JP6570700B2 - Touch panel - Google Patents
Touch panel Download PDFInfo
- Publication number
- JP6570700B2 JP6570700B2 JP2018101345A JP2018101345A JP6570700B2 JP 6570700 B2 JP6570700 B2 JP 6570700B2 JP 2018101345 A JP2018101345 A JP 2018101345A JP 2018101345 A JP2018101345 A JP 2018101345A JP 6570700 B2 JP6570700 B2 JP 6570700B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- conductive layer
- transistor
- touch panel
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 91
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 61
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 503
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 109
- 239000010408 film Substances 0.000 description 75
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 description 37
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 27
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 27
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 27
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 25
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 24
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 24
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 21
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 14
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 12
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 10
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 7
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- -1 copper-magnesium-aluminum Chemical compound 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- GPBUGPUPKAGMDK-UHFFFAOYSA-N azanylidynemolybdenum Chemical compound [Mo]#N GPBUGPUPKAGMDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 229920006231 aramid fiber Polymers 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N cadmium nickel Chemical compound [Ni].[Cd] OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000011245 gel electrolyte Substances 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021480 group 4 element Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052987 metal hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N nickel zinc Chemical compound [Ni].[Zn] QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920006350 polyacrylonitrile resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N silver zinc Chemical compound [Zn].[Ag] BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Description
本発明の一態様は、タッチパネルに関する。または、可撓性を有するタッチパネルに関
する。
One embodiment of the present invention relates to a touch panel. Alternatively, the present invention relates to a flexible touch panel.
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する発明
の一態様は、物、方法、又は、製造方法に関する。本発明の一態様は、プロセス、マシン
、マニュファクチャ、又は、組成物(コンポジション・オブ・マター)に関する。そのた
め、より具体的に本明細書で開示する本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、
表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置、電子機器、照明装置、入力装置、入出力装置
、それらの駆動方法、又は、それらの製造方法、を一例として挙げることができる。
Note that one embodiment of the present invention is not limited to the above technical field. One embodiment of the invention disclosed in this specification and the like relates to an object, a method, or a manufacturing method. One aspect of the present invention relates to a process, a machine, a manufacture, or a composition (composition of matter). Therefore, a technical field of one embodiment of the present invention disclosed more specifically in this specification includes a semiconductor device,
A display device, a light-emitting device, a power storage device, a storage device, an electronic device, a lighting device, an input device, an input / output device, a driving method thereof, or a manufacturing method thereof can be given as an example.
なお、本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる
装置全般を指す。トランジスタなどの半導体素子をはじめ、半導体回路、演算装置、記憶
装置は、半導体装置の一態様である。撮像装置、表示装置、液晶表示装置、発光装置、電
気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含む)、及び電子機器は、
半導体装置を有している場合がある。
Note that in this specification and the like, a semiconductor device refers to any device that can function by utilizing semiconductor characteristics. A semiconductor element such as a transistor, a semiconductor circuit, an arithmetic device, and a memory device are one embodiment of the semiconductor device. Imaging devices, display devices, liquid crystal display devices, light emitting devices, electro-optical devices, power generation devices (including thin film solar cells, organic thin film solar cells, etc.), and electronic devices
A semiconductor device may be included.
近年、表示装置は様々な用途への応用が期待されており、多様化が求められている。例
えば、携帯情報端末としてタッチパネルを備えるスマートフォンやタブレット端末の開発
が進められている。
In recent years, display devices are expected to be applied to various uses, and diversification is required. For example, development of a smart phone or a tablet terminal provided with a touch panel as a portable information terminal is underway.
また、特許文献1には、フィルム基板上に、スイッチング素子であるトランジスタや有
機EL素子を備えたフレキシブルなアクティブマトリクス型の発光装置が開示されている
。
表示パネルに、ユーザーインターフェースとして画面に指やスタイラス等で触れること
で入力する機能を付加したタッチパネルが望まれている。
There is a demand for a touch panel in which a display panel is added with a function of inputting by touching the screen with a finger or a stylus as a user interface.
例えば、タッチパネルは表示パネルの視認側にタッチセンサを設ける構成とすることが
できる。タッチパネルに設けられるタッチセンサは検出感度が高いことが望まれる。また
、タッチセンサは表示パネルと重ねて設けるため、タッチセンサを設けない場合に比べて
視認性が低下してしまう場合がある。
For example, the touch panel can be configured to provide a touch sensor on the viewing side of the display panel. The touch sensor provided on the touch panel is desired to have high detection sensitivity. In addition, since the touch sensor is provided so as to overlap with the display panel, the visibility may be reduced as compared with the case where the touch sensor is not provided.
特に、タッチセンサを構成する配線等に遮光性の材料を用いた場合、当該配線等が視認
されてしまい、タッチパネルの表示品位が低下してしまう場合がある。特に、配線等が光
を反射する材料の場合、強い外光に曝されると反射により配線が視認されてしまう場合が
ある。
In particular, when a light-shielding material is used for the wiring or the like constituting the touch sensor, the wiring or the like is visually recognized, and the display quality of the touch panel may be deteriorated. In particular, when the wiring or the like is a material that reflects light, the wiring may be visually recognized due to reflection when exposed to strong external light.
本発明の一態様は、タッチパネルの視認性を向上させることを課題の一とする。または
、タッチパネルの検出感度を向上させることを課題の一とする。または、厚さの薄いタッ
チパネルを提供することを課題の一とする。または、曲げることのできるタッチパネルを
提供することを課題の一とする。または、軽量なタッチパネルを提供することを課題の一
とする。または、信頼性の高いタッチパネルを提供することを課題の一とする。または、
新規な入力装置を提供することを課題の一とする。または、新規な入出力装置を提供する
ことを課題の一とする。
An object of one embodiment of the present invention is to improve the visibility of a touch panel. Another object is to improve detection sensitivity of a touch panel. Another object is to provide a thin touch panel. Another object is to provide a touch panel that can be bent. Another object is to provide a lightweight touch panel. Another object is to provide a highly reliable touch panel. Or
An object is to provide a novel input device. Another object is to provide a novel input / output device.
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の
一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課
題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、
図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
Note that the description of these problems does not disturb the existence of other problems. Note that one embodiment of the present invention does not have to solve all of these problems. Problems other than these will become apparent from the description, drawings, claims, etc., and the description,
Issues other than these can be extracted from the description of the drawings and claims.
本発明の一態様は、第1の基板と、第2の基板と、表示素子と、第1の層と、第2の層
と、第1の導電層と、第2の導電層と、第3の導電層と、絶縁層と、を有するタッチパネ
ルである。第1の基板と第2の基板は、互いに重なる領域を有する。第1の基板と第2の
基板の間に、表示素子と、第1の層と、第2の層と、第1の導電層と、第2の導電層と、
第3の導電層と、絶縁層と、を有する。第1の層は、表示素子よりも第1の基板側に位置
する。第1の層と表示素子とは互いに重なる領域を有する。第2の層は、表示素子よりも
第1の基板側に位置する。絶縁層は、第1の導電層と第2の導電層の間に位置する領域を
有する。第1の導電層、第2の導電層、及び絶縁層は、第1の層及び第2の層よりも第1
の基板側に位置する。第3の導電層は、表示素子よりも第1の基板側に位置し、且つ第2
の層よりも第2の基板側に位置する。第3の導電層と第2の層とは互いに重なる領域を有
する。第1の導電層、及び第2の導電層は、可視光を透過する機能を有する。第1の層は
、特定波長帯域の光を透過する機能を有する。第2の層は、可視光を遮光する機能を有す
る。
One embodiment of the present invention includes a first substrate, a second substrate, a display element, a first layer, a second layer, a first conductive layer, a second conductive layer, 3 is a touch panel having three conductive layers and an insulating layer. The first substrate and the second substrate have regions that overlap each other. A display element, a first layer, a second layer, a first conductive layer, a second conductive layer, between the first substrate and the second substrate;
A third conductive layer; and an insulating layer. The first layer is located closer to the first substrate than the display element. The first layer and the display element have regions that overlap each other. The second layer is located closer to the first substrate than the display element. The insulating layer has a region located between the first conductive layer and the second conductive layer. The first conductive layer, the second conductive layer, and the insulating layer are more first than the first layer and the second layer.
Located on the substrate side. The third conductive layer is located closer to the first substrate than the display element, and the second conductive layer
It is located on the second substrate side of the layer. The third conductive layer and the second layer have regions that overlap each other. The first conductive layer and the second conductive layer have a function of transmitting visible light. The first layer has a function of transmitting light in a specific wavelength band. The second layer has a function of shielding visible light.
また、上記において、第2の層は開口を有し、第3の導電層と、第1の導電層または第
2の導電層とは、前記開口を介して電気的に接続されていることが好ましい。
In the above, the second layer has an opening, and the third conductive layer and the first conductive layer or the second conductive layer are electrically connected through the opening. preferable.
また上記において、トランジスタを有する構成とすることが好ましい。このとき当該ト
ランジスタは、第1の層よりも第1の基板側に位置し、且つ、第2の層よりも第1の基板
側に位置し、第3の導電層は、トランジスタのゲート、ソースまたはドレインと電気的に
接続されている構成とすることが好ましい。
In the above, a structure including a transistor is preferable. At this time, the transistor is located closer to the first substrate than the first layer and located closer to the first substrate than the second layer, and the third conductive layer includes the gate and source of the transistor Alternatively, a structure in which the drain is electrically connected is preferable.
また上記において、表示素子として発光素子を用いることが好ましい。 In the above, a light-emitting element is preferably used as the display element.
また上記において、第1の基板と第2の基板は可撓性を有することが好ましい。 In the above, it is preferable that the first substrate and the second substrate have flexibility.
また、上記いずれかのタッチパネルと、FPC(Flexible printed
circuit)とを有するタッチパネルモジュールとすることが好ましい。また当該タ
ッチパネルモジュールを筐体内に組み込んだ電子機器も、本発明の一態様である。
In addition, one of the touch panels described above and FPC (Flexible printed)
It is preferable to use a touch panel module having a circuit). An electronic device in which the touch panel module is incorporated in a housing is also one embodiment of the present invention.
本発明の一態様によれば、タッチパネルの視認性を向上できる。または、タッチパネル
の検出感度を向上できる。または、厚さの薄いタッチパネルを提供できる。または、曲げ
ることのできるタッチパネルを提供できる。または、軽量なタッチパネルを提供できる。
または、信頼性の高いタッチパネルを提供できる。または、新規な入力装置を提供できる
。または、新規な入出力装置を提供できる。なお、これらの効果の記載は、他の効果の存
在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有
する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から、自
ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果
を抽出することが可能である。
According to one embodiment of the present invention, the visibility of a touch panel can be improved. Alternatively, the detection sensitivity of the touch panel can be improved. Alternatively, a thin touch panel can be provided. Alternatively, a touch panel that can be bent can be provided. Alternatively, a lightweight touch panel can be provided.
Alternatively, a highly reliable touch panel can be provided. Alternatively, a novel input device can be provided. Alternatively, a novel input / output device can be provided. Note that the description of these effects does not disturb the existence of other effects. Note that one embodiment of the present invention does not necessarily have all of these effects. It should be noted that the effects other than these are naturally obvious from the description of the specification, drawings, claims, etc., and it is possible to extract the other effects from the descriptions of the specification, drawings, claims, etc. It is.
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定
されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更
し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態
の記載内容に限定して解釈されるものではない。
Embodiments will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following description, and it is easily understood by those skilled in the art that modes and details can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, the present invention should not be construed as being limited to the description of the embodiments below.
なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には
同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様
の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。
Note that in structures of the invention described below, the same portions or portions having similar functions are denoted by the same reference numerals in different drawings, and description thereof is not repeated. In addition, in the case where the same function is indicated, the hatch pattern is the same, and there is a case where no reference numeral is given.
なお、本明細書で説明する各図において、各構成の大きさ、層の厚さ、または領域は、
明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されな
い。
Note that in each drawing described in this specification, the size of each component, the thickness of a layer, or a region is
May be exaggerated for clarity. Therefore, it is not necessarily limited to the scale.
なお、本明細書等における「第1」、「第2」等の序数詞は、構成要素の混同を避ける
ために付すものであり、数的に限定するものではない。
In the present specification and the like, ordinal numbers such as “first” and “second” are used for avoiding confusion between components, and are not limited numerically.
トランジスタは半導体素子の一種であり、電流や電圧の増幅や、導通または非導通を制
御するスイッチング動作などを実現することができる。本明細書におけるトランジスタは
、IGFET(Insulated Gate Field Effect Trans
istor)や薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor
)を含む。
A transistor is a kind of semiconductor element, and can realize amplification of current and voltage, switching operation for controlling conduction or non-conduction, and the like. The transistor in this specification is an IGFET (Insulated Gate Field Effect Trans).
istor) and thin film transistor (TFT: Thin Film Transistor)
)including.
なお、「膜」という言葉と、「層」という言葉とは、場合によっては、または、状況に
応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導電
膜」という用語に変更することが可能な場合がある。または、例えば、「絶縁膜」という
用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能な場合がある。
Note that the terms “film” and “layer” can be interchanged with each other depending on the case or circumstances. For example, the term “conductive layer” may be changed to the term “conductive film”. Alternatively, for example, the term “insulating film” may be changed to the term “insulating layer” in some cases.
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様のタッチセンサ、タッチセンサを備えるタッチセン
サモジュール、タッチパネル、およびタッチパネルモジュール等の構成について説明する
。以下では、静電容量の変化を検知することにより、指やスタイラスなどの被検知体の接
触または近接を検出する方式のタッチセンサを適用した場合の構成例について説明する。
(Embodiment 1)
In this embodiment, structures of a touch sensor of one embodiment of the present invention, a touch sensor module including a touch sensor, a touch panel, a touch panel module, and the like are described. Hereinafter, a configuration example in the case of applying a touch sensor that detects contact or proximity of a detection target such as a finger or a stylus by detecting a change in capacitance will be described.
なお、本明細書等において、タッチセンサを備える基板に、例えばFPCもしくはTC
P(Tape Carrier Package)などのコネクターが取り付けられたも
の、または基板にCOG(Chip On Glass)方式等によりICが実装された
ものを、タッチセンサモジュールと呼ぶ場合がある。またタッチセンサとしての機能と、
画像等を表示する機能の両方を備える装置をタッチパネル(入出力装置)と呼ぶ場合があ
る。なお、タッチパネルに上記コネクターが取り付けられたもの、またはICが実装され
たものをタッチパネルモジュール、または単にタッチパネルと呼ぶ場合がある。
In this specification and the like, for example, FPC or TC
A device to which a connector such as P (Tape Carrier Package) is attached, or a device in which an IC is mounted on a substrate by a COG (Chip On Glass) method or the like may be referred to as a touch sensor module. In addition, the function as a touch sensor,
A device having both functions for displaying images and the like may be referred to as a touch panel (input / output device). Note that a touch panel to which the connector is attached or an IC is mounted may be referred to as a touch panel module or simply a touch panel.
本発明の一態様に適用することのできる静電容量方式のタッチセンサは、容量素子を備
える。容量素子は例えば第1の導電層、及び第2の導電層と、これらの間に絶縁層とが挟
持された積層構造を有する構成とすることができる。このとき第1の導電層と第2の導電
層はそれぞれ容量素子の電極として機能する。また絶縁層は誘電体として機能する。
A capacitive touch sensor that can be applied to one embodiment of the present invention includes a capacitor. The capacitor can have a stacked structure in which, for example, a first conductive layer, a second conductive layer, and an insulating layer are sandwiched therebetween. At this time, the first conductive layer and the second conductive layer each function as an electrode of the capacitor. The insulating layer functions as a dielectric.
第1の導電層と第2の導電層のうち、第1の導電層がタッチ面(検出面)側に設けられ
るものとする。本発明の一態様のタッチセンサは、指やスタイラス等の被検出体と、第1
の導電層との間に形成される容量を検出することで、タッチ動作を検出することができる
。具体的には、第1の導電層と第2の導電層との間に所定の電位差が与えられていた時に
、タッチ動作により形成させる容量により生じる、第1の導電層の電位の変化を検出する
ことで、タッチ動作を検出することができる。
Of the first conductive layer and the second conductive layer, the first conductive layer is provided on the touch surface (detection surface) side. A touch sensor of one embodiment of the present invention includes a detection target such as a finger or a stylus,
The touch operation can be detected by detecting the capacitance formed between the conductive layer and the conductive layer. Specifically, when a predetermined potential difference is applied between the first conductive layer and the second conductive layer, a change in the potential of the first conductive layer caused by the capacitance formed by the touch operation is detected. By doing so, the touch operation can be detected.
また、本発明の一態様のタッチセンサを、表示素子を備える画素を有する表示パネルと
重ねて、タッチパネルを構成することができる。また画素はタッチ面(検出面)側に光を
射出、または透過する。ここで、表示素子に重ねてカラーフィルタ(着色層ともいう)を
設けると、画素からの光の色純度を高めることができる。また、隣接する2つのカラーフ
ィルタの間に遮光層を設けると、隣接する2つの画素から射出される光の混色を抑制し、
表示品位を高めることができる。
The touch sensor of one embodiment of the present invention can be overlapped with a display panel including a pixel including a display element to form a touch panel. The pixels emit or transmit light toward the touch surface (detection surface). Here, when a color filter (also referred to as a colored layer) is provided over the display element, the color purity of light from the pixel can be increased. In addition, if a light shielding layer is provided between two adjacent color filters, color mixing of light emitted from two adjacent pixels is suppressed,
Display quality can be improved.
ここで、本発明の一態様は、容量を構成する2つの導電層のほかに第3の導電層を有す
る。第3の導電層は、容量素子の第1の導電層、第2の導電層、または他の回路等と電気
的に接続する配線としての機能を有することが好ましい。このとき、第3の導電層を遮光
層よりも表示素子側に設け、第3の導電層と遮光層とが互いに重なる領域を有する構成と
することが好ましい。こうすることで、タッチパネルの検出面側(すなわち表示面側)か
らみたときに、第3の導電層が遮光層によって隠され、視認されてしまうことを防ぐこと
ができる。そのため、極めて視認性の高いタッチパネルとすることができる。
Here, one embodiment of the present invention includes a third conductive layer in addition to the two conductive layers included in the capacitor. The third conductive layer preferably has a function as a wiring electrically connected to the first conductive layer, the second conductive layer, or another circuit of the capacitor. At this time, it is preferable that the third conductive layer is provided closer to the display element than the light shielding layer, and the third conductive layer and the light shielding layer have a region where they overlap each other. By doing so, it is possible to prevent the third conductive layer from being hidden by the light shielding layer and viewed when viewed from the detection surface side (that is, the display surface side) of the touch panel. Therefore, a touch panel with extremely high visibility can be obtained.
第3の導電層には、例えば金属や合金を含む材料を用いることが好ましい。金属や合金
を含む材料は比較的導電性が高いため、配線や電極に用いた場合に信号の遅延が抑制され
、タッチセンサの検出感度を向上させることができる。なお、このような材料の多くは可
視光を遮光する性質を有するが、第3の導電層が遮光層に隠れて位置するため、画素から
の光を遮ることがなく、タッチパネルの開口率を高めることができる。なお、第3の導電
層は必ずしも光を遮光する材料を用いる必要はなく、例えば導電性酸化物や導電性有機化
合物等の可視光の一部を透過する材料を用いることもできる。
For the third conductive layer, for example, a material containing a metal or an alloy is preferably used. Since a material including a metal or an alloy has relatively high conductivity, signal delay is suppressed when used for a wiring or an electrode, and detection sensitivity of the touch sensor can be improved. Note that many of these materials have a property of blocking visible light, but the third conductive layer is hidden behind the light blocking layer, so that light from the pixels is not blocked and the aperture ratio of the touch panel is increased. be able to. Note that the third conductive layer does not necessarily need to use a material that blocks light, and a material that transmits part of visible light, such as a conductive oxide or a conductive organic compound, can also be used.
またタッチパネルは、タッチセンサを支持する基板と、表示素子を支持する基板の2枚
の基板を対向させて配置した構成を有することが好ましい。またこのとき、タッチセンサ
が備える複数のセンサ素子が、容量素子と、トランジスタなどの能動素子の両方を備える
、アクティブマトリクス方式のタッチセンサとすることが好ましい。このような構成とす
ることで、表示素子を駆動させたときに生じるノイズの影響を、タッチセンサが受けにく
くすることが可能となる。そのためタッチセンサと表示素子を2枚の基板の間に挟持させ
、これらが近接して配置された構成としても検出感度の低下を抑えることができる。特に
、一対の基板に可撓性を有する材料を用いることで、薄く、軽量で且つフレキシブルなタ
ッチパネルを実現することができる。
The touch panel preferably has a configuration in which two substrates, a substrate that supports the touch sensor, and a substrate that supports the display element are arranged to face each other. At this time, it is preferable that the plurality of sensor elements included in the touch sensor be an active matrix touch sensor including both a capacitor element and an active element such as a transistor. With such a configuration, it is possible to make the touch sensor less susceptible to noise caused when the display element is driven. Therefore, even if the touch sensor and the display element are sandwiched between two substrates and these are arranged close to each other, it is possible to suppress a decrease in detection sensitivity. In particular, by using a flexible material for the pair of substrates, a thin, lightweight, and flexible touch panel can be realized.
またこのとき、タッチセンサを支持する基板にセンサ素子や回路を構成するトランジス
タを形成し、トランジスタや容量素子と電気的に接続する配線として機能する導電層に、
上記第3の導電層を適用することが好ましい。こうすることで、タッチパネルの検出面側
にトランジスタ等の素子を設ける構成とした場合であっても、タッチパネルの検出面側か
ら視認される電極や配線の面積を最小限にすることができ、視認性の悪化を抑制すること
ができる。
At this time, a transistor that forms a sensor element or a circuit is formed on a substrate that supports the touch sensor, and a conductive layer that functions as a wiring electrically connected to the transistor or the capacitor element
It is preferable to apply the third conductive layer. In this way, even when a device such as a transistor is provided on the detection surface side of the touch panel, the area of the electrodes and wiring visible from the detection surface side of the touch panel can be minimized. Sexual deterioration can be suppressed.
以下では、本発明の一態様のより具体的な構成例について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, a more specific structure example of one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[構成例]
図1(A)は、本発明の一態様のタッチパネルモジュール10の斜視概略図である。ま
た図1(B)は、タッチパネルモジュール10を展開した時の斜視概略図である。タッチ
パネルモジュール10は、タッチセンサモジュール20と、表示パネル30とが重ねて設
けられた構成を有する。
[Configuration example]
FIG. 1A is a schematic perspective view of a touch panel module 10 of one embodiment of the present invention. FIG. 1B is a schematic perspective view when the touch panel module 10 is developed. The touch panel module 10 has a configuration in which a
タッチセンサモジュール20は、第1の基板21上にセンサ素子(検知素子ともいう)
22を備えるタッチセンサ(タッチセンサパネルともいう)に、FPC41が設けられた
構成を有する。センサ素子22は、第1の基板21上にマトリクス状に複数配置されてい
る。また、第1の基板21上には、センサ素子22と電気的に接続される回路23、及び
回路24を備えることが好ましい。
The
A touch sensor (also referred to as a touch sensor panel) including the
回路23及び回路24の少なくとも一方は、複数のセンサ素子22を選択する機能を有
する回路を適用することができる。また、回路23及び回路24の少なくとも一方は、セ
ンサ素子22からの信号を出力する機能を有する回路を適用することができる。
A circuit having a function of selecting a plurality of
FPC41は、センサ素子22、回路23及び回路24の少なくとも一に、外部からの
信号を供給する機能を有する。または、FPC41は、センサ素子22、回路23及び回
路24の少なくとも一からの信号を外部に出力する機能を有する。
The
表示パネル30は、第2の基板31上に表示部32を有する。表示部32はマトリクス
状に配置された複数の画素33を備える。また第2の基板31上には、表示部32内の画
素33と電気的に接続する回路34を備えることが好ましい。回路34は、例えばゲート
駆動回路として機能する回路を適用することができる。
The
FPC42は、表示部32または回路34の少なくとも一に、外部からの信号を供給す
る機能を有する。また。図1では、第1の基板31に端子43を備える構成を有している
。端子43には、例えばFPCを取り付けること、ソース駆動回路として機能するICを
COG方式またはCOF方式により直接実装すること、またはICが実装されたFPC、
TAB、TCP等を取り付けること等が可能である。なお、表示パネル30にICやFP
C等のコネクターが実装された形態を、表示パネルモジュールと呼ぶこともできる。
The
It is possible to attach TAB, TCP, or the like. The
A form in which a connector such as C is mounted can also be called a display panel module.
本発明の一態様のタッチパネルモジュール10は、複数のセンサ素子22によりタッチ
動作が行われた際の容量の変化に基づく位置情報を出力することができる。また表示部3
2により画像を表示することができる。すなわち、タッチパネルモジュール10は入出力
装置と言い換えることもできる。
The touch panel module 10 of one embodiment of the present invention can output position information based on a change in capacitance when a touch operation is performed by the plurality of
2 can display an image. That is, the touch panel module 10 can be rephrased as an input / output device.
[タッチパネルが有する積層構造について]
図2(A)に、図1(A)中の破線で示す領域を拡大した概略図を示す。
[About laminated structure of touch panel]
FIG. 2A is a schematic diagram in which a region indicated by a broken line in FIG.
図2(A)には、図1(A)に示すセンサ素子22が備える容量素子110、画素33
、配線25、及び配線26が設けられている例を示している。
2A illustrates the
In this example, wiring 25 and
容量素子110はマトリクス状に複数並べて配置されている。配線25は隣接する2つ
の容量素子110の間に配置され、配線26は配線25と交差する方向に複数配置されて
いる。
A plurality of
画素33は、マトリクス状に並べて複数配置されている。複数の画素33のうち、一部
は容量素子110と重ねて設けられ、他の一部は、隣接する2つの容量素子110の間の
領域と重ねて設けられている。
A plurality of
画素33は、少なくとも表示素子を備える。表示素子としては、例えば有機EL(El
ectro Luminescence)素子などの発光素子を適用することが好ましい
。そのほか、表示素子として、電気泳動方式や電子粉流体方式やエレクトロウェッティン
グ方式などにより表示を行う素子(電子インクともいう)、シャッター方式のMEMS表
示素子、光干渉方式のMEMS表示素子、液晶素子など、様々な表示素子を用いることが
できる。
The
It is preferable to apply a light-emitting element such as an electro luminescence element. In addition, as a display element, an element that performs display by an electrophoresis method, an electronic powder fluid method, an electrowetting method, or the like (also referred to as electronic ink), a shutter-type MEMS display device, an optical interference-type MEMS display device, a liquid crystal device, or the like Various display elements can be used.
また、透過型液晶ディスプレイ、半透過型液晶ディスプレイ、反射型液晶ディスプレイ
、直視型液晶ディスプレイなどにも適用できる。なお、半透過型液晶ディスプレイや反射
型液晶ディスプレイを実現する場合には、画素電極の一部、または、全部が、反射電極と
しての機能を有するようにすればよい。例えば、画素電極の一部、または、全部が、アル
ミニウム、銀、などを有するようにすればよい。さらに、その場合、反射電極の下に、S
RAMなどの記憶回路を設けることも可能である。これにより、さらに、消費電力を低減
することができる。また、適用する表示素子に好適な構成を様々な画素回路から選択して
用いることができる。
The present invention can also be applied to a transmissive liquid crystal display, a transflective liquid crystal display, a reflective liquid crystal display, a direct view liquid crystal display, and the like. Note that in the case of realizing a transflective liquid crystal display or a reflective liquid crystal display, part or all of the pixel electrode may have a function as a reflective electrode. For example, part or all of the pixel electrode may have aluminum, silver, or the like. Further, in that case, under the reflective electrode, S
A storage circuit such as a RAM may be provided. Thereby, power consumption can be further reduced. In addition, a structure suitable for a display element to be applied can be selected from various pixel circuits and used.
図2(B)には、容量素子110と重なる領域における、積層構造を展開した概略図を
示す。図2(B)に示すように、第1の基板21と第2の基板31の間に、第1の導電層
111、絶縁層112、第2の導電層113、遮光層115、着色層114r、着色層1
14g、着色層114b、第3の導電層116、画素33が配置されている。ここでは、
第3の導電層116が、図2(A)に示す配線26の一つに相当する。
FIG. 2B is a schematic diagram in which a stacked structure is developed in a region overlapping with the
14g, the colored layer 114b, the third
The third
なお、以降では着色層114r、着色層114g及び着色層114bを区別することな
く、これらに共通する事項を説明する場合においては単に着色層114と表記する場合が
ある。
In the following description, the
第1の導電層111と第2の導電層113との間に絶縁層112が挟持され、これらが
容量素子110を構成している。
An insulating
各着色層114は、特定波長帯域の光を透過する機能を有する。ここでは、着色層11
4rは赤色の光を透過し、着色層114gは緑色の光を透過し、着色層114bは青色の
光を透過する。画素33と着色層114の一つが互いに重なるように配置されることで、
画素33からの光のうちの特定波長帯域の光のみを第1の基板21側に透過させることが
できる。
Each
4r transmits red light, the
Only light in a specific wavelength band among the light from the
遮光層115は、可視光を遮光する機能を有する。遮光層115は、隣接する2つの着
色層114の間の領域と重なるように配置される。図2(B)では、遮光層115として
開口部を有する形状とし、当該開口部が画素33及び着色層114と重なるように配置さ
れている例を示している。
The
なお、図2(B)では着色層114よりも第1の基板21側に遮光層115を配置する
構成を示しているが、遮光層115よりも第1の基板21側に着色層114を配置しても
よい。
Note that FIG. 2B illustrates a structure in which the
第1の導電層111、絶縁層112、及び第2の導電層113は、画素33及び着色層
114のそれぞれと重なる領域を有する。そのため第1の導電層111、絶縁層112、
及び第2の導電層113としては、それぞれ可視光を透過する材料を用いることが好まし
い。
The first
The second
第3の導電層116は、遮光層115と画素33との間に位置するように配置される。
言い換えると、第3の導電層116は、遮光層115よりも第2の基板31側に位置し、
且つ画素33よりも第1の基板21側に位置する。
The third
In other words, the third
In addition, it is located closer to the
また第3の導電層116は、遮光層115と互いに重なるように配置されていることが
好ましい。このような構成とすることで、画素33と第3の導電層116とが重ならない
ため、第3の導電層116に可視光を遮光する材料を用いたとしても、画素33の開口率
の低下を防ぐことができる。
The third
図3には、隣接する2つの第1の導電層111の間に、光学調整層119を配置した場
合を示している。
FIG. 3 shows a case where the
光学調整層119を設けることにより、第1の基板21側から見たときに第1の導電層
111のパターンが視認されにくくなり、表示品位を向上させることができる。
By providing the
光学調整層119としては、第1の導電層111と近い光学特性(透過率、屈折率、反
射率等)を有する材料を用いることができる。例えば、透過率が第1の導電層111の透
過率のプラスマイナス5%以内である材料を用いることができる。特に、光学調整層11
9は、第1の導電層111と同一の材料を用いることが好ましい。このとき、同一の導電
膜を加工することにより、第1の導電層111と光学調整層119を同時に形成すると、
工程を簡略化できるため好ましい。
As the
9 is preferably made of the same material as the first
This is preferable because the process can be simplified.
光学調整層119として導電性材料を用いた場合、光学調整層119に対して所定の電
位を供給することが可能な構成とすることが好ましい。例えば共通電位、接地電位等の固
定電位を光学調整層119に供給する構成とすればよい。または、第1の導電層111お
よび第2の導電層113のいずれか一方と電気的に接続する構成としてもよい。
In the case where a conductive material is used for the
図4は、第1の基板21側から見たときの各構成要素の配置位置の例を示している。こ
こでは、第1の基板21側に、ボトムゲート構造のトランジスタ251が設けられている
場合の例を示している。
FIG. 4 shows an example of the arrangement position of each component when viewed from the
図4では、トランジスタ251、第1の導電層111、第2の導電層113、遮光層1
15、第3の導電層116a乃至116g、第4の導電層117a、117bを示してい
る。
In FIG. 4, the
15 shows third
トランジスタ251は、第1の基板21側(すなわち紙面手前側)からゲート電極13
1、半導体層132、電極133a及び電極133bを有する。電極133aは、ソース
又はドレインの一方として機能し、電極133bはソース又はドレインの他方として機能
する。
The
1, a
遮光層115は、マトリクス状に配置された複数の開口を有する。ここでは示さないが
、遮光層115のそれぞれの開口は、画素33及び着色層114と重ねて設けられている
。
The
第3の導電層116a乃至第3の導電層116gは遮光層115と互いに重なるように
配置されているため、図4に示すように、第1の基板側から見たときに視認されることが
ない。
Since the third
また、トランジスタ251は、図4に示すように遮光層115と重ねて設けられている
。このような構成とすることで、画素の開口率を低下させることがないため好ましい。
Further, the
また、トランジスタ251を構成するゲート電極131、半導体層132、電極133
a及び電極133bは、それぞれの面積をできるだけ小さいものとするように、島状に加
工されている。このような構成とすることで、検出面側(すなわち第1の基板21側)か
ら視認されてしまう面積を小さくして目立たなくすることができ、タッチパネルの視認性
を向上させることができる。
In addition, the
a and the
また図4では、トランジスタ251が有する半導体層132が、ゲート電極131より
も内側に重ねて設けられている例を示している。このような構成とすることで検出面側か
らトランジスタ251に外光が照射されたとしても半導体層132に光が当たらない構成
とすることができる。そのため、外光の照射によるトランジスタの電気的特性の変動を抑
制し、信頼性の高いタッチセンサを実現することができる。または、外光の照射の影響を
低減する補償回路等を接続する必要がないため、タッチセンサ回路の構成を簡略化できる
。
FIG. 4 illustrates an example in which the
第1の導電層111は、島状の形状を有する。また、第2の導電層113は、後述する
第1の導電層111と第3の導電層116aとのコンタクト部とその周辺部を含む領域と
重なる部分、及びトランジスタ251とその周辺部を含む領域と重なる部分に開口を備え
る。
The first
第1の導電層111は、遮光層115等に設けられた開口を介して第3の導電層116
aと電気的に接続している。第3の導電層116aは、遮光層115等に設けられた開口
を介して電極133bと電気的に接続している。電極133aは、遮光層115等に設け
られた開口を介して第3の導電層116bと電気的に接続している。第3の導電層116
bと第3の導電層116dは、第4の導電層117aを介して電気的に接続されている。
第3の導電層116e及び116fはそれぞれ、遮光層115等に設けられた開口を介し
てゲート電極131と電気的に接続している。第3の導電層116fと第3の導電層11
6gは、第4の導電層117bを介して電気的に接続している。第3の導電層116cは
、第4の導電層117a、117bと交差するように配置されている。
The first
It is electrically connected to a. The third
b and the third
The third
6g is electrically connected through the fourth
このように、第3の導電層116により形成される同一平面上の2つの配線が交差する
箇所に、第3の導電層116の上方または下方に位置する第4の導電層117を配置する
構成とすることで、2つの配線が電気的に短絡することなく、これらを交差するように配
置することができる。
In this manner, the fourth conductive layer 117 positioned above or below the third
このとき、第4の導電層117は第3の導電層116と同様に、遮光層115よりも第
2の基板31側(すなわち紙面奥側)に配置することで、検出面側から視認されることを
抑制することができる。
At this time, similarly to the third
[断面構成例]
以下では、タッチパネルモジュール10の断面構成例について説明する。
[Section configuration example]
Hereinafter, a cross-sectional configuration example of the touch panel module 10 will be described.
〔断面構成例1〕
図5(A)に、本発明の一態様のタッチパネルモジュールの断面概略図を示す。図5(
A)に示すタッチパネルモジュールは、一対の基板間にアクティブマトリクス方式のタッ
チセンサ及び表示素子を有するため、薄型化を図ることができる。なお、本明細書等にお
いて、複数のセンサ素子の各々が能動素子を有するタッチセンサをアクティブマトリクス
方式のタッチセンサと呼ぶ。
[Cross-section configuration example 1]
FIG. 5A is a schematic cross-sectional view of a touch panel module of one embodiment of the present invention. FIG.
The touch panel module illustrated in A) includes an active matrix touch sensor and a display element between a pair of substrates, and thus can be thinned. Note that in this specification and the like, a touch sensor in which each of a plurality of sensor elements has an active element is referred to as an active matrix touch sensor.
タッチパネルモジュールは、第1の基板21と第2の基板31とが接着層220によっ
て貼り合わされた構成を有する。第1の基板21上には、容量素子110、トランジスタ
251、トランジスタ252、コンタクト部253、着色層114、遮光層115、第3
の導電層116a乃至116d、第4の導電層117a等が設けられている。また第2の
基板31上には、トランジスタ201乃至トランジスタ203、発光素子204、コンタ
クト部205等が設けられている。
The touch panel module has a configuration in which a
第2の基板31上には接着層211を介して絶縁層212、絶縁層213、絶縁層21
4、絶縁層215、絶縁層216、絶縁層217、絶縁層218、スペーサ219、導電
層225等を有する。
An insulating
4, an insulating
絶縁層217上に発光素子204が設けられている。発光素子204は、第1の電極2
21、EL層222、第2の電極223を有する(図5(B)参照)。また第1の電極2
21とEL層222との間には、光学調整層224が設けられている。絶縁層218は、
第1の電極221および光学調整層224の端部を覆って設けられている。
A light-emitting
21, an
21 and an
The
図5(A)では、画素33に、電流制御用のトランジスタ201と、スイッチング制御
用のトランジスタ202を有する構成を示している。トランジスタ201は、ソース又は
ドレインの一方が導電層225を介して第1の電極221と電気的に接続している。
FIG. 5A illustrates a structure in which the
図5(A)では、回路34にトランジスタ203が設けられている例を示している。
FIG. 5A illustrates an example in which a
図5(A)では、トランジスタ201およびトランジスタ203として、チャネルが形
成される半導体層を2つのゲート電極で挟持する構成を適用した例を示している。このよ
うなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であ
り、オン電流を増大させることができる。その結果、高速動作が可能な回路を作製するこ
とができる。さらには回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きな
トランジスタを適用することで、表示パネルまたはタッチパネルを大型化、または高精細
化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能
であり、表示ムラを抑制することが可能である。
FIG. 5A illustrates an example in which a structure in which a semiconductor layer in which a channel is formed is sandwiched between two gate electrodes is used as the
なお、回路34が有するトランジスタと画素33が有するトランジスタは、同じ構造で
あってもよい。また回路34が有するトランジスタは、全て同じ構造であってもよいし、
異なる構造のトランジスタを組み合わせて用いてもよい。また、画素33が有するトラン
ジスタは、同じ構造であってもよいし、異なる構造のトランジスタを組み合わせて用いて
もよい。また、第1の基板21側に設けられるトランジスタ(トランジスタ251、トラ
ンジスタ252等)においても、同様の構造であってもよいし、異なる構造のトランジス
タを組み合わせて用いてもよい。
Note that the transistor included in the
A combination of transistors having different structures may be used. In addition, the transistors included in the
発光素子204はトップエミッション構造の発光素子であり、第2の電極223側に光
を射出する。発光素子204の発光領域と重ねて、トランジスタ201、トランジスタ2
02等のほか、容量素子や配線を配置することで、画素33の開口率を高めることができ
る。
The light-emitting
In addition to 02 and the like, the aperture ratio of the
第1の基板21の第2の基板31側には、接着層261を介して絶縁層262、絶縁層
263、絶縁層264、絶縁層265、第1の導電層111、絶縁層112、第2の導電
層113、絶縁層266、絶縁層267、絶縁層268、着色層114、遮光層115、
第3の導電層116a乃至116d、第4の導電層117a等を有する。ここで、図5(
A)の一部は、図4中に示す切断線A−Bに相当する断面構造を示している。
On the
The third
Part of A) shows a cross-sectional structure corresponding to the cutting line AB shown in FIG.
第1の導電層111は、絶縁層112、絶縁層266、遮光層115、絶縁層267に
設けられた開口を介して、第3の導電層116aと電気的に接続している。第3の導電層
116aは、絶縁層264、絶縁層265、絶縁層112、絶縁層266、遮光層115
、絶縁層267に設けられた開口を介してトランジスタ251のソース又はドレインの一
方と電気的に接続している。
The first
The
第3の導電層116bとトランジスタ251のソース又はドレインの他方とは、これら
の間の各絶縁層に設けられた開口を介して電気的に接続している。第4の導電層117a
は絶縁層268に設けられた開口を介して第3の導電層116b及び116dと電気的に
接続している。また、第4の導電層117aと重ねて、第3の導電層116cが配置され
ている。
The third
Is electrically connected to the third
なお、図5(A)では第4の導電層117aを第3の導電層116a等よりも第2の基
板31側に配置する構成を示したが、この積層順を入れ替えてもよい。すなわち、第3の
導電層116a等を絶縁層268よりも第2の基板31側に配置し、第4の導電層117
a等を絶縁層267と絶縁層268の間に配置してもよい。
Note that although FIG. 5A illustrates a structure in which the fourth
a or the like may be disposed between the insulating
発光素子204の発光領域と着色層114は互いに重ねて設けられ、発光素子204か
ら射出された光は着色層114を透過して第1の基板21側に射出される。図5(A)に
示すように、第1の導電層111および第2の導電層113を発光素子204と重ねて配
置する場合には、これらに可視光に対して透光性を有する導電性材料を用いることが好ま
しい。
The light-emitting region of the light-emitting
また第1の基板21と第2の基板31に可撓性を有する材料を用いることで、フレキシ
ブルなタッチパネルを実現できる。
A flexible touch panel can be realized by using a flexible material for the
また、本発明の一態様のタッチパネルはカラーフィルタ方式を用いている。例えば着色
層114としてR(赤)、G(緑)、B(青)のうちいずれかが適用された3色の画素に
より1つの色を表現する構成としてもよい。また、これに加えてW(白)やY(黄)の画
素を適用した構成としてもよい。
The touch panel of one embodiment of the present invention uses a color filter method. For example, the
着色層114と、光学調整層224によるマイクロキャビティ構造の組み合わせにより
、本発明の一態様のタッチパネルからは、色純度の高い光を取り出すことができる。光学
調整層224の厚さは、各画素の色に応じて異なる厚さとすればよい。また画素によって
は光学調整層224を有さない構成としてもよい。
By the combination of the microcavity structure including the
また発光素子204が備えるEL層222として、白色を発光するEL層を適用するこ
とが好ましい。このような発光素子204を適用することで、各画素にEL層222を塗
り分ける必要がないためコストを削減できるほか、画素の高精細化が容易となる。また各
画素における光学調整層224の厚さを変更することにより、各々の画素に適した波長の
発光を取り出すことができ、色純度を高めることができる。なお、各画素に対してEL層
222を塗り分ける構成としてもよく、その場合には光学調整層224を用いない構成と
することもできる。
Further, an EL layer that emits white light is preferably used as the
第2の基板31上に設けられたコンタクト部205と重なる領域に位置する各絶縁層等
には開口部が設けられ、当該開口部に配置された接続層260によりコンタクト部205
とFPC41とが電気的に接続している。また、第1の基板21と重なる領域に位置する
各絶縁層等には開口部が設けられ、当該開口部に配置された接続層210を介してコンタ
クト部253とFPC42が電気的に接続している。
Each insulating layer or the like located in a region overlapping with the
And the
図5(A)では、コンタクト部205がトランジスタのソース電極及びドレイン電極と
同一の導電膜を加工して形成された導電層を有する構成を示している。またコンタクト部
253は、トランジスタのゲート電極と同一の導電膜を加工して形成された導電層、トラ
ンジスタのソース電極及びドレイン電極と同一の導電膜を加工して形成された導電層、及
び第2の導電層113と同一の導電膜を加工して形成された導電層の積層構造を有する構
成を示している。このように、コンタクト部を複数の導電層を積層した構成とすることで
、電気抵抗を低減するだけでなく、機械的強度を高めることができるため好ましい。
FIG. 5A illustrates a structure in which the
接続層210や接続層260としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotr
opic Conductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Ani
sotropic Conductive Paste)などを用いることができる。
As the
optical conductive film (ACP) or anisotropic conductive paste (ACP: Ani)
Sotropic Conductive Paste) or the like can be used.
絶縁層212および絶縁層262は、水や水素などの不純物が拡散しにくい材料を用い
ることが好ましい。すなわち、絶縁層212および絶縁層262はバリア膜として機能さ
せることができる。このような構成とすることで、第1の基板21や第2の基板31とし
て透湿性を有する材料を用いたとしても、発光素子204や各トランジスタに対して外部
から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能で、信頼性の高いタッチパネル
を実現できる。
The insulating
〔各構成要素について〕
以下では、上記に示す各構成要素について説明する。
[About each component]
Below, each component shown above is demonstrated.
トランジスタは、ゲート電極として機能する導電層と、半導体層と、ソース電極として
機能する導電層と、ドレイン電極として機能する導電層と、ゲート絶縁層として機能する
絶縁層と、を有する。図5(A)には、ボトムゲート構造のトランジスタを適用した場合
を示している。
The transistor includes a conductive layer that functions as a gate electrode, a semiconductor layer, a conductive layer that functions as a source electrode, a conductive layer that functions as a drain electrode, and an insulating layer that functions as a gate insulating layer. FIG. 5A illustrates the case where a bottom-gate transistor is used.
なお、本発明のタッチパネルが有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば
、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。ま
た、トップゲート型又はボトムゲート型のいずれのトランジスタ構造としてもよい。トラ
ンジスタに用いる半導体材料は特に限定されず、例えば、酸化物半導体、シリコン、ゲル
マニウム等が挙げられる。
Note that there is no particular limitation on the structure of the transistor included in the touch panel of the present invention. For example, a staggered transistor or an inverted staggered transistor may be used. Further, a top-gate or bottom-gate transistor structure may be employed. A semiconductor material used for the transistor is not particularly limited, and examples thereof include an oxide semiconductor, silicon, and germanium.
トランジスタに用いる半導体材料の結晶性についても特に限定されず、非晶質半導体、
結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、単結晶半導体、又は一部に結晶領
域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。結晶性を有する半導体を用いると、トラン
ジスタ特性の劣化を抑制できるため好ましい。
There is no particular limitation on the crystallinity of the semiconductor material used for the transistor, and an amorphous semiconductor,
Any of semiconductors having crystallinity (a microcrystalline semiconductor, a polycrystalline semiconductor, a single crystal semiconductor, or a semiconductor partially including a crystal region) may be used. It is preferable to use a crystalline semiconductor because deterioration of transistor characteristics can be suppressed.
また、トランジスタに用いる半導体材料としては、例えば、4族の元素、化合物半導体
又は酸化物半導体を半導体層に用いることができる。代表的には、シリコンを含む半導体
、ガリウムヒ素を含む半導体又はインジウムを含む酸化物半導体などを適用できる。
As a semiconductor material used for the transistor, for example, a Group 4 element, a compound semiconductor, or an oxide semiconductor can be used for the semiconductor layer. Typically, a semiconductor containing silicon, a semiconductor containing gallium arsenide, an oxide semiconductor containing indium, or the like can be used.
特に、トランジスタのチャネルが形成される半導体に、酸化物半導体を適用することが
好ましい。特にシリコンよりもバンドギャップの大きな酸化物半導体を適用することが好
ましい。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を
用いると、トランジスタのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。
In particular, an oxide semiconductor is preferably used for a semiconductor in which a channel of a transistor is formed. In particular, an oxide semiconductor having a larger band gap than silicon is preferably used. It is preferable to use a semiconductor material with a wider band gap and lower carrier density than silicon because current in an off state of the transistor can be reduced.
例えば、上記酸化物半導体として、少なくともインジウム(In)もしくは亜鉛(Zn
)を含むことが好ましい。より好ましくは、In−M−Zn系酸化物(MはAl、Ti、
Ga、Ge、Y、Zr、Sn、La、CeまたはHf等の金属)で表記される酸化物を含
む。
For example, as the oxide semiconductor, at least indium (In) or zinc (Zn)
) Is preferably included. More preferably, an In-M-Zn-based oxide (M is Al, Ti,
An oxide represented by a metal such as Ga, Ge, Y, Zr, Sn, La, Ce, or Hf.
特に、半導体層として、複数の結晶部を有し、当該結晶部はc軸が半導体層の被形成面
、または半導体層の上面に対し概略垂直に配向し、且つ隣接する結晶部間には粒界を有さ
ない酸化物半導体膜を用いることが好ましい。
In particular, the semiconductor layer has a plurality of crystal parts, and the crystal part has a c-axis oriented substantially perpendicular to the formation surface of the semiconductor layer or the top surface of the semiconductor layer, and there is no grain between adjacent crystal parts. An oxide semiconductor film having no boundary is preferably used.
このような酸化物半導体は、結晶粒界を有さないために表示パネルを湾曲させたときの
応力によって酸化物半導体膜にクラックが生じてしまうことが抑制される。したがって、
可撓性を有し、湾曲させて用いるタッチパネルなどに、このような酸化物半導体を好適に
用いることができる。
Since such an oxide semiconductor does not have a crystal grain boundary, a crack in the oxide semiconductor film due to stress when the display panel is bent is suppressed. Therefore,
Such an oxide semiconductor can be preferably used for a touch panel that is flexible and curved.
また半導体層としてこのような酸化物半導体を用いることで、電気特性の変動が抑制さ
れ、信頼性の高いトランジスタを実現できる。
In addition, when such an oxide semiconductor is used for a semiconductor layer, a change in electrical characteristics is suppressed and a highly reliable transistor can be realized.
また、その低いオフ電流により、トランジスタを介して容量に蓄積した電荷を長期間に
亘って保持することが可能である。このようなトランジスタを画素に適用することで、各
表示領域に表示した画像の諧調を維持しつつ、駆動回路を停止することも可能となる。そ
の結果、極めて消費電力の低減された表示装置を実現できる。
In addition, due to the low off-state current, the charge accumulated in the capacitor through the transistor can be held for a long time. By applying such a transistor to a pixel, the driving circuit can be stopped while maintaining the gradation of an image displayed in each display region. As a result, a display device with extremely reduced power consumption can be realized.
または、トランジスタのチャネルが形成される半導体に、シリコンを用いることが好ま
しい。シリコンとしてアモルファスシリコンを用いてもよいが、特に結晶性を有するシリ
コンを用いることが好ましい。例えば、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコ
ンなどを用いることが好ましい。特に、多結晶シリコンは、単結晶シリコンに比べて低温
で形成でき、且つアモルファスシリコンに比べて高い電界効果移動度と高い信頼性を備え
る。このような多結晶半導体を画素に適用することで画素の開口率を向上させることがで
きる。また極めて高精細に画素を有する場合であっても、ゲート駆動回路とソース駆動回
路を画素と同一基板上に形成することが可能となり、電子機器を構成する部品数を低減す
ることができる。
Alternatively, silicon is preferably used for a semiconductor in which a channel of the transistor is formed. Although amorphous silicon may be used as silicon, it is particularly preferable to use silicon having crystallinity. For example, microcrystalline silicon, polycrystalline silicon, single crystal silicon, or the like is preferably used. In particular, polycrystalline silicon can be formed at a lower temperature than single crystal silicon, and has higher field effect mobility and higher reliability than amorphous silicon. By applying such a polycrystalline semiconductor to a pixel, the aperture ratio of the pixel can be improved. In addition, even when the pixel is provided with extremely high definition, the gate driver circuit and the source driver circuit can be formed over the same substrate as the pixel, and the number of components included in the electronic device can be reduced.
トランジスタのゲート、ソースおよびドレインのほか、タッチパネルを構成する各種配
線および電極などの導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、
クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、また
はタングステンからなる単体金属、またはこれを主成分とする合金を単層構造または積層
構造として用いる。例えば、シリコンを含むアルミニウム膜の単層構造、チタン膜上にア
ルミニウム膜を積層する二層構造、タングステン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構
造、銅−マグネシウム−アルミニウム合金膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜上に
銅膜を積層する二層構造、タングステン膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜または
窒化チタン膜と、そのチタン膜または窒化チタン膜上に重ねてアルミニウム膜または銅膜
を積層し、さらにその上にチタン膜または窒化チタン膜を形成する三層構造、モリブデン
膜または窒化モリブデン膜と、そのモリブデン膜または窒化モリブデン膜上に重ねてアル
ミニウム膜または銅膜を積層し、さらにその上にモリブデン膜または窒化モリブデン膜を
形成する三層構造等がある。なお、酸化インジウム、酸化錫または酸化亜鉛を含む透明導
電材料を用いてもよい。また、マンガンを含む銅を用いると、エッチングによる形状の制
御性が高まるため好ましい。
In addition to the gate, source, and drain of the transistor, materials that can be used for conductive layers such as various wirings and electrodes constituting the touch panel include aluminum, titanium,
A single metal composed of chromium, nickel, copper, yttrium, zirconium, molybdenum, silver, tantalum, or tungsten, or an alloy containing this as a main component is used as a single layer structure or a multilayer structure. For example, a single layer structure of an aluminum film containing silicon, a two layer structure in which an aluminum film is stacked on a titanium film, a two layer structure in which an aluminum film is stacked on a tungsten film, and a copper film on a copper-magnesium-aluminum alloy film Two-layer structure to stack, two-layer structure to stack a copper film on a titanium film, two-layer structure to stack a copper film on a tungsten film, a titanium film or a titanium nitride film, and an overlay on the titanium film or titanium nitride film A three-layer structure in which an aluminum film or a copper film is stacked and a titanium film or a titanium nitride film is further formed thereon, a molybdenum film or a molybdenum nitride film, and an aluminum film or a copper layer stacked on the molybdenum film or the molybdenum nitride film There is a three-layer structure in which films are stacked and a molybdenum film or a molybdenum nitride film is further formed thereon. Note that a transparent conductive material containing indium oxide, tin oxide, or zinc oxide may be used. Further, it is preferable to use copper containing manganese because the controllability of the shape by etching is increased.
また、透光性を有する導電性材料としては、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、イ
ンジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などの導電性酸化物または
グラフェンを用いることができる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タ
ングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、またはチタンなどの
金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。または、該金属材料の窒
化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそ
れらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材
料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とイン
ジウムスズ酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。
As the light-transmitting conductive material, conductive oxide such as indium oxide, indium tin oxide, indium zinc oxide, zinc oxide, or zinc oxide to which gallium is added, or graphene can be used. Alternatively, a metal material such as gold, silver, platinum, magnesium, nickel, tungsten, chromium, molybdenum, iron, cobalt, copper, palladium, or titanium, or an alloy material containing the metal material can be used. Alternatively, a nitride (eg, titanium nitride) of the metal material may be used. Note that in the case where a metal material or an alloy material (or a nitride thereof) is used, it may be thin enough to have a light-transmitting property. In addition, a stacked film of the above materials can be used as a conductive layer. For example, it is preferable to use a laminated film of an alloy of silver and magnesium and indium tin oxide because the conductivity can be increased.
各種絶縁層、スペーサ219等に用いることのできる絶縁材料としては、例えばアクリ
ル、エポキシなどの樹脂、シロキサン結合を有する樹脂のほか、酸化シリコン、酸化窒化
シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料を用
いることもできる。
Examples of insulating materials that can be used for various insulating layers,
また上述のように、発光素子は、一対の透水性の低い絶縁膜の間に設けられていること
が好ましい。これにより、発光素子に水等の不純物が侵入することを抑制でき、発光装置
の信頼性の低下を抑制できる。
Further, as described above, the light-emitting element is preferably provided between a pair of insulating films with low water permeability. Thereby, impurities such as water can be prevented from entering the light emitting element, and a decrease in reliability of the light emitting device can be suppressed.
透水性の低い絶縁膜としては、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜等の窒素と珪素を
含む膜や、窒化アルミニウム膜等の窒素とアルミニウムを含む膜等が挙げられる。また、
酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等を用いてもよい。
Examples of the low water-permeable insulating film include a film containing nitrogen and silicon such as a silicon nitride film and a silicon oxynitride film, and a film containing nitrogen and aluminum such as an aluminum nitride film. Also,
A silicon oxide film, a silicon oxynitride film, an aluminum oxide film, or the like may be used.
例えば、透水性の低い絶縁膜の水蒸気透過量は、1×10−5[g/m2・day]以
下、好ましくは1×10−6[g/m2・day]以下、より好ましくは1×10−7[
g/m2・day]以下、さらに好ましくは1×10−8[g/m2・day]以下とす
る。
For example, the water vapor transmission rate of an insulating film having low water permeability is 1 × 10 −5 [g / m 2 · day] or less, preferably 1 × 10 −6 [g / m 2 · day] or less, more preferably 1 × 10 −7 [
g / m 2 · day] or less, and more preferably 1 × 10 −8 [g / m 2 · day] or less.
各接着層としては、熱硬化樹脂や光硬化樹脂、2液混合型の硬化性樹脂などの硬化性樹
脂を用いることができる。例えば、アクリル、ウレタン、エポキシ、またはシロキサン結
合を有する樹脂などの樹脂を用いることができる。
As each adhesive layer, a curable resin such as a thermosetting resin, a photocurable resin, or a two-component mixed curable resin can be used. For example, a resin such as acrylic, urethane, epoxy, or a resin having a siloxane bond can be used.
EL層222は少なくとも発光層を有する。EL層222は、発光層以外の層として、
正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物
質、電子注入性の高い物質、又はバイポーラ性の物質(電子輸送性及び正孔輸送性が高い
物質)等を含む層をさらに有していてもよい。
The
Substances with a high hole-injecting property, substances with a high hole-transporting property, hole blocking materials, substances with a high electron-transporting property, substances with a high electron-injecting property, or bipolar substances (having electron-transporting and hole-transporting properties) A layer containing a high substance) or the like may be further included.
EL層222には低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無
機化合物を含んでいてもよい。EL層222を構成する層は、それぞれ、蒸着法(真空蒸
着法を含む)、転写法、印刷法、インクジェット法、塗布法等の方法で形成することがで
きる。
For the
遮光層115に用いることのできる材料としては、カーボンブラック、金属酸化物、複
数の金属酸化物の固溶体を含む複合酸化物等が挙げられる。
Examples of a material that can be used for the light-
着色層114に用いることのできる材料としては、金属材料、樹脂材料、顔料又は染料
が含まれた樹脂材料などが挙げられる。
As a material that can be used for the
なお、遮光層115の代わりに、異なる色の着色層114を積層した積層構造を、遮光
層115として機能させてもよい。例えば、隣接する画素33のそれぞれに重ねて設けら
れる2つの着色層114の一部を重畳させ、遮光層115として用いる構成としてもよい
。
Note that a stacked structure in which colored layers 114 of different colors are stacked instead of the
また、遮光層115を、隣接する画素のうち同色の画素の間には配置せず、異色の画素
の間にのみ配置する構成としてもよい。その場合には、隣接する2つの同色の画素の間の
領域と、第3の導電層116(及び/または第4の導電層117)とが互いに重なるよう
に配置すればよい。または、第4の導電層117として透光性を有する材料を用い、遮光
層115が設けられていない部分に配置される第4の導電層117を介して、遮光層11
5と重ねて設けられる2つの第3の導電層116を電気的に接続する構成としてもよい。
In addition, the
The two third
〔作製方法例〕
ここで、可撓性を有するタッチパネルを作製する方法について説明する。
[Example of production method]
Here, a method for manufacturing a flexible touch panel will be described.
ここでは便宜上、画素や回路を含む構成、カラーフィルタ等の光学部材を含む構成また
はタッチセンサを含む構成を素子層と呼ぶこととする。素子層は例えば表示素子を含み、
表示素子の他に表示素子と電気的に接続する配線、画素や回路に用いるトランジスタなど
の素子を備えていてもよい。
Here, for convenience, a configuration including pixels and circuits, a configuration including an optical member such as a color filter, or a configuration including a touch sensor is referred to as an element layer. The element layer includes, for example, a display element,
In addition to the display element, an element such as a wiring electrically connected to the display element or a transistor used for a pixel or a circuit may be provided.
またここでは、素子層が形成される絶縁表面を備える支持体(例えば第1の基板21ま
たは第2の基板31)のことを、基材と呼ぶこととする。
Here, a support (for example, the
可撓性を有する絶縁表面を備える基材上に素子層を形成する方法としては、基材上に直
接素子層を形成する方法と、基材とは異なる剛性を有する支持基材上に素子層を形成した
後、素子層と支持基材とを剥離して素子層を基材に転置する方法と、がある。
As a method of forming an element layer on a base material having a flexible insulating surface, a method of forming an element layer directly on the base material, and an element layer on a supporting base material having rigidity different from that of the base material After forming, the element layer and the supporting base material are peeled off, and the element layer is transferred to the base material.
基材を構成する材料が、素子層の形成工程にかかる熱に対して耐熱性を有する場合には
、基材上に直接素子層を形成すると、工程が簡略化されるため好ましい。このとき、基材
を支持基材に固定した状態で素子層を形成すると、装置内、及び装置間における搬送が容
易になるため好ましい。
When the material which comprises a base material has heat resistance with respect to the heat concerning the formation process of an element layer, when an element layer is directly formed on a base material, since a process is simplified, it is preferable. At this time, it is preferable to form the element layer in a state in which the base material is fixed to the support base material, because it is easy to transport the device inside and between the devices.
また、素子層を支持基材上に形成した後に、基材に転置する方法を用いる場合、まず支
持基材上に剥離層と絶縁層を積層し、当該絶縁層上に素子層を形成する。続いて、支持基
材と素子層を剥離し、基材に転置する。このとき、支持基材と剥離層の界面、剥離層と絶
縁層の界面、または剥離層中で剥離が生じるような材料を選択すればよい。
In the case of using a method in which an element layer is formed on a supporting substrate and then transferred to the substrate, a peeling layer and an insulating layer are first stacked on the supporting substrate, and an element layer is formed on the insulating layer. Then, a support base material and an element layer are peeled and it transfers to a base material. At this time, a material that causes peeling in the interface between the support base and the release layer, the interface between the release layer and the insulating layer, or the release layer may be selected.
例えば剥離層としてタングステンなどの高融点金属材料を含む層と当該金属材料の酸化
物を含む層を積層して用い、剥離層上に窒化シリコンや酸窒化シリコンを複数積層した層
を用いることが好ましい。高融点金属材料を用いると、素子層の形成工程の自由度が高ま
るためこのましい。
For example, a layer including a high-melting-point metal material such as tungsten and a layer including an oxide of the metal material are stacked as the separation layer, and a layer in which a plurality of layers of silicon nitride or silicon oxynitride are stacked is preferably used. . Use of a refractory metal material is preferable because it increases the degree of freedom in the element layer formation process.
剥離は、機械的な力を加えることや、剥離層をエッチングすること、または剥離界面の
一部に液体を滴下して剥離界面全体に浸透させることなどにより剥離を行ってもよい。ま
たは、熱膨張の違いを利用して剥離界面に熱を加えることにより剥離を行ってもよい。
Peeling may be performed by applying a mechanical force, etching the peeling layer, or dropping a liquid on a part of the peeling interface to permeate the entire peeling interface. Alternatively, peeling may be performed by applying heat to the peeling interface using a difference in thermal expansion.
また、支持基材と絶縁層の界面で剥離が可能な場合には、剥離層を設けなくてもよい。
例えば、支持基材としてガラスを用い、絶縁層としてポリイミドなどの有機樹脂を用いて
、有機樹脂の一部をレーザ光等を用いて局所的に加熱することにより剥離の起点を形成し
、ガラスと絶縁層の界面で剥離を行ってもよい。または、支持基材と有機樹脂からなる絶
縁層の間に金属層を設け、当該金属層に電流を流すことにより当該金属層を加熱すること
により、当該金属層と絶縁層の界面で剥離を行ってもよい。このとき、有機樹脂からなる
絶縁層は基材として用いることができる。
In the case where peeling is possible at the interface between the support base and the insulating layer, the peeling layer may not be provided.
For example, glass is used as a supporting substrate, an organic resin such as polyimide is used as an insulating layer, a part of the organic resin is locally heated using a laser beam or the like, and a starting point of peeling is formed. Peeling may be performed at the interface of the insulating layer. Alternatively, a metal layer is provided between the support base and the insulating layer made of an organic resin, and the metal layer is heated by passing an electric current through the metal layer, whereby peeling is performed at the interface between the metal layer and the insulating layer. May be. At this time, an insulating layer made of an organic resin can be used as a base material.
可撓性を有する基材としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリ
エチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、ポ
リイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエ
ーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン
樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂等が挙げられる。特に、熱膨張係数の
低い材料を用いることが好ましく、例えば、熱膨張係数が30×10−6/K以下である
ポリアミドイミド樹脂、ポリイミド樹脂、PET等を好適に用いることができる。また、
繊維体に樹脂を含浸した基板(プリプレグとも記す)や、無機フィラーを有機樹脂に混ぜ
て熱膨張係数を下げた基板を使用することもできる。
Examples of flexible base materials include polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), polyacrylonitrile resins, polyimide resins, polymethyl methacrylate resins, polycarbonate (PC) resins, and polyether sulfones. (PES) resin, polyamide resin, cycloolefin resin, polystyrene resin, polyamideimide resin, polyvinyl chloride resin and the like. In particular, a material having a low thermal expansion coefficient is preferably used. For example, a polyamideimide resin, a polyimide resin, PET, or the like having a thermal expansion coefficient of 30 × 10 −6 / K or less can be suitably used. Also,
A substrate in which a fibrous body is impregnated with a resin (also referred to as a prepreg) or a substrate in which an inorganic filler is mixed with an organic resin to reduce the thermal expansion coefficient can also be used.
上記材料中に繊維体が含まれている場合、繊維体は有機化合物または無機化合物の高強
度繊維を用いる。高強度繊維とは、具体的には引張弾性率またはヤング率の高い繊維のこ
とを言い、代表例としては、ポリビニルアルコール系繊維、ポリエステル系繊維、ポリア
ミド系繊維、ポリエチレン系繊維、アラミド系繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキ
サゾール繊維、ガラス繊維、または炭素繊維が挙げられる。ガラス繊維としては、Eガラ
ス、Sガラス、Dガラス、Qガラス等を用いたガラス繊維が挙げられる。これらは、織布
または不織布の状態で用い、この繊維体に樹脂を含浸させ樹脂を硬化させた構造物を可撓
性を有する基板として用いても良い。可撓性を有する基板として、繊維体と樹脂からなる
構造物を用いると、曲げや局所的押圧による破損に対する信頼性が向上するため、好まし
い。
When a fibrous body is included in the material, a high-strength fiber of an organic compound or an inorganic compound is used for the fibrous body. The high-strength fiber specifically refers to a fiber having a high tensile modulus or Young's modulus, and representative examples include polyvinyl alcohol fiber, polyester fiber, polyamide fiber, polyethylene fiber, aramid fiber, Examples include polyparaphenylene benzobisoxazole fibers, glass fibers, and carbon fibers. Examples of the glass fiber include glass fibers using E glass, S glass, D glass, Q glass, and the like. These may be used in the form of a woven fabric or a non-woven fabric, and a structure obtained by impregnating the fiber body with a resin and curing the resin may be used as a flexible substrate. When a structure made of a fibrous body and a resin is used as the flexible substrate, it is preferable because reliability against breakage due to bending or local pressing is improved.
または、可撓性を有する程度に薄いガラス、金属などを基材に用いることもできる。ま
たは、ガラスと樹脂材料とが貼り合わされた複合材料を用いてもよい。
Alternatively, glass, metal, or the like thin enough to have flexibility can be used for the base material. Alternatively, a composite material in which glass and a resin material are bonded together may be used.
例えば、図5(A)に示す構成の場合、第1の支持基材上に第1の剥離層、絶縁層26
2を順に形成した後に、それよりも上層の構造物を形成する。またこれとは別に、第2の
支持基材上に第2の剥離層、絶縁層212を順に形成した後に、それよりも上層の構造物
を形成する。続いて、第1の支持基材と第2の支持基材を接着層220により貼り合せる
。その後、第2の剥離層と絶縁層212との界面で剥離することで第2の支持基材及び第
2の剥離層を除去し、絶縁層212と第2の基板31とを接着層211により貼り合せる
。また、第1の剥離層と絶縁層262との界面で剥離することで第1の支持基材及び第1
の剥離層を除去し、絶縁層262と第1の基板21とを接着層261により貼り合せる。
なお、剥離及び貼り合せはどちら側を先に行ってもよい。
For example, in the case of the configuration shown in FIG. 5A, the first release layer and the insulating
After forming 2 in order, an upper layer structure is formed. Separately from this, after the second release layer and the insulating
The peeling layer is removed, and the insulating
Note that either side may be peeled and bonded first.
以上が可撓性を有するタッチパネルを作製する方法についての説明である。 The above is the description of the method for manufacturing the flexible touch panel.
〔断面構成例2〕
図6に、図5とは構成の一部が異なる断面構成例を示す。図6に示す構成は、図5で示
した構成と比較し、第1の導電層111の構成が異なる点で主に相違している。
[Cross-section configuration example 2]
FIG. 6 shows a cross-sectional configuration example in which a part of the configuration is different from that in FIG. The configuration shown in FIG. 6 is mainly different from the configuration shown in FIG. 5 in that the configuration of the first
図6では、図5における第1の導電層111に代えて、トランジスタ251およびトラ
ンジスタ252の半導体層と同一の膜を加工して形成した半導体層を有する第1の導電層
111aを適用した場合を示している。また第1の導電層111aは、絶縁層265に接
して設けられている。
In FIG. 6, a case where the first conductive layer 111a having a semiconductor layer formed by processing the same film as the semiconductor layers of the
ここで、第1の導電層111aは酸化物半導体を含むことが好ましい。酸化物半導体は
、膜中の酸素欠損または/及び水素、水等の不純物濃度によって、抵抗を制御することが
できる半導体材料である。そのため、第1の導電層111aに適用する半導体層と、トラ
ンジスタに適用する半導体層とを同一の半導体膜を加工して形成した場合であっても、そ
れぞれの半導体層に対して、酸素欠損または/及び不純物濃度が増加する処理、または酸
素欠損または/及び不純物濃度が低減する処理を選択して施すことにより、これら半導体
層の抵抗率を制御することができる。
Here, the first conductive layer 111a preferably contains an oxide semiconductor. An oxide semiconductor is a semiconductor material whose resistance can be controlled by oxygen vacancies in the film and / or the concentration of impurities such as hydrogen and water. Therefore, even when the semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a and the semiconductor layer applied to the transistor are formed by processing the same semiconductor film, oxygen vacancy or The resistivity of these semiconductor layers can be controlled by selectively performing a process for increasing the impurity concentration / and a process for decreasing the oxygen deficiency or / and the impurity concentration.
具体的には、容量素子110の電極として機能する第1の導電層111aに含まれる酸
化物半導体層にプラズマ処理を行い、酸化物半導体層中の酸素欠損を増加させる。または
/及び酸化物半導体層中の水素、水等の不純物を増加させることによって、キャリア密度
が高く、低抵抗な酸化物半導体を含む第1の導電層111aとすることができる。また酸
化物半導体層に水素を含む絶縁膜(絶縁層265)を接して形成し、該水素を含む絶縁膜
から酸化物半導体層に水素を拡散させることによって、キャリア密度が高く、低抵抗な酸
化物半導体層とすることができる。このような酸化物半導体層を第1の導電層111aに
適用することができる。
Specifically, plasma treatment is performed on the oxide semiconductor layer included in the first conductive layer 111a functioning as an electrode of the
一方、トランジスタ251やトランジスタ252上には、酸化物半導体層が上記プラズ
マ処理に曝されないように、絶縁層264を設ける。また、絶縁層264を設けることに
よって、酸化物半導体層が水素を含む絶縁層265と接しない構成とすることができる。
絶縁層264として、酸素を放出することが可能な絶縁膜を用いることで、トランジスタ
の酸化物半導体層に酸素を供給することができる。酸素が供給された酸化物半導体層は、
膜中または膜の界面における酸素欠損が低減され高抵抗な酸化物半導体層となる。なお、
酸素を放出することが可能な絶縁膜として、例えば酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜
などを用いることができる。
On the other hand, an insulating
By using an insulating film capable of releasing oxygen as the insulating
Oxygen vacancies are reduced in the film or at the interface of the film, so that a high-resistance oxide semiconductor layer is obtained. In addition,
As the insulating film from which oxygen can be released, for example, a silicon oxide film, a silicon oxynitride film, or the like can be used.
また、酸化物半導体層に行うプラズマ処理としては、代表的には、希ガス(He、Ne
、Ar、Kr、Xe)、リン、ボロン、水素、及び窒素の中から選ばれた一種を含むガス
を用いたプラズマ処理が挙げられる。より具体的には、Ar雰囲気下でのプラズマ処理、
Arと水素の混合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、アンモニア雰囲気下でのプラズマ処理
、Arとアンモニアの混合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、又は窒素雰囲気下でのプラズ
マ処理などが挙げられる。
As a plasma treatment performed on the oxide semiconductor layer, typically, a rare gas (He, Ne) is used.
, Ar, Kr, Xe), plasma treatment using a gas containing one kind selected from phosphorus, boron, hydrogen, and nitrogen. More specifically, plasma treatment under Ar atmosphere,
Examples thereof include plasma treatment under a mixed gas atmosphere of Ar and hydrogen, plasma treatment under an ammonia atmosphere, plasma treatment under a mixed gas atmosphere of Ar and ammonia, and plasma treatment under a nitrogen atmosphere.
上記プラズマ処理によって、酸化物半導体層は、酸素が脱離した格子(または酸素が脱
離した部分)に酸素欠損が形成される。当該酸素欠損は、キャリアを発生する要因になり
える場合がある。また、酸化物半導体層の近傍、より具体的には、酸化物半導体層の下側
または上側に接する絶縁層膜から水素が供給され、上記酸素欠損に水素が入ると、キャリ
アである電子を生成する場合がある。したがって、プラズマ処理によって酸素欠損が増加
された第1の導電層111aに適用する酸化物半導体層は、トランジスタに適用する酸化
物半導体層よりもキャリア密度が高い。
By the above plasma treatment, oxygen vacancies are formed in the oxide semiconductor layer in the lattice from which oxygen is released (or a portion from which oxygen is released). The oxygen deficiency may be a factor that generates carriers. Further, hydrogen is supplied from the insulating layer film adjacent to the oxide semiconductor layer, more specifically, below or above the oxide semiconductor layer, and when hydrogen enters the oxygen vacancies, electrons as carriers are generated. There is a case. Therefore, the oxide semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a in which oxygen vacancies are increased by the plasma treatment has a higher carrier density than the oxide semiconductor layer applied to the transistor.
一方、酸素欠損が低減され、水素濃度が低減されたトランジスタに適用する酸化物半導
体層は、高純度真性化、又は実質的に高純度真性化された酸化物半導体層といえる。ここ
で、実質的に真性とは、酸化物半導体のキャリア密度が、1×1017/cm3未満であ
ること、好ましくは1×1015/cm3未満であること、さらに好ましくは1×101
3/cm3未満であることを指す。または、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低い(酸
素欠損の少ない)ことを高純度真性又は実質的に高純度真性とよぶ。高純度真性又は実質
的に高純度真性である酸化物半導体は、キャリア発生源が少ないため、キャリア密度を低
くすることができる。従って、当該酸化物半導体膜にチャネル領域が形成されるトランジ
スタは、しきい値電圧がプラスとなる電気特性(ノーマリーオフ特性ともいう。)になり
やすい。また、高純度真性又は実質的に高純度真性である酸化物半導体層は、欠陥準位密
度が低いため、トラップ準位密度を低減することができる。
On the other hand, an oxide semiconductor layer applied to a transistor in which oxygen vacancies are reduced and the hydrogen concentration is reduced can be said to be a highly purified intrinsic or substantially highly purified intrinsic oxide semiconductor layer. Here, substantially intrinsic means that the carrier density of the oxide semiconductor is less than 1 × 10 17 / cm 3 , preferably less than 1 × 10 15 / cm 3 , and more preferably 1 × 10 10. 1
It indicates being less than 3 / cm 3 . Alternatively, a low impurity concentration and a low density of defect states (small number of oxygen vacancies) is called high-purity intrinsic or substantially high-purity intrinsic. An oxide semiconductor that is highly purified intrinsic or substantially highly purified intrinsic has few carrier generation sources, and thus can have a low carrier density. Therefore, a transistor in which a channel region is formed in the oxide semiconductor film easily has electrical characteristics (also referred to as normally-off characteristics) in which the threshold voltage is positive. In addition, a highly purified intrinsic or substantially highly purified intrinsic oxide semiconductor layer has a low defect level density; therefore, the trap level density can be reduced.
また、高純度真性又は実質的に高純度真性である酸化物半導体層は、オフ電流が著しく
小さく、チャネル幅が1×106μmでチャネル長Lが10μmの素子であっても、ソー
ス電極とドレイン電極間の電圧(ドレイン電圧)が1Vから10Vの範囲において、オフ
電流が、半導体パラメータアナライザの測定限界以下、すなわち1×10−13A以下と
いう特性を得ることができる。したがって、酸化物半導体層にチャネル領域が形成される
トランジスタ251やトランジスタ252等は、電気特性の変動が小さく、信頼性の高い
トランジスタとなる。なお、第2の基板31側に設けられるトランジスタ201、トラン
ジスタ202、トランジスタ203等も同様の酸化物半導体層を適用することが好ましい
。
A highly purified intrinsic or substantially highly purified intrinsic oxide semiconductor layer has an extremely small off-state current, an element having a channel width of 1 × 10 6 μm and a channel length L of 10 μm. When the voltage between the drain electrodes (drain voltage) is in the range of 1V to 10V, it is possible to obtain a characteristic that the off-current is less than the measurement limit of the semiconductor parameter analyzer, that is, 1 × 10 −13 A or less. Accordingly, the
また、図6においては、絶縁層264は容量素子110の電極として機能する第1の導
電層111aと重なる領域が選択的に除去されるように設けられている。また、絶縁層2
65は、第1の導電層111aと接して形成した後、第1の導電層111a上から除去さ
れていてもよい。絶縁層265として、例えば水素を含む絶縁膜、換言すると水素を放出
することが可能な絶縁膜、代表的には窒化シリコン膜を用いることで、第1の導電層11
1aに水素を供給することができる。水素を放出することが可能な絶縁膜は、膜中の含有
水素濃度が1×1022atoms/cm3以上であると好ましい。このような絶縁膜を
第1の導電層111aに接して形成することで、第1の導電層111aに効果的に水素を
含有させることができる。このように、上述したプラズマ処理と合わせて、酸化物半導体
層に接する絶縁膜の構成を変えることによって、酸化物半導体層の抵抗を任意に調整する
ことができる。なお、十分に低抵抗された酸化物半導体を含む層を酸化物導電体層と言い
換えることもできる。
In FIG. 6, the insulating
65 may be removed from the first conductive layer 111a after being formed in contact with the first conductive layer 111a. As the insulating
Hydrogen can be supplied to la. The insulating film capable of releasing hydrogen preferably has a hydrogen concentration in the film of 1 × 10 22 atoms / cm 3 or more. By forming such an insulating film in contact with the first conductive layer 111a, hydrogen can be effectively contained in the first conductive layer 111a. As described above, the resistance of the oxide semiconductor layer can be arbitrarily adjusted by changing the structure of the insulating film in contact with the oxide semiconductor layer in combination with the plasma treatment described above. Note that a layer including an oxide semiconductor with sufficiently low resistance can be referred to as an oxide conductor layer.
第1の導電層111aに含まれる水素は、金属原子と結合する酸素と反応して水になる
と共に、酸素が脱離した格子(または酸素が脱離した部分)に酸素欠損を形成する。当該
酸素欠損に水素が入ることで、キャリアである電子が生成される場合がある。また、水素
の一部が金属原子と結合する酸素と結合することで、キャリアである電子を生成する場合
がある。したがって、水素が含まれている第1の導電層111aに含まれる酸化物半導体
は、トランジスタに適用する酸化物半導体よりもキャリア密度が高い。
Hydrogen contained in the first conductive layer 111a reacts with oxygen bonded to metal atoms to become water, and forms oxygen vacancies in a lattice from which oxygen is released (or a portion from which oxygen is released). When hydrogen enters the oxygen vacancies, electrons serving as carriers may be generated. In some cases, a part of hydrogen is bonded to oxygen bonded to a metal atom, so that an electron serving as a carrier is generated. Therefore, the oxide semiconductor included in the first conductive layer 111a containing hydrogen has a higher carrier density than the oxide semiconductor used for the transistor.
トランジスタのチャネル領域が形成される酸化物半導体層は水素ができる限り低減され
ていることが好ましい。具体的には、酸化物半導体層において、二次イオン質量分析法(
SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)により
得られる水素濃度を、2×1020atoms/cm3以下、好ましくは5×1019a
toms/cm3以下、より好ましくは1×1019atoms/cm3以下、5×10
18atoms/cm3未満、好ましくは1×1018atoms/cm3以下、より好
ましくは5×1017atoms/cm3以下、さらに好ましくは1×1016atom
s/cm3以下とする。
In the oxide semiconductor layer in which the channel region of the transistor is formed, hydrogen is preferably reduced as much as possible. Specifically, in an oxide semiconductor layer, secondary ion mass spectrometry (
The hydrogen concentration obtained by SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) is 2 × 10 20 atoms / cm 3 or less, preferably 5 × 10 19 a.
toms / cm 3 or less, more preferably 1 × 10 19 atoms / cm 3 or less, 5 × 10
Less than 18 atoms / cm 3 , preferably 1 × 10 18 atoms / cm 3 or less, more preferably 5 × 10 17 atoms / cm 3 or less, and even more preferably 1 × 10 16 atoms
s / cm 3 or less.
一方、容量素子110の電極として機能する第1の導電層111aに含まれる酸化物半
導体は、上記トランジスタに適用される酸化物半導体よりも、水素濃度または/及び酸素
欠損が多く、低抵抗化されている。
On the other hand, the oxide semiconductor included in the first conductive layer 111a functioning as an electrode of the
第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層は、代表的には、I
n−Ga酸化物、In−Zn酸化物、In−M−Zn酸化物(Mは、Mg、Al、Ti、
Ga、Y、Zr、La、Ce、Nd、又はHf)等の金属酸化物で形成される。なお、第
1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層は、透光性を有する。
The oxide semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a and the transistor is typically I
n-Ga oxide, In-Zn oxide, In-M-Zn oxide (M is Mg, Al, Ti,
Ga, Y, Zr, La, Ce, Nd, or Hf). Note that the first conductive layer 111a and the oxide semiconductor layer used for the transistor have a light-transmitting property.
なお、第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層がIn−M−
Zn酸化物の場合、In及びMの和を100atomic%としたとき、Inが25at
omic%以上、Mが75atomic%未満、又はInが34atomic%以上、M
が66atomic%未満とする。
Note that the oxide semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a and the transistor is In-M-
In the case of Zn oxide, when the sum of In and M is 100 atomic%, In is 25 at.
omic% or more, M is less than 75 atomic%, or In is 34 atomic% or more, M
Is less than 66 atomic%.
第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層は、エネルギーギャ
ップが2eV以上、又は2.5eV以上、又は3eV以上であることが好ましい。
The energy gap of the first conductive layer 111a and the oxide semiconductor layer used for the transistor is preferably 2 eV or more, 2.5 eV or more, or 3 eV or more.
第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層の厚さは、3nm以
上200nm以下、又は3nm以上100nm以下、又は3nm以上60nm以下とする
ことができる。
The thickness of the oxide semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a and the transistor can be 3 nm to 200 nm, 3 nm to 100 nm, or 3 nm to 60 nm.
第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層がIn−M−Zn酸
化物の場合、In−M−Zn酸化物を成膜するために用いるスパッタリングターゲットの
金属元素の原子数比は、In≧M、Zn≧Mを満たすことが好ましい。このようなスパッ
タリングターゲットの金属元素の原子数比として、In:M:Zn=1:1:1、In:
M:Zn=1:1:1.2、In:M:Zn=2:1:1.5、In:M:Zn=2:1
:2.3、In:M:Zn=2:1:3、In:M:Zn=3:1:2等が好ましい。な
お、成膜される第1の導電層111a及びトランジスタに適用する酸化物半導体層の原子
数比はそれぞれ、誤差として上記のスパッタリングターゲットに含まれる金属元素の原子
数比のプラスマイナス40%の変動を含む。
In the case where the oxide semiconductor layer applied to the first conductive layer 111a and the transistor is an In-M-Zn oxide, the atomic ratio of the metal element of the sputtering target used for forming the In-M-Zn oxide is In ≧ M and Zn ≧ M are preferably satisfied. As the atomic ratio of the metal elements of such a sputtering target, In: M: Zn = 1: 1: 1, In:
M: Zn = 1: 1: 1.2, In: M: Zn = 2: 1: 1.5, In: M: Zn = 2: 1
: 2.3, In: M: Zn = 2: 1: 3, In: M: Zn = 3: 1: 2, and the like are preferable. Note that the atomic ratio of the first conductive layer 111a to be formed and the oxide semiconductor layer applied to the transistor varies as an error by plus or minus 40% of the atomic ratio of the metal element contained in the sputtering target. including.
また、酸素欠損が形成された酸化物半導体に水素を添加すると、酸素欠損サイトに水素
が入り伝導帯近傍にドナー準位が形成される。この結果、酸化物半導体は、導電性が高く
なり、導電体化する。導電体化された酸化物半導体を酸化物導電体ということができる。
一般に、酸化物半導体は、エネルギーギャップが大きいため、可視光に対して透光性を有
する。一方、酸化物導電体は、伝導帯近傍にドナー準位を有する酸化物半導体である。し
たがって、該ドナー準位による吸収の影響は小さく、可視光に対して酸化物半導体と同程
度の透光性を有する。酸化物導電体は、縮退半導体であり、伝導帯端とフェルミ準位とが
一致または略一致しているということもできる。このため、酸化物導電体膜を、容量素子
の電極等に用いることが可能である。
In addition, when hydrogen is added to an oxide semiconductor in which oxygen vacancies are formed, hydrogen enters oxygen vacancy sites and donor levels are formed in the vicinity of the conduction band. As a result, the oxide semiconductor has high conductivity and becomes a conductor. A conductive oxide semiconductor can be referred to as an oxide conductor.
In general, an oxide semiconductor has a large energy gap and thus has a light-transmitting property with respect to visible light. On the other hand, an oxide conductor is an oxide semiconductor having a donor level in the vicinity of the conduction band. Therefore, the influence of absorption due to the donor level is small, and the light transmittance is comparable to that of an oxide semiconductor with respect to visible light. An oxide conductor is a degenerate semiconductor, and it can also be said that the conduction band edge and the Fermi level coincide or substantially coincide. Therefore, the oxide conductor film can be used for an electrode of a capacitor element.
図6に示す構成とすることで、第1の導電層111aをトランジスタの作製工程で同時
に形成することができるため、工程を簡略化することが可能となる。また図6における第
1の導電層111aを形成する際のフォトマスクを必要としないため、作製コストを削減
することも可能である。
With the structure illustrated in FIGS. 6A and 6B, the first conductive layer 111a can be formed at the same time in the manufacturing process of the transistor, so that the process can be simplified. In addition, since a photomask for forming the first conductive layer 111a in FIG. 6 is not required, manufacturing cost can be reduced.
以上が、断面構成例についての説明である。 The above is the description of the cross-sectional configuration example.
なお、本実施の形態では、タッチセンサとして、センサ素子がトランジスタ等の能動素
子を備えるアクティブマトリクス方式のタッチセンサを例示したが、能動素子を有さない
パッシブマトリクス方式のタッチセンサとしてもよい。また、本実施の形態では、タッチ
センサを支持する第1の基板と、表示素子を支持する第2の基板の2枚の基板を有する構
成を示したが、これに限られない。例えば表示素子を2枚の基板で挟持し、これにタッチ
センサを支持する第1の基板を貼り合せ、3枚の基板を有する構成としてもよいし、表示
素子及びタッチセンサのそれぞれを2枚の基板で挟持したものを貼り合せて、4枚の基板
を有する構成としてもよい。
Note that in this embodiment, an active matrix touch sensor in which a sensor element includes an active element such as a transistor is illustrated as a touch sensor, but a passive matrix touch sensor having no active element may be used. In this embodiment mode, a structure including two substrates, a first substrate that supports a touch sensor and a second substrate that supports a display element, is described; however, the present invention is not limited thereto. For example, the display element may be sandwiched between two substrates, and a first substrate that supports the touch sensor may be bonded to the display element, and the display device and the touch sensor may be configured to have two substrates. A structure in which four substrates are provided by bonding materials sandwiched between substrates may be employed.
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組
み合わせて実施することができる。
This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.
(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様のタッチセンサの構成例と、その駆動方法の例につ
いて、図面を参照して説明する。
(Embodiment 2)
In this embodiment, an example of a structure of a touch sensor of one embodiment of the present invention and an example of a driving method thereof will be described with reference to drawings.
[構成例]
図7(A)は、本発明の一態様のタッチパネル(入出力装置ともいう)が有する構成を
説明するブロック図である。図7(B)は、変換器CONVの構成を説明する回路図であ
る。図7(C)はセンサ素子22の構成を説明する回路図である。また図7(D−1)及
び図7(D−2)はセンサ素子22の駆動方法を説明するタイミングチャートである。
[Configuration example]
FIG. 7A is a block diagram illustrating a structure of a touch panel (also referred to as an input / output device) of one embodiment of the present invention. FIG. 7B is a circuit diagram illustrating the configuration of the converter CONV. FIG. 7C is a circuit diagram illustrating the configuration of the
本実施の形態で例示するタッチセンサは、マトリクス状に配置される複数のセンサ素子
22と、行方向に配置される複数のセンサ素子22が電気的に接続される信号線DLと、
センサ素子22、走査線G1及び信号線DLが配設される可撓性の基板21と、を有する
(図7(A)参照)。
The touch sensor exemplified in this embodiment includes a plurality of
And a
例えば、複数のセンサ素子22をn行m列(n及びmはそれぞれ1以上の自然数)のマ
トリクス状に配置することができる。
For example, the plurality of
なお、センサ素子22は検知素子として機能する容量素子Cを備える。容量素子Cは実
施の形態1における容量素子110に相当する。例えば、容量素子Cの第1の電極が実施
の形態1における第1の導電層111に相当し、第2の電極が第2の導電層113に相当
する。
The
また、信号線DL、走査線G1等の配線に、実施の形態1における第3の導電層116
や第4の導電層117を適用することができる。
Further, the third
Alternatively, the fourth conductive layer 117 can be used.
容量素子Cの第2の電極は配線CSと電気的に接続されている。これにより、容量素子
Cの第2の電極の電位を、配線CSが供給する制御信号を用いて制御することができる。
The second electrode of the capacitor C is electrically connected to the wiring CS. Accordingly, the potential of the second electrode of the capacitor C can be controlled using the control signal supplied from the wiring CS.
本発明の一態様のセンサ素子22は、少なくともトランジスタM1を有する。またトラ
ンジスタM2及び/またはトランジスタM3を備える構成としてもよい(図7(C)参照
)。
The
トランジスタM1は、ゲートが容量素子Cの第1の電極と電気的に接続され、第1の電
極が、配線VPIと電気的に接続されている。配線VPIは、例えば接地電位を供給する
機能を有する。
In the transistor M1, the gate is electrically connected to the first electrode of the capacitor C, and the first electrode is electrically connected to the wiring VPI. The wiring VPI has a function of supplying a ground potential, for example.
トランジスタM2は、ゲートが走査線G1と電気的に接続され、第1の電極がトランジ
スタM1の第2の電極と電気的に接続され、第2の電極が信号線DLと電気的に接続され
ている。走査線G1は、例えば選択信号を供給する機能を有する。また信号線DLは、例
えば検知信号DATAを供給する機能を有する。
The transistor M2 has a gate electrically connected to the scan line G1, a first electrode electrically connected to the second electrode of the transistor M1, and a second electrode electrically connected to the signal line DL. Yes. The scanning line G1 has a function of supplying a selection signal, for example. The signal line DL has a function of supplying the detection signal DATA, for example.
トランジスタM3は、ゲートが配線RESと電気的に接続され、第1の電極が容量素子
Cの第1の電極と電気的に接続され、第2の電極が配線VRESと電気的に接続されてい
る。配線RESは、例えばリセット信号を供給する機能を有する。配線VRESは、例え
ばトランジスタM1を導通状態にすることのできる電位を供給する機能を有する。
The transistor M3 has a gate electrically connected to the wiring RES, a first electrode electrically connected to the first electrode of the capacitor C, and a second electrode electrically connected to the wiring VRES. . The wiring RES has a function of supplying a reset signal, for example. The wiring VRES has a function of supplying a potential that can turn on the transistor M1, for example.
容量素子Cの容量は、例えば、第1の電極または第2の電極にものが近接すること、若
しくは第1の電極および第2の電極の間隔が変化することにより変化する。これにより、
センサ素子22は容量素子Cの容量の変化に基づく検知信号DATAを供給することがで
きる。
The capacitance of the capacitive element C changes, for example, when an object is close to the first electrode or the second electrode, or the distance between the first electrode and the second electrode is changed. This
The
また、容量素子Cの第2の電極に電気的に接続される配線CSは、容量素子Cの第2の
電極の電位を制御する制御信号を供給する機能を有する。
In addition, the wiring CS electrically connected to the second electrode of the capacitor C has a function of supplying a control signal for controlling the potential of the second electrode of the capacitor C.
なお、容量素子Cの第1の電極、トランジスタM1のゲート及びトランジスタM3の第
1の電極が電気的に接続されて形成されるノードを、ノードAという。
Note that a node formed by electrically connecting the first electrode of the capacitor C, the gate of the transistor M1, and the first electrode of the transistor M3 is referred to as a node A.
図8(A)には、センサ素子22を行方向に2個、列方向に2個、それぞれ配置した場
合の回路図の例を示す。
FIG. 8A shows an example of a circuit diagram when two
図8(B)には、センサ素子22が有する第1の導電層111(第1の電極に相当)と
、各配線との位置関係の例を示している。第1の導電層111は、トランジスタM1のゲ
ートとトランジスタM3の第2の電極がそれぞれ電気的に接続されている。また第1の導
電層111は、図8(C)に示す複数の画素33と互いに重なるように配置されている。
また図8(B)に示すように、トランジスタM1乃至M3を、第1の導電層111と重な
らない領域に配置することが好ましい。
FIG. 8B shows an example of the positional relationship between the first conductive layer 111 (corresponding to the first electrode) included in the
8B, the transistors M1 to M3 are preferably provided in a region that does not overlap with the first
また、図9(A)乃至(C)に示すように、センサ素子22がトランジスタM2を有さ
ない構成としてもよい。このとき、行方向に複数配置されるセンサ素子22において、各
々の容量素子Cの第2の電極が、配線CSに代えて走査線G1と電気的に接続する構成と
すればよい。
Further, as shown in FIGS. 9A to 9C, the
図7(B)に示す配線VPO及び配線BRは、例えばトランジスタを導通状態にするこ
とができる程度の高電源電位を供給する機能を有する。また信号線DLは検知信号DAT
Aを供給する機能を有する。端子OUTは検知信号DATAに基づいて変換された信号を
供給する機能を有する。
The wiring VPO and the wiring BR illustrated in FIG. 7B have a function of supplying a high power supply potential that can make a transistor in a conductive state, for example. The signal line DL is connected to the detection signal DAT.
It has a function of supplying A. The terminal OUT has a function of supplying a signal converted based on the detection signal DATA.
変換器CONVは変換回路を備える。検知信号DATAを変換して端子OUTに供給す
ることができる様々な回路を、変換器CONVに用いることができる。例えば、変換器C
ONVをセンサ素子22に電気的に接続することにより、ソースフォロワ回路またはカレ
ントミラー回路として機能する回路を適用してもよい。
The converter CONV includes a conversion circuit. Various circuits that can convert the detection signal DATA and supply it to the terminal OUT can be used for the converter CONV. For example, the converter C
A circuit that functions as a source follower circuit or a current mirror circuit by electrically connecting ONV to the
具体的には、トランジスタM4を用いた変換器CONVを用いて、ソースフォロワ回路
を構成できる(図7(B)参照)。なお、トランジスタM1乃至M3と同一の工程で作製
することのできるトランジスタをトランジスタM4に用いてもよい。
Specifically, a source follower circuit can be configured using the converter CONV including the transistor M4 (see FIG. 7B). Note that a transistor that can be manufactured in the same process as the transistors M1 to M3 may be used for the transistor M4.
例えば実施の形態1で例示したトランジスタ251またはトランジスタ252等の構成
を、トランジスタM1乃至トランジスタM4のそれぞれに適用することができる。
For example, the structure of the
なお、変換機CONVの構成は、図7(B)に示す構成に限られない。図10に変換器
CONVの異なる構成例を示している。
Note that the configuration of the converter CONV is not limited to the configuration shown in FIG. FIG. 10 shows a different configuration example of the converter CONV.
図10(A)に示す変換器CONVは、トランジスタM4に加えてトランジスタM5を
有する。具体的にはトランジスタM5は、ゲートが信号線DLと電気的に接続し、第1の
電極が端子OUTと電気的に接続し、第2の電極が配線GNDと電気的に接続する。配線
GNDは、例えば接地電位を供給する機能を有する。また、図10(B)に示すように、
トランジスタM4及びトランジスタM5が、それぞれ第2のゲートを有する構成としても
よい。このとき、第2のゲートは、ゲートと電気的に接続する構成とすることが好ましい
。
The converter CONV illustrated in FIG. 10A includes a transistor M5 in addition to the transistor M4. Specifically, the transistor M5 has a gate electrically connected to the signal line DL, a first electrode electrically connected to the terminal OUT, and a second electrode electrically connected to the wiring GND. The wiring GND has a function of supplying a ground potential, for example. In addition, as shown in FIG.
The transistor M4 and the transistor M5 may each have a second gate. At this time, the second gate is preferably configured to be electrically connected to the gate.
また図10(C)に示す変換器CONVは、トランジスタM5及び抵抗Rを有する。具
体的には、トランジスタM4はゲートが配線BR1と電気的に接続する。トランジスタM
5は、ゲートが配線BR2と電気的に接続し、第1の電極が端子OUT、及び抵抗Rの第
2の電極と電気的に接続し、第2の電極が配線GNDと電気的に接続する。抵抗Rは、第
1の電極が配線VDDと電気的に接続している。配線BR1及び配線BR2は、例えばそ
れぞれトランジスタを導通状態にすることのできる程度の高電源電位を供給する機能を有
する。配線VDDは、例えば高電源電位を供給する機能を有する。
Further, the converter CONV shown in FIG. 10C includes a transistor M5 and a resistor R. Specifically, the transistor M4 has a gate electrically connected to the wiring BR1. Transistor M
5, the gate is electrically connected to the wiring BR2, the first electrode is electrically connected to the terminal OUT and the second electrode of the resistor R, and the second electrode is electrically connected to the wiring GND. . The resistor R has the first electrode electrically connected to the wiring VDD. For example, the wiring BR1 and the wiring BR2 each have a function of supplying a high power supply potential that can turn on the transistor. The wiring VDD has a function of supplying a high power supply potential, for example.
[駆動方法例]
続いて、図7を参照してセンサ素子22の駆動方法について説明する。
[Example of driving method]
Next, a method for driving the
〔第1のステップ〕
第1のステップにおいて、トランジスタM3を導通状態にした後に非導通状態にするリ
セット信号を、トランジスタM3のゲートに供給し、容量素子Cの第1の電極の電位(す
なわちノードAの電位)を所定の電位にする(図7(D−1)、期間T1参照)。
[First step]
In the first step, a reset signal for making the transistor M3 conductive and nonconductive is supplied to the gate of the transistor M3, and the potential of the first electrode of the capacitor C (that is, the potential of the node A) is predetermined. (See FIG. 7D-1 and the period T1).
具体的には、リセット信号を配線RESに供給する。リセット信号が供給されたトラン
ジスタM3は、ノードAの電位を例えばトランジスタM1を導通状態にすることのできる
電位にする。
Specifically, a reset signal is supplied to the wiring RES. The transistor M3 to which the reset signal is supplied sets the potential of the node A to a potential that can turn on the transistor M1, for example.
〔第2のステップ〕
第2のステップにおいて、トランジスタM2を導通状態にする選択信号をトランジスタ
M2のゲートに供給し、トランジスタM1の第2の電極を信号線DLに電気的に接続する
(図7(D−1)、期間T2参照)。
[Second step]
In the second step, a selection signal for turning on the transistor M2 is supplied to the gate of the transistor M2, and the second electrode of the transistor M1 is electrically connected to the signal line DL (FIG. 7D-1). (See period T2).
具体的には、走査線G1に選択信号を供給する。選択信号が供給されたトランジスタM
2は、トランジスタM1の第2の電極を信号線DLに電気的に接続する。
Specifically, a selection signal is supplied to the scanning line G1. Transistor M supplied with selection signal
2 electrically connects the second electrode of the transistor M1 to the signal line DL.
〔第3のステップ〕
第3のステップにおいて、制御信号を容量素子Cの第2の電極に供給し、制御信号及び
容量素子Cの容量に基づいて変化する電位をトランジスタM1のゲートに供給する。
[Third step]
In the third step, a control signal is supplied to the second electrode of the capacitor C, and a potential that changes based on the control signal and the capacitance of the capacitor C is supplied to the gate of the transistor M1.
具体的には、配線CSに矩形の制御信号を供給する。矩形の制御信号を容量素子Cの第
2の電極に供給すると、容量素子Cの容量に基づいてノードAの電位が変化する(図7(
D−1)、期間T2の後半を参照)。
Specifically, a rectangular control signal is supplied to the wiring CS. When a rectangular control signal is supplied to the second electrode of the capacitor C, the potential of the node A changes based on the capacitance of the capacitor C (FIG. 7 (
D-1), see the second half of period T2).
例えば、容量素子Cが大気中におかれている場合、大気より誘電率の高いものが、容量
素子Cの第2の電極に近接して配置された場合、容量素子Cの容量は見かけ上大きくなる
。
For example, when the capacitive element C is placed in the atmosphere, if a capacitor having a dielectric constant higher than that of the atmosphere is disposed close to the second electrode of the capacitive element C, the capacitance of the capacitive element C is apparently large. Become.
これにより、矩形の制御信号がもたらすノードAの電位の変化は、大気より誘電率の高
いものが近接して配置されていない場合に比べて小さくなる(図7(D−2)、実線参照
)。
As a result, the change in potential of the node A caused by the rectangular control signal is smaller than that in the case where those having a dielectric constant higher than that of the atmosphere are not arranged close to each other (see FIG. 7D-2, solid line). .
または、タッチパネルの変形に伴い、容量素子Cの第1の電極と第2の電極の間隔が変
化した場合にも、容量素子Cの容量が変化する。これにより、ノードAの電位が変化する
。
Alternatively, the capacitance of the capacitive element C also changes when the distance between the first electrode and the second electrode of the capacitive element C changes with the deformation of the touch panel. As a result, the potential of the node A changes.
〔第4のステップ〕
第4のステップにおいて、トランジスタM1のゲートの電位の変化がもたらす信号を信
号線DLに供給する。
[Fourth step]
In the fourth step, a signal caused by a change in the gate potential of the transistor M1 is supplied to the signal line DL.
例えば、トランジスタM1のゲートの電位の変化がもたらす電流の変化を信号線DLに
供給する。
For example, a change in current caused by a change in the potential of the gate of the transistor M1 is supplied to the signal line DL.
変換器CONVは、例えば信号線DLを流れる電流の変化を電圧の変化に変換して供給
する。
The converter CONV converts, for example, a change in current flowing through the signal line DL into a change in voltage and supplies it.
〔第5のステップ〕
第5のステップにおいて、トランジスタM2を非導通状態にする選択信号をトランジス
タM2のゲートに供給する。
[Fifth step]
In the fifth step, a selection signal for turning off the transistor M2 is supplied to the gate of the transistor M2.
以上で、1つの走査線G1に電気的に接続される複数のセンサ素子22の動作が完了す
る。
This completes the operation of the plurality of
n個の走査線G1有する場合には、走査線G1(1)乃至走査線G1(n)について、
それぞれ第1のステップから第5のステップを繰り返せばよい。
When there are n scanning lines G1, the scanning lines G1 (1) to G1 (n)
Each of the first step to the fifth step may be repeated.
または、配線RES及び配線CSを、各センサ素子22に共通とした場合には、図11
に示すような駆動方法を行ってもよい。すなわち、まず配線RESにリセット信号を供給
する。次いで、配線CSに制御信号を供給した状態で、走査線G1(1)乃至走査線G1
(n)に、順次選択信号を供給することにより、ノードAの電位の変化がもたらす信号を
信号線DL(1)乃至信号線DL(m)に供給する。
Alternatively, when the wiring RES and the wiring CS are common to the
A driving method as shown in FIG. That is, first, a reset signal is supplied to the wiring RES. Next, in a state where a control signal is supplied to the wiring CS, the scanning lines G1 (1) to G1
By sequentially supplying a selection signal to (n), a signal caused by a change in the potential of the node A is supplied to the signal lines DL (1) to DL (m).
このような方法により、リセット信号の供給及び制御信号の供給の頻度を少なくするこ
とができる。
By such a method, the frequency of supply of the reset signal and the supply of the control signal can be reduced.
以上が駆動方法についての説明である。 The above is the description of the driving method.
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組
み合わせて実施することができる。
This embodiment can be implemented in appropriate combination with at least part of the other embodiments described in this specification.
(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様を適用して作製できる電子機器及び照明装置につい
て、図12及び図13を用いて説明する。
(Embodiment 3)
In this embodiment, electronic devices and lighting devices that can be manufactured according to one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
本発明の一態様のタッチパネルは可撓性を有する。したがって、可撓性を有する電子機
器や照明装置に好適に用いることができる。また、本発明の一態様を適用することで、信
頼性が高く、繰り返しの曲げに対して強い電子機器や照明装置を作製できる。
The touch panel of one embodiment of the present invention has flexibility. Therefore, it can be suitably used for flexible electronic devices and lighting devices. In addition, by applying one embodiment of the present invention, an electronic device or a lighting device with high reliability and resistance to repeated bending can be manufactured.
電子機器としては、例えば、テレビジョン装置(テレビ、又はテレビジョン受信機とも
いう)、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタ
ルフォトフレーム、携帯電話機(携帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、
携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
Examples of the electronic device include a television device (also referred to as a television or a television receiver), a monitor for a computer, a digital camera, a digital video camera, a digital photo frame, a mobile phone (also referred to as a mobile phone or a mobile phone device). ), Portable game consoles,
A large-sized game machine such as a portable information terminal, a sound reproducing device, and a pachinko machine can be given.
また、本発明の一態様のタッチパネルは可撓性を有するため、家屋やビルの内壁もしく
は外壁、又は、自動車の内装もしくは外装の曲面に沿って組み込むことも可能である。
In addition, since the touch panel of one embodiment of the present invention has flexibility, it can be incorporated along an inner wall or an outer wall of a house or a building, or a curved surface of an interior or exterior of an automobile.
また、本発明の一態様の電子機器は、タッチパネル及び二次電池を有していてもよい。
このとき、非接触電力伝送を用いて、二次電池を充電することができると好ましい。
The electronic device of one embodiment of the present invention may include a touch panel and a secondary battery.
At this time, it is preferable that the secondary battery can be charged using non-contact power transmission.
二次電池としては、例えば、ゲル状電解質を用いるリチウムポリマー電池(リチウムイ
オンポリマー電池)等のリチウムイオン二次電池、リチウムイオン電池、ニッケル水素電
池、ニカド電池、有機ラジカル電池、鉛蓄電池、空気二次電池、ニッケル亜鉛電池、銀亜
鉛電池などが挙げられる。
Secondary batteries include, for example, lithium ion secondary batteries such as lithium polymer batteries (lithium ion polymer batteries) using a gel electrolyte, lithium ion batteries, nickel metal hydride batteries, nickel-cadmium batteries, organic radical batteries, lead storage batteries, air batteries A secondary battery, a nickel zinc battery, a silver zinc battery, etc. are mentioned.
本発明の一態様の電子機器は、タッチパネル及びアンテナを有していてもよい。アンテ
ナで信号を受信することで、表示部で映像や情報等の表示を行うことができる。また、電
子機器が二次電池を有する場合、アンテナを、非接触電力伝送に用いてもよい。
The electronic device of one embodiment of the present invention may include a touch panel and an antenna. By receiving a signal with an antenna, video, information, and the like can be displayed on the display unit. Further, when the electronic device has a secondary battery, the antenna may be used for non-contact power transmission.
図12(A)は、携帯電話機の一例を示している。携帯電話機7400は、筐体740
1に組み込まれた表示部7402のほか、操作ボタン7403、外部接続ポート7404
、スピーカ7405、マイク7406などを備えている。なお、携帯電話機7400は、
本発明の一態様のタッチパネルを表示部7402に用いることにより作製される。本発明
の一態様により、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯電話機を歩留まりよく提
供できる。
FIG. 12A illustrates an example of a mobile phone. A
1, an
, A
It is manufactured using the touch panel of one embodiment of the present invention for the
図12(A)に示す携帯電話機7400は、指などで表示部7402に触れることで、
情報を入力することができる。また、電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆ
る操作は、指などで表示部7402に触れることにより行うことができる。
A
Information can be entered. Any operation such as making a call or inputting a character can be performed by touching the
また、操作ボタン7403の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部7402
に表示される画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メイ
ンメニュー画面に切り替えることができる。
In addition, by operating the
The type of image displayed on the screen can be switched. For example, the mail creation screen can be switched to the main menu screen.
図12(B)は、腕時計型の携帯情報端末の一例を示している。携帯情報端末7100
は、筐体7101、表示部7102、バンド7103、バックル7104、操作ボタン7
105、入出力端子7106などを備える。
FIG. 12B illustrates an example of a wristwatch-type portable information terminal.
Includes a
105, an input /
携帯情報端末7100は、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、イン
ターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することがで
きる。
The
表示部7102はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行う
ことができる。また、表示部7102はタッチセンサを備え、指やスタイラスなどで画面
に触れることで操作することができる。例えば、表示部7102に表示されたアイコン7
107に触れることで、アプリケーションを起動することができる。
The
By touching 107, the application can be activated.
操作ボタン7105は、時刻設定のほか、電源のオン、オフ動作、無線通信のオン、オ
フ動作、マナーモードの実行及び解除、省電力モードの実行及び解除など、様々な機能を
持たせることができる。例えば、携帯情報端末7100に組み込まれたオペレーションシ
ステムにより、操作ボタン7105の機能を自由に設定することもできる。
In addition to time setting, the
また、携帯情報端末7100は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能
である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリー
で通話することもできる。
In addition, the
また、携帯情報端末7100は入出力端子7106を備え、他の情報端末とコネクター
を介して直接データのやりとりを行うことができる。また入出力端子7106を介して充
電を行うこともできる。なお、充電動作は入出力端子7106を介さずに無線給電により
行ってもよい。
In addition, the
携帯情報端末7100の表示部7102には、本発明の一態様のタッチパネルが組み込
まれている。本発明の一態様により、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯情報
端末を歩留まりよく提供できる。
A touch panel of one embodiment of the present invention is incorporated in the
図12(C)〜(E)は、照明装置の一例を示している。照明装置7200、照明装置
7210、及び照明装置7220は、それぞれ、操作スイッチ7203を備える台部72
01と、台部7201に支持される発光部を有する。
12C to 12E illustrate an example of a lighting device. The
01 and a light emitting portion supported by the
図12(C)に示す照明装置7200は、波状の発光面を有する発光部7202を備え
る。したがってデザイン性の高い照明装置となっている。
A
図12(D)に示す照明装置7210の備える発光部7212は、凸状に湾曲した2つ
の発光部が対称的に配置された構成となっている。したがって照明装置7210を中心に
全方位を照らすことができる。
A
図12(E)に示す照明装置7220は、凹状に湾曲した発光部7222を備える。し
たがって、発光部7222からの発光を、照明装置7220の前面に集光するため、特定
の範囲を明るく照らす場合に適している。
A
また、照明装置7200、照明装置7210及び照明装置7220の備える各々の発光
部はフレキシブル性を有しているため、発光部を可塑性の部材や可動なフレームなどの部
材で固定し、用途に合わせて発光部の発光面を自在に湾曲可能な構成としてもよい。
In addition, since each light emitting unit included in the
なおここでは、台部によって発光部が支持された照明装置について例示したが、発光部
を備える筐体を天井に固定する、又は天井からつり下げるように用いることもできる。発
光面を湾曲させて用いることができるため、発光面を凹状に湾曲させて特定の領域を明る
く照らす、又は発光面を凸状に湾曲させて部屋全体を明るく照らすこともできる。
Note that although the lighting device in which the light emitting unit is supported by the base is illustrated here, a housing including the light emitting unit can be fixed to the ceiling or can be used to hang from the ceiling. Since the light emitting surface can be curved and used, the light emitting surface can be curved concavely to illuminate a specific area, or the light emitting surface can be curved convexly to illuminate the entire room.
ここで、各発光部には、本発明の一態様のタッチパネルが組み込まれている。本発明の
一態様により、湾曲した発光部を備え、且つ信頼性の高い照明装置を歩留まりよく提供で
きる。
Here, the touch panel of one embodiment of the present invention is incorporated in each light-emitting portion. According to one embodiment of the present invention, a highly reliable lighting device including a curved light-emitting portion can be provided with high yield.
図12(F)には、携帯型のタッチパネルの一例を示している。タッチパネル7300
は、筐体7301、表示部7302、操作ボタン7303、引き出し部材7304、制御
部7305を備える。
FIG. 12F illustrates an example of a portable touch panel.
Includes a
タッチパネル7300は、筒状の筐体7301内にロール状に巻かれたフレキシブルな
表示部7102を備える。
The
また、タッチパネル7300は制御部7305によって映像信号を受信可能で、受信し
た映像を表示部7302に表示することができる。また、制御部7305にはバッテリを
そなえる。また、制御部7305にコネクターを接続する端子部を備え、映像信号や電力
を有線により外部から直接供給する構成としてもよい。
The
また、操作ボタン7303によって、電源のON、OFF動作や表示する映像の切り替
え等を行うことができる。
An
図12(G)には、表示部7302を引き出し部材7304により引き出した状態のタ
ッチパネル7300を示す。この状態で表示部7302に映像を表示することができる。
また、筐体7301の表面に配置された操作ボタン7303によって、片手で容易に操作
することができる。また、図12(F)のように操作ボタン7303を筐体7301の中
央でなく片側に寄せて配置することで、片手で容易に操作することができる。
FIG. 12G illustrates the
An
なお、表示部7302を引き出した際に表示部7302の表示面が平面状となるように
固定するため、表示部7302の側部に補強のためのフレームを設けていてもよい。
Note that a reinforcing frame may be provided on a side portion of the
なお、この構成以外に、筐体にスピーカを設け、映像信号と共に受信した音声信号によ
って音声を出力する構成としてもよい。
In addition to this configuration, a speaker may be provided in the housing, and audio may be output by an audio signal received together with the video signal.
表示部7302には、本発明の一態様のタッチパネルが組み込まれている。本発明の一
態様により、軽量で、且つ信頼性の高いタッチパネルを歩留まりよく提供できる。
The touch panel of one embodiment of the present invention is incorporated in the
図13(A)〜(C)に、折りたたみ可能な携帯情報端末310を示す。図13(A)
に展開した状態の携帯情報端末310を示す。図13(B)に展開した状態又は折りたた
んだ状態の一方から他方に変化する途中の状態の携帯情報端末310を示す。図13(C
)に折りたたんだ状態の携帯情報端末310を示す。携帯情報端末310は、折りたたん
だ状態では可搬性に優れ、展開した状態では、継ぎ目のない広い表示領域により表示の一
覧性に優れる。
13A to 13C show a foldable
Fig. 2 shows the
) Shows the
表示パネル316はヒンジ313によって連結された3つの筐体315に支持されてい
る。ヒンジ313を介して2つの筐体315間を屈曲させることにより、携帯情報端末3
10を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形させることができる。本発明の
一態様のタッチパネルを表示パネル316に用いることができる。例えば、曲率半径1m
m以上150mm以下で曲げることができるタッチパネルを適用できる。
The
10 can be reversibly deformed from a developed state to a folded state. The touch panel of one embodiment of the present invention can be used for the
A touch panel that can be bent at m to 150 mm can be applied.
なお、本発明の一態様において、タッチパネルが折りたたまれた状態又は展開された状
態であることを検知して、検知情報を供給するセンサを備える構成としてもよい。タッチ
パネルの制御装置は、タッチパネルが折りたたまれた状態であることを示す情報を取得し
て、折りたたまれた部分(又は折りたたまれて使用者から視認できなくなった部分)の動
作を停止してもよい。具体的には、表示を停止してもよい。また、タッチセンサによる検
知を停止してもよい。
Note that one embodiment of the present invention may include a sensor that detects that the touch panel is folded or unfolded and supplies detection information. The control device of the touch panel may acquire information indicating that the touch panel is in a folded state, and stop the operation of the folded portion (or the portion that is folded and cannot be visually recognized by the user). Specifically, the display may be stopped. Moreover, you may stop the detection by a touch sensor.
同様に、タッチパネルの制御装置は、タッチパネルが展開された状態であることを示す
情報を取得して、表示やタッチセンサによる検知を再開してもよい。
Similarly, the control device of the touch panel may acquire information indicating that the touch panel is in a developed state, and restart detection by the display or the touch sensor.
図13(D)(E)に、折りたたみ可能な携帯情報端末320を示す。図13(D)に
表示部322が外側になるように折りたたんだ状態の携帯情報端末320を示す。図13
(E)に、表示部322が内側になるように折りたたんだ状態の携帯情報端末320を示
す。携帯情報端末320を使用しない際に、非表示部325を外側に折りたたむことで、
表示部322の汚れや傷つきを抑制できる。本発明の一態様のタッチパネルを表示部32
2に用いることができる。
13D and 13E illustrate a foldable
FIG. 5E shows the
It is possible to suppress the
2 can be used.
図13(F)は携帯情報端末330の外形を説明する斜視図である。図13(G)は、
携帯情報端末330の上面図である。図13(H)は携帯情報端末340の外形を説明す
る斜視図である。
FIG. 13F is a perspective view illustrating the outer shape of the
3 is a top view of a
携帯情報端末330、340は、例えば電話機、手帳又は情報閲覧装置等から選ばれた
一つ又は複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとしてそれぞれ用いることが
できる。
The
携帯情報端末330、340は、文字や画像情報をその複数の面に表示することができ
る。例えば、3つの操作ボタン339を一の面に表示することができる(図13(F)(
H))。また、破線の矩形で示す情報337を他の面に表示することができる(図13(
G)(H))。なお、情報337の例としては、SNS(ソーシャル・ネットワーキング
・サービス)の通知、電子メールやや電話などの着信を知らせる表示、電子メールなどの
題名、電子メールなどの送信者名、日時、時刻、バッテリの残量、アンテナ受信の強度な
どがある。または、情報337が表示されている位置に、情報337の代わりに、操作ボ
タン339、アイコンなどを表示してもよい。なお、図13(F)(G)では、上側に情
報337が表示される例を示したが、本発明の一態様は、これに限定されない。例えば、
図13(H)に示す携帯情報端末340のように、横側に表示されていてもよい。
The
H)). Further,
G) (H)). Examples of the
Like the
例えば、携帯情報端末330の使用者は、洋服の胸ポケットに携帯情報端末330を収
納した状態で、その表示(ここでは情報337)を確認することができる。
For example, the user of the
具体的には、着信した電話の発信者の電話番号又は氏名等を、携帯情報端末330の上
方から観察できる位置に表示する。使用者は、携帯情報端末330をポケットから取り出
すことなく、表示を確認し、電話を受けるか否かを判断できる。
Specifically, the telephone number or name of the caller of the incoming call is displayed at a position where it can be observed from above the
携帯情報端末330の筐体335、携帯情報端末340の筐体336がそれぞれ有する
表示部333には、本発明の一態様のタッチパネルを用いることができる。本発明の一態
様により、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高いタッチパネルを歩留まりよく提供で
きる。
The touch panel of one embodiment of the present invention can be used for the
また、図13(I)に示す携帯情報端末345のように、3面以上に情報を表示しても
よい。ここでは、情報355、情報356、情報357がそれぞれ異なる面に表示されて
いる例を示す。
Further, information may be displayed on three or more surfaces as in the
携帯情報端末345の筐体354が有する表示部358には、本発明の一態様のタッチ
パネルを用いることができる。本発明の一態様により、湾曲した表示部を備え、且つ信頼
性の高いタッチパネルを歩留まりよく提供できる。
The touch panel of one embodiment of the present invention can be used for the
10 タッチパネルモジュール
20 タッチセンサモジュール
21 基板
22 センサ素子
23 回路
24 回路
25 配線
26 配線
30 表示パネル
31 基板
32 表示部
33 画素
34 回路
41 FPC
42 FPC
43 端子
110 容量素子
111 導電層
111a 導電層
112 絶縁層
113 導電層
114 着色層
114b 着色層
114g 着色層
114r 着色層
115 遮光層
116 導電層
116a 導電層
116b 導電層
116c 導電層
116d 導電層
116e 導電層
116f 導電層
116g 導電層
117 導電層
117a 導電層
117b 導電層
119 光学調整層
131 ゲート電極
132 半導体層
133a 電極
133b 電極
201 トランジスタ
202 トランジスタ
203 トランジスタ
204 発光素子
205 コンタクト部
210 接続層
211 接着層
212 絶縁層
213 絶縁層
214 絶縁層
215 絶縁層
216 絶縁層
217 絶縁層
218 絶縁層
219 スペーサ
220 接着層
221 電極
222 EL層
223 電極
224 光学調整層
225 導電層
251 トランジスタ
252 トランジスタ
253 コンタクト部
260 接続層
261 接着層
262 絶縁層
263 絶縁層
264 絶縁層
265 絶縁層
266 絶縁層
267 絶縁層
268 絶縁層
310 携帯情報端末
313 ヒンジ
315 筐体
316 表示パネル
320 携帯情報端末
322 表示部
325 非表示部
330 携帯情報端末
333 表示部
335 筐体
336 筐体
337 情報
339 操作ボタン
340 携帯情報端末
345 携帯情報端末
354 筐体
355 情報
356 情報
357 情報
358 表示部
7100 携帯情報端末
7101 筐体
7102 表示部
7103 バンド
7104 バックル
7105 操作ボタン
7106 入出力端子
7107 アイコン
7200 照明装置
7201 台部
7202 発光部
7203 操作スイッチ
7210 照明装置
7212 発光部
7220 照明装置
7222 発光部
7300 タッチパネル
7301 筐体
7302 表示部
7303 操作ボタン
7304 部材
7305 制御部
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
10
42 FPC
43 terminal 110 capacitor element 111 conductive layer 111a conductive layer 112 insulating layer 113 conductive layer 114 colored layer 114b colored layer 114g colored layer 114r colored layer 115 light shielding layer 116 conductive layer 116a conductive layer 116b conductive layer 116c conductive layer 116d conductive layer 116e conductive layer 116f conductive layer 116g conductive layer 117 conductive layer 117a conductive layer 117b conductive layer 119 optical adjustment layer 131 gate electrode 132 semiconductor layer 133a electrode 133b electrode 201 transistor 202 transistor 203 transistor 204 light emitting element 205 contact portion 210 connection layer 211 adhesive layer 212 insulating layer 213 Insulating layer 214 Insulating layer 215 Insulating layer 216 Insulating layer 217 Insulating layer 218 Insulating layer 219 Spacer 220 Adhesive layer 221 Electrode 222 EL layer 223 Electrode 224 Optical adjustment layer 225 Layer 251 Transistor 252 Transistor 253 Contact portion 260 Connection layer 261 Adhesive layer 262 Insulating layer 263 Insulating layer 265 Insulating layer 266 Insulating layer 267 Insulating layer 268 Insulating layer 310 Portable information terminal 313 Hinge 315 Housing 316 Display panel 320 Portable information Terminal 322 Display unit 325 Non-display unit 330 Mobile information terminal 333 Display unit 335 Case 336 Case 337 Information 339 Operation button 340 Mobile information terminal 345 Mobile information terminal 354 Case 355 Information 356 Information 357 Information 358 Display unit 7100 Mobile information terminal 7101 Housing 7102 Display unit 7103 Band 7104 Buckle 7105 Operation button 7106 Input / output terminal 7107 Icon 7200 Illuminating device 7201 Base unit 7202 Light emitting unit 7203 Operation switch 7210 Illuminating device 212 light emitting section 7220 illuminating device 7222 emitting portion 7300 touch panel 7301 housing 7302 display unit 7303 operation button 7304 member 7305 controller 7400 mobile phone 7401 housing 7402 display unit 7403 operation button 7404 an external connection port 7405 speaker 7406 microphone
Claims (2)
前記第1の基材と前記第2の基材は、互いに重なる領域を有し、
前記第1の基材と前記第2の基材の間に、前記表示素子と、前記遮光性を有する層と、前記第1の導電層と、前記第2の導電層と、前記第3の導電層と、前記絶縁層と、を有し、
前記第1の導電層は、前記絶縁層よりも前記第1の基材側に位置し、
前記第2の導電層は、前記絶縁層よりも前記第2の基材側に位置し、
前記第1の導電層は、前記絶縁層を介して前記第2の導電層と重なる領域を有し、
前記第1の導電層、前記第2の導電層、及び前記絶縁層は、前記遮光性を有する層よりも前記第1の基材側に位置し、
前記第3の導電層は、前記遮光性を有する層よりも前記第2の基材側に位置し、
前記第3の導電層と、前記第1の導電層または前記第2の導電層とは、電気的に接続されていることを特徴とするタッチパネル。 A flexible first substrate, a flexible second substrate, a display element, a light-shielding layer, a first conductive layer, a second conductive layer, A touch panel having three conductive layers and an insulating layer,
The first base material and the second base material have regions that overlap each other,
Between the first base material and the second base material, the display element, the light-shielding layer, the first conductive layer, the second conductive layer, and the third base material A conductive layer, and the insulating layer,
The first conductive layer is located closer to the first base than the insulating layer,
The second conductive layer is located closer to the second base than the insulating layer,
The first conductive layer has a region overlapping the second conductive layer through the insulating layer,
The first conductive layer, the second conductive layer, and the insulating layer are located closer to the first substrate than the light-shielding layer,
The third conductive layer is located closer to the second substrate than the light-shielding layer,
The touch panel, wherein the third conductive layer and the first conductive layer or the second conductive layer are electrically connected.
トランジスタを有し、
前記第3の導電層は、前記トランジスタのゲートまたはソースまたはドレインと電気的に接続されていることを特徴とするタッチパネル。 In claim 1,
Having a transistor,
The touch panel, wherein the third conductive layer is electrically connected to a gate, a source, or a drain of the transistor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018101345A JP6570700B2 (en) | 2018-05-28 | 2018-05-28 | Touch panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018101345A JP6570700B2 (en) | 2018-05-28 | 2018-05-28 | Touch panel |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014095080A Division JP6346782B2 (en) | 2014-05-02 | 2014-05-02 | Touch panel |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019144562A Division JP6749457B2 (en) | 2019-08-06 | 2019-08-06 | Touch panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018160259A JP2018160259A (en) | 2018-10-11 |
JP6570700B2 true JP6570700B2 (en) | 2019-09-04 |
Family
ID=63795190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018101345A Active JP6570700B2 (en) | 2018-05-28 | 2018-05-28 | Touch panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6570700B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102282686B1 (en) * | 2019-09-10 | 2021-07-28 | 주식회사 지2터치 | Touch screen applied by programmable voltages |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010160745A (en) * | 2009-01-09 | 2010-07-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Color filter and display |
TWI412854B (en) * | 2010-02-04 | 2013-10-21 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Touch-sensitive liquid crystal module and integrated touch-sensitive substrate |
KR20130115621A (en) * | 2012-04-12 | 2013-10-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display device and fabrication method of the same |
KR101944503B1 (en) * | 2012-06-21 | 2019-04-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | Sensor substrate and sensing display panel having the same |
-
2018
- 2018-05-28 JP JP2018101345A patent/JP6570700B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018160259A (en) | 2018-10-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7419457B2 (en) | touch panel | |
US11644869B2 (en) | Touch panel comprising conductive layers having opening overlapping with light-emitting element | |
JP6903795B2 (en) | Touch panel and touch panel module | |
JP6596224B2 (en) | Light emitting device and input / output device | |
JP6630490B2 (en) | Semiconductor device, touch sensor, touch panel, display device, touch panel module, display panel module, and electronic device | |
JP2015228367A (en) | Semiconductor device, input-output device and electronic apparatus | |
JP6346782B2 (en) | Touch panel | |
JP6570700B2 (en) | Touch panel | |
JP6749457B2 (en) | Touch panel | |
JP2024052752A (en) | Display device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190709 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190806 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6570700 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |