JP6507680B2

JP6507680B2 - Inspection method and inspection device for bead portion of tire

Info

Publication number: JP6507680B2
Application number: JP2015016648A
Authority: JP
Inventors: 敦也波多野
Original assignee: Yokohama Rubber Co Ltd
Current assignee: Yokohama Rubber Co Ltd
Priority date: 2015-01-30
Filing date: 2015-01-30
Publication date: 2019-05-08
Anticipated expiration: 2035-01-30
Also published as: JP2016142559A

Description

本発明は、タイヤのビード部の検査方法及び検査装置に関する。 The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a bead portion of a tire.

タイヤの外観検査では、例えば、光源からスリット光を照射し、スリット光がタイヤ径方向に沿って投光されたタイヤ表面をカメラ等で撮像し、この撮像した画像を取得することをタイヤ周上で繰り返し行うことにより、タイヤ表面の凹凸形状を表した形状画像を作成し、この画像を用いて検査が行われる。タイヤの外観検査の対象は、タイヤ外側表面の他に、タイヤ内側表面についても行われる。タイヤ内側表面は、タイヤとこのタイヤに装着されるリムとによって囲まれた空気が充填されるタイヤ空洞領域に面する面である。しかし、タイヤ内側表面とタイヤ外側表面は、光源やカメラの設置の関係上、１つの計測で同時に画像を得ることはできない。このため、タイヤ外側表面の外観検査とタイヤ内表面の外観検査を別々に行う。 In the appearance inspection of the tire, for example, the slit light is irradiated from the light source, and the tire surface where the slit light is projected along the tire radial direction is imaged by a camera or the like, and acquiring this imaged image is on the tire circumference. By repeating the process described above, a shape image representing the uneven shape of the tire surface is created, and an inspection is performed using this image. In addition to the tire outer surface, the object of the appearance inspection of the tire is also performed on the tire inner surface. The tire inner surface is the surface facing the air-filled tire cavity area surrounded by the tire and the rim attached to the tire. However, due to the installation of the light source and the camera, the tire inner surface and the tire outer surface can not simultaneously obtain images in one measurement. For this reason, visual inspection of the outer surface of the tire and visual inspection of the inner surface of the tire are performed separately.

例えば、タイヤ外側表面の外観検査において、タイヤのビード部のトウ先端からタイヤトレッド領域までのタイヤのプロファイルを画像取得手段で計測して形状データを取得することが行われる（特許文献１）。 For example, in the appearance inspection of the outer surface of the tire, it is performed to acquire shape data by measuring the profile of the tire from the toe end of the bead portion of the tire to the tire tread region by image acquisition means (Patent Document 1).

特開２０１４−１５９９６５号公報JP, 2014-159965, A

しかし、上述のタイヤ外側表面の外観検査では、タイヤのビード部のトウ先端からタイヤトレッド領域までの広い範囲のプロファイルを取得することができるものの、ビード部の外観検査をどのように行うか、については知られていない。ビード部の中でも、リムと接触する、ビード部のトウ先端からヒール端までのビードベース領域は、この領域に不良があると、タイヤがリムに適切に装着できなくなるため、ビードベース領域の検査は精度よく行われなければならない。例えば、ビード部のトウ先端を含むビード部の先端領域におけるゴム不足は、タイヤをリムに適切に装着できなくなる原因となる。しかし、このような先端領域のゴム不足によるビード部の不良をどのように外観検査において自動判定するか、その手法は知られていない。 However, although it is possible to obtain a wide range of profiles from the toe end of the bead portion of the tire to the tire tread region in the appearance inspection of the tire outer surface described above, how to perform the appearance inspection of the bead portion Is not known. Among the bead parts, the bead base area in contact with the rim, from the toe end to the heel end of the bead part, is defective in this area, and the tire can not be properly attached to the rim. It must be done precisely. For example, the lack of rubber in the tip region of the bead portion including the toe tip of the bead portion may cause the tire not to be properly mounted on the rim. However, it is not known how to automatically determine in the appearance inspection the defect of the bead portion due to the lack of rubber in such a tip region.

そこで、本発明は、タイヤのビード部のうち、トウ先端からヒール端までのビードベース領域を含む部分の不良の有無を精度よく検査することができるタイヤのビード部の検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides an inspection method and an inspection apparatus for a bead portion of a tire that can accurately inspect the presence or absence of a defect including a bead base region from a toe tip to a heel end in a bead portion of a tire. The purpose is to

本発明の一態様は、タイヤのビード部の検査方法である。
当該検査方法は、
タイヤのビード部のトウ先端からヒール端までのビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す検査ビードプロファイルのデータを取得するステップと、
前記ビードベース領域のトウ先端と前記ヒール端に挟まれた前記ビードベース領域の中間領域における前記検査ビードプロファイルのデータを直線近似して得られる近似直線から、前記中間領域のトウ側の端から前記トウ先端までの先端領域における前記検査ビードプロファイルのデータが乖離する程度に基づいて、前記先端領域のゴム部材の不足を検査するステップと、を有する。 One aspect of the present invention is a method of inspecting a bead portion of a tire.
The inspection method is
Obtaining inspection bead profile data representing an outline shape in a direction orthogonal to the tire circumferential direction of a region including a bead base region from a toe end to a heel end of a bead portion of the tire ;
From the approximate straight line obtained by linearly approximating the data of the inspection bead profile in the intermediate region of the bead base region between the toe end of the bead base region and the heel end, the toe side end of the intermediate region is Checking the shortage of the rubber member in the tip region based on the degree of deviation of the data of the inspection bead profile in the tip region to the toe tip.

前記データを取得するステップは、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得することを含み、
前記先端領域のゴム部材の不足を検査するステップは、前記先端領域における前記検査ビードプロファイルと前記近似直線との間の距離に基づいて前記先端領域のゴム部材の不足の開始位置を定め、前記開始位置と前記トウ先端の位置との間の距離と前記開始位置がタイヤ周方向に連続して連なる周方向長さとに基づいて、前記ゴム部材の不足を判定する、ことが好ましい。 In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
In the step of inspecting the shortage of the rubber member in the tip region, the start position of the shortage of the rubber member in the tip region is determined based on the distance between the inspection bead profile and the approximate straight line in the tip region. It is preferable to determine the shortage of the rubber member based on the distance between the position and the position of the toe tip and the circumferential length in which the start position is continuously connected in the tire circumferential direction.

前記データを取得するステップは、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得することを含み、
タイヤ周上の位置毎の前記検査ビードプロファイルを用いて、前記ビードベース領域のタイヤ周方向に沿って生じる不良の有無を検査するステップと、を有し、
前記検査するステップは、前記検査ビードプロファイルから、前記ビードベース領域の前記ヒール端の位置を特定するための、タイヤ周方向に延びるリッジ状あるいは溝状のヒール基準位置を抽出し、前記ヒール基準位置と前記トウ先端との間の離間距離に基づいて前記タイヤのビードベース幅のタイヤ周上の分布を求め、前記ビードベース幅の分布を用いて、前記ビードベース幅のタイヤ周上における異常の有無を検査するステップを含む、ことが好ましい。 In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
Inspecting the presence or absence of a defect generated along the tire circumferential direction of the bead base region using the inspection bead profile at each position on the tire periphery;
In the inspection step, a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire is extracted from the inspection bead profile for identifying the position of the heel end of the bead base region, and the heel reference position Distribution on the tire circumference of the bead base width of the tire based on the separation distance between the toe tip and the presence of abnormality on the tire circumference of the bead base width using the distribution of the bead base width Preferably, the step of examining

前記データを取得するステップは、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得することを含み、
前記検査するステップは、前記検査ビードプロファイルのデータから、前記ビードベース領域の前記ヒール端の位置を特定するための、タイヤ周方向に延びるリッジ状あるいは溝状のヒール基準位置を抽出することにより、前記ヒール基準位置のタイヤ周方向の分布を求め、前記ヒール基準位置の分布から、前記分布を前記タイヤ周方向に沿って平滑化した平滑化分布を減算することにより前記ヒール基準位置の局所的な変動を抽出し、抽出した前記局所的な変動を用いて、タイヤ周上における前記ビードベース領域の不良の有無を検査する、ことが好ましい。 In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
In the inspection step, a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire is extracted from the data of the inspection bead profile to specify the position of the heel end of the bead base area. A distribution in the tire circumferential direction of the heel reference position is determined, and a smoothed distribution obtained by smoothing the distribution along the tire circumferential direction is subtracted from the distribution of the heel reference position, thereby locally generating the heel reference position. Preferably, the variation is extracted, and the extracted local variation is used to inspect the bead base area for defects on the tire circumference.

前記データを取得するステップは、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得することを含み、
さらに、取得した複数のビードプロファイルのうち、タイヤ周方向に隣り合うビードプロファイルの形状データの値を、２次元画像の第１の方向に隣り合う画素値として配列することにより、前記ビードプロファイルの２次元画像を作成するステップと、
前記２次元画像から、前記２次元画像を前記第１の方向に沿って平滑化した平滑化画像を減算することにより、前記ビードプロファイルの処理画像を作成するステップと、
前記２次元画像から得られた前記処理画像を用いて、前記ビードベース領域のタイヤ周方向に沿って生じる不良の有無を検査するステップと、を有し、
前記検査するステップは、前記処理画像の画素値から前記ビードベース領域の凹凸を抽出し、前記ビードベース領域の凹凸を用いて、タイヤ周上における不良の有無を検査する、ことが好ましい。 In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
Furthermore, by arranging values of shape data of bead profiles adjacent in the tire circumferential direction among the plurality of acquired bead profiles as pixel values adjacent in the first direction of the two-dimensional image, 2 of the bead profiles Creating a two-dimensional image;
Creating a processed image of the bead profile by subtracting a smoothed image obtained by smoothing the two-dimensional image along the first direction from the two-dimensional image;
Inspecting the presence or absence of a defect occurring along the tire circumferential direction of the bead base region using the processed image obtained from the two-dimensional image;
It is preferable that the step of inspecting extracts the unevenness of the bead base area from the pixel value of the processed image, and inspects the presence or absence of the defect on the tire circumference using the unevenness of the bead base area.

前記検査ビードプロファイルは、前記ビードベース領域の測定位置をタイヤ周方向に変えながら前記ビードベース領域を含む領域をタイヤ周方向と直交する方向に沿って測定することによって得られる輪郭形状であり、前記検査ビードプロファイルのデータは、タイヤ径方向外側かつタイヤ幅方向内側に向かう方向からみたビードベース領域を含む領域の輪郭形状のデータである、ことが好ましい。 The test bead profile is contoured shape that is obtained by measuring the area including the bead base region measurement positions while changing the tire circumferential direction of the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction, It is preferable that the data of the inspection bead profile is data of an outline shape of a region including a bead base region as viewed from the tire radial direction outer side and the tire width direction inner side.

また、本発明の他の一態様は、タイヤのビード部の検査装置である。
当該検査装置は、
タイヤのビード部のトウ先端からヒール端までのビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す検査ビードプロファイルのデータを取得するデータ取得部と、
前記ビードベース領域の前記トウ先端と前記ヒール端に挟まれた前記ビードベース領域の中間領域における前記検査ビードプロファイルのデータを直線近似して得られる近似直線から、前記中間領域のトウ側の端から前記トウ先端までの先端領域における前記検査ビードプロファイルのデータが乖離する程度に基づいて、前記先端領域のゴム部材の不足を検査する検査部と、を有する。 Moreover, the other one aspect | mode of this invention is an inspection apparatus of the bead part of a tire.
The inspection device
A data acquisition unit for acquiring inspection bead profile data representing a contour shape along a direction orthogonal to the tire circumferential direction of a region including a bead base region from a toe end to a heel end of a bead portion of a tire ;
From an approximate straight line obtained by linearly approximating the data of the inspection bead profile in the intermediate region of the bead base region sandwiched between the toe tip of the bead base region and the heel end, from the end on the toe side of the intermediate region And an inspection unit that inspects the shortage of the rubber member in the tip region based on the degree to which the data of the inspection bead profile in the tip region to the tip of the tow tip deviates.

前記データ取得部は、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得し、
前記検査部は、前記検査ビードプロファイルのデータから、前記ビードベース領域の前記ヒール端の位置を特定するための、タイヤ周方向に延びるリッジ状あるいは溝状のヒール基準位置を抽出し、前記ヒール基準位置と前記トウ先端との間の離間距離に基づいて前記タイヤのビードベース幅のタイヤ周上の分布を求め、前記ビードベース幅の分布を用いて、前記ビードベース幅のタイヤ周上における異常の有無を検査する、ことが好ましい。 The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
The inspection unit extracts a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire to specify the position of the heel end of the bead base region from the data of the inspection bead profile, and the heel reference The distribution on the tire circumference of the bead base width of the tire is determined based on the distance between the position and the toe tip, and the distribution of the bead base width on the tire circumference of the bead base width is calculated using the distribution of the bead base width. It is preferable to check the presence or absence.

前記データ取得部は、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得し、
前記検査部は、前記検査ビードプロファイルのデータから、前記ビードベース領域の前記ヒール端の位置を特定するための、タイヤ周方向に延びるリッジ状あるいは溝状のヒール基準位置を抽出することにより、前記ヒール基準位置のタイヤ周方向の分布を求め、前記ヒール基準位置の分布から、前記分布を前記タイヤ周方向に沿って平滑化した平滑化分布を減算することにより前記ヒール基準位置の局所的な変動を抽出し、抽出した前記局所的な変動を用いて、タイヤ周上における前記ビードベース領域の不良の有無を検査する、ことが好ましい。 The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
The inspection unit extracts the ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire to specify the position of the heel end of the bead base region from the data of the inspection bead profile. A distribution of the heel reference position in the tire circumferential direction is determined, and a smoothed distribution obtained by smoothing the distribution along the tire circumferential direction from the distribution of the heel reference position is subtracted from the distribution of the heel reference position. It is preferable to extract and use the extracted local variation to inspect the presence or absence of a defect in the bead base region on the tire circumference.

前記データ取得部は、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置において、前記ビードベース領域を含む領域の、タイヤ周方向と直交する方向に沿った輪郭形状を表す複数のビードプロファイルのそれぞれを、前記検査ビードプロファイルのデータとして取得し、
さらに、取得した複数の位置の前記ビードプロファイルのデータのうち、タイヤ周方向に隣り合うビードプロファイルの形状データの値を、２次元画像の第１の方向に隣り合う画素値として配列することにより、前記ビードプロファイルの２次元画像を作成する２次元画像作成部と、
前記２次元画像から、前記２次元画像を前記第１の方向に沿って平滑化した平滑化画像を減算することにより、前記プロファイルデータの処理画像を作成する画像処理部と、
を有し、
前記検査部は、前記処理画像の画素値から前記ビードベース領域の凹凸を抽出し、前記ビードベース領域の凹凸を用いて、前記ビードベース領域のタイヤ周方向に沿って生じる不良の有無を検査する、ことが好ましい。 The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
Furthermore, by arranging values of shape data of bead profiles adjacent in the tire circumferential direction among the acquired data of the bead profiles at a plurality of positions, as pixel values adjacent in the first direction of the two-dimensional image, A two-dimensional image creation unit that creates a two-dimensional image of the bead profile;
An image processing unit that generates a processed image of the profile data by subtracting a smoothed image obtained by smoothing the two-dimensional image along the first direction from the two-dimensional image;
Have
The inspection unit extracts the unevenness of the bead base area from the pixel value of the processed image, and inspects the presence or absence of a defect that occurs along the tire circumferential direction of the bead base area using the unevenness of the bead base area. Is preferred.

前記検査ビードプロファイルを、前記ビードベース領域の測定位置をタイヤ周方向に変えながら前記ビードベース領域を含む領域をタイヤ周方向と直交する方向に沿って測定する形状測定部を、さらに有し、
前記形状測定部は、タイヤ径方向外側かつタイヤ幅方向内側に向かう方向からみたビードベース領域を含む領域の輪郭形状を測定する、ことが好ましい。 The inspection bead profile further includes a shape measurement unit that measures an area including the bead base area along a direction orthogonal to the tire circumferential direction while changing the measurement position of the bead base area in the tire circumferential direction,
It is preferable that the shape measurement unit measures a contour shape of a region including a bead base region as viewed from a direction toward the outer side in the tire radial direction and the inner side in the tire width direction.

上述のビード部の検査方法及び検査装置によれば、タイヤのビード部のうち、トウ先端からヒール端までのビードベース領域を含む部分の不良の有無を精度よく検査することができる。 According to the above-described bead part inspection method and inspection apparatus, it is possible to accurately inspect the presence or absence of a defect in a portion including the bead base area from the toe tip to the heel end in the bead part of the tire.

本実施形態のビード部の検査装置を説明する図である。It is a figure explaining the inspection apparatus of the bead part of this embodiment. 図１に示す検査装置の検査本体装置の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the inspection main body apparatus of the inspection apparatus shown in FIG. 本実施形態における検査ビードプロファイルのデータの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the data of the test | inspection bead profile in this embodiment. （ａ）は、本実施形態における検査ビードプロファイルと直線との乖離を説明する図であり、（ｂ）は、ビード部のトウ先端の位置と乖離開始位置のタイヤ周方向の変動の一例を示す図である。(A) is a figure explaining the deviation with the inspection bead profile and a straight line in this embodiment, (b) shows the example of the position of the toe tip of a bead part, and the tire peripheral direction of a deviation start position FIG. 本実施形態で用いるビードベース幅を説明する図である。It is a figure explaining bead base width used by this embodiment. ビードベース幅のタイヤ周上の分布の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of distribution on the tire periphery of bead base width. ヒール基準位置のタイヤ周上の分布の一例を示す図である。It is a figure showing an example of distribution on the tire circumference of a heel standard position. ビードベース領域の表面凹凸の検査のフローの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the flow of inspection of the surface asperity of a bead base area | region. 本実施形態におけるビードベース領域の抽出された表面凹凸領域の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the surface asperity area | region from which the bead base area | region in this embodiment was extracted.

本実施形態のビード部の検査装置及び検査方法を添付の図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本実施形態のビード部の検査装置を説明する図である。
図１に示す検査装置２０は、タイヤのビード部のトウ先端からヒール端までのビードベース領域を含む検査ビードプロファイルのデータを取得し、その取得したデータを用いて、ビード部の検査を行う装置である。検査ビードプロファイルのデータは、スリット光を用いた光切断法により取得することができる。例えば、ビード部にタイヤ径方向に沿って延びる直線状のスリット光を光源から照射し、スリット光がタイヤ径方向に沿って投光されたタイヤ表面をカメラで撮像し、撮像したスリット光の照射された部分の画像から、画像を処理してビード部の表面の形状データを取得する。
なお、本明細書でいうタイヤ幅方向は、タイヤ回転軸に沿った方向であり、タイヤトレッドショルダー領域からタイヤ赤道線に向く側をタイヤ幅方向内側といい、タイヤ赤道線からタイヤトレッドショルダー領域に向く側をタイヤ幅方向外側という。
タイヤ周方向は、タイヤ回転軸を中心としてタイヤを回転させたときのタイヤのトレッド部の回転する方向をいう。タイヤ径方向は、タイヤ回転軸に対して直交する放射方向をいい、タイヤ回転軸から離れて行く方向をタイヤ径方向外側という。 The inspection apparatus and inspection method of the bead portion of the present embodiment will be described in detail with reference to the attached drawings. FIG. 1 is a view for explaining an inspection apparatus of a bead portion according to the present embodiment.
An inspection apparatus 20 shown in FIG. 1 acquires data of an inspection bead profile including a bead base region from a toe end to a heel end of a bead portion of a tire, and performs an inspection of the bead portion using the acquired data. It is. The data of the inspection bead profile can be acquired by a light cutting method using slit light. For example, linear slit light extending along the tire radial direction is irradiated to the bead portion from the light source, and the tire surface projected with slit light along the tire radial direction is imaged by a camera and irradiation of slit light imaged The image is processed from the image of the selected portion to acquire shape data of the surface of the bead portion.
The tire width direction in this specification is the direction along the tire rotation axis, and the side facing the tire equator from the tire tread shoulder region is referred to as the tire width direction inner side, from the tire equator to the tire tread shoulder The side that faces is referred to as the tire width direction outer side.
The tire circumferential direction refers to the direction in which the tread portion of the tire rotates when the tire is rotated about the tire rotation axis. The tire radial direction refers to a radial direction orthogonal to the tire rotation axis, and the direction away from the tire rotation axis is referred to as the tire radial outer side.

図１は、検査装置２０の検査対象となるタイヤ１０のビード部１２を主に示している。
ビード部１２は、ビード部１２のトウ先端１２ａと後述するヒールライン１２ｂとの間のビードベース領域１８を含む。
検査装置２０は、検査本体装置２２と、光源２４と、カメラ・処理部２６と、を含む。光源２４とカメラ・処理部２６は、形状測定部２７を形成する。カメラ・処理部２６は、光切断法にしたがって、撮影したスリット光の照射された部分の形状から、ビードプロファイルの形状データを演算して求める処理を行う。この形状データをカメラ・処理部２６は出力する。 FIG. 1 mainly shows the bead portion 12 of the tire 10 to be inspected by the inspection device 20.
The bead portion 12 includes a bead base region 18 between a toe tip 12 a of the bead portion 12 and a heel line 12 b described later.
The inspection apparatus 20 includes an inspection main body device 22, a light source 24, and a camera / processing unit 26. The light source 24 and the camera processing unit 26 form a shape measurement unit 27. The camera / processing unit 26 performs processing for calculating and obtaining shape data of a bead profile from the shape of the portion irradiated with the slit light, which has been photographed, in accordance with the light cutting method. The camera processing unit 26 outputs the shape data.

ここで、形状測定部２７は、図１に示されるように、タイヤ径方向外側かつタイヤ幅方向内側に向かう方向からみたビードベース領域１８を含む領域の形状を測定することが好ましい。このように形状測定部２７がタイヤ径方向外側かつタイヤ幅方向内側に向かう方向からみた形状を測定することにより、精度の高い形状データを取得することができる。図１に示す例では、光源２４のスリット光の中心軸方向とタイヤ径方向外側の方向とのなす傾斜角度θは、１５度〜３５度であることが好ましく、２０度〜３０度であることがより好ましい。なお、形状測定部２７は、ビードベース領域１８の測定位置をタイヤ周方向に変えながらビードベース領域を含む領域をタイヤ周方向と直交する方向（タイヤ幅方向あるいはタイヤ径方向）に沿ってビードプロファイルを測定することが好ましい。このような測定は、検査本体装置２２の指示に従って、図示されない回転手段を用いてタイヤ１０をタイヤ中心軸の周りにタイヤ周方向に回転させながら、タイヤ周方向に一定の距離離れた位置毎に行われる。これにより、タイヤ周上全てのビードプロファイルの形状データを効率よく取得することができる。 Here, as shown in FIG. 1, the shape measuring unit 27 preferably measures the shape of a region including the bead base region 18 as viewed from the outer side in the tire radial direction and the inner side in the tire width direction. As described above, by measuring the shape of the shape measurement unit 27 as viewed from the direction toward the outer side in the tire radial direction and the inner side in the tire width direction, shape data with high accuracy can be acquired. In the example shown in FIG. 1, the inclination angle θ between the central axis direction of the slit light of the light source 24 and the direction in the tire radial direction is preferably 15 degrees to 35 degrees, and is 20 degrees to 30 degrees. Is more preferred. The shape measurement unit 27 changes the measurement position of the bead base region 18 in the tire circumferential direction, and the bead profile along the direction (tire width direction or tire radial direction) orthogonal to the tire circumferential direction including the bead base region. It is preferable to measure Such measurement is performed at every position separated by a predetermined distance in the tire circumferential direction while rotating the tire 10 in the tire circumferential direction around the tire center axis using a rotating means (not shown) according to the instruction of the inspection main body device 22 To be done. Thereby, shape data of all bead profiles on the tire circumference can be acquired efficiently.

図２は、検査本体装置２２の構成を説明する図である。検査本体装置２２は、ＣＰＵ２２ａ、メモリ２２ｂ、及び入出力部２２ｃを有するコンピュータで構成されている。メモリ２２ｂに記憶されているプログラムを読み出して実行することにより、データ取得部２２ｄ、検査部２２ｅ、２次元画像作成部２２ｆ、及び画像処理部２２ｇを形成する。すなわち、データ取得部２２ｄ、検査部２２ｅ、２次元画像作成部２２ｆ、及び画像処理部２２ｇは、プログラムの起動により形成される、ＣＰＵ２２ａが実際の演算等を司るソフトウェアモジュールである。入出力部２２ｃは、光源２４及びカメラ・処理部２６と接続され、さらに、マウスやキーボード等の入力操作系２８及びディスプレイ３０と接続されている。 FIG. 2 is a view for explaining the configuration of the inspection main unit 22. As shown in FIG. The inspection main body device 22 is configured by a computer having a CPU 22a, a memory 22b, and an input / output unit 22c. By reading and executing the program stored in the memory 22b, a data acquisition unit 22d, an inspection unit 22e, a two-dimensional image creation unit 22f, and an image processing unit 22g are formed. That is, the data acquisition unit 22d, the inspection unit 22e, the two-dimensional image creation unit 22f, and the image processing unit 22g are software modules which are formed by activation of a program and in which the CPU 22a manages actual calculations and the like. The input / output unit 22 c is connected to the light source 24 and the camera / processing unit 26, and is further connected to the input operation system 28 such as a mouse and a keyboard and the display 30.

データ取得部２２ｄは、入出力部２２ｃを通して、カメラ・処理部２６から送られてくるビードプロファイルのデータを取得する部分である。ビードプロファイルのデータは、ビードベース領域１８を含む、タイヤ周方向と直交する方向に沿ったビード部の形状データである。具体的には、カメラ・処理部２６から、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置毎の形状データが次々と送られてくるので、このデータを順次、検査ビードプロファイルのデータとして取得する。したがって、順次送られてくるデータを一方向に配置することで、タイャ周方向が上記一方向に対応した３次元のデータを得ることができる。得られたデータは、メモリ２２ｂに記憶される。 The data acquisition unit 22 d is a unit that acquires data of a bead profile sent from the camera / processing unit 26 through the input / output unit 22 c. The data of the bead profile is shape data of the bead portion along the direction orthogonal to the tire circumferential direction, including the bead base region 18. Specifically, since shape data for each position on a plurality of tire circumferences separated at regular intervals along the tire circumference are successively sent from the camera / processing unit 26, these data are sequentially inspected. Acquire as bead profile data. Therefore, by arranging sequentially sent data in one direction, it is possible to obtain three-dimensional data in which the tire circumferential direction corresponds to the one direction. The obtained data is stored in the memory 22b.

検査部２２ｅは、ビードベース領域１８を少なくとも含むビード部の領域の良、不良を判定することによりビード部の検査を行う部分である。
ビード部の検査は、以下の検査を含む。
（ａ）ビード部のトウ先端を含む先端領域のゴム不足の有無の検査、
（ｂ）ビードベース幅ＢＷの検査、
（ｃ）ビードの局所的な変形の有無の検査、及び、
（ｄ）ビードベース領域の表面凹凸の検査。
以下、（ａ）〜（ｄ）の各検査を具体的に説明する。
なお、２次元画像作成部２２ｆ及び画像処理部２２ｇについては、上記（ａ）〜（ｄ）の検査の説明の中で必要に応じて説明する。 The inspection unit 22 e is a portion that inspects the bead portion by determining whether the area of the bead portion including at least the bead base region 18 is good or not.
Inspection of the bead portion includes the following inspection.
(A) Inspection of the rubber shortage in the tip area including the toe tip of the bead portion,
(B) Inspection of bead base width BW,
(C) Inspection of the presence or absence of local deformation of the bead, and
(D) Inspection of surface irregularities of bead base area.
Hereinafter, each test of (a) to (d) will be specifically described.
The two-dimensional image creation unit 22f and the image processing unit 22g will be described as needed in the description of the inspection in (a) to (d) above.

（ａ）先端領域のゴム不足の有無の検査
検査部２２ｅは、ビード部のトウ先端を含む先端領域のゴム不足の有無の検査を、タイヤ周上の各位置で測定された検査ビードプロファイルのデータに基づいて行う。具体的には、検査部２２ｅは、ビードベース領域１８のトウ先端１２ａとヒール端１２ｂに挟まれたビードベース領域１８の中間領域における検査ビードプロファイルのデータを直線近似して得られる近似直線から、上記中間領域のトウ側の端からトウ先端１８ａまでの先端領域における検査ビードプロファイルのデータが乖離する程度に基づいて、先端領域のゴム部材の不足を検査する。ここで、スリット光の照射位置は固定されているので、トウ先端１２ａの位置は、検査ビードプロファイルのデータから特定することができる。また、タイヤ周方向に沿って延びるリッジ状のヒールラインが形成されているので、ヒール端１２ｂは、ヒールラインの位置をから特定することができる。本実施形態では、ヒールラインの位置を、ビード端１２ｂの位置としている。ヒールラインは、タイヤを加硫金型で加硫するときに形成されるタイヤ一周するリッジ状のラインである。図３は、タイヤ周上のある位置における検査ビードプロファイルのデータの一例を示す図である。図３に示す検査ビードプロファイルのデータの図中縦方向は、スリット光の中心軸に平行な方向であり、横方向は、スリット光の中心軸に対して直交する方向である。図３中、横方向の寸法は、縦方向に対して２倍伸張している。図３では、トウ先端１８ａとヒール端１８ｂの位置が特定されている。このトウ先端１８ａの図中の横方向の位置からヒール端１８ｂの横方向の位置までの領域の間を、０〜１００％の数値で表したとき、上記中間領域は、例えば３０％の位置における検査ビードプロファイル上の点Ａと例えば７０％の位置における検査ビードプロファイル上の点Ｂとの間の領域である。このような中間領域を定める点Ａ，Ｂは、特に制限されず、例えば、点Ａの位置は２０〜４０％の範囲にあり、点Ｂの位置は６０〜８０％の範囲にあればよい。 (A) Inspection of presence or absence of rubber shortage in tip region Inspection unit 22e performs inspection of presence / absence of rubber deficiency in tip region including toe tip of bead portion, data of inspection bead profile measured at each position on tire circumference Do based on More specifically, the inspection unit 22e uses an approximate straight line obtained by linear approximation of inspection bead profile data in an intermediate region of the bead base region 18 sandwiched between the toe end 12a and the heel end 12b of the bead base region 18; The shortage of the rubber member in the tip region is inspected based on the degree to which the data of the inspection bead profile in the tip region from the toe side end of the intermediate region to the toe tip 18a deviates. Here, since the irradiation position of the slit light is fixed, the position of the toe tip 12a can be specified from the data of the inspection bead profile. Further, since the ridge-like heel line extending along the tire circumferential direction is formed, the heel end 12 b can identify the position of the heel line. In the present embodiment, the position of the heel line is the position of the bead end 12 b. The heel line is a ridge-like line which is formed when the tire is vulcanized with a vulcanizing mold. FIG. 3 is a diagram showing an example of inspection bead profile data at a certain position on the tire circumference. The longitudinal direction in the drawing of the inspection bead profile data shown in FIG. 3 is a direction parallel to the central axis of slit light, and the lateral direction is a direction orthogonal to the central axis of slit light. In FIG. 3, the dimension in the lateral direction is doubled in the longitudinal direction. In FIG. 3, the positions of the toe tip 18a and the heel end 18b are identified. When the numerical range of 0 to 100% is represented between the region from the lateral position in the figure of the toe tip 18a to the lateral position of the heel end 18b, the intermediate region is, for example, at 30%. It is the area between point A on the inspection bead profile and point B on the inspection bead profile at, for example, 70%. The points A and B that define such an intermediate region are not particularly limited, and, for example, the position of the point A may be in the range of 20 to 40% and the position of the point B may be in the range of 60 to 80%.

図３中、直線Ｌは、検査ビードプロファイルの上記中間領域のデータを直線近似して得られる近似直線である。図４（ａ）は、検査ビードプロファイルＰと直線Ｌとの乖離を説明する図である。中間領域のトウ側の端からトウ先端１８ａまでの先端領域における検査ビードプロファイルＰのデータが、直線Ｌから乖離する程度に基づいて、先端領域のゴム部材の不足が検査される。例えば、直線Ｌから検査ビードプロファイルＰのデータが図４（ａ）中の縦方向に予め定めた距離Ｘ１（ｍｍ）離れる開始位置を、乖離開始位置Ｓとして定める。この乖離開始位置Ｓからトウ先端１８ａまでの部分では、検査ビードプロファイルＰの直線Ｌからの乖離距離はますます広がる。したがって、乖離開始位置Ｓからトウ先端１８ａまでの部分は、ゴム不足が発生している部分として表すことができる。すなわち、乖離開始位置Ｓをゴム不足開始位置とすることができる。したがって、ゴム不足部分が少ないことが、適正な良好なビード部であることから乖離開始位置Ｓであるゴム不足開始位置が、トウ先端１８ａの側に近いか、または、ゴム不足開始位置が存在しないことが好ましい。また、タイヤ周上で、このゴム不足が連続して発生していないことが好ましい。したがって、ビード部の先端領域のゴム不足を検査する場合、検査部２２ｅは、乖離開始位置Ｓ（ゴム不足開始位置）とトウ先端１８ａの位置との間の距離と、乖離開始位置Ｓ（ゴム不足開始位置）がタイヤ周方向に連続して連なるタイャ周方向の長さと、に基づいて、ゴム部材の不足を判定することが好ましい。乖離開始位置Ｓ（ゴム不足開始位置）とトウ先端１８ａの位置との間の距離は、例えば、０．２〜０．４ｍｍを閾値とし、この距離が閾値を越えてタイヤ周方向に沿って連続して続く長さが、定めた閾値、例えば１．０ｍｍを越えるとき、検査部２２ｅは、ビード部のゴム不足に不良と判定することが好ましい。判定結果は、ディスプレイ３０に表示される。 In FIG. 3, a straight line L is an approximate straight line obtained by linear approximation of the data in the above-mentioned intermediate region of the inspection bead profile. FIG. 4A is a view for explaining the deviation between the inspection bead profile P and the straight line L. As shown in FIG. Based on the degree to which the data of the inspection bead profile P in the tip area from the toe side end of the middle area to the toe tip 18a deviates from the straight line L, the shortage of the rubber member in the tip area is inspected. For example, a start position at which the data of the inspection bead profile P is separated from the straight line L by a predetermined distance X1 (mm) in the vertical direction in FIG. 4A is determined as the deviation start position S. In the portion from the deviation start position S to the toe tip 18a, the deviation distance from the straight line L of the inspection bead profile P is further expanded. Therefore, the portion from the separation start position S to the toe tip 18a can be represented as a portion where the rubber shortage occurs. That is, the deviation start position S can be set as the rubber shortage start position. Therefore, the fact that there are few rubber shortages is an appropriate good bead part, so the rubber shortage start position which is the divergence start position S is close to the toe tip 18a side, or there is no rubber shortage start position. Is preferred. Moreover, it is preferable that the shortage of rubber does not occur continuously on the tire circumference. Therefore, when inspecting the rubber shortage of the tip region of the bead portion, the inspection unit 22e determines the distance between the divergence start position S (rubber shortage start position) and the position of the toe tip 18a and the divergence start position S (rubber shortage It is preferable to determine the shortage of the rubber member based on the tire circumferential direction length in which the start position is continuously connected in the tire circumferential direction. The distance between the deviation start position S (the rubber shortage start position) and the position of the toe tip 18a is, for example, 0.2 to 0.4 mm as a threshold, and this distance exceeds the threshold and continues along the tire circumferential direction. When the length to be continued exceeds a predetermined threshold value, for example, 1.0 mm, the inspection unit 22e preferably determines that the bead portion is insufficient due to the rubber shortage. The determination result is displayed on the display 30.

図４（ｂ）は、横軸にタイヤ周方向の位置を、縦軸に図３中の横方向の位置を定めて、トウ先端１８ａのタイヤ幅方向の位置とタイヤ幅方向の乖離開始位置Ｓ（ゴム不足開始位置）のタイヤ周方向の変動の一例を示す図である。図４（ｂ）に示す例では、トウ先端１８ａと乖離開始位置Ｓとの間の部分が、ゴム不足の部分を示している。図４（ｂ）では、このゴム不足の部分がタイヤ周方向に連続して続いていることを示している。 In FIG. 4B, the horizontal axis defines the position in the tire circumferential direction, and the vertical axis defines the position in the lateral direction in FIG. 3, and the position of the toe tip 18a in the tire width direction and the deviation start position S in the tire width direction. It is a figure which shows an example of the fluctuation | variation of the tire circumferential direction of (the rubber shortage start position). In the example shown in FIG. 4 (b), the portion between the toe tip 18a and the separation start position S indicates a portion with insufficient rubber. FIG. 4 (b) shows that this rubber-deficient portion continues continuously in the tire circumferential direction.

（ｂ）ビードベース幅ＢＷの検査
検査部２２ｅは、ビードベース幅ＢＷのタイヤ周上における異常の有無を検査する。具体的には、検査部２２ｅは、データ取得部２２ｄで取得したタイヤ周上の位置毎のビードプロファイルを、検査ビードプロファイルとしてメモリ２２ｂから呼び出す。その後、検査部２２ｅは、タイャ周上の位置毎の検査ビードプロファイルのデータから、ビードベース領域のヒール端１８ｂの位置を特定するためのヒール基準位置を抽出し、抽出したヒール基準位置とトウ先端１８ａとの間の離間距離に基づいてタイヤのビードベース幅ＢＷのタイヤ周上の分布を求め、ビードベース幅ＢＷの分布を用いて、ビードベース幅ＢＷのタイヤ周上における異常の有無を検査する。ヒール基準位置は、本実施形態では、タイヤ周方向に延びるリッジ状の上述したヒールラインである。本実施形態では、ヒール端１８ｂの位置を特定するためのヒール基準位置としてヒールラインを用いるが、ヒールラインに代えてタイヤ周上に溝状に延びるラインを用いることもできる。 (B) Inspection of bead base width BW The inspection unit 22e inspects the presence or absence of an abnormality on the tire circumference of the bead base width BW. Specifically, the inspection unit 22e calls the bead profile for each position on the tire circumference acquired by the data acquisition unit 22d from the memory 22b as an inspection bead profile. Thereafter, the inspection unit 22e extracts the heel reference position for specifying the position of the heel end 18b of the bead base area from the data of the inspection bead profile for each position on the tire circumference, and extracts the extracted heel reference position and toe tip The distribution on the tire circumference of the bead base width BW of the tire is determined based on the separation distance between 18a, and the presence of an abnormality on the tire circumference of the bead base width BW is inspected using the distribution of the bead base width BW. . The heel reference position is, in the present embodiment, a ridge-like heel line described above extending in the tire circumferential direction. In the present embodiment, a heel line is used as a heel reference position for specifying the position of the heel end 18b, but a line extending in a groove shape on the tire circumference may be used instead of the heel line.

図５は、ビードベース幅ＢＷを説明する図である。検査部２２ｅは、トウ先端１８ａの位置を検査ビードプロファイルから特定するとともに、上記ヒールラインからヒール端１８ｂの位置を特定することができる。計測部２２ｅは、トウ先端１８ａとヒール端１８ｂの間のタイヤ幅方向に沿った離間距離にさらにＸ２（ｍｍ）を加算した寸法をビードベース幅ＢＷとして計算する。このようなＸ２（ｍｍ）の値は、タイヤサイズ及びタイヤ構造によって変化するが、タイヤの品種毎に特定可能な値であり、定められる。 FIG. 5 is a diagram for explaining the bead base width BW. The inspection unit 22e can specify the position of the toe tip 18a from the inspection bead profile and specify the position of the heel end 18b from the heel line. The measuring unit 22e calculates, as a bead base width BW, a dimension obtained by adding X2 (mm) to the separation distance along the tire width direction between the toe tip 18a and the heel end 18b. Although such a value of X2 (mm) changes with tire size and tire structure, it is a value which can be specified for every kind of tire, and is defined.

図６は、ビードベース幅ＢＷのタイヤ周上の分布の一例を示す図である。図６の横軸は、タイヤ周方向に沿った位置であり、予め定めたタイヤ周上の位置を０ｍｍの周上の位置としている。縦軸は、ビードベース幅ＢＷである。図６では、ビードベース幅の目標幅、下限幅、及び上限幅が示されている。図６中のビードベース幅ＢＷは、目標幅よりやや低めであるが、良品とされる下限値と上限値の間に入っている。図６に示すような図は、ディスプレイ３０に表示される。
このように、検査部２２ｅは、ビードベース幅ＢＷの不良の有無を検査することが好ましい。 FIG. 6 is a view showing an example of the distribution of bead base width BW on the tire circumference. The horizontal axis in FIG. 6 is a position along the tire circumferential direction, and a predetermined position on the tire circumference is a position on the circumference of 0 mm. The vertical axis is the bead base width BW. In FIG. 6, the target width, the lower limit width, and the upper limit width of the bead base width are shown. The bead base width BW in FIG. 6 is slightly lower than the target width, but falls within the range between the lower limit value and the upper limit value considered to be non-defective. A diagram as shown in FIG. 6 is displayed on the display 30.
Thus, it is preferable that the inspection unit 22e inspects the presence or absence of a defect in the bead base width BW.

（ｃ）ビードの局所的な変形の有無の検査、
検査部２２ｅは、ビードの局所的な変形の有無の検査をする。具体的には、検査部２２ｅは、データ取得部２２ｄで取得したタイヤ周上の位置毎のビードプロファイルを検査ビードプロファイルとしてメモリ２２ｂから呼び出す。その後、検査部２２ｅは、タイヤ周上に沿って一定の間隔で離間した複数のタイヤ周上の位置毎の検査ビードプロファイルから特定されるビードベース領域１８のヒール端１８ｂの位置を特定するためのヒール基準位置（タイヤ幅方向の位置）を特定し、このヒール基準位置のタイヤ周方向の分布を求め、このヒール基準位置の分布から、ヒール基準位置のタイヤ幅方向における局所的な変動を抽出し、抽出した局所的な変動を用いて、タイヤ周上におけるビードベース領域１８の不良の有無を検査する。ヒール基準位置の局所的な変動は、ヒール基準位置の分布から、この分布をタイヤ周方向に沿って平滑化した平滑化分布を減算することにより抽出する。ヒール基準位置は、本実施形態では、タイヤ周方向に延びるリッジ状の上述したヒールラインである。本実施形態では、ヒールラインをヒール端１８ｂの位置を特定するためのヒール基準位置として用いるが、ヒールラインに代えてタイヤ周上に溝状に延びるラインを用いることもできる。 (C) inspection of the local deformation of the bead,
The inspection unit 22e inspects the presence or absence of local deformation of the bead. Specifically, the inspection unit 22e calls the bead profile for each position on the tire circumference acquired by the data acquisition unit 22d from the memory 22b as an inspection bead profile. After that, the inspection unit 22 e is used to specify the position of the heel end 18 b of the bead base region 18 specified from the inspection bead profile for each position on the plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Identify the heel reference position (position in the tire width direction), determine the distribution in the tire circumferential direction of the heel reference position, and extract the local variation in the tire width direction of the heel reference position from the distribution of the heel reference position The extracted local variation is used to inspect the bead base area 18 for defects on the tire circumference. The local variation of the heel reference position is extracted from the distribution of the heel reference position by subtracting the smoothed distribution obtained by smoothing this distribution along the tire circumferential direction. The heel reference position is, in the present embodiment, a ridge-like heel line described above extending in the tire circumferential direction. In the present embodiment, the heel line is used as a heel reference position for specifying the position of the heel end 18b. However, instead of the heel line, a line extending in a groove shape on the tire circumference may be used.

ヒール基準位置の平滑化分布は、例えば、タイヤ周方向の所定の長さの領域におけるタイヤ幅方向のヒール基準位置の平均値を、あるいはメディアンフィルタを用いて得られる、タイヤ幅方向のヒール基準位置のメディアン値を、各位置で求めることにより得られる平均値の分布あるいはメディアン値の分布である。加硫終了後のタイヤを加硫金型から取り出すとき、ビード部に局所的に大きな力が発生してしまい、ビード部に局所的な変形が発生する場合がある。このようなビード部の不良を検査部２２ｅは、検査することができる。
図７は、ヒール端１８ｂであるヒール基準位置（タイヤ幅方向の位置）のタイヤ周上の分布の一例を示す図である。図７の横軸は、タイヤ周方向に沿った位置である。縦軸は、タイヤ幅方向におけるヒール基準位置である。図７では、平滑化分布が略一定であり、その平均値を０ｍｍとしている。したがって、０ｍｍに対するヒール基準位置の変動が、局所的な変動（図中の「ヒール基準位置の局所変動」）を示している。検査部２２ｅは、この局所的な変動が０ｍｍに対して閾値、例えば０．８ｍｍを超える場合、ビードベース領域１８は不良であると判定する。図７に示すようなグラフは、ディスプレイ３０に表示される。このように、検査部２２ｅは、ビードの局所的な変形の有無の検査をすることが好ましい。 The smoothed distribution of the heel reference position is, for example, the average value of the heel reference position in the tire width direction in a region of a predetermined length in the tire circumferential direction, or the heel reference position in the tire width direction obtained using a median filter It is a distribution of mean values or a distribution of median values obtained by finding the median value of at each position. When the tire after completion of vulcanization is taken out from the vulcanization mold, a large force may be locally generated in the bead portion, and local deformation may occur in the bead portion. The inspection unit 22e can inspect such a defect in the bead portion.
FIG. 7 is a view showing an example of the distribution on the tire circumference of the heel reference position (the position in the tire width direction) which is the heel end 18 b. The horizontal axis in FIG. 7 is a position along the tire circumferential direction. The vertical axis is a heel reference position in the tire width direction. In FIG. 7, the smoothed distribution is substantially constant, and the average value thereof is 0 mm. Therefore, the variation of the heel reference position with respect to 0 mm indicates the local variation ("local variation of the heel reference position" in the figure). The inspection unit 22e determines that the bead base region 18 is defective if the local fluctuation exceeds a threshold value, for example, 0.8 mm with respect to 0 mm. A graph as shown in FIG. 7 is displayed on the display 30. Thus, the inspection unit 22e preferably inspects the presence or absence of local deformation of the bead.

（ｄ）ビードベース領域の表面凹凸の検査
検査部２２ｅは、後述する処理画像を用いて抽出されたビードベース領域１８の表面凹凸を検査する。 (D) Inspection of Surface Irregularities of Bead Base Region The inspection unit 22e inspects the surface irregularities of the bead base region 18 extracted using a processing image described later.

図８は、ビードベース領域の表面凹凸の検査のフローの一例を示す図である。本検査では、図２に示す２次元画像作成部２２ｆ及び画像処理部２２ｇを用いる。
まず、２次元画像作成部２２ｆは、メモリ２２ｂから、タイヤ周上の位置毎のビードプロファイルを検査ビードプロファイルとして読み出し、複数の位置のビードプロファイルのうち、タイヤ周方向に隣り合うビードプロファイルの形状データの値（表面凹凸のデータの値）を、２次元画像の第１の方向に隣り合う画素値として配列することにより、ビードプロファイルの２次元画像を作成する（ＳＴ１０）。 FIG. 8 is a diagram showing an example of a flow of inspection of surface unevenness of a bead base region. In the main examination, a two-dimensional image creation unit 22 f and an image processing unit 22 g shown in FIG. 2 are used.
First, the two-dimensional image creation unit 22f reads out a bead profile at each position on the tire circumference as an inspection bead profile from the memory 22b, and among the bead profiles at a plurality of positions, shape data of bead profiles adjacent in the tire circumferential direction A two-dimensional image of a bead profile is created by arranging the values of (values of surface asperity data) as pixel values adjacent in the first direction of the two-dimensional image (ST10).

次に、画像処理部２２ｇは、作成した２次元画像の平滑化を行って平滑化画像を作成する（ＳＴ１２）。平滑化画像は、例えば、注目する画素を中心として、タイヤ周方向に沿った画素総数の１〜２％の画素数の範囲で、タイヤ周方向に連続して隣り合う画素の画素値のメディアン値を、注目する画素の画素値とする処理を、２次元画像の全画素を対象として行うことにより得ることができる。 Next, the image processing unit 22g smoothes the created two-dimensional image to create a smoothed image (ST12). The smoothed image is, for example, a median value of pixel values of pixels continuously adjacent in the tire circumferential direction in a range of the number of pixels of 1 to 2% of the total number of pixels along the tire circumferential direction centering on the pixel of interest. Can be obtained by performing processing for setting the pixel value of the pixel of interest as the target for all pixels of the two-dimensional image.

さらに、画像処理部２２ｇは、２次元画像の画素値から、平滑化画像の対応する画素の画素値を減算することにより、処理画像を作成する（ＳＴ１４）。処理画像は、メモリ２２ｂに記憶される。 Furthermore, the image processing unit 22g subtracts the pixel value of the corresponding pixel of the smoothed image from the pixel value of the two-dimensional image to create a processed image (ST14). The processed image is stored in the memory 22b.

次に、検査部２２ｅは、メモリ２２ｂから処理画像を呼び出して、処理画像の画素値からビードベース領域の凹凸を抽出する（ＳＴ１６）。処理画像では、表面凹凸が大きい領域は、画素値の絶対値が大きくなっているので、画素値が予め定めた閾値を越える領域を、許容範囲を超えた表面凹凸の領域として抽出する。それ以外の領域は、非凹凸領域とする。すなわち、処理画像に対して、予め定めた閾値で二値化処理を行う。抽出した表面凹凸の領域の画像は、メモリ２２ｂに記憶される。画像処理部２２ｇは、この抽出した表面凹凸の領域の画像に対して、画像の縦方向及び横方向のいずれの方向にも上記表面凹凸の領域の縁を所定の画素分（例えば、１〜２画素）、拡大する膨張処理を行った後、画像の縦方向及び横方向のいずれの方向にも、膨張処理して得られた領域の縁から画素を所定の画素分（例えば、１〜２画素）、削る収縮処理を行う（ＳＴ１８）。これにより、近接しているが、別の表面凹凸の領域として抽出された複数の領域を１つの領域にまとめることができる。膨張処理及び縮小処理の施された表面凹凸の領域の画像は、メモリ２２ｂに記憶される。 Next, the inspection unit 22e calls the processed image from the memory 22b, and extracts the unevenness of the bead base area from the pixel value of the processed image (ST16). In the processed image, since the absolute value of the pixel value is large in the area where the surface unevenness is large, the area where the pixel value exceeds a predetermined threshold is extracted as the area of the surface unevenness which exceeds the allowable range. Other areas are non-concave areas. That is, binarization processing is performed on the processing image with a predetermined threshold value. The image of the area of the extracted surface asperity is stored in the memory 22b. The image processing unit 22g causes the edge of the area of the surface asperity to be extracted by a predetermined number of pixels (for example, 1 to 2) with respect to the image of the extracted surface asperity area in any direction of the longitudinal direction and the lateral direction of the image. Pixels), after expansion processing is performed, pixels are divided by a predetermined number of pixels (for example, 1 to 2 pixels) from the edge of the area obtained by the expansion processing in any of the vertical and horizontal directions of the image. ), And performs contraction processing to scrape (ST18). As a result, it is possible to combine a plurality of areas which are adjacent but extracted as areas of different surface irregularities into one area. The image of the surface unevenness area subjected to the expansion processing and the reduction processing is stored in the memory 22 b.

さらに、検査部２２ｅは、メモリ２２ｂから表面凹凸の領域の画像を呼び出して、表面凹凸の領域の大きさあるいは表面凹凸の有無によって、ビードベース領域１８のタイヤ周上における不良の有無を検査する（ＳＴ２０）。 Furthermore, the inspection unit 22e calls up the image of the surface unevenness region from the memory 22b, and inspects the presence or absence of a defect on the tire circumference of the bead base region 18 according to the size of the surface unevenness region or the presence or absence of the surface unevenness ( ST20).

図９は、抽出された表面凹凸領域の一例を示す図である。図中、ビードベース領域１８の範囲において、画像が白くなった領域Ｒが存在する。この部分は、ビードベース領域１８の領域Ｒ以外の部分に対して、凸状であることを示している。このような領域Ｒは、ビードベース領域１８にあると、タイヤはリムに対して適性に装着できないため、検査部２２ｅはこの検査対象のビードベース領域１８を不良と判定する。図９に示すような図は、ディスプレイ３０に表示される。
このように、検査部２２ｅは、ビードベース領域１８の表面凹凸の検査を行うことが好ましい。 FIG. 9 is a view showing an example of the extracted surface asperity area. In the figure, in the area of the bead base area 18, there is an area R where the image is whitened. This portion is shown to be convex with respect to the portion other than the region R of the bead base region 18. If the region R is in the bead base region 18, the tire can not be properly mounted on the rim, and the inspection unit 22e determines that the bead base region 18 to be inspected is defective. A diagram as shown in FIG. 9 is displayed on the display 30.
As described above, it is preferable that the inspection unit 22 e inspects the surface unevenness of the bead base region 18.

以上のように、本実施形態では、上記（ａ）で説明したように、中間領域のトウ側の端からトウ先端１８ａまでの先端領域における検査ビードプロファイルのデータが近似直線である直線Ｌに対して乖離する程度に基づいて、先端領域のゴム部材の不足を検査するので、トウ先端を含む先端領域の不良の有無を精度よく検査することができる。
また、本実施形態では、上記（ｂ）で説明したように、ビードベース幅ＢＷのタイヤ周上の分布を得ることによりビード部の検査をするので、ビードベース幅の異常の有無を精度よく検査することができる。
また、本実施形態では、上記（ｃ）で説明したように、ヒールライン等のようなヒール基準位置に基づいてビード部の局所的な変形を検査するので、ビード部の変形による不良の有無を精度よく検査することができる。
また、本実施形態では、上記（ｄ）で説明したように、ビードベース領域１８の表面凹凸を、処理画像を用いて検査するので、ビードベース領域１８の表面凹凸による不良の有無を精度よく検査することができる。 As described above, in the present embodiment, as described in the above (a), the data of the inspection bead profile in the tip region from the toe end of the intermediate region to the toe tip 18a is a straight line L that is an approximate straight line. Since the shortage of the rubber member in the tip region is inspected based on the degree of separation, the presence or absence of a defect in the tip region including the toe tip can be inspected with high accuracy.
Further, in the present embodiment, as described in the above (b), since the bead portion is inspected by obtaining the distribution on the tire circumference of the bead base width BW, the presence or absence of abnormality in the bead base width is inspected accurately can do.
Further, in the present embodiment, as described in (c) above, the local deformation of the bead portion is inspected based on the heel reference position such as the heel line or the like. It can be inspected accurately.
Further, in the present embodiment, as described in the above (d), the surface irregularities of the bead base region 18 are inspected using the processed image, so that the presence or absence of defects due to the surface irregularities of the bead base region 18 is inspected accurately can do.

本実施形態では、上記（ａ）〜（ｄ）の全ての検査を行うことが好ましいが、少なくとも（ａ）の検査を行えばよく、（ｂ）〜（ｄ）は、必要に応じて適宜行うこともできる。 In the present embodiment, it is preferable to carry out all the inspections of the above (a) to (d), but at least the inspection of (a) may be carried out, and (b) to (d) are carried out as appropriate. It can also be done.

以上、本発明のタイヤのビード部の検査方法及び検査装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。 As mentioned above, although the inspection method and inspection device of the bead part of the tire of the present invention were explained in detail, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, In the range which does not deviate from the main point of the present invention Of course it is good.

１０タイヤ
１２ビード部
１２ａトウ先端
１２ｂヒール端
１８ビードベース領域
２０検査装置
２２検査本体装置
２２ａＣＰＵ
２２ｂメモリ
２２ｃ入出力部
２２ｄデータ取得部
２２ｅ検査部
２２ｆ２次元画像作成部
２２ｇ画像処理部
２４光源
２６カメラ・処理部
２７形状測定部
２８入力操作系
３０ディスプレイ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Tire 12 Bead part 12a Toe tip 12b Heel end 18 Bead base area | region 20 Inspection apparatus 22 Inspection main body apparatus 22a CPU
22b memory 22c input / output unit 22d data acquisition unit 22e inspection unit 22f two-dimensional image creation unit 22g image processing unit 24 light source 26 camera / processing unit 27 shape measurement unit 28 input operation system 30 display

Claims

A method of inspecting a bead portion of a tire,
Obtaining inspection bead profile data representing an outline shape in a direction orthogonal to the tire circumferential direction of a region including a bead base region from a toe end to a heel end of a bead portion of the tire ;
From the approximate straight line obtained by linearly approximating the data of the inspection bead profile in the intermediate region of the bead base region between the toe end of the bead base region and the heel end, the toe side end of the intermediate region is And b. Inspecting the shortage of the rubber member in the tip region based on the degree of deviation of the data of the inspection bead profile in the tip region to the toe tip.

In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
In the step of inspecting the shortage of the rubber member in the tip region, the start position of the shortage of the rubber member in the tip region is determined based on the distance between the inspection bead profile and the approximate straight line in the tip region. The bead portion according to claim 1, wherein the shortage of the rubber member is determined based on the distance between the position and the position of the toe tip and the circumferential length in which the start position continues continuously in the tire circumferential direction. Inspection method.

In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
Inspecting the presence or absence of a defect generated along the tire circumferential direction of the bead base region using the inspection bead profile at each position on the tire periphery;
In the inspection step, a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire is extracted from the inspection bead profile for identifying the position of the heel end of the bead base region, and the heel reference position Distribution on the tire circumference of the bead base width of the tire based on the separation distance between the toe tip and the presence of abnormality on the tire circumference of the bead base width using the distribution of the bead base width The inspection method of the bead part of Claim 1 or 2 including the step which test | inspects.

In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
In the inspection step, a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire is extracted from the data of the inspection bead profile to specify the position of the heel end of the bead base area. A distribution in the tire circumferential direction of the heel reference position is determined, and a smoothed distribution obtained by smoothing the distribution along the tire circumferential direction is subtracted from the distribution of the heel reference position, thereby locally generating the heel reference position. The bead part inspection method according to any one of claims 1 to 3, wherein a variation is extracted and the presence or absence of a defect in the bead base region on the tire circumference is inspected using the extracted local variation. .

In the step of acquiring the data, an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire circumferences spaced apart at regular intervals along the tire circumference. Acquiring each of a plurality of bead profiles representing H as data of the inspection bead profile,
Furthermore, by arranging values of shape data of bead profiles adjacent in the tire circumferential direction among the plurality of acquired bead profiles as pixel values adjacent in the first direction of the two-dimensional image, 2 of the bead profiles Creating a two-dimensional image;
Creating a processed image of the bead profile by subtracting a smoothed image obtained by smoothing the two-dimensional image along the first direction from the two-dimensional image;
Inspecting the presence or absence of a defect occurring along the tire circumferential direction of the bead base region using the processed image obtained from the two-dimensional image;
The said test | inspection step extracts the unevenness | corrugation of the said bead base area | region from the pixel value of the said processing image, and test | inspects the presence or absence of the defect on tire circumference using the unevenness | corrugation of the said bead base area | region. The inspection method of the bead part of any one term.

The test bead profile is contoured shape that is obtained by measuring the area including the bead base region measurement positions while changing the tire circumferential direction of the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction, The tire according to any one of claims 1 to 5, wherein the data of the inspection bead profile is data of an outline shape of a region including a bead base region as viewed from the tire radial direction outer side and the tire width direction inner side. Inspection method for the bead part of

An inspection apparatus for a bead portion of a tire,
A data acquisition unit for acquiring inspection bead profile data representing a contour shape along a direction orthogonal to the tire circumferential direction of a region including a bead base region from a toe end to a heel end of a bead portion of a tire ;
From an approximate straight line obtained by linearly approximating the data of the inspection bead profile in the intermediate region of the bead base region sandwiched between the toe tip of the bead base region and the heel end, from the end on the toe side of the intermediate region And an inspection unit for inspecting the shortage of the rubber member in the tip region based on the degree to which the data of the inspection bead profile in the tip region to the tip of the tow tip deviates.

The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
The inspection unit extracts a ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire to specify the position of the heel end of the bead base region from the data of the inspection bead profile, and the heel reference The distribution on the tire circumference of the bead base width of the tire is determined based on the distance between the position and the toe tip, and the distribution of the bead base width on the tire circumference of the bead base width is calculated using the distribution of the bead base width. The inspection apparatus of the bead part of Claim 7 which test | inspects the presence or absence.

The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
The inspection unit extracts the ridge-like or groove-like heel reference position extending in the circumferential direction of the tire to specify the position of the heel end of the bead base region from the data of the inspection bead profile. A distribution of the heel reference position in the tire circumferential direction is determined, and a smoothed distribution obtained by smoothing the distribution along the tire circumferential direction from the distribution of the heel reference position is subtracted from the distribution of the heel reference position. The bead part inspection device according to claim 7 or 8, wherein the local variation extracted is used to inspect the presence or absence of a defect in the bead base region on the tire circumference.

The data acquisition unit represents an outline shape of a region including the bead base region along a direction orthogonal to the tire circumferential direction at positions on a plurality of tire peripheries spaced apart at regular intervals along the tire periphery. Each of a plurality of bead profiles is acquired as data of the inspection bead profile,
Furthermore, by arranging values of shape data of bead profiles adjacent in the tire circumferential direction among the acquired data of the bead profiles at a plurality of positions, as pixel values adjacent in the first direction of the two-dimensional image, A two-dimensional image creation unit that creates a two-dimensional image of the bead profile;
An image processing unit that generates a processed image of the profile data by subtracting a smoothed image obtained by smoothing the two-dimensional image along the first direction from the two-dimensional image;
Have
The inspection unit extracts the unevenness of the bead base area from the pixel value of the processed image, and inspects the presence or absence of a defect that occurs along the tire circumferential direction of the bead base area using the unevenness of the bead base area. The inspection apparatus of the bead part of any one of Claims 7-9.

The inspection bead profile further includes a shape measurement unit that measures an area including the bead base area along a direction orthogonal to the tire circumferential direction while changing the measurement position of the bead base area in the tire circumferential direction,
The inspection of the bead portion according to any one of claims 7 to 10, wherein the shape measurement unit measures a contour shape of a region including a bead base region viewed from the tire radial direction outer side and the tire width direction inner side. apparatus.