candidate If the value is equal to or greater than the value, the time schedule is derived so that the preheating is performed only for the preheat execution time received by the reception unit, and the time indicated by the predicted preheat execution time candidate is the reception unit. The time schedule is derived so that the preheating is performed only for a time indicated by the predicted preheating execution time candidate when the preheating execution time is less than the upper limit of the preheating execution time accepted by the method. Magnetic resonance imaging equipment. 被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記傾斜磁場コイルに設けられ、前記静磁場の空間的な不均一を補正する金属シムと、
を備え、
前記導出部は、前記プロトコル群に含まれるプロトコルのそれぞれの前記温度変化モデルに基づいて、前記プロトコルのそれぞれについて当該プロトコルが実行された場合の前記金属シムの温度を予測し、予測した前記温度が低いプロトコルから順に実行されるように前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A metal shim provided in the gradient magnetic field coil to correct spatial non-uniformity of the static magnetic field;
With
The derivation unit predicts the temperature of the metal shim when the protocol is executed for each of the protocols based on the temperature change model of each of the protocols included in the protocol group, and the predicted temperature is deriving the time schedule to be executed from the lower protocol in order, magnetic resonance imaging device.
被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記傾斜磁場コイルに設けられ、前記静磁場の空間的な不均一を補正する金属シムと、
を備え、
前記導出部は、前記プロトコル群に含まれるプロトコルのそれぞれの前記温度変化モデルに基づいて、前記プロトコルのそれぞれについて当該プロトコルが実行された場合の前記金属シムの温度を予測し、予測した前記温度が高いプロトコルから順に実行されるように前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A metal shim provided in the gradient magnetic field coil to correct spatial non-uniformity of the static magnetic field;
With
The derivation unit predicts the temperature of the metal shim when the protocol is executed for each of the protocols based on the temperature change model of each of the protocols included in the protocol group, and the predicted temperature is deriving the time schedule to be executed from a higher protocol order, magnetic resonance imaging device.
被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記傾斜磁場コイルに設けられ、前記静磁場の空間的な不均一を補正する金属シムと、
を備え、
前記導出部は、前記プロトコル群に含まれるプロトコルが実行された場合の実行開始時の前記金属シムの温度と実行完了時の前記金属シムの温度との差に基づいて、前記金属シムの温度を上昇させるプレヒートが行われるか否かを示す前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A metal shim provided in the gradient magnetic field coil to correct spatial non-uniformity of the static magnetic field;
With
The deriving unit calculates the temperature of the metal shim based on the difference between the temperature of the metal shim at the start of execution and the temperature of the metal shim at the completion of execution when a protocol included in the protocol group is executed. preheat to increase derives the time schedule indicating whether performed, magnetic resonance imaging device.
被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記傾斜磁場コイルに設けられ、前記静磁場の空間的な不均一を補正する金属シムと、
を備え、
現在の前記金属シムの温度と、前記温度変化モデルとに基づいて、前記プロトコルを実行させるタイミングを示す情報を表示部に表示させる表示制御部を備える、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A metal shim provided in the gradient magnetic field coil to correct spatial non-uniformity of the static magnetic field;
With
And the temperature of the current of the metal shim, on the basis of the temperature change model comprises a display control unit for displaying the information indicating the timing for executing the protocol on the display unit, magnetic resonance imaging device.
被検体が置かれる静磁場内に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルの温度の時間的な変化を示す温度変化モデルを用いて、一連のプロトコル群を含む1検査のタイムスケジュールを導出する導出部と、
前記タイムスケジュールに従って、前記プロトコル群に含まれるプロトコルを順次実行するシーケンス制御部と、
前記プロトコルの実行が開始される前に前記傾斜磁場コイルの温度を低下させる制御の実行時間の上限値を受け付ける受付部と、
を備え、
前記導出部は、前記温度変化モデルに基づいて、前記制御の実行時間の候補を予測し、予測した前記制御の実行時間の候補が示す時間が前記受付部により受け付けられた制御の実行時間の上限値以上である場合には、前記受付部により受け付けられた制御の実行時間だけ前記制御が行われるように前記タイムスケジュールを導出し、予測した前記制御の実行時間の候補が示す時間が前記受付部により受け付けられた制御の実行時間の上限値未満である場合には、予測した前記制御の実行時間の候補が示す時間だけ前記制御が行われるように前記タイムスケジュールを導出する、磁気共鳴イメージング装置。
A gradient coil for applying a gradient magnetic field within a static magnetic field in which the subject is placed;
A derivation unit for deriving a time schedule of one examination including a series of protocol groups using a temperature change model indicating a temporal change in temperature of the gradient coil;
A sequence control unit that sequentially executes protocols included in the protocol group according to the time schedule;
A reception unit that receives an upper limit value of an execution time of control for lowering the temperature of the gradient coil before the execution of the protocol is started ;
With
The derivation unit predicts a candidate for the execution time of the control based on the temperature change model, and the upper limit of the execution time of the control received by the reception unit is the time indicated by the predicted candidate for the execution time of the control When the value is equal to or greater than the value, the time schedule is derived so that the control is performed only for the control execution time received by the reception unit, and the time indicated by the predicted control execution time candidate is the reception unit. When the control execution time accepted is less than the upper limit value of the control execution time, the magnetic resonance imaging apparatus derives the time schedule so that the control is performed only for the time indicated by the predicted control execution time candidate.
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