JP6553297B2 - 干渉分析器を含むボリューム領域の超音波画像を可変周波数で提供するための超音波システム - Google Patents

干渉分析器を含むボリューム領域の超音波画像を可変周波数で提供するための超音波システム Download PDF

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Description

本発明は、関心領域を含むボリューム領域の超音波画像を提供するための超音波システムに関し、この超音波システムは、CMUTトランスデューサのアレイを有するプローブあって、アレイは、方位角次元及び仰角次元のうちの少なくとも一方におけるピッチ値を有し、ボリューム領域にわたって可変周波数範囲内で超音波ビームをステアリングするように適合され、ビームは方位角及び仰角のうちの少なくとも一方のステアリング角においてステアリングされる、プローブと、アレイに結合され、超音波ビームステアリングを制御し、ボリューム領域の超音波画像データを提供するように適合されたビームフォーマと、ビームフォーマに結合され、CMUTトランスデューサの動作周波数を周波数範囲内で変動させるように適合されたトランスデューサ周波数コントローラであって、ボリューム領域内でステアリングされる超音波ビームの場合、動作周波数を第1の周波数に設定し、関心領域内でステアリングされる超音波ビームの場合、動作周波数を第2の周波数に変更するように構成され、第2の周波数は第1の周波数よりも高い、トランスデューサ周波数コントローラとを備える。
本発明は、更に、そのような超音波システムを用いるボリューム領域の可変周波数超音波撮像の方法に関する。
CMUTトランスデューサプローブを有する超音波撮像システムは、WO2015028314A1から知られている。このプローブは、以下のモード、すなわち、DCバイアス電圧がセルのCMUT膜を、CMUTセルの動作中にセルフロアの上方で自由に振動するように設定する従来のモードと、DCバイアス電圧がセルのCMUT膜を、CMUTセルの動作中にセルフロアにつぶれるように設定するつぶれモードとのいずれかで動作するように構成されたCMUTセルを有するアレイを備える。DCバイアス電圧の増大の結果として、つぶれモードでの動作中のCMUTセルの周波数応答の中心周波数における増大が生じ、DCバイアス電圧の減少の結果として、つぶれモードでの動作中のCMUTセルの周波数応答の中心周波数における減少が生じる。DCバイアス電圧は、身体のボリューム領域が撮像される周波数に依拠して異なる臨床用途で選択することができる。
CMUTアレイにおける動作周波数の変動の実施態様は、取得される超音波画像の品質に影響を及ぼす。
CMUT技術の観点を更に利用する新たな撮像技法における需要が存在する。
本発明の目的は、超音波撮像における改善した機能を可能にする超音波システムを提供することである。
この目的は、超音波画像データに応答して、ボリューム領域内の高輝度領域のロケーションを特定するように適合された画像プロセッサであって、この高輝度領域は、超音波画像の平均輝度よりも少なくとも2倍高い信号強度を有する、画像プロセッサと、トランスデューサ周波数コントローラに結合された干渉分析器であって、第2の周波数が、ステアリング角に対し高輝度領域のロケーションから導出された第1の閾値周波数値を超えているとき、ボリューム領域内でステアリングされるビームのビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整するように適合される、干渉分析器とを提供することによって、本発明に従って達成される。
本発明は、特定された関心領域内の超音波ビームの周波数を増大させることを可能にする新たな撮像技法を提供する際に、CMUTトランスデューサの可変周波数機能を用いる。超音波データにおいてROI(関心領域)が特定されると、トランスデューサ周波数コントローラは、ROIが位置するボリューム領域の部分におけるビーム周波数を増大させる。ビームのステアリング角及び超音波周波数に依存して、ROIから受信される超音波データにおいてグレーティングローブが明らかとなり、これらのグレーティングローブは、ボリューム領域内に位置する強力な反射源から生じる。通例、これらの反射源は、超音波画像内で、明確な高輝度領域として現れる。強力な反射源によって生じるグレーティングローブの出現は、ROI内でステアリングされるビームの方向、及びアレイの次元に対する強力な反射体のロケーションに関数依存性を有する。本発明は、これらの反射源から生じる信号強度値に基づいてそのような反射源のロケーションを特定することが可能なシステムを提供する。これは、超音波画像内のピクセルの輝度を画像平均輝度と比較する画像プロセッサを提供することによって達成される。更に、干渉分析器は、ROIを超えて強力な反射体から生じるグレーティングローブの影響が低減されるように、ROI内のビームステアリングパラメータを変動させる。本発明の利点は、より大きなペネトレーション深度及び低減された空間分解能を有するボリューム領域の広域ビューと、より高い空間分解能を有するROIの詳細フィールドビューとを、単一の超音波走査中に同じCMUTトランスデューサのアレイを用いて生成することができることである。干渉分析器は、ビームステアリングパラメータを調整することによって、詳細なフィールドビューにおける潜在的な画像品質低減について補正する。したがって、超音波画像の良好な品質を達成することができる。換言すれば、システムは、関心領域内でステアリングされるビームのビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整することによってROIを撮像するとき、強力な反射源の方向において生成される(又は受信される)音響エネルギーを最小限にするようにビーム形成制御部に自動的に命令する。
実施形態において、干渉分析器は、第2の周波数を、第1の閾値周波数値よりも低い第2の閾値周波数値より低く低減するように更に構成され、第2の閾値周波数値は、超音波波長がアレイピッチ値に2を乗算した値に等しいトランスデューサ周波数に対応する。
アレイの設計は、CMUTトランスデューサの動作周波数が閾値よりも高くなるとき、ステアリングされるビームの品質に負の影響を与える。干渉分析器は、相対的に高い周波数が閾値周波数値を超えているとき、関心領域内でステアリングされるビームのビームステアリングパラメータのうちの1つを調整することによって、取得された画像品質の低減(グレーティングローブの出現)を軽減することを可能にする。調整される適切なビームステアリングパラメータは、例えば、ビームの超音波周波数である。ここで、超音波周波数は、超音波ビームのメインローブの中心周波数である。代替的に、受信超音波エコーに対応する受信信号は、ROI内の品質(グレーティングローブ)の潜在的な低減の原因となることが知られている周波数成分が除去されるようにフィルタリングされる。
グレーティングローブは、トランスデューサ間距離として定義されるアレイピッチが、ビームを形成する超音波の波長の半分以上であり、且つ、ビームが一定の閾値よりも大きな角度内でステアリングされるときにも生じる。したがって、強力な反射体の存在によって生じるグレーティングローブのみでなく、アレイの構造的設計によって定義されるグレーティングローブも、干渉分析器によって考慮に入れられる。干渉分析器は、トランスデューサによって設定された第2の周波数が、超音波波長とアレイピッチとの比較から導出された第2の閾値と交わる場合にビームステアリングパラメータを更に調整することによって、超音波画像品質全体に対するグレーティングローブの影響を更に低減する。これによって、所与のアレイのための改善された取得条件が達成される。
更なる実施形態において、ビームステアリングパラメータは、超音波周波数、受信信号スペクトルフィルタリング、方位角及び仰角のステアリング角を含む。
所与の周波数についてグレーティングローブの出現を低減する方式のうちの1つは、方位角及び/又は仰角方向におけるステアリング角を低減することである。代替的に、ステアリングされたビームの周波数が低減されてもよい。
更に別の実施形態では、超音波システムは、ROI特定部(ROI identifier)に結合され、ボリューム領域内のROI及び高輝度領域のユーザによる手動選択に応答するユーザインターフェースを更に備える。ユーザインターフェースは、ユーザによる手動選択時に、ビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整するように更に適合される。
これは、ユーザに、超音波画像内のROIのロケーション及び高輝度領域の双方を手動で選択する機会を与える。加えて、ユーザは、ビームステアリングパラメータに対する制御を有する。ユーザが超音波画像品質における低減を予期又は観測する場合、制御部は、ユーザがパラメータを手動で更に調整することを可能にする。
更なる実施形態において、ユーザによる手動選択は、可変周波数範囲からの第2の周波数及び第1の周波数の周波数選択、並びに方位角及び仰角のステアリング角等のビームパラメータ選択を更に含む。
ユーザインターフェースは、ユーザが可変周波数範囲から第1の周波数及び第2の周波数を選択することもできるように、周波数制御部にも結合することができる。選択された周波数値のうちの少なくとも1つが閾値を超えている場合、ユーザインターフェースは、設定されたビーム周波数を手動で低減するか、又はビームステアリング角を方位角及び仰角の双方のステアリング方向において手動で低減することを更に可能にする。
別の実施形態では、プローブは体腔内プローブであり、システムは、プローブに結合された駆動機構を更に備え、駆動機構は、撮像中のプローブの動きを可能にする。
そのようなシステムは、体腔内プローブが、ボリューム領域に対し動かされ、超音波撮像中にユーザに追加の柔軟性を与えることを可能にする。プローブの動きは、改善された超音波撮像のためにビーム調節と組み合わせることができる。これにより、ROIのロケーション及び最適なビームステアリングパラメータに依拠したボリューム領域に対するプローブの位置の自動調節がもたらされる。
更に別の実施形態では、駆動機構は、高輝度領域の特定時に、ROIロケーションに対しプローブを動かすように適合される。
特定されたROIとプローブとの間の距離が、選択された増大した周波数における音響ビームのペネトレーション深度よりも大きい場合、システムは、プローブをROIに近づけるように駆動機構を構成し、それによって増大したビーム周波数を有するROIの詳細ビューが生成される。ボリューム領域内のプローブの行き先は、強力な反射源のロケーションに対し最適化され、それによって、受信したグレーティングローブの方向が、ROIの詳細ビューから除外される。
更なる実施形態では、アレイは2次元アレイ又は1次元アレイである。
アレイの設計に依拠して、超音波システムは、ボリューム領域の3次元超音波画像又は2次元超音波画像(スライス)を提供する。
本発明の原理によるボリューム領域の可変周波数撮像のための超音波システムを示す。 超音波アレイに対するステアリングされたビームの空間的向きを示す。 アレイに関する、ステアリング角等のビームステアリングパラメータを示す。 ROI内でステアリングされるメイン受信ビーム角(β)と、異なる周波数における関連付けられた異なる一次受信グレーティングローブ角(θ)とを示す。 ボリューム領域のスライス内でステアリングされる超音波ビーム及び異なる周波数における関連付けられた異なる一次受信グレーティングローブ角(θ)を示す。 DCバイアス電圧によって制御され、rf.駆動信号によって駆動されるCMUTセルを示す。 本発明の実施態様において適用される、つぶれモードのCMUT動作の原理を示す。 つぶれモードで動作するそのようなCMUTセルの音響性能の等高線図を示す。 ボリューム領域内でステアリングされる相対的に低い周波数の超音波ビーム及び関心領域内でステアリングされる相対的に高い周波数の超音波ビームを用いたボリューム領域の走査を示す。 関心領域の詳細ビューを含むボリューム領域の広域ビューと共にボリューム領域の超音波画像の表示を示す。 ボリューム領域に対して動かされるように適合された体腔内プローブを用いた可変ビーム周波数によるボリューム領域の走査を示す。 本発明の第2の実施形態による体腔内プローブにより得られる超音波画像の表示を示す。 本発明の別の実施形態による、関心領域を含むボリューム領域を撮像するための超音波システムを示す。 本発明の第1の実施形態による、可変周波数画像取得のためのワークフローを示す。 本発明の第2の実施形態による、可変周波数画像取得のためのワークフローを示す。
図1は、本発明の原理によるボリューム領域の可変周波数撮像のための超音波システム100を概略的且つ例示的に示す。プローブ10は、容量性微細加工超音波トランスデューサ(CMUT)等の可変周波数超音波トランスデューサのアレイ14を備える。このアレイ14は、2次元アレイ又は1次元アレイのいずれかとすることができる。アレイのCMUTは、ボリューム視野131(図9)(ボリューム領域を含む)にわたって可変周波数範囲内で超音波ビームを送信し、送信されたビームに応答してエコーを受信する。アレイ14のトランスデューサは、ビームフォーマ64に結合される。ビームフォーマ64は、アレイトランスデューサ14のCMUTによって送信される超音波ビームのステアリングを制御する。トランスデューサアレイは、1D、1.5D又は2Dアレイとすることができる。その次元に応じて、アレイは、方位角次元及び仰角次元のうちの少なくとも一方を有する(図2a)。1次元(1D)アレイの場合、方位角次元はアレイ次元と一致し、図2bに示すようなビームステアリングの方位角方向を定義する。2次元(2D)アレイの場合、方位角次元及び仰角次元は、ビームステアリングの2つの直交する方向、すなわち、図2cに示すような方位角方向及び仰角方向を定義する。ビームフォーマは、トランスデューサによって受信されるエコーを更にビーム形成する。ビームは、トランスデューサアレイ14からまっすぐ前に(トランスデューサ14に直交して)ステアリングされるか、又はより大きな視野のために異なる角度でステアリングされる。2Dアレイの場合のビームステアリング角の図が図3に表される。ピラミッドOABCDは、その中でビームがステアリングされるボリューム視野を表す。面OKFは、アレイ14の表面に対し垂直であり、仰角方向に対し平行であるのに対し、面OEFは、双方に対し垂直であり、アレイ14及びOKF面は方位角方向に対し平行である。ビームの方位角のステアリング角(ベータ)は、ステアリングされたビームと、アレイに対し垂直で且つ仰角方向に対し平行な、OKF面等の面との間の角度として定義される。ビームの仰角のステアリング角(アルファ)は、ステアリングされたビームと、アレイに対し垂直で且つ方位角方向に対し平行な、OEF面等の面として定義される。
任意選択で、超音波システムは、各々が個々のトランスデューサのグループをビームフォーマ64と結合する複数のマイクロビームフォーマ(図示せず)を有する。マイクロビームフォーマ(サブアレイビームフォーマ)は、トランスデューサのグループからの信号を部分的にビーム形成し、それによってプローブ及びメイン取得システムを結合する信号チャネルの量を低減する。マイクロビームフォーマは、好ましくは、集積回路形式で製造され、アレイトランスデューサ付近のプローブ10のハウジング内に位置する。プローブ10は、プローブ10の位置を示す信号をトランスデューサ位置検出器54に提供する位置センサ52を更に備える。センサ52は、磁気、電磁、無線周波数、赤外線、又は他のタイプのセンサである。
マイクロビームフォーマによって生成される部分的にビーム形成された信号は、ビームフォーマ64に転送され、ビームフォーマ64において、トレランスデューサの個々のグループからのこれらの部分的にビーム形成された信号が組み合わされ、完全にビーム形成された信号にされる。超音波システム100は、CMUTアレイ14及びビームフォーマ64に(又は、任意選択で、複数のマイクロビームフォーマに)結合されたトランスデューサ周波数コントローラ62を更に備える。周波数制御部62は、以下でより詳細に説明されるように、アレイ14における各CMUTトランスデューサの共振周波数を調整することにより、送信及び受信された超音波ビームの周波数を制御する。完全にビーム形成された信号(すなわち、ビームに沿ったコヒーレントエコー信号)は、超音波画像データを表し、このデータは、フィルタリング、振幅検出、ドップラー信号検出、及び信号プロセッサ66による他のプロセスにより処理される。次に、超音波データは処理され、画像プロセッサ68によってプローブの座標系における超音波画像信号にされる。超音波画像信号は、グラフィックプロセッサ74によって所望の超音波画像フォーマット(例えば、x、y、zデカルト座標)に更に変換され、ディスプレイ18上に表示される。
関心領域特定部72は、画像プロセッサ68に結合され、超音波画像データの解析に基づいて、ボリューム視野131内の関心領域82を特定するように適合される。画像プロセッサ68及びROI特定部72の双方を、1つの画像解析ユニット68’の一部とすることができる。超音波撮像システム100は、ユーザインターフェース38によって制御される。特に、ユーザインターフェース38は、ディスプレイ上に表示される超音波画像に基づいて、ROI特定部72に接続されるか、又はROI82’の手動選択を可能にする画像分析ユニット68’に直接接続され得る。更に、ユーザは、ユーザインターフェース38を介して、ユーザが、ROIが撮像されることを望むアレイの可変周波数範囲内の所望の周波数も選択することができる。ボリューム視野131内のROI82’のロケーション及びサイズ、並びに所望のROI撮像周波数等のこのユーザ入力は、画像分析ユニット68’によってトランスデューサ周波数コントローラ62に通信される。本実施形態において、ユーザが特定したパラメータは、ROI特定部72と画像プロセッサ68との間で交換され、画像プロセッサは、ROI特定部72によって提供される特定データに基づいて、ROI82’の座標、及びボリューム視野131内で特定されたROIを取り囲むボリューム領域132を計算する。トランスデューサ周波数コントローラ62は、ROI特定部72によって生成され、画像プロセッサ68によって処理される特定データに応答する。トランスデューサ周波数コントローラ62は、ビームフォーマと共に、ボリューム視野131内で特定されたROIを取り囲むボリューム領域132内でステアリングされるビームの周波数を調整する。本発明の原理に従って、超音波システム100は、トランスデューサ周波数コントローラ62に結合された干渉分析器69を更に備える。
アレイトランスデューサの規則的な間隔により、要素間(トランスデューサ間)ピッチが超音波波長よりも大きい場合、送信及び受信におけるグレーティングローブが存在する。このため、撮像周波数の増大により、グレーティングローブが出現する。これらのローブは、意図されるビーム経路以外の角度でトランスデューサから拡散する超音波エネルギーを伝搬する。ローブのエネルギーが強力な反射器等の軸外構造によって反射され、トランスデューサアレイによって検出されるとき、生成される信号は人工的であり、主要画像をぼやけさせる「ゴースト画像」を引き起こす。したがって、所与の方向について形成された受信ビームは、所望の方向及びグレーティングローブの方向からのエコー信号を有する。
受信グレーティングローブ角は、メインビームの(最大)ステアリング角、要素間ピッチ、アレイの(不)規則性、トランスデューサ数、それらのサイズ、それらの動作周波数及び帯域幅に依存する。
要素間ピッチpは、図2aに示すようなトランスデューサ間距離として定義される。これは基本的に、近傍のCMUTセルの中心間の距離である。したがって、所与のアレイ設計のための可変周波数トランスデューサの場合、設定される周波数値は、グレーティングローブの出現に対応する周波数閾値よりも大きくなる。
図4は、ROI内でステアリングされるメイン受信ビーム角(β)(通常、送信ビーム角は同一であり、この画像には示されていない)、及び関連付けられた異なる一次受信グレーティングローブ角(θ)(通常、グレーティングローブは、送信及び受信ステアリング角の結果として生じる)を有する線形トランスデューサアレイを示す。遠距離場に焦点を合わせる線形アレイトランスデューサの場合、グレーティングローブの受信方向(角度θ)は、
Figure 0006553297
である。ここで、m=±1、±2,...である。
波長λは、
Figure 0006553297
として表すことができる。ここで、Coは、媒体内の超音波速度であり、fは、受信信号周波数である。この例において、グレーティングローブ角は負であるのに対し、ステアリングビーム角は正である。したがって、受信グレーティングローブ角θ(シータ)、最大受信ビームステアリング角β(ベータ)、及びピッチpは、以下によって受信信号周波数fに関係付けられる。
Figure 0006553297
カットオフ周波数fcにおいて、グレーティングローブ角は−90度である。したがって、グレーティングローブ角が90度を超える角度でトランスデューサアレイに達する閾値周波数は、0度の最大ビームステアリング角度の場合の
Figure 0006553297
と、90度の最大ビームステアリング角度の場合の、
Figure 0006553297
との間となる。これは、トランスデューサアレイのピッチ、又は2を乗算されたピッチに等しい閾値波長に変換することができる。ROIに向けた所与のステアリングビーム方向(角度β)について、矢印51及び52を用いて図4に示すように、ビーム周波数f1に対応するグレーティングローブ角θ1が、周波数がf2>f1に増大するにつれ、θ2に減少する。グレーティングローブに関する更なる詳細は、A. Ponnle他「Suppression of grating lobe artifacts in ultrasound images」Ultrasound in Med.&Biol., 681−691 (2013)に見ることができる。フェーズドアレイが用いられる場合、「p」の値は、線形アレイと比較して、フェーズドアレイの場合に異なる。なぜなら、フェーズドアレイの最大ステアリング角は、線形アレイの場合よりも大きいためである。近距離場に焦点を合わせる場合、グレーティングローブの振幅は、受信トランスデューサに到達する波の遅延の差異の不規則性に起因して低くなる。
干渉分析器69は、トランスデューサ周波数コントローラ62によって設定されたアレイの動作周波数を、このアレイの閾値周波数と比較するように適合される。設定された動作周波数が閾値に達すると、干渉分析器69は、ビームフォーマ64を介して、この動作周波数を用いてステアリングされたビームのビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを変動させることができる。
ビームステアリングパラメータは、受信した超音波信号の超音波周波数又はスペクトルフィルタリングを含む。例えば、ブロードバンド超音波信号送信を用いることができる。受信信号は、ROI内の潜在的なグレーティングローブの原因となっていることがわかっている周波数成分が除去されるように、後に信号プロセッサによってフィルタリングされる。ビームステアリングパラメータは、方位角方向及び/又は仰角方向におけるビームステアリング角も含む。干渉分析器は、ビームフォーマを介して、グレーティングローブを回避するための広い軸方向の深さを維持しながら、ボリューム領域132内の方位角(ベータ)及び/又は仰角(アルファ)のステアリング角を減少させることによってグレーティングローブを低減する。グレーティングローブをなくすことにより、バックグラウンドエネルギーに対するメインローブエネルギーの大きさを増大させることによって信号対雑音比も改善する。これにより、画像コントラストが更に改善する。これにより、所与のアレイについて最適な取得条件が達成される。
ビームフォーマ64及びトランスデューサ周波数コントローラ62は、周波数変動及びビーム形成機能を組み合わせる1つの可変周波数ビームフォーマユニット64’として設計することができる。代替的な実施形態において、マイクロビームフォーマは、トランスデューサ周波数コントローラ62と共に組み合われて、可変周波数ビームフォーマユニット64’にされ、プローブのハウジング内に配置される。
本発明の別の実施形態では、画像プロセッサは、超音波画像データを処理し、ボリューム領域内の高輝度領域のロケーションを特定するように適合される。ボリューム領域が高輝度反射源(強力な反射体)を有する場合、これらの反射源は、超音波画像データ内で、高輝度領域として出現する。通例、これらの領域の輝度は、処理される超音波データの平均輝度よりも少なくとも5倍〜10倍高い値で現れる。強力な反射体の特定されたロケーション、例えば、図5におけるr1及びr2は、干渉分析器69によって解析され、干渉分析器69は、反射体から生じる反射された超音波エコーの方向(角度θ4及びθ5により特徴付けられる)を、ROIを走査するのに用いられる動作周波数におけるメインビームステアリング角βと比較するように更に適合される。この実施形態では、最も小さな角度θ(この例では、θ4)により、ROIの最良品質の画像が取得される閾値周波数が決まる。代替形態は、臨界周波数を「回避」し、このため、臨界周波数の十分下又は十分上に留まることである。干渉分析器69は、ROI内でステアリングされるビームのビームステアリングパラメータを、強力な反射体から生じるグレーティングローブの影響が軽減されるように更に適合させる。例えば、これは、ROI内のビームの周波数を閾値より低く低減させることによって行うことができるか、又は干渉分析器69は、信号プロセッサ66に、強力な反射体が受信超音波信号に寄与する周波数の組を通信し、それによって信号プロセッサ66が、受信信号からこれらの周波数をフィルタリング除去することができる。
本発明によれば、超音波システムの超音波ビーム周波数の変形形態が、つぶれモードで動作するように適合されたCMUTトランスデューサを用いて提供される。CMUT技術は、バイアス電圧を変更することによって撮像周波数の調整を可能にする。この周波数範囲は、広い範囲に及び、この各周波数における範囲に加えて、大部分が100%に近いか又は更には100%を超えている帯域幅もある。この大きな周波数変動は、広範にわたるペネトレーション及び分解能での撮像を可能にする。
本発明のCMUTトランスデューサアレイ14は、複数のCMUTセル(トランスデューサ)を備える。図6において、各CMUTセル103は、通常、間に間隙又は空洞118を有するシリコン基板112の上に懸架された可撓性膜又はダイヤフラム114を備える。上部電極120は、ダイヤフラム114上に配置され、ダイヤフラムと共に動く。下部電極は、この例では、基板112の上面のセルのフロアに配置される。電極120設計の他の実現を検討することができ、例えば、電極120は、膜114内に埋め込まれてもよく、又は追加の層として膜114の上に堆積されてもよい。この例において、下部電極122は、円形に構成され、非限定的な例として、基板層112に埋め込まれる。下部電極112が間隙118に直接曝されるような、又は上部電極120及び下部電極122間の短絡を阻止するために電気的絶縁層若しくはフィルムによって間隙118から分離されるような、例えば、基板層112上の、他の適切な構成、例えば、下部電極122の他の電極形状及び他のロケーションがある。加えて、膜層114は、基板層112の上面に対し固定され、膜層114と基板層112との間に球形又は円筒形の空洞118を画定するように構成され、そのような寸法にされる。誤解を避けるために、図6において、下部電極122は、非限定的な例として接地されていることを記しておく。当然ながら、他の構成、例えば、接地された上部電極120、又は上部電極120及び底部電極122の双方が浮遊している構成も等しく実現可能である。
セル100及びその空洞118は、代替的な形状を呈してもよい。例えば、空洞118は、矩形若しくは正方形の断面、六角形の断面、楕円形の断面、又は不規則な断面を呈し得る。本明細書において、CMUTセル103の直径への言及は、セルの最も大きな横方向の寸法として理解されるものとする。
下部電極122は、その空洞に面する表面において追加の層(図示せず)により絶縁される。CMUTセルの成分は、CMOS適合性材料、例えば、Al、Ti、窒化物(例えば、シリコン窒化物)、酸化物(様々なグレード)、オルトケイ酸テトラエチル(TEOS)、ポリシリコン等から製造される。CMOSの製造において、例えば、酸化層及び窒化層は化学気相成長によって形成され、金属化(電極)層は、スパッタリングプロセスによって定着する。
適切なCMOSプロセスは、LPCVD及びPECVDであり、PECVDは、400℃未満の相対的に低い動作温度を有する。開示された空洞118を生成するための例示的な技法は、膜層114の上面を追加する前に、膜層114の初期部分において空洞を画定することを含む。他の製造の詳細は、米国特許第6,328,697号(Fraser)に見ることができる。
図6において、円筒形空洞118の直径は、円形に構成された電極プレート122の直径よりも大きい。電極120は、円形に構成された電極プレート122と同じ外径を有してもよいが、そのような適合性は必要とされない。このように、膜電極120は、下の電極プレート122と位置合わせするように、膜層114の上面に対し固定される。CMUTセル100の電極は、デバイスの容量性プレートを提供し、間隙118は、キャパシタのプレート間で誘電性である。ダイヤフラムが振動するとき、プレート間の誘電性間隙の変化する寸法により、変化するキャパシタンスがもたらされ、これは、受信した音響エコーに対するCMUTセル100の応答として検知される。
電極間の間隔は、電圧源45により電極に静電圧、例えば、DCバイアス電圧を印加することによって制御される。電圧源45は、トランスデューサ周波数コントローラ62内に実装され、その周波数制御能力を提供する。アレイ14のトランスデューサは、各々、別個の電圧源を有するか、又はトランスデューサ周波数コントローラ62において実装されるいくつかの電圧源を共有する。電圧源45は、任意選択で、それぞれCMUTセル103の駆動電圧のDC及びAC又は刺激成分を与えるための別個の段102、104も備えてもよい。第1の段102は、静(DC)電圧成分を生成するように適合され、第2の段104は、設定された交流周波数を有する交流可変電圧成分又は刺激を生成するように適合され、この信号は通常、全体駆動電圧と、上述したその静的成分との間の差である。印加される駆動電圧の静的成分又はバイアス成分は、好ましくは、CMUTセル103をそのつぶれ状態に入れるための閾値電圧以上である。これは、第1の段102が、全体電圧の特に低雑音の静的成分を生成するために、相対的に大きなキャパシタ、例えば、平滑化キャパシタを含むという利点を有する。この静的成分は通常、全体電圧信号の雑音特性が、この静的成分の雑音特性によって支配されるように全体電圧を支配する。電圧源供給部45の他の適切な実施形態が明らかであるはずであり、これは例えば、電圧源供給部45が、CMUT駆動電圧の静的DC成分を生成するための第1の段と、駆動電圧の可変DC成分を生成するための第2の段と、信号の周波数変調又は刺激成分を生成するための第3の段、例えばパルス回路等と、の3つの別個の段を含む実施形態等である。要約すると、電圧源供給部45は、任意の適切な方式で実装される。
それ自体既知であるように、一定の閾値を超える静電圧を印加することによって、CMUTセル103は、膜114が基板112上につぶれるつぶれ状態に入る。この閾値は、CMUTセル103の正確な設計に依存し、膜114がバイアス電圧の印加中にファンデルワールス力によってセルフロアに貼り付く(接触する)DCバイアス電圧として定義される。膜114と基板112との間の接触量(面積)は、印加されるバイアス電圧に依拠する。図7a〜図7dを用いてより詳細に説明されるように、膜114と基板112との間の接触面積を増大させることにより、膜114の共振周波数が増大する。
つぶれモードCMUTセル103の周波数応答は、つぶれ後にCMUT電極に印加されるDCバイアス電圧を調整することによって変更される。結果として、CMUTセルの共振周波数は、より高いDCバイアス電圧が電極に印加されるにつれ増大する。この現象の背後にある原理は、図7a及び図7bに示される。図7a及び図7cの断面図は、各図において、膜114の外側の支持体と、膜が空洞118のフロアにタッチし始める地点との間の距離D1及びD2によってこれを1次元で示す。相対的に低いバイアス電圧が印加されるとき、距離D1は、図7aにおいて相対的に長い距離であるのに対し、図7cにおける距離D2は、より高いバイアス電圧が印加されていることに起因してはるかに短い距離であることを見てとることができる。これらの距離は、端部によって保持され、その後引っ張られる長いストリング及び短いストリングと比較され得る。長く弛緩したストリングは、引っ張られたとき、より短く強く張ったストリングよりもはるかに低い周波数で振動する。これに類似して、図7aにおけるCMUTセルの共振周波数は、より高いプルダウンバイアス電圧を受ける図7cのCMUTセルの共振周波数よりも低くなる。
現象は、実際にはCMUT膜の有効動作エリアの関数であるため、図7b及び図7dの2次元の図からも理解することができる。図7aに示すように、膜114が単にCMUTセルのフロアにタッチしているだけのとき、セル膜114の非接触(自由振動)部分の有効振動エリアA1は、図7bに示すように大きい。中心17の小さな孔は、膜の中心接触領域を表す。大きなエリアの膜は、相対的に低い周波数で振動する。このエリア17は、膜114のエリアであり、CMUTセルのフロアにつぶれる。しかし、膜が、図7c等のより高いバイアス電圧によってより深くつぶれるように引かれるとき、図7dに示すように、中心接触エリア17’が大きくなると、より自由度の低い振動エリアA2がもたらされる。このより自由度の低いエリアA2は、より大きなA1エリアよりも高い周波数で振動することになる。このため、DCバイアス電圧が減少すると、つぶれたCMUTセルの周波数応答が減少し、DCバイアス電圧が増大すると、つぶれたCMUTセルの周波数応答が増大する。
図8は、送信中に一定の周波数のAC変調又は周波数変調の形態の刺激を含む印加されたDCバイアス電圧の関数として、つぶれモードにおける通常のCMUTセル103の音響圧力出力の等高線図を示す。対応するパルス長は、印加される周波数の半分である。等高線図から見て取ることができるように、CMUTセル103が固定電圧又は静電圧、例えば、静的値のDCバイアス電圧で動作するとき、小さな範囲の周波数のみで最適な音響性能が得られる。しかしながら、等高線図における破線によって示されるように、バイアス電圧とバイアス電圧信号における周波数変調とを相関した方式で変動させるとき、CMUTセル103の最適な音響性能は、はるかに大きな周波数範囲にわたって達成され、それによって、CMUTセル103を含む超音波プローブの送信モードにおいて生成される超音波パルス(又はパルス列)の有効帯域幅が増大する。このため、この例におけるように、周波数は、7MHz〜17MHzの周波数範囲、3MHz〜10MHz、又は更には2MHz〜15MHzに及ぶ、より大きな周波数範囲において変動させることができる。
これは、つぶれ状態におけるCMUTセル103の共振周波数が、印加される(DC)バイアス電圧の関数であることを説明した図7a及び図7dに戻って参照して理解することができる。適切な設定周波数を有する刺激を印加することによって特定の設定周波数の超音波パルスを生成するときに印加されるバイアス電圧を調整することによって、パルス周波数ごとに、CMUTセル103の(近)最適音響性能を呈する異なる周波数のパルスを生成することができる。したがって、これにより、撮像スペクトルの大きな帯域幅にわたって(近)最適の撮像分解能が保証される。
音響波減衰は、周波数が増大するとともに増大する一方、超音波画像分解能は、周波数が増大するとともに低減する。例えば、組織内の2サイクルパルスの場合の通常の深度及び軸方向分解能は、以下の表に与えられる。
Figure 0006553297
最適要件及びペネトレーション要件を妥当に満たすために、ほとんどの診断用途のための周波数範囲は、2MHz〜15MHzである。範囲のより低い部分は、深さの増大(例えば、関心領域が体内のより深くに位置する)又は(例えば、経頭蓋研究における)高い減衰に遭遇したときに有用である。周波数範囲のより高い部分は、僅かなペネトレーションしか必要とされないとき(例えば、乳房、甲状腺、若しくは表在血管の撮像時又は小児撮像時)に有用である。ほとんどの体格の大きな患者において、3MHz〜5MHzが満足のいく周波数であるのに対し、体格の細い患者及び子供において、5MHz及び7.5MHzを多くの場合に用いることができる。15MHzを超える、より高い周波数範囲は、IVUS、ICE、FL−ICE等の、体腔内(血管内)プローブを用いた高分解能の撮像をもたらすことができる。これらのプローブは、体腔内、血管内等、ROIのより近くに位置決めすることができる。
本発明は、CMUTトランスデューサの単一のアレイ14を用いて広い周波数範囲における可変周波数超音波撮像の一意の組合せを提供する。
図9は、ROIに対するプローブの位置が固定された本発明の実施態様を示す。プローブ10を用いて、ボリューム視野131の超音波画像が取得される。トランスデューサ周波数コントローラ62は、関心領域特定部72に応答し、ボリューム視野131内でステアリングされる相対的に低い周波数(第1の周波数)の超音波ビーム、及び特定されたROI82’を取り囲むボリューム領域132内でステアリングされる相対的に高い周波数(第2の周波数)の超音波ビームを設定する。干渉分析器69は、第2の周波数を閾値周波数値と比較する。閾値周波数値は、ユーザインターフェース38を介して手動で入力することができるか、又は所与のアレイを有するプローブ10がシステム100に結合されると、超音波システム100によって自動的に認識することができる。動作周波数値が閾値周波数を超えると、干渉分析器69は、受信したグレーティングローブの影響が、所与の撮像条件において最小に低減されるように、ビームステアリングパラメータを調整する。例えば、第2の周波数値は、閾値より低く低減される。
CMUTによって受信されるエコーは、ビームフォーマによってビーム形成される。ビームフォーマは、ボリューム領域内で相対的に低い空間分解能を有し、関心領域内で相対的に高い空間分解能を有するボリューム領域の超音波画像データを提供する。これらの超音波データは、画像プロセッサ68において処理され、低い空間分解能データに基づくボリューム領域の広域ビュー80及び高い空間分解能データに基づく関心領域82の詳細ビュー132’が、図10に示すように生成される。特定されたROI82を取り囲むボリューム領域132の詳細ビュー132’は、プローブとROIとの間に位置するエリアの画像133も含む。図10は、互いに空間的に位置合わせされた広域ビュー80及び詳細ビュー132’を有する、ユーザに表示される2D超音波画像の表示99を示す。選択されたROI82は、詳細ビュー132’において、増大した撮像周波数で表示される。相対的に高い周波数を有する超音波ビームのペネトレーション深度は、相対的に低い周波数を有する超音波ビームのペネトレーション深度と比較して低減されるので、相対的に高い周波数範囲の上限周波数は、ROIが位置する深度(プローブに対する距離)によって制限され、画像プロセッサ68によって計算中に考慮に入れられる。上側の第2の周波数に対する(したがってペネトレーション深度に対する)更なる制限が、干渉分析器69によって計算される閾値周波数によって課される。これは、ROIに対するプローブの位置が固定されるこの実施形態について成り立つ。システム100は、まず、相対的に低いビーム周波数を用いてボリューム視野の超音波データを取得し、これによりボリューム領域の周囲のコンテキストを与え、更に、ROI82’の特定時にROI82’への「ズームイン」を行う。この段階において、強力な反射体を特定するために、得られた低周波数画像も処理され、特定されたROI内でステアリングされるビームが、最適な超音波画像取得に従って調整されることになる。
詳細ビュー132’は、以前に取得され、図10cに示すようなコンテキストで表示された広域ビュー80の隣でリアルタイムに更新することができる。ユーザインターフェース38の手動選択は、可変周波数範囲からの相対的に低い周波数及び相対的に高い周波数の周波数選択と、方位角及び仰角のステアリング角等のビームステアリングパラメータ選択とを更に含む。ユーザインターフェース38を介して、ユーザは、広域ビューにおける強力な反射体のロケーションも手動で選択し、これらのロケーションは、干渉分析器によって更に用いられる。画像プロセッサと通信する干渉分析器69は、閾値周波数の組のためのペネトレーション深度を含む予測超音波画像品質を推定する。これらの組は、アレイピッチ値に等しい超音波波長、及びステアリングされたビームに対し高い輝度領域のロケーションから導出された周波数を含む。対応する超音波画像品質を有するこれらの組は、ユーザに与えられる。ユーザは、所与のワークフローの閾値周波数を更に選択することができる。例えば、視野を増大させることと、周波数を閾値より低く更に低減するか、又は視野を減少させるが周波数を閾値を超えて保持することとの間でトレードオフが行われる。後者の場合、より多くのアーチファクトを有する高分解能の画像が得られる。このようにして、ユーザは、ビームステアリングパラメータに対し更なる制御を有し、更に、いずれかの方向にビームのステアリング角を手動で調整し、ビーム周波数又は受信した信号のフィルタリングを変更する。
代替的に、ROI82の詳細ビュー132’及び広域ビュー80は、互いの隣に表示することができる。心臓撮像中の心臓学用途において、超音波画像の表示及び取得は、ECGゲーティングによって心臓サイクルと同期される。
CMUTアレイ14が線形アレイである場合、トランスデューサ周波数コントローラ62は、異なる周波数を有する個々のトランスデューサセル103に対処(これらのセルを駆動)することができ、それによって、ROIは高い周波数で撮像され、他の要素は低い周波数に維持される。線形アレイを用いて取得される代表的な画像が図10bに示される。埋め込まれたリアルタイム高周波数詳細ビュー132’画像は、リアルタイム低周波数広域ビュー80画像と同時に生成される。これは、周囲のコンテキストが相対的に高い深度でリアルタイムに(より低い分解能であるが)依然として撮像されており、例えば、ROIの周囲で生じるツールの方向付け及びナビゲーションを可能にするという利点を有する。また、CMUTアレイ14が図10a及び図10cに示すようなフェーズドアレイである場合、同様の画像を得ることも可能である。フェーズドアレイの場合、画像を構成するラインごとに、より低い周波数ラインを含む広域ビュー80画像に高周波数詳細ビュー132’画像が埋め込まれるように全てのトランスデューサに適切な周波数が選択されるようにビーム形成が行われる。ROI82’の詳細ビュー132’及び広域ビュー80の双方の図がリアルタイムで更新される場合、フェーズドアレイを備えるシステムは、低周波数でボリューム視野131のボリュームの第1の全てのライン、そしてより高周波数で特定されたROI82を取り囲むボリューム領域132の全てのラインを連続して取得することができる。取得された図を、更にインタリーブ又は補間して、1つの超音波画像にすることができる。これについては図10cに示される。代替的な取得ワークフローにおいて、広域ビュー80は、詳細ビュー132’を超えて更新され、ユーザに表示される結果として得られる画像が図10aに示される。前者は、例えば介入性のデバイスを追跡するための、全体ボリュームのリアルタイムビューの利点を有する。後者は、より少ないラインが取得され、より高いフレームレートを達成することができるという利点を有する。
図11は、本発明の第2の実施形態を示し、プローブの位置は、ボリューム視野131’内で変動させることができる。例えば、プローブは、ROIに向かう方に、及びROIから離れる方に容易に並進可能であるように、前方監視構成又はエンドファイアリング構成で設置することができる。これは、例えばEP1742580Bに記載されているようなIVUS、ICE、FL−ICE等の体腔内プローブを設けることによって実現することができる。体腔内プローブは、ボリューム領域を走査するように掃引される遠位先端部にトランスデューサアレイを含む。ボリューム掃引は、1Dアレイの機械的動き又は2Dアレイを用いたビームの電子ステアリングのいずれかを与えることによって行うことができる。トランスデューサアレイは、プローブの遠位先端に位置する流体チャンバ内に含まれ、流体は、プローブと撮像されたボリューム領域との間に適切な音響カップリングを与える。図12において、超音波システム100’が概略的に示される。システム100’は、プローブ及びROI特定部72(任意選択で分析ユニット68’)に結合された駆動機構21を更に備え、駆動機構は、撮像中にプローブ10を動かすように動作する。駆動機構21は、位置センサ52からの信号も受信する。位置センサ52は、プローブの空間ロケーションを追跡し、これにより、ボリューム視野131’内のプローブの動きを与える。この実施形態は、ROI82を撮像することができる高周波数の上限に対し、より高い柔軟性を与える。ROIが特定されると、画像プロセッサ68は、ROI特定部によって提供された特定データに基づいて、ROI82の座標、及びボリューム視野131内で特定されたROIを取り囲むボリューム領域132を計算する。トランスデューサアレイ14(又は実際はプローブ10)とROIとの間の距離が、選択された高周波数(ただし、この周波数は閾値周波数値より低い)を有するビームのペネトレーション深度を超えている場合、駆動機構21は、ボリューム視野131’(図11b)内のROIに向かってより近くに動くように通信され、それによってROIの「ズームイン」画像を取得することができる。干渉分析器69は、相対的に高い周波数(第2の周波数)が、アレイピッチ値に等しい超音波波長から導出された閾値周波数、及び/又はステアリングされたビームに対して高輝度領域のロケーションから導出された閾値周波数のうちの一方を超えることを特定する。駆動機構は、最も小さな特定された閾値周波数値に対応する計算されたペネトレーション深度に基づいて、ROIに対する距離を適合させることができる。代替的に、ユーザは、所望の画像品質、及びそれに対応してROIへの距離を選択する。この実施形態は、ビームステアリング角調整のより良好な実施を有する。なぜなら、超音波アレイをROIに対し動かしながら、同時にROI内のビームのステアリング角を低減することができるためである。
図12は、ユーザに表示される2D超音波画像の表示99を示す。第1の実施形態と同様に、詳細視野82及び広域視野80が互いの隣に又は空間的に位置合わせされて示される。後者は図12に示され、線形アレイ及びフェーズドアレイを用いて得られた画像が互いの隣に配置されている。図10a〜図10bと比較して、詳細ビュー82は、ユーザにとって、プローブの位置がROIのロケーションに対し固定されている実施形態と比較して大きなペネトレーション深度を有するように見える。詳細ビュー画像は、プローブの進行(動き)中に連続して取得することができ、それによって、広域ビュー画像80をリアルタイムで更新することができ、より高い分解能の詳細ビュー画像82が異なる時点に取得される。
ROIの特定及びユーザが特定したパラメータに基づいて、画像プロセッサ68は、軸方向のノイズ、横方向のスペックル、軸方向の輝度等の画像品質パラメータについて得られた超音波データを分析する。これらの品質パラメータは、ユーザに更に表示される。これらの品質パラメータは、プローブを自動的に動かすための駆動機構への入力として用いることができ、これがROI画像品質の自動最適化のためのフィードバックループの一部となることができるようにする。そのような自動化は、プローブの精細な動きのために用いられる一方で、ユーザインターフェースを介して動き全体を制御することができる。
超音波画像の品質パラメータも、干渉分析器69によって調整されるビームステアリングパラメータによって求められる。ユーザインターフェース38を介して、ユーザに、駆動機構動作及びビームステアリングに対する更なる制御を与えることができる。ユーザインターフェースは、ディスプレイに関連付けられたタッチスクリーンとすることができ、これによってユーザは、表示された画像において、ROI、プローブの動き、及び強力な反射の領域を手動で定義することが可能になる。ROIをタッチし、且つ/又は「ピンチイン」又は「ピンチアウト」の動きを行うことにより、プローブを特定の方向に物理的に動かすことができ、所与のプローブ位置についてペネトレーション深度が十分である場合、詳細な画像が取得される。
代替的な実施形態において、相対的に高い周波数で得られるROIのリアルタイムの詳細な3D視野が、広域ビュー2D画像内に埋め込まれる。これは、広域2D画像の取得が消費する処理能力及びトランスデューサの利用量がより少なく、3D画像(又は2方向ROI)を可能な限り最も高いフレームレートで得ることができるという利点を有する。1つの次元(例えばICE)において小さな開口を有するアレイの場合、この実施形態は、より好都合な開口寸法(ICE軸方向及び横方向)に基づく広域ビュー撮像及び全ての次元(例えば、仰角を含むICE)における詳細なROI撮像を提供し、これは高周波数においてより好都合になる。
ROI特定部は、任意選択で、超音波増強コントラスト特徴を用いてマーキングすることができる、カテーテル、ニードル、ツール等の特定の物体からの超音波データを用いてROIを自動的に特定することができる。これらの物体は、それらの形状及び態様(又はマーカ若しくは位置センサ)により、画像分析ユニット68’によって認識することができ、ROIの座標を自動的に生成することができる。
別の実施形態では、関心ボリュームの画像を、まず相対的に高い周波数ビームを用いて取得することができ、この関心ボリュームは、ユーザによってROIとして特定することができる。更に、ユーザは、より高いペネトレーション深度で広域ビュー画像を得るために、ユーザインターフェースを介して、ROIのために用いられた周波数に対して撮像周波数を減少させる。広域ビュー画像は、ROIを含む。前の実施形態と同様に、これらの視野は、互いの隣に、又は空間的に位置合わせされて表示される。
CMUTに適用されるバイアス電圧変化の最適速度を与えるために、可変周波数ビームフォーマユニット64’の(又は任意選択でトランスデューサ周波数コントローラ62の)集積回路(IC)電子機器上に別個の要件が課される。上記で説明したほとんどの事例について、現在のIC電子機器技術は十分である。代替的に、更に高速なバイアス電圧変化が必要とされる場合、WO/2015/086413に記載されるような3端子CMUTが用いられる。
図14は、本発明による可変周波数画像取得のためのワークフロー200を示す。ステップ201において、広域ビュー80を含むボリューム視野131が撮像される。ステップ202において、ROI82は、特定部によって検出され、例えば、解剖学的特徴30の区別に基づいて、又はユーザ入力に基づいて、自動検出を行うことができる。ステップ203において、ROIの輪郭がユーザに表示される。加えて、ボリューム領域内の高輝度領域も特定され、ユーザに示される。この段階において、ユーザは、ユーザインターフェース38を介してシステム100と手動でインタラクトし、ROIのサイズ、ロケーション、及び高輝度領域のロケーションを調整することもできる。更に、ステップ204において、ユーザは、ROIの詳細ビューの所望の分解能(又は周波数)を選択することができる。画像プロセッサ68は、選択された分解能を、トランスデューサ動作周波数に更に変換する。代替的に、このステップにおいて、画像プロセッサ68は、周波数上限を計算することができ、この周波数上限を用いて、ROIに対するプローブ10(すなわち、プローブ内のトランスデューサアレイ14)からの固定距離ROI82に基づいて、ROI82を撮像することができる。周波数上限は、いくつかの閾値周波数値、すなわち、ROI内のビームのステアリング角に対する高輝度領域のロケーションから導出された第1の閾値、及び超音波波長がアレイピッチ値に等しい第2の閾値周波数値に基づいて計算することもできる。
計算された上限周波数又はユーザによって選択された周波数が閾値を超えている場合、ビームステアリングパラメータを干渉分析器69によって調整することができる。この情報(周波数及びステアリング角)は、ディスプレイ上に表示される。ステップ205において、システム100は、増大した分解能でROIの詳細ビューを取得する。ステップ206において、広域視野及び詳細視野がユーザに表示される。
図15は、本発明の別の実施形態による可変周波数画像取得のためのワークフロー300を示す。ステップ301において、ボリューム視野131が取得される。ステップ302において、ROI82は、特定部によって検出される。ボリューム領域内の高輝度領域も、画像プロセッサによって特定される。ステップ303において、ROIの外形及び高輝度領域のロケーションがユーザに表示される。この段階において、ユーザは、ユーザインターフェース38を介してシステム100’と手動でインタラクトし、ROI及び高輝度領域のサイズ、ロケーションを調整することもできる。これと並行して、ステップ307において、画像プロセッサ68は、プローブからRIOの最も離れたエッジへの距離を計算する。更に、ステップ304において、ユーザは、ROIの詳細ビューの所望の分解能(又は周波数)を選択することができる。このステップにおいて、ユーザは、所与の超音波アレイを用いて、選択された分解能のための最適なビームステアリングパラメータの表示を与えられる。ステップ309において、この情報に基づいて、画像プロセッサ68は、選択された分解能(周波数)に対応するペネトレーション深度を計算する。ステップ308において、プローブとROIとの間の距離がペネトレーション深度と比較される。この段階において、干渉分析器は、高輝度領域が検出される場合、ビームステアリングパラメータも調整する。計算されたペネトレーション深度がROIへの距離よりも大きい場合、ワークフローはステップ305に続き、ステップ305において、システム100は、選択された分解能及び調整されたビームステアリングパラメータを有するROIの詳細ビューを取得する。計算されたペネトレーション深度がROIへの距離よりも短い場合、ワークフローはステップ310に続き、ステップ310において、駆動機構が、ROIのロケーションに向かうプローブの動きを与える。移動距離は、ROIロケーション、選択された分解能、及びビームステアリングパラメータによって求められ、パラメータは、高輝度領域の存在及びアレイの構造設計に依拠して干渉分析器によって調整される。移動距離が撮像されたボリューム(物体)の解剖学によって、プローブがこれ以上動くことができないように制限される場合、システム100’は、解剖学的制限及び所与のアレイのピッチを考慮に入れてROIを取得することができる計算された最適な分解能でユーザにフィードバックを与える。更に、システム100は、ステップ305において、選択された分解能又は最適な提案される分解能を有するROIの詳細ビューを取得する。ステップ306において、広視野及び詳細視野がユーザに表示される。
当業者であれば、本発明の原理を、2D及び3D双方の超音波撮像において実施することができることを理解するであろう。
単一のユニット又はデバイスが、特許請求の範囲において挙げられたいくつかの項目の機能を満たす。単に特定の手段が互いに異なる従属請求項に挙げられていることは、これらの手段の組合せを有利に用いることができないことを示すものではない。
コンピュータプログラムは、他のハードウェアと共に又は他のハードウェアの一部として供給される光ストレージ媒体又はソリッドステート媒体等の適切な媒体上に記憶/配信されてもよいが、インターネット又は他の有線若しくは無線電気通信システムを介する等の他の形態で配信されてもよい。
請求項における任意の参照符号は、範囲を限定するものとして解釈されるべきでない。

Claims (14)

  1. 関心領域を含むボリューム領域の超音波画像を提供するための超音波システムであって、前記超音波システムは、
    CMUTトランスデューサのアレイを有するプローブであって、前記アレイは、方位角次元及び仰角次元のうちの少なくとも一方におけるピッチ値を有し、前記アレイは、前記ボリューム領域にわたって可変周波数範囲内で超音波ビームをステアリングする、プローブと、
    前記アレイに結合され、超音波ビームの前記ステアリングを制御し、前記ボリューム領域の超音波画像データを提供するビームフォーマであって、前記ビームは、方位角及び仰角のうちの少なくとも一方のステアリング角においてステアリングされる、ビームフォーマと、
    前記ビームフォーマに結合され、前記CMUTトランスデューサの動作周波数を前記可変周波数範囲内で変動させるトランスデューサ周波数コントローラであって、前記トランスデューサ周波数コントローラは、前記ボリューム領域内でステアリングされる超音波ビームに対して、動作周波数を第1の周波数に設定し、前記関心領域内でステアリングされる超音波ビームに対して、前記動作周波数を第2の周波数に変更し、前記第2の周波数は前記第1の周波数よりも高い、トランスデューサ周波数コントローラと、
    前記超音波画像データに応答する画像プロセッサであって、前記画像プロセッサは、前記ボリューム領域内の高輝度領域のロケーションを特定し、前記高輝度領域は、前記超音波画像の平均輝度よりも少なくとも2倍高い信号強度を有する、画像プロセッサと、
    前記画像プロセッサ及び前記トランスデューサ周波数コントローラに結合される干渉分析器であって、前記干渉分析器は、前記第2の周波数が、前記ステアリング角に対し前記高輝度領域の前記ロケーションから導出される第1の閾値周波数値を超えているとき、前記関心領域内でステアリングされるビームのビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整する、干渉分析器と、
    を備える、超音波システム。
  2. 前記ビームステアリングパラメータは、超音波周波数、受信信号スペクトルフィルタリング、方位角及び仰角のステアリング角を含む、請求項1に記載の超音波システム。
  3. 前記干渉分析器は、前記第2の周波数を前記第1の閾値周波数値より低く低減させる、請求項2に記載の超音波システム。
  4. 前記干渉分析器は、更に、前記第2の周波数を、前記第1の閾値周波数値よりも低い第2の閾値周波数値より低く低減させ、前記第2の閾値周波数値は、超音波波長が前記アレイのピッチ値に等しいトランスデューサ周波数に対応する、請求項3に記載の超音波システム。
  5. 前記干渉分析器は、更に、前記第2の周波数を、前記第1の閾値周波数値よりも低い第2の閾値周波数値より低く低減させ、前記第2の閾値周波数値は、超音波波長が前記アレイのピッチ値に2を乗算した値に等しいトランスデューサ周波数に対応する、請求項3に記載の超音波システム。
  6. 前記画像プロセッサに結合され、前記ボリューム領域内の前記高輝度領域及び前記関心領域のユーザによる手動選択に応答するユーザインターフェースを更に備え、前記ユーザインターフェースは、前記ユーザによる手動選択時に、前記ビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整することを更に可能にされる、請求項2に記載の超音波システム。
  7. 前記ユーザによる手動選択は、前記可変周波数範囲からの前記第2の周波数及び前記第1の周波数の周波数選択、並びに方位角及び仰角のステアリング角のような更なるビームパラメータ選択を更に含む、請求項に記載の超音波システム。
  8. 前記プローブは体腔内プローブであり、前記超音波システムは、
    前記プローブ及び前記画像プロセッサに結合され、撮像中に前記関心領域に対する前記プローブの動きを可能にする駆動機構を更に備える、請求項1に記載の超音波システム。
  9. 前記画像プロセッサに結合され、前記ボリューム領域内の前記関心領域の手動の選択に応答するユーザインターフェースを更に備え、前記ユーザインターフェースは、ユーザの手動選択時に前記ビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整することを更に可能にされる、請求項8に記載の超音波システム。
  10. 前記ユーザインターフェースは、前記ボリューム領域内の前記高輝度領域の手動選択に更に応答する、請求項9に記載の超音波システム。
  11. 前記ユーザによる手動選択は、前記可変周波数範囲からの前記第2の周波数及び前記第1の周波数の周波数選択、並びに前記方位角及び前記仰角のステアリング角のような更なるビームパラメータ選択を含む、請求項10に記載の超音波システム。
  12. 前記干渉分析器は、前記関心領域内でステアリングされるビームの前記方位角及び前記仰角のうちの少なくとも一方のステアリング角を低減する、請求項9に記載の超音波システム。
  13. 関心領域を含むボリューム領域の可変周波数における超音波画像を提供する方法であって、前記方法は、
    前記ボリューム領域にわたって可変周波数範囲内で、方位角及び仰角のうちの少なくとも一方のステアリング角において超音波ビームをステアリングするステップであって、前記ステアリングするステップは、CMUTトランスデューサのアレイを用いることによって行われ、前記アレイは、方位角次元及び仰角次元のうちの少なくとも一方におけるピッチ値を有する、ステアリングするステップと、
    超音波ビームの前記ステアリングを制御し、前記ボリューム領域の超音波画像データを提供するステップであって、前記制御は、前記ボリューム領域内でステアリングされる超音波ビームの第1の周波数を設定し、前記関心領域内でステアリングされる超音波ビームの第2の周波数に変更することを含み、前記第2の周波数は前記第1の周波数より高い、ステップと、
    超音波画像を生成するために前記超音波画像データを処理するステップと、
    前記ボリューム領域内の高輝度領域のロケーションを特定するステップであって、前記高輝度領域は、前記超音波画像の平均輝度よりも少なくとも2倍高い信号強度を有する、特定するステップと、
    前記ステアリング角に対し、前記高輝度領域の前記ロケーションから第1の閾値周波数値を導出するステップと、
    前記第2の周波数が、前記第1の閾値周波数値を超えているとき、前記関心領域内でステアリングされるビームのビーム周波数、方位角及び仰角のステアリング角のようなビームステアリングパラメータのうちの少なくとも1つを調整するステップと、
    を有する、方法。
  14. 前記アレイのピッチ値に等しい超音波波長から第2の閾値周波数値を導出するステップと、
    前記第2の周波数が前記第2の閾値周波数値を超えているとき、前記ビームステアリングパラメータを更に調整するステップと、
    を更に有する、請求項13に記載の方法。
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