JP6524844B2 - Coating apparatus, method of producing coated film, and coated film - Google Patents

Coating apparatus, method of producing coated film, and coated film Download PDF

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Description

本発明は、塗工装置、その塗工装置を用いた塗工フィルムの製造方法、及び、塗工フィルムに関する。   The present invention relates to a coating apparatus, a method for producing a coated film using the coating apparatus, and a coated film.

基材フィルム上に塗工液を塗工して塗工フィルムを得る塗工装置として、従来、バックアップロールを備える装置が知られている(特許文献1〜3参照)。この塗工装置では、バックアップロールの外周面に基材フィルムを支持した状態で基材フィルムを搬送しながら、基材フィルム上に塗工液を塗工する。塗工液の塗工は、バックアップロールの外周面の近傍に設けられたダイコーター等のコーターを用いて行われる。基材フィルムの変形の抑制、バックアップロールの外周面の面精度の向上、粗面による基材フィルムの傷つきの抑制、及び、バックアップロールの偏心の抑制の観点から、バックアップロールの外周面は、表面粗さが小さい高度に滑らかな面(通常、算術平均粗さRaが0.02μm未満)となっていることが一般的である。   DESCRIPTION OF RELATED ART Conventionally, the apparatus provided with a backup roll is known as a coating apparatus which coats a coating liquid on a base film, and obtains a coated film (refer patent documents 1-3). In this coating device, the coating solution is coated on the base film while the base film is conveyed in a state where the base film is supported on the outer peripheral surface of the backup roll. Coating of the coating liquid is performed using a coater such as a die coater provided in the vicinity of the outer peripheral surface of the backup roll. The outer peripheral surface of the backup roll is a surface from the viewpoint of suppressing deformation of the base film, improving the surface accuracy of the outer peripheral surface of the backup roll, suppressing damage to the base film by rough surface, and suppressing eccentricity of the backup roll. It is generally a highly smooth surface with small roughness (usually, the arithmetic average roughness Ra is less than 0.02 μm).

特開平10−5664号公報Unexamined-Japanese-Patent No. 10-5664 特開2009−136712号公報JP, 2009-136712, A 特開2005−046805号公報JP, 2005-046805, A

バックアップロールを用いた塗工装置では、バックアップロールに基材フィルムが進入する際に、バックアップロールと基材フィルムとの間に空気が浸入することがある。浸入した空気は、バックアップロールと基材フィルムとの間に留まって空気溜まりを形成し、基材フィルムに、シワ、たるみ等の変形部を生じさせる。このような変形部が基材フィルムに生じると、当該基材フィルム上に塗工液を均一な厚みで塗工することができなくなって、塗工層に厚みムラを生じる。   In a coating apparatus using a backup roll, air may enter between the backup roll and the base film when the base film enters the backup roll. The invading air is retained between the backup roll and the base film to form an air pool, and causes the base film to be deformed such as wrinkles and slack. When such a deformed portion is generated in the base film, it becomes impossible to coat the coating liquid with a uniform thickness on the base film, and thickness unevenness occurs in the coated layer.

厚みムラが生じると、当該厚みムラが形成された塗工層の部分において光の干渉が生じ、外観においてムラを生じることがある。また、前記のような厚みムラは、塗工フィルムをロール状に巻き取る場合に、ブロッキングの原因となりうる。さらに、塗工層が当該塗工層の表面形状の調整のために粒子を含む場合、厚みムラが形成された部分では、厚みが過剰となって粒子数が極端に多くなりヘイズが部分的に高くなったり、厚みが不足して粒子が塗工層から脱離したりする可能性がある。そのため、厚みムラは、抑制することが望まれる。   When the thickness unevenness occurs, light interference may occur in the portion of the coating layer in which the thickness unevenness is formed, and the appearance may be uneven. Moreover, the thickness unevenness as described above may cause blocking when the coated film is wound in a roll shape. Furthermore, in the case where the coating layer contains particles for adjusting the surface shape of the coating layer, in the portion where thickness unevenness is formed, the thickness becomes excessive and the number of particles becomes extremely large and the haze is partially There is a possibility that the particles may be detached from the coating layer due to the height being increased or the thickness being insufficient. Therefore, it is desirable to suppress thickness unevenness.

前記のような厚みムラを抑制するため、特許文献1では、バックアップロールで基材フィルムとしての金属ウェブを搬送しながら塗工液の塗工を行う場合に、バックアップロールによって搬送される金属ウェブを補助ロールで押圧する技術が提案されている。特許文献1記載の技術によれば、補助ロールが金属ウェブを押圧することにより、金属ウェブとバックアップロールとの間に浸入した空気を、機械的な力で排出することができる。ところが、特許文献1記載の技術では、金属ウェブに補助ロールを接触させるので、異物の付着を招く可能性があり、塗工層の品質が低下する可能性があった。   In patent document 1, when coating a coating liquid, conveying a metal web as a base film with a backup roll in order to suppress the above thickness unevenness, the metal web conveyed by a backup roll is used. A technique of pressing with an auxiliary roll has been proposed. According to the technology described in Patent Document 1, air that has entered between the metal web and the backup roll can be discharged by mechanical force as the auxiliary roll presses the metal web. However, in the technique described in Patent Document 1, since the auxiliary roll is brought into contact with the metal web, there is a possibility that adhesion of foreign matter may occur, and there is a possibility that the quality of the coated layer may be deteriorated.

また、特許文献2では、基材フィルムがバックアップロールに接触を開始する位置に、基材フィルムとバックアップロールとの間に形成される空間を減圧する減圧装置を設ける技術が提案されている。特許文献2記載の技術によれば、基材フィルムとバックアップロールとの間に浸入する空気の量を減らすことができる。そのため、通常は、バックアップロールと基材フィルムとの間に浸入する空気を原因とした塗工層の厚みムラを抑制できる。   Moreover, in patent document 2, the technique of providing the pressure reduction apparatus which pressure-reduces the space formed between a base film and a backup roll in the position which a base film starts a contact with a backup roll is proposed. According to the technology described in Patent Document 2, it is possible to reduce the amount of air intruding between the base film and the backup roll. Therefore, the thickness nonuniformity of the coating layer which made the cause the air which infiltrates between a backup roll and a base film normally can be suppressed.

ところが、特許文献2記載の技術は、表面の平滑性が特に高い基材フィルムへの塗工液の塗工の際には、塗工層の厚みムラを抑制することが難しかった。一般的な基材フィルムは、所定の表面粗さを有するので、基材フィルムがバックアップロールに接触している場合でも、基材フィルムとバックアップロールとの間には微小な空隙が形成される。よって、特許文献2記載の技術によって浸入する空気の量を減らした場合には、前記の空隙に空気を収容できるので、基材フィルムの変形を抑制できる。ところが、表面の平滑性が特に高い基材フィルムは、前記の空隙が無いため、基材フィルムとバックアップロールとの間に浸入した空気の量が僅かであっても、基材フィルムの変形を抑制することが困難となる。そのため、表面の平滑性が特に高い基材フィルムへ塗工液を塗工する場合には、特許文献2記載の技術では、塗工層の厚みムラを抑制することは難しかった。   However, in the case of application of the coating liquid to the base film whose surface smoothness is particularly high, the technique described in Patent Document 2 has difficulty in suppressing thickness unevenness of the coating layer. Since a common base film has a predetermined surface roughness, even when the base film is in contact with the backup roll, micro voids are formed between the base film and the backup roll. Therefore, when the amount of air which infiltrates by the technique of patent document 2 is reduced, since air can be accommodated in the said space | gap, a deformation | transformation of a base film can be suppressed. However, since the base film having particularly high surface smoothness does not have the above-mentioned voids, the deformation of the base film is suppressed even if the amount of air invading between the base film and the backup roll is small. It will be difficult to do. Therefore, when coating a coating liquid to a base film with especially high surface smoothness, with the technique of patent document 2, it was difficult to suppress the thickness nonuniformity of a coating layer.

さらに、特許文献3には、バックアップロールの外周面に凹凸パターンを形成し、この凹凸パターンの凹部を吸引口とする技術が記載されている。基材フィルムとバックアップロールとの間へ浸入する空気のみに着目した場合、前記の空気は吸引口から吸引され、除かれると考えられる。ところが、特許文献3記載の技術では、バックアップロールの外周面の凹凸パターンに沿って、基材フィルムがうねる。そのため、基材フィルム上に塗工液を均一な厚みで塗工することができず、塗工層の厚みムラを解消することが難しい。   Further, Patent Document 3 describes a technique in which a concavo-convex pattern is formed on the outer peripheral surface of a backup roll, and a concave portion of the concavo-convex pattern is used as a suction port. If attention is focused only on the air that infiltrates between the base film and the backup roll, the air is considered to be sucked and removed from the suction port. However, in the technique described in Patent Document 3, the base film undulates along the uneven pattern on the outer peripheral surface of the backup roll. Therefore, a coating liquid can not be coated by uniform thickness on a substrate film, and it is difficult to eliminate thickness nonuniformity of a coating layer.

また、バックアップロールで基材フィルムを搬送する際には、バックアップロールの外周面で基材フィルムが滑らないように搬送することが求められる。仮にバックアップロールの外周面で基材フィルムが滑ると、基材フィルムの位置制御が困難となり、塗工液の塗工を安定して行うことが難しい。   Moreover, when conveying a base film by a backup roll, carrying out so that a base film may not slip on the outer peripheral surface of a backup roll is calculated | required. If the base film slips on the outer peripheral surface of the backup roll, position control of the base film becomes difficult, and it is difficult to stably coat the coating liquid.

本発明は、上述した課題に鑑みて創案されたもので、表面の平滑性が高い基材フィルム上に、バックアップロールの外周面での当該基材フィルムの滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液を塗工できる塗工装置;表面の平滑性が高い基材フィルム上に、バックアップロールの外周面での当該基材フィルムの滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液を塗工して塗工フィルムを製造できる、塗工フィルムの製造方法;及び、厚みムラの個数密度が小さい塗工層を備える、長尺の塗工フィルム、を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the problems described above, and on the base film having high surface smoothness, the slip of the base film on the outer peripheral surface of the backup roll is suppressed, and thickness unevenness is A coating apparatus capable of applying a coating liquid while suppressing; suppressing slippage of the base film on the outer peripheral surface of the backup roll on a base film having high surface smoothness, and suppressing thickness unevenness A method of producing a coated film, which can coat a coating liquid to produce a coated film; and a long coated film comprising a coated layer having a small number density of thickness unevenness. The purpose is

本発明者は前記の課題を解決するべく鋭意検討した結果、バックアップロールの外周面の表面粗さを適切に粗くすることにより、基材フィルムの滑り及び厚みムラを抑制できることを見い出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明は下記の通りである。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventor has found that by appropriately roughening the surface roughness of the outer peripheral surface of the backup roll, it is possible to suppress the slippage and thickness unevenness of the base film, It was completed.
That is, the present invention is as follows.

〔1〕 基材フィルム上に塗工液を塗工するための塗工装置であって、
外周面を有し、前記基材フィルムを前記外周面で支持しながら回転しうるバックアップロールと、
前記バックアップロールの前記外周面に対向して設けられ、前記バックアップロールの前記外周面で支持された前記基材フィルムに前記塗工液を塗工しうるコーターと、を備え、
前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))が、下記式(1)
0.020μm ≦ M(Ra(R)) < 0.350μm (1)
を満たす、塗工装置。
〔2〕 前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の平均値M(RSm(R))、及び、前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の標準偏差σ(RSm(R))が、下記式(2)
10% < σ(RSm(R))/M(RSm(R))< 50% (2)
を満たす、〔1〕記載の塗工装置。
〔3〕 前記コーターが、前記塗工液を吐出しうるダイを備える、〔1〕又は〔2〕記載の塗工装置。
〔4〕 〔1〕〜〔3〕のいずれか一項に記載の塗工装置を用いて塗工フィルムを製造する製造方法であって、
前記バックアップロールの前記外周面で前記基材フィルムを支持しながら、前記基材フィルムを搬送する工程と、
前記バックアップロールの前記外周面で支持された前記基材フィルム上に、前記コーターによって塗工液を塗工する工程と、を含み、
前記基材フィルムの前記バックアップロール側の面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、前記基材フィルムの前記バックアップロール側の面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))が、下記式(3)
M(Ra(F))/M(RSm(F)) < 1.5×10−5 (3)
を満たす、塗工フィルムの製造方法。
〔5〕 前記塗工液の粘度が、0.5mPa・s〜30mPa・sである、〔4〕記載の塗工フィルムの製造方法。
〔6〕 前記塗工装置が、前記バックアップロールの直前に設けられて前記バックアップロールへと前記基材フィルムを供給しうる供給ロールを備え、
前記供給ロールで測定される前記基材フィルムの張力が、50N/m以上、500N/m未満である、〔4〕又は〔5〕記載の塗工フィルムの製造方法。
〔7〕 前記コーターが、湿潤膜厚0.5μm〜50μmの塗工層を形成するように、前記塗工液を前記基材フィルムに塗工する、〔4〕〜〔6〕のいずれか一項に記載の塗工フィルムの製造方法。
〔8〕 前記コーターと、前記バックアップロールの前記外周面に支持された前記基材フィルムとの間に、30μm〜150μmの間隙がある、〔4〕〜〔7〕のいずれか一項に記載の塗工フィルムの製造方法。
〔9〕 長尺の基材フィルムと、
前記基材フィルム上に設けられた、塗工層とを備え、
前記塗工層とは反対側の前記基材フィルムの面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、前記塗工層とは反対側の前記基材フィルムの面の5か所の測定位置で測定された凹凸の平均間隔RSm(F)の平均値M(RSm(F))が、下記式(3)
M(Ra(F))/M(RSm(F)) < 1.5×10−5 (3)
を満たし、且つ、
前記塗工層の単位面積当たりの厚みムラの個数が、20個/m以下である、塗工フィルム。
[1] A coating apparatus for coating a coating liquid on a substrate film,
A backup roll having an outer peripheral surface and rotatable while supporting the base film on the outer peripheral surface;
A coater which is provided to face the outer peripheral surface of the backup roll and can coat the coating solution on the base film supported by the outer peripheral surface of the backup roll;
The average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) measured at five measurement positions on the outer peripheral surface of the backup roll is expressed by the following equation (1)
0.020 μm ≦ M (Ra (R)) <0.350 μm (1)
Meet the coating device.
[2] Average value M (RSm (R)) of average length RSm (R) of roughness curvilinear elements measured at five measurement positions of the outer circumferential surface of the backup roll, and of the backup roll The standard deviation σ (RSm (R)) of the average length RSm (R) of the roughness curvilinear element measured at five measurement positions on the outer peripheral surface is expressed by the following equation (2)
10% <σ (RSm (R)) / M (RSm (R)) <50% (2)
The coating apparatus according to [1], satisfying
[3] The coating apparatus according to [1] or [2], wherein the coater includes a die capable of discharging the coating liquid.
[4] A manufacturing method for producing a coated film using the coating apparatus according to any one of [1] to [3],
Conveying the base film while supporting the base film on the outer peripheral surface of the backup roll;
Applying a coating solution by the coater on the base film supported on the outer peripheral surface of the backup roll;
Average value M (Ra (F)) of arithmetic mean roughness Ra (F) measured at five measurement positions on the surface on the backup roll side of the substrate film, and the backup of the substrate film The mean value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element measured at five measurement positions on the surface on the roll side is expressed by the following equation (3)
M (Ra (F)) / M (RSm (F)) <1.5 × 10 −5 (3)
A method for producing a coated film that satisfies
[5] The method for producing a coated film according to [4], wherein the viscosity of the coating liquid is 0.5 mPa · s to 30 mPa · s.
[6] The coating apparatus includes a supply roll which is provided immediately before the backup roll and can supply the base film to the backup roll.
The manufacturing method of the coated film as described in [4] or [5] whose tension of the said base film measured by the said supply roll is 50 N / m or more and less than 500 N / m.
[7] Any one of [4] to [6], wherein the coating solution is applied to the base film so that the coater forms a coating layer having a wet film thickness of 0.5 μm to 50 μm. The manufacturing method of the coated film as described in a term.
[8] The gap according to any one of [4] to [7], wherein there is a gap of 30 μm to 150 μm between the coater and the base film supported on the outer peripheral surface of the backup roll. Method of producing a coated film.
[9] Long base film,
And a coated layer provided on the substrate film,
Average value M (Ra (F)) of arithmetic mean roughness Ra (F) measured at five measurement positions on the surface of the base film opposite to the coating layer, and the coating The average value M (RSm (F)) of the average spacing RSm (F) of the unevenness measured at five measurement positions on the surface of the base film opposite to the layer is represented by the following formula (3)
M (Ra (F)) / M (RSm (F)) <1.5 × 10 −5 (3)
Meet the
The coated film whose number of the thickness nonuniformity per unit area of the said coating layer is 20 pieces / m < 2 > or less.

本発明によれば、表面の平滑性が高い基材フィルム上に、バックアップロールの外周面での当該基材フィルムの滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液を塗工できる塗工装置;表面の平滑性が高い基材フィルム上に、バックアップロールの外周面での当該基材フィルムの滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液を塗工して塗工フィルムを製造できる、塗工フィルムの製造方法;及び、厚みムラの個数密度が小さい塗工層を備える、長尺の塗工フィルム、を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, a coating liquid is coated on the base film with high surface smoothness, suppressing the slip of the said base film in the outer peripheral surface of a backup roll, and suppressing thickness nonuniformity. Coating device capable of coating the coating liquid on the base film having high surface smoothness while suppressing the slip of the base film on the outer peripheral surface of the backup roll and suppressing the thickness unevenness It is possible to provide a method for producing a coated film capable of producing a coated film; and a long coated film comprising a coated layer having a small number density of thickness unevenness.

図1は、本発明の一実施形態に係る塗工装置を模式的に示す正面図である。FIG. 1 is a front view schematically showing a coating apparatus according to an embodiment of the present invention. 図2は、従来の塗工装置の一例としての塗工装置を模式的に示す正面図である。FIG. 2 is a front view schematically showing a coating apparatus as an example of a conventional coating apparatus. 図3は、本発明の一実施形態に係る塗工装置において、コーターによって基材フィルム上に塗工液が塗工される部分を拡大して模式的に示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing, in an enlarged manner, a portion of the base film to which the coating liquid is applied by the coater in the coating apparatus according to the embodiment of the present invention. 図4は、円盤状液晶化合物のハイブリッド配向の状態を模式的に示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view schematically showing the state of hybrid alignment of the discotic liquid crystal compound. 図5は、円盤状液晶化合物のハイブリッド配向の状態を模式的に示す上面図である。FIG. 5 is a top view schematically showing the state of hybrid alignment of the discotic liquid crystal compound.

以下、例示物及び実施形態を示して本発明について詳細に説明するが、本発明は以下に示す例示物及び実施形態に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。   Hereinafter, the present invention will be described in detail by way of examples and embodiments, but the present invention is not limited to the examples and embodiments shown below, and the scope of the claims of the present invention and the equivalents thereof In the range which does not deviate, it can change arbitrarily and can implement.

以下の説明において、別に断らない限り、「上流」とは基材フィルムの搬送方向の上流をいい、「下流」とは基材フィルムの搬送方向の下流をいう。   In the following description, “upstream” refers to the upstream of the transport direction of the substrate film, and “downstream” refers to the downstream of the transport direction of the substrate film, unless otherwise specified.

以下の説明において、別に断らない限り、「軸方向」とはバックアップロールの軸方向を示し、「径方向」とはバックアップロールの径方向を示し、「周方向」とはバックアップロールの周方向を示す。   In the following description, unless otherwise specified, “axial direction” indicates the axial direction of the backup roll, “radial direction” indicates the radial direction of the backup roll, and “circumferential direction” indicates the circumferential direction of the backup roll. Show.

以下の説明において、別に断らない限り、「塗工層」とは、基材フィルム上に塗工液を塗工したことによって形成される基材フィルム上の層を示し、この塗工層には、液体状の塗工液の層、及び、塗工液を乾燥又は硬化させて得られる固体状の層の両方を包含する。   In the following description, unless otherwise specified, "coating layer" indicates a layer on a substrate film formed by applying a coating liquid on a substrate film, and in this coating layer It includes both a liquid coating liquid layer and a solid layer obtained by drying or curing the coating liquid.

以下の説明において、別に断らない限り、用語「(メタ)アクリレート」は、「アクリレート」及び「メタクリレート」の両方を包含し、用語「(メタ)アクリロイル基」は「アクリロイル基」及び「メタクリロイル基」の両方を包含する。   In the following description, unless otherwise stated, the term "(meth) acrylate" includes both "acrylate" and "methacrylate", and the term "(meth) acryloyl group" means "acryloyl group" and "methacryloyl group" Encompass both.

以下の説明において、別に断らない限り、要素の方向が「平行」、「垂直」及び「直交」とは、本発明の効果を損ねない範囲内、例えば±5°の範囲内での誤差を含んでいてもよい。   In the following description, unless otherwise specified, element orientations “parallel”, “vertical” and “orthogonal” include errors within a range that does not impair the effects of the present invention, for example, within ± 5 °. It may be.

以下の説明において、別に断らない限り、「偏光板」、「円偏光板」、「λ/2波長板」、「λ/4波長板」及び「位相差板」といった部材は、剛直な部材に限られるものではなく、フィルム状の、可撓性を有するものとしうる。   In the following description, members such as “polarizing plate”, “circularly polarizing plate”, “λ / 2 wavelength plate”, “λ / 4 wavelength plate” and “retardation plate” are rigid members unless otherwise specified. It is not limited and may be film-like and flexible.

以下の説明において、ある層の遅相軸とは、別に断らない限り、当該層の面内における遅相軸を表す。   In the following description, the slow axis of a layer refers to the slow axis in the plane of the layer, unless otherwise specified.

[1.塗工装置の概要]
図1は、本発明の一実施形態に係る塗工装置10を模式的に示す正面図である。
図1に示すように、本発明の一実施形態に係る塗工装置10は、基材フィルム20上に塗工液30を塗工するための装置であって、バックアップロール100と、コーター200と、供給ロール300とを備える。
[1. Outline of coating apparatus]
FIG. 1 is a front view schematically showing a coating apparatus 10 according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, a coating apparatus 10 according to an embodiment of the present invention is an apparatus for applying a coating liquid 30 onto a substrate film 20, and includes a backup roll 100, a coater 200, and the like. , Supply roll 300.

[2.バックアップロール]
バックアップロール100は、基材フィルムを支持しうる外周面110を有する。このバックアップロール100は、外周面110で基材フィルム20を支持しながら周方向に回転しうるように設けられている。本実施形態では、図示しないモーター等の駆動装置からバックアップロール100に回転駆動力が与えられ、この回転駆動力によって回転駆動されるバックアップロール100が基材フィルム20を搬送しうる例を示して説明する。
[2. Backup role]
The backup roll 100 has an outer circumferential surface 110 capable of supporting a base film. The backup roll 100 is provided to be able to rotate in the circumferential direction while supporting the base film 20 on the outer circumferential surface 110. In the present embodiment, a rotational driving force is applied to the backup roll 100 from a driving device such as a motor (not shown), and the example illustrates that the backup roll 100 rotationally driven by the rotational driving force can transport the base film 20. Do.

本実施形態において、バックアップロール100の外周面110の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))は、下記式(1)を満たす。
0.020μm ≦ M(Ra(R)) < 0.350μm (1)
In the present embodiment, the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) measured at five measurement positions on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 satisfies the following formula (1) .
0.020 μm ≦ M (Ra (R)) <0.350 μm (1)

算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))の範囲は、より詳細には、通常0.002μm以上、好ましくは0.05μm以上、より好ましくは0.08μm以上であり、通常0.350μm未満、好ましくは0.300μm以下、より好ましくは0.250μm以下である。前記の算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))が、前記範囲の下限値以上であることによって、表面21の平滑性が高い基材フィルム20上に、厚みムラを抑制しながら塗工液30を塗工して、塗工層40を形成できる。また、前記の算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))が、前記範囲の上限値未満であることによって、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを抑制できる。したがって、前記の算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))が式(1)を満たすことにより、表面21の平滑性が高い基材フィルム20上に、バックアップロール100の外周面110での当該基材フィルム20の滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液30を塗工することが可能となる。   More specifically, the range of the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) is usually 0.002 μm or more, preferably 0.05 μm or more, more preferably 0.08 μm or more, Usually, it is less than 0.350 μm, preferably 0.300 μm or less, more preferably 0.250 μm or less. When the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) is equal to or more than the lower limit value of the range, thickness unevenness is generated on the base film 20 having high smoothness of the surface 21. The coating layer 30 can be formed by coating the coating liquid 30 while suppressing the coating. In addition, when the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) is less than the upper limit value of the range, the slip of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 Can be suppressed. Therefore, when the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) satisfies the equation (1), the back-up roll 100 is formed on the base film 20 with high smoothness of the surface 21. It is possible to coat the coating liquid 30 while suppressing the slip of the base film 20 on the outer circumferential surface 110 and suppressing the thickness unevenness.

バックアップロール100の外周面110の算術平均粗さRa(R)は、JIS B0601−2001に準拠して、走査距離50mmにおいて、バックアップロール100の軸方向を走査方向に設定して測定しうる。また、5か所の測定位置は、任意に設定しうる。5か所の測定位置は、使用する基材フィルム20の端部の通り位置に合わせて、バックアップロール100を軸方向で均等に6等分した5か所とすることが好ましい。測定装置としては、表面粗さ・輪郭形状測定機(東京精密社製「サーフコム130A」)を用いうる。   Arithmetic mean roughness Ra (R) of the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 can be measured by setting the axial direction of the backup roll 100 in the scanning direction at a scanning distance of 50 mm in accordance with JIS B0601-2001. Also, the five measurement positions can be set arbitrarily. It is preferable that five measurement positions be five positions obtained by equally dividing the backup roll 100 into six equally in the axial direction according to the position of the end of the base film 20 to be used. As a measuring apparatus, a surface roughness and contour shape measuring machine ("Surfcom 130A" manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.) can be used.

式(1)が満たされることによって、基材フィルム20上に塗工液30を塗工する際の厚みムラを抑制できる仕組みを、従来の技術と対比して説明する。ただし、本発明は、以下に説明する仕組みによって制限されるものでは無い。   The structure which can suppress the thickness nonuniformity at the time of coating the coating liquid 30 on the base film 20 by satisfy | filling Formula (1) is demonstrated in contrast with the prior art. However, the present invention is not limited by the mechanism described below.

図2は、従来の塗工装置の一例としての塗工装置900を模式的に示す正面図である。また、図2において、基材フィルム920及び塗工層930については、断面を示す。
図2に示すように、バックアップロール910に基材フィルム920が進入する際、矢印A1で示すように、バックアップロール910と基材フィルム920との間に空気が浸入することがある。この空気は、バックアップロール910と基材フィルム920との間に留まって、その結果、基材フィルム920に変形部940が形成される。
FIG. 2 is a front view schematically showing a coating apparatus 900 as an example of a conventional coating apparatus. Moreover, in FIG. 2, the base film 920 and the coating layer 930 show cross sections.
As shown in FIG. 2, when the base film 920 enters the backup roll 910, air may enter between the backup roll 910 and the base film 920, as indicated by an arrow A1. This air stays between the backup roll 910 and the base film 920, and as a result, a deformed portion 940 is formed in the base film 920.

基材フィルム920の変形部940は、バックアップロール910の回転によって搬送され、当該変形部940上にコーター950によって塗工層930を形成された後、符号960で示す部分のように、バックアップロール910から離れようとする。基材フィルム920の変形部940がバックアップロール910から離れると同時に、変形部940に搬送張力が作用し、変形部940は急激に平坦に戻る。この際、変形部940が平坦に戻るときの急激な動きによって、当該変形部940の塗工層930には衝撃荷重がかかる。そして、この衝撃荷重によって塗工液が流動して、厚みムラが生じる。通常は、変形部940の頂部(径方向に突出した部分)の塗工液がその周囲に移るように流動して、塗工層930に厚みムラが生じる。このような厚みムラは、特に、バックアップロール910側の基材フィルム920の面921の平滑性が高い場合、特に生じやすい。   The deformed portion 940 of the base film 920 is conveyed by the rotation of the backup roll 910, and after the coating layer 930 is formed on the deformed portion 940 by the coater 950, the backup roll 910 is formed as shown by reference numeral 960. Try to leave the At the same time as the deformation portion 940 of the base film 920 separates from the backup roll 910, a conveying tension acts on the deformation portion 940, and the deformation portion 940 returns sharply to be flat. At this time, an impact load is applied to the coating layer 930 of the deformation portion 940 due to the rapid movement when the deformation portion 940 returns to flat. And a coating liquid flows by this impact load and thickness unevenness arises. In general, the coating liquid on the top portion (a portion protruding in the radial direction) of the deformed portion 940 flows so as to move to the periphery thereof, and thickness unevenness occurs in the coated layer 930. Such thickness unevenness is particularly likely to occur particularly when the smoothness of the surface 921 of the base film 920 on the backup roll 910 side is high.

これに対し、図1に示す本実施形態の塗工装置10では、バックアップロール100の外周面110が、式(1)を満たす粗面となっている。そのため、バックアップロール100側の基材フィルム20の面21の平滑性が高い場合であっても、バックアップロール100の外周面110と、この外周面110に支持された基材フィルム20との間には、微小な空隙(図示せず。)が形成される。この空隙が、バックアップロール100と基材フィルム20との間に浸入した空気を収容できるので、基材フィルム20の変形を抑制できる。そのため、基材フィルム20上に塗工液30を塗布する際の厚みムラを抑制できるので、均一な厚みの塗工層40を得ることができる。ここで、バックアップロール100側の基材フィルム20の面21とは、バックアップロール100に接触しうる基材フィルム20の表面を示す。   On the other hand, in the coating apparatus 10 of this embodiment shown in FIG. 1, the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 is a rough surface which satisfy | fills Formula (1). Therefore, even when the smoothness of the surface 21 of the base film 20 on the backup roll 100 side is high, the distance between the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 and the base film 20 supported by the outer peripheral surface 110 is There is a minute air gap (not shown). Since the air gap can accommodate the air that has entered between the backup roll 100 and the base film 20, deformation of the base film 20 can be suppressed. Therefore, since the thickness nonuniformity at the time of applying the coating liquid 30 on the base film 20 can be suppressed, the coating layer 40 of uniform thickness can be obtained. Here, the surface 21 of the base film 20 on the backup roll 100 side indicates the surface of the base film 20 that can be in contact with the backup roll 100.

また、バックアップロール100の外周面110の表面粗さは、粗さが過剰でない適切な範囲に設定されている。そのため、バックアップロール100の外周面110と基材フィルム20との接触面積を広くできるので、バックアップロール100の外周面110が基材フィルム20を高い摩擦力で支持できる。よって、バックアップロール100の外周面110で基材フィルム20が滑ることを抑制できる。これにより、基材フィルム20の位置制御を可能にして、基材フィルム20の挙動を安定させることができる。   Moreover, the surface roughness of the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 is set to an appropriate range in which the roughness is not excessive. Therefore, since the contact area of the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 and the base film 20 can be enlarged, the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 can support the base film 20 with a high frictional force. Therefore, the base film 20 can be prevented from slipping on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100. Thereby, position control of the base film 20 is enabled, and the behavior of the base film 20 can be stabilized.

バックアップロール100の外周面110の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の平均値M(RSm(R))、及び、バックアップロール100の外周面110の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の標準偏差σ(RSm(R))は、下記式(2)を満たすことが好ましい。
10% < σ(RSm(R))/M(RSm(R))< 50% (2)
Average value M (RSm (R)) of average length RSm (R) of roughness curvilinear elements measured at five measurement positions of outer peripheral surface 110 of backup roll 100, and outer peripheral surface 110 of backup roll 100 It is preferable that the standard deviation σ (RSm (R)) of the average length RSm (R) of the roughness curvilinear element measured at the five measurement positions of 4 satisfies the following formula (2).
10% <σ (RSm (R)) / M (RSm (R)) <50% (2)

前記の比「σ(RSm(R))/M(RSm(R))」の範囲は、より詳細には、好ましくは10%より大きく、より好ましくは15%以上、特に好ましくは20%以上であり、好ましくは50%未満、より好ましくは45%以下、特に好ましくは40%以下である。前記の比「σ(RSm(R))/M(RSm(R))」が式(2)を満たすことは、バックアップロール100の外周面110にある凹凸の配置の不規則性が高いことを示す。バックアップロール100の外周面110が粗面となっている場合、その外周面110にある凹凸の配置の不規則性が高いことにより、バックアップロール100から基材フィルム20にかかる圧力を巨視的に見て均一化させることができる。そのため、圧力の集中による基材フィルム20の変形を効果的に抑制して、基材フィルム20に塗工液30を塗工する際の厚みムラを効果的に抑制できる。   More specifically, the range of the above ratio “σ (RSm (R)) / M (RSm (R))” is preferably more than 10%, more preferably 15% or more, particularly preferably 20% or more Preferably, it is less than 50%, more preferably 45% or less, and particularly preferably 40% or less. The fact that the ratio “σ (RSm (R)) / M (RSm (R))” satisfies the formula (2) means that the irregularity of the arrangement of irregularities on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 is high. Show. When the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 is roughened, the pressure applied from the backup roll 100 to the base film 20 is viewed macroscopically because the irregularity of the arrangement of the unevenness on the outer peripheral surface 110 is high. Can be made uniform. Therefore, the deformation of the base film 20 due to the concentration of pressure can be effectively suppressed, and the unevenness in thickness when the coating liquid 30 is applied to the base film 20 can be effectively suppressed.

バックアップロール100の外周面110の粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)は、JIS B0601−2001に準拠して、走査距離50mmにおいて、バックアップロール100の軸方向を走査方向に設定して測定しうる。また、5か所の測定位置は、任意に設定しうる。5か所の測定位置は、使用する基材フィルム20の端部の通り位置に合わせて、バックアップロール100の軸方向で均等に6等分した5か所とすることが好ましい。測定装置としては、表面粗さ・輪郭形状測定機(東京精密社製「サーフコム130A」)を用いうる。   The average length RSm (R) of the roughness curvilinear element of the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 is measured by setting the axial direction of the backup roll 100 in the scanning direction at a scanning distance of 50 mm in accordance with JIS B0601-2001. It can. Also, the five measurement positions can be set arbitrarily. The five measurement positions are preferably five positions equally divided into six in the axial direction of the backup roll 100 in accordance with the positions of the ends of the base film 20 to be used. As a measuring apparatus, a surface roughness and contour shape measuring machine ("Surfcom 130A" manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.) can be used.

前記のような表面粗さの外周面110を有するバックアップロール100は、例えば、バックアップロール100の材料となる素材ロールを用意する工程と、素材ロールの外周面に粗面化処理を施す工程と、粗面化処理を施した素材ロールの外周面に研削処理又は研磨処理を施す工程と、を含む製造方法によって、製造し得る。   The backup roll 100 having the outer circumferential surface 110 with the surface roughness as described above includes, for example, a step of preparing a material roll to be a material of the backup roll 100, a step of roughening the outer circumferential surface of the material roll, And D. a step of grinding or polishing the outer peripheral surface of the surface-roughened material roll.

粗面化処理としては、例えば、ショットブラスト加工処理、レーザー加工処理、電子ビーム加工処理、放電加工処理等が挙げられる。素材ロールの外周面に前記の粗面化処理を施すことにより、素材ロールの外周面を粗くして、当該外周面を粗面にできる。この際、素材ロールの外周面の算術平均粗さRaは、目的とするバックアップロール100の外周面110の算術平均粗さRa(R)よりも、大きくすることが好ましい。例えば、粗面化処理を施された素材ロールの外周面の算術平均粗さRaを、バックアップロール100の外周面110の算術平均粗さRa(R)よりも、0.1μm〜0.2μmだけ大きくすることが好ましい。   Examples of the surface roughening treatment include shot blast processing, laser processing, electron beam processing, and electrical discharge processing. By subjecting the outer peripheral surface of the material roll to the roughening treatment, the outer peripheral surface of the material roll can be roughened, and the outer peripheral surface can be roughened. Under the present circumstances, it is preferable to make arithmetic mean roughness Ra of the outer peripheral surface of a material roll larger than arithmetic mean roughness Ra (R) of the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 made into the objective. For example, the arithmetic mean roughness Ra of the outer peripheral surface of the material roll subjected to the roughening treatment is 0.1 μm to 0.2 μm more than the arithmetic mean roughness Ra (R) of the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 It is preferable to make it large.

研削処理及び研磨処理には、適切な表面粗さが達成できる限り、制限は無い。例えば、研削処理としては、任意の砥石を用いた円筒研削盤、グラインダーを用いた研削処理を採用しうる。また、研磨処理としては、電解研磨処理;化学研磨処理;固定砥粒又は遊離砥粒を用いたラップ研磨;バフ研磨;円筒研磨剤を用いた円筒研磨;機械的作用と化学的作用の相乗効果をもたらすCMP;成形研磨;磁気研磨、などのいずれの研磨処理を行ってもよい。研削処理又は研磨処理を行うことにより、粗面化処理によって形成された素材ロールの外周面の突起先端を平坦に加工することができる。これにより、素材ロールの外周面の凹凸の配置を維持したまま、算術平均粗さRaを小さくできるので、所望の表面粗さの外周面110を有するバックアップロール100が得られる。   The grinding and polishing processes are not limited as long as adequate surface roughness can be achieved. For example, as a grinding process, a cylindrical grinder using any grindstone or a grinding process using a grinder may be employed. In addition, as the polishing treatment, electrolytic polishing treatment; chemical polishing treatment; lap polishing using fixed abrasives or loose abrasives; buff polishing; cylindrical polishing using a cylindrical abrasive; synergetic effect of mechanical action and chemical action Any polishing process may be performed, such as CMP that results in; By performing the grinding process or the polishing process, it is possible to flatten the tip of the projection on the outer peripheral surface of the material roll formed by the surface roughening process. As a result, the arithmetic mean roughness Ra can be reduced while maintaining the arrangement of the irregularities on the outer peripheral surface of the material roll, so that the backup roll 100 having the outer peripheral surface 110 with the desired surface roughness can be obtained.

バックアップロール100の表面を形成する材料としては、基材フィルム20を高い摩擦力で支持しうるものが好ましい。そのような材料としては、例えば、タングステンカーバイド(WC)、ハードクロムめっき、SUS、鉄などが挙げられる。   As a material which forms the surface of backup roll 100, what can support base film 20 with high frictional force is preferred. Such materials include, for example, tungsten carbide (WC), hard chromium plating, SUS, iron and the like.

バックアップロール100の直径Φは、好ましくは100mm以上、より好ましくは150mm以上であり、好ましくは300mm以下、より好ましくは250mm以下である。バックアップロール100の直径Φが、前記範囲の下限値以上であることによって、搬送中に万が一発生するフィルムの揺れに対して、バックアップロール100が振動しない重量にすることができる。また、バックアップロール100の直径Φが、前記範囲の上限値以下であることによって、バックアップロール100の重量を保持するためのシャフトを大がかりにする必要がないため、ロール100の設置を簡便にすることができる。   The diameter Φ of the backup roll 100 is preferably 100 mm or more, more preferably 150 mm or more, preferably 300 mm or less, more preferably 250 mm or less. When the diameter Φ of the backup roll 100 is equal to or more than the lower limit value of the above range, the weight of the backup roll 100 does not vibrate with respect to the film shaking that may occur during conveyance. Further, by making the diameter が of the backup roll 100 equal to or less than the upper limit value of the above range, it is not necessary to make the shaft for holding the weight of the backup roll 100 large, so the installation of the roll 100 is simplified. Can.

バックアップロール100は、当該バックアップロール100によって搬送される基材フィルム20の巻付き角θが、所望の範囲に収まるように設定することが好ましい。ここで、基材フィルム20の巻付き角θとは、バックアップロール100における、基材フィルム20が接触する周面部分についての扇型の中心角である。また、前記の中心角は、バックアップロール100を軸方向から観察した場合の角度である。巻付き角θの具体的範囲は、好ましくは90°以上、より好ましくは100°以上、特に好ましくは150°以上であり、好ましくは210°以下、より好ましくは200°以下、特に好ましくは180°以下である。巻付き角θが、前記範囲の下限値以上であることによって、フィルムの搬送中に不意にフィルムに揺れが起きても、バックアップロール100上でのフィルムの揺れを抑制することができる。また、巻付き角θが、前記範囲の上限値以下であることによって、バックアップロール100の前後のフィルムの搬送パスラインを容易に設定することができる。   It is preferable to set the backup roll 100 so that the winding angle θ of the base film 20 transported by the backup roll 100 falls within a desired range. Here, the winding angle θ of the base film 20 is a central angle of a fan-shaped portion of the peripheral surface portion of the backup roll 100 in contact with the base film 20. Further, the central angle is an angle when the backup roll 100 is observed from the axial direction. The specific range of the winding angle θ is preferably 90 ° or more, more preferably 100 ° or more, particularly preferably 150 ° or more, preferably 210 ° or less, more preferably 200 ° or less, particularly preferably 180 ° It is below. When the winding angle θ is equal to or more than the lower limit value of the range, the film shake on the backup roll 100 can be suppressed even if the film unexpectedly shakes during conveyance of the film. Further, when the winding angle θ is equal to or less than the upper limit value of the range, the transport path line of the film before and after the backup roll 100 can be easily set.

また、バックアップロール100には、塗工液30中の溶媒揮発による基材フィルム20の温度低下に伴うバックアップロール100の温度低下を抑制するために温調水を通水するための流路を設けてもよい。   Further, the backup roll 100 is provided with a flow path for passing temperature-controlled water in order to suppress the temperature drop of the backup roll 100 caused by the temperature drop of the base film 20 due to the solvent evaporation in the coating liquid 30. May be

[3.コーター]
コーター200は、バックアップロール100の外周面110で支持された基材フィルム20に塗工液30を塗工しうる装置である。このコーター200は、バックアップロール100の外周面110で支持された基材フィルム20の、バックアップロール100とは反対側の面22上に塗工液30を塗工しうるように、バックアップロール100の外周面110に対向して設けられている。ここで、バックアップロール100とは反対側の基材フィルム20の面22とは、バックアップロール100に接触しない面を示す。
[3. Coater]
The coater 200 is an apparatus capable of applying the coating liquid 30 to the base film 20 supported by the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100. The coater 200 is a part of the back-up roll 100 so that the coating liquid 30 can be coated on the surface 22 of the base film 20 supported by the outer peripheral face 110 of the back-up roll 100 opposite to the back-up roll 100. It is provided to face the outer circumferential surface 110. Here, the surface 22 of the base film 20 opposite to the backup roll 100 indicates a surface not in contact with the backup roll 100.

コーター200としては、当該コーター200が基材フィルム20を押圧しない非接触式コーターを用いることが好ましい。非接触式コーターを用いることにより、基材フィルム20の傷つきを抑制したり、流れ方向での膜厚を安定的に一定に保つことができる。
また、一般に、非接触式コーターは、当該非接触式コーターが基材フィルムを押圧しないので、基材フィルムの変形部の解消が難しく、従来の技術によって厚みムラを抑制することは特に困難であった。これに対し、本実施形態に係る製造装置10を用いれば、このような非接触式コーターを用いた場合でも、厚みムラを抑制することが可能である。よって、従来技術で特に解決が難しかった課題を解消できるとの観点でも、コーター200としては、非接触式コーターを用いることが好ましい。
As the coater 200, it is preferable to use a noncontact coater in which the coater 200 does not press the base film 20. By using a noncontact coater, damage to the base film 20 can be suppressed, and the film thickness in the flow direction can be stably kept constant.
Further, in general, in the noncontact coater, since the noncontact coater does not press the base film, it is difficult to eliminate the deformed portion of the base film, and it is particularly difficult to suppress thickness unevenness by conventional techniques. The On the other hand, when the manufacturing apparatus 10 according to the present embodiment is used, it is possible to suppress thickness unevenness even when using such a noncontact coater. Therefore, it is preferable to use a non-contact type coater as the coater 200 also from the viewpoint of solving the problem which was particularly difficult to solve in the prior art.

特に好ましいコーター200としては、ダイ210を備えるダイコーターが挙げられる。そこで、本実施形態は、コーター200としてダイ210を備えるダイコーターを用いた例を示して、説明する。   A particularly preferred coater 200 is a die coater comprising a die 210. Thus, in the present embodiment, an example using a die coater provided with a die 210 as the coater 200 will be described.

図3は、本発明の一実施形態に係る塗工装置10において、コーター200によって基材フィルム20上に塗工液30が塗工される部分を拡大して模式的に示す断面図である。
図3に示すように、塗工装置10のコーター200は、塗工液30を吐出しうるダイ210を備える。このダイ210には、塗工液30が流通しうる流路220と、この流路220を流通した塗工液30を吐出しうる吐出口230が形成されている。
FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing an enlarged part of the coating film 30 coated on the base film 20 by the coater 200 in the coating apparatus 10 according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 3, the coater 200 of the coating apparatus 10 includes a die 210 capable of discharging the coating liquid 30. The die 210 is formed with a flow path 220 through which the coating liquid 30 can flow, and a discharge port 230 through which the coating liquid 30 flowing through the flow path 220 can be discharged.

流路220は、図示しない塗工液供給装置から供給される塗工液30を収納するポケット221、及び、ポケット221から吐出口230へと塗工液30を案内するスロット222を含む。ポケット221及びスロット222は、いずれも、基材フィルム20の搬送方向と垂直なダイ210の幅方向にその断面形状を有するように形成されている。また、スロット222と、バックアップロール100によって搬送される基材フィルム20の搬送方向とがなす角ρは、30°以上90°以下であることが好ましい。   The flow path 220 includes a pocket 221 for storing the coating liquid 30 supplied from a coating liquid supply device (not shown), and a slot 222 for guiding the coating liquid 30 from the pocket 221 to the discharge port 230. The pockets 221 and the slots 222 are both formed to have the cross-sectional shape in the width direction of the die 210 perpendicular to the transport direction of the base film 20. Further, it is preferable that an angle な す formed by the slot 222 and the transport direction of the base film 20 transported by the backup roll 100 be 30 ° or more and 90 ° or less.

吐出口230は、通常、基材フィルム20の幅方向と平行に延在するスリット状の開口として形成される。この吐出口230の長さ(基材フィルム20の幅方向の長さ)は、基材フィルム20に形成される塗工層40の幅と、おおむね同じ長さに設定される。   The discharge port 230 is generally formed as a slit-like opening extending in parallel with the width direction of the base film 20. The length of the discharge port 230 (the length in the width direction of the base film 20) is set to substantially the same length as the width of the coating layer 40 formed on the base film 20.

ダイ210は、吐出口230が形成されたリップ部240においてバックアップロール100に最も近づくように設けられる。リップ部240は、基材フィルム20の搬送方向上流側に設けられた上流側リップ部241と、基材フィルム20の搬送方向下流側に設けられた下流側リップ部242とを含んでいて、これらの上流側リップ部241及び下流側リップ部242の間に、前記の吐出口230が開口している。通常、ダイ210は、リップ部240に近い部分ほど厚みが小さい先細り形状を有していて、上流側リップ部241及び下流側リップ部242の先端に、ダイ210の幅方向に延在する平坦部としてのランド241a及び242aがそれぞれ形成されている。   The die 210 is provided so as to be closest to the backup roll 100 at the lip portion 240 in which the discharge port 230 is formed. The lip portion 240 includes an upstream lip portion 241 provided on the upstream side of the base film 20 in the transport direction, and a downstream lip portion 242 provided on the downstream side of the base film 20 in the transport direction. The discharge port 230 is opened between the upstream lip portion 241 and the downstream lip portion 242. Usually, the die 210 has a tapered shape in which the thickness is smaller toward the portion closer to the lip portion 240, and the flat portion extends in the width direction of the die 210 at the tips of the upstream lip portion 241 and the downstream lip portion 242. Lands 241a and 242a are respectively formed.

通常、前記のダイ210は、複数部材を組み立てることにより構成され、その主たる部材は、基材フィルム20の搬送方向上流側の上流側ブロック250及び下流側の下流側ブロック260である。各ブロック250及び260は、一般に、図示しないブロック締結用ボルトによって締結されることにより、一体化されている。これらのブロック250及び260は、温度変化によるダイ210の変形を抑制する観点から、線熱膨張率が低い材料によって形成されることが好ましい。具体的な線熱膨張率は、6.0×10−6[1/K]以下であることが好ましい。また、後述のようにダイ210のリップ部240をブロック250及び260とは異なる材料で形成する場合、ブロック250及び260は、リップ部240よりも線熱膨張率の低い材料で形成することが好ましい。リップ部240よりも体積の大きなブロック250及び260の線熱膨張率を低くすることによって、温度変化による変形などの影響を効果的に低減できる。 Usually, the die 210 is configured by assembling a plurality of members, and the main members thereof are the upstream block 250 on the upstream side in the transport direction of the base film 20 and the downstream block 260 on the downstream side. The blocks 250 and 260 are generally integrated by being fastened by block fastening bolts not shown. These blocks 250 and 260 are preferably formed of a material having a low coefficient of linear thermal expansion from the viewpoint of suppressing deformation of the die 210 due to temperature change. The specific linear thermal expansion coefficient is preferably 6.0 × 10 −6 [1 / K] or less. When the lip portion 240 of the die 210 is formed of a material different from the blocks 250 and 260 as described later, it is preferable that the blocks 250 and 260 be formed of a material having a lower linear thermal expansion coefficient than the lip portion 240 . By lowering the linear thermal expansion coefficient of the blocks 250 and 260 having a volume larger than that of the lip portion 240, the influence of a temperature change and the like can be effectively reduced.

ダイ210のリップ部240は、高い厚み精度で塗工液を塗工するために、構造を精密に制御することが好ましい。例えば、上流側リップ部241及び下流側リップ部242のランド241a及び242aは、当該ランド241a及び242aの凹部及び凸部の高さの変動幅を5μm以下にできる程度に高い真直度で、形成することが好ましい。そこで、ダイ210のリップ部240は、前記のブロック250及び260とは異なる超硬合金材料によって形成してもよい。超硬合金材料としては、例えば、WC炭化物結晶を、Co等の結合金属で結合してなるものであって、WC結晶の平均粒径が5μm以内のものを用いうる。このような超硬合金材料を用いることにより、表面形状を均質にできるとともに、塗工液による摩耗を抑制できる(特開2003−200097号公報参照)。   It is preferable that the lip portion 240 of the die 210 be precisely controlled in structure in order to apply the coating liquid with high thickness accuracy. For example, the lands 241a and 242a of the upstream lip portion 241 and the downstream lip portion 242 are formed with a high degree of straightness such that the variation width of the heights of the concave and convex portions of the lands 241a and 242a can be 5 μm or less. Is preferred. Thus, the lip portion 240 of the die 210 may be formed of a cemented carbide material different from the blocks 250 and 260 described above. As a cemented carbide material, for example, WC carbide crystals may be bonded by a bonding metal such as Co, and WC crystals having an average particle diameter of 5 μm or less may be used. By using such a cemented carbide material, the surface shape can be made uniform, and at the same time, the wear by the coating liquid can be suppressed (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-200097).

また、前記のダイ210は、通常、図示しない架台に設置されて用いられる。架台の精度を高くする観点から、このような架台として、一体型の鋳物を研削加工することによって形成してなる架台を用いてもよい(特許第4358010号公報参照)。   Further, the die 210 is usually installed and used on a stand not shown. From the viewpoint of increasing the accuracy of the mount, a mount formed by grinding an integral casting may be used as such a mount (see Japanese Patent No. 4358010).

上述したようなコーター200は、基材フィルム20に接触しないように設けられる。よって、コーター200は、コーター200とバックアップロール100の外周面110に支持された基材フィルム20との間に、間隙Cが空くように設けられる。本実施形態で示すようなダイ210を備えたコーター200は、通常、ダイ210のリップ部240が基材フィルム20に最も近くなるように設けられるので、本実施形態では、前記の間隙Cは、リップ240と基材フィルム20との間に空いている。この間隙Cの大きさは、好ましくは30μm以上、より好ましくは40μm以上、特に好ましくは50μm以上であり、好ましくは150μm以下、より好ましくは140μm以下、特に好ましくは130μm以下である。間隙Cの大きさが、前記範囲の下限値以上であることによって、液溜まり31にダイ210からの振動が伝わり難くなるので、塗工層40における厚みムラを効果的に抑制できる。また、間隙Cの大きさが、前記範囲の上限値以下であることによって、液溜まり31を安定にできるので、塗工層40におけるスジの発生を抑制できる。   The coater 200 as described above is provided so as not to contact the substrate film 20. Therefore, the coater 200 is provided so as to leave a gap C between the coater 200 and the base film 20 supported on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100. In the coater 200 provided with the die 210 as shown in the present embodiment, the lip portion 240 of the die 210 is usually provided so as to be closest to the base film 20. Therefore, in the present embodiment, the gap C is It is open between the lip 240 and the base film 20. The size of the gap C is preferably 30 μm or more, more preferably 40 μm or more, particularly preferably 50 μm or more, preferably 150 μm or less, more preferably 140 μm or less, particularly preferably 130 μm or less. When the size of the gap C is equal to or more than the lower limit value of the above range, the vibration from the die 210 is less likely to be transmitted to the liquid pool 31, so that thickness unevenness in the coating layer 40 can be effectively suppressed. In addition, when the size of the gap C is equal to or less than the upper limit value of the range, the liquid pool 31 can be stabilized, so that the generation of streaks in the coating layer 40 can be suppressed.

[4.供給ロール]
図1に示すように、供給ロール300は、基材フィルム20の搬送路においてバックアップロール100の直前に設けられたロールである。ここで、供給ロール300が設けられたのがバックアップロール100の「直前」であるとは、供給ロール300とバックアップロール100との間に、基材フィルム20に接触する他のロールが無いことを意味する。この供給ロール300は、バックアップロール100へと基材フィルム20を供給しうるように、周方向に回転可能に設けられている。また、この供給ロール300には、基材フィルム20の張力を測定するための張力センサ(図示せず。)が設けられていてもよい。
[4. Supply roll]
As shown in FIG. 1, the supply roll 300 is a roll provided immediately in front of the backup roll 100 in the transport path of the base film 20. Here, that the supply roll 300 is provided "immediately before" of the backup roll 100 means that there is no other roll in contact with the base film 20 between the supply roll 300 and the backup roll 100. means. The supply roll 300 is rotatably provided in the circumferential direction so that the base film 20 can be supplied to the backup roll 100. Further, the supply roll 300 may be provided with a tension sensor (not shown) for measuring the tension of the base film 20.

[5.塗工装置が備えうる任意の要素]
塗工装置10は、上述したバックアップロール100、コーター200及び供給ロール300に加えて、更に任意の要素を備えうる。
例えば、塗工装置10は、ダイ210のリップ部240の、基材フィルム20の搬送方向上流側に、減圧チャンバー(図示せず。)を備えてもよい。減圧チャンバーを設けることにより、塗工液30の液溜まり31に対して十分な減圧調整を行えるので、塗工層40の厚みムラを効果的に抑制できる。
[5. Optional elements that can be included in the coating device]
The coating apparatus 10 may further include optional elements in addition to the backup roll 100, the coater 200, and the supply roll 300 described above.
For example, the coating apparatus 10 may include a decompression chamber (not shown) on the upstream side of the lip portion 240 of the die 210 in the transport direction of the base film 20. By providing the pressure reduction chamber, sufficient pressure reduction adjustment can be performed on the liquid reservoir 31 of the coating liquid 30, so thickness unevenness of the coating layer 40 can be effectively suppressed.

また、ダイ210の上流側ブロック250、下流側ブロック260には、塗工液30の通液に伴う温度低下によるブロックの寸法変化を抑制するために、温調水を通水するための流路を設けてもよい。   Further, in the upstream block 250 and the downstream block 260 of the die 210, a flow path for passing temperature control water in order to suppress the dimensional change of the block due to the temperature decrease accompanying the flow of the coating liquid 30. May be provided.

[6.基材フィルム]
次に、前記の塗工装置10によって塗工液30を塗工される基材フィルム20を説明する。基材フィルム20としては、通常、バックアップロール100側の面21の平滑性が高いフィルムを用いる。
[6. Substrate film]
Next, the base film 20 to which the coating liquid 30 is applied by the coating apparatus 10 will be described. As the base film 20, usually, a film with high smoothness of the surface 21 on the backup roll 100 side is used.

具体的には、基材フィルム20のバックアップロール100側の面21の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、基材フィルム20のバックアップロール100側の面21の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))が、通常、下記式(3)を満たす。
M(Ra(F))/M(RSm(F)) < 1.5×10−5 (3)
Specifically, the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) measured at five measurement positions on the surface 21 on the backup roll 100 side of the base film 20, and The average value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element measured at five measurement positions of the surface 21 on the backup roll 100 side of the material film 20 is usually the following formula Meet (3).
M (Ra (F)) / M (RSm (F)) <1.5 × 10 −5 (3)

前記の比「M(Ra(F))/M(RSm(F))」の範囲は、より詳細には、通常1.5×10−5未満、好ましくは1.0×10−5未満、より好ましくは8.0×10−6未満である。本実施形態に係る塗工装置10は、このように平滑性が高い表面21を有する基材フィルム20に、厚みムラを抑制しながら塗工液30を塗工するための装置である。また、前記の比「M(Ra(F))/M(RSm(F))」を、前記範囲の上限値以下にすることにより、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを抑制することができる。さらに、このように表面21の平滑性に優れる基材フィルム20は、ヘイズを小さくできるので、光学フィルムとして好適に用いられる。前記の比「M(Ra(F))/M(RSm(F))」の下限値に特段の制限は無いが、工業生産上で現実的な範囲としては、通常5.0×10−6以上である。 More specifically, the range of the ratio “M (Ra (F)) / M (RSm (F))” is usually less than 1.5 × 10 −5 , preferably less than 1.0 × 10 −5 . More preferably, it is less than 8.0 × 10 −6 . The coating apparatus 10 which concerns on this embodiment is an apparatus for coating the coating liquid 30 on the base film 20 which has the surface 21 with high smoothness in this way, suppressing thickness nonuniformity. In addition, by setting the ratio “M (Ra (F)) / M (RS m (F))” to the upper limit value of the range or less, the base film 20 slips on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 Can be suppressed. Furthermore, since the base film 20 excellent in the smoothness of the surface 21 as described above can reduce the haze, it is suitably used as an optical film. There is no particular limitation on the lower limit value of the above ratio “M (Ra (F)) / M (RS m (F))”, but a practical range in industrial production is usually 5.0 × 10 −6. It is above.

また、前記の算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))は、好ましくは0.02μm以下、より好ましくは0.01μm以下、特に好ましくは0.005μm以下である。算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))が前記の範囲に収まることにより、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを特に効果的に抑制したり、基材フィルム20のヘイズを顕著に小さくしたりできる。算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))の下限値に特に制限は無いが、工業生産上で現実的な範囲としては、通常0.001μm以上である。   The average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) is preferably 0.02 μm or less, more preferably 0.01 μm or less, and particularly preferably 0.005 μm or less. Slippage of the base film 20 on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 is particularly effectively suppressed by the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) falling within the above range The haze of the base film 20 can be significantly reduced. The lower limit value of the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) is not particularly limited, but a practical range in industrial production is usually 0.001 μm or more.

さらに、前記の粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))は、好ましくは100μm以上、より好ましくは300μm以上、特に好ましくは500μm以上である。粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))が前記の範囲に収まることにより、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを特に効果的に抑制したり、基材フィルム20のヘイズを顕著に小さくしたりできる。粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))の上限値に特に制限は無いが、工業生産上で現実的な範囲としては、通常1,000μm以下である。   Furthermore, the average value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curve element is preferably 100 μm or more, more preferably 300 μm or more, and particularly preferably 500 μm or more. The slippage of the base film 20 on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 is particularly effective when the mean value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element falls within the above range. The haze of the base film 20 can be significantly reduced. The upper limit value of the average value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element is not particularly limited, but a practical range in industrial production is usually 1,000 μm or less .

前記の算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))は、それぞれ、基材フィルム20のバックアップロール100側の面21の平滑性を示す指標値である。そのため、算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))は、それぞれ単独でも、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑り性に相関を示す。しかし、本発明者の検討によれば、算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))は、いずれも、単独では、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑り性との相関性は高くないことが判明している。これに対し、前記の式(3)のように、算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))の比「M(Ra(F))/M(RSm(F))」は、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑り性と高い相関性を示す。そのため、塗工液の塗工を行うに際し、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを安定して抑制するために、本実施形態では、前記の式(3)を満たす面21を有する基材フィルム20を用いている。   The mean value M (Ra (F)) of the arithmetic mean roughness Ra (F) and the mean value M (RSm (F)) of the mean length RSm (F) of the roughness curvilinear element are respectively the base films It is an index value which shows the smoothness of field 21 side by the side of 20 backup rolls 100. Therefore, the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) and the average value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element can be backed up by itself alone. A correlation is shown in the slipperiness of the base film 20 on the outer circumferential surface 110 of the roll 100. However, according to the study of the inventor of the present invention, the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) and the average value M (RSm (F) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element In any case, it has been found that the correlation with the slipperiness of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 is not high. On the other hand, the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F) and the average value M of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element as in the above-mentioned equation (3) The ratio “M (Ra (F)) / M (RSm (F))” of RSm (F) shows high correlation with the slipperiness of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100. Therefore, in order to stably suppress the slip of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 when the coating liquid is applied, in the present embodiment, the surface satisfying the above-mentioned formula (3) A base film 20 having 21 is used.

基材フィルム20の面21の算術平均粗さRa(F)及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)は、JIS B0601−2001に準拠して、走査距離50mmにおいて、フィルム幅方向を走査方向に設定して測定しうる。また、5か所の測定位置は、任意に設定しうる。5か所の測定位置は、使用する基材フィルム20を、その幅方向で均等に6等分した5か所とすることが好ましい。測定装置としては、CNC表面粗さ測定機(ミツトヨ社製「サーフテストエクストリーム V−3000 CNC」)を用いうる。   The arithmetic average roughness Ra (F) of the surface 21 of the base film 20 and the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element scan the film width direction at a scanning distance of 50 mm in accordance with JIS B0601-2001. It can be set by setting the direction. Also, the five measurement positions can be set arbitrarily. The five measurement positions are preferably five positions obtained by equally dividing the base film 20 to be used into six in the width direction. As a measuring apparatus, a CNC surface roughness measuring machine ("Surftest Extreme V-3000 CNC" manufactured by Mitutoyo Co., Ltd.) can be used.

前記のように平滑性が高い面21を有する基材フィルム20は、様々な方法によって得られる。例えば、基材フィルム20が樹脂フィルムである場合、粒子を含まない樹脂を用いる方法が挙げられる。また、例えば、基材フィルム20が樹脂フィルムである場合、当該樹脂フィルムに延伸処理を施す方法が挙げられる。さらに、例えば、基材フィルム20が、溶融押出法又は溶液流涎法で製造されるフィルムである場合、溶融押出法用又は溶液流涎法用のダイスのリップに電解研磨処理を施して、そのリップを平滑(例えば、算術平均粗さRaが0.010μm〜0.001μm)にする方法が挙げられる。   As described above, the base film 20 having the highly smooth surface 21 can be obtained by various methods. For example, when base film 20 is a resin film, the method of using resin which does not contain particles is mentioned. Moreover, for example, when the base film 20 is a resin film, a method of subjecting the resin film to a stretching process may be mentioned. Furthermore, for example, when the base film 20 is a film produced by a melt extrusion method or a solution flow method, the lip of the die for the melt extrusion method or the solution flow method is subjected to electropolishing treatment to obtain the lip The method of making it smooth (for example, arithmetic mean roughness Ra 0.010 micrometer-0.001 micrometer) is mentioned.

前記の基材フィルム20としては、1層のみを備える単層構造のフィルムを用いてもよく、2層以上の層を備える複層構造のフィルムを用いてもよい。このような基材フィルム20としては、例えば、樹脂フィルムを用いうる。樹脂としては、各種の重合体を含む樹脂が挙げられる。当該重合体としては、脂環式構造含有重合体、セルロースエステル、ポリビニルアルコール、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、エポキシ重合体、ポリスチレン、アクリル重合体、メタクリル重合体、ポリエチレン、ポリプロピレン、及びこれらの組み合わせが挙げられる。これらの中でも、透明性、低吸湿性、寸法安定性及び軽量性等の観点から、脂環式構造含有重合体及びセルロースエステルが好ましく、脂環式構造含有重合体がより好ましい。   As said base film 20, the film of the single layer structure provided with only 1 layer may be used, and the film of the multilayer structure provided with a layer of two or more layers may be used. As such a substrate film 20, for example, a resin film can be used. Examples of the resin include resins containing various polymers. As the said polymer, an alicyclic structure containing polymer, a cellulose ester, polyvinyl alcohol, a polyimide, a polycarbonate, a polysulfone, a polyether sulfone, an epoxy polymer, a polystyrene, an acrylic polymer, a methacrylic polymer, polyethylene, a polypropylene, and these A combination of Among these, from the viewpoints of transparency, low hygroscopicity, dimensional stability, lightness and the like, alicyclic structure-containing polymers and cellulose esters are preferable, and alicyclic structure-containing polymers are more preferable.

脂環式構造含有重合体は、その重合体の構造単位が脂環式構造を有する重合体である。脂環式構造含有重合体は、主鎖に脂環式構造を有する重合体、側鎖に脂環式構造を有する重合体、主鎖及び側鎖に脂環式構造を有する重合体、並びに、これらの2以上の任意の比率の混合物としうる。中でも、機械的強度及び耐熱性の観点から、主鎖に脂環式構造を有する脂環式構造含有重合体が好ましい。   An alicyclic structure-containing polymer is a polymer in which a structural unit of the polymer has an alicyclic structure. The alicyclic structure-containing polymer includes a polymer having an alicyclic structure in the main chain, a polymer having an alicyclic structure in a side chain, a polymer having an alicyclic structure in the main chain and a side chain, and It may be a mixture of two or more of these in any ratio. Among them, an alicyclic structure-containing polymer having an alicyclic structure in its main chain is preferable from the viewpoint of mechanical strength and heat resistance.

脂環式構造の例としては、飽和脂環式炭化水素(シクロアルカン)構造、及び不飽和脂環式炭化水素(シクロアルケン、シクロアルキン)構造が挙げられる。中でも、機械強度及び耐熱性の観点から、シクロアルカン構造及びシクロアルケン構造が好ましく、シクロアルカン構造が特に好ましい。   Examples of alicyclic structures include saturated alicyclic hydrocarbon (cycloalkane) structures, and unsaturated alicyclic hydrocarbon (cycloalkenes, cycloalkynes) structures. Among them, in view of mechanical strength and heat resistance, a cycloalkane structure and a cycloalkene structure are preferable, and a cycloalkane structure is particularly preferable.

脂環式構造を構成する炭素原子数は、一つの脂環式構造あたり、好ましくは4個以上、より好ましくは5個以上、特に好ましくは6個以上であり、好ましくは30個以下、より好ましくは20個以下、特に好ましくは15個以下である。脂環式構造を構成する炭素原子数がこの範囲であると、基材フィルム20の機械強度、耐熱性及び成形性が高度にバランスされる。   The number of carbon atoms constituting the alicyclic structure is preferably 4 or more, more preferably 5 or more, particularly preferably 6 or more, and preferably 30 or less, per one alicyclic structure. Is 20 or less, particularly preferably 15 or less. When the number of carbon atoms constituting the alicyclic structure is in this range, the mechanical strength, the heat resistance and the formability of the base film 20 are highly balanced.

脂環式構造含有重合体において、脂環式構造を有する構造単位の割合は、好ましくは50重量%以上、さらに好ましくは70重量%以上、特に好ましくは90重量%以上である。脂環式構造含有重合体における脂環式構造を有する構造単位の割合がこの範囲にあると、基材フィルム20の透明性及び耐熱性が良好となる。   In the alicyclic structure-containing polymer, the proportion of structural units having an alicyclic structure is preferably 50% by weight or more, more preferably 70% by weight or more, and particularly preferably 90% by weight or more. When the ratio of the structural unit having an alicyclic structure in the alicyclic structure-containing polymer is in this range, the transparency and the heat resistance of the base film 20 become good.

脂環式構造含有重合体の具体例としては、(1)ノルボルネン重合体、(2)単環の環状オレフィン重合体、(3)環状共役ジエン重合体、(4)ビニル脂環式炭化水素重合体、及びこれらの水素添加物が挙げられる。これらの中でも、透明性や成形性の観点から、ノルボルネン重合体及びこれらの水素添加物がより好ましい。   Specific examples of the alicyclic structure-containing polymer include (1) norbornene polymer, (2) monocyclic cyclic olefin polymer, (3) cyclic conjugated diene polymer, and (4) vinyl alicyclic hydrocarbon heavy chain And coalesced, and hydrogenates of these. Among these, from the viewpoint of transparency and moldability, norbornene polymers and hydrogenated products thereof are more preferable.

ノルボルネン系重合体の例としては、ノルボルネン構造を有する単量体の開環重合体及びその水素化物;ノルボルネン構造を有する単量体の付加重合体及びその水素化物が挙げられる。また、ノルボルネン構造を有する単量体の開環重合体の例としては、ノルボルネン構造を有する1種類の単量体の開環単独重合体、ノルボルネン構造を有する2種類以上の単量体の開環共重合体、並びに、ノルボルネン構造を有する単量体及びこれと共重合しうる任意の単量体との開環共重合体が挙げられる。さらに、ノルボルネン構造を有する単量体の付加重合体の例としては、ノルボルネン構造を有する1種類の単量体の付加単独重合体、ノルボルネン構造を有する2種類以上の単量体の付加共重合体、並びに、ノルボルネン構造を有する単量体及びこれと共重合しうる任意の単量体との付加共重合体が挙げられる。これらの重合体としては、例えば、特開2002−321302号公報等に開示されている重合体が挙げられる。これらの中で、ノルボルネン構造を有する単量体の開環重合体の水素化物は、透明性、成形性、耐熱性、低吸湿性、寸法安定性及び軽量性の観点から、特に好適である。   Examples of the norbornene-based polymer include a ring-opening polymer of a monomer having a norbornene structure and a hydride thereof; an addition polymer of a monomer having a norbornene structure and a hydride thereof. Further, as an example of a ring-opening polymer of a monomer having a norbornene structure, a ring-opening homopolymer of one kind of monomer having a norbornene structure, a ring-opening of two or more kinds of monomers having a norbornene structure Copolymers and ring-opened copolymers of monomers having a norbornene structure and any monomers copolymerizable therewith can be mentioned. Furthermore, as an example of an addition polymer of a monomer having a norbornene structure, an addition homopolymer of one type of monomer having a norbornene structure, an addition copolymer of two or more types of monomers having a norbornene structure And addition copolymers of monomers having a norbornene structure and optional monomers copolymerizable therewith. As these polymers, the polymer currently indicated by Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-321302 etc. is mentioned, for example. Among these, a hydride of a ring-opening polymer of a monomer having a norbornene structure is particularly preferable from the viewpoint of transparency, moldability, heat resistance, low hygroscopicity, dimensional stability and lightness.

脂環式構造含有重合体の重量平均分子量(Mw)は、好ましくは10,000以上、より好ましくは25,000以上であり、好ましくは100,000以下、より好ましくは80,000以下、特に好ましくは50,000以下である。重合体の重量平均分子量がこのような範囲にあるときに、基材フィルム20の機械的強度および成型加工性が高度にバランスされる。   The weight average molecular weight (Mw) of the alicyclic structure-containing polymer is preferably 10,000 or more, more preferably 25,000 or more, preferably 100,000 or less, more preferably 80,000 or less, particularly preferably Is less than 50,000. When the weight average molecular weight of the polymer is in such a range, the mechanical strength and the moldability of the substrate film 20 are highly balanced.

脂環式構造含有重合体の分子量分布(重量平均分子量(Mw)/数平均分子量(Mn))は、好ましくは1以上、より好ましくは1.2以上であり、好ましくは10以下、より好ましくは4以下、特に好ましくは3.5以下である。   The molecular weight distribution (weight average molecular weight (Mw) / number average molecular weight (Mn)) of the alicyclic structure-containing polymer is preferably 1 or more, more preferably 1.2 or more, preferably 10 or less, more preferably It is 4 or less, particularly preferably 3.5 or less.

ここで、重合体の重量平均分子量及び数平均分子量は、溶媒としてシクロヘキサンを用いて(但し、試料がシクロヘキサンに溶解しない場合にはトルエンを用いてもよい)、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィーにより、ポリイソプレン換算(溶媒がトルエンのときは、ポリスチレン換算)の値として測定しうる。   Here, the weight-average molecular weight and number-average molecular weight of the polymer are determined by gel permeation chromatography using cyclohexane as a solvent (however, toluene may be used if the sample is not dissolved in cyclohexane). It can be measured as a value of polyisoprene conversion (when the solvent is toluene, it is polystyrene conversion).

脂環式構造含有重合体のガラス転移温度は、好ましくは80℃以上、より好ましくは100℃以上であり、好ましくは250℃以下の範囲である。ガラス転移温度がこのような範囲にある脂環式構造含有重合体は、高温下での使用における変形及び応力の発生が抑制されるので、耐久性に優れる。   The glass transition temperature of the alicyclic structure-containing polymer is preferably 80 ° C. or more, more preferably 100 ° C. or more, and preferably 250 ° C. or less. The alicyclic structure-containing polymer having a glass transition temperature in such a range is excellent in durability because the generation of deformation and stress in use at high temperature is suppressed.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂は、その分子量2,000以下の樹脂成分(すなわち、オリゴマー成分)の含有量が、好ましくは5重量%以下、より好ましくは3重量%以下、さらに好ましくは2重量%以下である。オリゴマー成分の含有量が、前記範囲内にあると、基材フィルム20の表面21及び22における微細な凸部の発生が減少し、厚みのばらつきが小さくなり、面精度が向上する。オリゴマー成分の量の低減は、例えば、重合触媒及び水素化触媒の選択;重合、水素化等の反応条件;樹脂を成形用材料としてペレット化する工程における温度条件;を適切に設定することにより、行いうる。また、オリゴマー成分の量は、前述のゲル・パーミエーション・クロマトグラフィーによって測定しうる。   In the resin containing an alicyclic structure-containing polymer, the content of a resin component having a molecular weight of 2,000 or less (that is, an oligomer component) is preferably 5% by weight or less, more preferably 3% by weight or less, still more preferably It is 2% by weight or less. When the content of the oligomer component is in the above range, the occurrence of fine projections on the surfaces 21 and 22 of the base film 20 is reduced, the variation in thickness is reduced, and the surface accuracy is improved. The reduction of the amount of the oligomer component can be carried out, for example, by appropriately setting the selection of a polymerization catalyst and a hydrogenation catalyst; reaction conditions such as polymerization and hydrogenation; and temperature conditions in the process of pelletizing a resin as a molding material. It can be done. Also, the amount of oligomer component can be measured by the above-mentioned gel permeation chromatography.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂は、脂環式構造含有重合体のみを含んでいてもよいが、脂環式構造含有重合体以外の任意の成分を含んでもよい。脂環式構造含有重合体を含む樹脂中の、脂環式構造含有重合体の割合は、好ましくは70重量%以上、より好ましくは80重量%以上である。   The resin containing an alicyclic structure-containing polymer may contain only an alicyclic structure-containing polymer, but may contain any component other than the alicyclic structure-containing polymer. The proportion of the alicyclic structure-containing polymer in the resin containing the alicyclic structure-containing polymer is preferably 70% by weight or more, and more preferably 80% by weight or more.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂のフィルムは、例えば、当該樹脂を任意のフィルム成形法で成形することによって製造しうる。フィルム成形法としては、例えば、キャスト成形法、押出成形法、インフレーション成形法などが挙げられる。中でも、溶媒を使用しない溶融押出法は、揮発性成分の量を効率よく低減させることができ、地球環境の観点、作業環境の観点、及び、製造効率の観点から好ましい。溶融押出法としては、例えばダイスを用いるインフレーション法などが挙げられ、生産性及び厚み精度に優れる点で、Tダイを用いる方法が好ましい。   A film of a resin containing an alicyclic structure-containing polymer can be produced, for example, by molding the resin by any film forming method. Examples of the film forming method include a cast forming method, an extrusion forming method, and an inflation forming method. Among them, the melt extrusion method which does not use a solvent can efficiently reduce the amount of volatile components, and is preferable from the viewpoint of global environment, the viewpoint of work environment, and the viewpoint of production efficiency. Examples of the melt extrusion method include an inflation method using a die, and a method using a T-die is preferable in terms of excellent productivity and thickness accuracy.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂の好適な具体例としては、日本ゼオン社製「ゼオノア1420」、「ゼオノア1420R」を挙げうる。   As a preferable specific example of resin containing an alicyclic structure containing polymer, "Zeonor 1420" and "Zeonor 1420R" by Nippon Zeon Co., Ltd. can be mentioned.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂のフィルムを基材フィルム20として用いる場合、当該基材フィルム20の厚みは、好ましくは1μm以上、より好ましくは5μm以上、特に好ましくは10μm以上であり、好ましくは1000μm以下、より好ましくは300μm以下、特に好ましくは100μm以下である。このような厚みを有する基材フィルム20は、生産性が良好であり、厚みが薄く、且つ、軽量化が可能である。   When a film of a resin containing an alicyclic structure-containing polymer is used as the base film 20, the thickness of the base film 20 is preferably 1 μm or more, more preferably 5 μm or more, particularly preferably 10 μm or more, and preferably Is 1000 μm or less, more preferably 300 μm or less, particularly preferably 100 μm or less. The base film 20 having such a thickness has good productivity, is thin, and can be reduced in weight.

セルロースエステルとしては、セルロースの低級脂肪酸エステル(例えば、セルロースアセテート、セルロースアセテートブチレート及びセルロースアセテートプロピオネート)が代表的である。低級脂肪酸とは、1分子あたりの炭素原子数が6以下の脂肪酸を意味する。セルロースアセテートには、トリアセチルセルロース(TAC)及びセルロースジアセテート(DAC)が含まれる。   As the cellulose ester, lower fatty acid esters of cellulose (for example, cellulose acetate, cellulose acetate butyrate and cellulose acetate propionate) are representative. The lower fatty acid means a fatty acid having 6 or less carbon atoms per molecule. Cellulose acetate includes triacetyl cellulose (TAC) and cellulose diacetate (DAC).

セルロースアセテートの酢化度は、50%〜70%が好ましく、55%〜65%がより好ましい。また、セルロースアセテートの重量平均分子量は、70000〜120000が好ましく、80000〜100000がより好ましい。さらに、上記セルロースアセテートは、酢酸だけでなく、上記酢化度を満足する限り、一部がプロピオン酸、酪酸等の脂肪酸でエステル化されていてもよい。また、樹脂フィルムに含まれる樹脂が、セルロースアセテートと、セルロースアセテート以外のセルロースエステル(セルロースプロピオネート及びセルロースブチレート等)とを組み合わせて含んでもよい。その場合、これらのセルロースエステルの全体が、上記酢化度を満足することが好ましい。   The degree of acetylation of cellulose acetate is preferably 50% to 70%, and more preferably 55% to 65%. The weight average molecular weight of cellulose acetate is preferably 70000 to 120000, and more preferably 80000 to 100000. Furthermore, the above-mentioned cellulose acetate may be partially esterified with fatty acids such as propionic acid and butyric acid as long as the above-mentioned degree of acetylation is satisfied, in addition to acetic acid. In addition, the resin contained in the resin film may contain a combination of cellulose acetate and a cellulose ester other than cellulose acetate (cellulose propionate, cellulose butyrate and the like). In that case, it is preferable that all of these cellulose esters satisfy the above-mentioned degree of acetylation.

トリアセチルセルロースを含む樹脂のフィルムを基材フィルム20として用いる場合、基材フィルム20としては、ジクロロメタンを実質的に含まない溶媒にトリアセチルセルロースを溶解して得られるトリアセチルセルロースドープを用いて作製されるフィルムが、好ましい。これにより、環境保全性が良好である。前記のトリアセチルセルロースドープジクロロメタンを実質的に含まない溶媒にトリアセチルセルロースを溶解する方法としては、低温溶解法又は高温溶解法を用いうる。また、トリアセチルセルロースを含む樹脂のフィルムは、流延法によって製造しうる。   When a film of a resin containing triacetyl cellulose is used as the base film 20, the base film 20 is produced using triacetyl cellulose dope obtained by dissolving triacetyl cellulose in a solvent substantially free of dichloromethane. Films are preferred. Thereby, environmental conservation is good. As a method of dissolving triacetyl cellulose in a solvent substantially free of the above triacetyl cellulose-doped dichloromethane, a low temperature dissolution method or a high temperature dissolution method can be used. Also, a film of a resin containing triacetyl cellulose can be produced by a casting method.

流延法では、トリアセチルセルロースの原料フレークを溶媒に溶解し、これに必要に応じて任意の成分を混合して、溶液(ドープ)を調製する。その後、当該ドープをドープ供給器(ダイ等)から支持体の上に流延して、流涎物を得る。この流延物をある程度乾燥して剛性を付与した時点で、フィルムとして支持体から剥離する。その後、当該フィルムをさらに乾燥して溶媒を除去することにより、樹脂フィルムが得られる。   In the casting method, a material flake of triacetyl cellulose is dissolved in a solvent, and an optional component is mixed as needed to prepare a solution (dope). Thereafter, the dope is cast from a dope feeder (such as a die) onto a support to obtain a flowable product. When this cast material is dried to some extent to impart rigidity, it is peeled off from the support as a film. Then, the resin film is obtained by further drying the said film and removing a solvent.

原料フレークを溶解する溶媒としては、例えば、ハロゲン化炭化水素溶媒(ジクロロメタン等)、アルコール溶媒(メタノール、エタノール、ブタノール等)、エステル溶媒(蟻酸メチル、酢酸メチル等)、エーテル溶媒(ジオキサン、ジオキソラン、ジエチルエーテル等)等が挙げられる。   As a solvent for dissolving the raw material flakes, for example, halogenated hydrocarbon solvents (dichloromethane etc.), alcohol solvents (methanol, ethanol, butanol etc.), ester solvents (methyl formate, methyl acetate etc.), ether solvents (dioxane, dioxolane, And diethyl ether etc.

ドープに混合しうる任意の成分としては、例えば、レターデーション上昇剤、可塑剤、紫外線吸収剤、劣化防止剤、滑り剤、剥離促進剤等が挙げられる。
ドープを流延する支持体としては、例えば、水平式のエンドレスの金属ベルト、回転するドラムが挙げられる。
Examples of optional components that can be mixed in the dope include a retardation increasing agent, a plasticizer, an ultraviolet absorber, an antidegradant, a slip agent, a peeling accelerator and the like.
The support for casting the dope includes, for example, a horizontal endless metal belt and a rotating drum.

ドープの流延に際しては、単一のドープを単層流延してもよく、複数の層を共流延してもよい。複数の層を共流延する場合、例えば、低濃度のセルロースエステルドープの層と、そのおもて面及び裏面に接して設けられた高濃度のセルロースエステルドープの層が形成されるよう、複数のドープを順次流延しうる。
フィルムを乾燥して溶媒を除去する手段の例としては、フィルムを搬送して、内部を乾燥に適した条件に設定した乾燥部を通過させる手段が挙げられる。
In casting the dope, a single dope may be cast in a single layer, or a plurality of layers may be co-cast. In the case of co-casting a plurality of layers, for example, a plurality of layers of low concentration cellulose ester dope and a plurality of layers of high concentration cellulose ester dope provided in contact with the front surface and the back surface are formed. Can be cast sequentially.
As an example of a means to dry a film and to remove a solvent, the means to convey a film and to let the inside pass through the drying part set to the conditions suitable for drying is mentioned.

トリアセチルセルロースを含む樹脂のフィルムの好ましい例としては、富士写真フィルム社製「TAC−TD80U」、並びに、発明協会公開技報公技番号2001−1745号にて公開されたものが挙げられる。   Preferred examples of the film of a resin containing triacetyl cellulose include those disclosed in "TAC-TD80U" manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd., and JP-A No. 2001-1745.

トリアセチルセルロースを含む樹脂のフィルムを基材フィルム20として用いる場合、当該基材フィルム20の厚みは、好ましくは20μm以上、より好ましくは30μm以上、特に好ましくは40μm以上であり、好ましくは150μm以下、より好ましくは130μm以下、とくに好ましくは120μm以下である。   When a film of a resin containing triacetyl cellulose is used as the base film 20, the thickness of the base film 20 is preferably 20 μm or more, more preferably 30 μm or more, particularly preferably 40 μm or more, and preferably 150 μm or less. More preferably, it is 130 μm or less, particularly preferably 120 μm or less.

前記の樹脂フィルムは、延伸処理を施されていてもよい。延伸処理を施すことにより、樹脂フィルムの表面の平滑性を向上させることができる。また、適切な延伸条件で延伸処理を施すことにより、樹脂フィルムにレターデーション等の光学特性を発現させたり、樹脂フィルムの表面に配向規制力を発現させたりできる。   The resin film may be subjected to a stretching process. By applying the stretching treatment, the smoothness of the surface of the resin film can be improved. In addition, by subjecting the resin film to stretching treatment under appropriate stretching conditions, it is possible to cause the resin film to exhibit optical characteristics such as retardation, or to cause the surface of the resin film to exhibit an orientation regulating force.

樹脂フィルムの表面が配向規制力を有する場合、その表面に液晶組成物を塗工して塗工層を形成すると、塗工層に含まれる液晶組成物中の液晶化合物を、前記の配向規制力に応じて配向させられる。よって、塗工液として液晶組成物を用いる場合には、前記のような延伸処理を施された樹脂フィルムを基材フィルム20として用いることは、有用である。   When the surface of the resin film has an alignment regulating power, when the liquid crystal composition is coated on the surface to form a coating layer, the liquid crystal compound in the liquid crystal composition contained in the coating layer is It is oriented according to Therefore, when using a liquid-crystal composition as a coating liquid, it is useful to use the resin film to which the above extending | stretching processes were performed as the base film 20. As shown in FIG.

延伸によって樹脂フィルムに配向規制力が発現する方向は、通常、延伸による配向方向と一致する。延伸による配向方向とは、延伸により生じた、樹脂フィルムを構成する分子の配向の方向であり、通常は延伸方向そのものに一致する。   The direction in which the orientation control force is expressed in the resin film by stretching usually coincides with the orientation direction by stretching. The orientation direction by stretching is the direction of the orientation of molecules constituting the resin film, which is produced by stretching, and usually corresponds to the stretching direction itself.

延伸による配向方向と樹脂フィルムの幅方向とがなす角度は、0〜90°としうる。特に、0°超90°未満の角度としうる。このような範囲の角度において配向方向を有することにより、当該樹脂フィルムを、円偏光板等の効率的な製造を可能にする材料とすることができる。   The angle between the orientation direction by stretching and the width direction of the resin film may be 0 to 90 °. In particular, the angle may be more than 0 ° and less than 90 °. By having the orientation direction at such a range of angles, the resin film can be made a material that enables efficient production such as a circularly polarizing plate.

また、ある態様において、樹脂フィルムの配向方向と樹脂フィルムの幅方向とがなす角度は、10°〜60°であることが好ましく、40°〜50°であることが特に好ましい。このような角度関係とすることにより、当該樹脂フィルムを、特定の円偏光板の効率的な製造を可能にする材料とすることができる。具体的には、直線偏光子と、一枚又は二枚の位相差板とを有する円偏光板の効率的な製造が可能となる。   In one aspect, an angle between the orientation direction of the resin film and the width direction of the resin film is preferably 10 ° to 60 °, and particularly preferably 40 ° to 50 °. By setting it as such an angular relationship, the said resin film can be made into the material which enables efficient manufacture of a specific circularly-polarizing plate. Specifically, efficient production of a circularly polarizing plate having a linear polarizer and one or two retardation plates is possible.

より具体的には、樹脂フィルムの配向方向と樹脂フィルムの幅方向とがなす角度を、好ましくは15°±5°、22.5±5°、45°±5°、75°±5°、より好ましくは15°±4°、22.5±4°、45°±4°、75°±4°、さらにより好ましくは15°±3°、22.5°±3°、45°±3°、75°±3°といった特定の範囲とすることにより、当該樹脂フィルムを、特定の円偏光板の効率的な製造を可能にする材料とすることができる。   More specifically, the angle between the orientation direction of the resin film and the width direction of the resin film is preferably 15 ° ± 5 °, 22.5 ± 5 °, 45 ° ± 5 °, 75 ° ± 5 °, More preferably, 15 ° ± 4 °, 22.5 ± 4 °, 45 ° ± 4 °, 75 ° ± 4 °, even more preferably 15 ° ± 3 °, 22.5 ° ± 3 °, 45 ° ± 3 By setting it as a specific range, such as ° and 75 ° ± 3 °, the resin film can be made a material that enables efficient production of a specific circularly polarizing plate.

基材フィルム20としては、通常、長尺のフィルムを用いる。長尺のフィルムとは、幅に対して5倍以上の長さを有する形状をいい、好ましくは10倍若しくはそれ以上の長さを有し、具体的にはロール状に巻き取られて保管又は運搬される程度の長さを有するフィルムの形状をいう。基材フィルム20の具体的な長さは、好ましくは500m以上、より好ましくは1,000m以上、特に好ましくは2,000m以上である。このように長い基材フィルム20に塗工液30を塗工して塗工層40を形成する際、上述した塗工装置10によれば、塗工層40における厚みムラの発生頻度を低くできる。そのため、塗工フィルム50の歩留まりを高めることが可能となるので、工業生産上、大きな利点が得られる。基材フィルム20の長さの上限に特段の制限は無いが、好ましくは8,000m以下、より好ましくは5,000m以下、特に好ましくは4,000m以下である。   Usually, a long film is used as the base film 20. A long film refers to a shape having a length 5 times or more the width, preferably 10 times or more, and more specifically wound in a roll and stored or It refers to the shape of a film having a length that can be transported. The specific length of the base film 20 is preferably 500 m or more, more preferably 1,000 m or more, and particularly preferably 2,000 m or more. As described above, when the coating liquid 30 is applied to the long base film 20 to form the coating layer 40, according to the coating device 10 described above, the occurrence frequency of thickness unevenness in the coating layer 40 can be reduced. . As a result, the yield of the coated film 50 can be enhanced, and a great advantage can be obtained in industrial production. The upper limit of the length of the substrate film 20 is not particularly limited, but is preferably 8,000 m or less, more preferably 5,000 m or less, and particularly preferably 4,000 m or less.

基材フィルム20の幅は、好ましくは1,000mm以上、より好ましくは1,200mm以上、特に好ましくは1,300mm以上であり、好ましくは3,000mm以下、より好ましくは2,600mm以下、特に好ましくは2,500mm以下である。   The width of the substrate film 20 is preferably 1,000 mm or more, more preferably 1,200 mm or more, particularly preferably 1,300 mm or more, preferably 3,000 mm or less, more preferably 2,600 mm or less, particularly preferably Is less than 2,500 mm.

[7.塗工液]
次に、塗工装置10によって塗工される塗工液30を説明する。塗工液30としては、液体状の任意の材料を用いうる。したがって、塗工液30の種類は、製造しようとする塗工フィルム50の用途に応じて、適切なものを任意の選択しうる。
[7. Coating fluid]
Next, the coating liquid 30 applied by the coating apparatus 10 will be described. As the coating liquid 30, any material in liquid form can be used. Therefore, the type of the coating liquid 30 may be selected as appropriate depending on the application of the coating film 50 to be produced.

塗工液30としては、例えば、ハードコート液を用いる。このハードコート液を塗工液30として用いることにより、硬化後の塗工層40として、高い硬度を有するハードコート層を得ることができる。   As the coating liquid 30, for example, a hard coating liquid is used. By using this hard coat liquid as the coating liquid 30, a hard coat layer having high hardness can be obtained as the coated layer 40 after curing.

このハードコート液としては、重合性単量体を含む液状組成物を用いうる。ここで用語「液状組成物」には、2種類以上の成分を含む材料だけでなく、1種類の成分のみを含む材料を包含する。特に、ハードコート液は、重合性単量体として、(メタ)アクリロイル基を1分子中に3個以上有する化合物を、重合性単量体の全量の50重量%以上含む液状組成物が好ましい。このようなハードコート液は、通常、活性エネルギー線の照射によって硬化しうる。   As the hard coat solution, a liquid composition containing a polymerizable monomer can be used. Here, the term "liquid composition" includes not only materials containing two or more components but also materials containing only one component. In particular, a hard coat solution is preferably a liquid composition containing, as a polymerizable monomer, a compound having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule in 50% by weight or more of the total amount of the polymerizable monomer. Such hard coat solution can usually be cured by irradiation with active energy rays.

(メタ)アクリロイル基を1分子中に3個以上有する化合物としては、例えば、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of compounds having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule include pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, and dipentaerythritol penta ( Examples include meta) acrylates and dipentaerythritol hexa (meth) acrylates.

また、(メタ)アクリロイル基を1分子中に3個以上有する化合物は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。例えば、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートとペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレートとの組み合わせ;ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレートとジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレートとジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレートとの組み合わせを用いてもよい。   Moreover, the compound which has 3 or more of (meth) acryloyl groups in 1 molecule may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios. For example, combination of pentaerythritol tri (meth) acrylate and pentaerythritol tetra (meth) acrylate; combination of dipentaerythritol tetra (meth) acrylate and dipentaerythritol penta (meth) acrylate and dipentaerythritol hexa (meth) acrylate May be used.

中でも、ハードコート液としては、1分子中に(メタ)アクリロイル基を4個以上有する化合物を、重合性単量体の全量の60重量%以上含む液状組成物が好ましい。さらには、ハードコート液としては、1分子中に(メタ)アクリロイル基を4個有する化合物、5個有する化合物、及び、6個有する化合物を、合計で、重合性単量体の全量の80重量%以上含む液状組成物が、特に好ましい。   Among them, as the hard coat solution, a liquid composition containing a compound having four or more (meth) acryloyl groups in one molecule in an amount of 60% by weight or more of the total amount of polymerizable monomers is preferable. Furthermore, as the hard coat solution, 80 weight of the total of the polymerizable monomers in total is a compound having four compounds having five (meth) acryloyl groups in one molecule, and a compound having six compounds in one molecule. Particularly preferred is a liquid composition containing at least%.

前記のハードコート液は、(メタ)アクリロイル基を1分子中に3個以上有する化合物に組み合わせて、任意の重合性単量体を含んでいてもよい。任意の重合性単量体としては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート等の3官能の(メタ)アクリレート類;エチレングリコールジアクリレート、エチレングリコールジメタクリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、メタクリル酸アリル、フタル酸ジアリル、トリメチロールプロパントリアクリレート、グリセリンジアリルエーテル、ポリエチレングリコールジメタクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート等の多官能不飽和単量体類;ビスフェノキシエタノールフルオレンジアクリレート、2−プロペノイックアシッド[5,5’−(9−フルオレン−9−イリデン)ビス(1,1’−ビフェニル)−2−(ポリオキシエチレン)エステル]、2−プロペノイックアシッド[5,5’−4−(1,1’ビフェニリル)メチレンビス(1,1’−ビフェニル)−2−(ポリオキシエチレン)エステル]等の芳香環及び(メタ)アクリロイル基を有する化合物類;メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート等の炭素数1〜30のアルキル(メタ)アクリレート類のアクリル系不飽和単量体類;等が挙げられる。また、これらは、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。   The hard coat solution may contain any polymerizable monomer in combination with a compound having three or more (meth) acryloyl groups in one molecule. As the optional polymerizable monomer, for example, trifunctional (meth) acrylates such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate and pentaerythritol tri (meth) acrylate; ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol Polyfunctional unsaturated monomers such as dimethacrylate, allyl methacrylate, diallyl phthalate, trimethylolpropane triacrylate, glycerin diallyl ether, polyethylene glycol dimethacrylate, polyethylene glycol diacrylate; bisphenoxyethanol fluoro orange acrylate, 2-prope acrylate Noic acid [5,5 '-(9-fluoren-9-ylidene) bis (1,1'-biphenyl) -2- (polyoxyethylene) ester] Aromatic rings and (meth) acryloyl groups such as 2-propenoic acid [5,5'-4- (1,1'biphenylyl) methylene bis (1,1'-biphenyl) -2- (polyoxyethylene) ester] and the like Compounds having methyl; (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, nonyl The acrylic unsaturated monomers of C1-C30 alkyl (meth) acrylates, such as (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate; etc. are mentioned. Moreover, these may be used individually by 1 type and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios.

前記のハードコート液は、カルボキシル基と重合性炭素−炭素二重結合とを有する化合物を、重合性単量体の全量中の0.01〜5重量%含むことが好ましい。これにより、ハードコート層の表面抵抗値を低くできる。前記のカルボキシル基と重合性炭素−炭素二重結合とを有する化合物としては、例えば、アクリル酸;メタクリル酸;クロトン酸;フマル酸;イタコン酸;ムコン酸;無水マレイン酸とモノアルコールとのハーフエステル類;ジペンタエリスリトールペンタアクリレート及びペンタエリスリトールトリアクリレート等の水酸基を有するアクリレート類中の水酸基の一部が、アクリル酸の炭素−炭素二重結合に付加した化合物;ジペンタエリスリトールペンタアクリレート及びペンタエリスリトールトリアクリレート等の水酸基を有するアクリレート類中の水酸基とジカルボン酸もしくは無水カルボン酸とが反応した化合物;などが挙げられる。これらは、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。   The hard coat solution preferably contains 0.01 to 5% by weight of a compound having a carboxyl group and a polymerizable carbon-carbon double bond in the total amount of the polymerizable monomer. Thereby, the surface resistance value of the hard coat layer can be lowered. Examples of the compound having a carboxyl group and a polymerizable carbon-carbon double bond include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, fumaric acid, itaconic acid, muconic acid, half ester of maleic anhydride and monoalcohol A compound in which a part of hydroxyl groups in acrylates having hydroxyl groups such as dipentaerythritol pentaacrylate and pentaerythritol triacrylate is added to a carbon-carbon double bond of acrylic acid; dipentaerythritol pentaacrylate and pentaerythritol triacrylate The compound which the hydroxyl group in acrylates which have hydroxyl groups, such as an acrylate, and dicarboxylic acid or carboxylic acid anhydride reacted, etc. are mentioned. One of these may be used alone, or two or more of them may be used in combination at an arbitrary ratio.

前記のハードコート液の酸価は、0.01mgKOH/g〜0.05mgKOH/gであることが好ましい。ハードコート液の酸価が、前記範囲の下限値以上であることにより、ハードコート層の表面抵抗値を効果的に低くでき、また、前記範囲の上限値以下であることにより、ハードコート液の安定性を良好にできる。
前記の酸化は、JIS K 0070(化学製品の酸価、けん化価、エステル価、よう素価、水酸基価及び不けん化物の試験方法)により、指示薬にブロモチモールブルーを用いて測定しうる。
The acid value of the hard coat solution is preferably 0.01 mg KOH / g to 0.05 mg KOH / g. When the acid value of the hard coat solution is not less than the lower limit value of the above range, the surface resistance value of the hard coat layer can be effectively lowered, and by being not more than the upper limit value of the above range, Good stability can be achieved.
The above oxidation can be measured according to JIS K 0070 (Test method of acid value, saponification value, ester value, iodine value, hydroxyl value and unsaponifiable matter of chemical product) using bromothymol blue as an indicator.

前記のハードコート液は、光重合開始剤を含むことが好ましい。光重合開始剤としては、例えば、ベンゾイン誘導体、ベンジルケタール類、α−ヒドロキシアセトフェノン類、α−アミノアセトフェノン類、アシルフォスフィンオキサイド類、o−アシルオキシム類等が挙げられる。また、市販の光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン/アミン、ミヒラーケトン/ベンゾフェノン、チオキサントン/アミンなどの組み合わせ(チバガイギー社製「イルガキュア」及び「ダロキュア」等)が挙げられる。光重合開始剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。   The hard coat solution preferably contains a photopolymerization initiator. Examples of the photopolymerization initiator include benzoin derivatives, benzyl ketals, α-hydroxyacetophenones, α-aminoacetophenones, acyl phosphine oxides, o-acyl oximes and the like. In addition, examples of commercially available photopolymerization initiators include combinations of benzophenone / amine, Michler's ketone / benzophenone, thioxanthone / amine and the like (“IRGACURE” and “Darocure” manufactured by Ciba Geigy, etc.). A photoinitiator may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios.

光重合開始剤の量は、重合性単量体100重量部に対して、好ましくは1重量部以上、より好ましくは2重量部以上、特に好ましくは3重量部以上であり、好ましくは20重量部以下、より好ましくは15重量部以下、特に好ましくは10重量部以下である。光重合開始剤の量を前記の範囲にすることで、重合性単量体の重合を効率良く進行させることができ、かつ光重合開始剤の過剰混合を避けて、未反応の光重合開始剤に起因するハードコート層の黄変及び膜物性の変化を抑制することができる。   The amount of the photopolymerization initiator is preferably 1 part by weight or more, more preferably 2 parts by weight or more, particularly preferably 3 parts by weight or more, and preferably 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polymerizable monomer. The content is more preferably 15 parts by weight or less, particularly preferably 10 parts by weight or less. By setting the amount of the photopolymerization initiator in the above range, the polymerization of the polymerizable monomer can be efficiently progressed, and the excessive mixing of the photopolymerization initiator is avoided, and the unreacted photopolymerization initiator It is possible to suppress the yellowing of the hard coat layer and the change in film physical properties caused by the

前記のハードコート層は、必要に応じて、溶媒を含みうる。溶媒としては、例えば、水;メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、ジアセトンアルコール、フルフリルアルコール、テトラヒドロフルフリルアルコール、エチレングリコール、ヘキシレングリコール、イソプロピルグリコールなどのアルコール類;酢酸メチルエステル、酢酸エチルエステルなどのエステル類;ジエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフランなどのエーテル類;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、アセチルアセトン、アセト酢酸エステルなどのケトン類;メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ等のセロソルブ類;トルエン、キシレンなどの芳香族化合物;イソホロン;などが挙げられる。溶媒は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。   The above hard coat layer may optionally contain a solvent. As a solvent, for example, water; alcohols such as water, methanol, ethanol, propanol, isopropanol, butanol, diacetone alcohol, furfuryl alcohol, tetrahydrofurfuryl alcohol, ethylene glycol, hexylene glycol, isopropyl glycol, etc .; acetic acid methyl ester, acetic acid Esters such as ethyl ester; Diethyl ether, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, ethers such as tetrahydrofuran; acetone, methyl ethyl ketone, Methyl isobutyl ketone, acetylacetonate Emissions, ketones such as acetoacetate; methyl cellosolve, ethyl cellosolve, cellosolve such as butyl cellosolve; toluene, aromatic compounds such as xylene; isophorone; and the like. A solvent may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios.

前記の溶媒の中でも、親水性の溶媒が好ましい。親水性の溶媒を用いることにより、ハードコート液を塗工する際に、空気中の水分を吸収することによる白化を抑制できる。特に、25℃における水の溶解度が5g(水)/100g(ケトン)以上である水溶性ケトン類が好ましく、具体的にはメチルエチルケトン及びアセトンが好ましい。   Among the above-mentioned solvents, hydrophilic solvents are preferable. By using a hydrophilic solvent, whitening due to absorption of moisture in the air can be suppressed when the hard coat solution is applied. In particular, water-soluble ketones having a water solubility at 25 ° C. of 5 g (water) / 100 g (ketone) or more are preferable, and specifically, methyl ethyl ketone and acetone are preferable.

一般に、基材フィルムに対して透明の塗工層を形成して得られるフィルムでは、基材フィルムと塗工層との界面、及び、塗工層と空気層との界面において、光の干渉による虹模様の干渉縞が生じ、フィルムの視認性を妨げることがあった(フリンジ)。これに対し、基材フィルムへの浸食が強い溶媒を用いると、基材フィルムと塗工層との界面が荒らされることで、前記の界面で反射する光を乱すことができる。そのため、光の干渉を抑制して、干渉縞を低減することが可能である。このように基材フィルムへの浸食が強い溶媒としては、例えば基材フィルムとしてトリアセチルセルロースを用いる場合には、エステル類及びケトン類が挙げられ、中でも、酢酸メチル、ジメチルカーボネート、メチルエチルケトン及びアセトンが好ましい。   Generally, in a film obtained by forming a coating layer transparent to a base film, light interference occurs at the interface between the base film and the coating layer and at the interface between the coating layer and the air layer. Rainbow-like interference fringes may occur and interfere with film visibility (fringe). On the other hand, when a solvent that strongly corrodes the base film is used, the interface between the base film and the coating layer is roughened, so that light reflected at the interface can be disturbed. Therefore, it is possible to suppress interference of light and reduce interference fringes. Thus, when using triacetyl cellulose as a base film, for example, esters and ketones may be mentioned as a solvent which is strongly eroded to the base film, and among them, methyl acetate, dimethyl carbonate, methyl ethyl ketone and acetone are mentioned. preferable.

溶媒の量は、ハードコート液の粘度が、塗工液に求められる好ましい範囲に収まるように設定しうる。   The amount of the solvent can be set so that the viscosity of the hard coating solution falls within the preferable range required for the coating solution.

また、ハードコート液は、上述した重合性単量体、光重合開始剤及び溶媒に加えて、任意の成分を含みうる。任意の成分としては、例えば、屈折率調整、導電性付与、反射防止能付与のための金属酸化物微粒子;ブロッキング防止のための有機微粒子;染料、顔料等の着色剤;蛍光材料、燐光材料等の発光材料;レベリング剤;チキソ剤;ゲル化剤;多糖類;紫外線吸収剤;赤外線吸収剤;抗酸化剤;イオン交換樹脂;などが挙げられる。また、任意の成分は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。かかる任意の添加剤の配合割合は、重合性単量体100重量部に対し、通常、各々0.1〜20重量部である。   In addition to the above-mentioned polymerizable monomer, photopolymerization initiator and solvent, the hard coat solution may contain optional components. Optional components include, for example, fine particles of metal oxide for adjusting refractive index, imparting conductivity, imparting of antireflective ability; organic fine particles for preventing blocking; coloring agents such as dyes and pigments; fluorescent materials, phosphorescent materials, etc. Leveling agent, thixo agent, gelling agent, polysaccharide, UV absorber, infrared absorber, antioxidant, ion exchange resin, and the like. In addition, as the optional components, one type may be used alone, or two or more types may be used in combination at an optional ratio. The blending ratio of such optional additives is usually 0.1 to 20 parts by weight for each 100 parts by weight of the polymerizable monomer.

また、塗工液30としては、例えば、重合性液晶化合物を含有する液晶組成物(以下において、当該組成物を、「組成物(A)」と略称する場合がある。)を用いうる。この組成物(A)を用いることにより、硬化後の塗工層40として、硬化液晶分子を含む光学異方性層を得ることができる。「硬化液晶分子」とは、液晶相を呈しうる化合物を、液晶相を呈した状態のまま固体とした際の当該化合物の分子を意味する。硬化液晶分子の例としては、硬化性の液晶化合物を硬化させてなるものが挙げられ、より具体的には、重合性液晶化合物を重合させてなる重合体が挙げられる。   In addition, as the coating liquid 30, for example, a liquid crystal composition containing a polymerizable liquid crystal compound (hereinafter, the composition may be abbreviated as "composition (A)") can be used. By using this composition (A), an optically anisotropic layer containing cured liquid crystal molecules can be obtained as the coated layer 40 after curing. The “cured liquid crystal molecule” means a molecule of a compound capable of exhibiting a liquid crystal phase when the compound is made solid as it is in a state of exhibiting a liquid crystal phase. Examples of the cured liquid crystal molecules include those obtained by curing a curable liquid crystal compound, and more specifically, polymers obtained by polymerizing a polymerizable liquid crystal compound.

組成物(A)の成分としての液晶化合物とは、組成物(A)に配合し配向させた際に、液晶相を呈しうる化合物である。重合性液晶化合物とは、かかる液晶相を呈した状態で組成物(A)中で重合し、液晶相における分子の配向を維持したまま重合体となりうる液晶化合物である。さらに、逆波長分散重合性液晶化合物とは、そのように重合体とした場合、得られた重合体が逆波長分散性を示す重合性液晶化合物である。以下の説明では、組成物(A)の成分であって、重合性を有する化合物(重合性液晶化合物及びその他の重合性を有する化合物等)を総称して、単に「重合性化合物」ということがある。   The liquid crystal compound as a component of the composition (A) is a compound which can exhibit a liquid crystal phase when it is blended in the composition (A) and oriented. The polymerizable liquid crystal compound is a liquid crystal compound which can be polymerized in the composition (A) in a state of exhibiting such a liquid crystal phase, and can become a polymer while maintaining the alignment of molecules in the liquid crystal phase. Furthermore, the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound is a polymerizable liquid crystal compound in which the obtained polymer exhibits reverse wavelength dispersibility when it is thus made into a polymer. In the following description, it is a component of the composition (A), and a compound having a polymerizability (a polymerizable liquid crystal compound and another compound having a polymerizability, etc.) is generically referred to simply as a "polymerizable compound". is there.

重合性液晶化合物の例としては、各種の円盤状液晶化合物、及び棒状液晶化合物が挙げられる。   Examples of the polymerizable liquid crystal compound include various discotic liquid crystal compounds and rod-like liquid crystal compounds.

円盤状液晶化合物の例としては、円盤状コア(ディスコティックコア)及び重合性基を有し、液晶相を呈しうる各種の化合物が挙げられる。円盤状液晶化合物は、通常、分子自身が光学的に負の一軸性を有する。円盤状液晶化合物としては、特に、ハイブリッド配向しうるものが好ましい。円盤状液晶化合物を用いて形成され、ハイブリッド配向した光学異方性層は、例えば、TN型液晶セルの視角特性改良に有用である。円盤状液晶化合物として、側鎖末端にエポキシ基やアクリレート基のような架橋基を有するものを用い、ディスコティックネマティック相形成温度範囲において架橋させることによりその配向構造を熱的に安定に保つことができる。   Examples of the discotic liquid crystal compound include various compounds having a discotic core (discotic core) and a polymerizable group and capable of exhibiting a liquid crystal phase. In the discotic liquid crystal compound, usually the molecule itself has optically negative uniaxiality. Especially as a discotic liquid crystal compound, what can be hybrid-aligned is preferable. An optically anisotropic layer formed by using a discotic liquid crystal compound and hybrid-aligned is useful, for example, for improving the viewing angle characteristics of a TN liquid crystal cell. As the discotic liquid crystal compound, one having a crosslinking group such as an epoxy group or an acrylate group at the side chain terminal is used to keep the orientation structure thermally stable by crosslinking in the discotic nematic phase forming temperature range. it can.

円盤状液晶化合物のより具体的な例としては、以下の円盤状液晶化合物D1〜D3が挙げられる。   More specific examples of the discotic liquid crystal compound include the following discotic liquid crystal compounds D1 to D3.

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円盤状液晶化合物D1〜D3において、置換基Rの例としては、−O−C(=O)−C2n+1、−O−C(=O)−Ph−O−C2n+1、−O−C(=O)−C2n−O−C(=O)−CH=CH、−O−C(=O)−C2n−O−C(=O)−C(CH)=CH、−O−C(=O)−C2n−O−CH=CH、−O−C(=O)−C2n−O−C(CH)=CH、−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−C(=O)−CH=CH、−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−C(=O)−C(CH)=CH、−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−CH=CH、及び−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−C(CH)=CHが挙げられる。これらの中でも、−O−C(=O)−C2n−O−C(=O)−CH=CH、−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−C(=O)−CH=CH、及び−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−CH=CHが好ましく、−O−C(=O)−Ph−O−C2n−O−C(=O)−CH=CHが更に好ましい。ここで、「−Ph−」は、フェニレン基を表す。 In the discotic liquid crystal compounds D1 to D3, examples of the substituent R include —O—C (= O) —C n H 2n + 1 , —O—C (= O) —Ph—O—C n H 2n + 1 , − O-C (= O) -C n H 2n -O-C (= O) -CH = CH 2, -O-C (= O) -C n H 2n -O-C (= O) -C ( CH 3 ) = CH 2 , —O—C (= O) —C n H 2 n —O—CH = CH 2 , —O—C (= O) —C n H 2 n —O—C (CH 3 ) = CH 2, -O-C (= O) -Ph-O-C n H 2n -O-C (= O) -CH = CH 2, -O-C (= O) -Ph-O-C n H 2n -O-C (= O) -C (CH 3) = CH 2, -O-C (= O) -Ph-O-C n H 2n -O-CH = CH 2, and -O-C ( = O) -Ph-O-C n H 2n -O-C ( H 3) = CH 2 and the like. Among them, -O-C (= O) -C n H 2n -O-C (= O) -CH = CH 2, -O-C (= O) -Ph-O-C n H 2n -O -C (= O) -CH = CH 2 and -O-C (= O) -Ph-O-C n H 2 n -O-CH = CH 2 are preferable, and -O-C (= O) -Ph -O-C n H 2n -O- C (= O) -CH = CH 2 is more preferable. Here, "-Ph-" represents a phenylene group.

置換基Rにおいて、nは、好ましくは3〜10の自然数であり、より好ましくは4〜8の自然数である。円盤状液晶化合物D2において、Xは、CH、O、S又はNHである。中でも、CH又はOが好ましく、CHが更に好ましい。 In the substituent R, n is preferably a natural number of 3 to 10, and more preferably a natural number of 4 to 8. In the discotic liquid crystal compound D2, X is CH 2 , O, S or NH. Among them, CH 2 or O is preferable, and CH 2 is more preferable.

円盤状液晶性化合物の他の具体例としては、特開平8−50206号公報、及び文献(C. Destrade et al., Mol. Crysr. Liq. Cryst., vol. 71, page 111 (1981) ;日本化学会編、季刊化学総説、No.22、液晶の化学、第5章、第10章第2節(1994);B. Kohne et al., Angew. Chem. Soc. Chem. Comm., page 1794 (1985);J. Zhang et al., J. Am. Chem. Soc., vol. 116, page 2655 (1994))に記載されているものが挙げられる。   Other specific examples of the discotic liquid crystal compound include: JP-A-8-52206 and a document (C. Destrade et al., Mol. Crysr. Liq. Cryst., Vol. 71, page 111 (1981); Chemical Society of Japan, Quarterly Chemical Review, No. 22, Chemistry of Liquid Crystals, Chapter 5, Chapter 10, Section 2 (1994); B. Kohne et al., Angew. Chem. Soc. Chem. Comm., Page 1794 (1985); J. Zhang et al., J. Am. Chem. Soc., Vol. 116, page 2655 (1994)).

重合性液晶化合物として、円盤状液晶化合物、主鎖骨格に芳香族を有する芳香族ポリエステル、芳香族ポリカーボネート、芳香族ポリイミド、芳香族ポリアミド等を用いた場合、得られる光学異方性層を、負の一軸性を有する層としうる。光学異方性層の負の一軸性とは、光学異方性層の3軸方向屈折率を、その値が小さい順にn1、n2、及びn3としたとき、n1<n2=n3の関係を有する性質である。したがって、負の一軸性を有する光学異方性層においては、光学軸方向の屈折率が最も小さい。ただし、n2及びn3の値は厳密に等しい必要はなく、ほぼ等しい場合は、負の一軸性を有するとしうる。具体的には、
(|n2−n3|/|n2−n1|)≦0.2
であるものを、負の一軸性を有する層として実用に供しうる。また、ツイスティッドネマチック型液晶セルの視野角特性を大幅に改良しうる光学異方性層を得るためには、光学軸は、光学異方性層の面の法線方向からの傾きβが5°〜60°であることが好ましく、10°〜50°がより好ましく、20°〜40°が特に好ましい。さらに、光学異方性層は、50≦Re≦400(nm)の条件を満足することが好ましい。
When a discotic liquid crystal compound, an aromatic polyester having an aromatic main chain skeleton, an aromatic polycarbonate, an aromatic polyimide, an aromatic polyamide or the like is used as the polymerizable liquid crystal compound, the obtained optically anisotropic layer is It can be a layer having uniaxiality. The negative uniaxiality of the optically anisotropic layer has a relationship of n1 <n2 = n3 when the refractive index in the triaxial direction of the optically anisotropic layer is n1, n2 and n3 in ascending order of their values. It is a nature. Therefore, in the optically anisotropic layer having negative uniaxiality, the refractive index in the optical axis direction is the smallest. However, the values of n2 and n3 do not have to be strictly equal, and if they are approximately equal, they may have negative uniaxiality. In particular,
(| N2-n3 | / | n2-n1 |) ≦ 0.2
Can be put to practical use as a layer having negative uniaxiality. Further, in order to obtain an optical anisotropic layer capable of greatly improving the viewing angle characteristics of the twisted nematic liquid crystal cell, the optical axis has an inclination β of 5 from the normal direction of the surface of the optical anisotropic layer. It is preferable that it is 60 to 60 °, more preferably 10 to 50 °, and particularly preferably 20 to 40 °. Further, the optically anisotropic layer preferably satisfies the condition of 50 ≦ Re ≦ 400 (nm).

棒状液晶化合物の例としては、特開2002−030042号公報、特開2004−204190号公報、特開2005−263789号公報、特開2007−119415号公報、特開2007−186430号公報、及び特開平11−513360号公報に記載された重合性基を有する棒状液晶化合物が挙げられる。また、好ましい液晶化合物の例を製品名で挙げると、BASF社製「LC242」等が挙げられる。液晶化合物は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。   Examples of rod-like liquid crystal compounds include: JP-A-2002-030042, JP-A-2004-204190, JP-A-2005-263789, JP-A-2007-119415, JP-A-2007-186430, and the like. The rod-shaped liquid crystal compound which has a polymeric group described in the Hei 11-513360 gazette is mentioned. Moreover, if the example of a preferable liquid crystal compound is mentioned by a product name, "LC242" by BASF Corporation etc. will be mentioned. The liquid crystal compounds may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

棒状液晶化合物の屈折率異方性Δnは、好ましくは0.02以上、より好ましくは0.05以上であり、好ましくは0.30以下、より好ましくは0.25以下である。屈折率異方性Δnが0.02未満では、所望の光学的機能を得るために光学異方性層の厚さが厚くなって配向均一性が低下する可能性があり、また、経済コスト的にも不利である。屈折率異方性Δnが0.30より大きいと、所望の光学的機能を得るために光学異方性層の厚さが薄くなり、厚さ精度に対して不利である。また、Δnが0.30より大きい場合、光学異方性層の紫外線吸収スペクトルの長波長側の吸収端が可視域に及ぶ場合がありえるが、該スペクトルの吸収端が可視域に及んでも所望する光学的性能に悪影響を及ぼさない限り、使用可能である。組成物(A)が液晶化合物を1種類だけ含む場合には、当該液晶化合物の屈折率異方性を、そのまま組成物(A)における液晶化合物の屈折率異方性とする。また、組成物(A)が液晶化合物を2種類以上含む場合には、各液晶化合物それぞれの屈折率異方性Δnの値と各液晶化合物の含有比率とから求めた屈折率異方性Δnの値を、組成物(A)における液晶化合物の屈折率異方性とする。屈折率異方性Δnの値は、セナルモン法により測定しうる。
これらの液晶化合物及び以下に説明する逆波長分散重合性液晶化合物は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
The refractive index anisotropy Δn of the rod-like liquid crystal compound is preferably 0.02 or more, more preferably 0.05 or more, preferably 0.30 or less, more preferably 0.25 or less. If the refractive index anisotropy Δn is less than 0.02, the thickness of the optically anisotropic layer may be thickened to obtain the desired optical function, and the orientation uniformity may be lowered, and it is economical and economical Is also disadvantageous. If the refractive index anisotropy Δn is larger than 0.30, the thickness of the optically anisotropic layer becomes thin in order to obtain a desired optical function, which is disadvantageous for thickness accuracy. When Δn is larger than 0.30, the absorption edge on the long wavelength side of the ultraviolet absorption spectrum of the optically anisotropic layer may extend to the visible range, but it is desirable even if the absorption end of the spectrum extends to the visible range. It can be used as long as it does not adversely affect the optical performance. When the composition (A) contains only one kind of liquid crystal compound, the refractive index anisotropy of the liquid crystal compound is taken as it is as the refractive index anisotropy of the liquid crystal compound in the composition (A). When the composition (A) contains two or more liquid crystal compounds, the refractive index anisotropy Δn determined from the value of the refractive index anisotropy Δn of each liquid crystal compound and the content ratio of each liquid crystal compound The value is taken as the refractive index anisotropy of the liquid crystal compound in the composition (A). The value of the refractive index anisotropy Δn can be measured by the Senalmon method.
These liquid crystal compounds and the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compounds described below may be used alone or in combination of two or more at an arbitrary ratio.

重合性液晶化合物の一部又は全部として、逆波長分散重合性液晶化合物を用いうる。逆波長分散重合性液晶化合物を用いることにより、逆波長分散性を有する光学異方性層を容易に得ることができる。   A reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound can be used as a part or all of the polymerizable liquid crystal compound. By using a reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound, an optically anisotropic layer having reverse wavelength dispersion can be easily obtained.

逆波長分散重合性液晶化合物の例としては、その分子中に主鎖メソゲンと、主鎖メソゲンに結合した側鎖メソゲンとを有する化合物が挙げられる。このような逆波長分散重合性液晶化合物が配向した状態において、側鎖メソゲンは、主鎖メソゲンと異なる方向に配向しうる。したがって、光学異方性層において、主鎖メソゲン及び側鎖メソゲンは異なる方向に配向しうる。そのような配向により、光学異方性層が逆波長分散特性を呈しうる。   Examples of the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound include a compound having a main chain mesogen and a side chain mesogen bonded to the main chain mesogen in the molecule. In the state where such a reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound is aligned, the side chain mesogen can be aligned in a direction different from that of the main chain mesogen. Therefore, in the optically anisotropic layer, the main chain mesogen and the side chain mesogen may be oriented in different directions. Such orientation can cause the optically anisotropic layer to exhibit reverse wavelength dispersion characteristics.

逆波長分散重合性液晶化合物の例としては、下記式(I)で示される化合物(以下において「化合物(I)」という場合がある。)を挙げることができる。   Examples of the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound include a compound represented by the following formula (I) (hereinafter sometimes referred to as “compound (I)”).

Figure 0006524844
Figure 0006524844

逆波長分散重合性液晶化合物が化合物(I)である場合、基−Y−A−Y−A−Y−A−Y−A−Y−A−Y−が主鎖メソゲンとなり、一方基>A−C(Q)=N−N(A)Aが側鎖メソゲンとなり、基Aは、主鎖メソゲン及び側鎖メソゲンの両方の性質に影響する。 If reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound is a compound (I), group -Y 5 -A 4 -Y 3 -A 2 -Y 1 -A 1 -Y 2 -A 3 -Y 4 -A 5 -Y 6 -Is a main chain mesogen, while one group> A 1 -C (Q 1 ) = N-N (A x ) A y is a side chain mesogen, and the group A 1 has the properties of both the main chain mesogen and the side chain mesogen Affect

前記式(I)において、Y〜Yは、それぞれ独立して、化学的な単結合、−O−、−S−、−O−C(=O)−、−C(=O)−O−、−O−C(=O)−O−、−NR−C(=O)−、−C(=O)−NR−、−O−C(=O)−NR−、−NR−C(=O)−O−、−NR−C(=O)−NR−、−O−NR−、又は、−NR−O−を表す。 In the formula (I), Y 1 to Y 8 each independently represent a chemical single bond, -O-, -S-, -O-C (= O)-, -C (= O)- O-, -O-C (= O) -O-, -NR 1 -C (= O)-, -C (= O) -NR 1- , -O-C (= O) -NR 1- , -NR 1 -C (= O) -O -, - NR 1 -C (= O) -NR 1 -, - O-NR 1 -, or represents -NR 1 -O-.

ここで、Rは水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表す。
の炭素数1〜6のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−へキシル基等が挙げられる。
としては、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基が好ましい。
Here, R 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
As a C1-C6 alkyl group of R 1 , for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group etc. are mentioned.
As R 1 , a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms is preferable.

化合物(I)においては、Y〜Yは、それぞれ独立して、化学的な単結合、−O−、−O−C(=O)−、−C(=O)−O−、又は、−O−C(=O)−O−であるのが好ましい。 In compound (I), Y 1 to Y 8 each independently represent a single chemical bond, —O—, —O—C (= O) —, —C (= O) —O—, or And —O—C (= O) —O— is preferable.

前記式(I)において、G及びGは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい、炭素数1〜20の二価の脂肪族基を表す。
炭素数1〜20の二価の脂肪族基としては、例えば、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数2〜20のアルケニレン基等の鎖状構造を有する二価の脂肪族基;炭素数3〜20のシクロアルカンジイル基、炭素数4〜20のシクロアルケンジイル基、炭素数10〜30の二価の脂環式縮合環基等の二価の脂肪族基;等が挙げられる。
In Formula (I), G 1 and G 2 each independently represent a divalent aliphatic group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent.
As the divalent aliphatic group having 1 to 20 carbon atoms, for example, a divalent aliphatic group having a chain structure such as an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms; Divalent aliphatic groups, such as a 3-20 cycloalkanediyl group, a C4-C20 cycloalkene diyl group, and a C10-C30 bivalent alicyclic fused ring group;

及びGの二価の脂肪族基の置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等のハロゲン原子;メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、イソプロポキシ基、n−ブトキシ基、sec−ブトキシ基、t−ブトキシ基、n−ペンチルオキシ基、n−へキシルオキシ基等の炭素数1〜6のアルコキシ基;等が挙げられる。なかでも、フッ素原子、メトキシ基、エトキシ基が好ましい。 As a substituent of the divalent aliphatic group of G 1 and G 2 , for example, halogen atoms such as fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, iodine atom, etc .; methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, isopropoxy group And alkoxy groups having 1 to 6 carbon atoms, such as n-butoxy group, sec-butoxy group, t-butoxy group, n-pentyloxy group and n-hexyloxy group; Among them, a fluorine atom, a methoxy group and an ethoxy group are preferable.

また、前記脂肪族基には、1つの脂肪族基当たり1以上の−O−、−S−、−O−C(=O)−、−C(=O)−O−、−O−C(=O)−O−、−NR−C(=O)−、−C(=O)−NR−、−NR−、又は、−C(=O)−が介在していてもよい。ただし、−O−又は−S−がそれぞれ2以上隣接して介在する場合を除く。ここで、Rは、前記Rと同様の、水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表し、水素原子又はメチル基であることが好ましい。
前記脂肪族基に介在する基としては、−O−、−O−C(=O)−、−C(=O)−O−、−C(=O)−が好ましい。
Further, in the aliphatic group, one or more -O-, -S-, -O-C (= O)-, -C (= O) -O-, -O-C per aliphatic group. (= O) -O -, - NR 2 -C (= O) -, - C (= O) -NR 2 -, - NR 2 -, or, -C (= O) - is be interposed Good. However, it excludes the case where two or more -O- or -S- respectively adjoin and intervene. Here, R 2 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms as in the case of R 1, and is preferably a hydrogen atom or a methyl group.
As a group which intervenes in the said aliphatic group, -O-, -OC (= O)-, -C (= O) -O-, -C (= O)-is preferable.

これらの中でも、本発明の所望の効果をより良好に発現させる観点から、G及びGは、それぞれ独立して、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数2〜20のアルケニレン基等の鎖状構造を有する二価の脂肪族基が好ましく、メチレン基、エチレン基、トリメチレン基、プロピレン基、テトラメチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基、オクタメチレン基、デカメチレン基〔−(CH10−〕等の、炭素数1〜12のアルキレン基がより好ましく、テトラメチレン基〔−(CH−〕、ヘキサメチレン基〔−(CH−〕、オクタメチレン基〔−(CH−〕、及び、デカメチレン基〔−(CH10−〕が特に好ましい。 Among them, G 1 and G 2 are each independently an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms, or the like from the viewpoint of exhibiting the desired effects of the present invention better. A divalent aliphatic group having a chain structure is preferable, and a methylene group, ethylene group, trimethylene group, propylene group, tetramethylene group, pentamethylene group, hexamethylene group, octamethylene group, decamethylene group [-(CH 2 )] 10 - a] and the like, more preferably an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, a tetramethylene group [- (CH 2) 4 -], hexamethylene group [- (CH 2) 6 -], octamethylene [- ( CH 2) 8 -], and, decamethylene [- (CH 2) 10 -] is particularly preferred.

前記式(I)において、Z及びZは、それぞれ独立して、無置換又はハロゲン原子で置換されていてもよい炭素数2〜10のアルケニル基を表す。
該アルケニル基の炭素数としては、2〜6が好ましい。Z及びZのアルケニル基の置換基であるハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等が挙げられ、塩素原子が好ましい。
In Formula (I), each of Z 1 and Z 2 independently represents an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms which may be unsubstituted or substituted with a halogen atom.
As carbon number of this alkenyl group, 2-6 are preferable. As the halogen atom which is a substituent of the alkenyl group of Z 1 and Z 2, a fluorine atom, a chlorine atom, bromine atom and the like, a chlorine atom is preferable.

なかでも、本発明の所望の効果をより良好に発現させる観点から、Z及びZとしては、それぞれ独立して、CH=CH−、CH=C(CH)−、CH=C(Cl)−、CH=CH−CH−、CH=C(CH)−CH−、又は、CH=C(CH)−CH−CH−が好ましく、CH=CH−、CH=C(CH)−、又は、CH=C(Cl)−がより好ましく、CH=CH−であるのが特に好ましい。 Among them, from the viewpoint of better expressing the desired effect of the present invention, Z 1 and Z 2 are each independently CH 2 CHCH—, CH 2 CC (CH 3 ) —, CH 2 =. C (Cl) -, CH 2 = CH-CH 2 -, CH 2 = C (CH 3) -CH 2 -, or, CH 2 = C (CH 3 ) -CH 2 -CH 2 - are preferred, CH 2 = CH-, CH 2 = C ( CH 3) -, or, CH 2 = C (Cl) - are more preferred, particularly preferably CH 2 = CH-.

前記式(I)において、Aは、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基を表す。「芳香環」は、Huckel則に従う広義の芳香族性を有する環状構造、すなわち、π電子を(4n+2)個有する環状共役構造、及びチオフェン、フラン、ベンゾチアゾール等に代表される、硫黄、酸素、窒素等のヘテロ原子の孤立電子対がπ電子系に関与して芳香族性を示す環状構造を意味する。 In Formula (I), A x represents an organic group having 2 to 30 carbon atoms, which has at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocycle. The “aromatic ring” is a cyclic structure having a broad aromaticity according to Huckel's rule, that is, a cyclic conjugated structure having (4n + 2) π electrons, and sulfur, oxygen, typified by thiophene, furan, benzothiazole, etc. It refers to a cyclic structure in which a lone electron pair of a heteroatom such as nitrogen participates in the π electron system to exhibit aromaticity.

の、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基は、芳香環を複数個有するものであってもよく、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環を有するものであってもよい。 The organic group having 2 to 30 carbon atoms having at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring of A x may have a plurality of aromatic rings And may have an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring.

前記芳香族炭化水素環としては、例えば、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環等が挙げられる。前記芳香族複素環としては、ピロール環、フラン環、チオフェン環、ピリジン環、ピリダジン環、ピリミジン環、ピラジン環、ピラゾール環、イミダゾール環、オキサゾール環、チアゾール環等の単環の芳香族複素環;ベンゾチアゾール環、ベンゾオキサゾール環、キノリン環、フタラジン環、ベンゾイミダゾール環、ベンゾピラゾール環、ベンゾフラン環、ベンゾチオフェン環、チアゾロピリジン環、オキサゾロピリジン環、チアゾロピラジン環、オキサゾロピラジン環、チアゾロピリダジン環、オキサゾロピリダジン環、チアゾロピリミジン環、オキサゾロピリミジン環等の縮合環の芳香族複素環;等が挙げられる。   As said aromatic hydrocarbon ring, a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring etc. are mentioned, for example. Examples of the aromatic heterocyclic ring include monocyclic aromatic heterocyclic rings such as pyrrole ring, furan ring, thiophene ring, pyridine ring, pyridazine ring, pyrimidine ring, pyrazine ring, pyrazole ring, imidazole ring, oxazole ring and thiazole ring; Benzothiazole ring, benzoxazole ring, quinoline ring, phthalazine ring, benzoimidazole ring, benzopyrazole ring, benzofuran ring, benzothiophene ring, thiazolopyridine ring, oxazolopyridine ring, thiazolopyrazine ring, oxazolopyrazine ring, thia And aromatic heterocycles such as fused rings such as a zolopyridazine ring, an oxazolopyridazine ring, a thiazolo pyrimidine ring, an oxazolo pyrimidine ring, and the like.

が有する芳香環は置換基を有していてもよい。かかる置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子等のハロゲン原子;シアノ基;メチル基、エチル基、プロピル基等の炭素数1〜6のアルキル基;ビニル基、アリル基等の炭素数2〜6のアルケニル基;トリフルオロメチル基等の炭素数1〜6のハロゲン化アルキル基;ジメチルアミノ基等の置換アミノ基;メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基等の炭素数1〜6のアルコキシ基;ニトロ基;フェニル基、ナフチル基等のアリール基;−C(=O)−R;−C(=O)−OR;−SO;等が挙げられる。ここで、Rは炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、又は、炭素数3〜12のシクロアルキル基を表し、Rは後述するRと同様の、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、フェニル基、又は、4−メチルフェニル基を表す。 The aromatic ring possessed by A x may have a substituent. Examples of such substituent include halogen atoms such as fluorine atom and chlorine atom; cyano group; alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as methyl group, ethyl group and propyl group; carbon number 2 such as vinyl group and allyl group Alkenyl groups of 6 to 6; halogenated alkyl groups of 1 to 6 carbon atoms such as trifluoromethyl group; substituted amino groups such as dimethylamino group; alkoxy of 1 to 6 carbon atoms such as methoxy, ethoxy and isopropoxy groups group; a nitro group; a phenyl group, an aryl group such as phenyl or naphthyl; -C (= O) -R 5 ; -C (= O) -OR 5; -SO 2 R 6; and the like. Here, R 5 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms, or a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms, and R 6 is a carbon similar to R 4 described later It represents an alkyl group of 1 to 20, an alkenyl group of 2 to 20 carbon atoms, a phenyl group or a 4-methylphenyl group.

また、Aが有する芳香環は、同一又は相異なる置換基を複数有していてもよく、隣り合った二つの置換基が一緒になって結合して環を形成していてもよい。形成される環は単環であってもよく、縮合多環であってもよく、不飽和環であってもよく、飽和環であってもよい。
なお、Aの炭素数2〜30の有機基の「炭素数」は、置換基の炭素原子を含まない有機基全体の総炭素数を意味する(後述するAにて同じである。)。
Further, the aromatic ring possessed by A x may have a plurality of identical or different substituents, and two adjacent substituents may be joined together to form a ring. The ring to be formed may be a single ring, a condensed polycyclic ring, an unsaturated ring or a saturated ring.
Incidentally, "the number of carbon atoms" of the organic group having 2 to 30 carbon atoms A x is meant the total number of carbon atoms of the total organic groups that do not contain carbon atoms of substituents (the same in A y that will be described later.) .

の、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基としては、例えば、芳香族炭化水素環基;芳香族複素環基;芳香族炭化水素環基及び芳香族複素環基からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数3〜30のアルキル基;芳香族炭化水素環基及び芳香族複素環基からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数4〜30のアルケニル基;芳香族炭化水素環基及び芳香族複素環基からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数4〜30のアルキニル基;等が挙げられる。 Examples of the organic group having 2 to 30 carbon atoms having at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring of A x include, for example, an aromatic hydrocarbon ring group; aromatic Heterocyclic group; C3-C30 alkyl group having at least one aromatic ring selected from the group consisting of aromatic hydrocarbon ring group and aromatic heterocyclic group; aromatic hydrocarbon ring group and aromatic heterocyclic ring Group having at least one aromatic ring selected from the group consisting of alkenyl groups having 4 to 30 carbon atoms; and at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring group and an aromatic heterocyclic group C4-C30 alkynyl group; etc. are mentioned.

中でも、Aは、下記に示すいずれかの基であることが更に好ましい。下記式中、Xは、NR、酸素原子、硫黄原子、−SO−、又は、−SO−を表す(ただし、酸素原子、硫黄原子、−SO−、−SO−が、それぞれ隣接する場合を除く。)。Rは、水素原子;又は、メチル基、エチル基、プロピル基等の炭素数1〜6のアルキル基を表す。 Among them, A x is more preferably any of the groups shown below. In the formulas, X represents, NR 7, oxygen atom, sulfur atom, -SO-, or, -SO 2 - represents a (where oxygen atom, a sulfur atom, -SO -, - SO 2 - is, respective adjacent Except case). R 7 represents a hydrogen atom; or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group or a propyl group.

Figure 0006524844
Figure 0006524844

が有する環は置換基を有していてもよい。かかる置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子等のハロゲン原子;シアノ基;メチル基、エチル基、プロピル基等の炭素数1〜6のアルキル基;ビニル基、アリル基等の炭素数2〜6のアルケニル基;トリフルオロメチル基等の炭素数1〜6のハロゲン化アルキル基;ジメチルアミノ基等の置換アミノ基;メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基等の炭素数1〜6のアルコキシ基;ニトロ基;フェニル基、ナフチル基等のアリール基;−C(=O)−R;−C(=O)−OR;−SO;等が挙げられる。ここでRは、メチル基、エチル基等の炭素数1〜6のアルキル基;又は、フェニル基等の炭素数6〜14のアリール基;を表す。なかでも、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜6のアルキル基、及び炭素数1〜6のアルコキシ基が好ましい。 The ring which A x has may have a substituent. Examples of such substituent include halogen atoms such as fluorine atom and chlorine atom; cyano group; alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as methyl group, ethyl group and propyl group; carbon number 2 such as vinyl group and allyl group Alkenyl groups of 6 to 6; halogenated alkyl groups of 1 to 6 carbon atoms such as trifluoromethyl group; substituted amino groups such as dimethylamino group; alkoxy of 1 to 6 carbon atoms such as methoxy, ethoxy and isopropoxy groups group; a nitro group; a phenyl group, an aryl group such as phenyl or naphthyl; -C (= O) -R 8 ; -C (= O) -OR 8; -SO 2 R 6; and the like. Here, R 8 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a methyl group or an ethyl group; or an aryl group having 6 to 14 carbon atoms such as a phenyl group. Especially, a halogen atom, a cyano group, a C1-C6 alkyl group, and a C1-C6 alkoxy group are preferable.

が有する環は、同一又は相異なる置換基を複数有していてもよく、隣り合った二つの置換基が一緒になって結合して環を形成していてもよい。形成される環は、単環であってもよく、縮合多環であってもよい。
の炭素数2〜30の有機基の「炭素数」は、置換基の炭素原子を含まない有機基全体の総炭素数を意味する(後述するAにて同じである。)。
The ring possessed by A x may have a plurality of identical or different substituents, and two adjacent substituents may be joined together to form a ring. The ring to be formed may be a single ring or a condensed polycyclic ring.
"The number of carbon atoms" of the organic group having 2 to 30 carbon atoms A x is meant the total number of carbon atoms of the total organic groups that do not contain carbon atoms of substituents (the same in A y that will be described later.).

前記式(I)において、Aは、水素原子、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基、−C(=O)−R、−SO−R、−C(=S)NH−R、又は、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基を表す。ここで、Rは、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、又は、炭素数5〜12の芳香族炭化水素基を表し、Rは、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、フェニル基、又は、4−メチルフェニル基を表し、Rは置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、又は、置換基を有していてもよい炭素数5〜20の芳香族基を表す。 In the formula (I), A y is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, A cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent, an alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, -C (= O) -R 3 , -SO 2 An organic group having a carbon number of 2 to 30 having at least one aromatic ring selected from the group consisting of -R 4 , -C (= S) NH-R 9 , or an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocycle Represent. Here, R 3 has an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, and a substituent. R 3 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms, or a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms or an aromatic hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms. R 9 represents a phenyl group or a 4-methylphenyl group, and R 9 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, and an alkenyl having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent This represents a group, a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent, or an aromatic group having 5 to 20 carbon atoms which may have a substituent.

の、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基の炭素数1〜20のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、1−メチルペンチル基、1−エチルペンチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、n−へキシル基、イソヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル基、n−トリデシル基、n−テトラデシル基、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、n−イコシル基が挙げられる。置換基を有してもよい炭素数1〜20のアルキル基の炭素数は、1〜12であることが好ましく、4〜10であることが更に好ましい。 As a C1-C20 alkyl group of the C1-C20 alkyl group which may have a substituent of Ay , For example, a methyl group, an ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n -Butyl, isobutyl, 1-methylpentyl, 1-ethylpentyl, sec-butyl, t-butyl, n-pentyl, isopentyl, neopentyl, n-hexyl, isohexyl, n -Heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group, n-undecyl group, n-dodecyl group, n-tridecyl group, n-tetradecyl group, n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n- -A heptadecyl group, n-octadecyl group, n-nonadecyl group, n-icosyl group is mentioned. It is preferable that carbon number of the C1-C20 alkyl group which may have a substituent is 1-12, and it is still more preferable that it is 4-10.

の、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基の炭素数2〜20のアルケニル基としては、例えば、ビニル基、プロペニル基、イソプロペニル基、ブテニル基、イソブテニル基、ペンテニル基、ヘキセニル基、ヘプテニル基、オクテニル基、デセニル基、ウンデセニル基、ドデセニル基、トリデセニル基、テトラデセニル基、ペンタデセニル基、ヘキサデセニル基、ヘプタデセニル基、オクタデセニル基、ノナデセニル基、イコセニル基等が挙げられる。置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基の炭素数は、2〜12であることが好ましい。 As an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms of the alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, of A y , for example, a vinyl group, a propenyl group, an isopropenyl group, a butenyl group, an isobutenyl group And pentenyl group, hexenyl group, heptenyl group, octenyl group, decenyl group, undecenyl group, dodecenyl group, tridecenyl group, tetradecenyl group, pentadecenyl group, hexadecenyl group, heptadecenyl group, octadecenyl group, nonadecenyl group, icosenyl group and the like. It is preferable that carbon number of the C2-C20 alkenyl group which may have a substituent is 2-12.

の、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基の炭素数3〜12のシクロアルキル基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロオクチル基等が挙げられる。 The cycloalkyl group of 3 to 12 carbon atoms of the cycloalkyl group of 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent, of A y is, for example, cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, A cyclooctyl group etc. are mentioned.

の、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基の炭素数2〜20のアルキニル基としては、例えば、エチニル基、プロピニル基、2−プロピニル基(プロパルギル基)、ブチニル基、2−ブチニル基、3−ブチニル基、ペンチニル基、2−ペンチニル基、ヘキシニル基、5−ヘキシニル基、ヘプチニル基、オクチニル基、2−オクチニル基、ノナニル基、デカニル基、7−デカニル基等が挙げられる。 As an alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms of the alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, of A y , for example, ethynyl group, propynyl group, 2-propynyl group (propargyl group), Butynyl group, 2-butynyl group, 3-butynyl group, pentynyl group, 2-pentynyl group, hexynyl group, 5-hexynyl group, heptynyl group, octynyl group, 2-octynyl group, nonanyl group, decanyl group, 7-decanyl group Etc.

の、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、及び置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基の置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子等のハロゲン原子;シアノ基;ジメチルアミノ基等の置換アミノ基;メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基、ブトキシ基等の炭素数1〜20のアルコキシ基;メトキシメトキシ基、メトキシエトキシ基等の、炭素数1〜12のアルコキシ基で置換された炭素数1〜12のアルコキシ基;ニトロ基;フェニル基、ナフチル基等のアリール基;シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の炭素数3〜8のシクロアルキル基;シクロペンチルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基等の炭素数3〜8のシクロアルキルオキシ基;テトラヒドロフラニル基、テトラヒドロピラニル基、ジオキソラニル基、ジオキサニル基等の炭素数2〜12の環状エーテル基;フェノキシ基、ナフトキシ基等の炭素数6〜14のアリールオキシ基;トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、−CHCF等の、少なくとも1個がフッ素原子で置換された炭素数1〜12のフルオロアルコキシ基;ベンゾフリル基;ベンゾピラニル基;ベンゾジオキソリル基;ベンゾジオキサニル基;−C(=O)−R7a;−C(=O)−OR7a;−SO8a;−SR10;−SR10で置換された炭素数1〜12のアルコキシ基;水酸基;が挙げられる。ここで、R7a及びR10は、それぞれ独立して、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基、又は、炭素数6〜12の芳香族炭化水素基を表し、R8aは、前記Rと同様の、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、フェニル基、又は、4−メチルフェニル基を表す。 As a substituent of the C1-C20 alkyl group which may have a substituent of Ay , and the C2-C20 alkenyl group which may have a substituent, it is a fluorine atom, for example Halogen atoms such as chlorine atom; cyano group; substituted amino group such as dimethylamino group; alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms such as methoxy group, ethoxy group, isopropoxy group, butoxy group; methoxymethoxy group, methoxyethoxy group And the like, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms substituted with an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms; a nitro group; an aryl group such as a phenyl group and a naphthyl group; a carbon number such as a cyclopropyl group, a cyclopentyl group and a cyclohexyl group 3 to 8 cycloalkyl groups; cycloalkyloxy groups having 3 to 8 carbon atoms such as cyclopentyloxy and cyclohexyloxy groups; tetrahydrofuranyl Cyclic ether groups having 2 to 12 carbon atoms such as tetrahydropyranyl, dioxolanyl and dioxanyl; aryloxys having 6 to 14 carbons such as phenoxy and naphthoxy; trifluoromethyl and pentafluoroethyl Group, a fluoroalkoxy group having 1 to 12 carbon atoms in which at least one is substituted with a fluorine atom, such as -CH 2 CF 3 ; a benzofuryl group; a benzopyranyl group; a benzodioxolyl group; a benzodioxanyl group; (= O) -R 7a; -C (= O) -OR 7a; alkoxy group -SR 10 carbon atoms substituted with 1~12;; -SO 2 R 8a; -SR 10 hydroxyl; and the like. Here, R 7a and R 10 each independently represent an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms, or 6 to 12 carbon atoms R 8a represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms, a phenyl group or a 4-methylphenyl group as in the above R 4 .

の、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基の置換基としては、例えば、フッ素原子、塩素原子等のハロゲン原子;シアノ基;ジメチルアミノ基等の置換アミノ基;メチル基、エチル基、プロピル基等の炭素数1〜6のアルキル基;メトキシ基、エトキシ基、イソプロポキシ基等の炭素数1〜6のアルコキシ基;ニトロ基;フェニル基、ナフチル基等のアリール基;シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の炭素数3〜8のシクロアルキル基;−C(=O)−R7a;−C(=O)−OR7a;−SO8a;水酸基;等が挙げられる。ここでR7a、R8aは前記と同じ意味を表す。 As a substituent of the cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent of A y , for example, halogen atoms such as fluorine atom and chlorine atom; cyano group; substituted amino such as dimethylamino group Alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as methyl group, ethyl group and propyl group; alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms such as methoxy group, ethoxy group and isopropoxy group; nitro group; phenyl group and naphthyl group Aryl group of 3 to 8 carbon atoms such as cyclopropyl group, cyclopentyl group and cyclohexyl group; -C (= O) -R 7a ; -C (= O) -OR 7a ; -SO 2 R 8a Hydroxyl group; and the like. Here, R 7a and R 8a represent the same meaning as described above.

の、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基の置換基としては、例えば、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、及び置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基の置換基と同様な置換基が挙げられる。 As a substituent of the C2-C20 alkynyl group which may have a substituent of A y , for example, a C 1-20 alkyl group which may have a substituent, and a substituent And the same substituents as those of the alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have one of the following.

の、−C(=O)−Rで表される基において、Rは、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、又は、炭素数5〜12の芳香族炭化水素基を表す。これらの具体例は、前記Aの、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基の例として挙げたものと同様のものが挙げられる。 In the group represented by -C (= O) -R 3 of A y , R 3 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, or even if it has a substituent It represents a good C2-C20 alkenyl group, a C3-C12 cycloalkyl group which may have a substituent, or a C5-C12 aromatic hydrocarbon group. Specific examples of these, the A y, alkyl group of carbon atoms which may 20 have a substituent, an alkenyl group having carbon atoms of 2 to 20 which may have a substituent, a substituent The same thing as what was mentioned as an example of the C3-C12 cycloalkyl group which may be possessed is mentioned.

の、−SO−Rで表される基において、Rは、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基、フェニル基、又は、4−メチルフェニル基を表す。Rの、炭素数1〜20のアルキル基、及び炭素数2〜20のアルケニル基の具体例は、前記Aの、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数2〜20のアルケニル基の例として挙げたものと同様のものが挙げられる。 In the group represented by -SO 2 -R 4 of A y , R 4 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms, a phenyl group or a 4-methylphenyl group Represent. Of R 4, specific examples of the alkyl group, and alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms having 1 to 20 carbon atoms, of the A y, alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms The same ones as mentioned in the examples may be mentioned.

の、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基としては、前記Aで例示したのと同様のものが挙げられる。 Examples of the organic group having 2 to 30 carbon atoms having at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring of A y are the same as those exemplified for the aforementioned A x Can be mentioned.

これらの中でも、Aとしては、水素原子、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基、−C(=O)−R、−SO−R、又は、芳香族炭化水素環及び芳香族複素環からなる群から選ばれる少なくとも一つの芳香環を有する、炭素数2〜30の有機基で表される基が好ましい。さらに、Aとしては、水素原子、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基、置換基を有してもよい炭素数6〜12の芳香族炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜9の芳香族複素環基、−C(=O)−R、−SO−Rで表される基が更に好ましい。ここで、R及びRは、前記と同じ意味を表す。 Among these, as A y , a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, a substituent A cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent, an alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, -C (= O) -R 3 , -SO 2 -R 4 or a group represented by a C2 to C30 organic group having at least one aromatic ring selected from the group consisting of an aromatic hydrocarbon ring and an aromatic heterocyclic ring is preferable. Further, A y has a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, an alkenyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, and a substituent. Optionally substituted C 3-12 cycloalkyl group, optionally substituted C 2-20 alkynyl group, optionally substituted C 6-12 aromatic hydrocarbon A hydrogen group, an aromatic heterocyclic group having 3 to 9 carbon atoms which may have a substituent, and a group represented by —C (= O) —R 3 or —SO 2 —R 4 are more preferable. Here, R 3 and R 4 represent the same meaning as described above.

の、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルケニル基、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基の置換基としては、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜20のアルコキシ基、炭素数1〜12のアルコキシ基で置換された炭素数1〜12のアルコキシ基、フェニル基、シクロヘキシル基、炭素数2〜12の環状エーテル基、炭素数6〜14のアリールオキシ基、水酸基、ベンゾジオキサニル基、フェニルスルホニル基、4−メチルフェニルスルホニル基、ベンゾイル基、−SR10が好ましい。ここで、R10は前記と同じ意味を表す。 Of A y, alkyl group of carbon atoms which may 20 have a substituent, an alkenyl group which may 2-20 carbon atoms which may have a substituent, which may have a substituent carbon The substituent of the alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms is a halogen atom, a cyano group, an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms substituted with an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, Group, cyclohexyl group, cyclic ether group having 2 to 12 carbon atoms, aryloxy group having 6 to 14 carbon atoms, hydroxyl group, benzodioxanyl group, phenylsulfonyl group, 4-methylphenylsulfonyl group, benzoyl group, -SR 10 Is preferred. Here, R 10 represents the same meaning as described above.

の、置換基を有していてもよい炭素数3〜12のシクロアルキル基、置換基を有してもよい炭素数6〜12の芳香族炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜9の芳香族複素環基の置換基としては、フッ素原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、シアノ基が好ましい。 Of A y, a cycloalkyl group having from 3 to 12 carbon atoms which may have a substituent, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 12 carbon atoms which may have a substituent, have a substituent The substituent of the aromatic heterocyclic group having 3 to 9 carbon atoms is preferably a fluorine atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or a cyano group.

また、AとAは、一緒になって、環を形成していてもよい。かかる環としては、例えば、置換基を有していてもよい、炭素数4〜30の不飽和複素環、炭素数6〜30の不飽和炭素環が挙げられる。 Also, A x and A y may be taken together to form a ring. As such a ring, for example, an unsaturated heterocyclic ring having 4 to 30 carbon atoms and an unsaturated carbocyclic ring having 6 to 30 carbon atoms which may have a substituent can be mentioned.

前記炭素数4〜30の不飽和複素環、炭素数6〜30の不飽和炭素環としては、特に制約はなく、芳香族性を有していても有していなくてもよい。   The unsaturated heterocyclic ring having 4 to 30 carbon atoms and the unsaturated carbocyclic ring having 6 to 30 carbon atoms are not particularly limited, and may or may not have aromaticity.

とAに含まれるπ電子の総数は、本発明の所望の効果をより良好に発現させる観点から、好ましくは4以上、より好ましくは6以上であり、好ましくは24以下、より好ましくは20以下、特に好ましくは18以下である。 The total number of π electrons contained in A x and A y is preferably 4 or more, more preferably 6 or more, preferably 24 or less, more preferably from the viewpoint of achieving the desired effects of the present invention better. It is 20 or less, particularly preferably 18 or less.

とAの特に好ましい組み合わせとしては、
(δ)Aが下記構造を有する基のいずれかであり、Aが水素原子、炭素数3〜8のシクロアルキル基、(ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、若しくは炭素数3〜8のシクロアルキル基)を置換基として有していてもよい炭素数6〜12の芳香族炭化水素基、(ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、シアノ基)を置換基として有していてもよい炭素数3〜9の芳香族複素環基、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数1〜20のアルケニル基、又は、置換基を有していてもよい炭素数2〜20のアルキニル基であり、当該置換基が、ハロゲン原子、シアノ基、炭素数1〜20のアルコキシ基、炭素数1〜12のアルコキシ基で置換された炭素数1〜12のアルコキシ基、フェニル基、シクロヘキシル基、炭素数2〜12の環状エーテル基、炭素数6〜14のアリールオキシ基、水酸基、ベンゾジオキサニル基、ベンゼンスルホニル基、ベンゾイル基、及び、−SR10のいずれかである組み合わせである。下記式中、Xは前記と同じ意味を表す。ここで、R10は前記と同じ意味を表す。
Particularly preferred combinations of A x and A y are:
(Δ) A x is any of a group having the following structure, A y is a hydrogen atom, a cycloalkyl group having 3 to 8 carbon atoms, (a halogen atom, a cyano group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, carbon An aromatic hydrocarbon group having 6 to 12 carbon atoms which may have an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms or a cycloalkyl group having 3 to 8 carbon atoms as a substituent, (halogen atom, 1 to 6 carbon atoms Of an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a cyano group) as a substituent, an aromatic heterocyclic group having 3 to 9 carbon atoms, or 1 carbon atom optionally having a substituent -20 alkyl group, alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms which may have a substituent, or alkynyl group having 2 to 20 carbon atoms which may have a substituent, and the substituent is , Halogen atom, cyano group, alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, carbon number Alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, phenyl, cyclohexyl, cyclic ether having 2 to 12 carbons, aryloxy having 6 to 14 carbons, hydroxyl, benzodioxax substituted with alkoxy of 1 to 12 group, a benzenesulfonyl group, a benzoyl group, and a combination of any of -SR 10. In the following formulae, X represents the same meaning as described above. Here, R 10 represents the same meaning as described above.

Figure 0006524844
Figure 0006524844

前記式(I)において、Aは、置換基を有していてもよい三価の芳香族基を表す。三価の芳香族基としては、三価の炭素環式芳香族基であってもよく、三価の複素環式芳香族基であってもよい。本発明の所望の効果をより良好に発現させる観点から、三価の炭素環式芳香族基が好ましく、三価のベンゼン環基又は三価のナフタレン環基がより好ましく、三価のベンゼン環基又は三価のナフタレン環基がさらに好ましい。 In Formula (I), A 1 represents a trivalent aromatic group which may have a substituent. The trivalent aromatic group may be a trivalent carbocyclic aromatic group or a trivalent heterocyclic aromatic group. From the viewpoint of expressing the desired effects of the present invention better, a trivalent carbocyclic aromatic group is preferable, a trivalent benzene ring group or a trivalent naphthalene ring group is more preferable, and a trivalent benzene ring group is more preferable. Or a trivalent naphthalene ring group is more preferred.

これらの中でも、Aとしては、下記に示す式(A11)〜(A25)で表される基がより好ましく、式(A11)、(A13)、(A15)、(A19)、(A23)で表される基がさらに好ましく、式(A11)、(A23)で表される基が特に好ましい。なお、下記式においては、結合状態をより明確にすべく、置換基Y、Yを便宜上記載している(Y、Yは、前記と同じ意味を表す。以下にて同じ。)。 Among these, groups represented by formulas (A11) to (A25) shown below are more preferable as A 1 , and in formulas (A11), (A13), (A15), (A19), (A19) and (A23) Groups represented are more preferable, and groups represented by formulas (A11) and (A23) are particularly preferable. In the following formulas, in order to clarify the bonding state, substituents Y 1 and Y 2 are described for convenience (Y 1 and Y 2 have the same meanings as described above. The same applies to the following). .

Figure 0006524844
Figure 0006524844

の、三価の芳香族基が有していてもよい置換基としては、前記Aの芳香族基の置換基として例示したのと同様のものが挙げられる。Aとしては、置換基を有さないものが好ましい。 As a substituent which the trivalent aromatic group of A 1 may have, the same ones as exemplified as the substituent of the aromatic group of the above A X can be mentioned. As A 1, one not having a substituent is preferable.

前記式(I)において、A及びAは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい炭素数3〜30の二価の脂環式炭化水素基を表す。炭素数3〜30の二価の脂環式炭化水素基としては、例えば、炭素数3〜30のシクロアルカンジイル基、炭素数10〜30の二価の脂環式縮合環基等が挙げられる。 In Formula (I), each of A 2 and A 3 independently represents a C3-C30 divalent alicyclic hydrocarbon group which may have a substituent. As a C3-C30 bivalent alicyclic hydrocarbon group, a C3-C30 cycloalkanediyl group, a C10-C30 bivalent alicyclic fused ring group etc. are mentioned, for example .

炭素数3〜30のシクロアルカンジイル基としては、例えば、シクロプロパンジイル基;シクロブタン−1,2−ジイル基、シクロブタン−1,3−ジイル基等のシクロブタンジイル基;シクロペンタン−1,2−ジイル基、シクロペンタン−1,3−ジイル基等のシクロペンタンジイル基;シクロヘキサン−1,2−ジイル基、シクロヘキサン−1,3−ジイル基、シクロヘキサン−1,4−ジイル基等のシクロへキサンジイル基;シクロヘプタン−1,2−ジイル基、シクロヘプタン−1,3−ジイル基、シクロヘプタン−1,4−ジイル基等のシクロへプタンジイル基;シクロオクタン−1,2−ジイル基、シクロオクタン−1,3−ジイル基、シクロオクタン−1,4−ジイル基、シクロオクタン−1,5−ジイル基等のシクロオクタンジイル基;シクロデカン−1,2−ジイル基、シクロデカン−1,3−ジイル基、シクロデカン−1,4−ジイル基、シクロデカン−1,5−ジイル基等のシクロデカンジイル基;シクロドデカン−1,2−ジイル基、シクロドデカン−1,3−ジイル基、シクロドデカン−1,4−ジイル基、シクロドデカン−1,5−ジイル基等のシクロドデカンジイル基;シクロテトラデカン−1,2−ジイル基、シクロテトラデカン−1,3−ジイル基、シクロテトラデカン−1,4−ジイル基、シクロテトラデカン−1,5−ジイル基、シクロテトラデカン−1,7−ジイル基等のシクロテトラデカンジイル基;シクロエイコサン−1,2−ジイル基、シクロエイコサン−1,10−ジイル基等のシクロエイコサンジイル基;等が挙げられる。   Examples of the cycloalkanediyl group having 3 to 30 carbon atoms include cyclopropanediyl group; cyclobutanediyl group such as cyclobutane-1,2-diyl group and cyclobutane-1,3-diyl group; cyclopentane-1,2 Cyclohexanediyl groups such as diyl group, cyclopentane-1,3-diyl group etc. Cyclohexanediyl such as cyclohexane-1,2-diyl group, cyclohexane-1,3-diyl group, cyclohexane-1,4-diyl group etc A cycloheptanediyl group such as cycloheptane-1,2-diyl group, cycloheptane-1,3-diyl group, cycloheptane-1,4-diyl group, etc .; cyclooctane-1,2-diyl group, cyclooctane Cyclooctane such as 1,3-diyl group, cyclooctane-1,4-diyl group, cyclooctane-1,5-diyl group Cyclodecandiyl groups such as didoyl group; cyclodecane-1,2-diyl group, cyclodecane-1,3-diyl group, cyclodecane-1,4-diyl group, cyclodecane-1,5-diyl group, etc. cyclododecane-1, Cyclododecanediyl group such as 2-diyl group, cyclododecane-1,3-diyl group, cyclododecane-1,4-diyl group, cyclododecane-1,5-diyl group; cyclotetradecane-1,2-diyl group Cyclotetradecanediyl group such as cyclotetradecane-1,3-diyl group, cyclotetradecane-1,4-diyl group, cyclotetradecane-1,5-diyl group, cyclotetradecane-1,7-diyl group, etc .; cycloeicosane And -1,2-diyl groups, cycloeicosane-1,10-diyl groups, etc .;

炭素数10〜30の二価の脂環式縮合環基としては、例えば、デカリン−2,5−ジイル基、デカリン−2,7−ジイル基等のデカリンジイル基;アダマンタン−1,2−ジイル基、アダマンタン−1,3−ジイル基等のアダマンタンジイル基;ビシクロ[2.2.1]へプタン−2,3−ジイル基、ビシクロ[2.2.1]へプタン−2,5−ジイル基、ビシクロ[2.2.1]へプタン−2,6−ジイル基等のビシクロ[2.2.1]へプタンジイル基;等が挙げられる。   As a C10-C30 divalent alicyclic fused ring group, for example, a decalin diyl group such as decalin-2,5-diyl group, decalin-2,7-diyl group, etc .; adamantane-1,2-diyl group An adamantanediyl group such as adamantane-1,3-diyl group; bicyclo [2.2.1] heptane-2,3-diyl group; bicyclo [2.2.1] heptan-2,5-diyl group And bicyclo [2.2.1] heptandiyl groups such as bicyclo [2.2.1] heptane-2,6-diyl group; and the like.

これらの二価の脂環式炭化水素基は、任意の位置に置換基を有していてもよい。置換基としては、前記Aの芳香族基の置換基として例示したのと同様のものが挙げられる。 These divalent alicyclic hydrocarbon groups may have a substituent at any position. Examples of the substituent include the same as those exemplified as the substituent of the aromatic group of the aforementioned A X.

これらの中でも、A及びAとしては、炭素数3〜12の二価の脂環式炭化水素基が好ましく、炭素数3〜12のシクロアルカンジイル基がより好ましく、下記式(A31)〜(A34)で表される基がさらに好ましく、前記式(A32)で表される基が特に好ましい。 Among these, as A 2 and A 3 , a divalent alicyclic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms is preferable, and a cycloalkanediyl group having 3 to 12 carbon atoms is more preferable, and the following formula (A31) to The group represented by (A34) is more preferable, and the group represented by the formula (A32) is particularly preferable.

Figure 0006524844
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前記炭素数3〜30の二価の脂環式炭化水素基は、Y及びY(又はY及びY)と結合する炭素原子の立体配置の相違に基づく、シス型及びトランス型の立体異性体が存在しうる。例えば、シクロヘキサン−1,4−ジイル基の場合には、下記に示すように、シス型の異性体(A32a)とトランス型の異性体(A32b)が存在しうる。 Divalent alicyclic hydrocarbon groups of said 3 to 30 carbon atoms, based on the difference in the configuration of the carbon atom bonded to the Y 1 and Y 3 (or Y 2 and Y 4), the cis- and trans Stereoisomers may exist. For example, in the case of a cyclohexane-1,4-diyl group, as shown below, cis isomer (A32a) and trans isomer (A32b) may exist.

Figure 0006524844
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前記炭素数3〜30の二価の脂環式炭化水素基は、シス型であってもよく、トランス型であってもよく、シス型及びトランス型の異性体混合物であってもよい。中でも、配向性が良好であることから、トランス型あるいはシス型であるのが好ましく、トランス型がより好ましい。   The C3-C30 divalent alicyclic hydrocarbon group may be cis-type, trans-type or a mixture of cis- and trans-type isomers. Among them, the trans type or cis type is preferable, and the trans type is more preferable, because the orientation is good.

前記式(I)において、A及びAは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい、炭素数6〜30の二価の芳香族基を表す。A及びAの芳香族基は、単環のものであっても、多環のものであってもよい。 In Formula (I), each of A 4 and A 5 independently represents a divalent aromatic group having 6 to 30 carbon atoms which may have a substituent. The aromatic group of A 4 and A 5 may be monocyclic or polycyclic.

上記A及びAの二価の芳香族基は、任意の位置に置換基を有していてもよい。当該置換基としては、例えば、ハロゲン原子、シアノ基、ヒドロキシル基、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、ニトロ基、−C(=O)−OR8b基;が挙げられる。ここでR8bは、炭素数1〜6のアルキル基である。なかでも、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基、アルコキシ基が好ましい。また、ハロゲン原子としては、フッ素原子がより好ましく、炭素数1〜6のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基がより好ましく、アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基がより好ましい。 The divalent aromatic group of A 4 and A 5 may have a substituent at any position. Examples of the substituent include a halogen atom, a cyano group, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a nitro group, and a —C (= O) —OR 8b group; It can be mentioned. Here, R 8b is an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. Among them, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and an alkoxy group are preferable. Moreover, as a halogen atom, a fluorine atom is more preferable, As a C1-C6 alkyl group, a methyl group, an ethyl group, and a propyl group are more preferable, As an alkoxy group, a methoxy group and an ethoxy group are more preferable.

これらの中でも、本発明の所望の効果をより良好に発現させる観点から、A及びAは、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい、下記式(A41)、(A42)又は(A43)で表される基がより好ましく、置換基を有していてもよい式(A41)で表される基が特に好ましい。 Among these, from the viewpoint of exhibiting the desired effects of the present invention better, A 4 and A 5 may each independently have a substituent, and the following formulas (A41) and (A42) Or the group represented by (A43) is more preferable, and the group represented by the formula (A41) which may have a substituent is particularly preferable.

Figure 0006524844
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前記式(I)において、Qは、水素原子、又は、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルキル基を示す。置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルキル基としては、前記Aで例示したのと同様のものが挙げられる。これらの中でも、Qは、水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基が好ましく、水素原子及びメチル基がより好ましい。 In Formula (I), Q 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a substituent. The optionally substituted alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, the same ones as exemplified in the A X and the like. Among these, Q 1 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably a hydrogen atom and a methyl group.

化合物(I)は、例えば、国際公開第WO2012/147904号に記載される、ヒドラジン化合物とカルボニル化合物との反応により製造しうる。   Compound (I) can be produced, for example, by the reaction of a hydrazine compound and a carbonyl compound, as described in WO 2012/147904.

組成物(A)が重合性液晶化合物として逆波長分散重合性液晶化合物を含有する場合、組成物(A)は、任意の成分として、重合性モノマー(a)を含有しうる。「重合性モノマー(a)」とは、重合能を有しモノマーとして働きうる化合物のうち、特に、逆波長分散重合性液晶化合物以外の化合物をいう。   When the composition (A) contains a reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound as a polymerizable liquid crystal compound, the composition (A) may contain a polymerizable monomer (a) as an optional component. The "polymerizable monomer (a)" refers to a compound other than the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound, in particular, among the compounds having a polymerization ability and capable of functioning as a monomer.

重合性モノマー(a)としては、例えば、1分子当たり1以上の重合性基を有するものを用いうる。そのような重合性基を有することにより、光学異方性層の形成に際し重合を達成することができる。重合性モノマー(a)が1分子当たり2以上の重合性基を有する架橋性モノマーである場合、架橋的な重合を達成することができる。かかる重合性基の例としては、化合物(I)中の基Z−Y−及び基Z−Y−と同様の基を挙げることができ、より具体的には例えば、アクリロイル基、メタクリロイル基、及びエポキシ基を挙げることができる。 As the polymerizable monomer (a), for example, those having one or more polymerizable groups per molecule can be used. By having such a polymerizable group, polymerization can be achieved in the formation of the optically anisotropic layer. When the polymerizable monomer (a) is a crosslinkable monomer having two or more polymerizable groups per molecule, crosslinkable polymerization can be achieved. Examples of such a polymerizable group include the same groups as the groups Z 1 -Y 7 -and the groups Z 2 -Y 8- in the compound (I), and more specifically, for example, an acryloyl group, Methacryloyl group and epoxy group can be mentioned.

重合性モノマー(a)は、それ自体が液晶性のものであってもよく、非液晶性のものであってもよい。ここで、それ自体が「非液晶性」であるとは、当該重合性モノマー(a)そのものを、室温から200℃のいずれの温度に置いた場合にも、配向処理をした基材フィルム20上で配向を示さないものをいう。配向を示すかどうかは、偏光顕微鏡のクロスニコル透過観察にてラビング方向を面相で回転させた場合に、明暗のコントラストがあるかどうかで判断しうる。   The polymerizable monomer (a) may itself be liquid crystalline or non-liquid crystalline. Here, “non-liquid crystalline” per se means that the polymerizable monomer (a) itself is on the substrate film 20 that has been subjected to the alignment treatment even when the temperature is from room temperature to 200 ° C. And those that do not show orientation. Whether or not the orientation is indicated can be determined by whether or not there is contrast between light and dark when the rubbing direction is rotated in a plane phase in cross Nicol transmission observation of a polarizing microscope.

組成物(A)において、重合性モノマー(a)の配合割合は、逆波長分散重合性液晶化合物100重量部に対し、好ましくは1重量部〜100重量部、好ましくは5重量部〜50重量部である。当該範囲内で、重合性モノマー(a)の配合割合を、所望の逆波長分散特性を示すように適宜調整することにより、逆波長分散特性の精密な制御が容易となる。
また、重合性モノマー(a)を配合することで、重合性液晶組成物の硬化度を上げることができる。
In the composition (A), the blending ratio of the polymerizable monomer (a) is preferably 1 to 100 parts by weight, preferably 5 to 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound. It is. Within this range, precise control of the reverse wavelength dispersion characteristics is facilitated by appropriately adjusting the blend ratio of the polymerizable monomer (a) so as to exhibit the desired reverse wavelength dispersion characteristics.
In addition, the curing degree of the polymerizable liquid crystal composition can be increased by blending the polymerizable monomer (a).

重合性モノマー(a)は、既知の製造方法により製造することができる。または、化合物(I)と類似の構造を持つものについては、化合物(I)の製造方法に準じて製造することができる。   The polymerizable monomer (a) can be produced by a known production method. Alternatively, those having a similar structure to compound (I) can be produced according to the method for producing compound (I).

組成物(A)は、重合性液晶化合物及び上に述べた任意の化合物(重合性モノマー(a)等)に加えて、必要に応じて、以下に例示するもの等の任意の成分を含みうる。   The composition (A) may contain, in addition to the polymerizable liquid crystal compound and any of the above-mentioned optional compounds (polymerizable monomer (a) etc.), if necessary, any components such as those exemplified below. .

組成物(A)は、重合開始剤を含みうる。重合開始剤としては、組成物(A)中の、重合性液晶化合物、重合性モノマー(a)及びその他の重合性化合物が有する重合性基の種類に応じて適宜選択しうる。例えば、重合性基がラジカル重合性であればラジカル重合開始剤を、アニオン重合性の基であればアニオン重合開始剤を、カチオン重合性の基であればカチオン重合開始剤を、それぞれ使用しうる。   Composition (A) may contain a polymerization initiator. The polymerization initiator may be appropriately selected according to the type of the polymerizable liquid crystal compound, the polymerizable monomer (a) and the polymerizable group of the other polymerizable compound in the composition (A). For example, if the polymerizable group is radically polymerizable, a radical polymerization initiator may be used, if it is an anionically polymerizable group, an anionic polymerization initiator may be used, and if it is a cationically polymerizable group, a cationic polymerization initiator may be used. .

ラジカル重合開始剤としては、加熱することにより、重合性化合物の重合を開始しえる活性種が発生する化合物である熱ラジカル発生剤;及び可視光線、紫外線(i線など)、遠紫外線、電子線、X線等の露光光の露光により、重合性化合物の重合を開始しえる活性種が発生する化合物である光ラジカル発生剤;のいずれも使用可能であるが、光ラジカル発生剤を使用するのが好適である。   As a radical polymerization initiator, a thermal radical generator which is a compound which generates active species capable of initiating polymerization of a polymerizable compound by heating; and visible light, ultraviolet light (such as i ray), far ultraviolet light, electron beam And any photo radical generator which is a compound that generates active species capable of initiating polymerization of a polymerizable compound upon exposure to exposure light such as X-ray; Is preferred.

光ラジカル発生剤としては、例えば、国際公開第WO2012/147904号に記載される、アセトフェノン系化合物、ビイミダゾール系化合物、トリアジン系化合物、O−アシルオキシム系化合物、オニウム塩系化合物、ベンゾイン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、α−ジケトン系化合物、多核キノン系化合物、キサントン系化合物、ジアゾ系化合物、イミドスルホナート系化合物等を挙げることができる。   As the photoradical generator, for example, acetophenone type compounds, biimidazole type compounds, triazine type compounds, O-acyloxime type compounds, onium salt type compounds, benzoin type compounds described in International Publication WO 2012/147904, Examples include benzophenone compounds, α-diketone compounds, polynuclear quinone compounds, xanthone compounds, diazo compounds, imidosulfonate compounds and the like.

前記アニオン重合開始剤としては、例えば、アルキルリチウム化合物;ビフェニル、ナフタレン、ピレン等の、モノリチウム塩又はモノナトリウム塩;ジリチウム塩やトリリチウム塩等の多官能性開始剤;等が挙げられる。   Examples of the anionic polymerization initiator include alkyl lithium compounds; monolithium salts or monosodium salts such as biphenyl, naphthalene and pyrene; and polyfunctional initiators such as dilithium salts and trilithium salts.

また、前記カチオン重合開始剤としては、例えば、硫酸、リン酸、過塩素酸、トリフルオロメタンスルホン酸等のプロトン酸;三フッ化ホウ素、塩化アルミニウム、四塩化チタン、四塩化スズのようなルイス酸;芳香族オニウム塩又は芳香族オニウム塩と、還元剤との併用系;が挙げられる。   Also, as the cationic polymerization initiator, for example, a protonic acid such as sulfuric acid, phosphoric acid, perchloric acid, trifluoromethanesulfonic acid, etc .; a Lewis acid such as boron trifluoride, aluminum chloride, titanium tetrachloride or tin tetrachloride A combination system of an aromatic onium salt or an aromatic onium salt and a reducing agent;

重合開始剤として用いうる市販の製品の例としては、イルガキュア907及びイルガキュア379(BASF製)等の光重合開始剤が挙げられる。
これらの重合開始剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
Examples of commercially available products that can be used as a polymerization initiator include photopolymerization initiators such as Irgacure 907 and Irgacure 379 (manufactured by BASF).
One of these polymerization initiators may be used alone, or two or more of them may be used in combination in an arbitrary ratio.

組成物(A)において、重合開始剤の配合割合は、重合性化合物100重量部に対し、好ましくは0.1重量部〜30重量部、より好ましくは0.5重量部〜10重量部である。   In the composition (A), the blending ratio of the polymerization initiator is preferably 0.1 parts by weight to 30 parts by weight, more preferably 0.5 parts by weight to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polymerizable compound. .

組成物(A)は、表面張力を調整するための、界面活性剤を含みうる。当該界面活性剤としては、ノニオン系界面活性剤が好ましい。当該ノニオン系界面活性剤としては、市販品を用いうる。例えば、分子量が数千程度のオリゴマーであるノニオン系界面活性剤が挙げられる。これらの界面活性剤であって市販のものの具体例としては、OMNOVA社PolyFoxの「PF−151N」、「PF−636」、「PF−6320」、「PF−656」、「PF−6520」、「PF−3320」、「PF−651」、「PF−652」;ネオス社フタージェントの「FTX−209F」、「FTX−208G」、「FTX−204D」;セイミケミカル社サーフロンの「KH−40」、「S−420」等を用いることができる。また、界面活性剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。組成物(A)において、界面活性剤の配合割合は、重合性化合物100重量部に対し、好ましくは0.01重量部〜10重量部、より好ましくは0.1重量部〜2重量部である。   Composition (A) may contain a surfactant to adjust surface tension. As the said surfactant, nonionic surfactant is preferable. A commercial item can be used as the said nonionic surfactant. For example, the nonionic surfactant which is an oligomer whose molecular weight is about several thousands is mentioned. Specific examples of these surfactants which are commercially available are "PF-151N", "PF-636", "PF-6320", "PF-656", and "PF-6520" of PolyFox of OMNOVA. "PF-3320", "PF-651", "PF-652"; "FTX-209F", "FTX-208G", "FTX-204D" from Neos Corporation Futergent; "KH-40" from Seimi Chemical Surfron “S-420” or the like can be used. Moreover, surfactant may be used individually by 1 type, and may be used combining two or more types by arbitrary ratios. In the composition (A), the blending ratio of the surfactant is preferably 0.01 parts by weight to 10 parts by weight, more preferably 0.1 parts by weight to 2 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polymerizable compound. .

組成物(A)は、表面張力の調整等の目的で、セルロース系高分子化合物を含みうる。重合性液晶化合物として円盤状液晶化合物を用いる際には、セルロース系高分子化合物を含むことにより、塗工した際のハジキを抑制できる。セルロース系高分子化合物は、円盤状液晶化合物に対してなじみが良く、配向状態を乱す傾向が低い。セルロース系高分子化合物の例としては、セルロースアセテートブチレート、セルロースアセテートプロピレート、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース、及びカルボキシメチルセルロースが挙げられる。組成物(A)におけるセルロース系高分子化合物の配合割合は、重合性液晶化合物の総量に対する重量百分率として、好ましくは1%〜8%、より好ましくは1.5%〜6%である。セルロース系高分子化合物の配合割合が、前記範囲の下限以上であることにより、有効なハジキ抑制効果を得ることができ、前記範囲の上限%以下であることにより、円盤状液晶化合物の配向速度の極端な低下を回避することができる。   The composition (A) may contain a cellulose-based polymer compound for the purpose of adjusting surface tension and the like. When a discotic liquid crystal compound is used as the polymerizable liquid crystal compound, repelling at the time of coating can be suppressed by containing the cellulose-based polymer compound. The cellulose-based polymer compound is well compatible with the discotic liquid crystal compound, and has a low tendency to disturb the alignment state. Examples of the cellulose-based polymer compound include cellulose acetate butyrate, cellulose acetate propyrate, hydroxypropyl cellulose, methyl cellulose and carboxymethyl cellulose. The blending ratio of the cellulose-based polymer compound in the composition (A) is preferably 1% to 8%, more preferably 1.5% to 6% as a weight percentage to the total amount of the polymerizable liquid crystal compound. When the blending ratio of the cellulose-based polymer compound is at least the lower limit of the above range, an effective repelling suppression effect can be obtained, and by being at the upper limit% or less of the above range, the orientation speed of the discotic liquid crystal compound Extreme drop can be avoided.

組成物(A)は、有機溶媒等の溶媒を含みうる。かかる溶媒の例としては、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン等のケトン溶媒;酢酸ブチル、酢酸アミル等の酢酸エステル溶媒;クロロホルム、ジクロロメタン、ジクロロエタン等のハロゲン化炭化水素溶媒;1,4−ジオキサン、シクロペンチルメチルエーテル、テトラヒドロフラン、テトラヒドロピラン、1,3−ジオキソラン、1,2−ジメトキシエタン等のエーテル溶媒;及びトルエン、キシレン、メシチレン等の芳香族炭化水素溶媒が挙げられる。また、溶媒は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。溶媒の沸点は、取り扱い性に優れる観点から、60℃〜250℃であることが好ましく、60℃〜150℃であることがより好ましい。溶媒の使用量は、重合性化合物100重量部に対し、好ましくは100重量部〜1000重量部である。   The composition (A) may contain a solvent such as an organic solvent. Examples of such solvents include ketone solvents such as cyclopentanone, cyclohexanone, methyl ethyl ketone, acetone and methyl isobutyl ketone; acetic acid ester solvents such as butyl acetate and amyl acetate; halogenated hydrocarbon solvents such as chloroform, dichloromethane and dichloroethane; And ether solvents such as 4-dioxane, cyclopentyl methyl ether, tetrahydrofuran, tetrahydropyran, 1,3-dioxolane, 1,2-dimethoxyethane; and aromatic hydrocarbon solvents such as toluene, xylene and mesitylene. Moreover, a solvent may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios. The boiling point of the solvent is preferably 60 ° C. to 250 ° C., and more preferably 60 ° C. to 150 ° C., from the viewpoint of excellent handleability. The amount of the solvent used is preferably 100 parts by weight to 1000 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polymerizable compound.

組成物(A)は、さらに、金属、金属錯体、染料、顔料、蛍光材料、燐光材料、レベリング剤、チキソ剤、ゲル化剤、多糖類、紫外線吸収剤、赤外線吸収剤、抗酸化剤、イオン交換樹脂、酸化チタン等の金属酸化物、などの配合剤を含みうる。配合剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。組成物(A)において、かかる任意の配合剤の割合は、重合性化合物100重量部に対し、好ましくは、各々0.1重量部〜20重量部である。   Composition (A) further includes metals, metal complexes, dyes, pigments, fluorescent materials, phosphorescent materials, leveling agents, thixo agents, gelling agents, polysaccharides, UV absorbers, infrared absorbers, antioxidants, ions It may contain additives such as exchange resins and metal oxides such as titanium oxide. A combination agent may be used individually by 1 type, and may be used combining two or more types by arbitrary ratios. In the composition (A), the ratio of such an optional compounding agent is preferably 0.1 parts by weight to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the polymerizable compound.

塗工液30の粘度は、好ましくは0.5mPa・s以上、より好ましくは1.0mPa・s以上、特に好ましくは2.0mPa・s以上であり、好ましくは30mPa・s以下、より好ましくは20mPa・s以下、特に好ましくは15mPa・s以下である。塗工液30の粘度が、前記範囲の下限値以上であることによって、液だれを抑制できる。また、塗工液30の粘度が、前記範囲の上限値以下であることによって、搬送気流の影響による液溜まり31の変形を抑制できるので、塗工層40におけるスジの形成を抑制できる。
塗工液30の粘度は、塗工液30の温度23℃において測定しうる。
The viscosity of the coating liquid 30 is preferably 0.5 mPa · s or more, more preferably 1.0 mPa · s or more, particularly preferably 2.0 mPa · s or more, preferably 30 mPa · s or less, more preferably 20 mPa · s. S or less, particularly preferably 15 mPa · s or less. By the viscosity of the coating liquid 30 being more than the lower limit value of the said range, dripping can be suppressed. In addition, when the viscosity of the coating liquid 30 is equal to or less than the upper limit value of the above range, deformation of the liquid pool 31 due to the influence of the carrier air flow can be suppressed, so formation of streaks in the coating layer 40 can be suppressed.
The viscosity of the coating liquid 30 can be measured at a temperature of 23 ° C. of the coating liquid 30.

[8.塗工フィルムの製造方法]
上述した塗工装置10を用いることにより、塗工フィルム50を製造できる。以下、この塗工フィルム50の製造方法を説明する。この塗工フィルム50の製造方法では、基材フィルム20をフィルム長手方向に連続的に搬送しながら、塗工フィルム50を連続的に製造する。
[8. Method of producing coated film]
The coated film 50 can be manufactured by using the coating device 10 described above. Hereinafter, the manufacturing method of this coating film 50 is demonstrated. In the manufacturing method of this coating film 50, the coating film 50 is manufactured continuously, conveying the base film 20 continuously to a film longitudinal direction.

本実施形態に係る塗工フィルム50の製造方法では、図1に示すように、供給ロール300によって、基材フィルム20をバックアップロール100に供給する工程を行う。この際、供給ロール300で測定される基材フィルム20の張力は、好ましくは50N/m以上、より好ましくは100N/m以上、特に好ましくは130N/m以上であり、好ましくは500N/m未満、より好ましくは400N/m以下、特に好ましくは350N/m以下である。   In the manufacturing method of the coating film 50 which concerns on this embodiment, as shown in FIG. 1, the process of supplying the base film 20 to the backup roll 100 by the supply roll 300 is performed. At this time, the tension of the base film 20 measured by the supply roll 300 is preferably 50 N / m or more, more preferably 100 N / m or more, particularly preferably 130 N / m or more, preferably less than 500 N / m, More preferably, it is 400 N / m or less, particularly preferably 350 N / m or less.

供給ロール300で測定される基材フィルム20の張力は、バックアップロール100へと進入するときの基材フィルム20の張力を示す。そのため、この張力の大きさによって、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑り易さ、及び、バックアップロール100と基材フィルム20との間への空気の浸入のし易さが影響される。具体的には、前記の張力が、前記範囲の下限値以上であることによって、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の滑りを効果的に抑制できる。また、前記の張力が前記範囲の上限値以下であることによって、バックアップロール100と基材フィルム20との間への空気の浸入を抑制できるので、基材フィルム20のシワ及び折れ等での変形部の形成を効果的に抑制できる。   The tension of the base film 20 measured by the supply roll 300 indicates the tension of the base film 20 as it enters the backup roll 100. Therefore, depending on the magnitude of the tension, the base film 20 slips on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 and the infiltration of air between the backup roll 100 and the base film 20 is easy. Be affected. Specifically, slippage of the base film 20 on the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 can be effectively suppressed by the tension being at least the lower limit value of the range. In addition, when the tension is equal to or less than the upper limit value of the range, the infiltration of air between the backup roll 100 and the base film 20 can be suppressed, so that deformation of the base film 20 due to wrinkles and breakage is caused. The formation of the part can be effectively suppressed.

また、供給ロール300で測定される基材フィルム20の張力を前記の範囲に収めることにより、搬送される基材フィルム20のばたつきを抑えることができる。そのため、バックアップロール100の外周面110で支持された状態においても基材フィルム20のばたつきを抑制できるので、塗工液30を特に均一に塗工することができる。   In addition, by setting the tension of the base film 20 measured by the supply roll 300 within the above range, it is possible to suppress fluttering of the base film 20 being transported. Therefore, even in the state of being supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100, it is possible to suppress the rattling of the base film 20, so that the coating liquid 30 can be coated particularly uniformly.

基材フィルム20の搬送速度は、好ましくは5m/分以上、より好ましくは7m/分以上、特に好ましくは10m/分以上であり、好ましくは50m/分以下、より好ましくは45m/分以下、特に好ましくは40m/分以下である。基材フィルム20の搬送速度が、前記範囲の下限値以上であることによって基材フィルム20の搬送を安定化することができ、塗工厚みを均一にすることができる。また、搬送速度が前記範囲の上限値以下であることによって、バックアップロール100に基材フィルム20が侵入する際の搬送エアを少なくできる。   The conveyance speed of the substrate film 20 is preferably 5 m / min or more, more preferably 7 m / min or more, particularly preferably 10 m / min or more, preferably 50 m / min or less, more preferably 45 m / min or less, particularly Preferably it is 40 m / min or less. When the conveyance speed of the base film 20 is equal to or more than the lower limit value of the above range, the conveyance of the base film 20 can be stabilized, and the coating thickness can be made uniform. Further, when the transport speed is equal to or less than the upper limit value of the range, the transport air when the base film 20 intrudes into the backup roll 100 can be reduced.

その後、バックアップロール100の外周面110で基材フィルム20を支持しながら、当該基材フィルム20を搬送する工程を行う。バックアップロール100に供給された基材フィルム20は、バックアップロール100の外周面110に接触を開始し、この外周面110で支持された状態となる。そして、このようにバックアップロール100の外周面110で支持された状態で、バックアップロール100の回転に従って、搬送される。   Then, the process which conveys the said base film 20 is performed, supporting the base film 20 by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100. FIG. The base film 20 supplied to the backup roll 100 starts contact with the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 and is supported by the outer circumferential surface 110. Then, while being supported by the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100 in this manner, the sheet is transported according to the rotation of the backup roll 100.

バックアップロール100の外周面110で基材フィルム20が支持され始める地点P1において、バックアップロール100と基材フィルム20との間には、通常、空気が浸入する。ここで、バックアップロール100の外周面110が式(1)を満たすような表面粗さを有しているので、バックアップロール100と基材フィルム20との間には、微小な空隙が形成される。そのため、浸入した空気は、前記の微小な空隙に収容される。したがって、バックアップロール100の外周面110で支持された基材フィルム20においては、変形部(図2の変形部940参照。)の形成が抑制される。   Air normally enters between the backup roll 100 and the base film 20 at a point P1 at which the base film 20 starts to be supported by the outer circumferential surface 110 of the backup roll 100. Here, since the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 has a surface roughness satisfying the formula (1), a minute gap is formed between the backup roll 100 and the base film 20. . Therefore, the intruding air is accommodated in the minute gap. Therefore, in the base film 20 supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100, the formation of the deformed portion (see the deformed portion 940 in FIG. 2) is suppressed.

また、仮に、バックアップロールと基材フィルムとの間の空隙が大きすぎると、バックアップロールと基材フィルムとの接触面積が小さくなり、十分な摩擦力が得られないことが考えられる。しかし、式(1)を満たす表面粗さを有するバックアップロール100の外周面110は、基材フィルム20に十分に広い面積で接触できる。そのため、本実施形態においては、バックアップロール100の外周面110は、高い摩擦力で基材フィルム20を支持できるので、外周面110での基材フィルム20の滑りを抑制できる。したがって、バックアップロール100の外周面110においては、基材フィルム20の正確な位置制御が可能である。   In addition, if the gap between the backup roll and the base film is too large, it is conceivable that the contact area between the backup roll and the base film becomes small and a sufficient frictional force can not be obtained. However, the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 having the surface roughness satisfying the formula (1) can contact the base film 20 with a sufficiently large area. Therefore, in the present embodiment, the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 can support the base film 20 with a high frictional force, so that the slip of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 can be suppressed. Therefore, on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100, accurate position control of the base film 20 is possible.

バックアップロール100の外周面110で支持された基材フィルム20が、コーター200が設けられた位置まで搬送されると、当該基材フィルム20上にコーター200によって塗工液30を塗工する工程が行われる。本実施形態では、図3に示すように、コーター200が備えるダイ210の吐出口230から、基材フィルム20の面22へと、塗工液30を吐出することにより、塗工液30の塗工を行う。   When the base film 20 supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 is transported to the position where the coater 200 is provided, the coating solution 30 is coated on the base film 20 by the coater 200. To be done. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, the coating liquid 30 is discharged from the discharge port 230 of the die 210 of the coater 200 to the surface 22 of the base film 20 to coat the coating liquid 30. Do the work.

ダイ210の吐出口230から吐出された塗工液30は、基材フィルム20の面22に液溜まり31を形成する。そして、この液溜まり31の塗工液30が基材フィルム20の面22に定着することで、塗工液30の塗工が達成されて、基材フィルム20上に塗工層40が形成される。本実施形態では、基材フィルム20に空気の浸入による変形部が無いので、塗工液30を均一な厚みで塗工することができる。さらに、本実施形態では、コーター200と基材フィルム20との間に適切な大きさの間隙Cが設けられているので、ポンプ等の振動がダイ210を介して液溜まり31に伝わり難い。そのため、特に効果的に厚みムラを抑制しながら塗工液30を塗工することが可能である。   The coating liquid 30 discharged from the discharge port 230 of the die 210 forms a liquid pool 31 on the surface 22 of the base film 20. Then, the coating liquid 30 of the liquid pool 31 is fixed to the surface 22 of the base film 20, whereby the coating of the coating liquid 30 is achieved, and the coating layer 40 is formed on the base film 20. Ru. In the present embodiment, since the base film 20 does not have a deformed portion due to the entry of air, the coating liquid 30 can be coated with a uniform thickness. Furthermore, in the present embodiment, since the gap C of an appropriate size is provided between the coater 200 and the base film 20, it is difficult for the vibration of a pump or the like to be transmitted to the liquid pool 31 through the die 210. Therefore, it is possible to apply the coating liquid 30 while suppressing thickness unevenness particularly effectively.

前記のように面22に塗工層40を形成された基材フィルム20は、図1に示すように、バックアップロール100の回転に従って更に搬送される。その後、バックアップロール100の外周面110での基材フィルム20の支持が終了する地点P2まで基材フィルム20が搬送されると、基材フィルム20はバックアップロール100から離れる。この際、基材フィルム20には、空気の浸入による変形部(図2の変形部940参照。)が無いので、バックアップロール100から離れるときに基材フィルム20の急激な動きは無く、よって塗工層40の流動は生じない。したがって、上述した製造方法により、基材フィルム20と、基材フィルム20の面22に形成された厚みの均一性の高い塗工層40とを備える、塗工フィルム50を得ることができる。   The base film 20 having the coating layer 40 formed on the surface 22 as described above is further transported as the backup roll 100 rotates as shown in FIG. Thereafter, when the base film 20 is conveyed to a point P2 at which the support of the base film 20 on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 ends, the base film 20 is separated from the backup roll 100. Under the present circumstances, since there is no deformation part (refer deformation part 940 of FIG. 2) by the penetration of air in the base film 20, there is no sudden movement of the base film 20 when it separates from the backup roll 100, The flow of the construction layer 40 does not occur. Therefore, the coated film 50 provided with the base film 20 and the coating layer 40 with high uniformity of the thickness formed on the surface 22 of the base film 20 can be obtained by the manufacturing method described above.

前記の製造方法において、コーター200による基材フィルム20上への塗工液30の塗工は、所望の湿潤膜厚を有する塗工層40が形成されるように行うことが好ましい。ここで、塗工層40の湿潤膜厚とは、液体状態を維持した状態での塗工層40の厚みを示し、乾燥又は硬化した後の塗工層40の厚みを示さない。塗工層40の具体的な湿潤膜厚は、好ましくは0.5μm以上、より好ましくは1μm以上、特に好ましくは5μm以上であり、好ましくは50μm以下、より好ましくは40μm以下、特に好ましくは30μm以下である。塗工層40の湿潤膜厚が、前記範囲の下限値以上であることによって、塗工層40の幅方向における厚みの均一性を容易に制御することが可能であり、また、前記範囲の上限値以下であることによって、塗工液30の液だれを抑制し、流れ方向ならびに幅方向で均一な塗工層40を形成することが可能である。   In the above manufacturing method, the coating of the coating liquid 30 on the substrate film 20 by the coater 200 is preferably performed so as to form a coating layer 40 having a desired wet film thickness. Here, the wet film thickness of the coating layer 40 shows the thickness of the coating layer 40 in the state which maintained the liquid state, and does not show the thickness of the coating layer 40 after drying or hardening. The specific wet film thickness of the coating layer 40 is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1 μm or more, particularly preferably 5 μm or more, preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, particularly preferably 30 μm or less It is. When the wet film thickness of the coating layer 40 is at least the lower limit value of the above range, it is possible to easily control the uniformity of the thickness in the width direction of the coating layer 40, and the upper limit of the above range By being less than a value, it is possible to suppress the dripping of the coating liquid 30, and to form the coating layer 40 uniform in a flow direction and the width direction.

塗工層40の湿潤膜厚は、例えば、基材フィルム20の搬送速度、及び、塗工液30の塗工速度(前記実施形態では、単位時間当たりの塗工液30の吐出量)によって、調整しうる。   The wet film thickness of the coating layer 40 depends on, for example, the transport speed of the base film 20 and the coating speed of the coating liquid 30 (in the embodiment, the discharge amount of the coating liquid 30 per unit time). It can be adjusted.

上述した塗工フィルム50の製造方法は、上述した工程に加えて、更に任意の工程を含んでいてもよい。例えば、塗工層40を乾燥させる工程、塗工層40を硬化させる工程、塗工層40に含まれる液晶化合物を配向させる工程、塗工フィルム50に表面処理を施す工程、塗工フィルム50を延伸する工程、塗工フィルム50の塗工面あるいはその反対側の面(反塗工面)に保護フィルムを貼合する工程、塗工フィルム50をスリットする工程、塗工フィルム50を連続で巻き取る工程などを含んでいてもよい。   The manufacturing method of the coating film 50 mentioned above may further include an arbitrary process in addition to the process mentioned above. For example, a step of drying the coating layer 40, a step of curing the coating layer 40, a step of orienting a liquid crystal compound contained in the coating layer 40, a step of surface treating the coating film 50, a coating film 50 A step of stretching, a step of laminating a protective film on the coated surface of the coated film 50 or the opposite surface (non-coated surface), a step of slitting the coated film 50, a step of continuously winding the coated film 50 Etc. may be included.

[9.塗工フィルム]
上述した製造方法で製造された塗工フィルム50は、基材フィルム20と、この基材フィルム20上に設けられた塗工層40とを備える複層構造のフィルムである。長尺の基材フィルム20を用いた場合、この塗工フィルム50も、長尺のフィルムとして得られる。塗工フィルム50は、基材フィルム20の塗工層40とは反対側の面21が、式(3)を満たす高い平滑性を有し、かつ、塗工層40における厚みムラが抑制されている。
[9. Coating film]
The coating film 50 manufactured by the manufacturing method mentioned above is a film of a multilayer structure provided with the base film 20 and the coating layer 40 provided on this base film 20. As shown in FIG. When the long base film 20 is used, this coating film 50 is also obtained as a long film. In the coating film 50, the surface 21 of the base film 20 on the opposite side to the coating layer 40 has high smoothness satisfying formula (3), and thickness unevenness in the coating layer 40 is suppressed. There is.

厚みムラが抑制されているので、通常、塗工層40は、厚みムラの個数密度が、小さい。ここで、厚みムラの個数密度とは、単位面積当たりの厚みムラの個数のことを表す。塗工層40の厚みムラの具体的な個数密度は、好ましくは20個/m以下、より好ましくは10個/m以下、特に好ましくは5個/m以下であり、理想的には0個/mである。長尺の塗工フィルムにおいてこのように厚みムラの個数密度を小さくすることは従来は難しかったが、上述した製造方法では、このように厚みムラの個数密度が小さい塗工層40を備えた塗工フィルム50が得られる。したがって、上述した製造方法によれば、塗工フィルム50の歩留まりを高めることが可能である。 Since the thickness unevenness is suppressed, the coated layer 40 usually has a small number density of thickness unevenness. Here, the number density of thickness unevenness means the number of thickness unevenness per unit area. The specific number density of the thickness unevenness of the coating layer 40 is preferably 20 pieces / m 2 or less, more preferably 10 pieces / m 2 or less, particularly preferably 5 pieces / m 2 or less, and ideally It is 0 piece / m 2 . Conventionally, it has been difficult to reduce the number density of thickness unevenness in a long coated film in this manner, but in the above-described manufacturing method, a coating provided with a coating layer 40 having a small number density of thickness unevenness is used. A working film 50 is obtained. Therefore, according to the manufacturing method mentioned above, it is possible to raise the yield of coating film 50.

塗工フィルム50における塗工層40の厚みムラの個数密度は、下記の方法によって測定しうる。
塗工フィルム50の塗工層40とは反対側の面21に、黒色のフィルムを貼合する。その後、3波長型蛍光管によって塗工フィルム50の塗工層40側の面を照らし、反射される光を観察する。塗工層40に厚みムラがある部分では、厚みムラに起因する光の干渉によって着色した環状ムラが観察される。そこで、前記の方法で5mm径以上の環状ムラの数をカウントすることにより、塗工層40の厚みムラの数を測定して、厚みムラの個数密度を求めうる。
The number density of the thickness unevenness of the coating layer 40 in the coating film 50 can be measured by the following method.
A black film is bonded to the surface 21 of the coated film 50 opposite to the coated layer 40. Thereafter, the surface of the coating film 50 on the coating layer 40 side is illuminated with a three-wavelength fluorescent tube, and the reflected light is observed. In the portion where the coating layer 40 has uneven thickness, annular unevenness that is colored due to interference of light due to uneven thickness is observed. Therefore, the number density unevenness of the coating layer 40 can be measured by counting the number of annular unevenness having a diameter of 5 mm or more by the above method, and the number density of the thickness unevenness can be obtained.

また、上述した製造方法によれば、通常は、厚みムラの発生頻度だけでなく、厚みムラの強さも抑制できる。よって、通常、塗工層40では、厚みムラにおける厚い部分と薄い部分との厚みの差が小さい。そのため、厚みムラを含むフィルム部分を塗工フィルム50から切り出し、これを光学フィルムとして画像表示装置に設けた場合でも、画像表示装置に表示ムラは生じ難い。ここで表示ムラとは、色又は輝度が、画面の他の部分と異なる部分をいい、1mm径以上の円形状のものをいう。   Moreover, according to the manufacturing method mentioned above, not only the generation | occurrence | production frequency of thickness nonuniformity but the intensity | strength of thickness nonuniformity can be suppressed normally. Therefore, normally, in the coating layer 40, the difference in thickness between the thick portion and the thin portion in the thickness unevenness is small. Therefore, even when the film portion including the thickness unevenness is cut out from the coating film 50 and provided as an optical film in the image display device, the display unevenness does not easily occur in the image display device. Here, the display unevenness refers to a portion where the color or the luminance is different from the other portion of the screen, and refers to a circular shape having a diameter of 1 mm or more.

塗工層40の厚みは、塗工層40に求められる機能及び物性に応じて適切に設定してもよく、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.5μm以上、特に好ましくは1.0μm以上であり、好ましくは10.0μm以下、より好ましくは7.0μm以下、特に好ましくは5.0μm以下である。   The thickness of the coating layer 40 may be appropriately set according to the function and physical properties required of the coating layer 40, preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.5 μm or more, particularly preferably 1.0 μm. It is the above, Preferably it is 10.0 micrometers or less, More preferably, it is 7.0 micrometers or less, Especially preferably, it is 5.0 micrometers or less.

通常、塗工フィルム50において、塗工層40は、乾燥処理又は硬化処理を施されることにより、硬化した層となっている。この硬化した塗工層40には、例えば、塗工液30の固形分が含まれたり、塗工液30に含まれる成分の反応生成物が含まれたりしうる。   Usually, in the coating film 50, the coating layer 40 is a cured layer by being subjected to a drying process or a curing process. The cured coating layer 40 may contain, for example, the solid content of the coating liquid 30, or the reaction product of the components contained in the coating liquid 30.

例えば、塗工液30としてハードコート液を用いた場合には、硬化した塗工層40は、重合性単量体の重合体を含む樹脂からなるハードコート層でありうる。   For example, when a hard coating solution is used as the coating solution 30, the cured coating layer 40 may be a hard coating layer made of a resin containing a polymer of a polymerizable monomer.

また、例えば、塗工液30として組成物(A)を用いた場合には、硬化した塗工層40は、硬化液晶分子を含む光学異方性層でありうる。特に、基材フィルム20として延伸処理を施された樹脂フィルムを用いた場合、光学異方性層は、通常、樹脂フィルムの延伸による配向方向と略同一方向に沿った遅相軸を有しうる。具体的には、光学異方性層に含まれる硬化液晶分子が、樹脂フィルムの配向規制力により配向規則性を呈し、それにより遅相軸の方向が制御される。硬化液晶分子は、ホモジニアス配向規則性又はハイブリッド配向規則性を有しうる。   Further, for example, when the composition (A) is used as the coating liquid 30, the cured coating layer 40 may be an optically anisotropic layer containing cured liquid crystal molecules. In particular, when a resin film subjected to a stretching treatment is used as the base film 20, the optically anisotropic layer can usually have a slow axis along substantially the same direction as the orientation direction by the stretching of the resin film. . Specifically, the cured liquid crystal molecules contained in the optically anisotropic layer exhibit alignment regularity by the alignment regulating force of the resin film, whereby the direction of the slow axis is controlled. The cured liquid crystal molecules may have homogeneous alignment order or hybrid alignment order.

ここで、「ハイブリッド配向規則性を有する」とは、基材フィルム20としての樹脂フィルムの表面近くにおいては分子が当該表面に対して水平に配向し、表面から遠い空気界面側の分子ほど水平方向に対して傾く配向規則性を有することをいう。ある態様においては、硬化液晶分子が、円盤状液晶化合物の硬化物であり、当該態様においては、液晶分子はハイブリッド配向しうる。   Here, “having hybrid orientation regularity” means that molecules are horizontally oriented with respect to the surface of the resin film as the base film 20 near the surface, and the molecules closer to the air interface further from the surface have a horizontal direction It has the orientation regularity which inclines to. In one aspect, the cured liquid crystal molecules are a cured product of a discotic liquid crystal compound, and in this aspect, the liquid crystal molecules may be hybrid-aligned.

ハイブリッド配向の具体例を、図4及び図5を参照して説明する。図4及び図5は、円盤状液晶化合物のハイブリッド配向の状態を模式的に示す斜視図及び上面図である。図4及び図5においては、水平な方向(矢印422に直交する方向)に載置された樹脂フィルムの表面の上に、円盤状液晶化合物411が配向した状態を示している。樹脂フィルムの延伸による配向方向は、矢印421で示される。円盤状液晶化合物411は、下側即ち樹脂フィルムの表面近くの分子は水平に配向している一方、上側の分子ほど矢印415方向に傾いている。このような円盤状液晶化合物のハイブリッド配向は、光学異方性層の屈折率異方性を、極角0°方向(矢印422の方向)及び、極角0°方向から、矢印431〜434に示すように様々な方位角及び極角で傾いた方向から測定することにより確認しうる。このようにハイブリッド配向した円盤状液晶化合物の層は、通常矢印415が傾く方向に遅相軸を有し、したがって、通常矢印421方向に遅相軸を有する。   An example of hybrid orientation is described with reference to FIGS. 4 and 5. 4 and 5 are a perspective view and a top view schematically showing the state of the hybrid alignment of the discotic liquid crystal compound. FIGS. 4 and 5 show a state in which the discotic liquid crystal compound 411 is aligned on the surface of the resin film placed in the horizontal direction (the direction orthogonal to the arrow 422). The orientation direction of the resin film by stretching is indicated by an arrow 421. In the discotic liquid crystal compound 411, the molecules on the lower side, ie, near the surface of the resin film, are horizontally aligned, while the molecules on the upper side are inclined in the direction of the arrow 415. The hybrid alignment of such a discotic liquid crystal compound is as follows: from the polar angle 0 direction (direction of arrow 422) and the polar angle 0 direction to the arrows 431 to 434, the refractive index anisotropy of the optically anisotropic layer It can be confirmed by measuring from various directions at different azimuth and polar angles as shown. The layer of the discotic liquid crystal compound thus hybrid-oriented usually has a slow axis in the direction in which the arrow 415 tilts, and thus has a slow axis in the direction of the normal arrow 421.

一方「ホモジニアス配向規則性を有する」とは、硬化液晶分子のメソゲンの長軸方向を基材フィルム20としての樹脂フィルムの表面に投影して得られる線の平均方向が、表面に水平なある一の方向(例えば樹脂フィルムの表面ダイレクターの方向)に整列することをいう。さらに、ある所定の方向に「沿った」ホモジニアス配向規則性とは、当該整列方向が、前記所定の方向と略同一方向に沿うことをいう。前記所定の方向は、樹脂フィルムの延伸による配向方向としうる。硬化液晶分子がホモジニアス配向規則性を有しているか否か、及びその整列方向は、AxoScan(Axometrics社製)に代表されるような位相差計を用いた遅相軸方向の測定と、遅相軸方向ならびに遅相軸と直交方向における入射角毎のレターデーション分布の測定とにより確認しうる。   On the other hand, “having homogeneous orientation regularity” means that the average direction of the line obtained by projecting the long axis direction of the mesogen of the cured liquid crystal molecules onto the surface of the resin film as the base film 20 is horizontal to the surface (Eg, the direction of the surface director of the resin film). Furthermore, homogeneous alignment regularity “along” a predetermined direction means that the alignment direction is substantially the same as the predetermined direction. The predetermined direction may be an orientation direction by stretching of a resin film. Whether or not the cured liquid crystal molecules have homogeneous alignment regularity, and the alignment direction thereof, the measurement of the slow axis direction using a retardation meter as represented by AxoScan (manufactured by Axometrics), and the slow phase This can be confirmed by measurement of the retardation distribution for each incident angle in the axial direction and in the direction orthogonal to the slow axis.

ここで、硬化液晶分子が、棒状の分子構造を有する重合性液晶化合物を重合させてなるものである場合は、通常は、当該重合性液晶化合物のメソゲンの長軸方向が、硬化液晶分子のメソゲンの長軸方向となる。また、重合性液晶化合物として逆波長分散重合性液晶化合物を用いた場合のように、光学異方性層中に、配向方向の異なる複数種類のメソゲンが存在する場合は、それらのうち最も長い種類のメソゲンの長軸方向が整列する方向が、当該整列方向となる。   Here, when the cured liquid crystal molecules are obtained by polymerizing a polymerizable liquid crystal compound having a rod-like molecular structure, usually, the long axis direction of the mesogen of the polymerizable liquid crystal compound is the mesogen of the cured liquid crystal molecules. The long axis direction of In addition, as in the case where a reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound is used as the polymerizable liquid crystal compound, in the case where plural kinds of mesogens having different alignment directions are present in the optically anisotropic layer, the longest kind among them is selected. The direction in which the long axis directions of the mesogens of the are aligned is the alignment direction.

本願において、樹脂フィルムの延伸による配向方向と「略」同一方向に沿った遅相軸とは、樹脂フィルムの延伸による配向方向と、当該遅相軸とがなす角が、5°以内であることをいう。当該角は、好ましくは3°以内であり、より好ましくは1°以内である。   In the present application, the angle between the orientation direction by stretching the resin film and the slow axis along the “substantially” same direction is within 5 ° between the orientation direction by the stretching of the resin film and the slow axis. Say The angle is preferably within 3 °, more preferably within 1 °.

樹脂フィルムとして上に説明した所定のものを用い、さらに光学異方性層の材料を適宜選択することにより、光学異方性層に、樹脂フィルムの延伸による配向方向と略同一方向に沿った配向規則性を付与することができ、その結果、配向規則性を有する光学異方性層を得ることができる。   By using the predetermined one described above as the resin film and further selecting the material of the optically anisotropic layer appropriately, the optically anisotropic layer is oriented along substantially the same direction as the orientation direction by the stretching of the resin film Regularity can be imparted, and as a result, an optically anisotropic layer having orientation regularity can be obtained.

光学異方性層は、逆波長分散性を有することが好ましい。即ち、光学異方性層は、短波長より長波長の透過光について高い面内レターデーションを示す波長分散を有することが好ましい。光学異方性層は、少なくとも可視光の帯域の一部、好ましくは全部においてそのような逆波長分散性を有することが好ましい。光学異方性層が逆波長分散性を有することにより、λ/4波長板又はλ/2波長板といった光学用途において、広い帯域において均一に機能を発現しうる。   The optically anisotropic layer preferably has reverse wavelength dispersion. That is, the optically anisotropic layer preferably has wavelength dispersion exhibiting high in-plane retardation for transmitted light having a wavelength longer than that of the short wavelength. The optically anisotropic layer preferably has such reverse wavelength dispersion in at least part of, and preferably all of the visible light band. When the optically anisotropic layer has reverse wavelength dispersion, it can exhibit functions uniformly in a wide band in optical applications such as λ / 4 wavelength plate or λ / 2 wavelength plate.

好ましい態様として、光学異方性層は、λ/4波長板又はλ/2波長板として用いうる光学特性を有する。具体的には、測定波長550nmで測定した面内レターデーションReが、108nm〜168nmの範囲である場合、λ/4波長板として使用しうる。また測定波長550nmで測定した面内レターデーションReが245nm〜305nmの範囲である場合、λ/2波長板として使用しうる。より具体的には、λ/4波長板の場合、測定波長550nmで測定した面内レターデーションReは、好ましくは128nm〜148nm、より好ましくは133nm〜143nmの範囲である。またλ/2波長板の場合、測定波長550nmで測定した面内レターデーションReは、好ましくは265nm〜285nm、より好ましくは270nm〜280nmの範囲である。ここで、面内レターデーションReは、下記式に従って算出する。
Re=(nx−ny)×d(式中、nxは、光学異方性層の面内の遅相軸方向の屈折率(面内の最大屈折率)であり、nyは、光学異方性層の面内の遅相軸に垂直な方向の屈折率であり、dは、光学異方性層の厚み(nm)である。)
光学異方性層が、このようなλ/4波長板又はλ/2波長板として用いうる光学特性を有する場合、それを利用して、λ/4波長板又はλ/2波長板を有する円偏光板等の光学素子を容易に製造しうる。
In a preferred embodiment, the optically anisotropic layer has optical properties that can be used as a λ / 4 wavelength plate or a λ / 2 wavelength plate. Specifically, when the in-plane retardation Re measured at a measurement wavelength of 550 nm is in the range of 108 nm to 168 nm, it can be used as a λ / 4 wavelength plate. When the in-plane retardation Re measured at a measurement wavelength of 550 nm is in the range of 245 nm to 305 nm, it can be used as a λ / 2 wavelength plate. More specifically, in the case of a λ / 4 wavelength plate, the in-plane retardation Re measured at a measurement wavelength of 550 nm is preferably in the range of 128 nm to 148 nm, more preferably 133 nm to 143 nm. In the case of a λ / 2 wavelength plate, the in-plane retardation Re measured at a measurement wavelength of 550 nm is preferably in the range of 265 nm to 285 nm, and more preferably 270 nm to 280 nm. Here, the in-plane retardation Re is calculated according to the following equation.
Re = (nx−ny) × d (wherein, nx is the refractive index in the direction of the slow axis in the plane of the optically anisotropic layer (maximum refractive index in the plane), and ny is the optical anisotropy The refractive index in the direction perpendicular to the in-plane slow axis of the layer, and d is the thickness (nm) of the optically anisotropic layer.
When the optically anisotropic layer has optical properties that can be used as such a λ / 4 wavelength plate or λ / 2 wavelength plate, a circle having the λ / 4 wavelength plate or λ / 2 wavelength plate is utilized by using it. An optical element such as a polarizing plate can be easily manufactured.

光学異方性層の遅相軸と光学異方性層の幅方向とがなす角度は、基材フィルム20としての樹脂フィルムの延伸による配向方向と樹脂フィルムの幅方向とがなす角度と同様としうる。具体的には、光学異方性層の遅相軸と光学異方性層の幅方向とがなす角度は、0°〜90°としうる。また、ある態様において、光学異方性層の遅相軸と光学異方性層の幅方向とがなす角度が、40°〜50°であることが特に好ましい。また、具体的には、光学異方性層の遅相軸と光学異方性層の幅方向とがなす角度を、好ましくは15°±5°、22.5±5°、45°±5°、75°±5°、より好ましくは15°±4°、22.5±4°、45°±4°、75°±4°、さらにより好ましくは15°±3°、22.5±3°、45°±3°、75°±3°といった特定の範囲としうる。このような角度関係を有することにより、塗工フィルム50を、特定の円偏光板の効率的な製造を可能にする材料とすることができる。   The angle between the slow axis of the optically anisotropic layer and the width direction of the optically anisotropic layer is the same as the angle between the orientation direction of the resin film as the base film 20 and the width direction of the resin film. sell. Specifically, the angle between the slow axis of the optically anisotropic layer and the width direction of the optically anisotropic layer may be 0 ° to 90 °. Further, in an aspect, it is particularly preferable that an angle formed by the slow axis of the optically anisotropic layer and the width direction of the optically anisotropic layer is 40 ° to 50 °. More specifically, the angle between the slow axis of the optically anisotropic layer and the width direction of the optically anisotropic layer is preferably 15 ° ± 5 °, 22.5 ± 5 °, 45 ° ± 5. °, 75 ° ± 5 °, more preferably 15 ° ± 4 °, 22.5 ± 4 °, 45 ° ± 4 °, 75 ° ± 4 °, even more preferably 15 ° ± 3 °, 22.5 ± It may be a specific range such as 3 °, 45 ° ± 3 °, 75 ° ± 3 °. By having such an angular relationship, the coating film 50 can be made into the material which enables efficient manufacture of a specific circularly-polarizing plate.

塗工フィルム50は、光学フィルムとして用いるために、高い透明性を有することが好ましい。
塗工フィルム50の具体的な全光線透過率は、好ましくは85%以上、より好ましくは86%以上、特に好ましくは88%以上である。塗工フィルム50の全光線透過率は、紫外・可視分光計を用いて、波長380nm〜780nmの範囲で測定しうる。
塗工フィルム50の具体的なヘイズは、好ましくは5%以下、より好ましくは3%以下、特に好ましくは1%以下である。塗工フィルム50のヘイズは、JIS K7136に準拠して、ヘイズメーター(東洋精機社製「ヘイズガードII)を用いて測定しうる。
The coating film 50 preferably has high transparency in order to be used as an optical film.
The specific total light transmittance of the coating film 50 is preferably 85% or more, more preferably 86% or more, and particularly preferably 88% or more. The total light transmittance of the coating film 50 can be measured in the wavelength range of 380 nm to 780 nm using an ultraviolet and visible spectrometer.
The specific haze of the coating film 50 is preferably 5% or less, more preferably 3% or less, and particularly preferably 1% or less. The haze of the coated film 50 can be measured using a haze meter ("Haze Guard II" manufactured by Toyo Seiki Co., Ltd.) in accordance with JIS K7136.

[10.画像表示装置]
上述した製造方法で製造された塗工フィルム50は、広範な用途に用いることができ、中でも光学用途に用いることが好ましい。光学用途に用いる場合、塗工フィルム50から適切な形状及び大きさで光学フィルムを切り出し、その光学フィルムを使用しうる。例えば、この光学フィルムを、液晶表示装置及び有機エレクトロルミネッセンス表示装置等の画像表示装置に設けて用いうる。
[10. Image display device]
The coating film 50 manufactured by the manufacturing method mentioned above can be used for a wide range of applications, and it is preferable to use for optical applications especially. When used for optical applications, an optical film may be cut out from the coated film 50 with an appropriate shape and size, and the optical film may be used. For example, the optical film can be used by being provided in an image display device such as a liquid crystal display device and an organic electroluminescence display device.

以下、実施例を示して本発明について具体的に説明するが、本発明は以下に説明する実施例に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施してもよい。
以下の説明において、量を表す「%」及び「部」は、別に断らない限り重量基準である。また、以下に説明する操作は、別に断らない限り、常温及び常圧の条件において行った。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples. However, the present invention is not limited to the examples described below, and is within the scope of the claims of the present invention and the equivalent scope thereof. You may implement it by changing it arbitrarily.
In the following description, "%" and "parts" representing quantities are by weight unless otherwise specified. Moreover, unless otherwise indicated, the operation described below was performed under conditions of normal temperature and normal pressure.

[評価方法の説明]
[塗工液の粘度の測定方法]
塗工液の粘度は、音叉型振動粘度計(エーアンドデイ社製「SV−Aシリーズ」)を用いて、液温23℃において測定した。
[Description of evaluation method]
[Method of measuring viscosity of coating liquid]
The viscosity of the coating liquid was measured at a liquid temperature of 23 ° C. using a tuning fork type vibration viscometer (“SV-A series” manufactured by A & D Co., Ltd.).

[基材フィルムの表面粗さの測定方法]
基材フィルムを、200mm(幅方向)×300mm(搬送方向)に切り出して、サンプルフィルムを得た。
このサンプルフィルムのバックアップロール側の面において、測定位置を5か所、設定した。この測定位置における算術平均粗さRa(F)及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)を、CNC表面粗さ測定機(ミツトヨ社製「サーフテストエクストリーム V−3000 CNC」)を用いて、幅方向を走査方向として測定した。この際、測定条件は、走査距離50mm、走査速度0.3mm/s、カットオフ値0.3mmであった。
得られた測定値から、算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))を計算した。
[Method of measuring surface roughness of substrate film]
The base film was cut out into 200 mm (width direction) x 300 mm (conveying direction) to obtain a sample film.
On the surface of the backup roll side of this sample film, five measurement positions were set. Arithmetic mean roughness Ra (F) and mean length RSm (F) of roughness curvilinear elements at this measurement position are measured using a CNC surface roughness measuring machine (Mitsutoyo "Surf Test Extreme V-3000 CNC") The width direction was measured as the scanning direction. At this time, the measurement conditions were a scanning distance of 50 mm, a scanning speed of 0.3 mm / s, and a cutoff value of 0.3 mm.
From the measured values obtained, the average value M (Ra (F)) of the arithmetic average roughness Ra (F), and the average value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curve element Was calculated.

[バックアップロールの表面粗さの測定方法]
バックアップロールの外周面において、測定位置を5か所、設定した。この測定位置における算術平均粗さRa(R)及び粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)を、表面粗さ・輪郭形状測定機(東京精密社製「サーフコム130A」)を用いて、軸方向を走査方向として測定した。この際、測定条件は、走査距離50mm、走査速度0.3mm/sであった。
得られた測定値から、算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))、粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の平均値M(RSm(R))、及び、粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の標準偏差σ(RSm(R))を計算した。
[Method of measuring surface roughness of backup roll]
Five measurement positions were set on the outer peripheral surface of the backup roll. Arithmetic mean roughness Ra (R) and mean length RSm (R) of roughness curvilinear elements at this measurement position are measured using a surface roughness / contour shape measuring machine ("Surfcom 130A" manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.). The direction was measured as the scan direction. At this time, the measurement conditions were a scanning distance of 50 mm and a scanning speed of 0.3 mm / s.
From the measured values obtained, the average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R), the average value M (RSm (R)) of the average length RSm (R) of the roughness curve element, and The standard deviation σ (RSm (R)) of the mean length RSm (R) of the roughness curve elements was calculated.

[塗工層の厚みムラの個数の測定方法]
塗工層とは反対側の塗工フィルムの面に、黒色ポリエチレンテレフタレートフィルム(巴川製紙所社製「くっきりミエール」)を貼合した。その後、3波長型蛍光管によって塗工フィルムの塗工層側の面を照らし、反射される光を観察した。そして、塗工フィルムの長さ1m×塗工幅の範囲において、光の干渉によって生じる円形状の5mm径以上の干渉ムラの数を、塗工層の厚みムラの数としてカウントした。
[Method of measuring the number of uneven thickness of coated layer]
On the surface of the coated film on the opposite side to the coated layer, a black polyethylene terephthalate film ("Kokikiri Miere" manufactured by Yodogawa Paper Mill Co., Ltd.) was bonded. Thereafter, the surface on the coated layer side of the coated film was illuminated with a three-wavelength fluorescent tube, and the reflected light was observed. And in the range of length 1m x coating width of a coating film, the number of the interference nonuniformity of circular 5 mm diameter or more which arises by interference of light was counted as the number of thickness nonuniformity of a coating layer.

[液晶表示装置での表示ムラの評価方法1]
ポリビニルアルコールフィルムにヨウ素をドープして一方向に延伸して製造された偏光子を用意した。この偏光子の片面に、ハードコート液(1)を用いて実施例1〜8、12、ならびに比較例1、2、参考例1で作製した塗工フィルムないしハードコート液(2)を用いて実施例9で作製した塗工フィルムの、基材フィルム側の面を、紫外線硬化型のアクリル接着剤で貼り合わせた。この際、塗工フィルムの遅相軸は、厚み方向から見て、偏光子の透過軸に対して45°の角度をなすようにした。
また、偏光子のもう片面には、偏光板保護フィルムとして、横一軸延伸を施したシクロオレフィンフィルムを、紫外線硬化型アクリル接着剤で貼り合わせた。この際、シクロオレフィンフィルムの遅相軸は、厚み方向から見て、偏光子の透過軸に対して平行にした。
その後、紫外線を照射して接着剤を硬化させることにより、偏光板保護フィルム、接着剤の層、偏光子、接着剤の層、基材フィルムおよび塗工層を厚み方向においてこの順に備える偏光板を得た。
公知のインセルタイプのタッチセンサーを備える液晶パネルに装着された偏光板を剥離し、上記で作製した偏光板を代わりに装着して、評価用の液晶表示装置を作製した。この際、偏光板の向きは、塗工層の面が視認側に向くように設定した。
その後、液晶表示装置を黒表示にし、外光が明るい明環境下で、反射光が強い状態で画面を観察した。そして、画面で観察された、色または輝度が他の部分と異なる表示ムラの有無を評価した。表示ムラは、塗工層の厚みムラにおいて厚い部分と薄い部分との厚みの差が大きい場合に、強く表示される傾向がある。そのため、この表示ムラにより、厚みムラの強さ(厚い部分と薄い部分との厚みの差)を評価できる。
インセルタッチパネルを有する液晶表示装置での1mm径以上の表示ムラが見られなかった場合を「なし」、1個以上見られた場合を「あり」とした。
[Method 1 for evaluating display unevenness on liquid crystal display device]
A polarizer produced by doping a polyvinyl alcohol film with iodine and stretching in one direction was prepared. The coated film or hard coating solution (2) prepared in Examples 1 to 8 and 12 and Comparative Examples 1 and 2 and Reference Example 1 using the hard coating solution (1) on one side of this polarizer The surface on the substrate film side of the coated film produced in Example 9 was bonded with an ultraviolet curable acrylic adhesive. Under the present circumstances, the slow axis of the coating film was made to make an angle of 45 degrees with respect to the transmission axis of a polarizer, seeing from the thickness direction.
Further, on the other surface of the polarizer, as a polarizing plate protective film, a cycloolefin film subjected to transverse uniaxial stretching was bonded with an ultraviolet curable acrylic adhesive. At this time, the slow axis of the cycloolefin film was parallel to the transmission axis of the polarizer when viewed from the thickness direction.
Thereafter, the polarizing plate is provided with a polarizing plate protective film, a layer of an adhesive, a polarizer, a layer of an adhesive, a base film, and a coating layer in this order in the thickness direction by irradiating ultraviolet rays to cure the adhesive. Obtained.
The polarizing plate mounted on a liquid crystal panel provided with a known in-cell type touch sensor was peeled off, and the polarizing plate manufactured above was mounted instead to manufacture a liquid crystal display device for evaluation. Under the present circumstances, the direction of the polarizing plate was set so that the surface of a coating layer might turn to the visual recognition side.
After that, the liquid crystal display was turned to black display, and the screen was observed in a state where the reflected light was strong under a bright environment where the external light is bright. Then, the presence or absence of display unevenness different from the other portions in color or luminance observed on the screen was evaluated. Display unevenness tends to be displayed strongly when the difference in thickness between the thick part and the thin part is large in the thickness unevenness of the coated layer. Therefore, the strength of the thickness unevenness (difference in thickness between the thick portion and the thin portion) can be evaluated by the display unevenness.
The case where no display unevenness of 1 mm or more in diameter was not observed in the liquid crystal display device having an in-cell touch panel was regarded as "none", and the case where one or more were observed was regarded as "present".

[液晶表示装置での表示ムラの評価方法2]
ツイステッドネマチック型液晶セル(液晶の異常光と常光の屈折率の差と液晶セルのギャップサイズの積450nm、ねじれ角90゜)を備えた液晶表示装置を用意した。前記液晶セルに装着された2枚の偏光板を液晶セルから剥離し、実施例11で製造した塗工フィルムから切り出して得た光学フィルムを、前記剥離した偏光板に装着した。この際、光学フィルムは、基材フィルム側の面が偏光板に面する向きで、装着した。その後、これらの偏光板を、視認者側から偏光板/光学フィルム/液晶セル/光学フィルム/偏光板の順の構成となるよう液晶セルに装着した。その後、液晶表示装置を黒表示させ、画面を観察した。そして、画面で観察された、色又は輝度が他の部分と異なる表示ムラの有無を評価した。表示ムラは、塗工層の厚みムラにおいて厚い部分と薄い部分との厚みの差が大きい場合に、位相差ムラを伴い強く表示される傾向がある。そのため、この表示ムラにより、厚みムラの強さならびに位相差ムラの強さ(厚い部分と薄い部分との厚みの差)を評価できる。
ツイスティッドネマチック型液晶表示装置での1mm径以上の表示ムラが見られなかった場合を「なし」、1個以上見られた場合を「あり」とした。
[Method 2 for evaluating display unevenness in liquid crystal display device]
A liquid crystal display device was prepared comprising a twisted nematic liquid crystal cell (product of the difference between the refractive index of the extraordinary light and the ordinary light of the liquid crystal and the gap size of the liquid crystal cell of 450 nm, twist angle 90 °). The two polarizing plates mounted in the liquid crystal cell were peeled off from the liquid crystal cell, and an optical film obtained by cutting out from the coated film produced in Example 11 was mounted on the peeled polarizing plate. At this time, the optical film was mounted such that the surface on the side of the base film faced the polarizing plate. Thereafter, these polarizing plates were mounted on the liquid crystal cell in the following order from the viewer side: polarizing plate / optical film / liquid crystal cell / optical film / polarizing plate. Thereafter, the liquid crystal display was displayed in black and the screen was observed. Then, the presence or absence of display unevenness different from the other portions in color or luminance observed on the screen was evaluated. Display unevenness tends to be displayed strongly with phase difference unevenness when the thickness difference between the thick portion and the thin portion is large in the thickness unevenness of the coating layer. Therefore, it is possible to evaluate the strength of the thickness unevenness and the strength of the phase difference unevenness (difference in thickness between the thick portion and the thin portion) by the display unevenness.
The case where no display unevenness of 1 mm or more in diameter was not observed in the twisted nematic type liquid crystal display device was regarded as "none", and the case where one or more were observed was regarded as "present".

[有機エレクトロルミネッセンス表示装置での表示ムラの評価方法]
偏光フィルム(サンリッツ社製「HLC2−5618S」、厚さ180μm、幅方向に対して90°の方向に吸収軸を有するフィルム。)を用意した。この偏光フィルムの一方の面に、実施例10で製造した塗工フィルムから切り出して得られた光学フィルムを、貼合した。この際、光学フィルムは、基材フィルム側の面が偏光フィルムに面する向きで、貼合した。また、貼合は、粘着剤(日東電工製「CS9621T」)の層を介して行った。これにより、偏光フィルム/粘着剤の層/光学フィルムの層構成を有する偏光板を得た。
[Method for evaluating display unevenness on organic electroluminescent display device]
A polarizing film ("HLC2-5618S" manufactured by Sanritz, thickness 180 μm, film having an absorption axis in the direction of 90 ° with respect to the width direction) was prepared. The optical film obtained by cutting out from the coated film manufactured in Example 10 was bonded to one surface of this polarizing film. Under the present circumstances, the optical film was bonded in the direction to which the surface at the side of a base film faces a polarizing film. In addition, bonding was performed via a layer of a pressure-sensitive adhesive (“CS9621T” manufactured by Nitto Denko Corporation). Thereby, the polarizing plate which has a layer structure of the layer of a polarizing film / layer of an adhesive / optical film was obtained.

市販のRGB発色の有機エレクトロルミネッセンス表示装置(SAMSUNG社製)から、タッチパネルを取り外した。発光パネル上に、上記で作製した偏光板を配置した。その後、有機エレクトロルミネッセンス表示装置を黒表示させ、明視野下で画面を観察した。そして、画面で観察された、色又は輝度が他の部分と異なる表示ムラの有無を評価した。表示ムラにより、厚みムラに伴う位相差ムラの強さ(厚い部分と薄い部分との厚みの差)を評価できる。
有機EL表示装置での1mm径以上の表示ムラが見られなかった場合を「なし」、1個以上見られた場合を「あり」とした。
The touch panel was removed from a commercially available RGB-colored organic electroluminescent display device (manufactured by SAMSUNG). The polarizing plate produced above was disposed on the light emitting panel. Thereafter, the organic electroluminescent display was displayed in black, and the screen was observed under bright field. Then, the presence or absence of display unevenness different from the other portions in color or luminance observed on the screen was evaluated. By the display unevenness, it is possible to evaluate the strength of the phase difference unevenness (difference in thickness between the thick portion and the thin portion) due to the thickness unevenness.
The case where no display unevenness of 1 mm or more in diameter was not observed in the organic EL display device was regarded as "none", and the case where one or more were observed was regarded as "presence".

[バックアップロールの外周面での基材フィルムのグリップ性の評価方法]
バックアップロールの外周面に支持された状態の基材フィルムを目視で観察した。
基材フィルムがバックアップロールの外周面で滑らず、基材フィルムのフィルム幅方向の端部位置が流れ方向でほぼ一定である場合は「良」と判定し、基材フィルムがバックアップロール上で滑って、基材フィルムの端部位置が流れ方向でズレが生じている場合は「不良」と判定した。
[Method for evaluating grip of base film on outer peripheral surface of backup roll]
The base film in a state of being supported by the outer peripheral surface of the backup roll was visually observed.
If the base film does not slide on the outer peripheral surface of the backup roll and the end position of the base film in the film width direction is substantially constant in the flow direction, it is judged as "good" and the base film slips on the backup roll When the end position of the base film deviates in the flow direction, it was determined as "defective".

[製造例1.ハードコート液(1)の製造]
錫酸カリウム130gと酒石酸アンチモニルカリウム30gを純水400gに溶解した混合溶液を調製した。
硝酸アンモニウム1.0gと15%アンモニア水12gを純水1000gに溶解させた水溶液を用意した。この水溶液を60℃で攪拌しながら、この水溶液に前記の混合溶液を12時間かけて添加して、加水分解を行った。また、この際、前記の水溶液をpH9.0に保つように、10%硝酸溶液を前記水溶液に同時に添加した。加水分解により、水溶液中に沈殿物が生成した。
Production Example 1 Production of Hard Coat Liquid (1)]
A mixed solution was prepared by dissolving 130 g of potassium stannate and 30 g of potassium antimonyl tartrate in 400 g of pure water.
An aqueous solution in which 1.0 g of ammonium nitrate and 12 g of 15% ammonia water were dissolved in 1000 g of pure water was prepared. While stirring this aqueous solution at 60 ° C., the above mixed solution was added to this aqueous solution over 12 hours to carry out hydrolysis. At this time, a 10% nitric acid solution was simultaneously added to the aqueous solution so as to keep the aqueous solution at pH 9.0. The hydrolysis formed a precipitate in the aqueous solution.

生成した沈殿物を濾別洗浄した後、再び水に分散させて、固形分濃度20重量%のSbドープ酸化スズ前駆体の水酸化物の分散液を調製した。この分散液を温度100℃で噴霧乾燥して、粉末を得た。得られた粉体を、空気雰囲気下、550℃で2時間加熱処理することにより、アンチモンドープ酸化スズの粉末を得た。   The formed precipitate was separated by filtration and washed, and then dispersed again in water to prepare a dispersion of a hydroxide of Sb-doped tin oxide precursor having a solid concentration of 20% by weight. The dispersion was spray dried at a temperature of 100 ° C. to obtain a powder. The obtained powder was heat-treated at 550 ° C. for 2 hours in an air atmosphere to obtain a powder of antimony-doped tin oxide.

この粉末60部を、濃度4.3重量%の水酸化カリウム水溶液140部に分散させて、水分散液を得た。この水分散液を30℃に保持しながらサンドミルで3時間粉砕して、ゾルを調製した。次に、このゾルに、イオン交換樹脂で、pHが3.0になるまで脱アルカリイオン処理を行った。次いで、このゾルに純水を加えて、アンチモンドープ酸化スズの粒子を固形分濃度20重量%で含む、粒子分散液を調製した。この粒子分散液のpHは、3.3であった。また、粒子の平均粒子径は、9nmであった。   60 parts of this powder was dispersed in 140 parts of potassium hydroxide aqueous solution having a concentration of 4.3% by weight to obtain an aqueous dispersion. The aqueous dispersion was milled with a sand mill for 3 hours while maintaining at 30 ° C. to prepare a sol. Next, this sol was subjected to a de-alkali ion treatment with an ion exchange resin until the pH reached 3.0. Then, pure water was added to the sol to prepare a particle dispersion containing particles of antimony-doped tin oxide at a solid content concentration of 20% by weight. The pH of this particle dispersion was 3.3. In addition, the average particle size of the particles was 9 nm.

次いで、前記の粒子分散液100gを25℃に調整し、テトラエトキシシラン(多摩化学社製:正珪酸エチル、SiO濃度28.8%)4.0gを3分かけて添加した後、30分攪拌を行った。その後、これにエタノール100部を1分かけて添加し、30分間かけて50℃に昇温、15時間加熱処理を行った。加熱処理後の分散液の固形分濃度は10%であった。 Then, 100 g of the above-mentioned particle dispersion is adjusted to 25 ° C., and 4.0 g of tetraethoxysilane (manufactured by Tama Chemical Co., Ltd .: positive ethyl silicate, SiO 2 concentration 28.8%) is added over 3 minutes, and then 30 minutes Stirring was performed. Thereafter, 100 parts of ethanol was added thereto over 1 minute, and the temperature was raised to 50 ° C. over 30 minutes, and heat treatment was performed for 15 hours. The solid concentration of the dispersion after heat treatment was 10%.

次いで、限外濾過膜にて、分散液の分散媒である水及びエタノールをエタノールに置換した。これにより、金属酸化物粒子として、シリカで被覆したアンチモンドープ酸化スズの粒子を固形分濃度20%で含む金属酸化物粒子分散液を得た。この分散液中の金属酸化物粒子は、当該金属酸化物粒子が複数凝集することにより、鎖状に連結して、鎖状連結体を形成していた。このとき、前記の連結体における金属酸化物粒子の平均連結数は、5個であった。なお、平均連結数は、金属酸化物粒子の連結体の写真を透過型電子顕微鏡を用いて撮影し、100個の連結体について、それぞれ連結数を求め、この平均値を計算し、小数点以下1桁を四捨五入して、求めた。   Subsequently, water, which is a dispersion medium of the dispersion, was replaced with ethanol by an ultrafiltration membrane. As a result, a metal oxide particle dispersion liquid containing, as metal oxide particles, particles of antimony-doped tin oxide coated with silica at a solid content concentration of 20% was obtained. The metal oxide particles in the dispersion liquid are linked in a chain by a plurality of aggregations of the metal oxide particles to form a chain linkage. At this time, the average number of connection of the metal oxide particles in the aforementioned connected body was five. In addition, the average connection number is obtained by photographing a photograph of a connected body of metal oxide particles using a transmission electron microscope, determining the connected number for each of 100 connected bodies, and calculating this average value, 1 decimal place It calculated by rounding off the digit.

ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(6A)、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート(5A)及びジペンタエリスリトールテトラアクリレート(4A)を含む重合性単量体組成物(重量比(6A)/(5A)/(4A)=64/17/19、固形分濃度100%)45.9部と、メチルエチルケトン42.7部と、光重合開始剤(チバスペシャリティ社製「イルガキュア184」、固形分100%)2.3部とを十分混合して、混合物を得た。この混合物と、前記の金属酸化物粒子の鎖状連結体を含む金属酸化物粒子分散液9.17部とを混合して、ハードコート液(1)を得た。   Polymerizable monomer composition comprising dipentaerythritol hexaacrylate (6A), dipentaerythritol pentaacrylate (5A) and dipentaerythritol tetraacrylate (4A) (weight ratio (6A) / (5A) / (4A) =) 45.9 parts of 64/17/19, solid content concentration 100%, 42.7 parts of methyl ethyl ketone, and 2.3 parts of a photopolymerization initiator ("IRGACURE 184" manufactured by Ciba Specialty Co., Ltd. 100% solid content) Mix thoroughly to obtain a mixture. This mixture was mixed with 9.17 parts of the metal oxide particle dispersion liquid containing the above chain-like linked metal oxide particle to obtain a hard coat solution (1).

[製造例2:ハードコート液(2)の製造]
イソボロニルメタクリレート187.2g、メチルメタクリレート2.8g、メタクリル酸10.0gを混合して、混合物を得た。
攪拌羽根、窒素導入管、冷却管及び滴下漏斗を備えた1000ml反応容器中に、プロピレングリコールモノメチルエーテル360gを入れ、窒素雰囲気下で110℃に加温した。この反応容器中に、前記の混合物を、3時間かけて等速滴下した。また、前記の混合物の滴下と同時に、ターシャリーブチルペルオキシ−2−エチルヘキサエート2.0g及びプロピレングリコールモノメチルエーテル80.0gを含む溶液を、反応容器中に等速滴下した。これにより、反応容器中に、反応溶液を得た。その後、前記の反応溶液を、1時間、110℃で反応させた。
[Production example 2: Production of hard coating solution (2)]
A mixture was obtained by mixing 187.2 g of isoboronyl methacrylate, 2.8 g of methyl methacrylate and 10.0 g of methacrylic acid.
In a 1000 ml reaction vessel equipped with a stirring blade, a nitrogen introducing pipe, a cooling pipe and a dropping funnel, 360 g of propylene glycol monomethyl ether was placed and heated to 110 ° C. under a nitrogen atmosphere. Into the reaction vessel, the above mixture was dropped at a constant speed over 3 hours. Further, simultaneously with the dropping of the above mixture, a solution containing 2.0 g of tertiary butylperoxy-2-ethylhexaate and 80.0 g of propylene glycol monomethyl ether was dropped at a constant speed into a reaction vessel. Thus, a reaction solution was obtained in the reaction vessel. Thereafter, the reaction solution was allowed to react at 110 ° C. for 1 hour.

その後、反応溶液に、ターシャリーブチルペルオキシ−2−エチルヘキサエート0.2g及びプロピレングリコールモノメチルエーテル17gを含む溶液を滴下して、110℃で30分反応させた。   Thereafter, a solution containing 0.2 g of tert-butylperoxy-2-ethylhexaate and 17 g of propylene glycol monomethyl ether was added dropwise to the reaction solution and reacted at 110 ° C. for 30 minutes.

その後、反応溶液に、テトラブチルアンモニウムブロマイド1.5g、ハイドロキノン0.1g及びプロピレングリコールモノメチルエーテル6gを含む溶液を加えた。更に、空気バブリングを行いながら、反応溶液に、4−ヒドロキシブチルアクリレートグリシジルエーテル24.4g及びプロピレングリコールモノメチルエーテル5.0gを含む溶液を1時間かけて滴下し、その後、5時間かけて更に反応させた。これにより、不飽和二重結合を含有するアクリル共重合体を得た。このアクリル共重合体の、数平均分子量は5500、重量平均分子量(Mw)は18000、SP値は9.7、ガラス転移温度は92℃であった。   Thereafter, a solution containing 1.5 g of tetrabutylammonium bromide, 0.1 g of hydroquinone and 6 g of propylene glycol monomethyl ether was added to the reaction solution. Furthermore, while performing air bubbling, a solution containing 24.4 g of 4-hydroxybutyl acrylate glycidyl ether and 5.0 g of propylene glycol monomethyl ether is added dropwise to the reaction solution over 1 hour, and then further reacted over 5 hours. The Thus, an acrylic copolymer containing unsaturated double bonds was obtained. The acrylic copolymer had a number average molecular weight of 5,500, a weight average molecular weight (Mw) of 18,000, an SP value of 9.7, and a glass transition temperature of 92 ° C.

このアクリル共重合体1.5部、トリエチレングリコール−トリメチロールプロパントリアクリレート(SP値:11.6)20部、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(SP値12.1)39.25部、ペンタエリスリトールトリアクリレート(SP値12.7)39.25部、光重合開始剤として1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン5部、及び、メチルイソブチルケトンを混合して、ハードコート液(2)を得た。メチルイソブチルケトンの量は、ハードコート液(2)の不揮発成分率が50重量%となるように設定した。   1.5 parts of this acrylic copolymer, 20 parts of triethylene glycol-trimethylolpropane triacrylate (SP value: 11.6), 39.25 parts of dipentaerythritol hexaacrylate (SP value 12.1), pentaerythritol triol A hard coat solution (2) was obtained by mixing 39.25 parts of acrylate (SP value 12.7), 5 parts of 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone as a photopolymerization initiator, and methyl isobutyl ketone. The amount of methyl isobutyl ketone was set such that the nonvolatile component ratio of the hard coat solution (2) was 50% by weight.

[製造例3:液晶組成物(1)の製造]
式(B1)で表される逆波長分散重合性液晶化合物21.25部、界面活性剤(AGCセイミケミカル社製「サーフロンS420」)0.11部、重合開始剤(BASF社製「イルガキュア379」)0.64部、及び溶媒(シクロペンタノン、日本ゼオン社製)78.00部を混合し、液晶組成物(1)を調製した。得られた液晶組成物(1)について、表面張力を測定したところ、33.4mN/mであった。
Production Example 3: Production of Liquid Crystal Composition (1)
21.25 parts of a reverse wavelength dispersion polymerizable liquid crystal compound represented by the formula (B1), 0.11 parts of a surfactant ("Surflon S420" manufactured by AGC Seimi Chemical Co., Ltd.), a polymerization initiator ("IRGACURE 379" manufactured by BASF Corp.) 0.64 part and a solvent (Cyclopentanone, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) 78.00 parts were mixed to prepare a liquid crystal composition (1). The surface tension of the obtained liquid crystal composition (1) was 33.4 mN / m.

Figure 0006524844
Figure 0006524844

[製造例4:液晶組成物(2)の製造]
セルロースアセテートブチレート(コダックケミカル社製「CAB−531−1」)6部、特開平9−95467号公報を参照して合成した下記円盤状化合物D1{Rは、いずれも、−O−C(=O)−Ph−O−C−O−C(=O)−CH=CHを表す。}100部、トリプロピレングリコールジアクリレート(東京化成社製)10部、光重合開始剤(BASF製「イルガキュア907」)2部、及びメチルエチルケトン400部を混合し、液晶組成物(2)を調製した。得られた液晶組成物(2)について、表面張力を測定したところ、28.3mN/mであった。
Production Example 4 Production of Liquid Crystal Composition (2)
6 parts of cellulose acetate butyrate (“CAB-531-1” manufactured by Kodak Chemical Co., Ltd.) and the following discotic compounds D1 {R synthesized with reference to JP-A-9-95467 are all —O—C ( = O) represents the -Ph-O-C 4 H 8 -O-C (= O) -CH = CH 2. A liquid crystal composition (2) was prepared by mixing 100 parts, 10 parts of tripropylene glycol diacrylate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), 2 parts of a photopolymerization initiator (“IRGACURE 907” manufactured by BASF), and 400 parts of methyl ethyl ketone . The surface tension of the obtained liquid crystal composition (2) was measured to be 28.3 mN / m.

Figure 0006524844
Figure 0006524844

[実施例1]
SUS304で形成された滑らかな外周面を有する素材ロールを用意した。この素材ロールの外周面にサンドブラスト処理を施した後、当該外周面に研削処理を施して、さらにハードクロムめっきを施し、直径200mmのバックアップロールを得た。このバックアップロールの表面粗さを、上記の方法で測定した。
Example 1
A material roll having a smooth outer peripheral surface formed of SUS304 was prepared. After sandblasting the outer peripheral surface of the material roll, the outer peripheral surface is ground and hard chromium plating is further performed to obtain a backup roll having a diameter of 200 mm. The surface roughness of this backup roll was measured by the method described above.

前記のバックアップロールを用いて、図1に示すように、上記実施形態で説明した構造を有する塗工装置10を組み立てた。この塗工装置10は、バックアップロール100、ダイ210を備えたコーター200、及び、供給ロール300を備えていた。この塗工装置10において、バックアップロール100によって搬送される基材フィルム20の巻付き角θは、178°に設定した。また、ダイ210の位置は、ダイ210の下流側リップ242と基材フィルム20との間に空く間隙Cの大きさが80μmとなるように、調整した。   Using the backup roll described above, as shown in FIG. 1, a coating apparatus 10 having the structure described in the above embodiment was assembled. The coating apparatus 10 includes a backup roll 100, a coater 200 including a die 210, and a supply roll 300. In the coating apparatus 10, the winding angle θ of the base film 20 transported by the backup roll 100 was set to 178 °. Further, the position of the die 210 was adjusted so that the size of the gap C which is open between the downstream lip 242 of the die 210 and the base film 20 was 80 μm.

脂環式構造含有重合体を含む樹脂(日本ゼオン社製「ゼオノア1420R」、ガラス転移温度138℃)からなる長尺の延伸前フィルムを用意した。この延伸前フィルムを、延伸温度140℃、延伸速度20m/minの条件で、延伸前フィルムの長手方向に対して平行でもなく垂直でもない斜め方向に延伸して、斜め延伸処理フィルム(厚み47μm)としての基材フィルム20を用意した。この基材フィルム20のバックアップロール側の面21の表面粗さを測定した。この基材フィルム20を、前記のように組み立てた塗工装置10に供給し、バックアップロール100の外周面110で支持させた。バックアップロール100の外周面110で支持されている期間、基材フィルム20はバックアップロール100の外周面110で滑らず、また、基材フィルム20には変形部は生じていなかった。そして、このようにバックアップロール100の外周面110で基材フィルム20を支持した状態で、この基材フィルム20上にハードコート液(1)を塗工液30として塗工した。この際、基材フィルム20の搬送速度は20m/分、供給ロール300での基材フィルム20の張力は130N/mに設定した。また、ダイ210からの塗工液30の吐出量は、湿潤膜厚10μmの塗工層40を形成できるように調整した。   A long unstretched film made of a resin ("Zeonor 1420R" manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd .; glass transition temperature: 138 ° C) containing an alicyclic structure-containing polymer was prepared. This film before stretching is stretched in an oblique direction which is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction of the film before stretching under the conditions of a stretching temperature of 140 ° C. and a stretching speed of 20 m / min, and a diagonally stretched film (thickness 47 μm) The base film 20 was prepared. The surface roughness of the surface 21 on the backup roll side of the base film 20 was measured. The base film 20 was supplied to the coating device 10 assembled as described above, and was supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100. During the period supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100, the base film 20 did not slip on the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100, and no deformed portion was generated in the base film 20. Then, in a state where the base film 20 is supported by the outer peripheral surface 110 of the backup roll 100 as described above, the hard coat liquid (1) is applied as the coating liquid 30 on the base film 20. Under the present circumstances, the conveyance speed of the base film 20 set 20 m / min, and the tension | tensile_strength of the base film 20 in the supply roll 300 was set to 130 N / m. Further, the discharge amount of the coating liquid 30 from the die 210 was adjusted so that the coating layer 40 having a wet film thickness of 10 μm could be formed.

塗工液30を塗工したことにより、基材フィルム20上に塗工層40が形成されて、塗工フィルム50を得た。この塗工フィルム50の塗工層40を、80℃で60秒加熱して乾燥した後、波長365nmでの照度200mW/cm、積算光量300mJ/cmの高圧水銀灯での紫外線を照射して硬化させた。こうして得られた塗工フィルム50について、上述した方法で、塗工層の厚みムラの個数の測定、及び、液晶表示装置を用いた評価を行った。 The coating layer 40 was formed on the base film 20 by coating the coating liquid 30, and the coating film 50 was obtained. The coated layer 40 of the coated film 50 is dried by heating at 80 ° C. for 60 seconds, and then irradiated with ultraviolet light from a high pressure mercury lamp with an illuminance of 200 mW / cm 2 at a wavelength of 365 nm and an integrated light quantity of 300 mJ / cm 2. It was allowed to cure. About the coating film 50 obtained in this way, measurement of the number of objects of the thickness nonuniformity of a coating layer and the evaluation using a liquid crystal display device were performed by the method mentioned above.

[実施例2]
実施例1で用いた基材フィルムに代えて、同じく斜め延伸処理を施した厚み22μmの基材フィルムを用意した。延伸処理は、実施例1と同条件にて行った。この延伸フィルムのバックアップロール側の面の表面粗さを測定した。
こうして得た延伸フィルムを基材フィルムとして用いたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
Example 2
In place of the base film used in Example 1, a base film with a thickness of 22 μm which was similarly subjected to oblique stretching was prepared. The stretching treatment was performed under the same conditions as in Example 1. The surface roughness of the surface on the backup roll side of this stretched film was measured.
A coated film was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the stretched film thus obtained was used as a base film.

[実施例3]
素材ロールの研削処理の条件を変更して、バックアップロールの外周面の表面粗さを実施例1よりも大きくしたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 3]
Manufacture and evaluation of a coated film were carried out in the same manner as in Example 1 except that the surface roughness of the outer peripheral surface of the backup roll was made larger than in Example 1 by changing the conditions of grinding treatment of the material roll. The

[実施例4]
素材ロールの研削処理の条件を変更して、バックアップロールの外周面の表面粗さを実施例1よりも小さくしたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
Example 4
Production and evaluation of a coated film were carried out in the same manner as in Example 1 except that the surface roughness of the outer peripheral surface of the backup roll was made smaller than in Example 1 by changing the conditions of grinding treatment of the material roll. The

[実施例5]
コーターが備えるダイの位置を、ダイの下流側リップと基材フィルムとの間に空く間隙Cの大きさが20μmとなるように調整したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 5]
A coated film in the same manner as in Example 1 except that the position of the die included in the coater was adjusted so that the size of the gap C between the downstream lip of the die and the base film would be 20 μm. Production and evaluation.

[実施例6]
コーターが備えるダイの位置を、ダイの下流側リップと基材フィルムとの間に空く間隙Cの大きさが160μmとなるように調整したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 6]
A coated film in the same manner as in Example 1 except that the position of the die included in the coater was adjusted so that the size of the gap C between the downstream lip of the die and the base film would be 160 μm. Production and evaluation.

[実施例7]
供給ロールでの基材フィルムの張力を40N/mに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
この実施例7では、塗工層にスジが形成されたが、そのスジは浅く、実用上問題が無い程度であった。
[Example 7]
A coated film was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the tension of the substrate film at the supply roll was changed to 40 N / m.
In this Example 7, streaks were formed on the coating layer, but the streaks were shallow and had no problem in practical use.

[実施例8]
供給ロールでの基材フィルムの張力を520N/mに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 8]
A coated film was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the tension of the substrate film at the feed roll was changed to 520 N / m.

[実施例9]
塗工液の種類を、製造例2で製造したハードコート液(2)に変更したこと、及び、湿潤膜厚52.0μmの塗工層が得られるように塗工液の吐出量を調整したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
この実施例9では、塗工層にスジが形成されたが、そのスジは浅く、実用上問題が無い程度であった。
[Example 9]
The type of the coating liquid was changed to the hard coat liquid (2) manufactured in Production Example 2, and the discharge amount of the coating liquid was adjusted to obtain a coating layer having a wet film thickness of 52.0 μm. Production and evaluation of a coated film were performed in the same manner as Example 1 except for the above.
In this example 9, streaks were formed on the coating layer, but the streaks were shallow and were practically acceptable.

[実施例10]
塗工液の種類を、製造例3で製造した液晶組成物(1)に変更したこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造を行った。得られた塗工フィルムについて、上述した方法で、塗工層の厚みムラの個数の測定、及び、有機エレクトロルミネッセンス表示装置を用いた評価を行った。
[Example 10]
A coated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the type of the coating liquid was changed to the liquid crystal composition (1) produced in Production Example 3. About the obtained coated film, measurement of the number of objects of the thickness nonuniformity of a coating layer and evaluation using an organic electroluminescent display apparatus were performed by the method mentioned above.

[実施例11]
塗工液の種類を、製造例4で製造した液晶組成物(2)に変更したこと、及び、塗工フィルムの評価を[液晶表示装置での表示ムラの評価方法2]に記載の方法で行ったこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 11]
The type of the coating liquid was changed to the liquid crystal composition (2) manufactured in Production Example 4, and the evaluation of the coated film was carried out by the method described in [Evaluation method 2 of display unevenness in liquid crystal display device] Manufacture and evaluation of a coated film were performed like Example 1 except having carried out.

[実施例12]
トリアセチルセルロースを含む樹脂からなる厚み80μmの樹脂フィルムを用意し、この樹脂フィルムのバックアップロール側の面の表面粗さを測定した。この樹脂フィルムを基材フィルムとして用いたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Example 12]
A resin film of 80 μm in thickness made of a resin containing triacetyl cellulose was prepared, and the surface roughness of the surface on the backup roll side of this resin film was measured. A coated film was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that this resin film was used as a base film.

[比較例1]
研磨処理の代わりに電解研磨処理を素材ロールの外周面に施すことにより、バックアップロールの外周面の表面粗さを実施例1よりも小さくしたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
Comparative Example 1
Coating was performed in the same manner as in Example 1, except that the surface roughness of the outer peripheral surface of the backup roll was made smaller than that of Example 1 by performing electrolytic polishing on the outer peripheral surface of the material roll instead of polishing. The film was manufactured and evaluated.

[比較例2]
素材ロールの研削処理の条件を変更して、バックアップロールの外周面の表面粗さを実施例1よりも大きくしたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
Comparative Example 2
Manufacture and evaluation of a coated film were carried out in the same manner as in Example 1 except that the surface roughness of the outer peripheral surface of the backup roll was made larger than in Example 1 by changing the conditions of grinding treatment of the material roll. The

[参考例1]
ポリエチレンテレフタレートを含む樹脂からなる厚み100μmのフィルム(東洋紡社製「コスモシャインA4100」)を用意し、この樹脂フィルムの反易接着面側(バックアップロール側)の面の表面粗さを測定した。この樹脂フィルムを基材フィルムとして用いたこと以外は、実施例1と同様にして、塗工フィルムの製造及び評価を行った。
[Reference Example 1]
A 100 μm thick film (“Cosmo Shine A4100” manufactured by Toyobo Co., Ltd.) made of a resin containing polyethylene terephthalate was prepared, and the surface roughness of the surface on the side opposite to the adhesive side (backup roll side) of this resin film was measured. A coated film was produced and evaluated in the same manner as in Example 1 except that this resin film was used as a base film.

[結果]
上述した実施例、比較例及び参考例の結果を、下記の表に示す。下記の表において、略称の意味は、以下の通りである。
COP:脂環式構造含有重合体を含む樹脂からなる樹脂フィルム。
TAC:トリアセチルセルロースを含む樹脂からなる樹脂フィルム。
PET:ポリエチレンテレフタレートを含む樹脂からなる樹脂フィルム。
C:ダイの下流側リップと基材フィルムとの間に空く間隙。
張力:供給ロールで測定された基材フィルムの張力。
HC(1):ハードコート液(1)。
HC(2):ハードコート液(2)。
LC(1):液晶組成物(1)。
LC(2):液晶組成物(2)。
[result]
The results of the examples, comparative examples, and reference examples described above are shown in the following table. In the following table, the meanings of the abbreviations are as follows.
COP: A resin film made of a resin containing an alicyclic structure-containing polymer.
TAC: A resin film made of a resin containing triacetyl cellulose.
PET: A resin film made of a resin containing polyethylene terephthalate.
C: A gap between the downstream lip of the die and the substrate film.
Tension: Tension of the substrate film measured at the feed roll.
HC (1): hard coating solution (1).
HC (2): hard coating solution (2).
LC (1): liquid crystal composition (1).
LC (2): liquid crystal composition (2).

Figure 0006524844
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Figure 0006524844
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[検討]
前記の表から分かるように、実施例においては、比較例1よりも厚みムラの個数密度を少なくできているので、厚みムラを抑制しながら塗工液を塗工できることが分かる。また、いずれの実施例においても、グリップ性において良好な評価が得られていることから、バックアップロールの外周面での基材フィルムの滑りを抑制できていることが分かる。よって、本発明により、基材フィルム上に、バックアップロールの外周面での当該基材フィルムの滑りを抑制し、且つ、厚みムラを抑制しながら、塗工液を塗工して塗工フィルムを製造できる、塗工フィルムの製造方法を実現できることが確認された。
[Consideration]
As can be seen from the above-mentioned table, in the example, since the number density of the thickness unevenness can be made smaller than that of Comparative Example 1, it can be seen that the coating liquid can be applied while suppressing the thickness unevenness. Moreover, in any Example, since favorable evaluation is obtained in grip property, it turns out that the slip of the base film on the outer peripheral surface of a backup roll can be suppressed. Therefore, according to the present invention, the coating film is coated by applying the coating liquid while suppressing the slip of the base film on the outer peripheral surface of the backup roll and suppressing the thickness unevenness on the base film. It was confirmed that the method for producing a coated film that can be produced can be realized.

また、一般に、液晶組成物を塗工液に用いて得られる塗工層はレターデーションを有するので、厚みムラの影響が検出され易く、また、画像表示装置に設けた場合には表示ムラが生じやすい。ところが、実施例10及び11では、塗工液として液晶組成物を用いながら、画像表示装置における表示ムラが無い。よって、実施例10及び11の結果から、本発明によれば、厚みムラの個数だけでなく、厚みムラの強さ(厚い部分と薄い部分との厚みの差)も抑制できることが確認された。   Further, in general, the coating layer obtained by using the liquid crystal composition in the coating liquid has retardation, so that the influence of thickness unevenness is easily detected, and display unevenness occurs when provided in the image display device. Cheap. However, in Examples 10 and 11, while using the liquid crystal composition as the coating liquid, there is no display unevenness in the image display device. Therefore, it was confirmed from the results of Examples 10 and 11 that according to the present invention, not only the number of uneven thickness but also the strength of the uneven thickness (difference in thickness between thick and thin portions) can be suppressed.

なお、参考例1は、表面の平滑性が低い基材フィルムを用いた場合の実験例を参考として示している。この参考例1ではバックアップロールの外周面での基材フィルムの滑りを抑制できていない。この結果を実施例の結果と対比すると、本発明に係る塗工装置が、表面の平滑性が高い基材フィルムに適用することによって特に優れた効果を発揮できるものであることが理解できる。   In addition, the reference example 1 has shown as a reference the experimental example at the time of using the base film with low surface smoothness. In the reference example 1, the slip of the base film on the outer peripheral surface of the backup roll can not be suppressed. When this result is compared with the result of the example, it can be understood that the coating device according to the present invention can exhibit particularly excellent effects by applying to a base film having high surface smoothness.

10 塗工装置
20 基材フィルム
21 基材フィルムのバックアップロール側の面
22 基材フィルのバックアップロールとは反対側の面
30 塗工液
31 液溜まり
40 塗工層
50 塗工フィルム
100 バックアップロール
110 バックアップロールの外周面
200 コーター
210 ダイ
220 流路
221 ポケット
222 スロット
230 吐出口
240 リップ部
241 上流側リップ部
242 下流側リップ部
250 上流側ブロック
260 下流側ブロック
300 供給ロール
DESCRIPTION OF REFERENCE NUMERALS 10 coating apparatus 20 base film 21 surface of base film on backup roll side 22 surface of base film opposite to backup roll 30 coating liquid 31 liquid pool 40 coating layer 50 coating film 100 backup roll 110 Outer peripheral surface of backup roll 200 coater 210 die 220 flow path 221 pocket 222 slot 230 discharge port 240 lip portion 241 upstream lip portion downstream lip portion 250 upstream block 260 downstream block 300 supply roll

Claims (8)

基材フィルム上に塗工液を塗工するための塗工装置であって、
外周面を有し、前記基材フィルムを前記外周面で支持しながら回転しうるバックアップロールと、
前記バックアップロールの前記外周面に対向して設けられ、前記バックアップロールの前記外周面で支持された前記基材フィルムに前記塗工液を塗工しうるコーターと、を備え、
前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(R)の平均値M(Ra(R))が、下記式(1)
0.020μm ≦ M(Ra(R)) < 0.350μm (1)
を満たし、
前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の平均値M(RSm(R))、及び、前記バックアップロールの前記外周面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(R)の標準偏差σ(RSm(R))が、下記式(2)
10% < σ(RSm(R))/M(RSm(R))< 50% (2)
を満たす、塗工装置。
It is a coating apparatus for coating a coating liquid on a base film,
A backup roll having an outer peripheral surface and rotatable while supporting the base film on the outer peripheral surface;
A coater which is provided to face the outer peripheral surface of the backup roll and can coat the coating solution on the base film supported by the outer peripheral surface of the backup roll;
The average value M (Ra (R)) of the arithmetic average roughness Ra (R) measured at five measurement positions on the outer peripheral surface of the backup roll is expressed by the following equation (1)
0.020 μm ≦ M (Ra (R)) <0.350 μm (1)
Meet the,
Average value M (RSm (R)) of average length RSm (R) of roughness curvilinear elements measured at five measurement positions of the outer peripheral surface of the backup roll, and the outer peripheral surface of the backup roll The standard deviation σ (RSm (R)) of the average length RSm (R) of the roughness curve element measured at five measurement positions of the following formula (2)
10% <σ (RSm (R)) / M (RSm (R)) <50% (2)
The less than you, the coating apparatus.
前記コーターが、前記塗工液を吐出しうるダイを備える、請求項記載の塗工装置。 The coater comprises a die that can discharge the coating liquid, the coating apparatus according to claim 1. 請求項1又は2記載の塗工装置を用いて塗工フィルムを製造する製造方法であって、
前記バックアップロールの前記外周面で前記基材フィルムを支持しながら、前記基材フィルムを搬送する工程と、
前記バックアップロールの前記外周面で支持された前記基材フィルム上に、前記コーターによって塗工液を塗工する工程と、を含み、
前記基材フィルムの前記バックアップロール側の面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、前記基材フィルムの前記バックアップロール側の面の5か所の測定位置で測定された粗さ曲線要素の平均長さRSm(F)の平均値M(RSm(F))が、下記式(3)
M(Ra(F))/M(RSm(F)) < 1.5×10−5 (3)
を満たす、塗工フィルムの製造方法。
It is a manufacturing method which manufactures a coating film using the coating device according to claim 1 or 2 ;
Conveying the base film while supporting the base film on the outer peripheral surface of the backup roll;
Applying a coating solution by the coater on the base film supported on the outer peripheral surface of the backup roll;
Average value M (Ra (F)) of arithmetic mean roughness Ra (F) measured at five measurement positions on the surface on the backup roll side of the substrate film, and the backup of the substrate film The mean value M (RSm (F)) of the average length RSm (F) of the roughness curvilinear element measured at five measurement positions on the surface on the roll side is expressed by the following equation (3)
M (Ra (F)) / M (RSm (F)) <1.5 × 10 −5 (3)
A method for producing a coated film that satisfies
前記塗工液の粘度が、0.5mPa・s〜30mPa・sである、請求項記載の塗工フィルムの製造方法。 The viscosity of the coating liquid is a 0.5mPa · s~30mPa · s, a manufacturing method of a coating film according to claim 3, wherein. 前記塗工装置が、前記バックアップロールの直前に設けられて前記バックアップロールへと前記基材フィルムを供給しうる供給ロールを備え、
前記供給ロールで測定される前記基材フィルムの張力が、50N/m以上、500N/m未満である、請求項3又は4記載の塗工フィルムの製造方法。
The coating apparatus includes a supply roll which is provided immediately before the backup roll and can supply the base film to the backup roll.
The manufacturing method of the coated film of Claim 3 or 4 whose tension | tensile_strength of the said base film measured by the said supply roll is 50 N / m or more and less than 500 N / m.
前記コーターが、湿潤膜厚0.5μm〜50μmの塗工層を形成するように、前記塗工液を前記基材フィルムに塗工する、請求項3〜5のいずれか一項に記載の塗工フィルムの製造方法。 The coating according to any one of claims 3 to 5 , wherein the coating solution is applied to the base film so as to form a coating layer having a wet film thickness of 0.5 μm to 50 μm. How to make a film. 前記コーターと、前記バックアップロールの前記外周面に支持された前記基材フィルムとの間に、30μm〜150μmの間隙がある、請求項3〜6のいずれか一項に記載の塗工フィルムの製造方法。 The manufacturing of the coated film as described in any one of Claims 3-6 with a 30 micrometers-150 micrometers space | interval between the said coater and the said base film supported by the said outer peripheral surface of the said backup roll. Method. 長尺の基材フィルムと、
前記基材フィルム上に設けられた、塗工層とを備え、
前記塗工層とは反対側の前記基材フィルムの面の5か所の測定位置で測定された算術平均粗さRa(F)の平均値M(Ra(F))、及び、前記塗工層とは反対側の前記基材フィルムの面の5か所の測定位置で測定された凹凸の平均間隔RSm(F)の平均値M(RSm(F))が、下記式(3)
M(Ra(F))/M(RSm(F)) < 1.5×10−5 (3)
を満たし、且つ、
前記塗工層の単位面積当たりの厚みムラの個数が、20個/m以下である、塗工フィルム。


Long base film,
And a coated layer provided on the substrate film,
Average value M (Ra (F)) of arithmetic mean roughness Ra (F) measured at five measurement positions on the surface of the base film opposite to the coating layer, and the coating The average value M (RSm (F)) of the average spacing RSm (F) of the unevenness measured at five measurement positions on the surface of the base film opposite to the layer is represented by the following formula (3)
M (Ra (F)) / M (RSm (F)) <1.5 × 10 −5 (3)
Meet the
The coated film whose number of the thickness nonuniformity per unit area of the said coating layer is 20 pieces / m < 2 > or less.


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